JP2010014594A - Solder creep strength testing device and solder creep strength test method - Google Patents

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JP2010014594A JP2008175793A JP2008175793A JP2010014594A JP 2010014594 A JP2010014594 A JP 2010014594A JP 2008175793 A JP2008175793 A JP 2008175793A JP 2008175793 A JP2008175793 A JP 2008175793A JP 2010014594 A JP2010014594 A JP 2010014594A
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creep strength
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Takehiro Inuma
健弘 井沼
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a load of an operator, and to acquire proper creep rupture measurement data, by detecting a soldered portion subjected to a creep rupture test of a printed board for the test, and by executing automatically the creep rupture test. <P>SOLUTION: A solder shape is measured beforehand, and the soldered portion which is an inspection object is discriminated automatically, and elongation of the soldered portion is measured by a load control mechanism placed on an X-Y moving mechanism, while applying a prescribed load onto a component soldered on the printed board for the test. Continuity between a plurality of terminals is monitored, and when some continuity is lost, it is determined that a rupture occurs, and an applied load, and an elongation, a time and a rupture mode until reaching rupture are preserved as data. The rupture mode, such as a solder rupture or a through-hole rupture, is determined by presence/absence of continuity between the plurality of terminals. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント基板等に部品をはんだ付けしたときのはんだクリープ強度試験のための装置および方法に関する。   The present invention relates to an apparatus and method for a solder creep strength test when a component is soldered to a printed circuit board or the like.

測定対象の金属を機械切削加工し、定義された形状の試験片のもと、試験片に一定の引張力を与えることで、クリープ破断時間を計測する方法がJIS Z 2271「金属材料のクリープ及びクリープ破断試験方法」に定められている。
この方法の場合、鉄鋼などの金属材料のクリープ試験としては有用な試験方法である。
しかし、この技術では基板とはんだの接合部における、クリープ試験を行うことはできない。
はんだ付け部のクリープ試験方法として、はんだ浴を用いてはんだ付けした試験用プリント基板の複数のはんだ付け部に対して、同時に種々の荷重を与えクリープ試験を行う方法が提案されている(例えば、特許文献1 参照。)。
A method for measuring the creep rupture time by machining a metal to be measured and applying a certain tensile force to the test piece under a test piece having a defined shape is disclosed in JIS Z 2271 Creep rupture test method ".
In the case of this method, it is a useful test method as a creep test for metal materials such as steel.
However, this technique cannot perform a creep test at the joint between the substrate and the solder.
As a creep test method for a soldered portion, a method has been proposed in which a creep test is performed by applying various loads simultaneously to a plurality of soldered portions of a test printed circuit board soldered using a solder bath (for example, (See Patent Document 1).

この方法の場合、複数の対象を平行してクリープ試験を行う場合に有効である。
しかし、この方法では基板ごとに試験対象とする接合部を選定し,試験者が錘を負荷させるなどの準備を行うこととなる。また、はんだ浴を用いたはんだ付け部のクリープ破断時間は、はんだ接合状態に左右されるため、接合状態を事前に確認しておく必要がある。クリープ試験は破壊試験であるため、試験後にこの確認を行うのは困難である。試験対象が複数におよぶとこれらの準備は非常に煩雑となる。
また、荷重によっては破断モードが異なるが、この方法では自動で判別ができない。
This method is effective when a creep test is performed in parallel with a plurality of objects.
However, in this method, a joint to be tested is selected for each substrate, and the tester makes preparations such as loading a weight. Moreover, since the creep rupture time of the soldering part using a solder bath is influenced by the solder joint state, it is necessary to confirm the joint state in advance. Since the creep test is a destructive test, it is difficult to confirm this after the test. These preparations become very complicated when there are a plurality of test objects.
Further, although the rupture mode differs depending on the load, this method cannot be automatically determined.

特開昭59−072042号公報JP 59-072042 A

本発明は、これらの課題に鑑み、クリープ破断試験に供するはんだ付け部を検出し、自動的にクリープ破断試験を実施することで、作業者の負担軽減および適切なクリープ破断計測データを得ることを目的とする。   In view of these problems, the present invention detects a soldered portion to be subjected to a creep rupture test, and automatically performs a creep rupture test, thereby reducing the burden on the operator and obtaining appropriate creep rupture measurement data. Objective.

