JP2009289905A - Tab tape and method of manufacturing the same, and method of manufacturing wiring board - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a TAB tape which is reliably connected to a terminal for external connection even if shifting in position during heat crimping to the terminal for external connection occurs, to provide a method of manufacturing the same, and to provide a method of manufacturing a wiring board. <P>SOLUTION: The TAB tape 1 has a conductor layer made of a metal conductor on at least one surface of an insulating film substrate 2, wherein the conductor layer is a wiring layer where wiring 3 and outer lead portions 8 as a plurality of arrayed terminals for external connection are formed, and is also connected to the terminal 22 for external connection by heating predetermined heated portions 11 of the outer lead portions 8. The plurality of arrayed outer lead portions 8 have at lest two or more kinds of terminal widths Wk (k=1, 2, 3, ..., n) where, for example, W1<Wn corresponding to their positions in the array is satisfied. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えばCOF(Chip On Flexible,またはChip On Film)方式で液晶駆動用
ICが実装されると共に液晶表示パネルの接続用端子に接続されて用いられるのに好適なTABテープおよびその製造方法、ならびにそのようなTABテープ等と接続されて用いられるのに好適な配線板の製造方法に関する。
The present invention provides a TAB tape suitable for being used by being mounted with a liquid crystal driving IC by a COF (Chip On Flexible or Chip On Film) method and connected to a connection terminal of a liquid crystal display panel, for example. In addition, the present invention relates to a method for manufacturing a wiring board suitable for use in connection with such a TAB tape.

COF方式のTABテープは、近年、液晶駆動用ICの実装やその他各種半導体素子の実装などに好適な実装パッケージの主要部を構成するための重要部品として、盛んに開発が進められるようになってきた。
図5は、液晶駆動用ICのような半導体素子を実装するために用いられる、従来の一般的なCOF方式を採用したTABテープにおける半導体装置(半導体素子を実装してなる実装パッケージ)の1個分に対応した部分の平面的構成を示す図であり、図6は、図5に示したTABテープに半導体素子を実装したものを液晶表示パネルに接続した状態の一例を示す図である。
絶縁性フィルム基板101としては、例えば薄いポリイミドテープが用いられる。その絶縁性フィルム基板101の片面上に張られた銅箔をエッチング法(フォトリソグラフィ)法などによってパターン加工して、配線層102が形成されている。
その配線層102における、外部の液晶表示パネル107、半導体素子109、プリント配線板111との接続のための、いわゆる外部接続用端子として、アウターリード部114、インナーリード部115、アウターリード部116が形成されている。それらの表面には、錫めっきなどによる金属めっき層104が形成されている。そして、インナーリード部115が配列形成された半導体実装領域113内の部分とアウターリード部114、116が形成されている部分とを除いて、それ以外の配線が形成されている部分の配線層102の上には、絶縁性および機械的強度の補強のために、ソルダレジスト105が設けられている。
In recent years, COF type TAB tape has been actively developed as an important part for constituting the main part of a mounting package suitable for mounting liquid crystal driving ICs and various semiconductor elements. It was.
FIG. 5 shows one of semiconductor devices (mounting package in which semiconductor elements are mounted) on a TAB tape that employs a conventional general COF method and is used for mounting semiconductor elements such as a liquid crystal driving IC. FIG. 6 is a diagram showing an example of a state in which a semiconductor device mounted on the TAB tape shown in FIG. 5 is connected to a liquid crystal display panel.
For example, a thin polyimide tape is used as the insulating film substrate 101. A wiring layer 102 is formed by patterning a copper foil stretched on one surface of the insulating film substrate 101 by an etching method (photolithography) method or the like.
In the wiring layer 102, an outer lead portion 114, an inner lead portion 115, and an outer lead portion 116 are used as so-called external connection terminals for connection to the external liquid crystal display panel 107, the semiconductor element 109, and the printed wiring board 111. Is formed. On those surfaces, a metal plating layer 104 is formed by tin plating or the like. Then, except for the portion in the semiconductor mounting region 113 in which the inner lead portions 115 are arranged and the portion in which the outer lead portions 114 and 116 are formed, the wiring layer 102 in the portion where the other wiring is formed. A solder resist 105 is provided on the top for reinforcing insulation and mechanical strength.

インナーリード部115の上の金属めっき層104の表面には、半導体素子109のバンプ108が接続される。アウターリード部114の上の金属めっき層104の表面には、異方性導電フィルム(ACF;Anisotropically-Conductive Film)106を介して液
晶表示パネル107の接続用端子103が接続される。アウターリード部116の上の金属めっき層104の表面には、はんだバンプ110を介して外部のプリント配線板111の接続用端子(図示省略)が接続される。このようにして接続された半導体素子109は、プリント配線板111からの電気信号に従って液晶表示パネル107を駆動する。
A bump 108 of the semiconductor element 109 is connected to the surface of the metal plating layer 104 on the inner lead portion 115. A connection terminal 103 of a liquid crystal display panel 107 is connected to the surface of the metal plating layer 104 on the outer lead portion 114 via an anisotropic conductive film (ACF) 106. A connection terminal (not shown) of an external printed wiring board 111 is connected to the surface of the metal plating layer 104 on the outer lead portion 116 via a solder bump 110. The semiconductor element 109 connected in this manner drives the liquid crystal display panel 107 in accordance with an electrical signal from the printed wiring board 111.

上記は、TABテープ100における表裏両面のうちの、配線パターンを有する配線層104が形成された、いわゆる配線面側の構造についての説明であるが、それとは反対側の面(一般にGND面側と呼ばれる)には、銅箔からなるグラウンド層(ground層;以下、GND層とも表記する)が設けられる場合もある。但し、ここでは説明の簡潔化のために、図5、図6のTABテープ100は、GND面側にはGND層を有していない、いわゆる片面銅張タイプのものとする。   The above is a description of the so-called wiring surface side structure in which the wiring layer 104 having the wiring pattern is formed on both the front and back surfaces of the TAB tape 100, but the opposite surface (generally the GND surface side and the surface). In some cases, a ground layer made of copper foil (ground layer; hereinafter also referred to as a GND layer) is provided. However, for simplicity of explanation, the TAB tape 100 of FIGS. 5 and 6 is a so-called single-sided copper-clad type that does not have a GND layer on the GND surface side.

半導体素子109とインナーリード部115とを接続する際、および液晶表示パネル107とアウターリード部114とを接続する際、ならびにプリント配線板111とアウターリード部116とを接続する際には、インナーリード部115やアウターリード部114、116における所定の被加熱部に加熱治工具を押し当てるなどして、その部分を局所的に加熱しながら相手方の接続用端子に圧着させることで、ACF106、バンプ108
、はんだバンプ110をそれぞれ介して、液晶表示パネル107とアウターリード部114との接続、半導体素子109とインナーリード部115との接続、プリント配線板111とアウターリード部116との接続を各々行うようにしている(以上、特許文献1参照)。
このような従来のTABテープやプリント配線版では、図7に模式的に示したように、複数の外部接続用端子114(114−1、114−2・・・、114−k・・・、114−n)は、全て同一の端子幅に形成されている(W1=Wk=Wn)。
When connecting the semiconductor element 109 and the inner lead portion 115, when connecting the liquid crystal display panel 107 and the outer lead portion 114, and when connecting the printed wiring board 111 and the outer lead portion 116, the inner lead The ACF 106 and the bump 108 are pressed by pressing a heating jig against a predetermined heated part in the part 115 and the outer lead parts 114 and 116 and pressing the part to the other connection terminal while locally heating the part.
The connection between the liquid crystal display panel 107 and the outer lead portion 114, the connection between the semiconductor element 109 and the inner lead portion 115, and the connection between the printed wiring board 111 and the outer lead portion 116 are performed via the solder bumps 110, respectively. (See Patent Document 1 above).
In such a conventional TAB tape or printed wiring board, as schematically shown in FIG. 7, a plurality of external connection terminals 114 (114-1, 114-2... 114-k. 114-n) are all formed to have the same terminal width (W1 = Wk = Wn).

