JP2009222659A - ナノ粒子成分計測装置並びにナノ粒子成分計測装置の異常判定方法及び校正方法 - Google Patents

ナノ粒子成分計測装置並びにナノ粒子成分計測装置の異常判定方法及び校正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009222659A
JP2009222659A JP2008069655A JP2008069655A JP2009222659A JP 2009222659 A JP2009222659 A JP 2009222659A JP 2008069655 A JP2008069655 A JP 2008069655A JP 2008069655 A JP2008069655 A JP 2008069655A JP 2009222659 A JP2009222659 A JP 2009222659A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
internal standard
nanoparticle component
gas
nanoparticle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008069655A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5010512B2 (ja
Inventor
Yoshihiro Deguchi
祥啓 出口
Kohei Kawazoe
浩平 川添
Nobuyuki Tanaka
伸幸 田中
Masaharu Tsuzaki
昌東 津崎
Kiyoshi Tanabe
潔 田邊
Shinji Kobayashi
伸治 小林
Akihiro Fushimi
暁洋 伏見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Central Research Institute of Electric Power Industry
National Institute for Environmental Studies
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Central Research Institute of Electric Power Industry
National Institute for Environmental Studies
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Central Research Institute of Electric Power Industry, National Institute for Environmental Studies, Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Central Research Institute of Electric Power Industry
Priority to JP2008069655A priority Critical patent/JP5010512B2/ja
Publication of JP2009222659A publication Critical patent/JP2009222659A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5010512B2 publication Critical patent/JP5010512B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

【課題】ナノ粒子組成が精度良く且つ高感度に計測できるナノ粒子成分計測装置を提供する。
【解決手段】計測ガス11である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器12と、前記分級したナノ粒子の成分を計測するレーザ装置17を有する質量分析装置16と、前記静電分級器12に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガス14−1を供給する第1の内部標準ガス供給部とを具備してなる。
【選択図】図1

