JP2009523206A - Modular testing equipment - Google Patents

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Abstract

本発明は、それぞれ2つの側壁2.1、2.2、4.1、4.2とそれぞれ側壁2.1、2.2、4.1、4.2を結合する2つの横壁2.3、2.4、4.3、4.4とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも2つの建物モジュール2、4から成るモジュラー試験装置1であって、供試体を受容するための第1試験モジュールとして形成される長さL2、幅B2の少なくとも1つの建物モジュール2が設けられており、供給技術を受容するための第1供給モジュールとして形成される長さL4、幅B4の少なくとも1つの建物モジュール4が設けられており、第1供給モジュール4が第1試験モジュール2の上方に配置されており、長さL4が長さL2よりも短いものに関する。試験装置1を補充する目的で、試験技術を受容するための第1試験技術モジュールとして形成される少なくとも1つの第3建物モジュール3が設けられており、第1試験技術モジュール3が2つの側壁3.1、3.2と側壁3.1、3.2を結合する2つの横壁3.3、3.4と長さL3と幅B3とを有し、第1試験技術モジュール3が側壁3.1を第1試験モジュール2の横で側壁2.2に接して設置可能であり、幅B4が幅B2またはB3よりも少なくとも20%小さく、つまりB4/B2の比またはB4/B3の比が最高で2/2.5である。  The present invention relates to two lateral walls 2.3 joining two side walls 2.1, 2.2, 4.1, 4.2 and side walls 2.1, 2.2, 4.1, 4.2, respectively. A modular test apparatus 1 comprising at least two building modules 2, 4 comprising 2.4, 4.3, 4.4 and formed as a portable container, the first being for receiving a specimen At least one building module 2 of length L2 and width B2 formed as a test module is provided, and at least one of length L4 and width B4 formed as a first supply module for receiving the supply technology The building module 4 is provided, the first supply module 4 is disposed above the first test module 2, and the length L4 is shorter than the length L2. For the purpose of supplementing the test device 1, at least one third building module 3 is provided, which is formed as a first test technology module for receiving the test technology, the first test technology module 3 comprising two side walls 3. .1, 3.2 and side walls 3.1, 3.2 have two lateral walls 3.3, 3.4, a length L3 and a width B3. 1 can be placed next to the side wall 2.2 of the first test module 2 and the width B4 is at least 20% smaller than the width B2 or B3, ie the ratio of B4 / B2 or B4 / B3 is the highest 2 / 2.5.

Description

本発明は、それぞれ2つの側壁とそれぞれ側壁を結合する2つの横壁とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも2つの建物モジュールから成るモジュラー試験装置であって、供試体を受容するための第1試験モジュールとして形成される長さL2、幅B2の少なくとも1つの建物モジュールが設けられており、供給技術を受容するための第1供給モジュールとして形成される長さL4、幅B4の少なくとも1つの建物モジュールが設けられており、第1供給モジュールが第1試験モジュールの上方に配置されており、長さL4が長さL2よりも短いものに関する。   The present invention is a modular test device comprising at least two building modules each formed as a portable container with two side walls and two lateral walls joining the side walls, respectively, for receiving a specimen. At least one building module of length L2 and width B2 formed as one test module is provided, and at least one of length L4 and width B4 formed as a first supply module for accepting supply technology A building module is provided, the first supply module is arranged above the first test module, and the length L4 is shorter than the length L2.

少なくとも1つの試験モジュールと技術的供給手段とを有するモジュラー試験装置は国際公開WO01/25745号パンフレットにより既に公知であり、そこでは被検機器を受容するために各試験装置モジュールが実験セルを有する。試験モジュールは技術的供給モジュールを介して各技術的供給手段に個別に接続されており、技術的供給モジュールは試験装置モジュール上に配置され、冷却手段を有する。各モジュールは、主に、船舶コンテナと互換性であるように寸法設計されている。   A modular test device with at least one test module and a technical supply is already known from WO 01/25745, where each test device module has an experimental cell for receiving the device under test. The test module is individually connected to each technical supply means via a technical supply module, the technical supply module being arranged on the test equipment module and having a cooling means. Each module is primarily dimensioned to be compatible with the vessel container.

本発明の課題は、効率的構造と安価な輸送が保証されているようにモジュラー試験装置を形成し配置することである。   The object of the present invention is to form and arrange a modular test device so that an efficient structure and inexpensive transport are guaranteed.

この課題は、本発明によれば、試験装置を補充する目的で、試験技術を受容するための第1試験技術モジュールとして形成される少なくとも1つの第3建物モジュールが設けられており、第1試験技術モジュールが2つの側壁と側壁を結合する2つの横壁と長さL3と幅B3とを有し、第1試験技術モジュールが側壁を第1試験モジュールの横で側壁に接して設置可能であり、幅B4が幅B2またはB3よりも小さいことによって解決される。これにより、3つ以上の供給モジュールを幅に関して少なくとも部分的に試験モジュールおよび試験技術モジュール上に配置できることが達成される。一方でさまざまな種類のエンジンもしくは駆動系統、排気系統および試験技術用に十分なスペースが試験モジュールもしくは試験技術モジュールの下方に提供され、他方で所要数の小型供給モジュールを相応数の試験モジュールおよび試験技術モジュール上に載置できるように、幅B2、B3、B4の比は選択される。供給モジュールは一層細くもしくは小さく形成されており、少なくともこれらは一層迅速に、なかんずく一層安価に輸送することができる。   According to the invention, this object is provided with at least one third building module formed as a first test technology module for receiving test technology for the purpose of supplementing the test device, The technology module has two side walls, two side walls joining the side walls, a length L3 and a width B3, the first test technology module can be installed with the side wall next to the first test module and in contact with the side wall; This is solved by the fact that the width B4 is smaller than the width B2 or B3. This achieves that more than two supply modules can be arranged at least partially on the test module and the test technology module in terms of width. On the one hand, enough space is provided below the test module or test technology module for various types of engine or drive train, exhaust system and test technology, while the required number of small supply modules is matched to the corresponding number of test modules and tests. The ratio of the widths B2, B3, B4 is selected so that it can be placed on the technology module. The supply modules are made thinner or smaller and at least they can be transported more quickly, in particular cheaper.

この課題は、幅B2が3mよりも大きく、幅B4が幅B2よりも小さいことによっても解決される。これにより、試験モジュールが最適な幅を有し、さまざまな種類の供試体および試験技術用に十分なスペースが試験モジュールの内部に提供され、他方で複数の供給モジュールを幅に関して少なくとも部分的に試験モジュール上に配置できることが達成される。幅B2とB4の比は、所要数の小さな供給モジュールを相応数の試験モジュール上に載置できるように選択されている。供給モジュールが一層細くもしくは小さく形成されており、少なくともこれらは一層迅速に、なかんずく一層安価に輸送することができる。   This problem is also solved by the width B2 being larger than 3 m and the width B4 being smaller than the width B2. This ensures that the test module has the optimum width and provides enough space for the various types of specimens and test techniques inside the test module, while multiple supply modules are at least partially tested for width. It is achieved that it can be placed on a module. The ratio of the widths B2 and B4 is chosen so that the required number of small supply modules can be mounted on a corresponding number of test modules. The supply modules are made thinner or smaller and at least they can be transported more quickly, in particular cheaper.

これに関連して、幅B4が幅B2またはB3よりも少なくとも10%または20%小さく、つまりB4/B2の比またはB4/B3の比が最高で2/2.2または2/2.5であると有利である。これにより、少なくとも2.2または2.5の供給モジュールを試験モジュールおよび試験技術モジュール上に配置できることが達成される。それぞれ2つの試験モジュールと2つの試験技術モジュール、つまり合計4つの試験モジュールもしくは試験技術モジュールを利用する場合、4.4の、5つ、主に6つの供給モジュールを試験モジュールもしくは試験技術モジュール上に設置することができる。   In this connection, the width B4 is at least 10% or 20% smaller than the width B2 or B3, ie the ratio of B4 / B2 or B4 / B3 is at most 2 / 2.2 or 2 / 2.5. Advantageously. This achieves that at least 2.2 or 2.5 supply modules can be arranged on the test module and the test technology module. When using two test modules and two test technology modules respectively, ie a total of four test or test technology modules, 4.4, five, mainly six supply modules are placed on the test module or test technology module. Can be installed.

このため、B4/B2の比またはB4/B3の比が2/3、2/4または2/5に等しく、2つ、3つ、4つまたは5つの供給モジュールを第1試験技術モジュール上と第1試験モジュール上とに設置可能であることも有利である。隣接する供給モジュールは各側壁を並べて載置可能である。主に、3つの供給モジュールが各2つの試験モジュールおよび/または試験技術モジュール上に設けられている。しかし、幅の比に応じて4つまたは5つの供給モジュールも設置可能である。   Thus, the ratio of B4 / B2 or B4 / B3 is equal to 2/3, 2/4 or 2/5 and two, three, four or five supply modules are placed on the first test technology module. It is also advantageous that it can be installed on the first test module. Adjacent supply modules can be placed side by side. Mainly three supply modules are provided on each of two test modules and / or test technology modules. However, four or five supply modules can be installed depending on the width ratio.

1構成により、試験モジュールおよび/または試験技術モジュールの総幅Bpがそれらに載置されるすべての供給モジュールの総幅Bvに等しいことは1つの付加的可能性である。こうして、並べて配置される複数の試験装置から成る試験装置列の省スペースな構成が保証されており、試験モジュールもしくは試験技術モジュール上の設置スペースも最適に利用することができる。接合部は最適に形成することができ、隣接モジュールの個々の接合部間で構造隙間を橋絡する必要はない。モジュールの設置に関して、また接合部に関して、隙間のないスペース利用を保証する相互関係が可能である。こうして、一方で試験モジュールもしくは試験技術モジュールの制限荷重を考慮して、他方で載置される供給モジュールの剛性を考慮して、安定した試験装置構造は導き出すことができ、保証されている。発生する個別供給モジュールの重量は試験モジュールもしくは試験技術モジュールの壁もしくは壁支持体を介して既知の箇所から吸収される。   With one configuration, it is an additional possibility that the total width Bp of the test modules and / or test technology modules is equal to the total width Bv of all supply modules mounted on them. In this way, a space-saving configuration of a test apparatus row composed of a plurality of test apparatuses arranged side by side is guaranteed, and the installation space on the test module or the test technology module can be optimally used. The joints can be optimally formed and there is no need to bridge structural gaps between individual joints of adjacent modules. With respect to the installation of the modules and with respect to the joints, an interrelation can be ensured that ensures a space-free use. Thus, a stable test device structure can be derived and guaranteed, taking into account the limit load of the test module or test technology module on the one hand and the rigidity of the supply module mounted on the other hand. The weight of the generated individual supply module is absorbed from a known location via the wall or wall support of the test module or test technology module.

長さL4が長さL2または長さL3よりも少なくとも20%短く、供給モジュールと試験モジュール、および/または供給モジュールと試験技術モジュールが、前部横壁を水平距離Aだけずらして配置されており、および/または後部横壁を同一平面にまたはずらして設置されており、各供給モジュールの前および/または後で試験モジュールもしくは試験技術モジュール上に橋もしくは通路が形成されていることも有利である。後部横壁が同様にずらされている場合、供給モジュールの背後に供給経路用に小さな通路もしくは橋が同様に設けられている。距離Aはその場合この後方ずれだけ縮小している。一層小さくもしくは短く形成される供給モジュールは一層迅速かつ安価に輸送可能であり、従って試験モジュールもしくは試験技術モジュール上に簡単に載置可能でもあり、試験モジュールもしくは試験技術モジュールの橋もしくは通路として利用可能な天壁もしくは天井を介して接近可能である。   The length L4 is at least 20% shorter than the length L2 or the length L3, and the supply module and the test module and / or the supply module and the test technology module are arranged with the front lateral wall offset by a horizontal distance A; It is also advantageous if the rear lateral wall is installed in the same plane or offset and a bridge or passage is formed on the test module or test technology module before and / or after each supply module. If the rear lateral wall is similarly displaced, a small passage or bridge for the supply path is likewise provided behind the supply module. The distance A is then reduced by this backward displacement. Smaller or shorter formed supply modules can be transported more quickly and cheaply, so they can also be easily mounted on test modules or test technology modules and can be used as bridges or passages for test modules or test technology modules Accessible through a large ceiling or ceiling.

その際有利には、長さL3が長さL2に等しく、幅B3が幅B2に等しい。試験モジュールは試験技術モジュールと正確に同じ大きさである。従ってそれらは供給モジュールの設置面に関してユニットを形成する。   The length L3 is then advantageously equal to the length L2 and the width B3 is equal to the width B2. The test module is exactly the same size as the test technology module. They thus form a unit with respect to the installation surface of the supply module.

