JPH1164177A - Transfer device for vacuum chamber - Google Patents

Transfer device for vacuum chamber

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Publication number
JPH1164177A
JPH1164177A JP22687097A JP22687097A JPH1164177A JP H1164177 A JPH1164177 A JP H1164177A JP 22687097 A JP22687097 A JP 22687097A JP 22687097 A JP22687097 A JP 22687097A JP H1164177 A JPH1164177 A JP H1164177A
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JP
Japan
Prior art keywords
sample
holder
transfer
sample carrier
carrier
Prior art date
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Pending
Application number
JP22687097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Horigome
利夫 堀米
Masashi Hasegawa
真史 長谷川
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SHINKU KOGAKU KK
Original Assignee
SHINKU KOGAKU KK
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Publication date
Application filed by SHINKU KOGAKU KK filed Critical SHINKU KOGAKU KK
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Publication of JPH1164177A publication Critical patent/JPH1164177A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transfer apparatus which can be used in a vacuum device and is economical and compact and has excellent operability. SOLUTION: A through hole provided with a latch mechanism comprising a ball 17 is formed in the center of a sample holder 1. While the flat face part of a carrier fixing pin 23 being positioned at an angular position opposite to the ball 17, the carrier fixing pin 23 is inserted to rotate the sample carrier 2. Consequently, the ball 17 and the fixing pin mutually interfere and the sample carrier 2 is prevented from coming out of the sample holder 1. To take out the holder, such processes are carried out in reverse order. The sample carrier 2 is rotated by a transferring holder 3 installed at the tip end of a transfer rod. Attachment and detachment of the sample carrier 2 and the transferring holder 3 are also carried out by rotation.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、真空チャンバー内
における試料のトランスファー(マニピュレーション)
装置に関する。
[0001] The present invention relates to transfer (manipulation) of a sample in a vacuum chamber.
Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】真空チャンバーを使用して実験製造等を
行う際には、真空チャンバー内において試料を取り扱う
ためのトランスファー装置が必要となる。このような真
空チャンバー内における試料のトランスファー装置は、
これまでにもさまざまなタイプが開発されている。
2. Description of the Related Art When conducting experimental production or the like using a vacuum chamber, a transfer device for handling a sample in the vacuum chamber is required. A sample transfer device in such a vacuum chamber is
Various types have been developed so far.

【0003】例えば、専用のフォークを取り付けたウォ
ーブルスティックによってスタッブを移送する装置があ
る。このシステムは、単純な構造が特徴である。また、
サンプルキャリアへのサンプルホルダの装着をバヨネッ
ト方式で行う装置もある。真空チャンバー用のトランス
ファー装置としては、このほかにも様々な方式の装置が
提案されている。
For example, there is a device for transferring a stub by a wobble stick to which a dedicated fork is attached. This system is characterized by a simple structure. Also,
There is also an apparatus that mounts a sample holder on a sample carrier by a bayonet method. As a transfer device for a vacuum chamber, various other types of devices have been proposed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
には一長一短があり、決定版ともいえる技術はなかっ
た。例えば、あるタイプの装置においては、移送距離が
長くなるとシステム構成が複雑になりトランスファーに
伴う操作が煩雑になってしまうという問題があった(操
作が煩雑になればなるほど、サンプルを落としてしまう
事故等の危険が高くなる)。また、別のタイプの装置で
は、サンプルキャリアが大きくなり、装置の小型化が困
難であった。また、さらに別の装置では、機能は優れて
いるものの、装置が高価であった。
However, the above-mentioned prior art has advantages and disadvantages, and there is no technology that can be said to be a definitive version. For example, in a certain type of apparatus, there is a problem that if the transfer distance is long, the system configuration becomes complicated and the operation involved in the transfer becomes complicated (the more complicated the operation, the more the sample is dropped. Etc.). In another type of device, the sample carrier becomes large, and it is difficult to reduce the size of the device. Further, still another device has an excellent function but is expensive.

【0005】本発明は、安価で汎用性があり、操作性に
優れる等の特徴を有し多くの研究者から支持を受け得る
真空装置用トランスファー装置を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a transfer device for a vacuum device which has features such as being inexpensive, versatile, and excellent in operability, and which can be supported by many researchers.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するためになされたものであり、少なくともその軸方向
への直動および該軸を中心とした回動を可能に構成され
たトランスファーロッドによって、サンプルを真空チャ
ンバへ移動しこれをセットするためのトランスファー装
置において、前記サンプルの固定されるサンプルキャリ
アと、前記サンプルキャリアを装着される、前記真空チ
ャンバ内に設置されるサンプルホルダと、前記サンプル
キャリアを前記トランスファーロッドに支持する、前記
トランスファーロッドに設置される受け渡しホルダと、
を含んで構成され、前記受け渡しホルダおよび前記サン
プルキャリアは、互いをある特定の角度位置において近
接対向させた状態で少なくともいずれか一方を回転させ
互いの相対的な角度位置を変更することで互いを係合し
逆に該相対的な角度位置を前記ある特定の角度位置に戻
すことで係合を解除されるとともに、該互いを近接対向
させた状態での回転は所定の角度範囲内においてのみ許
容されこれを越えての相対的な角度位置の変更は阻止さ
れる、第1の係合機構を有し、前記サンプルキャリアお
よび前記サンプルホルダは、互いを係合する第2の係合
機構を有し、前記第2の係合機構は、前記サンプルホル
ダに備えられた、その内壁面における周方向の一部に凸
部を備えた係合孔と、前記サンプルキャリアに備えられ
た、前記係合孔に挿入される、前記回転の中心と同軸位
置に設けられた係合ピンと、を含んで構成されるもので
あり、前記係合ピンは、その周方向における一部の領域
に設けられた、前記係合孔への挿入および前記係合孔か
らの引き抜きに際して前記凸部に干渉しない非干渉部
と、その軸方向の一部の領域に設けられた、前記係合孔
へ挿入されその後前記サンプルキャリアが所定角度回転
された状態において前記凸部と干渉することで前記係合
ピンが前記係合孔から抜けるのを阻止する干渉部と、を
有すること、を特徴とするトランスファー装置が提供さ
れる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to achieve the above-mentioned object, and has a transfer rod configured to be able to at least directly move in the axial direction and rotate about the shaft. In a transfer apparatus for moving and setting a sample to a vacuum chamber, a sample carrier to which the sample is fixed, a sample holder to which the sample carrier is mounted, and which is installed in the vacuum chamber; Supporting a sample carrier on the transfer rod, a transfer holder installed on the transfer rod,
The transfer holder and the sample carrier are configured to rotate each other by rotating at least one of them in a state of facing each other at a specific angular position to change the relative angular position of each other. The engagement is reversed, and the relative angular position is returned to the specific angular position to release the engagement, and the rotation in a state where the two are close to each other is allowed only within a predetermined angular range. A first engagement mechanism, wherein the sample carrier and the sample holder have a second engagement mechanism for engaging each other. The second engagement mechanism includes an engagement hole provided on the sample holder, the inner wall surface having a protrusion in a part of a circumferential direction thereof, and the engagement hole provided on the sample carrier. In the hole And an engagement pin provided coaxially with the center of rotation, wherein the engagement pin is provided in a partial area in a circumferential direction of the engagement pin. A non-interfering portion that does not interfere with the convex portion at the time of insertion into the mating hole and pulling out from the engaging hole, and a sample carrier inserted into the engaging hole provided in a partial area in the axial direction thereof, An interfering portion that prevents the engaging pin from coming out of the engaging hole by interfering with the convex portion in a state rotated by a predetermined angle.

