JP2009146488A - 光ディスク装置、制御回路及び迷光キャンセルゲイン調整方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク装置ごとに迷光キャンセルゲインを適切に調整して、サーボ信号をより正確にすること。
【解決手段】複数の記録層を有する光ディスク３に対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子Ｅ−Ｈと、受光素子Ｅ−Ｈに隣接配置された層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊとを有する光検出部１３０と、受光素子Ｅ−Ｈの受光量を表す信号から、受光素子Ｉ、Ｊの受光量を表す信号に所定の乗算係数ｍを乗算した信号を減算した信号に基づいてサーボ信号を生成するサーボ信号生成部４０と、受光素子Ｅ−Ｈに対する反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、光ディスク３の所定領域にレーザ光を照射して受光素子Ｅ−Ｈにおける光量バランスの変動量を測定し、当該光量バランスの変動量が最小となるように乗算係数ｍの値を決定する係数決定部６６と、を備える光ディスク装置が提供される。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク装置、制御回路及び迷光キャンセルゲイン調整方法に関する。

光ディスク装置は、レーザ光を利用して光ディスクに情報を記録／再生するための装置である。この光ディスク装置は、光源（例えばレーザダイオード：ＬＤ）から出射したレーザ光を、対物レンズで集光して光ディスクの記録面にスポット照射し、当該光ディスクで反射したレーザ光の反射光を光検出部（例えばフォトディテクタ：ＰＤ）で受光する光ピックアップを備えている。そして、かかる光ディスク装置では、上記光検出部における受光量の検出信号を演算して、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等のサーボ信号を生成して、光ディスクに対するレーザスポットの照射位置をサーボ制御している。

かかる光ディスク装置が取り扱う光ディスクには、例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）や、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ：以下「ＢＤ」という。）等の高密度光ディスクなどがある。さらに近年では、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ±Ｒ、ＢＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ等の光ディスクには、より多くの情報を記憶させるために、記録層を２層とした２層ディスクが開発されている。特にＢＤ等の高密度光ディスクにいたっては、２層以上の記録層が多層構造化された多層ディスクが市場に出てくる可能性もある。

上記のような２層以上の記録層を有する多層ディスクに対して記録再生する際に、大きな問題となってくるのが、記録再生している記録層以外から反射した層間迷光である。迷光はあくまでも、記録再生対象の記録層以外からの光のため、本来必要なサーボ信号生成用の受光素子の検出信号に加算されてしまうと、サーボ信号（例えば、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等）が不正確になり、正常に記録再生ができなくなってしまう。最悪の場合、記録中にサーボが外れてしまうと、本来意図しないアドレスにデータを記録してしまい、光ディスクのデータを破損させる可能性もある。

このような多層ディスクの層間迷光を軽減させ、サーボ信号をより正確にする方法として、例えば特許文献１には、層間迷光成分を検出するための受光素子を追加設置する方法が提案されている。この方法では、本来のサーボ信号生成用の受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）に隣接して、層間迷光検出用の受光素子（Ｉ、Ｊ）を設置することにより、サーボ信号生成用の受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）に入射している層間迷光成分に近い信号を検出することができる。そして、受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）による検出信号から層間迷光キャンセルゲイン（層間迷光成分の検出信号に所定の乗算係数ｍを乗じた信号）を減じることで、サーボ信号における層間迷光成分の影響を軽減している。

特開２００５−３４６８８２号公報

しかしながら、上記特許文献１記載の技術においても、（１）サーボ信号生成用受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）に入射する迷光成分そのものを検出できるわけでなく、（２）受光素子やサーボ信号生成回路等の製造上のばらつきにより検出量に誤差が生じ、（３）層間迷光成分の分布自体のばらつきも存在する。これら（１）〜（３）の事情などが原因で、光ピックアップや光ディスク装置ごとに適切な層間迷光キャンセルゲインを決定（即ち、上記乗算係数ｍを決定）しないと、サーボ信号が不正確になってしまうという問題があった。

そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、光ディスク装置ごとに迷光キャンセルゲインを適切に調整して、サーボ信号をより正確にすることが可能な、新規かつ改良された光ディスク装置、制御回路及び迷光キャンセルゲイン調整方法を提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部と；前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定し、当該光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定する係数決定部と；を備えることを特徴とする、光ディスク装置が提供される。

かかる構成により、係数決定部によって、サーボ信号生成用受光素子に対する反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、光ディスクの所定領域にレーザ光が照射されることで、サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量が測定され、当該光量バランスの変動量が最小となるように乗算係数の値が決定される。これにより、層間迷光キャンセルゲインを定める乗算係数の適正値を決定できるので、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できる。

前記光ディスクの所定領域は、前記光ディスクにおけるデータの記録部分及び未記録部分を含む領域であるようにしてもよい。これにより、光ディスクにおけるデータの記録部分及び未記録部分を含む領域にレーザ光が照射されることで、サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量が測定される。当該領域はレーザ光の反射率の変化が激しいので、光量バランスの変動を測定しやすくなる。

前記サーボ信号は、差動プッシュプル方式のトラッキングエラー信号であり、前記光量バランスの変動量は、サイドプッシュプル信号を用いて測定されるようにしてもよい。これにより、サーボ信号生成用受光素子における光量バランスを表す指標として、サイドプッシュプル信号を用いて、サイドプッシュプル信号の変動量が最小となるように乗算係数の値を決定される。これにより、差動プッシュプル方式のトラッキングエラー信号を生成するときの層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できる。

前記光量バランスの変動量の測定時に、対物レンズをトラッキング方向にシフトさせることにより、前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらすようにしてもよい。これにより、当該光スポットの照射位置を好適にずらすことができる。

前記光量バランスの変動量の測定時に、対物レンズをレンズチルトさせることにより、前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらすようにしてもよい。これにより、当該光スポットの照射位置を好適にずらすことができる。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部から入力された信号に基づいて、サーボ信号を生成する制御回路であって：前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定し、当該光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定する係数決定部と；を備えることを特徴とする、制御回路が提供される。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部と；前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；を備えた光ディスク装置における迷光キャンセルゲイン調整方法であって：前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定するステップと；前記光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定するステップと；を含むことを特徴とする、迷光キャンセルゲイン調整方法が提供される。

以上説明したように本発明によれば、光ディスク装置ごとに迷光キャンセルゲインを適切に調整して、サーボ信号をより正確にすることができる。

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

（第１の実施形態）
まず、図１を参照して、本発明の第１の実施形態にかかる光ディスク装置１の全体構成について説明する。図１は、本実施形態にかかる光ディスク装置１の構成を示す説明図である。

図１に示すように、本実施形態にかかる光ディスク装置１は、外部のホスト機器（例えば、パーソナルコンピュータ、デジタルビデオカメラ等、図示せず。）からの指示に基づいて、光ディスク３に対してデータを記録及び／又は再生可能な装置である。かかる光ディスク装置１は、概略的には、光ディスク３に対してデータの記録動作や再生動作を行なう光ピックアップ１０と、光ディスク３を回転駆動するディスク駆動部２０と、光ピックアップ１０及びディスク駆動部２０を制御する制御回路３０とを備える。

光ディスク３は、データの読み書きに光を利用する記憶媒体であれば、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）等の高密度光ディスクなど、任意の光ディスクを利用できる。なお、光ディスク３は、例えば、再生専用型光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−ＲＯＭなど）であってもよいし、追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ（ＣＤ Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ、ＢＤ−Ｒ等）、又は、書き換え型光ディスク（ＣＤ−ＲＷ（ＣＤ ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ、ＢＤ−ＲＥ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等）などの記録及び再生可能な光ディスクであってもよい。

次に、図１の光ピックアップ１０について説明する。光ピックアップ１０は、光ディスク３に集光したレーザ光を照射してその反射光を受光することで、光ディスク３に対して情報の読み出し及び書き込みを行う。この光ピックアップ１０は、レーザ光を発射するレーザ光源（発光素子）の一例であるレーザダイオード（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ：ＬＤ）１１０と、ＬＤ１１０駆動用のＬＤＤ（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ）１４４と、ＬＤ１１０の出射パワーを検出するＦＰＤＩＣ（Ｆｒｏｎｔ ＰＤＩＣ：図示せず。）と、光ディスク３の記録面に対向配置されてＬＤ１１０から入射されたレーザ光を集光して光ディスク３にスポット光を照射する対物レンズ１２０（集光レンズ）と、光ディスク３におけるレーザ光の反射光を受光して受光量を検出する光検出部１３０と、対物レンズ１２０を少なくともフォーカス方向及びトラッキング方向に移動させる２軸アクチュエータ１４０と、光ピックアップ１０を光ディスク３の径方向に移動させる送り機構であるスライドモータ１４２と、レーザダイオード１１０を駆動させるＬＤドライバ１４４と、ＬＤ１１０からのレーザ光を光ディスク３に導くとともに光ディスク３での反射光を光検出部１３０に導く光学系１５０と、を備える。

このうち、２軸アクチュエータ１４０は、対物レンズ１２０をトラッキング方向（光ディスク３の記録面に対して平行なディスク径方向）及びフォーカス方向（光ディスク３の記録面に対して垂直方向）に高速かつ高精度で移動させる。この２軸アクチュエータ１４０により対物レンズ１２０の位置をフォーカス方向及びトラッキング方向に微調整することで、光ディスク３に対するレーザ光の照射位置（光スポット）の位置制御（フォーカス制御、トラッキング制御）を行うことができる。これにより、回転時における光ディスク３の面振れ（光ディスク３に対する対物レンズ１２０の高さ方向へのずれ）に応じて、対物レンズ１２０の焦点位置を光ディスク３の記録面に正確に位置合わせできる。また、光ディスク３のトラック振れ（光ディスク３に対する対物レンズ１２０の径方向へのずれ、即ち、トラック変調成分）に応じて、レーザスポットの照射位置を目標トラックに正確に追従させることができる。なお、上記２軸アクチュエータ１４０に代えて例えば３軸アクチュエータを用いたり、或いは、対物レンズ１２０のチルト駆動機構を別途設けたりしてもよい。これにより、上記対物レンズ１２０をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動させるのみならず、対物レンズ１２０をディスク面に対してレンズチルトさせることが可能となる。