特開2004−96072号公報JP 2004-96072 A

しかしながら、上記のような従来のTABテープでは、例えば外部の液晶表示パネル107に対して熱圧着で接続される際の加熱や圧力の印加に起因して、液晶表示パネル107側の接続用端子103と、TABテープ100側の外部接続用端子114との位置関係に無視できない位置ずれが生じ、甚だしくは、接続不良を引き起こすという問題があった。   However, in the conventional TAB tape as described above, the connection terminal 103 on the liquid crystal display panel 107 side is caused by, for example, heating or application of pressure when connected to the external liquid crystal display panel 107 by thermocompression bonding. And a positional shift that cannot be ignored in the positional relationship with the external connection terminal 114 on the TAB tape 100 side, and there is a problem that it causes a connection failure.

すなわち、液晶表示パネル107とTABテープ100との接続の場合を一例にとると、液晶表示パネル107側の接続用端子103は、その液晶表示パネル107のガラス基板上に形成されており、他方、TABテープ100側の外部接続用端子114は、そのTABテープ100の絶縁性フィルム基板101の表面上に形成されている。そして、液晶表示パネル107におけるガラス基板の熱膨張率が5ppm/℃程度であるのに対して、TABテープ100における絶縁性フィルム基板101の熱膨張率は15ppm/℃程度であり、TABテープ100側の絶縁性フィルム基板101の方が、約3倍も大きな熱膨張率を有している。このため、図8に一例を示したように、液晶表示パネル107側の接続用端子103とTABテープ100側の外部接続用端子114とを熱圧着によって接続する際の加熱に因って絶縁性フィルム基板101が大きく熱膨張し、その表面に形成されている外部接続用端子114が、液晶表示パネル107側の接続用端子103の配列位置に対して無視できないほどの(許容誤差範囲を超えた)位置ずれを生じる結果となる。   That is, taking the connection between the liquid crystal display panel 107 and the TAB tape 100 as an example, the connection terminal 103 on the liquid crystal display panel 107 side is formed on the glass substrate of the liquid crystal display panel 107, while The external connection terminal 114 on the TAB tape 100 side is formed on the surface of the insulating film substrate 101 of the TAB tape 100. The thermal expansion coefficient of the glass substrate in the liquid crystal display panel 107 is about 5 ppm / ° C., whereas the thermal expansion coefficient of the insulating film substrate 101 in the TAB tape 100 is about 15 ppm / ° C., which is the TAB tape 100 side. The insulating film substrate 101 has a thermal expansion coefficient that is about three times as large. Therefore, as shown in FIG. 8 as an example, insulation is caused by heating when the connection terminal 103 on the liquid crystal display panel 107 side and the external connection terminal 114 on the TAB tape 100 side are connected by thermocompression bonding. The film substrate 101 greatly expands thermally, and the external connection terminals 114 formed on the surface of the film substrate 101 cannot be ignored with respect to the arrangement position of the connection terminals 103 on the liquid crystal display panel 107 side (exceeding an allowable error range). ) As a result, misalignment occurs.

また、近年では、液晶表示パネルの表示画面のさらなる高精細化を達成するために、端子数が益々増加する傾向にある。このため、接続用端子103や外部接続用端子114の端子ピッチおよび端子幅がさらに狭くなって行く傾向にある。そうすると、接続用端子103と外部接続用端子114との間で僅かな位置ずれが生じても、それが両端子103、114の実質的な接触面積を著しく減少させることとなり、延いては接続不良や接続の信頼性の著しい低下を引き起こしてしまう。   In recent years, the number of terminals tends to increase more and more in order to achieve higher definition of the display screen of the liquid crystal display panel. For this reason, the terminal pitch and terminal width of the connection terminal 103 and the external connection terminal 114 tend to be further narrowed. As a result, even if a slight misalignment occurs between the connection terminal 103 and the external connection terminal 114, this substantially reduces the substantial contact area between the terminals 103 and 114, resulting in poor connection. And the reliability of the connection is significantly reduced.

斯様な位置ずれに起因した接続不良等の発生を回避するためには、事前に熱膨張に起因した外部接続用端子114の位置のずれ量を見込んで、各外部接続用端子114の形成位置を予め補正して設計しておくといった手法なども考えられる。
ところが、そのような補正を行ったとしても、実際の接続工程では、ロット毎での種々の製造条件の違いや同一ロットでも作業環境の微妙な違い等に起因して、必ずしも事前に見込んだ大きさの位置ずれが発生するわけではない。このため、折角、事前に位置ずれを見込んで各外部接続用端子114の形成位置に補正を入れて説計しても、実際にはその位置とは異なった位置にずれてしまい、やはり接続不良等が発生してしまう場合が多いという欠点がある。しかも、斯様な傾向は、上記のように端子幅が益々微細化するにつれて、さらに致命的なものとなって行く傾向にある。あるいは、実際の熱圧着工程で生じる外部接続用端子114の位置ずれが事前に見込んだ位置ずれ量に対して許容誤差範囲内に収まるように、熱圧着時のプロセス条件等を管理すればよいようにも考えられるが、実際には
、そのような管理は極めて精確に行わねばならず、非常に煩雑なものとなり、実用的とは言えないものになってしまう。
In order to avoid the occurrence of a connection failure or the like due to such misalignment, the position of each external connection terminal 114 is formed in anticipation of the amount of misalignment of the external connection terminal 114 due to thermal expansion in advance. It is also conceivable to use a method in which the design is corrected in advance.
However, even if such correction is performed, the actual connection process does not necessarily have a large size that is expected in advance due to various manufacturing conditions for each lot or subtle differences in the working environment even in the same lot. This is not the case. For this reason, even if it is assumed that the position is misaligned in advance and the position where each external connection terminal 114 is formed is corrected, it will actually shift to a position different from that position, resulting in poor connection. Etc. often occur. Moreover, such a tendency tends to become even more fatal as the terminal width becomes smaller as described above. Alternatively, the process conditions and the like at the time of thermocompression bonding may be managed so that the positional displacement of the external connection terminal 114 that occurs in the actual thermocompression bonding step is within an allowable error range with respect to the amount of positional displacement expected in advance. However, in practice, such management must be performed with great accuracy, which is very cumbersome and impractical.

本発明は、このような問題に鑑みて成されたもので、その目的は、外部の接続用端子に対する熱圧着の際に位置ずれが生じても、その外部の接続用端子に対して確実に接続されることが可能なTABテープおよびその製造方法ならびに配線板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a problem, and its purpose is to ensure that even if a positional shift occurs during thermocompression bonding to an external connection terminal, the external connection terminal is reliable. It is an object to provide a TAB tape that can be connected, a method for manufacturing the TAB tape, and a method for manufacturing a wiring board.