【0007】前記サンプルキャリアは、前記サンプルの
固定されるサンプル固定面を前記受け渡しホルダとの係
合に際して前記受け渡しホルダに近接対向される面に有
し、前記受け渡しホルダは、前記サンプルキャリアとの
係合に際して前記サンプル固定面に対向される部分に、
前記サンプル固定面に固定されたサンプルを収容可能な
空間部を有することが好ましい。
The sample carrier has a sample fixing surface on which the sample is fixed, on a surface which is close to and opposed to the transfer holder when engaging with the transfer holder, and the transfer holder has an engagement with the sample carrier. In the part facing the sample fixing surface when combining,
It is preferable to have a space that can accommodate the sample fixed to the sample fixing surface.

【0008】前記第1の係合機構は、円周上に配置され
た、複数の係合爪と、該係合爪によって係合される被係
合部とを含んで構成されるものであり、前記サンプル固
定面および前記空間部は、前記円周内に位置することが
好ましい。
The first engagement mechanism includes a plurality of engagement claws arranged on a circumference and an engaged portion engaged by the engagement claws. Preferably, the sample fixing surface and the space are located within the circumference.

【0009】前記サンプルホルダは、前記係合孔の内壁
面に開口した枝孔を有するとともに、該枝孔内に収容さ
れた可動部材と、該可動部材を前記係合孔の中心に向け
て付勢する付勢部材とを含んで構成されたものであり、
前記凸部は、前記可動部材の一部が前記係合孔内に進入
することで構成されていることがことが好ましい。
The sample holder has a branch hole opened on the inner wall surface of the engagement hole, and a movable member accommodated in the branch hole and a movable member attached to the center of the engagement hole. And a biasing member for biasing,
It is preferable that the convex portion is configured such that a part of the movable member enters the engagement hole.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図面を用いて
説明する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0011】本実施形態はトランスファー装置(機構)
を備えた真空チャンバを含んで構成される測定・加工装
置である。
This embodiment is a transfer device (mechanism)
Is a measurement and processing apparatus configured to include a vacuum chamber provided with

【0012】まず、該測定・加工装置の概要を図1を用
いて説明する。
First, an outline of the measuring and processing apparatus will be described with reference to FIG.

【0013】該測定・加工装置は、測定チャンバ100
と、試料作成チャンバ110と、を備えている。
The measuring and processing apparatus comprises a measuring chamber 100
And a sample preparation chamber 110.

【0014】測定チャンバ100は、その内部にX−Y
ステージ102を備えている。そして、このX−Yステ
ージ102には、試料(サンプル)の固定されたサンプ
ルキャリアを支持するためのサンプルホルダが設置され
ている。このX−Yステージ102は、マイクロメータ
103を操作することで、X方向およびY方向について
それぞれ独立的にその位置を変更可能に構成されてい
る。また、該X−Yステージ102は、昇降機構(不図
示)によってその高さ位置が変更可能に構成されてい
る。
The measuring chamber 100 has XY inside.
A stage 102 is provided. The XY stage 102 is provided with a sample holder for supporting a sample carrier on which a sample (sample) is fixed. The position of the XY stage 102 can be independently changed in the X direction and the Y direction by operating the micrometer 103. The XY stage 102 is configured such that its height can be changed by an elevating mechanism (not shown).

【0015】試料作成チャンバ110から測定チャンバ
100への試料(サンプル)の移動は、あらかじめサン
プルをサンプルキャリアに固定しておき、該サンプルキ
ャリアを駆動機構(不図示)によって作動されるトラン
スファーロッド101によって支持し移動することで行
う。
To move the sample (sample) from the sample preparation chamber 110 to the measurement chamber 100, the sample is fixed on a sample carrier in advance, and the sample carrier is moved by a transfer rod 101 operated by a drive mechanism (not shown). This is done by supporting and moving.

【0016】本実施形態におけるトランスファー装置
は、このトランスファーロッド101が少なくとも直動
と回転とを可能なものを前提としている。本実施形態は
主として、このトランスファーロッド101と、サンプ
ルホルダとの間においてサンプルキャリア(すなわち、
サンプル)を受け渡すための機構(トランスファー装
置)に特徴を有するものである。従って、これ以降にお
いては該トランスファー装置を中心に説明を行う。
The transfer device in the present embodiment is based on the premise that the transfer rod 101 can at least directly move and rotate. In the present embodiment, a sample carrier (that is, a sample carrier (ie,
(Transfer device) for transferring the sample). Therefore, hereinafter, the transfer apparatus will be mainly described.

【0017】本実施形態のトランスファー装置は、図2
に示す様に、サンプルの固定されるサンプルキャリア2
と、サンプルキャリア2をトランスファーロッド101
に支持するための受け渡しホルダ3と、サンプルキャリ
ア2を取り付けられるサンプルホルダ1と、を備えて構
成される。 (1) サンプルホルダ1(図4参照) サンプルホルダ1はサンプルキャリア2を保持するため
のものである。
FIG. 2 shows a transfer apparatus according to this embodiment.
As shown in the figure, the sample carrier 2 on which the sample is fixed
And the sample carrier 2 is transferred to the transfer rod 101.
And a sample holder 1 to which the sample carrier 2 can be attached. (1) Sample holder 1 (see FIG. 4) The sample holder 1 is for holding the sample carrier 2.

