JP2010015182A - 液晶表示装置の評価装置、液晶表示装置の評価方法、液晶表示装置 - Google Patents

Abstract

【課題】最適なオーバーシュートパラメータを、容易かつ高精度に求める。
【解決手段】評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示を検知する表示検知部と、該表示検知部の検知結果を解析する解析部とを備え、上記信号部は、上記液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後に元階調から到達階調の階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与える試し駆動を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、その結果に基づいて、最適な検知結果に対応する試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、液晶表示装置の評価装置およびその評価によって得られたオーバーシュートパラメータを用いる駆動回路を搭載する液晶表示装置ならびに液晶表示装置の評価方法に関し、特に前記評価としては、応答性の評価に好適に実施されるものに関する。

近年、フラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）の進歩は目覚しく、ブラウン管モニタが様々なＦＰＤに置換えられつつある。特に、ＦＰＤの先駆け的な存在である液晶ディスプレイ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ：ＬＣＤ）は、技術進歩が目覚しく、日常生活の様々な場面で利用されるようになり、その発展には、より一層の期待が高まっている。

しかしながら、ＬＣＤには、未だ大きな弱点がいくつか残されている。その代表的なものの１つは、動画表示が苦手であると言うことである。この主原因の１つとして挙げられるのは、液晶の応答速度が遅いということである。液晶の応答速度というと、白黒のスイッチング速度で考えることが多いが、前記のようなブラウン管モニタの置換えに伴い、中間調−中間調でのスイッチングが大きな割合を占めており、この状態での液晶の応答速度を考慮しなければならない。しかも、一般的には、応答速度は白黒スイッチングよりも中間調−中間調でのスイッチングの方が遅く、問題となっている。

このため、応答速度の高速化は、テレビをブラウン管からＬＣＤに置換える際に避けて通れない問題であり、あらゆる階調間での液晶の応答を、如何にして高速化するかということが大きな課題となっている。上記課題の解決手段の１つとして提唱されているのが、オーバーシュート（Ｏｖｅｒｓｈｏｏｔ：ＯＳ）駆動法である。この駆動方法の例を図１２に示す。液晶が、ある階調レベルＡから別の階調レベルＢにスイッチングする時、一般にはＡとＢとの階調レベル差が大きい程、液晶は高速スイッチングをする。

したがって、図１２のようにＡ＜Ｂのライズ応答であれば、Ｂ＜Ｃとなる階調レベルのＯＳ階調Ｃを一瞬入力した後に、目標とする階調レベルＢを入力することで、通常のＡからＢへのスイッチング速度よりもより高速に液晶をスイッチングさせることが可能になる。また、Ａ＞Ｂのディケイ応答であれば、Ｂ＞Ｃとなる階調レベルのＯＳ階調Ｃを入力した後に、目標とする階調レベルＢを入力することで、通常のＡからＢへのスイッチング速度よりもより高速に液晶をスイッチングさせることが可能になる。

実際には、フル階調スイッチング（たとえば、０階調から２５５階調へのスイッチング）時に、液晶は最も高速にスイッチングするので、ＯＳ駆動法による液晶の応答速度は、理論上、あらゆる階調間のスイッチングにおいて、フル階調スイッチングの応答速度まで高速化が可能になる。したがって、フル階調スイッチングが充分に高速応答をする液晶表示モードにおいて、ＯＳ駆動法を用いることによって、あらゆる階調間のスイッチングにおいて充分な高速応答が可能なＬＣＤを得ることが可能である。

そして、このようなＯＳ駆動法を実用化するに際して、最も注意を払う必要のある点の１つが、ＯＳパラメータ（実際の駆動時にＯＳ階調Ｃとして印可する信号レベル）を如何にして決定するかということである。ＯＳ駆動を行うための回路において、一般的に用いられているアルゴリズムの要点は、「任意のｎフィールドの階調（現在の階調Ａ）と（ｎ＋１）フィールドの階調（到達階調Ｂ）とを比較し、ルックアップテーブル（ＬｏｏｋＵｐ Ｔａｂｌｅ：ＬＵＴ）を参照して、ＯＳパラメータＣを決定する」ということである。ＬＵＴは、たとえば、「ｎフィールドが１２０階調、（ｎ＋１）フィールドが１５０階調に対し、ＯＳパラメータＣは１９０階調」といったように、ＡとＢとの値の組合わせでＣを決定している一覧表である。このＬＵＴを正確に決定できないと、以下のような状態になり、ディスプレイとしてきちんとした表示が得られない。

すなわち、適切なＯＳパラメータＣを設定した場合、図１３に示すように、１フィールド期間内で、到達階調Ｂを行き過ぎることなく、該到達階調Ｂに達している理想的な応答性を得ることができる。これに対して、充分な高速応答を得るために、あまりに大きなＯＳパラメータＣを設定した場合、図１４に示すように、液晶の応答波形に角が現れる。このような場合、液晶が要求されるスイッチングレベルよりも過剰に応答していることになる。この状態で実際にＬＣＤを見た場合は，スイッチング時や動画表示の際に不自然に光って見える。また、液晶の過剰応答を恐れて充分な大きさのＯＳパラメータＣに設定しない場合、図１５に示すように、充分な応答性が得られず（１フィールド期間内で到達階調Ｂに達していない）、ＯＳパラメータＣのレベルが小さくなる程、図１６で示すＯＳ駆動を行わない場合の応答性に近付き、ＯＳ駆動の意味を失ってしまう。

そこで、ＯＳパラメータＣの決定は、典型的な従来技術では、特開平１１−３５２４５０号公報で示されるように、液晶のスイッチング時に起こるセルの容量変化を求め、そこから該ＯＳパラメータＣを計算することで行われている。

また、以下のように、通常駆動の応答波形から、ＯＳパラメータＣを見積もる手法も考案されている。
１．通常駆動法においての各階調間の応答波形を測定する。
２．その波形から、ＯＳ信号印加分に相当する時間の経過後に到達する階調レベルを求める。
３．その結果から、各階調間のスイッチングに必要なＯＳパラメータＣを見積もり、ＬＵＴを作成する。

特開平１１−３５２４５０号公報（公開日：平成１１年１２月２４日）

しかしながら、前記容量変化からＯＳパラメータＣを計算する場合、液晶の粘性の応答への影響をまったく考慮していないので、計算結果と実際に必要なＯＳパラメータＣとに大きな誤差が生じることが多い。すなわち、本来であれば、セル厚、セルの形状、使用する液晶材料等によって、ＯＳ量が一意的に決まらなければならないところ、実際には、場所によって３０％以上の大きな誤差を発生している。一方、これまではパラメータの誤差に対するユーザの許容レベルが緩く、応答の遅い液晶をとにかく動画表示に耐えうるだけ高速化できていれば、ある程度のパラメータ誤差があっても許容されていたけれども、高速応答だけではなく、より精細な画質も要求される今後は、パラメータ誤差の許容範囲は極めて厳しくなり、従来法では誤差の少ないＯＳパラメータＣを求めるのは困難である。

また、応答波形から見積もる方法は、必要な条件を総て含んでいるけれども、正確なＯＳパラメータＣを確定させるには、作成されたＬＵＴを用いてＯＳ駆動を行い、波形確認を行わなければならず、手間がかかるという問題がある。また、波形確認の結果、調整が必要である場合、正確なＯＳパラメータＣが決定するまで、上記見積もり、確認測定を多数回繰返す必要があり、膨大な手間がかかっていた。

本発明の目的は、最適なオーバーシュートパラメータを、容易、かつ高精度に求めることができる液晶表示装置の評価装置および液晶表示装置ならびに液晶表示装置の評価方法を提供することである。

本発明の液晶表示装置の評価装置は、評価対象の液晶パネルに映像信号を与える映像信号発生回路と、前記液晶パネルの表示部に臨む光学受光素子と、前記光学受光素子からの出力が入力される波形解析装置とを含み、前記映像信号発生回路は、階調を変化させる前の階調をＡとし、到達させるべき階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣ（ただし、Ｃ＝Ｂを含む）とするとき、オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネルに与え、前記波形解析装置は、前記オーバーシュートレベルＣを掃引させた応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆくことを特徴とする。

上記の構成によれば、液晶の応答性を向上するためのオーバーシュート駆動を行うにあたり、液晶パネルの応答性を評価し、最適オーバーシュートパラメータ（実際のオーバーシュート駆動レベル）を決定するにあたって、先ず、階調を変化させる前の任意の階調をＡとし、到達させるべき任意の階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣとするとき、オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次出力することができる映像信号発生回路を設ける。

次に、それぞれの映像信号による液晶パネルの表示画像を光学受光素子で光電変換し、前記波形解析装置に取込む。続いて、波形解析装置は、掃引された種々のオーバーシュートレベルＣの映像信号による液晶パネルの表示結果の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、前記最適オーバーシュートパラメータとして、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく。

具体的には、たとえばライズ応答の場合、Ａ＜Ｂである任意の階調Ａ、Ｂに対し、Ｃのレベルは、前記到達階調レベルＢ以上であり、Ｃを変化させて応答波形を観察し、応答波形がＢのレベルに対し過剰応答しない最大のＣを探出することで、正確なオーバーシュートパラメータを決定する。すなわち、そのＣのレベルでオーバーシュート駆動すれば、映像の破綻が生じず、かつオーバーシュート駆動期間内で所望とする到達階調Ｂに最も近いレベルの階調表示を実現することができるようになる。また、ディケイ応答の場合、Ａ＞Ｂである任意の階調Ａ、Ｂに対し、Ｃのレベルは、前記到達階調レベルＢ以下であり、Ｃを変化させて応答波形を観察し、応答波形がＢのレベルに対し過剰応答しない最小のＣを探出することで、正確なオーバーシュートパラメータを決定する。

したがって、その液晶パネルのオーバーシュート駆動用の駆動回路に、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けた最適オーバーシュートパラメータのルックアップテーブル（ＬｏｏｋＵｐ Ｔａｂｌｅ：ＬＵＴ）をセットしておくことで、該駆動回路は、入力された映像信号の変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂから、前記ＬＵＴを参照して、最適オーバーシュートパラメータを決定し、液晶パネルを適切にオーバーシュート駆動することができる。

このようにして、最適なオーバーシュートパラメータを、容易、かつ高精度に求めることができる。また、オーバーシュート駆動を行っていない液晶パネルに対しても、オーバーシュート信号を用いた測定が可能になり、後に該パネルに対してオーバーシュート駆動を導入するようになった場合、回路設計とオーバーシュートパラメータの決定との２つの作業が必要になるけども、本発明では、回路が出来上がっていない場合でも、すなわちオーバーシュート駆動ができない状態でも、オーバーシュート駆動用のパラメータを求めることができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置では、前記オーバーシュート駆動はｎフィールド期間に亘って行われ、前記映像信号発生回路は、ｎフィールド期間に亘るオーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）とするとき、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎをそれぞれ掃引させつつ、Ａ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネルに与え、前記波形解析装置は、前記オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを掃引させた応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆくことを特徴とする。

