JP2009300125A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009300125A5
JP2009300125A5 JP2008152317A JP2008152317A JP2009300125A5 JP 2009300125 A5 JP2009300125 A5 JP 2009300125A5 JP 2008152317 A JP2008152317 A JP 2008152317A JP 2008152317 A JP2008152317 A JP 2008152317A JP 2009300125 A5 JP2009300125 A5 JP 2009300125A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
point
arc
straight line
specifying
intersection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008152317A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2009300125A (ja
JP5114301B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2008152317A priority Critical patent/JP5114301B2/ja
Priority claimed from JP2008152317A external-priority patent/JP5114301B2/ja
Publication of JP2009300125A publication Critical patent/JP2009300125A/ja
Publication of JP2009300125A5 publication Critical patent/JP2009300125A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5114301B2 publication Critical patent/JP5114301B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2008152317A 2008-06-10 2008-06-10 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム Active JP5114301B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008152317A JP5114301B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008152317A JP5114301B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009300125A JP2009300125A (ja) 2009-12-24
JP2009300125A5 true JP2009300125A5 (enExample) 2011-05-06
JP5114301B2 JP5114301B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=41547194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008152317A Active JP5114301B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5114301B2 (enExample)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5525953B2 (ja) 2010-07-29 2014-06-18 株式会社キーエンス 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム
JP5597056B2 (ja) 2010-08-02 2014-10-01 株式会社キーエンス 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム
JP5547105B2 (ja) 2011-02-01 2014-07-09 株式会社キーエンス 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム
JP5679560B2 (ja) 2011-02-01 2015-03-04 株式会社キーエンス 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム
JP5865666B2 (ja) 2011-10-19 2016-02-17 株式会社キーエンス 画像処理装置および画像処理プログラム
JP6279435B2 (ja) * 2014-09-02 2018-02-14 東芝機械株式会社 画像処理装置
JP6842329B2 (ja) * 2017-03-24 2021-03-17 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法および画像処理装置
CN108489426B (zh) * 2018-05-17 2023-11-28 信利半导体有限公司 一种非矩形显示产品组装精度的检测方法及检测系统
CN113643225B (zh) * 2020-04-26 2025-02-14 北京配天技术有限公司 一种圆弧检测方法以及圆弧检测装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61130809A (ja) * 1984-11-30 1986-06-18 Mitsubishi Electric Corp 視覚センサ
JPH04198741A (ja) * 1990-11-28 1992-07-20 Hitachi Ltd 形状欠陥検出装置
JPH10339615A (ja) * 1997-06-09 1998-12-22 Hoya Corp パターン形状計測方法及びパターン形状計測装置
JP4139664B2 (ja) * 2002-10-04 2008-08-27 大日本印刷株式会社 丸み自動計測方法、マスクパターン品質測定装置
JP4401126B2 (ja) * 2003-08-22 2010-01-20 株式会社日立国際電気 寸法測定装置の所定部位登録方法
JP4683324B2 (ja) * 2005-02-03 2011-05-18 日立金属株式会社 形状測定システム、形状測定方法及び形状測定プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009300125A5 (enExample)
US9412189B2 (en) Method and system for detecting known measurable object features
RU2762619C2 (ru) Графическая накладка для измерения размеров элементов при помощи устройства видеоконтроля
CN101915658B (zh) 激光指示器多参数检测仪
CN105783773A (zh) 一种线结构光视觉传感器的数值标定方法
RU2012105634A (ru) Тензометрический датчик и система определения пространственного положения таких датчиков
JP6237784B2 (ja) 検査システム
CN106441163B (zh) 一种非接触式柱状物垂直度检测方法及装置
JP2018533722A (ja) 対象上または対象の近くの特徴を測定するための方法および機器
EP2587224A3 (en) Displacement detecting device, scale calibrating method and scale calibrating program
CN202761475U (zh) 一种用于牙颌模型扫描仪空间精度评价的检测装置
JP2016136112A5 (ja) 距離測定装置
JP2010249589A (ja) 歪み計測方法及び歪み計測装置
US20190025126A1 (en) Device and method for testing display panel
JP2014140474A5 (ja) 画像処理装置および画像処理プログラム
JP2021177157A5 (enExample)
JP2008102123A (ja) 形状測定方法及び形状測定装置
RU2015102094A (ru) Система и способ трехмерных ультразвуковых измерений объемных областей
JP2014202533A (ja) 開先形状計測方法及び装置
JP2009199089A5 (enExample)
JP2011255441A (ja) 丸部材の芯出し用器具
CN204775289U (zh) 一种多功能激光铁路轨道检测仪
JP4430680B2 (ja) 3次元寸法計測装置及び3次元寸法計測プログラム
CN204269088U (zh) 一种线纹零位定位装置
JP2010169636A (ja) 形状測定装置