JP2009198354A - Inspection device and inspection method of electrooptical device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電気光学装置のギャップ検査に好適な電気光学装置の検査装置及び検査方法に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for an electro-optical device suitable for gap inspection of an electro-optical device.
一般に、従来の液晶装置の製造工程においては、2枚の透明基板の表面上にそれぞれ透明電極を形成し、その上に配向膜を形成して所定のラビング処理を施し、シール材を介して2枚の透明基板を貼り合わせ、その間に液晶を注入してシール材で封止することにより液晶パネルを形成する。また、例えばTN型やSTN型の液晶パネルにおいては、2枚の透明基板の表面上にそれぞれ偏光子及び検光子となる偏光板を配置する。 In general, in the manufacturing process of a conventional liquid crystal device, transparent electrodes are formed on the surfaces of two transparent substrates, an alignment film is formed thereon, a predetermined rubbing treatment is performed, and a 2 A liquid crystal panel is formed by laminating a pair of transparent substrates, injecting liquid crystal therebetween and sealing with a sealing material. Further, for example, in a TN type or STN type liquid crystal panel, polarizing plates serving as a polarizer and an analyzer are arranged on the surfaces of two transparent substrates, respectively.
上記の製造工程においては、形成された液晶パネルのギャップ(セル厚)(2枚の基板間の間隙、或いは、この間隙に注入された液晶層の厚さ)を測定することによって製造工程の条件設定を適宜修正する場合がある。液晶パネルのギャップのばらつきは液晶装置の表示性能に直接に影響するため、きわめて厳重に管理されなければならないが、製造工程中のギャップ材散布密度等の管理困難なパラメータによって微妙に狂いが出る場合があるからである。 In the above manufacturing process, the conditions of the manufacturing process are measured by measuring the gap (cell thickness) of the formed liquid crystal panel (the gap between two substrates or the thickness of the liquid crystal layer injected into this gap). The settings may be modified as appropriate. Variations in the gap of the liquid crystal panel directly affect the display performance of the liquid crystal device, so it must be managed with extreme strictness. Because there is.
そこで、液晶パネルのギャップを測定する測定装置が採用される。この種の測定装置として色相方式を採用したものがある。色相方式の測定装置においては、液晶パネルの表裏両側に偏光子となる偏光板と検光子となる偏光板とを夫々配置する。一方の偏光板の手前には光源が配置され、他方の偏光板の先には色度計が配置される。 Therefore, a measuring device that measures the gap of the liquid crystal panel is employed. Some measuring devices of this type employ a hue method. In the hue type measuring apparatus, a polarizing plate that serves as a polarizer and a polarizing plate that serves as an analyzer are arranged on both sides of the liquid crystal panel. A light source is disposed in front of one polarizing plate, and a chromaticity meter is disposed in front of the other polarizing plate.
このような測定装置においては、2枚の偏光板の偏光透過軸が、液晶パネルの配向膜のラビング方向を基準とする所定方位に向くように設定する。この状態で、光源から発せられた光は一方の偏光板を通過して直線偏光となり、液晶パネルを透過した後に更に他方の偏光板を通過してから色度計にて色相が検出される。 In such a measuring apparatus, the polarization transmission axes of the two polarizing plates are set so as to be in a predetermined direction with respect to the rubbing direction of the alignment film of the liquid crystal panel. In this state, the light emitted from the light source passes through one polarizing plate to become linearly polarized light, passes through the liquid crystal panel and then passes through the other polarizing plate, and then the hue is detected by the chromaticity meter.