各建物モジュールが1つの天壁もしくは天井と1つの床壁とを有し、位置および/または種類を予め規定された少なくとも1つの接合部が側壁、天壁および/または床壁に設けられ、この接合部を介して1つの建物モジュールから隣接建物モジュールへと運転物質および補助物質管路を案内することができ、接合部が施蓋可能な凹部またはフランジとして形成されていることは、本発明にとって重要である。接合部の位置は、さまざまな試験装置変種にかかわりなく隣接建物モジュールの接合部が適合し、もしくは統一性があり、つまり合同であるように選択されている。その限りで、いずれにしても隣接モジュールの間に少なくとも1つの接合部対が存在するので、建物モジュールもしくは試験装置の据付は後に利用すべき接合部を考慮することなく行うことができる。接合部は横壁の1つに設けておくこともできる。これら接合部の一部は特殊に、つまり排気、冷却水等のために相応する接続継手を備えて形成しておくこともできる。その場合、これらの接合部は別の接合部と問題なく組合せ可能であり、例えば試験モジュールの天井壁に、排気フランジとして形成される接合部が設けられており、この接合部は排気供給モジュールの床壁の相応に排気フランジとして形成される接合部に接続可能である。   Each building module has one top wall or ceiling and one floor wall, and at least one joint with a predefined position and / or type is provided on the side wall, top wall and / or floor wall, It is for the present invention that the operating substance and auxiliary substance conduits can be guided from one building module to an adjacent building module via a joint, and the joint is formed as a recess or flange that can be covered. is important. The location of the joints is selected so that the joints of adjacent building modules are compatible or uniform, ie congruent, regardless of the various test equipment variants. As long as that is the case, since there is at least one joint pair between adjacent modules, the building module or the test apparatus can be installed without considering the joint to be used later. The joint can also be provided on one of the lateral walls. Some of these joints can also be specially formed, i.e. with corresponding connecting joints for exhaust, cooling water and the like. In that case, these joints can be combined with other joints without any problem. For example, a joint formed as an exhaust flange is provided on the ceiling wall of the test module, and this joint is connected to the exhaust supply module. It can be connected to a joint formed as an exhaust flange corresponding to the floor wall.

さらに、1つの横壁が前部横壁として形成され、1つの横壁が後部横壁として形成されており、前部横壁が、モジュールを装入および/または巡回するための作業扉および/またはドアを有すると有利である。各試験装置が横方向で他のモジュールによって拡張可能であるので、モジュールの側壁にはドア要素および/または窓要素がない。据付および運転のための通行はすべて横壁を介して行われ、試験モジュールの装入もしくは搬入は主に前部横壁を介して行われ、立入りは後部横壁を介して行われる。   Furthermore, one lateral wall is formed as a front lateral wall, one lateral wall is formed as a rear lateral wall, and the front lateral wall has a working door and / or door for loading and / or circulating modules. It is advantageous. Since each test device can be expanded laterally by other modules, there are no door and / or window elements on the side walls of the modules. All traffic for installation and operation is performed through the lateral wall, loading or loading of the test module is performed mainly through the front lateral wall, and entry is performed through the rear lateral wall.

さらに、制御室モジュールの第1側壁が後部横壁に接するように、制御室モジュールとして形成される1つの建物モジュールが第1試験モジュールおよび/または第1試験技術モジュールの後部横壁に接して設置可能であり、各後部横壁と相応する第1側壁が、目視および/または入室を目的にそれぞれ少なくとも1つの窓開口部および/またはドア開口部を有すると有利である。従って、側面が隣接モジュールに取付けるのに役立ち、前部横壁が搬入に役立つので、制御室モジュールは試験モジュールもしくは試験技術モジュールの残存する自由面に配置されている。外部建物条件に応じて、つまり試験装置が閉鎖ホール内にあるのか開放ホール内にあるのかに応じて、制御室モジュールは試験装置に接続可能、また加熱可能でもある。後に示すように、閉鎖ホール内でも試験装置とホール壁との間に1つの制御室区域が設けられているだけである。試験装置内で水素を使用する場合、制御室モジュールに窓要素および/またはドア要素を設けることはできない。   Furthermore, one building module formed as a control room module can be installed in contact with the rear side wall of the first test module and / or the first test technology module so that the first side wall of the control room module touches the rear side wall. It is advantageous if each rear transverse wall and the corresponding first side wall have at least one window opening and / or door opening for visual and / or entry purposes, respectively. Thus, the control room module is located on the remaining free surface of the test module or test technology module, since the side surfaces serve to attach to adjacent modules and the front lateral wall serves for loading. Depending on the external building conditions, i.e. whether the test equipment is in a closed or open hall, the control room module can be connected to the test equipment and can also be heated. As will be shown later, only one control room area is provided in the closed hall between the test apparatus and the hall wall. If hydrogen is used in the test apparatus, the control room module cannot be provided with window elements and / or door elements.

さらに、制御室モジュールが、外光および/または人物の通過を目的に少なくとも第2側壁および/または横壁に窓要素および/またはドア要素を有すると有利である。職場法上の観点に応じて、特に昼光の入射は有利である。   Furthermore, it is advantageous if the control room module has window elements and / or door elements on at least the second side wall and / or the side wall for the purpose of passing outside light and / or persons. Depending on the workplace law perspective, daylight is particularly advantageous.

このため、供給モジュール用建物モジュールの幅B4が2.438m(8フィート)、長さL4が6.096m(20フィート)、高さH4が2.590m(8フィート&6フィート)であり、0.05mの公差が設けられていることも有利である。これらの寸法は主に標準20フィート船舶コンテナに一致しており、輸送に伴う費用は試験装置全体の所要のスペース需要を考慮して最適化されている。   Therefore, the width B4 of the building module for the supply module is 2.438 m (8 feet), the length L4 is 6.096 m (20 feet), and the height H4 is 2.590 m (8 feet & 6 feet). It is also advantageous that a tolerance of 05 m is provided. These dimensions are largely consistent with standard 20 foot marine containers, and the costs associated with shipping are optimized to take into account the required space requirements of the entire test equipment.

その際、試験モジュールおよび/または試験技術モジュール用建物モジュールの幅B2=B3が3.048m〜4.267m(10フィート〜14フィート)、長さL2=L3が7.0m〜9.0m、高さH2=H3が3.0m〜4.0mであると有利である。幅寸法は、スペース需要および前記幅比を考慮して20フィート船舶コンテナの倍数に一致する。   At that time, the width B2 = B3 of the building module for the test module and / or the test technology module is 3.048 m to 4.267 m (10 feet to 14 feet), the length L2 = L3 is 7.0 m to 9.0 m, and high. The length H2 = H3 is advantageously 3.0 m to 4.0 m. The width dimension corresponds to a multiple of a 20 foot marine container taking into account space demand and the width ratio.

最後に、試験技術モジュールおよび試験モジュール用建物モジュールが全長にわたって自立式に形成されていると有利である。道路網での輸送用に一般に、他の措置なしでは4.00mの最大高さが許容されている。つまり高さ3.5mの場合、輸送装置を取付けるのに0.5mの隙間が提供されているにすぎない。必要なら、コンテナモジュールの正面に所要の軸および車輪が取付けられ、コンテナを支える個別の作業面は必要でない。   Finally, it is advantageous if the test technology module and the building module for the test module are self-supporting over their entire length. For transportation on the road network, a maximum height of 4.00m is generally allowed without other measures. That is, for a height of 3.5 m, only a 0.5 m gap is provided for mounting the transport device. If necessary, the required shafts and wheels are mounted in front of the container module, and no separate work surface is needed to support the container.

最後に、第2試験モジュールとして形成される他の1つの建物モジュールが設けられており、第2試験モジュールが第1試験モジュールの横でその側壁に接して設置可能であり、第1試験モジュールと第2試験モジュールが共通の大型試験モジュールとして形成可能であり、各試験モジュールの側壁が少なくとも部分的に撤去可能であり、および/または挿通穴Tを有すると有利である。第2試験モジュールは、大型供試体または複雑な供試体も4輪駆動系統および/または排気設備で点検できるように、試験装置を拡張する目的で第1試験モジュールを補充するのに役立つ。試験セルを2つの試験モジュールもしくは建物モジュールに分割すると、上で既に述べたように迅速かつ好ましい輸送が保証される。第2試験モジュールは第1試験モジュールに関して第1試験技術モジュールとは反対側に配置されている。相接して試験セルを形成する試験モジュールの隣接する各側壁は、例えば駆動系統の一部または排気設備の一部等の供試体の通過を保証するために完全に撤去されるかまたは少なくとも部分的に撤去(挿通穴T)されるかのいずれかである。   Finally, another building module formed as a second test module is provided, the second test module can be installed next to the side wall of the first test module, Advantageously, the second test module can be formed as a common large test module, the side walls of each test module being at least partially removable and / or having an insertion hole T. The second test module serves to replenish the first test module for the purpose of expanding the test apparatus so that large or complex specimens can be inspected with the four-wheel drive system and / or the exhaust system. Dividing the test cell into two test modules or building modules ensures a quick and favorable transport as already mentioned above. The second test module is arranged on the opposite side of the first test technology module from the first test technology module. Each adjacent side wall of the test module that forms the test cell in contact is either completely removed or at least partly to ensure the passage of the specimen, for example part of the drive train or part of the exhaust system It is either removed (insertion hole T).

その際有利には、1つの建物モジュールが第2試験技術モジュールとして形成されており、第2試験技術モジュールは第2試験モジュールの横でその側壁に接して、第2試験モジュールに関して第1試験モジュールとは反対側に、設置可能である。第2試験技術モジュールは第2試験モジュールに試験技術を供給するのに役立つ。2つの試験モジュールから成る試験セルに2つの試験技術モジュールが付設されている。第2試験技術モジュールは隣接試験モジュールにも利用可能とすることができる。試験モジュールもしくは試験技術モジュールの数に相応して、前記相互関係に依存して適切な数の供給モジュールを載置することができる。例えば3つの供給モジュールがこの試験装置にとって十分であるとの理由から試験モジュールもしくは試験技術モジュール上のスペースが完全には必要でない場合、残存する設置面は以下で述べるように同じ試験装置列の隣接試験装置の供給モジュール用に使用することができる。   Advantageously, one building module is formed as a second test technology module, the second test technology module next to the side wall of the second test module and in contact with the side wall of the first test module. It can be installed on the opposite side. The second test technology module serves to provide test technology to the second test module. Two test technology modules are attached to a test cell consisting of two test modules. The second test technology module may also be available for adjacent test modules. Depending on the number of test modules or test technology modules, an appropriate number of supply modules can be mounted depending on the correlation. If, for example, three supply modules are sufficient for the test equipment, space on the test module or test technology module is not required, the remaining installation surface will be adjacent to the same test equipment row as described below. It can be used for a test equipment supply module.

本発明に係る構成および配置に関連して、1つの建物モジュールが試験モジュールまたは試験技術モジュールに対する補充モジュールとして形成されており、試験モジュールまたは試験技術モジュールの幅B2またはB3が幅B32と合わせて1つの供給モジュールの幅B4の2倍、3倍または4倍となるように、補充モジュールが幅B32を有すると有利である。B4/B2またはB4/B3の幅比のゆえに幅B4の整数倍が幅B2またはB3の整数倍とは異なることがあるので、補充モジュールは試験モジュールまたは試験技術モジュールの幅補充部として役立つ。こうして供給モジュールの総幅Bvは試験モジュールもしくは試験技術モジュールの総幅Bpに常に適合させることができる。   In connection with the configuration and arrangement according to the invention, one building module is formed as a supplemental module for the test module or test technology module, and the width B2 or B3 of the test module or test technology module together with the width B32 is one. Advantageously, the replenishment module has a width B32 so that it is twice, three times or four times the width B4 of one supply module. Because of the width ratio of B4 / B2 or B4 / B3, an integral multiple of width B4 may differ from an integer multiple of width B2 or B3, so the replenishment module serves as a width replenishment section for the test module or test technology module. In this way, the total width Bv of the supply module can always be adapted to the total width Bp of the test module or test technology module.

このため、1つの建物モジュールが補充モジュールに対する付加モジュールとして形成されており、幅B32と幅B34が合わせて1つの試験モジュールまたは試験技術モジュールの幅B2または幅B3となるように、付加モジュールが幅B34を有すると有利である。1つの補充モジュールが設けられている場合、付加モジュールによって1つの試験モジュールまたは試験技術モジュールの幅は再び達成することができ、所定の相互関係に基づいて試験装置列は張出しまたは空隙なしに継続することができる。   For this reason, one building module is formed as an additional module for the replenishment module, and the additional module has a width such that the width B32 and the width B34 are combined to be the width B2 or B3 of one test module or test technology module. It is advantageous to have B34. If one replenishment module is provided, the width of one test module or test technology module can be achieved again by means of an additional module, and the test device train continues without overhangs or gaps based on a predetermined correlation. be able to.

本発明に係る構成および配置に関連して、複数のモジュラー試験装置が側壁を1列に並べて配置され、試験装置列を形成すると有利である。単一の試験セルまたは2倍の試験セルを有する単に1つの試験装置では一般に十分でないので、前述の如くにそれぞれ試験モジュールもしくは試験技術モジュールとその上に設置された供給モジュールとで形成された個々の試験装置は並べて配置し、こうして試験装置列を形成することができる。1つの試験装置のさまざまな試験モジュールもしくは試験技術モジュールの外部側壁は自由であり、1つの隣接試験装置は任意に設置することができる。   In connection with the configuration and arrangement according to the invention, it is advantageous if a plurality of modular test devices are arranged side by side in a row to form a test device row. Since only one test device with a single test cell or double test cells is generally not sufficient, the individual formed by the test module or test technology module and the supply module installed thereon, respectively, as described above These test devices can be arranged side by side, thus forming a test device row. The external side walls of the various test modules or test technology modules of one test device are free, and one adjacent test device can be installed arbitrarily.

