JP2009115652A - Sample pin holding attachment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample pin holding attachment allowing a screw type sample pin-compliant sample changer to correspond to a magnet type sample pin. <P>SOLUTION: The sample pin holding attachment includes: a tong divided into at least two parts including a first and a second part, for holding the sample pin between the first and the second part; a first and a second flat spring connected to the first and the second part respectively; a body having an axis connected to the first and the second flat spring; and a first and a second presser foot separated from the body and located so as to contact the external side faces of the first and the second part respectively, in which the first and the second flat spring apply each force for moving the first and the second part from the center axis of the axis to the first and the second part, and the external side faces of the first and the second part have a short and a long distance part where the distances from the center axis of the axis to the external faces of the first and the second part are different each other. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、サンプルピン保持アタッチメントに関する。   The present invention relates to a sample pin holding attachment.

従来、単結晶X線回折実験において凍結試料を自動交換するための装置(サンプルチェンジャー)として、特許文献1に記載のものが知られている。   Conventionally, a device described in Patent Document 1 is known as an apparatus (sample changer) for automatically exchanging a frozen sample in a single crystal X-ray diffraction experiment.

このサンプルチェンジャーは、両端に左右逆ネジを備えたサンプルピン(以下、「ネジ式のサンプルピン」と称する)を、一軸回転動作のみで実験装置に着脱する機能を有しており、放射光施設や実験室において迅速に実験を行うために利用されている。   This sample changer has the function of attaching / detaching sample pins (hereinafter referred to as “screw-type sample pins”) having left and right reverse screws at both ends to and from the experimental apparatus only by uniaxial rotation. It is used to conduct experiments quickly in the laboratory.

但し、このサンプルチェンジャーは、従来より広く一般的に用いられているマグネットヘッドに装着する形式のサンプルピン(以下、「マグネット式のサンプルピン」と証する。例えばハンプトンリサーチ社製品等。)には対応していない。非特許文献1に代表されるように、マグネット式のサンプルピンを取り扱うためのサンプルチェンジャーは、現在までに多くの研究機関や企業などにより数多く開発されている。
特許第3640383号 G. Snell et. al,"Automated Sample Mounting and Alignment System for Biological Crystallography at a Synchrotron Source", Structure, (2004). 12, pp537-545
However, this sample changer is compatible with a sample pin (hereinafter referred to as a “magnet type sample pin”, for example, a product of Hampton Research Co., Ltd.) that is mounted on a magnetic head that has been widely used in general. Not done. As typified by Non-Patent Document 1, many sample changers for handling magnetic sample pins have been developed by many research institutions and companies to date.
Japanese Patent No. 3640383 G. Snell et. Al, "Automated Sample Mounting and Alignment System for Biological Crystallography at a Synchrotron Source", Structure, (2004). 12, pp537-545

上記2種類の方式のサンプルピンが存在しているにも関わらず、サンプルチェンジャーは、何れか一方の方式にのみ対応しているので、ユーザーが不便を強いられることがある。   In spite of the presence of the two types of sample pins, the sample changer is compatible with only one of the methods, and the user may be inconvenienced.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ネジ式のサンプルピン対応のサンプルチェンジャーをマグネット式のサンプルピンに対応させることを可能にするサンプルピン保持アタッチメントを提供するものである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a sample pin holding attachment that enables a sample changer corresponding to a screw type sample pin to correspond to a magnet type sample pin. .

課題を解決するための手段及び発明の効果Means for Solving the Problems and Effects of the Invention

本発明のサンプルピン保持アタッチメントは、第1及び第2部分を含む少なくとも2つの部分に分割され且つ第1及び第2部分の間にサンプルピンを保持するトング部と、第1及び第2部分のそれぞれに結合された第1及び第2板バネ部と、第1及び第2板バネ部に結合された軸部とを有する本体部と、前記本体部から分離され且つ第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように配置される第1及び第2押さえ部とを備え、第1及び第2板バネ部は、それぞれ、第1及び第2部分を前記軸部の中心軸から遠ざける方向のバネ力を第1及び第2部分に加え、第1及び第2部分の外側面は、それぞれ、前記軸部の中心軸から第1及び第2部分の外側面までの距離が互いに異なる短距離部及び長距離部を有することを特徴とする。   The sample pin holding attachment of the present invention is divided into at least two parts including a first part and a second part and holds a sample pin between the first part and the second part, and a first part and a second part. A body portion having first and second leaf spring portions coupled to each other, a shaft portion coupled to the first and second leaf spring portions, and a first portion and a second portion separated from the body portion and First and second pressing portions arranged to contact the outer side surfaces, respectively, and the first and second leaf spring portions are respectively directions in which the first and second portions are separated from the central axis of the shaft portion. Of the first and second portions, and the outer surfaces of the first and second portions have short distances from the central axis of the shaft portion to the outer surfaces of the first and second portions, respectively. And a long distance portion.

本発明によれば、一軸回転動作によりトング部によるサンプルピンの挟持状態と解放状態とを変化させることができる。従って、本発明のサンプルピン保持アタッチメントをネジ式のサンプルピン対応のサンプルチェンジャーに取り付けることによって、このサンプルチェンジャーの一軸回転動作によってサンプルピンの挟持と解放を行うことができるようになり、マグネット式のサンプルピンへの対応が可能になる。
以下、種々の実施形態等を例示する。
According to the present invention, the pinching state and the releasing state of the sample pin by the tongue portion can be changed by the uniaxial rotation operation. Therefore, by attaching the sample pin holding attachment of the present invention to the sample changer corresponding to the screw type sample pin, the sample pin can be clamped and released by the uniaxial rotation operation of the sample changer. Supports sample pins.
Hereinafter, various embodiments will be exemplified.

