JP2009135870A - 発振開始検出回路及び半導体集積回路 - Google Patents

発振開始検出回路及び半導体集積回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2009135870A
JP2009135870A JP2008104904A JP2008104904A JP2009135870A JP 2009135870 A JP2009135870 A JP 2009135870A JP 2008104904 A JP2008104904 A JP 2008104904A JP 2008104904 A JP2008104904 A JP 2008104904A JP 2009135870 A JP2009135870 A JP 2009135870A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
channel mos
mos transistor
gate
signals
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2008104904A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Kobayashi
正典 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2008104904A priority Critical patent/JP2009135870A/ja
Publication of JP2009135870A publication Critical patent/JP2009135870A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

【課題】チャージポンプ方式の発振開始検出回路において、プロセスのばらつき等に起因する誤動作を確実に防止する。
【解決手段】この発振開始検出回路は、発振回路によって生成される発振信号を入力して、所定の期間をおいて交互に活性化される第1の制御信号及び第2の制御信号を生成する制御信号生成回路と、第1の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタ、及び、第2の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタが直列に接続され、第1の電源電位から電荷を移送するトランジスタ列と、トランジスタ列に含まれている複数のトランジスタによって移送される電荷をそれぞれ蓄積する複数のコンデンサと、検出信号を生成する最終段のコンデンサの端子を第2の電源電位にプルダウン又はプルアップする抵抗とを含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、電源投入後等において発振回路における発振動作が安定したことを表す検出信号を出力する発振開始検出回路に関し、さらに、そのような発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路に関する。
一般に、ディジタル信号を扱う装置においては、クロック信号を生成するために、水晶振動子、セラミック振動子、又は、SAW(Surface Acoustic Wave:表面弾性波)振動子等の振動子を用いた発振回路が用いられている。発振回路において生成されたクロック信号は、クロック信号に同期して動作する多数の回路に供給される。
装置の電源投入後のような発振開始の初期状態においては、発振回路が完全な発振状態に達していないので、発振信号の振幅が小さい。時間が経つにつれて、発振信号の振幅が徐々に大きくなり、完全な発振状態における振幅に成長して発振が安定する。このように、発振開始の初期状態においては、発振信号の振幅が小さいので、電源ラインのノイズによる異常発振や、電源ラインを帰還経路とした帰還発振が発生し易い。そこで、発振開始の初期状態における発振信号を他の回路に供給せずに、発振が安定してから発振信号を他の回路に供給するために、発振開始検出回路が用いられている。
図17は、従来の発振開始検出回路の構成例を示す回路図である。この発振開始検出回路においては、発振回路から出力される発振信号がトランジスタQ1のゲートに印加され、インバータ101によって反転された発振信号がトランジスタQ2のゲートに印加される。ここで、発振回路が発振動作を停止しているときには、トランジスタQ1及びQ2の内のいずれか一方がオフ状態になるので、検出信号の電位は、抵抗R1によってプルダウンされてローレベルになっている。
発振回路が発振動作を開始すると、トランジスタQ1がオンし、トランジスタQ2がオフすることにより、電源電位VDDによってコンデンサC1が充電され、次に、トランジスタQ1がオフし、トランジスタQ2がオンすることにより、コンデンサC1の電荷がコンデンサC2に移動する。これを繰り返すことによりチャージポンプ動作が行われ、検出信号の電位が上昇してハイレベルとなる。このようにして、発振動作が行われているか停止しているかの検出が可能となる。
図17に示す発振開始検出回路において、トランジスタQ1及びQ2は交互にオン/オフすることが必要であり、プロセスのばらつき等によってトランジスタQ1及びQ2の両方が同時にオンするタイミングが生じてしまうと、抵抗R1が高抵抗であるので検出信号がハイレベルに近付く可能性がある。そのような場合には、正規の発振が行われていなくても、単発のノイズパルス等によって発振状態であると誤検出されてしまうおそれがある。
関連する技術として、特許文献1には、チャージポンプを用いたパワーオンリセット回路に含まれている50GΩ程度の高抵抗がプロセスのばらつきによって2桁低下した場合にリセットを解除できないという問題点を解決したリセット信号解除回路が開示されている。このリセット信号解除回路は、高抵抗素子を介して電源電位を検出して得られるリセット要因(第1の検出信号)と、チャージポンプを用いたパワーオンリセット回路によって得られるリセット要因(第2の検出信号)とを論理演算(AND演算)することにより、リセット解除時の誤動作を防止している。しかしながら、発振開始検出回路においては、高抵抗素子を介して電源電位を検出しても、発振動作に関する情報は得られないので、このリセット信号解除回路の原理を発振開始検出回路に適用することはできない。
また、特許文献2には、チャージポンプを用いた昇圧回路の消費電力を低減することを目的とする半導体装置が開示されている。この半導体装置は、互いに逆相のクロック信号によって駆動されるチャージポンプを用いた昇圧回路を有しており、互いに逆相のクロック信号の立ち上がり/立ち下がりの遷移時に、それらのクロック信号用の配線間を短絡するように構成されている。しかしながら、互いに逆相のクロック信号用の配線間を短絡すれば、それによって無駄な消費電力が発生してしまう。
特開2000−40950号公報(第1頁、図2) 特開平10−228793号公報(第1−2頁、図1)
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、発振信号に基づいてコンデンサを充放電して電荷をシフトさせることにより検出信号を生成するチャージポンプ方式の発振開始検出回路において、プロセスのばらつき等に起因する誤動作を確実に防止することを目的とする。さらに、本発明は、そのような発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路を提供することを目的とする。
以上の課題を解決するため、本発明に係る発振開始検出回路は、発振回路によって生成される発振信号を入力して、所定の期間をおいて交互に活性化される第1の制御信号及び第2の制御信号を生成する制御信号生成回路と、第1の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタ、及び、第2の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタが直列に接続され、第1の電源電位から電荷を移送するトランジスタ列と、トランジスタ列に含まれている複数のトランジスタによって移送される電荷をそれぞれ蓄積する複数のコンデンサと、検出信号を生成する最終段のコンデンサの端子を第2の電源電位にプルダウン又はプルアップする抵抗とを具備する。
本発明の第1の観点において、制御信号生成回路が、発振回路によって生成される発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている第1の信号及び第2の信号を生成すると共に、第1及び第2の信号を反転して第3の信号及び第4の信号を生成するディレイ調整回路と、第1及び第2の信号の両方が活性化されているときに第1の制御信号を活性化する第1のデューティ調整回路と、第3及び第4の信号の両方が活性化されているときに第2の制御信号を活性化する第2のデューティ調整回路とを含むようにしても良い。
その場合に、第1のデューティ調整回路が、第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、第2の信号が印加されるゲート、及び、第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソースを有する第2のPチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタと、第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインと第1のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点を第1の電源電位にプルアップ又はプルダウンするための抵抗とを含み、第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインと第1のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点から第1の制御信号を出力するようにしても良い。