このとき、液晶パネルに入射した直線偏光は液晶によって変調される。液晶の直線偏光に対する変調度合(直線偏光の透過率)は、液晶の屈折率異方性をΔn(=ne−no)とし、液晶層の厚さdとすると、Δn・dで表されるリタデーションの値に応じて変化する。また、直線偏光の液晶層の透過率は波長依存性を有し、各波長成分毎に透過率とリタデーションとの関係が変化する。つまり、所定のリタデーションの値に対して、各波長成分毎の透過率に基づく色相が現れ、他の所定のリタデーションに対して、別の色相が現れる。リタデーションは、液晶層の厚さdに比例しており、液晶パネルのギャップの変化に応じて色相が変化し、色相の変化による模様が観察される。色度計は、このような色相を検出する。これにより、液晶層の厚さ、すなわち液晶パネルのギャップを検出する。 At this time, the linearly polarized light incident on the liquid crystal panel is modulated by the liquid crystal. The degree of modulation of liquid crystal with respect to linearly polarized light (transmittance of linearly polarized light) is a retardation expressed by Δn · d, where Δn (= ne−no) is the refractive index anisotropy of the liquid crystal and d is the thickness of the liquid crystal layer. It changes according to the value of. Further, the transmittance of the linearly polarized liquid crystal layer has a wavelength dependency, and the relationship between the transmittance and retardation changes for each wavelength component. That is, a hue based on the transmittance of each wavelength component appears for a predetermined retardation value, and another hue appears for other predetermined retardation values. The retardation is proportional to the thickness d of the liquid crystal layer, the hue changes according to the change in the gap of the liquid crystal panel, and a pattern due to the change in the hue is observed. The chromaticity meter detects such a hue. Thereby, the thickness of the liquid crystal layer, that is, the gap of the liquid crystal panel is detected.
例えば、上記のような光学特性を利用して、あらかじめ基準のギャップに対する基準の色相を求めておき、色度計によって検出された色相が基準の色相からずれている程度によってセル厚の基準値からのずれの度合を判定することができる。また、色相の変化模様によってギャップむらを判定することもできる。
しかしながら、上述したセル厚測定方法においては、水平配向系の液晶パネルのギャップ検査にのみ適用可能である。負の誘電率異方性を用いた垂直配向系の液晶パネルにおいては、波長毎のリタデーションの差は小さい。このため、ギャップの厚みの差を色相として観察することは極めて困難である。 However, the above-described cell thickness measurement method can be applied only to a gap inspection of a horizontal alignment type liquid crystal panel. In a vertically aligned liquid crystal panel using negative dielectric anisotropy, the difference in retardation for each wavelength is small. For this reason, it is extremely difficult to observe the difference in gap thickness as a hue.
本発明は、垂直配向系の液晶装置についても色相方式によってギャップ検査を可能にすることができる電気光学装置の検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method for an electro-optical device that can perform gap inspection on a vertical alignment type liquid crystal device by a hue method.
本発明に係る電気光学装置の検査装置は、光源と、前記光源からの光を偏光する第1の偏光板と、前記第1の偏光板からの偏光が入射される垂直配向系の液晶パネルの出射光路上に配置される第2の偏光板と、前記液晶パネルと前記第2の偏光板との間の前記液晶パネルの出射光路上に配置される少なくとも1つの位相差板と、前記第2の偏光板を透過した光を検出する光検出部と、前記検出部が検出した光の色相によって前記液晶パネルのギャップを検出するギャップ検出部とを具備したことを特徴とする。 An inspection apparatus for an electro-optical device according to the present invention includes: a light source; a first polarizing plate that polarizes light from the light source; and a vertically aligned liquid crystal panel that receives polarized light from the first polarizing plate. A second polarizing plate disposed on the outgoing optical path, at least one retardation plate disposed on the outgoing optical path of the liquid crystal panel between the liquid crystal panel and the second polarizing plate, and the second And a gap detection unit that detects a gap of the liquid crystal panel based on a hue of light detected by the detection unit.
