JP2009177140A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009177140A5
JP2009177140A5 JP2008308984A JP2008308984A JP2009177140A5 JP 2009177140 A5 JP2009177140 A5 JP 2009177140A5 JP 2008308984 A JP2008308984 A JP 2008308984A JP 2008308984 A JP2008308984 A JP 2008308984A JP 2009177140 A5 JP2009177140 A5 JP 2009177140A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
tunable laser
point
discontinuous
change
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008308984A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5032451B2 (ja
JP2009177140A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2008308984A priority Critical patent/JP5032451B2/ja
Priority claimed from JP2008308984A external-priority patent/JP5032451B2/ja
Priority to US12/342,869 priority patent/US7929581B2/en
Priority to CN2008101850436A priority patent/CN101471531B/zh
Publication of JP2009177140A publication Critical patent/JP2009177140A/ja
Publication of JP2009177140A5 publication Critical patent/JP2009177140A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5032451B2 publication Critical patent/JP5032451B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (9)

  1. 共振器内に異なる波長特性のピークを有する波長選択部を複数備えた波長可変レーザの試験方法であって、
    初期設定値に基づいて、前記波長可変レーザに所定の波長で発振させる第1ステップと、
    前記複数の波長選択部の波長特性を変化させながら、前記波長可変レーザの利得状態の変化の不連続点を検出する第2ステップと、
    前記不連続点が検出された時点を前記所定波長における発振状態の限界点とし、前記限界点に基づいて前記波長選択部の安定動作点を演算する第3ステップと、
    を含むことを特徴とする波長可変レーザの試験方法。
  2. 前記波長可変レーザの発振状態は、前記波長選択部の波長特性の変化に対して不連続に生じるものであることを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザの試験方法。
  3. 前記第1ステップにおける不連続点の検出は、前記波長可変レーザの出力光強度または前記波長可変レーザの利得領域の電圧もしくは電流の不連続変化の検出に基づいてなされることを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザの試験方法。
  4. 前記複数の波長選択部は、バーニア効果を用いて波長を選択することを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザの試験方法。
  5. 前記波長可変レーザは、共振器の外部に半導体光増幅領域を備え、
    前記第1ステップにおける不連続点の検出は、前記半導体光増幅領域が光吸収をなす状態にバイアスされる場合における前記半導体光増幅領域の光電流を検知することによりなされることを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザの試験方法。
  6. 前記第1ステップにおける不連続点の検出は、前記利得状態の変化量を微分した微分値に基づいて行われることを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザの試験方法。
  7. 前記第2ステップの利得状態の変化の不連続点の検出は、波長特性を変化させながら利得状態の不連続点を検出した後、前記波長特性の変化量よりも小さい変化量で波長特性を変化させながら、再度利得状態の不連続点を検出することによりなされることを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザの試験方法。
  8. 共振器内に異なる波長特性のピークを有する波長選択部を複数備えた波長可変レーザの制御方法であって、
    初期設定値に基づいて、所定の波長で前記波長可変レーザに発振させる第1ステップと、
    前記波長選択部の波長特性を変化させながら、前記波長可変レーザの利得状態の変化の不連続点を検出する第2ステップと、
    前記不連続点が検出された時点を前記所定波長における発振状態の限界点とし、前記限界点に基づいて前記波長選択部の安定動作点を演算する第3ステップと、
    前記第3ステップで得られた安定動作点を目標値として、前記波長可変レーザを発振させる第4ステップと、
    を含むことを特徴とする波長可変レーザの制御方法。
  9. 共振器内に異なる波長特性のピークを有する波長選択部を複数備えた波長可変レーザと、
    初期設定値に基づいて所定の波長で前記波長可変レーザに発振させ、前記波長選択部の波長特性を変化させながら前記波長可変レーザの利得状態の変化の不連続点を検出する不連続点検出部と、
    前記不連続点が検出された時点を前記所定波長における発振状態の限界点とし、前記限界点に基づいて前記波長選択部の安定動作点を演算する動作点演算手段と、
    前記演算手段によって得られた安定動作点により、前記波長可変レーザを発振させる制御を行う制御部と、
    を備えることを特徴とするレーザ装置。
JP2008308984A 2007-12-28 2008-12-03 波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 Active JP5032451B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008308984A JP5032451B2 (ja) 2007-12-28 2008-12-03 波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置
US12/342,869 US7929581B2 (en) 2007-12-28 2008-12-23 Testing method of wavelength-tunable laser, controlling method of wavelength-tunable laser and laser device
CN2008101850436A CN101471531B (zh) 2007-12-28 2008-12-26 波长可调激光器测量方法和控制方法以及激光装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007339196 2007-12-28
JP2007339196 2007-12-28
JP2008308984A JP5032451B2 (ja) 2007-12-28 2008-12-03 波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009177140A JP2009177140A (ja) 2009-08-06
JP2009177140A5 true JP2009177140A5 (ja) 2010-08-26
JP5032451B2 JP5032451B2 (ja) 2012-09-26

