JP2009235565A - Solution for and method of treating surface of copper - Google Patents

Solution for and method of treating surface of copper Download PDF

Info

Publication number
JP2009235565A
JP2009235565A JP2009048065A JP2009048065A JP2009235565A JP 2009235565 A JP2009235565 A JP 2009235565A JP 2009048065 A JP2009048065 A JP 2009048065A JP 2009048065 A JP2009048065 A JP 2009048065A JP 2009235565 A JP2009235565 A JP 2009235565A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface treatment
copper
ppm
tin
concentration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009048065A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Inbe
俊雄 印部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Paint Co Ltd
Original Assignee
Nippon Paint Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Paint Co Ltd filed Critical Nippon Paint Co Ltd
Priority to JP2009048065A priority Critical patent/JP2009235565A/en
Publication of JP2009235565A publication Critical patent/JP2009235565A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Laminated Bodies (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stable, less-turbidity solution for stably treating the surface of copper, and to provide a method for copper surface treatment by contact with the solution. <P>SOLUTION: The solution contains a tin compound, a fluorine compound and a complexing agent, and has the pH of ≤5. The concentration of a free fluorine based on the whole solution is within the range of ≥0.1 ppm but ≤100 ppm. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、銅の表面処理液および表面処理方法、並びに、銅張り材料、多層配線基板および配線基板に関するものである。さらに詳しくは、安定した表面処理を行うべく、濁りが少なく安定な銅の表面処理液および該表面処理液を接触させる銅の表面処理方法、並びに、上記表面処理方法により表面処理されてなる銅張り材料、多層配線基板および配線基板に関するものである。   The present invention relates to a copper surface treatment liquid and a surface treatment method, a copper-clad material, a multilayer wiring board, and a wiring board. More specifically, a stable copper surface treatment solution with less turbidity, a copper surface treatment method for bringing the surface treatment solution into contact with the surface treatment solution, and a copper-coated surface treated by the surface treatment method in order to perform a stable surface treatment. The present invention relates to a material, a multilayer wiring board, and a wiring board.

従来、一般的な多層配線基板(ビルドアップ配線基板)は、表面部に銅からなる導電層を有する内層基板が樹脂等の絶縁材を挟んで他の内層基板と積層プレスされることにより製造されている。上記導電層間は、孔壁が銅メッキされたスルーホールと呼ばれる貫通孔により、電気的に接続されている。   Conventionally, a general multilayer wiring board (build-up wiring board) is manufactured by laminating and pressing an inner layer substrate having a conductive layer made of copper on the surface portion with another inner layer substrate with an insulating material such as resin interposed therebetween. ing. The conductive layers are electrically connected by a through hole called a through hole whose hole wall is plated with copper.

ここで、上記多層配線基板の配線として上記内層基板の表面部に用いられている銅には、樹脂等の絶縁材との密着性が要求されている。それゆえ、上記内層基板の表面部に用いられている銅の表面と、樹脂等の絶縁材との密着性を向上させるために、銅の表面処理が行われるのが一般的である。   Here, the copper used for the surface portion of the inner layer substrate as the wiring of the multilayer wiring substrate is required to have adhesiveness with an insulating material such as a resin. Therefore, in order to improve the adhesion between the copper surface used for the surface portion of the inner layer substrate and an insulating material such as a resin, a copper surface treatment is generally performed.

銅の表面処理方法としては、例えば、銅の表面を塩化銅、硫酸・過酸化水素等でエッチングして銅の表面を粗化させ、銅の表面に凹凸形状の酸化皮膜を付ける方法等が挙げられる。この方法によれば、凹凸形状の酸化皮膜が樹脂等の絶縁材にくい込み、アンカー効果を生じて、銅と樹脂等の絶縁材との密着性が向上する。銅と樹脂等の絶縁材との密着性を向上させるための他の方法として、粗化させた銅の表面を、スズ、シランカップリング剤等で処理する方法も開発されている(例えば、特許文献1〜3参照)。   Examples of the copper surface treatment method include a method of roughening the copper surface by etching the copper surface with copper chloride, sulfuric acid / hydrogen peroxide, etc., and attaching an uneven oxide film to the copper surface. It is done. According to this method, the concavo-convex-shaped oxide film is difficult to insulate with an insulating material such as a resin, and an anchor effect is produced, thereby improving the adhesion between copper and an insulating material such as a resin. As another method for improving the adhesion between copper and an insulating material such as a resin, a method of treating the roughened copper surface with tin, a silane coupling agent or the like has been developed (for example, a patent). References 1-3).

近年の電子機器・電子部品の小型化、薄型化等に対応するために、多層配線基板を薄くすることが要求されている。さらに、近年の電子機器・電子部品の高周波化、高密度化等に対応するために、多層配線基板の配線の微細化(ファイン化)が要求されている。   In order to cope with recent downsizing and thinning of electronic devices and electronic parts, it is required to make the multilayer wiring board thinner. Furthermore, in order to cope with the recent increase in frequency and density of electronic devices and electronic parts, it is required to make the wiring of the multilayer wiring board finer (finer).

また、上記多層配線基板の表面部に用いられている銅の表面が粗い場合には、該多層配線基板に表面電流が流れ、電気的損失や信号の遅延が生じるという問題がある。   Further, when the surface of copper used for the surface portion of the multilayer wiring board is rough, there is a problem that a surface current flows through the multilayer wiring board, resulting in electrical loss and signal delay.

そこで、上記のエッチング等の粗化処理を用いる方法に代わる方法として、内層基板の表面部に用いられている銅の表面に、スズメッキ等によりスズ皮膜を形成する方法が示されている(例えば、特許文献4〜9参照)。特に、特許文献9には、pHを調整して接着性に優れた表面を形成するために、ホウフッ化水素酸等を酸として用いる方法が示されている。   Therefore, as a method of replacing the method using the roughening treatment such as etching, a method of forming a tin film by tin plating or the like on the surface of copper used for the surface portion of the inner layer substrate is shown (for example, (See Patent Documents 4 to 9). In particular, Patent Document 9 discloses a method in which borohydrofluoric acid or the like is used as an acid in order to adjust the pH to form a surface having excellent adhesion.

特開平10−289838号公報(平成10年10月27日公開)JP 10-289838 A (released on October 27, 1998) 特開2000−340948号公報(平成12年12月8日公開)JP 2000-340948 A (published December 8, 2000) 特開平10−256736号公報(平成10年9月25日公開)JP 10-256736 A (published on September 25, 1998) 特開平4−233793号公報(平成4年8月21日公開)JP-A-4-233793 (published on August 21, 1992) 特開平1−109796号公報(平成1年4月26日公開)JP-A-1-109796 (published on April 26, 1991) 特開平7−170064号公報(平成7年7月4日公開)JP 7-170064 A (published July 4, 1995) 特許第3135516号公報(特開平10−46359号公報、平成10年2月17日公開)Japanese Patent No. 3135516 (Japanese Patent Laid-Open No. 10-46359, published on Feb. 17, 1998) 特開2003−201585号公報(平成15年7月18日公開)JP 2003-201585 A (published July 18, 2003) 特開2005−23301号公報(平成17年1月27日公開)JP 2005-23301 A (published January 27, 2005)

しかしながら、上記特許文献1〜3に示される銅の表面処理方法では、いずれも性能、特に銅と樹脂等の絶縁材との密着性が不十分であるため、ほとんど実用化されていない。さらに、これらの方法では、粗化処理が銅を溶解するため銅幅が目減りし、これらの方法により表面処理された銅張り材料のファイン化が困難となり、かつ電気損失が大きくなる。さらに、これらの方法では、粗化処理後の経時変化に伴い酸化膜が成長するため不動態化が不十分となり、いずれも性能が劣化する。そのため、後処理としての防錆処理が一般的に行われている。   However, the copper surface treatment methods disclosed in Patent Documents 1 to 3 have hardly been put into practical use because the performance, particularly the adhesion between copper and an insulating material such as a resin, is insufficient. Furthermore, in these methods, since the roughening treatment dissolves copper, the copper width is reduced, and it becomes difficult to refine the copper-clad material surface-treated by these methods, and the electrical loss increases. Furthermore, in these methods, since an oxide film grows with a change with time after the roughening treatment, passivation becomes insufficient, and the performance deteriorates in all cases. Therefore, a rust prevention treatment as a post treatment is generally performed.

また、上記特許文献4〜9に示される銅の表面処理方法では、銅の表面処理液において、スズの沈殿に由来する濁りが発生しやすく、溶液自体が不安定になり、その結果、安定した表面処理が行えないという問題点を有している。   Moreover, in the copper surface treatment methods shown in Patent Documents 4 to 9, in the copper surface treatment liquid, turbidity derived from precipitation of tin is likely to occur, and the solution itself becomes unstable, and as a result, stable. There is a problem that the surface treatment cannot be performed.

特に、上記特許文献9に示される銅の表面処理方法では、pHを調整するためにホウフッ化水素酸等の酸を用いているが、本技術ではスズの沈殿を抑制することができない。それは、高濃度のホウフッ化水素酸の添加により表面処理液が安定性を損ねるおそれがあり、かつ高濃度のホウフッ化水素酸から大量の遊離フッ素が生じて銅の表面処理反応を阻害するおそれがあるためである。また、排水処理が困難となることから、ホウ素含有化合物の使用は好ましくないともされている。   In particular, in the copper surface treatment method disclosed in Patent Document 9, an acid such as borohydrofluoric acid is used to adjust the pH, but the present technology cannot suppress the precipitation of tin. This is because the addition of high concentration of borohydrofluoric acid may impair the stability of the surface treatment solution, and a large amount of free fluorine may be generated from the high concentration of borohydrofluoric acid, thereby hindering the copper surface treatment reaction. Because there is. Moreover, since wastewater treatment becomes difficult, use of a boron-containing compound is also not preferable.

本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、安定した表面処理を行うべく、濁りが少なく安定な銅の表面処理液および該表面処理液を接触させる銅の表面処理方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and its purpose is to provide a stable copper surface treatment solution with less turbidity and a copper contact with the surface treatment solution in order to perform stable surface treatment. The object is to provide a surface treatment method.

本発明者は、上記課題に鑑み鋭意検討した結果、銅の表面処理液にスズ化合物とフッ素化合物と錯化剤(キレート剤)とを含め、上記表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度を0.1ppm以上100ppm以下の範囲内とし、かつ上記表面処理液のpHを5以下とすることで、上記スズ化合物が表面処理液中で安定して存在し、上記表面処理液は濁りが少なく安定になるということを独自に見出し、本発明を完成させるに至った。   As a result of intensive studies in view of the above problems, the present inventors have included a tin compound, a fluorine compound, and a complexing agent (chelating agent) in the copper surface treatment liquid, and the concentration of free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is set to 0. By setting the pH within the range of 1 ppm or more and 100 ppm or less and the pH of the surface treatment liquid to 5 or less, the tin compound is stably present in the surface treatment liquid, and the surface treatment liquid is less turbid and stable. The inventors have found that the present invention has been completed and completed the present invention.

即ち、本発明の銅の表面処理液は、上記課題を解決するために、スズ化合物と、フッ素化合物と、錯化剤とを含有し、上記表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度が0.1ppm以上、100ppm以下の範囲内であり、上記表面処理液のpHが5以下であることを特徴としている。   That is, the copper surface treatment liquid of the present invention contains a tin compound, a fluorine compound, and a complexing agent in order to solve the above problems, and the concentration of free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is 0.1 ppm. As described above, it is within the range of 100 ppm or less, and the pH of the surface treatment solution is 5 or less.

上記の発明によれば、本発明の銅の表面処理液は、スズ化合物とフッ素化合物とを含有し、かつ上記表面処理液のpHが5以下となるように調整されているので、上記スズ化合物から解離したスズイオンが上記フッ素化合物から遊離したフッ素の作用により安定的に存在し、濁りが少ない安定な溶液となる。さらに、本発明の銅の表面処理液は濁りの少ない安定な溶液となるので、銅の表面に均一なスズ皮膜を形成することができ、銅と樹脂等の絶縁材との密着性を向上させることができる。   According to the above invention, the copper surface treatment liquid of the present invention contains a tin compound and a fluorine compound, and is adjusted so that the pH of the surface treatment liquid is 5 or less. The tin ions dissociated from the above are stably present by the action of fluorine liberated from the fluorine compound, resulting in a stable solution with little turbidity. Furthermore, since the copper surface treatment liquid of the present invention becomes a stable solution with less turbidity, a uniform tin film can be formed on the surface of copper, and the adhesion between copper and an insulating material such as a resin is improved. be able to.

さらに、本発明の銅の表面処理液は、上記表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度が0.1ppm以上、100ppm以下の範囲内であるので、スズイオンを安定化させる遊離フッ素が適量存在していることになる。これにより、本発明の銅の表面処理液は、スズイオンと遊離フッ素とを十分に有することになり、より一層濁りの少ない安定な溶液となる。   Furthermore, since the copper surface treatment solution of the present invention has a free fluorine concentration within the range of 0.1 ppm or more and 100 ppm or less with respect to the entire surface treatment solution, an appropriate amount of free fluorine for stabilizing tin ions is present. It will be. As a result, the copper surface treatment liquid of the present invention has sufficient tin ions and free fluorine, and becomes a stable solution with much less turbidity.

さらに、本発明の銅の表面処理液は、錯化剤を含有しているので、上記錯化剤が銅と錯体を形成して銅の表面の電位が低くなるため還元されやすく、スズが析出しやすくなる。さらに、上記表面処理液は、上記錯化剤が溶解した銅のキレートをすることにより、スズ皮膜の均一性を向上させる可能性がある。   Furthermore, since the copper surface treatment liquid of the present invention contains a complexing agent, the complexing agent forms a complex with copper and the potential on the surface of the copper is lowered, so that it is easily reduced and tin is precipitated. It becomes easy to do. Furthermore, the surface treatment liquid may improve the uniformity of the tin film by chelating copper in which the complexing agent is dissolved.