このような構成によれば、第2の偏光板を透過した光は、ギャップに応じた色相を有する。少なくとも1つの位相差板によって、液晶パネルのリタデーションを強めることができ、液晶パネルのギャップの変化に対する第2の偏光板の透過光の色相変化を大きくすることができる。これにより、ギャップ検出部は、光検出部の検出結果から液晶パネルのギャップを高精度に求めることができる。 According to such a configuration, the light transmitted through the second polarizing plate has a hue corresponding to the gap. The retardation of the liquid crystal panel can be strengthened by at least one retardation plate, and the hue change of the transmitted light of the second polarizing plate with respect to the change of the gap of the liquid crystal panel can be increased. Thereby, the gap detection part can obtain | require the gap of a liquid crystal panel with high precision from the detection result of a photon detection part.
また、前記少なくとも1つの位相差板は、λ/2位相差板及びλ/4位相差板であることを特徴とする。 The at least one retardation plate is a λ / 2 retardation plate and a λ / 4 retardation plate.
このような構成によれば、液晶パネルのリタデーションを十分に強めることができ、液晶パネルのギャップを高精度に求めることができる。 According to such a configuration, the retardation of the liquid crystal panel can be sufficiently increased, and the gap of the liquid crystal panel can be obtained with high accuracy.
本発明に係る電気光学装置の検査方法は、垂直配向系の液晶パネルの全画素にオン電圧を印加する手順と、前記液晶パネルに第1の偏光板を介して光を入射する手順と、前記液晶パネルからの出射光を少なくとも1つの位相差板及び第2の偏光板を介して取り込む手順と、前記第2の偏光板からの光の色相を求めて、前記液晶パネルのギャップを検出する手順とを具備したことを特徴とする。 An inspection method for an electro-optical device according to the present invention includes a procedure for applying an on-voltage to all pixels of a vertical alignment type liquid crystal panel, a procedure for causing light to enter the liquid crystal panel via a first polarizing plate, A procedure for taking light emitted from the liquid crystal panel through at least one phase difference plate and a second polarizing plate, and a step for obtaining a hue of light from the second polarizing plate and detecting a gap of the liquid crystal panel It was characterized by comprising.
このような構成によれば、液晶パネルの全画素にオン電圧を印加し、第1の偏光板を介して液晶パネルに光を入射する。液晶パネルの透過光は、リタデーションの影響により、波長毎に透過率が変化し、リタデーションに応じた色相となる。少なくとも1つの位相差板は、液晶パネルのリタデーションを強める。液晶パネルのギャップの変化に対する第2の偏光板からの光の色相変化は十分大きくなり、色相変化に基づいてギャップを高精度に求めることができる。 According to such a configuration, an on-voltage is applied to all the pixels of the liquid crystal panel, and light is incident on the liquid crystal panel via the first polarizing plate. The transmitted light of the liquid crystal panel changes in transmittance for each wavelength due to the influence of retardation, and becomes a hue corresponding to the retardation. At least one retardation plate enhances the retardation of the liquid crystal panel. The hue change of the light from the second polarizing plate with respect to the change of the gap of the liquid crystal panel becomes sufficiently large, and the gap can be obtained with high accuracy based on the hue change.
また、前記少なくとも1つの位相差板は、λ/2位相差板及びλ/4位相差板であることを特徴とする。 The at least one retardation plate is a λ / 2 retardation plate and a λ / 4 retardation plate.
このような構成によれば、液晶パネルのリタデーションを十分に強めることができ、液晶パネルのギャップを高精度に求めることができる。 According to such a configuration, the retardation of the liquid crystal panel can be sufficiently increased, and the gap of the liquid crystal panel can be obtained with high accuracy.
また、前記少なくとも1つの位相差板は、前記液晶パネルのリタデーションを強める角度に設置することを特徴とする。 Further, the at least one retardation plate is installed at an angle that strengthens the retardation of the liquid crystal panel.