請求項1に記載の発明では、はんだクリープ強度試験装置において、はんだ付け部のはんだ形状を計測する手段と、計測した結果に基づき、クリープ強度試験対象を自動で判断する自動判断手段と、を有することを特徴とする。
請求項2に記載の発明では、請求項1に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記試験対象となったはんだ接合部に対して、基板面と直交する方向に連続して荷重をかける荷重手段と、荷重をかけてからの時間を計測し且つ、破断状態を認識する手段と、を有することを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention, the solder creep strength test apparatus includes means for measuring the solder shape of the soldered portion, and automatic determination means for automatically determining the object of the creep strength test based on the measurement result. It is characterized by that.
According to a second aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to the first aspect, a load means for continuously applying a load in a direction perpendicular to the substrate surface to the solder joint portion to be tested. And means for measuring the time since the load was applied and recognizing the fracture state.

請求項3に記載の発明では、請求項2に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記荷重手段は、荷重制御機構を備えていることを特徴とする。
請求項4に記載の発明では、請求項3に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記荷重制御機構は、1つの平面内に設けた直交座標の各軸方向に独立で移動可能な機構を有することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to the second aspect, the load means includes a load control mechanism.
According to a fourth aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to the third aspect, the load control mechanism has a mechanism that can move independently in each axial direction of orthogonal coordinates provided in one plane. It is characterized by that.

請求項5に記載の発明では、請求項2ないし4のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、前記試験対象がクリープ破断したことを検知する機構を含むことを特徴とする。
請求項6に記載の発明では、請求項1ないし5のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、さらに、破断モードを判別する機構を備えていることを特徴とする。
請求項7に記載の発明では、請求項1ないし6のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、クリープ試験中のはんだの伸びを測定する機構も備えていることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to any one of the second to fourth aspects, the means for recognizing the rupture state is a mechanism for detecting that the test object has undergone a creep rupture. It is characterized by including.
According to a sixth aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to any one of the first to fifth aspects, the means for recognizing the rupture state further includes a mechanism for determining a rupture mode. It is characterized by that.
According to a seventh aspect of the present invention, in the solder creep strength test apparatus according to any one of the first to sixth aspects, the means for recognizing the fracture state includes a mechanism for measuring the elongation of the solder during the creep test. It is characterized by having.

請求項8に記載の発明では、請求項1または7に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記はんだ付け部のはんだ形状を計測する手段は、X線撮像手段であり、前記自動判断手段は、撮像結果を画像処理してはんだ形状の特徴部を検出する特徴検出手段を有することを特徴とする。
請求項9に記載の発明では、はんだクリープ強度試験方法であって、はんだ付け部のはんだ形状を計測する工程と、計測した結果に基づき、クリープ強度試験対象を自動で判断する工程と、試験対象となったはんだ接合部に対して、基板と直交する方向に連続して荷重をかける工程と、破断時間を計測し且つ、破断状態を認識する工程と、を有することを特徴とする。
請求項10に記載の発明では、請求項9に記載のはんだクリープ強度試験方法において、前記クリープ強度試験対象は、U字型部品を実装した評価基板であることを特徴とする。
In the invention according to claim 8, in the solder creep strength test apparatus according to claim 1 or 7, the means for measuring the solder shape of the soldering portion is an X-ray imaging means, and the automatic determination means is The image processing apparatus includes a feature detection unit that detects a feature portion of a solder shape by performing image processing on an imaging result.
The invention according to claim 9 is a solder creep strength test method, a step of measuring a solder shape of a soldering portion, a step of automatically determining a creep strength test object based on the measurement result, and a test object It is characterized by comprising a step of continuously applying a load to the solder joint portion thus obtained in a direction orthogonal to the substrate, and a step of measuring the rupture time and recognizing the rupture state.
According to a tenth aspect of the present invention, in the solder creep strength test method according to the ninth aspect, the creep strength test target is an evaluation board on which a U-shaped component is mounted.

