JP2009224140A - 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム - Google Patents

電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム Download PDF

Info

Publication number
JP2009224140A
JP2009224140A JP2008066362A JP2008066362A JP2009224140A JP 2009224140 A JP2009224140 A JP 2009224140A JP 2008066362 A JP2008066362 A JP 2008066362A JP 2008066362 A JP2008066362 A JP 2008066362A JP 2009224140 A JP2009224140 A JP 2009224140A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluid
temperature
heated
heating
electromagnetic induction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008066362A
Other languages
English (en)
Inventor
Junji Nakao
順次 中尾
Masaki Namie
正樹 浪江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP2008066362A priority Critical patent/JP2009224140A/ja
Publication of JP2009224140A publication Critical patent/JP2009224140A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • General Induction Heating (AREA)

Abstract

【課題】加熱すべき被加熱流体の温度が変動しても可及的速やかに目標温度に整定させることができるようにする。
【解決手段】ヒータユニット13の発熱管の出口における薬液の出口温度に基づくPID制御部23によるフィードバック制御に加えて、発熱管の入口における薬液の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御部24でフィードフォワード制御を行うので、薬液の入口温度の変動などの影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができ、これによって、薬液の出口温度を、目標温度に速やかに、かつ、高い精度で安定させることができる。
【選択図】図3

Description

本発明は、液体やガスなどの被加熱流体を、電磁誘導で加熱する電磁誘導流体加熱装置の制御方法およびそれを用いた電磁誘導流体加熱システムに関し、特に、半導体製造などに使用される薬液、純水や各種のガスを加熱するのに好適な電磁誘導流体加熱装置の制御方法およびそれを用いた電磁誘導流体加熱システムに関する。
従来、半導体製造システムにおいては、現像液などの薬液を、デベロッパなどの薬液吐出ノズルに供給する際に、チラーおよびヒータの機能を有するサーキュレータを用いて薬液の温度を目標温度に制御するようにしたものがある。
図9は、かかるサーキュレータを用いた半導体製造システムの構成図である。
この半導体製造システムは、現像液等の薬液(原液)を供給する薬液供給タンク30と、この薬液供給タンク30からフッ素樹脂等からなる配管31を介して供給される薬液を純水で希釈するためのユーティリティタンク32と、このユーティリティタンク32からの薬液を貯めるバッファタンク33と、薬液の供給、遮断を制御する制御バルブ34と、この制御バルブ34と吐出ノズル35との間を二重配管36として、薬液の温度を目標温度に制御するサーキュレータ37とを備えている。なお、38はウェハを回転するモータフランジである。
サーキュレータ37は、一次側の循環液の温度を、チラーとヒータとによる加熱冷却によって制御し、この循環液と二次側の薬液との二重配管36における熱交換によって、薬液の温度を、間接的に目標温度に制御するものである。
このようにサーキュレータ37では、二重配管36での熱交換によって間接的に薬液の温度を目標温度に制御するために、熱変換効率が悪く、薬液を、目標温度にするために電力消費が大きくなるとともに、薬液の温度が目標温度になって安定するまでの時間も長くなり、その間の薬液は廃棄せざるを得ず、薬液を無駄に消費するといった課題もある。
一方、電磁誘導流体加熱装置として、図10に示すように、両端部がそれぞれ配管に連通接続される螺旋状に曲成された発熱管40、この発熱管40の外側に発熱管40を取り囲むように配設され、電気絶縁材料で円筒状に形成された被覆筒41、この被覆筒41に埋設され発熱管40を取り巻くように巻装されたコイル42、このコイル42に高周波電流を流す電源装置部43などを備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。