このような構成によれば、液晶パネルのリタデーションを十分に強めることができ、液晶パネルのギャップを高精度に求めることができる。 According to such a configuration, the retardation of the liquid crystal panel can be sufficiently increased, and the gap of the liquid crystal panel can be obtained with high accuracy.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は本発明の一実施の形態に係る電気光学装置の検査装置の概略構成図である。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inspection apparatus for an electro-optical device according to an embodiment of the present invention.
液晶パネル10は、一対の透明基板11,12が液晶層15を介在させて対向配置されて構成される。透明基板11,12は、液晶を封入した状態で、シール材14によって接着されている。透明基板11の表面上には画素電極11a及び配向膜11bが形成され、一方、透明基板12の表面上には共通電極12a及び配向膜12bが形成されている。
The
液晶パネル10の表裏両側には、偏光子である偏光板22及び検光子である偏光板25が配置され、偏光板22の外側に光源21が配置される。また、偏光板25の外側には入射光検出部26が配置される。なお、偏光板22,25は偏光軸が相互に直交している。液晶パネル10は垂直配向系のパネルであり、液晶層15には、負の誘電率異方性を有する液晶材料が用いられている。
A polarizing
本実施の形態においては、透明基板12と偏光板25との間には、位相差板23,24が設けられている。位相差板23,24は、例えば一方がλ/2位相差板であり、他方がλ/4位相差板である。λ/2位相差板とλ/4位相差板とを上下入れ換えてもよい。本実施の形態においては、後述するように、位相差板23,24は、入射光のリタデーションを大きくするように、偏光板22の偏光軸に対する遅相軸の向きを規定するようになっている。
In the present embodiment,
光源21からの照明光は、偏光板22、液晶パネル10、位相差板23,24及び偏光板25を通過して、入射光検出部26に入射されるようになっている。入射光検出部26は、例えば、CCDカメラ等によって構成されている。
Illumination light from the
本実施の形態においては、ギャップ検査時においては、液晶パネル10の全画素をオン電圧で駆動し、入射光検出部26に図1の一点鎖線にて示す入射光を検出させるようになっている。入射光検出部26は、入射した液晶パネル10の通過光を検出し、検出結果を出力する。例えば、入射光検出部26は、入射光に基づくカラー画像を取得し、画像信号を出力する。
In the present embodiment, at the time of gap inspection, all the pixels of the
入射光検出部26の出力は制御部27に与えられる。制御部27は、例えば、CPU(中央演算ユニット)、ROM、RAM、ハードディスク等の情報記憶手段(メモリ)及び入出力回路等を備えたマイクロプロセッサユニットによって構成されている。制御部27は、入力された画像信号に対する演算処理によって、液晶パネル10のギャップ(セル厚)を検出する。例えば制御部27は、入力された画像信号を色相を表すHUE値に変換し、このHUE値に基づいて、液晶パネル10のギャップ及びそのギャップの厚みの分布を検出する。
The output of the incident
制御部27は、ギャップの検出結果を表示部28に与えて表示させる。例えば、制御部27は、求めたHUE値に基づく色相をそのまま表示させてもよく、HUE値そのものを表示させてもよい。更に、制御部27は、入射光検出部26の出力をそのまま表示部28に与えて表示させるようにしてもよい。
The
なお、本実施の形態は、液晶パネル10と偏光板25との間に、λ/2又はλ/4位相差板である位相差板23,24の2枚の位相差板を配置する例を示したが、必ずしも2枚の位相差板を配置する必要はなく、1枚の位相差板のみ又は3枚以上の位相差板を配置してもよい。
In the present embodiment, two retardation plates, that is,
このように構成された実施の形態においては、検査時において、液晶パネル10の全画素にオン電圧を印加する。光源21からの光は偏光板22によって所定の偏光軸の直線偏光に変換されて、液晶パネル10に入射する。液晶層15に入射した直線偏光は、Ne方向成分とNo方向成分との合成によって記述される。Ne方向成分及びNo方向成分と位相差δとの関係は、リタデーション(d・Δn)を用いて、下記(1)式によって与えられる。
