JP2009111036A - Thin film transformer and its production process - Google Patents

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Kazumi Takagiwa
和美 高際
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a thin film transformer which can enhance energy conversion efficiency easily without extending the occupied area. <P>SOLUTION: A first coil conductor 4 constituting spiral (flat plane-spiral-shaped) primary coil in an insulating films that are silicon oxide film 2, 6 and 7 formed on a silicon substrate 1 and a second coil conductor 5 constituting a secondary coil are formed laterally with each other. Since the width of the coil conductors 4 and 5 can be taken in the vertical direction, energy conversion efficiency can be enhanced easily without extending the occupied area. Furthermore, cost can be reduced because the primary and secondary coils can be formed of a metal film simultaneously. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

この発明は、渦巻き状の薄膜コイルが互いに対向してなる薄膜トランスとその製造方法に関する。   The present invention relates to a thin film transformer in which spiral thin film coils are opposed to each other and a method for manufacturing the same.

シリコンなどの半導体基板上に形成される薄膜トランスは、そのコイルが薄膜形成技術をもって形成されるため、小型化が可能なトランスとして知られ、半導体集積デバイスなどを構成する素子のひとつである。ここで、コイルには導電性配線(導体または半導体)が用いられ、コイルの形状は、コイルの長さ(または面積)当たりのインダクタンスを大きく、すなわち、大きなQ値(Q=ωL/R、ω:角周波数、L:相互インダクタンス、R:コイル抵抗)を確保するために、渦巻き状(平面コイル状)に形成される。このようにして形成された薄膜トランスの一例を図5に示す。
図9は、従来の薄膜トランスの構成図であり、同図(a)は斜視図、同図(b)は要部断面図である。同図(a)ではシリコン酸化膜12は省略されている。またコイル導体13、14の厚みは省略して描いている。
薄膜トランスはシリコン基板11上に厚さが0.1〜2μmのシリコン酸化膜12aが形成され、その表面側にアルミや銅などからなる導電性の金属材料がスパッタリング法または真空蒸着法などにより、厚さが1〜5μmの金属膜として形成されている。この後、金属膜は、リソグラフィーで第1コイル導体13の渦巻きパターンを転写し、エッチングの工程を経て、幅が10〜100μm、配線間隔(コイル導体間の距離)が10〜100μmの第1コイル導体13が形成され、この第1コイル導体13を渦巻き状にして1次コイルを形成する。第1コイル導体13のピッチWはコイル導体の幅と配線間隔を合わせたもので第2コイル導体14のピッチも同じである。
A thin film transformer formed on a semiconductor substrate such as silicon is known as a transformer that can be miniaturized because its coil is formed by a thin film formation technique, and is one of elements constituting a semiconductor integrated device or the like. Here, conductive wiring (conductor or semiconductor) is used for the coil, and the shape of the coil has a large inductance per length (or area) of the coil, that is, a large Q value (Q = ωL / R, ω : Angular frequency, L: Mutual inductance, R: Coil resistance) are formed in a spiral shape (planar coil shape). An example of the thin film transformer thus formed is shown in FIG.
9A and 9B are configuration diagrams of a conventional thin film transformer, in which FIG. 9A is a perspective view, and FIG. The silicon oxide film 12 is omitted in FIG. Further, the thickness of the coil conductors 13 and 14 is omitted.
In the thin film transformer, a silicon oxide film 12a having a thickness of 0.1 to 2 μm is formed on a silicon substrate 11, and a conductive metal material made of aluminum, copper, or the like is formed on the surface side by a sputtering method or a vacuum deposition method. It is formed as a metal film having a thickness of 1 to 5 μm. Thereafter, the metal film is transferred by lithography to the spiral pattern of the first coil conductor 13, and after an etching process, the first coil having a width of 10 to 100 μm and a wiring interval (distance between the coil conductors) of 10 to 100 μm. A conductor 13 is formed, and the first coil conductor 13 is spirally formed to form a primary coil. The pitch W of the first coil conductor 13 is a combination of the width of the coil conductor and the wiring interval, and the pitch of the second coil conductor 14 is the same.