さらに、第2のデューティ調整回路が、第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第4の信号が印加されるゲート、及び、第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソースを有する第4のPチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタと、第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインと第3のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点を第1の電源電位にプルアップ又はプルダウンするための抵抗とを含み、第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインと第3のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点から第2の制御信号を出力するようにしても良い。
本発明の第2の観点において、制御信号生成回路が、発振回路によって生成される発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている第1の信号及び第2の信号を生成すると共に、第1及び第2の信号を反転して第3の信号及び第4の信号を生成するディレイ調整回路と、第1及び第2の信号の両方が活性化されているときに第1の制御信号を活性化する第1群のトランジスタ、第1及び第2の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第2群のトランジスタ、第1及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第3群のトランジスタ、及び、第2及び第3の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第4群のトランジスタを含む第1のデューティ調整回路と、第3及び第4の信号の両方が活性化されているときに第2の制御信号を活性化する第5群のトランジスタ、第3及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第6群のトランジスタ、第2及び第3の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第7群のトランジスタ、及び、第1及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第8群のトランジスタを含む第2のデューティ調整回路とを含むようにしても良い。
その場合に、第1のデューティ調整回路が、出力ノードから第1の制御信号を出力し、第1群のトランジスタが、第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第2群のトランジスタが、第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、第2の信号が印加されるゲート、第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第2のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第3群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第4群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第5のPチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、第5のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第6のPチャネルMOSトランジスタとを含むようにしても良い。
さらに、第2のデューティ調整回路が、第2の出力ノードから第2の制御信号を出力し、第5群のトランジスタが、第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第6群のトランジスタが、第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第7のPチャネルMOSトランジスタと、第4の信号が印加されるゲート、第7のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第8のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第7群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第9のPチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、第9のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第10のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第8群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第11のPチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第11のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第12のPチャネルMOSトランジスタとを含むようにしても良い。
あるいは、第1のデューティ調整回路が、出力ノードから第1の制御信号を出力し、第1群のトランジスタが、第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、第2の信号が印加されるゲート、第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第2のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第2群のトランジスタが、第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第3群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第4群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、出力ノードに接続されたドレインを有する第5のNチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、第5のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第6のNチャネルMOSトランジスタとを含むようにしても良い。
さらに、第2のデューティ調整回路が、第2の出力ノードから第2の制御信号を出力し、第5群のトランジスタが、第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第4の信号が印加されるゲート、第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第6群のトランジスタが、第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第7のNチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第7のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第8のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第7群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第9のNチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、第9のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第10のNチャネルMOSトランジスタとを含み、第8群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第11のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、第11のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第12のNチャネルMOSトランジスタとを含むようにしても良い。
また、本発明に係る半導体集積回路は、以上述べたいずれかの発振開始検出回路を具備する。この半導体集積回路は、発振回路によって生成される発振信号を入力し、発振開始検出回路によって生成される検出信号が活性化されたときに発振信号を出力する出力回路をさらに具備するようにしても良い。
