JP2009508108A - オイルおよびガス漏出の検出および定量のための差分吸収lidarにおける性能精度を改善する方法 - Google Patents

オイルおよびガス漏出の検出および定量のための差分吸収lidarにおける性能精度を改善する方法 Download PDF

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Abstract

差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて測定された測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する改善された方法。複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)が決定される。式 (I) /CPL の平均の非プルームCPLが提供される。各測定箇所に対し、一次の誤差伝搬に基づいて、標準偏差 CPLsd が計算されると共に、Hooshmand 決定規則(HDR)が満足されるときに上記測定箇所は非プルーム箇所を表すことが決定される。上記HDRは、cpl は検査中の測定箇所の対応CPLであり且つTはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、式 (II) [(cpl-/CPL)/CPLsd]2>(T)2 により与えられる。

Description

本発明は、差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて目標分子を含有するプルーム(plume)を特定する精度を改善する方法に関する。特に、この方法に依ればプルームの検出に対する優れた信号対ノイズ比が許容され得る。
DIALシステムにおいて、受信される後方散乱信号は、送出されたレーザ・パルス・エネルギと、光の速度と、レーザ・パルス幅と、望遠鏡面積(視野)と、有効距離(逆二乗則)と、オフライン・ビームおよびオンライン・ビームの重なりおよび視野(すなわち幾何学的形態係数[geometric form factor])と、受信器光学機器のスペクトル応答と、プルームの透過率と、大気の全体的透過率と、地表被覆物の種類との関数である。
2ライン式のDIALシステムのひとつの用途は、流体関連プルームの濃度経路長(concentration path length)(CPL)を見積もることである。故にオンライン波長は好適には、それが光路において他のものでなく流体の目標分子によってのみ吸収される如く選択される。オフライン波長は好適には、それが目標分子によっては吸収されず、または、予期される他の一切の分子が光路を許容する如く選択される。更に好適にはオンラインおよびオフライン波長は、幾何学的形態係数の比率、受信器光学機器のスペクトル応答、および、オンラインおよびオフライン波長に対応する表面反射率が略々同一である如く選択される。式1において理解され得る如く、この条件が満足された場合にこれらのパラメータは打ち消され、CPLの計算が簡素化される。
Figure 2009508108
式中、λOn/Offは、オンライン(またはオフライン)ピーク波長であり、σ(λOn/Off)は、オンライン(またはオフライン)断面積であり、E1On/Off)は、送出されたオンライン(またはオフライン)レーザ・パルス・エネルギであり、Rは、目標に対するセンサの有効距離/高度/距離であり、E(λOn/Off,R)は、受信されたオンライン(またはオフライン)レーザ・パルス・エネルギであり、ξ(ROn/Off)は、オンライン(またはオフライン)ピーク波長に対する幾何学的形態係数であり、ξ(λOn/Off)は、オンライン(またはオフライン)ピーク波長に対する受信器光学機器のスペクトル応答であり、ρ(λOn/Off)は、オンライン(またはオフライン)ピーク波長に対するバックグラウンド表面反射率であり、κ(λOn/Off,r)は、オンライン(またはオフライン)ピーク波長に対する大気減衰係数であり、且つ、Ct-bagは、大気中の目標分子濃度である。
多くの場合においてDIALシステム性能における支配的要因は、ノイズに対して低い信号、または、低い信号対ノイズ比(SNR)であり、システムにおける電気的ノイズではない。この問題は特に、SNRが変化するときに特に深刻であり得る。斯かる状況において上記DIAL式は、不均一な変動および誤差を考慮すべく補正(バイアス)されねばならない。再調整されたオンラインおよびオフライン信号のこれらの誤差または不均一な変動の主たる原因は、表面被覆物の種類によるスペクトル反射率の変動、および/または、オンラインおよびオフライン・ビームの誤整列(部分的に重なるビーム)である。部分的に重なるビームはまた、再調整されたオンラインおよびオフライン信号における表面スペクトル反射率の変動にも繋がり得る。オンラインおよびオフライン波長は好適には、DIALシステムの動作の間に変動してはならない。故に上記波長は典型的には電子的に、事前選択された波長に固定される。しかし実際問題として、これらの波長は僅かに変動し得ると共に、これらの変動は、断面積におけるスパイク、および、他の不都合で障害的な吸収効果に繋がり得る。更に、ガス漏出に伴うプルーム箇所の確率密度関数の見積もりが実行不能となることもある。
表面被覆物の種類による反射率が低い用途は低帰還のオンラインおよびオフライン信号に帰着し、且つ、表面被覆物の種類による反射率が高い用途は高帰還のオンラインおよびオフライン信号に帰着する。帰還信号がノイズに対して低いならば電気的ノイズが支配的となり且つ低い信号対ノイズ比(SNR)および大きな濃度経路長(CPL)変動に繋がるが、逆もまた真である。帰還信号がノイズに対して高いならば信号が支配的となり且つ高いSNRおよび低いCPL分散に繋がる。故に、表面反射率は箇所毎に且つ領域毎に変動することから、帰還信号およびSNRもそうである。
但し実際には、DIALシステムは相応に較正され得る。残念乍ら、地面被覆物の種類に起因する反射率変動の補正は、多くの状況において困難であり得る。もしこれらの地面被覆物の種類による反射率変動が適切に補正されなければ、目標分子のCPL見積もりの相当の誤差に帰着し、プルームの偽の特定(またはプルームの欠如)に繋がり得る。
本発明は、スペクトル的および空間的な情報を利用することによりDIALにおける性能精度を改善する方法を包含する。本発明の改善された方法は、目標分子を含有するプルームの検出の(可能性)確実性を高め得る。たとえば、これらの改善された方法は、パイプラインもしくは貯蔵タンクにおける漏出により生成されたプルーム、流出物および他の異物により引き起こされたプルーム、および、火山により放出されたガスの如き自然に生ずるプルームの特定において有用であり得る。
本発明の好適実施例は、差分吸収LIDAR(DIAL)システムにおける信号対ノイズ比を改善する方法である。DIALビームは、該DIALビームが複数個の測定箇所を透過される如くスキャンされる。上記DIALビームは、実質的に共直線的に送出されるオンライン・レーザビームおよびオフライン・レーザビームを含む。上記複数個の測定箇所に対応する上記オンライン・レーザビームの複数の送出パルス・エネルギおよび上記オフライン・レーザビームの複数の送出パルス・エネルギが測定され、同様に、上記複数個の測定箇所に対応する上記オンライン・レーザビームの複数の受信パルス・エネルギおよび上記オフライン・レーザビームの複数の受信パルス・エネルギも測定される。ひとつの測定箇所が選択される。上記選択されたひとつの測定箇所の回りの関心領域(ROI)内における測定箇所のROI部分集合も選択される。上記選択されたひとつの測定箇所に対し、上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、送出された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、送出された平均オフライン・パルス・エネルギと、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、受信された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、受信された平均オフライン・パルス・エネルギと、を含む所定数の平均値が計算される。上記選択されたひとつの測定箇所に対し、上記送出された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記送出された平均オフライン・パルス・エネルギと、上記受信された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記受信された平均オフライン・パルス・エネルギとを用いて、上記DIALビームの濃度経路長(CPL)が計算される。