さらに、モジュラー試験装置の試験モジュールの側壁と試験技術モジュールの側壁との間に距離Zが設けられ、後部横壁に接して配置される制御室モジュール用の入口が形成されていると有利である。こうして、試験装置全体用に与えられたスペース事情に応じて、前方から制御室モジュールへの出入を保証することができる。特に試験装置列がきわめて長い場合、この種の配置は有利である。   Furthermore, it is advantageous if a distance Z is provided between the side wall of the test module of the modular test device and the side wall of the test technology module so that an inlet for the control room module is formed which is arranged in contact with the rear lateral wall. In this way, it is possible to guarantee access to the control room module from the front according to the space situation given for the entire test apparatus. This type of arrangement is advantageous, especially when the test equipment train is very long.

さらに、少なくとも2つの試験装置列が設けられており、試験装置列が試験モジュールの前部横壁を2m超の距離Rとして配置されており、試験モジュールを搬入搬出するための入替えスペースが保証されていると有利である。複数の試験装置を有する単に1つの試験装置列では一般に十分でないので、2つ以上の試験装置列を対向させて設けることができる。一般に1つの試験装置ホールが利用可能であるので、提供されたスペースはこうして最適に利用し尽くすことができる。   In addition, at least two test device rows are provided, the test device rows are arranged with a distance R exceeding 2 m on the front side wall of the test module, and a replacement space for loading and unloading the test module is guaranteed. It is advantageous to have. Since only one test device row having a plurality of test devices is generally not sufficient, two or more test device rows can be provided facing each other. In general, since one test equipment hall is available, the space provided can thus be optimally utilized.

さらに、少なくとも試験モジュールおよび試験技術モジュールが二重床を有し、二重床もしくは上側床の下方で二重床によって形成される自由空間内に試験装置および/または供給管路用支承要素が設置可能であり、少なくとも試験装置列の間の入替えスペースの領域にも二重床が設けられており、試験モジュールおよび試験技術モジュールの内側および外側で試験装置フィールド全体が平らな床面を有すると有利である。平らな床面は、個々の試験装置への、もしくは個々の試験装置の間での人間、なかんずく材料の簡単な移動を保証する。こうして試験装置フィールド全体は、二重床によって形成される平らな床面を有する。試験装置フィールドへの入口だけは、つまり一般に試験装置建物への入口は、高くされた床面と周辺の床レベルとの間のレベル差を橋絡するために傾斜部または通路を備えている。ホールは試験装置フィールドの解体後、無制限に再び別の仕方で利用することができる。窪みの除去等の床に係る改造措置は必要でない。選択的に、二重床の高くされた床面が周辺の床面の高さとなるように、相応に低くされた床を有するホールを設けることができる。こうして傾斜部は必要でない。   In addition, at least the test module and the test technology module have a double floor, and the test equipment and / or supply line support elements are installed in a free space formed by the double floor below the double floor or upper floor. It is possible that at least the area of the exchange space between the test equipment rows is also provided with a double floor, and it is advantageous if the entire test equipment field has a flat floor inside and outside the test module and the test technology module. It is. A flat floor surface ensures easy movement of humans, especially materials, to and from individual test equipment. Thus, the entire test equipment field has a flat floor formed by a double floor. Only the entrance to the test equipment field, generally the entrance to the test equipment building, is provided with ramps or passages to bridge the level difference between the raised floor and the surrounding floor level. The hall can be used again in another way without limitation after dismantling of the test equipment field. No remodeling measures related to floor removal, such as removal of dimples, are necessary. Optionally, a hole with a correspondingly lowered floor can be provided so that the raised floor of the double floor is at the level of the surrounding floor. Thus, the inclined portion is not necessary.

入射光用に少なくとも1つの開口部もしくは窓を有する少なくとも1つのホール壁と、前述の如き少なくとも1つのモジュラー試験装置、試験装置列および/または試験装置フィールドとを有する試験装置ホールが有利であり、少なくとも制御室モジュールに外光が入射するように制御室モジュールは少なくとも窓要素を有する第2側壁および/または横壁を開口部に接して配置されている。こうしてホール内で利用可能なスペースは最適に利用される。各試験装置もしくは各試験装置列の裏面に接して制御室モジュールが配置されており、この裏面がホール壁に向き合っており、制御室モジュール用、なかんずく昼光用にも十分なスペースが保証されている。こうして、試験装置もしくは試験装置列の前面の間の領域は入替えスペースとして利用することができる。   Advantageously, a test equipment hole having at least one hole wall with at least one opening or window for incident light and at least one modular test equipment, test equipment row and / or test equipment field as described above, The control room module is arranged such that at least the second side wall and / or the lateral wall having the window element is in contact with the opening so that external light is incident on at least the control room module. Thus, the space available in the hall is optimally used. A control room module is placed in contact with the back surface of each test device or each test device row, and this back surface faces the hole wall, ensuring sufficient space for the control room module, especially daylight. Yes. Thus, the area between the front surfaces of the test apparatus or the test apparatus row can be used as a replacement space.

本発明に係る構成および配置に関連して、前記と同様な他の試験装置ホールが有利であり、そこでは試験モジュールおよび/または試験技術モジュールが、目視および/または入室のための窓要素および/またはドア要素を有する後部横壁を、窓として形成される開口部またはホール壁に接して配置されており、横壁がホール壁から距離Kを有し、ホール壁と横壁との間に制御室区域が生じるようになっている。ホールもしくは建物の構成に応じて、個別の制御室モジュールは省くことができる。試験装置後方の領域は制御室区域として役立ち、昼光の入射は保証されている。試験装置は相応する給気部、排気部を有するさまざまなモジュールの内部に配置もしくは閉鎖されており、ホール内での騒音発生は所要程度を超えない。   In connection with the configuration and arrangement according to the invention, other test equipment holes similar to those described above are advantageous, in which test modules and / or test technology modules are used for viewing and / or entering window elements and / or Alternatively, the rear lateral wall with the door element is arranged in contact with an opening or hole wall formed as a window, the lateral wall has a distance K from the hole wall, and there is a control room area between the hole wall and the lateral wall. It has come to occur. Depending on the hall or building configuration, individual control room modules can be omitted. The area behind the test equipment serves as a control room area and daylight is guaranteed. The test equipment is placed or closed inside various modules with corresponding air supply and exhaust, and noise generation in the hall does not exceed the required level.

少なくとも1つのモジュラー試験装置、1つの試験装置列および/または1つの試験装置フィールドを有する試験装置ホールが有利であり、ホール中央の制御室モジュールおよび/または制御室区域は試験モジュールもしくは試験技術モジュールの前部側壁がホール壁の領域に配置されているように配置されており、ホール壁は試験モジュールもしくは試験技術モジュールを搬入搬出するための出入口要素を有する。昼光は、必要なら、ホール天井の中央光井を介して導入することができる。試験装置列の間のホール中央にすべての試験装置用の共通の制御フィールドが生じる。   A test equipment hall having at least one modular test equipment, a test equipment row and / or a test equipment field is advantageous, the control room module and / or the control room area in the center of the hall being a test module or a test technology module. It is arranged such that the front side wall is arranged in the region of the hole wall, the hole wall having an entry / exit element for loading or unloading the test module or the test technology module. Daylight can be introduced through the central light well in the hall ceiling if necessary. A common control field for all test equipment occurs in the center of the hole between the test equipment rows.

さらに、少なくとも1つの第2ホール床が第1試験装置フィールドの上方に設けられており、このホール床上に第2試験装置フィールドが設置可能である。第2ホール床と他のホール床は高層ビルにおけるように上下に配置されている。こうして、相応する広がりを有する2つ以上の試験装置フィールドをホールの底面上に設置することができる。上側の階層内の試験装置フィールドに到達するにはホール内もしくはホールに傾斜部等が不可欠である。   Furthermore, at least one second hall floor is provided above the first test equipment field, and the second test equipment field can be installed on the hall floor. The second hall floor and the other hall floors are arranged one above the other as in a high-rise building. In this way, two or more test device fields with corresponding spread can be placed on the bottom of the hole. In order to reach the test equipment field in the upper level, an inclined portion or the like is indispensable in or in the hole.

結局、供給網としておよび技術的建物装備の一部として形成される1つの供給および/または排出バスが設けられており、このバスを介してさまざまな建物モジュールに空気、冷却材、冷却水、電圧等の補助物質を同時に供給可能、および/または排気を排出可能であると有利である。複数の試験装置用に例えば中央冷却・冷却水供給部等の相応する中央供給部材が利用可能である。所望の同時性係数GZに応じて、各供給部材の一緒に利用可能な総出力が利用可能であり、この総出力は試験装置フィールドの規則的運転に十分である。   Eventually, a supply and / or discharge bus is provided, which is formed as a supply network and as part of technical building equipment, through which various building modules are supplied with air, coolant, cooling water, voltage It is advantageous if auxiliary substances such as can be supplied simultaneously and / or the exhaust can be discharged. Corresponding central supply members, such as a central cooling / cooling water supply, for example, can be used for a plurality of test devices. Depending on the desired concurrency factor GZ, the total power available together for each supply member is available, which is sufficient for regular operation of the test equipment field.

さらに、供給バスが複数の部分範囲を有し、部分範囲が試験装置のさまざまなモジュールに一体化されておりかつ一緒に供給バスを形成すると有利である。供給バスはさまざまな建物モジュールに別途取付けられているのではない。供給バスはむしろ各建物モジュールの構成要素であり、さまざまな建物モジュールの載置および取付後、その総体に本質がある。バスシステムは、供給ユニット(モジュール)と負荷(モジュール)が任意に補足し合い、中央ネットワークを介したように利用できることを可能とする。例えば1つの中央排気モジュールが設けられており、各試験モジュールは排気バスを介して、つまりその限りでモジュールに一体化された共通の排気網を介して、排気を放出する。   Furthermore, it is advantageous if the supply bus has a plurality of subranges, which are integrated into the various modules of the test apparatus and together form a supply bus. Supply buses are not separately installed on various building modules. The supply bus is rather a component of each building module and is essentially in its entirety after the various building modules are mounted and installed. The bus system allows supply units (modules) and loads (modules) to be arbitrarily supplemented and used as via a central network. For example, one central exhaust module is provided, and each test module emits exhaust via an exhaust bus, i.e., through a common exhaust network integrated to that extent.

その際、試験装置の運転にとって不可欠な、運転物質および補助物質供給用の技術的建物装備が試験装置および/または試験装置フィールドのさまざまなモジュールに一体化されていると有利である。こうして、試験装置フィールドを構成するとき所要の技術的建物装備が一緒に収納されている。付加的取付は必要でなく、分解時に考慮する必要がなく、またはまったく残す必要さえない。バスのすべてのインフラストラクチャー部品は、これらが後の利用のために別の場所で容易に再び使用可能となるように設計されている。   In this case, it is advantageous if the technical building equipment for supplying operating and auxiliary substances, which are essential for the operation of the test apparatus, are integrated in the various modules of the test apparatus and / or test apparatus field. Thus, the necessary technical building equipment is housed together when constructing the test equipment field. No additional mounting is necessary and need not be considered during disassembly, or even not left at all. All infrastructure parts of the bus are designed so that they can be easily reused elsewhere for later use.

さらに、単数または複数の変圧器を有する少なくとも1つの電源ユニットが設けられており、この変圧器がさまざまな国際電圧網に接続するための単数または複数の端子を有し、さまざまな電圧網の電圧値の違いにもかかわらず試験装置に所望の電圧が供給されることを変圧器が保証すると有利である。電圧網用バスシステムの枠内で、そして同時性係数GZを考慮して、それぞれ5つ〜6つの試験装置用に1つの共通する変圧器が設けられており、付加的試験装置では相応に多くの変圧器が不可欠であり、但しその場合これらの変圧器は網状結合もしくは網状化して1つの統一的電圧バスとされている。   In addition, at least one power supply unit having one or more transformers is provided, the transformer having one or more terminals for connection to various international voltage networks, the voltages of the various voltage networks It is advantageous if the transformer ensures that the desired voltage is supplied to the test device despite the difference in value. Within the framework of the voltage network bus system and taking into account the simultaneity factor GZ, one common transformer is provided for each of five to six test devices, and there is a correspondingly large number of additional test devices. Transformers are indispensable, in which case they are reticulated or reticulated into one unified voltage bus.

第2変更実施形態において、供給モジュールが第1試験モジュールの上方で各長辺をこの試験モジュールに対して90°ずらして配置されていると特別有利である。従って、本発明に係る寸法比は各モジュールの幅を変更することによっても達成することができ、供給モジュールはそれらの幅に関してではなく、いまやそれらの長さに関して互いに並べられる。発明対象を定義する目的で、供給モジュールの長さ寸法が幅寸法よりも大きいことは重要でない。それに応じて、所要の入口もしくはドアも適合させることができ、それらは主に横壁にある。   In the second modified embodiment, it is particularly advantageous if the supply module is arranged above the first test module with each long side being offset by 90 ° relative to this test module. Thus, the dimensional ratio according to the invention can also be achieved by changing the width of each module, and the supply modules are now aligned with each other not with respect to their width but with respect to their length. For the purpose of defining the subject of the invention, it is not important that the length dimension of the supply module is larger than the width dimension. Correspondingly, the required entrances or doors can also be adapted, which are mainly on the side walls.

その場合にも、試験モジュールの幅が試験フィールドの内部で変化するので供給モジュールはそれらの幅に関しても並べられると、補足的に確認することができる。   Again, since the width of the test modules varies within the test field, it can be additionally confirmed that the supply modules are also aligned with respect to their width.