本発明のTABテープは、絶縁性フィルム基板の少なくとも片面に金属導体からなる導体層を備えており、当該導体層が配線パターンおよび配列された複数の外部接続用端子を形成してなる配線層であり、かつ前記外部接続用端子における所定の被加熱部が加熱されて外部の接続用端子と接続されるように設定されたTABテープであって、前記配列された複数の外部接続用端子が、当該配列における位置に対応して少なくとも2種類以上の異なった端子幅を有することを特徴としている。
本発明のTABテープの製造方法は、絶縁性フィルム基板の少なくとも片面に、金属導体をパターン加工して配線パターンおよび配列された複数の外部接続用端子を有する配線層を形成する工程と、前記外部接続用端子における所定の被加熱部を加熱して当該外部接続用端子を外部の配線板または半導体装置の接続用端子に接続する工程とを有するTABテープの製造方法であって、前記配線層を形成する工程では、前記複数の外部接続用端子の各端子幅を、前記加熱の際に前記絶縁性フィルム基板の熱膨張に起因して前記配列における各位置で生じる端子間の位置ずれの大きさにそれぞれ対応した広さに設定することを特徴としている。
本発明の配線板の製造方法は、絶縁性基板の少なくとも片面に、金属導体をパターン加工して配線パターンおよびそれに連なる複数配列された外部接続用端子を有する配線層を形成する工程と、前記外部接続用端子における所定の被加熱部を加熱して当該外部接続用端子を外部のTABテープまたは半導体装置もしくは配線板の接続用端子に接続する工程とを有する配線板の製造方法であって、前記外部接続用端子の各端子幅を、それぞれ、当該外部接続用端子の位置と前記配列における中心位置との間の距離をL[mm]、前記複数の外部接続用端子の位置の誤差率をα[%]、当該外部接続用端子の端子幅をW[μm]、前記外部の接続用端子との接続で許容される端子間の位置の許容ずれ率をβ[%]、前記複数の外部接続用端子の端子幅の標準偏差をσ[μm]として、
α≦{β・(W−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ
なる計算式で表される設計ルールに基づいて設定することを特徴としている。
The TAB tape of the present invention includes a conductor layer made of a metal conductor on at least one surface of an insulating film substrate, and the conductor layer is a wiring layer formed by forming a wiring pattern and a plurality of arranged external connection terminals. And a TAB tape that is set so that a predetermined heated portion in the external connection terminal is heated and connected to an external connection terminal, and the plurality of arranged external connection terminals include: It is characterized by having at least two different terminal widths corresponding to the positions in the array.
The method for producing a TAB tape of the present invention includes a step of patterning a metal conductor on at least one surface of an insulating film substrate to form a wiring layer having a wiring pattern and a plurality of arranged external connection terminals; A method of manufacturing a TAB tape, comprising: heating a predetermined heated portion in a connection terminal to connect the external connection terminal to an external wiring board or a connection terminal of a semiconductor device, In the forming step, each terminal width of the plurality of external connection terminals is determined by the size of positional deviation between the terminals occurring at each position in the array due to thermal expansion of the insulating film substrate during the heating. It is characterized by setting the size corresponding to each.
The method for producing a wiring board of the present invention includes a step of patterning a metal conductor on at least one surface of an insulating substrate to form a wiring layer having a wiring pattern and a plurality of external connection terminals arranged in series with the wiring pattern, A method of manufacturing a wiring board, comprising: heating a predetermined heated portion in a connection terminal to connect the external connection terminal to an external TAB tape or a connection terminal of a semiconductor device or a wiring board, Respective terminal widths of the external connection terminals, a distance between the position of the external connection terminal and the center position in the array, L [mm], and an error rate of the positions of the plurality of external connection terminals α [%], The terminal width of the external connection terminal is W [μm], the allowable deviation rate between the terminals allowed for connection with the external connection terminal is β [%], and the plurality of external connections Terminal for terminal Standard deviation as the σ [μm],
α ≦ {β · (W−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ
It is characterized in that it is set based on a design rule expressed by the following formula.

本発明によれば、配列された複数の外部接続用端子の端子幅を、均一な端子幅ではなく、その配列における位置に対応して、例えば最も大きな位置ずれの発生が想定される両端の位置の外部接続用端子を、位置ずれが最も小さいことが想定される配列方向中心部の位置の外部接続用端子よりも広いものとする、というように、少なくとも2種類以上の異なった端子幅とすることにより、このTABテープが例えば外部の液晶表示パネルに対して熱圧着で接続される際に、このTABテープ上の配列の両端の外部接続用端子に従来の技術では許容できなかったような大幅な位置ずれが生じたとしても、その位置ずれを両端の外部接続用端子の広い端子幅によって許容することができる。その結果、外部接続用端子を、相手方の例えば液晶表示パネルの接続用端子のような外部の接続用端子に対して、接続不良等の発生の虞なく、確実に接続することが可能となる。   According to the present invention, the terminal widths of the plurality of external connection terminals arranged are not uniform terminal widths, but corresponding to the positions in the arrangement, for example, the positions of both ends where the greatest misalignment is assumed The external connection terminal is made wider than the external connection terminal at the position of the central portion in the arrangement direction where the positional deviation is assumed to be the smallest, so that at least two different terminal widths are used. Thus, when this TAB tape is connected to an external liquid crystal display panel by thermocompression bonding, for example, the external connection terminals at both ends of the arrangement on the TAB tape are not allowed to be allowed by the conventional technique. Even if a misalignment occurs, the misalignment can be tolerated by the wide terminal width of the external connection terminals at both ends. As a result, the external connection terminal can be reliably connected to an external connection terminal such as a connection terminal of a liquid crystal display panel, for example, without causing a connection failure or the like.

以下、本発明の実施の形態に係るTABテープおよびその製造方法ならびに配線板の製造方法について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係るTABテープにおける配線面側の主要部の平面的構成を示す図、図2は、本発明の実施の形態に係るTABテープにおける、特に液晶表示パネルに対して接続されるアウターリード部が配列形成された部分を抜き出して模式的に示す図、図3は、図2に示したTABテープのアウターリード部と液晶表示パネルの接続用端子とを接続した状態を模式的に示す図、図4は、本発明の一実施の形態に係るTABテープが半導体素子を実装されると共に液晶表示パネルおよびプリント配線板に接続された状態の一例を示す図である。
Hereinafter, a TAB tape, a manufacturing method thereof, and a manufacturing method of a wiring board according to embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a planar configuration of a main part on the wiring surface side in a TAB tape according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a liquid crystal display panel in the TAB tape according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram schematically showing a portion where outer lead portions to be connected are arranged, and FIG. 3 is a diagram for connecting the outer lead portion of the TAB tape shown in FIG. 2 and a connection terminal of the liquid crystal display panel. FIG. 4 is a diagram schematically showing a state where the TAB tape according to one embodiment of the present invention is mounted, and FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a state in which a semiconductor element is mounted and connected to a liquid crystal display panel and a printed wiring board. is there.

このTABテープ1は、例えばポリイミドテープからなる絶縁性フィルム基板2における、一方の面に(以下、この一方の面を他方の面と区別するために、便宜上、配線面側とも呼ぶものとする)、配線パターン本体3を有する配線層が形成されている。
他方の面には(以下、この他方の面を、便宜上、GND面側とも呼ぶものとする)、いわゆるGND層(図示省略)が設けられる場合も多いが、ここでは説明の簡潔化のために、このTABテープ1は、GND面側にはGND層を有していない、いわゆる片面板タイプのものとする。
絶縁性フィルム基板2の幅方向左右両端には、パーホレーションホール5が、その絶縁性フィルム基板2の長手方向に沿って配列するように、所定のピッチ毎に穿ち設けられている。
The TAB tape 1 is formed on one surface of an insulating film substrate 2 made of, for example, polyimide tape (hereinafter, for the sake of convenience, the one surface is also referred to as a wiring surface side). A wiring layer having the wiring pattern body 3 is formed.
In many cases, a so-called GND layer (not shown) is provided on the other surface (hereinafter, the other surface is also referred to as a GND surface for convenience), but here, for the sake of simplicity of explanation. The TAB tape 1 is of a so-called single-sided plate type that does not have a GND layer on the GND surface side.
Perforation holes 5 are provided at predetermined pitches at both left and right ends in the width direction of the insulating film substrate 2 so as to be arranged along the longitudinal direction of the insulating film substrate 2.

