JP2010016265A - 電流制御回路及び照明装置 - Google Patents

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克弥 池田
Shichiro Funakoshi
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Abstract

【課題】半導体素子の温度が過度に上昇しないように駆動電流を減少させる制御を安定的に行う。
【解決手段】降下電圧が負の温度特性を有する半導体素子Dの駆動電流を制御する電流制御回路であって、半導体素子Dに駆動電流を供給する定電流発生回路2と、半導体素子Dの降下電圧を検出する電圧検出回路4と、降下電圧を横軸とし駆動電流を縦軸とした座標平面において、電圧検出回路4により検出された降下電圧の値と定電流発生回路2により供給される駆動電流の値とを持つ座標点が、半導体素子Dの電圧電流特性の傾きよりも小さい傾きを持った境界線上又は該境界線よりも降下電圧の値が小さい領域に存在するか否かを判定し、存在すると判定された場合に定電流発生回路2が供給する駆動電流を減少させる制御を行う制御回路6と、を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は電流制御回路及び照明装置に関する。
発光ダイオードのような半導体素子は、一般に、使用温度が10℃上昇すると寿命が半分になるというアレニウス則に従うことが知られている。よって、所定の製品寿命を確保するためには、素子の温度を検出して、検出温度が所定の温度以上になったら駆動電流を減少させて電流による発熱を低減する制御を行うことが必要である。ここで、一定値の駆動電流を半導体素子に流した時、半導体素子における降下電圧は素子の温度に依存して決まる(通常は負の温度特性、即ち温度が上昇すると降下電圧が低下する温度特性を持つ)ので、降下電圧を計測することによって素子の温度を検出し、上記の電流制御を行うことが考えられる(特許文献1参照)。
特開2006−206001号公報
しかしながら、降下電圧に基づき素子温度を検出して電流制御を行う上記の方法では、次のような制御上の問題が発生する。即ち、上記制御方法では、降下電圧を計測して素子の温度がある設定温度を超えたと判定された場合に、駆動電流を減少させる。このとき、駆動電流が減少すると降下電圧が低下するが、半導体素子の降下電圧が負の温度特性を持っているため、降下電圧の低下により素子温度が更に上昇したと判定されることになる。すると、降下電圧に基づき検出される素子温度が上記の設定温度を超えたままの状態が続いて、駆動電流を減少させる制御がいつまでも持続する結果となる。つまり、上記の制御方法によれば、素子の温度が一旦設定温度を超えると駆動電流を安定させることができない正帰還の状態に陥ってしまうので、半導体素子を正常に駆動することが事実上不可能である。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、その目的は、半導体素子の温度が過度に上昇しないように駆動電流を減少させる制御を安定的に行うことが可能な電流制御回路を提供することにある。
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、温度が上昇すると降下電圧が低下する温度特性を有する半導体素子の駆動電流を制御する電流制御回路であって、前記半導体素子に駆動電流を供給する電流供給手段と、前記半導体素子の降下電圧を検出する電圧検出手段と、降下電圧を横軸とし駆動電流を縦軸とした座標平面において、前記電圧検出手段により検出された降下電圧の値と前記電流供給手段により供給される駆動電流の値とを持つ座標点が、前記半導体素子の電圧電流特性の傾きよりも小さい傾きを持った境界線上又は該境界線よりも降下電圧の値が小さい領域に存在するか否かを判定し、存在すると判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させる制御を行う制御手段と、を備えることを特徴とする。