本発明の付加的な好適実施例は、差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて測定された測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する改善された方法である。複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)が決定される。平均の非プルームCPLすなわち/CPL(“/”はバー付表示の代替表現。以下、同様。)が提供される。各測定箇所に対し、一次の誤差伝搬に基づいて、標準偏差CPLsdが計算される。各測定箇所に対し、cpl は上記測定箇所の対応CPLであるとして、CPL尤度値
Figure 2009508108
が計算される。各測定箇所に対し、Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記CPL尤度値がCPLスレッショルド値レベル
Figure 2009508108
未満であるならば上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定される。
本発明の別の好適実施例は、差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて測定された測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する改善された方法である。複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)が決定される。平均の非プルームCPLすなわち/CPLが提供される。各測定箇所に対し、一次の誤差伝搬に基づいて、標準偏差CPLsdが計算されると共に、Hooshmand 決定規則(HDR)が満足されるときに、上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定される。上記HDRは、cpl は検査されつつある測定箇所の対応CPLであり且つTはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、
Figure 2009508108
により与えられる。
本発明の更なる好適実施例は、差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて特定された偽のプルーム箇所を発見する改善された方法である。複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)が決定される。各測定箇所に対し、対応CPLを用いて、該測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかが決定される。各プルーム箇所の内のひとつのプルーム箇所の最近傍部分集合の測定箇所から、第j番目の測定箇所が選択される。上記測定箇所の最近傍部分集合は、上記プルーム箇所と、所定個数(K−1)の最近傍測定箇所とを含む。上記第j番目の測定箇所の回りにおける測定箇所の局所的部分集合のCPLの平均CPLすなわち/CPLj が計算される。一次の誤差伝搬に基づいて、上記局所的部分集合における各測定箇所の標準偏差 (CPLsd)j が計算される。これらの計算は、j=1〜Kに対して実施される。cplj は上記第j番目の測定箇所の対応CPLであるとして、上記ひとつのプルーム箇所のCPL同時尤度値
Figure 2009508108
が計算される。Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記ひとつのプルーム箇所の上記CPL同時尤度値が該ひとつのプルーム箇所のCPLスレッショルド値レベル
Figure 2009508108
未満であるならば、上記ひとつのプルーム箇所は偽のプルーム箇所を表すと決定される。上記処理は、各プルーム箇所に対して反復される。
本発明は、添付図面に関して読破されたときに以下の詳細な説明から最適に理解される。一般的な慣行により図面の種々の特徴は縮尺通りではないことが強調される。逆に、明瞭化のために種々の特徴の寸法は任意に拡大または縮小されている。
本発明の好適実施例は、差分吸収LIDAR(DIAL)レーザ遠隔検知システムにおいて、局所的非プルーム箇所の濃度経路長(CPL)のスペクトル確率密度および空間的同時確率密度を利用することで、ガス漏出に伴うプルーム箇所のCPLを最適に検出かつ定量する。局所的非プルーム分布パラメータ(平均および分散)は、適応的に見積もられる。CPL MEAN は、算出された局所的非プルームCPLに基づいて見積もられ、且つ、CPL VARIANCE は帰還SNR毎に適応的に見積もられる。
図1に示された如く、本発明の好適実施例は代表的なDIALシステムである。この代表的システムは、DIALビームを生成する2つのパルス化レーザ源、すなわちオンライン・パルス化レーザ源100およびオフライン・パルス化レーザ源102を含んでいる。図1の好適実施例において1個のオンライン・パルス化レーザ源および1個のオフライン・パルス化レーザ源を選択したのは図示を簡素化するためであり、限定を意図してはいないことを銘記されたい。以下における代表的DIALシステムの考察は主として図1の好適実施例に重きを置くが、当業者であれば、本発明に依れば代表的DIALシステムには付加的なオフライン・パルス化レーザ源が含まれ得ることを理解し得ることが企図される。
オンライン・パルス化レーザ源100は、一連のレーザ・パルスを含むオンライン・レーザビームを生成する。オンライン・レーザビームのこれらのパルスは、目標分子の光学的吸収帯内のオンライン・ピーク波長λOnを有する。故に、測定箇所(measurement point)内における目標分子の濃度経路長は、レーザ・パルスが測定箇所を通り伝搬するときにおけるオンライン・レーザビームのパルス・エネルギの結果的減衰量を用いて決定され得る。
オンライン・レーザビームの送出パルス・エネルギE1On) は好適には、光学的センサ112へと導向される各パルスの小部分から決定され得る。この光学的センサは、オンラインおよびオフライン・レーザビームの送出パルス・エネルギを検出すべく使用され得る光学的センサ114も含む光学的センサの配列の一部を形成する。図1に示された如く、光学的センサ112により検出されるオンライン・レーザビームの上記小部分はビームスプリッタ106を用いて分離され得る。
オフライン・パルス化レーザ源102は、オフライン・ピーク波長λOffを有するレーザ・パルスのオフライン・レーザビームを生成する。このオフライン・ピーク波長は、測定箇所を通るオフライン・レーザビームのビーム経路に沿う目標分子の存在または不存在によりオフライン・レーザ・パルスのパルス・エネルギがそれほど影響されないように、目標分子の光学的吸収帯の外側となるべく選択される。
オンライン・レーザビームによるのと同様に、オフライン・レーザビームの送出パルス・エネルギE1Off) は好適には、光学的センサ114に対して導向される各パルスの小部分から決定され得る。図1に示された如くオフライン・レーザビームの上記小部分は、波長λOffを有する実質的に全ての光を反射すると共に波長λOnを有する実質的に全ての光を透過するダイクロイック・ビームスプリッタ108を用いて分離され得る。
光学的センサ112および114の配列は連結されることで、2つのレーザビームの送出パルス・エネルギに比例する信号であって、測定箇所における目標分子のCPLを計算する際に使用される信号をDIALデータ・プロセッサ128に対して提供する。
ビームスプリッタ106およびダイクロイック・ミラー108はまた、表面120上の一連の測定箇所に対してオンライン・レーザビームおよびオフライン・レーザビームが実質的に共直線的に送出され得る如く、両レーザビームを整列させる送出光学機器としても動作し得る。この様にして、オンライン・レーザビームと、オフライン・レーザビームの各々とは、各測定箇所に対する略々同一のビーム経路をサンプリングし得る。斯かる同様のビーム経路は、各レーザビームが直面する条件の一切の相違であって、たとえばプルーム118における目標分子によるオンライン・レーザビームの吸収などの、2つのレーザビームの異なる波長により引き起こされる相違以外の一切の相違を低減するために好適である。同様に、不均一表面120の実質的にひとつの測定箇所から上記レーザビームの両方が反射され得る様に、各ビーム経路の類似性が好適である。
図1の好適実施例は、光学的センサ112および114の配列により監視されるべき各ビームの夫々の部分を分離すべく且つ各レーザビームを実質的に共直線的に整列すべく両方が作用するビームスプリッタ106およびダイクロイック・ミラー108を以て示されるが、これらの動作を行うために付加的な光学的構成要素が含まれ得ることも企図される。上記代表的DIALシステムから不均一表面120まで及び戻りのビーム経路に沿う各ビームの拡開を低減するために、上記2つのレーザビームは実質的に平行化されることも好適であり得ることを銘記されたい。(不図示の)付加的な光学機器および/または機械的段階を含めることでも、表面120上の一連の測定箇所に亙るDIALビームのスキャンが許容され得る。
