JP2009527820A - エラー訂正方法およびエラー訂正装置 - Google Patents
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Abstract
Description
開示された装置は、第1記憶領域を有するメモリを備える。第1記憶領域は、データ領域とエラー訂正領域を備える。本装置は、第1記憶領域に関連する第1状態指標と、メモリに接続されるエラー訂正モジュールとを更に備える。エラー訂正を行なうエラー訂正モジュールは、第1記憶領域に関連する。本装置はアクセス制御モジュールを更に備える。アクセス制御モジュールは、第1状態指標に接続される第1入力と、エラー訂正モジュールに接続される出力とを有する。アクセス制御モジュールは、第1状態指標が第1状態になるのに応答して、第1記憶領域に対するエラー訂正、エラー検出、または任意のそれらの組合せのうちの1つを無効にする。
別の特定態様では、アクセス制御モジュールは、リセット信号を受信する第2入力を更に備える。アクセス制御モジュールは、第1状態指標を、リセット信号の受信に応答して第1状態にする。
特定態様では、第1状態指標は、第1記憶領域に関連する状態フラグビットである。
別の特定態様では、本方法は、リセット指示を受信することと、リセット指示の受信に応答して、エラー訂正状態指標を第1状態にすることとを含む。
特定態様では、本方法は、第1部分書込動作を第1全体書込動作に昇格後に、第1エラー訂正状態指標を第2状態に変更することを含む。
異なる図面中の同一の参照符号の使用は、同様または同一の要素を示す。
本発明の原理は、特定の装置に関して上述されるが、この記述が例示としてのみなされ、本発明の範囲に対する限定としてなされていないことが明白に理解されるべきである。
Claims (20)
- エラー訂正方法であって、前記エラー訂正方法は、
第1記憶領域に関連する第1エラー訂正状態指標の状態を判定することであって、前記第1記憶領域には第1アクセス要求が行われることと、および、
前記第1エラー訂正状態指標が第1状態であるとの判定に応答して、前記第1アクセス要求に対するエラー処理を無効にすることと
を含み、
前記エラー処理は、エラー検出とエラー訂正からなるグループから選択される、エラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、前記第1エラー訂正状態指標が第2状態であるとの判定に応答して、前記第1アクセス要求に対する前記エラー処理を有効にすることを含む、請求項1記載のエラー訂正方法。
- 前記第1アクセス要求は、部分的な書込動作である部分書込動作であり、
前記エラー訂正方法は更に、前記部分書込動作を、全体的な書込動作である全体書込動作に昇格させることを含む、請求項1記載のエラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、前記全体書込動作に対するエラー訂正情報を算出することを含む、請求項3記載のエラー訂正方法。
- 前記全体書込動作は、前記第1記憶領域に関連するエラー訂正データ単位の幅全体に亘って行なわれる、請求項3記載のエラー訂正方法。
- 前記エラー訂正方法は更に、前記部分書込動作を前記全体書込動作に昇格後、前記第1エラー訂正状態指標を第2状態に変更することを含む、請求項3記載のエラー訂正方法。
- 前記第1アクセス要求は部分書込動作であり、
前記エラー訂正方法は更に、
前記第1エラー訂正状態指標が第2状態であるとの判定に応答して、前記第1記憶領域に対するエラー訂正またはエラー検出を行なうことと、および、
前記第1記憶領域の一部にデータを書込むことによって、前記部分書込動作を行なうことと
を含む、請求項1記載のエラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、
リセット指示を受信することと、および、
前記リセット指示の受信に応答して、前記第1エラー訂正状態指標を前記第1状態にすることと
を含む、請求項1記載のエラー訂正方法。 - 前記第1記憶領域は装置に組込まれ、
前記リセット指示は、前記装置が低電力モードからアクティブモードに移行するのに応答して受信される、請求項8記載のエラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、
第2記憶領域への第2アクセス要求を受信することと、
前記第2記憶領域に関連する第2エラー訂正状態指標の状態を判定することと、および、
前記第2エラー訂正状態指標が前記第1状態であるとの判定に応答して、前記第2アクセス要求に対するエラー処理を無効にすることと
を含む、請求項1記載のエラー訂正方法。 - エラー訂正装置であって、前記エラー訂正装置は、
データ領域とエラー訂正領域を含む記憶領域を備えるメモリと、
前記記憶領域に関連する状態指標と、
前記メモリに接続されるエラー訂正モジュールであって、前記エラー訂正モジュールは前記記憶領域に関連するエラー訂正を行なうことと、
アクセス制御モジュールと
を備え、
前記アクセス制御モジュールは、前記状態指標に接続される第1入力と、前記エラー訂正モジュールに接続される出力とを有し、
前記アクセス制御モジュールは、前記状態指標が所定状態になるのに応答して、前記記憶領域に対するエラー処理を無効にし、
前記エラー処理は、エラー検出とエラー訂正からなるグループから選択される、エラー訂正装置。 - 前記アクセス制御モジュールは、前記状態指標が前記所定状態になるのに応答して、前記記憶領域に関連する部分書込動作を全体書込動作に昇格させる、請求項11記載のエラー訂正装置。
- 前記エラー訂正モジュールは、前記全体書込動作に関連するエラー訂正データを算出する、請求項12記載のエラー訂正装置。
- 前記アクセス制御モジュールは更に、リセット信号を受信する第2入力を備え、
前記アクセス制御モジュールは、前記リセット信号の受信に応答して、前記状態指標を前記所定状態にする、請求項11記載のエラー訂正装置。 - 前記状態指標は、前記記憶領域に関連する状態フラグビットである、請求項11記載のエラー訂正装置。
- エラー訂正方法であって、前記エラー訂正方法は、
記憶領域への部分書込動作を受信することと、
前記記憶領域に関連するエラー訂正状態指標の状態を判定することと、および、
前記エラー訂正状態指標が第1状態であるとの判定に応答して、前記部分書込動作を全体書込動作に昇格させることと
を含む、エラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、前記部分書込動作の処理中に、エラー検出またはエラー訂正のうちの少なくとも1つを無効にすることを含む、請求項16記載のエラー訂正方法。
- 前記エラー訂正方法は更に、
リセット指示を受信することと、および、
前記リセット指示の受信に応答して、前記エラー訂正状態指標を前記第1状態にすることと
を含む、請求項16記載のエラー訂正方法。 - 前記エラー訂正方法は更に、前記全体書込動作に対するエラー訂正情報を算出することを含む、請求項16記載のエラー訂正方法。