光検出部１３０は、例えば、複数の受光素子及びアンプ等を有するＰＤＩＣ（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ ＩＣ）で構成される。この光検出部１３０は、所定のパターンで配列された複数の受光素子（例えばフォトディテクタ：ＰＤ）を有しており（図４参照。）、各受光素子における受光量を光電変換して得られる検出信号を制御回路３０に出力する。また、光検出部１３０からＲＦアンプ６４には、光ディスク３に記録された情報の再生結果を表す高周波信号であるＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号が出力されて、ＲＦアンプ６４で増幅された後に、デコードされてホスト機器に再生信号として出力される。

光学系１５０は、ＬＤ１１０から出射されたレーザ光を光ディスク３の記録面に導くとともに、このレーザ光の光ディスク３での反射光を光検出部１３０に導くための光学系部品で構成される。この光学系１５０は、ＬＤ１１０から出射されたレーザ光からメインビーム（０次回折光）及びサイドビーム（±１次回折光）を生成し、このメインビーム及びサイドビームを光ディスク３に対して照射する光路を形成するとともに、光ディスク３での反射光を光検出部１３０に導光路を形成する。

ここで、図２を参照して、本実施形態にかかる光ピックアップ１０の光学系１５０の具体例について詳述する。図２は、本実施形態にかかる光ピックアップ１０の光学系１５０の構成例を示す模式図である。

図２に示すように、本実施形態にかかる光学系１５０において、発光素子であるレーザダイオード１１０から発射されたレーザ光は、例えば、コリメータレンズ１１１、グレーティング１１３、ビームスプリッタ１１４、収差補正素子１１５、１／４波長板１１６を順次介して、対物レンズ１２０に入射され、光ディスク３に照射される。さらに、光ディスク３で反射されたレーザ光は、例えば、対物レンズ１２０、１／４波長板１１６、収差補正素子１１５、ビームスプリッタ１１４、コリメータレンズ１２１、ホログラム板１２２、シリンドリカルレンズ１２３を順次介して、光検出部１３０で受光される。

詳細に説明すると、レーザダイオード１１０から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１１１によって発散光から平行光に変換された後に、回折格子であるグレーティング１１により、１つのメインビーム（主光束：０次回折光）と、複数（例えば、ノーマル３ビームＤＰＰの場合には２つ）のサイドビーム（副光束：±１次回折光）とに分光される。メインビームは、光ディスク３の記録面にデータを記録／再生するためのメインスポットを形成するレーザビームである。また、例えば２つのサイドビームは、互いに逆方向の極性を有する一定の収差を有し、光ディスク３の記録面上においてメインスポットに対して離隔した位置に一対のサイドスポットを形成するレーザビームである。

このグレーティング１１３から出射されたレーザ光（メインビームとサイドビーム）は、ビームスプリッタ１１４を通過して、球面収差補正用の光学ユニットである収差補正素子１１５に入射される。また、ビームスプリッタ１１４は、当該レーザ光の一部を反射させて、この反射光をコリメータレンズ１１７を介してフロントモニタフォトディテクタ１１８に照射させる。このフロントモニタフォトディテクタ１１８は、入射されたレーザ光を光電変換して受光量を検出し、この検出信号を制御回路３０のシステムコントローラ６０に出力する。これに応じて、システムコントローラ６０及びＬＤドライバ１４４は、レーザダイオード１１０から発射されるレーザ光の発射強度が一定となるようにフィードバック制御する。

収差補正素子１１５は、例えば、高ＮＡ（開口数）の２群対物レンズ１２０を使用した場合に顕著に現れる球面収差を補正する機能を有する。この収差補正素子１１５から出射されたレーザ光は、図示しない立ち上げミラーを介して、１／４波長板１１６に入射される。この１／４波長板１１６は、入射されるレーザ光に位相差９０°を与えて、直線偏光を円偏光に変換して対物レンズ１２０に入射させ、また、光ディスク３で反射した円偏光のレーザ光を直線偏光に変換する。対物レンズ１２０は、２群対物レンズで構成され、例えばＮＡ０．８５であり、収差補正素子１１５を通過したレーザ光を集光して、光ディスク３上の記録面に光スポット（上記メインスポットとサイドスポット）を照射する。メインスポット照射により光ディスク３の記録層を相変化させることで、光ディスク３の記録トラックに対して各種データが記録、書き換え、又は再生される。この照射時には、メインスポットがトラックの中央に適切なスポット径で照射されるように、２軸アクチュエータ１４０を用いた対物レンズ１２０の位置制御、即ち、トラッキング制御及びフォーカシング制御が行われる。

以上、図２を参照して、光ピックアップ１０の光学系１５０の構成を例示した。しかし、本発明の光ピックアップの光学系は図２の例に限定されるものではない。

次に、図１に戻り、ディスク駆動部２０について説明する。ディスク駆動部２０は、光ディスク３を回転駆動するスピンドルモータ２２と、スピンドルモータ２２に接続されて光ディスク３を回転可能に支持するターンテーブル２４と、ターンテーブル２４に光ディスク３を固定するためのディスククランプ２６とを有する。スピンドルモータ２２は、制御回路３０に設けられたシステムコントローラ６０（例えば制御用マイクロコントローラ）及びスピンドルドライバ６２によって制御され、光ディスク３を所定速度で回転駆動させる。

さらに、図１の制御回路３０について説明する。制御回路３０は、光ディスク装置１の各部を制御するデバイスである。この制御回路３０は、光検出部１３０から入力された検出信号をマトリクス演算処理して、サーボ制御のためのサーボ信号を生成するマトリクス回路４０（本発明のサーボ信号生成部に相当する。）と、マトリクス回路４０から入力されたサーボ信号に基づき、サーボドライブ信号を生成するサーボ回路５０と、光ディスク装置１の各部の動作を制御するシステムコントローラ６０と、システムコントローラ６０からの指示に基づいてスピンドルモータ２２を駆動させるスピンドルドライバ６２と、サーボ回路５０から入力されたサーボドライブ信号に基づいて、光ピックアップ１０の各部を駆動させるドライバ７０と、を備える。

ドライバ７０は、例えば、サーボ回路５０から入力されたトラッキングドライブ信号に基づいて、２軸アクチュエータ１４０のトラッキングコイル（図示せず。）を駆動させるトラッキングドライバ７２と、サーボ回路５０から入力されたフォーカスドライブ信号に基づいて、２軸アクチュエータ１４０のフォーカシングコイル（図示せず。）を駆動させるフォーカスドライバ７４と、サーボ回路５０から入力された制御信号に基づいてスライドモータ１４２を駆動させるスライドモータドライバ７６と、を有する。なお、上記２軸アクチュエータ１４０に代えて３軸アクチュエータを設置した場合、或いは、対物レンズ１２０のチルト機構を別途設置した場合には、図示のようにチルトドライバ７８を設けてもよい。この場合、チルトドライバ７８は、サーボ回路５０から入力されたチルト制御信号に基づいて、上記３軸アクチュエータ又はチルト機構を駆動させて、対物レンズ１２０をレンズチルトさせることができる。

また、光ディスク３に対してデータを記録再生するためには、例えば、上記以外にもＲＦアンプ６４により得られたＲＦ信号をデコードするデコーダや、当該ＲＦ信号をエンコードするエンコーダ、光ディスク３に記録する際にＬＤ１１０を駆動するパルス生成を行うライトストラテジ生成回路など（いずれも図示せず。）が設けられる。

次に、上記構成の制御回路３０の動作について説明する。上記光ディスク３での反射光は光ピックアップ１０の光検出部１３０で受光されて、各受光素子（ＰＤ）での受光量が検出され、当該受光量に応じた電気信号が制御回路３０のマトリクス回路４０に入力される。マトリクス回路４０は、マトリクス演算及び増幅回路等を具備しており、上記光検出部１３０から入力された各受光素子の電気信号をマトリクス演算処理して、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号などのサーボ信号を生成する。サーボ信号は、光ピックアップ１０内の制御対象の各デバイスをサーボ制御するための信号である。なお、このマトリクス回路４０内に上記ＲＦアンプ６４を設けて、再生データを表す高周波信号（ＲＦ信号）を生成することもできる。また、マトリクス回路４０は、ウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号生成し、不図示のウォブル回路に出力することもできる。

マトリクス回路４０は、上記のトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号などのサーボ信号を、サーボ回路５０に出力する。サーボ回路５０は、マトリクス回路４０から入力されたサーボ信号に基づいて、トラッキング、フォーカス等の各種のサーボドライブ信号を生成し、ドライバ７０にサーボ動作を実行させる。上記サーボドライブ信号は、例えば、２軸アクチュエータ１４０のトラッキングコイルを駆動させるためのトラッキングドライブ信号、２軸アクチュエータ１４０のフォーカスコイルを駆動させるためのフォーカスドライブ信号、スライドモータ１４２を駆動させるためのスライドモータドライブ信号、不図示の３軸アクチュエータのチルトコイル又はチルト機構を駆動させるためのチルトドライブ信号などを含む。ドライバ７０は、サーボ回路５０から入力された各サーボドライブ信号に基づいて、制御対象の各デバイスを駆動させる。