さらに詳細には、このTABテープ1は、配線面側に、一般的な導体層の形成材料である銅箔をエッチング法等によりパターン加工してなる配線パターン本体3(平面図である図1ではソルダレジスト6で覆われているので一部のみを点線で描いて他は図示省略)、その配線パターン本体3に連なるアウターリード部7、8およびインナーリード部10が形成されている。インナーリード部10は、半導体実装領域9内に、その周縁に沿って配列形成されている。
アウターリード部7、8およびインナーリード部10の表面には、図4に示したように、錫めっきなどによる金属めっき層12(図1、2、3では省略)が形成されている。そしてそれらアウターリード部7、8およびインナーリード部10の上を除く配線パターン本体3の上には、絶縁性および機械的強度の補強のために、ソルダレジスト6が設けられている。アウターリード部7、8およびインナーリード部10は、いわゆる外部接続用端子として設けられたもので、被加熱部11(11a、11b、11c;以下、総称して符号11とも表記する)に加熱治工具等(図示省略)を押し当てられて加熱および加圧されることで、プリント配線板30、液晶表示パネル23、半導体素子40に対して、それぞれはんだバンプ31、ACF24、バンプ41を介して接続されるように設定されている。
More specifically, the TAB tape 1 has a wiring pattern body 3 formed by patterning a copper foil, which is a general conductor layer forming material, on the wiring surface side by an etching method or the like (in FIG. 1 which is a plan view). Since it is covered with the solder resist 6, only a part is drawn with a dotted line and the others are not shown), and outer lead portions 7 and 8 and an inner lead portion 10 connected to the wiring pattern main body 3 are formed. The inner lead portions 10 are arranged in the semiconductor mounting region 9 along the periphery thereof.
As shown in FIG. 4, a metal plating layer 12 (not shown in FIGS. 1, 2, and 3) is formed on the surfaces of the outer lead portions 7 and 8 and the inner lead portion 10 by tin plating or the like. A solder resist 6 is provided on the wiring pattern main body 3 except for the outer lead portions 7 and 8 and the inner lead portion 10 for reinforcement of insulation and mechanical strength. The outer lead portions 7 and 8 and the inner lead portion 10 are provided as so-called external connection terminals, and are used to heat-treat the heated portion 11 (11a, 11b, 11c; hereinafter collectively referred to as reference numeral 11). Connected to the printed wiring board 30, the liquid crystal display panel 23, and the semiconductor element 40 through solder bumps 31, ACFs 24, and bumps 41, respectively, by pressing and pressing a tool or the like (not shown). Is set to be.

このTABテープ1では、配列された複数のアウターリード部8が、均一な端子幅ではなく、その配列における位置に対応して少なくとも2種類以上の異なった端子幅を有するように設定されている。
より具体的には、複数のアウターリード部8−1・・・、8−k・・・8−n(これらを総称して8とも表記する)の各端子幅W1、Wk、Wnは、それぞれ、それら各アウターリード部8とその配列における図2、3の中心線20で表された中心位置との間の距離をL[mm]、複数のアウターリード部8の位置の誤差率をα[%]、中心線20に位置するアウターリード部8−1を第1番目として数えて第k番目のアウターリード部8−kの端子幅をWk[μm]、外部の液晶表示パネル23の表面に設けられている接続用端子22との接続で許容される端子間の位置の許容ずれ率をβ[%]、複数のアウターリード部8の端子幅の標準偏差をσ[μm]として、
α≦{β・(Wk−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ・・・(式1)
なる計算式で表される設計ルールに基づいて設定されている。
従って、このTABテープ1では、W1<W2<・・・<Wk<・・・<Wnとなって
いる。すなわち、中心位置にある第1番目のアウターリード部8−1から数えて第k番目に位置する外部接続用端子の端子幅Wkは(k=1、2、3・・・、n)、その配列における最も中央寄りに配置されている(つまり中心線20の位置に形成されている)アウターリード部8−1の端子幅W1が最少であり、そこから両端へと向うにつれて、その途中に配列されているアウターリード部8−2、8−3、8−4・・・の端子幅W2、W3、W4・・・は徐々に広い端子幅となっており、両端のアウターリード部8−nの端子幅Wnが最大となっている。なお、本実施の形態では、アウターリード部8の端子幅Wkとは、各アウターリード部8における上面、すなわち外部の接続用端子22等と対面して接続される表面の、配列方向の幅の大きさを指すものとする(以下同様)。
In the TAB tape 1, the plurality of arranged outer lead portions 8 are set to have at least two different terminal widths corresponding to positions in the arrangement, rather than a uniform terminal width.
More specifically, the terminal widths W1, Wk, and Wn of the plurality of outer lead portions 8-1..., 8-k. The distance between each of the outer lead portions 8 and the center position represented by the center line 20 in FIGS. 2 and 3 in the arrangement is L [mm], and the error rate of the positions of the plurality of outer lead portions 8 is α [ %], The outer lead portion 8-1 positioned at the center line 20 is counted as the first, the terminal width of the kth outer lead portion 8-k is Wk [μm], and the surface of the external liquid crystal display panel 23 is Assuming that the allowable deviation rate between the terminals allowed for connection with the connecting terminal 22 provided is β [%], the standard deviation of the terminal width of the plurality of outer lead portions 8 is σ [μm],
α ≦ {β · (Wk−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ (Expression 1)
It is set based on the design rule expressed by the following formula.
Therefore, in the TAB tape 1, W1 <W2 <... <Wk <... <Wn. That is, the terminal width Wk of the kth external connection terminal counted from the first outer lead portion 8-1 at the center position is (k = 1, 2, 3,..., N), The terminal width W1 of the outer lead portion 8-1 arranged closest to the center of the array (that is, formed at the position of the center line 20) is the smallest, and the array is arranged in the middle from there toward the both ends. The terminal widths W2, W3, W4... Of the outer lead portions 8-2, 8-3, 8-4. The terminal width Wn is the maximum. In the present embodiment, the terminal width Wk of the outer lead portion 8 is the width in the arrangement direction of the upper surface of each outer lead portion 8, that is, the surface connected to face the external connection terminals 22 and the like. It shall refer to size (the same shall apply hereinafter).

次に、本実施の形態に係るTABテープ1の製造方法について、特にそのアウターリード部8の端子幅Wkの設定プロセスを中心として、外部の液晶表示パネル23との熱圧着による接続工程との関連も交えて説明する。
このTABテープ1の各アウターリード部8−kは、それぞれ配置された位置ごとに対応して上記の計算式に基づいて設定された端子幅Wkを有するものとなるように、絶縁性フィルム基板2の片面に張り合わされた銅箔のような導体箔をフォトリソグラフィ法およびエッチング法等を用いてパターン加工することによって形成される。そのパターン加工の際に用いられるフォトリソグラフィプロセスやエッチングプロセスそれ自体については、一般的なもので構わない。また、その前後の各工程についても、一般的なもので構わない。むしろ、本実施の形態に係るTABテープの製造方法は、その最も特徴的なプロセスである各アウターリード部8−kの端子幅Wkの設定プロセス以外については、一般的なTABテープで用いられるエッチングプロセス等とは異なる特殊なパターン加工プロセスを用いるように変更したりアウターリード部8のパターン加工精度のさらなる向上のためにそのパターン加工プロセスを極めて煩雑なものとしたりすることなく、一般的なパターン加工プロセス等を踏襲することが可能であるというメリットも有しているのである。
Next, the manufacturing method of the TAB tape 1 according to the present embodiment is related to the connection process by thermocompression bonding with the external liquid crystal display panel 23, particularly focusing on the setting process of the terminal width Wk of the outer lead portion 8. I will explain it with.
Each of the outer lead portions 8-k of the TAB tape 1 has an insulating film substrate 2 so as to have a terminal width Wk set based on the above calculation formula corresponding to each arranged position. It is formed by patterning a conductive foil such as a copper foil laminated on one side of the film using a photolithography method, an etching method, or the like. The photolithography process and etching process itself used for the pattern processing may be general. Also, the respective steps before and after that may be general ones. Rather, the manufacturing method of the TAB tape according to the present embodiment is an etching used for a general TAB tape except for the process of setting the terminal width Wk of each outer lead portion 8-k, which is the most characteristic process. The general pattern can be changed without using a special pattern processing process different from the process, etc., or making the pattern processing process extremely complicated to further improve the pattern processing accuracy of the outer lead 8. It also has the merit of being able to follow the machining process.

