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複数のアナログメモリセルを有する1つのメモリ中に、データを記憶させる方法であって、
それぞれの前記アナログメモリセルの到達可能な記憶容量を推定する工程と、
前記推定された到達可能な容量に基づいて、前記メモリセル中に記憶されるべきデータ量を定義する記憶構成を、それぞれの前記メモリセルに割り当てる工程と、
前記割り当てられた記憶構成に基づいて、それぞれの前記メモリセル中にデータを記憶する工程と、
前記1つのメモリが1つのホストシステムに組み込まれて、前記データを前記ホストシステム中に記憶させるために使用された後に、それぞれの前記アナログメモリセルの到達可能な記憶容量を再推定する工程と、
前記再推定された到達可能な容量に応答して、前記記憶構成を修正する工程と、
からなることを特徴とする方法。
A method of storing data in a single memory having a plurality of analog memory cells, the method comprising:
Estimating the reachable storage capacity of each said analog memory cell;
Based on the estimated reachable volume, the storage configuration that defines the amount of data to be stored in said memory cell, the steps of assigning to each of said memory cells,
Based on the allocated memory structure, a step of storing the data in each of said memory cells,
Wherein one memory is incorporated into a single host system, the data after being used for storing in said host system, a step of re-estimating reachable storage capacity of each of the analog memory cells ,
Modifying the storage configuration in response to the re-estimated reachable capacity ;
A method characterized by comprising :
前記データを記憶する工程は、
1つの誤り訂正符号(ECC)を用いて前記データを符号化する工程と、
前記符号化されたデータを、1組の公称アナログ値から選択されたアナログ値に変換する工程と、
前記アナログ値をそれぞれの前記メモリセルに書き込む工程と、
からなり、
それぞれの前記記憶構成は、前記データを記憶するために用いられる、1つのECC符号レートおよび1組の公称アナログ値の1つのサイズを特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
Storing the data comprises :
A step of encoding the data using one error correction code (ECC),
And converting the encoded data into an analog value selected from a set of nominal analog value,
Writing the analog value to each of the memory cells;
Consists of
Each of the storage arrangement is used to store the data, one ECC code rate and a set of one size nominal analog value, to identify the,
The method according to claim 1.
それぞれの前記アナログメモリセルに対し前記データを記憶する工程は、
前記データを1組の公称アナログ値から選択されたアナログ値に変換する工程と、
前記選択されたアナログ値を前記メモリセルに書き込む工程と、からなり
それぞれの前記記憶構成は、前記アナログメモリセルに前記データを記憶するために用いられる前記公称アナログ値を特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
The step of storing the data for each of the analog memory cells,
And converting the data into an analog value selected from a set of nominal analog value,
A step of writing the selected analog values to the memory cell consists,
Each of the storage configuration, identifying the nominal analog value that is used to store the data into the analog memory cell,
The method according to claim 1.
前記データを記憶する工程は、
前記データをアナログ値に変換する工程と、
前記アナログ値をそれぞれの前記メモリセルに書き込む工程と、からなり
前記到達可能な記憶容量を推定する工程は、
前記メモリセル中に書き込まれる前記アナログ値に影響を与えるそれぞれの歪みレベルを推定する工程と、
前記歪みレベルに応答して前記到達可能な記憶容量を決定する工程と、
からなることを特徴とする請求項1に記載の方法。
Storing the data comprises :
And converting the data into an analog value,
And writing the analog value in each of the memory cells consists,
Estimating the reachable storage capacity comprises:
A step of estimating the level of the respective distortion affecting the analog value to be written in said memory cell,
Determining the reachable storage capacity in response to the level of distortion;
The method according to claim 1, characterized in that it consists of.
前記歪みレベルを推定する工程は、
前記メモリセルから前記アナログ値を読み取る工程と、
前記メモリセルから読み取られた前記アナログ値に基づいて前記歪みレベルを推定する工程と、
からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Estimating the distortion level comprises :
A step of reading the analog values from the memory cell,
A step of estimating the strain level on the basis of the analog value read from the memory cell,
The method according to claim 1, comprising:
前記歪みレベルを推定する工程は、
前記メモリセルから読み取られた前記アナログ値から前記データを再構築する工程と、
前記再構築されたデータに基づいて前記歪みレベルを演算する工程と、
からなる、ことを特徴とする請求項5に記載の方法。
Estimating the distortion level comprises :
A step of reconstructing the data from the analog value read from the memory cell,
A step of calculating the distortion levels based on the reconstructed data,
It consists method of claim 5, characterized in that.
