JP2009291675A - Chemical filter and clean room - Google Patents

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Isao Tanaka
勲 田中
Koichi Izawa
康一 伊澤
Tomoaki Kajima
智明 梶間
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Shimizu Construction Co Ltd
Shimizu Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chemical filter that can effectively adsorb/remove pollutants contained even in low-humidity air, and a clean room equipped with the same. <P>SOLUTION: The chemical filter 6 comprising an adsorbent 21 that adsorbs and removes pollutants contained in air passing therethrough and supplies air 27 cleaned with the adsorbent 21 includes, as the adsorbent 21, a processed object of protection prepared by processing an object of protection which is manufactured or used in ambient air whereinto the cleaned air 27 is supplied and is adversely affected by adsorbing the pollutants, and a cooling device 22 for cooling the adsorbent 21 and/or air 28 to be supplied to the adsorbent 21. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ケミカルフィルタ及びこれを備えたクリーンルームに関する。   The present invention relates to a chemical filter and a clean room equipped with the same.

従来、例えば半導体や液晶デバイスの生産・開発用クリーンルームでは、各種の分子状・ガス状汚染物質の室内空気中濃度を低減させる必要がある。特に、クリーンルームの構成材料、室内装置、使用薬品等から室内に拡散するDBPやDOP等の樹脂用可塑剤、BHTなどの酸化防止剤、リン酸エステル類などの難燃材、低分子環状シロキサン類は、シリコンウエハや液晶パネル用ガラス基板(保護対象物)の表面に吸着しやすく、リーク電流の増大や絶縁耐圧の低下など電気的特性に悪影響を及ぼすため、空気中から除去することが求められている。   Conventionally, for example, in clean rooms for production and development of semiconductors and liquid crystal devices, it is necessary to reduce the concentration of various molecular and gaseous pollutants in the room air. In particular, plastic materials for resins such as DBP and DOP that diffuse into the room from clean room components, indoor equipment, chemicals used, etc., antioxidants such as BHT, flame retardants such as phosphate esters, low molecular cyclic siloxanes Is easily adsorbed on the surface of silicon wafers and glass substrates for liquid crystal panels (objects to be protected) and adversely affects electrical characteristics such as increase in leakage current and decrease in dielectric strength. ing.

そして、これらの分子状・ガス状汚染物質を除去するために、活性炭などの吸着剤を備えたケミカルフィルタで空気をろ過してクリーンルーム内への給気を行うようにしている。しかしながら、活性炭などをケミカルフィルタの吸着剤に用いた場合には、シリコンウエハやガラス基板に吸着しにくい物質も除去対象の汚染物質とともに吸着除去される。このため、吸着剤の性能が早期に低下し、頻繁に吸着剤の交換が必要になって、ランニングコストの増大を招くという問題があった。   In order to remove these molecular and gaseous pollutants, air is filtered through a chemical filter equipped with an adsorbent such as activated carbon to supply air into the clean room. However, when activated carbon or the like is used as an adsorbent for a chemical filter, a substance that is difficult to adsorb on a silicon wafer or a glass substrate is also adsorbed and removed together with a contaminant to be removed. For this reason, there existed a problem that the performance of adsorbent fell early, and replacement | exchange of an adsorbent was needed frequently, and the increase in running cost was caused.

これに対し、本願の発明者らは、シリコンウエハやガラス基板の半導体(保護対象物)を微細化し、このチップをケミカルフィルタの吸着剤(吸着体)として用いることを提案している(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。そして、このケミカルフィルタにおいては、汚染物質を含む空気が通過するとともに、シリコンウエハやガラス基板に悪影響を及ぼす汚染物質のみが選択的に吸着剤に吸着して除去される。これにより、クリーンルームの空気中の汚染物質の濃度を低減させつつ、吸着剤の性能が早期に低下することを防止できる。
特開2004−84971号公報 特開2005−118744号公報
On the other hand, the inventors of the present application have proposed that the semiconductor (protection target) of a silicon wafer or a glass substrate is miniaturized and this chip is used as an adsorbent (adsorbent) of a chemical filter (for example, (See Patent Document 1 and Patent Document 2). And in this chemical filter, while the air containing a contaminant passes, only the contaminant which has a bad influence on a silicon wafer or a glass substrate is selectively adsorbed and removed by an adsorbent. Thereby, it is possible to prevent the performance of the adsorbent from deteriorating early while reducing the concentration of contaminants in the air of the clean room.
JP 2004-84971 A JP 2005-118744 A

一方、フラットパネルディスプレイの技術動向から、有機ELの普及が期待されている。また、携帯機器類の普及により高性能な電池類の開発が急ピッチで進められている。そして、これら有機ELや高性能電池類などの製造には、分子状・ガス状汚染物質を除去することに加えて、低湿度に制御されたクリーンルームが必要になる。   On the other hand, organic EL is expected to spread from the technical trend of flat panel displays. In addition, the development of high-performance batteries is proceeding at a rapid pace due to the spread of portable devices. In addition, in order to manufacture these organic EL and high-performance batteries, in addition to removing molecular and gaseous pollutants, a clean room controlled to low humidity is required.