本発明によれば、発振回路によって生成される発振信号を入力して、所定の期間をおいて交互に活性化される第1の制御信号及び第2の制御信号を生成する制御信号生成回路を設けたことにより、直列に接続された複数のトランジスタがオンする期間を分離して、プロセスのばらつき等に起因する誤動作を確実に防止することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路の構成の一部を示す図である。この半導体集積回路は、本発明の第1の実施形態に係る発振開始検出回路10と、水晶振動子、セラミック振動子、又は、SAW振動子等の振動子21を用いて発振動作を行う発振回路20と、発振信号の出力を制御する出力回路30とを含んでいる。
図1に示すように、発振開始検出回路10は、発振回路20によって生成される発振信号を入力して、所定の期間をおいて交互に活性化される制御信号S1及びS2を生成する制御信号生成回路11と、制御信号S1がゲートに印加されるPチャネルMOSトランジスタQ1と、制御信号S2がゲートに印加されるPチャネルMOSトランジスタQ2と、トランジスタQ1のドレインとトランジスタQ2のソースとの接続点と電源電位VSS(本実施形態においては、接地電位とする)との間に接続されたコンデンサC1と、トランジスタQ2のドレインと電源電位VSSとの間に並列に接続されたコンデンサC2及び抵抗R1とを有している。
ここで、トランジスタQ1のソースは電源電位VDDに接続されている。トランジスタQ1は、制御信号S1がローレベルに活性化されているときにオン状態となって、電源電位VDDから電荷を移送し、コンデンサC1は、トランジスタQ1によって移送される電荷を蓄積する。トランジスタQ2は、制御信号S2がローレベルに活性化されているときにオン状態となって、コンデンサC1に蓄積されている電荷を移送し、コンデンサC2は、トランジスタQ2によって移送される電荷を蓄積し、端子Aにおいて検出信号を生成する。抵抗R1は、コンデンサC2の端子Aを電源電位VSSにプルダウンする。
発振回路20が発振動作を停止しているときには、トランジスタQ1及びQ2の内のいずれか一方がオフ状態となるので、検出信号の電位は、抵抗R1によってプルダウンされてローレベルになっている。
発振回路20が発振動作を開始すると、トランジスタQ1がオンし、トランジスタQ2がオフすることにより、電源電位VDDによってコンデンサC1が充電され、次に、トランジスタQ2がオフし、トランジスタQ2がオンすることにより、コンデンサC1の電荷がコンデンサC2に移動する。これを繰り返すことによりチャージポンプ動作が行われ、検出信号の電位が上昇してハイレベルとなる。
このようにして、発振動作が行われているか停止しているかの検出が可能となる。図1においては、トランジスタQ1及びQ2としてPチャネルMOSトランジスタが用いられているので、制御信号S1及びS2が負論理となっているが、トランジスタQ1及びQ2としてNチャネルMOSトランジスタを用いることもできる。その場合には、制御信号S1及びS2が正論理となる。
出力回路30は、発振開始検出回路10によって生成される検出信号と発振回路20によって生成される発振信号との論理積を求めるNAND回路31と、NAND回路31の出力信号を反転させるインバータ32とを含んでいる。出力回路30は、発振開始検出回路10から出力される検出信号がハイレベルとなったときに、発振回路30から入力される発振信号を半導体集積回路内外の他の回路に出力する。
図2は、図1に示す制御信号生成回路の構成例を示すブロック図である。図2に示すように、制御信号生成回路11は、ディレイ調整回路12と、デューティ調整回路13及び14とを含んでいる。
ディレイ調整回路12は、発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている2値信号B1及びB2を生成すると共に、2値信号B1及びB2をそれぞれ反転して2値信号B3及びB4を生成する。デューティ調整回路13は、2値信号B1及びB2の両方が活性化されているときに制御信号S1を活性化する。デューティ調整回路14は、2値信号B3及びB4の両方が活性化されているときに制御信号S2を活性化する。
図3は、図2に示すディレイ調整回路の構成例を示す回路図であり、図4は、図3に示すディレイ調整回路から出力される2値信号の波形を示すタイミング図である。図3に示すように、ディレイ調整回路12は、直列に接続されたインバータ121〜125を含んでいる。インバータ123の出力端子と電源電位VSSとの間には、コンデンサC3が接続されている。
発振信号は、インバータ121の入力端子に供給され、インバータ121〜125によって順次反転されるが、その際に、コンデンサC3によって遅延時間DTだけ遅延される。これによって、図4に示すように、2値信号B1の立ち上がりエッジに対して、2値信号B2の立ち下がりエッジが、遅延時間DTだけ遅延される。その結果、2値信号B1の活性化期間と2値信号B2の活性化期間とは、所定の期間ΔTだけ互いにずれることになる(ΔT>0)。
また、2値信号B1がインバータ122によって反転されることにより2値信号B3が生成され、2値信号B2がインバータ125によって反転されることにより2値信号B4が生成される。これらの2値信号B1〜B4は、ハイレベルのときに活性化された状態にある(正論理)。ただし、図1に示すトランジスタQ1及びQ2としてNチャネルMOSトランジスタを用いる場合には、2値信号B1〜B4が負論理となる。
図5は、図2に示すデューティ調整回路の構成例を示す回路図である。デューティ調整回路13は、直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタQP1及びQP2と、直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタQN1及びQN2と、直列に接続された抵抗R11及びR12とを含んでいる。トランジスタQP1のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP2のソースは、トランジスタQP1のドレインに接続される。また、トランジスタQN1のドレインは、トランジスタQP2のドレインに接続され、トランジスタQN2のドレインは、トランジスタQN1のソースに接続され、トランジスタQN2のソースは、電源電位VSSに接続される。トランジスタQP2のドレインとトランジスタQN1のドレインとの接続点から、制御信号S1が出力される。
トランジスタQP1及びQP2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。また、トランジスタQN1及びQN2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。図5においては、トランジスタQP1のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP2のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN1のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN2のゲートに2値信号B1が印加されている。
もう1つのデューティ調整回路14(図2)の構成も同様であり、2値信号B1及びB2の替わりに2値信号B3及びB4が入力され、制御信号S1の替わりに制御信号S2が出力される。これらの制御信号S1及びS2は、ローレベルのときに活性化された状態にある(負論理)。
図6は、デューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図である。デューティ調整回路13においては、2値信号B1及びB2の両方がハイレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S2がローレベルに活性化される。
期間T1においては、2値信号B1がローレベルで2値信号B2がハイレベルなので、トランジスタQP1及びQN1がオン状態となり、トランジスタQP2及びQN2がオフ状態となって、制御信号S1のレベルは、抵抗R11及びR12によって定められる。
例えば、抵抗R11の抵抗値と抵抗R12の抵抗値との比を1:10に設定しておけば、電源電圧(VDD−VSS)が抵抗分圧されることによって、制御信号S1がハイレベルとなる。あるいは、プルアップ抵抗R11のみを設けるようにしても良い。一方、制御信号S1が正論理である場合には、例えば、抵抗R11の抵抗値と抵抗R12の抵抗値との比を10:1に設定しておくか、プルダウン抵抗R12のみを設けるようにする。その場合には、制御信号S1がローレベルとなる。
期間T2においては、2値信号B1及びB2の両方がハイレベルなので、トランジスタQN1及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQP2がオフ状態となって、制御信号S1はローレベルに活性化される。
期間T3においては、2値信号B1がハイレベルで2値信号B2がローレベルなので、トランジスタQP2及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQN1がオフ状態となって、制御信号S1は、抵抗R11及びR12によってハイレベルとなる。
期間T4においては、2値信号B1及びB2の両方がローレベルなので、トランジスタQP1及びQP2がオン状態となり、トランジスタQN1及びQN2がオフ状態となって、制御信号S1はハイレベルとなる。期間T5においては、期間T1におけるのと同様に、制御信号S1はハイレベルとなる。