Family

ID=40828741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008308984A Active JP5032451B2 (ja) 2007-12-28 2008-12-03 波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5032451B2 (ja)
CN (1) CN101471531B (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5505011B2 (ja) * 2010-03-23 2014-05-28 住友電気工業株式会社 波長可変レーザ駆動回路
JP2011209371A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 Mitsubishi Electric Corp 光変調器
JP2014522105A (ja) * 2011-07-22 2014-08-28 インサイト フォトニック ソリューションズ,インコーポレイテッド 波長連続及び規定された時間に対する波長掃引をレーザーから動的及び適応的に生成するシステム及び方法
JP2014013823A (ja) * 2012-07-04 2014-01-23 Sumitomo Electric Ind Ltd 波長可変半導体レーザの制御方法
US9184561B2 (en) * 2013-09-30 2015-11-10 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method to determine operating conditions of wavelength tunable laser diode and to control optical transmitter providing wavelength tunable laser diode
JP6581024B2 (ja) * 2016-03-15 2019-09-25 株式会社東芝 分布帰還型半導体レーザ
CN105826811B (zh) * 2016-05-06 2020-10-23 华中科技大学 一种可调谐激光器的表征方法及装置
JP6815885B2 (ja) * 2017-02-14 2021-01-20 古河電気工業株式会社 波長可変光源の制御装置および制御方法
CN109412010B (zh) * 2018-12-14 2020-09-01 陕西聚力思创通信科技有限公司 一种延长激光稳频系统平均无故障工作时间的方法
CN111103055A (zh) * 2019-11-27 2020-05-05 上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所) 一种光功率自动校准系统及方法
CN117433645B (zh) * 2023-10-30 2024-06-18 重庆航伟光电科技有限公司 一种半导体激光器波长测量方法、装置、芯片及终端

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6116589A (ja) * 1984-07-02 1986-01-24 Omron Tateisi Electronics Co 半導体レ−ザの動作温度設定装置
JPS6123378A (ja) * 1984-07-11 1986-01-31 Omron Tateisi Electronics Co 半導体レ−ザのモ−ドホツプ検出回路
SE519081C3 (sv) * 1998-01-21 2003-02-19 Altitun Ab Förfarande och anordning för optimering av lasrars operationspunkt, jämte anordning
JP2001156387A (ja) * 1999-11-24 2001-06-08 Yokogawa Electric Corp 周波数安定化レーザ光源
JP2001244554A (ja) * 2000-02-25 2001-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 半導体レーザ駆動装置、半導体レーザ駆動方法及び画像形成装置
US6868100B2 (en) * 2001-12-04 2005-03-15 Agility Communications, Inc. Methods for robust channel switching of widely-tunable sampled-grating distributed bragg reflector lasers
JP4141715B2 (ja) * 2002-03-25 2008-08-27 三菱電機株式会社 波長可変半導体レーザの波長制御装置、波長制御方法および波長可変半導体レーザ装置
JP2005524246A (ja) * 2002-04-30 2005-08-11 アジレント・テクノロジーズ・インク パラメータ補正を有する波長可変レーザ光源
JP4104925B2 (ja) * 2002-07-10 2008-06-18 三菱電機株式会社 波長可変半導体レーザの波長制御装置
JP2004241659A (ja) * 2003-02-06 2004-08-26 Japan Science & Technology Agency 2波長型半導体レーザ装置、2波長型干渉計測装置、2波長型半導体レーザ発振方法及び2波長型干渉計測方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009177140A5 (ja)
JP2014045172A5 (ja) 波長可変レーザの制御方法
JP2015106665A5 (ja)
JP6050607B2 (ja) レーザ加工装置及びレーザ出力校正方法
US8830005B2 (en) Optical module for atomic oscillator and atomic oscillator
US9222810B1 (en) In situ calibration of a light source in a sensor device
JP2015050283A5 (ja)
JP2014184023A5 (ja)
JP2015144190A5 (ja)
EP2869412A3 (en) Optical module and atomic oscillator
KR101378308B1 (ko) 레이저를 제어하는 제어기 및 방법
JP2016066671A (ja) 波長可変光源および温度制御初期値の決定方法
JP6111534B2 (ja) 光計測装置及び制御方法
JP2016070687A (ja) 濃度測定装置
KR101356386B1 (ko) 파이버 타입 펨토초 레이저의 펄스 안정화 장치 및 그 방법
JP2006210826A (ja) 光学装置、光学装置の制御方法、レーザモジュール、レーザ装置、レーザ装置の制御装置およびレーザ装置の制御方法
JPWO2016046905A1 (ja) 測定装置及び測定方法、並びにコンピュータプログラム及び記録媒体
JP2015088675A5 (ja)
JP2006210826A5 (ja)
JP2012042630A (ja) 光源装置
US8982917B2 (en) Solid-state laser device
JP6278886B2 (ja) レーザダイオードの温度制御回路、光送信器およびレーザダイオードの温度制御方法
JP2015126196A5 (ja) 波長可変レーザの制御方法
WO2018135590A1 (ja) 物質検出装置
JP5510298B2 (ja) 固体レーザ装置