また、本発明の銅の表面処理液は、上記スズ化合物から解離したスズイオンに対する上記フッ素化合物から遊離したフッ素のモル比が1以上、20以下の範囲内であることが好ましい。   In the copper surface treatment liquid of the present invention, the molar ratio of fluorine released from the fluorine compound to tin ions dissociated from the tin compound is preferably in the range of 1 or more and 20 or less.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、上記表面処理液中のスズと上記フッ素化合物から遊離したフッ素により十分に安定化され、より一層濁りが少ない安定な溶液となる。   Thereby, the copper surface treatment liquid of the present invention is sufficiently stabilized by the fluorine released from the tin and the fluorine compound in the surface treatment liquid, and becomes a stable solution with less turbidity.

また、本発明の銅の表面処理液は、上記錯化剤として、少なくともチオ尿素もしくはその誘導体を含有することが好ましい。   The copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains at least thiourea or a derivative thereof as the complexing agent.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、チオ尿素もしくはその誘導体を含有しているので、チオ尿素もしくはその誘導体が主に錯化剤として働き、銅との錯体を形成して銅表面の電位を下げて還元性を向上させる。さらに、チオ尿素もしくはその誘導体は副次的に還元剤としても働き、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を促進させることができる。   Thereby, since the copper surface treatment liquid of the present invention contains thiourea or a derivative thereof, thiourea or a derivative thereof mainly functions as a complexing agent, and forms a complex with copper to form a copper surface. Reduce the potential to improve the reduction. Furthermore, thiourea or a derivative thereof also acts as a secondary reducing agent, and can promote a reaction for forming a tin film on the surface of copper.

また、本発明の銅の表面処理液は、さらにシランカップリング剤を含有することが好ましい。   The copper surface treatment solution of the present invention preferably further contains a silane coupling agent.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、スズ化合物とシランカップリング剤とが表面処理を行う際に共存しているので、銅の表面にスズ皮膜を形成しながらシラン化合物を析出(付着)させることができる。つまり、本発明の銅の表面処理液は、銅の表面にスズおよびシラン化合物を共析出させることができる。それゆえ、樹脂等の絶縁材との密着性が良好なスズ皮膜、および、樹脂等の絶縁材との密着官能基を有するシラン化合物の双方の作用により、本発明の銅の表面処理液は、銅と樹脂等の絶縁材との十分な密着性を付与することができる。   As a result, the copper surface treatment liquid of the present invention coexists when the tin compound and the silane coupling agent perform the surface treatment, so that the silane compound is deposited (attached) while forming a tin film on the copper surface. ). That is, the copper surface treatment liquid of the present invention can co-precipitate tin and a silane compound on the surface of copper. Therefore, due to the action of both the tin film having good adhesion with an insulating material such as a resin and the silane compound having an adhesive functional group with an insulating material such as a resin, the copper surface treatment liquid of the present invention is Sufficient adhesion between copper and an insulating material such as resin can be imparted.

また、本発明の銅の表面処理液は、上記シランカップリング剤がメルカプト基、エポキシ基またはアミノ基を有するものであることが好ましい。   In the copper surface treatment liquid of the present invention, the silane coupling agent preferably has a mercapto group, an epoxy group or an amino group.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、メルカプト基が銅に吸着しやすいので、シランカップリング剤がスズとともに共析出しやすくなる。さらに、メルカプト基はエポキシ樹脂等の絶縁材と反応できるので、メルカプト基を有するシランカップリング剤が銅の表面に存在していれば、エポキシ樹脂等の絶縁材との密着性が向上する。メルカプト基以外でも、エポキシ基、アミノ基等は絶縁材と反応できるのでエポキシ樹脂等の絶縁材との密着性が向上する。また、他の官能基として、シランカップリング剤のシラノール基やアルコキシル基がスズ酸化物に吸着する。   Thereby, since the mercapto group tends to adsorb | suck to copper, the silane coupling agent becomes easy to co-precipitate with tin with the copper surface treatment liquid of this invention. Furthermore, since the mercapto group can react with an insulating material such as an epoxy resin, if a silane coupling agent having a mercapto group is present on the surface of copper, the adhesion with an insulating material such as an epoxy resin is improved. In addition to mercapto groups, epoxy groups, amino groups, and the like can react with insulating materials, thereby improving adhesion with insulating materials such as epoxy resins. Further, as other functional groups, silanol groups and alkoxyl groups of the silane coupling agent are adsorbed on the tin oxide.

また、本発明の銅の表面処理液は、上記シランカップリング剤が3量体以上のシランカップリング剤縮合体を含んでいることが好ましい。   In the copper surface treatment liquid of the present invention, the silane coupling agent preferably contains a trimer or higher silane coupling agent condensate.

これにより、3量体以上のシランカップリング剤縮合体は、シランカップリング剤の単量体と比較して、シランカップリング剤が析出しやすいという優位性がある。それゆえ、本発明の銅の表面処理液は、銅と樹脂等の絶縁材との密着性をより一層向上させることができる。   Thereby, the silane coupling agent condensate of a trimer or more has an advantage that the silane coupling agent is easily precipitated as compared with the monomer of the silane coupling agent. Therefore, the copper surface treatment liquid of the present invention can further improve the adhesion between copper and an insulating material such as a resin.

また、本発明の銅の表面処理液は、上記スズ化合物の重量に対する上記シランカップリング剤の重量の比が0.001以上、100以下の範囲内であることが好ましい。また、本発明の銅の表面処理液は、上記表面処理液全体に対する上記シランカップリング剤の濃度が10ppm以上、100,000ppm以下の範囲内であることが好ましい。   In the copper surface treatment liquid of the present invention, the weight ratio of the silane coupling agent to the weight of the tin compound is preferably within a range of 0.001 or more and 100 or less. In the copper surface treatment liquid of the present invention, the concentration of the silane coupling agent with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 10 ppm to 100,000 ppm.

本発明の銅の表面処理液は、上記スズ化合物の重量に対する上記シランカップリング剤の重量の比および上記表面処理液全体に対する上記シランカップリング剤の濃度が上記の範囲内にあることで、銅の表面にスズおよびシラン化合物をより確実に共析出させることができる。それゆえ、本発明の銅の表面処理液は、銅と樹脂等の絶縁材との密着性をより確実に実現することができる。   The copper surface treatment liquid of the present invention is such that the ratio of the weight of the silane coupling agent to the weight of the tin compound and the concentration of the silane coupling agent with respect to the entire surface treatment liquid are within the above range. It is possible to more reliably co-precipitate tin and a silane compound on the surface. Therefore, the copper surface treatment liquid of the present invention can more reliably realize the adhesion between copper and an insulating material such as a resin.

また、本発明の銅の表面処理液は、さらに還元剤を含有することが好ましい。   The copper surface treatment liquid of the present invention preferably further contains a reducing agent.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を促進させることができる。   Thereby, the copper surface treatment liquid of the present invention can promote the reaction of forming a tin film on the surface of copper.

また、本発明の銅の表面処理液は、さらに防錆剤を含有することが好ましい。また、本発明の銅の表面処理液は、上記防錆剤がテトラゾール、トリアゾール、イミダゾール、チオールから選ばれる少なくとも一種の化合物であることが好ましい。   The copper surface treatment liquid of the present invention preferably further contains a rust inhibitor. In the copper surface treatment liquid of the present invention, the rust inhibitor is preferably at least one compound selected from tetrazole, triazole, imidazole, and thiol.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、銅と樹脂等の絶縁材との密着性を向上させるとともに、表面処理後に長期間保存しても銅の性能が変化し難くなる。   Thereby, the copper surface treatment liquid of the present invention improves the adhesion between copper and an insulating material such as a resin, and the copper performance hardly changes even if it is stored for a long time after the surface treatment.

また、本発明の銅の表面処理液は、さらに金属化合物を含有することが好ましい。さらに、本発明の銅の表面処理液は、上記金属化合物が銀、パラジウム、金、白金、銅から選ばれる少なくとも一種の金属を含有する化合物であることが好ましい。   The copper surface treatment liquid of the present invention preferably further contains a metal compound. Further, in the copper surface treatment liquid of the present invention, the metal compound is preferably a compound containing at least one metal selected from silver, palladium, gold, platinum, and copper.

これにより、本発明の銅の表面処理液は、金属イオンの緩衝作用により銅の表面にスズ皮膜を均一・安定に形成することができると考えられる。   Thereby, it is thought that the copper surface treatment liquid of the present invention can form a tin film uniformly and stably on the surface of copper by the buffering action of metal ions.

また、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させることが好ましい。   In the copper surface treatment method of the present invention, the surface treatment liquid is preferably brought into contact with the copper surface.

これにより、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に、濁りが少なく安定な表面処理液を接触させるので、銅の表面にスズ皮膜を安定して形成することができる。   Thereby, since the surface treatment method of the copper of this invention makes a stable surface treatment liquid with less turbidity contact the surface of copper, a tin film can be stably formed on the surface of copper.

また、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に酸洗処理、粗化処理(凹凸処理)、防錆処理、酸化処理、表面調整処理、脱脂処理から選ばれる少なくとも一種の前処理をした後に、上記表面処理液を接触させることが好ましい。   Moreover, the copper surface treatment method of the present invention comprises at least one pretreatment selected from pickling treatment, roughening treatment (unevenness treatment), rust prevention treatment, oxidation treatment, surface conditioning treatment, and degreasing treatment on the copper surface. Then, the surface treatment liquid is preferably contacted.

これにより、本発明の銅の表面処理方法は、酸洗処理、脱脂処理により銅表面の汚れ、酸化物等を除去することができ、粗化処理、防錆処理、酸化処理、表面調整処理により銅表面での化成性向上、銅の性能向上をより一層図ることができる。   Thereby, the copper surface treatment method of the present invention can remove stains, oxides, etc. on the copper surface by pickling treatment and degreasing treatment, and by roughening treatment, rust prevention treatment, oxidation treatment, surface conditioning treatment. It is possible to further improve the chemical conversion on the copper surface and the performance of copper.

また、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させた後に、防錆剤や樹脂、またはシランカップリング剤を接触させることが好ましい。   In the copper surface treatment method of the present invention, the surface treatment solution is preferably brought into contact with the copper surface, and then a rust preventive agent, a resin, or a silane coupling agent is brought into contact therewith.

これにより、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に防錆剤や樹脂、またはシラン化合物が析出するため、銅と樹脂等の絶縁材との密着性をより一層向上させることができる。   Thereby, since the rust preventive agent, resin, or silane compound precipitates on the surface of copper, the copper surface treatment method of the present invention can further improve the adhesion between copper and an insulating material such as resin. .

また、本発明の銅張り材料は、上記銅の表面処理方法により表面処理されてなることが好ましい。さらに、本発明の多層配線基板は、上記銅張り材料を備えていることが好ましい。さらに、本発明の配線基板は、最外層に上記銅張り材料を備えていることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the copper clad material of this invention is surface-treated by the said copper surface treatment method. Furthermore, the multilayer wiring board of the present invention preferably includes the copper-clad material. Furthermore, the wiring board of the present invention preferably includes the copper-clad material in the outermost layer.

本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面にスズ皮膜を安定して形成させることができる方法である。本発明の銅張り材料、多層配線基板および配線基板は、上記銅の表面処理方法により表面処理されているので、多層配線基板の小型化、薄型化、高周波化、高密度化等に対応するのに適している。   The copper surface treatment method of the present invention is a method capable of stably forming a tin film on the surface of copper. Since the copper-clad material, multilayer wiring board and wiring board of the present invention are surface-treated by the above-described copper surface treatment method, the multilayer wiring board can be reduced in size, thickness, frequency, density, etc. Suitable for

本発明の銅の表面処理液は、以上のように、スズ化合物と、フッ素化合物と、錯化剤とを含有し、上記表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度が0.1ppm以上、100ppm以下の範囲内であり、上記表面処理液のpHが5以下であるものである。   As described above, the copper surface treatment liquid of the present invention contains a tin compound, a fluorine compound, and a complexing agent, and the concentration of free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is 0.1 ppm or more and 100 ppm or less. Within the range, the pH of the surface treatment solution is 5 or less.

それゆえ、本発明の銅の表面処理液は、安定した表面処理を行うべく、濁りが少なく安定な銅の表面処理液および該表面処理液を接触させる銅の表面処理方法を提供するという効果を奏する。   Therefore, the copper surface treatment liquid of the present invention has the effect of providing a stable copper surface treatment liquid with less turbidity and a copper surface treatment method for bringing the surface treatment liquid into contact with the surface treatment liquid in order to perform a stable surface treatment. Play.

以下、本発明について詳しく説明するが、本発明の範囲はこれらの説明に拘束されることはなく、以下の例示以外についても、本発明の趣旨を損なわない範囲で適宜変更して実施し得るものである。具体的には、本発明は下記の実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。なお、本明細書等において、便宜上、「重量ppm」を単に「ppm」,「重量%」を単に「%」と記載する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail. However, the scope of the present invention is not limited to these descriptions, and other than the following examples, the present invention can be appropriately modified and implemented without departing from the spirit of the present invention. It is. Specifically, the present invention is not limited to the following embodiments, and various modifications are possible within the scope of the claims. That is, embodiments obtained by combining technical means appropriately modified within the scope of the claims are also included in the technical scope of the present invention. In this specification and the like, for convenience, “weight ppm” is simply referred to as “ppm”, and “weight%” is simply referred to as “%”.

(I)本発明における銅の表面処理液で表面処理される物質等
本発明における銅の表面処理液で表面処理される物質は、銅を50%以上含有するものであれば特に限定されない。つまり、銅を50%以上含有していれば、銅以外の物質が含まれていても本発明に含まれる。例えば、銅単体、銅を含む銅合金材、クロメート等の表面処理された銅、メッキされた銅などが挙げられる。
(I) Substance to be surface-treated with copper surface treatment liquid in the present invention The substance to be surface-treated with a copper surface treatment liquid in the present invention is not particularly limited as long as it contains 50% or more of copper. That is, as long as it contains 50% or more of copper, it is included in the present invention even if a substance other than copper is included. Examples thereof include copper alone, copper alloy material containing copper, surface-treated copper such as chromate, and plated copper.