次に、その表面側に厚さが0.1〜3μmのシリコン酸化膜12bを形成した後に、第1コイル導体13と同様な方法によって第2コイル導体14を厚さ1〜5μmで第1コイル導体13の直上に同一パターンで形成して2次コイルとし、この2次コイルの表面側に厚さが1〜2μmのシリコン酸化膜12cを形成する。このようにして、シリコン酸化膜12に埋め込まれた第1コイル導体13、第2コイル導体14で構成される薄膜トランスが形成される。
次に、第1コイル導体13の両端および第2コイル導体14の両端を電気的に接続が可能とする端子を形成するために、第1、第2コイル導体13、14の上部のシリコン酸化膜12cをリソグラフィーおよびエッチングの工程により除去し、薄膜トランスを形成する。図9の薄膜トランスにおいて、1次、2次コイルのコイル巻数は共に4ターンであり、また、2次コイルを1次コイルに対して上下方向に対向させて同一パターンで形成する。
このような構成の薄膜トランスは、例えば、1次コイルの両端に電流を流し、この電流に変化を与えると、1次コイルの周囲に発生している磁界が変化するため、2次コイルの両端に電位差が生じ、2次コイルに起電力が生じる。ここで、2次コイルに発生する誘導起電力(誘導電流)は、2次コイルの巻数に比例する。
Next, after a silicon oxide film 12b having a thickness of 0.1 to 3 μm is formed on the surface side, the second coil conductor 14 is formed to a thickness of 1 to 5 μm by the same method as the first coil conductor 13. A secondary coil is formed in the same pattern directly above the conductor 13, and a silicon oxide film 12 c having a thickness of 1 to 2 μm is formed on the surface side of the secondary coil. In this way, a thin film transformer composed of the first coil conductor 13 and the second coil conductor 14 embedded in the silicon oxide film 12 is formed.
Next, in order to form terminals that can electrically connect both ends of the first coil conductor 13 and both ends of the second coil conductor 14, silicon oxide films on the first and second coil conductors 13, 14 are formed. 12c is removed by lithography and etching processes to form a thin film transformer. In the thin film transformer of FIG. 9, the number of turns of the primary and secondary coils is 4 turns, and the secondary coil is formed in the same pattern so as to face the primary coil in the vertical direction.
In the thin film transformer having such a configuration, for example, when a current flows through both ends of the primary coil and the current is changed, the magnetic field generated around the primary coil changes. A potential difference is generated in the secondary coil, and an electromotive force is generated in the secondary coil. Here, the induced electromotive force (induced current) generated in the secondary coil is proportional to the number of turns of the secondary coil.

また、1次コイルの巻数が多ければその周囲に発生する磁界が強調されるため、大きな起電力を誘導させることができる。
このように、相互インダクタンスの効果により起電力を得る薄膜トランスにおいては、1次、2次コイル相互のコイル巻数が増大すれば、各コイル線による磁界が強調されるため、インダクタンス量が増加し、結合係数としても大きくなるので、1次コイルから2次コイルへのエネルギー変換の効率が向上する。
また、特許文献1によると、平面インダクタなどに代表される磁気素子内の平面コイルを作成する際に、あらかじめ作製すべきコイル導体幅と等しい幅のスペースをとるようなパターンを作製しておき、それに基づいて下地表面にコイル導体を形成し、その後にコイル導体部分の表面全体を覆うように薄い絶縁層を形成し、最後に残りのスペース部分を金属材料で埋めて、コイルを製作することで、隣接するコイル導体間の絶縁膜の厚さを非常に薄くすることができて、高いQ値を有する平面インダクタを製作できることことが開示されている。
また、特許文献2によると、磁性膜上にコイル導体間スペースを構成する絶縁膜を形成する工程と、この絶縁膜をコイル導体間スペースの形状にパターニングする工程と、この絶縁膜のパターンを導体膜が選択的に成長できるように表面改質する工程と、この絶縁膜のパターンの隙間に選択的に導体膜を充填してコイル導体を形成する工程と、全面に絶縁膜を形成する工程と、この絶縁膜上に磁性膜を形成する工程で平面型磁気素子を製造することで、コイル導体間スペースの幅を小さくでき、かつ十分な厚さのコイル導体を有する高性能の平面型磁気素子を非常に簡単なプロセスで製造できる方法が開示されている。
特開平5−6832号公報 特開平6−77072号公報
Further, if the number of turns of the primary coil is large, the magnetic field generated around the primary coil is emphasized, so that a large electromotive force can be induced.
Thus, in a thin film transformer that obtains an electromotive force due to the effect of mutual inductance, if the number of coil turns between the primary and secondary coils increases, the magnetic field by each coil wire is emphasized, and the amount of inductance increases. Since the coupling coefficient is also increased, the efficiency of energy conversion from the primary coil to the secondary coil is improved.
According to Patent Document 1, when creating a planar coil in a magnetic element typified by a planar inductor or the like, a pattern having a width equal to the coil conductor width to be fabricated in advance is prepared. Based on this, a coil conductor is formed on the underlying surface, and then a thin insulating layer is formed so as to cover the entire surface of the coil conductor portion, and finally the remaining space is filled with a metal material to produce a coil. It is disclosed that the thickness of the insulating film between adjacent coil conductors can be made very thin, and a planar inductor having a high Q value can be manufactured.
According to Patent Document 2, a step of forming an insulating film constituting a space between coil conductors on a magnetic film, a step of patterning the insulating film into a shape of a space between coil conductors, and a pattern of the insulating film as a conductor A step of surface modification so that the film can be selectively grown, a step of selectively filling a conductor film in a gap between the patterns of the insulating film to form a coil conductor, and a step of forming an insulating film on the entire surface. A high-performance planar magnetic element having a sufficiently thick coil conductor that can reduce the width of the space between the coil conductors by manufacturing a planar magnetic element in the process of forming a magnetic film on the insulating film Is disclosed in a very simple process.
JP-A-5-6832 JP-A-6-77072