このように、期間T3及びT5において制御信号S1がハイレベルとなるので、制御信号S1がローレベルに活性化される期間は、制御信号S1がハイレベルに非活性化される期間よりも短くなる。同様に、デューティ調整回路14(図2)においても、2値信号B3及びB4の両方がハイレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S2がローレベルに活性化される。従って、制御信号S2がローレベルに活性化される期間は、制御信号S2がハイレベルに非活性化される期間よりも短くなる。
その結果、図6に示すように、制御信号S1がローレベルからハイレベルに遷移してから期間T3が経過した後に、制御信号S2がハイレベルからローレベルに遷移し、制御信号S2がローレベルからハイレベルに遷移してから期間T5が経過した後に制御信号S1がハイレベルからローレベルに遷移する。ここで、T3、T5>0であるから、制御信号S1の活性化期間と制御信号S2の活性化期間とは、所定の期間だけ互いに離れている。
図7は、図1に示す制御信号生成回路の他の構成例を示すブロック図である。図7に示すように、制御信号生成回路11は、ディレイ調整回路12と、デューティ調整回路15及び16とを含んでいる。
ディレイ調整回路12は、発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている2値信号B1及びB2を生成すると共に、2値信号B1及びB2をそれぞれ反転して2値信号B3及びB4を生成する。デューティ調整回路15は、2値信号B1〜B4を入力し、2値信号B1及びB2の両方が活性化されているときに制御信号S1を活性化する。デューティ調整回路16は、2値信号B1〜B4を入力し、2値信号B3及びB4の両方が活性化されているときに制御信号S2を活性化する。
図8は、図7に示すデューティ調整回路15の第1の構成例を示す回路図である。第1の構成例は、2値信号B1〜B4が正論理で制御信号S1が負論理である場合に対応したものである。デューティ調整回路15は、2値信号B1及びB2の両方が活性化されているときに制御信号S1を活性化する第1群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN1及びQN2)と、2値信号B1及びB2の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第2群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP1及びQP2)と、2値信号B1及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第3群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP3及びQP4)と、2値信号B2及びB3の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第4群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP5及びQP6)とを含んでいる。制御信号S1は、出力ノードCから出力され、ローレベルのときに活性化された状態にある(負論理)。
第1群のトランジスタにおいて、トランジスタQN1のドレインは、出力ノードCに接続され、トランジスタQN2のドレインは、トランジスタQN1のソースに接続され、トランジスタQN2のソースは、電源電位VSSに接続される。第2群のトランジスタにおいて、トランジスタQP1のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP2のソースは、トランジスタQP1のドレインに接続され、トランジスタQP2のドレインは、出力ノードCに接続される。
第3群のトランジスタにおいて、トランジスタQP3のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP4のソースは、トランジスタQP3のドレインに接続され、トランジスタQP4のドレインは、出力ノードCに接続される。第4群のトランジスタにおいて、トランジスタQP5のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP6のソースは、トランジスタQP5のドレインに接続され、トランジスタQP6のドレインは、出力ノードCに接続される。
第1群のトランジスタQN1及びQN2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。第2群のトランジスタQP1及びQP2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。また、第3群のトランジスタQP3及びQP4の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。第4群のトランジスタQP5及びQP6の内の一方のゲートには2値信号B2が印加され、他方のゲートには2値信号B3が印加される。
図8においては、トランジスタQN1のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN2のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP1のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP2のゲートに2値信号B2が印加されている。また、トランジスタQP3のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP4のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQP5のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQP6のゲートに2値信号B2が印加されている。
図9は、図8に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図である。図8に示すデューティ調整回路15においては、2値信号B1及びB2の両方がハイレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S1がローレベルに活性化される。
期間T1においては、2値信号B1がローレベルで2値信号B2がハイレベルなので、トランジスタQP1及びQN1がオン状態となり、トランジスタQP2及びQN2がオフ状態となる。一方、2値信号B1及びB4の両方がローレベルなので、トランジスタQP3及びQP4がオン状態となって、制御信号S1がハイレベルとなる。
期間T2においては、2値信号B1及びB2の両方がハイレベルなので、トランジスタQN1及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQP2がオフ状態となって、制御信号S1はローレベルに活性化される。
期間T3においては、2値信号B1がハイレベルで2値信号B2がローレベルなので、トランジスタQP2及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQN1がオフ状態となる。一方、2値信号B2及びB3の両方がローレベルなので、トランジスタQP5及びQP6がオン状態となって、制御信号S1がハイレベルとなる。
期間T4においては、2値信号B1及びB2の両方がローレベルなので、トランジスタQP1及びQP2がオン状態となり、トランジスタQN1及びQN2がオフ状態となって、制御信号S1はハイレベルとなる。期間T5においては、期間T1におけるのと同様に、制御信号S1はハイレベルとなる。
このように、期間T3及びT5において制御信号S1がハイレベルとなるので、制御信号S1がローレベルに活性化される期間は、制御信号S1がハイレベルに非活性化される期間よりも短くなる。ここで、抵抗分割又はプルアップ抵抗を用いて期間T3及びT5における制御信号S1の電位を固定する場合には、制御信号S1がハイレベルよりも低い電位となったり、期間T2において制御信号S1がローレベルとなるときに消費電力が増加してしまう。図8に示すデューティ調整回路15においては、抵抗分割又はプルアップ抵抗を用いずに、トランジスタQP3〜QP6を用いて期間T3及びT5における制御信号S1の電位を固定しているので、制御信号S1の波形を改善し、又は、消費電力を低減することができる。
図10は、図7に示すデューティ調整回路16の第1の構成例を示す回路図である。第1の構成例は、2値信号B1〜B4が正論理で制御信号S2が負論理である場合に対応したものである。デューティ調整回路16は、2値信号B3及びB4の両方が活性化されているときに制御信号S2を活性化する第5群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN3及びQN4)と、2値信号B3及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第6群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP7及びQP8)と、2値信号B2及びB3の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第7群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP9及びQP10)と、2値信号B1及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第8群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP11及びQP12)とを含んでいる。制御信号S2は、出力ノードDから出力され、ローレベルのときに活性化された状態にある(負論理)。