トング部の第1及び第2部分は、互いに接触した際に第1及び第2部分の間に近位端側が閉じていて遠位端側が円筒形である空間が形成されるように構成されてもよい。マグネット式のサンプルピンは、多数の種類のものが存在しているが、そのベースの形状は、何れも円筒形であり、直径も同じである。従って、第1及び第2部分が上記構成を有する場合、第1及び第2部分の間の空間の円筒形の直径をサンプルピンのベースの直径と同じにすることによって、トング部がサンプルピンを挟持した際に前記空間が密閉空間となるため、この空間内に液体窒素を溜めることができ、サンプルピンに取り付けられたサンプル(凍結したタンパク質結晶等)を低温に保持することができる。   The first and second portions of the tongue are configured such that when they come into contact with each other, a space is formed between the first and second portions, the proximal end side being closed and the distal end side being cylindrical. Also good. There are many types of magnetic sample pins, but the bases are all cylindrical and have the same diameter. Therefore, when the first and second portions have the above-described configuration, the tongue portion is made to have the sample pin by making the cylindrical diameter of the space between the first and second portions the same as the diameter of the base of the sample pin. Since the space becomes a sealed space when sandwiched, liquid nitrogen can be stored in the space, and a sample (frozen protein crystal or the like) attached to the sample pin can be kept at a low temperature.

円筒形の前記空間は、前記遠位端側から順に大径部と、大径部よりも直径が小さい小径部とを備えてもよい。この場合、試料回りの空間体積を最小にすることにより、輸送中の空気の混入による霜付きを抑えることが出来る。   The cylindrical space may include a large-diameter portion and a small-diameter portion having a diameter smaller than that of the large-diameter portion in order from the distal end side. In this case, by minimizing the space volume around the sample, it is possible to suppress frost formation due to air mixing during transportation.

トング部の第1及び第2部分は、それぞれ、遠位端において、外側面と内側面がどちらも半円筒形であり、第1及び第2部分の遠位端側から見たときの前記軸部の中心軸に垂直な面において、第1及び第2部分の内側面の半円の直線部は、第1及び第2部分の外側面の半円の直線部に重なり、第1及び第2部分の内側面の半円の曲率中心は、それぞれ、第1及び第2部分の外側面の半円の曲率中心からずれていて且つ第1及び第2部分が互いに接触した際に前記軸部の中心軸に一致してもよい。トング部を比較的コンパクトにすることができる。   The first and second portions of the tongue portion are semicylindrical on the outer end and the inner surface at the distal end, respectively, and the axis when viewed from the distal end side of the first and second portions. In a plane perpendicular to the central axis of the part, the semicircular straight part of the inner surface of the first and second parts overlaps the semicircular straight part of the outer side of the first and second parts, and the first and second The center of curvature of the semicircle on the inner surface of the portion is offset from the center of curvature of the semicircle on the outer surface of the first and second portions, respectively, and when the first and second portions contact each other, It may coincide with the central axis. The tongue part can be made relatively compact.

また、本発明は、上記記載のサンプルピン保持アタッチメントの使用方法であって、第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように第1及び第2押さえ部を配置し、第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記短距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向に相対的に回転させることによって前記トング部を開状態にし、第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記長距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向とは逆の第2方向に相対的に回転させることによって前記トング部を閉状態にする工程を備えるサンプルピン保持アタッチメントの使用方法も提供する。
第1及び第2押さえ部と前記本体部との相対的な回転は、第1及び第2押さえ部を不動にし且つ前記本体部を回転させることによって行ってもよい。この場合、構成がシンプルになるという利点がある
The present invention also provides a method for using the sample pin holding attachment described above, wherein the first and second pressing portions are disposed so as to contact the outer surfaces of the first and second portions, respectively. The first and second pressing portions and the main body portion are relatively moved in the first direction with the central axis of the shaft portion as an axis so that the two pressing portions are in contact with the short distance portions of the first and second portions, respectively. The tongs are opened by rotating, and the first and second holding parts are contacted with the long distance parts of the first and second parts, respectively, with the central axis of the shaft part as an axis. Also provided is a method of using a sample pin holding attachment comprising a step of closing the tongue portion by rotating the two pressing portion and the main body portion relative to each other in a second direction opposite to the first direction.
The relative rotation between the first and second pressing portions and the main body portion may be performed by immobilizing the first and second pressing portions and rotating the main body portion. In this case, there is an advantage that the configuration becomes simple.

ここで示した種々の実施形態は、互いに組み合わせることができる。   The various embodiments shown here can be combined with each other.

以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。図面や以下の記述中で示す内容は、例示であって、本発明の範囲は、図面や以下の記述中で示すものに限定されない。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The contents shown in the drawings and the following description are examples, and the scope of the present invention is not limited to those shown in the drawings and the following description.

1.サンプルピン保持アタッチメントの構成
図1〜図5を用いて、本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントについて説明する。図1(a)〜(c)は、本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1のトング部7が閉状態である場合の構成を示す。図1(a)は、平面図であり、図1(b)は、右側面図であり、図1(c)は、図1(a)中のI−I断面図である。図2(a)〜(c)は、本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1のトング部7が開状態である場合の構成を示す。図2(a)は、平面図であり、図2(b)は、右側面図であり、図2(c)は、図2(a)中のI−I断面図である。図3(a)〜(c)は、図1(b)及び図2(b)に対応した右側面図であり、トング部7が開閉する原理を説明するための図である。図3(a)〜(c)では、第1押さえ部17及び第2押さえ部19は簡略化して表示している。図4は、本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1によって取り扱いが可能になるマグネット式のサンプルピン23の一例を示す。正面図である。図5(a)〜(c)は、本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1のトング部7で図4のサンプルピン23を挟持した状態を示す。図5(a)は、平面図であり、図5(b)は、右側面図であり、図5(c)は、図5(a)中のI−I断面図である。
1. Configuration of Sample Pin Holding Attachment A sample pin holding attachment according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Fig.1 (a)-(c) shows a structure in case the tongue part 7 of the sample pin holding | maintenance attachment 1 of this embodiment is a closed state. Fig.1 (a) is a top view, FIG.1 (b) is a right view, FIG.1 (c) is II sectional drawing in Fig.1 (a). 2A to 2C show a configuration when the tongue 7 of the sample pin holding attachment 1 of the present embodiment is in an open state. 2A is a plan view, FIG. 2B is a right side view, and FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line II in FIG. 2A. FIGS. 3A to 3C are right side views corresponding to FIGS. 1B and 2B, and are diagrams for explaining the principle that the tongue 7 is opened and closed. 3A to 3C, the first pressing portion 17 and the second pressing portion 19 are shown in a simplified manner. FIG. 4 shows an example of a magnet type sample pin 23 that can be handled by the sample pin holding attachment 1 of the present embodiment. It is a front view. 5A to 5C show a state in which the sample pin 23 of FIG. 4 is held by the tongue 7 of the sample pin holding attachment 1 of the present embodiment. 5A is a plan view, FIG. 5B is a right side view, and FIG. 5C is a cross-sectional view taken along the line II in FIG. 5A.