上記の構成によれば、オーバーシュート信号は、その印加期間中一定である必要はなく、たとえば低温において著しく液晶の応答が遅くなってしまう場合や、倍速駆動等において、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動が考えられ、フィールド毎に異なったオーバーシュート信号を印加することで、その応用範囲を広げることができる。そこで、前記オーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）として、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂを合わせて、（ｎ＋２）種類の信号を、それぞれ特定の時間だけこの順に出力する。

このように、様々なｎ（多）フィールドオーバーシュート駆動信号を発生することで、前記多フィールドに亘るオーバーシュート駆動に対応したオーバーシュートパラメータを、正確かつ簡便に決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、少なくとも前記液晶パネルを収納することができる恒温槽をさらに備えることを特徴とする。

上記の構成によれば、恒温槽を設け、その恒温槽内に液晶パネルとともに光学受光素子を設置し、または恒温槽内に液晶パネルを設置するとともに該恒温槽に前記液晶パネルの表示部を外部から観察可能なように窓を設け、その窓に前記光学受光素子を設けるなどして、前記表示結果を観察する。

したがって、液晶パネルの評価を一定の温度条件で行うことができる。また、液晶パネルを種々の環境温度で評価することができ、それぞれの温度に最適なオーバーシュートパラメータを求めることもできる。さらに、恒温槽に窓を設けた場合、評価時の異常を速やかに発見でき、対策を講じ易くなる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置では、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣのそれぞれに対応して設けられるスイッチを備え、該スイッチをデジタル的にオン／オフ制御することで、スイッチング態様に対応した電圧を前記映像信号として順次出力することを特徴とする。

上記の構成によれば、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣのそれぞれを、スイッチの設定によって、任意かつ独立にデジタル的に調整することができる。前記スイッチは、多ビットスイッチが望ましく、この場合、任意階調間のスイッチングにおいて、オーバーシュートパラメータを詳細に設定することが可能である。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置では、前記オーバーシュートレベルＣを調整するスイッチは、粗調整用と微調整用との２種類のスイッチで構成されていることを特徴とする。

上記の構成によれば、粗調整用スイッチでオーバーシュートレベルＣのレベルをある程度調整した後、微調整用スイッチで該オーバーシュートレベルＣを詳細に決定する。たとえば、前記オーバーシュートレベルＣのレベルは２５６通りあり、これを１階調毎に変化させての測定は時間がかかる。そこで、粗調整用スイッチと微調整用スイッチとを設け、まず粗調整用スイッチで大雑把にオーバーシュートパラメータを確定し、その後微調整用スイッチで調整して正確なオーバーシュートパラメータを求めることで、短時間で正確な評価が可能となる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置では、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎのそれぞれに対応して設けられるスイッチを備え、該スイッチをデジタル的にオン／オフ制御することで、スイッチング態様に対応した電圧を前記映像信号として順次出力することを特徴とする。

上記の構成によれば、前記変化前の階調Ａ、到達階調Ｂおよびｎ（多）フィールドオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎのそれぞれを、スイッチの設定によって、任意かつ独立にデジタル的に調整することができる。前記スイッチは、多ビットスイッチが望ましく、この場合、任意階調間のスイッチングにおいて、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを詳細に設定することが可能である。

たとえば、全階調で２５６階調の場合、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂは、最低でも１６階調毎に、好ましくは１階調毎に切換えられることが望ましい。一方、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎは、１階調の変化でオーバーシュート効果が違ってくるので、１階調毎の切換えが絶対に必要である。

したがって、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂと、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎとを独立のスイッチによって調整可能とすることで、前記階調Ａ，Ｂに対するスイッチ数をむやみに増加することなく、必要なオーバーシュートパラメータを、簡便かつ詳細に設定することが可能になる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置では、前記オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを調整するスイッチは、粗調整用と微調整用との２種類で構成されていることを特徴とする。

上記の構成によれば、たとえば全階調で２５６階調の場合、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂは、最低でも１６階調毎に、好ましくは１階調毎に切換えられ、これに対して前記オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎは、１階調毎に切換えられる必要があるので、合計で２５６×ｎ通となり、これを１階調毎に変化させての評価は時間がかかる。そこで、各オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎ毎に、粗調整用スイッチで該オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎをそれぞれある程度調整した後、微調整用スイッチで該オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを詳細に決定する。これによって、短時間で正確な評価が可能となる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１≧Ｃ２≧…≧Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することを特徴とする。

上記の構成によれば、ライズ応答の場合、総てのフィールドにおけるオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎは、到達階調Ｂ以上であり、１フィールド目から順にオーバーシュートレベルＣ１，Ｃ２，…を変化させて応答波形を観察し、該応答波形が前記到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値を探出することで、それぞれのフィールドにおける最適なオーバーシュートパラメータを決定することができる。

そして、任意のｋ番目のフィールドにおいて、応答波形が到達階調Ｂのレベルに達すると、以降はオーバーシュート駆動する必要がないので、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂとすることで、総てのフィールドのオーバーシュートパラメータを決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１≦Ｃ２≦…≦Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することを特徴とする。

上記の構成によれば、ディケイ応答の場合、総てのフィールドにおけるオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎは、到達階調Ｂ以下であり、１フィールド目から順にオーバーシュートレベルＣ１，Ｃ２，…を変化させて応答波形を観察し、該応答波形が前記到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値を探出することで、それぞれのフィールドにおける最適なオーバーシュートパラメータを決定することができる。

そして、任意のｋ番目のフィールドにおいて、応答波形が到達階調Ｂのレベルに達すると、以降はオーバーシュート駆動する必要がないので、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂとすることで、総てのフィールドのオーバーシュートパラメータを決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ａ＜Ｃ１≦…≦Ｃｋ＜Ｂ≦Ｃｋ＋１≧…≧Ｃｎ（ｋは１≦ｋ≦ｎの整数）であり、かつ、任意のｊ番目（ｋ＋１≦ｊ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｊを、該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することを特徴とする。

液晶パネルは、その表示モード、スイッチング階調によっては、いきなり強いオーバーシュート信号を入力しても、満足に応答しない場合がある。たとえば、低温における垂直配向モードでは、特に黒からの立ち上がりが著しく応答性が悪い。このようなときには、上記構成のように、先ず１〜ｋ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｋをわざと弱いアンダーシュートレベルとして液晶を少し応答させておいてから、以降のｋ＋１〜ｎ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣｋ＋１〜Ｃｎを本来のオーバーシュートレベルにするといった方法が考えられる。本発明は、このようなオーバーシュート駆動法においても、オーバーシュートパラメータを正確に決定することができる。

本発明の液晶表示装置の評価装置においては、前記映像信号発生回路が、Ａ＜Ｂの任意のライズ応答にてＡ＜Ｕ１≦…≦Ｕｎ≦Ｂを満たすＵ１〜Ｕｎをアンダーシュート信号のレベルとするとともに上記オーバーシュート信号のレベルＣ１〜ＣｎをＢ≦Ｃ１≧…≧Ｃｎとし、Ｕ１〜Ｕｎ、Ｃ１〜Ｃｎのそれぞれを掃引させつつ、Ａ→Ｕ１〜Ｕｎ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を前記液晶パネルに与え、前記波形解析装置は、上記アンダーシュート信号のレベルＵ１〜Ｕｎおよびオーバーシュート信号のレベルＣ１〜Ｃｊ（jは、１≦ｊ≦ｎを満たす任意の整数）による応答波形が階調Ｂを越えることなく最も速く階調Ｂのレベルにほぼ到達するようなＵ１〜ＵｎおよびＣ１〜Ｃｊを決定するとともに、ｊ≦ｎ−１の場合にはＣｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂとすることが好ましい。

上記のとおり、液晶パネルにおいてはオーバーシュート信号を与える前に予めアンダーシュート信号を与えることで、所定の階調推移（ライズＡ→Ｂ）に対する応答速度を速めることができる。上記構成によれば、このような階調推移（Ａ→Ｂ）における最適なアンダーシュート信号のレベルＵ１〜Ｕｎおよびオーバーシュート信号のレベルＣ１〜Ｃｎを容易かつ正確に決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ａ＞Ｃ１≧…≧Ｃｋ＞Ｂ≧Ｃｋ＋１≦…≦Ｃｎ（ｋは１≦ｋ≦ｎの整数）であり、かつ、任意のｊ番目（ｋ＋１≦ｊ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｊを、該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することを特徴とする。

上記の構成によれば、ディケイ応答において、アンダーシュート駆動からオーバーシュート駆動を行う駆動法において、オーバーシュートパラメータを正確に決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置においては、前記映像信号発生回路は、Ａ＞Ｂの任意のディケイ応答にてＡ＞Ｕ１≧…≧Ｕｎ＞Ｂを満たすＵ１〜Ｕｎをアンダーシュート信号のレベルとするとともに上記オーバーシュート信号のレベルＣ１〜ＣｎをＢ≧Ｃ１≦…≦Ｃｎとし、上記Ｕ１〜Ｕｎ、Ｃ１〜Ｃｎのそれぞれを掃引させつつ、Ａ→Ｕ１〜Ｕｎ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を前記液晶パネルに与え、前記波形解析装置は、上記アンダーシュート信号のレベルＵ１〜Ｕｎおよびオーバーシュート信号のレベルＣ１〜Ｃｊ（jは、１≦ｊ≦ｎを満たす任意の整数）による応答波形が階調Ｂを越えることなく最も速く階調Ｂのレベルにほぼ到達するようなＵ１〜ＵｎおよびＣ１〜Ｃｊを決定するとともに、ｊ≦ｎ−１の場合にはＣｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂとすることが好ましい。

上記のとおり、液晶パネルにおいてはオーバーシュート信号を与える前に予めアンダーシュート信号を与えることで、所定の階調推移（ディケイＡ→Ｂ）に対する応答速度を速めることができる。上記構成によれば、このような階調推移（ディケイＡ→Ｂ）における最適なアンダーシュート信号のレベルＵ１〜Ｕｎおよびオーバーシュート信号のレベルＣ１〜Ｃｎを容易かつ正確に決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、総てのオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定することを特徴とする。

上記の構成によれば、ｎ（多）フィールドオーバーシュート駆動においては、前記Ａ→Ｃ→Ｂレベルの駆動で、Ｃをｎフィールド印加することと結果的には同じ効果が得られる駆動法として、ｎフィールド総てに同一のオーバーシュート信号を印加する場合があり、ライズ応答のこのような場合におけるオーバーシュートパラメータを決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、総てのオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定することを特徴とする。

上記の構成によれば、ｎ（多）フィールドオーバーシュート駆動においては、前記Ａ→Ｃ→Ｂレベルの駆動で、Ｃをｎフィールド印加することと結果的には同じ効果が得られる駆動法として、ｎフィールド総てに同一のオーバーシュート信号を印加する場合があり、ディケイ応答のこのような場合におけるオーバーシュートパラメータを決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置は、前記の評価装置によって決定されたオーバーシュートレベルＣを、駆動回路がオーバーシュート駆動用のルックアップテーブルとしてストアしていることを特徴とする。