かかる電磁誘導流体加熱装置では、電源装置部43を駆動させてコイル42に高周波電流を流すことにより、磁束が発生し、トランス結合原理により発熱管(螺旋コイル管)40に誘導起電力を生じ、発熱管(螺旋コイル管)40の両端を短絡させている結果、短絡部を介して発熱管(螺旋コイル管)40に短絡電流が流れる結果、この短絡電流によりジュール熱で発熱する。
被加熱流体は、この発熱して昇温した発熱管40内を通過する間に、加熱され、コントローラ45によって、目標温度と温度検出器46によって検出された被加熱流体の温度とが比較され、その温度差に対応した制御信号がコントローラ45から電源制御器47へ出力されて、発熱管40内から流出する流体の温度が目標温度となるように、コイル42に流される高周波電流がフィードバック制御される。なお、コントローラ45は、予め設定された警報温度と温度検出器48によって検出された発熱管40の温度とが比較され、発熱管40の温度が警報温度を超えた時に、警報器49を駆動する。
特開2001−235228号公報
上記特許文献1に示される電磁誘導流体加熱装置は、誘導加熱によって発熱管40が直接加熱されるとともに、被加熱流体は、発熱管40内を通過するときに発熱管40によって直接加熱されるので、循環液を加熱し、この循環液との間接熱交換によって被加熱流体である薬液を加熱するサーキュレータ37に比べて、高速な応答が可能になるとともに、熱交換効率が高く電力消費を低減できることになる。
そこで、サーキュレータ37に代えて、電磁誘導流体加熱装置を使用することが考えられるが、次のような課題がある。
すなわち、電磁誘導流体加熱装置は、サーキュレータに比べて、加熱を開始してから目標温度に到達して安定するまでの時間が短くできるので、図9の制御バルブ34をオンしてから目標温度に到達して安定するまでの時間が長いサーキュレータでは、問題にならなかった加熱前の薬液の温度の変動の影響を無視することができず、かかる加熱前の薬液の温度の変動の影響を低減することが望まれる。
本発明は、上述のような点に鑑みて為されたものであって、加熱すべき被加熱流体の温度が変動しても可及的速やかに目標温度に整定させることができるようにすることを目的とする。
(1)本発明の電磁誘導流体加熱装置の制御方法は、被加熱流体が流通する曲成された発熱管と、該発熱管を取り囲むように巻回されたコイルと、該コイルに対して高周波電力を供給する高周波電源部とを備え、前記高周波電力を前記コイルに供給して、電磁誘導によって前記発熱管を発熱させて前記被加熱流体を加熱する電磁誘導流体加熱装置を制御する方法であって、前記発熱管の出口における被加熱流体の出口温度に基づいて、フィーバック制御を行うとともに、前記発熱管の入口における被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うものである。
本発明の電磁誘導流体加熱装置の制御方法によると、発熱管の出口における被加熱流体の出口温度に基づくフィーバック制御に加えて、発熱管の入口における被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うので、被加熱流体の入口温度の変動などの影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができ、これによって、被加熱流体の出口温度を、目標温度に速やかに、かつ、高い精度で安定させることができる。
(2)本発明の電磁誘導流体加熱装置の制御方法の一つの実施形態では、前記被加熱流体は、前記流通と滞留とを繰り返すものであり、前記フィードバック制御では、前記被加熱流体の前記出口温度と目標温度との偏差に応じたフィードバック操作量を生成し、前記フィードフォワード制御では、前記被加熱流体の入口温度と設定温度との偏差に応じたフィードフォワード操作量を生成し、前記両操作量に基づいて、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御するものである。
流通と滞留とを繰り返すとは、例えば、発熱管への被加熱流体の供給と、供給の停止とが繰り返されることによって、被加熱流体が、発熱管を流通し、あるいは、滞留することをいう。
フィードフォワード制御における前記設定温度は、フィードバック制御における前記目標温度と等しいのが好ましいが、異なるものとしてもよい。
この実施形態によると、流通と滞留との繰り返しによって、入口温度が変動しやすい被加熱流体であっても、フィードフォワード制御によって入口温度の変動の影響を効果的に抑制することができる。
(3)上記(2)の実施形態では、前記被加熱流体が、半導体製造に使用される薬液、純水あるいはガスであって、該被加熱流体の前記流通と前記滞留とに応じて、前記発熱管による加熱と加熱停止とを繰り返すようにしてもよい。
半導体製造に使用される薬液とは、例えば、現像液、レジスト液、剥離液、オゾン水等の各種の薬液をいい、ガスとは、窒素ガス、キャリアガス、各種の成膜ガスなどをいう。また、純水には、超純水を含む。
かかる被加熱流体は、例えば、配管に設置された制御バルブの開閉によって、発熱管への供給と停止とが繰り返され、それに応じて、発熱管による被加熱流体の加熱と停止とが繰り返される。