これに加えて、幅B4が幅B2またはB3よりも少なくとも20%大きく、つまりB4/B2の比またはB4/B3の比が少なくとも3/2.5であると有利である。従って、2つ以上の試験モジュールは1つの供給モジュールによって幅に従って少なくとも部分的に覆われ、本発明に係る諸利点が達成される。補足的にまたは選択的に、覆うための補充モジュールおよび/または付加モジュールを設けておくこともできる。   In addition, it is advantageous if the width B4 is at least 20% greater than the width B2 or B3, ie the ratio B4 / B2 or the ratio B4 / B3 is at least 3 / 2.5. Thus, two or more test modules are at least partially covered according to their width by one supply module, and the advantages according to the invention are achieved. Additionally or alternatively, a replenishment module and / or additional module for covering may be provided.

特に、B4/B2の比またはB4/B3の比が1/1、5/4、3/2または2/1に等しいと有利である。供給モジュールが試験モジュールよりも細い第1変更実施形態用幅比の他に、第2変更実施形態では、本発明に係る諸利点が達成されるように供給モジュールは試験モジュールよりも幅広に形成しておくこともできる。B4とB2もしくはB3との前記比と並んで、他の例えば9/8、11/8または7/4の比も予定されている。試験フィールドの構造様式に基づいて、試験モジュールおよび/または試験技術モジュールの総幅Bpがそれらに載置される供給モジュールの幅B4に等しいと有利である。   In particular, it is advantageous if the ratio of B4 / B2 or B4 / B3 is equal to 1/1, 5/4, 3/2 or 2/1. In addition to the width ratio for the first modified embodiment, where the supply module is thinner than the test module, in the second modified embodiment, the supply module is formed wider than the test module so that the advantages of the present invention are achieved. You can also keep it. Along with the ratio of B4 to B2 or B3, other ratios such as 9/8, 11/8 or 7/4 are also contemplated. Based on the structure of the test field, it is advantageous if the total width Bp of the test modules and / or test technology modules is equal to the width B4 of the supply modules mounted on them.

それと並んで、試験装置および/または試験技術モジュールの長さL2、L3がそれらに前後で載置されるすべての供給モジュールの総長さLvに等しく、または試験モジュールおよび/または試験技術モジュール上に載置されるすべての供給モジュールの総長さLvが試験モジュールおよび/または試験技術モジュールの長さL2、L3よりも少なくとも20%短いと有利である。こうして、L3もしくはL3と長さL4もしくはLvとの比に関して冒頭に指摘した諸利点が得られる。   In parallel, the lengths L2, L3 of the test apparatus and / or test technology module are equal to the total length Lv of all supply modules mounted on the front and back thereof or mounted on the test module and / or test technology module. Advantageously, the total length Lv of all the supply modules placed is at least 20% shorter than the length L2, L3 of the test module and / or test technology module. Thus, the advantages pointed out at the beginning with respect to the ratio of L3 or L3 to length L4 or Lv are obtained.

本発明のその他の利点、詳細は特許請求の範囲と明細書に述べられ、図に示してある。   Other advantages and details of the invention are set forth in the claims and specification and are shown in the figures.

図1aに示す試験装置列は2つの試験装置1、1’で形成されている。各試験装置は供試体を受容するための1つの試験モジュール2、2’と、試験技術用の1つの試験技術モジュール3、3’と、冷却、燃焼用空気、排気等の他の所要の供給技術用の3つの供給モジュール4、4’、5、5’、6、6’とで形成されている。各試験・試験技術モジュール対は載置される3つの供給モジュール4、5、6もしくは4’、5’、6’の総幅Bvに一致した総幅Bpを有し、第1試験装置1もしくはその側壁2.1、4.1に接して第2試験装置1’は問題なく補充することができる。各供給モジュール4〜6’は試験もしくは試験技術モジュール2〜3’よりも幅狭に形成されているだけでなく、それらよりも短く、もしくは長くなく形成されてもいる。供給モジュール4〜6’はこの実施例においてそれらの各裏壁6.4を試験もしくは試験技術モジュール2〜3’の各裏壁3.4と同一平面にして設置されており、さまざまな建物モジュールにおいて各前面2.3〜6.3に関して長さAのずれが生じる。つまりこの距離Aは、ドア4.5〜6.5を介して個々の供給モジュール4〜6’への出入りを目的としていわゆる通路14として役立つ。一方で供給モジュール4、5、6と他方で試験モジュール2もしくは試験技術モジュール3との間の技術的連結を目的にさまざまな接合部15.1〜15.6がさまざまな側壁6.1および床壁6.9に設けられており、これらの接合部を介してバス11を補足して多種多様な運転物質、補助物質が個々のモジュール間で交換される。各接合部15.1〜15.6は、組立後に接合部の相応する動作が難なく可能となるように、各モジュールの事前に明確にされた箇所にある。   The test device array shown in FIG. 1a is formed by two test devices 1, 1 '. Each test device has one test module 2, 2 ′ for receiving the specimen, one test technology module 3, 3 ′ for the test technology, and other required supplies such as cooling, combustion air, exhaust, etc. It is made up of three technical supply modules 4, 4 ', 5, 5', 6, 6 '. Each test / test technology module pair has a total width Bp corresponding to the total width Bv of the three supply modules 4, 5, 6 or 4 ', 5', 6 'to be mounted, The second test apparatus 1 ′ can be replenished without any problem in contact with the side walls 2.1, 4.1. Each supply module 4-6 'is not only narrower than the test or test technology modules 2-3, but also shorter or shorter than them. The supply modules 4-6 'are installed in this embodiment with their respective back walls 6.4 flush with the respective back walls 3.4 of the test or test technology modules 2-3'. A deviation of the length A occurs for each of the front surfaces 2.3 to 6.3. That is, this distance A serves as a so-called passage 14 for the purpose of entering and exiting the individual supply modules 4-6 'through the doors 4.5-6.5. Various joints 15.1 to 15.6 have different side walls 6.1 and floors for the purpose of technical connection between the supply modules 4, 5, 6 on the one hand and the test module 2 or the test technology module 3 on the other hand. Provided on the wall 6.9, the bus 11 is supplemented through these joints, and a wide variety of operating and auxiliary materials are exchanged between the individual modules. Each joint 15.1 to 15.6 is at a pre-defined location of each module so that a corresponding operation of the joint is possible without difficulty after assembly.

図1bの実施例によれば距離Aが多少短く、すなわちこの実施例において供給モジュール4〜6’はそれらの各裏壁6.4を試験もしくは試験技術モジュール2〜3’の各裏壁3.4に対してやはりずらして設置されている。こうして付加的に各裏面2.4〜6.4’の領域に長さA1のずれが生じ、このずれは例えば排気管路11.3等の供給要素を配置もしくは支承するのに役立つ。さまざまな供給モジュール4〜6’は、ここで原理的に示した単数または複数のバス11を介して互いに結合されている。試験装置用に不可欠なさまざまな補助物質および運転物質は各バス11を介して提供される。すなわち、さまざまな供給モジュールは所要の運転物質および補助物質に関してバス11を介して網状結合されている。   According to the embodiment of FIG. 1b, the distance A is somewhat shorter, i.e. in this embodiment the supply modules 4 to 6 'test their respective back walls 6.4 or the respective back walls 3. It is also shifted from 4 and installed. This additionally results in a deviation of the length A1 in the region of the respective back side 2.4 to 6.4 ', which deviation serves for placing or supporting a supply element, for example the exhaust line 11.3. The various supply modules 4 to 6 ′ are coupled to one another via one or more buses 11 as shown here in principle. Various auxiliary and operating materials essential for the test equipment are provided via each bus 11. That is, the various supply modules are reticulated via the bus 11 for the required operating and auxiliary materials.

図2により問題とする試験装置列23は拡張された試験装置を有し、この試験装置は並べて配置される2つの試験モジュール2、2’を有し、試験モジュールは相応に大きな供試体用の2倍の試験セルである。両方の試験モジュール2、2’もしくはこのように形成された2倍の試験セルに左右で接してそれぞれ1つの試験技術モジュール3、3’が設けられている。図1a、図1bの実施例に相応して4つの試験もしくは試験技術モジュール2〜3’上にやはり6つの供給モジュール4〜6’が設けられており、3つの供給モジュール4’、5’、6’の総幅Bvは試験および試験技術モジュール2’、3’の総幅Bpに一致している。   The test device array 23 in question according to FIG. 2 has an expanded test device, which has two test modules 2, 2 ′ arranged side by side, the test module for a correspondingly large specimen. This is a double test cell. One test technology module 3, 3 ′ is provided in contact with both test modules 2, 2 ′ or double test cells formed in this way on the left and right. Corresponding to the embodiment of FIGS. 1a, 1b, there are again six supply modules 4-6 ′ on four test or test technology modules 2-3 ′, and three supply modules 4 ′, 5 ′, The total width Bv of 6 ′ corresponds to the total width Bp of the test and test technology modules 2 ′, 3 ′.

図3が斜視図で示す試験装置ホール10は2つの試験装置列23、23’を有する。各試験装置列23、23’は、各試験装置を形成する複数の試験もしくは試験技術モジュール3、3’’、2、2’’と相応する供給モジュール4、4’’とから図1a、図1b、図2と同様に特殊な配置で構成されている。両方の試験装置列23、23’は距離Rを置いてホール10の内部に配置されており、さまざまな試験および試験技術モジュールの搬入搬出を目的に入替えスペース9が保証されている。図4aの上から見た図に示すように、試験装置列23、23’のさまざまな建物モジュールが付加的に距離ZもしくはZ’を置いて配置されており、入替えスペース9から出発して後方に各試験装置列23、23’の裏面への入口18もしくは18’が保証されている。図3によれば、各試験装置列23、23’はそれらの裏面が、つまり入替えスペース9とは反対側で、部分的に示したホール壁10.1から距離Kを有する。各試験装置列もしくは各試験装置23、23’の後方領域において距離Kによって形成される自由空間は、図の前半分の実施例により制御室モジュール8、8’’を設置するのに役立つ。図の後半分の実施例によれば、距離Kによって形成される自由空間は制御室区域8’’’として利用することもできる。制御室区域8’’’は図示しない可動隔壁と軽量構造天井とを介してホール領域から分離しておくことができる。さまざまな試験装置への出入りは図5aの側面図により同様にこの裏面から相応するドア要素2.6’、3.6’を介して行われ、各制御室モジュールへの出入りは同様にドア8.9、8.9’’を介して行われる。試験装置列23の後側部分の通路14は階段25を介して接近可能である。   The test apparatus hole 10 shown in FIG. 3 in a perspective view has two test apparatus rows 23 and 23 '. Each test device row 23, 23 ′ is represented in FIG. 1a, from a plurality of test or test technology modules 3, 3 ″, 2, 2 ″ and corresponding supply modules 4, 4 ″ forming each test device. Similar to 1b and FIG. 2, it has a special arrangement. Both test apparatus rows 23, 23 'are arranged in the interior of the hall 10 at a distance R, and a replacement space 9 is guaranteed for the purpose of loading and unloading various test and test technology modules. As shown in the top view of FIG. 4 a, various building modules of the test equipment rows 23, 23 ′ are additionally arranged at a distance Z or Z ′, starting from the replacement space 9 and behind In addition, the entrance 18 or 18 'to the back surface of each test apparatus row 23, 23' is guaranteed. According to FIG. 3, each test device row 23, 23 ′ has a distance K from the partially shown hole wall 10.1 on the back side, ie on the side opposite to the replacement space 9. The free space formed by the distance K in each test device row or in the rear region of each test device 23, 23 'serves to install the control room module 8, 8 "according to the embodiment in the first half of the figure. According to the embodiment in the latter half of the figure, the free space formed by the distance K can also be used as the control room area 8 '' '. The control room area 8 '' 'can be separated from the hall area via a movable partition and a lightweight structural ceiling (not shown). Access to the various test devices is likewise made from this back side via the corresponding door elements 2.6 ', 3.6' according to the side view of FIG. .9, 8.9 ''. The passage 14 in the rear part of the test apparatus row 23 is accessible via a step 25.

図5aによれば制御室モジュール8’’と各試験装置との間に同様にドア3.6、3.6’’が設けられている。ホール壁10.1が単数もしくは複数の窓10.2を有し、窓は試験装置の裏面もしくはそこに設置された制御室モジュール8、8’’または制御室区域8’、8’’’に昼光を提供する。正面側ホール壁10.1’に同様に2つの窓要素10.4、10.4’と、窓要素を備えた出入口10.3が部品もしくは供試体の導入導出を目的に設けられている。   According to FIG. 5a, doors 3.6, 3.6 '' are likewise provided between the control room module 8 '' and each test device. The hole wall 10.1 has one or more windows 10.2, which are in the back of the test apparatus or in the control room module 8, 8 ″ or control room area 8 ′, 8 ′ ″ installed there. Provide daylight. Similarly, two window elements 10.4, 10.4 'and an entrance / exit 10.3 provided with window elements are provided on the front-side hole wall 10.1' for the purpose of introducing and derivation of parts or specimens.

試験装置フィールド全体が二重床9.7を有し、この床は、さまざまな試験もしくは試験技術モジュール3、3’’内部のここに図示しない二重床と同じ高さに配置されている。二重床9.7の内部の領域、つまり二重床9.7を形成する床面と本来のホール床10.6との間の領域は、場合によっては他の供給経路を配置するのに補充的に利用することができ、または供給バス11の一部として利用することができる。図2、図3によれば、すべての供給モジュールは運転物質、補助物質を供給モジュールに供給する目的で供給バス11を介して網状結合されている。   The entire test equipment field has a double floor 9.7, which is arranged at the same height as the double floor (not shown here) inside the various test or test technology modules 3, 3 ''. The area inside the double floor 9.7, i.e. the area between the floor surface forming the double floor 9.7 and the original hall floor 10.6, may be used to arrange other supply paths in some cases. It can be used supplementarily or as part of the supply bus 11. According to FIGS. 2 and 3, all supply modules are network-connected via a supply bus 11 for the purpose of supplying operating and auxiliary substances to the supply module.