【0018】該サンプルホルダ1は、所定の厚さを備え
た板状のサンプルホルダ本体10と、該本体10内に設
置されたバネ16、ボール17、とめビス18とを備え
て構成されている。
The sample holder 1 includes a plate-shaped sample holder main body 10 having a predetermined thickness, and a spring 16, a ball 17, and a female screw 18 installed in the main body 10. .

【0019】サンプルホルダ本体10は、その平面部の
中心に貫通孔11(5Φ)を備えている。そして、この
貫通孔11内には、ラッチ機構が設けられている。すな
わち、サンプルホルダ本体10内部には、貫通孔11の
内壁面に開口した枝孔12が設けられている。そして、
この枝孔12内に、ボール17およびバネ16が収容さ
れている。このボール17は、バネ16によって付勢さ
れて、その一部が貫通孔11内に進入した状態となって
いる。但し、この枝孔12の開口部は絞り込まれている
ため、ボール17が貫通孔11内に脱落することはな
い。この枝孔12の他方の開口部はとめビス18によっ
て塞がれており、このとめビス18によって、バネ16
がボール17を押す力を調整できるようになっている。
The sample holder main body 10 has a through hole 11 (5Φ) at the center of the plane portion. A latch mechanism is provided in the through hole 11. That is, a branch hole 12 opened in the inner wall surface of the through hole 11 is provided inside the sample holder main body 10. And
A ball 17 and a spring 16 are housed in the branch hole 12. The ball 17 is urged by the spring 16, and a part of the ball 17 enters the through hole 11. However, since the opening of the branch hole 12 is narrowed, the ball 17 does not fall into the through hole 11. The other opening of the branch hole 12 is closed by a stop screw 18.
Can adjust the pressing force of the ball 17.

【0020】測定時の低エネルギー電子への影響を考慮
して、サンプルホルダ1は主として非磁性体の材料で構
成されている。具体的には、サンプルホルダ本体10お
よびとめビス18はモリブデン(Mo)、バネ16には
タングステン(W)を用いて構成している。但し、ボー
ル17の材料には、金属のサンプルキャリア2とのかじ
り付きを防ぐためにアルミナを採用している。 (2) サンプルキャリア2(図5参照) サンプルキャリア2は、サンプルを直接固定されるもの
である。
The sample holder 1 is mainly made of a non-magnetic material in consideration of the influence on low energy electrons at the time of measurement. More specifically, the sample holder body 10 and the stop screw 18 are made of molybdenum (Mo), and the spring 16 is made of tungsten (W). However, alumina is adopted as the material of the ball 17 in order to prevent galling with the metal sample carrier 2. (2) Sample carrier 2 (see FIG. 5) The sample carrier 2 is for directly fixing a sample.

【0021】該サンプルキャリア2は、サンプルキャリ
ア本体20と、キャリア固定ピン23と、ビス26を備
えている。
The sample carrier 2 includes a sample carrier main body 20, carrier fixing pins 23, and screws 26.

【0022】サンプルキャリア本体20は、サンプルの
固定される平面(以下“サンプル固定面”という)21
を備えた円板状の部材である。サンプルキャリア本体2
0の側面には、ビス26が設けられている。また、サン
プルキャリア本体20には、ビス26の位置に対して9
0°方向の両サイドに、R切り込み22が設けられてい
る。なお、サンプル固定面21には2つのネジ孔が設け
られており、測定試料の保持固定はこのネジ孔を利用し
て行われるようになっている。
The sample carrier body 20 has a plane 21 on which a sample is fixed (hereinafter referred to as a “sample fixing surface”) 21.
It is a disk-shaped member provided with. Sample carrier body 2
A screw 26 is provided on the side surface of the zero. In addition, the sample carrier body 20 has 9
R cuts 22 are provided on both sides in the 0 ° direction. The sample fixing surface 21 is provided with two screw holes, and the measurement sample is held and fixed using the screw holes.

【0023】キャリア固定ピン23は、該サンプルキャ
リア2をサンプルホルダ1に固定するためのものであ
り、サンプルキャリア本体20のサンプル固定面21の
裏面側に設けられている。該キャリア固定ピン23は、
その途中がテーパ状(テーパ部24)に絞り込まれて細
くなっている。また、その周方向の一部(ビス26と同
じ角度位置を含んだ領域)は、切り落とされて、該キャ
リア固定ピン23の軸方向と平行な面(平面部25)に
なっている。該サンプルキャリア2は、キャリア固定ピ
ン23を前述のサンプルホルダ1の貫通孔11に挿入さ
れて、ボール17とキャリア固定ピン23のテーパ部2
4とが干渉した状態となることで、サンプルホルダ1に
固定される。但し、平面部25がボール17に相対した
角度位置では、ボール17と干渉することがなく、キャ
リア固定ピン23(すなわち、サンプルキャリア2)の
抜き差しが容易にできるようになっている。
The carrier fixing pin 23 is for fixing the sample carrier 2 to the sample holder 1, and is provided on the back side of the sample fixing surface 21 of the sample carrier main body 20. The carrier fixing pin 23 is
The middle is narrowed down to a tapered shape (tapered portion 24). A part of the circumferential direction (a region including the same angular position as the screw 26) is cut off to form a plane parallel to the axial direction of the carrier fixing pin 23 (a flat surface 25). In the sample carrier 2, the carrier fixing pin 23 is inserted into the through hole 11 of the sample holder 1, and the ball 17 and the tapered portion 2 of the carrier fixing pin 23 are
4 are fixed to the sample holder 1 when they interfere with each other. However, at the angular position where the flat portion 25 is opposed to the ball 17, the carrier fixing pin 23 (that is, the sample carrier 2) can be easily inserted and removed without interfering with the ball 17.

【0024】なお、このキャリア固定ピン23、ビス2
6、R切り込み22の形状と位置が、後述するようにト
ランスファー操作の要になっている。
The carrier fixing pin 23 and the screw 2
6. The shape and position of the R notch 22 are important for the transfer operation as described later.