Description

本発明は、例えば車両から排出される排ガス中のナノ単位の微量成分を計測するナノ粒子成分計測装置並びにナノ粒子成分計測装置の異常判定方法及び校正方法に関する。
近年、大気汚染の問題は計測技術の進展により、複雑なメカニズムが徐々に明らかとなってきている。例えば、分析技術では有害大気汚染物質を代表とする微量化学物質の分析が可能となり、シミュレーションを用いた大気中拡散や光化学反応などのメカニズム解明に貢献している。これらの結果として、大気汚染が様々な化学物質である一次汚染物質と共に、光化学反応を介した二次汚染物質、二次粒子として拡散していることが判明してきている。
また、これらの既存の大気汚染に加え、粒子状物質の中で、50nm以下のナノ単位の極めて微小な粒子(以下、「ナノ粒子」という)が計測可能となってきており、ナノ粒子による環境問題や健康障害も懸念されている。
上記環境汚染対策としてPRTR(Pollutant Release and Transfer Register:環境汚染物質排出移動登録制度)制度などがあるが、全体像の把握や将来に懸念される新たな環境汚染などの抑制には、さらなる排出原因・メカニズムの特定が不可欠である。
しかしながら、微量成分の分析が困難なこともあり、全体像の解明には至っていないのが現状である。特に、大気汚染に関しては、その形態変化を捕らえることが難しく、極微小量環境物質の直接・多元素・多成分が同時計測出来る分析技術が切望されている。
また、将来のナノテクノロジー産業などにより生成される粒子サイズレベルの環境汚染も懸念されており、極微小量環境物質の直接・多元素・多成分計測技術は、国民の安全、安心を確保するためのキー技術となっている。
ところで、近年の化学成分組成計測では、計測対象を構成する全体の成分分布を把握すると共に、重要な計測化学種に対し、高感度な分析が求められている。
これは、計測対象を構成する成分に関して「平均的な分析感度」と特定な成分に対する「選択的な分析感度」の互いに矛盾する分析特性を求めることになり、従来の分析手法では、達成できなかった課題である。また、元素組成分析では、計測対象を元素レベルに分解・計測する必要があり、化学成分組成計測との両立は困難であった。そのため、多元素・多成分を計測するためには、GC−MS(Gas Chromatography-Mass Spectrometry)、ICP−MS(Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry)、蛍光X線分析などの複数の分析手法を用いる必要があり、前処理などを含め、多大な分析コスト、分析時間を必要としていた。
そこで、排ガス中のナノ粒子の化学成分をレーザイオン化することにより測定する方法の提案がある(特許文献1)。
この特許文献1にかかる排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置の一例を図16に示す。
図16に示すように、ナノ粒子成分計測装置100は、計測ガス101中のナノ粒子成分を分級する静電分級器102と、前記静電分級器102により分級したナノ粒子の粒子数を計測する粒子数計測装置103と、分級したナノ粒子を加熱するヒータ105と加熱されたナノ粒子をレーザイオン化するレーザ装置107を備えたレーザイオン化飛行時間型質量分析装置(質量分析装置)106とを具備するものであり、例えばディーゼルエンジンから排出されるナノ粒子を分級し、多環芳香族炭化水素(PAH)を高感度で計測するようにしている。
特開2004−219250号公報
ところで、排ガス中の微量成分であるナノ粒子は装置の配管内部に付着しやすく、その付着によるトレース効果により、計測を繰り返していくと、本来含まれていない付着成分も計測することとなり、適切なリアルタイム計測ができない結果、ナノ粒子組成が精度良く且つ高感度に計測できるナノ粒子成分計測装置の出現が切望されている。
本発明は、前記問題に鑑み、ナノ粒子組成が精度良く且つ高感度に計測できるナノ粒子成分計測装置を提供することを課題とする。
上述した課題を解決するための本発明の第1の発明は、排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置にある。
第2の発明は、排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、前記分級した計測ガス中に第2の内部標準ガスを供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置にある。
第3の発明は、排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部と、前記分級した計測ガス中に第2の内部標準ガスを供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置にある。
第4の発明は、第1又は3の発明において、前記静電分級器を直列に2台以上有することを特徴とするナノ粒子成分計測装置にある。
第5の発明は、第3の発明において、前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部を並列に2台以上有することを特徴とするナノ粒子成分計測装置にある。
第6の発明は、第1の発明のナノ粒子成分計測装置を用い、静電分級器への電圧をオフとし、第1の内部標準ガスを流入させ、装置内部の配管付着の有無を判断することを特徴とするナノ粒子成分計測装置の異常判定方法にある。
第7の発明は、第2の発明のナノ粒子成分計測装置を用い、所定濃度の第2の内部標準ガスを流入させ、計測装置の感度校正を行うことを特徴とするナノ粒子成分計測装置の校正方法にある。
第8の発明は、第3の発明のナノ粒子成分計測装置を用い、静電分級器への電圧をオフとし、第1の内部標準ガスを流入させ、装置内部の配管付着の有無を判断すると共に、所定濃度の第2の内部標準ガスを流入させ、計測装置の感度校正を行うことを特徴とするナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法にある。
本発明によれば、ナノ粒子の付着成分の有無を検出することで、常に正常状態で計測が可能となる。また、所定濃度の標準ガスを供給することで常に感度を校正しつつ計測することとなるので、ナノ粒子組成が精度良く且つ高感度に計測できる。
以下、この発明につき図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。
本発明による本実施例に係るナノ粒子成分計測装置について、図面を参照して説明する。
図1は、実施例に係るナノ粒子成分計測装置図である。図1に示すように、本実施例に係るナノ粒子成分計測装置10Aは、計測ガス11である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器12と、前記分級したナノ粒子の成分を計測するレーザ装置17を有する質量分析装置16と、前記静電分級器12に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガス14−1を供給する第1の内部標準ガス供給部とを具備してなるものである。符号18は切替え弁である。
第1の内部標準ガス14−1を用いることにより静電分級器12の異常の有無を判断することができる。
図6に前記静電分級器の一例を示す。図6に示すように、静電分級器12は、帯電した荷電微粒子を導入する分級装置本体30内に配設され、所定粒径の微粒子を分級粒子33として排出する環状スリット34を有すると共に高電圧源35に接続されてなるロッド36と、前記分級装置本体30内を循環するキャリアガス31と、分級された分級粒子33を排出する分級管37とから構成されており、ここで分級された所定粒径の分級粒子33を前述した粒子数計測装置13及び質量分析装置16に供給して分析している。
また、分級されない粒子は排気管38を介して、外部に排気39される。