図4aは試験フィールドもしくは試験装置ホール10を上から見た図である。両方の試験装置列23、23’の各中央に前記距離Z、Z’と、これによって提供される各試験装置の後側領域への入口18、18’が示してある。図左半分の実施例によれば各試験装置列23、23’と各ホール壁10.1、10.5との間の領域に制御室モジュール8、8’’が設置されているのに対して、図右半分の実施例によれば距離Kによって形成される自由空間はそれぞれ制御室区域8’、8’’’として形成もしくは利用されている。   FIG. 4 a is a top view of the test field or test equipment hole 10. The distances Z, Z 'and the inlets 18, 18' to the rear region of each test device provided thereby are shown in the middle of both test device rows 23, 23 '. According to the embodiment on the left half of the figure, the control room module 8, 8 ″ is installed in the area between the test apparatus rows 23, 23 ′ and the hole walls 10.1, 10.5. Thus, according to the embodiment in the right half of the figure, the free spaces formed by the distance K are formed or used as control room sections 8 'and 8' '', respectively.

図4bには試験装置フィールド24を有する試験装置ホール10が図4aと同様に示してある。図4aの実施例とは異なり、制御室モジュール8、8’’もしくは制御室区域8’、8’’’がホール中央10.8の領域に配置されており、さまざまな試験もしくは試験技術モジュール2、3のそれぞれ前部側壁2.3、3.3は一部のみ示してあるが、ホール壁10.5、10.5’の領域に配置されている。ホール壁10.5、10.5’は、主に、各試験もしくは試験技術モジュールを外部から搬入搬出するための一部図示しただけの出入口要素10.9、10.9’を有する。   FIG. 4b shows a test equipment hole 10 with a test equipment field 24, similar to FIG. 4a. Unlike the embodiment of FIG. 4 a, the control room module 8, 8 ″ or the control room area 8 ′, 8 ′ ″ are arranged in the area of the hole center 10.8 and various test or test technology modules 2. 3, the front side walls 2.3, 3.3 are only partially shown but are arranged in the region of the hole walls 10.5, 10.5 ′. The hole walls 10.5, 10.5 'mainly have entrance / exit elements 10.9, 10.9' which are only partially shown for carrying in and out each test or test technology module from the outside.

図5aによる試験装置ホール10の側面図が示す両方の試験装置列23、23’は、試験もしくは試験技術モジュール3、3’’の各前面3.3、3.3’’を距離Rとして配置されている。二重床9.7は相応する高さで試験もしくは試験技術モジュール3、3’’内で同様に二重床3.7として継続されている。二重床3.7によって形成される自由空間3.8は他の供給経路を設置するのに利用することができる。両方の試験装置列の後方の領域、つまり試験装置列と各ホール壁10.1、10.5との間に制御室モジュール8、8’’が設けられている。各制御室モジュール8、8’’はドア8.9、8.9’’を介して接近可能であり、各試験もしくは試験技術モジュール3、3’’は他のドア3.6’’を介して制御室モジュール8’’の内部で接近可能である。   Both test device rows 23, 23 ′ shown in the side view of the test device hole 10 according to FIG. 5 a are arranged with a distance R on each front surface 3.3, 3.3 ″ of the test or test technology module 3, 3 ″. Has been. The double bed 9.7 is continued as a double bed 3.7 in the test or test technology module 3, 3 ″ at the corresponding height as well. The free space 3.8 formed by the double floor 3.7 can be used to install other supply paths. Control room modules 8, 8 ″ are provided in the area behind both test device rows, ie between the test device rows and the respective hole walls 10.1, 10.5. Each control room module 8, 8 ″ is accessible via doors 8.9, 8.9 ″ and each test or test technology module 3, 3 ″ is accessible via another door 3.6 ″. In the control room module 8 ''.

図5bの実施例において図5aの試験装置ホールは上下に配置される2つの試験装置フィールドで二階建てに形成されている。第1ホール床10.6の他に、第2ホール床10.7が第1試験装置フィールド24の上方に設けられており、この第2ホール床上に第2試験装置フィールド24’が設置されている。   In the embodiment of FIG. 5b, the test equipment hole of FIG. 5a is formed in two stories with two test equipment fields arranged one above the other. In addition to the first hall floor 10.6, a second hall floor 10.7 is provided above the first test equipment field 24, and a second test equipment field 24 'is installed on the second hall floor. Yes.

図6は試験モジュールを例に、但し試験技術モジュール用にも使用されるような建物モジュールの斜視図である。建物モジュール2は2つの側壁2.1、2.2と2つの横壁2.3、2.4と1つの床壁2.9と1つの天井壁2.10とを有する。建物モジュール2は幅B2が3.657m(12フィート)、長さL2が9m、高さH2が3.50mである。建物モジュール2を搬入搬出するための作業扉もしくは作業ドア7.2が前部横壁2.3に設けられている。反対側の後部横壁2.4には、ここには図示しない制御区域8’もしくは制御室モジュール8から出発して、立入りを目的にまた観察を目的にドア2.6および窓2.5が設けられている。建物モジュール2が前記二重床2.7を有し、この床は床壁2.9に対して供給経路用自由空間2.8を形成する。ここに示した建物モジュール2は試験モジュールとして形成されている。試験モジュール2内に供試体16、動力取出装置16.1および排気設備16.2が配置されている。排気設備16.2もしくは排気管は接合部15.2を介して、その上に配置されて排気モジュールとして形成される供給モジュール4またはそこを延びる排気経路に接続される。   FIG. 6 is a perspective view of a building module as an example, but also used for a test technology module. The building module 2 has two side walls 2.1, 2.2, two lateral walls 2.3, 2.4, one floor wall 2.9 and one ceiling wall 2.10. The building module 2 has a width B2 of 3.657 m (12 feet), a length L2 of 9 m, and a height H2 of 3.50 m. A work door or work door 7.2 for carrying in and out the building module 2 is provided on the front lateral wall 2.3. The rear lateral wall 2.4 on the opposite side is provided with a door 2.6 and a window 2.5 for entry and observation purposes, starting from a control zone 8 'or control room module 8 not shown here. It has been. The building module 2 has the double floor 2.7, which forms a free space 2.8 for the supply path with respect to the floor wall 2.9. The building module 2 shown here is formed as a test module. In the test module 2, a specimen 16, a power take-out device 16.1 and an exhaust facility 16.2 are arranged. The exhaust system 16.2 or the exhaust pipe is connected via a joint 15.2 to the supply module 4 arranged thereon and formed as an exhaust module or an exhaust path extending therethrough.

図7aは、2倍の試験セルを形成する2つの個別建物モジュールから成る拡張された試験モジュールを示す。ここに図示しない相接する側壁2.2、2.1’が撤去されており、4つの動力取出装置16.1〜16.1’’’を有する供試体16と排気設備16.2とを取付けるための2倍の床面が可能である。こうして形成された試験モジュール2は、2つの建物モジュールから成る構造に相応して同様に2つの作業扉もしくは作業ドア7.2、7.2’と2つの入口ドア2.6、2.6’と2つの窓要素2.5、2.5’とを有する。   FIG. 7a shows an expanded test module consisting of two individual building modules forming a double test cell. The adjacent side walls 2.2, 2.1 ′ (not shown) have been removed, and a specimen 16 having four power take-out devices 16.1 to 16.1 ′ ″ and an exhaust facility 16.2 are provided. Double floors for mounting are possible. The test module 2 formed in this way corresponds to a structure consisting of two building modules in the same way, with two work doors or work doors 7.2, 7.2 ′ and two entrance doors 2.6, 2.6 ′. And two window elements 2.5, 2.5 ′.

図7bによれば、隣接する各側壁2.2、2.1’が撤去されていない。各側壁2.2、2.1’は、供試体の駆動系統および排気系統を1つの試験セルから隣接試験セルへと布設する目的で相応する挿通穴Tを有する。   According to FIG. 7b, each adjacent side wall 2.2, 2.1 'has not been removed. Each side wall 2.2, 2.1 'has a corresponding insertion hole T for the purpose of laying the drive system and exhaust system of the specimen from one test cell to the adjacent test cell.

図8による建物モジュール4は、2つの側壁4.1、4.2と2つの横壁4.3、4.4と1つの床壁4.9と1つの天井壁4.10とを有する船舶コンテナもしくは貨物コンテナとして形成されている。このコンテナは供給モジュールに関する例示的大きさである。こうして形成された供給モジュールは幅B4が2.438m(8フィート)、長さL4が6.096m(20フィート)、高さH4が2.590m(8フィート&6フィート)である。ここに示す排気モジュール4の内部に排気設備17が配置されており、排気の排出を目的に、ここに示さないホール天井に接続可能な排気フランジ17.2を有する排気管17.1が天井壁4.10上に設けられている。前部横壁4.3に設けられた入口ドア7.4は図示しない通路14を介して接近可能である。   The building module 4 according to FIG. 8 has a marine container with two side walls 4.1, 4.2, two lateral walls 4.3, 4.4, one floor wall 4.9 and one ceiling wall 4.10. Or it is formed as a freight container. This container is an exemplary size for the supply module. The supply module thus formed has a width B4 of 2.438 m (8 feet), a length L4 of 6.096 m (20 feet), and a height H4 of 2.590 m (8 feet & 6 feet). An exhaust facility 17 is arranged inside the exhaust module 4 shown here, and an exhaust pipe 17.1 having an exhaust flange 17.2 connectable to a hole ceiling not shown here is provided on the ceiling wall for the purpose of exhaust discharge. 4.10 is provided. An entrance door 7.4 provided on the front lateral wall 4.3 is accessible via a passage 14 (not shown).

図9は冷却もしくは冷却水バス11の原理図である。冷却水バス11は、各2つの負荷13.4〜13.9、13.4’、13.5’を有する4つの試験装置1〜1’’’に供給するのに役立つ。冷却材の提供と冷却を目的に3つの冷却器もしくは冷却塔13.1〜13.3が設けられている。各冷却塔13.1〜13.3と各負荷13.4〜13.5’はそれぞれ送り管路11.1と戻り管路11.2を介して互いに結合されて冷却水バス11とされている。3つの冷却器13.1〜13.3によって提供される冷却出力はすべての試験装置1〜1’’’によって要求され、同時性係数を考慮して試験装置よりも少ない数の冷却器が提供されねばならない。実際には、すべての試験装置が単数または複数の冷却器の100%出力を同時に要求することはない。   FIG. 9 is a principle diagram of the cooling or cooling water bath 11. The cooling water bath 11 serves to supply four test devices 1-1 ″ ″ each having two loads 13.4-13.9, 13.4 ', 13.5'. Three coolers or cooling towers 13.1 to 13.3 are provided for the purpose of providing and cooling the coolant. The cooling towers 13.1 to 13.3 and the loads 13.4 to 13.5 ′ are coupled to each other via a feed line 11.1 and a return line 11.2 to form a cooling water bath 11. Yes. The cooling power provided by the three coolers 13.1 to 13.3 is required by all the test equipments 1-1 ′ ″, providing a smaller number of coolers than the test equipment considering the simultaneity factor Must be done. In practice, not all test equipment will require 100% output of one or more coolers simultaneously.

図10は2つの変圧器12、12’と10の負荷12.1〜12.5’とを備えた低電圧バスの原理図である。1つの変圧器は基本的に単に4つの負荷12.1〜12.5への供給に役立つ(実線参照)。2つの変圧器12、12’の網状結合時、同時性を考慮して8つの負荷ではなく10の負荷12.1〜12.5’が2つの変圧器12、12’によって供給することができる。   FIG. 10 shows the principle of a low-voltage bus with two transformers 12, 12 'and ten loads 12.1 to 12.5'. One transformer basically serves only to supply four loads 12.1 to 12.5 (see solid line). When the two transformers 12 and 12 'are connected in a network, 10 loads 12.1 to 12.5' can be supplied by the two transformers 12 and 12 'instead of 8 loads in consideration of simultaneity. .

図11は図5aによる試験装置ホール10の原理図であり、ホール10は完全試験装置フィールド24ではなく、入替えスペース9と各試験装置列23、23’の一部とをのみ屋根26で覆っている。各建物モジュール3、3’’、4、4’’はホール壁の役割を引き受け、屋外領域で利用するための屋外コンテナとして形成されている。それと並んで、図5aに相応して各裏面に、つまり入替えスペース9とは反対側で制御室モジュールを各試験モジュール2もしくは試験技術モジュール3に接続することができる。各通路14、14’が保護柵14.1、14.1’を有する。   FIG. 11 shows the principle of the test apparatus hole 10 according to FIG. 5a, in which the hole 10 covers not only the complete test apparatus field 24 but the replacement space 9 and a part of each test apparatus row 23, 23 ′ with a roof 26. Yes. Each building module 3, 3 ", 4, 4" takes the role of a hole wall and is formed as an outdoor container for use in an outdoor area. In parallel, the control room module can be connected to each test module 2 or to the test technology module 3 on each back side, that is to say on the side opposite to the replacement space 9, in accordance with FIG. Each passage 14, 14 'has a protective fence 14.1, 14.1'.