- 前記エラー訂正方法は更に、前記部分書込動作を前記全体書込動作に昇格時に、前記エラー訂正状態指標を第2状態に変更することを含む、請求項16記載のエラー訂正方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014502452A (ja) * | 2010-11-19 | 2014-01-30 | ザイリンクス インコーポレイテッド | ソフトエラーのクリティカリティの分類およびクリティカリティに基づくソフトエラーの緩和 |
KR20170012400A (ko) * | 2014-06-02 | 2017-02-02 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 확장 가능 메모리 시스템 프로토콜로 패킷들을 송신하기 위한 시스템들 및 방법들 |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7783955B2 (en) * | 2006-01-18 | 2010-08-24 | Sandisk Il Ltd. | Method for implementing error-correction codes in flash memory |
KR100972807B1 (ko) * | 2006-01-31 | 2010-07-29 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 에러 정정 코드 생성 방법 및 메모리 관리 장치 |
US8725975B2 (en) * | 2007-01-03 | 2014-05-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Progressive memory initialization with waitpoints |
EP2169555A4 (en) * | 2007-06-20 | 2011-01-05 | Fujitsu Ltd | CACHE CONTROL, CACHE CONTROL PROCEDURE AND CACHE CONTROL PROGRAM |
US8239732B2 (en) * | 2007-10-30 | 2012-08-07 | Spansion Llc | Error correction coding in flash memory devices |
FR2928769B1 (fr) * | 2008-03-14 | 2012-07-13 | Airbus France | Dispositif permettant l'utilisation d'un composant programmable dans un environnement radiatif naturel |
US8122308B2 (en) * | 2008-06-25 | 2012-02-21 | Intel Corporation | Securely clearing an error indicator |
US8112649B2 (en) * | 2009-03-17 | 2012-02-07 | Empire Technology Development Llc | Energy optimization through intentional errors |
JP4905510B2 (ja) * | 2009-06-29 | 2012-03-28 | 富士通株式会社 | ストレージ制御装置及びストレージ装置のデータ回復方法 |
WO2011031260A1 (en) * | 2009-09-10 | 2011-03-17 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory subsystem having a first portion to store data with error correction code information and a second portion to store data without error correction code information |
JP4837121B1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-14 | 株式会社東芝 | データ記憶装置及びデータ書き込み方法 |
US8990660B2 (en) | 2010-09-13 | 2015-03-24 | Freescale Semiconductor, Inc. | Data processing system having end-to-end error correction and method therefor |
US8738993B2 (en) * | 2010-12-06 | 2014-05-27 | Intel Corporation | Memory device on the fly CRC mode |
US8560892B2 (en) * | 2010-12-14 | 2013-10-15 | Medtronic, Inc. | Memory with selectively writable error correction codes and validity bits |
US8566672B2 (en) | 2011-03-22 | 2013-10-22 | Freescale Semiconductor, Inc. | Selective checkbit modification for error correction |
US8607121B2 (en) * | 2011-04-29 | 2013-12-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Selective error detection and error correction for a memory interface |
US8990657B2 (en) | 2011-06-14 | 2015-03-24 | Freescale Semiconductor, Inc. | Selective masking for error correction |
US8522091B1 (en) | 2011-11-18 | 2013-08-27 | Xilinx, Inc. | Prioritized detection of memory corruption |
US9612901B2 (en) * | 2012-03-30 | 2017-04-04 | Intel Corporation | Memories utilizing hybrid error correcting code techniques |
US9411678B1 (en) * | 2012-08-01 | 2016-08-09 | Rambus Inc. | DRAM retention monitoring method for dynamic error correction |