また、薬液等の被加熱流体では、発熱管による加熱が開始されて目標温度に到達して安定するまでは、使用されず、廃棄されることになる。
半導体製造の処理能力を高めるとともに、薬液等の被加熱流体の廃棄量を低減するには、発熱管による被加熱流体の加熱が開始されて目標温度に到達して安定するまでの時間を短縮する必要があるが、この実施形態によると、被加熱流体の入口温度の変動の影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができるので、被加熱流体の出口温度を、目標温度に速やかに安定させることができる。
(4)上記(2)または(3)の実施形態では、前記フィードバック制御が、PID制御であって、前記発熱管における加熱によって前記被加熱流体の前記出口温度が、前記目標温度に到達するまでの立ち上げ時に、前記PID制御のPIDパラメータを切換えるようにしてもよい。
PIDパラメータの切換えでは、比例、積分、微分のすべてのパラメータを切換えるのが好ましいが、少なくとも比例ゲインは切換える。
切換え前のPIDパラメータは、切換え後のPIDパラメータに比べて、PID制御の働きを弱めるパラメータである。
被加熱流体の出口温度が目標温度に到達して整定した状態では、被加熱流体の入口温度の変動に対してはフィードフォワード制御によってその影響を抑えることができるので、PID制御としては、入口温度が一定として制御すればよいが、被加熱流体の出口温度が目標温度に到達するまでの立ち上げ時には、PID制御とフィードフォワード制御とのバランスが重要となり、フィードフォワード制御によって操作量が加算されるので、整定した状態に比べて、PID制御を弱めるのが好ましい。
この実施形態では、立ち上げ時と整定時とでPIDパラメータを切換えるので、PID制御とフィードフォワード制御とのバランスを調整して安定した制御が可能となる。
(5)上記(2)〜(4)のいずれかの実施形態では、前記被加熱流体は、前記発熱管に供給される前段で前記目標温度未満に冷却されるようにしてもよい。
この実施形態によると、目標温度が、被加熱流体の温度よりも低い場合には、被加熱流体を、発熱管の前段で目標温度未満に冷却しておき、その後、発熱管で目標温度でまで加熱することができる。
(6)本発明の電磁誘導流体加熱システムは、被加熱流体が流通する曲成された発熱管、該発熱管を取り囲むように巻回されたコイル、および、該コイルに対して高周波電力を供給する高周波電源部を有し、前記高周波電力を前記コイルに供給して、電磁誘導によって前記発熱管を発熱させて前記被加熱流体を加熱する電磁誘導流体加熱装置と、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御して、前記被加熱流体の温度を制御する温度制御装置とを備える電磁誘導流体加熱システムあって、前記温度制御装置は、前記発熱管の出口における前記被加熱流体の出口温度に基づいて、フィーバック制御を行うフィードバック制御部と、前記発熱管の入口における前記被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うフィードフォワード制御部とを有している。
本発明の電磁誘導流体加熱システムによると、発熱管の出口における被加熱流体の出口温度に基づくフィーバック制御に加えて、発熱管の入口における被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うので、被加熱流体の入口温度の変動などの影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができ、これによって、被加熱流体の出口温度を、目標温度に速やかに、かつ、高い精度で安定させることができる。
(7)本発明の電磁誘導流体加熱システムの一つの実施形態では、前記被加熱流体は、前記流通と滞留とを繰り返すものであり、前記フィードバック制御部は、前記被加熱流体の前記出口温度と目標温度との偏差に応じたフィードバック操作量を生成し、前記フィードフォワード制御部は、前記被加熱流体の入口温度と設定温度との偏差に応じたフィードフォワード操作量を生成し、前記制御装置は、前記両操作量に基づいて、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御するものである。
この実施形態によると、流通と滞留との繰り返しによって、入口温度が変動しやすい被加熱流体であっても、フィードフォワード制御によって入口温度の変動の影響を効果的に抑制することができる。
(8)上記(7)の実施形態では、前記被加熱流体が、半導体製造に使用される薬液、純水あるいはガスであり、前記制御装置は、前記被加熱流体の前記流通と前記滞留とに応じて、前記高周波電源部を制御することにより、前記発熱管による加熱と加熱停止とを繰り返すようにしてもよい。
この実施形態によると、被加熱流体の入口温度の変動の影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができるので、被加熱流体の出口温度を、目標温度に速やかに安定させることができ、これによって、半導体製造の処理能力を高めるとともに、薬液等の被加熱流体の廃棄量を低減することができる。