上記の構成によれば、駆動回路が、使用される液晶パネルに最適なオーバーシュートパラメータから成るルックアップテーブルを備えているので、高速応答が可能で、かつ映像の破綻が生じない液晶表示装置を実現することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置は、前記の評価装置によって決定されたオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを、駆動回路がオーバーシュート駆動用のルックアップテーブルとしてストアしていることを特徴とする。

上記の構成によれば、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動を行う場合に、駆動回路が、使用される液晶パネルに最適なオーバーシュートパラメータから成るルックアップテーブルを備えているので、高速応答が可能で、かつ映像の破綻が生じない液晶表示装置を実現することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価方法は、評価対象の液晶パネルにオーバーシュート信号を与え、その応答結果から、最適オーバーシュート信号レベルを評価する方法であって、階調を変化させる前の階調をＡとし、到達させるべき階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣ（ただし、Ｃ＝Ｂを含む）とするとき、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を前記液晶パネルに与え、表示させるステップと、前記映像信号による液晶パネルの表示画像を読取るステップと、読取った表示画像の波形解析を行うステップとを、前記オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、繰返し行い、各オーバーシュートレベルＣでの応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆくステップとを含むことを特徴とする。

上記の構成によれば、液晶の応答性を向上するためのオーバーシュート駆動を行うにあたり、その最適オーバーシュートパラメータを決定するにあたって、先ず、階調を変化させる前の任意の階調をＡとし、到達させるべき任意の階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣとするとき、オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次出力し、液晶パネルに表示させる。

そして、その出力に伴って、表示画像を読取り、読取った表示画像の波形解析を順次行う。その結果、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、前記最適オーバーシュートパラメータとして、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく。

したがって、その液晶パネルのオーバーシュート駆動用の駆動回路に、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けた最適オーバーシュートパラメータＣのルックアップテーブルをセットしておくことで、該駆動回路は、入力された映像信号の変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂから、前記ＬＵＴを参照して、最適オーバーシュートパラメータを決定し、前記液晶パネルを適切にオーバーシュート駆動することができる。

このようにして、最適なオーバーシュートパラメータを、容易、かつ高精度に求めることができる。また、オーバーシュート駆動を行っていない液晶パネルに対しても、オーバーシュート信号を用いた測定が可能になり、後に該パネルに対してオーバーシュート駆動を導入するようになった場合、回路設計とＯＳパラメータＣの決定との２つの作業が必要になるけども、本発明では、回路が出来上がっていない場合でも、すなわちオーバーシュート駆動ができない状態でも、オーバーシュート駆動用のパラメータを求めることができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価方法では、前記オーバーシュート駆動はｎフィールド期間に亘って行われ、映像信号発生回路は、ｎフィールド期間に亘るオーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）とするとき、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎをそれぞれ掃引させつつ、Ａ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネルに与えることを特徴とする。

上記の構成によれば、オーバーシュート信号は、その印加期間中一定である必要はなく、たとえば低温において著しく液晶の応答が遅くなってしまう場合や、倍速駆動等において、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動が考えられ、フィールド毎に異なったオーバーシュート信号を印加することで、その応用範囲を広げることができる。そこで、前記オーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）として、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂを合わせて、（ｎ＋２）種類の信号を、それぞれ特定の時間だけこの順に出力する。

これによって、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動に対応したオーバーシュートパラメータを、正確かつ簡便に決定することができる。

また、本発明に係る液晶表示装置の評価装置は、上記課題を解決するために、評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示（表示状態）を検知（検出）する表示検知部（表示検出部）と、該表示検知部の検知結果（検出結果）を解析する解析部とを備え、上記信号部は、上記液晶パネルに対し、元階調（Ａ）に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調（Ｂ）に対応する信号を与える試し駆動を上記オーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、その結果に基づいて、最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調（Ａ）および到達階調（Ｂ）に対応付けてストアしていくように構成されている。

まず、オーバーシュート（ＯＳ）信号とは、上記到達階調（Ｂ）に対応する信号のレベル以上のレベルを有する信号（元階調Ａ＜到達階調Ｂのライズ応答の場合）、あるいは上記到達階調（Ｂ）に対応する信号のレベル以下のレベルを有する信号（元階調Ａ＞到達階調Ｂのディケイ応答の場合）をいう。

上記構成においては、上記信号部は、上記液晶パネルに対し、元階調（Ａ）に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調（Ｂ）に対応する信号を与える一連の試し駆動（試しＯＳ駆動）を、上記オーバーシュート信号のレベルを様々に変化させて（掃引させつつ）行う。

この結果、評価対象の液晶パネルには各オーバーシュート信号（レベル）に対応する表示がなされ、各々の表示を上記表示検知部が検知することになる。そして、この各検知結果は上記解析部によって解析され、元階調をＡ、到達階調をＢとするときの最適な検知結果が探出されるとともに、この最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号のレベル（最適なオーバーシュート信号のレベル）が上記元階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアされていく。

以上のように、上記構成よれば、評価対象たる液晶パネルにて実際に試し駆動（試しＯＳ駆動）を行い、その表示特性を評価することで、個々の液晶パネルに応じた最適なオーバーシュート信号のレベルをいわば直接に探出し、ストアしていくことができる。

すなわち、通常駆動の波形等から仮のオーバーシュート信号レベルを決定し、これに基づいてＯＳ駆動を行いつつ、上記仮のオーバーシュート信号を確認、修正していく従来の評価装置に比較して、評価工程が簡易化されるとともに、パネル特性や検知誤差の影響の少ない、精度の高い最適なオーバーシュート信号のレベルを容易に得ることができる。

また、上記液晶表示装置の評価装置は、上記表示検知部に備えられた光学受光素子と、上記解析部に備えられ、上記光学受光素子からの出力が入力される波形解析装置とを有し、上記波形解析装置は、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと上記到達階調に相当するレベルとの関係、並びに上記到達階調に相当するレベルに達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、最適な出力波形に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることが好ましい。

上記構成においては、評価対象の液晶パネルに各オーバーシュート信号（レベル）に対応する表示がなされ、この各々の表示を光学受光素子が検知し、この光学受光素子の検知結果（出力）が上記波形解析装置に入力される。そして、該波形解析装置では、各オーバーシュート信号に対応して入力される光学受光素子の出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと上記到達階調に相当するレベルとの関係、並びに上記到達階調に相当するレベルに到達するまでの所要時間が解析され、最適な出力波形が探出される。

例えば、階調Ａ＜階調Ｂのライズ応答の場合には、その最大レベルが到達階調に相当するレベルを越えることなく、最も速く到達階調に相当するレベルに達するような出力波形を最適な出力波形とし、この最適な出力波形に対応するオーバーシュート信号のレベルを、最適なオーバーシュート信号のレベルとしてもよい。また、階調Ａ＞階調Ｂのディケイ応答の場合には、その最小レベルが到達階調に相当するレベルを下回ることなく、最も速く到達階調に相当するレベルに達するような出力波形を最適な出力波形とし、この最適な出力波形に対応するオーバーシュート信号のレベルを、最適なオーバーシュート信号のレベルとしてもよい。このように、上記構成によれば、最適なオーバーシュート信号（レベル）をより容易に探出することが可能となる。

また、上記液晶表示装置の評価装置においては、上記信号部に備えられた映像信号発生回路が、上記試し駆動を複数のフィールド期間に亘って行うべく、上記液晶パネルに対し、元階調に対応する信号を与え、ついで各フィールド期間毎に該フィールド期間に与えるべきオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調に対応する信号を与える、複数のフィールド期間に亘る試し駆動を、上記各フィールド期間に与えるべきオーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記波形解析装置が、上記複数のフィールド期間に亘る試し駆動に対応して入力される、上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと上記到達階調に相当するレベルとの関係、並びに到達階調に相当するレベルに達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、最適な出力波形に対応する各フィールド期間のオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていてもよい。

まず、複数のフィールド期間に亘って複数のレベルのオーバーシュート信号を与えるＯＳ駆動は、例えば、１フィールド期間に与える１つのレベルのオーバーシュート信号では適切にオーバーシュート駆動が行えないような階調変化（階調Ａと階調Ｂの組み合わせ）に有効である。

上記構成において、上記映像信号発生回路は、上記液晶パネルに対し、元階調（Ａ）に対応する信号を与え、ついで各フィールド期間毎に該フィールド期間に与えるべきオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調（Ｂ）に対応する信号を与える一連の複数のフィールド期間に亘る試し駆動（試しＯＳ駆動）を、上記各フィールド期間毎に与えるべきオーバーシュート信号のレベルを様々に変化（掃引）させて（すなわち、各フィールド期間に与えるべきオーバーシュート信号の組み合わせを様々に変化させて）行う。

上記構成によれば、複数のフィールド期間に、異なるレベルのオーバーシュート信号を液晶パネルに与えることができ、例えば、上記のような１フィールド期間に与える１つのレベルのオーバーシュート信号では適切なＯＳ駆動が行えない場合にも、これを適切に行いうるような、複数のオーバーシュート信号の最適な組み合わせを容易に得ることができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、上記課題を解決するために、対象の液晶パネルに信号を与える映像信号発生回路と、上記液晶パネルの表示を検知する光学受光素子と、上記光学受光素子からの出力が入力される波形解析装置とを備え、上記映像信号発生回路は、上記液晶パネルに対し、元階調に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与える試し駆動を上記オーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記波形解析装置は、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと、所望の到達階調に対応するレベルとの関係、並びに上記所望の到達階調に対応するレベルに略達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、最適な出力波形に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴としている。

上記構成のように、試し駆動（試しＯＳ駆動）の際、最後に到達階調に対応する信号を与えず、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、所望の到達階調に対応するレベルにほぼ達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、最適なオーバーシュート信号のレベルをストアしていくことも可能である。

上記構成によれば、特に到達階調に相当するレベルに完全に達しにくい階調変化に対して、最適なオーバーシュート信号のレベルを容易に得ることができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価方法は、上記課題を解決するために、評価対象の液晶パネルに、元階調に対応する信号と任意のオーバーシュート信号と到達階調に対応する信号とをこの順に順次与えて該液晶パネルの表示結果の解析を行う工程を、上記任意のオーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ繰り返すステップと、上記解析の結果に基づいて、最適な解析結果に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくステップとを含むことを特徴としている。

上記方法によれば、評価対象たる液晶パネルに実際にオーバーシュート信号を与え（試しＯＳ駆動を行い）、その表示特性を評価することで、個々の液晶パネルに応じた最適なオーバーシュート信号のレベルをいわば直接に探出し、ストアしていくことができる。

すなわち、通常駆動の波形から仮のオーバーシュート信号レベルを決定し、これに基づいてＯＳ駆動を行いつつ、上記仮のオーバーシュート信号を確認、修正していく従来の評価方法に比較して、評価工程が簡易化されるとともに、パネル特性や検知誤差の影響の少ない、精度の高い最適なオーバーシュート信号のレベルを容易に得る（ストアしていく）ことができる。