本発明によれば、クリープ破断試験すべき、はんだ付け部の状態を事前に計測し、自動的にクリープ破断試験を実施することができるので、作業者の負担軽減および適切なクリープ破断計測データを得ることができる。   According to the present invention, since the state of the soldered portion to be subjected to the creep rupture test can be measured in advance and the creep rupture test can be automatically performed, the burden on the operator can be reduced and appropriate creep rupture measurement data can be obtained. Obtainable.

図1は本発明の実施例の機構部を示す斜視図である。
同図において符号1、2は移動部材、3、4はX−Y移動機構、5は荷重制御部、6は係合部、10は基板保持部、11は基板たわみを規制する部材、20は部品、21は試験用プリント配線板、22は導通コモン端子をそれぞれ示す。
試験用プリント配線板21は基板保持部10にて保持される。試験用プリント配線板21には、クリープ試験に供される複数のはんだ付けされた部品20がある。X移動要ステージ3とY移動要ステージ4は周知のX−Y移動機構を構成しており、両ステージは相互に任意の位置に移動可能になっている。荷重制御部5はX−Y移動機構3、4に設置されており、荷重制御部5の係合部6も上下(プリント基板面に直交する方向)に移動可能となっている。荷重制御部5には荷重検出機構と伸び変位検出機構が備わっている。荷重制御部5の先端部にははんだ付け部と係合する係合部6がある。係合部は試験対象に合わせ、同図に示すようにフックでも良いし、自動チャッキングユニットでも良い。基板のサイズにあわせ、基板たわみを規制する部材11があっても良い。
同図においてX−Y移動機構は水平面内に座標軸を有するように示しているが、座標軸を鉛直面内に設けて試験用プリント配線板21をそれに対応させて配置してもかまわない。要は、荷重制御機構が試験用プリント配線板21内の任意の位置に係合部6を移動させることができればよいので、1つの平面内に設けた直交座標の各軸方向に独立で移動可能な機構を持っていればよい。なお、同図にはX−Y移動機構の駆動源と伝達機構は、任意の従来技術を用いることができるので、図示省略している。
FIG. 1 is a perspective view showing a mechanism portion of an embodiment of the present invention.
In the figure, reference numerals 1 and 2 are moving members, 3 and 4 are XY moving mechanisms, 5 is a load control unit, 6 is an engaging unit, 10 is a substrate holding unit, 11 is a member that regulates substrate deflection, and 20 is Reference numeral 21 denotes a test printed wiring board, and 22 denotes a conductive common terminal.
The test printed wiring board 21 is held by the board holding unit 10. The test printed wiring board 21 has a plurality of soldered components 20 that are subjected to a creep test. The X movement required stage 3 and the Y movement required stage 4 constitute a well-known XY movement mechanism, and both stages can move to arbitrary positions. The load control unit 5 is installed in the XY movement mechanisms 3 and 4, and the engagement unit 6 of the load control unit 5 is also movable up and down (in a direction orthogonal to the printed circuit board surface). The load control unit 5 includes a load detection mechanism and an extension displacement detection mechanism. At the tip of the load controller 5, there is an engaging part 6 that engages with the soldering part. The engaging portion may be a hook or an automatic chucking unit as shown in FIG. There may be a member 11 that regulates the deflection of the substrate in accordance with the size of the substrate.
In the figure, the XY moving mechanism is shown as having a coordinate axis in a horizontal plane, but the coordinate axis may be provided in a vertical plane and the test printed wiring board 21 may be arranged corresponding to it. The point is that the load control mechanism only needs to be able to move the engaging portion 6 to an arbitrary position in the test printed wiring board 21, so that it can move independently in each axial direction of orthogonal coordinates provided in one plane. As long as it has a simple mechanism. In the figure, the drive source and the transmission mechanism of the XY moving mechanism can be any conventional technique and are not shown.