第5群のトランジスタにおいて、トランジスタQN3のドレインは、出力ノードDに接続され、トランジスタQN4のドレインは、トランジスタQN3のソースに接続され、トランジスタQN4のソースは、電源電位VSSに接続される。第6群のトランジスタにおいて、トランジスタQP7のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP8のソースは、トランジスタQP7のドレインに接続され、トランジスタQP8のドレインは、出力ノードDに接続される。
第7群のトランジスタにおいて、トランジスタQP9のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP10のソースは、トランジスタQP9のドレインに接続され、トランジスタQP10のドレインは、出力ノードDに接続される。第8群のトランジスタにおいて、トランジスタQP11のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP12のソースは、トランジスタQP11のドレインに接続され、トランジスタQP12のドレインは、出力ノードDに接続される。
第5群のトランジスタQN3及びQN4の内の一方のゲートには2値信号B3が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。第6群のトランジスタQP7及びQP8の内の一方のゲートには2値信号B3が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。また、第7群のトランジスタQP9及びQP10の内の一方のゲートには2値信号B2が印加され、他方のゲートには2値信号B3が印加される。第8群のトランジスタQP11及びQP12の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。
図10においては、トランジスタQN3のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQN4のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQP7のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQP8のゲートに2値信号B4が印加されている。また、トランジスタQP9のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQP10のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQP11のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP12のゲートに2値信号B4が印加されている。
図11は、図10に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図である。図10に示すデューティ調整回路16においては、2値信号B3及びB4の両方がハイレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S2がローレベルに活性化される。従って、制御信号S2がローレベルに活性化される期間は、制御信号S2がハイレベルに非活性化される期間よりも短くなる。
ここで、抵抗分割又はプルアップ抵抗を用いて期間T3及びT5における制御信号S2の電位を固定する場合には、制御信号S2がハイレベルよりも低い電位となったり、期間T4において制御信号S2がローレベルとなるときに消費電力が増加してしまう。図10に示すデューティ調整回路16においては、抵抗分割又はプルアップ抵抗を用いずに、トランジスタQP9〜QP12を用いて期間T3及びT5における制御信号S2の電位を固定しているので、制御信号S2の波形を改善し、又は、消費電力を低減することができる。
図9及び図11に示すように、制御信号S1がローレベルからハイレベルに遷移してから期間T3が経過した後に、制御信号S2がハイレベルからローレベルに遷移し、制御信号S2がローレベルからハイレベルに遷移してから期間T5が経過した後に制御信号S1がハイレベルからローレベルに遷移する。ここで、T3、T5>0であるから、制御信号S1の活性化期間と制御信号S2の活性化期間とは、所定の期間だけ互いに離れている。
再び図1を参照すると、発振開始検出回路10において、制御信号S1がローレベルに活性化されている期間においてトランジスタQ1がオン状態となり、制御信号S2がローレベルに活性化されている期間においてトランジスタQ2がオン状態となる。ここで、制御信号S1及びS2が所定の期間をおいて交互に活性化されるので、トランジスタQ1及びQ2がオンする期間が確実に分離される。従って、発振信号の替わりに単発のノイズパルス等が入力されることによって検出信号がハイレベルになる誤検出を防止することできる。また、チャージポンプ回路における効率低下を防止することもできる。このように、本実施形態によれば、プロセスのばらつきを受け難く、回路の信頼性を向上させることが可能となる。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図12は、本発明の第2の実施形態に係る発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路の構成の一部を示す図である。第2の実施形態においては、発振開始検出回路10から出力される検出信号が負論理となっている。即ち、図1に示す第1の実施形態においては、発振回路20が発振動作を開始してから所定の時間が経過した時に、発振開始検出回路10が検出信号をローレベルからハイレベルに活性化するが、第2の実施形態においては、発振回路20が発振動作を開始してから所定の時間が経過した時に、発振開始検出回路10aが検出信号をハイレベルからローレベルに活性化する。
図12においては、発振開始検出回路10aのトランジスタQ1及びQ2として、NチャネルMOSトランジスタが用いられている。その場合には、制御信号S1及びS2が正論理となる。図12に示すように、トランジスタQ1のソースに電源電位VDDの替わりに電源電位VSSが接続され、図1に示すプルダウン抵抗R1の替わりにプルアップ抵抗R2が用いられる。また、出力回路30において、図1に示すNAND回路31の替わりにNOR回路33が用いられる。ここで、制御信号生成回路11の構成は、図2又は図7に示すものと同様である。
図13は、図7に示すデューティ調整回路15の第2の構成例を示す回路図である。第2の構成例は、2値信号B1〜B4が負論理で制御信号S1が正論理である場合に対応したものである。デューティ調整回路15は、2値信号B1及びB2の両方が活性化されているときに制御信号S1を活性化する第1群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP1及びQP2)と、2値信号B1及びB2の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第2群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN1及びQN2)と、2値信号B1及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第3群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN3及びQN4)と、2値信号B2及びB3の両方が非活性化されているときに制御信号S1を非活性化する第4群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN5及びQN6)とを含んでいる。制御信号S1は、出力ノードEから出力され、ハイレベルのときに活性化された状態にある(正論理)。
第1群のトランジスタにおいて、トランジスタQP1のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP2のソースは、トランジスタQP1のドレインに接続され、トランジスタQP2のドレインは、出力ノードEに接続される。第2群のトランジスタにおいて、トランジスタQN1のドレインは、出力ノードEに接続され、トランジスタQN2のドレインは、トランジスタQN1のソースに接続され、トランジスタQN2のソースは、電源電位VSSに接続される。
第3群のトランジスタにおいて、トランジスタQN3のドレインは、出力ノードEに接続され、トランジスタQN4のドレインは、トランジスタQN3のソースに接続され、トランジスタQN4のソースは、電源電位VSSに接続される。第4群のトランジスタにおいて、トランジスタQN5のドレインは、出力ノードEに接続され、トランジスタQN6のドレインは、トランジスタQN5のソースに接続され、トランジスタQN6のソースは、電源電位VSSに接続される。
第1群のトランジスタQP1及びQP2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。第2群のトランジスタQN1及びQN2の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B2が印加される。また、第3群のトランジスタQN3及びQN4の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。第4群のトランジスタQN5及びQN6の内の一方のゲートには2値信号B2が印加され、他方のゲートには2値信号B3が印加される。