多くの実際的応用において不均一表面120は、当該地表の全体に亙り配置された例えば低木、樹木、草、舗装などの種々の異なる形態の被覆を有し得る地表の一区画であり得る。図1に示された如く、不均一表面120、およびその上の種々の被覆は、粗く見え得る。故に、レーザビームの各々のパルス・エネルギの多くは散乱され得ると共に、各パルスの僅かな部分だけがDIALシステムへと戻されて測定され得る。
粗い表面からレーザビームを反射(散乱)することにより引き起こされた低減光信号は、上記代表的DIALシステムの信号対ノイズ比を低減することによりCPL検出の感度に悪影響を及ぼし得る。更に、地表被覆の変動は、測定位置毎の不均一表面120の反射率の差に繋がり得る。
図1の好適実施例は、第2群の光学機器、すなわちダイクロイック・ミラー109およびミラー107を含むことで、代表的DIALシステムにより受信されたオフライン・レーザビームおよびオンライン・レーザビームの反射部分を、収集し、ピーク波長により分離し、且つ、第2配列の光学的センサ122および124へと導向する。好適にはダイクロイック・ミラー109は、ダイクロイック・ミラー108と同様の特性を有し得る。この第2群の受信器光学機器は、上記の一群の送出光学機器に対して上述された(不図示の)付加的な光学素子を含み得ることを銘記されたい。
上記第2配列の光学的センサ122および124は夫々、オンライン・レーザビームの反射部分の受信パルス・エネルギE(λOn,R) およびオフライン・レーザビームの反射部分の受信パルス・エネルギE(λOff,R) を検知する。この光学的センサの配列はDIALデータ・プロセッサ128に対して連結されることで、各レーザビームの送出パルス・エネルギに比例する信号であって目標分子の濃度経路長(CPL)の計算において使用される信号を該DIALデータ・プロセッサ128に対して提供する。
DIALデータ・プロセッサ128は、光学的センサ112および114から送出されたオンラインおよびオフライン・パルス・エネルギ信号と、多数の異なる測定箇所にて測定されて光学的センサ122および124から受信されたオンラインおよびオフライン・パルス・エネルギ信号とを使用することで、各測定箇所に伴う一群の平均の送出オンラインおよびオフライン・パルス・エネルギおよび受信オンラインおよびオフライン・パルス・エネルギを決定する。好適には、各測定箇所に関するこれらのパルス・エネルギ値は、ミラー112および122の既知の反射係数および透過係数、ならびに、光学的センサ112、114、122および124の既知の変換係数を用いて較正され得る。
上記DIALデータ・プロセッサは次に、対応する平均パルス・エネルギを用いて各測定箇所に対するCPLを計算し得る。この計算は、式1を用いて実施され得る。
DIALデータ・プロセッサは、専用回路機構、特定用途集積回路(ASIC)、または、プログラムされた汎用コンピュータのひとつ以上を含み得る。これらの可能的要素の各々は、上記DIALデータ・プロセッサの決定、見積もりおよび計算の各機能の少なくともひとつを実施すべく使用され得る。
DIALシステムの典型的な使用法は、パイプラインもしくは貯蔵タンクの漏出もしくは流出物から、または、火山もしくは地熱排出口の如き自然の原因から帰着する目標分子を含むプルームを特定することであり得る。低いSNRに加え、他の要因が、プルーム箇所と非プルーム箇所とを区別するDIALシステムの能力に影響することもある。たとえば漏出プルームのCPL空間分布は、漏出のサイズ、漏出に最も近い領域の粗さ、時間、温度、および、風速の関数であり得る。
測定されたプルームのサイズは、DIALビームのビーム経路に対するプルームの共通部分である。空気中における完全なプルームは火炎燭のように見えると共に、中心のCPLは周囲のプルーム領域よりも高い(空間的にほぼ正規分布される)。プルームのサイズは、漏出の速度に関連する。穏やかな大気において、漏出に対して領域が近いほどCPLは大きく、且つ、測定箇所がプルームの中心に近いほどCPLは大きいが、空気もしくは水の相当な動きがあるなら、プルームは動き回ることから精密照準することが困難であり得る。故に、種々のプルームの空間分布を特性解析することは困難なことが判明し、CPL決定における高い精度に対する要望に繋がり得る。
図6は、本発明の代表的方法の概要を例証している。これらの代表的方法は、図1の代表的DIALシステムの如きDIALシステムを用いて実施され得る。ステップ600において、上記DIALシステムは、所定数の測定箇所に亙りスキャンされると共に、n次元信号が記憶される。ステップ602においては、このn次元信号から、オフラインおよびオンラインのパルス、パワーおよび断面積が見出されて算出される。ステップ604にては、ソルト・アンド・ペッパー型ノイズが除去されてDIALデータの品質が改善され得る。
ステップ606にては上記DIAL信号から2次元空間データが生成され得、その場合に各測定箇所はn次元ベクトルにより表される。ステップ608にては、各測定箇所の回りにおける円形の関心領域(ROI)が選択される。各円形ROIは好適には、m個の測定箇所を含む。
ステップ610にては、各円形ROIにおける測定箇所に伴うデータの平均値が計算される。これらの平均値は、それらの夫々の円形ROIに亙り均一であり得るか、または、たとえば各円形ROIの中心からの各測定箇所の距離により、各ROI内の測定箇所が重み付けされ得る。
次にステップ612においては、ステップ610からの平均化データを用いて各測定箇所に対するCPLが算出される。当業者により理解され得る如く、ステップ600において記憶された信号を用いてCPLを算出する前に上記DIALシステムが較正されることが好適である。
図2は、所定の測定箇所の回りにおけるROIの全体に亙り測定済みパルス・エネルギ値を平均することにより該測定箇所におけるDIALシステムに対するCPL計算の精度を改善する本発明に係る代表的方法を相当に詳細に示している。
ステップ200においては、DIALビームが一連の測定箇所を透過される如く該DIALビームがスキャンされる。図1に関して上述された如く、上記DIALビームは、実質的に共直線的に送出されるオンライン・レーザビームおよびオフライン・レーザビームを含む。上記DIALビームによりスキャンされる測定箇所は、均一または不均一に分布され得る。図3Aは代表的な均一で線形のスキャン・パターン300で配置された測定箇所302を示し、且つ、図3Bは代表的な不均一で線形のスキャン・パターン310で配置された測定箇所302を示している。これらのスキャン・パターンは例示的にすぎず、限定は意図されない。特に、図3Aおよび図3Bに示された六角形の線形パターンと対照的な矩形の線形パターンが、密接し又は重なり合いさえする測定箇所によるスキャン・パターンとして使用され得る。而して、表面状態に依存し、または、所定のDIAL用途に固有の他の状況に依存し、不規則に変化するスキャン・パターンも使用され得ることが企図される。
図3Cは、円形スキャン・パターン324を示している。この代表的スキャン・パターンにおいて測定箇所302は、DIALシステムが飛行経路326に沿い移動されるにつれて複数の円形で取り込まれる。この例から理解され得るように、円形スキャン・パターン324における各測定箇所はスキャン・パターンの縁部の近傍にて集中されると共に、多くの場合に広範囲に重なり合い得る。
ステップ202にては、複数の測定箇所に対応して送出されたオンライン・レーザビームおよびオフライン・レーザビームのパルス・エネルギが測定される。これらの送出されたパルス・エネルギは好適には、平均計算において使用されるべく記憶される。ステップ204にては、対応して受信された一群のオンラインおよびオフライン・パルス・エネルギも測定される。これらの測定されたパルス・エネルギに関しては中央値フィルタまたは他の所望のフィルタが使用されることで、データにおけるソルト・ペッパー(スパイク)ノイズが除去されるか、または、上記データが別様に前処理され得る。既知のシステム特性に基づく目盛修正も実施されることで、測定済みデータが好適にスケール調節され得る。
次にステップ206にては、平均計算のために一度にひとつの測定箇所が選択され、パルス・エネルギ・データのSNRが好適に改善される。ステップ208にては、選択された測定箇所の回りのROI内における測定箇所の部分集合が選択される。図3Aおよび図3Bは、3つの測定箇所に対する代表的なROIを示している。図3Aにおいては、均一に分布された測定箇所302により、選択されて黒色で示された測定箇所306の回りにROI 304が示される。ROI 304における測定箇所の部分集合は、選択された1個の測定箇所306と、明瞭化のために灰色で示された36個の最近傍箇所306とを含んでいる。図3Bは、選択された測定箇所314および320の回りにおける2個のROI 312および318を示しており、その各々は36個の最近傍箇所316および322を含んでいる。図3Bに示された如く、ROI 318はROI 312よりも大きく、且つ、最近傍箇所322は、スキャン・パターン310のX方向における測定箇所302の可変的分布の故に、僅かに異なるように配置される。この例においてROIのサイズは、最近傍箇所の個数が一定のままである如く変更される。代替的に、不均一なスキャン・パターンが使用されるとき、ROIは一定のままであり得ると共に、代わりに、部分集合に含まれる最近傍箇所の個数が変化することが企図される。