図12は3/2の幅比B4/B2もしくはB4/B2の原理図とそこから生じる相互関係を示す。幅B2の試験モジュール2が横方向で幅B32の補充モジュール32によって補充されており、全体として得られる幅Bp’は2つの供給モジュール4の幅Bv’に一致している。それと並んで、付加モジュール34が補充モジュール32の横に配置されており、付加モジュール34が幅B34を有し、幅B32と幅B34が両方で試験モジュール2の幅B2となる。その場合、3つの供給モジュールは全体で試験モジュール2、補充モジュール32および付加モジュール34と同じ幅Bv、つまり幅Bpを有する。   FIG. 12 shows the principle diagram of the 3/2 width ratio B4 / B2 or B4 / B2 and the interrelationship resulting therefrom. The test module 2 having the width B2 is replenished in the lateral direction by the replenishment module 32 having the width B32, and the width Bp ′ obtained as a whole coincides with the width Bv ′ of the two supply modules 4. Alongside that, the additional module 34 is arranged beside the replenishment module 32, the additional module 34 has a width B 34, and both the width B 32 and the width B 34 become the width B 2 of the test module 2. In that case, the three supply modules as a whole have the same width Bv as the test module 2, the replenishment module 32 and the additional module 34, ie the width Bp.

図13の実施例において供給モジュール4、4’、5、6はそれらの長さL4に関して並べられており、全長Lvは試験モジュール2、3の長さL2もしくはL3に概ね一致している。供給モジュール4、4’、5、6の全長Lvの変更は各供給モジュール4、4’、5、6の長さL4または供給モジュール4、4’、5、6の数のいずれかを介して保証することができる。   In the embodiment of FIG. 13, the supply modules 4, 4 ', 5, 6 are aligned with respect to their length L4, and the total length Lv generally corresponds to the length L2 or L3 of the test modules 2,3. The change of the total length Lv of the supply modules 4, 4 ′, 5, 6 is via either the length L 4 of each supply module 4, 4 ′, 5, 6 or the number of supply modules 4, 4 ′, 5, 6. Can be guaranteed.

試験モジュール2、3と供給モジュール4、4’、5、6との間の本発明に係る幅比は各供給モジュール4、4’、5、6の個々の幅B4、B4’、B5、B6を介して具体化されている。図13にさまざまな幅比が示してある。このため試験モジュール2、3の各前面2.3、3.3に目盛19が設けられており、目盛の区分は試験モジュール2、3の幅B2もしくはB3の5分の1(1/5)に一致している。図示した幅比は、B4/B2=2/1、B5/B2=4/5、B6/B2=7/10、B4’/B2=1/1である。選択的に、すべての幅比が複写可能であり、利用可能な供給モジュールに相応してさまざまな供給および試験モジュール組合せ用に所期のモジュラー寸法が達成可能である。   The width ratio according to the invention between the test modules 2, 3 and the supply modules 4, 4 ', 5, 6 is the individual width B4, B4', B5, B6 of each supply module 4, 4 ', 5, 6 Has been materialized through. FIG. 13 shows various width ratios. For this reason, the scales 19 are provided on the front surfaces 2.3 and 3.3 of the test modules 2 and 3, respectively, and the scale division is one fifth (1/5) of the width B2 or B3 of the test modules 2 and 3. It matches. The illustrated width ratios are B4 / B2 = 2/1, B5 / B2 = 4/5, B6 / B2 = 7/10, and B4 '/ B2 = 1/1. Alternatively, all width ratios can be copied, and the desired modular dimensions can be achieved for various supply and test module combinations, depending on the available supply modules.

供給モジュール5用ドア要素5.5は立入り用自由空間を目的に横壁5.4にある。   The door element 5.5 for the supply module 5 is located on the lateral wall 5.4 for the purpose of free entry space.

拡張された試験装置の斜視図である。It is a perspective view of the expanded test apparatus. ずれA1を有する拡張された試験装置の斜視図である。FIG. 6 is a perspective view of an expanded test apparatus having a deviation A1. 2つの試験モジュールを有する1つの試験装置の斜視図である。1 is a perspective view of one test apparatus having two test modules. FIG. 2つの試験装置列を有する1つの試験装置フィールドを上から見た図である。It is the figure which looked at one test equipment field which has two test equipment rows from the top. 図3による試験装置フィールドを有する試験装置ホールを示す。Fig. 4 shows a test equipment hole with a test equipment field according to Fig. 3; 試験装置フィールドと中央制御室とを有する試験装置ホールを示す。1 shows a test equipment hall having a test equipment field and a central control room. 図4aによる試験装置ホールの側面図である。4b is a side view of the test equipment hole according to FIG. 第2ホール天井を有する試験装置ホールの側面図である。It is a side view of the test apparatus hall | hole which has a 2nd hole ceiling. 供試体を有する試験モジュールを示す。A test module having a specimen is shown. 供試体を有する拡張された試験モジュールを示す。Fig. 3 shows an expanded test module with a specimen. 供試体と隔壁を有する拡張された試験モジュールを示す。2 shows an expanded test module having a specimen and a septum. 排気設備を有する供給モジュールの斜視図である。It is a perspective view of the supply module which has exhaust equipment. 冷却水バスの原理図である。It is a principle diagram of a cooling water bath. 低電圧バスの原理図である。It is a principle diagram of a low voltage bus. 試験装置ホールに関する原理図である。It is a principle figure regarding a test equipment hall. 幅比の原理図である。It is a principle figure of width ratio. 縦方向で互いに並べられた供給モジュールを有する図1a、図1bによる原理図である。Fig. 2 is a principle diagram according to Figs.

符号の説明Explanation of symbols

1 モジュラー試験装置
1’ モジュラー試験装置
1’’ 試験装置
1’’’ 試験装置
2 建物モジュール、第1試験モジュール
2’ 第2試験モジュール
2’’ 試験モジュール
2.1 側壁
2.1’ 側壁
2.2 側壁
2.2’ 側壁
2.3 横壁、前面、前部横壁
2.3’ 横壁、前面
2.4 横壁、裏壁、後部横壁
2.4’ 横壁、裏壁
2.5 窓開口部、窓要素
2.5’ 窓開口部、窓要素
2.6 ドア開口部、ドア要素
2.6’ ドア開口部、ドア要素
2.7 二重床
2.8 自由空間
2.9 床壁
2.10 天壁、天井壁
3 建物モジュール、第1試験技術モジュール
3’ 第2試験技術モジュール
3’’ 試験技術モジュール
3.1 側壁
3.2 側壁
3.2’ 側壁
3.3 横壁、前面
3.3’’ 横壁、前面
3.4 横壁、裏壁
3.4’ 横壁
3.5 窓開口部、窓要素
3.6 ドア開口部、ドア要素
3.6’ ドア開口部、ドア要素
3.6’’ ドア開口部、ドア要素
3.7 二重床
3.8 自由空間
3.9 床壁
3.10 天壁、天井壁
4 建物モジュール、第1供給モジュール
4’ 建物モジュール、供給モジュール、排気モジュール
4’’ 建物モジュール、供給モジュール、排気モジュール
4.1 側壁
4.2 側壁
4.3 横壁、前面
4.4 横壁
4.5 ドア要素
4.9 床壁
4.10 天壁、天井壁
5 建物モジュール、供給モジュール
5’ 供給モジュール
5.1 側壁
5.2 側壁
5.3 横壁、前面
5.4 横壁
5.5 ドア要素
6 建物モジュール、供給モジュール
6’ 建物モジュール、供給モジュール
6.1 側壁
6.2 側壁
6.3 横壁、前面
6.4 横壁、裏壁
6.5 ドア要素
6.9 床壁
7.2 作業扉、作業ドア
7.2’ 作業扉、作業ドア
7.3 作業扉
7.4 ドア
7.5 ドア
7.6 ドア
8 建物モジュール、制御室モジュール、制御室区域
8’ 制御室区域
8’’ 制御室モジュール
8’’’ 制御室区域、試験装置区域
8.1 側壁
8.2 側壁
8.3 横壁
8.4 横壁
8.5 窓開口部、窓要素
8.6 ドア開口部、ドア要素
8.8 窓要素
8.9 入室目的のドア
8.9’’ 入室目的のドア
9 入替えスペース
9.1 床面
9.7 二重床
10 試験装置ホール
10.1 ホール壁
10.1’ ホール壁
10.2 開口部、窓
10.3 ホール出入口
10.3’ ホール出入口
10.4 窓要素
10.4’ 窓要素
10.4’’ 窓要素
10.4’’’ 窓要素
10.5 ホール壁
10.5’ 図4bのホール壁
10.6 第1ホール床
10.7 第2ホール床、ホール天井
10.8 ホール中央
10.9 出入口要素
10.9’ 出入口要素
11 供給バス、供給網、冷却水バス、低電圧バス
11.1 送り管路
11.2 戻り管路
11.3 排気管路
12 変圧器
12’ 変圧器
12.1 負荷
12.2 負荷
12.3 負荷
12.4 負荷
12.5 負荷
12.1’ 負荷
12.2’ 負荷
12.3’ 負荷
12.4’ 負荷
12.5’ 負荷
13.1 冷却器
13.2 冷却器
13.3 冷却器
13.4 負荷
13.5 負荷
13.6 負荷
13.7 負荷
13.8 負荷
13.9 負荷
13.4’ 負荷
13.5’ 負荷
14 通路、橋
14’ 通路、橋
14.1 保護柵
14.1’ 保護柵
15.1 接合部
15.2 接合部
15.3 接合部
15.4 接合部
15.5 接合部
15.6 接合部
16 供試体
16.1 動力取出装置
16.1’ 動力取出装置
16.1’’ 動力取出装置
16.1’’’ 動力取出装置
16.2 排気設備
17 排気設備
17.1 排気管
17.2 排気フランジ
18 入口
18’ 入口
19 目盛
23 試験装置列
23’ 試験装置列
24 試験装置フィールド
24’ 試験装置フィールド
25 階段
25’ 階段
26 屋根
32 補充モジュール
34 付加モジュール
A 距離、ずれ
A1 距離、ずれ
Bp 総幅
Bp’ 総幅
Bv 総幅
Bv’ 総幅
B2 幅
B3 幅
B4 幅
B32 幅
B34 幅
H2 高さ
H3 高さ
H4 高さ
K 距離
L2 長さ
L3 長さ
L4 長さ
Lv 長さ
R 距離
T 挿通穴
Z 距離
Z’ 距離
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Modular test equipment 1 'Modular test equipment 1''Test equipment 1''' Test equipment 2 Building module, 1st test module 2 '2nd test module 2''Test module 2.1 Side wall 2.1' Side wall 2 Side wall 2.2 'Side wall 2.3 Side wall, front side, front side wall 2.3' Side wall, front side 2.4 Side wall, back wall, rear side wall 2.4 'Side wall, back wall 2.5 Window opening, window Element 2.5 'Window opening, window element 2.6 Door opening, door element 2.6' Door opening, door element 2.7 Double floor 2.8 Free space 2.9 Floor wall 2.10 Sky Wall, ceiling wall 3 Building module, 1st test technology module 3 '2nd test technology module 3''test technology module 3.1 Side wall 3.2 Side wall 3.2' Side wall 3.3 Side wall, front 3.3 '' Side wall, front side 3.4 Side wall, back wall 3.4 'Side wall 3.5 Window opening, window element Door opening, door element 3.6 'Door opening, door element 3.6''Door opening, door element 3.7 Double floor 3.8 Free space 3.9 Floor wall 3.10 Top wall, ceiling Wall 4 Building module, first supply module 4 'Building module, supply module, exhaust module 4''Building module, supply module, exhaust module 4.1 Side wall 4.2 Side wall 4.3 Side wall, front side 4.4 Side wall 4. 5 Door element 4.9 Floor wall 4.10 Top wall, ceiling wall 5 Building module, supply module 5 'Supply module 5.1 Side wall 5.2 Side wall 5.3 Side wall, front side 5.4 Side wall 5.5 Door element 6 Building module, supply module 6 'Building module, supply module 6.1 Side wall 6.2 Side wall 6.3 Side wall, front side 6.4 Side wall, back wall 6.5 Door element 6.9 Floor wall 7.2 Work door, work A 7.2 'work door, work door 7.3 work door 7.4 door 7.5 door 7.6 door 8 building module, control room module, control room area 8' control room area 8 '' control room module 8 '''Control room area, test equipment area 8.1 Side wall 8.2 Side wall 8.3 Side wall 8.4 Side wall 8.5 Window opening, window element 8.6 Door opening, door element 8.8 Window element 8 .9 Door for entry purpose 8.9 '' Door for entry purpose 9 Replacement space 9.1 Floor surface 9.7 Double floor 10 Test equipment hall 10.1 Hole wall 10.1 'Hole wall 10.2 Opening, Window 10.3 Hall entrance and exit 10.3 'Hall entrance and exit 10.4 Window element 10.4' Window element 10.4 '' Window element 10.4 '''Window element 10.5 Hall wall 10.5' Hall wall 10.6 1st hole floor 10.7 2nd hole floor, hall ceiling 10 .8 Hall center 10.9 Entrance element 10.9 'Entrance element 11 Supply bus, supply network, cooling water bus, low voltage bus 11.1 Feed line 11.2 Return line 11.3 Exhaust line 12 Transformer 12 'transformer 12.1 load 12.2 load 12.3 load 12.4 load 12.5 load 12.1' load 12.2 'load 12.3' load 12.4 'load 12.5' load 13 .1 Cooler 13.2 Cooler 13.3 Cooler 13.4 Load 13.5 Load 13.6 Load 13.7 Load 13.8 Load 13.9 Load 13.4 'Load 13.5' Load 14 Passage , Bridge 14 'Passage, Bridge 14.1 Protective fence 14.1' Protective fence 15.1 Joint 15.2 Joint 15.3 Joint 15.4 Joint 15.5 Joint 15.6 Joint 16 Specimen 16.1 Power take-out device 16.1 'Power take-out Equipment 16.1 '' Power take-out device 16.1 '''Power take-out device 16.2 Exhaust equipment 17 Exhaust equipment 17.1 Exhaust pipe 17.2 Exhaust flange 18 Inlet 18' Inlet 19 Scale 23 Test equipment row 23 'Test Equipment row 24 Test equipment field 24 'Test equipment field 25 Stairs 25' Stairs 26 Roof 32 Replenishment module 34 Additional module A Distance, deviation A1 Distance, deviation Bp Total width Bp 'Total width Bv Total width Bv' Total width B2 width B3 B4 width B32 width B34 width H2 height H3 height H4 height K distance L2 length L3 length L4 length Lv length R distance T insertion hole Z distance Z 'distance

