JP2009157561A - Measurement control apparatus, and memory element protection method - Google Patents

Measurement control apparatus, and memory element protection method Download PDF

Info

Publication number
JP2009157561A
JP2009157561A JP2007333850A JP2007333850A JP2009157561A JP 2009157561 A JP2009157561 A JP 2009157561A JP 2007333850 A JP2007333850 A JP 2007333850A JP 2007333850 A JP2007333850 A JP 2007333850A JP 2009157561 A JP2009157561 A JP 2009157561A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parameter
writing
write
measurement control
upper limit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007333850A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5252909B2 (en
Inventor
Masahito Tanaka
雅人 田中
Toshiya Morita
敏哉 森田
Fumihito Sugawara
文仁 菅原
Hirobumi Hirayama
博文 平山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Azbil Corp filed Critical Azbil Corp
Priority to JP2007333850A priority Critical patent/JP5252909B2/en
Publication of JP2009157561A publication Critical patent/JP2009157561A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5252909B2 publication Critical patent/JP5252909B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Memory System (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the probability of an operator making an error in determination and suppress the probability of a memory element reaching the end of its life. <P>SOLUTION: A measurement control apparatus comprises: an EEPROM 3 for storing parameters; a write detection part 50 for counting the number of times of writing of parameters to the EEPROM 3 by each parameter; and warning issuing means (a determination part 51, an LED 6, and an LED lighting processing part 7) for comparing the number of times of writing by each parameter with the upper limit of the predetermined number of times of writing by each parameter, and issuing a warning when the number of times of writing of at least one parameter exceeds the upper limit of the number of times of writing set for this parameter. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば温調計などの計測制御機器に係り、特に計測制御機器に搭載されたEEPROM等の記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることができる計測制御機器および記憶素子保護方法に関するものである。   The present invention relates to a measurement control device such as a temperature controller, and more particularly to a measurement control device and a storage element protection method capable of suppressing the probability that a storage element such as an EEPROM mounted in the measurement control apparatus reaches the end of its life. Is.

温調計などのループレベルの計測制御機器には、予め数値などが設定され記憶される必要があるパラメータがあり、記憶のためのデバイスとしてEEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)が利用される。EEPROMは、ハードウエアの特性として寿命があり、書込み回数が多くなると寿命に達し正常に動作しなくなる。計測制御機器では、EEPROMに書込むパラメータの性質として実用中に書込み更新を行なう必要性は避けられない。一方で計測制御機器として装置に組み込まれ、継続的に使用されるので、EEPROMの交換は容易ではないと同時に、EEPROMが寿命に到達し正常に動作しなくなる事態は好ましくない。   Loop level measurement control devices such as temperature controllers have parameters that need to be set and stored in advance, and EEPROM (Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory) is used as a device for storage. . The EEPROM has a life as a characteristic of the hardware. When the number of times of writing increases, the EEPROM reaches the life and does not operate normally. In the measurement control device, it is inevitable that writing / updating is necessary during practical use as a property of parameters to be written to the EEPROM. On the other hand, since it is incorporated into the apparatus as a measurement control device and used continuously, it is not easy to replace the EEPROM, and at the same time, it is not preferable that the EEPROM reaches its life and does not operate normally.

計測制御機器におけるEEPROMへの書込みは、通信機能などを利用して自動的に実施されるようにプログラムされる場合が多い。EEPROMへの書込みはプログラマが常識的な範囲を認識しているので、通常はEEPROMへの書込みが頻繁に行なわれるように設計されることはない。すなわち、計測制御機器においてEEPROMが寿命に到達し正常に動作しなくなる事態の主な原因はプログラマの設計ミスあるいはプログラムミスである。   In many cases, writing to the EEPROM in the measurement control device is programmed to be automatically performed using a communication function or the like. Since writing to the EEPROM is recognized by programmers as a common sense, it is usually not designed to write to the EEPROM frequently. That is, the main cause of the situation in which the EEPROM reaches the end of its life and does not operate normally in the measurement control device is a programmer's design error or program error.

特許文献1には、特定の時間範囲内でのEEPROMへの書込み回数をカウントして、この書込み回数が書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する記憶素子監視保護装置が開示されている。   Patent Document 1 discloses a storage element monitoring protection device that counts the number of times of writing to an EEPROM within a specific time range and issues an alarm when the number of times of writing exceeds the upper limit of the number of times of writing.

特開平5−73435号公報JP-A-5-73435

計測制御機器では、EEPROMに書込みを行う回数が、一定の時間内に多くならざるを得ない場合が発生する。このような場合としては、例えば制御対象の変更などの工程切換に伴うパラメータ値の更新時がある。この更新時には、EEPROMに記憶されている多数のパラメータ値が同時に更新される。   In the measurement control device, there are cases where the number of times of writing to the EEPROM must be increased within a certain time. As such a case, for example, there is a time of updating a parameter value accompanying a process switching such as a change of a control target. At the time of this update, many parameter values stored in the EEPROM are updated simultaneously.

特許文献1に開示された技術を計測制御機器に適用すると、上記のような多数のパラメータの更新時に警報が発生する可能性があるので、計測制御機器のオペレータが正常な動作をプログラムミスと誤判断してしまうという問題点がある。また、パラメータ更新による警報発生が頻発すると、オペレータはこの警報発生を習慣的に発生するものであり、問題ないものと見なすので、本当のプログラムミスによる異常な動作によって警報が発生したときに、この異常な動作を問題ないものとして見過ごしてしまう可能性がある。このような判断の誤りが発生すると、EEPROMが早期に寿命に到達する危険性が高くなる。   If the technique disclosed in Patent Document 1 is applied to a measurement control device, an alarm may be generated when a large number of parameters are updated as described above. There is a problem of judging. In addition, if an alarm occurs frequently due to parameter updates, the operator will habitually generate this alarm and consider it as a problem, so when an alarm is generated due to an abnormal operation due to a real program error, Abnormal behavior may be overlooked as no problem. When such a determination error occurs, there is a high risk that the EEPROM will reach the end of its life early.

また、プログラムミスによってEEPROMへの書込みが頻発する場合、特定の時間範囲内ではEEPROMへの書込み回数が常識的な回数であっても、このような書込みが継続する場合があり得る。この場合、特許文献1に開示された技術を計測制御機器に適用したとしても、特定の時間範囲内でのEEPROMへの書込み回数は書込み回数上限値を超えないため、異常な動作でありながら警報は発生しない。したがって、EEPROMが早期に寿命に到達する危険性が高くなる。
なお、以上の問題点は、EEPROMに限らず、書込み回数に制限がある記憶素子であれば同様に発生する。
In addition, when writing to the EEPROM frequently occurs due to program mistakes, such writing may continue even if the number of times of writing to the EEPROM is a common number of times within a specific time range. In this case, even if the technique disclosed in Patent Document 1 is applied to the measurement control device, the number of times of writing to the EEPROM within a specific time range does not exceed the upper limit of the number of times of writing, so an alarm is generated even though the operation is abnormal. Does not occur. Therefore, there is a high risk that the EEPROM will reach the end of its life early.
The above-described problems are not limited to EEPROM, and similarly occur in memory elements that have a limited number of writings.

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、オペレータが判断を誤る確率を低減し、EEPROM等の記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることが可能な計測制御機器および記憶素子保護方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems. A measurement control device and a storage element capable of reducing the probability that an operator makes a mistake and reducing the probability that a storage element such as an EEPROM will reach the end of its life will be provided. It aims to provide a protection method.

本発明の計測制御機器は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、この記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントする書込み検出手段と、前記パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手段とを備えるものである。
また、本発明の計測制御機器の1構成例は、さらに、前記パラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、このパラメータの前記記憶素子への書込みを禁止する書込み禁止手段を備えるものである。
また、本発明の計測制御機器は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、この記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータの属性毎にカウントする書込み検出手段と、前記パラメータの属性毎の書込み回数と予め設定されたパラメータの属性毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つの属性の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手段とを備えるものである。
また、本発明の計測制御機器の1構成例は、さらに、前記属性毎の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、この属性のパラメータの前記記憶素子への書込みを禁止する書込み禁止手段を備えるものである。
また、本発明の計測制御機器の1構成例は、通常変更頻度のパラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータについては、前記通常変更頻度パラメータ用の書込み回数上限値よりも少ない書込み回数上限値が予め設定されることを特徴とするものである。
The measurement control device of the present invention includes a storage element that stores a parameter used in the measurement control device, a write detection unit that counts the number of times of writing the parameter to the storage element for each parameter, and the number of times of writing for each parameter. A warning generation means for comparing a preset write count upper limit value for each parameter and issuing an alarm when the write count of at least one parameter exceeds the write count upper limit value set for this parameter is provided. Is.
Further, according to one configuration example of the measurement control device of the present invention, when the number of times of writing the parameter exceeds the upper limit value of the number of times of writing set for the parameter, the parameter is written to the storage element. Write prohibition means for prohibiting is provided.
In addition, the measurement control device of the present invention includes a storage element that stores a parameter used in the measurement control device, a write detection unit that counts the number of times of writing the parameter to the storage element for each parameter attribute, Compares the write count for each attribute with the preset write count upper limit for each attribute of the preset parameter, and alerts if the write count for at least one attribute exceeds the write count upper limit set for this attribute Alarm generating means for emitting
In addition, according to one configuration example of the measurement control device of the present invention, when the number of writes for each attribute exceeds the upper limit value of the number of writes set for the attribute, the parameter of the attribute is stored in the storage element. Is provided with write prohibiting means for prohibiting writing of.
Further, according to one configuration example of the measurement control device of the present invention, for the low change frequency parameter whose change frequency is lower than the normal change frequency parameter, the write number upper limit value is smaller than the write number upper limit value for the normal change frequency parameter. Is set in advance.

