JP2009170019A - 光ディスクの表面評価方法及び光ディスク記録再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 サーボ信号に基づく評価値を用いて光ディスクの光透過層の表面の評価を行う際に、サーボ残差とデータ復号エラーの発生量との相関関係が低いために評価の精度が低いという課題を解決する。
【解決手段】 フォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出し、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出し、該評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、サーボ動作に影響を与える光ディスクの表面の凹凸による欠陥を光学的に検出して評価を行う方法と、その方法を用いて光ディスクの合否判定を行う記録再生装置に関するものである。

追記型ＣＤ（ＣＤ−Ｒ）、追記型ＤＶＤ（ＤＶＤ±Ｒ）または追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−Ｒ）等の光ディスクは、光透過性ディスク状基板の一方の面上に、記録層、反射層、及び必要に応じて保護層を形成した構造を有している。また、前記基板の一方の面にはグルーブと呼ばれる螺旋状または同心円状の溝が形成され、隣り合うグルーブの間はランドと呼ばれる凸部となっている。このような光ディスクは、記録用レーザ光をグルーブ上の記録層に照射してピットを形成することにより記録が行われ、このピットの長さ、ピットとピットの間の部分（スペース）の長さ及びこれらの配列を、再生用レーザ光を照射して反射光を光電変換して再生信号として読み取ることによって再生が行われる。

このような光ディスクは、記録用レーザ光及び再生用レーザ光が光透過層を通して記録層に照射される。ここで光透過層は、ＣＤ−ＲやＤＶＤ±Ｒの場合は光透過性ディスク状基板（厚さはＣＤ−Ｒの場合１．２ｍｍ、ＤＶＤ±Ｒの場合０．６ｍｍ）の上に記録層、反射層が順次形成された構造を有するので、光透過性ディスク状基板が光透過層に相当する。また、ＢＤ−Ｒの場合は厚さ１．１ｍｍの光透過性ディスク状基板の上に反射層、記録層が順次形成され、記録層上に厚さ０．１ｍｍの透明のカバー層が形成された構造を有するので、透明のカバー層が光透過層に相当する。

このような光ディスクは、生産時におけるバラツキ等の原因により、光透過層の表面に凹凸が形成される場合がある。特にＢＤ−Ｒの場合、光透過層となる透明のカバー層は透明な硬化性樹脂をスピンコート法で塗布して硬化させる方法または透明な樹脂シートを貼りつける方法によって形成される。そのため光透過層となるカバー層の表面に凹凸が形成されやすい。このような凹凸が形成された光ディスクに記録用レーザ光及び再生用レーザ光を照射した場合、凹凸による厚みバラツキによってレーザ光の焦点位置に目標とする位置からのズレが生じる。このズレが所定の閾値を超えると、球面収差やデフォーカス等のフォーカスエラーや、トラッキングエラーが発生する。フォーカスエラーやトラッキングエラーは、データ復号エラー等のような、光ディスクへの書き込み及び光ディスクからのデータの読み出しが正常に行われないような影響を与える。特に近年は光ディスクの記録再生速度の高速化が進んでおり、その影響はさらに大きくなってきている。そこでこれらのエラーを防止するため、光ディスクの光透過層の表面の評価が必要になっている。

光ディスクの光透過層表面の凹凸による欠陥を検出する方法としては、特開２００７−０９５２１９号公報に開示されているように、サーボ信号の目標値からのズレを検出する方法がある。そしてこのサーボ信号の目標値からのズレと、例えばデータ復号エラーの発生量との相関関係から、光ディスクの光透過層の表面の評価を行う方法が考えられている。

図１５に光ディスクの任意のグルーブにレーザ光を照射して一周したときに検出されたフォーカスのサーボ信号の推移を示す。ここで閾値は、データ復号エラーが発生するズレ量すなわちサーボ残差とする。検出されたサーボ信号には光ディスクの光透過層表面の凹凸によってサーボ残差が発生する。このとき、サーボ残差Ｂは閾値の範囲内であるが、サーボ残差Ａは閾値を超えている。この光ディスクは、最もズレ量の大きいサーボ残差Ａを評価値として用い、図１６に示すグラフのようなサーボ残差とデータ復号エラーの量との相関関係から光透過層の表面の評価が行われる。なお、データ復号エラーの量の基準値は、光ディスクからのデータの読み出しが不能になるような量とする。