本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1は、第1部分3及び第2部分5に分割され且つ第1及び第2部分3、5の間にサンプルピン23を保持するトング部7と、第1部分3と第2部分5のそれぞれに結合された第1板バネ部9及び第2板バネ部11と、第1板バネ部9及び第2板バネ部11に結合された軸部13とを有する本体部15と、本体部15から分離され且つ第1及び第2部分3、5の外側面にそれぞれ当接するように配置される第1押さえ部17及び第2押さえ部19とを備える。第1及び第2板バネ部9、11は、それぞれ、第1及び第2部分3、5を軸部13の中心軸Xから遠ざける方向のバネ力を第1及び第2部分3、5に加える。第1及び第2部分3、5の外側面は、それぞれ、軸部13の中心軸Xから第1及び第2部分3、5の外側面までの距離が互いに異なる短距離部S及び長距離部Lを有する。   The sample pin holding attachment 1 of the present embodiment is divided into a first portion 3 and a second portion 5, and a tong portion 7 that holds the sample pin 23 between the first and second portions 3 and 5, and the first portion 3 and the second portion 5, the first leaf spring portion 9 and the second leaf spring portion 11 are coupled to each other, and the shaft portion 13 is coupled to the first leaf spring portion 9 and the second leaf spring portion 11. The main body part 15 includes a first pressing part 17 and a second pressing part 19 which are separated from the main body part 15 and arranged so as to contact the outer surfaces of the first and second parts 3 and 5, respectively. The first and second leaf spring portions 9 and 11 apply a spring force to the first and second portions 3 and 5 in the direction of moving the first and second portions 3 and 5 away from the central axis X of the shaft portion 13, respectively. . The outer surfaces of the first and second portions 3 and 5 are short-distance portions S and long-distance portions having different distances from the central axis X of the shaft portion 13 to the outer surfaces of the first and second portions 3 and 5, respectively. L.

第1及び第2押さえ部17、19は、本実施形態では、先端が丸まったネジからなり、第1及び第2押さえ部17、19は、リング21に取り付けられている。リング21は、軸部13の中心軸Xを軸とした本体部15の回転に対して不動となるように固定されている。   In the present embodiment, the first and second pressing portions 17 and 19 are made of screws with rounded tips, and the first and second pressing portions 17 and 19 are attached to the ring 21. The ring 21 is fixed so as not to move with respect to the rotation of the main body portion 15 about the central axis X of the shaft portion 13.

第1部分3と第2部分5には、それぞれ、半円筒形の溝24a、24bが形成されている。溝24a、24bは、第1部分3と第2部分5の遠位端(軸部13から遠い方の端)から近位端((軸部13に近い方の端))に向かって軸部13の中心軸Xに平行に延びる。溝24a、24bは、近位端にまでは到達していない。
第1部分3と第2部分5は、互いに接触した際に第1部分3と第2部分5の間に近位端側が閉じていて遠位端側が円筒形である空間24が形成されるように構成される。前記円筒形の中心軸は、軸部13の中心軸Xに一致する。空間24は、遠位端から順に大径部24cと、大径部24cよりも直径が小さい小径部24dを有している。大径部24cと小径部24dは、どちらも円筒形であり、中心軸が一致している。第1及び第2部分3、5の外側面は、それぞれ、半円筒形である。
Semi-cylindrical grooves 24 a and 24 b are formed in the first portion 3 and the second portion 5, respectively. The grooves 24a and 24b are formed in the shaft portion from the distal end (the end far from the shaft portion 13) to the proximal end ((the end closer to the shaft portion 13)) of the first portion 3 and the second portion 5. 13 parallel to the central axis X. The grooves 24a and 24b do not reach the proximal end.
When the first part 3 and the second part 5 come into contact with each other, a space 24 is formed between the first part 3 and the second part 5 so that the proximal end side is closed and the distal end side is cylindrical. Configured. The cylindrical central axis coincides with the central axis X of the shaft portion 13. The space 24 has a large diameter portion 24c and a small diameter portion 24d having a diameter smaller than that of the large diameter portion 24c in order from the distal end. Both the large-diameter portion 24c and the small-diameter portion 24d are cylindrical, and the central axes coincide with each other. The outer surfaces of the first and second portions 3 and 5 are each semi-cylindrical.

2.サンプルピン保持アタッチメントの使用目的
まず、本実施形態のサンプルピン保持アタッチメント1の使用目的について説明する。
2. Purpose of Using Sample Pin Holding Attachment First, the purpose of using the sample pin holding attachment 1 of the present embodiment will be described.

特許文献1に記載されているようなネジ式サンプルピン対応のサンプルチェンジャー(以下、「ネジ式サンプルチェンジャー」と称する。)では、ネジ溝が形成された凹部を先端に有する軸をアームの先端に取り付け、この軸を一方向に回転させることによってネジ式サンプルピンを保持し、逆方向に一軸回転させることによってネジ式サンプルピンを離脱させる構成を有している。   In a sample changer corresponding to a screw-type sample pin as described in Patent Document 1 (hereinafter referred to as “screw-type sample changer”), a shaft having a recess having a screw groove formed at the tip is provided at the tip of the arm. The screw-type sample pin is held by attaching and rotating the shaft in one direction, and the screw-type sample pin is detached by rotating the shaft in the opposite direction.