また、本発明の計測制御機器は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、外部の機器から通信機能を用いた前記記憶素子へのパラメータの書込みを検出する書込み検出手段と、前記書込みが検出されたときに、通信機能を用いた記憶素子への書込みが行われたことをユーザに通知する通知手段とを備えるものである。
また、本発明の計測制御機器の1構成例は、さらに、通常変更頻度のパラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータを予め登録するためのパラメータ登録手段を備え、前記通知手段は、書込みの対象となったパラメータが通常変更頻度パラメータである場合は、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された第1の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行い、書込み対象のパラメータが前記パラメータ登録手段に登録された低変更頻度パラメータである場合は、前記第1の通知時間よりも長い予め規定された第2の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行うようにしたものである。
Further, the measurement control device of the present invention, a storage element for storing parameters used in the measurement control device, a write detection means for detecting writing of parameters to the storage element using a communication function from an external device, And a notification means for notifying the user that writing to the storage element using the communication function has been performed when the writing is detected.
In addition, one configuration example of the measurement control device of the present invention further includes parameter registration means for pre-registering a low change frequency parameter whose change frequency is lower than the normal change frequency parameter, and the notification means If the target parameter is a normal change frequency parameter, the user is notified for a first notification time defined in advance for the normal change frequency parameter, and the write target parameter is registered in the parameter registration means. When the low change frequency parameter is set, the user is notified only for a second notification time that is defined in advance, which is longer than the first notification time.

また、本発明の記憶素子保護方法は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対してパラメータの書込みが行われたときに、このパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントする書込み検出手順と、前記パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手順とを備えるものである。
また、本発明の記憶素子保護方法は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対してパラメータの書込みが行われたときに、このパラメータの書込み回数をパラメータの属性毎にカウントする書込み検出手順と、前記パラメータの属性毎の書込み回数と予め設定されたパラメータの属性毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つの属性の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手順とを備えるものである。
In addition, the storage element protection method of the present invention is a write detection that counts the number of times the parameter is written for each parameter when the parameter is written to the storage element that stores the parameter used in the measurement control device. When the procedure and the number of times of writing for each parameter are compared with the preset number of times of writing for each parameter, and the number of times of writing for at least one parameter exceeds the number of times of writing set for this parameter And an alarm generation procedure for generating an alarm.
Also, the storage element protection method of the present invention counts the number of parameter writes for each parameter attribute when the parameter is written to the storage element that stores the parameter used in the measurement control device. The write detection procedure is compared with the write count for each attribute of the parameter and the preset write count upper limit value for each parameter attribute, and the write count of at least one attribute is the write count set for this attribute. An alarm generation procedure for generating an alarm when an upper limit value is exceeded.

また、本発明の記憶素子保護方法は、計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対して外部の機器から通信機能を用いたパラメータの書込みが行われたときに、この書込みを検出する書込み検出手順と、前記書込みが検出されたときに、通信機能を用いた記憶素子への書込みが行われたことをユーザに通知する通知手順とを備えるものである。
また、本発明の記憶素子保護方法の1構成例において、前記通知手順は、書込みの対象となったパラメータが通常変更頻度パラメータである場合は、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された第1の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行い、書込み対象のパラメータが前記通常変更頻度パラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータである場合は、前記第1の通知時間よりも長い予め規定された第2の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行うようにしたものである。
In addition, the memory element protection method of the present invention detects this writing when a parameter is written using a communication function from an external device to a memory element that stores the parameter used in the measurement control device. And a notification procedure for notifying the user that writing to the storage element using the communication function has been performed when the writing is detected.
Further, in one configuration example of the storage element protection method of the present invention, the notification procedure includes a first pre-defined for the normal change frequency parameter when the parameter to be written is a normal change frequency parameter. When the notification is made to the user only for the notification time and the parameter to be written is a low change frequency parameter whose change frequency is lower than that of the normal change frequency parameter, the first predetermined time longer than the first notification time is set. The user is notified only for the notification time of 2.

本発明によれば、記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントし、パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発することにより、オペレータが判断を誤る確率を低減することができ、記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることができる。   According to the present invention, the number of times of writing parameters to the storage element is counted for each parameter, the number of times of writing for each parameter is compared with a preset number of times of writing for each parameter, and the number of times of writing of at least one parameter is compared. However, by issuing an alarm when the upper limit of the number of times of writing set for this parameter is exceeded, it is possible to reduce the probability that the operator will make a mistake and to keep the probability that the storage element will reach the end of its life. it can.

また、本発明では、パラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、このパラメータの記憶素子への書込みを禁止することにより、記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることができる。   Further, according to the present invention, when the number of parameter writes exceeds the upper limit value of the number of writes set for this parameter, the storage element reaches the end of its life by prohibiting writing of this parameter to the storage element. Probability can be kept low.

また、本発明では、記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータの属性毎にカウントし、パラメータの属性毎の書込み回数と予め設定されたパラメータの属性毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つの属性の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発することにより、オペレータが判断を誤る確率を低減することができ、記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることができる。   Further, in the present invention, the number of parameter writes to the storage element is counted for each parameter attribute, and the write count for each parameter attribute is compared with a preset write count upper limit value for each parameter attribute, By issuing an alarm when the write count of one attribute exceeds the write count upper limit set for this attribute, it is possible to reduce the probability that the operator makes a mistake and the storage element reaches the end of its life. Probability can be kept low.

また、本発明では、属性毎の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、この属性のパラメータの記憶素子への書込みを禁止することにより、記憶素子が寿命に到達する確率を低く抑えることができる。   Further, according to the present invention, when the number of times of writing for each attribute exceeds the upper limit value of the number of times of writing set for this attribute, the memory element has a lifetime by prohibiting writing of the parameter of this attribute to the memory element. The probability of reaching can be kept low.

また、本発明では、低変更頻度パラメータについては、通常変更頻度パラメータ用の書込み回数上限値よりも少ない書込み回数上限値を設定することにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、書込み回数が書込み回数上限値に到達してしまうことを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、書込み回数が書込み回数上限値以内になることを避けることができる。   Further, in the present invention, for the low change frequency parameter, by setting a lower write number upper limit value than the write number upper limit value for the normal change frequency parameter, in the case where the possibility of normal writing is clearly high, It is possible to avoid the number of writings from reaching the upper limit of the number of writings, and at the same time, the number of writings should be within the upper limit of the number of writings when there is a high possibility of a design error or programming error. Can be avoided.

また、本発明では、外部の機器から通信機能を用いた記憶素子へのパラメータの書込みが検出されたときに、通信機能を用いた記憶素子への書込みが行われたことをユーザに通知することができる。   Further, in the present invention, when parameter writing from an external device to the storage element using the communication function is detected, the user is notified that the writing to the storage element using the communication function has been performed. Can do.

また、本発明では、書込みの対象となったパラメータが通常変更頻度パラメータである場合は、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された第1の通知時間だけユーザへの通知を行い、書込み対象のパラメータが低変更頻度パラメータである場合は、第1の通知時間よりも長い予め規定された第2の通知時間だけユーザへの通知を行うことにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、通知が継続することを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、通知の見落としが発生する確率を低減することができる。   In the present invention, when the parameter to be written is a normal change frequency parameter, the user is notified for the first notification time defined in advance for the normal change frequency parameter, and the parameter to be written is set. Is a low change frequency parameter, by notifying the user for a predetermined second notification time that is longer than the first notification time, there is clearly a high possibility of normal writing In addition, it is possible to prevent the notification from continuing, and at the same time, it is possible to reduce the probability that the notification is overlooked when there is a high possibility of a design error or a program error.

[発明の原理1]
EEPROMの寿命は、単にトータルとしての書込み回数が問題になるのではなく、特定の書込み領域毎の書込み回数で考える必要がある。例えば、同じ10万回の書込みであっても、1個の書込み領域に集中して10万回の書込みが行なわれた場合と、10個の書込み領域に1万回ずつの書込みが行なわれた場合では、寿命に到達する確率は後者の方が圧倒的に低い。
[Principle of Invention 1]
The lifetime of the EEPROM is not simply determined by the total number of writes, but needs to be considered by the number of writes in a specific write area. For example, even if the same writing is performed 100,000 times, writing is performed 100,000 times concentrated in one writing area, and writing is performed 10,000 times in 10 writing areas. In some cases, the latter has an overwhelmingly lower probability of reaching life.

このように、単純にEEPROMへの書込み回数をカウントするのではなく、書込み領域別に書込み回数をカウントするのが妥当であることに発明者は着眼した。また、計測制御機器においては、特定の時間範囲内で常識的に書込まれる回数は、各パラメータの性質に依存して常識的な回数に限られていることに発明者は着眼した。そして、通信などでEEPROMへの書込みが行なわれている頻度をパラメータ別(実質的に書込み領域別)にカウントし、予め設定されたパラメータ毎の単位時間内の書込み回数上限値を超えた場合に警報を出力すれば、課題解決のために有効であることに発明者は想到した。   Thus, the inventor has paid attention to the fact that it is appropriate to count the number of writes for each writing area rather than simply counting the number of times of writing to the EEPROM. In addition, in the measurement control device, the inventor has noted that the number of times of common writing within a specific time range is limited to the number of common sense depending on the nature of each parameter. When the frequency of writing to the EEPROM by communication or the like is counted for each parameter (substantially for each writing area) and the upper limit of the number of times of writing within a unit time for each preset parameter is exceeded The inventor has conceived that outputting an alarm is effective for solving the problem.