図3Aおよび図3Bの好適実施例においては36個の最近傍箇所を含むROIが示されたが、他の個数の最近傍箇所を含むROIが使用され得ることを銘記されたい。たとえば、密接する測定箇所による代表的な線形スキャン・パターンにおいて、DIALビームのビーム半径の略々5倍の半径を有するROIは好適に、約25個の測定箇所、すなわち、選択された1個の箇所および約24個の最近傍箇所を囲繞し得る。種々のスキャン・パターンにおけるROIの所望半径は、上記DIALシステムのパラメータから学習されると共に、固定された初期ROI円形の箇所の密度に基づいてルックアップ・テーブルに記憶され得るか、または、DIALデータから適応的に決定され得る。
ステップ212においては、測定箇所のROI部分集合を用いて、種々のパルス・エネルギの平均値が計算される。送出された平均オンライン・パルス・エネルギは、選択されたROI部分集合の測定箇所のオンライン・レーザビームの送出パルス・エネルギから計算される。送出された平均オフライン・パルス・エネルギは、選択されたROI部分集合の測定箇所のオフライン・レーザビームの送出パルス・エネルギから計算される。受信された平均オンライン・パルス・エネルギは、選択されたROI部分集合の測定箇所のオンライン・レーザビームの受信パルス・エネルギから計算される。また、受信された平均オフライン・パルス・エネルギは、選択されたROI部分集合の測定箇所のオフライン・レーザビームの受信パルス・エネルギから計算される。これらのパルス・エネルギにおいては、均一で、重み付けされない又は重み付けされた平均化が使用されることで、DIALデータのSNRが改善され得る。この操作は、低域通過フィルタと、信号、画像、または、概略的空間データとの間における畳み込みとしても理解され得る。
均一な平均化とは、関心箇所を囲繞するn個の最近傍(NN)箇所の全てが等しく重み付けされて平均値:
Figure 2009508108
を算出することであり、式中、EiKは、選択された箇所iの回りにおけるROI部分集合の第K番目の箇所に対して測定されたパルス・エネルギ値であり、且つ、Ei0は、選択された測定箇所の測定済みパルス・エネルギ値である。
重み付けされた平均化とは、フィルタまたはNNの重み付けが均一でないことを意味し、たとえば重み付けは、選択された箇所とNN箇所との間の距離に基づき得る。ガウス核は、斯かる代表的な重み付け関数のひとつである。上記DIALシステムにおいて円形スキャナが使用されてパルス・エネルギ・データが収集されるなら、ガウス核の使用は好適であり得る。この状況において測定箇所サンプリングの密度はスキャン領域またはROIの全体に亙り均一でないこともあり、且つ、ガウス核によれば、平均値に関して更なる影響を有する更に接近したNN箇所が許容される。
所定の測定箇所に対するROI部分集合における各測定箇所が一旦決定されたなら、対応するパルス・エネルギが円形ガウス核により畳み込まれることで、重み付き平均値が計算され得る:
Figure 2009508108
これはσ=1で始まり、または、XおよびY次元において異なる縮尺の場合には、
Figure 2009508108
であり、式中、インデックスi0は、選択された測定箇所を表し、且つ、iKは、ROI部分集合におけるn個のNN箇所の内の1個の箇所を表している。故にi0箇所の重みは1である。上記畳み込みは、空間的平均化を達成すべく好適には正規化されることを銘記されたい。
たとえば、Eon-r iKは、ROI部分集合における第K番目の箇所のオンライン受信エネルギとする。その場合、n個のNN箇所に亙りガウス的に重み付けされた空間的平均は、
Figure 2009508108
により算出され得る。
ステップ214において、選択箇所のこれらの平均パルス・エネルギ値(送出された平均のオンライン・パルス・エネルギ、送出された平均のオフライン・パルス・エネルギ、受信された平均のオンライン・パルス・エネルギ、および、受信された平均のオフライン・パルス・エネルギ)は、選択されたひとつの測定箇所に対するDIALビームの濃度経路長(CPL)を計算するために用いられる。この計算は、上記DIAL式、すなわち式1を用いて実施され得る。
次の測定箇所が選択され得ると共に、測定箇所の全てに対するCPLが計算されるまでステップ208、212および214が反復され得る。ステップ208、212および214は異なる複数の測定箇所に対して並列に実施され得るが、これらのステップは、図2の代表的方法においては例示目的で、異なる複数の測定箇所に対して順次に実施されるものとして記述されることを銘記されたい。
図6に戻ると、測定箇所のCPLが一旦計算されたなら、次のステップは、該測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定することである。DIAL信号の低SNRの克服を助力するために、測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定すべく確率論的手法が使用され得る。
ステップ614においては、一次の誤差伝搬に基づき、各測定箇所におけるCPL分散が計算され得る。ステップ616においては、局所的非プルーム分布を用いて、各測定箇所に対するCPL尤度(ゆうど)スレッショルド値が計算され得る。この局所的非プルーム分布を決定する方法は、図4に関して以下に記述される。各測定箇所に対するCPL尤度は、ROIを用いてステップ618においても計算され得る。
次にステップ620においては、各測定箇所のCPL尤度と、対応するCPL尤度スレッショルド値との比較に基づき、上記測定箇所がプルーム箇所または非プルーム箇所として分類され得る。
図4は、測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを、その測定箇所のCPLに基づいて決定する本発明に係る2つの斯かる代表的方法を詳細に示している。
P(ω1)、P(ω2)、p(X|ω1)、p(Xω2) は夫々、クラス1(バックグラウンド:非プルーム)およびクラス2(目標:プルーム)の事前確率および確率密度関数であるとする。
決定を行うためのベイズの規則は、“p(X|ω1)P(ω1)>p(X|ω2)P(ω2) ならば、Xはクラス1に分類され、そうでなければXはクラス2に分類される”と述べられ得る。
このベイズの規則は以下の如く書き換えられ得る: もしln[p(X|ω1)P(ω1)]>ln[p(X|ω2)P(ω2)]⇒ln[P(ω1)/P(ω2)]+ln[p(X|ω1)/p(X|ω2)]>0なら、Xはクラス1に分類され、そうでなければクラス2に分類される。
この規則は最尤規則(MLR)と称される。もし、クラス1および2に対する確率密度関数が正規分布していると仮定されるなら、MLRは次式として表現され得る:
Figure 2009508108
式中、パラメータ (/X11) および (/X22) は夫々、クラス1および2の平均および標準偏差である。
本発明の好適実施例は、DIAL信号データ群から生成された画像を用いてガス漏出を検出する方法である。図4には、斯かる2つの代表的方法が示される。これらの方法において、ステップ400にては、複数個の測定箇所のCPLが決定される。この決定は、図2の代表的方法を用いて行われ得るか、または、測定されたパルス・エネルギ・データを用いて行われ得る。
もし、収集された複数のCPLが非プルーム分布およびプルーム分布の両方を含むことが仮定され、更に、CPL値が正規分布しており且つこれらの2つの分布の平均および標準偏差が既知であることが仮定されるなら、MLRは次式として表現され得る:
Figure 2009508108
プルーム(目標)CPLサンプル箇所を収集かつ特性解析して (CPLplume,CPLsd plume) を見積もることは非常に不経済かつ困難であり得る。しかし、非プルーム(バックグラウンドCPL)サンプル箇所を収集し、主として局所的平均バックグラウンド CPL(CPLnonplume) を見積もることは比較的に容易であり得る。たとえば、一切のプルームを有さないことが既知である近傍領域における一群の非プルーム・サンプル箇所が測定され得る。代替的に、複数の測定箇所内における明らかな一群の非プルーム箇所が特定され得る。その場合、これらの局所的非プルーム分布は平均され得る。
非プルームに対する平均CPLは、バックグラウンドにおける目標ガスの濃度と有効距離(高度)との積に関するものである。但し実際問題として、表面被覆物の種類による反射率、低いSNR、および、他の原因による干渉ノイズにより、バックグラウンド(クラッタ)CPLは可変的に大きくなり得る。
非プルームが正規分布であると仮定すると、下記の確率または等価的な尤度の使用が好適であり得ることが示唆される:
Figure 2009508108
Figure 2009508108
Figure 2009508108
Figure 2009508108
Figure 2009508108
および、