特開２００７−０９５２１９号公報

しかし、サーボ残差とデータ復号エラーの量との相関関係は、図１６に示すグラフのように、実際にはサーボ残差が閾値以下でもデータ復号エラーの量が基準値を超える場合や、サーボ残差が閾値を超えていてもデータ復号エラーの量が基準値以下である場合があり、相関係数が比較的低いものであった。

この原因は以下のように考えられる。サーボ残差を評価値として用いた場合、光透過層の一部に閾値を超える部分があれば、そのサーボ残差の値が光ディスクの評価値となる。一方光ディスクは、光透過層の一部に閾値を超える部分があっても、その他の部分が閾値以下であれば、データ復号エラーの量が基準値以下となり、光ディスクへのデータの書き込みまたは光ディスクからのデータの読み出しが問題なく行うことができる。このため、サーボ残差とデータ復号エラーの量との相関関係は、相関係数が比較的低くなるものと考えられる。

本発明は、サーボ信号に基づいた評価値を用いる光ディスクの光透過層表面の凹凸を評価する方法であって、上記の問題点を解決して、比較的高い相関関係が得られる方法を提案するものである。

本発明では第一の解決手段として、記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光及び再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクの表面を評価する方法において、前記光ディスクの前記光透過層表面にレーザ光を照射して、その反射光によって得られる信号からフォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出するステップと、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出するステップと、前記評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価するステップと、を有する光ディスクの表面評価方法を提案する。

上記第一の解決手段では、サーボ信号の目標値からのズレの量をそのズレのピークの継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、この積分した値を評価値として用いている。このことにより、閾値を超えた部分を定量的に示すことができるため、データ復号エラーの発生量との相関関係について、相関係数を高くすることができる。これによって従来よりも高い精度で光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価することができる。なお、積分値を得るために継続時間と線速度との積で算出される距離で積分するのは、線速度すなわち光ディスクの回転によるグルーブの移動速度によってフォーカス及びトラッキングの追従性が変わり、それに伴ってサーボ信号のピーク高さが変わることにより、積分値が変化するためである。

また、本発明では第ニの解決手段として、上記第一の解決手段に加えて、前記所定の閾値を複数段階設け、それぞれの閾値を超えた部分の積分値と重み付けのための係数との積を合計して評価値として用いる光ディスクの表面評価方法を提案する。この第二の解決手段によれば、各々の閾値を超えた部分に重み付けを行うことで、相関関係をより高くすることができる。これにより、より高い精度で光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価することができる。

また、本発明では第三の解決手段として、前記光ディスクの前記光透過層表面にレーザ光を照射したときの反射光によって得られる信号からサーボ信号を検出するフォーカスのサーボ信号検出部及びトラッキングのサーボ信号検出部と、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、得られた積分値を合計して評価値を算出する積分手段と、前記評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する評価手段と、を有する光ディスク記録再生装置を提案する。

上記第三の解決手段によれば、データ復号エラーの発生量との相関関係について、相関係数を高くすることができる。これによって従来よりも高い精度で光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価することができる。

本発明によれば、サーボ信号に基づく評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係について、相関係数を高くすることができるので、高い精度で光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価することができる。

本発明の実施の形態における記録再生装置を、図１を用いて説明する。光ディスク記録再生装置１００は、光ピックアップ１１０と、光ピックアップ１１０の制御を行う光ピックアップ駆動制御部１２１と、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データ（例えば各メディアＩＤに対応するストラテジデータ）などを格納するメモリ１２６と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路を含む演算部１２５と、記録用レーザ光及び再生用レーザ光の制御を行うレーザダイオード駆動制御部１２２と、光ピックアップ１１０からの信号に基づいてトラッキングのサーボ信号を検出するトラッキングのサーボ信号検出部１２３と、光ピックアップ１１０からの信号に基づいてフォーカスのサーボ信号を検出するフォーカスのサーボ信号検出部１２４と、光ディスク１５０の回転制御部（図示しない）及びモータ並びに光ピックアップ１１０用のサーボ制御部（図示しない）等を含む。