前記歪みレベルを演算する工程は、
前記メモリセルから読み取られた前記アナログ値のスカラー関数を合計する工程からなる、ことを特徴とする請求項5に記載の方法。
The step of calculating the distortion level includes:
The method of claim 5, wherein said read from the memory cell comprises the step of summing the scalar function of an analog value, characterized in that.
前記スカラー関数を合計する工程は、
前記メモリセルから読み取られた前記アナログ値と、前記データに対応して前記メモリセル中に記憶されたそれぞれの前記データの予測値との差の二乗を合計する工程からなる、ことを特徴とする請求項7に記載の方法。
The step of summing the scalar functions includes:
And the analog value read from the memory cell, in response to the data comprises the step of summing the squares of the differences amount between the predicted value of each of said data stored in said memory cell, and wherein the The method according to claim 7.
前記歪みレベルを演算する工程は、
前記メモリセルから読み取られた前記アナログ値と、前記データに対応して前記メモリセル中に記憶されたそれぞれの前記データの予測値との差1つの所定の値を超えるメモリセルの数を勘定する工程からなる、ことを特徴とする請求項6に記載の方法。
The step of calculating the distortion level includes:
And the analog value read from the memory cell, the number of differences worth memory cell more than one predetermined value between the predicted value of each of said data stored in said memory cell in response to the data 7. A method according to claim 6, comprising the step of counting.
前記データを記憶する工程は、
前記メモリセル内に前記アナログ値を書き込む工程と、
1つの反復プログラミングおよび検証(P&V)プロセスを用いて、前記書き込まれたアナログ値を検証する工程と、からなり、
前記歪みレベルを推定する工程は、
前記P&Vプロセスにより検証された前記アナログ値に基づいて、前記歪みレベルを演算する工程からなる、ことを特徴とする請求項4に記載の方法。
Storing the data comprises :
And writing the analog value into the memory cell,
Using one iteration programming and verification (P & V) process, a step of verifying the written analog values consist,
Estimating the distortion level comprises :
Based on the analog value which has been validated by the P & V process, comprising the step of calculating the distortion level, A method according to claim 4, characterized in that.
前記データを記憶する工程は、
前記メモリセル内に前記アナログ値を書き込む工程と、
1つのプログラムステップによりアナログ値を反復的に増分する1つの反復プログラミングおよび検証(P&V)プロセスを用いて、前記書き込まれたアナログ値を検証する工程と、からなり、
前記記憶構成は、前記反復P&Vプロセスにより用いられる前記プログラムステップ1つのサイズを規定する、ことを特徴とする請求項4に記載の方法。
Storing the data comprises :
And writing the analog value into the memory cell,
Using one iteration programming and verification (P & V) process to increment the analog values iteratively by one program Musuteppu, a step of verifying the written analog values consist,
The method of claim 4 wherein the storage configuration, defining one of the size of the program Musuteppu used by the iterative P & V process, characterized in that.
前記データを記憶する工程は、
1群の前記メモリセルの中に記憶されるべき前記データを、1つの誤り訂正符号(ECC)を用いて符号化する工程と、
前記符号化されたデータを、前記1群のアナログメモリセルのそれぞれの中記憶するためにアナログ値に変換する工程と、からなり
前記到達可能な記憶容量を推定する工程は、
前記1群のメモリセル中の前記メモリセルから前記アナログ値を読み取る工程と、
前記読み取られたアナログ値と、前記アナログ値に最も近い1つの有効なECCの符号語との間の1つの距離を求める工程からなり
前記記憶構成を修正する工程は、
前記1群のメモリセルの前記記憶構成を、前記求められた距離に応答して適応させる工程からなる
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Storing the data comprises :
The data to be stored in said memory cells of one group, and the step of encoding by using one error correction code (ECC),
The encoded data, a step of converting an analog value to be stored in each of the analog memory cells of the first group, composed,
Estimating the reachable storage capacity comprises:
A step of reading the analog values from the memory cell in the memory cell of the first group,
Consists step of finding the analog value read, one of the distance values between the code word closest one valid ECC to said analog value,
The step of correcting the storage configuration includes:
Said storage configuration of said first group of memory cells, comprising the step of adapting in response to said determined distance values,
A method according to any of claims 1 to 4 , characterized in that
前記到達可能な記憶容量を再推定する工程は、
前記メモリセル内に記憶された前記データを読み取る工程からなり
前記記憶構成を修正する工程は、
前記読み取られたデータ中のエラーの検出に応答して、前記記憶構成を適応させる工程からなる
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Re-estimating the reachable storage capacity comprises:
Consists step of reading the data stored in said memory cell,
The step of correcting the storage configuration includes:
In response to the detection of errors in the read data, comprising the step of adapting the storage configuration,
A method according to any of claims 1 to 4 , characterized in that
前記データを記憶する工程は、
1つの誤り訂正符号(ECC)を用いて前記データを符号化する工程からなり
前記記憶構成を適応させる工程は、
ECCの1つの符号レートを修正する工程からなる
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。
Storing the data comprises :
Consists step of encoding the data using one error correction code (ECC),
Adapting the storage configuration comprises :
Comprising the step of modifying one code rate of ECC,
The method according to claim 13.