このようにクリーンルームを低湿度に制御する場合には、低湿度の空気がケミカルフィルタを通過することで、吸着剤の表面水分量が減少し、汚染物質の除去効果が低下するおそれがある。すなわち、シリコンウエハやガラス基板を微細化してなる吸着剤への汚染物質の吸着現象は、吸着剤の表面の水分(吸着水)が一種のバインダーとして機能することにより生じるため、低湿度の空気が通過し、吸着剤の表面から吸着水が奪われることで、吸着剤の性能(汚染物質の除去効果)が低下するおそれが生じる。   Thus, when controlling a clean room to low humidity, when low humidity air passes a chemical filter, there exists a possibility that the surface moisture content of adsorption agent may reduce and the removal effect of a pollutant may fall. In other words, the phenomenon of adsorption of contaminants to the adsorbent formed by miniaturizing a silicon wafer or glass substrate is caused by the fact that the moisture (adsorbed water) on the surface of the adsorbent functions as a kind of binder. Passing through and desorbing adsorbed water from the surface of the adsorbent may reduce the performance of the adsorbent (contaminant removal effect).

本発明は、上記事情に鑑み、低湿度の空気に対してもこの空気に含まれる汚染物質を効果的に吸着除去することが可能なケミカルフィルタ及びこれを備えたクリーンルームを提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, the present invention aims to provide a chemical filter capable of effectively adsorbing and removing pollutants contained in low-humidity air and a clean room including the same. To do.

上記の目的を達するために、この発明は以下の手段を提供している。   In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.

本発明のケミカルフィルタは、通過する空気に含まれた汚染物質を吸着除去する吸着体を備え、該吸着体で清浄化した空気を供給するためのケミカルフィルタであって、前記清浄化した空気を供給する空気環境下で生産あるいは使用され、前記汚染物質が吸着することにより悪影響が生じる保護対象物を加工し、該加工した保護対象物を前記吸着体として備えるとともに、前記吸着体及び/又は前記吸着体に供給する空気を冷却する冷却装置を備えていることを特徴とする。   The chemical filter of the present invention includes an adsorbent that adsorbs and removes contaminants contained in the air passing therethrough, and is a chemical filter for supplying air cleaned by the adsorbent. Processed or used in an air environment to be supplied and having a negative effect due to adsorption of the pollutant, the processed protective object is provided as the adsorbent, and the adsorbent and / or the A cooling device for cooling the air supplied to the adsorbent is provided.

この発明においては、清浄化した空気を供給する空気環境下で生産あるいは使用(開発)されるシリコンウエハやガラス基板などの保護対象物を加工し、この加工した保護対象物を吸着体として用いている。これにより、汚染物質を含む空気が通過するとともに、悪影響を及ぼす汚染物質のみを選択的に吸着体に吸着して除去することができ、クリーンルームなどの空気中の汚染物質の濃度を低減させつつ、吸着体の性能が早期に低下することを防止できる。   In the present invention, a protected object such as a silicon wafer or a glass substrate that is produced or used (developed) in an air environment that supplies purified air is processed, and the processed protected object is used as an adsorbent. Yes. Thereby, while air containing pollutants passes, only the pollutants that adversely affect can be selectively adsorbed and removed by the adsorbent, reducing the concentration of pollutants in the air such as clean rooms, It is possible to prevent the performance of the adsorbent from deteriorating early.

また、吸着体への汚染物質の吸着現象は、発熱現象であり、低温にするほど吸着体への汚染物質の吸着速度及び吸着量が増大する。このため、冷却装置で吸着体及び/又は吸着体に供給する空気を冷却することにより、汚染物質の吸着速度及び吸着量が増大し、吸着性能を高め、確実に汚染物質を除去することが可能になる。   Further, the adsorption phenomenon of the contaminant on the adsorbent is an exothermic phenomenon, and the adsorption rate and the adsorption amount of the contaminant on the adsorbent increase as the temperature decreases. For this reason, by cooling the adsorbent and / or air supplied to the adsorbent with the cooling device, the adsorption speed and quantity of contaminants can be increased, the adsorption performance can be improved, and contaminants can be removed reliably. become.

