JP2009172375A - 光スイッチを通る電流漏れの検出 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光スイッチをテストする装置は、電源と光スイッチの入力部との間に接続する第1の検出抵抗器と、光スイッチの出力部に接続する第2の検出抵抗器とを含む。テスト回路が、第1の検出抵抗器を流れる第1の電流および第2の検出抵抗器を流れる第2の電流を検出するように接続され、第1の電流と第2の電流との間の関係に応答してテスト信号を生成する。制御装置は、テスト信号を受信するように接続され、テスト信号が事前に設定された限界値を超えると保護動作を実行する。
【選択図】図2
Description
本発明は、概して電子回路および機器に関し、特に機器のテストおよび安全に関する。
光スイッチ(オプトアイソレータまたはオプトカプラーとも言う)は、短い光伝送経路を用いて、回路の要素を電気的に絶縁しながら、その要素間で信号を伝送する。光スイッチは、医療機器において、機器の回路から患者の体への電流漏れを防止するために使用される。光スイッチは、高電圧下であってもほとんど漏電しないと考えられている。しかし、光スイッチが故障すると、高い漏電流が患者に流れる場合がある。漏電流が心カテーテルを流れると、例えば致死的な結果をもたらす可能性がある。
本発明の発明者によれば、医療機器への装備前に事前テストを行って認証された光スイッチであっても、機器の操作時に故障する可能性が残る。機器が患者の体に接触しているとき、このような故障からの保護が極めて重要になり得る。本発明の実施形態において、このような故障を確実に検出するために、テスト回路が医療機器に付け加えられる。テスト回路は、光スイッチを通る漏電流を示すテスト信号を出力する。制御装置は、信号を受信し、信号が事前に設定された限界値を超えると、保護動作を実行する。
図1は、本発明の実施形態による、患者22を治療する侵襲性医療システム20の概略図であり、図解したものである。このシステムは、本発明の用途の理解を助けるための例として示すものである。しかし、本発明の原理は、このような特定の種類のシステムに何ら限定されるものではなく、患者の体に接触するほぼあらゆる種類の電気医療機器と共に利用することができる。後述するオプトアイソレータのテスト用回路および技術は、オプトアイソレータを電気的な絶縁のために利用する他のタイプの機器およびシステムにも、適応可能である。
(1)光スイッチをテストする装置において、
電源と前記光スイッチの入力部との間に接続された第1の検出抵抗器と、
前記光スイッチの出力部に接続された第2の検出抵抗器と、
前記第1の検出抵抗器を流れる第1の電流および前記第2の検出抵抗器を流れる第2の電流を検出し、前記第1の電流と前記第2の電流との間の関係に応答してテスト信号を生成するように接続されたテスト回路と、
前記テスト信号を受信し、前記テスト信号が事前に設定された限界値を超えると、保護動作を実行するように接続された制御装置と、
を備える、装置。
(2)実施態様1に記載の装置において、
前記光スイッチは、患者の体内への電流漏れを防止するために医療機器において使用され、
前記テスト回路および前記制御装置は、前記医療機器が前記体と接触している間、前記保護動作を実行するために、前記医療機器に装備される、装置。
(3)実施態様2に記載の装置において、
前記制御装置は、前記医療機器が前記体と接触していないときに実行される較正段階において、前記テスト信号を測定することにより、前記限界値を決定するように構成される、装置。
(4)実施態様1に記載の装置において、
前記保護動作は、前記電源を前記光スイッチから遮断することを含む、装置。
(5)実施態様4に記載の装置において、
前記制御装置は、前記テスト信号が前記限界値を超えたと判断すると、カウンタを増加させ、前記カウンタが事前に設定された閾値に達すると、前記光スイッチを前記電源から遮断するように構成される、装置。
(6)実施態様5に記載の装置において、
前記制御装置は、前記テスト信号が前記限界値より低いと判断すると、前記カウンタを減少させるように構成される、装置。
(7)実施態様1に記載の装置において、
前記電源ならびに前記第1および第2の検出抵抗器を、複数の光スイッチの各々と接続させるように構成された、多重回路、
を備え、
前記制御装置は、前記多重回路によって選択された前記光スイッチの各々による前記テスト信号を評価するように構成される、装置。
(8)実施態様7に記載の装置において、
前記多重回路は、前記光スイッチの多数の対の各々を、前記電源ならびに前記第1および第2の検出抵抗器と同時に接続させることにより、前記テスト回路が、前記対の各々について前記第1および第2の電流を検出するように構成され、
前記制御装置は、前記対の各々による前記テスト信号を評価するように構成される、装置。
(9)実施態様1に記載の装置において、
前記テスト回路は、前記第1の検出抵抗器をはさんで接続される第1の差動増幅器であって、第1の出力部を有する、第1の差動増幅器と、前記第2の検出抵抗器をはさんで接続される第2の差動増幅器であって、第2の出力部を有する、第2の差動増幅器と、前記第1および第2の出力部を通して接続される第3の差動増幅器であって、前記第1の電流と前記第2の電流との間の差に応答して前記テスト信号を生成する第3の差動増幅器と、を備える、装置。
(10)医療機器の光スイッチをテストする方法において、
較正段階の間、前記光スイッチの入力部へと流れる第1の電流と、前記光スイッチの出力部から流れる第2の電流との間の第1の関係を測定し、第1のテスト信号を、前記第1の関係に応答して生成することと、