In the embodiment configured as described above, an on-voltage is applied to all the pixels of the
δ=2πd・Δn/λ …(1)
この(1)式から、位相差δがπの場合には、入射光は偏光面が90度回転することが分かる。偏光板22,25の直交軸が直交しているので、δ=πの場合に透過率が最大となり、リタデーション(d・Δn)は、λ/2である。そして、直線偏光の各波長成分毎に、透過率とリタデーションとの関係は変化する。なお、δ=π以外の場合には、入射光は、直線偏光、楕円偏光を繰り返す。
δ = 2πd · Δn / λ (1)
From this equation (1), it can be seen that when the phase difference δ is π, the plane of polarization of incident light rotates 90 degrees. Since the orthogonal axes of the
液晶パネル10からの透過光は、位相差板23,24及び偏光板25を介して入射光検出部26に入射される。入射光検出部26は入射光を検出して、検出結果を制御部27に出力する。入射光検出部26に入射される光は、液晶パネル10を通過した各波長成分毎の透過率に基づく色相を有し、この色相はリタデーションの値、即ち、液晶層15の厚さdに応じたものとなる。制御部27は、入射光検出部26の検出結果に基づいて、液晶パネル10のギャップを求める。制御部27は求めたギャップを表示部28に与えて表示させる。
The transmitted light from the
この場合において、垂直配向系の液晶パネル10は、リタデーションの値が小さく、液晶パネル10の出射光からだけでは、ギャップの変化に応じた色相値を高精度に得ることは困難である。
In this case, the vertical alignment type
そこで、本実施の形態においては、位相差板23,24を配置して、リタデーションを等価的に増加させることで、ギャップの変化に応じた色相値を高精度に得ることを可能にしている。
Therefore, in the present embodiment, the
次に、液晶パネル10と偏光板25との間に配置する位相差板について説明する。
Next, the retardation plate disposed between the
図2は横軸に波長をとり縦軸に透過光強度をとって、各波長成分のリタデーション毎の透過率を示すグラフである。図2は、図1の装置において、位相差板23,24に代えて適宜の位相差板を挿入した場合における透過率を示している。図2の波形T1〜T3は、液晶パネル10として夫々ギャップ厚が異なる3つの液晶パネルであって、夫々リタデーションが293、322、351である場合の特性を示している。図2の波形T1−145〜T3−145は、波形T1〜T3にて示す液晶パネルについて、偏光板22の偏光軸に対して145°の角度で位相差板挿入した場合の特性を夫々示しており、夫々リタデーションは438、467、496である。波形T1−290〜T3−290は、波形T1〜T3にて示す液晶パネルについて、偏光板22の偏光軸に対して290°の角度で位相差板挿入した場合の特性を夫々示しており、夫々リタデーションは583,612,641である。
FIG. 2 is a graph showing the transmittance of each wavelength component for each retardation, with the horizontal axis representing wavelength and the vertical axis representing transmitted light intensity. FIG. 2 shows the transmittance when an appropriate retardation plate is inserted in place of the
このように、位相差板の挿入によって異なる値のリタデーションを得ることができる。図2では、位相差板の挿入によってリタデーションを変化させることで、透過光のスペクトルが変化することが分かる。 In this way, different values of retardation can be obtained by inserting the phase difference plate. In FIG. 2, it can be seen that the spectrum of the transmitted light changes by changing the retardation by inserting the retardation plate.