以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作を実行する各ブロックは、例えばマイクロコントローラで構成されたシステムコントローラ６０によって制御され、システムコントローラ６０に対するプログラミングにより任意の制御が可能となっている。なお、システムコントローラ６０は、例えばプログラムにより係数決定部６６として機能する。そして、本実施形態にかかる光ディスク装置１では、上記制御回路３０においてサーボ信号（例えばトラッキングエラー信号）を正確に生成するために、上記係数決定部６６を用いて層間迷光成分のキャンセルゲイン調整を行う点に特徴を有するが、その詳細は後述する。

次に、本実施形態にかかる光ディスク３について説明する。以下では、光ディスク３として、ブルーレイディスク（ＢＤ）の例を挙げて説明する。

ＢＤにおいては、ディスクサイズとして、直径が例えば１２０ｍｍ、ディスク厚は１．２ｍｍである。そして波長が例えば４０５ｎｍのレーザ光（いわゆる青色レーザ）と、ＮＡが例えば０．８５の対物レンズ１２０の組み合わせという条件下で、ＢＤに対して例えばフェーズチェンジマーク（相変化マーク）の記録再生が行われる。この場合のトラックピッチは例えば０．３２μｍ、データビットレングス１１１.７５ｎｍで、フォーマット効率約８２％としたとき、直系１２ｃｍのディスクの１つの記録層に例えば約２５ＧＢ（ギガバイト）程度のデータを記録できる。

かかるＢＤでは記録層が１つの単層ディスクだけでなく、２層ディスクなど、複数の記録層が形成された多層ディスクが開発されている。記録層を多層構造とすることで、さらなる大容量化が実現でき、例えば記録層を２層構造とすることにより、容量は上記の２倍である５０ＧＢ程度とすることができる。もちろん３層以上のｎ層構造も可能であり、容量を上記の約ｎ倍とすることができる。

図３は、光ディスク３が例えばＢＤの２層ディスクである場合のディスク構造を模式的に示す説明図である。図３に示すように、光ディスク３は、ポリカーボネート基板４上に、記録層Ｌ０、中間層５、記録層Ｌ１、カバー層６をこの順に積層した構造である。ディスク厚は例えば約１．２ｍｍであり、ポリカーボネ−ト基板４の厚みは例えば約１．１ｍｍ、中間層５の厚みは例えば約２５μｍである。

光ディスク装置１は、図３のカバー層６側からレーザ光を入射し、記録層であるＬ０層かＬ１層のいずれか一方にフォーカスさせることで、データを記録再生する。入射光をＬ１層にフォーカスさせた場合、Ｌ１層で反射した光は、光ピックアップ１０内の光検出部１３０の受光素子にて検出されて、各種サーボ信号やＲＦ信号の生成に使用される。しかしながら、Ｌ１層を透過する光も存在し、当該透過光は、デフォーカスした状態でＬ０層に到達して反射する。かかる反射光は、層間迷光として光ピックアップ内の受光素子に一部受光されて、サーボ信号に加算されることにより、サーボ信号を不正確にする要因になっている。同様に、入射光をＬ０層にフォーカスさせた場合も、Ｌ１層にはデフォーカスした光が当たっており、層間迷光となる反射光が存在する。さらに、光ディスク３の表面（カバー層６表面）での反射光も存在し、この反射光も迷光となる。しかし、中間層５の厚みがカバー層６の厚みよりも薄いため、他の記録層の記録面で反射した層間迷光の方が、ディスク表面での反射光よりも影響が大きい。

このように、２層ディスクなどの多層ディスクでは、記録データ量が大きいというメリットがあるものの、層間迷光が生じやすいというデメリットがある。かかる迷光成分が多く存在すると、上述したように、光検出部１３０により検出された受光量からサーボ信号を正確に生成できないという問題がある。

例えば、サーボ信号として、差動プッシュプル（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｕｓｈ Ｐｕｌｌ：ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を生成する場合に、層間迷光成分が及ぼす影響を考える。このＤＰＰ方式のトラッキングエラー検出方法は、プッシュプル誤差信号における光量変動、レンズオフセットやディスク傾きによる影響を軽減する上で有用な手法である。

かかるＤＰＰ方式においては、図４に示す１０つの分割受光素子（Ａ−Ｊ）のうち、一般的に、８つの分割受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）が用いられる。具体的には、メインビーム用の受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）により検出されるメインプッシュプル信号［（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）］から、２つのサイドビーム用の受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）により検出される各サイドプッシュプル信号の和［（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）］を、係数ｋを乗じて減算することにより、差動プッシュプル誤差信号が生成される。

このような３ビームのＤＰＰ方式でメインビーム及びサイドビームを照射する光ディスク装置１においては、一般にメインビームとサイドビームの強度比が例えば１０：１程度となるように設定することが多い。このような設定において、上記図３の２層ディスクに対する記録再生を考えると、次の問題が生ずる。

例えば２層ディスクに対する信号再生を行うためにアクセス目標としての一方の記録層Ｌ１に集光スポットを照射した場合、アクセス対象となっていない、もう一方の記録層Ｌ０からの余分な反射光（迷光）を分離することが困難なため、この迷光成分も受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）によって検出されてしまう。

かかる層間迷光は、差動プッシュプル信号を生成する上では、誤差信号を、ディスク反射率や記録再生時の照射パワーによって規格化するＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路において、メインビームの層間迷光がサイドビームの受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）によって検出され、同信号の規格化を不正確なものとしてしまう。これによって適切なトラッキングエラー信号が得られず、サーボ性能が低下する。特に、上記メインビームとサイドビームの強度比が原因で、層間迷光成分は、メインビーム用の受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の検出信号よりも、２つのサイドビーム用の受光素子（Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）の検出信号の方に大きく影響する。

そこで、かかる層間迷光成分を低減させる方法として、上記特許文献１（特開２０００５−３４６８８２号公報）に記載のように、光ピックアップ１０内の光検出部１３０（例えばＰＤＩＣ）に、本来のサーボ信号検出用受光素子に加え、層間迷光検出用受光素子を追加設置する方法がある。本実施形態における光検出部１３０においても、例えば特許文献１と同様に、本来のサーボ信号生成用受光素子に加え、当該サーボ信号生成用受光素子に隣接して層間迷光検出用受光素子を追加設置している。

図４は、本実施形態にかかる受光素子パターン（ＰＤパターン）の一例を示す説明図である。図４では、ＤＰＰトラッキング方式、非点フォーカス方式の場合の受光素子パターン例を示している。

図４に示すように、光検出部１３０は、メインビーム及びサイドビームの反射光を受光する受光素子（ＰＤ）として、サーボ信号生成用受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈと、層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊとを備えている。サーボ信号生成用受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、メインビーム（０次回折光）を受光するための４分割受光素子である。サーボ信号生成用受光素子Ｅ、Ｆと、Ｇ、Ｈは、それぞれサイドビーム（＋１次回折光）、サイドビーム（−１次回折光）を受光するための２分割受光素子である。

一方、層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊは、メインビーム又はサイドビームの層間迷光成分を受光するための受光素子であり、図４の例では、受光素子ＩとＪは２つずつあるが、電気的には接続されている。この受光素子Ｉ、Ｊはそれぞれ、層間迷光成分の影響を大きく受けるサイドビーム用のサーボ信号生成用受光素子Ｅ、Ｆと、Ｇ、Ｈの両サイドに隣接して配置されている。また、２つの受光素子Ｉの合計面積と受光素子Ｅ、Ｆの合計面積とが同一となり、２つの受光素子Ｊの合計面積と受光素子Ｇ、Ｈの合計面積とが同一となるように調整されている。これにより、受光素子Ｉは、受光素子Ｅ、Ｆと同程度の層間迷光成分を受光でき、受光素子Ｊは、受光素子Ｇ、Ｈと同程度の層間迷光成分を受光できる。

メインビーム同士の層間迷光に関する影響は小さいものの、メインビームとサイドビームの強度比を１０：１としたときのメインビームがサイドビームへ与える影響はこの１０倍となり、無視できない。また、一方の記録層のみに信号が記録されている場合には、更に大きな層間迷光を生じるため、差動プッシュプル信号の演算に大きな影響を及ぼし、トラックへの追従によって生じる対物レンズ１２０の視野振りに対して、残留誤差（Ｄｅｔｒａｃｋ）を生じる恐れがある。

この影響を軽減するため、本実施形態では図４で示したように、トラッキングエラー信号ＴＥの検出のみに用いられるサイドビーム受光用の検出素子Ｅ、ＦおよびＧ、Ｈの近傍に、層間迷光成分を受光する受光素子Ｉ及びＪを設けている。そして、この受光素子Ｉ、Ｊで受光される信号を用いてサイドビームの迷光成分を除去するものである。

次に、上記図４のＰＤパターンの受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊ）を有する光検出部１３０による検出信号を用いて、ＤＰＰ方式でトラッキングエラー信号ＴＥ（ＤＰＰ信号）を生成するマトリクス回路４０の構成について説明する。図５は、本実施形態にかかるマトリクス回路４０の演算回路系を示す回路図である。

図５に示すように、ヘッドアンプ４１は、光検出部１３０の受光素子Ａ〜Ｊそれぞれに対応して設けられており、各受光素子Ａ〜Ｊからの検出信号を電流／電圧変換し、後段で処理するために必要となる所定のレベルに増幅する。なお、以下、受光素子Ａ〜Ｊの受光量に応じてヘッドアンプ４１から出力される検出信号を、受光素子Ａ〜Ｊの符号を用いて、ＶＡ〜ＶＪ信号と記す。

ヘッドアンプ４１から出力されたＶＡ〜ＶＪ信号は、マトリクスアンプ４４に入力されるが、この途中で、層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊから得られたＶＩ、ＶＪ信号のみを、ｍ倍に増幅するアンプ４２、４３が設けられている。ここで、乗算係数ｍは、層間迷光キャンセルゲインを調整するため演算係数であり、本実施形態ではこの乗算係数ｍを、光ディス装置１ごと及び光ディスク３ごとに適正な値に調整できる点に特徴を有するが、その詳細は後述する。