【0025】測定時の低エネルギー電子への影響を考慮
して、サンプルキャリア2,ビス26には、非磁性体の
材料(本実施形態ではモリブデン(Mo))を使用して
いる。 (3) 受け渡しホルダ3(図6参照) 受け渡しホルダ3は、サンプルキャリア2を保持するた
めのものであり、トランスファーロッド101の先端に
取り付けられて使用される。受け渡しホルダ3は、受け
渡しホルダ本体30と、該受け渡しホルダ本体30内に
設置されたキャリア押さえバネ33と、ベローズ34を
備えて構成されている。
In consideration of the effect on low-energy electrons during measurement, a nonmagnetic material (molybdenum (Mo) in this embodiment) is used for the sample carriers 2 and the screws 26. (3) Delivery Holder 3 (see FIG. 6) The delivery holder 3 is for holding the sample carrier 2 and is used by being attached to the tip of the transfer rod 101. The delivery holder 3 includes a delivery holder main body 30, a carrier pressing spring 33 installed in the delivery holder main body 30, and a bellows 34.

【0026】受け渡しホルダ本体30は、円筒状であ
り、その先端には、サンプルキャリア2のR切り込み2
2と適合した2つの爪31が設けられている。また、該
受け渡しホルダ本体30の先端部は、その一部が切り欠
かれている(側面切り欠き32)。該側面切り欠き32
は、サンプルキャリア2のビス26に適合している。な
お、この2本の爪31と、側面切り欠き32の位置関係
がトランスファー操作の要になっている。
The transfer holder main body 30 has a cylindrical shape, and has an R cut 2
2, two claws 31 are provided. A part of the tip of the delivery holder main body 30 is cut out (side cutout 32). The side cutout 32
Are compatible with the screws 26 of the sample carrier 2. The positional relationship between the two claws 31 and the side cutouts 32 is the key to the transfer operation.

【0027】押さえバネ8は、該受け渡しホルダ3に保
持したサンプルキャリア2の脱落を防ぐためのものであ
る。該押さえバネ8は、受け渡しホルダ本体30内に設
置されており、受け渡しホルダ3に保持したサンプルキ
ャリア2をその先端向き(図6における左向き)に付勢
することで、該サンプルキャリア2のサンプル固定面2
1を爪31の内側面に押しつけるようになっている。な
お、サンプルキャリア2を保持した状態において、当該
サンプルキャリア2に固定されている試料は該押さえバ
ネ8の内側に位置し受け渡しホルダ本体30によって保
護された状態となる。
The holding spring 8 is for preventing the sample carrier 2 held in the transfer holder 3 from falling off. The holding spring 8 is installed in the delivery holder main body 30 and urges the sample carrier 2 held by the delivery holder 3 toward its tip (to the left in FIG. 6) to fix the sample on the sample carrier 2. Face 2
1 is pressed against the inner surface of the nail 31. In a state where the sample carrier 2 is held, the sample fixed to the sample carrier 2 is located inside the holding spring 8 and is protected by the transfer holder body 30.

【0028】ベローズ34は、初心者が無理なトランス
ファー操作をした場合、各要素にかかる力を効果的に吸
収し、サンプルキャリアの確実な固定、脱着を可能にす
るためのものであり、受け渡しホルダ本体30の後方
(図6における右側)に設置されている。該ベローズ3
4の後部には、該受け渡しホルダ3をトランスファーロ
ッドに取り付けるための取り付け部35が設けられてい
る。既に述べたとおりトランスファーロッドは、受け渡
しホルダ本体30の軸を中心にして受け渡しホルダ3を
回転できるように構成されている。
The bellows 34 is used to effectively absorb the force applied to each element when a beginner performs an unreasonable transfer operation, and to allow the sample carrier to be securely fixed and detached. 30 (the right side in FIG. 6). The bellows 3
At the rear part of 4, there is provided a mounting part 35 for mounting the transfer holder 3 to the transfer rod. As described above, the transfer rod is configured to be able to rotate the transfer holder 3 about the axis of the transfer holder main body 30.

【0029】なお、受け渡しホルダ本体30およびベロ
ーズ34はSUS304を用いて、また、キャリア押さ
えバネ33はタングステン(W)を用いて構成してい
る。
The transfer holder body 30 and the bellows 34 are made of SUS304, and the carrier holding spring 33 is made of tungsten (W).

【0030】本発明における”ある特定の角度位置”と
は、本実施形態においては後述する図8(a)のような
位置関係を指す。”凸部”、”可動部材”とは、ボール
17に相当する。”係合孔”とは、貫通孔11に相当す
る。”係合ピン”とは、キャリア固定ピン23に相当す
る。”非干渉部”とは、平面部25に相当する。”干渉
部”とは、テーパ部24に相当する。”係合爪”とは、
爪31に相当する。”被係合部”とは、サンプルキャリ
ア本体20の外周部分に相当する。”枝孔”とは、枝孔
12に相当する。”付勢部材”とは、バネ16に相当す
る。”空間部”とは、受け渡しホルダ本体30内の空間
に相当する。”第1の係合機構”とは、受渡ホルダ3の
爪31、側面切り欠き32、切り欠き側壁部32a,
b、サンプルキャリア2のビス26、R切り込み22、
サンプルキャリア本体20の外周部等によって構成され
ている。”第2の係合機構”とは、キャリア固定ピン2
3、サンプルホルダ1の貫通孔11、ボール17等によ
って構成されている。
The "certain specific angular position" in the present invention indicates a positional relationship as shown in FIG. The “projection” and the “movable member” correspond to the ball 17. The “engagement hole” corresponds to the through hole 11. The “engagement pin” corresponds to the carrier fixing pin 23. The “non-interference part” corresponds to the flat part 25. The “interference part” corresponds to the tapered part 24. The “engaging claw”
It corresponds to the nail 31. The “engaged portion” corresponds to an outer peripheral portion of the sample carrier main body 20. The “branch hole” corresponds to the branch hole 12. The “biasing member” corresponds to the spring 16. The “space” corresponds to a space in the delivery holder main body 30. The “first engagement mechanism” includes the claw 31, the side notch 32, the notch side wall 32a,
b, screw 26 of sample carrier 2, R cut 22,
It is constituted by the outer peripheral portion of the sample carrier main body 20 and the like. The “second engagement mechanism” refers to the carrier fixing pin 2
3, constituted by the through hole 11 of the sample holder 1, the ball 17, and the like.

【0031】次に、本実施形態のトランスファー装置の
動作を説明する。
Next, the operation of the transfer device of the present embodiment will be described.

【0032】ここでは、以下の(1)(2)(3)に分
けて説明を行う。
Here, the description will be made separately in the following (1), (2) and (3).

