JP2009160680A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009160680A5
JP2009160680A5 JP2007341518A JP2007341518A JP2009160680A5 JP 2009160680 A5 JP2009160680 A5 JP 2009160680A5 JP 2007341518 A JP2007341518 A JP 2007341518A JP 2007341518 A JP2007341518 A JP 2007341518A JP 2009160680 A5 JP2009160680 A5 JP 2009160680A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
mask blank
manufacturing
polishing
glass substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007341518A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2009160680A (ja
JP5306644B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2007341518A priority Critical patent/JP5306644B2/ja
Priority claimed from JP2007341518A external-priority patent/JP5306644B2/ja
Publication of JP2009160680A publication Critical patent/JP2009160680A/ja
Publication of JP2009160680A5 publication Critical patent/JP2009160680A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5306644B2 publication Critical patent/JP5306644B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2007341518A 2007-12-29 2007-12-29 マスクブランク用基板の製造方法、多層反射膜付き基板の製造方法、及び反射型マスクブランクの製造方法、並びに反射型マスクの製造方法 Active JP5306644B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007341518A JP5306644B2 (ja) 2007-12-29 2007-12-29 マスクブランク用基板の製造方法、多層反射膜付き基板の製造方法、及び反射型マスクブランクの製造方法、並びに反射型マスクの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007341518A JP5306644B2 (ja) 2007-12-29 2007-12-29 マスクブランク用基板の製造方法、多層反射膜付き基板の製造方法、及び反射型マスクブランクの製造方法、並びに反射型マスクの製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009160680A JP2009160680A (ja) 2009-07-23
JP2009160680A5 true JP2009160680A5 (cg-RX-API-DMAC7.html) 2011-01-27
JP5306644B2 JP5306644B2 (ja) 2013-10-02

Family

ID=40963873

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007341518A Active JP5306644B2 (ja) 2007-12-29 2007-12-29 マスクブランク用基板の製造方法、多層反射膜付き基板の製造方法、及び反射型マスクブランクの製造方法、並びに反射型マスクの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5306644B2 (cg-RX-API-DMAC7.html)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5733046B2 (ja) * 2011-06-16 2015-06-10 旭硝子株式会社 研磨スラリー、およびその調製方法、ならびに、フォトマスク用ガラス基板の研磨方法
TWI594069B (zh) * 2011-09-21 2017-08-01 Hoya Corp Method of manufacturing a transfer mask

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3979750B2 (ja) * 1998-11-06 2007-09-19 株式会社荏原製作所 基板の研磨装置
JP2006011434A (ja) * 2002-03-29 2006-01-12 Hoya Corp マスクブランク用基板、マスクブランクおよび転写用マスクの製造方法
US7071105B2 (en) * 2003-02-03 2006-07-04 Cabot Microelectronics Corporation Method of polishing a silicon-containing dielectric
JP4286168B2 (ja) * 2004-03-22 2009-06-24 花王株式会社 ナノスクラッチを低減する方法
US20060163206A1 (en) * 2005-01-25 2006-07-27 Irina Belov Novel polishing slurries and abrasive-free solutions having a multifunctional activator
EP1899111A2 (en) * 2005-06-06 2008-03-19 Advanced Technology Materials, Inc. Integrated chemical mechanical polishing composition and process for single platen processing
KR101257133B1 (ko) * 2005-12-22 2013-04-22 아사히 가라스 가부시키가이샤 마스크 블랭크용 글라스 기판 및 이것을 제조하기 위한연마 방법
JP2007257810A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Hoya Corp 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスクの製造方法
JP2007301721A (ja) * 2007-08-29 2007-11-22 Kao Corp 研磨液組成物

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009226542A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2010123919A5 (ja) マスクブランク用基板の製造方法、反射型マスクブランクの製造方法及び反射型マスクの製造方法 並びにマスクブランク用基板
ES2987013T3 (es) Tecnología de procesamiento para impresión digital de entablados
CN101663249B (zh) 超斥水表面的制备
CN102910579B (zh) 一种可提高图形深宽比的纳米压印方法及其产品
TWI721681B (zh) 反射型光罩基底、反射型光罩、及半導體裝置之製造方法
JP2007165934A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
WO2007035794A8 (en) Nano-structured thin film with reduced light reflection
WO2008093534A1 (ja) Euvリソグラフィ用反射型マスクブランク
TW200606179A (en) Material for forming resist protection film for liquid immersion lithography and method for forming resist pattern by using the protection film
JP2004124058A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2009160681A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2008501147A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2011127221A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
WO2003003076B1 (fr) Composition de resine photosensible pour substrat reflechissant de diffusion de lumiere, substrat reflechissant de diffusion de lumiere et procedes de production associes
JP2010002484A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
TW200604748A (en) Laminated resist used for immersion lithgraphy
JP2009160680A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP6599666B2 (ja) 光散乱性被膜を有する透明スクリーン及び光散乱性被膜形成用塗布液
CN106292045A (zh) 镜面显示装置的出光侧基板及其制备方法、镜面显示装置
CN204705730U (zh) 蓝宝石窗口片
TW200643637A (en) Mask blanks
JP2011207163A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2009086094A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
TWI480167B (zh) 製備高硬度耐水洗抗霧鍍膜之方法