本発明における銅として、具体的には電子基板、リードフレーム等の電子部品、装飾品、建材等に使用される箔(電解銅箔、圧延銅箔)、めっき膜(無電解銅めっき膜、電解銅めっき膜)、線、棒、管、板など、種々の用途の銅を挙げることができる。上記銅は、黄銅、青銅、白銅、ヒ素銅、ケイ素銅、チタン銅、クロム銅等、その目的に応じて他の元素を含有したものであってもよい。また、近年の高周波の電気信号が流れる銅配線の場合には、銅の表面は平均粗さが0.1μm以下の平滑面であることが好ましい。   As copper in the present invention, specifically, foil (electrolytic copper foil, rolled copper foil), plating film (electroless copper plating film, electrolysis) used for electronic parts such as electronic boards and lead frames, ornaments, building materials, etc. Copper plating film), wires, rods, tubes, plates, and the like can be used for various purposes. The said copper may contain other elements according to the objective, such as brass, bronze, white copper, arsenic copper, silicon copper, titanium copper, chromium copper. In the case of a copper wiring through which a high-frequency electrical signal flows in recent years, the copper surface is preferably a smooth surface having an average roughness of 0.1 μm or less.

本発明において、銅と密着する樹脂等の絶縁材は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド、ポリウレタン、ビスマレイミド・トリアジン樹脂、変性ポリフェニレンエーテル、シアネートエステル等の熱硬化性樹脂などを挙げることができる。これらの樹脂は官能基によって変性されていてもよく、ガラス繊維、アラミド繊維、その他の繊維等で強化されていてもよい。例えば、ビルドアップ工程でのプリント基板用途では、内層絶縁材、プリプレグ、外層ソルダーレジスト、両絶縁材に対しても優れた密着性を確保できる。   In the present invention, examples of the insulating material such as a resin that adheres to copper include thermosetting resins such as epoxy resin, phenol resin, polyimide, polyurethane, bismaleimide / triazine resin, modified polyphenylene ether, and cyanate ester. These resins may be modified with functional groups, and may be reinforced with glass fibers, aramid fibers, other fibers, and the like. For example, in printed circuit board applications in the build-up process, excellent adhesion can be secured even for inner layer insulating materials, prepregs, outer layer solder resists, and both insulating materials.

(II)本発明における銅の表面処理液に用いられる材料等
本発明の銅の表面処理液は、スズ化合物と、フッ素化合物と、錯化剤とを含有するものである。さらに、本発明の銅の表面処理液は、シランカップリング剤を含有することが好ましい。さらに、本発明の銅の表面処理液は、還元剤を含有することが好ましい。さらに、本発明の銅の表面処理液は、金属化合物を含有することが好ましい。また、本発明の銅の表面処理液は、必要に応じて、酸・アルカリのpH調整剤を含有していてもよい。
(II) Materials used for the copper surface treatment liquid in the present invention The copper surface treatment liquid of the present invention contains a tin compound, a fluorine compound, and a complexing agent. Furthermore, the copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a silane coupling agent. Furthermore, the copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a reducing agent. Furthermore, the copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a metal compound. Moreover, the copper surface treatment liquid of the present invention may contain an acid / alkali pH adjuster, if necessary.

また、本発明の銅の表面処理液は、該表面処理液の特性を阻害しない限り、上記物質以外の物質(以下、「他の物質」という)を含んでいてもよい。他の物質を含める方法としては、特に限定されるものではない。   The copper surface treatment liquid of the present invention may contain a substance other than the above substances (hereinafter referred to as “other substances”) as long as the properties of the surface treatment liquid are not impaired. It does not specifically limit as a method of including another substance.

<スズ化合物>
本発明の銅の表面処理液は、スズ化合物を含有するものである。スズ化合物としては、後述する溶媒に対して可溶性のものであれば特に限定されないが、その溶解性から酸との塩類が好ましい。例えば、硫酸第一スズ、硫酸第二スズ、ホウフッ化第一スズ、フッ化第一スズ、フッ化第二スズ、硝酸第一スズ、硝酸第二スズ、塩化第一スズ、塩化第二スズ、ギ酸第一スズ、ギ酸第二スズ、酢酸第一スズ、酢酸第二スズ等の第一スズ塩や第二スズ塩などが挙げられる。その中でも、スズ皮膜の形成速度が速いという理由から第一スズ塩が好ましく、後述する溶媒との溶液中での安定性が高く、均一なスズ皮膜を形成することができるという理由から、第二スズ塩が好ましい。さらに、銅のエッチングに悪影響を及ぼさないという理由から硫酸第二スズが特に好ましい。
<Tin compounds>
The copper surface treatment liquid of the present invention contains a tin compound. Although it will not specifically limit as a tin compound if it is soluble with respect to the solvent mentioned later, Salts with an acid are preferable from the solubility. For example, stannous sulfate, stannic sulfate, stannous borofluoride, stannous fluoride, stannic fluoride, stannous nitrate, stannic nitrate, stannous chloride, stannic chloride, Examples thereof include stannous salts such as stannous formate, stannic formate, stannous acetate, and stannic acetate, and stannic salts. Among them, stannous salt is preferable because of the high formation rate of tin film, and it is highly stable in a solution with a solvent to be described later, so that a uniform tin film can be formed. Tin salts are preferred. Furthermore, stannic sulfate is particularly preferred because it does not adversely affect copper etching.

上記表面処理液全体に対する上記スズ化合物の濃度は、好ましくは10ppm以上200,000ppm以下、より好ましくは25ppm以上10,000ppm以下、特に好ましくは100ppm以上2,000ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記スズ化合物の濃度が10ppm未満であると、銅および樹脂等の絶縁材との密着性が低下するおそれがあり、好ましくない。一方、200,000ppmを超えると、銅の表面に多量のスズが析出し、スズ皮膜が凝集破壊するおそれがあり、かつ溶液安定性が劣るとの理由から銅の表面にスズ皮膜を形成し難くなるおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the tin compound with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 10 ppm to 200,000 ppm, more preferably 25 ppm to 10,000 ppm, and particularly preferably 100 ppm to 2,000 ppm. If the concentration of the tin compound with respect to the entire surface treatment liquid is less than 10 ppm, the adhesion with an insulating material such as copper and resin may be lowered, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 200,000 ppm, a large amount of tin is deposited on the copper surface, the tin coating may cohesively break, and it is difficult to form a tin coating on the copper surface because of poor solution stability. This is not preferable.

<フッ素化合物>
本発明の銅の表面処理液は、フッ素化合物を含有するものである。フッ素化合物としては、例えば、フッ化水素、酸性フッ化ナトリウム、酸性フッ化アンモニウム、フッ化ナトリウム、フッ化アンモニウム、ケイフッ化水素等が挙げられる。その中でも、pHが5以下である上記表面処理液中でスズを安定化しやすく、より一層濁りの少ない安定な溶液とすることができるという理由からフッ化水素、酸性フッ化ナトリウムが好ましい。なお、環境に配慮するという観点から、上記フッ素化合物がホウ素を含まないことが好ましい。
<Fluorine compound>
The copper surface treatment liquid of the present invention contains a fluorine compound. Examples of the fluorine compound include hydrogen fluoride, acidic sodium fluoride, acidic ammonium fluoride, sodium fluoride, ammonium fluoride, and hydrogen silicofluoride. Among them, hydrogen fluoride and sodium acid fluoride are preferred because tin is easily stabilized in the surface treatment solution having a pH of 5 or less and can be made into a stable solution with less turbidity. In addition, it is preferable that the said fluorine compound does not contain boron from a viewpoint of considering an environment.

上記表面処理液全体に対する上記フッ素化合物の濃度は、好ましくは10ppm以上200,000ppm以下、より好ましくは25ppm以上5,000ppm以下、特に好ましくは100ppm以上2,000ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記フッ素化合物の濃度が10ppm未満であると、スズイオンを安定化させるのに遊離のフッ素量が十分でないおそれがあり、好ましくない。一方、200,000ppmを超えると、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を阻害するおそれがあり、好ましくない。上記表面処理液全体に対する上記フッ素化合物の濃度が5,000ppm以下であると、銅の表面に形成されるスズ皮膜が厚くなること、多孔質(ポーラス)になること等で不均一になるおそれがないため、より好ましい。   The concentration of the fluorine compound relative to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 10 ppm to 200,000 ppm, more preferably 25 ppm to 5,000 ppm, and particularly preferably 100 ppm to 2,000 ppm. If the concentration of the fluorine compound relative to the entire surface treatment liquid is less than 10 ppm, the amount of free fluorine may not be sufficient to stabilize tin ions, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 200,000 ppm, the reaction of forming a tin film on the surface of copper may be inhibited, which is not preferable. If the concentration of the fluorine compound relative to the entire surface treatment liquid is 5,000 ppm or less, the tin film formed on the copper surface may become thicker or become porous (porous) or the like. It is more preferable because it is not present.

上記スズ化合物から解離したスズイオンに対する上記フッ素化合物から遊離したフッ素のモル比が1以上、20以下の範囲内であることが好ましく、より好ましくは3以上9以下の範囲内であり、最も好ましくは6である。遊離フッ素がスズイオンを安定化させるメカニズムは明らかではないが、スズイオンと遊離フッ素とが錯体を形成し、その錯体が安定的に存在することにより、濁りの少ない均一な溶液になると考えられる。   The molar ratio of fluorine liberated from the fluorine compound to tin ions dissociated from the tin compound is preferably in the range of 1 to 20, more preferably in the range of 3 to 9, most preferably 6. It is. The mechanism by which free fluorine stabilizes tin ions is not clear, but it is thought that tin ions and free fluorine form a complex, and the complex exists stably, resulting in a uniform solution with less turbidity.

上記スズイオンに対する上記遊離フッ素のモル比が1未満であると、スズの安定化が不十分となるおそれがあり、好ましくない。一方、20を超えると、上記表面処理液が安定性を損ねるおそれがあり、好ましくない。   If the molar ratio of the free fluorine to the tin ion is less than 1, there is a possibility that the stabilization of tin may be insufficient, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 20, the surface treatment solution may impair the stability, which is not preferable.

なお、上記スズ化合物から解離したスズイオンと上記フッ素化合物から解離したフッ素イオンとの比率は、スズ量をICP(Inductively Coupled Plasma)分析、原子吸光分析等により測定し、遊離フッ素の濃度をイオンメーターにより測定することにより導き出すことができる。   The ratio of the tin ion dissociated from the tin compound and the fluorine ion dissociated from the fluorine compound is determined by measuring the amount of tin by ICP (Inductively Coupled Plasma) analysis, atomic absorption analysis, etc., and measuring the concentration of free fluorine by an ion meter. It can be derived by measuring.

上記表面処理液全体に対する上記遊離フッ素の濃度は、0.1ppm以上100ppm以下の範囲内であり、好ましくは1ppm以上50ppm以下、特に好ましくは2ppm以上20ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記遊離フッ素の濃度が0.1ppm未満であると、スズを安定化するための遊離フッ素量が不十分であるおそれがあり、好ましくない。一方、100ppmを超えると、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を阻害するおそれがあり、好ましくない。ここで、上記遊離フッ素の濃度は、一般的なイオン電極を用いて測定されるフッ素イオンの濃度である。   The concentration of the free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is in the range of 0.1 ppm to 100 ppm, preferably 1 ppm to 50 ppm, particularly preferably 2 ppm to 20 ppm. If the concentration of the free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is less than 0.1 ppm, the amount of free fluorine for stabilizing tin may be insufficient, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 100 ppm, the reaction of forming a tin film on the surface of copper may be hindered, which is not preferable. Here, the concentration of free fluorine is the concentration of fluorine ions measured using a general ion electrode.

ここで、遊離フッ素(フッ素イオン)について以下に説明する。本発明の銅の表面処理液には、遊離フッ素が存在している。上記遊離フッ素を存在させるには、上記表面処理液にフッ素化合物を含めておく。上記遊離フッ素は、上記表面処理液中におけるスズ化合物の安定性を向上させる作用を有している。さらに、上記遊離フッ素は、上記表面処理液による表面処理の対象である銅に対しての上記スズ化合物の反応を促進する作用も有している。   Here, free fluorine (fluorine ion) will be described below. Free fluorine is present in the copper surface treatment liquid of the present invention. In order to allow the free fluorine to exist, a fluorine compound is included in the surface treatment liquid. The free fluorine has an action of improving the stability of the tin compound in the surface treatment liquid. Furthermore, the free fluorine also has an action of promoting the reaction of the tin compound with respect to copper which is the target of the surface treatment with the surface treatment liquid.

また、本発明の表面処理液中におけるスズ化合物に含まれるスズは、上記表面処理液中でフッ素と錯体などを形成することによって、上記表面処理液中に安定的に存在することが可能となっている。この作用によって、上記表面処理液により適宜スズ化合物を補充しながら連続して銅を表面処理しても、遊離フッ素が一定以上の濃度で存在することにより補充したスズ化合物が局所的に皮膜を形成することがない。したがって、本発明の銅の表面処理液は、遊離フッ素の濃度を特定することにより、銅に対して最適な量のスズ皮膜を形成することができ、安定した表面処理を行うことができる。   Further, tin contained in the tin compound in the surface treatment liquid of the present invention can be stably present in the surface treatment liquid by forming a complex with fluorine in the surface treatment liquid. ing. By this action, even if the surface of the copper is continuously replenished with the above surface treatment solution as appropriate, the replenished tin compound locally forms a film due to the presence of free fluorine at a concentration above a certain level. There is nothing to do. Therefore, the copper surface treatment liquid of the present invention can form an optimum amount of tin film on copper by specifying the concentration of free fluorine, and can perform a stable surface treatment.

<錯化剤>
本発明の銅の表面処理液は、錯化剤を含有するものである。ここで、本明細書でいう錯化剤とは、銅に配位してキレートを形成し、銅表面の電位を下げ還元しやすいような状態にし、スズ表面に樹脂等の絶縁材密着層を形成しやすくするものを意味する。錯化剤としては、例えば、チオ尿素、エチレンチオウレア、ジエチルチオ尿素、ジブチルチオ尿素などのチオ尿素誘導体、チオ硫酸、シアン類等が挙げられる。その中でも、銅との錯体を形成しやすく、銅の表面の電位を低くするためより一層スズ皮膜を形成しやすくすることができるという理由からチオ尿素、ジエチルチオ尿素、ジブチルチオ尿素が好ましい。なお、錯化剤には、副次的に後述する還元剤としても働くものもある。その中で、チオ尿素は、副次的に後述する還元剤としても働くものである。
<Complexing agent>
The copper surface treatment liquid of the present invention contains a complexing agent. Here, the complexing agent as used in the present specification means coordination with copper to form a chelate, lowering the potential of the copper surface, making it easy to reduce, and providing an insulating material adhesion layer such as a resin on the tin surface. It means something that is easy to form. Examples of the complexing agent include thiourea derivatives such as thiourea, ethylenethiourea, diethylthiourea, and dibutylthiourea, thiosulfuric acid, and cyanides. Among these, thiourea, diethylthiourea, and dibutylthiourea are preferable because they can easily form a complex with copper and can further easily form a tin film because the potential of the copper surface is lowered. Some complexing agents also work as a reducing agent, which will be described later. Among them, thiourea also functions as a reducing agent which will be described later.