このTABテープ1のアウターリード部8は、液晶表示パネル23の接続用端子22に対して、熱圧着法により接続される。その熱圧着の際の、液晶表示パネル23側の接続用端子22とTABテープ1側のアウターリード部8との位置合わせは、両方の端子の配列の中心線20を基準に行われることが一般的である。
そうすると、中心線20に位置している、アウターリード部8−1と接続用端子22−1とが、最も少ない位置ずれで高精度に接続されることとなり、中心線20から両端へと行くにつれて、絶縁性フィルム基板2の熱膨張に起因した位置ずれは累積的に大きくなって行き、両端のアウターリード部8−nと接続用端子22−nとが、最も大きな位置ずれを伴って接続されることとなる。このような各位置で発生する位置ずれの大きさの傾向については普遍的であるが、その位置ずれの大きさの値については、種々の要因で変化する。
The outer lead portion 8 of the TAB tape 1 is connected to the connection terminal 22 of the liquid crystal display panel 23 by a thermocompression bonding method. In the thermocompression bonding, the alignment between the connection terminal 22 on the liquid crystal display panel 23 side and the outer lead portion 8 on the TAB tape 1 side is generally performed with reference to the center line 20 of the arrangement of both terminals. Is.
As a result, the outer lead portion 8-1 and the connection terminal 22-1 located on the center line 20 are connected with high accuracy with the least positional deviation, and as the center line 20 goes to both ends. The displacement due to the thermal expansion of the insulating film substrate 2 increases cumulatively, and the outer lead portions 8-n at both ends and the connection terminals 22-n are connected with the largest displacement. The Rukoto. The tendency of the magnitude of the positional deviation occurring at each position is universal, but the magnitude of the magnitude of the positional deviation varies depending on various factors.

しかし、本実施の形態に係るTABテープの製造方法では、各アウターリード部8−kの端子幅Wkを、既述の式;
α≦{β・(Wk−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ・・・(式1)
に基づいて、接続工程における加熱および加圧の際に絶縁性フィルム基板2の熱膨張に起因して各位置で生じることが見込まれるTABテープ1のアウターリード部8−kと液晶表示パネル23の接続用端子22−kとの、端子間の位置ずれの大きさにそれぞれ対応して、その位置ずれを許容可能な広さとなるように設定している。
これにより、図3に一例を示したように、TABテープ1の絶縁性フィルム基板2の熱膨張等に起因して、たとえ従来の技術では許容できなかったような大幅な端子間の位置ずれが生じたり、さらにその位置ずれに予期せぬばらつきが生じたりしたとしても、その位置ずれやばらつきを各アウターリード部8−kの適宜に拡張された端子幅Wkによって許容することができる。その結果、全てのアウターリード部8を相手方の液晶表示パネル2
3の全ての接続用端子22に対して接続不良等の発生の虞なく確実に接続することが可能となる。
However, in the TAB tape manufacturing method according to the present embodiment, the terminal width Wk of each outer lead portion 8-k is expressed by the above-described formula;
α ≦ {β · (Wk−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ (Equation 1)
Of the outer lead portion 8-k of the TAB tape 1 and the liquid crystal display panel 23 that are expected to occur at each position due to thermal expansion of the insulating film substrate 2 during heating and pressurization in the connection step. Corresponding to the size of the positional deviation between the terminals with the connection terminal 22-k, the positional deviation is set to an allowable width.
As a result, as shown in FIG. 3, due to the thermal expansion of the insulating film substrate 2 of the TAB tape 1, there is a large misalignment between the terminals that could not be allowed by the conventional technology. Even if it occurs or an unexpected variation occurs in the positional deviation, the positional deviation or variation can be allowed by the appropriately expanded terminal width Wk of each outer lead portion 8-k. As a result, all the outer lead parts 8 are connected to the liquid crystal display panel 2 of the other party.
Thus, it is possible to reliably connect all the three connection terminals 22 with no fear of connection failure or the like.

ここで、上記の式1は、Wkについて解くように変形すると、
(1000・L・α)/β+γ≦Wk・・・(式2)
となるので、実用上は、この式2を用いて、その左辺のL、α、β、γにそれぞれ実際の数値を代入して計算することで、所定の許容ずれ率βを確保するという条件を満足する各アウターリード部8−kの端子幅Wkを、それぞれ設定することができる。
例えば、一般的なTABテープでは、上記のL、α、βの具体的な各数値は、
L=0.1〜24[mm]、
α=0.03[%]、
β=30[%]、
程度である。そして仮に、計算の簡潔化のために、σ=0とすると、α、βの各数値を上記の式2に代入すると、
L≦Wk・・・(式3)
となる。この式3のLに、ここでの計算の対象となるアウターリード部8の、中心線20からの距離L[mm]の具体的な数値を代入することにより、位置ずれが生じてもそれを許容(あるいは凌駕)して確実な接続を確保することができるような端子幅Wkの具体的な最小値を設定することができる。
例えば、中心線20から10mm離れた位置のアウターリード部8−kの端子幅の場合、L=10であるから、式3によって、10≦Wkとなる。すなわち、この一例の、中心線20から10mm離れた位置に設けられるアウターリード部8−kの端子幅Wkは、10μm以上に設定すればよいこととなる。
Here, when the above equation 1 is transformed to solve for Wk,
(1000 · L · α) / β + γ ≦ Wk (Formula 2)
Therefore, in practice, a condition that a predetermined allowable deviation rate β is ensured by calculating by substituting actual numerical values for L, α, β, and γ on the left side of the left side using Equation 2. The terminal width Wk of each outer lead portion 8-k that satisfies the above can be set.
For example, in a general TAB tape, the specific numerical values of L, α, and β are as follows:
L = 0.1 to 24 [mm],
α = 0.03 [%],
β = 30 [%],
Degree. For the sake of simplifying the calculation, assuming that σ = 0, substituting the numerical values of α and β into the above equation 2,
L ≦ Wk (Formula 3)
It becomes. By substituting a specific numerical value of the distance L [mm] from the center line 20 of the outer lead portion 8 to be calculated here into L of this expression 3, even if a positional deviation occurs, A specific minimum value of the terminal width Wk that can allow (or surpass) and secure a reliable connection can be set.
For example, in the case of the terminal width of the outer lead portion 8-k at a position 10 mm away from the center line 20, since L = 10, 10 ≦ Wk according to Equation 3. That is, in this example, the terminal width Wk of the outer lead portion 8-k provided at a position 10 mm away from the center line 20 may be set to 10 μm or more.

あるいは他の一例として、上記のL、α、βの具体的な各数値にさらに追加して、σが0ではなくて、例えばσ=0.7μm(すなわちγ=2.1)である場合には、それらの数値を式2に代入すると、
(L+2.1)≦Wk・・・(式4)
となる。この式4のLに、端子幅の設定の対象となるアウターリード部8が形成される位置における距離L[mm]の具体的な数値を代入することにより、このときの端子幅Wkの具体的な最小値を設定することができる。
例えば、中心線20から10mm離れた位置のアウターリード部8−kの端子幅の場合、L=10であるから、式4にそのLの値を代入して計算すると、12.1≦Wkとなる。すなわち、この中心線20から10mm離れた位置のアウターリード部8−kの場合には、端子幅Wkは12.1μm以上の大きさに設定すればよいということになる。また、L=20mmの場合には、式4にそのL=20を代入して計算すると、22.1≦Wkとなり、この場合の端子幅Wkは22.1μm以上の大きさに設定すればよいということになる。
Alternatively, as another example, in addition to the above specific numerical values of L, α, and β, when σ is not 0, for example, σ = 0.7 μm (that is, γ = 2.1). Substituting those numbers into Equation 2,
(L + 2.1) ≦ Wk (Formula 4)
It becomes. By substituting a specific numerical value of the distance L [mm] at the position where the outer lead portion 8 for which the terminal width is to be set is substituted for L in the equation 4, the specific terminal width Wk at this time is specified. Minimum value can be set.
For example, in the case of the terminal width of the outer lead portion 8-k at a position 10 mm away from the center line 20, L = 10. Therefore, when calculating by substituting the value of L into Equation 4, 12.1 ≦ Wk Become. That is, in the case of the outer lead portion 8-k located 10 mm away from the center line 20, the terminal width Wk may be set to a size of 12.1 μm or more. Further, when L = 20 mm, calculation is performed by substituting L = 20 into Equation 4, and 22.1 ≦ Wk. In this case, the terminal width Wk may be set to a size of 22.1 μm or more. It turns out that.