例えば制御対象の変更などの工程切換に伴うパラメータ値の更新時において、100個のパラメータが更新される場合、EEPROMへの書込み回数は100回になるが、パラメータ別にカウントすれば、全てのパラメータの書込み回数は1回だけである。つまり、このような状況でパラメータ別の書込み回数が例えば3回に達した場合は、プログラムミスである可能性が高い。パラメータ別にカウントすることで、計測制御機器に特有のパラメータ更新動作においても適切な判断が行ないやすくなる。   For example, when 100 parameters are updated when the parameter value is updated due to process switching such as changing the control target, the number of times of writing to the EEPROM is 100. The number of times of writing is only once. In other words, if the number of write operations for each parameter reaches, for example, 3 in such a situation, there is a high possibility of a program error. By counting by parameter, it is easy to make an appropriate determination even in the parameter update operation unique to the measurement control device.

[発明の原理2]
さらに、EEPROMへのパラメータ別の単位時間内の書込み回数が当該パラメータのために予め設定された書込み回数上限値を超えた場合にEEPROMへの書込みを禁止すれば、課題解決のために有効であることに発明者は想到した。
[Principle of Invention 2]
Furthermore, if writing to the EEPROM is prohibited when the number of times of writing in the unit time for each parameter to the EEPROM exceeds the upper limit of the number of times of writing set for the parameter, it is effective for solving the problem. In particular, the inventor arrived.

[発明の原理3]
計測制御機器においては、オンライン実稼動中に処理対象の変更などに合わせて、変更することを前提とした通常変更頻度パラメータ(例えば温調計であれば目標値SPやPIDパラメータ)と、書込みは禁止されていないが、使用方法が決まればオンライン実稼動中には変更しない低変更頻度パラメータ(例えば温調計であれば入力レンジ種類、制御周期、出力種類など)とがある。したがって、低変更頻度パラメータが変更された場合には、EEPROMへの書込み回数が少ない場合でも、オペレータの設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い。よって、通常変更頻度パラメータについては予め多めの書込み回数上限値を規定し、低変更頻度パラメータについては予め少なめの書込み回数上限値(例えば1回)を規定するのが妥当であることに発明者は想到した。
[Principle 3 of the invention]
In the measurement control device, a normal change frequency parameter (for example, a target value SP or PID parameter in the case of a temperature controller) and a write that are premised to be changed in accordance with a change of a processing target during online operation, Although not prohibited, there are low change frequency parameters (for example, input range type, control cycle, output type, etc. for a temperature controller) that are not changed during online actual operation if the usage method is determined. Therefore, when the low change frequency parameter is changed, there is a high possibility of an operator design error or a program error even if the number of times of writing to the EEPROM is small. Therefore, the inventor believes that it is appropriate to preliminarily specify a larger number of write times upper limit for the normal change frequency parameter, and to prescribe a smaller number of write times upper limit (for example, once) for the low change frequency parameter. I thought.

通常変更頻度パラメータと低変更頻度パラメータで書込み回数上限値を変えることにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、書込み回数上限値に到達してしまうことを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、書込み回数上限値以内になることを避けることができる。   By changing the upper limit of the number of writes with the normal change frequency parameter and the low change frequency parameter, it is possible to avoid reaching the upper limit of the number of writes when there is clearly a high possibility of normal writing. On the other hand, when there is a high possibility of a design error or a program error, it is possible to avoid falling within the upper limit of the number of times of writing.

[発明の原理4]
EEPROMへの書込みについては、多くの場合において、プログラマだけではなく計測制御機器のオペレータも常識的な範囲を認識している。したがって、通信などでEEPROMへの書込みが行なわれている頻度をオペレータが認識できるだけでも、異常な状態を回避しやすくなることに発明者は着眼した。そして、オンライン稼動中において通信機能によりEEPROMに書込みが行なわれた全ての場合に、そのことがオペレータに認識できるような通知(表示)が予め規定された時間だけ行なわれるようにすれば、課題解決のために有効であることに発明者は想到した。
[Principle of Invention 4]
Regarding writing to the EEPROM, in many cases, not only the programmer but also the operator of the measurement control device recognizes a common sense range. Therefore, the inventor has noticed that it is easy to avoid an abnormal state even if the operator can recognize the frequency of writing to the EEPROM by communication or the like. Then, in all cases where writing to the EEPROM is performed by the communication function during online operation, notification (display) that can be recognized by the operator is performed only for a predetermined time. The inventor has conceived that this is effective.

制御対象の変更などの工程切換時には、EEPROMへの書込みが行われたことを示す通知の頻度も高くなるが、EEPROMへの書込みが多いことを認識しているオペレータが誤った判断をする可能性は低い。また、工程切換時ではないときに、EEPROMへの書込みが行われたことを示す通知が行なわれれば、このEEPROMへの書込みが想定外であることを認識しているオペレータは、異常な動作だと判断することが可能になる。   At the time of process switching such as changing the control target, the frequency of notification indicating that writing to the EEPROM has been increased, but an operator who recognizes that there are many writings to the EEPROM may make an erroneous determination. Is low. In addition, if it is not at the time of process switching and if a notification indicating that writing to the EEPROM has been performed is made, an operator who recognizes that writing to the EEPROM is not expected is an abnormal operation. It becomes possible to judge.

[発明の原理5]
さらに、通常変更頻度パラメータについては予め規定された短い時間だけ通知(表示)を行い、低変更頻度パラメータについては通常変更頻度パラメータよりも長い時間通知を行うようにすれば、課題解決のためにさらに有効であることに発明者は想到した。通常変更頻度パラメータと低変更頻度パラメータで通知の継続時間を変えることにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、通知が継続することを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、通知の見落としが発生する確率を低減することができる。
[Principle 5 of the invention]
Furthermore, if the normal change frequency parameter is notified (displayed) only for a predetermined short time, and the low change frequency parameter is notified for a longer time than the normal change frequency parameter, the problem can be further solved. The inventor has conceived that it is effective. By changing the duration of the notification with the normal change frequency parameter and the low change frequency parameter, it is possible to avoid continuing the notification when there is a clear possibility of normal writing, and at the same time, it becomes clear When there is a high possibility of a design error or a program error, it is possible to reduce the probability that a notification is missed.

[第1の実施の形態]
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。本実施の形態は、上記発明の原理1に対応するものである。計測制御機器は、制御対象に対する制御を行うPID制御部1と、計測制御機器のオペレータ(ユーザ)がパラメータを入力するための例えばキーボード等の入力部2と、EEPROM3と、RAM(Random Access Memory)4と、必要に応じてEEPROM3またはRAM4への書込み/読出しを行う書込み/読出し部5と、警報通知用のLED6と、書込み/読出し部5からの警報通知に応じてLED6を点灯させるLED点灯処理部7と、計測制御機器と図示しない外部の機器とを接続する通信インタフェース部8とを有する。書込み/読出し部5は、EEPROM3への書込みを検出する書込み検出部50と、警報通知を行う判定部51とを備えている。判定部51とLED6とLED点灯処理部7とは、警報発生手段を構成している。
[First Embodiment]
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a measurement control device according to the first embodiment of the present invention. This embodiment corresponds to Principle 1 of the invention described above. The measurement control device includes a PID control unit 1 that controls a control target, an input unit 2 such as a keyboard for an operator (user) of the measurement control device to input parameters, an EEPROM 3, and a RAM (Random Access Memory). 4, a writing / reading unit 5 that performs writing / reading to / from the EEPROM 3 or the RAM 4 as required, an LED 6 for alarm notification, and an LED lighting process for lighting the LED 6 in response to the alarm notification from the writing / reading unit 5 And a communication interface unit 8 for connecting the measurement control device and an external device (not shown). The writing / reading unit 5 includes a writing detection unit 50 that detects writing to the EEPROM 3 and a determination unit 51 that performs alarm notification. The determination unit 51, the LED 6, and the LED lighting processing unit 7 constitute an alarm generation unit.

図2は本実施の形態の計測制御機器を適用する温度制御系の1例を示す図である。図2の例では、加熱処理炉11の内部にヒータ12と温度センサ13とが設置されている。温度センサ13は、ヒータ12によって加熱される空気の温度PVを測定する。温調計10は、温度PVが設定値SPと一致するように操作量MVを算出する。電力調整器14は、操作量MVに応じた電力を決定し、この決定した電力を電力供給回路15を通じてヒータ12に供給する。こうして、温調計10は、加熱処理炉11内の温度を制御する。計測制御機器は、この温調計10の内部に設けられるものである。なお、図2において、PLC(Programmable Logic Controller)16は、通信機能を利用して温調計10を制御する上位機器である。   FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a temperature control system to which the measurement control device of the present embodiment is applied. In the example of FIG. 2, a heater 12 and a temperature sensor 13 are installed inside the heat treatment furnace 11. The temperature sensor 13 measures the temperature PV of the air heated by the heater 12. The temperature controller 10 calculates the manipulated variable MV so that the temperature PV matches the set value SP. The power adjuster 14 determines power according to the operation amount MV, and supplies the determined power to the heater 12 through the power supply circuit 15. Thus, the temperature controller 10 controls the temperature in the heat treatment furnace 11. The measurement control device is provided inside the temperature controller 10. In FIG. 2, a PLC (Programmable Logic Controller) 16 is a host device that controls the temperature controller 10 using a communication function.