(9)上記(7)または(8)の実施形態では、前記フィードバック制御部が、PID制御部であり、前記制御装置は、前記発熱管における加熱によって前記被加熱流体の前記出口温度が、前記目標温度に到達するまでの立ち上げ時に、前記PID制御部のPIDパラメータを切換えるパラメータ切換部を有するようにしてもよい。
この実施形態によると、立ち上げ時と整定時とでPIDパラメータを切換えるので、PID制御とフィードフォワード制御とのバランスを調整して安定した制御が可能となる。
(10)上記(7)〜(9)のいずれかの実施形態では、前記被加熱流体を、前記発熱管に供給される前段で前記目標温度未満に冷却する冷却手段を備えるようにしてもよい。
この実施形態によると、目標温度が、被加熱流体の温度よりも低い場合には、被加熱流体を、発熱管の前段の冷却手段によって目標温度未満に冷却しておき、その後、発熱管で目標温度でまで加熱することができる。
本発明によれば、発熱管の出口における被加熱流体の出口温度に基づくフィーバック制御に加えて、発熱管の入口における被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うので、被加熱流体の入口温度の変動などの影響を、フィードフォワード制御によって抑制することができ、これによって、被加熱流体の出口温度を、目標温度に速やかに、かつ、高い精度で安定させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の一つの実施形態に係る電磁誘導流体加熱システムを備える半導体製造システムの構成図である。
この半導体製造システムは、現像液等の薬液(原液)を供給する薬液供給タンク1と、この薬液供給タンク1からフッ素樹脂等からなる配管2を介して供給される薬液を純水で希釈するためのユーティリティタンク3と、このユーティリティタンク3からの薬液を貯めるバッファタンク4と、薬液の供給、遮断を制御する制御バルブ5と、この制御バルブ5からの薬液の流量を一定流量に制御する流量コントローラ6と、この流量コントローラ6と吐出ノズル7との間の配管2に設置されて、薬液の温度を目標温度、例えば、23℃に加熱する電磁誘導流体加熱装置8と、この電磁誘導流体加熱装置8を制御する制御装置としての温度調節器9と、半導体製造システム全体を制御する図示しないコントローラとを備えている。ユースポイントである吐出ノズル7は、モーターフランジ10によって回転されるウェハへ薬液を吐出する。
ユーティリティタンク3およびバッファタンク4には、冷却手段として、純水が流通する配管11,12が導入され、純水との熱交換によって薬液の温度が、目標温度未満の温度、例えば、18℃に冷却される。
電磁誘導流体加熱装置8は、ヒータユニット13とドライバユニット14とを備えており、図2に示すように、ヒータユニット13は、薬液が流れる配管2に対して両端部を連通接続した、例えばステンレス製の螺旋状に曲成された発熱管15と、この発熱管15の外側に取り囲むように配設され電気絶縁材料からなる円筒状の被覆筒16と、この被覆筒16に埋設されて、発熱管15を取り巻くように巻装されたコイル17と、発熱管15の両端部を電気的に接続する短絡棒18とを備えている。
高周波電源部としてのドライバユニット14は、高周波電源19に接続されるとともに、図1の温度調節器9に接続されており、このドライバユニット14によって、ヒータユニット13のコイル17に、高周波電流を流すことで発熱管15を電磁誘導で加熱し、その結果、発熱管15を流れる薬液を加熱する。
発熱管15の入口および出口には、薬液の温度をそれぞれ検出する第1,第2の温度センサ20,21がそれぞれ設置されており、各センサ20,21の検出出力が、温度調節器9に与えられる。
この実施形態の電磁誘導流体加熱システム22は、図1に示すように、ヒータユニット13およびドライバユニット14を備えるとともに、第1,第2の温度センサ20,21の検出温度に基づいて、ドライバユニット14を介してヒータユニット13の発熱管15の発熱量を制御することにより、薬液の温度を制御する上述の温度調節器9を備えている。
図1の半導体製造システムでは、制御バルブ5をオンして薬液の供給を開始すると、電磁誘導流体加熱装置8によって、薬液の加熱が開始されるとともに、吐出ノズル7から薬液が吐出されるが、薬液の温度が目標温度に安定するまでの薬液は廃棄され、目標温度に安定した後に、ウェハへ薬液を吐出する。必要量の薬液の吐出が終了すると、制御バルブ5をオフして薬液の供給を遮断するとともに、電磁誘導流体加熱装置8による加熱を停止する。
このように、制御バルブ5をオンオフして薬液の供給、遮断および電磁誘導流体加熱装置8による加熱、加熱停止を繰り返して行うものであり、無駄に廃棄される薬液の量を減らして処理能力を高めるには、電磁誘導流体加熱装置8による加熱を開始してから薬液の温度が目標温度に安定するまでの時間を短くすることが望まれる。
電磁誘導流体加熱装置8は、誘導加熱によって発熱管15が直接加熱されるとともに、薬液は、発熱曲管15内を通過するときに発熱管15によって直接加熱されるので、循環液を加熱し、この循環液との熱交換によって薬液を加熱するサーキュレータに比べて、高速な応答が可能になるので、薬液の廃棄量を削減できるとともに、熱交換効率が高く電力消費を低減できることになる。