ここで、上記のL、α、βの実用的な数値範囲としては、具体的には、
L[mm]が、0.1以上〜24以下、
α[%]が、0.01以上〜0.05以下、
β[%]が、40以下、
σ[μm]が、5以下
である。
そして、L、α、βの各数値が、それぞれこのような数値範囲内の値であるときには、式2によって計算すると、端子幅Wk[μm]は、5以上〜50以下と設定される。
但し、上記のL、α、β、Wkは、一般的な仕様のTABテープについての実用上有効であるという観点から望ましいと考えられる数値的態様であって、本発明の実施の形態に係るTABテープおよびその製造方法ならびに配線板の製造方法として適用可能な具体的
数値は、これのみには限定されないことは言うまでもない。
Here, as a practical numerical range of the above L, α, β, specifically,
L [mm] is 0.1 to 24,
α [%] is 0.01 to 0.05,
β [%] is 40 or less,
σ [μm] is 5 or less.
When the numerical values of L, α, and β are values within such numerical ranges, the terminal width Wk [μm] is set to 5 or more and 50 or less when calculated according to Equation 2.
However, the above-mentioned L, α, β, and Wk are numerical modes that are considered desirable from the viewpoint of practically effective for TAB tapes of general specifications, and are TABs according to the embodiments of the present invention. Needless to say, the specific numerical values applicable as the method of manufacturing the tape and its manufacturing method and the wiring board are not limited to this.

ここで、上記の式1、式2では、端子幅Wkの最大値については規定されていないが、これは、各アウターリード部8−kの位置ずれおよびそのばらつきを許容して確実な接続を達成するという観点からは端子幅Wkは大きければ大きいほどよいのであるから、その最大値を規定することについては無意味だからである。蓋し、実際的な各端子幅Wkの最大値は、例えば、与えられた端子ピッチ内でいわゆる最低必要ギャップと呼ばれるような端子同士の間隔として要求される最小の端子間隔を確保できるような端子幅の大きさとして規定されることとなる。   Here, in the above formulas 1 and 2, the maximum value of the terminal width Wk is not stipulated, but this allows a reliable connection by allowing the positional deviation and variations of the outer lead portions 8-k. This is because the larger the terminal width Wk, the better from the viewpoint of achieving it, and it is meaningless to define the maximum value. The maximum value of each terminal width Wk that can be practically used is, for example, a terminal that can ensure the minimum terminal spacing required as the spacing between terminals, which is called the so-called minimum required gap, within a given terminal pitch. It will be defined as the size of the width.

次に、本発明の実施の形態に係るTABテープの作用について説明する。
このTABテープ1の各アウターリード部8−kは、上記の式1で表される設計ルールに基づいて各端子幅Wkが設定され、絶縁性フィルム基板2の片面に張り合わされた銅箔のような導体箔を一般的なフォトリソグラフィプロセスおよびエッチングプロセス等を用いてパターン加工することによって形成される。そして、このTABテープ1の各アウターリード部8−kは、図3に一例を示したように、液晶表示パネル23の各接続用端子22−kに対して熱圧着法により接続される。その接続の際には、図2および図3に中心線20で示した中心部に位置するアウターリード部8−1と接続用端子22−1とが、位置合わせの基準として用いられる。その接続が行われる熱圧着工程では、TABテープ1の絶縁性フィルム基板2が加熱されて熱膨張することに起因して、その絶縁性フィルム基板2の表面に形成されている各アウターリード部8−kも位置ずれを引き起こす。このため、中心部に位置しているアウターリード部8−1では最小の位置ずれとなり、そこから両端に近くなるほど位置ずれが累積的に大きくなっていく。そして、左右両端に位置しているアウターリード部8−nの位置ずれが最も大きなものとなる。
斯様な位置ずれの大きさは、定性的な傾向としては上記のように中心部では小さく両端部に近いほど大きくなる傾向にあることは確かであるが、その大きさの具体的な数値は、種々の条件に依存して、事前に見込んだ値から大幅に逸脱するほどにばらつくことが多い。このため、従来提案されていたような、事前に位置ずれの大きさを見込んで予め各アウターリード部の形成位置をずらせて配置しておくという手法では、実際に生じる位置ずれの大きさが、事前に見込んだ位置ずれの大きさとは異なったものとなる場合が多く、しかも各アウターリード部の端子幅は均一に細いので、実際に生じた位置ずれのばらつきの悪影響をもろに受けて、要求される最低限の接続面積さえ確保することが困難になってしまうといった、致命的な不都合が生じていた。
Next, the operation of the TAB tape according to the embodiment of the present invention will be described.
Each outer lead portion 8-k of the TAB tape 1 has a terminal width Wk set based on the design rule expressed by the above formula 1 and is like a copper foil bonded to one surface of the insulating film substrate 2. The conductive foil is formed by patterning using a general photolithography process and etching process. Each outer lead portion 8-k of the TAB tape 1 is connected to each connection terminal 22-k of the liquid crystal display panel 23 by a thermocompression bonding method, as shown in FIG. At the time of the connection, the outer lead portion 8-1 and the connection terminal 22-1 located at the center indicated by the center line 20 in FIGS. 2 and 3 are used as a reference for alignment. In the thermocompression bonding process in which the connection is performed, the outer lead portions 8 formed on the surface of the insulating film substrate 2 due to the insulating film substrate 2 of the TAB tape 1 being heated and thermally expanded. -K also causes misalignment. For this reason, in the outer lead part 8-1 located in the center part, it becomes the minimum position shift, and the position shift increases cumulatively as it is closer to both ends. And the position shift of the outer lead part 8-n located at both left and right ends becomes the largest.
The magnitude of such misalignment is certainly a qualitative tendency, as described above, that it tends to be smaller at the center and closer to both ends, but the specific numerical value of the magnitude is Depending on various conditions, there are often variations that deviate significantly from previously anticipated values. For this reason, in the method of arranging the outer lead portions in advance by shifting the formation position of each outer lead part in advance, as previously proposed, the magnitude of the position deviation is preliminarily determined. The amount of misalignment expected in advance is often different, and the terminal width of each outer lead is uniformly thin. This has caused a fatal inconvenience that it is difficult to secure even the minimum connection area.

しかし、本発明の実施の形態に係るTABテープおよびその製造方法によれば、配列形成される各アウターリード部8−kの端子幅Wkを、従来のような均一な端子幅ではなく、上記の式1(あるいは式2)に基づいて、位置ずれが最も小さいことが想定される中心部に位置しているアウターリード部8−1を、最も小さい端子幅W1とし、そこから両端に近付くにつれて徐々に端子幅Wkを大きくして行き、最も大きな位置ずれの発生が想定される両端部に位置しているアウターリード部8−nを、最も広い端子幅Wnとしている。
このようにすることにより、本発明の実施の形態に係るTABテープ1を液晶表示パネル23に対して熱圧着で接続する際に、このTABテープ1上に配列形成された各アウターリード部8に従来の技術では許容できなかったような大幅な位置ずれが生じたとしても、またその位置ずれにばらつきが生じたとしても、その位置ずれを適宜に拡張された端子幅Wkによって許容して、アウターリード部8を、相手方の液晶表示パネル23の接続用端子22のような外部の接続用端子に対して、接続不良等の発生の虞なく、また各製造工程やそれに用いられる各種プロセスの煩雑化を伴うことなしに、確実に接続することができる。
However, according to the TAB tape and the manufacturing method thereof according to the embodiment of the present invention, the terminal width Wk of the outer lead portions 8-k to be arranged is not the uniform terminal width as in the conventional case, but the above-described terminal width Wk. Based on Formula 1 (or Formula 2), the outer lead portion 8-1 located at the central portion where the positional deviation is assumed to be the smallest is set to the smallest terminal width W1, and gradually approaches the both ends from there. The outer lead portions 8-n located at both end portions where the largest positional deviation is assumed are set to the widest terminal width Wn.
Thus, when the TAB tape 1 according to the embodiment of the present invention is connected to the liquid crystal display panel 23 by thermocompression bonding, the outer lead portions 8 arranged on the TAB tape 1 are arranged on the outer lead portions 8. Even if a large misalignment that cannot be allowed by the conventional technology occurs or even if the misalignment occurs, the misalignment is allowed by the appropriately expanded terminal width Wk. The lead portion 8 can be connected to an external connection terminal such as the connection terminal 22 of the counterpart liquid crystal display panel 23 without causing a connection failure, and each manufacturing process and various processes used for it are complicated. It is possible to connect securely without involving.