Figure 2009508108
故に、たとえば、見積もられた濃度経路長の確率が 0.997 未満であり、または、CPL尤度値が−0.0030 未満であるなら、見積もられたCPLは非プルームに由来すると決定することが好適であり得る。
しかし、
Figure 2009508108
Figure 2009508108
または、
Figure 2009508108
という状況において cplsigma=cplsd なら、見積もられた cpl はプルーム分布を表すと決定され得る。
更に、SNRが低いとき、すなわち帰還信号が小さいときにCPLを見積もる際の誤差は大きく、且つ、SNRが高いとき、すなわち帰還信号が大きいときに誤差は小さいことから、CPLの平均は局所的非プルームCPLサンプルに基づいて見積もられ得ると共に、CPLの標準偏差は各サンプルに対して適応的に見積もられ得る。故に決定規則は、式13〜15に基づき、且つ、局所的な平均CPLおよび標準偏差値の値を用いて生成され得る。
各測定箇所に対する局所的CPL平均値の生成に使用されるべく、各測定箇所の回りにおける測定箇所の局所的部分集合が特定される。この局所的部分集合は、図3Aおよび図3Bに関して上述されたROI部分集合と同様に選択される。もし測定箇所のCPLを決定するために図2の上記代表的方法が使用されるなら、上記局所的部分集合はこれらの計算において使用されるROI部分集合と同一とされ得るが、このことは必須ではない。
ステップ402においては、局所的部分集合の各々の平均CPLが計算される。ステップ404においては、一次の誤差伝搬に基づき、局所的部分集合の各々のCPL標準偏差が計算され得る。これらのCPL標準偏差を計算する代表的方法は、以下において式22〜式33aを参照して記述される。
これらの局所的部分集合値はステップ408において以下の決定規則において尤度値を算出するために使用されることで、局所的非プルーム分布のみに基づいてDIALデータ群における各測定箇所をプルーム箇所または非プルーム箇所としてラベル付けし得る。これらの尤度値 CPL LL は、
Figure 2009508108
を用いて決定され得る。
次に、種々の測定箇所の尤度値は、以下のCPLスレッショルド値レベルと比較され得る:
Figure 2009508108
式中、Tはスレッショルド標準偏差レベルである。
ステップ410においては、測定箇所に対するCPL尤度値がその箇所に対するCPLスレッショルド値レベル未満であれば、測定箇所は非プルーム箇所であると決定される。Hooshmand 決定規則(HDR)として知られるこの規則は、
Figure 2009508108
として表現され得る。
CPL LL および CPL LLthreshold から同一の定数項を減算すると、以下の式に帰着する:
Figure 2009508108
および、
Figure 2009508108
式19および式20における共通の第1項を消去し、残りの項を式18に代入すると以下の式に帰着し:
Figure 2009508108
次に、両辺に−2を乗算すると、HDRの計算的に簡素化された形態である:
Figure 2009508108
または等価的に、
Figure 2009508108
が得られ、式中、/CPL は、先行して収集された非プルーム訓練サンプルから見積もられ、または、相当な確かさで非プルームと分類された箇所の移動平均に基づいて適応的に見積もられると共に、(CPLsd) は式33および式33aに基づいて見積もられる。
各測定箇所の完全なCPL尤度値およびCPLスレッショルド値レベルを最初に計算せずに、ステップ406にては、HDRのこの計算的に簡素化された形態は、測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定すべく使用され得る。
図6に戻ると、低いSNRによるDIALデータに基づき測定箇所をプルーム箇所または非プルーム箇所に分類するときに生じ得る別の問題は、その分類が誤りであり得ることである。しばしば生じ得るのであるが、特に、数個の近傍測定箇所が正しくプルーム箇所として分類されるならば、不正確に非プルーム箇所として分類された測定箇所に対し、その偽の分類はそれほどの問題を引き起こさないこともある。しかし、プルーム箇所として不正確に分類された測定箇所に関し、その偽の分類は相当の問題を引き起こすことがある。これが何故かと言えば、斯かる偽の警報は、パイプラインの作動停止、または、他の予防的もしくは修復的な処置に繋がり得るからである。
上述のHDRの如き確率論的判断基準に基づいて測定箇所が分類される場合、偽の警報に対する可能性が常に存在する。故に、可能的なラベル付けの不正確さ、すなわち偽の警報の回数を減少するために空間的情報を使用することが好適であり得る。
この目標を達成するために、ステップ622にては、先に特定された各プルーム箇所の円形ROIにおいて該プルーム箇所に対する同時尤度が算出され得る。次にステップ624にては、先に特定された各プルーム箇所の同時尤度を上記CPL尤度スレッショルド値と比較してこの比較に基づき、これらのプルーム箇所が再分類され得る。
図5は、偽の警報の回数を減少する本発明に係る代表的方法を詳細に示している。この代表的方法におけるステップ500にては、複数個の測定箇所のCPLが決定される。図4の代表的方法におけるのと同様に、この決定は、図2の代表的方法を用いて行われ得るか、または、測定されたパルス・エネルギ・データを用いて行われ得る。ステップ502においては、各測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかに関する予備決定が行われる。上記代表的方法のこの段階において、各測定箇所は接近しすぎてラベル付けできないと決定され得ることを銘記されたい。斯かる箇所は、不確定ラベル付き箇所として特定され得る。各測定箇所の分類は好適には図4の代表的方法の内のひとつの方法を用いて為され得るが、測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定すべく他の方法も使用され得る。
ステップ504にては、プルーム箇所もしくは不確定ラベル付き箇所として特定された各測定箇所の内のひとつの箇所、すなわち第i番目の測定箇所が選択されると共に、該第i番目の測定箇所の回りにおける最近傍部分集合が特定される。上記測定箇所の最近傍部分集合はK個の測定箇所を含み、これらの測定箇所は、図2または図4のいずれかの代表的方法が使用されるなら、図2および/または図4の代表的方法において使用された部分集合の一方もしくは両方と同一のK個の測定箇所であり得るが、このことは必須ではない。図5の代表的方法は、不確定ラベル付き箇所を分類すべく使用され得、その場合にはステップ504において不確定ラベル付き箇所のみが選択され、もしくは、該代表的方法は偽のプルーム箇所を検査すべく使用され得、その場合にはステップ504においてプルーム箇所のみが選択され、または、図5の代表的方法は不確定ラベル付き箇所を分類すると共に偽のプルーム箇所を検査すべく使用され得、その場合にはステップ504において不確定ラベル付き箇所およびプルーム箇所の両方が選択されることを銘記されたい。
{cplij,j=1, 2,…K}を、第i番目の測定箇所の回りにおける空間的なNNの最近傍部分集合のK個の測定箇所の夫々のCPLとする。故に、
Figure 2009508108
である。
もし、上記最近傍部分集合の測定箇所の同時確率関数が独立的に正規分布していると仮定されるなら、上記式23は、
Figure 2009508108
Figure 2009508108
または、
Figure 2009508108
と書き換えられ得る。
同様に、対応するCPLスレッショルド値レベルは次式により計算され得る:
Figure 2009508108
またしても、式26および式27における共通の第1項を消去すると、HDRが得られる:
Figure 2009508108
または、
Figure 2009508108
式中、/CPL は、先行して収集された非プルーム訓練サンプルから見積もられ、または、相当な確かさで非プルームと分類された箇所の移動平均に基づいて適応的に見積もられると共に、(CPLsd) は式33および式33aに基づいて見積もられる。
ステップ506にては、式26および式27を利用するために、ひとつの最近傍箇所、すなわち第j番目の測定箇所が選択される。ステップ508にては、第j番目の測定箇所御の回りで相当な確かさで分類された非プルーム測定箇所の局所的部分集合のCPLの移動平均CPLすなわち/CPLijが適応的に計算され、且つ、ステップ510にては、上記最近傍部分集合における各測定箇所のCPLの標準偏差 (CPLsd)j が式33および式33aに基づいて計算される。この測定箇所の局所的部分集合は上記最近傍部分集合と同一サイズであり得るが、このことは必須ではない。たとえば、上記最近傍集合における箇所の幾つかは除去され得る。