マトリクスアンプ４４は、ヘッドアンプ４１から入力されたＶＡ〜ＶＨ、ｍ・ＶＩ、ｍ・ＶＪ信号を用いてマトリクス演算処理を行い、サーボ信号を生成するためのサイドプッシュプル信号ＳＰＰ１、ＳＰＰ２、和信号Ｓ１＿ＳＵＭ、Ｓ２＿ＳＵＭ、メインプッシュプル信号ＭＰＰ、和信号Ｍ＿ＳＵＭ信号を生成する。これら各信号を得るための演算処理は、以下の式（１）〜（６）の通りである。

SPP1 = VE-VF ・・・(1)
S1_SUM = VE+VF-m・VI ・・・(2)
SPP2 = VG-VH ・・・(3)
S2_SUM = VG+VH-m・VJ ・・・(4)
MPP = (VA+VB)-(VC+VD) ・・・(5)
M_SUM = VA+VB+VC+VD ・・・(6)

これらＳＰＰ１、Ｓ１＿ＳＵＭ、ＳＰＰ２、Ｓ２＿ＳＵＭ、ＭＰＰ、Ｍ＿ＳＵＭ信号は、マトリクスアンプ４４からオートゲイン調整回路４５に入力される。オートゲイン調整回路４５のＡＧＣ１、ＡＧＣ２、ＡＧＣ３はそれぞれ、入力されたプッシュプル信号ＳＰＰ１、ＳＰＰ２、ＭＰＰのゲイン調整を行い、規格化されたサイドプッシュプル信号ＳＰＰ１＿ＡＧＣ、ＳＰＰ２＿ＡＧＣと、規格化されたメインプッシュプル信号ＭＰＰ＿ＡＧＣを生成する。通常、オートゲイン調整回路ＡＧＣ１〜ＡＧＣ３は、光ディスク３における反射光量の変化を補正するために設けられており、上記和信号Ｓ１＿ＳＵＭ、Ｓ２＿ＳＵＭ、Ｍ＿ＳＵＭを用いてプッシュプル信号ＳＰＰ１、ＳＰＰ２、ＭＰＰを規格化して、ＳＰＰ１＿ＡＧＣ、ＳＰＰ２＿ＡＧＣ、ＭＰＰ＿ＡＧＣ信号を得る。この規格化は、次の式（７）〜（９）のようにプッシュプル信号を和信号で除算することによって行われる。

SPP1_AGC ∝ SPP1/S1_SUM ・・・(7)
SPP2_AGC ∝ SPP2/S2_SUM ・・・(8)
MPP_AGC ∝ MPP/M_SUM ・・・(9)

その後、各サイドビームのサイドプッシュプル信号ＳＰＰ１＿ＡＧＣとＳＰＰ２＿ＡＧＣは、加算器４６にて加算されて、サイドプッシュプル信号ＳＰＰ＿ＡＧＣが生成される。さらに、ＳＰＰ＿ＡＧＣは、アンプ４７にてｋ倍に増幅（乗算係数ｋが乗算）され、このｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣ信号は、減算器４８にて、メインプッシュプル信号ＭＰＰ＿ＡＧＣから減算される。これにより、次の式（１０）に示すように、トラッキングエラー信号ＴＥである差動プッシュプル信号ＤＰＰが生成される。ここで、係数ｋは、レンズシフト変化やレンズチルト変化に対するＤＰＰ信号のバランス変化量が最小となるように最適化された値が用いられる（図６参照）。なお、上記のオートゲイン調整回路４５以降の回路４５〜４８を、マトリクス回路４０の代わりに、サーボ回路５０に設けてもよい。

DPP = MPP_AGC-k・(SPP1_AGC+SPP2_AGC)
= MPP_AGC-k・SPP_AGC ・・・(10)

以上、図５を参照して、サーボ信号生成用受光素子Ｅ、ＦとＧ、Ｈの総受光量から、層間迷光成分（ｍ・ＶＩ、ｍ・ＶＪ、）を減算する回路を有するマトリックス回路４０において、層間迷光成分を低減した上でトラッキングエラー信号（ＤＰＰ信号）を生成する手法について説明した。

ところが、前述の乗算係数ｍの値に誤差があると、層間迷光成分を正確に減算することができないので、サーボ信号であるＤＰＰ信号が不正確なものとなってしまう。例えば、サーボ信号生成用受光素子Ａ〜Ｈで検出される層間迷光成分は、光ディスク装置１内の光ピックアップ１０や回路の製造上のばらつきや、光ディスク３の製造上のばらつき（中間層５の厚み、反射率の誤差など）、光ディスク３の状態（記録の有無など）のばらつきなどによって、変動する。従って、光ディスク装置１ごと、光ディスク３ごと、又は、光ディスク３における記録再生位置ごとに層間迷光成分が異なるにもかかわらず、上記の乗算係数ｍを固定値としたのでは、適正な層間迷光キャンセルを行うことができず、サーボ信号が不正確になる。

そこで、かかる問題を解決するために、本実施形態にかかる光ディスク装置１では、光ディスク装置１ごと、光ディスク３ごと、及び光ディスク３の位置ごとに、適切な乗算係数ｍの値を決定し、これにより、適切な層間迷光キャンセルゲインを得て、サーボ信号をより正確にできるようにするものである。以下に、かかる適切な層間迷光キャンセルゲインを求める方法について説明する。

図５の例では、Ｓ１＿ＳＵＭ信号、Ｓ２＿ＳＵＭ信号から、ＶＩ、ＶＪ信号をｍ倍した信号（層間迷光キャンセルゲイン）を減算しているだけであり、ＭＰＰ＿ＳＵＭ信号からは、層間迷光キャンセルゲインを減算していない。これは次の理由による。

即ち、記録用の光ピックアップ１０でＤＰＰトラッキング方式を採用する場合、通常では、前述のように、記録パワーの確保やサイドビームでのデータ消去を防ぐために、ＭＰＰ＿ＡＧＣ生成用のメインビームに比べてＳＰＰ＿ＡＧＣ生成用のサイドビームの光量は１０分の１程度に設定される。従って、層間迷光成分の相対比がＳＰＰ＿ＡＧＣの方がＭＰＰ＿ＡＧＣより大きいので、Ｓ１＿ＳＵＭ信号及びＳ２＿ＳＵＭ信号のみから層間迷光キャンセルゲインを減算する。

ただし、ＭＰＰ＿ＡＧＣ側にも層間迷光成分はあるため、サイドビームが存在しないような光学系や、より層間迷光が大きくなるような２層以上の多層ディスクでは、ＳＰＰ＿ＡＧＣ信号のみならずＭＰＰ＿ＡＧＣ信号も、層間迷光キャンセルゲインを減算する必要が生じる場合もある。この場合は、メインビーム用のサーボ信号生成用受光素子Ａ〜Ｄに隣接して、層間迷光検出用受光素子Ｋ（図示せず。）を追加設置し、上記のメインビーム用の和信号ＭＰＰ＿ＳＵＭを次の式（１１）のようにして求めてもよい。これにより、受光素子Ａ〜Ｄの検出信号から、層間迷光キャンセルゲイン（受光素子Ｋの検出信号ＶＫを乗算係数ｎ倍した信号）を減算して、メインビーム用の受光素子Ａ〜Ｄに対する層間迷光成分の影響を低減できる。
M_SUM = VA+VB+VC+VD-m・VK ・・・(11)

ところで、上記図５の説明においては、ＳＰＰ＿ＡＧＣ信号のゲインを調整する乗算係数ｋは、光ディスク３に対する対物レンズ１２０のレンズシフト変化やレンズチルト変化に対して、ＤＰＰ信号のバランス変動量が少なくなるように最適化されているものとした。ここで、対物レンズ１２０をレンズシフトさせた場合の理想的なｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣとＭＰＰ＿ＡＧＣのバランス変化量を、図６に示す。なお、図６は、層間迷光がないか、若しくは、少ない場合における、レンズシフトに対するｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣとＭＰＰ＿ＡＧＣのバランス変動特性を示すものとする。

図６に示すように、乗算係数ｋは上記のように最適化されているため、「ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」＝−「ＭＰＰ＿ＡＧＣの傾き」となっている。この場合、「ＤＰＰ＝ＭＰＰ＿ＡＧＣ−ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣ」であるので、レンズシフトに対してＤＰＰのバランスは一定に保たれる。なお、図６において、ＭＰＰ＿ＡＧＣを表す直線と、ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣを表す直線との交点Ｐ（光量バランスがゼロとなるレンズシフト量）が原点Ｏからずれている。これは、光ディスク装置１の製造上の調整誤差等とする。

一方、上記図５のＤＰＰ信号を求める例では、次の関係式（１２）〜（１３）が成り立つ。

k・SPP_AGC = k・(SPP1_AGC+SPP2_AGC)
・・・(12)
SPP1_AGC ∝ SPP1/S1_SUM
= (VE-VF)/(VE+VF-m・VI) ・・・(13)
SPP2_AGC ∝ SPP2/S2_SUM
= (VG-VH)/(VG+VH-m・VJ) ・・・(14)

ここで、ＶＥ、ＶＦ、ＶＧ、ＶＨ信号のうち、記録再生している層からの信号成分をＶＥｓ、ＶＦｓ、ＶＧｓ、ＶＨｓとし、その他の層間迷光を含む迷光の信号成分をＶＥｎ、ＶＦｎ、ＶＧｎ、ＶＨｎとすると、ＶＥ＝ＶＥｓ＋ＶＥｎ、ＶＦ＝ＶＦｓ＋ＶＦｎ、ＶＧ＝ＶＧｓ＋ＶＧｎ、ＶＨ＝ＶＨｓ＋ＶＨｎであるので、上記式（１３）及び（１４）は、次の式（１５）及び（１６）となる。