以下、計測制御機器の動作について説明する。EEPROM3には、設定値SP、PIDパラメータ(比例帯P、積分時間I、微分時間D)、制御量PVに与える制御量バイアスPVbi、操作量MVの出力上下限値MVli、制御量PVの入力レンジ種類PVra、制御周期dt、操作量MVの出力種類MVvaなどのパラメータが予め設定され記憶されている。入力レンジ種類PVraとしては、例えば温度制御系の温度センサ13の測定レンジ範囲などがある。また、出力種類MVvaとしては、電流出力、電圧出力などがある。以上のパラメータには、運転用パラメータ、設定・調整用パラメータ、モニタ用パラメータの3種類がある。   Hereinafter, the operation of the measurement control device will be described. The EEPROM 3 includes a set value SP, PID parameters (proportional band P, integration time I, derivative time D), control amount bias PVbi applied to the control amount PV, output upper and lower limit values MVli of the operation amount MV, and an input range of the control amount PV. Parameters such as the type PVra, the control period dt, and the output type MVva of the manipulated variable MV are preset and stored. Examples of the input range type PVra include a measurement range range of the temperature sensor 13 of the temperature control system. The output types MVva include current output and voltage output. There are three types of parameters, operating parameters, setting / adjusting parameters, and monitoring parameters.

運転用パラメータは、計測制御機器の運転中に制御対象の変更に合わせて変更することを前提としたパラメータである。この運転用パラメータの例としては、設定値SP、SP組、PID組などがある。SP組は、複数の設定値SPとこれらの各々に割り当てられた複数のコードとからなるものである。制御対象に応じて、入力部2または通信インタフェース部8から特定のコードを入力すると、このコードに応じた設定値SPが読み出されるようになっている。同様に、PID組は、PIDパラメータ(比例帯P、積分時間I、微分時間D)の複数の組み合わせとこれらの組み合わせの各々に割り当てられた複数のコードとからなるものである。制御対象に応じて、入力部2または通信インタフェース部8から特定のコードを入力すると、このコードに応じたPIDパラメータの組み合わせが読み出されるようになっている。   The operation parameter is a parameter on the premise that the parameter is changed in accordance with the change of the control target during the operation of the measurement control device. Examples of the operation parameters include a set value SP, an SP set, and a PID set. The SP set includes a plurality of setting values SP and a plurality of codes assigned to each of them. When a specific code is input from the input unit 2 or the communication interface unit 8 according to the control target, the set value SP corresponding to the code is read out. Similarly, the PID set includes a plurality of combinations of PID parameters (proportional band P, integration time I, derivative time D) and a plurality of codes assigned to each of these combinations. When a specific code is input from the input unit 2 or the communication interface unit 8 according to the control target, a combination of PID parameters corresponding to the code is read out.

設定・調整用パラメータは、センサやアクチュエータなどの周辺機器および計測制御機器の使用方法に合わせて設定・調整するパラメータである。この設定・調整用パラメータの例としては、制御量バイアスPVbi、PIDパラメータ、出力上下限値MVliなどがある。なお、PIDパラメータは、運転用パラメータとして定義される場合と、設定・調整用パラメータとして定義される場合がある。   The parameter for setting / adjustment is a parameter that is set / adjusted according to the usage method of peripheral devices such as sensors and actuators and measurement control devices. Examples of the setting / adjustment parameters include a control amount bias PVbi, a PID parameter, and an output upper / lower limit value MVli. The PID parameter may be defined as an operation parameter or a setting / adjustment parameter.

モニタ用パラメータは、EEPROM3への書込みは禁止されていないが、使用方法が決まれば運転中には変更しないパラメータである。このモニタ用パラメータの例としては、入力レンジ種類PVra、制御周期dt、出力種類MVvaなどがある。
以上の運転用パラメータ、設定・調整用パラメータ、モニタ用パラメータには、例えば運転用パラメータは「1」、設定・調整用パラメータは「2」、モニタ用パラメータは「0」といったように所定の属性コードが割り当てられている。
The monitor parameter is a parameter that is not prohibited from being written to the EEPROM 3, but is not changed during operation if the method of use is determined. Examples of the monitoring parameters include an input range type PVra, a control cycle dt, and an output type MVva.
The above operation parameters, setting / adjustment parameters, and monitoring parameters include predetermined attributes such as “1” for operation parameters, “2” for setting / adjustment parameters, and “0” for monitoring parameters. A code is assigned.

図3(A)はEEPROM3の記憶内容の例を示す図、図3(B)はEEPROM3の記憶内容に対応するRAM4の記憶内容の例を示す図である。
EEPROM3のパラメータ記憶領域30には、各パラメータが予め格納され、属性コード記憶領域31には、属性コードがパラメータ毎に予め格納されている。また、EEPROM3には、EEPROM3への単位時間内の書込み回数上限値をパラメータ毎に予め格納する書込み回数上限値記憶領域32と、単位時間内の書込み回数下限値をパラメータ毎に予め格納する書込み回数下限値記憶領域33とがある。なお、モニタ用パラメータについては、書込み回数上限値を1とする。
3A is a diagram showing an example of the contents stored in the EEPROM 3, and FIG. 3B is a diagram showing an example of the contents stored in the RAM 4 corresponding to the contents stored in the EEPROM 3. As shown in FIG.
Each parameter is stored in advance in the parameter storage area 30 of the EEPROM 3, and an attribute code is stored in advance in the attribute code storage area 31 for each parameter. Further, the EEPROM 3 has a write count upper limit storage area 32 that stores in advance the upper limit value of the number of writes in the unit time in the EEPROM 3 for each parameter, and a write count in which the lower limit value of the number of writes in the unit time is stored in advance for each parameter. There is a lower limit storage area 33. Note that the upper limit value of the number of times of writing is set to 1 for the monitor parameter.

書込み/読出し部5は、計測制御機器の起動時にEEPROM3から各パラメータの属性コードと書込み回数上限値と書込み回数下限値とを読み出してRAM4上に展開する。属性コードは、RAM4の属性コード記憶領域40にパラメータ毎に格納され、書込み回数上限値は、書込み回数上限値記憶領域42にパラメータ毎に格納され、書込み回数下限値は、書込み回数下限値記憶領域43にパラメータ毎に格納される。また、RAM4には、EEPROM3への単位時間内の書込み回数をパラメータ毎に格納する書込み回数記憶領域41と、警報が発生したか否かを示す警報発生フラグをパラメータ毎に格納する警報発生フラグ記憶領域44と、警報発生の履歴をパラメータの属性毎に格納する警報発生履歴記憶領域45とがある。   The writing / reading unit 5 reads out the attribute code of each parameter, the writing number upper limit value, and the writing number lower limit value from the EEPROM 3 when starting the measurement control device, and develops them on the RAM 4. The attribute code is stored for each parameter in the attribute code storage area 40 of the RAM 4, the write count upper limit is stored for each parameter in the write count upper limit storage area 42, and the write count lower limit is the write count lower limit storage area. 43 is stored for each parameter. Further, the RAM 4 stores a write count storage area 41 for storing the number of writes to the EEPROM 3 within a unit time for each parameter, and an alarm generation flag storage for storing an alarm generation flag indicating whether an alarm has occurred for each parameter. There are an area 44 and an alarm generation history storage area 45 for storing an alarm generation history for each parameter attribute.

PID制御部1は、書込み/読出し部5を通じて読み出した設定値SP、PIDパラメータ、制御量バイアスPVbi、出力上下限値MVli、入力レンジ種類PVra、制御周期dt、出力種類MVvaと、センサから入力される制御量PV(図2の例では温度)に基づいて、周知のPID制御演算アルゴリズムにより操作量MVを算出する。図2の例では、この操作量MVは電力調整器14に出力される。   The PID control unit 1 receives the set value SP, the PID parameter, the control amount bias PVbi, the output upper / lower limit value MVli, the input range type PVra, the control period dt, and the output type MVva read from the sensor through the write / read unit 5. Based on the control amount PV (temperature in the example of FIG. 2), the operation amount MV is calculated by a known PID control calculation algorithm. In the example of FIG. 2, the manipulated variable MV is output to the power regulator 14.

書込み/読出し部5は、PID制御部1、入力部2または通信インタフェース部8からの入力に応じて、EEPROM3またはRAM4へのデータ書込みを行う。書込み/読出し部5内の書込み検出部50は、EEPROM3への書込みを検出する。また、書込み/読出し部5は、必要に応じてEEPROM3またはRAM4からデータを読み出す。
図4、図5は書込み/読出し部5のEEPROM3への書込みに関する動作を示すフローチャートである。
The writing / reading unit 5 writes data to the EEPROM 3 or the RAM 4 in accordance with an input from the PID control unit 1, the input unit 2, or the communication interface unit 8. A write detection unit 50 in the write / read unit 5 detects writing to the EEPROM 3. The writing / reading unit 5 reads data from the EEPROM 3 or the RAM 4 as necessary.
FIG. 4 and FIG. 5 are flowcharts showing operations related to writing to the EEPROM 3 by the writing / reading unit 5.

まず、書込み/読出し部5は、入力部2または通信インタフェース部8からのパラメータ入力により、EEPROM3への書込み要求(パラメータ変更要求)が発生すると(図4ステップS100においてYES)、入力されたパラメータをEEPROM3に書き込む(ステップS101)。これにより、EEPROM3上に格納されていた当該パラメータが変更される。   First, when a write request (parameter change request) to the EEPROM 3 is generated by a parameter input from the input unit 2 or the communication interface unit 8 (YES in step S100 in FIG. 4), the write / read unit 5 sets the input parameter. Writing to the EEPROM 3 (step S101). Thereby, the parameter stored in the EEPROM 3 is changed.

書込み検出部50は、EEPROM3へのパラメータの書込みを検出すると、このパラメータの属性コードをRAM4の属性コード記憶領域40から入手し(ステップS102)、書込み回数記憶領域41に格納されている当該パラメータの書込み回数を1増やす(ステップS103)。   When the writing detecting unit 50 detects writing of a parameter to the EEPROM 3, the writing detecting unit 50 obtains an attribute code of the parameter from the attribute code storage area 40 of the RAM 4 (step S102), and stores the parameter stored in the writing count storage area 41. The number of times of writing is increased by 1 (step S103).