上記表面処理液全体に対する上記錯化剤の濃度は、好ましくは0.01%以上50%以下、より好ましくは0.1%以上30%以下、特に好ましくは1%以上15%以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記錯化剤の濃度が0.01%未満であると、銅表面に錯体を形成しにくくなるおそれがあり、好ましくない。一方、50%を超えると、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を阻害するおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the complexing agent with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 0.01% to 50%, more preferably 0.1% to 30%, and particularly preferably 1% to 15%. is there. If the concentration of the complexing agent relative to the entire surface treatment liquid is less than 0.01%, it may be difficult to form a complex on the copper surface, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 50%, the reaction for forming a tin film on the surface of copper may be inhibited, which is not preferable.

<シランカップリング剤>
本発明の銅の表面処理液は、シランカップリング剤を含有していることが好ましい。シランカップリング剤としては、後述する溶媒に対して可溶性のものであれば特に限定されない。シランカップリング剤としては、例えば、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン等のメルカプトシラン、ビニルトリクロルシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン等のビニルシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等のエポキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン等のスチリルシラン、メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン等のメタクリロキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のアクリロキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−トリエトキシシリル−N−(1,3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(ビニルベンジル)−2−アミノエチル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン等のウレイドシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等のクロロプロピルシラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド等のスルフィドシラン、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン等のイソシアネートシラン、それらの混合物などが挙げられる。
<Silane coupling agent>
The copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a silane coupling agent. The silane coupling agent is not particularly limited as long as it is soluble in the solvent described later. Examples of the silane coupling agent include mercaptosilanes such as 3-mercaptopropyltrimethoxysilane and 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, vinylsilanes such as vinyltrichlorosilane, vinyltrimethoxysilane and vinyltriethoxysilane, 2- (3 , 4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, epoxyglycan such as 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, p-styryltri Stylylsilane such as methoxysilane, methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, methacryloxypropyltrimethoxysilane, methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, methacryloxypropyltri Methacryloxysilane such as toxisilane, Acryloxysilane such as 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-amino Propyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N- (1,3 -Dimethyl-butylidene) propylamine, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (vinylbenzyl) -2-aminoethyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, and other aminosilanes, 3-ureidopropyltriethoxysilane Such as ureidosilane, Chloropropyl silanes such as Russia trimethoxysilane, bis (triethoxysilylpropyl) tetrasulfide, etc. Surufidoshiran, isocyanate silanes such as 3-isocyanate propyl triethoxysilane, mixtures thereof and the like.

また、銅に吸着しやすいのでスズとともに共析出しやすくなり、エポキシ樹脂等の絶縁材との密着性に優れているという理由からメルカプト基を有するシランカップリング剤、例えばメルカプトシランが好ましく、絶縁材と架橋しやすいという理由から、アミノシラン、エポキシシラン、イソシアネートシランが好ましく、多種の絶縁材との適合性に優れているという理由から、例えばアミノ基を有するシランカップリング剤とエポキシ基を有するシランカップリング剤との混合物、共縮合物(例えばアミノシランとエポキシシランとの共縮合物)が好ましい。また、アルコキシル基を有するシランカップリング剤、シラノール等も好ましい。その中でも、銅とエポキシ樹脂等の絶縁材との密着性を極めて向上させるという理由からメルカプト基を有するシランカップリング剤が特に好ましい。   In addition, since it easily adsorbs to copper, it easily co-precipitates with tin, and a silane coupling agent having a mercapto group, such as mercaptosilane, is preferable because it has excellent adhesion to an insulating material such as an epoxy resin. Amino silane, epoxy silane, and isocyanate silane are preferable because they are easily cross-linked with each other. For example, silane coupling agents having amino groups and silane cups having epoxy groups are preferred because they are excellent in compatibility with various insulating materials. A mixture with a ring agent and a cocondensate (for example, a cocondensate of aminosilane and epoxysilane) are preferred. Moreover, the silane coupling agent which has an alkoxyl group, silanol, etc. are also preferable. Among them, a silane coupling agent having a mercapto group is particularly preferable because the adhesion between copper and an insulating material such as an epoxy resin is extremely improved.

また、本発明の銅の表面処理液は、シランカップリング剤単量体と比較して析出しやすいという優位性があるという理由から、3量体以上のシランカップリング剤縮合体を含んでいることが好ましい。   Further, the copper surface treatment liquid of the present invention contains a silane coupling agent condensate of a trimer or more because it has an advantage of being easily precipitated as compared with a silane coupling agent monomer. It is preferable.

ここで、シランカップリング剤縮合体を形成する際のシランカップリング剤の縮合率は、次に示す式(1)
z=x/(x+y)×100・・・(1)
[式(1)中、xはシランカップリング剤縮合体(2量体以上のシランカップリング剤)のモル比を表し、yはシランカップリング剤単量体のモル比を表し、zはシランカップリング剤の縮合率(%)を表す]で規定される。
Here, the condensation rate of the silane coupling agent when forming the silane coupling agent condensate is expressed by the following formula (1).
z = x / (x + y) × 100 (1)
[In formula (1), x represents the molar ratio of the silane coupling agent condensate (a dimer or higher silane coupling agent), y represents the molar ratio of the silane coupling agent monomer, and z represents silane. Represents the condensation rate (%) of the coupling agent].

なお、シランカップリング剤縮合体またはシランカップリング剤単量体のモル比については、29Si−NMRを用いて導き出すことができる。具体的には、シランカップリング剤中のケイ素原子が酸素原子を介して他のケイ素原子と結合しているものをシランカップリング剤縮合体とし、上記ケイ素原子が酸素原子を介して他のケイ素原子と結合していないものをシランカップリング剤単量体として、シランカップリング剤縮合体またはシランカップリング剤単量体のモル比を導き出すことができる。 Note that the molar ratio of the silane coupling agent condensate or a silane coupling Zaitan monomers can be derived using the 29 Si-NMR. Specifically, a silane coupling agent condensate is one in which a silicon atom in a silane coupling agent is bonded to another silicon atom through an oxygen atom, and the silicon atom is bonded to another silicon through an oxygen atom. The mole ratio of the silane coupling agent condensate or the silane coupling agent monomer can be derived by using a silane coupling agent monomer that is not bonded to an atom.

上記表面処理液全体に対する上記シランカップリング剤の濃度は、好ましくは10ppm以上100,000ppm以下、より好ましくは100ppm以上5,000ppm以下、特に好ましくは200ppm以上2,000ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記シランカップリング剤の濃度が10ppm未満であると、上記スズ皮膜および樹脂等の絶縁材との密着性が低下するおそれがあり、好ましくない。一方、100,000ppmを超えると、銅の表面にシラン化合物が吸着してスズを析出させ難くなるおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the silane coupling agent with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 10 ppm to 100,000 ppm, more preferably 100 ppm to 5,000 ppm, and particularly preferably 200 ppm to 2,000 ppm. If the concentration of the silane coupling agent with respect to the entire surface treatment liquid is less than 10 ppm, the adhesion with an insulating material such as the tin film and resin is liable to be unfavorable. On the other hand, if it exceeds 100,000 ppm, the silane compound may be adsorbed on the copper surface and it may be difficult to precipitate tin, which is not preferable.

上記スズ化合物の重量に対する上記シランカップリング剤の重量の比は、スズ皮膜の形成とシラン化合物の析出とのバランスがよいとの理由から、好ましくは0.001以上100以下、より好ましくは0.01以上10以下、特に好ましくは0.02以上1以下の範囲内である。   The ratio of the weight of the silane coupling agent to the weight of the tin compound is preferably 0.001 or more and 100 or less, more preferably 0.00 because the balance between the formation of the tin film and the precipitation of the silane compound is good. The range is from 01 to 10, particularly preferably from 0.02 to 1.

<還元剤>
本発明の銅の表面処理液は、還元剤を含有していることが好ましい。還元剤としては、例えば、チオ尿素、ジエチルチオ尿素、水素化ホウ素カリウム、ジメチルアミノボラン、次亜リン酸ナトリウム、ヒドラジン、ホルムアルデヒド等が挙げられる。その中でも、スズ化合物に電子を付加して、スズ単体、酸化スズ等からなるスズ皮膜を形成しやすいという理由から少なくともチオ尿素を含有することが好ましい。
<Reducing agent>
The copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a reducing agent. Examples of the reducing agent include thiourea, diethylthiourea, potassium borohydride, dimethylaminoborane, sodium hypophosphite, hydrazine, formaldehyde and the like. Among them, it is preferable to contain at least thiourea because it is easy to add a tin compound and to form a tin film made of tin alone, tin oxide, or the like.

上記表面処理液全体に対する上記還元剤の濃度は、好ましくは0.01%以上50%以下、より好ましくは0.1%以上30%以下、特に好ましくは1%以上15%以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記還元剤の濃度が0.01%未満であると、上記スズ皮膜を形成しないおそれがあり、好ましくない。一方、50%を超えると、スズが銅に溶解し難くなるとの理由から銅の表面にスズ皮膜を形成し難くなるおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the reducing agent with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 0.01% to 50%, more preferably 0.1% to 30%, and particularly preferably 1% to 15%. . If the concentration of the reducing agent relative to the entire surface treatment liquid is less than 0.01%, the tin film may not be formed, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 50%, it is difficult to form a tin film on the surface of copper because tin is difficult to dissolve in copper, which is not preferable.

<防錆剤>
本発明の銅の表面処理液は、防錆剤を含有していることが好ましい。防錆剤としては、例えば、アミノテトラゾール、メチルメルカプトテトラゾール、ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、アミノメルカプトトリアゾール、イミダゾール、メチルイミダゾール、トリアジンチオール、トリメルカプトトリアジン若しくはこれらの塩、またはこれらの類似化合物;メルカプトシラン;チオグリコール酸;チオグリセロール;グアニルチオ尿素;チオ尿素類;等が挙げられる。その中でも、銅表面での防錆機能と化成性との両立という理由から、テトラゾール、トリアゾール、イミダゾール、チオール類の防錆剤が好ましい。
<Rust preventive>
The copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a rust inhibitor. Examples of the rust preventive include aminotetrazole, methyl mercaptotetrazole, benzotriazole, carboxybenzotriazole, aminomercaptotriazole, imidazole, methylimidazole, triazine thiol, trimercaptotriazine or a salt thereof, or a similar compound thereof; mercaptosilane Thioglycolic acid; thioglycerol; guanylthiourea; thioureas; Among them, tetrazole, triazole, imidazole, and thiol rust preventives are preferred because they have both a rust preventive function on the copper surface and chemical conversion.

<金属化合物>
本発明の銅の表面処理液は、金属化合物を含有していることが好ましい。金属化合物としては、金属塩等が挙げられる。また、金属化合物としては、例えば、アルミニウム化合物、ジルコニル化合物、チタニウム化合物、カルシウム化合物、ナトリウム化合物、マグネシウム化合物、ストロンチウム化合物、マンガン化合物、バナジウム化合物、イットリウム化合物、ニオブ化合物、亜鉛化合物、インジウム化合物、銀化合物、鉄化合物、パラジウム化合物、コバルト化合物、銅化合物、ニッケル化合物等が挙げられる。その中でも、スズと共析出しやすいと考えられ、より緻密なスズ膜を与えるという理由から銀化合物、パラジウム化合物、金化合物、白金化合物、銅化合物が好ましい。
<Metal compound>
The copper surface treatment liquid of the present invention preferably contains a metal compound. Examples of the metal compound include metal salts. Examples of the metal compound include aluminum compounds, zirconyl compounds, titanium compounds, calcium compounds, sodium compounds, magnesium compounds, strontium compounds, manganese compounds, vanadium compounds, yttrium compounds, niobium compounds, zinc compounds, indium compounds, silver compounds. , Iron compounds, palladium compounds, cobalt compounds, copper compounds, nickel compounds and the like. Among these, silver compounds, palladium compounds, gold compounds, platinum compounds, and copper compounds are preferred because they are considered to easily co-precipitate with tin and give a denser tin film.

上記表面処理液全体に対する上記金属化合物の濃度は、好ましくは1ppm以上10,000ppm以下、より好ましくは10ppm以上2,000ppm以下、特に好ましくは100ppm以上1,000ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記金属化合物の濃度が1ppm未満であると、フッ素と錯体を形成し難くなるおそれがあり、好ましくない。一方、10,000ppmを超えると、銅の表面にスズ皮膜を形成しながらシラン化合物を析出させる反応を阻害するおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the metal compound with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 1 ppm to 10,000 ppm, more preferably 10 ppm to 2,000 ppm, and particularly preferably 100 ppm to 1,000 ppm. If the concentration of the metal compound relative to the entire surface treatment liquid is less than 1 ppm, it may be difficult to form a complex with fluorine, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 10,000 ppm, there is a possibility of inhibiting the reaction of depositing the silane compound while forming a tin film on the surface of copper, which is not preferable.