前記第1のテスト信号に応答して、前記光スイッチを通る漏電流に対する限界値を設定することと、
前記医療機器を患者の体に接触する状態で操作する間に、前記光スイッチの前記入力部へと流れる前記第1の電流と、前記光スイッチの前記出力部から流れる前記第2の電流との間の第2の関係に応答して、第2のテスト信号を生成することと、
前記第2のテスト信号が前記限界値を超えると、保護動作を実行することと、
を含む、方法。
前記保護動作を実行することは、前記光スイッチを、前記第1および第2の電流を供給する電源から遮断することを含む、方法。
(12)実施態様11に記載の方法において、
前記保護動作を実行することは、前記第2のテスト信号が前記限界値を超えたと判断すると、カウンタを増加させること、および前記カウンタが事前に設定された閾値に達すると、前記光スイッチを前記電源から遮断することを含む、方法。
(13)実施態様12に記載の方法において、
前記第2のテスト信号が前記限界値より低いと判断すると、前記カウンタを減少させること、
を含む、方法。
(14)実施態様10に記載の方法において、
前記第1および第2の関係は、前記第1の電流と前記第2の電流との間の第1および第2の差をそれぞれ含む、方法。
(15)実施態様10に記載の方法において、
前記医療機器の前記操作は、複数の光スイッチの間で多重化させることを含み、
前記第2のテスト信号を生成することは、前記多重化によって選択された前記光スイッチの各々による前記第2のテスト信号を評価することを含む、方法。
(16)実施態様15に記載の方法において、
前記複数の前記光スイッチの間で多重化させることは、前記光スイッチの多数の対の各々を選択することと、前記対についての前記第1および第2の電流を検出することと、を含み、
前記第2のテスト信号を評価することは、前記対の各々による前記第2のテスト信号を確認することを含む、方法。
(17)実施態様15に記載の方法において、
前記限界値を設定することは、前記複数の前記光スイッチについての前記第1のテスト信号の平均を得ることと、前記平均に応答して前記限界値を設定することと、を含む、方法。
Claims (17)
- 光スイッチをテストする装置において、
電源と前記光スイッチの入力部との間に接続された第1の検出抵抗器と、
前記光スイッチの出力部に接続された第2の検出抵抗器と、
前記第1の検出抵抗器を流れる第1の電流および前記第2の検出抵抗器を流れる第2の電流を検出し、前記第1の電流と前記第2の電流との間の関係に応答してテスト信号を生成するように接続されたテスト回路と、
前記テスト信号を受信し、前記テスト信号が事前に設定された限界値を超えると、保護動作を実行するように接続された制御装置と、
を備える、装置。 - 請求項1に記載の装置において、
前記光スイッチは、患者の体内への電流漏れを防止するために医療機器において使用され、
前記テスト回路および前記制御装置は、前記医療機器が前記体と接触している間、前記保護動作を実行するために、前記医療機器に装備される、装置。 - 請求項2に記載の装置において、
前記制御装置は、前記医療機器が前記体と接触していないときに実行される較正段階において、前記テスト信号を測定することにより、前記限界値を決定するように構成される、装置。 - 請求項1に記載の装置において、
前記保護動作は、前記電源を前記光スイッチから遮断することを含む、装置。 - 請求項4に記載の装置において、
前記制御装置は、前記テスト信号が前記限界値を超えたと判断すると、カウンタを増加させ、前記カウンタが事前に設定された閾値に達すると、前記光スイッチを前記電源から遮断するように構成される、装置。 - 請求項5に記載の装置において、
前記制御装置は、前記テスト信号が前記限界値より低いと判断すると、前記カウンタを減少させるように構成される、装置。 - 請求項1に記載の装置において、
前記電源ならびに前記第1および第2の検出抵抗器を、複数の光スイッチの各々と接続させるように構成された、多重回路、
を備え、
前記制御装置は、前記多重回路によって選択された前記光スイッチの各々による前記テスト信号を評価するように構成される、装置。 - 請求項7に記載の装置において、
前記多重回路は、前記光スイッチの多数の対の各々を、前記電源ならびに前記第1および第2の検出抵抗器と同時に接続させることにより、前記テスト回路が、前記対の各々について前記第1および第2の電流を検出するように構成され、
前記制御装置は、前記対の各々による前記テスト信号を評価するように構成される、装置。 - 請求項1に記載の装置において、
前記テスト回路は、前記第1の検出抵抗器をはさんで接続される第1の差動増幅器であって、第1の出力部を有する、第1の差動増幅器と、前記第2の検出抵抗器をはさんで接続される第2の差動増幅器であって、第2の出力部を有する、第2の差動増幅器と、前記第1および第2の出力部を通して接続される第3の差動増幅器であって、前記第1の電流と前記第2の電流との間の差に応答して前記テスト信号を生成する第3の差動増幅器と、を備える、装置。 - 医療機器の光スイッチをテストする方法において、
較正段階の間、前記光スイッチの入力部へと流れる第1の電流と、前記光スイッチの出力部から流れる第2の電流との間の第1の関係を測定し、第1のテスト信号を、前記第1の関係に応答して生成することと、
前記第1のテスト信号に応答して、前記光スイッチを通る漏電流に対する限界値を設定することと、