次にステップ512にては、上記局所的部分集合における測定箇所の全てに対して /CPLij および (CPLsd)j が計算されたか否かが決定される。もしそれらが計算されていなければ、ステップ506、508、510および512が反復される。もし計算されていれば、ステップ514にては、選択されたプルーム箇所に対するCPL同時尤度値が式26を用いて計算され得る。
ステップ516にては、選択されたプルーム箇所のCPL同時尤度値が、上記におけるHDRと同様に、対応するCPLスレッショルド値レベルと比較されて、上記選択された箇所がプルーム箇所であるか非プルーム箇所であるかが決定される。選択された箇所が非プルーム箇所であると決定されたならば、それは非プルーム箇所としてラベル付けされ、且つ、選択された箇所がプルーム箇所であると決定されたならば、それはプルーム箇所としてラベル付けされる。
次にステップ518にては、プルームおよび/または不確定とラベル付けされた箇所の全てが検査されたか否かが決定される。もし所望の箇所の全てが検査されているのでなければ、ステップ504にては別の箇所が選択されると共に、上記処理が反復される。もし所望の箇所の全てが検査されたなら、ステップ520にて、残存する全てのプルーム箇所は真のプルーム箇所と見做されると共に、上記代表的方法は完了する。
図6に戻ると、再分類されたプルーム箇所が一旦決定されたなら、ステップ626にて、これらの箇所は近傍プルーム箇所と組み合わされることで近傍プルーム・クラスタを形成し得る。ステップ628にては、これらの近傍プルーム・クラスタの各々がラベル付けされ得ることから、種々の近傍プルーム・クラスタがそのラベルにより特定され得る。一切の近傍プルーム箇所を有さないプルーム箇所は疑わしくあり得、且つ、斯かる孤立したプルーム箇所が偽のプルーム箇所でないことを確認するためにこれらの孤立したプルーム箇所を付加的に精査することは好適であり得ることを銘記されたい。
次にステップ630にては、関連する空間的データを用いて上記プルームCPLクラスタが表示されることで、各プルームの場所および範囲が視覚的に表され得る。
一次の誤差伝搬に基づき、CPL分散は、
Figure 2009508108
または、等価的に、
Figure 2009508108
により計算され得る。
[1/SNRt off2、[1/SNRt off2 および COVARIANCE TERMS は相対的に非常に小さいので、各箇所におけるCPL分散は、
Figure 2009508108
により見積もられ、且つ、CPL標準偏差 CPLsd は、
Figure 2009508108
により見積もられる。
実施に際して CPLsd は以下の誘導に基づき、送出されたオンラインおよびオフライン・レーザ・パルス・エネルギもしくは平均パワー、帰還したオフライン・エネルギもしくは平均パワー、フィルタリングされた平均断面積、および、平均CPLから見積もられ得る(簡潔さのために以下の各式においては、オフラインおよびオンライン関連の測定値を表すべく下付き文字fおよびoが夫々使用されると共に、送出および受信関連の測定値を表すべく上付き文字tおよびrが夫々使用されることを銘記されたい):
Figure 2009508108
故に式31は、
Figure 2009508108
または、
Figure 2009508108
と書き換えられ得る。
これは、以下の考察に繋がり得る:
1.SNRが大きいとき、Er f/Et f、Er o/Et o、または、Er f/Er o*Et f/Et oの分布もしくはそれらのlog分布が好適に使用されることで、非プルーム箇所またはプルーム箇所が検出され得る。残念乍ら、実施に際しては可変的なバックグラウンド・クラッタがSNRを相当に減少することから、測定箇所の正確な分類は解決困難な問題となり得る。
2.式33および式33aにおいては、最近傍部分集合においてフィルタリングされた平均σ(λo) が、断面積の局所的改善見積もり値として好適に使用され得る。
3.式33および式33aにおいて、最近傍部分集合における相当に確かな非プルームCPLの平均値は、非プルームCPL平均値の局所的改善見積もり値として使用され得る。
4.式33および式33aは、表面反射率が低くなるほど、Er fは低くなり且つ CPLsd は高くなることを示唆している。逆もまた真である。(すなわち、表面反射率が高くなるほど、Er fは高くなり且つ CPLsd は低くなる。)
5.CPLの単位は、断面積の単位の逆であることを銘記されたい。式33および式33aにおいて断面積の単位はm2/分子である。故に、CPLの単位は分子/m2である。但し、この単位は上記の各式において、Naを空気密度として、σ(λo)をσ(λo)Na/106で置き換えることで ppm・m へと変換され得る。
6.理想的には非プルームCPLは〜0であるべきだが、先に言及された如く表面被覆物の種類による反射率の変動の故に、Er fは変動し、この変動は非ゼロの非プルームCPL値に繋がる。
7.代表的なDIALシステムは、選択された既知のバックグラウンド表面反射率値を有する既知の利用可能なプルーム箇所の値に基づき、目標ガス毎に較正され得る。これらの値は、加法的および乗法的な較正係数を見積もるべく使用され得る。但し、加法的な較正係数は、表面被覆物の種類に関連する変数により調節されたCPLバイアスに対する補正を許容しないこともあることを銘記されたい。
8.更に、単一箇所に基づいて導出された式22および式22aの尤度規則および導出された式28および式28aの同時尤度規則の代わりに、見積もられたCPLが非プルーム系分布に由来するのかプルーム系分布に由来するのかを識別すべく、T−検査またはANNOVA検査も使用され得ることを銘記されたい。
9.局所的CPLサンプル平均はまた、T−検査またはANNOVA検査において使用されることで、最近傍部分集合において見積もられた局所的CPLサンプル平均が非プルーム系分布に由来するのかプルーム系分布に由来するのかを識別するためにも使用され得る。
上述の如く、式33および式33aにおいて、CPLsd の単位はm2/分子である。式34および式35は、ppm・m の単位で CPL および CPLsd を計算するために使用され得る。
Figure 2009508108
Figure 2009508108
以下においては、式35の一次近似が導かれることで、上記決定規則の更に良好な理解が提供される。この近似は、[Et f/Et o]〜1と仮定することで始まる。この制限において、
Figure 2009508108
である(テイラー級数近似)。
この近似を、2[10-6aσ(λo)cpl]≫1の場合に対して続けると、
Figure 2009508108
が得られる。
式37の近似に基づくと、式35は式38へと変形され得る:
Figure 2009508108
単一箇所および最近傍(NN)箇所に対するこの近似 CPLsd に基づくと、
Figure 2009508108
または、
Figure 2009508108
により結合決定規則が与えられ得る。
同様に、NNに基づく決定規則は、
Figure 2009508108
により与えられ得る。
本発明は、代表的DIALシステムにおいてデータのSNRを改善する代表的方法を包含する。これらの代表的方法によれば、代表的DIALシステムによるプルーム箇所の特定における精度が高められ得る。斯かる手法は、化学物質の漏出および汚染の遠隔探査の如き多数の技術において有用であり得る。本発明は本明細書において特定実施例に関して図示かつ記述されたが、本発明は示された詳細に限定されることを意図していない。寧ろ上記詳細においては、各請求項の均等物の有効範囲および包括範囲内において且つ本発明から逸脱せずに、種々の改変が為され得る。
図1は、本発明に係る代表的な差分吸収LIDAR(DIAL)システムを例示する概略的ブロック図である。 図2は、濃度経路長を決定する本発明に係る代表的な方法を例示するフローチャートである。 図3Aは、本発明に係る代表的な線形スキャン・パターンに関して均一に分布された測定箇所に対する関心部分集合の測定箇所の代表的領域を例示する概略図である。 図3Bは、本発明に係る別の代表的な線形スキャン・パターンに関して可変的に分布された測定箇所に対する関心部分集合の測定箇所の2つの代表的領域を例示する概略図である。 図3Cは、本発明に係る代表的な円形スキャン・パターンに関して可変的に分布された測定箇所を例示する概略図である。 図4は、測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する本発明に係る2つの代替的な代表的方法を例示するフローチャートである。 図5は、偽のプルーム箇所を特定する本発明に係る代表的方法を例示するフローチャートである。 図6は、DIALシステムを用いてプルームを特定する本発明に係る代表的方法を例示するフローチャートである。 図7は、DIALシステムを用いてプルームを特定する本発明に係る別の代表的方法を例示するフローチャートである。 図8は、DIALシステムを用いてプルームを特定する本発明に係る更なる代表的方法を例示するフローチャートである。

Claims (31)

  1. 差分吸収LIDAR(DIAL)システムにおいて信号対ノイズ比を改善する方法であって、