<pH調整剤>
本発明の銅の表面処理液は、必要に応じて、酸・アルカリのpH調整剤を含有していてもよい。ここで、本発明の銅の表面処理液は、pHが5以下である。酸のpH調整剤としては、無機酸および有機酸から選択される少なくとも1種の酸を使用することができる。本発明で使用することができる酸としては、例えば、塩酸、硫酸、硝酸、ホウフッ化水素酸、リン酸などの無機酸;ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸等のカルボン酸、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸等のアルカンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、フェノールスルホン酸、クレゾールスルホン酸等の芳香族スルホン酸などの有機酸;が挙げられる。その中でも、樹脂等の絶縁材との密着層を形成する速度、スズ化合物の溶解性等という理由から硫酸が好ましい。
<PH adjuster>
The copper surface treatment liquid of the present invention may contain an acid / alkali pH adjuster, if necessary. Here, the copper surface treatment solution of the present invention has a pH of 5 or less. As the acid pH adjuster, at least one acid selected from inorganic acids and organic acids can be used. Examples of the acid that can be used in the present invention include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, borofluoric acid, and phosphoric acid; carboxylic acids such as formic acid, acetic acid, propionic acid, and butyric acid, methanesulfonic acid, and ethane. And organic acids such as alkane sulfonic acids such as sulfonic acid, aromatic sulfonic acids such as benzene sulfonic acid, phenol sulfonic acid, and cresol sulfonic acid. Among them, sulfuric acid is preferable because of the speed of forming an adhesion layer with an insulating material such as a resin and the solubility of a tin compound.

上記表面処理液全体に対する上記pH調整剤の濃度は、好ましくは10ppm以上10,000ppm以下、より好ましくは50ppm以上2,000ppm以下、特に好ましくは100ppm以上1000ppm以下の範囲内である。上記表面処理液全体に対する上記pH調整剤の濃度が10ppm未満であると、スズ化合物が溶解し難くなり、遊離フッ素によるスズイオンの安定化が不十分となるおそれがあり、好ましくない。一方、10,000ppmを超えると、銅の表面にスズ皮膜を形成しながらシラン化合物を析出させる反応を阻害するおそれがあり、好ましくない。   The concentration of the pH adjuster with respect to the entire surface treatment liquid is preferably in the range of 10 ppm to 10,000 ppm, more preferably 50 ppm to 2,000 ppm, and particularly preferably 100 ppm to 1000 ppm. When the concentration of the pH adjusting agent relative to the entire surface treatment liquid is less than 10 ppm, the tin compound is difficult to dissolve, and stabilization of tin ions by free fluorine may be insufficient, which is not preferable. On the other hand, if it exceeds 10,000 ppm, there is a possibility of inhibiting the reaction of depositing the silane compound while forming a tin film on the surface of copper, which is not preferable.

<他の物質>
本発明の銅の表面処理液は、樹脂等の絶縁材との均一な密着層を形成するための界面活性剤、樹脂等の絶縁材との密着層の形成を促進するための重合開始剤等、必要に応じて、銅の表面にスズ皮膜を形成する反応を阻害しないような種々の添加剤を含有してもよい。
<Other substances>
The copper surface treatment liquid of the present invention is a surfactant for forming a uniform adhesion layer with an insulating material such as a resin, a polymerization initiator for accelerating the formation of an adhesion layer with an insulating material such as a resin, etc. If necessary, various additives that do not inhibit the reaction of forming a tin film on the surface of copper may be contained.

<後処理剤>
後処理剤として、シランカップリング剤、チタンアルコキシド、樹脂、防錆剤等があげられるが、絶縁材と密着する官能基を有するものであれば任意の化合物を単独でもしくは組み合わせて使用できる。絶縁材と密着する官能基としてはエポキシ基、シラノール基、イミド基、イソシアネート基、カルボキシル基、ホスホン基、カルボニル基、アミノ基、メルカプト基等があげられる。上記樹脂としては、上記官能基を有するものであればよく、例えばポリアクリル酸、その誘導体等のアルクル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアリルアミン等があげられる。これら後処理剤を用いる際の濃度としては、10ppm以上20,000ppm以下の範囲内が好ましい。
<Post-treatment agent>
Examples of the post-treatment agent include silane coupling agents, titanium alkoxides, resins, rust inhibitors, and the like, and any compound can be used alone or in combination as long as it has a functional group that is in close contact with the insulating material. Examples of functional groups that are in close contact with the insulating material include epoxy groups, silanol groups, imide groups, isocyanate groups, carboxyl groups, phosphone groups, carbonyl groups, amino groups, and mercapto groups. The resin has only to have the above functional group, and examples thereof include polyacrylic acid, alklu resins such as derivatives thereof, epoxy resins, polyallylamine and the like. The concentration when these post-treatment agents are used is preferably within the range of 10 ppm or more and 20,000 ppm or less.

<溶媒>
本発明における銅の表面処理液は、溶質である上記物質と溶媒とから構成される。本発明に用いられる溶媒は、上記物質を溶解することができれば特に限定されない。例えば、水、および有機溶媒、例えばベンゼン、トルエン、キシレン、n−へプタン、n−ヘキサン、シクロヘキサン、n−オクタン等の炭化水素;ジクロロメタン、ジクロロエタン、四塩化炭素、クロロホルム、クロロベンゼン、ジクロロベンゼンおよびトリクロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素;メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン類;テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル、ジオキサン、メチルセルソルブ等のエーテル類;メタノール、エタノール、メトキシプロパノール等のアルコール類;などが挙げられる。上記溶媒は、単独で用いてもよく、適宜2種類以上を混合して用いてもよい。また、上記水としては、イオン交換水、純水、超純水等のイオン性物質や不純物を除去した水が好ましい。
<Solvent>
The copper surface treatment liquid in the present invention is composed of the above-mentioned substance as a solute and a solvent. The solvent used in the present invention is not particularly limited as long as it can dissolve the above substances. For example, water, and organic solvents such as benzene, toluene, xylene, n-heptane, n-hexane, cyclohexane, n-octane and other hydrocarbons; dichloromethane, dichloroethane, carbon tetrachloride, chloroform, chlorobenzene, dichlorobenzene and tri And halogenated hydrocarbons such as chlorobenzene; ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone; ethers such as tetrahydrofuran, diethyl ether, dioxane and methyl cellosolve; alcohols such as methanol, ethanol and methoxypropanol; The said solvent may be used independently and may mix and use 2 or more types suitably. The water is preferably water from which ionic substances and impurities such as ion-exchanged water, pure water, and ultrapure water have been removed.

上記溶液中の上記有機溶媒の濃度は、溶液の温度、上記物質の成分等によって決まり特に限定されるものではないが、環境配慮の理由から、好ましくは0%以上10%以下、より好ましくは0%以上1%以下、特に好ましくは0%以上0.1%以下の範囲内である。   The concentration of the organic solvent in the solution depends on the temperature of the solution, the components of the substance and the like and is not particularly limited, but is preferably 0% or more and 10% or less, more preferably 0 for reasons of environmental consideration. % To 1%, particularly preferably in the range of 0% to 0.1%.

ここで、本発明は、銅の安定した表面処理を行うことを目的としているため、上記溶液中における上記物質の濃度が低濃度であってもよい。それゆえ、本発明における銅の表面処理液は、従来の銅の表面処理液と比較して、銅の表面をエッチング等の粗化処理しないという点で優れている。   Here, since this invention aims at performing the stable surface treatment of copper, the density | concentration of the said substance in the said solution may be low concentration. Therefore, the copper surface treatment liquid in the present invention is superior to the conventional copper surface treatment liquid in that the copper surface is not subjected to roughening treatment such as etching.

(III)本発明における銅の表面処理液の製造方法
本発明の銅の表面処理液は、従来公知の混合方法・混合装置により混合される。本発明の銅の表面処理液に含有される物質を混合する順番は、特に限定されない。また、上記物質は、一度に混合してもよく、分割して混合してもよい。
(III) Manufacturing Method of Copper Surface Treatment Liquid in the Present Invention The copper surface treatment liquid of the present invention is mixed by a conventionally known mixing method / mixing apparatus. The order of mixing the substances contained in the copper surface treatment liquid of the present invention is not particularly limited. Moreover, the said substance may be mixed at once, and may be divided and mixed.

(IV)本発明における銅の表面処理方法
本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させる方法である。また、本発明の銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させた後に、さらにシランカップリング剤を接触させてもよい。
(IV) Copper surface treatment method of the present invention The copper surface treatment method of the present invention is a method of bringing the surface treatment solution into contact with the surface of copper. In the copper surface treatment method of the present invention, the silane coupling agent may be further contacted after the surface treatment liquid is brought into contact with the copper surface.

銅の表面に上記表面処理液を接触させる方法としては特に限定されない。例えば、上記表面処理液に銅を浸漬させる方法、銅の表面に上記表面処理液をスプレーによって噴射する方法、銅の表面に上記表面処理液を塗布する方法等が挙げられる。また、上記表面処理液は、一度に接触させてもよく、分割して接触させてもよい。   The method for bringing the surface treatment solution into contact with the copper surface is not particularly limited. For example, a method of immersing copper in the surface treatment solution, a method of spraying the surface treatment solution on the surface of copper by spraying, a method of applying the surface treatment solution on the surface of copper, and the like can be mentioned. Moreover, the said surface treatment liquid may be made to contact at once, and may be divided and made to contact.

銅の表面に上記表面処理液を接触させる際の温度は、上記表面処理液の成分等によって決まり特に限定されるものではないが、反応性に優れているとの理由から、好ましくは10℃以上60℃以下、より好ましくは20℃以上50℃以下、特に好ましくは30%以上40%以下の範囲内である。   The temperature at which the surface treatment liquid is brought into contact with the copper surface is not particularly limited depending on the components of the surface treatment liquid, but is preferably 10 ° C. or higher because of excellent reactivity. It is 60 ° C. or less, more preferably 20 ° C. or more and 50 ° C. or less, particularly preferably 30% or more and 40% or less.

銅の表面に上記表面処理液を接触させる時間は、上記表面処理液の成分等によって決まり特に限定されるものではないが、反応性に優れているとの理由から、好ましくは1秒以上600秒以下、より好ましくは5秒以上300秒以下、特に好ましくは15秒以上120秒以下の範囲内である。   The time for which the surface treatment liquid is brought into contact with the copper surface is determined by the components of the surface treatment liquid and is not particularly limited, but is preferably 1 second or more and 600 seconds because of excellent reactivity. Hereinafter, it is more preferably in the range of 5 seconds to 300 seconds, particularly preferably 15 seconds to 120 seconds.

本発明における銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させる前に、酸等により前処理してもよい。また、本発明における銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させた後に、さらに上記表面処理液、上記シランカップリング剤等により後処理してもよい。上記後処理後には、水洗してから乾燥させても、水洗せずに乾燥させてもよい。また、本発明における銅の表面処理方法は、銅の表面に上記表面処理液を接触させた後に、熱処理等を行ってもよい。   The copper surface treatment method of the present invention may be pretreated with an acid or the like before bringing the surface treatment solution into contact with the copper surface. In the copper surface treatment method of the present invention, after the surface treatment liquid is brought into contact with the surface of copper, the surface treatment liquid, the silane coupling agent, or the like may be further post-treated. After the post-treatment, it may be washed with water and dried, or may be dried without washing. In the copper surface treatment method of the present invention, the surface treatment solution may be brought into contact with the copper surface, and then heat treatment or the like may be performed.

(V)本発明における銅張り材料
本発明の銅張り材料は、上記銅の表面処理方法により表面処理されてなるものである。上記銅の表面処理方法により表面処理される前の銅張り材料としては、一般的な電子基板、リードフレーム等の電子部品、装飾品、建材等を挙げることができる。本発明の銅張り材料は、銅の表面全体が上記表面処理方法により表面処理されているものに限定されず、銅の表面の一部が上記表面処理方法により表面処理されているものも本発明に含まれる。
(V) Copper-clad material in this invention The copper-clad material of this invention is surface-treated by the said copper surface treatment method. Examples of the copper-clad material before the surface treatment by the copper surface treatment method include electronic parts such as general electronic substrates and lead frames, ornaments, and building materials. The copper-clad material of the present invention is not limited to those in which the entire surface of copper is surface-treated by the above-mentioned surface treatment method, and those in which a part of the surface of copper is surface-treated by the above-mentioned surface treatment method are also included in the present invention. include.

(VI)本発明における多層配線基板
本発明の多層配線基板(ビルドアップ配線基板)は、上記銅張り材料を備えているものである。本発明の多層配線基板は、従来公知の多層配線基板の製造方法により製造されるものである。具体的には、表面部が銅からなる導電層を有する内層基板が、樹脂等の絶縁材を挟んで他の内層基板と積層プレスされることにより製造される。多層配線基板(ビルドアップ配線基板)には、一括ラミネーション方式のビルドアップ基板と、シーケンシャルビルドアップ方式のビルドアップ基板とがある。
(VI) Multilayer Wiring Board in the Present Invention The multilayer wiring board (build-up wiring board) of the present invention comprises the above copper-clad material. The multilayer wiring board of the present invention is manufactured by a conventionally known method for manufacturing a multilayer wiring board. Specifically, an inner layer substrate having a conductive layer whose surface is made of copper is manufactured by being laminated and pressed with another inner layer substrate with an insulating material such as resin interposed therebetween. The multilayer wiring board (build-up wiring board) includes a batch lamination type build-up board and a sequential build-up type build-up board.

本発明における多層配線基板には、最外層に上記銅張り材料を備えている外層基板および単層基板を含む。また、上記外層基板には、最外層面に上記銅張り材料を片面または両面に備えている片面または両面の外層基板を含む。   The multilayer wiring board in the present invention includes an outer layer board and a single layer board provided with the copper-clad material in the outermost layer. The outer layer substrate includes a single-sided or double-sided outer layer substrate having the copper-clad material on one or both sides on the outermost layer surface.

以下、実施例および比較例により、本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, although an example and a comparative example explain the present invention still in detail, the present invention is not limited to these examples.

〔実施例1〕
<銅の表面処理工程>
厚さ35μmの電解銅箔(古河サーキットフォイル株式会社製、商品名:「F−WS箔」)を、水道水で希釈した硫酸および過酸化水素の水溶液(硫酸の濃度3%、過酸化水素の濃度1%)に30℃・60秒の条件で浸漬させた後、水道水で洗浄し、乾燥させた。
[Example 1]
<Copper surface treatment process>
A 35 μm thick electrolytic copper foil (Furukawa Circuit Foil, trade name: “F-WS foil”) diluted with tap water in sulfuric acid and hydrogen peroxide (sulfuric acid concentration 3%, hydrogen peroxide The film was immersed in a concentration of 1% at 30 ° C. for 60 seconds, washed with tap water, and dried.