しかしながら、上述の図9の構造の薄膜トランスにおいては、1次コイルおよび2次コイルの巻数を増大させると薄膜トランス自体の面積が大きくなり、トランスの小型化を図る上で支障となるという問題がある。また、コイル巻数の増大はコイル線の長大化につながり、特に薄膜コイルにおいては、その抵抗値が一般的な導線の抵抗値に比して非常に大きいため、コイル線の長大化による抵抗値の増大がエネルギー損失の増大、すなわち、エネルギー変換効率の目安となるQ値の低下を招来する可能性があるという問題がある。
このように、従来の薄膜トランスにおいては、そのエネルギー変換効率の向上を目的としたコイル巻数の増大とトランスの小型化とがトレードオフの関係にあり、また、コイル巻数の増大がエネルギー変換効率の低下を招く可能性が指摘されている。
さらに、1次コイルと2次コイルを形成するために、2層の金属膜(第1コイル導体13となる金属膜と第2コイル導体14となる金属膜の2層)を形成する工程が必要となり、工程数が多く製造コストが高くなる。
また、前記の特許文献1、2では薄膜インダクタについての開示はあるが、薄膜トランスに関する具体的な記述はされていない。
この発明の目的は、前記の課題を解決して、占有面積を拡張することなく、エネルギー変換効率を容易に向上できて、さらに低コストの薄膜トランスとその製造方法を提供することにある。
However, in the above-described thin film transformer having the structure shown in FIG. 9, when the number of turns of the primary coil and the secondary coil is increased, the area of the thin film transformer itself increases, which hinders miniaturization of the transformer. is there. In addition, an increase in the number of coil turns leads to an increase in the length of the coil wire, and in particular, in a thin film coil, the resistance value is very large compared to the resistance value of a general conducting wire. There is a problem that the increase may lead to an increase in energy loss, that is, a decrease in Q value that is a measure of energy conversion efficiency.
As described above, in the conventional thin film transformer, there is a trade-off relationship between an increase in the number of coil turns for the purpose of improving the energy conversion efficiency and a reduction in the size of the transformer. It has been pointed out that this could lead to a decline.
Furthermore, in order to form the primary coil and the secondary coil, a step of forming a two-layer metal film (a two-layer metal film serving as the first coil conductor 13 and a metal film serving as the second coil conductor 14) is required. Thus, the number of processes is large and the manufacturing cost is increased.
Moreover, although the said patent documents 1 and 2 have disclosed the thin film inductor, the concrete description regarding the thin film transformer is not made.
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and provide a thin film transformer and a method for manufacturing the same that can easily improve the energy conversion efficiency without expanding the occupied area.

前記の目的を達成するために、支持基板と、該支持基板上に形成された第1絶縁膜と、該第1絶縁膜に形成された1条の溝と、該溝の一方の側壁に形成された第1コイル導体と、該溝の他方の側壁に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜とを備える構成とする。
また、支持基板と、該支持基板上に形成された第1絶縁膜と、該第1絶縁膜に形成された平行に配置される2条の溝と、該溝の一方に形成された第1コイル導体と、該溝の他方に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜とを備える構成とする。
また、前記支持基板が半導体基板もしくは絶縁基板であるとよい。
また、絶縁性磁性基板と、該絶縁磁性基板に形成された1条の溝と、該溝の一方の側壁に形成された第1コイル導体と、該溝の他方の側壁に形成された第2コイル導体と、前記第1コいる導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された絶縁膜とを備える構成とする。
また、絶縁性磁性基板と、該絶縁性磁性基板に形成された平行に配置される2条の溝と、該溝の一方に形成された第1コイル導体と、該溝の他方に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜とを備える構成とする。
To achieve the above object, a support substrate, a first insulating film formed on the support substrate, a single groove formed in the first insulating film, and formed on one side wall of the groove A first coil conductor, a second coil conductor formed on the other side wall of the groove, and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor. And
A supporting substrate; a first insulating film formed on the supporting substrate; two parallel grooves formed on the first insulating film; and a first formed on one of the grooves. A coil conductor, a second coil conductor formed on the other side of the groove, and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor are provided.
The support substrate may be a semiconductor substrate or an insulating substrate.
An insulating magnetic substrate; a groove formed in the insulating magnetic substrate; a first coil conductor formed on one side wall of the groove; and a second coil formed on the other side wall of the groove. A coil conductor and an insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor are provided.
And an insulating magnetic substrate, two parallel grooves formed in the insulating magnetic substrate, a first coil conductor formed in one of the grooves, and formed in the other of the grooves. A second coil conductor and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor are provided.