さらに、このとき、吸着体に供給する空気が低湿度である場合においても、冷却装置で吸着体及び/又はこの吸着体に供給する空気を冷却して、ケミカルフィルタを通過する空気を露点付近まで冷却させることによって、吸着体の表面から吸着水が奪われることを防止でき、吸着体の性能(汚染物質の除去効果)を確保することが可能になる。また、このように低湿度の空気を冷却装置で露点付近まで冷却させることにより、この低湿度の空気中の水分が微量ながらケミカルフィルタ内で結露する。このため、ケミカルフィルタが水分トラップとしても機能し、低湿度の空気環境の維持にも有効となる。   Furthermore, at this time, even when the air supplied to the adsorbent has a low humidity, the cooling device cools the adsorbent and / or the air supplied to the adsorbent so that the air passing through the chemical filter is near the dew point. By cooling, it is possible to prevent the adsorbed water from being taken away from the surface of the adsorbent, and to ensure the performance of the adsorbent (contaminant removal effect). Further, by cooling the low-humidity air to the vicinity of the dew point with the cooling device in this way, moisture in the low-humidity air is condensed in the chemical filter with a small amount of water. For this reason, the chemical filter also functions as a moisture trap and is effective in maintaining a low humidity air environment.

また、本発明のケミカルフィルタにおいては、前記吸着体に供給する空気及び/又は前記通過する空気の温度及び湿度を計測する温湿度センサーと、該温湿度センサーの計測結果に基づいて前記冷却装置の駆動を制御する制御装置とを備えていることが望ましい。   In the chemical filter of the present invention, the temperature and humidity sensor for measuring the temperature and humidity of the air supplied to the adsorbent and / or the passing air, and the cooling device based on the measurement result of the temperature and humidity sensor. It is desirable to include a control device that controls driving.

この発明においては、温湿度センサーの計測結果に基づいて制御装置により冷却装置の駆動、すなわち、吸着体及び/又はこの吸着体に供給する空気の温度ひいてはケミカルフィルタを通過する空気の温度が制御される。これにより、空気中から保護対象物に悪影響を及ぼす汚染物質を確実に且つ高精度で除去することが可能になる。   In this invention, based on the measurement result of the temperature / humidity sensor, the controller controls the driving of the cooling device, that is, the temperature of the adsorbent and / or the air supplied to the adsorbent, and hence the temperature of the air passing through the chemical filter. The This makes it possible to reliably and accurately remove contaminants that adversely affect the object to be protected from the air.

本発明のクリーンルームは、上記のケミカルフィルタを備えて構成されていることを特徴とする。   The clean room of the present invention is characterized by comprising the above-described chemical filter.

この発明においては、上記のケミカルフィルタを備えて構成されていることにより、このクリーンルームを低湿度で制御する場合においても、空気中の汚染物質の濃度を確実に低減させることが可能になる。   In the present invention, since the chemical filter is provided, the concentration of contaminants in the air can be reliably reduced even when the clean room is controlled at low humidity.

本発明のケミカルフィルタ及びクリーンルームによれば、ケミカルフィルタが、加工した保護対象物を吸着体として備えていることにより、活性炭などをケミカルフィルタの吸着剤(吸着体)に用いた場合と比較し、シリコンウエハやガラス基板などの保護対象物に吸着しやすい汚染物質を選択的に除去することが可能になる。これにより、吸着体の性能が早期に低下することがなく、ランニングコストを低減することが可能になる。   According to the chemical filter and clean room of the present invention, the chemical filter is provided with the processed protection object as an adsorbent, so that compared with the case where activated carbon is used as the adsorbent (adsorbent) of the chemical filter, It is possible to selectively remove contaminants that are easily adsorbed on a protection target such as a silicon wafer or a glass substrate. As a result, the performance of the adsorbent does not deteriorate early, and the running cost can be reduced.

また、ケミカルフィルタが冷却装置を備えていることにより、汚染物質の吸着速度及び吸着量が増大し、吸着性能を高め、確実に汚染物質を除去することが可能になるとともに、吸着体に供給する空気が低湿度である場合においても、吸着体の表面から吸着水が奪われることを防止でき、汚染物質の除去効果を確保することが可能になる。さらに、ケミカルフィルタが水分トラップとしても機能し、低湿度の空気環境の維持にも有効となる。   In addition, since the chemical filter is equipped with a cooling device, the adsorption speed and amount of contaminants increase, the adsorption performance can be improved, the contaminants can be reliably removed, and the adsorbent is supplied. Even when the air has a low humidity, it is possible to prevent the adsorbed water from being taken away from the surface of the adsorbent, and to ensure the effect of removing contaminants. Furthermore, the chemical filter functions as a moisture trap and is effective in maintaining a low humidity air environment.

以下、図1及び図2を参照し、本発明の一実施形態に係るケミカルフィルタ及びこれを備えたクリーンルームについて説明する。本実施形態は、例えば半導体や液晶デバイスの生産・開発用クリーンルームの空気環境を所定の清浄度で保持するためのケミカルフィルタ及びこれを備えたクリーンルームに関するものである。   Hereinafter, with reference to FIG.1 and FIG.2, the chemical filter which concerns on one Embodiment of this invention, and a clean room provided with the same are demonstrated. The present embodiment relates to a chemical filter for maintaining the air environment of a clean room for production / development of semiconductors and liquid crystal devices, for example, with a predetermined cleanliness, and a clean room equipped with the same.

