JP2009271002A - フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 - Google Patents

フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 Download PDF

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Abstract

【課題】
欠陥を搬送中に早期に検知し、不良フイルムの流出を防ぐフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法を提供すること。
【解決手段】
フイルム12に幅方向への張力を負荷する張力付加機構13を設け、フイルム12に生じるツレシワの有無を検知するツレシワ検出部14と、フイルムの欠陥を検知する測定部15とを設け、測定部15はツレシワ検出部14よりもフイルム12の搬送方向の下流側に位置し、ツレシワ検出部14によりツレシワが無いと検知されたフイルム12の欠陥を測定部15により検知する。
【選択図】図1

Description

本発明はフイルムに生じている欠陥を検知するフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法に関する。
磁気テープやディスクなどの記憶媒体の基材や感光材料等に使用される幅広のフイルム状樹脂素材は、製造工程においてローラに巻きかけられて搬送され、成膜、下塗り、塗布などの各種工程を経てローラに巻き取られて行く。このようなフイルムの製造では、搬送の際にフイルムに傷による欠陥やツレシワなどが生じぬように、ローラの冷却やフイルムの各種条件の制御など様々な方法が従来から提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2004−175471号公報
しかし、このような方法を用いても完全には欠陥を除去することが出来ず、欠陥が生じた部分は製品より取り除く必要があった。そのため、フイルムの製造では成膜、下塗り、塗布等の各工程において検査装置を設けてフイルムの欠陥の検査を行っていた。これは工程内で発生する各種表面欠陥を網羅して検出するためである。しかしながら、近年より高精度の製品が求められるなか、従来の欠陥検査方法では幅10μm以下深さ50nm以下の微細な表裏傷や擦り傷等の欠陥は検査装置の分解能を高くしても検出出来ず、一部のサンプルを抜き取り採取して顕微鏡により目視で確認するという手法がとられていた。
ところが、このような方法では連続したフイルムの欠陥が保証することが出来ないため、抜き取り採取箇所以外に欠陥が生じていた場合、大量に不良フイルムを製造した後に欠陥が検出されることとなるため非常に製品ロスが多くなる原因となっていた。
本発明はこのような問題に対して成されたものであり、幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を搬送中に早期に検知し、結果をフィードバックすることで製造ロスを低減するとともに下流工程への不良フイルムの流出を防ぐフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法を提供することを目的としている。
本発明は前記目的を達成するために、ローラに巻きかけて搬送される連続したフイルムに幅方向への張力を付加する張力付加機構と、前記張力付加機構により伸展した前記フイルム上方に位置し、前記フイルムに生じるツレシワの有無を検知するツレシワ検出部と、前記張力付加機構により伸展した前記フイルム上方に位置し、前記ツレシワ検出部よりも前記フイルムの搬送方向の下流側に位置する前記フイルムの欠陥を検知する測定部と、前記張力付加機構とツレシワ検出部と測定部とを制御する制御手段と、を備えたことを特徴としている。
また、本発明は前記発明において、前記張力付加機構は前記フイルムの両端を把持する把持部と前記把持部を前記フイルムの幅方向へ移動させる移動手段により構成されること、前記ツレシワ検出部はレーザー変位計またはオートコリメータにより構成されること、前記測定部はレーザーフライングスポットによる反射散乱方式の測定装置またはライン状光源とラインセンサーカメラとによる反射散乱方式の測定装置により構成されること、前記欠陥は幅が10μm以下、深さが50nm以下の大きさの傷であることも特徴としている。
本発明によれば、フイルム欠陥検査装置はローラに巻きかけて搬送される連続したフイルムに幅方向への張力を付加する張力付加機構を備え、張力付加機構により伸展したフイルム上方にフイルムに生じるツレシワの有無を検知するツレシワ検出部とフイルムの欠陥を検知する測定部とが設けられている。このとき、測定部はツレシワ検出部よりもフイルムの搬送方向の下流側に位置している。