ここで、式1の左辺のαは、絶縁性フィルム基板2の熱膨張等に起因して生じるアウターリード部8の位置の誤差率(換言すれば位置のばらつき精度、もしくは位置ずれ率)である。すなわち、熱圧着の際の加熱で絶縁性フィルム基板2が熱膨張することに起因して、その絶縁性フィルム基板2の表面上に形成された各アウターリード部8には位置ずれが生じることとなるが、その位置ずれを、ずれが生じる以前の位置(これを真値と看做す)との誤差としたときの、誤差率[%]である。これは換言すればアウターリード部8の位置のばらつき精度である。従って、この式1は、左辺の誤差率あるいは位置のばらつき精度の最大値が右辺によって規定される、ということを意味していると看做すことができる。そうすると、式1の右辺の式中にある端子幅Wkを適宜に大きくすることによって、左辺の誤差率の最大値αを緩和することができる、ということになる。このような観点からの考察に基づけば、本発明の実施の形態に係るTABテープおよびその製造方法ならびに配線板の製造方法により、絶縁性フィルム基板2の熱膨張等に起因したアウターリード部8の位置の誤差あるいはばらつき精度の管理条件等を緩和することができるので、例えばポリイミドフィルムのような、一般に慣用されていて使いやすくまた安価であるが熱膨張率の高い材質からなる基板を、接続不良等の発生の虞なく、また製造工程の煩雑化やプロセス条件管理の厳格化等引き起こすことなしに、絶縁性フィルム基板2として簡便かつ低コストに用いることが可能となる。   Here, α on the left side of Equation 1 is an error rate of the position of the outer lead portion 8 caused by thermal expansion or the like of the insulating film substrate 2 (in other words, positional variation accuracy or positional deviation rate). . That is, due to the thermal expansion of the insulating film substrate 2 due to heating during thermocompression bonding, the outer lead portions 8 formed on the surface of the insulating film substrate 2 are displaced. However, the error rate [%] when the positional deviation is regarded as an error from the position before the deviation occurs (this is regarded as a true value). In other words, this is the variation accuracy of the position of the outer lead portion 8. Therefore, this expression 1 can be regarded as meaning that the right side defines the maximum error rate or position variation accuracy on the left side. Then, the maximum value α of the error rate on the left side can be relaxed by appropriately increasing the terminal width Wk in the formula on the right side of Equation 1. Based on the consideration from such a viewpoint, the TAB tape according to the embodiment of the present invention, the method for manufacturing the TAB tape, and the method for manufacturing the wiring board, the outer lead portion 8 of the insulating film substrate 2 due to the thermal expansion or the like. Since it is possible to relax the control conditions for positional error or variation accuracy, a poorly connected board made of a material that is commonly used, easy to use and inexpensive, but has a high coefficient of thermal expansion, such as polyimide film, is used. The insulating film substrate 2 can be used simply and at low cost without causing the occurrence of such problems and without causing complicated manufacturing processes and strict management of process conditions.

なお、各アウターリード部8−kの端子幅Wkは、中心線20から離れて両端へと近付くにつれて等差数列的に大きくなるように、つまりW1<W2<W3<・・・<Wk<・・・<Wnのように、その一つ一つの各アウターリード部8−kごとに全て大きさを変えて設定するようにしてもよいが、この他にも、位置ずれが累積されて許容ずれ率を満たすことができなくなった段階ごとに、例えばW1=W2=W3<W4=W5=W6<W7=W8=W9<・・・<Wnのように、段階的に大きさを変えるようにしてもよい。   It should be noted that the terminal width Wk of each outer lead portion 8-k increases in an arithmetic progression as it moves away from the center line 20 toward both ends, that is, W1 <W2 <W3 <... <Wk <. .. <Wn, each of the outer lead portions 8-k may be set by changing the size, but in addition to this, the positional deviation is accumulated and the allowable deviation For each stage where the rate cannot be satisfied, for example, W1 = W2 = W3 <W4 = W5 = W6 <W7 = W8 = W9 <. Also good.

また、上記の実施の形態では、本発明を液晶表示パネルの接続用端子と接続されるTABテープの外部接続用端子に適用した場合について説明したが、この他にも、例えばプリント配線板30等のような各種配線板や、半導体素子40のような各種半導体素子の表面に形成される接続用端子に適用することなども可能である。そのような場合にも、上記のTABテープ1の場合と同様にして各端子幅Wkを設定することによって、上記のTABテープ1の場合と同様の効果を得ることができることは勿論である。但し、そのような場合には、L、α、β、σの具体的な各数値は、絶縁性基板として使用されている基板の熱伸縮率等の材質や各種仕様が上記のTABテープ1の場合とは異なっていることが一般的であるから、それぞれその場合ごとで好適な実用上の具体的数値を選択することが必要となることは言うまでもない。   In the above embodiment, the case where the present invention is applied to the external connection terminal of the TAB tape connected to the connection terminal of the liquid crystal display panel has been described. It is also possible to apply to various wiring boards such as the above, and connection terminals formed on the surface of various semiconductor elements such as the semiconductor element 40. Even in such a case, it is a matter of course that the same effect as in the case of the TAB tape 1 can be obtained by setting each terminal width Wk in the same manner as in the case of the TAB tape 1. However, in such a case, the specific numerical values of L, α, β, and σ are the same as those of the TAB tape 1 described above, depending on the material such as the thermal expansion / contraction rate of the substrate used as the insulating substrate and various specifications. Since it is generally different from the case, it is needless to say that it is necessary to select a practical practical value suitable for each case.

また、上記の実施の形態では、熱圧着の際に絶縁性フィルム基板2が熱膨張して、中心部から両端に向かって伸びる方向にアウターリード部8の位置ずれが生じる場合について説明したが、これとは逆方向に、絶縁性フィルム基板2が縮むことで、中心部に向かって縮む方向にアウターリード部8の位置ずれが生じる場合などにも、本発明は適用可能であることは言うまでもない。   In the above embodiment, the case where the insulating film substrate 2 is thermally expanded during thermocompression bonding and the outer lead portion 8 is displaced in the direction extending from the center toward both ends has been described. Needless to say, the present invention can also be applied to the case where the position of the outer lead portion 8 is shifted in the direction of contraction toward the center due to the contraction of the insulating film substrate 2 in the opposite direction. .

本発明の一実施の形態に係るTABテープにおける配線面側の主要部の平面的構成を示す図である。It is a figure which shows the planar structure of the principal part by the side of the wiring surface in the TAB tape which concerns on one embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係るTABテープにおける、特に液晶表示パネルに対して接続されるアウターリード部が配列形成された部分を抜き出して模式的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing a portion of the TAB tape according to the embodiment of the present invention in which outer lead portions connected to a liquid crystal display panel are arranged and formed. 図2に示したTABテープのアウターリード部と液晶表示パネルの接続用端子とを接続した状態を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the state which connected the outer lead part of the TAB tape shown in FIG. 2, and the terminal for a connection of a liquid crystal display panel. 本発明の一実施の形態に係るTABテープが半導体素子を実装されると共に液晶表示パネルおよびプリント配線板に接続された状態の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the state in which the TAB tape which concerns on one embodiment of this invention was mounted with the semiconductor element and was connected to the liquid crystal display panel and the printed wiring board. 液晶駆動用ICのような半導体素子を実装するために用いられる、従来の一般的なCOF方式を採用したTABテープにおける半導体装置の1個分に対応した部分の平面的構成を示す図である。It is a figure which shows the planar structure of the part corresponding to one semiconductor device in the TAB tape which employ | adopted the conventional general COF system used in order to mount semiconductor elements, such as IC for liquid crystal drive. 図5に示したTABテープに半導体素子を実装したものを液晶表示パネルに接続した状態の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of a state in which a semiconductor device mounted on the TAB tape shown in FIG. 5 is connected to a liquid crystal display panel. 従来のTABテープにおける、特に液晶表示パネルに対して接続されるアウターリード部が配列形成された部分を抜き出して模式的に示す図である。It is the figure which extracts and shows typically the part in which the outer lead part connected with respect to a liquid crystal display panel in the conventional TAB tape was arranged. 図7に示したTABテープのアウターリード部と液晶表示パネルの接続用端子とを接続した状態を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the state which connected the outer lead part of the TAB tape shown in FIG. 7, and the terminal for a connection of a liquid crystal display panel.