また、前記溝の平面形状が渦巻き状であるとよい
また、前記絶縁膜が、シリコン酸化膜、ポリイミド膜もしくはレジスト膜のいずれかであるとよい。
また、前記第1コイル導体および前記第2コイル導体のそれぞれの端部にパッド電極が接続するとよい。
また、支持基板上に第1絶縁膜を形成し、該第1絶縁膜に1条の溝を形成する工程と、前記溝内を含む前記第1絶縁膜上に金属膜を形成する工程と、該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記溝内の前記金属膜を残す工程と、該金属膜を第1コイル導体と第2コイル導体に分離する工程と、前記第1コイル導体と第2コイル導体の隙間を第2絶縁膜で充填する工程とを備える製造方法とする。
また、支持基板上に第1絶縁膜を形成し、該第1絶縁膜に平行に配置される2条の溝を形成する工程と、前記2条の溝内を含む前記第1絶縁膜上に金属膜を形成する工程と、該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記2条の溝内の前記金属膜を残第1のコイル導体と第2のコイル導体を形成する工程とを備える製造方法とする。
また、絶縁性磁性基板上に2条の溝を形成する工程と、前記溝内を含む前記絶縁性磁性基板上に金属膜を形成する工程と、該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記溝内の前記金属膜を残す工程と、該金属膜を第1コイル導体と第2コイル導体に分離する工程とを備える製造方法とする。
Further, the planar shape of the groove may be spiral, and the insulating film may be any one of a silicon oxide film, a polyimide film, and a resist film.
A pad electrode may be connected to each end of the first coil conductor and the second coil conductor.
A step of forming a first insulating film on the support substrate and forming a groove on the first insulating film; and a step of forming a metal film on the first insulating film including the inside of the groove; Removing the metal film by anisotropic etching to leave the metal film in the groove; separating the metal film into a first coil conductor and a second coil conductor; and And a step of filling a gap between two coil conductors with a second insulating film.
A step of forming a first insulating film on the support substrate and forming two grooves disposed in parallel to the first insulating film; and on the first insulating film including the inside of the two grooves. Forming a metal film; and removing the metal film by anisotropic etching, leaving the metal film in the two grooves, and forming a first coil conductor and a second coil conductor. Let it be a manufacturing method.
A step of forming two grooves on the insulating magnetic substrate; a step of forming a metal film on the insulating magnetic substrate including the inside of the groove; and removing the metal film by anisotropic etching; A manufacturing method includes a step of leaving the metal film in the groove and a step of separating the metal film into a first coil conductor and a second coil conductor.

また、絶縁性磁性基板上に平行に配置される2条の溝を形成する工程と、前記2条の溝内を含む前記絶縁性磁性基板上に金属膜を形成する工程と、該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記2条の溝内の前記金属膜を残して第1のコイル導体と第2のコイル導体を形成する工程とを備える製造方法とする。
また、前記支持基板が半導体基板であり、前記第1絶縁膜および前記第2絶縁膜がシリコン酸化膜であるとよい。
また、前記第1、第2コイル導体を形成した後、表面を第3絶縁膜で被覆し、該第3絶縁膜にコンタクトホールを形成し、前記第1コイル導体の端部および第2コイル導体の端部とコンタクトホールを介して接続するパッド電極を形成する工程を備えるとよい。
A step of forming two grooves arranged in parallel on the insulating magnetic substrate; a step of forming a metal film on the insulating magnetic substrate including the inside of the two grooves; and It is set as a manufacturing method provided with the process of removing by anisotropic etching and forming the 1st coil conductor and the 2nd coil conductor leaving the said metal film in the said 2 groove | channel.
The support substrate may be a semiconductor substrate, and the first insulating film and the second insulating film may be silicon oxide films.
In addition, after forming the first and second coil conductors, the surface is covered with a third insulating film, a contact hole is formed in the third insulating film, and the end of the first coil conductor and the second coil conductor are formed. It is preferable to provide a step of forming a pad electrode that is connected to the end of the electrode through a contact hole.

この発明によれば、渦巻き状の薄膜トランスにおいて、支持基板上の絶縁膜に溝を形成するか絶縁性磁性基板に溝を形成して、その溝内に1次コイルおよび2次コイルを形成することによって、占有面積を増加することなく、エネルギー変換効率の向上ができる。
また、1次コイルと2次コイルを同時に形成できるために、従来に比べると工程数が小さくなり、製造コストを低減することができる。
According to the present invention, in a spiral thin film transformer, a groove is formed in an insulating film on a support substrate or a groove is formed in an insulating magnetic substrate, and a primary coil and a secondary coil are formed in the groove. As a result, the energy conversion efficiency can be improved without increasing the occupied area.
Further, since the primary coil and the secondary coil can be formed at the same time, the number of processes is reduced as compared with the conventional case, and the manufacturing cost can be reduced.

実施の形態を以下の実施例で説明する。   Embodiments will be described in the following examples.

