JP2010066186A - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データを複数の領域に分割する領域分割手段と、前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データから欠陥部分を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段によって検出された欠陥部分が存在する前記領域を算出する欠陥領域算出手段と、前記欠陥領域算出手段によって算出された欠陥領域を出力する欠陥領域出力手段とを備える。
【選択図】図1
Description
すなわち、本発明の一態様によれば、本発明の検査装置は、検査対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データを複数の領域に分割する領域分割手段と、前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データから欠陥部分を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段によって検出された欠陥部分が存在する前記領域を算出する欠陥領域算出手段と、前記欠陥領域算出手段によって算出された欠陥領域を出力する欠陥領域出力手段とを備えることを特徴とする。
また、本発明の検査装置は、さらに、前記欠陥領域算出手段によって算出された複数の欠陥領域が互いに隣接していることを算出する隣接欠陥領域算出手段を備えることが望ましい。
また、本発明によれば、演算結果を短時間に出力することが可能となり、作業者が結果出力を待つ必要がなくなる。
液晶基板等の半導体基板上の欠陥を検出する検査装置の欠陥結合処理において、検査対象である半導体基板の画像データをあらかじめ複数の領域に分割しておく。例えば、横ΔX、縦ΔYの領域に分割しておき、同一領域内にある欠陥を結合し、最終的な欠陥情報とする。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明を適用した第1の実施の形態を説明するための図である。
(第2の実施の形態)
図2は、本発明を適用した第2の実施の形態を説明するための図である。
まず、ステップS301において、欠陥13の座標に基づいて、欠陥13が存在するサブ領域22を算出する。
そして、ステップS303において、任意のサブ領域22に対して、その周囲9個のサブ領域22の配列に欠陥13が存在すれば、これらを結合する。
(第3の実施の形態)
図4は、本発明を適用した第3の実施の形態を説明するための図である。
(第4の実施の形態)
図5は、本発明を適用した第4の実施の形態を説明するための図である。
12 領域
13(13−1,13−2,13−3) 欠陥
14(14−1,14−2) 欠陥情報
22 サブ領域
24 欠陥情報
41 ゲート線
42 ソース線
43 欠陥
44 表示部
45 境界
51 基準点
Claims (9)
- 検査対象物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データを複数の領域に分割する領域分割手段と、
前記撮像手段によって撮像した検査対象物の画像データから欠陥部分を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段によって検出された欠陥部分が存在する前記領域を算出する欠陥領域算出手段と、
前記欠陥領域算出手段によって算出された欠陥領域を出力する欠陥領域出力手段と、
を備えることを特徴とする検査装置。 - さらに、
前記欠陥検出手段によって検出された複数の欠陥部分が、前記領域分割手段によって分割された同一の領域内に存在した場合、前記複数の欠陥部分を結合した欠陥情報として出力する欠陥情報出力手段、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 前記検査対象物は、表示デバイスを構成する表示基板であり、
前記領域分割手段は、前記表示基板を構成する最小繰り返し単位で前記表示基板の画像データを分割する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置。 - 前記欠陥情報出力手段は、前記欠陥情報と前記最小繰り返し単位とを対応付けて出力する、
ことを特徴とする請求項3に記載の検査装置。 - さらに、
前記欠陥領域算出手段によって算出された複数の欠陥領域が互いに隣接していることを算出する隣接欠陥領域算出手段、
を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の検査装置。 - さらに、
前記領域分割手段によって分割された領域を更に複数のサブ領域に分割するサブ領域分割手段、
を備え、
前記隣接欠陥領域算出手段は、前記サブ領域分割手段によって分割されたサブ領域が互いに隣接していることを算出する、
ことを特徴とする請求項5に記載の検査装置。 - 前記隣接欠陥領域算出手段は、前記サブ領域分割手段によって分割されたサブ領域の周辺のサブ領域について、前記サブ領域が互いに隣接していることを算出する、
ことを特徴とする請求項6に記載の検査装置。 - 検査装置のコンピュータが、
検査対象物を撮像し、
前記撮像した検査対象物の画像データを複数の領域に分割し、
前記撮像した検査対象物の画像データから欠陥部分を検出し、
前記検出された欠陥部分が存在する前記領域を算出し、
前記算出された欠陥領域を出力する、
ことを特徴とする検査方法。 - さらに、
前記検出された複数の欠陥部分が、前記分割された同一の領域内に存在した場合、前記複数の欠陥部分を結合した欠陥情報として出力する、
ことを特徴とする請求項8に記載の検査方法。
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JP2008234268A JP2010066186A (ja) | 2008-09-12 | 2008-09-12 | 検査装置および検査方法 |
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2008
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