また、本発明の液晶表示装置は、液晶パネルとオーバーシュート駆動回路とを備えた液晶表示装置であって、該オーバーシュート駆動回路には、ルックアップテーブルとして最適なオーバーシュート信号のレベルがストアされており、該最適なオーバーシュート信号のレベルは、元階調に対応する信号と任意のオーバーシュート信号と到達階調に対応する信号とをこの順に上記液晶パネルに順次与えて該液晶パネルの表示結果の解析を行う工程を上記任意のオーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、その解析結果に基づいて上記元階調および到達階調に対応付けて最適なオーバーシュート信号のレベルを決定していく評価方法により得られたものであることを特徴としている。

上記評価工程によって得られた最適なオーバーシュート信号（レベル）をルックアップテーブル（ＬＵＴ）とするオーバーシュート駆動回路は、過不足のない応答特性を示す最適な信号（オーバーシュート信号）を液晶パネルに印加することができる。すなわち、該オーバーシュート駆動回路を備えた液晶表示装置においては、優れた応答特性とともに映像破綻のない表示品質が実現される。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、上記課題を解決するために、評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示を検知する表示検知部と、該表示検知部の検知結果を解析する解析部とを備え、上記信号部は、上記液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後に元階調から到達階調の階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与える試し駆動を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、その結果に基づいて、最適な検知結果に対応する試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴としている。

まず、アンダーシュート用の試験信号とは、上記到達階調（Ｂ）に対応する信号のレベル以下のレベルを有する信号（元階調Ａ＜到達階調Ｂのライズ応答の場合）、あるいは上記到達階調（Ｂ）に対応する信号のレベル以上のレベルを有する信号（元階調Ａ＞到達階調Ｂのディケイ応答の場合）をいう。

上記構成においては、上記信号部は以下のように上記液晶パネルへの試し駆動を行う。すなわち、元階調（Ａ）に対応する信号を与えた後、元階調から到達階調の階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与えることを、オーバーシュート用の試験信号のレベルとアンダーシュート用の試験信号のレベルとを様々に変化させて（掃引させつつ）行う。

この結果、評価対象の液晶パネルには各試験信号（レベル）に対応する表示がなされ、各々の表示を上記表示検知部が検知することになる。そして、元階調をＡ、到達階調をＢとするときの最適な表示結果が探出されるとともに、この最適な検知結果に対応する試験信号のレベルが上記元階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアされる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置においては、上記信号部が、所定の階調推移につき、複数のレベルからなるオーバーシュート用の試験信号を上記液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、最適な検知結果に対応するオーバーシュート用の試験信号における上記複数のレベルの組み合わせを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置においては、上記信号部が、所定の階調推移につき、元階調に対応する信号を与えた後に少なくとも１つのレベルからなるアンダーシュート用の試験信号を与えておき、ついで少なくとも１つのレベルからなるオーバーシュート用の試験信号を上記液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、最適な検知結果に対応する、アンダーシュート用の試験信号のレベルおよびオーバーシュート用の試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置においては、上記信号部が、上記試験信号における１つのレベルを１フィールド期間上記液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置においては、上記表示検知部に備えられた光学受光素子と、上記解析部に備えられ、上記光学受光素子からの出力波形が入力される波形解析装置とを有し、上記波形解析装置は、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと到達階調に相当するレベルとの関係、並びに到達階調に相当するレベルに達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、最適な出力波形に対応する試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置の評価方法は、上記課題を解決するために、評価対象の液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後に上記元階調から到達階調への階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、最適な解析の結果に対応する試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくことを特徴としている。

また、本発明の液晶表示装置は、上記課題を解決するために、液晶パネルと駆動回路とを備えた液晶表示装置であって、上記駆動回路には、元階調から到達階調への階調推移に応じて、オーバーシュート用の信号の最適なレベルあるいはオーバーシュート用の信号とアンダーシュート用の信号とを組み合わせた信号の最適なレベルがルックアップテーブルとしてストアされており、上記最適なレベルの決定方法として、上記液晶パネルに対して元階調に対応する信号を与えた後上記階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、最適な表示結果に対応する試験信号のレベルを上記最適なレベルとする方法が用いられていることを特徴としている。

また、本発明の液晶表示装置においては、上記駆動回路には、所定の階調推移につき、上記オーバーシュート用の信号の最適なレベルとして複数の信号レベルの最適な組み合わせがルックアップテーブルとしてストアされており、上記最適な組み合わせの決定方法として、上記液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後複数の信号レベルからなるオーバーシュート用の試験信号を与えてその表示結果の解析を行う工程を上記複数の信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、最適な表示結果に対応する複数の信号レベルの組み合わせを上記最適な組み合わせとする方法が用いられていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置においては、上記駆動回路には、所定の階調推移につき、オーバーシュート用の信号のレベルとアンダーシュート用の信号のレベルとの最適な組み合わせがルックアップテーブルとしてストアされており、上記最適な組み合わせの決定方法として、上記液晶パネルに対して元階調に対応する信号を与えた後アンダーシュート用の試験信号とオーバーシュート用の試験信号とをこの順に順次与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記各試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、最適な表示結果に対応する各試験信号のレベルの組み合わせを上記最適な組み合わせとする方法が用いられていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置においては、上記最適な表示結果とは、到達階調を越えることなく最も速く到達階調に略等しい表示が得られた場合とされていることが好ましい。

また、本発明の液晶表示装置においては、上記ルックアップテーブルは複数の温度それぞれに対応してストアされていることが好ましい。

上記構成によれば、例えば液晶パネルに設けられた温度センサーによって得られた温度に応じ、最適なルックアップテーブルを参照することができる。これにより、上記液晶表示装置においては、駆動時の周辺温度に影響されることなく高い表示品質が実現されることになる。

なお、本発明に係る上記各構成あるいは各方法を、本発明に係る他の構成あるいは方法と、必要に応じて任意に組み合わせることも可能である。

本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、液晶の応答性を向上するためのオーバーシュート駆動を行うにあたり、その最適オーバーシュートパラメータを決定するにあたって、先ず、映像信号発生回路から、階調を変化させる前の任意の階調をＡとし、到達させるべき任意の階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣとするとき、オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次出力し、次にそれぞれの映像信号による液晶パネルの表示画像を光学受光素子で光電変換し、続いて波形解析装置が、掃引された種々のオーバーシュートレベルＣの映像信号による液晶パネルの表示結果の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、前記最適オーバーシュートパラメータとして、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく。

それゆえ、最適なオーバーシュートパラメータを、容易、かつ高精度に求めることができる。また、オーバーシュート駆動を行っていない液晶パネルに対しても、オーバーシュート信号を用いた測定が可能になり、後に該パネルに対してオーバーシュート駆動を導入するようになった場合、回路設計とオーバーシュートパラメータの決定との２つの作業が必要になるけども、本発明では、回路が出来上がっていない場合でも、すなわちオーバーシュート駆動ができない状態でも、オーバーシュート駆動用のパラメータを求めることができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、映像信号発生回路は、オーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）とするとき、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎをそれぞれ掃引させつつ、Ａ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネルに与え、前記波形解析装置は、前記オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを掃引させた応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく。

それゆえ、前記オーバーシュート駆動をｎフィールド期間に亘って行うことができ、応用範囲を広げることができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、恒温槽を設け、少なくとも前記液晶パネルを収納する。

それゆえ、液晶パネルの評価を一定の温度条件で行うことができる。また、液晶パネルを種々の環境温度で評価することができ、それぞれの温度に最適なオーバーシュートパラメータを求めることもできる。さらに、恒温槽に窓を設けた場合、評価時の異常を速やかに発見でき、対策を講じ易くなる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣのそれぞれに対応して設けられるスイッチを備え、該スイッチをデジタル的にオン／オフ制御することで、スイッチング態様に対応した電圧を前記映像信号として順次出力する。

それゆえ、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣのそれぞれを、スイッチの設定によって、任意かつ独立にデジタル的に調整することができる。前記スイッチは、多ビットスイッチが望ましく、この場合、任意階調間のスイッチングにおいて、オーバーシュートレベルＣを詳細に設定することが可能である。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、前記オーバーシュートレベルＣを調整するスイッチを、粗調整用と微調整用との２種類のスイッチで構成する。

それゆえ、短時間で正確な評価が可能となる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、前記映像信号発生回路は、前記変化前の階調Ａ、到達階調ＢおよびオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎのそれぞれに対応して設けられるスイッチを備え、該スイッチをデジタル的にオン／オフ制御することで、スイッチング態様に対応した電圧を前記映像信号として順次出力する。

それゆえ、ｎ（多）フィールドオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎのそれぞれを、スイッチの設定によって、任意かつ独立にデジタル的に調整することができる。前記スイッチは、多ビットスイッチが望ましく、この場合、任意階調間のスイッチングにおいて、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを詳細に設定することが可能である。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、前記オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを調整するスイッチを、粗調整用と微調整用との２種類で構成する。

それゆえ、多フィ−ルドのオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎの短時間で正確な評価が可能となる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１≧Ｃ２≧…≧Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定する。

それゆえ、ライズ応答で、始めのオーバーシュートレベルＣ１が最も大きくなる多フィールドオーバーシュート駆動におけるそれぞれのフィールドでの最適なオーバーシュートパラメータを決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１≦Ｃ２≦…≦Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定する。

それゆえ、ディケイ応答で、始めのオーバーシュートレベルＣ１が最も大きくなる多フィールドオーバーシュート駆動におけるそれぞれのフィールドでの最適なオーバーシュートパラメータを決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ａ＜Ｃ１≦…≦Ｃｋ＜Ｂ≦Ｃｋ＋１≧…≧Ｃｎ（ｋは１≦ｋ≦ｎの整数）であり、かつ、任意のｊ番目（ｋ＋１≦ｊ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｊを、該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定する。

それゆえ、ライズ応答で、先ず１〜ｋ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｋをわざと弱いアンダーシュートレベルとして液晶を少し応答させておいてから、以降のｋ＋１〜ｎ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣｋ＋１〜Ｃｎを本来のオーバーシュートレベルにするといった駆動法において、オーバーシュートパラメータを正確に決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ａ＞Ｃ１≧…≧Ｃｋ＞Ｂ≧Ｃｋ＋１≦…≦Ｃｎ（ｋは１≦ｋ≦ｎの整数）であり、かつ、任意のｊ番目（ｋ＋１≦ｊ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｊを、該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該オーバーシュートレベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定する。

それゆえ、ディケイ応答で、先ず１〜ｋ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｋをわざと弱いアンダーシュートレベルとして液晶を少し応答させておいてから、以降のｋ＋１〜ｎ番目のフィールドにおいて、オーバーシュートレベルＣｋ＋１〜Ｃｎを本来のオーバーシュートレベルにするといった駆動法において、オーバーシュートパラメータを正確に決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、総てのオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定する。

それゆえ、ｎフィールド総てに同一のオーバーシュート信号を印加するライズ応答の場合におけるオーバーシュートパラメータを決定することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目（１≦ｋ≦ｎの整数）のオーバーシュートレベルＣｋを、総てのオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定する。

それゆえ、ｎフィールド総てに同一のオーバーシュート信号を印加するディケイ応答の場合におけるオーバーシュートパラメータを決定することができる。

また、本発明の液晶表示装置は、以上のように、前記の評価装置によって決定されたオーバーシュートレベルＣを、駆動回路にオーバーシュート駆動用のルックアップテーブルとしてストアしておく。