前記メモリセルの到達可能な容量を推定する工程は、
それぞれの前記メモリセルに対して行われた過去のプログラミングおよび消去動作を追跡する工程と、
追跡された前記過去のプログラミングおよび消去動作に応答して、前記到達可能な容量を推定する工程と、
からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Estimating the reachable capacity of the memory cell comprises :
A step of tracking the past programming and erase operations performed for each of the memory cells,
In response to the tracked the previous programming and erase operations, a step of estimating the reachable volume,
The method according to claim 1, comprising:
前記到達可能な容量を推定する工程は、
前記過去のプログラミングおよび消去動作から経過した時間の長さに応答して、到達可能な容量を演算する工程からなることを特徴とする請求項15に記載の方法。
Estimating the reachable capacity comprises:
The method of claim 15, wherein in response to the length of time elapsed from past programming and erase operations, characterized by comprising the step of calculating the reachable volume.
前記データを記憶する工程は、
前記データの1つの冒頭の部分をアナログ値に変換する工程と、
前記アナログ値をそれぞれの前記メモリセル中に書き込む工程と、
これに続いて、前記メモリセル中に書き込まれた前記アナログ値を前記セルを消去することなく増大させることにより、前記データの1つの追加部分を前記メモリセルの少なくともいくつかに記憶する工程と、
からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Storing the data comprises :
A step of converting one portion at the beginning of the data to an analog value,
Writing the analog value into each of the memory cells;
Following this, a step of storing the analog value written in the memory cell by Rukoto increased without erasing the cell, one additional portion of the data to at least some of said memory cells ,
The method according to claim 1, comprising:
前記データを記憶する工程は、
前記データに冗長ビットを加える1つの誤り訂正符号(ECC)を用いて前記データを符号化する工程と、
前記冗長ビットをいくつかの前記アナログメモリセル中に記憶する工程と、からなり
前記記憶構成を修正する工程は、
前記ECCにより加えられた幾つか前記冗長ビットを、前記セルを消去することなく修正する工程からなる、
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Storing the data comprises :
A step of encoding the data using one error correction code adding redundant bits to the data (ECC),
A step of storing the redundant bits in some of the analog memory cells consists,
The step of correcting the storage configuration includes:
Some of the redundant bits added by the ECC, comprising the step of modifying without erasing the cell,
A method according to any of claims 1 to 4 , characterized in that
前記冗長ビットを記憶する工程は、前記データとは別に前記冗長ビットを記憶する工程からなることを特徴とする請求項18に記載の方法。 The step of storing the redundant bits A method according to claim 18, characterized by comprising the step of separately storing the redundant bits to the data. 前記記憶構成を割り当てる工程は、
1組の可能な記憶構成を予め規定する工程からなり
前記記憶構成を修正する工程は、
前記予め規定された1組の記憶構成から更新された記憶構成を選択する工程からなる、
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Assigning the storage configuration comprises :
Consists step of pre-defining the set of possible storage configuration,
The step of correcting the storage configuration includes:
Comprising the step of selecting an updated storage configuration from the predefined set of storage configurations ,
A method according to any of claims 1 to 4 , characterized in that
少なくとも1つの前記記憶構成で規定される前記データの量は、1つの非整数のセル当りビット数を特定ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 The amount of the data defined by at least one of said storage structure, the method according to any one of the preceding claims, characterized in that that identifies the number of cells per bit of one non-integers. 前記データを記憶する工程は、
前記メモリセルに前記データを書き込む前に前記データを圧縮する工程からなり
前記記憶構成は、前記データが圧縮されるそれぞれの圧縮レートを規定する、ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Storing the data comprises :
Consists step of compressing the data before writing the data to the memory cell,
The storage configuration A method according to claim 1, wherein the data defines respective compression rate that is compressed, it is characterized.