図1は、この発明の第1実施例の薄膜トランスの構成図であり、同図(a)は要部平面図、同図(b)は同図(a)のX1−X1線で切断した要部断面図である。同図(a)は、同図(b)のX2−X2線で切断した要部平面図である。
半導体基板であるシリコン基板1上に形成したシリコン酸化膜によりなる絶縁膜2、6これらの番号はシリコン酸化膜にも付す)内に渦巻き状(平面スパイラル状)の1次コイルを構成する第1コイル導体4、2次コイルを構成する第2コイル導体5互いに横方向に対向するように形成されている。これは絶縁膜2に形成した渦巻き状からなる1条の溝3の一方の側壁に第1コイル導体4を形成し、他方の側壁に第2コイル導体5形成することで得られる。第1コイル導体4と第2コイル導体5との間および表面には保護膜であるシリコン酸化膜6を形成し、その上にシリコン窒化膜7が被覆される。第1コイル導体4および第2コイル導体5の幅は2.5μmで厚さは1.0μmである。第1コイル導体4と第2コイル導体5の間隔(縦方向の間隔)は0.5μmで、渦巻きの間隔(横方向の間隔)は0.5μmである。第1コイル導体4、第2コイル導体5は例えば銅で形成する。また、本実施例では、絶縁膜2はシリコン酸化膜であるがポリイミド膜やレジスト膜などであってもよい。本発明品では第1コイル導体4、第2コイル導体5の幅は垂直方向となり、占有面積に影響するのは第1コイル導体4、第2コイル導体5の厚さである。
FIG. 1 is a configuration diagram of a thin film transformer according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a plan view of an essential part, and FIG. 1 (b) is cut along line X1-X1 in FIG. 1 (a). It is principal part sectional drawing. The figure (a) is the principal part top view cut | disconnected by the X2-X2 line | wire of the figure (b).
Insulating films 2 and 6 made of a silicon oxide film formed on a silicon substrate 1 that is a semiconductor substrate, these numbers are also attached to the silicon oxide film), and a first coil that forms a spiral (planar spiral) primary coil. The coil conductor 4 and the second coil conductor 5 constituting the secondary coil are formed so as to face each other in the lateral direction. This is obtained by forming the first coil conductor 4 on one side wall of the spiral groove 3 formed in the insulating film 2 and forming the second coil conductor 5 on the other side wall. A silicon oxide film 6 as a protective film is formed between and on the surface of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5, and a silicon nitride film 7 is coated thereon. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 have a width of 2.5 μm and a thickness of 1.0 μm. The interval (vertical interval) between the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 is 0.5 μm, and the spiral interval (lateral interval) is 0.5 μm. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are made of, for example, copper. In this embodiment, the insulating film 2 is a silicon oxide film, but may be a polyimide film or a resist film. In the product of the present invention, the widths of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are in the vertical direction, and it is the thickness of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 that affects the occupied area.

図9に示す従来の薄膜トランスを上記のコイル諸元で製作した場合は、従来品では、コイル導体のピッチWは、コイル導体の幅+コイル導体同士の間隔(渦巻き間隔)=2.5μm+0.5μm=3.0μmである。
一方、本発明品の場合は、第1コイル導体4(又は第2コイル導体5)のピッチTは、第1コイル導体4の厚さ(1μm)+第2コイル導体5の厚さ(1μm)+第1コイル導体4と第2コイル導体5の間隔(0.5μm)+渦巻き間隔(0.5μm)=1μm+1μm+0.5μm+0.5μm=3.0μmとなり従来品と占有面積が同じになる。従って、本発明の薄膜トレンスの占有面積が、従来の薄膜トランスより占有面積が小さくなるのは、コイル導体の幅が3.0μmを超えた場合である。
例えば、エネルギー変換効率を大幅に高めるために、従来の薄膜トランスのコイル導体の幅を10μm、厚みを1μmとし、コイル導体同士の間隔(渦巻き間隔)を0.5μmとした場合は、コイル導体のピッチWは10.5μmとなる。一方、本発明品のピッチTは、コイル導体の幅に依存せず、前記したように3.0μmで形成できるため、従来品より占有面積を1/3.5にできる。
また、従来品と同じ占有面積とした場合、巻数を従来品より3.5倍に増やすことができる。つまり、占有面積を大幅に低減できたり、エネルギー変換効率を大幅に高めることができる。
When the conventional thin film transformer shown in FIG. 9 is manufactured with the above-described coil specifications, in the conventional product, the pitch W of the coil conductors is the width of the coil conductor + the interval between the coil conductors (swirl interval) = 2.5 μm + 0. 5 μm = 3.0 μm.
On the other hand, in the case of the present invention product, the pitch T of the first coil conductor 4 (or second coil conductor 5) is the thickness of the first coil conductor 4 (1 μm) + the thickness of the second coil conductor 5 (1 μm). + Distance between first coil conductor 4 and second coil conductor 5 (0.5 μm) + Swirl interval (0.5 μm) = 1 μm + 1 μm + 0.5 μm + 0.5 μm = 3.0 μm The occupied area is the same as the conventional product. Therefore, the occupied area of the thin film trench of the present invention is smaller than that of the conventional thin film transformer when the width of the coil conductor exceeds 3.0 μm.
For example, in order to greatly increase the energy conversion efficiency, when the width of the coil conductor of the conventional thin film transformer is 10 μm, the thickness is 1 μm, and the interval between the coil conductors (swirl interval) is 0.5 μm, The pitch W is 10.5 μm. On the other hand, the pitch T of the product of the present invention does not depend on the width of the coil conductor and can be formed with a thickness of 3.0 μm as described above.
Further, when the occupied area is the same as that of the conventional product, the number of turns can be increased 3.5 times that of the conventional product. That is, the occupied area can be greatly reduced, and the energy conversion efficiency can be greatly increased.