【0033】(1)受け渡しホルダ3へのサンプルキャ
リア2の取り付け (2)サンプルホルダ1へのサンプルキャリア2の取り
付け (3)サンプルホルダ1からのサンプルキャリア2の取
り外し また、サンプルホルダ1、サンプルキャリア2および受
け渡しホルダ3相互の位置関係をわかりやすくするた
め、説明はこれらの部品を模式化して表現した図面(図
7、図8、図9、図10)を用いて行う。図7(a)は
サンプルキャリア2を、その角度位置がわかりやすいよ
うに模式的に描いたものである。同様に、図7(b)は
受け渡しホルダ3を、また、図7(c)はサンプルホル
ダ1を、その角度位置がわかりやすいように模式的に表
現したものである。なお、図7、図8、図9、図10に
示したのは、図2における右側に相当する向きから見た
状態である。
(1) Attachment of sample carrier 2 to delivery holder 3 (2) Attachment of sample carrier 2 to sample holder 1 (3) Removal of sample carrier 2 from sample holder 1 In order to make the positional relationship between the transfer holder 2 and the transfer holder 3 easy to understand, the description will be made with reference to drawings (FIGS. 7, 8, 9, and 10) schematically showing these components. FIG. 7A schematically illustrates the sample carrier 2 so that its angular position is easily understood. Similarly, FIG. 7B schematically illustrates the transfer holder 3 and FIG. 7C schematically illustrates the sample holder 1 so that the angular position thereof is easily understood. 7, FIG. 8, FIG. 9, and FIG. 10 show states viewed from the direction corresponding to the right side in FIG.