これにより、まず把持部と移動手段により構成される張力付加機構によりツレシワを除去するように幅方向へ張力を付加され伸展したフイルムは、レーザー変位計またはオートコリメータにより構成されるツレシワ検出部によりツレシワの有無が検査される。ツレシワが無いと検知され、精度良く平面状態が保たれたフイルムは、続いてレーザーフライングスポットによる反射散乱方式の測定装置またはライン状光源とラインセンサーカメラとによる反射散乱方式の測定装置により構成される測定部で、幅が10μm以下、深さが50nm以下の大きさの傷である欠陥が検査される。
フイルム検査装置は、フイルムに欠陥が生じている場合、制御手段よりフイルムの搬送をストップするように搬送装置へ指令を出すまたは警告を発することによりフイルム検査結果をフィードバックする。
これにより、幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を搬送中に早期に検知し、結果をフィードバックすることで製造ロスを低減するとともに下流工程への不良フイルムの流出を防ぐことが可能となる。
以上説明したように、本発明のフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法によれば、張力付加機構、ツレシワ検出部、ツレシワ検出部よりもフイルムの搬送方向の下流側に位置している測定部により幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を搬送中に早期に検知し、結果をフィードバックすることで製造ロスを低減するとともに下流工程への不良フイルムの流出を防ぐことが可能となる。
以下添付図面に従って本発明に係るフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法の好ましい実施の形態について詳説する。
まず、本発明に係わるフイルム欠陥検査装置の構成を説明する。図1は本発明に係わるフイルム欠陥検査装置の構成を示す斜視図である。
図1に示すフイルム欠陥検査装置10は、複数のローラ11、11・・に巻きかけられて矢印A方向に搬送される連続した幅広のフイルム12に幅方向への張力を付加する張力付加機構13、13と、フイルム12のツレシワの有無を検知するツレシワ検出部14、ツレシワ検出部14よりもフイルム12搬送方向の下流に位置する測定部15を備えている。
フイルム欠陥検査装置10は、フイルム12を製造する製造ラインに組み込んでもよく、あるいは製造ラインで製造されたフイルム12をオフラインで検査する専用装置として設けることもできる。
フイルム12は例えば 液晶、光学、偏光板用等に使用されるフイルム状素材であって、TAC(トリアセチレンセルロース)、PET(ポリエチレンテレフタレート)フイルム等により形成されている。
張力付加機構13は、上下に移動する把持部16A,16Bと不図示の移動手段を備え、フイルム12の両端を把持部16A,16Bで挟み込むことにより把持するとともに、移動手段により把持部16A、16Bをフイルム12の幅方向である矢印B方向へ移動させてフイルム12に対して幅方向へ伸展させる張力を付加する。これにより、フイルム12のツレシワの発生が抑えられ、フイルム12は精度良く平面状態で搬送される。
ツレシワ検出部14は、レーザー変位計またはオートコリメータにより構成される計測センサ17を備え、下方を搬送されていくフイルム12の高さまたは角度の変化よりフイルム12のうねりを計測し、ツレシワの有無を検査する。フイルム12のツレシワの有無の検査結果は、不図示の制御手段へ送られ、ツレシワが生じていると検知された場合は制御手段によりフイルム12の搬送速度や張力付加機構13の移動量を変化させてツレシワの発生を抑える、または制御手段によりフイルム12の搬送を停止させてオペレータへ警告を発する。
測定部15は、レーザーフライングスポットによる反射散乱式の測定装置またはライン状光源とラインセンサーカメラとによる反射散乱方式の測定装置により構成され、光源部18、18と撮像部19とを備えている。
光源部18は、レーザーフライングスポットを用いる場合、レーザー光を発するレーザー発振器、集光レンズ、回転多面鏡、ミラー等を備えている。光源部18がライン状光源の場合は、球状光源とシリンドリカルレンズまたは帯状に並べられたLED光源または蛍光管とスリット等を備えている。
撮像部19は、受光用のレンズやミラー、CCD等の光電変換素子が1列に並べられたラインセンサーカメラ等により構成されている。
測定部15により下方を搬送されていくフイルム12上に欠陥があると検知された際には、不図示の制御手段によりフイルム12の搬送を停止させてオペレータへ警告を発する。
これらにより、フイルム欠陥検査装置10は、幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を搬送中に早期に検知し、結果をフィードバックすることで製造ロスを低減するとともに下流工程への不良フイルムの流出を防ぐことが可能となる。