このように電磁誘導流体加熱装置8では、サーキュレータに比べて、制御バルブ5をオンして加熱を開始してから目標温度に到達して安定するまでの時間が短くできるので、制御バルブをオンしてから目標温度に到達して安定するまでの時間が長いサーキュレータでは、問題にならなかった加熱前の薬液の温度の変動の影響を無視することができない。
すなわち、サーキュレータあるいはヒータユニット13に供給される加熱前の薬液の温度は、純水によって冷却されて、例えば、18±1℃となっており、約2℃の温度範囲で変動する。
現像装置や洗浄装置などの薬液等を使用する半導体製造装置の場合、化学反応の法則(アレニウスの法則=温度律則)で、微細加工、微細処理を必要とする程、高精度温度制御を必要とすることが知られている。このため、このように温度が変動する薬液等を、例えば、23℃±0.1℃の目標温度の範囲に加熱して安定させるまでの時間を、可及的に短くして、薬液の廃棄量を減らして処理能力を高めるには、加熱前の薬液の温度の変動の影響を抑制する必要がある。
そこで、この実施形態では、温度調節器9によって、ヒータユニット13の発熱管15の入口の薬液の温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うようにしている。
図3は、この実施形態の温度調節器9のブロック図である。
この実施形態の温度調節器9は、目標値フィルタ型の2自由度PID制御を行なうものであり、目標値フィルタ50を介して与えられる薬液の内部目標温度と第2の温度検出センサ21からの薬液の出口温度との偏差に基づいて、PID演算を行って操作量を出力するフィードバック制御部としてのPID制御部23と、第1の温度センサ20からの薬液の入口温度に基づいて、薬液の入口温度の変動を修正するように操作量を出力するフィードフォワード(以下「FF」ともいう)制御部24と、PID制御部23からのフィードバック操作量とフィードフォワード制御部24からのFF操作量を加算してドライバユニット14に与える加算部25とを備えている。
フィードフォワード制御部24は、例えば、次式に従ってフィードフォワード用のFF操作量を演算する。
FF操作量=FFゲイン×流量×(設定温度−入口温度)
なお、PID操作量とFF操作量とのバランスの調整のために、必要であれば、FF操作量を、上限および下限の各リミット値で制限してもよい。
また、本発明の他の実施形態として、上記算出式に代えて、進み遅れ要素を加えた下記の算出式を用いてもよい。
FF操作量={FFゲイン×(1+T1s)/(1+T2s)}×流量
×(設定温度−入口温度)
T1:進み時定数、T2:遅れ時定数、s:ラプラス演算子
ここで、フィードフォワード用のFFゲインは、例えば、或る流量、或る温度差において、その温度差をなすために必要な操作量を実験的に求めて決定してもよく、この場合、温度調節器にFFゲインを自動的に算出する機能を持たせてもよい。また、このFFゲインは、薬液の比熱や発熱管との接触面積などから設計的に決定してもよい。
上記FF操作量の算出式において、流量は、図1の流量コントローラ6によって一定の流量に制御しているので、この一定の流量を温度調節器9に設定すればよい。あるいは、流量センサを設けて流量を検出するようにしてもよい。
また、上記算出式における設定温度は、PID制御部23の目標温度と同じ温度であるのが好ましいが、異なる温度としてもよい。
この実施形態では、ヒータユニット13の発熱管15の入口の薬液の温度を検出し、薬液の入口温度の変動の影響をなくすように、フィードフォワード制御を行っているので、発熱管15の出口の薬液の温度を高い精度で制御することができる。
図4は、この実施形態の制御性能を示す図であり、破線は発熱管15の入口における薬液の温度を、実線は発熱管15の出口における薬液の温度をそれぞれ示している。
また、図5には、比較のために、フィードフォワード制御部24を設けることなく、発熱管15の出口の薬液の温度に基づいて、2自由度PID制御のみを行った場合の制御性能を示しており、破線は発熱管15の入口における薬液の温度を、実線は発熱管15の出口における薬液の温度をそれぞれ示している。
図4および図5においては、薬液の流量を一定流量、目標温度を23.7℃とし、PID制御部23のPIDパラメータは、オートチューニングによって決定し、比例ゲインP=2.22%、積分時間I=9.7s、微分時間D=1.5sとしている。
また、フィードフォワード制御を行う図4では、上述のFFゲインを5.0とした。
フィードフォワード制御を行わず、PID制御のみを行う図5では、破線で示される発熱管15の入口における薬液の温度変動の影響を受けて、発熱管15の出口における薬液温度が、目標温度23.7℃±0.1℃の範囲に収まらず、大きく変動している。
これに対して、PID制御に加えて、フィードフォワード制御を行う本実施形態では、破線で示される発熱管15の入口における薬液の温度変動の影響を修正し、発熱管15の出口における薬液温度が、目標温度23.7℃±0.1℃の範囲に収まっている。