【0034】以下において述べる受け渡しホルダ3の回
転および直動は、該受け渡しホルダの取り付けられてい
るトランスファーロッド101の回転および直動によっ
てなされるものである。 (1)サンプルキャリア2の受け渡しホルダ3への取り
付け(図8参照) 操作1−1. 爪31がサンプルキャリア2のR切り込み22を通り且
つビス26が側面切り欠き32内に位置するような角度
位置で、受け渡しホルダ3をサンプルキャリア2に(あ
るいは、逆にサンプルキャリア2を受け渡しホルダ3
に)挿入する(図8(a))。 操作1−2. 挿入後、受け渡しホルダ3を時計方向に(あるいは、サ
ンプルキャリア2を半時計方向に)回転してゆく(図8
(b))。最終的には、側面切り欠き32の切り欠き側
壁部32bがビス26に十分接近するまで(約90°)
受け渡しホルダ3を回転させる(図8(c))。この状
態において、爪31がサンプルキャリア本体20に係っ
ている。また、キャリア押さえバネ33によってサンプ
ルキャリア2は爪31に向けて付勢されている。従っ
て、この状態においては、サンプルキャリア2は受け渡
しホルダ3の先端に確実に保持されている。また、この
状態において、サンプルキャリア2にあらかじめ固定さ
れている試料は、受け渡しホルダ3によって保護された
状態となっている。 (2)サンプルキャリア2のサンプルホルダ1への取り
付け(図9参照) 操作2−1. 受け渡しホルダ3に保持されたサンプルキャリア2を、
サンプルホルダ1に挿入する。この場合のサンプルホル
ダ1とサンプルキャリア2との相対角度は、サンプルキ
ャリア2を、その平面部25が、サンプルホルダ1のボ
ール17に相対するような角度位置とする(図9
(a))。該挿入に際してキャリア固定ピン23が干渉
することはないため、挿入は抵抗なくできる。 操作2−2. 挿入完了後、受け渡しホルダ3を半計方向に約90°回
転させてゆく(図9(b))。この時、サンプルキャリ
ア2のサンプルホルダ1に対する位置に変化はない。受
け渡しホルダ3のみが回転してゆく。ほぼ、約90°回
転させた時点で、サンプルキャリア2のビス26は受け
渡しホルダ3の側面切り欠き32の切り欠き側壁部32
aに達する(図9(c))。 操作2−3. さらに、受け渡しホルダ3の回転を続けると、ビス26
が受け渡しホルダ3の切り欠き側壁部32aに押され
て、サンプルキャリア2も一緒にいっしょに半時計方向
に回転を始める(図9(d))。該サンプルキャリア2
の回転によって、キャリア固定ピン23がボール17に
干渉するようになる。該サンプルキャリア2が約90°
回転した時点で、サンプルキャリア2はサンプルホルダ
1に固定される(図9(e))。しかも、この状態にお
いて、キャリア固定ピン23のテーパ部25はボール1
7によって押されているため、サンプルキャリア2はサ
ンプルホルダ1側に押しつけられしっかりと固定されて
いる。 操作2−4. 図9(e)の状態では、受渡ホルダ3の爪31は、R切
り込み23の位置にある。従って、このままの状態で受
け渡しホルダ3をサンプルキャリア2から引き抜くこと
ができる。この場合、サンプルキャリア2はサンプルホ
ルダ1にしっかりと固定されている。以上でサンプルキ
ャリア2のサンプルホルダ1への取り付けが完了する
(図9(f))。 (3)サンプルキャリア2のサンプルホルダ1からの取
り外し(図10) 操作3−1. 受け渡しホルダ3を直動しサンプルキャリア2に挿入す
る。このときの、サンプルキャリア2に対する受け渡し
ホルダ3の角度位置は、爪31がR切り込み23を通り
且つビス26が側面切り欠き32内に位置するような角
度位置とする(図10(a))。 操作3−2. 挿入後、受け渡しホルダ3を時計方向に回転してゆく
(図10(b))。この時、サンプルキャリア2のサン
プルホルダ1に対する位置に変化はない。受け渡しホル
ダ3のみが回転する。最終的には、側面切り欠き32の
切り欠き側壁部32bがビス26に十分接近するまで受
け渡しホルダ3を回転させる(図10(c))。この状
態において、爪31がサンプルキャリア本体20に係っ
ている。また、キャリア押さえバネ33によってサンプ
ルキャリア2は爪31に向けて付勢されている。従っ
て、この状態においては、サンプルキャリア2は受け渡
しホルダ3の先端に確実に保持されている。 操作3−3. さらに、受け渡しホルダ3の回転を続けると、ビス26
が受け渡しホルダ3の切り欠き側壁部32bに押され
て、サンプルキャリア2も一緒に時計方向に回転を始め
る(図10(d))。そして、このサンプルキャリア2
の回転に伴って、キャリア固定ピン23にボール17が
干渉しなくなってくる。該サンプルキャリア2が約90
°回転した時点で、キャリア固定ピン23はその平面部
25がボール17に対向した状態となっている(図10
(e))。一方、この状態において、サンプルキャリア
2は受け渡しホルダ3にしっかり保持されている。 操作3−4 この状態(図10(e))で、受け渡しホルダ3を引く
と、該受け渡しホルダ3とともにサンプルキャリア2は
サンプルホルダ1から取り外される(図10(f))。
この状態(図10(e))では、ボール17とキャリア
固定ピン23は互いに干渉しないため、引き抜きに際し
て抵抗はない。
The rotation and linear movement of the transfer holder 3 described below are performed by the rotation and linear movement of the transfer rod 101 to which the transfer holder is attached. (1) Attachment of sample carrier 2 to delivery holder 3 (see FIG. 8) Operation 1-1. The transfer holder 3 is transferred to the sample carrier 2 (or vice versa) at an angular position such that the claws 31 pass through the R cuts 22 of the sample carrier 2 and the screws 26 are located in the side cutouts 32.
8) (FIG. 8A). Operation 1-2. After insertion, the transfer holder 3 is rotated clockwise (or the sample carrier 2 is rotated counterclockwise) (FIG. 8).
(B)). Finally, until the notch side wall 32b of the side notch 32 is sufficiently close to the screw 26 (about 90 °).
The transfer holder 3 is rotated (FIG. 8C). In this state, the claws 31 are engaged with the sample carrier main body 20. Further, the sample carrier 2 is urged toward the claw 31 by the carrier pressing spring 33. Therefore, in this state, the sample carrier 2 is securely held at the tip of the transfer holder 3. In this state, the sample previously fixed to the sample carrier 2 is protected by the transfer holder 3. (2) Attachment of sample carrier 2 to sample holder 1 (see FIG. 9) Operation 2-1. The sample carrier 2 held in the transfer holder 3 is
Insert into sample holder 1. In this case, the relative angle between the sample holder 1 and the sample carrier 2 is such that the sample carrier 2 has an angle position such that the plane portion 25 thereof faces the ball 17 of the sample holder 1 (FIG. 9).
(A)). Since the carrier fixing pin 23 does not interfere with the insertion, the insertion can be performed without resistance. Operation 2-2. After the insertion is completed, the transfer holder 3 is rotated by about 90 ° in the semi-total direction (FIG. 9B). At this time, the position of the sample carrier 2 with respect to the sample holder 1 does not change. Only the transfer holder 3 rotates. At the time when the sample carrier 2 is rotated by about 90 °, the screws 26 of the sample carrier 2 are notched
(a) (FIG. 9 (c)). Operation 2-3. Further, when the rotation of the transfer holder 3 is continued, the screws 26
Is pushed by the cutout side wall 32a of the transfer holder 3, and the sample carrier 2 starts to rotate together with the sample carrier 2 in the counterclockwise direction (FIG. 9D). The sample carrier 2
The rotation causes the carrier fixing pin 23 to interfere with the ball 17. The sample carrier 2 is about 90 °
At the time of rotation, the sample carrier 2 is fixed to the sample holder 1 (FIG. 9E). Moreover, in this state, the tapered portion 25 of the carrier fixing pin 23 is
7, the sample carrier 2 is pressed against the sample holder 1 and is firmly fixed. Operation 2-4. In the state of FIG. 9E, the claw 31 of the delivery holder 3 is at the position of the R notch 23. Therefore, the delivery holder 3 can be pulled out of the sample carrier 2 in this state. In this case, the sample carrier 2 is firmly fixed to the sample holder 1. Thus, the attachment of the sample carrier 2 to the sample holder 1 is completed (FIG. 9F). (3) Removal of sample carrier 2 from sample holder 1 (FIG. 10) Operation 3-1. The transfer holder 3 is moved linearly and inserted into the sample carrier 2. At this time, the angular position of the transfer holder 3 with respect to the sample carrier 2 is set such that the claw 31 passes through the R cutout 23 and the screw 26 is positioned in the side cutout 32 (FIG. 10A). Operation 3-2. After the insertion, the delivery holder 3 is rotated clockwise (FIG. 10B). At this time, the position of the sample carrier 2 with respect to the sample holder 1 does not change. Only the transfer holder 3 rotates. Finally, the transfer holder 3 is rotated until the notch side wall 32b of the side notch 32 is sufficiently close to the screw 26 (FIG. 10C). In this state, the claws 31 are engaged with the sample carrier main body 20. Further, the sample carrier 2 is urged toward the claw 31 by the carrier pressing spring 33. Therefore, in this state, the sample carrier 2 is securely held at the tip of the transfer holder 3. Operation 3-3. Further, when the rotation of the transfer holder 3 is continued, the screws 26
Is pushed by the cutout side wall 32b of the transfer holder 3, and the sample carrier 2 also starts to rotate clockwise (FIG. 10D). And this sample carrier 2
With the rotation of, the ball 17 does not interfere with the carrier fixing pin 23. The sample carrier 2 is about 90
At this point, the carrier fixing pin 23 is in a state where the flat portion 25 thereof faces the ball 17 (FIG. 10).
(E)). On the other hand, in this state, the sample carrier 2 is firmly held by the transfer holder 3. Operation 3-4 When the delivery holder 3 is pulled in this state (FIG. 10E), the sample carrier 2 is removed from the sample holder 1 together with the delivery holder 3 (FIG. 10F).
In this state (FIG. 10E), since the ball 17 and the carrier fixing pin 23 do not interfere with each other, there is no resistance in pulling out.

【0035】以上説明したトランスファー装置(特に、
サンプルホルダ、サンプルキャリアおよび受け渡しホル
ダ)は、構造が単純であるため非常にコンパクトに構成
できる。そのため、小型のフランジポートしか備えてい
ない装置にも適用可能である。また、大きさの限られた
市販のトランスファーロッド先端部にも取り付け可能で
ある。さらに、単純な構造は、高い信頼性につながる。
また、サンプルキャリアの取り付け、取り外し操作は、
安価なトランスファーロッドによる単純な動作(直動と
その軸回りの回転)のみで行うことができる。しかも、
操作は、トランスファー装置に慣れていない初心者でも
安全確実に出来る。以上のような特徴によって、装置価
格も安価に抑えることができる。
The transfer device described above (particularly,
The sample holder, the sample carrier and the transfer holder) can be very compact because of their simple structure. Therefore, the present invention can be applied to an apparatus having only a small flange port. It can also be attached to a commercially available transfer rod tip with a limited size. Furthermore, a simple structure leads to high reliability.
In addition, attaching and detaching operation of sample carrier,
It can be performed only by a simple operation (linear motion and rotation around the axis) by an inexpensive transfer rod. Moreover,
The operation can be performed safely even by a beginner who is not used to the transfer device. With the above features, the device price can be kept low.