符号の説明Explanation of symbols

1 TABテープ
2 絶縁性フィルム基板
3 配線パターン本体
4 GND層
5 パーホレーションホール
6 ソルダレジスト
7、8 アウターリード部
9 半導体実装領域
10 インナーリード部
11 被加熱部
12 金属めっき層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 TAB tape 2 Insulating film board 3 Wiring pattern main body 4 GND layer 5 Perforation hole 6 Solder resist 7, 8 Outer lead part 9 Semiconductor mounting area 10 Inner lead part 11 Heated part 12 Metal plating layer

Claims (7)

絶縁性フィルム基板の少なくとも片面に金属導体からなる導体層を備えており、当該導体層が配線パターンおよび配列された複数の外部接続用端子を形成してなる配線層であり、かつ前記外部接続用端子における所定の被加熱部が加熱されて外部の接続用端子と接続されるように設定されたTABテープであって、
前記配列された複数の外部接続用端子が、当該配列における位置に対応して少なくとも2種類以上の異なった端子幅を有する
ことを特徴とするTABテープ。
A conductive layer made of a metal conductor is provided on at least one surface of the insulating film substrate, and the conductive layer is a wiring layer formed with a wiring pattern and a plurality of arranged external connection terminals, and for the external connection A TAB tape set so that a predetermined heated portion in the terminal is heated and connected to an external connection terminal,
The TAB tape, wherein the plurality of arranged external connection terminals have at least two different terminal widths corresponding to positions in the arrangement.
請求項1記載のTABテープにおいて、
前記配列における両端の外部接続用端子が、当該配列における中央寄りの外部接続用端子の端子幅よりも広い端子幅を有する
ことを特徴とするTABテープ。
The TAB tape according to claim 1,
The TAB tape characterized in that the external connection terminals at both ends in the array have a terminal width wider than the terminal width of the external connection terminals closer to the center in the array.
請求項2記載のTABテープにおいて、
前記複数の外部接続用端子の各端子幅は、それぞれ、当該各外部接続用端子の位置と前記配列における中心位置との間の距離をL[mm]、前記複数の外部接続用端子の位置の誤差率をα[%]、当該外部接続用端子の端子幅をW[μm]、前記外部の接続用端子との接続で許容される端子間の位置の許容ずれ率をβ[%]、前記複数の外部接続用端子の端子幅の標準偏差をσ[μm]として、
α≦{β・(W−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ
なる計算式で表される設計ルールに基づいて設定されたものである
ことを特徴とするTABテープ。
The TAB tape according to claim 2,
The terminal widths of the plurality of external connection terminals are the distances between the positions of the external connection terminals and the center position in the array, L [mm], and the positions of the plurality of external connection terminals. The error rate is α [%], the terminal width of the external connection terminal is W [μm], the allowable deviation rate of the position between the terminals allowed for connection with the external connection terminal is β [%], Assuming that the standard deviation of the terminal widths of a plurality of external connection terminals is σ [μm],
α ≦ {β · (W−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ
A TAB tape, which is set based on a design rule expressed by the following formula.
請求項3記載のTABテープにおいて、
前記距離L[mm]が、0.1以上〜24以下、
前記誤差率α[%]が、0.01以上〜0.05以下、
前記許容ずれ率β[%]が、40以下、
標準偏差σ[μm]が、5以下であり、
かつ前記端子幅W[μm]が、5以上〜50以下である
ことを特徴とするTABテープ。
The TAB tape according to claim 3,
The distance L [mm] is 0.1 to 24,
The error rate α [%] is 0.01 to 0.05,
The allowable deviation rate β [%] is 40 or less,
The standard deviation σ [μm] is 5 or less,
And the said terminal width W [micrometer] is 5-50, The TAB tape characterized by the above-mentioned.
絶縁性フィルム基板の少なくとも片面に、金属導体をパターン加工して配線パターンおよび配列された複数の外部接続用端子を有する配線層を形成する工程と、前記外部接続用端子における所定の被加熱部を加熱して当該外部接続用端子を外部の配線板または半導体装置の接続用端子に接続する工程とを有するTABテープの製造方法であって、
前記配線層を形成する工程では、前記複数の外部接続用端子の各端子幅を、前記加熱の際に前記絶縁性フィルム基板の熱膨張に起因して前記配列における各位置で生じる端子間の位置ずれの大きさにそれぞれ対応した広さに設定する
ことを特徴とするTABテープの製造方法。
Patterning a metal conductor on at least one surface of the insulating film substrate to form a wiring layer having a wiring pattern and a plurality of arranged external connection terminals; and a predetermined heated portion in the external connection terminals. Heating and connecting the external connection terminal to an external wiring board or a connection terminal of a semiconductor device, and a method for producing a TAB tape,
In the step of forming the wiring layer, each terminal width of the plurality of external connection terminals is a position between terminals generated at each position in the array due to thermal expansion of the insulating film substrate during the heating. A method for producing a TAB tape, characterized in that the width is set in accordance with the size of each deviation.
請求項5記載のTABテープの製造方法において、
前記外部接続用端子の各端子幅を、それぞれ、当該外部接続用端子の位置と前記配列における中心位置との間の距離をL[mm]、前記複数の外部接続用端子の位置の誤差率をα[%]、当該各外部接続用端子の端子幅をW[μm]、前記外部の接続用端子との接続で許容される端子間の位置の許容ずれ率をβ[%]、前記複数の外部接続用端子の端子幅の標準偏差をσ[μm]として、
α≦{β・(W−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ
なる計算式で表される設計ルールに基づいて設定する
ことを特徴とするTABテープの製造方法。
In the manufacturing method of the TAB tape of Claim 5,
Respective terminal widths of the external connection terminals, distances between the positions of the external connection terminals and the center positions in the array, L [mm], and error rates of the positions of the plurality of external connection terminals α [%], the terminal width of each external connection terminal is W [μm], the allowable deviation rate between the terminals allowed for connection with the external connection terminal is β [%], The standard deviation of the terminal width of the external connection terminal is σ [μm],
α ≦ {β · (W−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ
A method for producing a TAB tape, which is set based on a design rule expressed by the following formula.
絶縁性基板の少なくとも片面に、金属導体をパターン加工して配線パターンおよびそれに連なる複数配列された外部接続用端子を有する配線層を形成する工程と、前記外部接続用端子における所定の被加熱部を加熱して当該外部接続用端子を外部のTABテープまたは半導体装置もしくは配線板の接続用端子に接続する工程とを有する配線板の製造方法であって、
前記外部接続用端子の各端子幅を、それぞれ、当該外部接続用端子の位置と前記配列における中心位置との間の距離をL[mm]、前記複数の外部接続用端子の位置の誤差率をα[%]、当該各外部接続用端子の端子幅をW[μm]、前記外部の接続用端子との接続で許容される端子間の位置の許容ずれ率をβ[%]、前記複数の外部接続用端子の端子幅の標準偏差をσ[μm]として、
α≦{β・(W−γ)}/(1000・L)、ここにγ=3σ
なる計算式で表される設計ルールに基づいて設定する
ことを特徴とする配線板の製造方法。
Patterning a metal conductor on at least one surface of an insulating substrate to form a wiring layer having a wiring pattern and a plurality of external connection terminals arranged in series therewith, and a predetermined heated portion in the external connection terminal. Heating and connecting the external connection terminal to an external TAB tape or a connection terminal of a semiconductor device or a wiring board,
Respective terminal widths of the external connection terminals, distances between the positions of the external connection terminals and the center positions in the array, L [mm], and error rates of the positions of the plurality of external connection terminals α [%], the terminal width of each external connection terminal is W [μm], the allowable deviation rate between the terminals allowed for connection with the external connection terminal is β [%], The standard deviation of the terminal width of the external connection terminal is σ [μm],
α ≦ {β · (W−γ)} / (1000 · L), where γ = 3σ
A method of manufacturing a wiring board, characterized in that the wiring board is set based on a design rule expressed by the following formula.
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