図2は本発明の試験装置の機能構成を示すブロック図である。
同図において符号Sは図3の流れ図に対応する各ステップを示す。
CPUは装置全体の制御および、必要な演算やデータの格納などを行う。
複数のはんだ付け処理された試験用プリント板を所定の位置にセットし、図示しない試験開始ボタンを押すことによって、CPUが形状計測手段である撮像装置に対して試験開始を指令する。撮像装置は例えば光学式カメラ、或いは、X線撮像装置によって構成されている。撮像結果は画像解析手段を含む特徴検出手段によって、前もって格納してあるパターンデータとの比較などから、試験対象に選びたい部位を判別する。それらを試験対象として荷重手段に位置データを渡す。ここで、試験対象に選ぶ基準は、クリープ強度のデータが得られそうな部位であって、正常にはんだ付けがなされている部位、すなわち、はんだ上がりが100%になっている部位である。そのほかに、正常状態からははずれているがクリープ強度のデータが得られると思われる部位も必要に応じて選ぶことができる。
荷重手段は位置データに基づき、X−Yステージを駆動して、係合部6をはんだ接合された部品20に当接させるかもしくは引っかけて、若干の荷重をかける。荷重の大きさは荷重制御機構により、事前に調べてある最適範囲の例えばほぼ中間の値に設定される。
FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of the test apparatus of the present invention.
In the figure, reference numeral S denotes each step corresponding to the flowchart of FIG.
The CPU controls the entire apparatus and stores necessary calculations and data.
When a plurality of soldered test printed boards are set at predetermined positions and a test start button (not shown) is pressed, the CPU instructs the imaging apparatus as a shape measuring means to start the test. The imaging device is constituted by, for example, an optical camera or an X-ray imaging device. A part to be selected as a test object is discriminated from the imaging result by comparison with pattern data stored in advance by feature detection means including image analysis means. The position data is passed to the load means with these as test objects. Here, the criterion to be selected as a test object is a part where creep strength data is likely to be obtained, and a part where soldering is normally performed, that is, a part where the solder finish is 100%. In addition, it is possible to select, as necessary, a portion that is considered to be able to obtain creep strength data although it is out of the normal state.
Based on the position data, the load means drives the XY stage so that the engagement portion 6 is brought into contact with or hooked to the soldered component 20 to apply a slight load. The magnitude of the load is set to, for example, a substantially intermediate value in the optimum range examined in advance by the load control mechanism.

最初に、破断状態認識手段により、係合部6と係合部6側(おもて面側)に向いている共通電極(後述)との間の導通、および、共通電極と裏面側の破断モード検出端子(後述)を確認する。
どちらかの導通が最初からなければ、正常にはんだ付けが行われていなかったと判断し、他の試験対象を選択する。
所定の時間内で伸びが確認されなければ、この部位を試験対象としては除外するか、或いはさらに、荷重を大きくして同様の試験を繰り返すか選択することができるようにしておく。
伸びの発生が確認された場合、破断が生ずるまで同じ加重をかけ続ける。そして、印加した荷重、および、破断までの時間、上記破断状態認識手段で判定した破断モードがデータとして保存される。
破断モードとしては、係合部6と共通電極との間の導通のみがなくなった場合は、はんだ部で破断したと判断する。それに加えて共通電極と裏面側の破断モード検出端子間の導通も共になくなった場合は、スルーホール部で破断したと判断する。
これらの判断結果は結果表示部に表示することができる。
First, the rupture state recognition means causes conduction between the engagement portion 6 and the common electrode (to be described later) facing the engagement portion 6 side (front surface side), and breakage between the common electrode and the back surface side. Check the mode detection terminal (described later).
If either continuity does not occur from the beginning, it is determined that soldering has not been performed normally, and another test object is selected.
If no elongation is confirmed within a predetermined time, it is possible to select whether to exclude this part as a test object or to repeat the same test with a larger load.
If the occurrence of elongation is confirmed, continue to apply the same weight until breakage occurs. Then, the applied load, the time to break, and the break mode determined by the break state recognition means are stored as data.
As the break mode, when only the conduction between the engaging portion 6 and the common electrode is lost, it is determined that the solder portion is broken. In addition, when both the conduction between the common electrode and the break mode detection terminal on the back side is lost, it is determined that the through hole portion has broken.
These determination results can be displayed on the result display section.