前記医療機器を患者の体に接触する状態で操作する間に、前記光スイッチの前記入力部へと流れる前記第1の電流と、前記光スイッチの前記出力部から流れる前記第2の電流との間の第2の関係に応答して、第2のテスト信号を生成することと、
前記第2のテスト信号が前記限界値を超えると、保護動作を実行することと、
を含む、方法。 - 請求項10に記載の方法において、
前記保護動作を実行することは、前記光スイッチを、前記第1および第2の電流を供給する電源から遮断することを含む、方法。 - 請求項11に記載の方法において、
前記保護動作を実行することは、前記第2のテスト信号が前記限界値を超えたと判断すると、カウンタを増加させること、および前記カウンタが事前に設定された閾値に達すると、前記光スイッチを前記電源から遮断することを含む、方法。 - 請求項12に記載の方法において、
前記第2のテスト信号が前記限界値より低いと判断すると、前記カウンタを減少させること、
を含む、方法。 - 請求項10に記載の方法において、
前記第1および第2の関係は、前記第1の電流と前記第2の電流との間の第1および第2の差をそれぞれ含む、方法。 - 請求項10に記載の方法において、
前記医療機器の前記操作は、複数の光スイッチの間で多重化させることを含み、
前記第2のテスト信号を生成することは、前記多重化によって選択された前記光スイッチの各々による前記第2のテスト信号を評価することを含む、方法。 - 請求項15に記載の方法において、
前記複数の前記光スイッチの間で多重化させることは、前記光スイッチの多数の対の各々を選択することと、前記対についての前記第1および第2の電流を検出することと、を含み、
前記第2のテスト信号を評価することは、前記対の各々による前記第2のテスト信号を確認することを含む、方法。 - 請求項15に記載の方法において、
前記限界値を設定することは、前記複数の前記光スイッチについての前記第1のテスト信号の平均を得ることと、前記平均に応答して前記限界値を設定することと、を含む、方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019116449A1 (ja) * | 2017-12-12 | 2019-06-20 | オリンパス株式会社 | 処置システム |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8386849B2 (en) * | 2010-01-29 | 2013-02-26 | Honeywell International Inc. | Noisy monitor detection and intermittent fault isolation |
US8130032B1 (en) * | 2010-09-29 | 2012-03-06 | Texas Instruments Incorporated | Systems and methods for high-sensitivity detection of input bias current |
US8600334B2 (en) * | 2011-07-13 | 2013-12-03 | Biosense Webster (Israel), Ltd. | Patient leakage current limitation |
WO2013077882A1 (en) * | 2011-11-23 | 2013-05-30 | Intel Corporation | Current tests for i/o interface connectors |
CN104749461B (zh) * | 2015-03-23 | 2018-08-14 | 国家电网公司 | 一种一次加压通流装置、智能变电系统及其控制方法 |
CN108183634B (zh) * | 2018-01-19 | 2024-04-19 | 浙江正泰电器股份有限公司 | 具有旁路开关故障保护的软起动器 |
CN113721070B (zh) * | 2020-05-26 | 2024-03-29 | 天津首瑞智能电气有限公司 | 一种剩余电流检测装置和剩余电流检测方法 |
CN114607155B (zh) * | 2022-03-18 | 2023-11-24 | 东莞市简从科技有限公司 | 一种自动铺料设备 |
CN116466149B (zh) * | 2023-02-28 | 2024-01-16 | 济南铸锻所检验检测科技有限公司 | 一种光电保护装置响应时间检测的装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62227370A (ja) * | 1986-03-29 | 1987-10-06 | 理研医療電機株式会社 | 低周波電気治療器 |
JPH02183176A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-17 | Yamatake Honeywell Co Ltd | ヒーターの断線検出装置 |
JPH04238272A (ja) * | 1991-01-22 | 1992-08-26 | Nippon Inter Electronics Corp | 漏洩電流検知機能を備えた電力供給回路 |
JP2002098733A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-05 | Sharp Corp | 半導体装置の選別方法 |