本実施形態のアタッチメント1は、後述するように、一軸回転動作によってマグネット式サンプルピンの保持及び離脱をさせることができる機能を有している。   As will be described later, the attachment 1 of the present embodiment has a function capable of holding and releasing the magnet type sample pin by a uniaxial rotation operation.

従って、本実施形態のアタッチメント1は、ネジ溝が形成された凹部を先端に有する上記の軸の代わりにネジ式サンプルチェンジャーのアームに取り付けることによってネジ式サンプルチェンジャーをマグネット式サンプルピンに対応させるために用いることができる。   Therefore, the attachment 1 of this embodiment is for attaching the screw-type sample changer to the magnet-type sample pin by attaching it to the arm of the screw-type sample changer instead of the above-mentioned shaft having a recess having a screw groove formed at the tip. Can be used.

3.サンプルピン保持アタッチメントの動作
次に、本実施形態のアタッチメント1の動作について説明する。
3. Operation of Sample Pin Holding Attachment Next, the operation of the attachment 1 of this embodiment will be described.

図3(a)に示すように、本実施形態のアタッチメント1のトング部7の第1及び第2部分3、5は、それぞれ、遠位端において外側面と内側面がどちらも半円筒形である。従って、第1及び第2部分3、5の遠位端側から見たときの軸部13の中心軸Xに垂直な面では、第1及び第2部分3、5の外側面と内側面は、どちらも半円である。内側面の半円の直線部は、外側面の半円の直線部に重なっており、内側面の半円の曲率中心Yは、第1及び第2部分の外側面の半円の曲率中心Z1、Z2からずれていて且つ第1及び第2部分3,5が互いに接触した際に軸部13の中心軸Xに一致する。このため、トング部7の第1及び第2部分3、5の肉厚は、円周方向に勾配がついており、肉厚が厚い部分では薄い部分よりも中心軸Xから外側面までの距離が長くなる。このため、肉厚が厚い部分及び薄い部分がそれぞれ長距離部L及び短距離部Sとなる。   As shown in FIG. 3 (a), the first and second portions 3 and 5 of the tongue 7 of the attachment 1 of the present embodiment are both semicylindrical on the outer side and the inner side at the distal end, respectively. is there. Therefore, in the plane perpendicular to the central axis X of the shaft portion 13 when viewed from the distal end side of the first and second portions 3 and 5, the outer surface and the inner surface of the first and second portions 3 and 5 are Both are semi-circles. The semicircular straight part of the inner side surface overlaps with the semicircular straight part of the outer side surface, and the center of curvature Y of the inner side semicircle is the center of curvature Z1 of the outer side semicircle of the first and second parts. , Z2 and coincides with the central axis X of the shaft portion 13 when the first and second portions 3 and 5 come into contact with each other. For this reason, the thickness of the first and second portions 3 and 5 of the tongue 7 is inclined in the circumferential direction, and in the thick portion, the distance from the central axis X to the outer surface is larger than in the thin portion. become longer. For this reason, the thick part and the thin part become the long distance part L and the short distance part S, respectively.

本実施形態のアタッチメント1では、図1(a)〜(c)と図3(a)に示すように、トング部7の第1部分3の長距離部Lが第1押さえ部17に当接し、トング部7の第2部分5の長距離部Lが第2押さえ部19に当接しているとき、トング部7が閉状態になる。第1部分3と第2部分5には、それぞれ、第1板バネ部9及び第2板バネ部11のバネ力によって中心軸Xから離れる方向(矢印Aの方向)の力が加わっているが、第1押さえ部17と第2押さえ部19によって第1部分3と第2部分5の移動が妨げられ、図1(a)〜(c)と図3(a)に示す状態が保持される。この状態がトング部7の閉状態である。   In the attachment 1 of the present embodiment, as shown in FIGS. 1A to 1C and FIG. 3A, the long distance portion L of the first portion 3 of the tongue 7 is brought into contact with the first pressing portion 17. When the long distance portion L of the second portion 5 of the tongue portion 7 is in contact with the second pressing portion 19, the tongue portion 7 is closed. A force in a direction away from the central axis X (direction of arrow A) is applied to the first portion 3 and the second portion 5 by the spring force of the first leaf spring portion 9 and the second leaf spring portion 11, respectively. The movement of the first part 3 and the second part 5 is prevented by the first pressing part 17 and the second pressing part 19, and the states shown in FIGS. 1A to 1C and FIG. 3A are maintained. . This state is the closed state of the tongue 7.

次に、軸部13の中心軸Xを軸として軸部13を図1(a)の矢印Bの方向に90度回転させると、本体部15の全体が一緒に軸部13と共に回転する。このとき、トング部7は、図3(a)の状態から90度右回転する。第1押さえ部17と第2押さえ部19は、本体部15とは分離されており、軸部13を回転させても第1押さえ部17と第2押さえ部19の位置は変化しない。   Next, when the shaft portion 13 is rotated 90 degrees in the direction of arrow B in FIG. 1A with the central axis X of the shaft portion 13 as an axis, the entire main body portion 15 rotates together with the shaft portion 13. At this time, the tongue 7 rotates 90 degrees to the right from the state of FIG. The first pressing portion 17 and the second pressing portion 19 are separated from the main body portion 15, and the positions of the first pressing portion 17 and the second pressing portion 19 do not change even when the shaft portion 13 is rotated.

