JP2010067961A - 高演色性発光ダイオードの製造方法とシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の高演色性発光ダイオードの製造方法とシステムは、主に演算法で発光ダイオードと混合可能な少なくとも2種類以上の蛍光粉のそれぞれの濃度を計算し、混光後の発光スペクトルは予め設定した色温度の高演色性白色光を提供する。
【選択図】 図3
Description
そのうちρνが輻射エネルギー密度(radiant energy density)、νが周波数、Tが絶対温度、αとβが定数である。
そのうち、cが光速、k=ボルツマン定数である。但しこの公式は低周波の部分のみ実験曲線と合致し、ν→∞であるとき、ρν→∞へと発散してしまい、実験と明らかに合致しなくなり、即ち古典物理における「紫外破綻」が生じる。
或いは
そのうち、hはプランク定数であり、大きさはh=6.626x10-34 J・sである。プランクの仮定からレイリー・ジーンズの法則、ヴィーンの変位則、ステファン・ボルツマンの法則を解釈し、導き出すことができる。
(1)
上述の黒体放射からの発展背景から、レイリー・ジーンズの方程式、ステファン・ボルツマンの方程式、或いはヴィーンの方程式を簡略化した黒体放射のスペクトルとして応用することもできる。目標色温度を設定し、かつプランク方程式(Planck’s Law)で色温度のスペクトルを計算すると(色温度範囲は2500K〜8000Kとできる)、目標色温度の黒体放射の可視光スペクトルが得られる。本ステップにおいて、目標色温度の黒体放射の可視光スペクトルはTa(λ)で表す。
(2)
そのうち、混合発射スペクトルはCa(λ)で表す。
発光ダイオードチップの発光強度はaで表す。
第1蛍光粉の濃度はbで表す。
第2蛍光粉の濃度はcで表す。
(3)
そのうちN0は各色標の番号を表し、colorcheck(λ)は各色標の反射スペクトルを表す。
(4)
(5)
CaSc2O4:Ce(516nm);
(MgCaSrBa)2SiO4:Eu(525nm);
Ca3Sc2Si3O12:Ce(455-507nm);
(Ca1.47Mg1.5Ce0.03)(Sc1.5Y0.5)Si3O12(455nm);
(Ca2.97Ce0.03)Sc2 (Si、Ge)3O12。
蛍光粉の発光波長範囲は600-650nmの間であり、主に窒化物系及び硫化物系とする。例:
CaAlSiN3:Eu(650nm);
(CaEu)AlSiN3(648nm);
(SrCa)AlSiN3:Eu(630nm);
SrGa2S4:Eu(645nm)。
CaSc2O4:Ce(516nm);
(MgCaSrBa)2SiO4:Eu(525nm);
Ca3Sc2Si3O12:Ce(455-507nm);
(Ca1.47Mg1.5Ce0.03)(Sc1.5Y0.5)Si3O12(455nm);
(Ca2.97Ce0.03)Sc2 (Si,Ge)3O12。
及び蛍光粉の発光波長範囲は600-650nmの間とし、主に窒化物系及び硫化物系とすることができる。例:
CaAlSiN3:Eu(650nm);
(CaEu)AlSiN3(648nm);
(SrCa)AlSiN3:Eu(630nm);
SrGa2S4:Eu(645nm)。
CaSc2O4:Ce(516nm);
(MgCaSrBa)2SiO4:Eu(525nm);
Ca3Sc2Si3O12:Ce(455-507nm);
(Ca1.47Mg1.5Ce0.03)(Sc1.5Y0.5)Si3O12(455nm);
(Ca2.97Ce0.03)Sc2 (Si,Ge)3O12。
及び蛍光粉の発光波長範囲は600-650nmの間とし、主に窒化物系及び硫化物系とすることができる。例:
CaAlSiN3:Eu(650nm);
(CaEu)AlSiN3(648nm);
(SrCa)AlSiN3:Eu(630nm);
SrGa2S4:Eu(645nm)。
31〜32 ステップ
41〜45 ステップ
51 第1データベース
52 混色ユニット
53 標準色温度スペクトル生成器
54 スペクトル比較ユニット
55 第2データベース
56 標準色標反射スペクトル生成ユニット
57 色標スペクトル比較ユニット
61〜65 ステップ
71 目標色温度の黒体放射生成器
72 第1データベース
73 スペクトル計算ユニット
74 スペクトル比較ユニット
76 蛍光粉の濃度の調整
77 蛍光粉の再選択