続いて、判定部51は、ステップS103で更新されたパラメータの書込み回数を書込み回数上限値記憶領域42に格納されている当該パラメータの書込み回数上限値と比較する(ステップS104)。そして、判定部51は、パラメータの書込み回数が書込み回数上限値を超える場合、警報発生フラグ記憶領域44に格納されている当該パラメータの警報発生フラグを警報発生を示す値にセットし、警報通知信号をLED点灯処理部7に出力する(ステップS105)。この警報通知信号に応じて、LED点灯処理部7は、LED6を点灯させることにより、オペレータに警報を発する。さらに、判定部51は、ステップS102で入手した当該パラメータの属性コードに従って対応する属性の警報発生履歴記憶領域45に警報が発生したことを示す履歴をセットする(ステップS106)。   Subsequently, the determination unit 51 compares the parameter write count updated in step S103 with the parameter write count upper limit value stored in the write count upper limit storage area 42 (step S104). When the parameter write count exceeds the write count upper limit value, the determination unit 51 sets the alarm generation flag of the parameter stored in the alarm generation flag storage area 44 to a value indicating the alarm occurrence, and outputs an alarm notification signal. Is output to the LED lighting processing unit 7 (step S105). In response to the warning notification signal, the LED lighting processing unit 7 turns on the LED 6 to give a warning to the operator. Further, the determination unit 51 sets a history indicating that an alarm has occurred in the alarm occurrence history storage area 45 of the corresponding attribute according to the attribute code of the parameter obtained in step S102 (step S106).

また、判定部51は、図5に示すような書込み回数の減算処理を単位時間(例えば10秒)毎に行う。すなわち、判定部51は、単位時間が経過した場合(ステップS200においてYES)、書込み回数記憶領域41を参照して、全てのパラメータの書込み回数が0かどうかを確認する(ステップS201)。   Further, the determination unit 51 performs the write count subtraction process as shown in FIG. 5 every unit time (for example, 10 seconds). That is, when the unit time has elapsed (YES in step S200), the determination unit 51 refers to the write count storage area 41 to check whether the write count of all parameters is 0 (step S201).

判定部51は、書込み回数が0でないパラメータが存在する場合、書込み回数記憶領域41に格納されている当該パラメータの書込み回数を1減らす(ステップS202)。続いて、判定部51は、ステップS202で更新したパラメータの書込み回数を書込み回数下限値記憶領域43に格納されている当該パラメータの書込み回数下限値と比較する(ステップS203)。そして、判定部51は、パラメータの書込み回数が書込み回数下限値以下の場合、警報発生フラグ記憶領域44に格納されている当該パラメータの警報発生フラグを警報解除を示す値にリセットし、警報解除通知信号をLED点灯処理部7に出力する(ステップS204)。この警報解除通知信号に応じて、LED点灯処理部7は、LED6を消灯させる。なお、警報発生履歴記憶領域45に格納されている警報発生履歴は残したままとする。   When there is a parameter whose write count is not 0, the determination unit 51 reduces the write count of the parameter stored in the write count storage area 41 by 1 (step S202). Subsequently, the determination unit 51 compares the parameter write count updated in step S202 with the parameter write count lower limit value stored in the write count lower limit storage area 43 (step S203). When the parameter write count is equal to or smaller than the write count lower limit value, the determination unit 51 resets the alarm occurrence flag of the parameter stored in the alarm occurrence flag storage area 44 to a value indicating alarm release, and issues an alarm release notification. A signal is output to the LED lighting processing unit 7 (step S204). In response to the alarm release notification signal, the LED lighting processing unit 7 turns off the LED 6. The alarm generation history stored in the alarm generation history storage area 45 remains.

以上のように、本実施の形態では、EEPROMへのパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントし、パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発することにより、パラメータの書込み回数が常識的な回数を超える場合に警報を発することができるので、オペレータが判断を誤る確率を低減することができ、EEPROMが寿命に到達する確率を低く抑えることができる。   As described above, in the present embodiment, the number of times of writing parameters to the EEPROM is counted for each parameter, the number of times of writing for each parameter is compared with a preset number of times of writing for each parameter, and at least one By issuing an alarm when the number of parameter writes exceeds the upper limit for the number of writes set for this parameter, an alarm can be issued when the number of parameter writes exceeds a common number. Can reduce the probability of misjudgment, and the probability that the EEPROM reaches the end of its life can be kept low.

[第2の実施の形態]
図6は、本発明の第2の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。本実施の形態は、上記発明の原理2に対応するものである。本実施の形態の書込み/読出し部5aは、書込み検出部50と判定部51に加えて、書込み禁止部52を備えている。
[Second Embodiment]
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a measurement control device according to the second embodiment of the present invention. This embodiment corresponds to Principle 2 of the invention described above. The write / read unit 5 a according to the present embodiment includes a write inhibit unit 52 in addition to the write detection unit 50 and the determination unit 51.

書込み禁止部52は、EEPROM3へのパラメータの書込み要求が発生したときに、書込み回数記憶領域41に格納されている当該パラメータの書込み回数をチェックし、この書込み回数が書込み回数上限値記憶領域42に格納されている当該パラメータの書込み回数上限値を超えている場合には、警報発生フラグ記憶領域44に格納されている当該パラメータの警報発生フラグをセットして警報を発すると共に、EEPROM3への当該パラメータの書込みを禁止する。パラメータの書込みが禁止されるので、当該パラメータの書込み回数は増加しないことは言うまでもない。
こうして、本実施の形態では、EEPROMが寿命に到達する確率を低く抑えることができる。
When a parameter write request to the EEPROM 3 is generated, the write prohibition unit 52 checks the number of times of writing the parameter stored in the write number storage area 41, and this write number is stored in the write number upper limit value storage area 42. When the stored upper limit value of the parameter is exceeded, the alarm generation flag of the parameter stored in the alarm generation flag storage area 44 is set to issue an alarm, and the parameter to the EEPROM 3 is set. Prohibit writing. Since parameter writing is prohibited, it goes without saying that the number of times the parameter is written does not increase.
Thus, in this embodiment, the probability that the EEPROM reaches the end of its life can be kept low.

[第3の実施の形態]
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。第2の実施の形態では、警報発生用の書込み回数上限値と書込み禁止用の書込み回数上限値とを共通の値にしているが、これらを別々に設定してもよい。この場合、EEPROM3およびRAM4の書込み回数上限値記憶領域32,42には、警報発生用の書込み回数上限値と書込み禁止用の書込み回数上限値とがパラメータ毎に設定されることになる。計測制御機器の構成は第2の実施の形態と同様であるので、図6の符号を用いて本実施の形態の動作を説明する。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In the second embodiment, the upper limit value of the number of times of writing for alarm generation and the upper limit value of the number of times of writing for prohibiting writing are made common, but they may be set separately. In this case, the upper limit of the number of times of writing for the EEPROM 3 and the RAM 4 and the upper limit value of the number of times of writing for alarm generation and the upper limit of the number of times of writing for prohibiting writing are set for each parameter. Since the configuration of the measurement control device is the same as that of the second embodiment, the operation of this embodiment will be described using the reference numerals in FIG.

図7は書込み/読出し部5aのEEPROM3への書込みに関する動作を示すフローチャートである。まず、書込み/読出し部5aの書込み検出部50は、入力部2または通信インタフェース部8からのパラメータ入力により、EEPROM3への書込み要求が発生すると(図7ステップS300においてYES)、入力されたパラメータに対応する属性コードをRAM4の属性コード記憶領域40から入手し(ステップS301)、書込み回数記憶領域41に格納されている当該パラメータの書込み回数を1増やす(ステップS302)。   FIG. 7 is a flowchart showing an operation related to writing to the EEPROM 3 by the writing / reading unit 5a. First, when a write request to the EEPROM 3 is generated by the parameter input from the input unit 2 or the communication interface unit 8 (YES in step S300 in FIG. 7), the write detection unit 50 of the write / read unit 5a sets the input parameters. The corresponding attribute code is obtained from the attribute code storage area 40 of the RAM 4 (step S301), and the writing count of the parameter stored in the writing count storage area 41 is increased by 1 (step S302).

続いて、書込み禁止部52は、ステップS302で更新されたパラメータの書込み回数を書込み回数上限値記憶領域42に格納されている当該パラメータの書込み禁止用の書込み回数上限値と比較する(ステップS303)。そして、書込み禁止部52は、パラメータの書込み回数が書込み禁止用の書込み回数上限値以下の場合、当該パラメータのEEPROM3への書込みを許可する。これにより、書込み/読出し部5aは、入力部2または通信インタフェース部8から入力されたパラメータをEEPROM3に書き込む(ステップS304)。   Subsequently, the write prohibition unit 52 compares the parameter write count updated in step S302 with the write prohibition write count upper limit value stored in the write count upper limit storage area 42 (step S303). . When the parameter write count is equal to or less than the write prohibition upper limit value for write prohibition, the write prohibit section 52 permits the parameter to be written to the EEPROM 3. Thereby, the writing / reading unit 5a writes the parameter input from the input unit 2 or the communication interface unit 8 to the EEPROM 3 (step S304).

次に、判定部51は、ステップ302で更新されたパラメータの書込み回数を書込み回数上限値記憶領域42に格納されている当該パラメータの警報発生用の書込み回数上限値と比較する(ステップS305)。パラメータの書込み回数が警報発生用の書込み回数上限値を超える場合のステップS306,S307の処理は、図4のステップS105,S106と同じである。   Next, the determination unit 51 compares the parameter write count updated at step 302 with the alarm occurrence write count upper limit value stored in the write count upper limit storage area 42 (step S305). The processing in steps S306 and S307 when the number of parameter writes exceeds the upper limit of the number of times of writing for alarm generation is the same as steps S105 and S106 in FIG.