次に、上記処理を行った電解銅箔を、所定の表面処理液(成分等については後述する)に40℃・60秒の条件で浸漬させた後、水道水で洗浄し、80℃・5分の条件で乾燥させた。   Next, the electrolytic copper foil subjected to the above treatment is immersed in a predetermined surface treatment solution (components and the like will be described later) at 40 ° C. for 60 seconds, washed with tap water, and then at 80 ° C. · 5 Dried for minutes.

<所定の表面処理液の成分等>
上記所定の表面処理液には、スズ化合物としての硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm、試薬)と、フッ素化合物としてのフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm、試薬)と、錯化剤としてのチオ尿素(表面処理液全体に対するチオ尿素の濃度:5%、試薬)とを含めた。その後、水酸化ナトリウムを添加して、上記表面処理液のpHを3とした。また、表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度は6ppmとした。遊離フッ素の濃度は、(フッ素イオンメーター、東亜ディーケーケー株式会社製、商品名:「IM−55G」)により測定した。
<Components of predetermined surface treatment liquid, etc.>
In the predetermined surface treatment liquid, tin sulfate as a tin compound (concentration of tin sulfate with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm, reagent) and hydrogen fluoride as a fluorine compound (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid) : 25 ppm, reagent) and thiourea as a complexing agent (thiourea concentration with respect to the entire surface treatment solution: 5%, reagent). Thereafter, sodium hydroxide was added to adjust the pH of the surface treatment solution to 3. The concentration of free fluorine with respect to the entire surface treatment solution was 6 ppm. The concentration of free fluorine was measured by (Fluorine ion meter, manufactured by Toa DKK Corporation, trade name: “IM-55G”).

<多層配線基板製造工程>
得られた電解銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性を評価するため、上記電解銅箔の両面にビルドアップ配線板用絶縁材(松下電工株式会社製汎用プリプレグ、FR−4)を重ねて、150℃・20kg/m→150℃・30kg/m・0.5時間→180℃・30kg/m・1.5時間の条件で加熱しながら積層プレスし、その後に、80℃・1.5時間の条件で冷却した。その後プレスを終了し、20℃×20分冷却した。
<Multilayer wiring board manufacturing process>
In order to evaluate the adhesion between the obtained electrolytic copper foil and an insulating material such as a resin, build-up wiring board insulating materials (general-purpose prepreg, FR-4 manufactured by Matsushita Electric Works, Ltd.) are laminated on both surfaces of the electrolytic copper foil. 150 ° C. · 20 kg / m 2 → 150 ° C. · 30 kg / m 2 · 0.5 hours → 180 ° C. · 30 kg / m 2 · 1.5 hours heating and laminating press, then 80 ° C. -It cooled on the conditions for 1.5 hours. Thereafter, the press was terminated, and cooling was performed at 20 ° C. for 20 minutes.

<銅の表面処理後の物性>
(1)銅の表面処理液におけるスズの沈殿(量)
銅の表面処理液におけるスズの沈殿(量)は、目視により測定した。具体的には、100mm×70mmの銅箔10枚を1Lの上記表面処理液に浸漬させた後、スズの沈殿がない状態を「○」とし、スズの沈殿がある状態を「×」とした。
<Physical properties after surface treatment of copper>
(1) Tin precipitation (amount) in copper surface treatment solution
The tin precipitation (amount) in the copper surface treatment solution was measured visually. Specifically, after immersing 10 pieces of 100 mm × 70 mm copper foil in 1 L of the surface treatment liquid, the state where there was no tin precipitation was set as “◯”, and the state where there was tin precipitation was set as “x”. .

(2)銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量
銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量は、精密天秤により、エッチング前後の重量変化を測定して求めた。その結果、エッチング量が0.1g/m未満である状態を「○」とし、0.1g/m以上1g/m以下である状態を「△」とし、1g/mを超える状態を「×」とした。
(2) The etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment The etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was obtained by measuring the weight change before and after the etching with a precision balance. As a result, the state where the etching amount is less than 0.1 g / m 2 is “◯”, the state where the etching amount is 0.1 g / m 2 or more and 1 g / m 2 or less is “Δ”, and the state exceeds 1 g / m 2. Was marked “x”.

(3)銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観
銅の表面処理後における電解銅箔の外観は、SEM(Scanning Electron Microscope、日本電子株式会社製、商品名:「JSM5310」)により、倍率を1000倍および5000倍にして目視にて評価した。その結果、凹凸がない(平坦な)状態を「○」とし、凹凸がある状態を「×」とした。
(3) SEM appearance of electrolytic copper foil after copper surface treatment The appearance of the electrolytic copper foil after copper surface treatment is determined by SEM (Scanning Electron Microscope, manufactured by JEOL Ltd., trade name: “JSM5310”). Was 1000 times and 5000 times and evaluated visually. As a result, the state without unevenness (flat) was set as “◯”, and the state with unevenness was set as “x”.

(4)銅の表面処理後における電解銅箔のスズ・シラン化合物の皮膜量
銅の表面処理後における電解銅箔のスズ・シラン化合物の皮膜量は、蛍光X線(株式会社島津製作所製、商品名:「XRF1700」)により測定した。
(4) Amount of tin / silane compound film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment The amount of tin / silane compound film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment was measured using fluorescent X-ray (Shimadzu Corporation, product) Name: “XRF1700”).

(5)銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性
多層配線基板の銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性、即ち多層配線基板における絶縁材からの銅箔の引き剥がし強さは、万能試験機(株式会社エー・アンド・デイ製、商品名:「テンシロン」)により、JIS C 6481に準拠してロードセル100kg/m、レンジ2%、クロスヘッドスピード50mm/min、チャートスピード20mm/minの条件で測定した。
(5) Adhesion between copper foil and insulating material such as resin in multilayer wiring board provided with electrolytic copper foil after surface treatment of copper Adhesion between copper foil of multilayer wiring board and insulating material such as resin, The peel strength of the copper foil from the insulating material in the multilayer wiring board is 100 kg / m in load cell according to JIS C 6481 using a universal testing machine (manufactured by A & D Co., Ltd., trade name: “Tensilon”). 2. Measurement was performed under conditions of a range of 2%, a crosshead speed of 50 mm / min, and a chart speed of 20 mm / min.

(6)上記物性の評価結果
上記物性の評価結果は、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が45mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。
(6) Evaluation results of the above physical properties The evaluation results of the above physical properties are that the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution is “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “◯”, and the copper surface SEM appearance of electrolytic copper foil after treatment is “◯”, tin film amount of electrolytic copper foil after copper surface treatment is 45 mg / m 2 , multilayer wiring board provided with electrolytic copper foil after copper surface treatment The adhesion between the copper foil and an insulating material such as resin was 0.60 kN / m.

〔実施例2〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Example 2]
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). The hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. Except for this, the same operation as in Example 1 was performed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 156 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 0.60 kN / m.

〔実施例3〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、錯化剤をチオ尿素(表面処理液全体に対するチオ尿素の濃度:5%)からジエチルチオ尿素(表面処理液全体に対するジエチルチオ尿素の濃度:5%)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 3
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and the complexing agent was thiourea (with respect to the entire surface treatment liquid) Example 1 except that the concentration of thiourea was changed from 5% to diethylthiourea (the concentration of diethylthiourea with respect to the entire surface treatment solution: 5%), and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. The operation was performed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が34mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as a resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 34 mg / m < 2 > after the copper surface treatment. The property was 0.60 kN / m.

〔実施例4〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:10,000ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:10,000ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから30ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 4
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 10,000 ppm), and fluorine compound Is changed from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 10,000 ppm), and the concentration of free fluorine is changed from 6 ppm to 30 ppm. The same operation as Example 1 was performed except having changed into.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が1123mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 1123 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment" The property was 0.60 kN / m.

〔実施例5〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:200ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから5ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 5
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). The hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 200 ppm), and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 5 ppm. Except for this, the same operation as in Example 1 was performed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が321mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 321 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.60 kN / m.

〔実施例6〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:2,000ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから100ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 6
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment solution: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment solution: 2,000 ppm), and change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 100 ppm Except that, the same operation as in Example 1 was performed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が21mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as a resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 21 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.60 kN / m.

〔実施例7〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:50ppm)に変更し、上記表面処理液のpHを1に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから3ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 7
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 50 ppm), change the pH of the surface treatment liquid to 1, The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 3 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が882mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 882 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.60 kN / m.

〔実施例8〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、上記表面処理液のpHを5に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 8
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), change the pH of the surface treatment liquid to 5, The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が19mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 19 mg / m 2 after the surface treatment of the copper. The property was 0.60 kN / m.

〔実施例9〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としての50%エタノールで5%に希釈した3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(表面処理液全体に対する3−メルカプトプロピルトリメトキシシランの濃度:1000ppm、信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM−803」)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 9
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment solution: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment solution: 500 ppm), and 5% with 50% ethanol as the silane coupling agent Diluted with 3-mercaptopropyltrimethoxysilane (concentration of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., trade name: “KBM-803”), and free fluorine The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of 6 was changed from 6 ppm to 10 ppm. Was Tsu.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が0.4mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.00kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”, The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper is 156 mg / m 2 , the amount of film of the silane compound on the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper is 0.4 mg / m 2 , after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.00 kN / m.

〔実施例10〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としての30%に希釈した3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(表面処理液全体に対する3−メルカプトプロピルトリメトキシシランの濃度:1000ppm)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 10
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm) and diluted to 30% as a silane coupling agent 3 -Mercaptopropyltrimethoxysilane (concentration of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm) was added, and the same operation as in Example 1 was carried out except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. Went.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が91mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が0.7mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.10kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "coating weight of 91 mg / m 2 of tin of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, the coating weight of 0.7 mg / m 2 of a silane compound of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.10 kN / m.

〔実施例11〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としての3−メルカプトプロピルトリメトキシシランとエポキシシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM403」)とを1:1で混合して5%に希釈した混合物(表面処理液全体に対する上記混合物の濃度:1000ppm)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 11
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and 3-mercaptopropyltrimethoxy as a silane coupling agent Add a mixture of silane and epoxysilane (trade name: “KBM403”, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 1: 1 and diluted to 5% (concentration of the above mixture with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm) The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が144mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が1.0mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "coating weight of 144 mg / m 2 of tin of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, the coating weight of 1.0 mg / m 2 of a silane compound of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.20 kN / m.

〔実施例12〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としての3−メルカプトプロピルトリメトキシシランとアミノシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM903」)とを1:1で混合して5%に希釈した混合物(表面処理液全体に対する上記混合物の濃度:1000ppm)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 12
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and 3-mercaptopropyltrimethoxy as a silane coupling agent Add a mixture of silane and aminosilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., trade name: “KBM903”) 1: 1 and diluted to 5% (concentration of the above mixture with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm), The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が155mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が1.2mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The amount of tin film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment is 155 mg / m 2 , the amount of silane compound film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment is 1.2 mg / m 2 , after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.20 kN / m.

〔実施例13〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としての3−メルカプトプロピルトリメトキシシランとイソシアネートシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBE9007」)とを1:1で混合して5%に希釈した混合物(表面処理液全体に対する上記混合物の濃度:1000ppm)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 13
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and 3-mercaptopropyltrimethoxy as a silane coupling agent Add a mixture of silane and isocyanate silane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., trade name: “KBE9007”) 1: 1 and diluted to 5% (the concentration of the above mixture with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm). The same operation as in Example 1 except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. I went.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が127mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が0.6mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.10kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "coating weight of 127 mg / m 2 of tin of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, the coating weight of 0.6 mg / m 2 of a silane compound of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.10 kN / m.

〔実施例14〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、シランカップリング剤としてのエポキシシランとアミノシランとを1:1で混合して5%に希釈した混合物(表面処理液全体に対する上記混合物の濃度:1000ppm)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 14
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), and epoxysilane and aminosilane as silane coupling agents were changed. Same as Example 1 except that a mixture mixed at 1: 1 and diluted to 5% (concentration of the above mixture with respect to the entire surface treatment solution: 1000 ppm) was added, and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. Was performed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が166mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が1.2mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.10kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”, The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper is 166 mg / m 2 , the amount of film of the silane compound on the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper is 1.2 mg / m 2 , after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.10 kN / m.

〔実施例15〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、防錆剤としてのアミノテトラゾール(表面処理液全体に対するアミノテトラゾールの濃度:1000ppm、試薬)を追加し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 15
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), and aminotetrazole (the whole surface treatment liquid) Aminotetrazole concentration: 1000 ppm, reagent) was added, and the same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が128mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.70kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 128 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.70 kN / m.

〔実施例16〕
電解銅箔の酸洗を、硫酸および過酸化水素の水溶液から硫酸の水溶液(硫酸の濃度3%)に変更し、所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 16
The pickling of the electrolytic copper foil was changed from an aqueous solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to an aqueous solution of sulfuric acid (sulfuric acid concentration 3%), and the tin compound contained in the prescribed surface treatment solution was changed to tin sulfate (sulfuric acid for the entire surface treatment solution). The concentration of tin was changed from 25 ppm to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm), and the fluorine compound was changed from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride relative to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride. (The concentration of hydrogen fluoride with respect to the entire surface treatment solution: 500 ppm) The same operation as in Example 1 was performed except that the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が146mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.60kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 146 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 0.60 kN / m.

〔実施例17〕
電解銅箔の酸洗を、硫酸および過酸化水素の水溶液から、硫酸、過酸化水素および防錆剤としてのチオグリセロールの水溶液(硫酸の濃度3%、過酸化水素の濃度1%、チオグリセロールの濃度1%)に変更し、所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 17
Pickling electrolytic copper foil from sulfuric acid and hydrogen peroxide aqueous solution, sulfuric acid, hydrogen peroxide and aqueous solution of thioglycerol as rust inhibitor (sulfuric acid concentration 3%, hydrogen peroxide concentration 1%, thioglycerol The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). The fluorine compound was changed from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), and the concentration of free fluorine The same operation as in Example 1 was performed except that 6 was changed from 6 ppm to 10 ppm.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が158mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.90kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 158 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 0.90 kN / m.

〔実施例18〕
電解銅箔の酸洗を、硫酸および過酸化水素の水溶液から、二塩化パラジウムおよび塩化第二銅の水溶液(二塩化パラジウムの濃度0.03%、塩化第二銅の濃度1%、pH2)に変更し、所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 18
Pickling of electrolytic copper foil from aqueous solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to aqueous solution of palladium dichloride and cupric chloride (palladium dichloride concentration 0.03%, cupric chloride concentration 1%, pH 2) The tin compound contained in the specified surface treatment solution was changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment solution: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment solution: 500 ppm), and fluorine The compound was changed from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 10 ppm. The same operation as Example 1 was performed except having changed.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が120mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.90kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 120 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.90 kN / m.

