JP2009152304A - プラズマ処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】シャワープレートと下部電極間にプラズマを生成し被加工試料を処理するプラズマ処理装置におけるシャワープレートを介して被加工試料表面からの光を検出する検出器は、光が入力される光伝送体からなる光導入部と、光導入部で得た光を分析する分光器を備え、光導入部の光が入力される端面は、前記シャワープレートのプラズマ側の端面から、該真空容器内でのガス分子の平均自由工程の5倍以上の距離を置いて配置される。
【選択図】図1
Description
しかしながら、特許文献1に示される構造を用いても放電時間100〜200時間で採光が困難となり、半導体装置の量産程度によっては、不十分な寿命しか得られていない。またシャワープレートに施す微細孔径を小さくしアスペクト比を稼ぐ等の工夫により、光導入部の寿命を幾分か延命することは可能であるが、光量が減少してしまい必要な精度が確保できなくなる問題点があった。
さらに、半導体量産工程では、光伝送体ロッドの光透過率が減少した場合の光伝送体ロッド交換作業を行う必要があるが、従来例では、その作業を簡便に行うことが困難であるという問題点があった。
sccm、CHF3 43 sccm、CF410 sccmをもって、アンテナ110のプレート115から処理室100に供給される。同時に処理室100の内部が所定の処理圧力、例えば2Paになるように調整される。
図2は、図1の実施例において、アンテナ110に取り付けられた計測ポート140の部分を拡大した断面図である。すでに図1で説明したように、アンテナ110を形成する円板状導電体111および誘電体112はハウジング114に保持され、また円板状導電体111にはプレート115が設置される。プレート115には多数のガス流出孔115Aが設けられており、プレート115の上方でこれに隣り合って覆う円板状導電体111においてガス流出孔115Aと一致する位置に設けられたガス流出孔111Aを通して処理ガスを処理室100の内部に供給する。
本発明の変形例を、図4を用いて説明する。図4は、第1の実施例の図2と同様に、計測ポート140の詳細構造を示す図である。図4では、光伝送体ロッド141のくりぬき空間部141Cに内部に筒状部材145を備えたことを特徴とする。筒状部材145は、光伝送体ロッド141のくりぬき空間部141Cの内側に配置された構造となっている。
本発明の第2の変形例を、図5を用いて説明する。図5は、第1の実施例の図2と同様に、計測ポート140の詳細構造を示す図である。図4では、光伝送体ロッド141の円筒状の凹み部であるくりぬき空間部141Cに内部にその中心の軸に合わせてくりぬき空間部141Cの底部からプレート115の背面に向かって延在する円柱状の石英から構成される絶縁部材部146を備えたことを特徴とする。
101 磁場形成手段
102 処理室側壁
103 真空室
104 真空排気系
105 圧力制御手段
110 アンテナ
111 円板状導電体
111A ガス流出孔
112 誘電体
113 誘電体リング
114 ハウジング
115 プレート
115A ガス流出孔
115B 採光用微細孔
116 ガス供給手段
120 アンテナ電源系
121 アンテナ電源
122 マッチング回路・フィルタ系
123 アンテナ
124 マッチング回路・フィルタ系
125 マッチング回路・フィルタ系
126 導入端子
130 下部電極
131 静電吸着装置
132 試料台リング
133 絶縁体
134 バイアス電源
135 マッチング回路・フィルタ系
140 計測ポート
141,141A,141B 光伝送体
141C くりぬき空間部
142 保持手段
143 真空封止手段
143A 真空封止手段
143B 真空封止手段
143C 真空封止手段
145 筒状部材
146 絶縁部材部
151 光学伝送手段
152 計測器
153 計測器制御・演算手段
154 システム制御手段
155 制御インタフェース
P プラズマ
W ウエハ
Claims (7)
- 真空容器内にシャワープレートを介して原料ガスを流出させる上部電極と、当該上部電極に対向して設けられ被加工試料を載置する下部電極と、前記シャワープレートを介して前記被加工試料表面からの光を検出する検出器を備え、前記シャワープレートと前記下部電極間にプラズマを生成し前記被加工試料を処理するプラズマ処理装置において、
前記検出器は、前記光が入力される光伝送体からなる光導入部と、当該光導入部で得た光を分析する分光器を備え、
前記光導入部の光が入力される端面は、前記シャワープレートのプラズマ側の端面から、該真空容器内でのガス分子の平均自由工程の5倍以上の距離を置いて配置されることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1記載のプラズマ処理装置において、
前記シャワープレートは、前記原料ガスが通過する複数のガス用貫通孔と、前記被加工試料からの光を通過させる光導入用貫通孔を備え、
前記上部電極は、前記シャワープレートと、当該シャワープレートの前記ガス用貫通孔に連通するように原料ガス用の通路が形成されたガス通過部材と、高周波電源に接続された放電用部材の積層構造体であり、
前記光導入部は、前記放電用部材に備えられることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1記載のプラズマ処理装置において、
前記シャワープレートは、前記原料ガスが通過する複数のガス用貫通孔と、前記被加工試料からの光を通過させる光導入用貫通孔を備え、
前記上部電極は、前記シャワープレートと、当該シャワープレートの前記ガス用貫通孔に連通するように原料ガス用の通路が形成されたガス通過部材と、高周波電源に接続された放電用部材の積層構造体であり、
前記光導入部は、前記放電用部材に備えられ、
前記光導入部は光導入部端面とシャワープレートとの間に、空間部を形成したことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項3記載のプラズマ処理装置において、前記光導入部は石英製の円柱状のロッドから形成され、前記空間部は前記円柱状のロッドの内部がくりぬかれた構造のくりぬき空間部であることを特徴とするプラズマ処理装置。
- 請求項3記載のプラズマ処理装置において、
前記光導入部は、外形が凸構造を持つ部材であることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項3記載のプラズマ処理装置において、
前記光導入部の前記空間部の内部に、筒状部材を配置することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項3記載のプラズマ処理装置において、
前記光導入部の前記空間部の中央部に、絶縁部材の突起構造を持つことを特徴とするプラズマ処理装置。
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