また、光ピックアップ１１０は、対物レンズ１１３と、ビームスプリッタ１１５と、検出レンズ１１４と、コリメートレンズ１１２と、レーザダイオード１１１と、フォトディテクタ１１６とを含む。光ピックアップ１１０では、図示しないサーボ制御部の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。

演算部１２５は、メモリ１２６、トラッキングのサーボ信号検出部１２３、フォーカスのサーボ信号検出部１２４、光ピックアップ駆動制御部１２１、レーザダイオード駆動制御部１２２、図示しない回転制御部及びサーボ制御部などに接続されている。また、演算部１２５は、メモリ回路に格納されているプログラムを実行することによって、積分手段および評価手段として機能するようになっている。さらに、フォーカスのサーボ信号検出部１２４は、フォトディテクタ１１６及び演算部１２５に接続されている。また、トラッキングのサーボ信号検出部１２３は、フォトディテクタ１１６及び演算部１２５に接続されている。光ピックアップ駆動制御部１２１は、演算部１２５及び光ピックアップ１１０に接続されている。また、レーザダイオード駆動制御部１２２は、演算部１２５及びレーザダイオード１１１に接続されている。演算部１２５は、インターフェース部（図示せず）を介して入出力システム（図示せず）にも接続されている。

次に、フォーカスのサーボ信号検出部１２４の動作について、図２乃至図４を用いて説明する。図２に示すように、フォーカスのサーボ信号検出部１２４には２つの加算回路と、この２つの加算回路と接続される差分回路を有している。フォトディテクタＰＤはＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの領域に４等分されており、対角線上に並ぶＡとＣがフォーカスのサーボ信号検出部１２４の一方の加算回路と接続され、同様にＢとＤがフォーカスのサーボ信号検出部１２４の他方の加算回路と接続されている。フォトディテクタＰＤに反射光によるスポットＳＰが形成されると、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各領域に起電力が発生する。フォーカスのサーボ信号検出部１２４の２つの加算回路は、各々接続された領域からの起電力を加算して、差分回路に対して加算信号を出力する。差分回路は各々の加算回路から出力された加算信号に基づいて、ＦＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）となるサーボ信号ＦＳを出力する。サーボ信号ＦＳは、目標値にある場合は、０となる。

フォーカスの位置が近い場合、スポットＳＰが図３に示すように変形する。このような場合、スポットＳＰがフォトディテクタＰＤに当たる面積が、ＡとＣで大きく、ＢとＤで小さくなる。よってＦＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）となるサーボ信号ＦＳは＋側に変位する。

フォーカスの位置が遠い場合、スポットＳＰが図４に示すように変形する。このような場合、スポットＳＰがフォトディテクタＰＤに当たる面積が、ＡとＣで小さく、ＢとＤで大きくなる。よってＦＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）となるサーボ信号ＦＳは−側に変位する。

以上のようにして、フォーカスのサーボ信号検出部１２４はサーボ信号ＦＳを検出することができる。

次に、トラッキングのサーボ信号検出部１２３の動作について、図５乃至図１０を用いて説明する。トラッキングについては、３ビーム法あるいはプッシュプル法があるので、それぞれについて説明する。

図５に３ビーム法のトラッキング制御の模式図を示す。トラッキングのサーボ信号検出部１２３は、差分回路を有している。３ビーム法はレーザダイオード１１１からのレーザ光を回折格子でメインビームＭＢ、サブビームＳＢ１及びサブビームＳＢ２に分岐させて目標とするグルーブＧＶに照射され、メインビームＭＢのスポットＭＢＰ、サブビームＳＢ１のスポットＳＢＰ１及びサブビームＳＢ２のスポットＳＢＰ２が形成される。フォトディテクタＰＤは、メインビームＭＢ用のフォトディテクタ、サブビームＳＢ１用のフォトディテクタ及びサブビームＳＢ２用のフォトディテクタを有しており、サブビームＳＢ１用のフォトディテクタ及びサブビームＳＢ２用のフォトディテクタはトラッキングのサーボ信号検出部１２３の差分回路に接続されている。差分回路はサブビームＳＢ１用のフォトディテクタとサブビームＳＢ２用のフォトディテクタとの信号の強度差に基づいて、サーボ信号ＴＳを出力する。サーボ信号ＴＳは、目標値にある場合は、サブビームＳＢ１用のフォトディテクタとサブビームＳＢ２用のフォトディテクタとの信号の強度差がないので０となる。