このように発熱管15の入口の薬液の温度を検出してフィードフォワード制御を行うことによって、入口での薬液の温度の変動の影響を抑制することができ、図5に比べて、発熱管15の出口における薬液の温度を、より早く目標温度に安定されることができ、これによって、薬液の廃棄量を減らして処理能力を高めることができる。
(実施の形態2)
図6は、本発明の他の実施の形態の温度調節器9−1のブロック図であり、上述の実施の形態1に対応する部分には、同一の参照符号を付す。
この実施の形態の温度調節器9−1は、PID制御部23のPIDパラメータを切換えるPIDパラメータ切換部26を備えている。その他の構成は、上述の実施の形態と同様である。
図1の半導体製造システムでは、上述のように制御バルブ5をオンオフして薬液の供給、遮断および電磁誘導流体加熱装置8による加熱、加熱停止を繰り返して行うものであり、無駄に廃棄される薬液の量を減らして処理能力を高めるには、電磁誘導流体加熱装置8による加熱を開始してから薬液の温度が目標温度に安定するまでの時間を短くすることが望まれる。
図7は、上述の実施の形態1の電磁誘導流体加熱装置8によって加熱を開始したときのヒータユニット13の発熱管15の入口および出口における薬液の温度変化を示す図であり、破線は、発熱管15の入口における薬液の温度を、実線は、発熱管15の出口における薬液の温度をそれぞれ示しており、薬液の流量を一定流量、目標温度を23.7℃としている。
この図7に示される上述の実施の形態1では、PID制御部23のPIDパラメータは、オートチューニングによって決定されたPIDパラメータ、具体的には、比例ゲインP=2.22%、積分時間I=9.7s、微分時間D=1.5sを使用している。
この図7に示されるように、薬液の出口温度が、目標温度に近づくと、温度の上昇にブレーキがかかり、温度が低下した後、再び上昇する現象が生じている。このため、薬液の出口温度が目標温度に到達して安定するまでの立ち上げ時間、具体的には、目標温度±0.03℃に到達して、以後、目標温度±0.1℃以内に収まるまでの時間T1=33sとなっている。
PID制御とフィードフォワード制御とを行うために、加熱を開始した立ち上げ時においては、両制御のバランスが重要となる。
PID制御の側からすると、フィードフォワード制御によって操作量が加算されるので、制御が強まったのと同じ効果に見える。
したがって、PID制御単独である場合のオートチューニングによって求めたPIDパラメータをそのまま適用すると、PID制御が強すぎることになり、このため、図7のようなブレーキがかかったような現象が生じると考えられる。
そこで、この実施の形態では、PIDパラメータ切換部26によって、立ち上げ時と整定時とでPID制御部23におけるPIDパラメータを切換えるようにしている。
すなわち、整定時は、上述の実施の形態1と同様に、オートチューニングによって求まるPIDパラメータを使用する一方、立ち上げ時には、整定時よりもPID制御を弱めるようにPIDパラメータを切換える。
図8は、この実施の形態の電磁誘導流体加熱装置によって加熱を開始したときのヒータユニット13の発熱管15の入口および出口における薬液の温度変化を示す図であり、上述の図7に対応するものである。
この図8では、立ち上げ時の比例ゲインP=9.5%、積分時間I=7.6s、微分時間D=1.2sとし、整定時は、図7と同様に、比例ゲインP=2.22%、積分時間I=9.7s、微分時間D=1.5sとしている。
また、PIDパラメータの切換え時を、薬液の出口温度が、目標温度よりも0.3℃低い温度に達した時点としている。なお、切換え時点は、アプリケーションなどに応じて適宜選択すればよい。
この実施の形態によれば、上述の実施の形態1のようなブレーキがかかるような現象は認められず、円滑に目標温度に到達して安定している。
上述の実施の形態1に比べて、目標温度で安定するまでに要する時間T2=16sとなり、約半分に短縮されている。
なお、整定時におけるPIDパラメータが、オートチューニングによるPIDパラメータでよい理由は、整定状態を起点にすると、入口温度の変動に対しては、フィードフォワード制御によって出口温度への影響を抑えるため、PID制御としては入口温度が一定の場合と同じと考えて良いからである。
ここで、2自由度PID制御を用いた場合の効果について説明する。
PID制御の働きの中でも特に重要なのが、積分動作の働きの調整である。
整定状態で必要な操作量は、フィードフォワード制御の有無に関係なく一定である。そして、定常状態(現在温度PV=目標温度SPでかつ現在温度PVが安定している)では、操作量は次の2つの合計となる。
(1)PID制御の積分値
(2)FF操作量
(2)のFF操作量は、薬液の入口温度に対応して一意に決まるため、主として(1)のPID制御の積分値で調整することになる。
積分動作の調整については、PID制御の方式によって考え方が異なる。
整定状態で必要な操作量は、上記(2)のFF操作量で与えるというのが、上記実施形態のFF制御の基本的考え方であるため、(1)のPID制御の積分値は、(2)のFF操作量の誤差をカバーするように働くことが望ましい。しかし、通常のPID制御では、立ち上げ期間中の目標温度SP>現在温度PVの間は、積分値は増加することしかできないため、調整機能としては不十分である。このため、通常のPID制御では、対応として、(2)のFF操作量を控えめにして、(1)のPID制御の積分値の増加量で調整するような方法となる。