図13においては、トランジスタQP1のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQP2のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN1のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN2のゲートに2値信号B1が印加されている。また、トランジスタQN3のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQN4のゲートに2値信号B1が印加され、トランジスタQN5のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN6のゲートに2値信号B3が印加されている。
図14は、図13に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図である。図13に示すデューティ調整回路15においては、2値信号B1及びB2の両方がローレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S1がハイレベルに活性化される。
期間T1においては、2値信号B1がローレベルで2値信号B2がハイレベルなので、トランジスタQP1及びQN1がオン状態となり、トランジスタQP2及びQN2がオフ状態となる。一方、2値信号B2及びB3の両方がハイレベルなので、トランジスタQN5及びQN6がオン状態となって、制御信号S1がローレベルとなる。
期間T2においては、2値信号B1及びB2の両方がハイレベルなので、トランジスタQN1及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQP2がオフ状態となって、制御信号S1はローレベルとなる。
期間T3においては、2値信号B1がハイレベルで2値信号B2がローレベルなので、トランジスタQP2及びQN2がオン状態となり、トランジスタQP1及びQN1がオフ状態となる。一方、2値信号B1及びB4の両方がハイレベルなので、トランジスタQN3及びQN4がオン状態となって、制御信号S1がローレベルとなる。
期間T4においては、2値信号B1及びB2の両方がローレベルなので、トランジスタQP1及びQP2がオン状態となり、トランジスタQN1及びQN2がオフ状態となって、制御信号S1はハイレベルに活性化される。期間T5においては、期間T1におけるのと同様に、制御信号S1はローレベルとなる。
このように、期間T3及びT5において制御信号S1がローレベルとなるので、制御信号S1がハイレベルに活性化される期間は、制御信号S1がローレベルに非活性化される期間よりも短くなる。ここで、抵抗分割又はプルダウン抵抗を用いて期間T3及びT5における制御信号S1の電位を固定する場合には、制御信号S1がローレベルよりも高い電位となったり、期間T4において制御信号S1がハイレベルとなるときに消費電力が増加してしまう。図13に示すデューティ調整回路15においては、抵抗分割又はプルダウン抵抗を用いずに、トランジスタQN3〜QN6を用いて期間T3及びT5における制御信号S2の電位を固定しているので、制御信号S1の波形を改善し、又は、消費電力を低減することができる。
図15は、図7に示すデューティ調整回路16の第2の構成例を示す回路図である。第2の構成例は、2値信号B1〜B4が負論理で制御信号S1が正論理である場合に対応したものである。デューティ調整回路16は、2値信号B3及びB4の両方が活性化されているときに制御信号S2を活性化する第5群のトランジスタ(PチャネルMOSトランジスタQP3及びQP4)と、2値信号B3及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第6群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN7及びQN8)と、2値信号B2及びB3の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第7群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN9及びQN10)と、2値信号B1及びB4の両方が非活性化されているときに制御信号S2を非活性化する第8群のトランジスタ(NチャネルMOSトランジスタQN11及びQN12)とを含んでいる。制御信号S2は、出力ノードFから出力され、ハイレベルのときに活性化された状態にある(正論理)。
第5群のトランジスタにおいて、トランジスタQP3のソースは、電源電位VDDに接続され、トランジスタQP4のソースは、トランジスタQP3のドレインに接続され、トランジスタQP4のドレインは、出力ノードFに接続される。第6群のトランジスタにおいて、トランジスタQN7のドレインは、出力ノードFに接続され、トランジスタQN8のドレインは、トランジスタQN7のソースに接続され、トランジスタQN8のソースは、電源電位VSSに接続される。
第7群のトランジスタにおいて、トランジスタQN9のドレインは、出力ノードFに接続され、トランジスタQN10のドレインは、トランジスタQN9のソースに接続され、トランジスタQN10のソースは、電源電位VSSに接続される。第8群のトランジスタにおいて、トランジスタQN11のドレインは、出力ノードFに接続され、トランジスタQN12のドレインは、トランジスタQN11のソースに接続され、トランジスタQN12のソースは、電源電位VSSに接続される。
第5群のトランジスタQP3及びQP4の内の一方のゲートには2値信号B3が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。第6群のトランジスタQN7及びQN8の内の一方のゲートには2値信号B3が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。また、第7群のトランジスタQN9及びQN10の内の一方のゲートには2値信号B2が印加され、他方のゲートには2値信号B3が印加される。第8群のトランジスタQN11及びQN12の内の一方のゲートには2値信号B1が印加され、他方のゲートには2値信号B4が印加される。
図15においては、トランジスタQP3のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQP4のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQN7のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQN8のゲートに2値信号B3が印加印加されている。また、トランジスタQN9のゲートに2値信号B2が印加され、トランジスタQN10のゲートに2値信号B3が印加され、トランジスタQN11のゲートに2値信号B4が印加され、トランジスタQN12のゲートに2値信号B1が印加されている。
図16は、図15に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図である。図15に示すデューティ調整回路16においては、2値信号B3及びB4の両方がローレベルに活性化されているときにのみ、制御信号S2がハイレベルに活性化される。従って、制御信号S2がハイレベルに活性化される期間は、制御信号S2がローレベルに非活性化される期間よりも短くなる。
ここで、抵抗分割又はプルダウン抵抗を用いて期間T3及びT5における制御信号S2の電位を固定する場合には、制御信号S2がローレベルよりも高い電位となったり、期間T2において制御信号S2がハイレベルとなるときに消費電力が増加してしまう。図15に示すデューティ調整回路16においては、抵抗分割又はプルダウン抵抗を用いずに、トランジスタQN9〜QN12を用いて期間T3及びT5における制御信号S2の電位を固定しているので、制御信号S2の波形を改善し、又は、消費電力を低減することができる。
図14及び図16に示すように、制御信号S2がハイレベルからローレベルに遷移してから期間T3が経過した後に、制御信号S1がローレベルからハイレベルに遷移し、制御信号S1がハイレベルからローレベルに遷移してから期間T5が経過した後に制御信号S1がローレベルからハイレベルに遷移する。ここで、T3、T5>0であるから、制御信号S1の活性化期間と制御信号S2の活性化期間とは、所定の期間だけ互いに離れている。
再び図12を参照すると、発振開始検出回路10において、制御信号S1がハイレベルに活性化されている期間においてトランジスタQ1がオン状態となり、制御信号S2がハイレベルに活性化されている期間においてトランジスタQ2がオン状態となる。ここで、制御信号S1及びS2が所定の期間をおいて交互に活性化されるので、トランジスタQ1及びQ2がオンする期間が確実に分離される。従って、第2の実施形態においても、第1の実施形態におけるのと同様の効果が得られる。