また、絶縁膜2の膜厚を厚くして溝3を深くすることで第1コイル導体4および第2コイル導体5の幅を広くして、エネルギー変換効率を容易に高めることができる。但し、そのときの絶縁膜2としてはシリコン酸化膜より膜厚を大きくできるポリイミド膜やレジスト膜などを用いるとよい。
また、前記シリコン基板1は支持基板の役割をしているので、絶縁膜2にポリイミド膜やレジスト膜を用いる場合などは、シリコン基板以外に、例えば、フェライトなどの絶縁性磁性基板やプラスチックスなどの絶縁基板を用いても構わない。絶縁性磁性基板を用いると磁束密度が高まりエネルギー変換効率をシリコン基板などより高めることができる。
しかし、導電性基板は磁界による渦電流の発生がありエネルギー変換効率の悪化を招くので好ましくない。
図2は、図1の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、同図(a)〜同図(c)は工程順に示した要部製造工程断面図である。
シリコン基板1表面側にCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって厚さが3μmのシリコン酸化膜2を形成し、リソグラフィーおよびエッチングによって、幅2.5μm、間隔0.5μm、深さ2.5μmの渦巻き状からなる1条の溝3を形成する。続いて、スパッタリング法によって、厚さが1μmの銅8をシリコン酸化膜2上に形成する。尚、銅8の代わりに電気抵抗の小さな金属膜を形成しても構わない(同図(a))。
In addition, the width of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 can be widened by increasing the thickness of the insulating film 2 and deepening the groove 3, and the energy conversion efficiency can be easily increased. However, as the insulating film 2 at that time, it is preferable to use a polyimide film, a resist film, or the like that can be made thicker than the silicon oxide film.
Further, since the silicon substrate 1 serves as a support substrate, when a polyimide film or a resist film is used for the insulating film 2, other than the silicon substrate, for example, an insulating magnetic substrate such as ferrite, plastics, etc. Alternatively, an insulating substrate may be used. When an insulating magnetic substrate is used, the magnetic flux density is increased, and the energy conversion efficiency can be increased more than that of a silicon substrate or the like.
However, the conductive substrate is not preferable because eddy current is generated due to a magnetic field and energy conversion efficiency is deteriorated.
2A to 2C are process diagrams showing a method of manufacturing the thin film transformer of FIG. 1, and FIGS. 2A to 2C are cross-sectional views of main part manufacturing processes shown in the order of processes.
A silicon oxide film 2 having a thickness of 3 μm is formed on the surface side of the silicon substrate 1 by a CVD (Chemical Vapor Deposition) method, and a spiral shape having a width of 2.5 μm, an interval of 0.5 μm, and a depth of 2.5 μm is formed by lithography and etching. A single groove 3 is formed. Subsequently, copper 8 having a thickness of 1 μm is formed on the silicon oxide film 2 by sputtering. A metal film having a small electric resistance may be formed instead of the copper 8 (FIG. 1A).

次に、異方性のドライエッチングによって、銅8をエッチングして、溝3内の側壁の銅を残し底部の銅と溝以外の箇所の銅を除去し、1次コイルと2次コイルを構成する第1コイル導体4と第2コイル導体5を形成する。この時点では第1コイル導体4と第2コイル導体5は溝3内で繋がっている。続いて、溝3端部の側壁の銅8を除去するため、全面にレジストを被覆し、パターニングで溝3の端部のみレジストを開口して、ウェットエッチングで溝3の端部側壁の銅8を除去する。このようにして溝3の銅8は第1コイル導体4と第2コイル導体5に分離される(同図(b))。
次に、CVD法によって、厚さが、例えば、0.25μmのシリコン酸化膜6を被覆し、リソグラフィーおよびエッチングによって図示しない箇所の1次コイル、2次コイルのコンタクトホールを形成し、スパッタリング法によって、銅上にチタンを形成しその上に、例えば、厚さ1μmのアルミニウム膜を形成する。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、1次コイルおよび2次コイルの図示しないパッド電極を形成し、CVD法によって、例えば、厚さが1μmのシリコン窒化膜7を形成する。このシリコン窒化膜7は薄膜トランスの表面保護膜となる。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、図示しないパッド電極部を開口する(同図(c))。
Next, the copper 8 is etched by anisotropic dry etching, leaving the copper on the side wall in the groove 3 and removing the copper at the bottom and the copper other than the groove to form the primary coil and the secondary coil. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are formed. At this time, the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are connected in the groove 3. Subsequently, in order to remove the copper 8 on the side wall of the end of the groove 3, a resist is coated on the entire surface, the resist is opened only at the end of the groove 3 by patterning, and the copper 8 on the end side wall of the groove 3 is formed by wet etching. Remove. In this way, the copper 8 in the groove 3 is separated into the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 ((b) in the figure).
Next, a silicon oxide film 6 having a thickness of, for example, 0.25 μm is coated by a CVD method, and contact holes of primary coils and secondary coils at locations not shown are formed by lithography and etching, and by a sputtering method. Then, titanium is formed on copper, and an aluminum film having a thickness of 1 μm, for example, is formed thereon. Subsequently, pad electrodes (not shown) of the primary coil and the secondary coil are formed by lithography and etching, and a silicon nitride film 7 having a thickness of, for example, 1 μm is formed by CVD. This silicon nitride film 7 serves as a surface protective film of the thin film transformer. Subsequently, a pad electrode portion (not shown) is opened by lithography and etching ((c) in the figure).