〔実施例19〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈した3−メルカプトプロピルトリメトキシシランを含む後処理液(後処理液全体に対する3−メルカプトプロピルトリメトキシシランの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 19
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, The electrolytic copper foil immersed in the surface treatment liquid is treated with a post-treatment liquid containing 3-mercaptopropyltrimethoxysilane diluted to 5% (concentration of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane with respect to the whole post-treatment liquid: 1000 ppm). Then, operation similar to Example 1 was performed except wash | cleaning with tap water.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が142mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が0.7mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "coating weight of 142 mg / m 2 of tin of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, the coating weight of 0.7 mg / m 2 of a silane compound of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper, after the surface treatment of copper The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.20 kN / m.

〔実施例20〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈した3−メルカプトプロピルトリメトキシシランを含む後処理剤(後処理剤全体に対する3−メルカプトプロピルトリメトキシシランの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 20
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, The electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution is treated with a post-treatment agent containing 3-mercaptopropyltrimethoxysilane diluted to 5% (concentration of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane with respect to the whole post-treatment agent: 1000 ppm). Thereafter, the same operation as in Example 1 was performed, except that it was not washed with tap water.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が130mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔のシラン化合物の皮膜量が2.5mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.30kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The amount of tin film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment is 130 mg / m 2 , and the amount of silane compound film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment is 2.5 mg / m 2 , after copper surface treatment The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was 1.30 kN / m.

〔実施例21〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、金属化合物としての硝酸銀(表面処理液全体に対する硝酸銀の濃度:50ppm、試薬)を追加したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 21
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, The same operation as in Example 1 was performed except that silver nitrate (concentration of silver nitrate relative to the entire surface treatment solution: 50 ppm, reagent) was added as a metal compound.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が220mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.70kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 220 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.70 kN / m.

〔実施例22〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、金属化合物としての塩化パラジウム(表面処理液全体に対する塩化パラジウムの濃度:50ppm、試薬)を追加したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Example 22]
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, The same operation as in Example 1 was performed except that palladium chloride as a metal compound (palladium chloride concentration with respect to the entire surface treatment solution: 50 ppm, reagent) was added.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が203mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.70kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 203 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.70 kN / m.

〔実施例23〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈したエポキシシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM403」)を含む後処理剤(後処理剤全体に対するエポキシシランの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 23
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, Post-treatment agent containing epoxy silane (trade name: “KBM403”, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) diluted with 5% of the electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution, concentration of epoxy silane with respect to the whole post-treatment agent: 1000 ppm), and then the same operation as in Example 1 was performed except that it was not washed with tap water.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 156 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 1.20 kN / m.

〔実施例24〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、金属化合物としての硝酸銀(表面処理液全体に対する硝酸銀の濃度:50ppm)を追加し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈したエポキシシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM403」)を含む後処理剤(後処理剤全体に対するエポキシシランの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 24
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, Epoxysilane (trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) obtained by adding silver nitrate as a metal compound (concentration of silver nitrate to the entire surface treatment solution: 50 ppm) and diluting the electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution to 5% : "KBM403") containing a post-treatment agent (epoxysilane concentration with respect to the whole post-treatment agent: 1000 ppm), After, except that no washing with tap water, experiment was carried out in the same manner as in Example 1.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が221mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.30kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 221 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 1.30 kN / m.

〔実施例25〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈したポリアクリル酸(日本純薬株式会社製、分子量20,000)を含む後処理剤(後処理剤全体に対するポリアクリル酸の濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 25
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, Post-treatment agent containing polyacrylic acid (manufactured by Nippon Pure Chemical Co., Ltd., molecular weight 20,000) diluted to 5% with the electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution (concentration of polyacrylic acid relative to the whole post-treatment agent: 1000 ppm), and then the same operation as in Example 1 was performed except that it was not washed with tap water.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 156 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 1.20 kN / m.

〔実施例26〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈したポリアクリル酸(日本純薬株式会社製、分子量20,000)およびエポキシシラン(信越化学工業株式会社製、商品名:「KBM403」)を含む後処理剤(後処理剤全体に対するポリアクリル酸の濃度:1000ppm、エポキシシランの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 26
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, Polyacrylic acid (manufactured by Nippon Pure Chemical Co., Ltd., molecular weight 20,000) and epoxy silane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., trade name: “KBM403”) diluted to 5% of an electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution ) Containing post-treatment agent (polyacrylic acid concentration with respect to the whole post-treatment agent: 1000 ppm, epoxy silane concentration: 1000 p) Was treated with m), then, except that no washing with tap water, experiment was carried out in the same manner as in Example 1.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.30kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 156 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 1.30 kN / m.

〔実施例27〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、上記表面処理液に浸漬させた電解銅箔を5%に希釈したチタンアルコキシド(マツモトファインケミカル株式会社製、商品名:「オルガチックスTC−400」)を含む後処理剤(後処理剤全体に対するチタンアルコキシドの濃度:1000ppm)で処理し、その後、水道水で洗浄しなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
Example 27
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, Post-treatment agent (titanium alkoxide for the entire post-treatment agent) containing titanium alkoxide (Matsumoto Fine Chemical Co., Ltd., trade name: “Orga Tx TC-400”) diluted to 5% with the electrolytic copper foil immersed in the surface treatment solution Example 1 except that the concentration was 1000 ppm) and was not washed with tap water. The operation was performed in the same manner.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が156mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.20kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 156 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 1.20 kN / m.

〔比較例1〕
厚さ35μmの電解銅箔を張り合わせた電解銅箔を、約17%に希釈した硫酸の過酸化水素溶液および所定の表面処理液に浸漬させる処理を、エッチング等の粗化処理(凹凸処理)に変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 1]
A process of immersing an electrolytic copper foil laminated with an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm in a hydrogen peroxide solution of sulfuric acid diluted to about 17% and a predetermined surface treatment liquid is a roughening process (unevenness process) such as etching. The same operation as Example 1 was performed except having changed.

その結果、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が1.00kN/mであった。   As a result, the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “x”, and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is It was 1.00 kN / m.

〔比較例2〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物としての硫酸スズと、フッ素化合物としてのフッ化水素と、錯化剤としてのチオ尿素とを、塩化銅(表面処理液全体に対する塩化銅の濃度:1%、試薬)と、酢酸(表面処理液全体に対する酢酸の濃度:10%、試薬)と、アミノテトラゾール(表面処理液全体に対するアミノテトラゾールの濃度:0.3%、試薬)とに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 2]
Copper chloride (concentration of copper chloride with respect to the entire surface treatment solution: 1%) tin sulfate as a tin compound, hydrogen fluoride as a fluorine compound, and thiourea as a complexing agent contained in a predetermined surface treatment solution , Reagent), acetic acid (concentration of acetic acid with respect to the whole surface treatment solution: 10%, reagent) and aminotetrazole (concentration of aminotetrazole with respect to the whole surface treatment solution: 0.3%, reagent) The same operation as in Example 1 was performed.

その結果、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.40kN/mであった。   As a result, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “×”, the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “×”, and the multilayer including the electrolytic copper foil after the copper surface treatment The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin on the wiring board was 0.40 kN / m.

〔比較例3〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物としての硫酸スズと、フッ素化合物としてのフッ化水素と、錯化剤としてのチオ尿素とを、硫酸(表面処理液全体に対する硫酸の濃度:10%、試薬)と、過酸化水素(表面処理液全体に対する過酸化水素の濃度:3%、試薬)と、アミノテトラゾール(表面処理液全体に対するアミノテトラゾールの濃度:0.3%)とに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 3]
Tin sulfate as a tin compound, hydrogen fluoride as a fluorine compound, and thiourea as a complexing agent contained in a predetermined surface treatment solution, sulfuric acid (sulfuric acid concentration with respect to the entire surface treatment solution: 10%, reagent ), Hydrogen peroxide (concentration of hydrogen peroxide with respect to the whole surface treatment solution: 3%, reagent) and aminotetrazole (concentration of aminotetrazole with respect to the whole surface treatment solution: 0.3%) The same operation as in Example 1 was performed.

その結果、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.20kN/mであった。   As a result, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “×”, the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is “×”, and the multilayer including the electrolytic copper foil after the copper surface treatment The adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin on the wiring board was 0.20 kN / m.

〔比較例4〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:500ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから10ppmに変更し、錯化剤としてのチオ尿素を含めなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 4]
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Change from hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 500 ppm), change the concentration of free fluorine from 6 ppm to 10 ppm, The same operation as in Example 1 was performed except that thiourea as a complexing agent was not included.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が0mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.00kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” "The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 0 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin on the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment" The property was 0.00 kN / m.

〔比較例5〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物としてのフッ化水素を含めなかったこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 5]
The tin compound contained in the predetermined surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). The same operation as in Example 1 was performed except that hydrogen fluoride was not included.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「×」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が325mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.30kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “×”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” ”The amount of tin film on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 325 mg / m 2 , and the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment” The property was 0.30 kN / m.

〔比較例6〕
所定の表面処理液に含まれるスズ化合物を硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:25ppm)から硫酸スズ(表面処理液全体に対する硫酸スズの濃度:500ppm)に変更し、フッ素化合物をフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:25ppm)からフッ化水素(表面処理液全体に対するフッ化水素の濃度:10,000ppm)に変更し、遊離フッ素の濃度を6ppmから1,000ppmに変更したこと以外は、実施例1と同様の操作を行った。
[Comparative Example 6]
The tin compound contained in the specified surface treatment liquid is changed from tin sulfate (concentration of tin sulfate to the entire surface treatment liquid: 25 ppm) to tin sulfate (concentration of tin sulfate relative to the entire surface treatment liquid: 500 ppm). Hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 25 ppm) was changed to hydrogen fluoride (concentration of hydrogen fluoride with respect to the whole surface treatment liquid: 10,000 ppm), and the concentration of free fluorine was changed from 6 ppm to 1,000 ppm. The same operation as Example 1 was performed except having changed into.

その結果、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のエッチング量が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観が「○」、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が15mg/m、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が0.30kN/mであった。 As a result, the precipitation amount of tin in the copper surface treatment solution was “◯”, the etching amount of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯”, and the SEM appearance of the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was “◯” The adhesion amount of the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board having the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is 15 mg / m 2 after the copper surface treatment. The property was 0.30 kN / m.

〔実施例のまとめ〕
表1に、銅の表面処理後における上記物性の評価結果をまとめた。
(Summary of Examples)
Table 1 summarizes the evaluation results of the above physical properties after the surface treatment of copper.

Figure 2009235565
Figure 2009235565

実施例1〜8と実施例9〜14,19,20とを比較すると、実施例9〜14,19,20では実施例1〜8と比べてシランカップリング剤を含めることにより、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   When Examples 1-8 are compared with Examples 9-14, 19, and 20, Examples 9-14, 19, and 20 include a silane coupling agent as compared with Examples 1-8, thereby increasing the surface of copper. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the treatment was improved.

実施例2と実施例15とを比較すると、実施例15では実施例2と比べて防錆剤を含めることによって、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   When Example 2 and Example 15 are compared, in Example 15, the copper foil in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper is obtained by including a rust preventive agent as compared with Example 2. As a result, the adhesion with an insulating material such as resin was improved.

実施例2と実施例16とを比較すると、実施例16では実施例2と比べて酸洗に過酸化水素を含めないことによっても、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性は同等であるという結果になった。   When Example 2 is compared with Example 16, the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment in Example 16 can be obtained by not including hydrogen peroxide in the pickling as compared with Example 2. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin was the same.

実施例2と実施例17とを比較すると、実施例17では実施例2と比べて酸洗に防錆剤を含めることによって、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   When Example 2 and Example 17 are compared, in Example 17, the anti-corrosion agent is included in the pickling as compared with Example 2, so that the multilayered wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment is used. As a result, the adhesion between the copper foil and an insulating material such as resin was improved.

実施例2と実施例18とを比較すると、実施例18では実施例2と比べて酸洗の際に貴金属処理を行うことによって、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   Comparing Example 2 and Example 18, in Example 18, compared with Example 2, the precious metal treatment was performed at the time of pickling, so that the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the copper surface treatment was used. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin was improved.

実施例2と実施例21,22とを比較すると、実施例21,22では実施例2と比べてAgまたはPdを含有する金属化合物を含めることによって、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   When Example 2 is compared with Examples 21 and 22, Examples 21 and 22 include an electrolytic copper foil after surface treatment of copper by including a metal compound containing Ag or Pd as compared with Example 2. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board was improved.

実施例2と実施例23〜27とを比較すると、実施例23〜27では実施例2と比べて防錆剤、樹脂またはシランカップリング剤としてのエポキシシラン、ポリアクリル酸またはチタンアルコキシドで後処理することによって、銅の表面処理後における電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が向上するという結果になった。   When Example 2 is compared with Examples 23 to 27, Examples 23 to 27 are post-treated with epoxy silane, polyacrylic acid or titanium alkoxide as a rust inhibitor, resin or silane coupling agent, as compared with Example 2. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper was improved.

実施例1〜27と比較例1〜3とを比較すると、比較例1〜3では実施例1〜27と比べてスズ化合物およびフッ素化合物を含んだ表面処理液を用いておらず、エッチング等の粗化処理(凹凸処理)を行っているので、銅の表面処理後における電解銅箔のSEM外観に凹凸が見られるという結果になった。   When Examples 1-27 are compared with Comparative Examples 1-3, Comparative Examples 1-3 does not use a surface treatment solution containing a tin compound and a fluorine compound as compared with Examples 1-27. Since the roughening process (unevenness | corrugation process) is performed, it became a result that an unevenness | corrugation was seen in the SEM external appearance of the electrolytic copper foil after the surface treatment of copper.

実施例2と比較例4とを比較すると、比較例4では実施例2と比べて錯化剤としてのチオ尿素を含んでいないので、銅の表面処理後における電解銅箔にスズの皮膜が形成されず、上記電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性がなくなるという結果になった。   When Example 2 and Comparative Example 4 are compared, Comparative Example 4 does not contain thiourea as a complexing agent as compared with Example 2, so that a tin film is formed on the electrolytic copper foil after the copper surface treatment. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil was lost.