Claims (42)

それぞれ2つの側壁(2.1、2.2、4.1、4.2)とそれぞれ側壁(2.1、2.2、4.1、4.2)を結合する2つの横壁(2.3、2.4、4.3、4.4)とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも2つの建物モジュール(2、4)から成るモジュラー試験装置(1)であって、供試体を受容するための第1試験モジュールとして形成される長さL2、幅B2の少なくとも1つの建物モジュール(2)が設けられており、供給技術を受容するための第1供給モジュールとして形成される長さL4、幅B4の少なくとも1つの建物モジュール(4)が設けられており、第1供給モジュール(4)が第1試験モジュール(2)の上方に配置されており、長さL4が長さL2よりも短いものにおいて、試験装置(1)を補充する目的で、試験技術を受容するための第1試験技術モジュールとして形成される少なくとも1つの第3建物モジュール(3)が設けられており、第1試験技術モジュール(3)が2つの側壁(3.1、3.2)と側壁(3.1、3.2)を結合する2つの横壁(3.3、3.4)と長さL3と幅B3とを有し、第1試験技術モジュール(3)が側壁(3.1)を第1試験モジュール(2)の横で側壁(2.2)に接して設置可能であり、幅B4が幅B2またはB3よりも小さいことを特徴とするモジュラー試験装置。   Two side walls (2.1, 2.2, 4.1, 4.2) and two lateral walls (2. 3, 2.4, 4.3, 4.4) and a modular test device (1) consisting of at least two building modules (2, 4) formed as a portable container, At least one building module (2) of length L2 and width B2 formed as a first test module for receiving is provided and the length formed as a first supply module for receiving supply technology At least one building module (4) of L4 and width B4 is provided, the first supply module (4) is disposed above the first test module (2), and the length L4 is greater than the length L2. The test equipment (1) For the purpose of charging, at least one third building module (3) is provided, which is formed as a first test technology module for receiving the test technology, and the first test technology module (3) has two side walls ( 3.1, 3.2) and two lateral walls (3.3, 3.4) joining the side walls (3.1, 3.2), a length L3 and a width B3, the first test technique The module (3) can be installed with the side wall (3.1) in contact with the side wall (2.2) next to the first test module (2), and the width B4 is smaller than the width B2 or B3. Modular test equipment to do. それぞれ2つの側壁(2.1、2.2、4.1、4.2)とそれぞれ側壁(2.1、2.2、4.1、4.2)を結合する2つの横壁(2.3、2.4、4.3、4.4)とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも2つの建物モジュール(2、4)から成るモジュラー試験装置(1)であって、供試体を受容するための第1試験モジュールとして形成される長さL2、幅B2の少なくとも1つの建物モジュール(2)が設けられており、供給技術を受容するための第1供給モジュールとして形成される長さL4、幅B4の少なくとも1つの建物モジュール(4)が設けられており、第1供給モジュール(4)が第1試験モジュール(2)の上方に配置されており、長さL4が長さL2よりも短いものにおいて、幅B2が3mよりも大きく、幅B4が幅B2よりも小さいことを特徴とするモジュラー試験装置。   Two side walls (2.1, 2.2, 4.1, 4.2) and two lateral walls (2. 3, 2.4, 4.3, 4.4) and a modular test device (1) consisting of at least two building modules (2, 4) formed as a portable container, At least one building module (2) of length L2 and width B2 formed as a first test module for receiving is provided and the length formed as a first supply module for receiving supply technology At least one building module (4) of L4 and width B4 is provided, the first supply module (4) is disposed above the first test module (2), and the length L4 is greater than the length L2. Is shorter, the width B2 is less than 3m Large, modular testing and a width B4 is smaller than the width B2. 幅B4が幅B2またはB3よりも少なくとも20%小さく、つまりB4/B2の比またはB4/B3の比が最高で2/2.5であることを特徴とする、請求項1または2記載のモジュラー試験装置。   Modular according to claim 1 or 2, characterized in that the width B4 is at least 20% smaller than the width B2 or B3, ie the ratio B4 / B2 or the ratio B4 / B3 is at most 2 / 2.5. Test equipment. B4/B2の比またはB4/B3の比が2/3、2/4または2/5に等しいことを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Modular test device according to any one of the preceding claims, characterized in that the ratio of B4 / B2 or B4 / B3 is equal to 2/3, 2/4 or 2/5. 試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)の総幅Bpがそれらに載置されるすべての供給モジュール(4)の総幅Bvに等しいことを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Any of the preceding claims, characterized in that the total width Bp of the test module (2) and / or the test technology module (3) is equal to the total width Bv of all supply modules (4) mounted on them The modular test apparatus according to claim 1. 2つ、3つ、4つまたは5つの供給モジュール(4、5、6)が第1試験技術モジュール(3)上と第1試験モジュール(2)上とに設置可能であることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Two, three, four or five supply modules (4, 5, 6) can be installed on the first test technology module (3) and on the first test module (2) A modular test apparatus according to any one of the preceding claims. 長さL4が長さL2または長さL3よりも少なくとも20%短いことを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Modular test device according to any one of the preceding claims, characterized in that the length L4 is at least 20% shorter than the length L2 or the length L3. 長さL3が長さL2に等しく、幅B3が幅B2に等しいことを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Modular test device according to any one of the preceding claims, characterized in that the length L3 is equal to the length L2 and the width B3 is equal to the width B2. 各建物モジュール(2、3、4)が1つの天壁(2.10、3.10、4.10)と1つの床壁(2.9、3.9、4.9)とを有し、位置および/または種類を予め規定された少なくとも1つの接合部(15.1、15.2)が側壁(2.1、2.2、3.1、3.2、4.1、4.2)、天壁(2.10、3.10、4.10)および/または床壁(2.9、3.9、4.9)に設けられており、この接合部を介して1つの建物モジュール(2)から隣接建物モジュール(3、4)へと運転物質および補助物質管路を案内できることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Each building module (2, 3, 4) has one top wall (2.10, 3.10, 4.10) and one floor wall (2.9, 3.9, 4.9) , At least one joint (15.1, 15.2) predefined in position and / or type is provided on the side wall (2.1, 2.2, 3.1, 3.2, 4.1, 4. 2), and provided on the top wall (2.10, 3.10, 4.10) and / or the floor wall (2.9, 3.9, 4.9). Modular testing device according to any one of the preceding claims, characterized in that the operating substance and auxiliary substance lines can be guided from the building module (2) to the adjacent building module (3, 4). 接合部(15.1、15.2)が施蓋可能な凹部またはフランジとして形成されていることを特徴とする、請求項9記載のモジュラー試験装置。   10. Modular testing device according to claim 9, characterized in that the joints (15.1, 15.2) are formed as recesses or flanges that can be covered. 1つの横壁(2.3、3.3、4.3)が前部横壁として形成され、1つの横壁(2.4、3.4、4.4)が後部横壁として形成されており、前部横壁が、モジュールを装入および/または巡回するための作業扉(7.2、7.3)および/またはドア(7.4、7.5、7.6)を有することを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   One lateral wall (2.3, 3.3, 4.3) is formed as the front lateral wall, and one lateral wall (2.4, 3.4, 4.4) is formed as the rear lateral wall. The lateral walls have working doors (7.2, 7.3) and / or doors (7.4, 7.5, 7.6) for loading and / or circulating modules. A modular test apparatus according to any one of the preceding claims. 制御室モジュール(8)の第1側壁(8.1)が後部横壁(2.4、3.4)に接するように、制御室モジュール(8)として形成される1つの建物モジュールが第1試験モジュール(2)および/または第1試験技術モジュール(3)の後部横壁(2.4、3.4)に接して設置可能であることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   One building module formed as a control room module (8) is subjected to the first test so that the first side wall (8.1) of the control room module (8) contacts the rear lateral wall (2.4, 3.4). 6. The module according to claim 1, wherein the module can be installed in contact with the rear lateral wall (2.4, 3.4) of the module (2) and / or the first test technology module (3). Modular test equipment. 各後部横壁(2.4、3.4)と相応する第1側壁(8.1)が、目視および/または入室を目的にそれぞれ少なくとも1つの窓開口部(2.5、3.5、8.5)および/またはドア開口部(2.6、3.6、8.6)を有することを特徴とする、請求項12記載のモジュラー試験装置。   Each rear lateral wall (2.4, 3.4) and a corresponding first side wall (8.1) have at least one window opening (2.5, 3.5, 8) for visual and / or entry purposes, respectively. . 5) and / or a door opening (2.6, 3.6, 8.6). 制御室モジュール(8)が、外光および/または人物の通過を目的に少なくとも第2側壁(8.2)および/または横壁(8.3、8.4)に窓要素(8.5)および/またはドア要素(8.6)を有することを特徴とする、請求項12または13記載のモジュラー試験装置。   The control room module (8) has a window element (8.5) on at least the second side wall (8.2) and / or the side wall (8.3, 8.4) for the purpose of passing outside light and / or persons. 14. Modular test device according to claim 12 or 13, characterized in that it comprises a door element (8.6). 供給モジュール(4)用建物モジュールは幅B4が2.438m、長さL4が6.096m、高さH4が2.590mであることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Modular according to any one of the preceding claims, characterized in that the building module for the supply module (4) has a width B4 of 2.438 m, a length L4 of 6.096 m and a height H4 of 2.590 m. Test equipment. 試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)用建物モジュールは幅B2=B3が3.048m〜4.267m、長さL2=L3が7.0m〜9.0m、高さH2=H3が3.0m〜4.0mであることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   The building module for the test module (2) and / or the test technology module (3) has a width B2 = B3 of 3.048m to 4.267m, a length L2 = L3 of 7.0m to 9.0m, and a height H2 = H3. The modular testing device according to any one of the preceding claims, characterized in that is from 3.0 m to 4.0 m. 試験技術モジュール(3)および試験モジュール(2)用建物モジュールが全長にわたって自立式に形成されていることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Modular testing device according to any one of the preceding claims, characterized in that the building module for the test technology module (3) and the test module (2) is self-supporting over its entire length. 供給モジュール(4)と試験モジュール(2)、および/または供給モジュール(4)と試験技術モジュール(3)が、前部横壁(4.3、2.3、3.3)を水平距離Aだけずらして配置されており、および/または後部横壁(4.4、2.4、3.4)を同一平面にまたはずらして設置されており、供給モジュール(4)の前および/または後で試験モジュール(2)もしくは試験技術モジュール上に通路(14)が形成されていることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   The supply module (4) and the test module (2) and / or the supply module (4) and the test technology module (3) move the front lateral wall (4.3, 2.3, 3.3) by a horizontal distance A. Tested before and / or after the supply module (4), being offset and / or installed with the rear lateral wall (4.4, 2.4, 3.4) in the same plane or offset Modular test device according to any one of the preceding claims, characterized in that a passage (14) is formed on the module (2) or the test technology module. 第2試験モジュール(2’)として形成される他の1つの建物モジュールが設けられており、第2試験モジュール(2’)が第1試験モジュール(2)の横でその側壁(2.1)に接して設置可能であることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   Another building module formed as a second test module (2 ′) is provided, the second test module (2 ′) being next to the first test module (2) and its side wall (2.1). The modular test apparatus according to claim 1, wherein the modular test apparatus can be installed in contact with the apparatus. 第1試験モジュール(2)と第2試験モジュール(2’)が共通の大型試験モジュールとして形成可能であり、各試験モジュール(2、2’)の側壁(2.1、2.2’)が少なくとも部分的に撤去可能であり、および/または挿通穴Tを有することを特徴とする、請求項19記載のモジュラー試験装置。   The first test module (2) and the second test module (2 ′) can be formed as a common large test module, and the side walls (2.1, 2.2 ′) of each test module (2, 2 ′) 20. Modular test device according to claim 19, characterized in that it is at least partly removable and / or has an insertion hole T. 1つの建物モジュールが第2試験技術モジュール(3’)として形成されており、第2試験技術モジュール(3’)が第2試験モジュール(2’)の横でその側壁(2.1’)に接して設置可能であることを特徴とする、請求項19または20記載のモジュラー試験装置。   One building module is formed as a second test technology module (3 ′), and the second test technology module (3 ′) is next to the second test module (2 ′) on its side wall (2.1 ′). 21. Modular testing device according to claim 19 or 20, characterized in that it can be installed in contact. 