本実施形態のクリーンルーム1(1a)は、図1に示すように、空調機2の駆動とともに外気3が中性能フィルタ4を介して空調機2に吸入され、さらに、この外気3が空調機2からULPA、HEPA等の第1高性能フィルタ5、ケミカルフィルタ6、第2高性能フィルタ7で順にろ過され、清浄化した空気が供給されるように構成されている。また、クリーンルーム1a(1)から一部の空気が排気8されるとともに、このクリーンルーム1a(1)内の多くの空気が送風機9の駆動とともに循環空気10として給気側に返還されており、この循環空気10が第3高性能フィルタ11を介して浄化されて新しく吸入された外気3に合流するように構成されている。   As shown in FIG. 1, in the clean room 1 (1 a) of the present embodiment, the outside air 3 is sucked into the air conditioner 2 through the medium performance filter 4 as the air conditioner 2 is driven. To the first high-performance filter 5, such as ULPA and HEPA, the chemical filter 6, and the second high-performance filter 7, which are sequentially filtered and supplied with purified air. In addition, a part of the air is exhausted 8 from the clean room 1a (1), and a large amount of air in the clean room 1a (1) is returned to the supply side as circulating air 10 along with the driving of the blower 9. The circulating air 10 is purified through the third high performance filter 11 and joined to the freshly sucked outside air 3.

一方、本実施形態のケミカルフィルタ6は、図1に示すように、第2高性能フィルタ7に付属した状態で設けられ、図2に示すように、ケーシング20と吸着体21と冷却装置22と制御装置23と温湿度センサー24(温度センサー24a、24b、湿度センサー24c、24d)とを備えて構成されている。   On the other hand, the chemical filter 6 of this embodiment is provided in a state attached to the second high-performance filter 7 as shown in FIG. 1, and as shown in FIG. 2, the casing 20, the adsorbent 21, the cooling device 22, and the like. A control device 23 and a temperature / humidity sensor 24 (temperature sensors 24a, 24b, humidity sensors 24c, 24d) are provided.

ケーシング20は、例えば金属などの熱伝導性に優れた材料を用いて形成されており、第1高性能フィルタ5に繋がるダクト(空調機側ダクト25)が一端側に、第2高性能フィルタ7に繋がるダクト(クリーンルーム側ダクト26)が他端側に、互いに連通して接続されている。   The casing 20 is formed using a material having excellent thermal conductivity such as metal, for example, and a duct (air conditioner side duct 25) connected to the first high performance filter 5 is provided at one end side, and the second high performance filter 7 is provided. The duct (clean room side duct 26) connected to is connected to the other end side in communication with each other.

吸着体21は、清浄化した空気を供給する空気環境下で生産あるいは使用される保護対象物を加工したものであり、すなわち、本実施形態では、クリーンルーム1a(1)内で生産あるいは使用されるシリコンウエハやガラス基板等を板状に加工したり、破砕加工するなどして微細化したものであり、ケーシング20の内部に適度な隙間を形成した状態で充填されている。なお、この吸着体21は、吸着性能が比表面積に比例するため、微細に加工するほどに優れた吸着性能を発揮することになるが、あまり細かすぎると前記隙間を通過する空気の圧力損失が増加してエネルギー負荷が大きくなる。このため、吸着体21は、0.1mm〜3mm程度の粒径で形成されていることが望ましい。   The adsorbent 21 is obtained by processing an object to be protected that is produced or used in an air environment that supplies purified air. That is, in this embodiment, the adsorbent 21 is produced or used in the clean room 1a (1). A silicon wafer, a glass substrate, or the like is refined by processing it into a plate shape or by crushing, and is filled in a state where an appropriate gap is formed inside the casing 20. Since the adsorbent 21 is proportional to the specific surface area, the adsorbent 21 exhibits excellent adsorption performance as it is finely processed. However, if it is too fine, the pressure loss of the air passing through the gap is reduced. Increases energy load. For this reason, it is desirable that the adsorbent 21 is formed with a particle size of about 0.1 mm to 3 mm.

冷却装置22は、例えばペルチェ素子などを用いて形成され、ケーシング20を囲繞するように設けられている。また、冷却装置22は、その冷却装置用電源22aが例えばパソコンなどの制御装置23に繋げられ、この制御装置23によって駆動が制御されている。さらに、温度センサー24a、24bと湿度センサー24c、24dの一対の温湿度センサー24が空調機側ダクト25内とケーシング20内とにそれぞれ配設されるとともに、制御装置23に繋げられている。   The cooling device 22 is formed using a Peltier element, for example, and is provided so as to surround the casing 20. Further, the cooling device 22 is connected to a control device 23 such as a personal computer, and the drive of the cooling device 22 is controlled by the control device 23. Further, a pair of temperature / humidity sensors 24, that is, temperature sensors 24 a and 24 b and humidity sensors 24 c and 24 d are disposed in the air-conditioner side duct 25 and the casing 20, and are connected to the control device 23.