また、本発明は、上記の電流制御回路において、前記制御手段は、前記電圧検出手段により検出された降下電圧Vに対する前記電流供給手段により供給される駆動電流Iの比I/Vを計算し、前記計算された比I/Vが所定の設定値以上か否かを判定し、所定の設定値以上と判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させることを特徴とする。
また、本発明は、上記の電流制御回路において、前記制御手段は、前記電圧検出手段により検出された降下電圧V及び前記電流供給手段により供給される駆動電流Iから値(I−c)/Vを計算(cは所定の値)し、前記計算された値(I−c)/Vが所定の設定値以上か否かを判定し、所定の設定値以上と判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させることを特徴とする。
本発明の構成によれば、一定値の駆動電流Iで駆動される半導体素子の温度が上昇して降下電圧Vが低下し、図3において領域R1にあった座標点(V,I)が境界線C上へ移動すると、制御手段により駆動電流を減少させる制御が行われる。その結果、座標点(V,I)が境界線C上へ移動した時点の温度における電圧電流特性に従って降下電圧が減少し、当該温度の電圧電流特性を表わす直線IVに沿って座標点(V,I)は移動するが、直線IVの傾き(電圧電流特性の傾き)が境界線Cの傾きより大きいため、移動後の座標点(V,I)は再び領域R1内に存在することとなる。すると、制御手段による駆動電流の減少が停止され、駆動電流は元の電流値より所定量だけ小さい値に維持される。こうして、駆動電流を減少させた際に正帰還の状態に陥ることなく駆動電流が安定する制御が実現される。なお、上記のように駆動電流の減少が停止した状態において、その時の駆動電流での発熱がまだ過剰であり、素子温度が上昇を続ける場合には、再び上記と同様の制御が行われて更に駆動電流が減少していき、半導体素子の発熱と放熱のバランスがとれた電流値となった状態で、最終的に駆動電流は安定することになる。
このように、本発明によれば、半導体素子の温度が過度に上昇しないように駆動電流を減少させる制御を安定的に行うことが可能である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳しく説明する。
図1は、本発明の一実施形態による電流制御回路を用いた照明装置の構成図である。本実施形態の照明装置は、定電流電源1と、バッテリBと、発光ダイオードDと、抵抗Rと、を含んで構成されており、定電流電源1は、定電流発生回路2と、本実施形態による電流制御回路3と、から構成されている。
バッテリBは、定電流電源1に電力を供給する電源である。定電流電源1は、発光ダイオードDを駆動するための定電流を定電流発生回路2により発生させて出力する。定電流発生回路2は、電流制御回路3による制御に従って定電流を発生させる回路である。
電流制御回路3は、電圧検出回路4と、電流検出回路5と、制御回路6と、を備えている。電圧検出回路4は、発光ダイオードDの上流(アノード)側の電位V1と下流(カソード)側の電位V2の電位差V、即ち発光ダイオードDの降下電圧Vを検出し、検出値Vを制御回路6へ出力する。電流検出回路5は、電圧V2と発光ダイオードDの下流側に設けられた抵抗Rの抵抗値とから発光ダイオードDを流れる定電流(駆動電流)Iを検出し、検出値Iを制御回路6へ出力する。制御回路6は、発光ダイオードDの降下電圧Vと駆動電流Iとに基づいて、所定の条件(後述)で駆動電流を減少させる制御を行う。
図2は、発光ダイオードDの素子温度と電圧電流特性との関係を示す図である。同図において、横軸は電圧、縦軸は電流であり、素子温度が25℃、50℃、75℃、及び100℃の時の電圧電流特性が示されている。この図から分かるように、発光ダイオードは素子温度が高いほど低い印加電圧で電流が流れる。そのため、ある一定値の駆動電流Iで発光ダイオードを駆動した場合、素子温度が25℃→50℃→75℃→100℃と上昇していったとすると、降下電圧Vが低下していき、降下電圧Vと駆動電流Iで表される座標点(V,I)は、図2に示されるようにP1→P2→P3→P4のように移動していくことになる。