それゆえ、駆動回路が、使用される液晶パネルに最適なオーバーシュートパラメータから成るルックアップテーブルを備えているので、高速応答が可能で、かつ映像の破綻が生じない液晶表示装置を実現することができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置は、以上のように、前記の評価装置によって決定されたオーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎを、駆動回路にオーバーシュート駆動用のルックアップテーブルとしてストアしておく。

それゆえ、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動を行う場合に、駆動回路が、使用される液晶パネルに最適なオーバーシュートパラメータから成るルックアップテーブルを備えているので、高速応答が可能で、かつ映像の破綻が生じない液晶表示装置を実現することができる。

また、本発明の液晶表示装置の評価方法は、以上のように、液晶の応答性を向上するためのオーバーシュート駆動を行うにあたり、その最適オーバーシュートレベルを決定するにあたって、先ず、階調を変化させる前の任意の階調をＡとし、到達させるべき任意の階調をＢとし、オーバーシュート信号のレベルをＣとするとき、オーバーシュートレベルＣを掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次出力して液晶パネルに表示させ、次にその出力に伴って、表示画像を読取って波形解析を順次行い、続いて過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、前記最適オーバーシュートレベルとして、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく。

それゆえ、最適なオーバーシュートパラメータを、容易、かつ高精度に求めることができる。また、オーバーシュート駆動を行っていない液晶パネルに対しても、オーバーシュート信号を用いた測定が可能になり、後に該パネルに対してオーバーシュート駆動を導入するようになった場合、回路設計とＯＳパラメータの決定との２つの作業が必要になるけども、本発明では、回路が出来上がっていない場合でも、すなわちオーバーシュート駆動ができない状態でも、オーバーシュート駆動用のパラメータを求めることができる。

さらにまた、本発明の液晶表示装置の評価方法は、以上のように、前記オーバーシュート駆動をｎフィールド期間に亘って行い、映像信号発生回路は、ｎフィールド期間に亘るオーバーシュート信号のレベルを、順にＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎ（ｎは１以上の任意の整数）とするとき、オーバーシュートレベルＣ１〜Ｃｎをそれぞれ掃引させつつ、Ａ→Ｃ１〜Ｃｎ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネルに与える。

それゆえ、多フィールドに亘るオーバーシュート駆動に対応したオーバーシュートパラメータを、正確かつ簡便に決定することができる。

また、本発明に係る液晶表示装置の評価装置は、以上のように、評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示を検知する表示検知部と、該表示検知部の検知結果を解析する解析部とを備え、上記信号部は、上記液晶パネルに対し、元階調（Ａ）に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調に対応するを与える試し駆動を上記オーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、その結果に基づいて、最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されている。

すなわち、評価対象たる液晶パネルに実際に試し駆動（試しＯＳ駆動）を行い、その表示特性を評価することで、個々の液晶パネルに応じた最適なオーバーシュート信号のレベルをいわば直接に探出し、ストアしていくことができる。

それゆえ、通常駆動の波形から仮のオーバーシュート信号レベルを決定し、これに基づいてＯＳ駆動を行いつつ、上記仮のオーバーシュート信号を確認、修正していく従来の評価装置に比較して、評価工程が簡易化されるとともに、パネル特性や検知誤差の影響の少ない、精度の高い最適なオーバーシュート信号のレベルを容易に得ることができる。

本発明の実施の一形態の評価装置の全体構成を示す図である。 図１で示す評価装置における映像信号発生回路の一構成例を示すブロック図である。 １フィールドオーバーシュート駆動のための映像信号の作成動作を説明するためのフローチャートである。 適正なＬＵＴを用いてオーバーシュート駆動を行ったときのスクロールの様子を示す図である。 オーバーシュート駆動の効果を確認するためのスクロールパターンの例である。 オーバーシュート駆動を行わないときのスクロールの様子を示す図である。 ３フィールドオーバーシュート駆動によるスイッチングを行うための信号の一例を示す波形図である。 ３フィールドオーバーシュート駆動によるスイッチングを行うための信号の他の例を示す波形図である。 （ａ）は、通常駆動における０階調から目標階調（２５５階調近傍）への応答時間を示すグラフであり、（ｂ）は、０から２５５階調への応答時間と、アンダーシュート用の信号レベルとの関係を示すグラフである。 ３フィールドオーバーシュート駆動によるスイッチングを行うための信号のさらに他の例を示す波形図である。 多フィールドオーバーシュート駆動のための映像信号の作成動作を説明するためのフローチャートである。 １フィールドオーバーシュート駆動によるスイッチングを行うための信号の例を示す波形図である。 適正なオーバーシュート信号でオーバーシュート駆動を行ったときの液晶パネルのスイッチングによる光学応答波形である。 過剰なオーバーシュート信号でオーバーシュート駆動を行ったときの液晶パネルのスイッチングによる光学応答波形である。 弱いオーバーシュート信号でオーバーシュート駆動を行ったときの液晶パネルのスイッチングによる光学応答波形である。 オーバーシュート駆動を行わないときの液晶パネルのスイッチングによる光学応答波形である。

本発明の実施の一形態について、図１〜図６および前記図１２〜図１６に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

図１は、本発明の実施の一形態の評価装置１の全体構成を示す図である。この評価装置１は、評価対象の液晶パネル２にＯＳ駆動による映像信号を与える映像信号発生回路３（信号部）と、前記液晶パネル２の表示部に臨む光学受光素子４（表示検知部）と、前記光学受光素子４からの出力が入力される波形解析装置５（解析部）と、恒温槽６と、図示しない制御装置とを含んで構成される。

前記制御装置は、前記映像信号発生回路３に、参照符６で示すように、階調を変化させる前の階調（元階調）をＡとし、到達させるべき階調（到達階調）をＢとし、ＯＳ信号（オーバーシュート信号、オーバーシュート用の試験信号）のレベルをＣ（ただし、Ｃ＝Ｂを含む）とするとき、ＯＳ信号レベルＣ（オーバーシュート信号のレベル）を掃引させつつ、Ａ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を順次前記液晶パネル２に出力させ（試し駆動、試しＯＳ駆動）、これによって光学受光素子４で光電変換され、前記波形解析装置５において解析された応答波形（表示検知部からの各検知結果）の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けて、ＯＳパラメータＣ（最適な出力波形に対応するオーバーシュート信号のレベル、最適な検知（表示）結果に対応する試験信号のレベル）としてＬＵＴ（ルックアップテーブル）にストアしてゆく。そのＬＵＴを用いて、前記液晶パネル２を搭載する液晶表示装置７の駆動回路（オーバーシュート駆動回路）が該液晶パネル２のＯＳ駆動を行うことで、適切なＯＳ駆動が可能になる。メーカでは、液晶パネル２の機種毎に、このような評価が行われ、ＯＳパラメータＣが決定される。

前記液晶パネル２は、コントローラ等の途中で信号変換がなされないようにすれば、そのコントローラにＯＳ制御機能を搭載しているか否かは関係なく、実際にＯＳ駆動を適用しようとしている機種の総ての評価を行うことができる。すなわち、映像信号発生回路３から液晶パネル２に映像信号を入力する際には、その信号に対して、液晶パネル２が正しい階調を出力できるような入力方法を用いる必要がある。たとえば、ビデオ入力端子から映像信号を入力した場合は、０〜２５５の階調レンジで入力した映像信号が、前記コントローラによって、１６〜２３５の階調レンジに変換されてしまい、液晶パネル２に正しい階調で信号が入力されなくなる。

そこで、先ず液晶パネル２にデジタル入力（ここでは最近の液晶パネルに装備されているＤＶＩを例にする）がある場合、映像信号発生回路３にＤＶＩ出力を持たせ、前記映像信号発生回路３からの映像信号を液晶パネル２に入力するケーブル８を、ＤＶＩケーブルとすればよい。

これに対して、液晶パネル２が前記デジタル入力を持たない場合、上述の通りビデオ入力端子からの入力では不適切であるので、該液晶パネル２のソースドライバに映像信号発生回路３からの映像信号を直接入力する方法を考える。たとえば、フレキシブル基板で接続されているコントローラとソースドライバとを切離し、その間に映像信号発生回路３をフレキシブル基板を介して挟込む。具体的には、前記コントローラからの信号をクロック用として映像信号発生回路３に取込み、映像信号発生回路３からの映像信号をソースドライバに直接入力するというものである。

前記波形解析装置５は、光学受光素子４からの液晶パネル２の応答波形を取込み、解析するためのものであり、オシロスコープを使用することが一般的であるが、前記制御装置を構成するコンピュータに、応答波形を直接取込んでもかまわない。

前記恒温槽６は、少なくとも液晶表示装置７を収納することができ、この図１で示すように、液晶パネル２とともに光学受光素子４を設置してもよく、または恒温槽６内に液晶パネル２を設置するとともに該恒温槽６に前記液晶パネルの表示部を外部から観察可能なように窓９を設け、その窓９に前記光学受光素子４を設けるなどして、前記表示結果を観察するようにしてもよい。恒温槽６は、前記制御装置などによって、液晶パネル２の評価に要求される、たとえば０〜６０℃の範囲で温度制御される。

この恒温槽６を設けることで、液晶パネル２の評価を一定の温度条件で行うことができる。また、液晶パネル２を種々の環境温度で評価することができ、それぞれの温度に最適なＯＳパラメータＣを求めることもできる。したがって、液晶パネル２の駆動回路に数温度分のＬＵＴを用意しておき、また該液晶パネル２に温度センサを設けて、その検出結果に応じて参照ＬＵＴを変化させるという、細かなＯＳ制御を行うことができる。

さらに、恒温槽６の温度を大きく変化させる場合、過酷な温度サイクルが加わることになり、液晶パネル２の各部分に大きな負担が生じ、これがもとで、まれに点灯異常を起こすことがある。このため、恒温槽６に前記窓９を設けることで、測定者がこのような異常を速やかに発見でき、対策が講じ易くなる。

図１では、前記映像信号発生回路３と、波形解析装置５と、制御装置とは、恒温槽６の外部に設置され、測定者の手元でスイッチ操作が可能であるようになっている。しかしながら、それらが恒温槽６の内部に設置され、スイッチ操作は恒温槽６の外部からリモートコントローラ等で行う形態であってもよい。

図２は、前記映像信号発生回路３の一構成例を示すブロック図である。この映像信号発生回路３は、ＯＳ信号生成部１１と、クロック信号入力部１２と、スイッチ部１３と、信号出力部１４とを備えて構成される。前記ＯＳ信号生成部１１は、前記スイッチ部１３で設定された信号レベルＡ，Ｂ，Ｃに従い、クロック信号入力部１２からのクロック信号に応答して、映像信号を生成する。すなわち、ＯＳ信号生成部１１は、垂直走査周波数が、ＮＴＳＣ等の６０Ｈｚの信号が入力されれば６０Ｈｚでの映像信号を作成し、ＰＡＬ等の５０Ｈｚの信号が入力されれば５０Ｈｚでの映像信号を作成する。前記スイッチ部１３は、後述するような映像信号のレベルＡ，Ｂ，Ｃをそれぞれ独立に制御するための３系統のスイッチから成り、該スイッチをデジタル的にオン／オフ制御することで、スイッチング態様に対応した電圧を前記映像信号として順次出力する。このＯＳ信号生成部１１で生成された映像信号は、信号出力部１４から、前記接続ケーブル８を介して、液晶パネル２に与えられる。