図3は横軸にリタデーションをとり縦軸に色相値をとって、リタデーションと色相値との関係を示すグラフである。図3の特性Aは図1の装置において位相差板23,24を省略した場合の特性を示し、特性Bは図1の装置の位相差板23,24に代えて所定の位相差板を配置した場合の特性を示している。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between retardation and hue value, with retardation on the horizontal axis and hue value on the vertical axis. Characteristic A in FIG. 3 shows characteristics when the
図3の特性Aは、リタデーションが320nmの液晶パネル10を採用し、セル厚が±0.2μm変化した場合の、色相の変化を示している。位相差板23,24を省略した場合には、セル厚±2μmの変化に対して、得られる色相の変化は約30程度である。これに対し、リタデーションが520nmとなるように位相差板を配置した場合において、セル厚を変化させたときの特性が特性Bである。特性Bの場合には、セル厚±2μmの変化に対して、得られる色相の変化は約70である。
Characteristic A in FIG. 3 shows a change in hue when the
このように、リタデーションが520nmとなるように位相差板を配置することで、±0.2μmのセル厚変化に対して、入射光検出部26において十分な色相変化がある入射光を検出することができることが分かる。
In this way, by arranging the retardation plate so that the retardation is 520 nm, the incident
そこで、入射光検出部26によって検出した入射光によって、セル厚の変化に対する色相値の変化が十分に大きくなるように、液晶パネル10と偏光板25との間に配置する位相差板として適当な位相差板を求める。
Therefore, a suitable retardation plate is disposed between the
下記表1は、液晶パネル10と偏光板25との間に配置する位相差板と、HUE値との関係を示している。
Table 1 below shows the relationship between the phase difference plate disposed between the
[表1]
この表1は、既知のセル厚の3つの液晶パネルに対して、位相差板23,24に代えて、位相差が0、λ/4、λ/2及び3λ/4の位相差板を配置した場合におけるHUE値、レンジ及び分解能を夫々求めたものである。なお、分解能は、セル厚と得られたHUE値との比を示す。
[Table 1]
In Table 1, phase difference plates having phase differences of 0, λ / 4, λ / 2, and 3λ / 4 are arranged in place of the
表1に示すように、位相差が0、即ち、位相差板を配置しない場合には、セル厚の変化が2.5μmを中心に±0.2μm変化したときに、HUE値の変化は±2しか得られない。これに対し、例えば、位相差がλ/2の位相差板を配置した場合には、セル厚の変化が2.5μmを中心に±0.2μm変化したときに、HUE値は+7〜−17も変化している。この場合の分解能は0.02である。 As shown in Table 1, when the phase difference is 0, that is, when the phase difference plate is not disposed, when the cell thickness changes ± 0.2 μm around 2.5 μm, the change in the HUE value is ± Only 2 can be obtained. On the other hand, for example, when a phase difference plate having a phase difference of λ / 2 is arranged, the HUE value is +7 to −17 when the change in cell thickness is ± 0.2 μm centered on 2.5 μm. Has also changed. In this case, the resolution is 0.02.
このように、液晶パネル10と偏光板25との間に、位相差がλ/2又は3λ/4の位相差板を配置することで、リタデーションを大きくして、セル厚の変化に対する色相差を十分に大きくして、観察画像の色相からギャップを確実に検出することが可能であることが分かる。
In this manner, by arranging a retardation plate having a retardation of λ / 2 or 3λ / 4 between the
ところで、位相差板23,24によって、液晶パネル10によるリタデーションを等価的に増加させるには、リタデーションを強めるように、位相差板23,24の位相差軸の方向と、偏光板22,25の偏光軸及び液晶層15の液晶分子の長軸方向との関係を規定する必要がある。
By the way, in order to increase the retardation by the
図4は図1の装置において、偏光板22の偏光軸に対する位相差板23,24の配置角度と得られるHUE値との関係を示す図表である。なお、図4は左円偏光(Lシフト)の条件のみを示しているが、右円偏光(Rシフト)の条件はλ/2位相差板を90度回転させることで得られるので、図示を省略する。
4 is a chart showing the relationship between the arrangement angle of the
図4の例は、位相差がλ/2の位相差板を固定した状態で、位相差がλ/4の位相差板を回転させてHEU値を求めているが、位相差がλ/4の位相差板を固定した状態で、位相差がλ/2の位相差板を回転させても、位相差板23,24の配置角度として適切な角度を求めることができる。