図3は本発明の試験方法を表すフローチャートである。
同図において符号Sは流れのステップを示す。
試験開始指令(S00)により、基板のはんだ付け部を撮像する(S01)。撮像手段は光学式カメラでもよいし、内部を撮像できるX線撮像装置であってもよい。得られた画像から画像処理によってはんだ形状の特徴部を算出する(S02)。特徴部とは例えばX線撮像であれば、スルーホール内のはんだ上がり長などを用いる。光学式撮像であれば、玉状のはんだ形状を除外するなどの特徴部の結果から測定の対象を決定する(S03)。例えば、はんだ上がり長であれば、はんだが十分上がっているものだけ選択したり、得ようとするデータの種類によっては、はんだ上がり長が長いもの短いものを配分するように選択したりできる。また、荷重制御機構により、対象にかける荷重を決定する(S04)。決定方法として、規定の荷重を加えたり、(S03)で決定した測定対象ごとに荷重を変えることができる。決定した条件の下、対象に荷重をかけクリープ試験を開始する(S05)。
FIG. 3 is a flowchart showing the test method of the present invention.
In the figure, symbol S indicates a flow step.
In response to the test start command (S00), the soldered portion of the board is imaged (S01). The imaging means may be an optical camera or an X-ray imaging device capable of imaging the inside. A feature part of the solder shape is calculated from the obtained image by image processing (S02). For example, in the case of X-ray imaging, the feature portion uses a solder rising length in a through hole. In the case of optical imaging, the measurement target is determined from the result of the characteristic part such as excluding the ball-shaped solder shape (S03). For example, in the case of the solder rising length, only the solder that is sufficiently high can be selected, or depending on the type of data to be obtained, it can be selected to distribute the long and short soldering length. Further, the load applied to the object is determined by the load control mechanism (S04). As a determination method, a prescribed load can be applied, or the load can be changed for each measurement object determined in (S03). Under the determined conditions, a load is applied to the object and a creep test is started (S05).

試験中は破断の検出をしており(S06)、はんだの伸びも検出している(S07)。はんだの伸びが有る場合、クリープが続いていることを示しているので、試験は継続されるが、はんだの伸びが規定時間以上ない場合は(S08)、同じ測定対象に対し、より重い荷重で測定を再開することができる(S04へ)。または、残りの測定対象がある場合は(S12)、新たに対象を決定し、再測定される(S03へ)。測定荷重を変更するかどうかは、前もって、選択スイッチ等で決定しておくことができる。
破断した場合は、係合部と共通電極との間の導通によって破断モードを識別する(S09)。導通があった場合は、はんだ破断(S10)であり、導通がなかった場合は、スルーホール破断である(S11)。最後に、残りの測定対象の有無を検出し(S12)、残りがあった場合は(S03)に戻り、残りがなかった場合は測定終了である(S13)。
During the test, breakage is detected (S06), and solder elongation is also detected (S07). If there is solder elongation, it indicates that creep has continued, so the test is continued, but if the solder elongation does not exceed the specified time (S08), the heavier load is applied to the same measurement object. Measurement can be resumed (to S04). Alternatively, if there are remaining measurement objects (S12), a new object is determined and remeasured (to S03). Whether to change the measurement load can be determined in advance using a selection switch or the like.
When it breaks, the break mode is identified by conduction between the engaging portion and the common electrode (S09). When there is continuity, it is a solder rupture (S10), and when there is no continuity, it is a through-hole rupture (S11). Finally, the presence / absence of the remaining measurement object is detected (S12). If there is a remaining measurement object, the process returns to (S03). If there is no remaining measurement object, the measurement ends (S13).

ステップS02において、特に、X線で観察することにより、接合部内部のはんだ形状の情報が得られる。それにより、はんだ形状毎に正確なクリープ破断計測データを得ることができる。   In step S02, information on the solder shape inside the joint is obtained by observing with X-rays in particular. Thereby, accurate creep rupture measurement data can be obtained for each solder shape.