トラッキングが図６のような位置の場合、サブビームＳＢ１のスポットＳＢＰ１はグルーブＧＶにかかる面積が大きくなる。一方サブビームＳＢ２のスポットＳＢＰ２はランドＬＮにかかる面積が大きくなる。反射光の強度はグルーブＧＶからの反射光よりもランドＬＮからの反射光の方が大きいので、サブビームＳＢ１の反射光よりもサブビームＳＢ２の反射光の方が信号の強度が大きくなる。その結果、サーボ信号は−側に変位する。

トラッキングが図７のような位置の場合、サブビームＳＢ１のスポットＳＢＰ１はランドＬＮにかかる面積が大きくなる。一方サブビームＳＢ２のスポットＳＢＰ２はグルーブＧＶにかかる面積が大きくなる。そのため、サブビームＳＢ１の反射光の方がサブビームＳＢ２の反射光よりも信号の強度が大きくなる。その結果、サーボ信号は＋側に変位する。

３ビーム法におけるトラッキングのサーボ信号検出部１２３は、上記のようにしてサーボ信号ＴＳを検出することができる。

一方、プッシュプル法のトラッキング制御の模式図を図８に示す。トラッキングのサーボ信号検出部１２３には２つの加算回路と、この２つの加算回路と接続される差分回路を有している。フォトディテクタＰＤはＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの領域に４等分されており、グルーブＧＶに平行な方向に並ぶＡとＢがトラッキングのサーボ信号検出部１２３の一方の加算回路と接続され、同様にＣとＤがトラッキングのサーボ信号検出部１２３の他方の加算回路と接続されている。フォトディテクタＰＤに反射光によるスポットＳＰが形成されると、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各領域に起電力が発生する。トラッキングのサーボ信号検出部１２３の２つの加算回路は、各々接続された領域からの起電力を加算して、差分回路に対して加算信号を出力する。差分回路は各々の加算回路から出力された加算信号に基づいて、ＴＳ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）となるサーボ信号ＴＳを出力する。サーボ信号ＴＳは、目標値にある場合は、各領域にかかるグルーブＧＶとランドＬＮの面積が等しいので、０となる。

トラッキングの位置が図９に示す位置にある場合、グルーブＧＶにかかる面積が、フォトディテクタＰＤの領域のうちＡとＢで小さく、ＣとＤで大きくなる。反射光の強度はグルーブＧＶからの反射光よりもランドＬＮからの反射光の方が大きいので、グルーブＧＶにかかる面積が大きいＣとＤの領域からの信号強度は、ＡとＢの領域からの信号強度よりも小さくなる。よってＴＳ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）となるサーボ信号ＴＳは＋側に変位する。

トラッキングの位置が図１０に示す位置にある場合、グルーブＧＶにかかる面積が、フォトディテクタＰＤの領域のうちＡとＢで大きく、ＣとＤで小さくなる。そのため、グルーブＧＶにかかる面積が大きいＡとＢの領域からの信号強度は、ＣとＤの領域からの信号強度よりも小さくなる。よってＴＳ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）となるサーボ信号ＴＳは−側に変位する。

プッシュプル法におけるトラッキングのサーボ信号検出部１２３は、上記のようにしてサーボ信号ＴＳを検出することができる。

次に、本発明の評価方法に用いる評価値を算出する方法について説明する。なお、以下の説明については、トラッキングのサーボの場合でもフォーカスのサーボの場合でも同様であるので、特に断りがない場合は単に「サーボ」と表記する。

トラッキングのサーボ信号検出部１２３またはフォーカスのサーボ信号検出部１２４からのサーボ信号は、演算部１２５に積分手段に送信される。積分手段は、サーボ信号とともに、サンプリング時間を読み込む。読み込んだサーボ信号をサンプリング時間の順に時系列で並べることにより、図１１のようなサーボ信号の推移が検出される。