SPP1_AGC ∝ (VEs+VEn-(VFs+VFn))/(VEs+VEn+VFs+VFn-m・VI)・・・(15)
SPP2_AGC ∝ (VGs+VGn-(VHs+VHn))/(VGs+VGn+VHs+VHn-m・VJ)・・・(16)

光検出部１３０のＰＤ上の受光素子ＥとＦ、受光素子ＧとＨは隣接しており、ほぼ一様に層間迷光を受光しているとすると、ＶＥｎ−ＶＦｎ≒０、ＶＧｎ−ＶＨｎ≒０となるので、上記式（１５）及び（１６）は、近似的に次の式（１７）及び（１８）となる。

SPP1_AGC ∝ (VEs-VFs)/(VEs+VFs+VEn+VFn-m・VI)・・・(17)
SPP2_AGC ∝ (VGs-VHs)/(VGs+VHs+VGn+VHn-m・VJ)・・・(18)

以上の場合、式（１７）及び（１８）の右辺分母における「ＶＥｎ＋ＶＦｎ−ｍ・ＶＩ」と「ＶＧｎ＋ＶＨｎ−ｍ・ＶＪ」が迷光成分になるわけだが、簡単のためｍ＝０として迷光キャンセルパターンがなく、層間迷光成分が大きい場合を考える。この場合、上記式（１７）及び（１８）の右辺分母が大きくなり、図６に示す「ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」が小さくなる。したがって、図６の状態で記録再生している状態から、光ディスク３に対するレーザ光の照射位置（以下、ディスク位置という。）を移動させて層間迷光量が大きくなると、図７に示すように「Ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」が小さくなる。この結果、ＤＰＰ信号は、図７の点線で示すように、レンズシフトによりバランスが一定にならないので、サーボ信号が不正確になってしまう。

また、ｍ≠０であるときも、乗算係数ｍが適切な値でない場合、総受光量からの層間迷光成分の取り残しがあるため、「ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」が変化する。つまり、ｍが適正値よりも小さい場合は、ｍ＝０の場合と同じように、式（１７）及び（１８）の右辺分母が大きくなるので、「ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」が小さくなる。一方、ｍが適正値よりも大きい場合は逆に、式（１７）及び（１８）の右辺分母が小さくなるので、「ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」が大きくなる。

さらに、層間迷光が受光素子Ｅ〜Ｈに対して一様に当たっていない場合でも、「ＶＥｎ−ＶＦｎ＜ＶＥｎ＋ＶＦｎ」、「ＶＧｎ−ＶＨｎ＜ＶＧｎ＋ＶＨｎ」が成り立つならば、前述のような「ＳＰＰ＿ＡＧＣの傾き」の変化が起こることは、上記式（１５）及び（１６）から容易に推測できる。

図８は、上記図６と図７との間のｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの変化を表している。図８に示すΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、サードビーム用の受光素子Ｅ〜Ｈにおける層間迷光成分の受光量の大小により生じるｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス差である。即ち、このΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、正規化されたサイドプッシュプル信号ＳＰＰ＿ＡＧＣが、層間迷光成分の受光量に応じて変動するときの変動量を表している。このサイドプッシュプル信号ＳＰＰ＿ＡＧＣは、前述のように、サードビーム用の受光素子Ｅ〜Ｈでの受光量を表す信号ＶＥ〜ＶＨと、層間迷光検出用の受光素子Ｉ、Ｊでの受光量を表す信号ＶＩ、ＶＪとを用いた演算により求められる。かかるΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、本発明の「サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量」の一例である。つまり、ＳＰＰ＿ＡＧＣは、サーボ信号生成用受光素子Ｅ〜Ｈにおける光量バランスを表す信号（プッシュプル信号）であるので、層間迷光成分の大小に応じたＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量であるΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、受光素子Ｅ〜Ｈで受光される光量バランスの変動量に相当する。

図８からも分かるように、層間迷光成分が大きい場合と小さい場合のｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス差であるΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、レンズシフトによりＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスをゼロからずらした方が大きくなる。従って、光検出部１３０におけるＰＤパターン上の光量分布を意図的にずらす、即ち、本実施形態にかかるＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスを意図的にゼロからずらすことにより、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量が大きくなる。このように、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量が大きくすることで、以下に説明するような乗算係数ｍ（層間迷光キャンセルゲイン）の適正値を決定するために必要なΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定がしやすくなる。

図９は、光ディスク３の記録再生位置（ディスク位置）によるΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動を模式的に示す説明図である。図４に示した層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊの受光量によって、サーボ信号生成用受光素子Ｅ〜Ｈの総受光量から層間迷光成分を適正に取り除けていない場合には、ディスク位置によってレーザ光の反射率が変化すると、層間迷光成分も変化する。このため、図９（ａ）に示すように、ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスはディスク位置によって変動する。ここで、図９に示すＸは、レンズシフトによりオフセットしたＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスＤＣ量の平均値である。一方、乗算係数ｍが適切な値であるならば、層間迷光成分はＳＰＰ＿ＡＧＣ信号から正しく減算されているため、図９（ｂ）に示すように、ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスはディスク位置によってほとんど変動せず、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣが小さくなり、理想的にはΔＳＰＰ＿ＡＧＣはゼロとなる。

従って、光ディスク３に対するレーザ光の照射位置（ディスク位置）を変えながら、サーボ信号生成用受光素子Ｅ〜Ｈにおける光量バランスの変動量、即ち、ＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定し、当該変動量ΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となるように乗算係数ｍの値を決定することで、乗算係数ｍの適正値を求めることができる。この際、乗算係数ｍを任意の所定値に設定してΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定することを、複数回繰り返すことで、測定されたΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となる乗算係数ｍの設定値を、最適値とすればよい。

さらに、かかるΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定では、光ピックアップ１０を意図的にレンズシフト又はレンズチルト等させることにより、サーボ信号生成用受光素子Ｅ〜Ｈに対する反射光の光スポットの照射位置を最適な位置（例えば受光素子上のセンター）からずらした状態で、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定することが好ましい。これにより、上述したように、ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスを意図的にずらして、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量を大きくできるので、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定がしやすくなり、乗算係数ｍの適正値をより正確に決定できる。

以上のように、本実施形態にかかる光ディスク装置１では、レンズシフト、レンズチルト等により、サーボ信号生成用受光素子Ｅ〜Ｈにおける光量バランスを意識的にずらした状態で図９に示すΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定し、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小になるように乗算係数ｍを決定する。これにより、例えば、光ディスク装置１ごと、光ディスク３及びその記録再生位置ごとに適正な乗算係数ｍを決定でき、受光素子Ｅ〜Ｈの総受光量から層間迷光成分をより正確に減算できるようなる。このように、本実施形態は、レンズシフト等により光量バランスを意図的にずらすことにより、層間迷光によるＳＰＰ＿ＡＧＣ変動のＳ／Ｎを向上させて、乗算係数ｍを適切な値に調整するものである。

この乗算係数ｍの調整では、光ディスク３における所定の測定対象領域（レーザ光照射対象領域）に対してレーザ光を照射して、その測定対象領域内のディスク位置によるＳＰＰ＿ＡＧＣの変動（ΔＳＰＰ＿ＡＧＣ）を測定する必要がある。このとき、測定対象領域は、受光素子Ｇ〜Ｈで受光される層間迷光量が変化する領域である必要がある。層間迷光量が変化するためには、例えば、光ディスク３における中間層５の厚みや、記録層Ｌ０、Ｌ１での反射率が変化していればよい。通常、光ディスク３には中間層５の厚み等に製造上の誤差があるので、上記スライドモータ１４２を駆動させ光ディスク３を回転させてレーザ光が照射されるディスク位置を変えれば、受光される層間迷光量も変動する。このため、測定対象領域を任意のディスク位置としても、上記製造誤差等が原因で、受光される層間迷光量が変化するため、乗算係数ｍの調整が可能である。しかし、次のように、測定対象領域として層間迷光量の変動がより大きくなる領域を選定すれば、層間迷光量のＳ／Ｎをより向上させることができる。

かかる観点からは、光ディスク３の測定対象領域として、データの記録部分と未記録部分を含む領域、即ち、データの記録部分と未記録部分が混在した領域を選定すれば、乗算係数ｍを適切に調整するために効果的である。この理由は、光ディスク３の記録状態（データ記録の有無）により各記録層におけるレーザ光の反射率と透過率が変化するので、検出される層間迷光量が大きく変化し、この結果、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量も大きくなるからである。かかる理由について図１０を参照して詳細に説明する。

図１０は、光ディスク３としてＢＤの記録用２層ディスクを用いた場合において、データの記録部分と未記録分が混在した領域を測定対象領域としたときのＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス変動の例を模式的に示す説明図である。図１０では、光ディスク３のＬ１層にレーザ光をフォーカスした場合におけるＳＰＰ＿ＡＧＣの変動を測定したものとする。

図１０（ａ）に示すように、フォーカス対象であるＬ１層のデータ記録部分（第２及び第４領域）では、レーザ光の反射率が低下し、透過光が上がるため、Ｌ０層で反射する層間迷光の光量が多くなり、この結果、ＳＰＰ＿ＡＧＣは相対的に大きくなる。一方、Ｌ１層のデータ未記録部分（第１及び第２領域）では、反射率が高く、透過光が低下するため、Ｌ０層で反射する層間迷光の光量が少なくなり、この結果、ＳＰＰ＿ＡＧＣは相対的に小さくなる。