破断判定は荷重制御部先端の係合部6と共通電極に電流を流し導通を見るか、または荷重制御部5の変位で判定するかどちらでも良い。測定中に破断が生じた場合は、その時点で、急激に荷重の低下が生ずるので、何らかのモードで破断したと判断することができる。どちらのモードで破断したかは、さらに、共通電極と破断モード検出端子との間の導通を見ることで判別できる。導通があった場合ははんだ部破断、なかった場合はスルーホール破断と判断する。   The determination of breakage may be performed by either passing a current through the engaging portion 6 and the common electrode at the tip of the load control unit to see conduction or by determining the displacement of the load control unit 5. If breakage occurs during the measurement, the load suddenly drops at that point, so it can be determined that the breakage occurred in some mode. Which mode is broken can be further determined by observing conduction between the common electrode and the break mode detection terminal. When there is continuity, it is determined that the solder part is broken, and when there is no conduction, it is determined that the through hole is broken.

図4は本発明に使用する試験用プリント配線板を示す図である。
試験用プリント配線板には共通電極としての導通コモン端子22と破断モード検出端子23を備えており、その端子間の導通を見ている。
図5ははんだ上がりの不十分な状態を示す図である。はんだがスルーホールな全長を満たしたとき、はんだ上がりが100%であると表現する。はんだ上がりが100%でない場合でも、クリープ強度のデータを採りたい場合は試験対象として選ぶことがある。
図6、図7はそれぞれはんだ破断状態の相異なるモードを示す図である。
図6のはんだ破断状態であれば、導通のとれたままであるが、図7のスルーホール破断の状態では共通電極である導通コモン端子22と破断モード端子23の導通がとれなくなるため、どちらの破断モードであるかの判別ができる。
本発明により、破断モードを特定することができるため、正確なクリープ破断計測データを得ることができる。
FIG. 4 is a diagram showing a test printed wiring board used in the present invention.
The test printed wiring board is provided with a conduction common terminal 22 and a break mode detection terminal 23 as common electrodes, and the conduction between the terminals is observed.
FIG. 5 is a diagram showing a state in which the solder finish is insufficient. When the solder fills the entire length of the through hole, the solder finish is expressed as 100%. Even when the solder finish is not 100%, it may be selected as a test object when it is desired to collect creep strength data.
6 and 7 are diagrams showing different modes of the solder fracture state.
In the solder rupture state of FIG. 6, the continuity is maintained, but in the through hole rupture state of FIG. 7, the continuity between the continuity common terminal 22 and the rupture mode terminal 23 which are common electrodes cannot be obtained. Can be determined.
According to the present invention, since the rupture mode can be specified, accurate creep rupture measurement data can be obtained.

図8は荷重印加状態を示す図である。
図中部品20はU字型部品であるが、この場合荷重制御部5先端の係合部6と係合しやすい。この場合は荷重制御部5による荷重は、部品20に対する引っ張り力になる。
試験用プリント配線板21は、U字型の部品として構成しておけば、荷重制御部先端の係合部6に容易に係合できるため、試験中の係合部ずれ、はずれ等がなく、正確なクリープ計測データを得ることができる。
FIG. 8 is a diagram showing a load application state.
In the drawing, the component 20 is a U-shaped component, but in this case, the component 20 is easily engaged with the engagement portion 6 at the tip of the load control unit 5. In this case, the load by the load control unit 5 becomes a pulling force on the component 20.
If the test printed wiring board 21 is configured as a U-shaped component, it can be easily engaged with the engagement portion 6 at the tip of the load control portion, so there is no engagement portion displacement or disconnection during the test. Accurate creep measurement data can be obtained.

本発明の実施例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the Example of this invention. 本発明の試験装置の機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function structure of the test apparatus of this invention. 本発明の試験方法を表すフローチャートである。It is a flowchart showing the test method of this invention. 本発明に使用する試験用プリント配線板を示す図である。It is a figure which shows the printed wiring board for a test used for this invention. はんだ破断状態の1つのモードを示す図である。It is a figure which shows one mode of a solder fracture state. はんだ破断状態の他のモードを示す図である。It is a figure which shows the other mode of a solder fracture state. 荷重印加状態を示す図である。It is a figure which shows a load application state. 荷重印加状態を示す図である。It is a figure which shows a load application state.