これに対して、2自由度PID制御の場合を、目標値フィルタ型の例で説明する。
立ち上げ期間中の目標温度SP>現在温度PVの間でも、目標値フィルタを施した内部SPと現在温度PVの関係が、内部SP<現在温度PVとなれば、積分値を減少させることができる。
すなわち、積分値をプラスとマイナスの両方向に調整することができるので、上記FF操作量を控えめにする必要がなく、フィードフォワード制御の効果を最大限発揮させることができる。
このように2自由度PID制御では、フィードフォワード制御の効果を最大限に発揮させることができる。
したがって、PID制御として、2自由度PID制御、例えば、目標値フィルタ型の2自由度PID制御を、本発明のフィードバック制御に用いるのが好ましい。
本発明は、半導体製造システムなどの薬液やガスなどを所要の温度に加熱する用途などに有用である。
本発明の一つの実施の形態に係る電磁誘導流体加熱システムを備える半導体製造システムの構成図である。 電磁誘導流体加熱装置の構成図である。 温度調節器のブロック図である。 図1の実施形態の入口温度の変動に対する制御性能を示す図である。 比較例の制御性能を示す図である。 本発明の他の実施形態の温度調節器のブロック図である。 図1の実施形態の立ち上げ時の制御性能を示す図である。 図6の実施形態の立ち上げ時の制御性能を示す図である。 従来例の半導体製造システムの構成図である。 電磁誘導流体加熱装置の構成図である。
符号の説明
8 電磁誘導流体加熱装置
9 温度調節器
13 ヒータユニット
14 ドライバユニット
15 発熱管
20,21 第1,第2の温度センサ
22 電磁誘導流体加熱システム
23 PID制御部
24 フィードフォワード制御部

Claims (10)

  1. 被加熱流体が流通する曲成された発熱管と、該発熱管を取り囲むように巻回されたコイルと、該コイルに対して高周波電力を供給する高周波電源部とを備え、前記高周波電力を前記コイルに供給して、電磁誘導によって前記発熱管を発熱させて前記被加熱流体を加熱する電磁誘導流体加熱装置を制御する方法であって、
    前記発熱管の出口における被加熱流体の出口温度に基づいて、フィーバック制御を行うとともに、前記発熱管の入口における被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うことを特徴とする電磁誘導流体加熱装置の制御方法。
  2. 前記被加熱流体は、前記流通と滞留とを繰り返すものであり、
    前記フィードバック制御では、前記被加熱流体の前記出口温度と目標温度との偏差に応じたフィードバック操作量を生成し、前記フィードフォワード制御では、前記被加熱流体の入口温度と設定温度との偏差に応じたフィードフォワード操作量を生成し、前記両操作量に基づいて、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御する請求項1に記載の電磁誘導流体加熱装置の制御方法。
  3. 前記被加熱流体が、半導体製造に使用される薬液、純水あるいはガスであって、該被加熱流体の前記流通と前記滞留とに応じて、前記発熱管による加熱と加熱停止とを繰り返す請求項2に記載の電磁誘導流体加熱装置の制御方法。
  4. 前記フィードバック制御が、PID制御であって、前記発熱管における加熱によって前記被加熱流体の前記出口温度が、前記目標温度に到達するまでの立ち上げ時に、前記PID制御のPIDパラメータを切換える請求項2または3に記載の電磁誘導流体加熱装置の制御方法。
  5. 前記被加熱流体は、前記発熱管に供給される前段で前記目標温度未満に冷却される請求項2〜4のいずれか一項に記載の電磁誘導流体加熱装置の制御方法。
  6. 被加熱流体が流通する曲成された発熱管、該発熱管を取り囲むように巻回されたコイル、および、該コイルに対して高周波電力を供給する高周波電源部を有し、前記高周波電力を前記コイルに供給して、電磁誘導によって前記発熱管を発熱させて前記被加熱流体を加熱する電磁誘導流体加熱装置と、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御して、前記被加熱流体の温度を制御する温度制御装置とを備える電磁誘導流体加熱システムあって、
    前記温度制御装置は、前記発熱管の出口における前記被加熱流体の出口温度に基づいて、フィーバック制御を行うフィードバック制御部と、前記発熱管の入口における前記被加熱流体の入口温度に基づいて、フィードフォワード制御を行うフィードフォワード制御部とを有することを特徴とする電磁誘導流体加熱システム。
  7. 前記被加熱流体は、前記流通と滞留とを繰り返すものであり、
    前記フィードバック制御部は、前記被加熱流体の前記出口温度と目標温度との偏差に応じたフィードバック操作量を生成し、前記フィードフォワード制御部は、前記被加熱流体の入口温度と設定温度との偏差に応じたフィードフォワード操作量を生成し、前記制御装置は、前記両操作量に基づいて、前記高周波電源部の前記高周波電力を制御する請求項6に記載の電磁誘導流体加熱システム。