【0036】また、移送中、サンプルは受け渡しホルダ
3によって保護されているため、試料表面を傷つける恐
れもない。
In addition, since the sample is protected by the transfer holder 3 during transfer, there is no danger of damaging the sample surface.

【0037】さらには、サンプルホルダへの熱伝導がよ
いため、Liq.N2 によって試料を効果的に冷却し低
温にできる。
Furthermore, because of good heat conduction to the sample holder, Liq. The sample can be effectively cooled and cooled to a low temperature by N 2 .

【0038】本発明の装置は、真空チャンバーを含んで
構成される固体試料の測定装置の全てに適用可能であ
る。このような測定装置の具体例としては、例えば、U
PS(真空紫外光電子スペクトル)、ESCA(XP
S)(X線光電子スペクトル)、LEED(低速電子線
回析)、AES(オージェ電子スペクトル)、EELS
(電子エネルギー損失スペクトル)、RHEED(反射
高速電子線回析)、SIMS(2次イオン質量分析)、
などに適用可能である。また本発明のトランスファー装
置は、実験室レベルでの測定装置から、シンクロトロン
放射光施設で可動中の装置に至るまで、多くの用途に使
用できる。
The apparatus of the present invention is applicable to all solid sample measuring apparatuses including a vacuum chamber. Specific examples of such a measuring device include, for example, U
PS (vacuum ultraviolet photoelectron spectrum), ESCA (XP
S) (X-ray photoelectron spectrum), LEED (slow electron beam diffraction), AES (Auger electron spectrum), EELS
(Electron energy loss spectrum), RHEED (reflection high-speed electron beam diffraction), SIMS (secondary ion mass spectrometry),
And so on. Further, the transfer device of the present invention can be used in many applications, from a measurement device at a laboratory level to a device operating in a synchrotron radiation facility.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明した通り本発明のトランスファ
ー装置は、以下のような点において優れている。
As described above, the transfer apparatus of the present invention is excellent in the following points.

【0040】(1)構造が単純で安価である。(1) The structure is simple and inexpensive.

【0041】(2)安価なマグネティックトランスファ
ーロッドによる動作(直動とその軸回りの回転)のみで
操作できる。
(2) The operation can be performed only by operation with an inexpensive magnetic transfer rod (linear motion and rotation around its axis).

【0042】(3)トランスファー装置に慣れていない
初心者でも安全確実に操作出来る。 (4)堅牢で無理な操作でも壊れ難い。
(3) Even beginners who are not used to the transfer device can operate safely and reliably. (4) It is robust and hard to break even with unreasonable operation.

【0043】(5)サンプルキャリアおよび受け渡しホ
ルダがコンパクトである。従って、小型のフランジポー
トにも取り付け可能である。
(5) The sample carrier and the transfer holder are compact. Therefore, it can be attached to a small flange port.

【0044】(6)サンプルホルダも非常にコンパクト
である。従って、市販の大きさの限られたトランスファ
ーロッド先端部に取り付け可能である。
(6) The sample holder is also very compact. Therefore, it can be attached to a commercially available transfer rod tip having a limited size.

【0045】(7)移送中に試料表面が保護されてい
る。
(7) The sample surface is protected during transfer.

【0046】(8)サンプルホルダ部への熱伝導がよ
い。従って、Liq.N2 によって試料を効果的に冷却
し低温にできる。
(8) Good heat conduction to the sample holder. Therefore, Liq. The sample can be effectively cooled and cooled to a low temperature by N 2 .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のトランスファー装置を備えた、真空チ
ャンバを含んで構成される測定・加工装置の概要を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram showing an outline of a measuring and processing apparatus including a vacuum chamber and having a transfer apparatus of the present invention.

【図2】本発明のトランスファー装置の概要を示す図で
ある。
FIG. 2 is a diagram showing an outline of a transfer device of the present invention.

【図3】(a)サンプルホルダにサンプルキャリアが取
り付けられた状態を示す側面図、(b)サンプルホルダ
にサンプルキャリアが取り付けられた状態を示す正面図
である。
3A is a side view showing a state where the sample carrier is attached to the sample holder, and FIG. 3B is a front view showing a state where the sample carrier is attached to the sample holder.

【図4】サンプルホルダを示す、(a)側面断面図、
(b)正面図、(c)A部拡大図である。
FIG. 4A is a side sectional view showing a sample holder;
FIG. 2B is a front view, and FIG.

【図5】サンプルキャリアを示す、(a)正面図、
(b)上面図、(c)側面図である。
5A is a front view showing a sample carrier, FIG.
(B) Top view, (c) Side view.

【図6】受け渡しホルダを示す、(a)正面図、(b)
側面透視図、(c)底面図である。
FIG. 6A is a front view showing the transfer holder, and FIG.
It is a side perspective view, (c) bottom view.

【図7】図2における右側から見た場合における、
(a)サンプルキャリアの模式図、(b)受け渡しホル
ダの模式図、(c)サンプルホルダの模式図である。
FIG. 7 is a diagram when viewed from the right side in FIG. 2;
(A) is a schematic diagram of a sample carrier, (b) is a schematic diagram of a delivery holder, and (c) is a schematic diagram of a sample holder.

【図8】受け渡しホルダへのサンプルキャリアの取り付
け手順を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a procedure for attaching a sample carrier to a delivery holder.

【図9】サンプルホルダへのサンプルキャリアの取り付
け手順を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a procedure for attaching a sample carrier to a sample holder.