符号の説明Explanation of symbols

3、4 X−Y移動機構
5 荷重制御部
6 係合部
20 部品
21 試験用プリント配線板
22 導通コモン端子
23 破断モード検出端子
3, 4 XY movement mechanism 5 Load control unit 6 Engagement unit 20 Parts 21 Test printed wiring board 22 Conduction common terminal 23 Break mode detection terminal

Claims (10)

はんだクリープ強度試験装置において、はんだ付け部のはんだ形状を計測する手段と、計測した結果に基づき、クリープ強度試験対象を自動で判断する自動判断手段と、を有することを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   Solder creep strength test apparatus, comprising: means for measuring a solder shape of a soldered portion; and automatic determination means for automatically determining a creep strength test object based on the measurement result. apparatus. 請求項1に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記試験対象となったはんだ接合部に対して、基板面と直交する方向に連続して荷重をかける荷重手段と、荷重をかけてからの時間を計測し且つ、破断状態を認識する手段と、を有することを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   2. The solder creep strength test apparatus according to claim 1, wherein a load means for continuously applying a load in a direction orthogonal to the substrate surface to the solder joint portion to be tested, and a time after the load is applied. And a means for recognizing a ruptured state, and a solder creep strength test apparatus. 請求項2に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記荷重手段は、荷重制御機構を備えていることを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   3. The solder creep strength test apparatus according to claim 2, wherein the load means includes a load control mechanism. 請求項3に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記荷重制御機構は、1つの平面内に設けた直交座標の各軸方向に独立で移動可能な機構を有することを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   4. The solder creep strength test apparatus according to claim 3, wherein the load control mechanism has a mechanism that can move independently in each axial direction of orthogonal coordinates provided in one plane. apparatus. 請求項2ないし4のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、前記試験対象がクリープ破断したことを検知する機構を含むことを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   5. The solder creep strength test apparatus according to claim 2, wherein the means for recognizing the rupture state includes a mechanism for detecting that the test object is creep ruptured. Strength test equipment. 請求項1ないし5のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、さらに、破断モードを判別する機構を備えていることを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   6. The solder creep strength test apparatus according to claim 1, wherein the means for recognizing the rupture state further comprises a mechanism for determining a rupture mode. apparatus. 請求項1ないし6のいずれか1つに記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記破断状態を認識する手段は、クリープ試験中のはんだの伸びを測定する機構も備えていることを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   The solder creep strength test apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the means for recognizing the fracture state includes a mechanism for measuring the elongation of the solder during the creep test. Creep strength test equipment. 請求項1または7に記載のはんだクリープ強度試験装置において、前記はんだ付け部のはんだ形状を計測する手段は、X線撮像手段であり、前記自動判断手段は、撮像結果を画像処理してはんだ形状の特徴部を検出する特徴検出手段を有することを特徴とするはんだクリープ強度試験装置。   The solder creep strength test apparatus according to claim 1 or 7, wherein the means for measuring the solder shape of the soldering part is an X-ray imaging means, and the automatic determination means performs image processing on the imaging result to obtain a solder shape. A solder creep strength test apparatus comprising a feature detection means for detecting a feature of the solder. はんだクリープ強度試験方法であって、はんだ付け部のはんだ形状を計測する工程と、計測した結果に基づき、クリープ強度試験対象を自動で判断する工程と、試験対象となったはんだ接合部に対して、基板と直交する方向に連続して荷重をかける工程と、破断時間を計測し且つ、破断状態を認識する工程と、を有することを特徴とするはんだクリープ強度試験方法。   A solder creep strength test method for measuring a solder shape of a soldered portion, a step of automatically determining a creep strength test target based on the measured result, and a solder joint portion to be tested A solder creep strength test method comprising: applying a load continuously in a direction perpendicular to the substrate; and measuring a rupture time and recognizing a rupture state. 請求項9に記載のはんだクリープ強度試験方法において、前記クリープ強度試験対象は、U字型部品を実装した評価基板であることを特徴とするはんだクリープ強度試験方法。   The solder creep strength test method according to claim 9, wherein the creep strength test target is an evaluation board on which a U-shaped component is mounted.
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