  8. 前記被加熱流体が、半導体製造に使用される薬液、純水あるいはガスであり、前記制御装置は、前記被加熱流体の前記流通と前記滞留とに応じて、前記高周波電源部を制御することにより、前記発熱管による加熱と加熱停止とを繰り返す請求項7に記載の電磁誘導流体加熱システム。
  9. 前記フィードバック制御部が、PID制御部であり、
    前記制御装置は、前記発熱管における加熱によって前記被加熱流体の前記出口温度が、前記目標温度に到達するまでの立ち上げ時に、前記PID制御部のPIDパラメータを切換えるパラメータ切換部を有する請求項7または8に記載の電磁誘導流体加熱システム。
  10. 前記被加熱流体を、前記発熱管に供給される前段で前記目標温度未満に冷却する冷却手段を備える請求項7〜9のいずれか一項に記載の電磁誘導流体加熱システム。
JP2008066362A 2008-03-14 2008-03-14 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム Pending JP2009224140A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008066362A JP2009224140A (ja) 2008-03-14 2008-03-14 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008066362A JP2009224140A (ja) 2008-03-14 2008-03-14 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009224140A true JP2009224140A (ja) 2009-10-01

Family

ID=41240709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008066362A Pending JP2009224140A (ja) 2008-03-14 2008-03-14 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009224140A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104298268A (zh) * 2014-10-17 2015-01-21 北京七星华创电子股份有限公司 一种具有前馈补偿的半导体工艺设备的温控方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104298268A (zh) * 2014-10-17 2015-01-21 北京七星华创电子股份有限公司 一种具有前馈补偿的半导体工艺设备的温控方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9639097B2 (en) Component temperature control by coolant flow control and heater duty cycle control
CN103092229B (zh) 激光器温度稳定控制系统
WO2001008206A1 (fr) Processeur et procede de regulation de la temperature de celui-ci
JP2008537322A (ja) チャックシステムにおける温度制御のための装置および方法
KR101177112B1 (ko) 전기식 칠러 장치 및 이의 온도제어 방법
CN109891162B (zh) 流体加热装置
JP2021009590A (ja) 温度制御システム及び温度制御方法
JP2009224140A (ja) 電磁誘導流体加熱装置の制御方法および電磁誘導流体加熱システム
JP6082620B2 (ja) ボイラの供給水量制御システムおよび供給水量制御方法
JP4360619B2 (ja) 温度制御装置、温度制御方法、及びプログラム
JP2008282413A (ja) 流体温度制御装置及び方法
JP2011063028A (ja) 熱媒体通流ローラ装置
JP3981682B2 (ja) レーザ装置
JP6129760B2 (ja) 温調装置
KR20170046574A (ko) 과열 수증기 생성 장치 및 과열 수증기 생성 장치를 이용한 처리 방법
TW201713169A (zh) 補償電極改變而供應至電漿炬之電力控制
JP2002140119A (ja) ワーク温度制御装置
JP2007066849A (ja) 電磁誘導流体加熱装置及び同電磁誘導流体加熱装置の制御方法
WO2019167232A1 (ja) 冷却装置および冷却水の処理方法
JP2005063743A (ja) 燃料電池システムの制御装置
JP2007027391A (ja) 半導体処理装置
JP2017099095A (ja) 電動機装置
JP2003343270A (ja) 水温調節装置
JP2007002587A (ja) シャワートイレの温度制御装置
JP5945190B2 (ja) 制御装置および制御方法