また、フォーカス対象でないＬ０層のデータ記録部分（第１及び第２領域）では、レーザ光の反射率が低下するため、Ｌ０層で反射する層間迷光の光量が少なくなり、この結果、ＳＰＰ＿ＡＧＣは相対的に小さくなる。一方、Ｌ０層のデータ未記録部分（第３及び第４領域）では、反射率が高いため、Ｌ０層で反射する層間迷光の光量が多くなり、この結果、ＳＰＰ＿ＡＧＣは相対的に大きくなる。

従って、図１０（ａ）の例では、Ｌ０層が未記録部分でありＬ１層が記録部分である第４領域では、測定されるＳＰＰ＿ＡＧＣが最大となり、Ｌ０層が未記録部分でありＬ１層が未記録部分である第４領域では、測定されるＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となる。

実際の層間迷光は、光ディスク３の材質や状態にも依存するので、図１０（ａ）のように記録状態によって顕著な差がでるとは断定できない。しかし、光ディスク３における記録層Ｌ０及びＬ１において記録部分と未記録部分の双方を含む領域（ディスク位置）を測定対象領域とした方が、層間迷光成分の受光量の変化が大きくなるので、ＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量が増大し、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定しやすくなる。従って、図１０（ｂ）に示すようにΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となる乗算係数ｍを正確に決定することができるようになる。

以上、本実施形態にかかる迷光キャンセルゲイン（乗算係数ｍ）の調整方法の原理について説明した。本実施形態では、上記のような迷光キャンセルゲインの調整処理、即ち、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定及び乗算係数ｍの決定処理を、図１に示す制御回路３０内のシステムコートローラ６０が実行する。システムコントローラ６０は、所定のプログラムをインストールすることで、係数決定部６６として機能し、上記迷光キャンセルゲインの調整処理を実行する。

ここで、図１１を参照して、本実施形態にかかる層間迷光キャンセルゲインを調整するための乗算係数ｍの決定アルゴリズムについて説明する。図１１は、本実施形態にかかる迷光キャンセルゲイン調整方法を示すフローチャートである。

図１１に示すように、まず、予め、光ピックアップ１０の対物レンズ１２０を光ディスクに対して所定量Ｌだけレンズシフトさせる（ステップＳ１０）。このレンズシフト量Ｌは、例えば、予め光ディスク装置１のシステムが破綻しない程度に大きなレンズシフト量に設定される。

ここで、上記レンズシフト処理（Ｓ１０）について詳細に説明する。上記システムコートローラ６０の係数決定部６６は、トラッキングドライバ７２を介して２軸アクチュエータ１４０を駆動制御させることで、対物レンズ１２０をトラッキング方向にシフトさせる（レンズシフト）。かかるレンズシフトにより、サイドビーム用の受光素子Ｅ〜Ｈに対する反射光の光スポットの照射位置を最適な位置（例えば受光素子上のセンター）からずらして、受光素子Ｅ〜Ｈにおける光量バランス（光量分布）を意図的にずらすことができる。これにより、ＳＰＰ＿ＡＧＣの変動量が大きくなるので、後工程であるＳ１４、Ｓ１８、Ｓ２２等におけるΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定を容易に実行できるようになる。

なお、上記レンズシフト（Ｓ１０）の代わりに、レンズチルトを行ってもよい。レンズシフトする場合には、係数決定部６６は、チルトドライバ７８を介して上述した３軸アクチュエータ若しくはチルト機構を駆動制御して、光ディスク３に対して対物レンズ１２０をレンズチルトさせる。これによっても、受光素子Ｅ〜Ｈに対する反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらすことができる。

次いで、乗算係数ｍをテスト値ｍ１からｍｋまで段階的に設定変更しながら（ステップＳ１２、Ｓ１６、・・・、Ｓ２０）、ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス変動を測定して、その変動量ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを計算する（ステップＳ１４、Ｓ１８、・・・、Ｓ２２）。その後、乗算係数ｍをΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となるときのテスト値に決定し、当該乗算係数ｍをマトリクス回路４０のアンプ４２、４３のゲインとして設定する（ステップＳ２４）。

このＳＰＰ信号のバランス変動量ΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定処理（Ｓ１２〜Ｓ２２）及び乗算係数ｍの決定処理（Ｓ２４）について詳細に説明する。

まず、係数決定部６６は、層間迷光キャンセルゲインを定める乗算係数ｍを、任意のテスト値ｍ１に設定する（Ｓ１２）。

次いで、係数決定部６６は、上記レンズシフト又はレンズチルトにより、受光素子Ｇ〜Ｈに対する光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、光ディスク装置１の光ピックアップ１０、ディスク駆動部２０及び制御回路３０内の各部を制御して、プッシュプル信号を測定する。即ち、係数決定部６６は、ディスク駆動部２０により光ディスク３を回転させながら、光ピックアップ１０により光ディスク３の測定対象領域に対してレーザ光を照射させて、その反射光を光検出部１３０により検出させ、さらに、マトリクス回路４０により受光素子Ｅ〜Ｊの検出信号ＶＡ〜ＶＪに基づき、テスト値ｍ１を用いてサイドプッシュプル信号ＳＰＰ＿ＡＧＣを生成させる。このようにして、係数決定部６６は、所定期間、光ディスク３の測定対象領域内のディスク位置に応じて変動するＳＰＰ＿ＡＧＣ信号を測定して、その最大値と最小値の差分である変動量ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを計算できる（Ｓ１４）。

なお、かかるΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定する際には、光ディスク３の測定対象領域として、記録部分と未記録部分が混在するディスク位置を探索し、当該測定対象領域に対してレーザ光を照射することが好ましい。これにより、図１０で説明したようにΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定精度を向上できる。

次いで、係数決定部６６は、上記と同様にΔＳＰＰ＿ＡＧＣの測定動作を、相異なる複数の乗算係数ｍのテスト値ｍ２、・・・、ｍｋについて繰り返し行って、各テスト値に関するΔＳＰＰ＿ＡＧＣをそれぞれ求める（Ｓ１６〜Ｓ２２）。

その後、係数決定部６６は、上記複数の乗算係数ｍのテスト値ｍ１〜ｍｋの中から、測定されたΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小となるテスト値を、乗算係数ｍの適正値として決定する（Ｓ２４）。

ここで、図１２を参照して、乗算係数ｍを変化させた場合のΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変化について説明する。図１２に示すように、乗算係数ｍを適正値よりも大きくしていくと、上記式（１７）及び（１８）の右辺分母が小さくなりゼロに近づいていくので、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣは増大する。一方、乗算係数ｍを適正値よりも小さくしていくと、上記式（１７）及び（１８）の右辺分母の「ｍ・ＶI」及び「ｍ・ＶＪ」がゼロに近づくので、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣは、層間迷光量により定まる所定値に近づいていく。

また、この図１２には、図１１で示した迷光キャンセルゲイン調整方法における複数の乗算係数ｍのテスト値ｍ１〜ｍ８の設定例を示してある。この例では、乗算係数ｍがテスト値ｍ５のときにΔＳＰＰ＿ＡＧＣが最小値となるので、当該テスト値ｍ５が乗算係数ｍの最適値として決定されることとなる。

次に、上記図１１のＳ１０でのレンズシフト量Ｌについて補足説明する。レンズシフト量Ｌは、全ての光ディスク装置１において共通に、設計上適切な所定値（例えば２００μｍ）に設定してもよいし、或いは、後述のように光量分布等を基準として光ディスク装置１ごとに個別に適切な値に調整してもよい。後者によれば、光ディスク装置１ごとに適切なレンズシフト量Ｌでレンズシフトさせて、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣ等の光量バランスの変動量をより好適に測定できる。

光ディスク装置１ごとに調整する一例として、レンズシフト量Ｌを基準としてレンズシフトさせる代わりに、光検出部１３０の受光素子パターン（ＰＤパターン）上の光量分布を基準としてレンズシフトさせてもよい。具体的には、光検出部１３０のＰＤパターン上の光量分布を表す指標値（本実施形態ではｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス）がゼロからずれているある所定値になるようにレンズシフト量Ｌを設定して、レンズシフトさせてもよい。当該光量分布を表す指標値がゼロであることは、反射光の光スポットが分割受光素子Ｅ、Ｆ等のセンターに照射されていることを意味する。この場合、分割受光素子Ｅ、Ｆのプッシュプル成分（ＶＥ−ＶＦ）がゼロになるので、ｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣのバランスもゼロとなる。従って、当該光量分布を表す指標値がゼロでなければ、反射光の光スポット位置が分割受光素子Ｅ、Ｆ等のセンターからずれており、上述したようにΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定し易い状態にあるといえる。このように、光量分布を基準としてレンズシフト量Ｌを決定すれば、図８に示すように、光量バランスがゼロとなる交点Ｐと原点Ｏがずれている場合であっても、交点Ｐに重ならない適切なレンズシフト量Ｌにレンズシフトさせることができる。

以上、図１１〜図１２を参照して、本実施形態にかかる迷光キャンセルゲイン調整方法について説明した。これによれば、従来では固定値としていた乗算係数ｍ（層間迷光キャンセルゲイン）を、光ディスク装置１や光ディスク３ごとに異なる層間迷光量に応じた適正値に決定することができる。よって、適正な乗算係数ｍを用いて層間迷光キャンセルゲインを得て、層間迷光成分を補正できるので、ＤＰＰ信号等のサーボ信号の精度を向上できる。

次に、迷光キャンセルゲイン調整方法を実行するタイミングについて説明する。迷光キャンセルゲインの調整（即ち、乗算計数ｍの調整）は、例えば、（１）光ディスク装置１の製造又は出荷時に行ってもよいし、（２）光ディスク装置１に光ディスク３をローディングする度に行ってもよいし、又は、（３）光ディスク装置１にローディングされた光ディスク３の記録状態が変化する度ごとに動的に行ってもよい。