【図10】サンプルホルダからのサンプルキャリアの取
りはずし手順を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a procedure for removing a sample carrier from a sample holder.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 サンプルホルダ 2 サンプルキャリア 3 受け渡しホルダ 10 サンプルホルダ本体 11 貫通孔 12 枝孔 16 バネ 17 ボール 18 とめビス 20 キャリア本体 21 サンプル固定面 22 R切り込み 23 キャリア固定ピン 24 テーパ部 25 平面部 26 ビス 30 受け渡しホルダ本体 31 爪 32 側面切り欠き 32a,b 切り欠き側壁部 33 キャリア押さえバネ 34 ベローズ 35 取り付け部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sample holder 2 Sample carrier 3 Delivery holder 10 Sample holder main body 11 Through hole 12 Branch hole 16 Spring 17 Ball 18 Retaining screw 20 Carrier main body 21 Sample fixing surface 22 R notch 23 Carrier fixing pin 24 Tapered part 25 Flat part 26 Screw 30 Delivery Holder body 31 Claw 32 Side notch 32a, b Notch side wall 33 Carrier holding spring 34 Bellows 35 Mounting part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷川 真史 愛知県岡崎市竜美南2−2−1 竜美ケ丘 公務員宿舎7−31 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Masashi Hasegawa 2-2-1 Tatsumi Minami, Okazaki City, Aichi Prefecture

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくともその軸方向への直動および該
軸を中心とした回動を可能に構成されたトランスファー
ロッドによって、サンプルを真空チャンバへ移動しこれ
をセットするためのトランスファー装置において、 前記サンプルの固定されるサンプルキャリアと、 前記サンプルキャリアを装着される、前記真空チャンバ
内に設置されるサンプルホルダと、 前記サンプルキャリアを前記トランスファーロッドに支
持する、前記トランスファーロッドに設置される受け渡
しホルダと、を含んで構成され、 前記受け渡しホルダおよび前記サンプルキャリアは、互
いをある特定の角度位置において近接対向させた状態で
少なくともいずれか一方を回転させ互いの相対的な角度
位置を変更することで互いを係合し逆に該相対的な角度
位置を前記ある特定の角度位置に戻すことで係合を解除
されるとともに、該互いを近接対向させた状態での回転
は所定の角度範囲内においてのみ許容されこれを越えて
の相対的な角度位置の変更は阻止される第1の係合機構
を有し、 前記サンプルキャリアおよび前記サンプルホルダは、互
いを係合する第2の係合機構を有し、 前記第2の係合機構は、 前記サンプルホルダに備えられた、その内壁面における
周方向の一部に凸部を備えた係合孔と、 前記サンプルキャリアに備えられた、前記係合孔に挿入
される、前記回転の中心と同軸位置に設けられた係合ピ
ンと、を含んで構成されるものであり、 前記係合ピンは、 その周方向における一部の領域に設けられた、前記係合
孔への挿入および前記係合孔からの引き抜きに際して前
記凸部に干渉しない非干渉部と、 その軸方向の一部の領域に設けられた、前記係合孔へ挿
入されその後前記サンプルキャリアが所定角度回転され
た状態において前記凸部と干渉することで前記係合ピン
が前記係合孔から抜けるのを阻止する干渉部と、を有す
ること、 を特徴とするトランスファー装置。
1. A transfer device for moving a sample to a vacuum chamber and setting it by a transfer rod configured to be capable of at least direct movement in the axial direction and rotation about the axis, A sample carrier to which a sample is fixed, a sample holder installed in the vacuum chamber to which the sample carrier is mounted, and a transfer holder installed to the transfer rod, which supports the sample carrier to the transfer rod. The transfer holder and the sample carrier are rotated by rotating at least one of them in a state where they are in close proximity to each other at a specific angular position to change their relative angular positions. And reversely adjust the relative angular position. By returning to a specific angular position, the engagement is released, and rotation in a state where they are close to each other is allowed only within a predetermined angular range, and a change in relative angular position beyond this is allowed. A first engagement mechanism that is blocked; the sample carrier and the sample holder have a second engagement mechanism that engages with each other; An engaging hole provided with a convex portion on a part of the inner wall surface in a circumferential direction, provided at a position coaxial with the center of rotation, inserted into the engaging hole, provided in the sample carrier. And an insertion pin provided in a partial area in a circumferential direction of the engagement pin, and inserted into the engagement hole and pulled out from the engagement hole. Non-interference that does not interfere with the convex part The sample carrier is inserted into the engagement hole provided in a partial area in the axial direction thereof, and then the sample carrier is rotated by a predetermined angle. And an interference part for preventing the hole from coming out of the hole.
【請求項2】 前記サンプルキャリアは、前記サンプル
の固定されるサンプル固定面を前記受け渡しホルダとの
係合に際して前記受け渡しホルダに近接対向される面に
有し、 前記受け渡しホルダは、前記サンプルキャリアとの係合
に際して前記サンプル固定面に対向される部分に、前記
サンプル固定面に固定されたサンプルを収容可能な空間
部を有すること、 を特徴とする請求項1記載のトランスファー装置。
2. The sample carrier has a sample fixing surface on which the sample is fixed, on a surface which is close to and opposed to the transfer holder when engaging with the transfer holder. 2. The transfer device according to claim 1, further comprising a space that can accommodate a sample fixed to the sample fixing surface, at a portion facing the sample fixing surface when engaging.
【請求項3】 前記第1の係合機構は、円周上に配置さ
れた、複数の係合爪と、該係合爪によって係合される被
係合部とを含んで構成されるものであり、前記サンプル
固定面および前記空間部は、前記円周内に位置するこ
と、 を特徴とする請求項2記載のトランスファー装置。
3. The first engagement mechanism includes a plurality of engagement claws arranged on a circumference and an engaged portion engaged by the engagement claws. The transfer device according to claim 2, wherein the sample fixing surface and the space are located within the circumference.
【請求項4】 前記サンプルホルダは、前記係合孔の内
壁面に開口した枝孔を有するとともに、該枝孔内に収容
された可動部材と、該可動部材を前記係合孔の中心に向
けて付勢する付勢部材とを含んで構成されたものであ
り、 前記凸部は、前記可動部材の一部が前記係合孔内に進入
することで構成されていること、 を特徴とする請求項3記載のトランスファー装置。
4. The sample holder has a branch hole opened in an inner wall surface of the engagement hole, and has a movable member housed in the branch hole and directs the movable member toward the center of the engagement hole. And a biasing member that biases the movable member, wherein the convex portion is configured by a part of the movable member entering the engagement hole. The transfer device according to claim 3.
JP22687097A 1997-08-22 1997-08-22 Transfer device for vacuum chamber Pending JPH1164177A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009115652A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Institute Of Physical & Chemical Research Sample pin holding attachment

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009115652A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Institute Of Physical & Chemical Research Sample pin holding attachment

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