よって、静電分級器12で電圧を印加しない場合(OFF)には、全て外部に排出されるが、静電分級器12の配管内部にナノ粒子の付着が生じると分級された粒子として計測装置で計測され、この結果配管付着(トレース効果)の有無を判断することができる。
次に、装置の異常の有無を判断する場合について図7及び図8を参照して説明する。
図7に示すように、ナノ粒子の計測を行った後(S10)に、所定時間の計測(例えば30〜40分)が経過しているか否かを判断する(S11)。
所定時間が経過している場合(Yes)には、静電分級器12の印加をOFFとし、第1の内部標準ガス14−1を流す(S12、図8)。
粒子数計測装置13と質量分析装置16とのいずれか一方又は両方のナノ粒子計測装置でナノ粒子の計測の有無を判断する(S13)。
ナノ粒子が計測された場合(Yes)には、静電分級器の異常と判断し、以後のナノ粒子の計測を中止する(S14)。そして、静電分級器12の内部の洗浄等、交換等の必要な対策を直ちに行う(S15)。
一方、ナノ粒子が計測されない場合(No)には、計測を再開する(S16)。
これにより、静電分級器の異常の有無を判断することができ、常に正常な状態での計測であることを保証することができる。
図9はノイズの計測例であり、図10は内部標準として用いたキシレンの計測例である。図11は自動車排ガス中のナノ粒子を計測した一例である。
ここで、第1の内部標準ガス14−1としては、例えばキシレン(分子量:106.17)、トルエン(分子量:92.1)、ジエチルベンゼン(分子量:134.2)、ビニルベンゼン(スチレン)(分子量:104.15)、トリメチルベンゼン(分子量:120.2)等を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。
また、エンジン排ガス中のナノ粒子の計測では、図12に示すように、ベンゼン環にメチル基(−CH3)、ビニル基(−C23)を有する化学種が多く存在するので、ベンゼン類などよりは、キシレンを内部標準として用いるのが好ましい。
図2は、実施例に係るナノ粒子成分計測装置図である。図2に示すように、本実施例に係るナノ粒子成分計測装置10Bは、計測ガス11である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器12と、前記分級したナノ粒子の成分を計測するレーザ装置17を有する質量分析装置16と、前記静電分級器12で分級したナノ粒子を含むガス中に第2の内部標準ガス14−2を供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなるものである。符号19は切替え弁である。
第2の内部標準ガス14−2を用いて感度を校正することで常に適正な感度で計測することを保証することができる。
本実施例の第2の内部標準ガス14−2は、前述した第1の内部標準ガス14−1と同じものを用いることができる。
次に、装置を校正する場合について図13及び図14を参照して説明する。
図13に示すように、ナノ粒子の計測を行った後(S20)に、所定時間の計測(例えば30〜40分)が経過しているか否かを判断する(S21)。
所定時間が経過している場合(Yes)には、静電分級器12の印加をOFFとし、所定濃度(例えば1ppb)の第2の内部標準ガス14−2を流す(S22、図14)。
第2の内部標準ガスの濃度を質量分析装置16で計測し、感度を計測する(S23)。
計測感度にズレがあるか否かを判断する(S24)。
感度にズレがある場合(Yes)には感度校正をおこなう(係数補正など)(S25)。
その後、計測を再開する(S26)。
一方、S21において、所定時間が経過していない場合(No)には、計測を再開する(S26)。
また、レーザ装置17の窓のくもり等により、大幅に感度が低下して感度校正で対応できない場合には、直ちに計測を停止して、メンテナンスを行う。
これにより、常に質量分析装置16での感度の適正を保証することができる。
図3は、実施例に係るナノ粒子成分計測装置図である。図3に示すように、本実施例に係るナノ粒子成分計測装置10Cは、計測ガス11である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器12と、前記分級したナノ粒子の成分を計測するレーザ装置17を有する質量分析装置16と、前記静電分級器12に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガス14−1を供給する第1の内部標準ガス供給部と、前記静電分級器12で分級したナノ粒子を含むガス中に第2の内部標準ガス14−2を供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなるものである。
内部標準ガスは同じものを用いる場合には、図15に示すように時間差を持って第1の内部標準ガス14−1と第2の内部標準ガス14−2とを供給することで計測の重なりを防止することができる。
なお、異なる種類の内部標準ガスを用いる場合には、同時に供給するようにしてもよい。
本実施例では、第1の内部標準ガス14−1と第2の内部標準ガス14−2とを用いて、図7の計測と図13の計測とを行うことにより静電分級器12の異常の有無を判断することができると共に、感度を校正することで常に適正な感度で計測することを保証することができる。
図4は、実施例に係るナノ粒子成分計測装置図である。図4に示すように、本実施例に係るナノ粒子成分計測装置10Dは、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器を直列に2台(12−1、12−2)設けたものである。
2台の静電分級器を直列に設けることで、第1の静電分級器12−1で分級したナノ粒子のみをさらに分級することで配管付着を防止するようにしている。
図5は、実施例に係るナノ粒子成分計測装置図である。図5に示すように、本実施例に係るナノ粒子成分計測装置10Eは、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器を並列に2台(12−1、12−2)設けると共に、各々に第1の内部標準ガス14−1の供給を行うものである。この結果、第1の静電分級器12−1で計測している場合に、第2の静電分級器12−2で内部に浄化ガスを供給して清浄化を行うようにすることができる。符号18a〜18eは切替え弁である。
また、いずれかの静電分級器が停止した場合でも復旧まで1台で計測を継続して行うことができるので、所定間隔での自動車排ガスデータの取得が可能となる。
このように、ナノサイズのナノ粒子は微量であるために、配管付着によるノイズの発生の防止は急務であったが、本発明により内部標準ガスを供給することで装置内の配管付着(トレース効果)の有無の判断と感度校正を行うことができ、計測感度の確実性の向上を図ることができる。
以上のように、本発明に係るナノ粒子成分計測装置は、計測感度の確実性の向上を図ることができる。
実施例1に係るナノ粒子成分計測装置の概略図である。 実施例2に係るナノ粒子成分計測装置の概略図である。 実施例3に係るナノ粒子成分計測装置の概略図である。 実施例4に係るナノ粒子成分計測装置の概略図である。 実施例5に係るナノ粒子成分計測装置の概略図である。 静電分級器の概略図である。 実施例1に係るフローチャートである。 実施例1の計測のタイムチャートである。 ノイズの計測結果の一例を示すグラフである。 キシレン計測例を示すグラフである。 ナノ粒子計測例を示すグラフである。 ナノ粒子の分析結果の一例の測定図である。 実施例2に係るフローチャートである。 実施例2の計測のタイムチャートである。 実施例3の計測のタイムチャートである。 従来のナノ粒子成分計測装置の概略図である。
符号の説明
10A〜10E ナノ粒子成分計測装置
11 計測ガス
12 静電分級器
13 粒子数計測装置
14−1 第1の内部標準ガス
14−2 第2の内部標準ガス
15 ヒータ
16 質量分析装置
17 レーザ装置