ＯＳ信号レベルの決定に必要なパラメータを入力するスイッチ部１３は、パーソナルコンピュータなどで実現され、該評価装置１の全体を制御する制御装置からの入力で代用されてもよい。このスイッチ部１３は、映像信号が、前記図１２で示すように、前記の３つの信号レベルＡ，Ｂ，Ｃから成る場合、前記３系統のスイッチから成り、たとえば最も精細なＯＳ信号レベルＣを設定する系統が８ビット、したがって２５６階調を表す場合、階調を変化させる前の階調Ａおよび到達させるべき階調Ｂの系統が４ビット、したがって１６階調毎の階調切換が可能となっている。

これは、任意の階調間のスイッチングにおいてＯＳ信号レベルを詳細に設定することが理想であり、ＬＵＴはスイッチング階調１階調毎に設定されることが望ましいけれども、実際には、ＬＵＴをＯＳ駆動回路に組込む際に、ＩＣやメモリのコストの関係から、あまり大きいＩＣや膨大なメモリを使用できず、動作プログラムやＬＵＴをあまり大きくできないという制約があることが多いためである。したがって、現実のＬＵＴは、上述のようにＡ，Ｂそれぞれで１６階調毎程度しか設定ができず、その間は補間アルゴリズムで計算される。もちろん、ＩＣやメモリの制約が緩ければ、Ａ，Ｂを１階調毎に設定したＬＵＴを使用してもよい。このため、任意の階調Ａ，Ｂは、最低でも１６階調毎に、好ましくは１階調毎に切換えられることが望ましく、これに対してＯＳ信号レベルＣは、１階調の変化でＯＳ効果が違ってくるので、１階調毎の切換えが必要であり、各系統のスイッチのビット数は、上述のように選ばれている。

こうして、前記３つの信号レベルＡ，Ｂ，Ｃを独立のスイッチによって調整可能とすることで、前記階調Ａ，Ｂに対するスイッチ数をむやみに増加することなく、必要なＯＳ信号レベルＣを、簡便かつ詳細に設定することが可能になる。

そしてさらに、各系統のスイッチは、粗調整用と微調整用との２種類のスイッチで構成されている。たとえば、非常に単純な例として、ＯＳ信号レベルＣ全体として前記８ビットとし、上位４ビットと下位４ビットとを別スイッチで独立に操作できるようにしておき、先ず上位４ビット分をオン／オフ切換えすることで大体のＯＳ信号レベルＣの大きさを見積もっておき（粗調）、その後下位４ビット分をオン／オフ切換えすることで詳細なＯＳ信号レベルＣを決定する（微調）。したがって、たとえば前記のように２５６通りあるＯＳ信号レベルＣを、短時間で高精度に決定することができる。

また、前記ＯＳ信号レベルＣを印加する時間は、実際のＯＳ駆動回路の仕様に合わせる必要があり、たとえば前記ＮＴＳＣなどの６０Ｈｚ駆動での駆動回路では、１フィールドが１６ｍｓｅｃであるので、ＯＳ信号印加時間は、この１６ｍｓｅｃとなる。また、後述するように、複数フィ−ルドに亘ってＯＳ信号を印加する場合には、前記ＯＳ信号印加時間は、
（ＯＳ信号が入力されるフィールド数）×（１６ｍｓｅｃ）
で表される。同様に、ＰＡＬなどの５０Ｈｚ駆動での駆動回路では、１フィールドが２０ｍｓｅｃであるので、ＯＳ信号印加時間は、
（ＯＳ信号が入力されるフィールド数）×（２０ｍｓｅｃ）
で表される。

その他、フレーム周波数を倍にする倍速駆動等、特殊な駆動回路を用いる場合は、それに応じた１フィールド期間を用いて計算すればよい。これらの駆動周波数は、外部からＮＴＳＣ、ＰＡＬ等の映像信号を入力して、そのクロックを用いるのが簡便である。倍速駆動等特殊条件の場合は、入力映像信号のクロックをベースとして必要なクロックを作成すればよい。もちろん、総ての場合において、前記クロック信号入力部１２は、外部入力に頼らずにクロックを回路内部で作成し、回路に設けたスイッチでクロックを選択するようにしてもよい。

図３は、前記図１２で示すような映像信号の作成動作を説明するためのフローチャートである。ステップＳ１〜Ｓ３のそれぞれにおいて、前記３つの信号レベルＡ，Ｂ，Ｃに対応した各系統のスイッチから、信号レベルが設定される。ステップＳ４では、クロック信号入力部１２からクロック信号が取込まれ、ステップＳ５では、そのクロック信号に応答して、前記各系統のスイッチで設定されたレベルで、かつＡ→Ｃ→Ｂの順でレベルが変化する映像信号が出力される。前記変化前の階調Ａの信号は予め定める一定期間、前記ＯＳ信号レベルＣの信号は１フィ−ルド期間、到達階調Ｂの信号は予め定める一定期間、それぞれ出力される。そして、ステップＳ６で、これらの信号が信号出力部１４から液晶パネル２に出力される。

前記液晶パネル２の一部または全体の表示領域（図１では参照符１０で示すように、一部の表示領域を示している）で、前記映像信号による表示が行われ、その表示結果を光学受光素子４で取込み、波形解析装置５で解析されると、他のＯＳ信号レベルＣについて、前記ステップＳ１〜Ｓ６の処理が繰返し行われる。その解析結果が前記図示しない制御装置などに取込まれ、各階調Ａ，Ｂ毎に最適なＯＳパラメータＣが決定され、ＬＵＴが作成される。

前記恒温槽６内の温度を２５℃に保って、前記図１２に示した映像信号による液晶パネル２のスイッチングの光学応答波形を、前記光学受光素子４としてフォトダイオードを用い、前記波形解析装置５としてのオシロスコープに取込み、解析した結果の一例を示すのが前記図１３〜図１６である。これらの図１３〜図１６において、前記変化前の階調Ａは６４階調、到達階調Ｂは１９２階調で一定である。

先ず、図１６は、ＯＳ駆動をしないとき、すなわちＯＳ信号レベルＣが到達階調Ｂと同一レベルであるときの波形である。ここからＯＳ信号レベルＣを徐々に上げると、やや弱いＯＳ駆動のかかった応答波形が得られ、これを前記図１５に示す。さらにＯＳ信号レベルＣを上げると、充分なＯＳ駆動のかかった応答波形が得られ、これを前記図１３に示す。さらにＯＳ信号レベルＣを上げると、前記図１４に示すように、応答波形に角が見え始めるようになる。このとき、応答波形が到達階調Ｂを上回ってしまうので、人間の目には目的階調が表示される直前に白く光って見える。このように過剰応答をしない直前の状態、すなわち前記図１３に示される状態が最適なＯＳ信号レベルと判定できる。

表１には、上述のような手法で決定された任意の階調間Ａ，ＢにおけるＯＳパラメータＣの一例を示す。この表１のＬＵＴが、液晶パネル２のコントロ−ラにストアされることで、中間調−中間調を含む任意の階調間で、最適なＯＳ駆動が可能になる。

また、表２には、前記表１で示す最適ＯＳパラメータＣの信号レベルが入力されているフィールドの終了時点における応答波形の到達率の計算結果を示す。この表２から明らかなように、到達率はほぼ総ての階調で１００％に近い値を示し、必要充分なＯＳ信号が与えられていることが確認された。

ここで、比較例として、従来技術に記載のように、通常の駆動法において液晶パネル２の応答波形を測定し、トリガーポイントからＯＳ信号を印加するフィールド数分（上記の例では１フィールド分）の時間後の階調到達率を算出して、その結果から、ＯＳパラメータＣを計算によって求めたＬＵＴを表３に示す。また、前記表２と同様に、このＬＵＴを用いてＯＳ駆動を行い、その波形からＯＳ信号が入力されているフィールドにおける応答波形の到達率を計算したものを、表４に示す。

表１と表３および表２と表４とをそれぞれ比較して明らかなように、従来技術によるＬＵＴでは、前記図１５のようなＯＳ信号のレベルが充分でなく、ＯＳ信号印加期間の到達率が１００％にはるかに足りない階調や、前記図１４のようにＯＳ信号が過剰になっており、ＯＳ信号印加期間の到達率が１００％をオーバーしてしまう階調が多々観察され、ＬＵＴとしては不完全であることが分かった。

図４に、本発明に係るＬＵＴを用いたＯＳ駆動による表示結果の一例を示す。この例では、前記変化前の階調Ａとしては、画面の上側から下側になるにつれて徐々に白くなるグレースケールＧを表示させ、その上に適当な幅を持った任意の到達階調Ｂのバーを、ＯＳ信号Ｃを伴って、左から右にスクロールさせている。前記スクロールバーは、グレースケールＧの階調レベルの最大値（白）と最小値（黒）との間の値である。

この図４から、背景が任意の階調のグレースケールＧであっても、スクロールバーを一定の濃度に維持して、ＯＳ制御の効果を確認することができる。なお、前記Ｂ，ＣおよびＧのレベルは、外部回路によってそれぞれ独立に切換えられるようにした。また、前述のように、到達階調Ｂは１６階調刻みで階調切換えを行えるようにし、ＯＳパラメータＣは１階調刻みで階調切換えを行えるようにしている。

また、図５には、前記スクロールバーを階調レベルの最小値の黒とした表示結果を示している。比較例として、図６には、まったくＯＳ駆動をかけなかったときの表示結果を示す。これらの図５および図６から明らかなように、ＯＳ信号を与えない場合に比較して、適正なＯＳ信号を与えた画像は、応答が遅い場合に顕著となる尾引き現象が大幅に緩和されており、また、見え方も自然である。また、ＯＳ駆動が正しく効いていれば、どの階調のバーでも、ＯＳ過剰による白びかり（または黒沈み）、ＯＳ不足による尾引きの影響が最小限になるので、決定したＯＳパラメータの正当性を、これらの図４〜図６で示すようなパターンで、ある程度評価することができる。

以上のようにして、本発明では、最適なＯＳパラメータＣを、容易、かつ高精度に求めることができる。また、ＯＳ駆動を行っていない液晶パネルに対しても、ＯＳ信号を用いた測定が可能になり、後に該パネルに対してＯＳ駆動を導入するようになった場合、回路設計とＯＳパラメータＣの決定との２つの作業が必要になるけども、本発明では、回路が出来上がっていない場合でも、すなわちＯＳ駆動ができない状態でも、ＯＳ駆動用のパラメータＣを求めることができる。

なお、上述の説明では、前記図１２で示すようなライズ応答、すなわちＡ＜Ｂの例を示しているけれども、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、ＯＳ信号レベルＣは前記到達階調Ｂ以下であり、Ｃを変化させて応答波形を観察し、応答波形がＢのレベルに対して過剰応答しない最小のＣを探出することで、正確なＯＳパラメータＣを決定することができる。