図3(b)は、トング部7を90度右回転させたときにトング部7が開かないと仮定した場合の状態である。図3(b)の状態では、第1及び第2部分3、5の長距離部Lがそれぞれ第1及び第2押さえ部17、19から離れ、第1及び第2部分3、5の短距離部Sがそれぞれ第1及び第2押さえ部17、19に近づく。中心軸Xと短距離部Sの間の距離は、中心軸Xと長距離部Lの間の距離よりも短いので、第1及び第2部分3、5の短距離部Sと第1及び第2押さえ部17、19の間にそれぞれ隙間ができることになる。第1及び第2部分3、5には中心軸Xから離れる方向(矢印Cの方向)の力が加わっており、この力によって第1及び第2部分3、5が矢印Cの方向に移動し、図2(a)〜(c)及び図3(c)に示すように第1及び第2部分3、5の短距離部Sがそれぞれ第1及び第2押さえ部17、19に当接した時点で第1及び第2部分3、5が停止し、この状態が保持される。この状態がトング部7の開状態である。なお、図3(b)は仮想的な状態であり、実際は、短距離部Sと第1及び第2押さえ部17、19の間には隙間はできず、軸部13の回転に伴って第1及び第2部分3、5が少しずつ移動し(つまり、トング部7が少しずつ開き)、図3(a)の閉状態から図3(c)の開状態となる。   FIG. 3B shows a state when it is assumed that the tongue 7 does not open when the tongue 7 is rotated 90 degrees to the right. In the state of FIG. 3B, the long distance portion L of the first and second portions 3 and 5 is separated from the first and second pressing portions 17 and 19, respectively, and the short distance of the first and second portions 3 and 5. The part S approaches the first and second pressing parts 17 and 19, respectively. Since the distance between the central axis X and the short distance portion S is shorter than the distance between the central axis X and the long distance portion L, the short distance portion S and the first and second distance portions S of the first and second portions 3 and 5 are the same. A gap is formed between the two pressing portions 17 and 19. A force in a direction away from the central axis X (direction of arrow C) is applied to the first and second portions 3 and 5, and the first and second portions 3 and 5 move in the direction of arrow C by this force. 2 (a) to 2 (c) and FIG. 3 (c), the short distance portions S of the first and second portions 3 and 5 are in contact with the first and second pressing portions 17 and 19, respectively. At this time, the first and second portions 3 and 5 are stopped, and this state is maintained. This state is an open state of the tongue 7. Note that FIG. 3B is a virtual state, and in fact, there is no gap between the short distance portion S and the first and second pressing portions 17 and 19, and the first portion is accompanied by the rotation of the shaft portion 13. The first and second portions 3 and 5 move little by little (that is, the tongue 7 opens little by little), and the closed state in FIG. 3A changes to the open state in FIG.

また、図2(a)〜(c)及び図3(c)の状態から軸部13の中心軸Xを軸として軸部13を図2(a)の矢印Dの方向に90度回転させると、トング部7は、図3(c)の開状態から90度左回転して図3(a)の閉状態になる。   Further, when the shaft portion 13 is rotated 90 degrees in the direction of the arrow D in FIG. 2A from the state of FIGS. 2A to 2C and FIG. 3C with the central axis X of the shaft portion 13 as an axis. The tongue 7 is rotated 90 degrees counterclockwise from the open state shown in FIG. 3C to the closed state shown in FIG.

なお、ここでは、トング部7が90度右回転する場合を例にとって説明を行ったが、回転角度は、90度以外であってもよい。また、長距離部Lと短距離部Sの配置を反対にしてもよく、この場合、トング部7の回転方向を反対にする。また、ここでは、第1及び第2押さえ部17、19が不動で本体部15が回転する場合で説明を行ったが、本体部15を不動にし第1及び第2押さえ部17、19を中心軸Xを軸として回転させても同様の効果が得られ、第1及び第2押さえ部17、19と本体部15とを中心軸Xを軸として互いに逆方向に回転させても同様の効果が得られる。つまり、軸部13の中心軸Xを軸として第1及び第2押さえ部17、19と本体部15とが相対的に回転するようにすればよい。但し、第1及び第2押さえ部17、19を不動にし本体部15を回転させる構成がシンプルであり好ましい。   Here, the case where the tongue 7 rotates 90 degrees to the right has been described as an example, but the rotation angle may be other than 90 degrees. Further, the arrangement of the long distance portion L and the short distance portion S may be reversed. In this case, the rotation direction of the tongue 7 is reversed. Here, the case where the first and second pressing portions 17 and 19 are stationary and the main body portion 15 rotates is described. However, the main body portion 15 is fixed and the first and second pressing portions 17 and 19 are centered. The same effect can be obtained by rotating the axis X as an axis, and the same effect can be obtained by rotating the first and second pressing portions 17 and 19 and the main body 15 in the opposite directions around the central axis X. can get. That is, the first and second pressing portions 17 and 19 and the main body portion 15 may be relatively rotated about the central axis X of the shaft portion 13. However, the structure in which the first and second pressing portions 17 and 19 are fixed and the main body portion 15 is rotated is simple and preferable.

4.マグネット式サンプルピンの保持及び離脱方法
次に、本実施形態のアタッチメント1を用いて図4に示すマグネット式サンプルピン23の保持及び離脱方法を説明する。アタッチメント1の本体部15は、一軸回転動作が可能なようにネジ式サンプルチェンジャーのアームの先端に取り付けられている。アタッチメント1の第1及び第2押さえ部17、19は、本体部15の回転に対して不動になるようにネジ式サンプルチェンジャーのアームに固定されている。サンプルピン23は、磁性材料からなるベース25とサンプル保持部27を有している。サンプルピン23は、サンプル保存ラック上に載置されており、サンプル保存ラックは、液体窒素中に配置されている。
4). Next, a method for holding and releasing the magnetic sample pin 23 shown in FIG. 4 using the attachment 1 of the present embodiment will be described. The main body 15 of the attachment 1 is attached to the distal end of the arm of the screw type sample changer so as to be capable of uniaxial rotation. The first and second pressing portions 17 and 19 of the attachment 1 are fixed to the arm of the screw type sample changer so as not to move with respect to the rotation of the main body portion 15. The sample pin 23 has a base 25 made of a magnetic material and a sample holding part 27. The sample pin 23 is placed on a sample storage rack, and the sample storage rack is arranged in liquid nitrogen.

まず、トング部7を図2(a)〜(c)及び図3(c)の開状態にしてトング部7をサンプルピン23に近づける。このとき、サンプルピン23のサンプル保持部27がトング部7の内部の空間24の小径部24d内に配置され且つ空間24の大径部24cにおいてサンプルピン23のベース25を保持することができるように、トング部7をサンプルピン23に近づける。   First, the tongue 7 is brought into the open state shown in FIGS. 2A to 2C and FIG. At this time, the sample holding portion 27 of the sample pin 23 is disposed in the small diameter portion 24 d of the space 24 inside the tongue portion 7, and the base 25 of the sample pin 23 can be held in the large diameter portion 24 c of the space 24. Next, the tongue 7 is brought close to the sample pin 23.