図3は、制御回路6による電流制御方法を説明する図である。同図において、初めに座標点(V,I)がPで示される位置(境界線Cより右側)に存在していたとする。制御回路6は、このとき電圧検出回路4で検出された降下電圧Vと電流検出回路5で検出された駆動電流Iとから、その比α=I/Vを計算する。ここで、比αの値は、座標点P(V,I)と原点とを結ぶ直線の傾きに相当している。発光ダイオードDの素子温度が上昇していくと、降下電圧Vが低下することにより座標点P(V,I)は左方向へ移動して境界線Cに近付いていき、比αは分母Vが小さくなるのでその値が増加していく。
やがて、座標点P(V,I)はある温度(Tとする)で境界線C上の点Pの位置に到達する。ここで、図3において、境界線Cは点Pと原点とを結んだ傾きαの直線であるとする。制御回路6は、適宜のサンプリング周期で比α=I/Vを計算し、この比αがα≧αの条件を満たすか否か(座標点P(V,I)が境界線C上又は境界線Cより左側の領域R2に存在するか否か)を判定する。当該条件が満たされる場合、制御回路6は、発光ダイオードDの駆動電流を所定値ΔIだけ減少させるように低電流発生回路2を制御する。
このとき、発光ダイオードDの素子温度が変化していなければ、座標点Pは、点Pを通る(即ち温度Tにおける)電圧電流特性IVの直線に沿って、点Pから点P’まで移動する。点P’は点PよりΔIの分だけ下がった直線IV上の点である。ここで、図3から明らかなように、電圧電流特性IVの直線の傾きは、点Pと原点とを結んだ直線である境界線Cの傾きαよりも大きい。そのため、座標点P(V,I)の移動先である点P’は領域R1に存在しており、また、点P’に移動した時に制御回路6により計算される比αの値は、境界線Cの傾きαよりも小さくなることとなる。したがって、制御回路6は、上記の条件判定の結果、駆動電流の減少を停止させる制御を行い、これにより、駆動電流は電流値I−ΔIに維持される。
こうして、制御回路6が発光ダイオードDの駆動電流を減少させる制御を行ったとき、正帰還の状態に陥ることなく、駆動電流の安定的な制御が実現される。
上記のように駆動電流を電流値I−ΔIに下げたことによって発光ダイオードの発熱と放熱がバランスすれば、その後も駆動電流は電流値I−ΔIのまま維持される。一方、駆動電流をI−ΔIに下げても発熱がまだ過剰である場合には、発熱と放熱がバランスするまで、制御回路6による上述の制御が実施される。図4を用いてその状況を説明する。
即ち、図4において、駆動電流がI−ΔIになった後も素子温度の上昇が続くと、座標点P(V,I)は点P’の位置から再び左方向へ移動し、比αも再び値が増加する。そして、座標点Pは境界線C上の点PC1に到達して、比αの上記条件α≧αが満たされる。すると、制御回路6は、再び、発光ダイオードDの駆動電流を所定値ΔIだけ減少させる制御を行う。これにより、座標点Pはその時の温度における電圧電流特性の直線に沿って点PC1から領域R1の点P’へ移動し、比αの値も小さくなって、制御回路6が駆動電流の減少を停止させる。
以降、同様の制御が繰り返されて、図4において座標点PはP’→PC2→P’→PC3…と順次移動していき、駆動電流はΔIずつ徐々に減少していく。最終的に、駆動電流が電流値Ifinまで下がることで発光ダイオードDの発熱が放熱とバランスしたとすると、座標点P(V,I)は、図4の点P’(素子温度はT)に到達した後、それ以上素子温度が上昇しないためそこに滞留する。こうして、発光ダイオードDの駆動電流を安定的に電流値Ifinまで減少させて、素子温度の過度な上昇を防止する電流制御が実現される。
なお、上記説明した制御において、駆動電流の減少量ΔIは、電流制御に求められる諸々の性能を考慮して決定すればよい。例えば、電流値を細かく制御したい場合には、ΔIを小さい値とすることが考えられる。また、素早く駆動電流を安定させたい場合には、逆にΔIを大きくすることが考えられる。
また、上述したとおり、発光ダイオードDの駆動電流を減少させる制御は素子温度がTになったら開始されるが、この温度Tは発光ダイオードDの寿命や用途などに応じて適宜設定することが可能である。そして、温度Tと駆動電流の初期値Iが決まると図3の点Pが決まり、この点Pを通るようにして境界線Cを設定すればよい。