なお、本実施の形態において測定部15は1組の光源部18、18と撮像部19とにより構成されているが、複数個の光源部18、18と撮像部19とを直列に配置してもよく、更に図示しないトラバース装置に搭載され、フイルム12の幅方向に移動するようにしてもよい。これにより、フイルム12の全幅に渡って検査を行うことができる。また、複数個の光源部18、18と撮像部19とをフイルム12の全幅に渡って並列配置することにより、トラバース装置を省略することも可能である。
次に本発明に係わるフイルム欠陥検査方法について説明する。図2はフイルム欠陥検査装置の構成を模式的に示した側面図、図3はツレシワ検出部によるツレシワの検査を示した側面図、図4は測定部による欠陥の検査を示した側面図である。
図2に示すフイルム欠陥検査装置10は、原反ロール20からローラ11、11・・・に巻きかけられて巻取りロール21へ搬送される連続したフイルム12の幅方向へ張力付加機構13により張力を付加し、フイルム12のツレシワを除去する。張力付加機構13は上下に移動する把持部16A,16Bと把持部16A,16Bを図1に示す矢印B方向へ移動させる不図示の移動手段により構成される。張力付加機構13は不図示の制御手段により制御され、把持部16A,16Bの移動量が制御されることによりフイルム12へ付加される張力が調整される。
フイルム12へ付加される幅方向張力は10N以上、200N以下であって、望ましくは、90N以上、110N以下であるのが良い。
また、制御手段によりフイルム12の送り速度及び張力も制御される。フイルム12送り速度は1m/分以上、50m/分以下であって、望ましくは、3m/分以上、7m/分以上であるのが良い。また、搬送張力は、100N以上、300N以下であって、望ましくは、190N以上、210N以下であるのが良い。
これらによりフイルム12よりツレシワが除去され、フイルム12は精度良く平面状態を保ちながらツレシワ検出部14及び測定部15の下方を矢印A方向へ搬送される。
ツレシワ検出部14の下方まで搬送されてきたフイルム12は、ツレシワ検出部14に備えられたレーザー変位計またはオートコリメータにより表面の高さまたは角度の変化が検査される。
例えば、図3に示すように、計測センサ17とフイルム12との間の距離Cを固定することで、フイルム12のうねりにより反射してきたレーザー光Lの出射位置から入射位置までの距離Dより角度θ及びうねりの深さEを算出する。このときうねりの深さEが100μm以上場合、フイルム12にツレシワがあるとして制御手段によりフイルム12の搬送速度や張力付加機構13、13の移動量を変化させてツレシワの発生を抑える、または制御手段によりフイルム12の搬送を停止させてオペレータへ警告を発する。
ツレシワ検出部14によりツレシワが無いと検知されたフイルム12は続いて搬送方向の下流に位置する測定部15へ送られる。測定部15では、光源部18に備えられたレーザーフライングスポットまたはライン状光源による光源より、フイルム12へ向ってライン状の光が照射される。このときライン状の光はフイルム12の搬送方向に対して直行しているのが良い。また、照射される光の角度はフイルム12表面に対して5°から30°であって、望ましくは、10°から15°であるのが良い。
このように光源部18、18よりフイルム12へ照射された光は、図4(a)に示すようにフイルム12表面で反射される。フイルム12上に傷などの欠陥が生じていない場合は、光lはフイルム12表面で正反射してラインセンサーカメラ等により構成される撮像部19には入射しない。フイルム12上に傷などの欠陥が生じている場合は、図4(b)に示すように欠陥K部分で光lが乱反射して撮像部19に反射散乱した光lが入射する。このように、反射散乱方式の欠陥の測定を行うことで幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を検出することが可能となる。測定部15により、フイルム12上に欠陥があると検知された際には、不図示の制御手段によりフイルム12の搬送を停止させてオペレータへ警告を発する。また、制御手段は傷の種類、大きさや深さに基づきフイルム12の製造装置や搬送装置等にフイルムの製造及び搬送条件を変更するように指令を出しても良い。
以上説明したように、本発明のフイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法によれば、張力付加機構、ツレシワ検出部、ツレシワ検出部よりもフイルムの搬送方向の下流側に位置している反射散乱を使用した測定部により幅10μm以下深さ50nm以下の大きさの微細な傷である欠陥を搬送中に早期に検知し、結果をフィードバックすることで製造ロスを低減するとともに下流工程への不良フイルムの流出を防ぐことが可能となる。
本発明に係わるフイルム欠陥検査装置の構成を示す斜視図。 フイルム欠陥検査装置の構成を模式的に示した側面図。 ツレシワ検出部によるツレシワの検査を示した側面図。 測定部による欠陥の検査を示した側面図。
符号の説明
10…フイルム欠陥検査装置,11…ローラ,12…フイルム,13…張力付加機構,14…ツレシワ検出部,15…測定部,16A、16B…把持部,17…計測センサ,18…光源部,19…撮像部,20…原反ロール,21…巻取りロール