次に、図2(a)の矢印Dの方向に軸部13を回転させる。これによって、トング部7が図1(a)〜(c)及び図3(a)の閉状態になり、第1及び第2部分3、5でサンプルピン23のベース25が挟まれる。このときの状態を図5(a)〜(c)に示す。   Next, the shaft portion 13 is rotated in the direction of the arrow D in FIG. As a result, the tongue 7 is closed as shown in FIGS. 1A to 1C and FIG. 3A, and the base 25 of the sample pin 23 is sandwiched between the first and second portions 3 and 5. The state at this time is shown in FIGS.

空間24の大径部24cの円筒形状とサンプルピン23のペース25の円筒形状は実質的に同じであり、大径部24cにおいてサンプルピン23のベース25を保持すると、トング部7の内部の空間24が密閉空間となる。サンプルピン23は、液体窒素中に配置されているので、第1及び第2部分3、5でサンプルピン23のベース25を挟んだときに上記の密閉空間内に液体窒素が充填される。これによってサンプル保持部27に保持されているサンプルを低温に保持することが可能になる。また、空間24が小径部24dを有しているので、空間24内の試料回りの空間体積が小さくなり、輸送中の空気の混入による霜付きを抑えることが出来る。なお、小径部24dは、サンプル保持部27を収容できる形状であればよく円筒径以外の形状であってもよい。また、空間24は、大径部24cと小径部24dを有さずに、中心軸Xの方向に沿って径が一定の円筒形であってもよい。   The cylindrical shape of the large-diameter portion 24c of the space 24 and the cylindrical shape of the pace 25 of the sample pin 23 are substantially the same, and when the base 25 of the sample pin 23 is held in the large-diameter portion 24c, the space inside the tongue 7 24 becomes a sealed space. Since the sample pin 23 is disposed in liquid nitrogen, the above-mentioned sealed space is filled with liquid nitrogen when the base 25 of the sample pin 23 is sandwiched between the first and second portions 3 and 5. As a result, the sample held in the sample holding unit 27 can be held at a low temperature. Moreover, since the space 24 has the small diameter part 24d, the space volume around the sample in the space 24 is reduced, and frosting due to air mixing during transportation can be suppressed. The small diameter portion 24d may be in any shape that can accommodate the sample holding portion 27, and may have a shape other than the cylindrical diameter. The space 24 may have a cylindrical shape having a constant diameter along the direction of the central axis X without having the large diameter portion 24c and the small diameter portion 24d.

次に、サンプルチェンジャーのアームを移動させて実験装置のマグネットヘッドにサンプルピン23のベース25を取り付ける。   Next, the arm of the sample changer is moved to attach the base 25 of the sample pin 23 to the magnet head of the experimental apparatus.

次に、図1(a)の矢印Bの方向に軸部13を回転させる。これによって、トング部7が図2(a)〜(c)及び図3(c)の開状態になり、サンプルピン23が解放される。   Next, the shaft portion 13 is rotated in the direction of arrow B in FIG. As a result, the tongue 7 is opened as shown in FIGS. 2A to 2C and FIG. 3C, and the sample pin 23 is released.

次に、サンプルピン23のサンプル保持部27に取り付けられたサンプルの測定を行う。   Next, the sample attached to the sample holding part 27 of the sample pin 23 is measured.

サンプルの測定が終わった後、上記と同様の方法で実験装置のマグネットヘッドの挟持及び解放を行うことによって実験装置のマグネットヘッドに取り付けられたサンプルピン23をサンプル保存ラックに戻す。   After the measurement of the sample is completed, the sample pin 23 attached to the magnetic head of the experimental apparatus is returned to the sample storage rack by clamping and releasing the magnetic head of the experimental apparatus in the same manner as described above.

以上の工程を繰り返すことによってサンプル保存ラック中の多数のサンプルピン23について、実験装置のマグネットヘッドへの取り付け、測定、取り外しを順次行うことができる。これによって、多数のサンプルピン23の各サンプルの測定を容易に行うことができる。   By repeating the above steps, a large number of sample pins 23 in the sample storage rack can be sequentially attached to the magnetic head of the experimental apparatus, measured, and removed. Thereby, the measurement of each sample of many sample pins 23 can be performed easily.

5.その他
アタッチメント1のトング部7の第1及び第2部分3、5の構成は、図1〜図5に示したものに限定されず、種々のものが考えられる。
5). Others The configurations of the first and second portions 3 and 5 of the tongue 7 of the attachment 1 are not limited to those shown in FIGS. 1 to 5, and various configurations can be considered.

例えば、図6の構成では、トング部7の第1及び第2部分3、5は、外側面が直方体状である。この場合、例えば45度の一軸回転によってトング部7の開閉を行うことができる。   For example, in the configuration of FIG. 6, the first and second portions 3 and 5 of the tongue 7 have a rectangular parallelepiped outer surface. In this case, for example, the tongue 7 can be opened and closed by uniaxial rotation of 45 degrees.

また、図7の構成では、トング部7の第1及び第2部分は、外側面と内側面の何れもが平面状になっている。図7の構成では、トング部7が閉状態の場合でも第1部分3と第2部分5が接触せずトング部7内に液体窒素を溜めることができないが、低温に保持する必要がないサンプルを取り扱う場合には、この点は特に問題ではない。   In the configuration of FIG. 7, the first and second portions of the tongue 7 are both planar on the outer surface and the inner surface. In the configuration of FIG. 7, even when the tongue 7 is in a closed state, the first portion 3 and the second portion 5 do not come into contact with each other and liquid nitrogen cannot be stored in the tongue 7 but does not need to be kept at a low temperature. This is not particularly a problem when dealing with.