また、境界線Cは、図3のように点Pと原点を結ぶ直線に限らず、例えば図5に示すように、横軸(電圧Vの軸)の正の部分を横切るような直線C’としてもよい。この場合、点Pと境界線C’の距離が図3における点Pと境界線Cの距離より小さいので、点Pの状態から僅かに素子温度が上昇しただけで更にΔIだけ駆動電流が減少させられることになる。よって、素子温度に対してより敏感な電流制御が可能である。
但し、境界線Cの傾きは、上述の説明から明らかなように電圧電流特性IVの直線の傾きよりも小さくなければならない。この条件さえ満足されていれば、境界線Cを直線ではなく曲線としてもよい。
以上、図面を参照してこの発明の一実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様々な設計変更等をすることが可能である。
例えば、上記実施形態の図1において、複数個の発光ダイオード(但し、各発光ダイオードの素子温度と電圧電流特性との関係は同一(又はほぼ同一)であるとする)を直列又は並列に接続した構成とし、そのうち1つの発光ダイオードの降下電圧Vと駆動電流Iを検出して、その検出結果に基づき、上記実施形態と同様の制御方法により全ての発光ダイオードの駆動電流を制御するようにしてもよい。
また、上記実施形態において、バッテリBに代えて、他の電源装置を用いることもできる。例えば、商用の交流電源からの交流電流を直流電流に変換して用いても構わない。
本発明の一実施形態による電流制御回路を用いた照明装置の構成図である。 発光ダイオードの素子温度と電圧電流特性との関係を示す図である。 制御回路による電流制御方法を説明する図である。 制御回路による電流制御方法を説明する図である。 制御回路による電流制御方法を説明する図である。
符号の説明
1…定電流電源 2…定電流発生回路 3…電流制御回路 4…電圧検出回路 5…電流検出回路 6…制御回路 B…バッテリ D…発光ダイオード R…抵抗

Claims (4)

  1. 温度が上昇すると降下電圧が低下する温度特性を有する半導体素子の駆動電流を制御する電流制御回路であって、
    前記半導体素子に駆動電流を供給する電流供給手段と、
    前記半導体素子の降下電圧を検出する電圧検出手段と、
    降下電圧を横軸とし駆動電流を縦軸とした座標平面において、前記電圧検出手段により検出された降下電圧の値と前記電流供給手段により供給される駆動電流の値とを持つ座標点が、前記半導体素子の電圧電流特性の傾きよりも小さい傾きを持った境界線上又は該境界線よりも降下電圧の値が小さい領域に存在するか否かを判定し、存在すると判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させる制御を行う制御手段と、
    を備えることを特徴とする電流制御回路。
  2. 前記制御手段は、前記電圧検出手段により検出された降下電圧Vに対する前記電流供給手段により供給される駆動電流Iの比I/Vを計算し、前記計算された比I/Vが所定の設定値以上か否かを判定し、所定の設定値以上と判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させることを特徴とする請求項1に記載の電流制御回路。
  3. 前記制御手段は、前記電圧検出手段により検出された降下電圧V及び前記電流供給手段により供給される駆動電流Iから値(I−c)/Vを計算(cは所定の値)し、前記計算された値(I−c)/Vが所定の設定値以上か否かを判定し、所定の設定値以上と判定された場合に前記電流供給手段が供給する駆動電流を減少させることを特徴とする請求項1に記載の電流制御回路。
  4. 請求項1から請求項3のいずれか1の項に記載の電流制御回路と、該電流制御回路によって駆動電流が制御される前記半導体素子としての発光ダイオードと、を備える照明装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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