また、本発明では、階調を変化させる前の階調Ａ、到達させるべき階調Ｂに対し、オーバーシュート信号Ｃを変化させてその応答波形を解析し、各オーバーシュートレベルＣでの応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したレベルを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく評価方法をとっている。この評価方法によって得られたオーバーシュートレベルＣ（最適なＯＳパラメータＣ）をＬＵＴとするオーバーシュート駆動回路は、過不足のない応答特性を示す最適な信号を液晶パネルに印加することができる。すなわち、該オーバーシュート駆動回路を備えた液晶表示装置（液晶ディスプレイ）においては、優れた応答特性とともに映像破綻のない表示品質が実現される。

本発明の実施の他の形態について、図７〜図１２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

本実施の形態で注目すべきは、ＯＳ駆動をｎ（ｎは１以上の任意の整数）、すなわち多フィールド期間に分割して行うことである。このような駆動は、所望とする階調変化が１フィールドで困難な場合に行われ、何フレームかに亘って、最終的な到達階調Ｂに向けて、調整が行われる。

ここで、時間経過に伴うＯＳ信号レベルを順に、Ｃ１，Ｃ２，…，Ｃｎとするとき、前記Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎが、図７で示すようにＢ≦Ｃ１≧Ｃ２≧…≧Ｃｎの場合と、図８で示すようにＡ＜Ｃ１≦…≦Ｃｋ＜Ｂ≦Ｃｋ＋１≧…≧Ｃｎ（ｋは１≦ｋ≦ｎの整数）の場合と、図１０で示すようにＢ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎの場合とがある。なお、図７・図８・図１０および以下の説明では、ｎ＝３としている。

同様に、ディケイ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、Ｃ１〜Ｃｎが、前記図７に対応するＢ≧Ｃ１≦Ｃ２≦…≦Ｃｎの場合と、前記図８に対応するＡ＞Ｃ１≧…≧Ｃｋ＞Ｂ≧Ｃｋ＋１≦…≦Ｃｎの場合と、前記図１０に対応するＢ≧Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎの場合とがある。

前述の図１２で示すような１フィールドＯＳと、これらの図７・図８・図１０で示すような多フィールドＯＳとを同時に処理することは、回路規模から考えると、あまり望ましいことではないけれども、多フィールドＯＳを選択した場合に、特にＣ１，Ｃ２，…と大きくパラメータが変化する階調遷移が存在する場合、この多フィールドＯＳが有効である。

図１１は、前記図７・図８・図１０で示すような映像信号の作成動作を説明するためのフローチャートである。この動作は、前述の図１で示す評価装置１において、映像信号発生回路３が、３つのＯＳ信号レベルＣ１，Ｃ２，Ｃ３のそれぞれを個別に設定するスイッチを備え、Ａ→Ｃ１→Ｃ２→Ｃ３→Ｂの順でレベルが変化する映像信号を出力し（複数のフィールド期間に亘る試し駆動）、波形解析装置５が、それによって得られたＯＳパラメータ（最適な出力波形に対応する各フィールド期間のオーバーシュート信号のレベル最適な検知（表示）に対応する試験信号のレベル）Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３をストアすることで実現することができる。そして、この図３において、図２の動作に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して、その説明を省略する。

本実施の形態では、ステップＳ１，Ｓ２では前記信号レベルＡ，Ｂが設定され、またステップＳ３１〜Ｓ３３では前記３つのＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃ３が設定される。そして、ステップＳ５０では、前記ステップＳ４で入力されたクロック信号に応答して、前記各系統のスイッチで設定されたレベルで、かつ前記Ａ→Ｃ１→Ｃ２→Ｃ３→Ｂの順でレベルが変化する映像信号が出力され、ステップＳ６でこれらの信号が信号出力部１４から液晶パネル２に出力される。

このように各ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃ３を設定するスイッチも各系統間で独立とし、かつ、それぞれのスイッチを粗調整用と微調整用との２種類で構成することで、たとえば前述のように全階調で２５６階調の場合、１階調毎に切換えられる必要のあるＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃ３は、合計で２５６×ｎ通となり、これを１階調毎に変化させての評価は時間がかかるのに対して、短時間で正確な測定が可能となる。

ここで、表５に、１フィールドＯＳで得られたＯＳパラメータＣのＬＵＴを示し、その液晶パネルを多フィールドＯＳで駆動する方法を考える。

先ず、図７で示すように、ライズ応答の場合でＢ≦Ｃ１≧Ｃ２≧…≧Ｃｎ、ディケイ応答の場合でＢ≧Ｃ１≦Ｃ２≦…≦Ｃｎのように、始めのＯＳ信号レベルＣ１が最も大きく、以降は徐々に小さくなってゆく駆動は、低温等で１フィールドＯＳによって応答が完了しないときに効果があり、表５のＬＵＴにおいて、斜線部分がこの駆動法に適している。たとえば、ディケイ応答で１９２→３２への階調遷移を考えた場合、１フィールドだけのＯＳ駆動では３２階調までは到達できず、そこで多フィールドＯＳでは、Ｃ１として０を与え、最大限に液晶を応答させ、次にＣ２として、最も３２に近い遷移を与える値を探し、図示しないけれども、前記Ｃ１での到達階調から、８で３２に到達する。この場合、Ｃ３以降は３２となり、Ｃ３＝Ｂである。すなわち、Ｂ（３２）＞Ｃ１（０）＜Ｃ２（８）＜Ｃ３（３２）＝…＝Ｂ（３２）である。ライズ応答の場合、この逆のようになる（ただし、ライズ応答は、応答性が良く、３２→１９２では、Ｃ１＝２４４とすれば、Ｃ２＝Ｃ３＝…＝Ｂ＝１９２であるので、０→２５５、２２４等）。

次に、図８で示すように、ライズ応答の場合でＡ＜Ｃ１≦…≦Ｃｋ＜Ｂ≦Ｃｋ＋１≧…≧Ｃｎ、ディケイ応答の場合でＡ＞Ｃ１≧…≧Ｃｋ＞Ｂ≧Ｃｋ＋１≦…≦Ｃｎのように、１〜ｋ番目のフィールドにおいて、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｋをわざと弱いアンダーシュートレベル（アンダーシュート信号のレベル、アンダーシュート用の試験信号のレベル）として液晶を少し応答させておいてから、以降のｋ＋１〜ｎ番目のフィールドにおいて、ＯＳ信号レベル（オーバーシュート信号のレベル、オーバーシュート用の試験信号のレベル）Ｃｋ＋１〜Ｃｎを本来のオーバーシュートレベルにするという駆動は、特に液晶がスイッチングしにくい領域で効果があり、表５のＬＵＴにおいて、網掛け部分がこの駆動法に適している。

この部分のデータは、何らかの原因で液晶の応答が起こりにくく、１フィールドＯＳではＯＳ量が異常に大きいのが特徴である。したがって、強引に大きなＯＳ量でスイッチングさせているせいか、２フィールド目以降にＯＳ信号が切れると、表示階調レベルが大きくドロップしてしまい、しばらくした後に再び所定の階調レベルに達する。このＬＵＴは、ＶＡタイプの液晶のデータであり、０階調、すなわち液晶分子が完全に垂直配向している状態からのスイッチングは、スイッチング信号印加直後に、液晶が倒れる方向が決まるまでに少なからぬタイムラグが存在することに起因している。

ここで、０→９６の階調遷移を考えた場合、先ずＣ１として３２を与え、これによって、液晶分子をわずかにチルトさせておき、次にＣ２として２００を与えることによって、９６階調への遷移がスムーズに行われる。また、これで９６に到達したので、Ｃ３以降は９６となり、ＯＳ駆動は終了することになるが、１フィールドだけでのＯＳ駆動で見られた階調レベルのドロップは、大幅に解消される。すなわち、上記のライズ応答の場合、Ａ（０）＜Ｃ１（３２）＜Ｂ（９６）＜Ｃ２（２００）となる。ディケイ応答は、この逆となる。

ここで、図９（ａ）に通常駆動（ＯＳ駆動なし）において、０階調から所定の目標階調（２２０階調〜２５５階調）までのライズ応答に要する時間を示す。同図に示されように、０階調から２５５階調への応答時間は最大であり、０階調から２４０階調への応答時間がほぼ最小になっている。

そこで、図９（ｂ）に、０〜２５５階調へのライズ応答において、Ａ（０階調）＜Ｕ（アンダーシュート用の信号レベル）＜Ｂ（２５５階調）とし、Ｕを２４０階調にした場合と、Ｕを２５１階調にした場合と、Ｕを与えない場合（アンダーシュート用の信号を与えずに２５５階調に対応する信号レベルを直接与えた場合）との３つの場合における応答状態を示す。

同図に示されるように、アンダーシュート用の信号を与えずに２５５階調のオーバーシュート用の信号を直接与えた場合や、２５１階調のアンダーシュート用の信号を与えた後に２５５階調のオーバーシュート用の信号を与えた場合には５０ｍｓをはるかに越える応答時間を要する。これに対し、２４０階調のアンダーシュート用の信号を与えた後に２５５階調のオーバーシュート用の信号を与えた場合は、５０ｍｓより短い応答時間を達成することができる。

このように、元階調をＡ、到達階調をＢとする場合には、元階調をＡ、到達階調をＢより小さいパラメータ階調Ｕｐとして通常駆動（ＯＳ駆動なし）を行い、その応答時間がほぼ最小となるような階調Ｕｍｉｎを探出し、この階調Ｕｍｉｎ（図９（ａ）では２４０階調に該当する）をアンダーシュート用の信号レベルとする（すなわち、元階調がＡ、到達階調がＢの階調遷移に対しては、順に、元階調Ａに対応する信号、階調Ｕｍｉｎに対応するアンダーシュート用の信号、到達階調Ｂの順に対応する信号を液晶パネル２に与える）ことも有効である。

続いて、図１０で示すように、ライズ応答の場合でＢ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎ、ディケイ応答の場合でＢ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎのように、総てのＯＳ信号レベルが等しくなる駆動は、前記図７および図８を含む総ての駆動で有効である。すなわち、別々のパラメータを設定するよりも、総て同じパラメータを設定できる分、測定が容易になる。

以上のように、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１≧Ｃ２≧…≧Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目のＯＳ信号レベルＣｋを、該ＯＳ信号レベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該ＯＳ信号レベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定し、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１≦Ｃ２≦…≦Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目のＯＳ信号レベルＣｋを、該ＯＳ信号レベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該ＯＳ信号レベルＣｋによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｋ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することで、前記図７で示すような、始めのＯＳ信号レベルＣ１が最も大きく、以降は徐々に小さくなってゆく多フィールドＯＳを実現することができ、低温等で１フィールドＯＳによって応答が完了しないときに効果的である。