このようにして形成された渦巻き状の1次コイル、2次コイルである第1コイル導体4、第2コイル導体5は溝3内で互いに横方向に対向するように形成されるので、1次コイルと2次コイルの重なりが大きくなり伝達効率が向上し、相互インダクタンスが高くなり、Q値が向上して前記したようにエネルギー変換効率を高めることができる。
この構造においては、第1コイル導体4、第2コイル導体5の基板垂直方向(図面の上下方向)の長さ(第1コイル導体4、第2コイル導体5の幅に相当する)を長くすることで、1次コイルと2次コイルの重なりが大きくなり、面積を増加することなくQ値を向上することが可能となる。また、コイル導体の基板垂直方向の長さを長くすることで、1次コイルおよび2次コイルの断面積が増加し、コイル抵抗が減少する効果もある。
また、1次コイルと2次コイルを1層の金属膜(銅8)で同時に形成できるために、従来に比べると工程数が小さくなり、製造コストを低減することができる。
The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 which are the spiral primary coil and the secondary coil formed in this way are formed so as to face each other in the groove 3. The overlap between the coil and the secondary coil is increased, the transmission efficiency is improved, the mutual inductance is increased, the Q value is improved, and the energy conversion efficiency can be increased as described above.
In this structure, the length of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 in the substrate vertical direction (vertical direction in the drawing) (corresponding to the width of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5) is increased. Thus, the overlap between the primary coil and the secondary coil becomes large, and the Q value can be improved without increasing the area. Further, by increasing the length of the coil conductor in the direction perpendicular to the substrate, the cross-sectional areas of the primary coil and the secondary coil are increased, and the coil resistance is also reduced.
In addition, since the primary coil and the secondary coil can be formed simultaneously with a single layer of metal film (copper 8), the number of steps can be reduced as compared with the conventional case, and the manufacturing cost can be reduced.

図3は、この発明の第2実施例の薄膜トランスの構成図であり、同図(a)は要部平面図、同図(b)は同図(a)のX1−X1線で切断した要部断面図である。同図(a)は、同図(b)のX2−X2線で切断した要部平面図である。
図1との違いは、図1の支持基板に相当する部分に絶縁性磁性基板1aを用い、この絶縁性磁性基板1aに溝3を形成した点である。この場合も図1と同様に占有面積を大幅に低減できたり、エネルギー変換効率を大幅に高める効果がある。また、図1に比べて、絶縁性磁性基板1aを用いているため、磁束密度が高まり、エネルギー変換効率を図1の場合より高めることができる。
図4は、図3の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、同図(a)〜同図(c)は工程順に示した要部製造工程断面図である。
絶縁性磁性基板1a表面側に、リソグラフィーおよびエッチングによって、例えば、幅2.5μm、間隔0.5μm、深さ2.5μmの渦巻き状からなる1条の溝3を形成する。続いて、スパッタリング法によって、厚さが1μmの銅を形成する(同図(a))。
次に、異方性のドライエッチングによって、銅8をエッチングして、溝3内の側壁の銅を残し底部の銅と溝以外の箇所の銅を除去し、1次コイルと2次コイルを構成する第1コイル導体4と第2コイル導体5を形成する。この時点では第1コいる導体4と第2コイル導体5は溝3内で繋がっている。続いて、溝3端部の側壁の銅8を除去するため、全面にレジストを被覆し、パターニングで溝3の端部のみレジストを開口して、ウェットエッチングで溝3の端部側壁の銅8を除去する。このようにして溝3の銅8は第1コイル導体4と第2コイル導体5に分離される(同図(b))。
FIGS. 3A and 3B are configuration diagrams of a thin film transformer according to the second embodiment of the present invention. FIG. 3A is a plan view of the main part, and FIG. 3B is cut along line X1-X1 in FIG. It is principal part sectional drawing. The figure (a) is the principal part top view cut | disconnected by the X2-X2 line | wire of the figure (b).
The difference from FIG. 1 is that an insulating magnetic substrate 1a is used in a portion corresponding to the support substrate of FIG. 1, and a groove 3 is formed in this insulating magnetic substrate 1a. In this case as well, the occupied area can be greatly reduced as in FIG. 1, and the energy conversion efficiency can be greatly increased. Moreover, since the insulating magnetic substrate 1a is used as compared with FIG. 1, the magnetic flux density is increased, and the energy conversion efficiency can be increased as compared with the case of FIG.
4A to 4C are process diagrams showing a method of manufacturing the thin film transformer of FIG. 3, and FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views of main part manufacturing processes shown in the order of processes.
On the surface side of the insulating magnetic substrate 1a, a single groove 3 having, for example, a spiral shape having a width of 2.5 μm, a spacing of 0.5 μm, and a depth of 2.5 μm is formed by lithography and etching. Subsequently, copper having a thickness of 1 μm is formed by a sputtering method ((a) in the figure).
Next, the copper 8 is etched by anisotropic dry etching, leaving the copper on the side wall in the groove 3 and removing the copper at the bottom and the copper other than the groove to form the primary coil and the secondary coil. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are formed. At this time, the first conductor 4 and the second coil conductor 5 are connected in the groove 3. Subsequently, in order to remove the copper 8 on the side wall of the end of the groove 3, a resist is coated on the entire surface, the resist is opened only at the end of the groove 3 by patterning, and the copper 8 on the end side wall of the groove 3 is formed by wet etching. Remove. In this way, the copper 8 in the groove 3 is separated into the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 ((b) in the figure).