一方、書込み禁止部52は、ステップS303において、パラメータの書込み回数が書込み禁止用の書込み回数上限値を超える場合、このパラメータの書込み回数を書込み禁止用の書込み回数上限値と同じ値に更新し(ステップS308)、EEPROM3への当該パラメータの書込みを禁止して、要求元に書込み不可通知を送る(ステップS309)。オペレータへの書込み不可の通知方法としては、EEPROM3への書込みが不可であることを例えば図示しない表示装置に表示する等の方法がある。また、通信機能を用いた書込み要求の場合には、通信インタフェース部8を介して要求元に書込み不可の応答を返送すればよい。
判定部51が単位時間毎に行う書込み回数の減算処理は、図5に示したとおりである。
On the other hand, if the parameter write count exceeds the write prohibition upper limit value for write prohibition in step S303, the write prohibition unit 52 updates the parameter write count to the same value as the write prohibition write count upper limit value ( In step S308, writing of the parameter to the EEPROM 3 is prohibited, and a write disable notification is sent to the request source (step S309). As a method of notifying the operator that writing is impossible, there is a method of displaying that writing to the EEPROM 3 is impossible, for example, on a display device (not shown). Further, in the case of a write request using the communication function, a response indicating that the write cannot be performed may be returned to the request source via the communication interface unit 8.
The number-of-writes subtraction process performed by the determination unit 51 per unit time is as shown in FIG.

[第4の実施の形態]
第1〜第3の実施の形態では、各パラメータに属性コードを割り当てているが、EEPROM3およびRAM4上のアドレスを、例えば運転用パラメータは100番台、設定・調整用パラメータは200番台、モニタ用パラメータは300番台といったようにすれば、書込み/読出し部5,5aは、RAM4上にパラメータ別に属性コードを持つことなしに、アドレスのみでパラメータの属性を判断することができる。
[Fourth Embodiment]
In the first to third embodiments, an attribute code is assigned to each parameter. The addresses on the EEPROM 3 and the RAM 4 are assigned, for example, the operating parameters are in the 100s, the setting / adjusting parameters are in the 200s, and the monitoring parameters. In the 300 range, the write / read units 5 and 5a can determine the attribute of the parameter only by the address without having an attribute code for each parameter on the RAM 4.

[第5の実施の形態]
また、第1〜第3の実施の形態では、パラメータ毎に書込み回数上限値および書込み回数下限値を予め設定し、パラメータ毎に書込み回数をカウントしているが、パラメータの属性毎に書込み回数上限値および書込み回数下限値を設定し、属性毎に書込み回数をカウントするようにしてもよい。
[Fifth Embodiment]
In the first to third embodiments, the upper limit number of writing times and the lower limit number of writing times are set in advance for each parameter, and the writing number is counted for each parameter. A value and a lower limit value of the number of times of writing may be set, and the number of times of writing may be counted for each attribute.

図8(A)は本実施の形態におけるEEPROM3の記憶内容の例を示す図、図8(B)はEEPROM3の記憶内容に対応するRAM4の記憶内容の例を示す図である。
EEPROM3のパラメータ記憶領域30および属性コード記憶領域31は、図3(A)と同じである。EEPROM3には、EEPROM3への単位時間内の書込み回数上限値(第3の実施の形態に適用する場合には警報発生用と書込み禁止用の書込み回数上限値)をパラメータの属性毎に予め格納する書込み回数上限値記憶領域32aと、単位時間内の書込み回数下限値をパラメータの属性毎に予め格納する書込み回数下限値記憶領域33aとがある。
FIG. 8A shows an example of the contents stored in the EEPROM 3 according to the present embodiment, and FIG. 8B shows an example of the contents stored in the RAM 4 corresponding to the contents stored in the EEPROM 3.
The parameter storage area 30 and the attribute code storage area 31 of the EEPROM 3 are the same as those in FIG. The EEPROM 3 stores in advance the upper limit value of the number of times of writing to the EEPROM 3 within a unit time (the upper limit value of the number of times of writing for alarm generation and write prohibition when applied to the third embodiment) for each parameter attribute. There is a write count upper limit storage area 32a and a write count lower limit storage area 33a for storing the write count lower limit value within a unit time in advance for each parameter attribute.

書込み/読出し部5,5aは、計測制御機器の起動時にEEPROM3から各パラメータの属性コードと書込み回数上限値と書込み回数下限値とを読み出してRAM4上に展開する。属性コードは、RAM4の属性コード記憶領域40にパラメータの属性毎に格納され、書込み回数上限値は、書込み回数上限値記憶領域42aに属性毎に格納され、書込み回数下限値は、書込み回数下限値記憶領域43aに属性毎に格納される。また、RAM4には、EEPROM3への単位時間内の書込み回数を属性毎に格納する書込み回数記憶領域41aと、警報が発生したか否かを示す警報発生フラグを属性毎に格納する警報発生フラグ記憶領域44aと、警報発生の履歴を属性毎に格納する警報発生履歴記憶領域45とがある。   The writing / reading units 5 and 5a read the attribute code of each parameter, the writing number upper limit value, and the writing number lower limit value from the EEPROM 3 when the measurement control device is activated, and develop them on the RAM 4. The attribute code is stored in the attribute code storage area 40 of the RAM 4 for each parameter attribute, the write count upper limit value is stored for each attribute in the write count upper limit storage area 42a, and the write count lower limit value is the write count lower limit value. Each attribute is stored in the storage area 43a. The RAM 4 stores a write count storage area 41a for storing the number of writes to the EEPROM 3 within a unit time for each attribute, and an alarm generation flag storage for storing an alarm generation flag indicating whether an alarm has occurred for each attribute. There are an area 44a and an alarm occurrence history storage area 45 for storing an alarm occurrence history for each attribute.

計測制御機器の構成および動作は第1〜第3の実施の形態と同様であり、図4のステップS103〜S106、図5のステップS201〜S204、図7のS302,S303,S305〜S308の処理をパラメータの属性別に行うようにすればよい。   The configuration and operation of the measurement control device are the same as those in the first to third embodiments, and the processes in steps S103 to S106 in FIG. 4, steps S201 to S204 in FIG. 5, and S302, S303, and S305 to S308 in FIG. May be performed for each parameter attribute.

[第6の実施の形態]
第1〜第5の実施の形態では、書込み回数上限値の規定の仕方について詳細に説明していないが、上記発明の原理3に記載したように、通常変更頻度パラメータ(運転用パラメータと設定・調整用パラメータ)については多めの書込み回数上限値を規定し、低変更頻度パラメータ(モニタ用パラメータ)については通常変更頻度パラメータよりも少なめの書込み回数上限値を規定するようにしてもよい。
[Sixth Embodiment]
In the first to fifth embodiments, how to define the upper limit value of the number of times of writing is not described in detail. However, as described in Principle 3 of the invention, the normal change frequency parameter (operating parameter and setting / It is also possible to specify a larger number of write times upper limit for the adjustment parameter) and a lower number of write times upper limit than the normal change frequency parameter for the low change frequency parameter (monitor parameter).

通常変更頻度パラメータと低変更頻度パラメータで書込み回数上限値を変えることにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、書込み回数が書込み回数上限値に到達してしまうことを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、書込み回数が書込み回数上限値以内になることを避けることができる。   By changing the upper limit of the number of writes with the normal change frequency parameter and the low change frequency parameter, it is possible to avoid the number of writes reaching the upper limit of the number of writes when there is clearly a high possibility of normal writing. At the same time, conversely, when there is a high possibility of a design error or a program error, it is possible to avoid the number of writings from being within the upper limit of the number of writings.

[第7の実施の形態]
次に、本発明の第7の実施の形態について説明する。本実施の形態は、上記発明の原理4に対応するものである。計測制御機器の構成は第1の実施の形態と同様であるので、図1の符号を用いて説明する。ここでは、判定部51とLED6とLED点灯処理部7とは、通知手段を構成している。図9は本実施の形態の書込み/読出し部5のEEPROM3への書込みに関する動作を示すフローチャートである。
[Seventh Embodiment]
Next, a seventh embodiment of the present invention will be described. This embodiment corresponds to Principle 4 of the invention described above. Since the configuration of the measurement control device is the same as that of the first embodiment, description will be made using the reference numerals in FIG. Here, the determination part 51, LED6, and LED lighting process part 7 comprise the notification means. FIG. 9 is a flowchart showing an operation related to writing to the EEPROM 3 by the writing / reading unit 5 of the present embodiment.

書込み/読出し部5は、入力部2または通信インタフェース部8からの入力に応じて、EEPROM3へのパラメータの書込みを行う。このとき、書込み検出部50は、例えば上位のPLC16からの通信インタフェース部8を介したパラメータ入力により、EEPROM3への書込み要求が発生した場合、この書込みを検出する(図9ステップS400においてYES)。   The writing / reading unit 5 writes parameters to the EEPROM 3 in response to an input from the input unit 2 or the communication interface unit 8. At this time, the write detection unit 50 detects this write when a write request to the EEPROM 3 is generated, for example, by parameter input from the host PLC 16 via the communication interface unit 8 (YES in step S400 in FIG. 9).