100 目標色温度の黒体放射生成器
101 第1データベース
102 スペクトル計算ユニット
103 第2データベース
104 標準色標の反射スペクトルと演色評価数計算ユニット
105 混光スペクトルの反射スペクトルと演色評価数計算ユニット
106 比較ユニット
108 蛍光粉の濃度の調整
109 蛍光粉の再選択
110 目標色温度の黒体放射のスペクトル生成器
111 第1データベース
112 スペクトル計算ユニット
113 スペクトル比較ユニット
114 第1段階の近似
115 第2データベース
116 標準色標の反射スペクトル演色性計算ユニット
117 比較ユニット
118 混光スペクトルの反射スペクトル演色性計算ユニット
119 第2段階の近似
Claims (5)
- 高演色性発光ダイオードを製造する方法であって、
第1色温度下の黒体放射が射出する可視光スペクトルである標準スペクトルを計算し、
発光ダイオードの発射スペクトル、第1蛍光粉の発射スペクトル、第2蛍光粉の発射スペクトルを提供し、
前記標準スペクトルにより前記第1蛍光粉と前記第2蛍光粉の濃度を調整して第1混光スペクトルを取得し、
前記第1混光スペクトルの各標準色標における演色性を計算し、
演色性が最も悪い色標を見つけて前記第1蛍光粉と前記第2蛍光粉の濃度を修正し、第2混光スペクトルを取得するというステップを含むことを特徴とする、高演色性発光ダイオードを製造する方法。 - 高演色性発光ダイオードを製造するシステムであって、
第1色温度下の黒体放射が射出する可視光スペクトルである標準スペクトルを計算するために用いる手段と、
発光ダイオードの発射スペクトル、第1蛍光粉の発射スペクトル、第2蛍光粉の発射スペクトルを提供するために用いる手段と、
前記標準スペクトルを用い前記第1蛍光粉と前記第2蛍光粉の濃度を調整して第1混光スペクトルを取得する手段と、
前記第1混光スペクトルの各標準色標における演色性を計算する手段と、
演色性が最も悪い色標を見つけて前記第1蛍光粉と前記第2蛍光粉の濃度を修正し、第2混光スペクトルを取得する手段と、
を含むことを特徴とする、高演色性発光ダイオードを製造するシステム。 - 高演色性発光ダイオードを製造するシステムであって、
発光ダイオードの発射スペクトル、第1蛍光粉の発射スペクトル、第2蛍光粉の発射スペクトルの保存に用いる第1データベースと、
各標準色標の反射スペクトルの保存に用いる第2データベースと、
前記第1データベース中の前記発光ダイオード、前記第1蛍光粉、前記第2蛍光粉の混光スペクトルの計算に用い、そのうち前記混光スペクトルが第1混光スペクトルである混色ユニットと、
第1色温度下の黒体放射が射出する可視光スペクトルの生成に用いる標準色温度スペクトル生成器と、
前記第1混光スペクトルと前記標準色温度スペクトル生成器の生成する標準スペクトルの照合に用いるスペクトル比較ユニットと、
前記第2データベース中の各標準色標の反射スペクトルを読み取り、かつ前記第1混光スペクトルと前記標準スペクトルに対し、前記第1混光スペクトルの各標準色標反射スペクトルと前記標準スペクトルの各標準色標反射スペクトルをそれぞれ生成する標準色標反射スペクトル生成ユニットと、
前記第1混光スペクトルの各標準色標反射スペクトルと前記標準スペクトルの各標準色標反射スペクトルの照合に用いる色標スペクトル比較ユニットと、
を含むことを特徴とする、高演色性発光ダイオードを製造するシステム。 - 多種類の蛍光粉の濃度を計算して高演色性発光ダイオードを得る方法であって、
多種類の蛍光粉の濃度を調整して発光ダイオードの混光後のスペクトルを第1色温度下の黒体放射の発光スペクトルに接近させ、
前記混光後のスペクトルの各標準色標の反射スペクトル中において演色性が最も悪い色標を見つけて前記多種類の蛍光粉の濃度を修正する、
というステップを含むことを特徴とする、多種類の蛍光粉の濃度を計算して高演色性発光ダイオードを得る方法。 - 2段階の近似を用いて各種蛍光粉の高演色性発光ダイオードにおける配合割合を見つける方法であって、
黒体放射に近い各種蛍光粉の混合割合を見つけ、
演色性が最も悪い色標から前記各種蛍光粉の配合割合を修正する、
というステップを含むことを特徴とする、2段階の近似を用いて各種蛍光粉の高演色性発光ダイオードにおける配合割合を見つける方法。
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