続いて、サーボ信号の推移から得られたピークのうち、閾値を超えた部分について、閾値からのピーク高さを、その継続時間ｔと線速度との積で算出される距離で積分し、積分値α１を得る。すなわち、積分値α１は、継続時間ｔ中におけるサンプリング数をｚ、閾値を超えた部分のピーク高さをＦ（ｒ）{ｒ＝１、２、・・・ｚ}、線速度をＶとすると、
α１＝Ｖ×（ｔ／ｚ）×ΣＦ（ｒ）
で算出される。なお、線速度Ｖは例えば光ディスク１５０の回転制御部（図示しない）の制御信号等から得ることができる。サーボ信号の推移の中に閾値を超えた部分がｎ箇所ある場合は、それぞれ積分して、評価値＝α１＋α２＋・・・＋αｎのように合計して評価値を算出する。得られた評価値は、メモリ１２６に記憶させておくか、評価手段に読み込ませる。

次に、評価値とデータ復号エラーの量との相関関係を示す検量線を導出する方法について説明する。まず、本発明の評価値を算出する方法によって予め評価値を特定した光ディスクをサンプルとして用意し、異なる評価値を有するサンプルディスクを数点用意する。次いでそれぞれの光ディスクに試験用データを記録する。なお、サンプルとしては、記録時に電気的にオフセットを加えてサーボ信号のズレを生じさせた状態でサンプルデータを記録した良品の光ディスクを用いても良い。

続いて、各々の光ディスクについて、データ復号エラーの量を測定し、得られた測定値と評価値とをプロットして、図１２に示すような検量線を得る。なお、データ復号エラーの量は、例えばパルステック工業（株）製のＯＤＵ−１０００等の測定装置によって検出される。図１２より、積分値である各評価値と、データ復号エラーの量との相関関係は、比較的高い相関係数を有していることがわかる。

続いて、図１２の検量線から、データ復号エラーの量の基準値に対応する評価値の基準値を求め、これを光ディスクの光透過層の表面の凹凸の評価に用いる。得られた相関関係は、光ディスク記録再生装置１００のメモリ１２６に記憶させておいても良いし、評価時に光ディスク記録再生装置１００にＣＤ−ＲＯＭやハードディスクドライブ等の外部記憶装置等を介して入力しても良い。また、検量線は、フォーカスのサーボ信号用の検量線とトラッキングのサーボ信号用の検量線があるので、適宜選択して作成しても良い。

次に本発明の評価方法に用いる評価値を算出する方法の別例について説明する。これは図１３に示すように、閾値を閾値α及び閾値βのように複数段階設けて、それぞれの閾値を超えた部分の積分値に重み付けのための係数を掛けて、これを合計したものを評価値として用いるものである。なお、閾値は＋側と−側があるが、＋側と−側とでデータ復号エラーの量への寄与度が異なる場合があるので、重み付けのための係数を＋側と−側とで異なる係数にしても良い。

閾値を複数段階設ける場合は、例えばデータ復号エラーが発生する頻度によって区分しても良い。各閾値を超えた部分について、その継続時間と線速度との積で算出される距離で積分する。そして、閾値αを超えた部分がｎ箇所ある場合はそれぞれ積分して、α１＋α２＋・・・＋αｎを算出し、これに重み付けのための係数Ｋαを掛ける。また閾値βを超えた部分がｍ箇所ある場合はそれぞれ積分して、β１＋β２＋・・・＋βｍを算出し、これに重み付けのための係数Ｋβを掛ける。

このようにして得られたＫα（α１＋α２＋・・・＋αｎ）とＫβ（β１＋β２＋・・・＋βｍ）を加算して、評価値＝Ｋα（α１＋α２＋・・・＋αｎ）＋Ｋβ（β１＋β２＋・・・＋βｍ）を得る。このような評価値を用いれば、より高い相関係数を有する相関関係を得ることができる。

次に、本発明の光ディスクの表面評価方法について、図１４に示すフローチャートに基づいて説明する。

まず、評価対象の光ディスク１５０を、評価装置となる光ディスク記録再生装置１００に挿入する。そしてレーザ光を照射して、サーボ信号を検出する（ステップＳ１）。続いて、検出したサーボ信号をサンプリング時間とともに積分手段に読み込む。読み込んだサーボ信号とサンプリング時間からサーボ信号の推移を検出する。検出したサーボ信号の推移から得られたピークのうち、閾値を超えた部分について積分を行い、得られた積分値から評価値を算出する（ステップＳ２）。算出した評価値は評価手段に入力する。