Claims (6)

  1. ローラに巻きかけて搬送される連続したフイルムに幅方向への張力を付加する張力付加機構と、
    前記張力付加機構により伸展した前記フイルム上方に位置し、前記フイルムに生じるツレシワの有無を検知するツレシワ検出部と、
    前記張力付加機構により伸展した前記フイルム上方に位置し、前記ツレシワ検出部よりも前記フイルムの搬送方向の下流側に位置する前記フイルムの欠陥を検知する測定部と、
    前記張力付加機構とツレシワ検出部と測定部とを制御する制御手段と、を備えたことを特徴とするフイルム欠陥検査装置。
  2. 前記張力付加機構は前記フイルムの両端を把持する把持部と前記把持部を前記フイルムの幅方向へ移動させる移動手段により構成されることを特徴とする請求項1に記載のフイルム欠陥検査装置。
  3. 前記ツレシワ検出部はレーザー変位計またはオートコリメータにより構成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のフイルム欠陥検査装置。
  4. 前記測定部はレーザーフライングスポットによる反射散乱方式の測定装置またはライン状光源とラインセンサーカメラとによる反射散乱方式の測定装置により構成されることを特徴とする請求項1、2、または3のいずれか1項に記載のフイルム欠陥検査装置。
  5. 前記欠陥は幅が10μm以下、深さが50nm以下の大きさの傷であることを特徴とする請求項1、2、3、または4のいずれか1項に記載のフイルム欠陥検査装置。
  6. ローラに巻きかけて搬送される連続したフイルムに幅方向への張力を付加する張力付加機構を設け、前記張力付加機構により伸展した前記フイルム上方に前記フイルムに生じるツレシワの有無を検知するツレシワ検出部と、前記ツレシワ検出部よりも前記フイルムの搬送方向の下流側に位置し前記フイルムの欠陥を検知する測定部と、前記張力付加機構とツレシワ検出部と測定部とを制御する制御手段を設け、前記ツレシワ検出部によりツレシワが無いと検知された前記フイルムの欠陥を前記測定部により検知することを特徴とするフイルム欠陥検査方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014182012A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Dainippon Printing Co Ltd 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
JP2020148634A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 富士フイルム株式会社 フィルムの表面検査装置、およびフィルムの表面検査方法
CN113787663A (zh) * 2021-08-12 2021-12-14 福建思嘉环保材料科技有限公司 一种tpu薄膜材料的成型及检测设备
CN114013720A (zh) * 2021-11-30 2022-02-08 滁州卷烟材料厂 一种香烟铝箔纸伸展挺括结构

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH101243A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Nec Corp フィルム材固定機構
JP2000266689A (ja) * 1999-03-16 2000-09-29 Konica Corp ウェブ検査方法及びウェブ検査装置
JP2006292670A (ja) * 2005-04-14 2006-10-26 Konica Minolta Opto Inc 光学フィルム検査方法および検査装置
JP2009058293A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Hamamatsu Metrix Kk シート状ワーク検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH101243A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Nec Corp フィルム材固定機構
JP2000266689A (ja) * 1999-03-16 2000-09-29 Konica Corp ウェブ検査方法及びウェブ検査装置
JP2006292670A (ja) * 2005-04-14 2006-10-26 Konica Minolta Opto Inc 光学フィルム検査方法および検査装置
JP2009058293A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Hamamatsu Metrix Kk シート状ワーク検査装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014182012A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Dainippon Printing Co Ltd 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
JP2020148634A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 富士フイルム株式会社 フィルムの表面検査装置、およびフィルムの表面検査方法
JP7018906B2 (ja) 2019-03-13 2022-02-14 富士フイルム株式会社 フィルムの表面検査装置、およびフィルムの表面検査方法
CN113787663A (zh) * 2021-08-12 2021-12-14 福建思嘉环保材料科技有限公司 一种tpu薄膜材料的成型及检测设备
CN114013720A (zh) * 2021-11-30 2022-02-08 滁州卷烟材料厂 一种香烟铝箔纸伸展挺括结构

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