また、ここまでは、トング部7が2分割されている場合を例に挙げて説明を行ったが、トング部7は、3つ又はそれ以上に分割されていてもよい。   In the above description, the case where the tongue part 7 is divided into two parts has been described as an example. However, the tongue part 7 may be divided into three or more parts.

また、軸部13、第1及び第2板バネ部9,11並びに第1及び第2押さえ部17,19についても、その構成は上記のものに限定されず、同じ機能を有するものであれば、どのような構成のものであってもよい。   Further, the configuration of the shaft portion 13, the first and second leaf spring portions 9, 11 and the first and second pressing portions 17, 19 is not limited to the above-described one, as long as they have the same function. Any configuration may be used.

以上の実施形態で示した種々の特徴は、互いに組み合わせることができる。1つの実施形態中に複数の特徴が含まれている場合、そのうちの1又は複数個の特徴を適宜抜き出して、単独で又は組み合わせて、本発明に採用することができる。   Various features shown in the above embodiments can be combined with each other. In the case where a plurality of features are included in one embodiment, one or a plurality of features can be appropriately extracted and used alone or in combination in the present invention.

図1(a)〜(c)は、本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントのトング部が閉状態である場合の構成を示す。図1(a)は、平面図であり、図1(b)は、右側面図であり、図1(c)は、図1(a)中のI−I断面図である。Fig.1 (a)-(c) shows the structure in case the tongue part of the sample pin holding | maintenance attachment of one Embodiment of this invention is a closed state. Fig.1 (a) is a top view, FIG.1 (b) is a right view, FIG.1 (c) is II sectional drawing in Fig.1 (a). 図2(a)〜(c)は、本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントのトング部が開状態である場合の構成を示す。図2(a)は、平面図であり、図2(b)は、右側面図であり、図2(c)は、図2(a)中のI−I断面図である。FIGS. 2A to 2C show a configuration when the tongue portion of the sample pin holding attachment according to the embodiment of the present invention is in an open state. 2A is a plan view, FIG. 2B is a right side view, and FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line II in FIG. 2A. 図3(a)〜(c)は、図1(b)及び図2(b)に対応した右側面図であり、トング部が開閉する原理を説明するための図である。図3(a)〜(c)では、第1押さえ部及び第2押さえ部は簡略化して表示している。FIGS. 3A to 3C are right side views corresponding to FIGS. 1B and 2B, and are diagrams for explaining the principle of opening and closing of the tongue portion. In Fig.3 (a)-(c), the 1st press part and the 2nd press part are simplified and displayed. 本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントによって取り扱いが可能になるマグネット式のサンプルピンの一例を示す。An example of the magnet-type sample pin which can be handled with the sample pin holding | maintenance attachment of one Embodiment of this invention is shown. 図5(a)〜(c)は、本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントのトング部で図4のサンプルピンを挟持した状態を示す。図5(a)は、平面図であり、図5(b)は、右側面図であり、図5(c)は、図5(a)中のI−I断面図である。FIGS. 5A to 5C show a state in which the sample pin of FIG. 4 is clamped by the tongue portion of the sample pin holding attachment according to the embodiment of the present invention. 5A is a plan view, FIG. 5B is a right side view, and FIG. 5C is a cross-sectional view taken along the line II in FIG. 5A. 本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントのトング部の別の構成例を示す図1(b)及び図2(b)に対応した右側面図である。It is a right view corresponding to FIG.1 (b) and FIG.2 (b) which shows another structural example of the tongue part of the sample pin holding | maintenance attachment of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のサンプルピン保持アタッチメントのトング部の別の構成例を示す図1(b)及び図2(b)に対応した右側面図である。It is a right view corresponding to FIG.1 (b) and FIG.2 (b) which shows another structural example of the tongue part of the sample pin holding | maintenance attachment of one Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1:サンプルピン保持アタッチメント 3:トング部の第1部分 5:トング部の第2部分 7:トング部 9:第1板バネ部 11:第2板バネ部 13:軸部 15:本体部 17:第1押さえ部 19:第2押さえ部 21:リング 23:マグネット式のサンプルピン 24:円筒形の空間 24a、24b:半円筒形の溝 24c:円筒形の空間の大径部 24d:円筒形の空間の小径部
25:サンプルピンのベース 27:サンプルピンのサンプル保持部 X:軸部の中心軸 Y:トング部の第1及び第2部分の内側面の半円の曲率中心 Z1:トング部の第1部分の外側面の半円の曲率中心 Z2:トング部の第2部分の外側面の半円の曲率中心 L:トング部の第1及び第2部分の外側面の長距離部 S:トング部の第1及び第2部分の外側面の短距離部
1: Sample pin holding attachment 3: First part of tongue part 5: Second part of tongue part 7: Tongue part 9: First leaf spring part 11: Second leaf spring part 13: Shaft part 15: Body part 17: First pressing portion 19: Second pressing portion 21: Ring 23: Magnet type sample pin 24: Cylindrical space 24a, 24b: Semi-cylindrical groove 24c: Large diameter portion of cylindrical space 24d: Cylindrical shape Small diameter portion 25 of space: Base of sample pin 27: Sample holding portion of sample pin X: Center axis of shaft portion Y: Center of curvature of semicircle on inner surface of first and second portions of tongue portion Z1: Tongue portion Center of curvature of semicircle of outer surface of first portion Z2: Center of curvature of semicircle of outer surface of second portion of tongue portion L: Long distance portion of outer surface of first and second portions of tongue portion S: Tong Short distance portion of the outer surface of the first and second portions of the portion

Claims (6)