    a)実質的に共直線的に送出されたオンライン・レーザビームおよびオフライン・レーザビームを含むDIALビームが複数個の測定箇所を透過される如く該DIALビームをスキャンする段階と、
    b)上記複数個の測定箇所に対応する上記オンライン・レーザビームの複数の送出パルス・エネルギおよび上記オフライン・レーザビームの複数の送出パルス・エネルギを測定する段階と、
    c)上記複数個の測定箇所に対応する上記オンライン・レーザビームの複数の受信パルス・エネルギおよび上記オフライン・レーザビームの複数の受信パルス・エネルギを測定する段階と、
    d)ひとつの測定箇所を選択する段階と、
    e)上記選択されたひとつの測定箇所の回りの関心領域(ROI)内における測定箇所のROI部分集合を選択する段階と、
    f)上記選択されたひとつの測定箇所に対し、
    上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、送出された平均オンライン・パルス・エネルギと、
    上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、送出された平均オフライン・パルス・エネルギと、
    上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、受信された平均オンライン・パルス・エネルギと、
    上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギに由来する、受信された平均オフライン・パルス・エネルギと、
    を計算する段階と、
    g)上記選択されたひとつの測定箇所に対し、上記送出された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記送出された平均オフライン・パルス・エネルギと、上記受信された平均オンライン・パルス・エネルギと、上記受信された平均オフライン・パルス・エネルギとを用いて、上記DIALビームの濃度経路長(CPL)を計算する段階と、
    を備えて成る方法。
  2. 前記段階(a)は、前記DIALビームが透過される前記複数個の測定箇所が均一に分布される如く上記DIALビームをスキャンする段階を含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記選択されたひとつの測定箇所の回りにおける前記ROIは、該選択されたひとつの測定箇所上に中心合わせされた円であって所定半径を有する円である、請求項2に記載の方法。
  4. 前記複数個の測定箇所は実質的に密接しており、且つ、
    前記ROIの前記所定半径は前記DIALビームのビーム半径の略々5倍である、
    請求項3に記載の方法。
  5. 前記段階(a)は、前記DIALビームが透過される前記複数個の測定箇所の密度が変化する如く上記DIALビームをスキャンする段階を含む、請求項1に記載の方法。
  6. 前記選択されたひとつの測定箇所の回りにおける前記ROIは、上記選択されたひとつの測定箇所上に中心合わせされた円であり、且つ、
    上記円の半径は、上記ROIが所定個数の測定箇所を含む如く選択される、
    請求項5に記載の方法。
  7. 測定箇所の前記所定個数は約25である、請求項6に記載の方法。
  8. 前記段階(f)は、
    f1)前記送出された平均オンライン・パルス・エネルギを、前記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された前記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付きなし平均値であるとして計算する段階と、
    f2)前記送出された平均オフライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された前記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付きなし平均値であるとして計算する段階と、
    f3)前記受信された平均オンライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付きなし平均値であるとして計算する段階と、
    f4)前記受信された平均オフライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付きなし平均値であるとして計算する段階と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  9. 前記段階(f)は、
    f1)前記送出された平均オンライン・パルス・エネルギを、前記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された前記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付き平均値であるとして計算する段階と、
    f2)前記送出された平均オフライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所に対して送出された前記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付き平均値であるとして計算する段階と、
    f3)前記受信された平均オンライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オンライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付き平均値であるとして計算する段階と、
    f4)前記受信された平均オフライン・パルス・エネルギを、上記選択されたROI部分集合の測定箇所から受信した上記オフライン・レーザビームのパルス・エネルギの重み付き平均値であるとして計算する段階と、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記段階(f1)、(f2)、(f3)および(f4)の重み付き平均値は円形ガウス核重み付け関数に従い計算される、請求項9に記載の方法。
  11. h)前記測定箇所の全てが段階(d)において選択されるまで段階(d)、(e)、(f)、(g)および(h)を反復する段階を更に備えて成る、請求項1に記載の方法。
  12. i)各測定箇所に対し、段階(g)において計算された対応CPLを用いて、該測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する段階を更に備えて成る、請求項11に記載の方法。
  13. 前記段階(i)は各測定箇所に対し、
    i1)平均の非プルームCPLすなわち/CPLを提供する段階と、
    i2)一次の誤差伝搬に基づいて、各測定箇所の標準偏差CPLsdを計算する段階と、
    i3)cplは段階(g)において計算された測定箇所の対応CPLであるとして、各測定箇所のCPL尤度値
    Figure 2009508108
    を計算する段階と、
    i4)Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記CPL尤度値がCPLスレッショルド値レベル
    Figure 2009508108
    未満であるならば、上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定する段階と、
    を含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記平均の非プルームCPLは各測定箇所の局所的非プルーム分布に基づく、請求項13に記載の方法。
  15. 前記平均の非プルームCPLは、訓練のための一群の非プルーム測定箇所に基づく、請求項13に記載の方法。
  16. 前記段階(i)は各測定箇所に対し、
    i1)平均の非プルームCPLすなわち/CPLを提供する段階と、
    i2)一次の誤差伝搬に基づいて、各測定箇所の標準偏差CPLsdを計算する段階と、
    i3)cplは段階(g)において計算された測定箇所の対応CPLであり且つTはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、
    Figure 2009508108
    という Hooshmand 決定規則(HDR)が満足されるときに、上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定する段階と、
    を含む、請求項12に記載の方法。
  17. 前記平均の非プルームCPLは各測定箇所の局所的非プルーム分布に基づく、請求項16に記載の方法。
  18. 前記平均の非プルームCPLは、訓練のための一群の非プルーム測定箇所に基づく、請求項16に記載の方法。
  19. j)段階(i)において決定された各プルーム箇所に対し、段階(g)において計算されたCPLを用い、該プルーム箇所が偽のプルーム箇所であるか否かを決定する段階、