1つの建物モジュールが試験モジュール(2)または試験技術モジュール(3)に対する補充モジュール(32)として形成されており、試験モジュール(2)または試験技術モジュール(3)の幅B2またはB3が幅B32と合わせて1つの供給モジュール(4)の幅B4の2倍、3倍または4倍となるように、補充モジュール(32)が幅B32を有することを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   One building module is formed as a supplement module (32) for the test module (2) or the test technology module (3), and the width B2 or B3 of the test module (2) or the test technology module (3) is defined as the width B32. Any of the preceding claims, characterized in that the replenishment module (32) has a width B32 such that it is twice, three times or four times the width B4 of one supply module (4) in total. The modular test apparatus described. 1つの建物モジュールが補充モジュール(32)に対する付加モジュール(34)として形成されており、幅B32と幅B34が合わせて1つの試験モジュール(2)または試験技術モジュール(3)の幅B2または幅B3となるように、付加モジュール(34)が幅B34を有することを特徴とする、請求項22記載のモジュラー試験装置。   One building module is formed as an additional module (34) to the replenishment module (32), and the width B32 and the width B34 are combined into the width B2 or width B3 of one test module (2) or test technology module (3). 23. Modular testing device according to claim 22, characterized in that the additional module (34) has a width B34. 先行請求項のいずれか1項記載の少なくとも1つのモジュラー試験装置を有する試験装置フィールドにおいて、複数のモジュラー試験装置(1、1’)が側壁(2.1、2.1’、3.2、3.2’)を1列に並べて配置され、試験装置列(23)を形成することを特徴とする試験装置フィールド。   In a test device field comprising at least one modular test device according to any one of the preceding claims, the plurality of modular test devices (1, 1 ') comprises side walls (2.1, 2.1', 3.2, 3.2 '), arranged in a row to form a test device row (23). モジュラー試験装置(1、1’)の試験モジュール(2)の側壁(2.1)と試験技術モジュール(3’)の側壁(3.2’)との間に距離Zが設けられ、後部横壁(2.4’、3.4’)に接して配置される制御室モジュール(8’)用の入口(18)が形成されていることを特徴とする、請求項24記載の試験装置フィールド。   A distance Z is provided between the side wall (2.1) of the test module (2) of the modular test apparatus (1, 1 ') and the side wall (3.2') of the test technology module (3 '), and the rear side wall 25. Test device field according to claim 24, characterized in that an inlet (18) for a control room module (8 ') arranged in contact with (2.4', 3.4 ') is formed. 少なくとも2つの試験装置列(23、23’)が設けられており、試験装置列(23、23’)が試験モジュール(2、2’’)の前部横壁(2.3、2.3’)を2m超の距離Rとして配置されており、試験モジュール(2、2’’)を搬入搬出するための入替えスペース(9)が試験モジュール(2、2’’)の間に保証されていることを特徴とする、請求項24または25記載の試験装置フィールド。   At least two test device rows (23, 23 ′) are provided, the test device row (23, 23 ′) being the front lateral wall (2.3, 2.3 ′) of the test module (2, 2 ″). ) Is arranged as a distance R exceeding 2 m, and a replacement space (9) for loading and unloading the test module (2, 2 ″) is guaranteed between the test modules (2, 2 ″). 26. A test equipment field according to claim 24 or 25, characterized in that 少なくとも試験モジュール(2)および試験技術モジュール(3)が二重床(2.7、3.7)を有し、二重床(2.7、3.7)の下方で二重床(2.7、3.7)によって形成される自由空間(2.8、3.8)内に試験装置および/または供給管路用支承要素が設置可能であり、少なくとも試験装置列(23、23’)の間の入替えスペース(9)の領域にも二重床(9.7)が設けられており、試験モジュール(2)および試験技術モジュール(3)の内側および外側で試験装置フィールド全体が平らな床面(9.1)を有することを特徴とする、請求項24、25または26記載の試験装置フィールド。   At least the test module (2) and the test technology module (3) have a double bed (2.7, 3.7) and below the double bed (2.7, 3.7) the double bed (2 , 3.7) can be installed in the free space (2.8, 3.8) formed by the test device and / or the supply line support element, and at least the test device row (23, 23 ′) ) Is also provided with a double floor (9.7) in the area of the interchange space (9) between the test module (2) and the test technology module (3). 27. Test device field according to claim 24, 25 or 26, characterized in that it has a smooth floor surface (9.1). 入射光用に少なくとも1つの開口部(10.2)を有する少なくとも1つのホール壁(10.1)と、先行請求項のいずれか1項記載の少なくとも1つのモジュラー試験装置(1)、試験装置列(23)および/または試験装置フィールド(24)とを有する試験装置ホール(10)において、少なくとも制御室モジュール(8)に外光が入射するように、制御室モジュール(8)が少なくとも窓要素(8.8)を有する第2側壁(8.2)および/または横壁(8.3、8.4)を開口部(10.2)に接して配置されていることを特徴とする試験装置ホール。   12. At least one hole wall (10.1) having at least one opening (10.2) for incident light, at least one modular test device (1) according to any one of the preceding claims, a test device In a test equipment hall (10) having a row (23) and / or a test equipment field (24), the control room module (8) has at least a window element so that external light is incident on at least the control room module (8). A test apparatus characterized in that the second side wall (8.2) and / or the side wall (8.3, 8.4) having (8.8) are arranged in contact with the opening (10.2). hole. 入射光用に少なくとも1つの開口部(10.2)を有する少なくとも1つのホール壁(10.1)と、請求項1〜27のいずれか1項記載の少なくとも1つのモジュラー試験装置(1)、1つの試験装置列(23)および/または1つの試験装置フィールド(24)とを有する試験装置ホール(10)において、試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)が、目視および/または入室のための窓要素(2.5、3.5)および/またはドア要素(2.6、3.6)を有する後部横壁(2.4、3.4)を、窓(10.2)として形成される開口部またはホール壁(10.1)に接して配置されており、横壁(2.4、3.4)がホール壁(10.1)から距離Kを有し、ホール壁(10.1)と横壁(2.4、3.4)との間に制御室区域(8)が生じるようになっていることを特徴とする試験装置ホール。   28. At least one modular wall (10.1) according to any one of claims 1 to 27, at least one hole wall (10.1) having at least one opening (10.2) for incident light, In a test equipment hole (10) with one test equipment train (23) and / or one test equipment field (24), the test module (2) and / or the test technology module (3) can be viewed and / or Rear lateral wall (2.4, 3.4) with window element (2.5, 3.5) and / or door element (2.6, 3.6) for entry into the window (10.2) The lateral wall (2.4, 3.4) has a distance K from the hole wall (10.1) and is arranged in contact with the opening or hole wall (10.1) formed as 10.1) and lateral wall (2.4, 3.4) Test device hole, characterized in that is adapted to control chamber region (8) is formed between the. 請求項1〜27のいずれか1項記載の少なくとも1つのモジュラー試験装置(1)、1つの試験装置列(23)および/または1つの試験装置フィールド(24)を有する試験装置ホール(10)において、ホール中央(10.8)の制御室モジュール(8、8’’)および/または制御室区域(8’、8’’’)は試験モジュール(2)もしくは試験技術モジュール(3)の前部側壁(2.3、3.3)がホール壁(10.2、10.5)の領域に配置されているように配置されており、ホール壁(10.2、10.5)は試験モジュールもしくは試験技術モジュールを搬入搬出するための出入口要素(10.9)を有することを特徴とする試験装置ホール。   In a test equipment hall (10) having at least one modular test equipment (1), one test equipment train (23) and / or one test equipment field (24) according to any one of the preceding claims. The control room module (8, 8 ″) and / or the control room area (8 ′, 8 ′ ″) in the center of the hall (10.8) is the front of the test module (2) or the test technology module (3) The side walls (2.3, 3.3) are arranged in the region of the hole walls (10.2, 10.5), the hole walls (10.2, 10.5) being the test module Alternatively, a test apparatus hall having an entrance / exit element (10.9) for loading and unloading the test technology module. 第1ホール床(10.6)の他に、少なくとも1つの第2ホール床(10.7)が第1試験装置フィールド(24)の上方に設けられており、この第2ホール床上に第2試験装置フィールド(24’)が設置可能であることを特徴とする、請求項28、29または30記載の試験装置ホール(10)。   In addition to the first hall floor (10.6), at least one second hall floor (10.7) is provided above the first test equipment field (24), on the second hall floor the second hole floor (10.6). 31. Test equipment hole (10) according to claim 28, 29 or 30, characterized in that a test equipment field (24 ') can be installed. 供給網としておよび技術的建物装備の一部として形成される1つの供給および/または排出バス(11)が設けられており、このバスを介してさまざまな建物モジュール(2、3、4、5、6)に補助物質および/または電圧を同時に供給可能であることを特徴とする、請求項24〜31のいずれか1項記載の試験装置フィールドまたは試験装置ホール。   A supply and / or discharge bus (11) is provided which is formed as a supply network and as part of technical building equipment, through which various building modules (2, 3, 4, 5, 32. The test equipment field or test equipment hall according to any one of claims 24 to 31, characterized in that an auxiliary substance and / or a voltage can be simultaneously supplied to 6). 供給バス(11)が複数の部分範囲を有し、部分範囲が試験装置のさまざまなモジュール(2、3、4、5、6)に一体化されておりかつ一緒に供給バス(11)を形成することを特徴とする、請求項32記載の試験装置フィールド。   The supply bus (11) has a plurality of partial ranges, which are integrated into the various modules (2, 3, 4, 5, 6) of the test apparatus and together form the supply bus (11) 33. The test equipment field of claim 32, wherein: 供給バス(11)はさまざまなモジュラー試験装置に空気、冷却材、冷却水、電圧および/または排気を供給するように形成されていることを特徴とする、請求項32または33記載の試験装置フィールド。   34. Test equipment field according to claim 32 or 33, characterized in that the supply bus (11) is configured to supply air, coolant, cooling water, voltage and / or exhaust to various modular test equipment. . 試験装置(1)の運転にとって不可欠な、運転物質および補助物質供給用の技術的建物装備が、試験装置(1)および/または試験装置フィールド(24)のさまざまなモジュールに一体化されていることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置または試験装置ホール。   Technical building equipment for supplying operating and auxiliary substances essential for the operation of the test equipment (1) is integrated in the various modules of the test equipment (1) and / or test equipment field (24) A modular test apparatus or test apparatus hole according to any one of the preceding claims, characterized in that 単数または複数の変圧器(12)を有する少なくとも1つの電源ユニットが設けられており、この変圧器がさまざまな国際電圧網に接続するための単数または複数の端子を有し、さまざまな電圧網の電圧値の違いにもかかわらず試験装置に所望の電圧が供給されることを変圧器が保証することを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置。   At least one power supply unit having one or more transformers (12) is provided, the transformer having one or more terminals for connection to various international voltage networks, Modular test device according to any one of the preceding claims, characterized in that the transformer ensures that the desired voltage is supplied to the test device despite the difference in voltage value. 供給モジュール(4、5、6)が第1試験モジュール(2)の上方で各長辺をこの試験モジュールに対して90°ずらして配置されていることを特徴とする、先行請求項のいずれか1項記載のモジュラー試験装置、試験装置フィールドまたは試験装置ホール。   Any of the preceding claims, characterized in that the supply module (4, 5, 6) is arranged above the first test module (2) with each long side being shifted by 90 ° relative to this test module. A modular test equipment, test equipment field or test equipment hall according to claim 1. 幅B4が幅B2またはB3よりも少なくとも20%大きく、つまりB4/B2の比またはB4/B3の比が少なくとも3/2.5であることを特徴とする、請求項37記載の装置。   38. Device according to claim 37, characterized in that the width B4 is at least 20% greater than the width B2 or B3, i.e. the ratio B4 / B2 or the ratio B4 / B3 is at least 3 / 2.5. B4/B2の比またはB4/B3の比が1/1、5/4、3/2または2/1に等しいことを特徴とする、請求項37、38または39記載の装置。   40. Device according to claim 37, 38 or 39, characterized in that the ratio B4 / B2 or B4 / B3 is equal to 1/1, 5/4, 3/2 or 2/1. 試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)の総幅Bpがそれらに載置される供給モジュール(4)の幅B4に等しいことを特徴とする、請求項37、38まま39記載の装置。   40. Still 39, 39 according to claim 37, characterized in that the total width Bp of the test module (2) and / or the test technology module (3) is equal to the width B4 of the supply module (4) mounted on them. apparatus. 試験装置(2)および/または試験技術モジュール(3)の長さL2、L3がそれらに前後で載置されるすべての供給モジュール(4)の総長さLvに等しいことを特徴とする、請求項37、38、39または40記載の装置。   The length L2, L3 of the test device (2) and / or test technology module (3) is equal to the total length Lv of all supply modules (4) mounted on the front and back thereof 37. A device according to 37, 38, 39 or 40. 試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)に載置されるすべての供給モジュール(4)の総長さLvが試験モジュール(2)および/または試験技術モジュール(3)の長さL2、L3よりも少なくとも20%短いことを特徴とする、請求項37、38、39または40記載の装置。   The total length Lv of all supply modules (4) mounted on the test module (2) and / or test technology module (3) is the length L2 of the test module (2) and / or test technology module (3), 41. Apparatus according to claim 37, 38, 39 or 40, characterized in that it is at least 20% shorter than L3.
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