ついで、上記構成からなるケミカルフィルタ6及びこれを備えたクリーンルーム1の作用及び効果について説明する。   Next, operations and effects of the chemical filter 6 having the above-described configuration and the clean room 1 including the chemical filter 6 will be described.

本実施形態のクリーンルーム1においては、空調機2の駆動により外気3が中性能フィルタ4を介して空調機2に吸入され、この外気3が第1高性能フィルタ5でろ過されるとともに、送風機9の駆動によりクリーンルーム1a(1)から返還された循環空気10が合流し、空調機側ダクト25を通じてケミカルフィルタ6に供給される。   In the clean room 1 of the present embodiment, the outside air 3 is sucked into the air conditioner 2 through the medium performance filter 4 by driving the air conditioner 2, and the outside air 3 is filtered by the first high performance filter 5 and the blower 9. The circulating air 10 returned from the clean room 1 a (1) is merged by driving and is supplied to the chemical filter 6 through the air-conditioner side duct 25.

このとき、ケミカルフィルタ6の吸着体21が、クリーンルーム1a(1)内で生産あるいは使用されるシリコンウエハやガラス基板等の細片であるため、この吸着体21に供給される分子状・ガス状汚染物質を含んだ空気28が吸着体21の前記隙間を通過するとともに、シリコンウエハやガラス基板に吸着する汚染物質のみが選択的に吸着される。これにより、シリコンウエハやガラス基板に吸着して悪影響を及ぼす汚染物質が確実に吸着除去され、悪影響を及ぼすことのない他の物質が吸着体21に吸着することがないため、吸着体21の性能が早期に低下することがない。   At this time, since the adsorbent 21 of the chemical filter 6 is a thin piece such as a silicon wafer or a glass substrate that is produced or used in the clean room 1a (1), the molecular or gaseous state supplied to the adsorbent 21 Air 28 containing contaminants passes through the gaps of the adsorbent 21 and only the contaminants adsorbed on the silicon wafer or glass substrate are selectively adsorbed. Accordingly, contaminants that are adsorbed on the silicon wafer or the glass substrate and are adversely affected are reliably adsorbed and removed, and other substances that do not have an adverse effect are not adsorbed on the adsorbent 21. Will not decline early.

また、本実施形態においては、空調機側ダクト25を流通する空気(吸着体21に供給する空気)と、吸着体21の隙間を通過する空気(ケミカルフィルタ6を通過する空気)のそれぞれの温度と湿度が温湿度センサー24で計測されている。さらに、これら温湿度センサー24の計測結果に基づいて制御装置23により冷却装置22の駆動が制御され、冷却装置22によってケーシング20ひいては吸着体21、さらに吸着体21の隙間を通過する空気が所定の温度に冷却される。そして、吸着体21への汚染物質の吸着現象は、低温であるほどに吸着速度及び吸着量が増大するため、冷却装置22で吸着体21を冷却することにより、汚染物質の吸着速度及び吸着量が増大し、吸着性能が高められ、確実に汚染物質が除去されることになる。   Moreover, in this embodiment, each temperature of the air (air supplied to the adsorption body 21) which distribute | circulates the air-conditioner side duct 25, and the air (air which passes the chemical filter 6) which passes the clearance gap between adsorption bodies 21 is shown. And humidity are measured by the temperature / humidity sensor 24. Further, the driving of the cooling device 22 is controlled by the control device 23 based on the measurement results of the temperature / humidity sensor 24, and the air passing through the casing 20, the adsorbing body 21, and further the gap between the adsorbing bodies 21 is controlled by the cooling device 22. Cooled to temperature. And since the adsorption | suction phenomenon of the pollutant to the adsorption body 21 increases adsorption speed and adsorption amount, so that it is low temperature, by cooling the adsorption body 21 with the cooling device 22, the adsorption speed | rate and adsorption amount of a pollutant. Increase, the adsorption performance is improved, and contaminants are reliably removed.

さらに、このように温湿度センサー24の計測結果に基づき、制御装置23により冷却装置22の駆動(吸着体21の温度、ケミカルフィルタ6を通過する空気の温度)が制御されることにより、シリコンウエハやガラス基板等に吸着して悪影響を及ぼす汚染物質が確実に且つ高精度で空気中から除去される。そして、このようにケミカルフィルタ6を通過した空気が第2高性能フィルタ7でろ過され、高精度で清浄化した空気がクリーンルーム1a(1)に供給される。   Furthermore, based on the measurement result of the temperature / humidity sensor 24 as described above, the control device 23 controls the driving of the cooling device 22 (the temperature of the adsorbent 21 and the temperature of the air that passes through the chemical filter 6), whereby a silicon wafer is obtained. Contaminants that adsorb and adversely affect the glass substrate or the like are reliably and accurately removed from the air. And the air which passed the chemical filter 6 in this way is filtered by the 2nd high performance filter 7, and the air cleaned with high precision is supplied to the clean room 1a (1).