実施例2と比較例5とを比較すると、比較例5では実施例2と比べてフッ素化合物としてのフッ化水素を含んでいないので、銅の表面処理液におけるスズの沈殿量が多くなるという結果になった。   When Example 2 and Comparative Example 5 are compared, since Comparative Example 5 does not contain hydrogen fluoride as a fluorine compound as compared with Example 2, the result is that the amount of tin precipitated in the copper surface treatment liquid increases. Became.

実施例2と比較例6とを比較すると、比較例6では実施例2と比べてフッ素化合物および遊離フッ素の濃度が高いので、銅の表面処理後における電解銅箔のスズの皮膜量が少なくなり、上記電解銅箔を備えた多層配線基板での銅箔と樹脂等の絶縁材との密着性が低下するという結果になった。   When Example 2 and Comparative Example 6 are compared, in Comparative Example 6, since the concentration of the fluorine compound and free fluorine is higher than in Example 2, the amount of tin film on the electrolytic copper foil after copper surface treatment is reduced. As a result, the adhesion between the copper foil and the insulating material such as resin in the multilayer wiring board provided with the electrolytic copper foil decreased.

本発明の銅の表面処理液は、安定した表面処理を行うべく、濁りが少なく安定であるので、銅の表面にスズ皮膜を安定して形成することができる。その結果、銅の表面に形成されたスズ皮膜により、エッチング等の粗化処理することなく銅と樹脂等の絶縁材との間の密着性を維持することができる。このため、本発明の銅の表面処理液および表面処理方法は、近年の電子機器・電子部品の高周波化、高密度化等に対応することができる。また、従来の粗化処理(凹凸処理)では、処理後に酸化膜が成長し、電子機器・電子部品としての機能を発揮しないため、多くの場合には後処理として防錆処理を施していた。また、数ミクロン銅エッチングするため、多大な廃水処理コストがかかっていた。本発明の銅の表面処理液は、密着および防錆(不動態化)を同時に行うため、従来の粗化処理と比較して、電子機器・電子部品の生産工程を削減することができる。さらに、皮膜形成過程において銅の溶解を従来の1/10以下に抑えることができるため、大幅な排水処理負荷低減となる。具体的には、本発明の銅の表面処理液および表面処理方法は、微細(ファイン)配線を有するプリント配線基板、半導体実装品、液晶デバイス、エレクトロルミネッセンス等の各種電子機器・電子部品に利用することが可能である。   Since the copper surface treatment liquid of the present invention is stable with little turbidity so as to perform stable surface treatment, a tin film can be stably formed on the surface of copper. As a result, the tin film formed on the copper surface can maintain the adhesion between copper and an insulating material such as a resin without roughening such as etching. For this reason, the copper surface treatment liquid and surface treatment method of the present invention can cope with the recent increase in frequency and density of electronic devices and electronic components. Moreover, in the conventional roughening process (unevenness | corrugation process), since the oxide film grew after the process and the function as an electronic device / electronic component is not exhibited, in many cases, the rust prevention process was performed as a post-process. In addition, since the copper etching is performed by several microns, a large wastewater treatment cost is required. Since the copper surface treatment liquid of the present invention performs adhesion and rust prevention (passivation) at the same time, the production process of electronic devices and electronic components can be reduced as compared with the conventional roughening treatment. Furthermore, since the dissolution of copper can be suppressed to 1/10 or less of the conventional amount in the film formation process, the wastewater treatment load is greatly reduced. Specifically, the copper surface treatment liquid and the surface treatment method of the present invention are used for various electronic devices and electronic parts such as printed wiring boards, semiconductor mounting products, liquid crystal devices, and electroluminescence having fine (fine) wiring. It is possible.

Claims (19)

スズ化合物と、フッ素化合物と、錯化剤とを含有し、
表面処理液全体に対する遊離フッ素の濃度が0.1ppm以上、100ppm以下の範囲内であり、
上記表面処理液のpHが5以下であることを特徴とする銅の表面処理液。
Containing a tin compound, a fluorine compound, and a complexing agent,
The concentration of free fluorine with respect to the entire surface treatment liquid is in the range of 0.1 ppm to 100 ppm,
A copper surface treatment solution, wherein the surface treatment solution has a pH of 5 or less.
上記スズ化合物から解離したスズイオンに対する上記フッ素化合物から遊離したフッ素のモル比が1以上、20以下の範囲内であることを特徴とする請求項1に記載の銅の表面処理液。   2. The copper surface treatment solution according to claim 1, wherein a molar ratio of fluorine liberated from the fluorine compound to tin ions dissociated from the tin compound is in a range of 1 or more and 20 or less. 上記錯化剤として、少なくともチオ尿素もしくはその誘導体を含有することを特徴とする請求項1または2に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to claim 1, wherein the complexing agent contains at least thiourea or a derivative thereof. さらに、シランカップリング剤を含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   Furthermore, the silane coupling agent is contained, The copper surface-treatment liquid of any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. 上記シランカップリング剤がメルカプト基、エポキシ基またはアミノ基を有するものであることを特徴とする請求項4に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to claim 4, wherein the silane coupling agent has a mercapto group, an epoxy group, or an amino group. 上記シランカップリング剤が3量体以上のシランカップリング剤縮合体を含んでいることを特徴とする請求項4または5に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to claim 4 or 5, wherein the silane coupling agent contains a trimer or higher silane coupling agent condensate. 上記スズ化合物の重量に対する上記シランカップリング剤の重量の比が0.001以上、100以下の範囲内であることを特徴とする請求項4〜6のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   The ratio of the weight of the silane coupling agent to the weight of the tin compound is in the range of 0.001 or more and 100 or less, The copper surface treatment according to any one of claims 4 to 6, liquid. 上記表面処理液全体に対する上記シランカップリング剤の濃度が10ppm以上、100,000ppm以下の範囲内であることを特徴とする請求項4〜7のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to any one of claims 4 to 7, wherein the concentration of the silane coupling agent with respect to the entire surface treatment solution is in the range of 10 ppm to 100,000 ppm. さらに、還元剤を含有することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   Furthermore, a reducing agent is contained, The copper surface-treatment liquid of any one of Claims 1-8 characterized by the above-mentioned. さらに、防錆剤を含有することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   Furthermore, a rust preventive agent is contained, The copper surface treatment liquid of any one of Claims 1-9 characterized by the above-mentioned. 上記防錆剤がテトラゾール、トリアゾール、イミダゾール、チオールから選ばれる少なくとも一種の化合物であることを特徴とする請求項10に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to claim 10, wherein the rust inhibitor is at least one compound selected from tetrazole, triazole, imidazole, and thiol. さらに、金属化合物を含有することを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の銅の表面処理液。   The copper surface treatment solution according to claim 1, further comprising a metal compound. 上記金属化合物が銀、パラジウム、金、白金、銅から選ばれる少なくとも一種の金属を含有する化合物であることを特徴とする請求項12に記載の銅の表面処理液。   13. The copper surface treatment solution according to claim 12, wherein the metal compound is a compound containing at least one metal selected from silver, palladium, gold, platinum, and copper. 銅の表面に請求項1〜13のいずれか1項に記載の銅の表面処理液を接触させることを特徴とする銅の表面処理方法。   A copper surface treatment method comprising contacting the copper surface treatment liquid according to any one of claims 1 to 13 with a copper surface. 銅の表面に酸洗処理、粗化処理、防錆処理、酸化処理、脱脂処理から選ばれる少なくとも一種の前処理をした後に、上記表面処理液を接触させることを特徴とする請求項14に記載の銅の表面処理方法。   The surface treatment solution is contacted after at least one pretreatment selected from pickling treatment, roughening treatment, rust prevention treatment, oxidation treatment, and degreasing treatment on the surface of copper. Copper surface treatment method. 銅の表面に上記表面処理液を接触させた後に、防錆剤、樹脂またはシランカップリング剤を接触させることを特徴とする請求項14または15に記載の銅の表面処理方法。   The copper surface treatment method according to claim 14 or 15, wherein after the surface treatment liquid is brought into contact with the copper surface, a rust preventive agent, a resin or a silane coupling agent is brought into contact therewith. 請求項14〜16のいずれか1項に記載の銅の表面処理方法により表面処理されてなることを特徴とする銅張り材料。   A copper-clad material, which is surface-treated by the copper surface treatment method according to any one of claims 14 to 16. 請求項17に記載の銅張り材料を備えていることを特徴とする多層配線基板。   A multilayer wiring board comprising the copper-clad material according to claim 17. 最外層に請求項17に記載の銅張り材料を備えていることを特徴とする配線基板。   A wiring board comprising the copper clad material according to claim 17 in an outermost layer.
JP2009048065A 2008-03-04 2009-03-02 Solution for and method of treating surface of copper Pending JP2009235565A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009048065A JP2009235565A (en) 2008-03-04 2009-03-02 Solution for and method of treating surface of copper

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008053846 2008-03-04
JP2009048065A JP2009235565A (en) 2008-03-04 2009-03-02 Solution for and method of treating surface of copper

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009235565A true JP2009235565A (en) 2009-10-15

Family

ID=41249867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009048065A Pending JP2009235565A (en) 2008-03-04 2009-03-02 Solution for and method of treating surface of copper

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009235565A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010074067A1 (en) * 2008-12-24 2010-07-01 日鉱金属株式会社 Electroless tin or tin-alloy plating solution and electronic part with tin or tin-alloy coating film formed from the plating solution
JP2011108848A (en) * 2009-11-17 2011-06-02 Ube Nitto Kasei Co Ltd Metal foil with insulation function membrane, flexible metal cladded laminated plate, electronic component mounting module, and manufacturing method thereof
KR20160140455A (en) 2015-05-28 2016-12-07 이시하라 케미칼 가부시키가이샤 Replacement nickel plating bath for the copper surface treatment, manufacturing method of the copper parts of using the plating bath and the copper parts
JPWO2014192718A1 (en) * 2013-05-31 2017-02-23 住友電気工業株式会社 Metal resin composite, wiring material, and method for producing metal resin composite
WO2019208276A1 (en) * 2018-04-26 2019-10-31 Agc株式会社 Method for producing multilayer body, and multilayer body
EP3875558A4 (en) * 2018-10-31 2022-08-03 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Surface treatment liquid, surface treatment method, and method for producing surface-treated roll-shaped sheet

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010074067A1 (en) * 2008-12-24 2010-07-01 日鉱金属株式会社 Electroless tin or tin-alloy plating solution and electronic part with tin or tin-alloy coating film formed from the plating solution
JP6029259B2 (en) * 2008-12-24 2016-11-24 Jx金属株式会社 Electroless tin or tin alloy plating solution and electronic component having tin or tin alloy coating formed using the plating solution
JP2011108848A (en) * 2009-11-17 2011-06-02 Ube Nitto Kasei Co Ltd Metal foil with insulation function membrane, flexible metal cladded laminated plate, electronic component mounting module, and manufacturing method thereof
JPWO2014192718A1 (en) * 2013-05-31 2017-02-23 住友電気工業株式会社 Metal resin composite, wiring material, and method for producing metal resin composite
KR20160140455A (en) 2015-05-28 2016-12-07 이시하라 케미칼 가부시키가이샤 Replacement nickel plating bath for the copper surface treatment, manufacturing method of the copper parts of using the plating bath and the copper parts
WO2019208276A1 (en) * 2018-04-26 2019-10-31 Agc株式会社 Method for producing multilayer body, and multilayer body
CN112004610A (en) * 2018-04-26 2020-11-27 Agc株式会社 Method for producing laminate, and laminate
JPWO2019208276A1 (en) * 2018-04-26 2021-05-13 Agc株式会社 Laminated body manufacturing method and laminated body
JP7248022B2 (en) 2018-04-26 2023-03-29 Agc株式会社 LAMINATED PRODUCTION METHOD AND LAMINATED PRODUCT
EP3875558A4 (en) * 2018-10-31 2022-08-03 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Surface treatment liquid, surface treatment method, and method for producing surface-treated roll-shaped sheet

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5307117B2 (en) Copper surface treatment agent and surface treatment method
JP5663739B2 (en) Copper surface conditioning composition and surface treatment method
US11680076B2 (en) Triazole silane compound, method for synthesizing said compound and use thereof
US11472823B2 (en) Tetrazole silane compound, method for synthesizing said compound and use thereof
JP6561019B2 (en) Surface treatment agent, resin composition and use thereof
EP1310142A2 (en) Improved adhesion of polymeric materials to metal surfaces
JP2009235565A (en) Solution for and method of treating surface of copper
US20220017755A1 (en) Coating film-forming composition, method for producing surface-treated metal member, and method for producing metal-resin composite
JP6440440B2 (en) Metal surface treatment liquid, surface treatment method and use thereof
JP2014240522A (en) Copper surface treatment liquid, surface treatment method and use thereof
WO2021045055A1 (en) Metal surface treatment solution and liquid concentrate thereof, metal surface treatment solution set, metal surface treatment method, and method for manufacturing printed wiring board
JP6846952B2 (en) Rust preventive liquid and its use
JP2015206115A (en) Surface treatment liquid of metal, and its utilization
JP5688522B2 (en) Copper surface treatment agent
JP4621293B2 (en) Copper surface treatment agent and surface treatment method
JP6440484B2 (en) Metal surface treatment liquid, surface treatment method and use thereof
JP2010150613A (en) Surface treatment agent and surface treatment method for copper, and film for copper surface
WO2012073814A1 (en) Method for producing laminate having metal film
JP2009081396A (en) Copper foil for printed wiring board, and processing method of surface thereof
JP2019104925A (en) Resin composition and use thereof
WO2023127679A1 (en) Surface treatment liquid for metal
WO2010007755A1 (en) Copper surface processing agent, surface processing method, and copper surface film
WO2023190264A1 (en) Triazole compound, method for synthesizing said triazole compound, coupling agent and uses thereof
JP2023162533A (en) Solder spread prevention film for metallic surface, surface treatment liquid for forming the same, and use of solder spread prevention film
JP2019135295A (en) Surface treatment agent, resin composition, and use thereof