本発明の第1の実施形態に係る発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路の構成の一部を示す図。 図1に示す制御信号生成回路の構成例を示すブロック図。 図2に示すディレイ調整回路の構成例を示す回路図。 ディレイ調整回路から出力される2値信号の波形を示すタイミング図。 図2に示すデューティ調整回路の構成例を示す回路図。 デューティ調整回路から出力される制御信号の波形を示すタイミング図。 図1に示す制御信号生成回路の他の構成例を示すブロック図。 図7に示すデューティ調整回路15の第1の構成例を示す回路図。 図8に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図。 図7に示すデューティ調整回路16の第1の構成例を示す回路図。 図10に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図。 本発明の第2の実施形態に係る発振開始検出回路を内蔵した半導体集積回路の構成の一部を示す図。 図7に示すデューティ調整回路15の第2の構成例を示す回路図。 図13に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図。 図7に示すデューティ調整回路16の第2の構成例を示す回路図。 図15に示すデューティ調整回路から出力される制御信号の波形を2値信号の波形と共に示すタイミング図。 従来の発振開始検出回路の構成例を示す回路図。
符号の説明
10、10a 発振開始検出回路、 11 制御信号生成回路、 12ディレイ調整回路、 13〜16 デューティ調整回路、 20 発振回路、 21 振動子、 30 出力回路、 31 NAND回路、 32 インバータ、 33 NOR回路、 Q1、Q2、QP1〜QP12、QN1〜QN12 トランジスタ、 C1〜C3 コンデンサ、 R1〜R12 抵抗

Claims (11)

  1. 発振回路によって生成される発振信号を入力して、所定の期間をおいて交互に活性化される第1の制御信号及び第2の制御信号を生成する制御信号生成回路と、
    第1の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタ、及び、第2の制御信号が活性化されているときにオン状態となる少なくとも1つのトランジスタが直列に接続され、第1の電源電位から電荷を移送するトランジスタ列と、
    前記トランジスタ列に含まれている複数のトランジスタによって移送される電荷をそれぞれ蓄積する複数のコンデンサと、
    検出信号を生成する最終段のコンデンサの端子を第2の電源電位にプルダウン又はプルアップする抵抗と、
    を具備する発振開始検出回路。
  2. 前記制御信号生成回路が、
    前記発振回路によって生成される発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている第1の信号及び第2の信号を生成すると共に、第1及び第2の信号を反転して第3の信号及び第4の信号を生成するディレイ調整回路と、
    第1及び第2の信号の両方が活性化されているときに第1の制御信号を活性化する第1のデューティ調整回路と、
    第3及び第4の信号の両方が活性化されているときに第2の制御信号を活性化する第2のデューティ調整回路と、
    を含む、請求項1記載の発振開始検出回路。
  3. 前記第1のデューティ調整回路が、
    第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、
    第2の信号が印加されるゲート、及び、前記第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソースを有する第2のPチャネルMOSトランジスタと、
    第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、
    第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタと、
    前記第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインと前記第1のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点を第1の電源電位にプルアップ又はプルダウンするための抵抗と、
    を含み、前記第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインと前記第1のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点から第1の制御信号を出力する、請求項2記載の発振開始検出回路。
  4. 前記第2のデューティ調整回路が、
    第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、
    第4の信号が印加されるゲート、及び、前記第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソースを有する第4のPチャネルMOSトランジスタと、
    第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、
    第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタと、
    前記第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインと前記第3のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点を第1の電源電位にプルアップ又はプルダウンするための抵抗と、
    を含み、前記第4のPチャネルMOSトランジスタのドレインと前記第3のNチャネルMOSトランジスタのドレインとの接続点から第2の制御信号を出力する、請求項3記載の発振開始検出回路。
  5. 前記制御信号生成回路が、
    前記発振回路によって生成される発振信号に基づいて、活性化期間が所定の期間だけ互いにずれている第1の信号及び第2の信号を生成すると共に、第1及び第2の信号を反転して第3の信号及び第4の信号を生成するディレイ調整回路と、
    第1及び第2の信号の両方が活性化されているときに第1の制御信号を活性化する第1群のトランジスタ、第1及び第2の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第2群のトランジスタ、第1及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第3群のトランジスタ、及び、第2及び第3の信号の両方が非活性化されているときに第1の制御信号を非活性化する第4群のトランジスタを含む第1のデューティ調整回路と、
    第3及び第4の信号の両方が活性化されているときに第2の制御信号を活性化する第5群のトランジスタ、第3及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第6群のトランジスタ、第2及び第3の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第7群のトランジスタ、及び、第1及び第4の信号の両方が非活性化されているときに第2の制御信号を非活性化する第8群のトランジスタを含む第2のデューティ調整回路と、
    を含む、請求項1記載の発振開始検出回路。
  6. 前記第1のデューティ調整回路が、出力ノードから第1の制御信号を出力し、
    前記第1群のトランジスタが、第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第2群のトランジスタが、第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、第2の信号が印加されるゲート、前記第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第2のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第3群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第4群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第5のPチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第5のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第6のPチャネルMOSトランジスタとを含む、
    請求項5記載の発振開始検出回路。
  7. 前記第2のデューティ調整回路が、第2の出力ノードから第2の制御信号を出力し、
    前記第5群のトランジスタが、第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第6群のトランジスタが、第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第7のPチャネルMOSトランジスタと、第4の信号が印加されるゲート、前記第7のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第8のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第7群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第9のPチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第9のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第10のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第8群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第11のPチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第11のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第12のPチャネルMOSトランジスタとを含む、