一方、例えば、空調機により、あるいは第1高性能フィルタ5とケミカルフィルタ6の間に設けた図示せぬ湿度調整装置により、空気の湿度を調整して、クリーンルーム1a(1)を低湿度に制御する場合には、例えば露点が−40℃、23℃における相対湿度が1%以下の超低湿度の空気28がケミカルフィルタ6を通過することになり、吸着体21の表面水分量が減少し、汚染物質の除去効果が低下するおそれが生じる。   On the other hand, for example, the humidity of the air is adjusted by an air conditioner or a humidity adjusting device (not shown) provided between the first high-performance filter 5 and the chemical filter 6 to control the clean room 1a (1) to a low humidity. In this case, for example, the ultra-low humidity air 28 having a dew point of −40 ° C. and a relative humidity of 1% or less at 23 ° C. passes through the chemical filter 6, and the surface moisture content of the adsorbent 21 is reduced. There is a risk that the effect of removing pollutants will be reduced.

これに対し、本実施形態においては、吸着体21に供給される低湿度の空気28の温度及び湿度が温湿度センサー24で計測されているため、この温湿度センサー24の計測結果に基づいて、制御装置23がケミカルフィルタ6を通過する空気を露点付近まで冷却させるように冷却装置22の駆動を制御する。そして、このように冷却装置22で露点付近まで冷却された空気がケーシング20内(吸着体21の隙間)を通過すると、この空気が超低湿度である場合においても吸着体21の表面に微量な結露水による被膜が形成される。これにより、吸着体21の表面から吸着水が奪われることがなく、この結露水をバインダーとして汚染物質の吸着除去が促進され、吸着体21の性能(汚染物質の除去効果)が確保される。また、このように低湿度の空気28中の水分が微量ながらケミカルフィルタ6(ケーシング20)内で結露することによって、ケミカルフィルタ6が水分トラップとしても機能することになり、クリーンルーム1a(1)の低湿度の空気環境の維持にも有効となる。   On the other hand, in this embodiment, since the temperature and humidity of the low-humidity air 28 supplied to the adsorbent 21 are measured by the temperature / humidity sensor 24, based on the measurement result of the temperature / humidity sensor 24, The controller 23 controls the driving of the cooling device 22 so as to cool the air passing through the chemical filter 6 to near the dew point. When the air cooled to the vicinity of the dew point by the cooling device 22 passes through the inside of the casing 20 (the gap between the adsorbent bodies 21), even if the air has an extremely low humidity, a very small amount is present on the surface of the adsorbent body 21. A film of condensed water is formed. As a result, the adsorbed water is not taken away from the surface of the adsorbent 21, and the adsorption and removal of the pollutant is promoted using the condensed water as a binder, and the performance of the adsorbent 21 (contaminant removal effect) is ensured. In addition, since the moisture in the low-humidity air 28 is condensed in the chemical filter 6 (casing 20), the chemical filter 6 also functions as a moisture trap, and the clean room 1a (1) It is also effective for maintaining a low humidity air environment.

ここで、一般室内では、湿度の変化が大きいため、このように空気を露点近傍まで冷却すると、場合によっては大量の結露水が発生し不具合が生じるおそれもあるが、本実施形態においては、温湿度センサー24で空気の温度及び湿度を計測し、この計測結果に基づき、制御装置23によって冷却装置22の駆動ひいては空気の冷却温度が制御されている。また、クリーンルーム1a(1)では、本来均一な温湿度制御が実施されていることから、結露を生じさせる露点の制御が比較的容易に行える。このため、吸着体21の表面に汚染物質の吸着を阻害するほど大量の結露水が発生することはなく、確実に吸着体21によって汚染物質が選択的に吸着除去される。   Here, since the change in humidity is large in a general room, if air is cooled to the vicinity of the dew point in this way, a large amount of dew condensation water may be generated in some cases, which may cause problems. The humidity sensor 24 measures the temperature and humidity of the air, and the control device 23 controls the driving of the cooling device 22 and the cooling temperature of the air based on the measurement result. In the clean room 1a (1), since uniform temperature and humidity control is originally performed, control of the dew point that causes dew condensation can be performed relatively easily. For this reason, a large amount of condensed water is not generated on the surface of the adsorbent body 21 so as to inhibit the adsorption of the pollutant substance, and the adsorbent body 21 selectively removes the pollutant with certainty.