（１）の場合は、例えば、予め光ディスク装置１の製造・出荷時に、各々の光ディスク装置１ごとに乗算係数ｍを調整して、出荷後は、調整動作を行うことなく、その乗算係数ｍを固定値として使用するケースである。これによれば、光ディスク３以外の要因である、光ピックアップ１０や制御回路３０などのデバイスの製造上のばらつきに対応した適切な層間迷光キャンセルゲインを得ることができる。

（２）の場合は、例えば、個々の光ディスク装置１に光ディスク３をローディングする度ごとに、乗算係数ｍを調整するケースである。これにより、乗算係数ｍを光ディスク３ごとに調整することができるので、光ディスク装置１の製造上のばらつきのみならず、各光ディスク３の製造上のばらつき（中間層５の厚み（層間厚）の誤差など）にも対応した適切な層間迷光キャンセルゲインを得ることができる。

（３）の場合は、ディスク装置１に光ディスク３をローディングした後に、光ディスク３に対してデータの記録又は消去処理を実行する度に、乗算係数ｍを調整するケースである。上述したように、光ディスク３の記録部分と未記録部分では反射率が異なるので、光ディスク３の記録状態で層間迷光量は変化する。そこで、本ケース（３）のように、記録状態が変化する度ごとに乗算係数ｍを調整することで、光ディスク３の記録状態のばらつきにも対応した適切な層間迷光キャンセルゲインを得ることができる。

なお、上記（１）〜（３）のいずれの場合においても、上述したように、光ディスク３におけるデータの記録部分と未記録部分が混在する領域を測定対象領域とすることが、光量バランスの変動量の測定精度の観点から好ましい。（１）の場合は、出荷時に、当該記録部分と未記録部分が混在する光ディスク３を製造しておき、この光ディスク３を光ディスク装置１にローディングして乗算係数ｍを調整すればよい。また、（２）の場合には光ディスク３をローディングする度に、（３）の場合には光ディスク３にデータ記録する度に、光ディスク３における測定対象領域として、データの記録部分と未記録部分が混在する領域を探索した上で、乗算係数ｍを調整すればよい。

（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態にかかる光ディスク装置、制御回路及び迷光キャンセルゲイン調整方法について説明する。上述した第１の実施形態では、フォーカスエラー信号を生成するための迷光キャンセルゲイン調整について説明したが、第２の実施形態では、フォーカスエラー信号を生成するための迷光キャンセルゲイン調整について説明する。なお、第２の実施形態にかかる光ディスク装置１では、以下に説明する受光素子のＰＤパターンと、その検出信号を用いてフォーカスエラー信号を生成するマトリクス回路４０以外の構成は、上記第１の実施形態と略同一であるので、詳細説明は省略する。

まず、図１３を参照して、第２の実施形態にかかる光検出部１３０の受光素子パターン（ＰＤパターン）について説明する。図１３は、第２の実施形態にかかる光検出部１３０の受光素子パターン（ＰＤパターン）の一例を示す説明図であり、差動非点収差法の場合の受光素子パターン例を示している。

図１３に示すように、光検出部１３０は、メインビーム及びサイドビームの反射光を受光する受光素子（ＰＤ）として、サーボ信号生成用受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２、Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２と、層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊとを備えている。サーボ信号生成用受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、メインビーム（０次回折光）を受光するための４分割受光素子である。サーボ信号生成用受光素子Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２と、サーボ信号生成用受光素子Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２は、それぞれサイドビーム（＋１次回折光）、サイドビーム（−１次回折光）を受光するための４分割受光素子である。

一方、層間迷光検出用受光素子Ｉ、Ｊは、メインビーム又はサイドビームの層間迷光成分を受光するための受光素子であり、図１３の例では、受光素子ＩとＪは２つずつあるが、電気的には接続されている。この受光素子Ｉ、Ｊはそれぞれ、層間迷光成分の影響を大きく受けるサイドビーム用のサーボ信号生成用受光素子Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２と、Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２の両サイドに隣接して配置されている。また、２つの受光素子Ｉの合計面積と受光素子Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２の合計面積とが同一となり、２つの受光素子Ｊの合計面積と受光素子Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２の合計面積とが同一となるように調整されている。これにより、受光素子Ｉは、受光素子Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２と同程度の層間迷光成分を受光でき、受光素子Ｊは、受光素子Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２と同程度の層間迷光成分を受光できる。

次に、上記図１３のＰＤパターンの受光素子（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１、Ｆ２、Ｇ１、Ｇ２、Ｈ１、Ｈ２、Ｉ、Ｊ）を有する光検出部１３０による検出信号を用いて、マトリクス回路が差動非点収差法のフォーカスエラー信号ＦＥを生成する方法について説明する。なお、第２の実施形態にかかるマトリクス回路も、第１の実施形態（図５参照）と同様に、ヘッドアンプ、マトリクスアンプ、オートゲイン調整回路（ＡＧＣ）、加算器、減算器等を備えているものとする。

マトリクス回路のヘッドアンプは、受光素子Ａ〜Ｊそれぞれに対応して設けられており、各受光素子Ａ〜Ｊからの検出信号を電流／電圧変換し、後段で処理するために必要となる所定のレベルに増幅する。なお、上記図５の例と同様に、以下では、受光素子Ａ〜Ｊの受光量に応じてヘッドアンプから出力される検出信号を、ＶＡ〜ＶＪ信号と記す。

マトリクスアンプは、ヘッドアンプから入力されたＶＡ〜ＶＨ２、ｍ・ＶＩ、ｍ・ＶＪ信号を用いてマトリクス演算処理を行い、メインフォーカスエラー信号ＭＦＥ、サイドフォーカスエラー信号ＳＦＥ１、ＳＦＥ２、メインの和信号Ｍ＿ＳＵＭ、サイドの和信号Ｓ１＿ＳＵＭ、Ｓ２＿ＳＵＭを生成する。これら各信号を得るための演算処理は、例えば、次の式（１９）〜（２４）の通りである。

MFE = (VA+VC) - (VB+VD) ・ ・・(19)
SFE1 = (VE1+VF2) - (VE2+VF1) ・・・(20)
SFE2 = (VG1+VH2) - (VG2+VH1) ・・・(21)
M_SUM = VA+VB+VC+VD ・・・(22)
S1_SUM = VE1+VE2+VF1+VF2-m・VI ・・・(23)
S2_SUM = VG1+VG2+VH1+VH2-m・VJ ・・・(24)

さらに、第１の実施形態に係るＤＰＰ信号の例と同様に、オートゲイン調整回路ＡＧＣは、マトリクスアンプから入力されたメインフォーカスエラー信号ＭＦＥ、サイドフォーカスエラー信号ＳＦＥ１、ＳＦＥ２を、和信号Ｍ＿ＳＵＭ、Ｓ１＿ＳＵＭ、Ｓ２＿ＳＵＭを用いて規格化して、規格化されたフォーカスエラー信号ＭＦＥ＿ＡＧＣ、ＳＦＥ１＿ＡＧＣ、ＳＦＥ２＿ＡＧＣを生成する。これら各信号を得るための演算処理は、例えば、次の式（２５）〜（２７）の通りである。

MFE_AGC ∝MFE/M_SUM ・・・(25)
SFE1_AGC ∝ SFE1/S1_SUM ・・・(26)
SFE2_AGC ∝ SFE2/S2_SUM ・・・(27)

その後、マトリクス回路は、次の式（２８）のように、メインフォーカスエラー信号ＭＦＥ＿ＡＧＣから、サイドフォーカスエラー信号ＳＦＥ１＿ＡＧＣ、ＳＦＥ２＿ＡＧＣの和信号をｋ２倍したものを減算して、差動非点収差法のフォーカスエラー信号ＦＥを得る。
FE = MFE_AGC + k2・（SFE1_AGC+SFE2_AGC）
= MFE_AGC + k2・SFE_AGC ・・・(28)

ここで、係数ｋ２は、例えば、フォーカスエラー信号ＦＥへのプッシュプルの漏れこみ等を最小にするなど、光ディスク装置１として最適な値に設定されているとする。上式（２８）は、前述したＤＰＰ信号の式（１０）と比べて、検出信号ＶＡ〜ＶＪを演算する組み合わせが違うだけである。従って、迷光キャンセルゲインｍが正しく設定されておらず、層間迷光が大きい場合、Ｓ１＿ＳＵＭ信号やＳ２＿ＳＵＭ信号が正しい値とならないため、フォーカスエラー信号ＦＥが不正確となってしまうことは、前述の第１の実施形態にかかるトラッキングエラー信号（ＤＰＰ信号）の例から容易に推測できる。

そこで、第２の実施形態においても、上記第１実施形態と同様にして、迷光キャンセルゲインを調整（乗算係数ｍを適切に調整）すれば、フォーカスエラー信号ＦＥをより正確に取得することが可能になる。つまり、第２の実施形態では、対物レンズ１２０をレンズシフト又はレンズチルト等させて、受光素子における光量バランスを意図的にずらした状態で、光量バランスの変動量（ΔＳＦＥ＿ＡＧＣ）を測定し、当該変動量を最小にするように乗算係数ｍを調整する。この第２の実施形態にかかる迷光キャンセルゲイン調整方法の原理は、上述した第１の実施形態にかかる図８〜図１０の「ΔＳＰＰ＿ＡＧＣ」を「ΔＳＦＥ＿ＡＧＣ」に置換したものとして考えることができるので、その詳細説明は省略する。