第1及び第2部分を含む少なくとも2つの部分に分割され且つ第1及び第2部分の間にサンプルピンを保持するトング部と、第1及び第2部分のそれぞれに結合された第1及び第2板バネ部と、第1及び第2板バネ部に結合された軸部とを有する本体部と、前記本体部から分離され且つ第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように配置される第1及び第2押さえ部とを備え、
第1及び第2板バネ部は、それぞれ、第1及び第2部分を前記軸部の中心軸から遠ざける方向のバネ力を第1及び第2部分に加え、
第1及び第2部分の外側面は、それぞれ、前記軸部の中心軸から第1及び第2部分の外側面までの距離が互いに異なる短距離部及び長距離部を有することを特徴とするサンプルピン保持アタッチメント。
A tongs divided into at least two parts including a first and a second part and holding a sample pin between the first and second parts, and a first and a second connected to each of the first and second parts A main body portion having two leaf spring portions and a shaft portion coupled to the first and second leaf spring portions, and disposed so as to be separated from the main body portion and to contact the outer surfaces of the first and second portions, respectively. First and second holding portions to be provided,
Each of the first and second leaf spring portions applies a spring force in a direction to move the first and second portions away from the central axis of the shaft portion to the first and second portions, respectively.
The outer surfaces of the first and second parts have a short distance part and a long distance part, respectively, having different distances from the central axis of the shaft part to the outer surfaces of the first and second parts. Pin retention attachment.
第1及び第2部分は、互いに接触した際に第1及び第2部分の間に近位端側が閉じていて遠位端側が円筒形である空間が形成されるように構成される請求項1に記載のアタッチメント。 The first and second portions are configured to form a space between the first and second portions that is closed at the proximal end and cylindrical at the distal end when in contact with each other. Attachment described in. 前記空間は、前記遠位端側から順に大径部と、大径部よりも直径が小さい小径部とを備える請求項2に記載のアタッチメント。 The attachment according to claim 2, wherein the space includes a large-diameter portion and a small-diameter portion having a diameter smaller than that of the large-diameter portion in order from the distal end side. 第1及び第2部分は、それぞれ、遠位端において、外側面と内側面がどちらも半円筒形であり、
第1及び第2部分の遠位端側から見たときの前記軸部の中心軸に垂直な面において、第1及び第2部分の内側面の半円の直線部は、第1及び第2部分の外側面の半円の直線部に重なり、第1及び第2部分の内側面の半円の曲率中心は、それぞれ、第1及び第2部分の外側面の半円の曲率中心からずれていて且つ第1及び第2部分が互いに接触した際に前記軸部の中心軸に一致する請求項1〜3の何れか1つに記載のアタッチメント。
The first and second portions are each semi-cylindrical at the distal end, both outer and inner surfaces;
In a plane perpendicular to the central axis of the shaft portion when viewed from the distal end side of the first and second portions, the semicircular straight portion of the inner surface of the first and second portions is the first and second portions. The center of curvature of the semicircle on the inner surface of the first and second parts is offset from the center of curvature of the semicircle on the outer surface of the first and second parts, respectively, overlapping the straight part of the semicircle on the outer surface of the part. The attachment according to any one of claims 1 to 3, which coincides with a central axis of the shaft portion when the first and second portions come into contact with each other.
請求項1〜4に記載のサンプルピン保持アタッチメントの使用方法であって、
第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように第1及び第2押さえ部を配置し、
第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記短距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向に相対的に回転させることによって前記トング部を開状態にし、
第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記長距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向とは逆の第2方向に相対的に回転させることによって前記トング部を閉状態にする工程を備えるサンプルピン保持アタッチメントの使用方法。
A method for using the sample pin holding attachment according to claim 1,
The first and second pressing portions are arranged so as to contact the outer surfaces of the first and second portions, respectively.
The first and second pressing portions and the main body portion are moved in the first direction about the central axis of the shaft portion so that the first and second pressing portions contact the short distance portions of the first and second portions, respectively. The tongs are opened by rotating them relative to each other,
The first and second pressing portions and the main body portion are moved in the first direction about the central axis of the shaft portion so that the first and second pressing portions contact the long distance portions of the first and second portions, respectively. A method of using a sample pin holding attachment, comprising the step of closing the tongue by rotating in a second direction opposite to the first direction.
第1及び第2押さえ部と前記本体部との相対的な回転は、第1及び第2押さえ部を不動にし且つ前記本体部を回転させることによって行う請求項5に記載の方法。 The method according to claim 5, wherein relative rotation between the first and second pressing portions and the main body portion is performed by immobilizing the first and second pressing portions and rotating the main body portion.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192466U (en) * 1981-06-01 1982-12-06
JPS5893450U (en) * 1981-12-18 1983-06-24 株式会社東芝 Holder
JPS61263037A (en) * 1985-05-16 1986-11-21 Univ Kyoto Frozen sample exchanger
JPS6283947U (en) * 1985-11-12 1987-05-28
JPH04232830A (en) * 1990-12-28 1992-08-21 Rigaku Corp Method and device for sample exchange of small-object x-ray diffractometer
JPH05332955A (en) * 1992-05-30 1993-12-17 Rigaku Corp X-ray diffraction device provided with device for automatically changing sample
JPH1164177A (en) * 1997-08-22 1999-03-05 Shinku Kogaku Kk Transfer device for vacuum chamber
JP2003083412A (en) * 2001-09-10 2003-03-19 Inst Of Physical & Chemical Res Support mechanism of sample
JP2005055241A (en) * 2003-08-01 2005-03-03 Rigaku Corp Crystal sample holder and crystal evaluation system

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192466U (en) * 1981-06-01 1982-12-06
JPS5893450U (en) * 1981-12-18 1983-06-24 株式会社東芝 Holder
JPS61263037A (en) * 1985-05-16 1986-11-21 Univ Kyoto Frozen sample exchanger
JPS6283947U (en) * 1985-11-12 1987-05-28
JPH04232830A (en) * 1990-12-28 1992-08-21 Rigaku Corp Method and device for sample exchange of small-object x-ray diffractometer
JPH05332955A (en) * 1992-05-30 1993-12-17 Rigaku Corp X-ray diffraction device provided with device for automatically changing sample
JPH1164177A (en) * 1997-08-22 1999-03-05 Shinku Kogaku Kk Transfer device for vacuum chamber
JP2003083412A (en) * 2001-09-10 2003-03-19 Inst Of Physical & Chemical Res Support mechanism of sample
JP2005055241A (en) * 2003-08-01 2005-03-03 Rigaku Corp Crystal sample holder and crystal evaluation system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9182216B2 (en) 2010-09-22 2015-11-10 Osaka University Method for observing protein crystal

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