In the example of FIG. 4, the phase difference plate with a phase difference of λ / 2 is fixed and the phase difference plate with a phase difference of λ / 4 is rotated to obtain the HEU value, but the phase difference is λ / 4. Even when the phase difference plate having the phase difference of λ / 2 is rotated in a state where the phase difference plate is fixed, an appropriate angle can be obtained as the arrangement angle of the
図4の例は、偏光板22の偏光軸に対して位相差がλ/2の位相差板23を0°、15°、30°、45°、60°、75°、90°、120°、150°の角度で配置し、各λ/2位相差板の配置毎に、位相差がλ/4の位相差板24を0〜180度の範囲で回転させながら配置した場合におけるHUE値を示している。
In the example of FIG. 4, the
なお、図4は、セル厚が20μm、23μm、27μmである既知のセル厚の3つの液晶パネルを図1の液晶パネル10として配置した場合のHUE値及びレンジ(差)を示している。
FIG. 4 shows the HUE value and range (difference) when three liquid crystal panels having known cell thicknesses with cell thicknesses of 20 μm, 23 μm, and 27 μm are arranged as the
図4の例では、例えば、λ/2位相差板の配置角度を0°とした場合には、λ/4位相差板の配置角度を90°にした場合において、HUE値が比較的十分なレンジを有していることが分かる。同様に、λ/2位相差板の配置角度が30°では、λ/4位相差板の配置角度が105°、120°の場合、λ/2位相差板の配置角度が45°では、λ/4位相差板の配置角度が105°の場合、λ/2位相差板の配置角度が75°では、λ/4位相差板の配置角度が150°の場合、λ/2位相差板の配置角度が90°では、λ/4位相差板の配置角度が0°の場合等において、良好な特性が得られることが示されている。 In the example of FIG. 4, for example, when the arrangement angle of the λ / 2 phase difference plate is 0 °, the HUE value is relatively sufficient when the arrangement angle of the λ / 4 phase difference plate is 90 °. You can see that it has a range. Similarly, when the arrangement angle of the λ / 2 phase difference plate is 30 °, the arrangement angle of the λ / 4 phase difference plate is 105 ° and 120 °, and when the arrangement angle of the λ / 2 phase difference plate is 45 °, λ When the arrangement angle of the / 4 retardation plate is 105 °, the arrangement angle of the λ / 2 retardation plate is 75 °, and when the arrangement angle of the λ / 4 retardation plate is 150 °, the λ / 2 retardation plate It is shown that when the arrangement angle is 90 °, good characteristics can be obtained, for example, when the arrangement angle of the λ / 4 retardation plate is 0 °.
このような理由によって、本実施の形態においては、左円偏光時においては、例えば、λ/2位相差板の配置角度を偏光板22の偏光軸に対して20°に設定し、λ/4位相差板の配置角度を偏光板22の偏光軸に対して120°に設定するようになっている。また、右円偏光時においては、例えば、λ/2位相差板の配置角度を偏光板22の偏光軸に対して110°に設定し、λ/4位相差板の配置角度を偏光板22の偏光軸に対して120°に設定するようになっている。
For this reason, in the present embodiment, for left circular polarization, for example, the arrangement angle of the λ / 2 phase difference plate is set to 20 ° with respect to the polarization axis of the
こうして、入射光検出部26に入力する光は、セル厚の変化に対するHUE値の変化が十分に大きなものとなる。これにより、ギャップを高精度に検出可能である。
Thus, the light input to the incident
このように本実施の形態においては、垂直配向系の液晶パネルを全画素をオン状態となるように通電して、液晶パネルの偏光板との間に3λ/4位相差の位相差板を介挿する。これにより、ギャップの変化に対して十分な色相変化を得ることができ、色相方式によって簡単で且つ正確にギャップ及びギャップむらを検出することができる。 As described above, in this embodiment, a vertical alignment type liquid crystal panel is energized so that all pixels are turned on, and a 3λ / 4 phase difference plate is interposed between the liquid crystal panel and the polarizing plate. Insert. Thereby, a sufficient hue change can be obtained with respect to the gap change, and the gap and the gap unevenness can be detected easily and accurately by the hue method.