以上、本発明の第１及び第２の実施形態にかかる光ディスク装置１及びこれを用いた迷光キャンセルゲイン調整方法について説明した。本実施形態によれば、多層ディスクの迷光キャンセルゲイン調整において、対物レンズシフト等により、受光素子における光量バランスを意図的にずらした状態で、光量バランスの変動量（例えば、ΔＳＰＰ＿ＡＧＣ、ΔＳＦＥ＿ＡＧＣなど）を測定し、当該変動量を最小にするように乗算係数ｍを調整する。これにより、層間迷光量のＳ／Ｎを改善し、乗算係数ｍの調整精度を向上できる。

従って、多層ディスクを取り扱う光ディスク装置１における乗算係数ｍを適正値に設定して、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できるので、サーボ信号をより正確にできる。よって、乗算係数ｍによる層間迷光キャンセルゲインの調整精度が上がり、記録再生中に層間迷光量が変化しても、トラッキング性能、フォーカシング性能等のサーボ信号の性能向上を図ることができる。

層間迷光が大きい場合、光ディスク３の状態で層間迷光成分が変化するため、従来では、上記乗算係数ｋをその都度、最適値に設定しないと、サーボが安定化できなかった。しかしながら、本実施形態によれば、迷光キャンセルゲインを適切に調整することにより、層間迷光が変化してもその都度、乗算係数ｋを設定する必要がなくなり、サーボ信号がより安定化する。

さらに、光ディスク装置１ごとに乗算係数ｍを適正値に調整できるので、光ピックアップ１０、制御回路３０等のデバイスの製造上のばらつきに応じて、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できる。また、光ディスク装置１に搭載される光ディスク３ごとに乗算係数ｍを適正値に調整できるので、光ディスク３の製造上のばらつきに応じて、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できるとともに、光ディスク３におけるデータ記録状態に応じて、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整できる。また、層間迷光キャンセルゲイン調整のＳ／Ｎが格段に向上する。

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

例えば、上記実施形態では、サーボ信号として、ＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号ＴＥ、差動非点収差法のフォーカスエラー信号ＦＥの例を挙げたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、サーボ信号は、光ディスク装置１内の各部をサーボ制御するために、受光素子の検出信号に基づいて生成される信号であれば、例えば、プッシュプル方式などその他の方式のトラッキングエラー信号や、その他の方式のフォーカスエラー信号などであってもよい。

つまり、上記実施形態では、説明の簡単のため、ＤＰＰ方式の受光素子Ａ〜Ｈに対して層間迷光が一様に当たっている場合に、サーボ信号としてＤＰＰ方式のＴＥ信号を生成する例について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。受光素子における総受光量から層間迷光成分をキャンセルする機能と、当該総光量でゲインをコントロールする機能とを有する光ディスク装置であれば、例えば、他のトラッキング方式やフォーカス方式のサーボ信号を用いる場合でも、層間迷光により総光量が変化する。このため、上記実施形態と同様にして、層間迷光キャンセルゲインを適切に調整でき、サーボ信号が不正確になることを防止できる。

また、ＳＰＰ＿ＡＧＣ信号、ＳＦＥ＿ＡＧＣ信号の代わりに、ＤＰＰ信号（ＴＥ信号）、ＦＥ信号そのものを用いても、乗算係数ｍの調整は可能である。しかし、前述のようにＭＰＰ＿ＡＧＣ、ＭＦＥ＿ＡＧＣ生成用のメインビームに比べて、ＳＰＰ＿ＡＧＣ、ＳＦＥ＿ＡＧＣ生成用のサイドビームの光量は１０分の１程度であり、ＳＰＰ＿ＡＧＣ、ＳＦＥ＿ＡＧＣのみの方が層間迷光の影響を受けやすい。このため、ＤＰＰ信号、ＦＥ信号よりも、ＳＰＰ＿ＡＧＣ、ＳＦＥ＿ＡＧＣ信号を用いた方が、層間迷光成分のＳ／Ｎが良いので、乗算係数ｍをより適切に調整できる。

また、乗算係数ｍの決定手法は、図１１に示した例に限定されず、受光素子に対する光量バランスの変動量（例えばΔＳＰＰ＿ＡＧＣ、ΔＳＦＥ＿ＡＧＣ）が小さくなるように乗算係数ｍを調整する手法であれば、任意の方法を採用できる。例えば、図１１のように乗算係数ｍを段階的に設定変更してその都度ΔＳＰＰ＿ＡＧＣを測定するのではなく、乗算係数ｍを連続的に変更させながらΔＳＰＰ＿ＡＧＣ等の光量バランスの変動量を動的に測定してもよい。また、サーボ信号生成用の受光素子に対する光量バランスを表す信号（測定対象の信号）としては、上記ＳＰＰ＿ＡＧＣの例以外にも、ＳＰＰ１＿ＡＧＣ、ＳＰＰ２＿ＡＧＣ、ＳＰＰ１、ＳＰＰ２、ＤＰＰ、ＭＰＰ、ＭＰＰ＿ＡＧＣなど、任意のプッシュプル信号を用いてもよい。或いは、上記ＳＦＥ＿ＡＧＣの例以外にも、ＳＦＥ１＿ＡＧＣ、ＳＦＥ２＿ＡＧＣ、ＳＦＥ１、ＳＦＥ２、ＦＥ、ＭＦＥ、ＭＦＥ＿ＡＧＣ信号などを用いてもよい。

また、上記実施形態では、レンズシフトによりＳＰＰ＿ＡＧＣの光ＤＣバランスをゼロから大きくずらした状態でＳＰＰ＿ＡＧＣのバランス変動量を調整する例を示したが、より単純にＳＰＰ＿ＡＧＣのＤＣレベル変動量を調整してもよい。また、レンズシフトではなく、ＳＰＰ＿ＡＧＣの光ＤＣバランスがゼロから大きくずれるように、レンズチルト変化させる方法でもよい。要はＰＤパターン上の光量バランスをゼロからずらすことにより、受光素子に対する光量バランスの変動量の測定精度を向上させることがポイントである。

本発明の第１の実施形態にかかる光ディスク装置の構成を示す説明図である。 同実施形態にかかる光ピックアップの光学系の構成例を示す模式図である。 同実施形態にかかる２層ディスクの構造を模式的に示す説明図である。 同実施形態にかかる光検出部の受光素子のパターンを示す平面図である。 同実施形態にかかるマトリクス回路の演算回路系を示す回路図である。 レンズシフトに対する理想的なｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣとＭＰＰ＿ＡＧＣのバランス変化量を示すグラフである。 レンズシフトに対する実際のｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣとＭＰＰ＿ＡＧＣのバランス変化量を示すグラフである。 図６と図７との間のｋ・ＳＰＰ＿ＡＧＣの変化を示すグラフである。 同実施形態にかかる光ディスク３のディスク位置によるΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動を模式的に示す説明図である。 同実施形態にかかる光ディスク３にデータ記憶部分と未記録部分が混在する場合のディスク位置によるΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変動を模式的に示す説明図である。 同実施形態にかかる迷光キャンセルゲイン調整方法を示すフローチャートである。 乗算係数ｍを変化させた場合のΔＳＰＰ＿ＡＧＣの変化を示す説明図である。 本発明の第２の実施形態にかかる光検出部の受光素子のパターンを示す平面図である。

符号の説明

１ 光ディスク装置
３ 光ディスク
４ ポリカーボネート基板
５ 中間層
６ カバー層
１０ 光ピックアップ
２０ ディスク駆動部
２２ スピンドルモータ
３０ 制御回路
４０ マトリクス回路
５０ サーボ回路
６０ システムコントローラ
６２ スピンドルドライバ
６４ ＲＦアンプ
６６ 計数決定部
７０ ドライバ
７２ トラッキングドライバ
７４ フォーカスドライバ
７６ スライドモータドライバ
７８ チルトドライバ
１１０ レーザダイオード
１２０ 対物レンズ
１３０ 光検出部
１４０ ２軸アクチュエータ
１４２ スライドモータ
１４４ ＬＤドライバ
１５０ 光学系
Ａ〜Ｊ 受光素子
Ｌ０、Ｌ１ 記録層

Claims (7)

1. 複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部と；
   前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；
   前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定し、当該光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定する係数決定部と；
   を備えることを特徴とする、光ディスク装置。
2. 前記光ディスクの所定領域は、前記光ディスクにおけるデータの記録部分及び未記録部分を含む領域であることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記サーボ信号は、差動プッシュプル方式のトラッキングエラー信号であり、
   前記光量バランスの変動量は、サイドプッシュプル信号を用いて測定されることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 前記光量バランスの変動量の測定時に、対物レンズをトラッキング方向にシフトさせることにより、前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらすことを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 前記光量バランスの変動量の測定時に、対物レンズをレンズチルトさせることにより、前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらすことを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
6. 複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部から入力された信号に基づいて、サーボ信号を生成する制御回路であって：
   前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；
   前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定し、当該光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定する係数決定部と；
   を備えることを特徴とする、制御回路。
7. 複数の記録層を有する光ディスクに対して照射されたレーザ光の反射光を受光するサーボ信号生成用受光素子と、前記サーボ信号生成用受光素子に隣接配置された層間迷光検出用受光素子とを有する光検出部と；前記サーボ信号生成用受光素子の受光量を表す信号から、前記層間迷光検出用受光素子の受光量を表す信号に所定の乗算係数を乗算した信号を減算した信号に基づいて、サーボ信号を生成するサーボ信号生成部と；を備えた光ディスク装置における迷光キャンセルゲイン調整方法であって：
   前記サーボ信号生成用受光素子に対する前記反射光の光スポットの照射位置を最適な位置からずらした状態で、前記光ディスクの所定領域に前記レーザ光を照射して、前記サーボ信号生成用受光素子における光量バランスの変動量を測定するステップと；
   前記光量バランスの変動量が最小となるように前記乗算係数の値を決定するステップと；
   を含むことを特徴とする、迷光キャンセルゲイン調整方法。

Images