判定部51は、通信機能を用いたEEPROM3へのパラメータの書込みが検出された場合、書込み通知信号をLED点灯処理部7に出力する(ステップS401)。
この書込み通知信号に応じて、LED点灯処理部7は、予め規定された時間(例えば1制御周期の間であり通常の温調計であれば0.2秒程度)だけLED6を点灯させる。これにより、外部から通信インタフェース部8を介してEEPROM3への書込みが行われたことを、オペレータに通知することができる。
If the parameter writing to the EEPROM 3 using the communication function is detected, the determination unit 51 outputs a write notification signal to the LED lighting processing unit 7 (step S401).
In response to the write notification signal, the LED lighting processing unit 7 lights the LED 6 for a predetermined time (for example, about one second during a control cycle and about 0.2 seconds for a normal temperature controller). As a result, it is possible to notify the operator that data has been written to the EEPROM 3 from the outside via the communication interface unit 8.

[第8の実施の形態]
次に、本発明の第8の実施の形態について説明する。本実施の形態は、上記発明の原理5に対応するものである。図10は本発明の第8の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。この計測制御機器は、PID制御部1と、入力部2と、EEPROM3と、RAM4と、書込み/読出し部5と、LED点灯処理部7と、LED6と、通信インタフェース部8と、低変更頻度パラメータを予め登録するためのパラメータ登録部9とを有する。
[Eighth Embodiment]
Next, an eighth embodiment of the present invention will be described. This embodiment corresponds to Principle 5 of the invention described above. FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a measurement control device according to the eighth embodiment of the present invention. The measurement control device includes a PID control unit 1, an input unit 2, an EEPROM 3, a RAM 4, a writing / reading unit 5, an LED lighting processing unit 7, an LED 6, a communication interface unit 8, and a low change frequency parameter. And a parameter registration unit 9 for previously registering.

図11は本実施の形態の書込み/読出し部5のEEPROM3への書込みに関する動作を示すフローチャートである。
書込み/読出し部5は、入力部2または通信インタフェース部8からの入力に応じて、EEPROM3へのパラメータの書込みを行う。このとき、書込み検出部50は、通信インタフェース部8を介したパラメータ入力により、EEPROM3への書込み要求が発生した場合、この書込みを検出する(図11ステップS500においてYES)。
FIG. 11 is a flowchart showing an operation related to writing to the EEPROM 3 by the writing / reading unit 5 of the present embodiment.
The writing / reading unit 5 writes parameters to the EEPROM 3 in accordance with an input from the input unit 2 or the communication interface unit 8. At this time, when a write request to the EEPROM 3 is generated by parameter input via the communication interface unit 8, the write detection unit 50 detects this write (YES in step S500 in FIG. 11).

判定部51は、通信機能を用いたEEPROM3へのパラメータの書込みが検出された場合、書込みの対象となったパラメータがパラメータ登録部9に登録された低変更頻度パラメータであるかどうかを判定する(ステップS501)。低変更頻度パラメータの例としては、例えばモニタ用パラメータがある。   When the parameter writing to the EEPROM 3 using the communication function is detected, the determination unit 51 determines whether the parameter to be written is a low change frequency parameter registered in the parameter registration unit 9 ( Step S501). An example of the low change frequency parameter is a monitoring parameter.

判定部51は、書込み対象のパラメータが低変更頻度パラメータである場合、低変更頻度パラメータ書込み通知信号をLED点灯処理部7に出力する(ステップS502)。
LED点灯処理部7は、判定部51から低変更頻度パラメータ書込み通知信号を受信した場合には、低変更頻度パラメータ用に予め規定された時間(例えば10制御周期の間であり通常の温調計であれば2秒程度)だけLED6を点灯させる。
When the parameter to be written is a low change frequency parameter, the determination unit 51 outputs a low change frequency parameter write notification signal to the LED lighting processing unit 7 (step S502).
When the LED lighting processing unit 7 receives the low change frequency parameter write notification signal from the determination unit 51, the LED lighting processing unit 7 is a predetermined time for the low change frequency parameter (for example, 10 control cycles, and a normal temperature controller). If so, the LED 6 is turned on only for about 2 seconds).

また、判定部51は、書込み対象のパラメータがパラメータ登録部9に登録されていない通常変更頻度パラメータである場合には、通常変更頻度パラメータ書込み通知信号をLED点灯処理部7に出力する(ステップS503)。
LED点灯処理部7は、通常変更頻度パラメータ書込み通知信号を受信した場合には、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された短い時間(例えば1制御周期の間であり通常の温調計であれば0.2秒程度)だけLED6を点灯させる。
In addition, when the parameter to be written is a normal change frequency parameter that is not registered in the parameter registration unit 9, the determination unit 51 outputs a normal change frequency parameter write notification signal to the LED lighting processing unit 7 (step S503). ).
When the LED lighting processing unit 7 receives the normal change frequency parameter write notification signal, the LED lighting processing unit 7 is a short time defined in advance for the normal change frequency parameter (for example, during one control cycle and is a normal temperature controller). The LED 6 is turned on only for about 0.2 seconds).

ただし、低変更頻度パラメータであっても、何らかの事情(例えば初期設定の誤りに気付いて修正する場合など)により、緊急やむを得ない書込みの指示が行なわれることもあるので、EEPROM3への書込みは実行するものとする。   However, even in the case of a low change frequency parameter, an urgent or unavoidable writing instruction may be given due to some circumstances (for example, when an error in the initial setting is noticed and corrected), so writing to the EEPROM 3 is executed. Shall.

本実施の形態では、通常変更頻度パラメータと低変更頻度パラメータで通知の継続時間を変えることにより、明らかに正常な書込みである可能性が高い場合において、通知が継続することを避けることができると同時に、逆に明らかに設計ミスあるいはプログラムミスである可能性が高い場合において、通知の見落としが発生する確率を低減することができる。   In the present embodiment, it is possible to avoid continuing notification when there is a high possibility of normal writing by changing the duration of notification with the normal change frequency parameter and the low change frequency parameter. At the same time, on the contrary, when there is a high possibility that it is clearly a design error or a program error, it is possible to reduce the probability that the notification is overlooked.

なお、第1〜第8の実施の形態で説明した計測制御機器は、CPU、記憶装置及びインタフェースを備えたコンピュータと、これらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。CPUは、記憶装置に格納されたプログラムに従って第1〜第8の実施の形態で説明した処理を実行する。   The measurement control device described in the first to eighth embodiments can be realized by a computer having a CPU, a storage device, and an interface, and a program for controlling these hardware resources. The CPU executes the processes described in the first to eighth embodiments in accordance with a program stored in the storage device.

また、本実施の形態では、EEPROMを例に挙げて説明しているが、EEPROMに限らず、書込み回数に制限がある記憶素子であれば本発明は有効である。
また、第1〜第8の実施の形態では、警報発生や書込み通知のデバイスとしてLEDを用いているが、これに限るものではなく、例えばLCDなどの表示装置を用いてもよい。
In this embodiment, the EEPROM is described as an example. However, the present invention is not limited to the EEPROM, and the present invention is effective as long as the memory element has a limited number of times of writing.
In the first to eighth embodiments, an LED is used as a device for generating an alarm or writing notification. However, the present invention is not limited to this. For example, a display device such as an LCD may be used.

本発明は、EEPROMなどの書込み回数に制限がある記憶素子を搭載した機器に適用することができる。   The present invention can be applied to a device equipped with a storage element such as an EEPROM that has a limited number of times of writing.

本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the measurement control apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器を適用する温度制御系の1例を示す図である。It is a figure which shows one example of the temperature control system to which the measurement control apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention is applied. 本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器のEEPROMおよびRAMの記憶内容の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the memory content of EEPROM and RAM of the measurement control apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器の書込み/読出し部の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the writing / reading part of the measurement control apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る計測制御機器の書込み/読出し部の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the writing / reading part of the measurement control apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the measurement control apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態に係る計測制御機器の書込み/読出し部の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the writing / reading part of the measurement control apparatus which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施の形態に係る計測制御機器のEEPROMおよびRAMの記憶内容の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the memory content of EEPROM and RAM of the measurement control apparatus which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態に係る計測制御機器の書込み/読出し部の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the writing / reading part of the measurement control apparatus which concerns on the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態に係る計測制御機器の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the measurement control apparatus which concerns on the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態に係る計測制御機器の書込み/読出し部の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the writing / reading part of the measurement control apparatus which concerns on the 8th Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…PID制御部、2…入力部、3…EEPROM、4…RAM、5,5a…書込み/読出し部、6…LED、7…LED点灯処理部、8…通信インタフェース部、9…パラメータ登録部、10…温調計、11…加熱処理炉、12…ヒータ、13…温度センサ、14…電力調整器、15…電力供給回路、16…PLC、50…書込み検出部、51…判定部、52…書込み禁止部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... PID control part, 2 ... Input part, 3 ... EEPROM, 4 ... RAM, 5, 5a ... Write / read part, 6 ... LED, 7 ... LED lighting process part, 8 ... Communication interface part, 9 ... Parameter registration part DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Temperature controller, 11 ... Heat processing furnace, 12 ... Heater, 13 ... Temperature sensor, 14 ... Power regulator, 15 ... Power supply circuit, 16 ... PLC, 50 ... Write detection part, 51 ... Determination part, 52 ... write-protection section.