なお、上記実施の形態においては、λ/2位相差板とλ/4位相差板の2枚の位相差板を介挿する例について説明したが、λ/2位相差板のみを介挿してもよく、またλ/4位相差板のみを介挿してもよい。これらの場合でも、ある程度の効果が得られる。 In the above embodiment, an example in which two retardation plates, a λ / 2 retardation plate and a λ / 4 retardation plate, are described, but only a λ / 2 retardation plate is inserted. Alternatively, only a λ / 4 phase difference plate may be inserted. Even in these cases, a certain degree of effect can be obtained.
10…液晶パネル、15…液晶層、22,25…偏光板、23,24…位相差板、26…入射光検出部、27…制御部。
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記光源からの光を偏光する第1の偏光板と、
前記第1の偏光板からの偏光が入射される垂直配向系の液晶パネルの出射光路上に配置される第2の偏光板と、
前記液晶パネルと前記第2の偏光板との間の前記液晶パネルの出射光路上に配置される少なくとも1つの位相差板と、
前記第2の偏光板を透過した光を検出する光検出部と、
前記検出部が検出した光の色相によって前記液晶パネルのギャップを検出するギャップ検出部と
を具備したことを特徴とする電気光学装置の検査装置。 A light source;
A first polarizing plate that polarizes light from the light source;
A second polarizing plate disposed on an outgoing optical path of a vertically aligned liquid crystal panel on which polarized light from the first polarizing plate is incident;
At least one phase difference plate disposed on an outgoing optical path of the liquid crystal panel between the liquid crystal panel and the second polarizing plate;
A light detection unit for detecting light transmitted through the second polarizing plate;
An inspection apparatus for an electro-optical device, comprising: a gap detection unit that detects a gap of the liquid crystal panel based on a hue of light detected by the detection unit.
λ/2位相差板及びλ/4位相差板であることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の検査装置。 The at least one retardation plate is
The electro-optical device inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection apparatus is a λ / 2 retardation plate and a λ / 4 retardation plate.
前記液晶パネルに第1の偏光板を介して光を入射する手順と、
前記液晶パネルからの出射光を少なくとも1つの位相差板及び第2の偏光板を介して取り込む手順と、
前記第2の偏光板からの光の色相を求めて、前記液晶パネルのギャップを検出する手順と
を具備したことを特徴とする電気光学装置の検査方法。 A procedure for applying an on-voltage to all the pixels of the vertical alignment type liquid crystal panel;
A procedure for making light incident on the liquid crystal panel via a first polarizing plate;
A procedure for capturing the light emitted from the liquid crystal panel via at least one retardation plate and a second polarizing plate;
An inspection method for an electro-optical device, comprising: obtaining a hue of light from the second polarizing plate and detecting a gap of the liquid crystal panel.
λ/2位相差板及びλ/4位相差板であることを特徴とする請求項3に記載の電気光学装置の検査方法。 The at least one retardation plate is
The electro-optical device inspection method according to claim 3, wherein the inspection method is a λ / 2 retardation plate and a λ / 4 retardation plate.
前記液晶パネルのリタデーションを強める角度に設置することを特徴とする請求項3に記載の電気光学装置の検査方法。 The at least one retardation plate is
4. The inspection method for an electro-optical device according to claim 3, wherein the inspection method is installed at an angle that strengthens the retardation of the liquid crystal panel.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|---|
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US12025571B2 (en) * | 2020-08-20 | 2024-07-02 | Samsung Display Co., Ltd. | Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same |
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