したがって、本実施形態のケミカルフィルタ6及びこれを備えたクリーンルーム1においては、ケミカルフィルタ6が、清浄化した空気を供給する空気環境下で生産あるいは使用(開発)されるシリコンウエハやガラス基板(保護対象物)を加工し、この加工した保護対象物を吸着体21として備えていることにより、汚染物質を含む空気28が通過するとともに、悪影響を及ぼす汚染物質のみを選択的に吸着体21に吸着して除去することができ、クリーンルーム1の空気中の汚染物質の濃度を低減させつつ、吸着体21の性能が早期に低下することを防止できる。これにより、活性炭などをケミカルフィルタの吸着剤(吸着体)に用いた場合と比較し、吸着体21を頻繁に交換する必要がなく、ランニングコストを低減することが可能になる。   Therefore, in the chemical filter 6 of the present embodiment and the clean room 1 including the same, the silicon wafer or glass substrate (protection) in which the chemical filter 6 is produced or used (developed) in an air environment that supplies purified air. By processing the target object) and providing the processed protection target as the adsorbent 21, the air 28 containing the pollutant passes through and only the pollutant that adversely affects the adsorbent 21 is selectively adsorbed. Thus, it is possible to prevent the performance of the adsorbent 21 from deteriorating early while reducing the concentration of contaminants in the air of the clean room 1. Thereby, compared with the case where activated carbon etc. are used for the adsorbent (adsorbent body) of a chemical filter, it is not necessary to replace | exchange the adsorbent body 21 frequently, and it becomes possible to reduce a running cost.

また、冷却装置22で吸着体21を冷却することにより、汚染物質の吸着速度及び吸着量が増大し、吸着性能を高め、確実に汚染物質を除去することが可能になる。   Further, by cooling the adsorbent 21 with the cooling device 22, the adsorption speed and the adsorption amount of the contaminants are increased, the adsorption performance is improved, and the contaminants can be reliably removed.

さらに、吸着体21に供給する空気28が低湿度である場合においても、冷却装置21で吸着体21を冷却して、ケミカルフィルタ6を通過する空気を露点付近まで冷却させることによって、吸着体21の表面から吸着水が奪われることを防止でき、吸着体21の性能を確保することが可能になる。また、このように低湿度の空気を冷却装置22で露点付近まで冷却させることにより、この低湿度の空気中の水分が微量ながらケミカルフィルタ6内で結露する。このため、ケミカルフィルタ6が水分トラップとしても機能し、低湿度の空気環境の維持にも有効となる。   Furthermore, even when the air 28 supplied to the adsorbent 21 has a low humidity, the adsorbent 21 is cooled by the cooling device 21 so that the air passing through the chemical filter 6 is cooled to the vicinity of the dew point. It is possible to prevent the adsorbed water from being deprived from the surface, and to secure the performance of the adsorbent 21. Further, by cooling the low-humidity air to the vicinity of the dew point by the cooling device 22 in this way, moisture in the low-humidity air is condensed in the chemical filter 6 with a slight amount of water. For this reason, the chemical filter 6 also functions as a moisture trap, and is effective in maintaining a low humidity air environment.

また、温湿度センサー24の計測結果に基づいて制御装置23により冷却装置22の駆動、すなわち、吸着体21及び/又はこの吸着体21に供給する空気8の温度ひいてはケミカルフィルタ6を通過する空気の温度が制御されることにより、空気中から保護対象物に悪影響を及ぼす汚染物質を確実に且つ高精度で除去することが可能になる。   Further, based on the measurement result of the temperature / humidity sensor 24, the control device 23 drives the cooling device 22, that is, the temperature of the adsorbent 21 and / or the air 8 supplied to the adsorbent 21 and thus the air passing through the chemical filter 6. By controlling the temperature, it is possible to reliably and accurately remove contaminants that adversely affect the object to be protected from the air.

以上、本発明に係るケミカルフィルタ及びこれを用いたクリーンルームの一実施形態について説明したが、本発明は上記の一実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、本実施形態では、冷却装置22がケーシング20を囲繞するように設けられ、この冷却装置22によって吸着体21を冷却することにより、ケミカルフィルタ6を通過する空気を冷却するものとしたが、空調機側ダクト25(吸着体21に対して空気の流通方向上流側)に冷却装置22を設け、吸着体21に供給する空気28を予め冷却するように構成してもよい。この場合においても、ケミカルフィルタ6を通過する空気が冷却されているため、本実施形態と同様の効果を得ることが可能である。   As mentioned above, although one embodiment of the chemical filter according to the present invention and a clean room using the same has been described, the present invention is not limited to the one embodiment described above, and can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. is there. For example, in the present embodiment, the cooling device 22 is provided so as to surround the casing 20, and the air passing through the chemical filter 6 is cooled by cooling the adsorbent 21 by the cooling device 22. A cooling device 22 may be provided in the air conditioner side duct 25 (upstream in the air flow direction with respect to the adsorbent body 21), and the air 28 supplied to the adsorbent body 21 may be cooled in advance. Even in this case, since the air passing through the chemical filter 6 is cooled, it is possible to obtain the same effect as in the present embodiment.

また、必ずしも吸着体21をケーシング20内に充填してケミカルフィルタ6を構成することに限定しなくてもよく、例えば高性能フィルタ(第2高性能フィルタ7)に接着剤を用いて吸着体21を一体に固着してケミカルフィルタを構成するなどしてもよい。   Further, the adsorbent 21 is not necessarily filled in the casing 20 to form the chemical filter 6. For example, the adsorbent 21 is used by using an adhesive for the high performance filter (second high performance filter 7). The chemical filter may be configured by fixing them together.