続いて、メモリ１２６または外部記憶装置等から評価値とデータ復号エラーの量との相関関係を読み込み、評価手段に入力する（ステップＳ３）。続いて、入力された相関関係から、積分手段で算出された評価値が基準値以内であるかどうかを判断する（ステップＳ４）。基準値以内であれば良品、基準値を超えていれば不良品と判断される。

以上、本発明の光ディスクの表面評価方法及び光ディスク記録再生装置について説明してきたが、本発明の範囲内であれば、閾値の設定や重み付けのための係数の設定等適宜変更可能である。また、本発明の光ディスクの表面評価方法の手順、積分手段及び評価手段は、プログラムの形で演算部１２５のメモリ回路に読み込ませることによって既存の光ディスク記録再生装置にて実行可能である。また、本発明の光ディスクの表面評価方法は、データ記録中にも実行可能であり、データ記録を行いながら光透過層の凹凸を評価し、評価値が基準値を超えた場合に書き込み速度を減速させたりデータ記録を中止させることもできる。

本発明の光ディスク記録再生装置を示す機能ブロック図である。 フォーカスのサーボ信号検出部を示すブロック図である。 フォーカスの状態を示す模式図で、（ａ）はフォトディテクタの状態、（ｂ）はフォーカスの位置を示す。 フォーカスの状態を示す模式図で、（ａ）はフォトディテクタの状態、（ｂ）はフォーカスの位置を示す。 ３ビーム法におけるトラッキングのサーボ信号検出部を示すブロック図である。 ３ビーム法におけるトラッキングの状態を示す模式図である。 ３ビーム法におけるトラッキングの状態を示す模式図である。 プッシュプル法におけるトラッキングのサーボ信号検出部を示すブロック図である。 プッシュプル法におけるトラッキングの状態を示す模式図である。 プッシュプル法におけるトラッキングの状態を示す模式図である。 本発明の評価方法に用いる評価値の算出方法を説明するための、サーボ信号の推移を示す図である。 本発明の方法による評価値と、データ復号エラー量との相関関係を示すグラフである。 本発明の評価方法に用いる評価値の算出方法の別例を説明するための、サーボ信号の推移を示す図である。 本発明の評価方法を示すフローチャートである。 従来の評価方法を説明するための、サーボ信号の推移を示す図である。 従来の方法による評価値と、データ復号エラー量との相関関係を示すグラフである。

符号の説明

１００ 光ディスク記録再生装置
１１０ 光ピックアップ部
１１１ レーザダイオード
１１２ コリメートレンズ
１１３ 対物レンズ
１１４ 検出レンズ
１１５ ビームスプリッタ
１１６ フォトディテクタ
１２１ 光ピックアップ駆動制御部
１２２ レーザダイオード駆動制御部
１２３ トラッキングのサーボ信号検出部
１２４ フォーカスのサーボ信号検出部
１２５ 演算部
１２６ メモリ
１５０ 光ディスク

Claims (3)

1. 記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光及び再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクの表面を評価する方法において、
   前記光ディスクの前記光透過層表面にレーザ光を照射して、その反射光によって得られる信号からフォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出するステップと、
   検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、得られた積分値を合計して評価値を算出するステップと、
   前記評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価するステップと、
   を有することを特徴とする光ディスクの表面評価方法。
2. 前記所定の閾値を複数段階設け、それぞれの閾値を超えた部分の積分値と重み付けのための係数との積を合計して評価値として用いることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの表面評価方法。
3. 記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光及び再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクに情報を記録する記録再生装置において、
   前記光ディスクの前記光透過層表面にレーザ光を照射したときの反射光によって得られる信号からサーボ信号を検出するフォーカスのサーボ信号検出部及びトラッキングのサーボ信号検出部と、
   検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、得られた積分値を合計して評価値を算出する積分手段と、
   前記評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する評価手段と、
   を有することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
   
   

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