また、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ａ＜Ｃ１≦…≦Ｃｋ＜Ｂ≦Ｃｋ＋１≧…≧Ｃｎであり、かつ、任意のｊ番目（ｋ＋１≦ｊ≦ｎの整数）のＯＳ信号レベルＣｊを、該ＯＳ信号レベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、かつ該ＯＳ信号レベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定し、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ａ＞Ｃ１≧…≧Ｃｋ＞Ｂ≧Ｃｋ＋１≦…≦Ｃｎであり、かつ、任意のｊ番目のＯＳ信号レベルＣｊを、該ＯＳ信号レベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定し、かつ該ＯＳ信号レベルＣｊによる応答波形が到達階調Ｂのレベルにほぼ等しくなっていれば、Ｃｊ＋１〜Ｃｎ＝Ｂと決定することで、前記図８で示すような、１〜ｋ番目のフィールドにおいて、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｋをわざと弱いアンダーシュートレベルとして液晶を少し応答させておいてから、以降のｋ＋１〜ｎ番目のフィールドにおいて、ＯＳ信号レベルＣｋ＋１〜Ｃｎを本来のオーバーシュートレベルにする多フィールドＯＳを実現することができ、液晶がスイッチングしにくい領域で効果的である。

さらにまた、Ａ＜Ｂであるライズ応答の場合、任意の階調Ａ、Ｂに対して、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ｂ≦Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目のＯＳ信号レベルＣｋを、総てのＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最大値に決定し、Ａ＞Ｂであるディケイ応答の場合、ＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎを、Ｂ≧Ｃ１＝Ｃ２＝…＝Ｃｎであり、かつ、任意のｋ番目のＯＳ信号レベルＣｋを、総てのＯＳ信号レベルＣ１〜Ｃｎによる応答波形が到達階調Ｂのレベルに対して過剰応答しない最小値に決定することで、前記図１０で示すような、総て同じパラメータを設定する多フィールドＯＳを実現することができる。

そして、上述のようにして求められたＬＵＴを液晶パネル２のコントロ−ラに搭載することで、高速応答が可能で、かつ映像の破綻が生じない液晶表示装置を実現することができる。

また、本発明では、階調を変化させる前の階調Ａ、到達させるべき階調Ｂに対し、ｎフィールド期間に亘るオーバーシュート信号のレベルＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎを変化させてその応答波形を解析し、Ｃ１，Ｃ２，…，Ｃｎの組み合わせによる応答波形の中で、過剰応答がなく、到達階調Ｂに最も速く到達したＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎの組み合わせを、変化前の階調Ａおよび到達階調Ｂに対応付けてストアしてゆく評価方法をとっている。この評価方法によって得られた、オーバーシュートレベルＣ１，Ｃ２，…，Ｃｎの組み合わせ（最適なＯＳパラメータＣ１〜Ｃｎ）をＬＵＴとするオーバーシュート駆動回路は、過不足のない応答特性を示す最適な信号を液晶パネルに印加することができる。すなわち、該オーバーシュート駆動回路を備えた液晶表示装置（液晶ディスプレイ）においては、優れた応答特性とともに映像破綻のない表示品質が実現される。

なお、上述の説明では、到達階調Ｂを与えているけれども、ＯＳ駆動を制動させるために機能するこの到達階調Ｂは、必ずしも与えられなくてもよい。すなわち、Ｃ＝Ｂであり、特に大きな階調変化時にはＯＳ駆動期間の終了時点でも前記到達階調Ｂに達しない場合もあり、このような場合には該到達階調Ｂを与えなくても、最適ＯＳ信号レベルを決定することができる。しかしながら、階調変化に余裕のある場合は、上記のようにＯＳ駆動を制動させるために機能するこの到達階調Ｂを与えることで、高精度に測定することができる。したがって、特に低階調領域や低温では、ノイズの影響が大きいので、前記到達階調Ｂを与えて精度を高めることは、有効である。

また、本発明はＯＳ駆動による測定を行うことを目的にしているけれども、たとえば本発明の評価装置１を既存の液晶パネルの評価装置に組込むことによって、従来の評価とＯＳ駆動での評価との双方を行うことが可能な液晶評価装置を作成することが可能である。たとえば、電圧−輝度特性を測定する装置と組合わせるといったことが可能である。

本発明の液晶表示装置の評価装置は、以上のように、評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示を検知する表示検知部と、該表示検知部の検知結果を解析する解析部とを備え、上記信号部は、上記液晶パネルに対し、元階調に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与え、ついで到達階調に対応する信号を与える試し駆動を上記オーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されている。

そして、上記信号部は、元階調から到達階調への階調推移に応じて、異なるレベルのオーバーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号の各レベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていても構わない。

また、上記信号部は、元階調＜到達階調を満たす所定の階調推移につき、そのレベルが段階的に下がっていくようなオーバーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。また、上記信号部は、元階調＞到達階調を満たす所定の階調推移につき、そのレベルが段階的に上がっていくようなオーバーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。

また、上記信号部は、１つのレベルのオーバーシュート信号を１フィールド期間上記液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。

また、上記信号部は、元階調から到達階調への階調推移に応じて、元階調に対応する信号を与えた後オーバーシュート信号を与える前にアンダーシュート信号を上記液晶パネルに与えておくとともに、上記試し駆動を上記オーバーシュート信号およびアンダーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成され、かつ、上記解析部は、最適な検知結果に対応するオーバーシュート信号およびアンダーシュート信号を上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていても構わない。

また、上記信号部は、所定の階調推移につき、異なるレベルのアンダーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、最適な検知結果に対応するアンダーシュート信号の各レベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていても構わない。また、上記信号部は、元階調＜到達階調を満たす所定の階調推移につき、そのレベルが段階的に上がっていくようなアンダーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されていることが好ましい。また、上記信号部は、元階調＞到達階調を満たす所定の階調推移につき、そのレベルが段階的に下がっていくようなアンダーシュート信号を順次液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。

また、上記信号部は、１つのレベルのアンダーシュート信号を１フィールド期間上記液晶パネルに与えるように構成されていても構わない。

なお、本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、液晶パネルのＯＳ駆動レベルを決定するにあたって、広く実施することができる。

さらに、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施の形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

本発明の液晶表示装置の評価装置は、液晶表示パネルにオーバーシュート駆動を行う際のルックアップテーブルとなる最適なオーバーシュート信号を、容易かつ高精度に決定することができる。このため、オーバーシュート駆動を行う液晶表示装置の評価装置として利用することができる。

１ 評価装置（液晶表示装置の評価装置）
２ 液晶パネル
３ 映像信号発生回路（信号部）
４ 光学受光素子（表示検知部）
５ 波形解析装置（解析部）
６ 恒温槽
７ 液晶表示装置
９ 窓
１１ ＯＳ信号生成部（信号部）
１２ クロック信号入力部（信号部）
１３ スイッチ部（信号部）
１４ 信号出力部（信号部）

Claims (11)

1. 評価対象の液晶パネルに信号を与える映像信号発生回路と、上記液晶パネルの表示を検知する光学受光素子と、上記光学受光素子からの出力が入力される波形解析装置とを備え、
   上記映像信号発生回路は、上記液晶パネルに対し、元階調に対応する信号を与え、ついでオーバーシュート信号を与える試し駆動を、上記オーバーシュート信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記波形解析装置は、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと、所望の到達階調に対応するレベルとの関係、並びに上記所望の到達階調に対応するレベルに略到達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達した試し駆動時のオーバーシュート信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴とする液晶表示装置の評価装置。
2. 評価対象の液晶パネルに信号を与える信号部と、上記液晶パネルの表示を検知する表示検知部と、該表示検知部の検知結果を解析する解析部とを備え、
   上記信号部は、上記液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後に元階調から到達階調の階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与える試し駆動を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ行うように構成されるとともに、上記解析部は、上記試し駆動によって得られる表示検知部からの各検知結果を解析し、その結果に基づいて、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達した試し駆動時の試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴とする液晶表示装置の評価装置。
3. 上記信号部は、所定の階調推移につき、複数のレベルからなるオーバーシュート用の試験信号を上記液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達した試し駆動時の、試験信号の複数のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることことを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の評価装置。
4. 上記信号部は、所定の階調推移につき、元階調に対応する信号を与えた後に少なくとも１つのレベルからなるアンダーシュート用の試験信号を与えておき、ついで少なくとも１つのレベルからなるオーバーシュート用の試験信号を上記液晶パネルに与えるように構成されているとともに、上記解析部は、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達した試し駆動時の、アンダーシュート用の試験信号のレベルおよびオーバーシュート用の試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の評価装置。
5. 上記信号部は、上記試験信号における１つのレベルを１フィールド期間上記液晶パネルに与えるように構成されていることを特徴とする請求項３または４記載の液晶表示装置の評価装置。
6. 上記表示検知部に備えられた光学受光素子と、上記解析部に備えられ、上記光学受光素子からの出力波形が入力される波形解析装置とを有し、
   上記波形解析装置は、各試し駆動に対応して入力される上記光学受光素子からの各出力波形に対し、その最大あるいは最小レベルと到達階調に相当するレベルとの関係、並びに到達階調に相当するレベルに達するまでの所要時間を解析し、その結果に基づいて、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達した試し駆動時の試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくように構成されていることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の評価装置。
7. 評価対象の液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後に上記元階調から到達階調への階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返し、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達したときの試験信号のレベルを上記元階調および到達階調に対応付けてストアしていくことを特徴とする液晶表示装置の評価方法。
8. 液晶パネルと駆動回路とを備えた液晶表示装置であって、
   上記駆動回路には、元階調から到達階調への階調推移に応じてオーバーシュート用の信号の最適なレベルあるいはオーバーシュート用の信号とアンダーシュート用の信号とを組み合わせた信号の最適なレベルがルックアップテーブルとしてストアされており、
   上記最適なレベルとして、上記液晶パネルに対して元階調に対応する信号を与えた後上記階調推移に応じてオーバーシュート用の試験信号あるいはオーバーシュート用の試験信号とアンダーシュート用の試験信号との双方を与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返して得られる、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達したときの試験信号のレベルが用いられていることを特徴とする液晶表示装置。
9. 上記駆動回路には、所定の階調推移につき、上記オーバーシュート用の信号の最適なレベルとして複数の信号レベルの最適な組み合わせがルックアップテーブルとしてストアされており、
   上記最適な組み合わせとして、上記液晶パネルに対して、元階調に対応する信号を与えた後複数の信号レベルからなるオーバーシュート用の試験信号を与えてその表示結果の解析を行う工程を上記複数の信号のレベルを掃引させつつ繰り返して得られる、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達したときの、複数の信号レベルの組み合わせが用いられていることを特徴とする請求項８に記載の液晶表示装置。
10. 上記駆動回路には、所定の階調推移につき、オーバーシュート用の信号のレベルとアンダーシュート用の信号のレベルとの最適な組み合わせがルックアップテーブルとしてストアされており、
    上記最適な組み合わせとして、上記液晶パネルに対して元階調に対応する信号を与えた後アンダーシュート用の試験信号とオーバーシュート用の試験信号とをこの順に順次与えてその表示結果の解析を行う工程を、上記各試験信号のレベルを掃引させつつ繰り返して得られる、過剰応答がなく、到達階調に最も速く到達したときの、各試験信号のレベルの組み合わせが用いられていることを特徴とする請求項８に記載の液晶表示装置。
11. 上記ルックアップテーブルは複数の温度それぞれに対応してストアされていることを特徴とする請求項８〜１０のいずれか１項に記載の液晶表示装置。