JP2005279033A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Niigata Tlo:Kk | 電池式低漏洩電流アイソレータ |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3963981A (en) | 1974-10-09 | 1976-06-15 | J. M. Richards Laboratories | Leakage and continuity tester |
US4142150A (en) * | 1977-06-27 | 1979-02-27 | Western Electric Company, Inc. | High-speed measurement of ICEO in transistors and opto-isolators |
US4216462A (en) * | 1978-03-06 | 1980-08-05 | General Electric Company | Patient monitoring and data processing system |
US5323014A (en) | 1993-03-01 | 1994-06-21 | Aeg Transportation Systems, Inc. | Optocoupler built-in self test for applications requiring isolation |
DE19510333C1 (de) * | 1995-03-22 | 1996-10-31 | Pilz Gmbh & Co | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Testen von Optokopplern |
JP3452445B2 (ja) * | 1996-07-23 | 2003-09-29 | 株式会社日立産機システム | 漏電遮断器 |
TW490393B (en) * | 2001-02-09 | 2002-06-11 | Ind Tech Res Inst | Apparatus for detecting of heating device for optical printing head of hot bubble type printer |
DE60319770T2 (de) * | 2002-05-29 | 2009-04-23 | Imec Vzw, Interuniversitair Microelectronica Centrum Vzw | Gerät und Verfahren, um die Leistung von Mikromaschinen oder mikroelektromechanischen Bauelementen zu bestimmen |
JP4082676B2 (ja) * | 2003-05-29 | 2008-04-30 | 株式会社デンソー | 漏電検出装置の検査システム |
CN2694288Y (zh) * | 2004-03-26 | 2005-04-20 | 佛山市创电电源设备有限公司 | 开关柜漏电流检测报警装置 |
CN2783594Y (zh) * | 2005-01-27 | 2006-05-24 | 珠海格力电器股份有限公司 | 自动式漏电保护器 |
DE102006030114B4 (de) * | 2006-06-28 | 2010-09-09 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Sichere Eingangsschaltung mit einkanaligem Peripherieanschluss für den Eingang eines Busteilnehmers |
JP4238272B2 (ja) | 2007-05-08 | 2009-03-18 | 本田技研工業株式会社 | 電動ミラー制御装置および電動ミラー制御方法 |
-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62227370A (ja) * | 1986-03-29 | 1987-10-06 | 理研医療電機株式会社 | 低周波電気治療器 |
JPH02183176A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-17 | Yamatake Honeywell Co Ltd | ヒーターの断線検出装置 |
JPH04238272A (ja) * | 1991-01-22 | 1992-08-26 | Nippon Inter Electronics Corp | 漏洩電流検知機能を備えた電力供給回路 |
JP2002098733A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-05 | Sharp Corp | 半導体装置の選別方法 |
JP2005279033A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Niigata Tlo:Kk | 電池式低漏洩電流アイソレータ |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019116449A1 (ja) * | 2017-12-12 | 2019-06-20 | オリンパス株式会社 | 処置システム |
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