Claims (11)

計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、
この記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントする書込み検出手段と、
前記パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手段とを備えることを特徴とする計測制御機器。
A storage element for storing parameters used in the measurement control device;
Write detection means for counting the number of parameter writes to this storage element for each parameter;
Compare the number of writes for each parameter with a preset upper limit of the number of writes for each parameter, and issue an alarm if the number of writes of at least one parameter exceeds the upper limit of the number of writes set for this parameter. A measurement control device comprising an alarm generating means for emitting.
請求項1記載の計測制御機器において、
さらに、前記パラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、このパラメータの前記記憶素子への書込みを禁止する書込み禁止手段を備えることを特徴とする計測制御機器。
The measurement control device according to claim 1,
The measurement control further comprises a write prohibiting means for prohibiting writing of the parameter to the storage element when the number of times of writing of the parameter exceeds an upper limit value of the number of writings set for the parameter. machine.
計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、
この記憶素子へのパラメータの書込み回数をパラメータの属性毎にカウントする書込み検出手段と、
前記パラメータの属性毎の書込み回数と予め設定されたパラメータの属性毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つの属性の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手段とを備えることを特徴とする計測制御機器。
A storage element for storing parameters used in the measurement control device;
Write detection means for counting the number of parameter writes to this storage element for each parameter attribute;
The write count for each attribute of the parameter is compared with a preset write count upper limit value for each parameter attribute, and the write count of at least one attribute exceeds the write count upper limit value set for this attribute. A measurement control device comprising alarm generation means for issuing an alarm in case.
請求項3記載の計測制御機器において、
さらに、前記属性毎の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に、この属性のパラメータの前記記憶素子への書込みを禁止する書込み禁止手段を備えることを特徴とする計測制御機器。
In the measurement control device according to claim 3,
Furthermore, when the number of times of writing for each attribute exceeds the upper limit value of the number of times of writing set for this attribute, it is provided with a write prohibiting means for prohibiting writing of the parameter of this attribute to the storage element. Measurement control equipment.
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の計測制御機器において、
通常変更頻度のパラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータについては、前記通常変更頻度パラメータ用の書込み回数上限値よりも少ない書込み回数上限値が予め設定されることを特徴とする計測制御機器。
In the measurement control device according to any one of claims 1 to 4,
A measurement control device characterized in that, for a low change frequency parameter whose change frequency is lower than that of a normal change frequency parameter, a write frequency upper limit value smaller than the write frequency upper limit value for the normal change frequency parameter is preset.
計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子と、
外部の機器から通信機能を用いた前記記憶素子へのパラメータの書込みを検出する書込み検出手段と、
前記書込みが検出されたときに、通信機能を用いた記憶素子への書込みが行われたことをユーザに通知する通知手段とを備えることを特徴とする計測制御機器。
A storage element for storing parameters used in the measurement control device;
Write detection means for detecting writing of parameters to the storage element using a communication function from an external device;
A measurement control device comprising: notification means for notifying a user that writing to a storage element using a communication function has been performed when the writing is detected.
請求項6記載の計測制御機器において、
さらに、通常変更頻度のパラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータを予め登録するためのパラメータ登録手段を備え、
前記通知手段は、書込みの対象となったパラメータが通常変更頻度パラメータである場合は、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された第1の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行い、書込み対象のパラメータが前記パラメータ登録手段に登録された低変更頻度パラメータである場合は、前記第1の通知時間よりも長い予め規定された第2の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行うことを特徴とする計測制御機器。
In the measurement control device according to claim 6,
Furthermore, it comprises parameter registration means for pre-registering a low change frequency parameter whose change frequency is lower than that of the normal change frequency parameter,
When the parameter to be written is a normal change frequency parameter, the notifying means notifies the user only for a first notification time defined in advance for the normal change frequency parameter, and the write target parameter Is a low change frequency parameter registered in the parameter registration means, the user is notified for a second notification time that is defined in advance longer than the first notification time. Control equipment.
計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対してパラメータの書込みが行われたときに、このパラメータの書込み回数をパラメータ毎にカウントする書込み検出手順と、
前記パラメータ毎の書込み回数と予め設定されたパラメータ毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つのパラメータの書込み回数が、このパラメータ用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手順とを備えることを特徴とする記憶素子保護方法。
Write detection procedure for counting the number of times of writing this parameter for each parameter when the parameter is written to the storage element that stores the parameter used in the measurement control device,
Compare the number of writes for each parameter with a preset upper limit of the number of writes for each parameter, and issue an alarm if the number of writes of at least one parameter exceeds the upper limit of the number of writes set for this parameter. A storage element protection method comprising: an alarm generation procedure for issuing a warning.
計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対してパラメータの書込みが行われたときに、このパラメータの書込み回数をパラメータの属性毎にカウントする書込み検出手順と、
前記パラメータの属性毎の書込み回数と予め設定されたパラメータの属性毎の書込み回数上限値とを比較し、少なくとも1つの属性の書込み回数が、この属性用に設定された書込み回数上限値を超えた場合に警報を発する警報発生手順とを備えることを特徴とする記憶素子保護方法。
Write detection procedure for counting the number of times of writing of this parameter for each attribute of the parameter when the parameter is written to the storage element storing the parameter used in the measurement control device,
The write count for each attribute of the parameter is compared with a preset write count upper limit value for each parameter attribute, and the write count of at least one attribute exceeds the write count upper limit value set for this attribute. A storage element protection method comprising: an alarm generation procedure for generating an alarm in case.
計測制御機器内で使用するパラメータを記憶する記憶素子に対して外部の機器から通信機能を用いたパラメータの書込みが行われたときに、この書込みを検出する書込み検出手順と、
前記書込みが検出されたときに、通信機能を用いた記憶素子への書込みが行われたことをユーザに通知する通知手順とを備えることを特徴とする記憶素子保護方法。
A write detection procedure for detecting this writing when a parameter is written using a communication function from an external device to a storage element that stores a parameter used in the measurement control device;
A storage element protection method comprising: a notification procedure for notifying a user that writing to a storage element using a communication function has been performed when the writing is detected.
請求項10記載の記憶素子保護方法において、
前記通知手順は、書込みの対象となったパラメータが通常変更頻度パラメータである場合は、通常変更頻度パラメータ用に予め規定された第1の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行い、書込み対象のパラメータが前記通常変更頻度パラメータよりも変更頻度が低い低変更頻度パラメータである場合は、前記第1の通知時間よりも長い予め規定された第2の通知時間だけ前記ユーザへの通知を行うことを特徴とする記憶素子保護方法。
The memory element protection method according to claim 10.
In the notification procedure, when the parameter to be written is a normal change frequency parameter, the user is notified for the first notification time defined in advance for the normal change frequency parameter. Is a low change frequency parameter whose change frequency is lower than that of the normal change frequency parameter, the user is notified for a predetermined second notification time longer than the first notification time. A storage element protection method.
JP2007333850A 2007-12-26 2007-12-26 Measurement control device and storage element protection method Expired - Fee Related JP5252909B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007333850A JP5252909B2 (en) 2007-12-26 2007-12-26 Measurement control device and storage element protection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007333850A JP5252909B2 (en) 2007-12-26 2007-12-26 Measurement control device and storage element protection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009157561A true JP2009157561A (en) 2009-07-16
JP5252909B2 JP5252909B2 (en) 2013-07-31

Family

ID=40961539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007333850A Expired - Fee Related JP5252909B2 (en) 2007-12-26 2007-12-26 Measurement control device and storage element protection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5252909B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107679266A (en) * 2017-08-22 2018-02-09 珠海泓芯科技有限公司 The emulation mode and simulator of flash memory circuit

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111295094A (en) 2017-10-09 2020-06-16 泰尔茂比司特生物技术有限公司 Freeze-drying container and method for using freeze-drying container
JP2022525742A (en) 2019-03-14 2022-05-19 テルモ ビーシーティー バイオテクノロジーズ,エルエルシー Freeze-drying loading tray assembly and system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120376A (en) * 1995-10-25 1997-05-06 Fujitsu Ten Ltd Data processor
JP2003140979A (en) * 2001-11-08 2003-05-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Recording method to eeprom
JP2007034431A (en) * 2005-07-22 2007-02-08 Fuji Xerox Co Ltd Memory controller

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120376A (en) * 1995-10-25 1997-05-06 Fujitsu Ten Ltd Data processor
JP2003140979A (en) * 2001-11-08 2003-05-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Recording method to eeprom
JP2007034431A (en) * 2005-07-22 2007-02-08 Fuji Xerox Co Ltd Memory controller

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107679266A (en) * 2017-08-22 2018-02-09 珠海泓芯科技有限公司 The emulation mode and simulator of flash memory circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP5252909B2 (en) 2013-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6437224B2 (en) State machine functional block with user-definable actions for transitions between states
JP5252909B2 (en) Measurement control device and storage element protection method
US9798611B2 (en) Programmable logic controller
JP2010015265A (en) Program rewriting device and program rewriting method
CN102971515A (en) Vehicle data abnormality determination device
JP6437457B2 (en) Device for identifying unauthorized operation of the system state of a control and regulation unit and nuclear technology equipment including the device
JP5012548B2 (en) Programmable controller
US10620823B2 (en) Information processing device and displaying method for switching between faceplates for controlling field devices
JP2013190286A (en) Sensor apparatus
JP2008269301A (en) Electronic control device
JP6051545B2 (en) PLC system, status display method, PLC, and programmable display
JP2008298562A (en) Proximity sensor with self-diagnostic function
EP3109806A1 (en) Method for generating prognostic alerts and a human machine interface (hmi) device therefor
JP2008301158A (en) Proximity sensor with self-diagnosis function
JP6639433B2 (en) Control device
JP2009217439A (en) Control apparatus and its operation method
KR20160141971A (en) Plc apparatus
JP2006190165A (en) Abnormal state storage controller and abnormal state storage control method
JP2008176393A (en) Electronic controller
JP4450161B2 (en) Unit and programmable controller
JP3875700B2 (en) Control device
JP5700654B2 (en) Electromagnetic induction heating cooker
JP5840913B2 (en) Inverter device
JP2006079229A (en) Method and device for maintaining data integrity for flash memory microcomputer
JP2006309728A (en) Programmable controller

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100826

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120907

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120925

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130326

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130416

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160426

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees