JP2010073690A - 改良型消弧機構を有する回路遮断器 - Google Patents

改良型消弧機構を有する回路遮断器 Download PDF

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Abstract

【課題】消弧性能を高め、製造コストを削減した消弧機構を有する回路遮断器を提供する。
【解決手段】回路遮断器20の消弧機構は、チャンバ44内に配置されるアブレーション装置50を含み、当該アブレーション装置50の端部には、固定接点22を受ける開口部を備え、可動接触アーム26は、溝内で閉位置から開位置へと移動する。異常な動作状態が検知されると、当該回路遮断器20がトリップし、当該可動接触アーム26が移動し、これにより発生したプラズマアークは当該アブレーション装置50から材料を蒸発させて加圧ガスを発生させ、このガスがプラズマアークを冷却消弧する。
【選択図】図1

Description

本発明は回路遮断器に関し、特にアブレーションによる消弧機構を有する回路遮断器に関する。
回路遮断器は、望ましくない電気的状態が検知された場合に電気回路への電流の流れを制御することを目的とした、幅広い用途で使用される。回路遮断器は、典型的に3つの主要なサブアセンブリ、すなわち動作機構、トリップユニット、及び遮断器を含む。トリップユニットと動作機構とは、望ましくない状態が検知されると協働して遮断器を作動する。
遮断器は一般的に、可動接点を備える可動接触アームを有する。固定接点は、接触アームが閉位置にある時に可動接点と接触するように配置される。一般にアークシュートと呼ばれるアセンブリは、可動接点の通路の近傍に位置する。アークシュートは、可動接点の通路に沿って離間された複数枚の薄い鋼板からなる。典型的には、鋼板は除去された部分を有しており、除去部分によってアークシュート内に形成されたスロット内を可動接点が移動できるようになっている。アークシュートの性能要件により、多くの鋼板は典型的に熱硬化性側板として組み立てる必要があり、これはコストと時間を要する工程である。
異常な動作状態が検知されると、遮断器が作動して可動接点が固定接点から分離され、離隔される。この分離工程中、接点間にプラズマアークが形成され、電流はアークが消えるまで回路遮断器を通って流れ続ける。一般に、回路遮断器は、接点が分離するとプラズマアークをアークシュート内に移動させるように設計される。アークシュートはエネルギを吸収し、アークを引き伸ばし、アーク抵抗を高めて最終的にはアークを消滅させる。しかし、この工程中に、蒸発した金属が発生し、プラズマアークからの高温ガスと共に回路遮断器から排出される。
従って、現在の回路遮断器システムは意図した目的には適しているものの、性能を高め、製造コストを削減する回路遮断器の消弧機構がこの分野では必要とされている。
チャンバを有する回路遮断器が提供される。アブレーション装置がチャンバ内に配置される。アブレーション装置は端部に第1の開口部を有し、側面に沿って複数の排気口を有する。閉位置と開位置との間を移動可能な接触アームは、チャンバ内に配置される。可動接点は接触アームに結合され、可動接点は接触アームが閉位置にあり、開位置にあり、かつ閉位置と開位置との中間位置にある場合に複数の排気口の近傍に位置する。固定接点はアブレーション装置の第1の開口部内に位置し、固定接点は、接触アームが閉位置にある場合に可動接点が固定接点と電気的に接触するように配置される。
別の実施形態では、回路遮断器には固定接点を設ける。可動接点を有する接触アームは、接触アームが閉位置にある場合に可動接点が固定接点と接触するように配置されており、可動接点と固定接点とは、接触アームが開位置にある場合に第1の間隔だけ分離される。固定接点の周囲に配置された第1の開口部を有するアブレーション部材が備えられる。アブレーション部材は第2の側面から延びる複数の排気口を有する第1の側面に沿って延びる溝を有し、可動接点は接触アームが閉位置から開位置へと移動すると溝内に位置する。排気溝は複数の排気口と流体連通するように配置され、排気溝は負荷端子の近傍に端部を有する。
望ましくない電気的状態を検知するステップを含む回路遮断器の動作方法も提供される。望ましくない電気的状態の検知に応動して、可動接点が固定接点から分離される。可動接点が固定接点から分離されるとそれに応動してガスが溶発される。可動接点が固定接点から分離されると発生するアークは、溶発ガスで冷却される。アブレーションガスは、固定接点の近傍に位置する第1の排気口から排出する。
本発明の特徴、態様及び利点は、添付図面を参照した以下の詳細な説明によってより明らかとなる。全図面において、同じ要素には同じ符号を付す。
例示的実施形態による開位置にある回路遮断器の側面平面図である。 図1の回路遮断器の部分側面平面図である。 閉位置にある図1の回路遮断器の側面平面図である。 図3の回路遮断器の部分側面平面図である。 図1の接触アーム構造及びアブレーション装置の部分斜視図である。 図1のアブレーション装置の断面斜視図である。 本発明の実施形態であるアブレーション装置を有する回路遮断器および一般的な標準型回路遮断器のテスト結果を示すグラフである。
図1から5に示すように、回路遮断器20は、回路への電流の流れを制御するために使用される配電装置である。回路遮断器20は一般に、例えば短絡などの異常な動作条件で開くように構成されている。「遮断」とも呼ばれるこのような異常な動作条件で開かれると、回路遮断器20内の固定接点22と可動接点24とが分離する。接点22、24が分離するとプラズマアークが発生し、電流の流れが停止する前に冷却し、消弧する必要がある。
固定接点22からの可動接点24の分離を補助するため、回路遮断器20は、図2及び図3に示すように電源から負荷(図示せず)へと電流が流れる閉状態と、図1及び図2に示すように電力の流れが遮断される開位置との間を移動するように配置された1つ又は複数の接触アーム26を含む。接触アーム26は、回路遮断器20を電源に電気的に接続する「スタブ」又は入力端子28に電気的に結合される。接触アーム26はさらに、例えば開路スイッチ又はハンドル34を用いてオペレータによって作動されると、接触アーム26を閉位置から開位置に移動させるばね(図示せず)及びリンク機構32などの構成部品を含む機構30にも結合される。機構30はラッチ38を介してトリップアセンブリ36に結合される。トリップアセンブリ36は、磁石40などの部材、又は例えばバイメタル装置(図示せず)などの感熱装置を含む。トリップアセンブリは、望ましくない異常な動作状態に応動してラッチ38を解放し、機構30が接触アーム26を閉位置から開位置へと移動させる。負荷端子42は接触アーム26に電気的に接続され、回路遮断器20を電気回路に接続する。
代替として、機構30を電子トリップユニット(図示せず)に結合してもよい。電子トリップユニットは典型的に、回路遮断器20の動作を制御するためにコンピュータ命令を実行するプロセッサを有するコントローラを含む。一組の変流器(図示せず)は、回路遮断器20を通って電気回路に流れる電流のレベルを示す信号を電子トリップユニットに供給する。
接触アーム26は、アークチャンバとも呼ばれる密閉型チャンバ44内を移動する。本明細書でより詳細に記載されるように、チャンバ44は電流遮断中に発生するガスを含む。これらのガスは排気溝46内に流入し、排気溝は、負荷端子42の近傍で回路遮断器20からガスを排出する。排気溝の端部48は、イオン化され、蒸発金属を含むことがあるガスを負荷端子42から離れるように誘導し、ガスと負荷端子42に接続された導電体との間での電気アークの形成を防止する。
例示的実施形態では、アブレーション装置50はチャンバ44内に配置される。アブレーション装置50は、高温で気化してチャンバ44を加圧するガスを生成する材料からなる。従って、アブレーション装置は、(例えばデュポン社製のDelrin(R)などの)ポリオキシメチレン、(例えばBakelite Hylam社製のHylam(R)などの)フェノール・繊維複合材料、(例えばデュポン社製のTeflon(R)などの)エポキシ又はポリテトラフルオロエチレン)を含むがこれらに限定されないポリマーでよい。
図5及び図6に示すように、アブレーション装置50は側壁52を含む。アブレーション装置50は明解にするために断面で示され、アブレーション装置50はさらに付加的な側壁52も含むことを理解されたい。側壁52は共同で溝54の側面を形成し、回路遮断器20が閉位置から開位置へと移行する間に、溝54の中を接触アーム26と可動接点24とが移動する。端壁56は溝54の一端に沿って位置する。固定接点22に適合するサイズの開口部58が端壁56内に配設される。アブレーション装置50がチャンバ44内に位置する場合は、端壁56は導体62の上表面60上に支持され、固定接点22は開口部58内にある。導体62は固定接点を入力端子28と電気的に接続する。
アブレーション装置はさらに複数の排気口64を含む。例示的実施形態では、複数の排気口64は、第1の排気口66と、第2の排気口68と、第3の排気口70とを含む。排気口64はアブレーションガスとアークガスの両方のガスがチャンバ44から排気溝46へと流入するための通路を形成する。第1の排気口66は、固定接点22の上表面74と縁部78からそれぞれ第1の間隔72と径方向の空隙76を隔てて位置する。さらに第1の排気口66は幅80を有する。例示的実施形態では、第1の間隔72は1ミリメートルから5ミリメートルであり、好ましくは1ミリメートルである。径方向の空隙76は1ミリメートルから2ミリメートルであり、好ましくは2ミリメートルである。幅80は2ミリメートルと4ミリメートルの間であり、好ましくは4ミリメートルである。例示的実施形態では、第2の排気口68と第3の排気口70とは、第1の排気口66と同サイズであるか、それよりも大きい。一実施形態では、第3の排気口70もまた第2の排気口68よりも大きい。
一実施形態では、アブレーション装置50は、複数の排気口64の入口に内表面86を含む。内表面86は、軸が接触アーム26の回転中心軸と同軸に位置する円筒形表面でよい。別の実施形態では、接触アーム26が閉位置から開位置へと移動すると、可動接点24と内表面86との径方向の空隙が増大するように、内表面86の軸は接触アーム26の回転中心軸から偏依する。
例示的実施形態では、内表面86と複数の排気口64との間の移行部には半径88が含まれる。さらに、複数の排気口64のそれぞれの側面は、湾曲面90を含んでもよい。半径88と湾曲面90とは、溝54から排気溝46へのガスの流れを促進し、ガスの流れが狭窄されることを防止するように構成される。溝54から排気溝46へのガスの流れを促進することによって、チャンバ44内の圧力を所望のレベルに制御できる。後述のように、それによってプラズマアークを消弧する際に遮断性能が最大限になり、しかもハウジング84が損傷するリスクが最小限になるという利点が得られる。
アブレーション装置50によって発生するガスは、プラズマアークに対する冷却及び収縮効果をもたらす。これは、アーク抵抗を高め、プラズマアークの消弧を補助することで利点をもたらす。それに加え、排気溝46を経て排出されるガスも低温になり、周囲の機器への影響が軽減される。一般に、発生するアブレーションガスが多いほど、プラズマは迅速に冷却され、消弧される。しかし、アブレーションガスの量が多いほど、チャンバ44内の圧力は高まる。この圧力によって、回路遮断器20のハウジング84に応力が加えられる。従って、アブレーション装置50の有利な作用はハウジング84の強度と平衡をとる必要があり、さもなければハウジング84が損傷することがある。その結果、複数の排気口64の位置と構成は、電流遮断中の回路遮断器20の性能に影響を及ぼす。第4のパラメータである、回路遮断器が開位置にある場合の固定接点22と可動接点24との間の間隔82も、回路遮断器20の性能に影響を及ぼす。一般に、間隔82が大きいほどアークは長くなり、アーク抵抗は大きくなり、遮断性能は向上する。例示的実施形態では、間隔82は20ミリメートルである。
動作中、回路遮断器20は閉位置にあり、電流は入力端子28から接触アーム26を通って流れ、負荷端子42を経て流出する。例えば電気的故障などの所定の状態が検知されると、トリップアセンブリ36がラッチ38を解放して、機構30が接触アーム26を閉位置から開位置へと移動させる。可動接点24が固定接点22から分離され始めると、接点22、24の間にプラズマアークが形成される。プラズマアークの特性の1つは、電流が入力端子28から負荷端子42へと流れ続けることが可能になることである。例えば短絡などの異常な状態の場合、回路遮断器20を流れる電流は、通常の動作状態の何倍ものレベルになることがある。従って、下流の配線と機器の損傷を避けるため、プラズマアークを消弧して下流を流れる電流の量を最小限にすることが望まれる。
接点22、24が分離すると、プラズマアークはアブレーション装置50から材料を蒸発させる。接点22、24が分離すると先ず、接点22、24の最も近傍の側壁52の端部56からの材料が蒸発する。側壁52及び表面86からの材料が蒸発してガスを生成し、これがアークを冷却し、さらに接触アーム26が開位置の方向に移動し続けるので、アークのサイズを収縮させようとする。例示的実施形態では、アブレーションガスの多くが側壁52によって生成される。さらに、アブレーション装置50からの材料の蒸発は、チャンバ44内の圧力を上昇させることを理解されたい。ガスは通常、高圧領域から低圧領域へと流れるので、生成されたガスは複数の排気口64を通って排気溝54内に流入する。
前述のとおり、複数の排気口64のサイズと位置は、回路遮断器20の遮断性能に影響を及ぼす。この性能の判断基準の1つは、単位がkA秒である「通過エネルギ(let−through energy)」と一般に言われる測定基準である。通過エネルギは、例えば短絡などの異常な状態の場合に、回路遮断器20の下流で受け取られるエネルギの量を示す。
図7を参照すると、標準型のアークシュートを取り外し、アブレーション装置50と交換して、本明細書に開示される本発明の実施形態により修正された市販の回路遮断器を使用して、一連のテストが回路遮断器20で実施された。対照として、255ボルト、6kA二乗平均平方根(RMS)の短絡状態で、アークシュートを有する標準型の回路遮断器をテストし、通過エネルギを測定した。標準型の回路遮断器の通過エネルギはバー92で示されるように218kA秒であった。次いで、標準型の回路遮断器の間隔82を13ミリメートルから20ミリメートルに増大したサンプルが準備された。その結果、バー94で示すように通過エネルギは183kA秒まで低下した。
間隔82を20ミリメートルに保ったまま、アブレーション装置50で一連のテストが実施され、第1の間隔72は5ミリメートルから1ミリメートルに変更された。これらのテストでは、通過エネルギは、5ミリメートルの間隔72を有するアブレーション装置の場合には171kA秒で始まり、バー96で示されるように1ミリメートルの間隔72を有するアブレーション装置50の場合は136kA秒まで徐々に低下した。通過エネルギが低減することに加えて、1ミリメートルの間隔72を有するサンプルは、第1の排気口66を固定接点22の近傍に配置することでガス圧を迅速に逃がすことができたため、アブレーション装置50からの材料の蒸発により生ずる圧力の応力の兆候は少なかった。
次いで、径方向の空隙76を1ミリメートルから2ミリメートルに変更し、一方、第1の排気口66の幅80を2ミリメートルから4ミリメートルに変更して一連のテストが実施された。これらのテストでは、間隔72は1ミリメートルにとどめられ、排気口の間隔82は20ミリメートルにとどめられた。これらのテストでは、排気口の幅を広げ、径方向の空隙76も広げた場合は、通過エネルギが低減した。2ミリメートルの径方向の空隙76と4ミリメートルの排気口の幅80とを組み合わせた場合は、通過エネルギはバー98で表わされるように84kA秒まで低減した。従って、適切なサイズ及び配置の第1の排気口66を有するアブレーション装置50を使用した結果、通過エネルギは市販の回路遮断器よりも約62%低減した。ガスの流れが増大すると性能が向上するように思われるかもしれないが、アブレーションガスにより発生する圧力はアークのサイズも収縮するので、この向上には限界があることを理解されたい。従って、複数の排気口64を除去すると、アークを収縮し、冷却するにはガス圧が不十分であるため、性能に悪影響を及ぼすものと考えられる。
アブレーション装置50を有する回路遮断器20は、1つ又は複数の利点を含むことができる。典型的なアークシュートアセンブリの代わりにアブレーション装置を使用することによって、回路遮断器を製造するために必要な構成部品の数と労力とを大幅に削減することができる。アブレーション装置から蒸発したガスは、回路遮断器の排気口から排出されるガスを冷却することもでき、それによって周囲の環境や機器への損傷や影響の可能性を低下させることができる。さらに、チャンバからのガスの流れを制御するための複数の排気口を有するアブレーション装置は通過エネルギを低減することができる。
例示的実施形態を参照して本発明を説明してきたが、本発明の範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能であり、同等物の置き換えも可能であることは理解されよう。また、本発明の本質的な範囲から逸脱することなく、本発明の教示に適する特別な状況又は構成要素に修正できる。従って、本発明は、発明を実施するための最良の形態として開示された特定の実施形態に制限されることなく、特許請求の範囲内のあらゆる実施形態を含む。図面の簡単な説明では、本発明の例示的実施形態を開示しており、特定の用語を使用したが、特に明記しない限り、一般的に説明する意味で使用しただけであり、限定する目的ではなく、本発明の範囲を制限するものではない。また、「第1」、「第2」などの用語は、順番や重要性を表しているのではなく、1つの構成要素を区別するために使用している。さらに、数詞が無いものは量を限定しているものではなく、参照項目が少なくとも1つ存在していることを示している。
20 回路遮断器
22 固定接点
24 可動接点
26 接触アーム
28 入力端子
30 機構
32 リンク機構
34 ハンドル
36 トリップアセンブリ
38 ラッチ
40 磁石
42 負荷端子
44 チャンバ
46 排気溝
48 排気溝の端部
50 アブレーション装置
52 側壁
54 溝
56 端壁
58 開口部
60 上表面
62 導体
64 複数の排気口
66 第1の排気口
68 第2の排気口
70 第3の排気口
72 第1の間隔
74 固定接点の上表面
76 径方向の空隙
78 固定接点の縁部
80 幅
82 間隔(第3−固定接点と可動接点の間)
84 ハウジング
86 内表面
88 半径
90 湾曲面
92 バー−標準の通過エネルギ
94 バー−20ミリメートルの間隔82
96 バー−1ミリメートルの間隔72
98 バー−2ミリメートルの径方向の空隙と4ミリメートルの幅

Claims (10)

  1. 回路遮断器(20)であって、
    チャンバ(44)と、
    前記チャンバ(44)内のアブレーション装置(50)であって、端部に第1の開口部(58)と、側面に沿った複数の排気口(64)とを有する前記アブレーション装置(50)と、
    前記チャンバ(44)内にあり、閉位置と開位置との間を移動可能な接触アーム(26)と、
    前記接触アーム(26)に結合され、前記複数の排気口(64)の近傍にある可動接点(24)と、
    前記アブレーション装置(50)の第1の開口部(58)内に位置する固定接点(22)とを備える回路遮断器。
  2. 前記アブレーション装置(50)は前記接触アーム(26)の近傍に溝(54)を含み、前記複数の排気口(64)は前記溝(54)から溝の開口側の反対側に延在する、請求項1に記載の回路遮断器。
  3. 前記複数の排気口(64)は、前記固定接点(22)に密接して配置された第1の排気口(66)を含み、前記第1の排気口(66)は、前記固定接点(22)の上表面(74)からの第1の間隔(72)と、前記固定接点(22)の縁部(78)からの第2の間隔(76)とを隔てて位置し、前記第1の排気口(66)はさらに、関連する幅(80)を有する、請求項2に記載の回路遮断器。
  4. 前記第1の間隔(72)は約1ミリメートルから約5ミリメートルであり、前記第2の間隔(76)は1ミリメートルから2ミリメートルであり、前記幅(80)は2ミリメートルから4ミリメートルである、請求項3に記載の回路遮断器。
  5. 前記第1の間隔(72)は1ミリメートルであり、前記第2の間隔(76)は2ミリメートルであり、前記幅(80)は4ミリメートルである、請求項4に記載の回路遮断器。
  6. 回路遮断器であって、
    固定接点(22)と、
    可動接点(24)が結合された接触アーム(26)であって、前記接触アーム(26)が閉位置にある場合に前記可動接点(24)が前記固定接点(22)と接触するように配置され、前記可動接点(24)と前記固定接点(22)とは、前記接触アームが開位置にある場合に第1の間隔(82)によって分離される接触アーム(26)と、
    前記固定接点(22)の周囲に配置された第1の開口部(58)を有するアブレーション部材(50)であって、前記アブレーション部材(50)は第1の側面(52)から延在する溝(54)を有し、前記溝(54)は第2の側面から延在する複数の排気口(64)を有し、前記接触アーム(26)が前記閉位置から前記開位置に移動すると、前記可動接点(24)は前記溝(54)内に位置する構成のアブレーション部材(50)と、
    前記複数の排気口(64)と流体連通し、負荷端子(42)の近傍に端部(48)を有する排気溝(46)とを備える回路遮断器。
  7. 前記排気溝(46)は前記溝(54)とは反対側にあり、前記複数の排気口(64)は前記固定接点(22)の近傍に位置する第1の排気口(66)を含む、請求項6に記載の回路遮断器。
  8. 前記第1の排気口(66)は、前記固定接点(22)の上面(74)及び前記第1の排気口(66)からの第1の間隔(72)を隔てて位置し、
    前記固定接点(22)の縁部(78)と前記第1の排気口(66)との間に径方向の空隙(76)が位置し、
    前記第1の排気口(66)はさらに第1の幅(80)を有する、請求項7に記載の回路遮断器。
  9. 前記第1の間隔(72)は20ミリメートル以上であり、前記径方向の空隙(76)は2ミリメートルであり、前記幅(80)は4ミリメートルである、請求項8に記載の回路遮断器。
  10. 前記アブレーション部材(50)は、ポリオキシメチレン、フェノール・繊維複合材料、エポキシ及びポリテトラフルオロエチレンの群から選択された材料からなる、請求項9に記載の回路遮断器。
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