    を更に備えて成る、請求項12に記載の方法。
  20. 段階(i)において決定されたプルーム箇所の内の第i番目のプルーム箇所に対し、前記段階(j)は、
    j1)上記第i番目のプルーム箇所の最近傍部分集合の測定箇所であって、上記プルーム箇所と、所定個数(K−1)の最近傍測定箇所とを含むという最近傍部分集合の測定箇所から、第j番目の測定箇所を選択する段階と、
    j2)上記第j番目の測定箇所の回りにおける測定箇所の局所的部分集合のCPLの平均CPLすなわち/CPLij計算する段階と、
    j3)一次の誤差伝搬に基づいて、上記局所的部分集合における各測定箇所の標準偏差(CPLsdjを計算する段階と、
    j4)j=1〜Kに対して上記段階(j1)、(j2)および(j3)を反復する段階と、
    j5)cplijは段階(g)において計算された第j番目の測定箇所の対応CPLであるとして、第i番目のプルーム箇所のCPL尤度値
    Figure 2009508108
    を計算する段階と、
    j6)Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記第i番目のプルーム箇所の上記CPL尤度値が該第i番目のプルーム箇所のCPLスレッショルド値レベル
    Figure 2009508108
    未満であるならば、上記第i番目のプルーム箇所は偽のプルーム箇所を表すと決定する段階と、
    を含む、請求項19記載の方法。
  21. 前記測定箇所の最近傍部分集合の前記所定個数は24である、請求項20に記載の方法。
  22. 差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて測定された測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する改善された方法であって、
    a)複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)を決定する段階と、
    b)平均の非プルームCPLすなわち/CPLを提供する段階と、
    c)各測定箇所に対し、一次の誤差伝搬に基づいて、標準偏差CPLsdを計算する段階と、
    d)各測定箇所に対し、cplは上記測定箇所の対応CPLであるとして、CPL尤度値
    Figure 2009508108
    を計算する段階と、
    e)各測定箇所に対し、Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記CPL尤度値がCPLスレッショルド値レベル
    Figure 2009508108
    未満であるならば上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定する段階と、
    を含む方法。
  23. 前記平均の非プルームCPLは各測定箇所の局所的非プルーム分布に基づく、請求項22に記載の方法。
  24. 前記平均の非プルームCPLは、訓練のための一群の非プルーム測定箇所に基づく、請求項22記載の方法。
  25. 差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて測定された測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する改善された方法であって、
    a)複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)を決定する段階と、
    b)平均の非プルームCPLすなわち/CPLを提供する段階と、
    c)各測定箇所に対し、一次の誤差伝搬に基づいて、標準偏差CPLsdを計算する段階と、
    d)各測定箇所に対し、cplは段階(g)において計算された測定箇所の対応CPLであり且つTはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、
    Figure 2009508108
    という Hooshmand 決定規則(HDR)が満足されるときに、上記測定箇所は非プルーム箇所を表すと決定する段階と、
    を含む方法。
  26. 前記平均の非プルームCPLは各測定箇所の局所的非プルーム分布に基づく、請求項25に記載の方法。
  27. 前記平均の非プルームCPLは、訓練のための一群の非プルーム測定箇所に基づく、請求項25記載の方法。
  28. 差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて特定された偽のプルーム箇所を発見する改善された方法であって、
    a)複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)を決定する段階と、
    b)各測定箇所に対し、対応CPLを用いて、該測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのかを決定する段階と、
    c)上記段階(b)において決定された各プルーム箇所の内のひとつのプルーム箇所の最近傍部分集合の測定箇所であって、上記プルーム箇所と、所定個数(K−1)の最近傍測定箇所とを含むという最近傍部分集合の測定箇所から、第j番目の測定箇所を選択する段階と、
    d)上記第j番目の測定箇所の回りにおける測定箇所の局所的部分集合のCPLの平均CPLすなわち/CPLjを計算する段階と、
    e)一次の誤差伝搬に基づいて、上記局所的部分集合における各測定箇所の標準偏差(CPLsdjを計算する段階と、
    f)j=1〜Kに対して上記段階(c)、(d)および(e)を反復する段階と、
    g)cpljは上記第j番目の測定箇所の対応CPLであるとして、上記ひとつのプルーム箇所のCPL同時尤度値
    Figure 2009508108
    を計算する段階と、
    h)Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記ひとつのプルーム箇所の上記CPL同時尤度値が該ひとつのプルーム箇所のCPLスレッショルド値レベル
    Figure 2009508108
    未満であるならば、上記ひとつのプルーム箇所は偽のプルーム箇所を表すと決定する段階と、
    i)段階(b)において決定された各プルーム箇所に対し、段階(c)、(d)、(e)、(f)、(g)および(h)を反復する段階と、
    を備えて成る方法。
  29. 前記測定箇所の最近傍部分集合の前記所定個数は約24である、請求項28に記載の方法。
  30. 差分吸収LIDAR(DIAL)システムを用いて特定された複数個の測定箇所の不確定ラベル付き箇所を分類する改善された方法であって、
    a)上記複数個の測定箇所に対する濃度経路長(CPL)を決定する段階と、
    b)各測定箇所に対し、対応CPLを用いて、該測定箇所がプルーム箇所を表すのか非プルーム箇所を表すのか不確定ラベル付き箇所を表すのかを決定する段階と、
    c)上記段階(b)において決定された複数の不確定ラベル付き箇所の内のひとつの不確定ラベル付き箇所の最近傍部分集合の測定箇所であって、上記不確定ラベル付き箇所と、所定個数(K−1)の最近傍測定箇所とを含むという最近傍部分集合の測定箇所から、第j番目の測定箇所を選択する段階と、
    d)上記第j番目の測定箇所の回りにおける測定箇所の局所的部分集合のCPLの平均CPLすなわち/CPLjを計算する段階と、
    e)一次の誤差伝搬に基づいて、上記局所的部分集合における各測定箇所の標準偏差(CPLsdjを計算する段階と、
    f)j=1〜Kに対して上記段階(c)、(d)および(e)を反復する段階と、
    g)cpljは上記第j番目の測定箇所の対応CPLであるとして、上記ひとつの不確定ラベル付き箇所のCPL同時尤度値
    Figure 2009508108
    を計算する段階と、
    h)Tはスレッショルド標準偏差レベルであるとして、上記ひとつの不確定ラベル付き箇所の上記CPL同時尤度値が該ひとつの不確定ラベル付き箇所のCPLスレッショルド値レベル
    Figure 2009508108
    以上であるならば、上記ひとつの不確定ラベル付き箇所は非プルーム箇所を表すと決定し、且つ、
    上記ひとつの不確定ラベル付き箇所の上記CPL同時尤度値が該ひとつの不確定ラベル付き箇所の上記CPLスレッショルド値レベル未満であるならば、上記ひとつの不確定ラベル付き箇所はプルーム箇所を表すと決定する段階と、
    i)段階(b)において決定された不確定ラベル付き箇所の各々に対し、段階(c)、(d)、(e)、(f)、(g)および(h)を反復する段階と、
    を備えて成る方法。
  31. 前記測定箇所の最近傍部分集合の前記所定個数は約24である、請求項30に記載の方法。
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