また、例えば吸着体21と光触媒を混合してケーシング20内に収容したり、光触媒を固定化した吸着体21をケーシング20内に充填するようにしてもよく、この場合には、照明器具から適宜光を照射することにより、吸着体21に吸着された汚染物質を分解除去することが可能になり、吸着体21の寿命を長期化してランニングコストをさらに低減することが可能になるとともに、ケミカルフィルタ6の維持管理の効率化を図ることが可能になる。   Further, for example, the adsorbent 21 and the photocatalyst may be mixed and accommodated in the casing 20, or the adsorbent 21 with the photocatalyst fixed may be filled in the casing 20. By irradiating light, it becomes possible to decompose and remove the contaminants adsorbed on the adsorbent body 21, thereby extending the life of the adsorbent body 21 and further reducing the running cost. Thus, it is possible to improve the efficiency of maintenance management.

本発明の一実施形態に係るクリーンルームを示す図である。It is a figure which shows the clean room which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るケミカルフィルタを示す図である。It is a figure which shows the chemical filter which concerns on one Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 クリーンルーム
1a クリーンルーム
2 空調機
3 外気
4 中性能フィルタ
5 第1高性能フィルタ
6 ケミカルフィルタ
7 第2高性能フィルタ
8 排気
9 送風機
10 循環空気
11 第3高性能フィルタ
20 ケーシング
21 吸着体
22 冷却装置
22a 冷却装置用電源
23 制御装置
24 温湿度センサー
25 空調機側ダクト
26 クリーンルーム側ダクト
27 清浄化した空気
28 吸着体に供給する空気
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Clean room 1a Clean room 2 Air conditioner 3 Outside air 4 Medium performance filter 5 1st high performance filter 6 Chemical filter 7 2nd high performance filter 8 Exhaust 9 Blower 10 Circulating air 11 3rd high performance filter 20 Casing 21 Adsorbent 22 Cooling device 22a Cooling device power supply 23 Control device 24 Temperature / humidity sensor 25 Air conditioner side duct 26 Clean room side duct 27 Cleaned air 28 Air supplied to the adsorbent

Claims (3)

通過する空気に含まれた汚染物質を吸着除去する吸着体を備え、該吸着体で清浄化した空気を供給するためのケミカルフィルタであって、
前記清浄化した空気を供給する空気環境下で生産あるいは使用され、前記汚染物質が吸着することにより悪影響が生じる保護対象物を加工し、該加工した保護対象物を前記吸着体として備えるとともに、
前記吸着体及び/又は前記吸着体に供給する空気を冷却する冷却装置を備えていることを特徴とするケミカルフィルタ。
A chemical filter comprising an adsorbent that adsorbs and removes contaminants contained in air passing therethrough, and for supplying air purified by the adsorbent,
Produced or used in an air environment that supplies the purified air, processes a protection object that has an adverse effect due to adsorption of the contaminants, and includes the processed protection object as the adsorbent,
A chemical filter comprising a cooling device for cooling the adsorbent and / or air supplied to the adsorbent.
請求項1記載のケミカルフィルタにおいて、
前記吸着体に供給する空気及び/又は前記通過する空気の温度及び湿度を計測する温湿度センサーと、該温湿度センサーの計測結果に基づいて前記冷却装置の駆動を制御する制御装置とを備えていることを特徴とするケミカルフィルタ。
The chemical filter according to claim 1,
A temperature / humidity sensor for measuring the temperature and humidity of the air supplied to the adsorbent and / or the passing air, and a control device for controlling the driving of the cooling device based on the measurement result of the temperature / humidity sensor. A chemical filter characterized by
請求項1または請求項2に記載のケミカルフィルタを備えて構成されていることを特徴とするクリーンルーム。   A clean room comprising the chemical filter according to claim 1 or 2.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016172203A (en) * 2015-03-16 2016-09-29 清水建設株式会社 Air purification system
KR101874195B1 (en) * 2016-11-10 2018-07-03 한국과학기술연구원 Instrument for removing Siloxane from BIOGAS

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002153719A (en) * 2000-09-08 2002-05-28 Nippon Pure Tec Kk Filter apparatus and environment control unit
JP2004084971A (en) * 2002-08-22 2004-03-18 Shimizu Corp Filter and clean room using this filter

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002153719A (en) * 2000-09-08 2002-05-28 Nippon Pure Tec Kk Filter apparatus and environment control unit
JP2004084971A (en) * 2002-08-22 2004-03-18 Shimizu Corp Filter and clean room using this filter

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016172203A (en) * 2015-03-16 2016-09-29 清水建設株式会社 Air purification system
KR101874195B1 (en) * 2016-11-10 2018-07-03 한국과학기술연구원 Instrument for removing Siloxane from BIOGAS

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