    請求項6記載の発振開始検出回路。
  8. 前記第1のデューティ調整回路が、出力ノードから第1の制御信号を出力し、
    前記第1群のトランジスタが、第1の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第1のPチャネルMOSトランジスタと、第2の信号が印加されるゲート、前記第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第2のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第2群のトランジスタが、第1及び第2の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第1のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第2の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第2のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第3群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第3のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第3のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第4のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第4群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記出力ノードに接続されたドレインを有する第5のNチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第5のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第6のNチャネルMOSトランジスタとを含む、
    請求項5記載の発振開始検出回路。
  9. 前記第2のデューティ調整回路が、第2の出力ノードから第2の制御信号を出力し、
    前記第5群のトランジスタが、第3の信号が印加されるゲート、及び、第1の電源電位に接続されたソースを有する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第4の信号が印加されるゲート、前記第3のPチャネルMOSトランジスタのドレインに接続されたソース、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第6群のトランジスタが、第3及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第7のNチャネルMOSトランジスタと、第3及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第7のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第8のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第7群のトランジスタが、第2及び第3の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第9のNチャネルMOSトランジスタと、第2及び第3の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第9のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第10のNチャネルMOSトランジスタとを含み、
    前記第8群のトランジスタが、第1及び第4の信号の内の一方が印加されるゲート、及び、前記第2の出力ノードに接続されたドレインを有する第11のNチャネルMOSトランジスタと、第1及び第4の信号の内の他方が印加されるゲート、前記第11のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたドレイン、及び、第2の電源電位に接続されたソースを有する第12のNチャネルMOSトランジスタとを含む、
    請求項8記載の発振開始検出回路。
  10. 請求項1〜9のいずれか1項記載の発振開始検出回路を具備する半導体集積回路。
  11. 前記発振回路によって生成される発振信号を入力し、前記発振開始検出回路によって生成される検出信号が活性化されたときに発振信号を出力する出力回路をさらに具備する、請求項10記載の半導体集積回路。
JP2008104904A 2007-11-05 2008-04-14 発振開始検出回路及び半導体集積回路 Withdrawn JP2009135870A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008104904A JP2009135870A (ja) 2007-11-05 2008-04-14 発振開始検出回路及び半導体集積回路

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007287165 2007-11-05
JP2007289212 2007-11-07
JP2008104904A JP2009135870A (ja) 2007-11-05 2008-04-14 発振開始検出回路及び半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009135870A true JP2009135870A (ja) 2009-06-18

Family

ID=40867299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008104904A Withdrawn JP2009135870A (ja) 2007-11-05 2008-04-14 発振開始検出回路及び半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009135870A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014144699A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Sanyo Electric Co Ltd 電動自転車及び充電器、回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014144699A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Sanyo Electric Co Ltd 電動自転車及び充電器、回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4253720B2 (ja) パワーオンリセット回路
KR100908550B1 (ko) 파워 온 리셋 회로
EP3591842B1 (en) Rc oscillator watchdog circuit
JP2010166299A (ja) キャリブレーション回路及びキャリブレーション方法
US20080204158A1 (en) Apparatus and method for generating a supply voltage-dependent clock signal
JP6335069B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP3888464B2 (ja) 半導体集積回路
KR100724559B1 (ko) 레벨 쉬프터
JP6698855B2 (ja) インターフェース回路
US7528630B2 (en) High speed flip-flop
JP5458825B2 (ja) 電圧レギュレータ回路
JP6998850B2 (ja) 定電流回路
US8063685B1 (en) Pulsed flip-flop circuit
JP2009135870A (ja) 発振開始検出回路及び半導体集積回路
KR100706829B1 (ko) 반도체 메모리의 파워 업 신호 생성장치 및 방법
JP2008092271A (ja) 遅延回路
JP2002111466A (ja) 半導体集積回路
KR19990086718A (ko) 클럭 모니터 회로 및 이를 이용한 동기식 반도체 메모리 장치
JP2008187475A (ja) パワーオンリセット回路
US8049547B2 (en) Semiconductor integrated circuit and signal adjusting method
JP2009253729A (ja) 半導体集積回路装置
JP5481071B2 (ja) 半導体集積回路
JP5809550B2 (ja) Cr発振回路及び半導体集積装置
KR20090115008A (ko) 멀티플랙서
JP4856200B2 (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20110705