Claims (8)

  1. 排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、
    計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、
    前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、
    前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置。
  2. 排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、
    計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、
    前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、
    前記分級した計測ガス中に第2の内部標準ガスを供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置。
  3. 排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、
    計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、
    前記分級したナノ粒子の成分を計測する計測装置と、
    前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部と、
    前記分級した計測ガス中に第2の内部標準ガスを供給する第2の内部標準ガス供給部とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置。
  4. 請求項1又は3において、
    前記静電分級器を直列に2台以上有することを特徴とするナノ粒子成分計測装置。
  5. 請求項3において、
    前記静電分級器に導入する計測ガス中に第1の内部標準ガスを供給する第1の内部標準ガス供給部を並列に2台以上有することを特徴とするナノ粒子成分計測装置。
  6. 請求項1のナノ粒子成分計測装置を用い、
    静電分級器への電圧をオフとし、第1の内部標準ガスを流入させ、装置内部の配管付着の有無を判断することを特徴とするナノ粒子成分計測装置の異常判定方法。
  7. 請求項2のナノ粒子成分計測装置を用い、
    所定濃度の第2の内部標準ガスを流入させ、計測装置の感度校正を行うことを特徴とするナノ粒子成分計測装置の校正方法。
  8. 請求項3のナノ粒子成分計測装置を用い、
    静電分級器への電圧をオフとし、第1の内部標準ガスを流入させ、装置内部の配管付着の有無を判断すると共に、
    所定濃度の第2の内部標準ガスを流入させ、計測装置の感度校正を行うことを特徴とするナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法。
JP2008069655A 2008-03-18 2008-03-18 ナノ粒子成分計測装置の異常判定方法、ナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法 Active JP5010512B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008069655A JP5010512B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 ナノ粒子成分計測装置の異常判定方法、ナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008069655A JP5010512B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 ナノ粒子成分計測装置の異常判定方法、ナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009222659A true JP2009222659A (ja) 2009-10-01
JP5010512B2 JP5010512B2 (ja) 2012-08-29