前記記憶構成を割り当てる工程は、それぞれの1群の前記メモリセルに対して前記記憶構成を規定する工程からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 Step of assigning the storage configuration, the method according to claim 1 to said memory cells of each of the first group, characterized by comprising the step of defining the storage configuration. 前記メモリセル中に前記データを記憶する工程は、
前記メモリ中に記憶するための1つのデータ項目を受け取る工程と、
前記割り当てられた記憶構成に応答して、前記データ項目を記憶するための1つのサブ前記メモリセルを選択する工程と、
前記選択された1つのサブ前記メモリセル中に前記データ項目を記憶する工程と、
からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
Storing the data in the memory cell comprises :
A step of receiving one of the data items for storage in said memory,
A step of selecting the allocated in response to a storage configuration, one sub-group of the memory cells for storing said data item,
A step of storing the data item in one sub-set of said memory cell said selected
The method according to claim 1, comprising:
前記到達可能な記憶容量を再推定する工程は、前記データが記憶されず、かつ読み取りされないアイドル期間中に行われることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 The step of re-estimating the reachable storage capacity, The method according to claim 1, characterized in that it is performed in the data is not stored, and reading Risa are not idle periods. 前記記憶構成を割り当てる工程および前記記憶構成を修正する工程は、1つの構成テーブルに前記記憶構成を記憶する工程からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 Step of modifying the assign to process, and the storage configuration of the storage structure, the method according to any one of claims 1 to 4, characterized in that comprising the step of storing the storage structure into one configuration table. 前記メモリが前記ホストシステムに組み込まれる前に、前記構成テーブルに前記記憶構成の初期値を記憶させる工程からさらになることを特徴とする請求項26に記載の方法。 Before the memory is incorporated into the host system, The method according to claim 26, characterized by further comprising the step of storing the initial value of the storage configuration to the configuration table. 前記記憶構成を割り当てる工程および前記記憶構成を修正する工程は、前記メモリセル中に記憶された前記データの量と、各前記推定された到達可能な容量との間に1つの既定の余裕を維持する工程からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 Step of modifying the assign to process, and the storage configuration of the storage structure, the amount of the data stored in said memory cell, one of the default margin between the reachable volume that each said estimated The method according to claim 1 , further comprising the step of maintaining 前記歪みは、少なくとも部分的に前記アナログメモリセル中の漏れ電流により引き起こされ、前記歪みを推定する工程は、前記漏れ電流を推定する工程からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 The strain, at least in part, caused by leakage current in the analog memory cell, the step of estimating the distortion, either of the preceding claims, characterized by comprising the step of estimating the leakage current The method of crab. 複数のアナログメモリセルを有する1つのメモリと通信するように配されている1つのインタフェースと、
前記各メモリセルの到達可能な記憶容量を推定し、前記推定された到達可能な容量に基づいて、前記メモリセル中に記憶されるべきデータの量を定義する記憶構成を前記各メモリセルに割り当て、前記割り当てられた各記憶構成に基づいて、前記メモリセル中に前記データを記憶し、前記メモリが1つのホストシステムに組み込まれて前記データを前記ホストシステム中に記憶させるために使用された後に、前記アナログメモリセルの各到達可能な記憶容量を再推定し、前記再推定された到達可能な容量に応答して前記記憶構成を修正するように配された1つのメモリ信号プロセッサ(MSP)と、
からなることを特徴とするデータ記憶装置。
An interface arranged to communicate with a memory having a plurality of analog memory cells;
The estimated reachable storage capacity of each memory cell, on the basis of the estimated reachable volume, allocates a memory structure that defines the amount of data to be stored in said memory cells in each memory cell , based on the respective storage configuration in which the assigned, storing the data in said memory cell, said memory is used to store the data are incorporated into a single host system in said host system after the re-estimate each reachable storage capacity of the analog memory cells, wherein one memory signal processor arranged to modify the stored configuration in response to the re-estimated reachable volume (MSP) When,
A data storage device comprising:
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