MY180992A (en) * | 2013-03-13 | 2020-12-15 | Intel Corp | Memory latency management |
US9852811B2 (en) | 2014-11-13 | 2017-12-26 | Macronix International Co., Ltd. | Device and method for detecting controller signal errors in flash memory |
US9423972B2 (en) * | 2014-11-17 | 2016-08-23 | Freescale Semiconductor, Inc. | Error recovery in a data processing system which implements partial writes |
CN105607726B (zh) * | 2015-12-24 | 2018-11-23 | 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 | 一种降低高性能计算集群内存功耗的方法及装置 |
US11990199B2 (en) * | 2021-01-21 | 2024-05-21 | Micron Technology, Inc. | Centralized error correction circuit |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6384647U (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-03 | ||
JPH04364552A (ja) * | 1991-06-12 | 1992-12-16 | Nec Corp | パリティ監視回路付きメモリ回路 |
JPH10289164A (ja) * | 1997-04-16 | 1998-10-27 | Mitsubishi Electric Corp | メモリ制御方法およびメモリ制御装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6119248A (en) * | 1998-01-26 | 2000-09-12 | Dell Usa L.P. | Operating system notification of correctable error in computer information |
TW200517836A (en) * | 2003-11-18 | 2005-06-01 | Jtek Technology Corp | Buffer control framework and method between different memories |
US6980873B2 (en) * | 2004-04-23 | 2005-12-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | System and method for real-time fault detection, classification, and correction in a semiconductor manufacturing environment |
US7334179B2 (en) * | 2004-06-04 | 2008-02-19 | Broadcom Corporation | Method and system for detecting and correcting errors while accessing memory devices in microprocessor systems |
TWI294126B (en) * | 2004-06-30 | 2008-03-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for testing memory |
US20060143551A1 (en) * | 2004-12-29 | 2006-06-29 | Intel Corporation | Localizing error detection and recovery |
-
2006
- 2006-02-21 US US11/359,329 patent/US7617437B2/en active Active
-
2007
- 2007-01-18 WO PCT/US2007/060659 patent/WO2007103590A2/en active Application Filing
- 2007-01-18 JP JP2008555429A patent/JP5232018B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-18 KR KR1020087020334A patent/KR101291525B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-01-30 TW TW096103282A patent/TWI421679B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6384647U (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-03 | ||
JPH04364552A (ja) * | 1991-06-12 | 1992-12-16 | Nec Corp | パリティ監視回路付きメモリ回路 |
JPH10289164A (ja) * | 1997-04-16 | 1998-10-27 | Mitsubishi Electric Corp | メモリ制御方法およびメモリ制御装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014502452A (ja) * | 2010-11-19 | 2014-01-30 | ザイリンクス インコーポレイテッド | ソフトエラーのクリティカリティの分類およびクリティカリティに基づくソフトエラーの緩和 |
KR20170012400A (ko) * | 2014-06-02 | 2017-02-02 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 확장 가능 메모리 시스템 프로토콜로 패킷들을 송신하기 위한 시스템들 및 방법들 |
KR102197401B1 (ko) | 2014-06-02 | 2021-01-04 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 확장 가능 메모리 시스템 프로토콜로 패킷들을 송신하기 위한 시스템들 및 방법들 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200801932A (en) | 2008-01-01 |
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