Family

ID=41239590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008069655A Active JP5010512B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 ナノ粒子成分計測装置の異常判定方法、ナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5010512B2 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10288602A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Rikagaku Kenkyusho 微粒子分析装置およびその方法
JP2004219250A (ja) * 2003-01-15 2004-08-05 Central Res Inst Of Electric Power Ind 粒子中の化学成分測定方法
JP2006145383A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Jfe Steel Kk 大気圧化学イオン化質量分析装置およびその校正方法
JP2007064893A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 電気移動度分級装置及び微粒子成分の計測システム
JP2008111756A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 微細粒子成分分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10288602A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Rikagaku Kenkyusho 微粒子分析装置およびその方法
JP2004219250A (ja) * 2003-01-15 2004-08-05 Central Res Inst Of Electric Power Ind 粒子中の化学成分測定方法
JP2006145383A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Jfe Steel Kk 大気圧化学イオン化質量分析装置およびその校正方法
JP2007064893A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 電気移動度分級装置及び微粒子成分の計測システム
JP2008111756A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 微細粒子成分分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5010512B2 (ja) 2012-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4550802B2 (ja) 障害物質の検出方法および障害物質の検出システム
Hoffmann et al. Highly selective SAM–nanowire hybrid NO2 sensor: insight into charge transfer dynamics and alignment of frontier molecular orbitals
US10241096B2 (en) Non-methane total hydrocarbons analysis apparatus and method for the same
Rank et al. Differences in cyclists and car drivers exposure to air pollution from traffic in the city of Copenhagen
Giechaskiel et al. Solid particle number (SPN) portable emissions measurement systems (PEMS) in the European legislation: A review
Ohura et al. Occurrence, profiles, and photostabilities of chlorinated polycyclic aromatic hydrocarbons associated with particulates in urban air
Liu et al. Oxidant denuder sampling for analysis of polycyclic aromatic hydrocarbons and their oxygenated derivates in ambient aerosol: Evaluation of sampling artefact
JP5099551B2 (ja) ナノ粒子成分計測装置及び方法
Tu et al. A SERS aptasensor for sensitive and selective detection of bis (2-ethylhexyl) phthalate
Rahman et al. Exposure to hazardous volatile pollutants back diffusing from automobile exhaust systems
Corsmeier et al. Comparison of measured and model-calculated real-world traffic emissions
Ye et al. Real-time laboratory measurements of VOC emissions, removal rates, and byproduct formation from consumer-grade oxidation-based air cleaners
JP2006308370A (ja) ナノ粒子分級捕集装置
JP5010512B2 (ja) ナノ粒子成分計測装置の異常判定方法、ナノ粒子成分計測装置の異常判定及び校正方法
Tohidi et al. Quantifying ambient concentrations of primary and secondary organic aerosol in central Los Angeles using an integrated approach coupling source apportionment with regression analysis
CN101878418B (zh) 为分析器供应气体混合物的方法
WO2017174534A1 (en) System and method for detection of a gaseous aldehyde
CN117310117A (zh) 一种新污染物的水质治理评估方法
US20050123455A1 (en) Ozone purifier for vehicle
Laitinen et al. Carbon clusters in 50 nm urban air aerosol particles quantified by laser desorption–ionization aerosol mass spectrometer
Caivano et al. Disinfection unit of water resource recovery facilities: Critical issue for N2O Emission
JP2008020408A (ja) 個数濃度標準気体の生成装置、及び、個数濃度標準気体の製造方法
Tsai et al. Assessing the contents of polycyclic aromatic hydrocarbons in the tollbooths of a highway toll station via direct and indirect approaches
Dhital et al. Air pollution inside public transport vehicles of Kathmandu Valley
JP2004163191A (ja) 金属の検出方法、およびその装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100520

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20100520

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120515

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120601

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5010512

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250