次に、CVD法によって、例えば、厚さが0.25μmのシリコン酸化膜5で表面を被覆し、リソグラフィーおよびエッチングによって図示しない箇所の1次コイル、2次コイルのコンタクトホールを形成し、スパッタリング法によって、銅上にチタンを形成しその上に、例えば、厚さ1μmのアルミニウム膜を形成する。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、1次コイルおよび2次コイルの図示しないパッド電極を形成し、CVD法によって、例えば、厚さが1μmのシリコン窒化膜7を形成する。このシリコン窒化膜7は薄膜トランスの表面保護膜となる。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、図示しないパッド電極部を開口する(同図(c))。
この構造によって、コイル導体4,5間距離が近くなり、また絶縁性磁性基板1aを用いることで磁束密度が高められエネルギー変換効率を高めることができる。
また、この製造方法によって、従来、アルミニウムや銅などの金属膜を上下に2回成膜していたものを、溝内に1回の成膜で1次コイルと2次コイルを同時に形成できるようになり、製造工数を削減できる。
また、この構造においては、第1コイル導体4、第2コイル導体5の基板垂直方向(図面の上下方向)の長さ(第1コイル導体4、第2コイル導体5の幅に相当する)を長くすることで、1次コイルと2次コイルの重なりが大きくなり、面積を増加することなくQ値を向上することが可能となる。また、コイル導体の基板垂直方向の長さを長くすることで、1次コイルおよび2次コイルの断面積が増加し、コイル抵抗が減少する効果もある。
Next, by CVD, for example, the surface is covered with a silicon oxide film 5 having a thickness of 0.25 μm, and contact holes of primary coils and secondary coils at locations not shown are formed by lithography and etching. Then, titanium is formed on copper, and an aluminum film having a thickness of 1 μm, for example, is formed on the titanium. Subsequently, pad electrodes (not shown) of the primary coil and the secondary coil are formed by lithography and etching, and a silicon nitride film 7 having a thickness of, for example, 1 μm is formed by CVD. This silicon nitride film 7 serves as a surface protective film of the thin film transformer. Subsequently, a pad electrode portion (not shown) is opened by lithography and etching ((c) in the figure).
With this structure, the distance between the coil conductors 4 and 5 is reduced, and by using the insulating magnetic substrate 1a, the magnetic flux density is increased and the energy conversion efficiency can be increased.
In addition, with this manufacturing method, it is possible to form a primary coil and a secondary coil at the same time by forming a metal film such as aluminum or copper twice in the vertical direction in a single film. Therefore, the number of manufacturing steps can be reduced.
In this structure, the length of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 in the substrate vertical direction (vertical direction in the drawing) (corresponding to the width of the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5) is set. By increasing the length, the overlap between the primary coil and the secondary coil becomes large, and the Q value can be improved without increasing the area. Further, by increasing the length of the coil conductor in the direction perpendicular to the substrate, the cross-sectional areas of the primary coil and the secondary coil are increased, and the coil resistance is also reduced.

また、1次コイルと2次コイルを1層の金属膜(銅8)で同時に形成できるために、従来に比べると工程数が小さくなり、製造コストを低減することができる。   In addition, since the primary coil and the secondary coil can be formed simultaneously with a single layer of metal film (copper 8), the number of steps can be reduced as compared with the conventional case, and the manufacturing cost can be reduced.

図5は、この発明の第3実施例の薄膜トランスの構成図であり、同図(a)は要部平面図、同図(b)は同図(a)のX1−X1線で切断した要部断面図である。同図(a)は、同図(b)のX2−X2線で切断した要部平面図である。
図1との違いは、絶縁膜2に2条の線が平行して走る渦巻き状の溝を形成し、一方の溝に第1コイル導体を形成し、他方の溝に第2コイル導体を形成して、2本のコイル導体間を後から絶縁膜を充填して分離する必要をなくした点である。後から絶縁膜を充填する必要がなく溝を形成する絶縁膜で第1コイル導体と第2コイル導体が分離されるので気泡の導入などによる信頼性の低下がない。また絶縁膜を充填する工程が簡略化される。
図6は、図5の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、同図(a)〜同図(c)は工程順に示した要部製造工程断面図である。
シリコン基板1表面側にCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって、例えば、厚さが3μmのシリコン酸化膜2を形成し、リソグラフィーおよびエッチングによって、例えば、幅1μm、間隔0.5μm、深さ2.5μmの2条の平行して走る渦巻き状の溝3を間隔0.5μmで形成する。続いて、スパッタリング法によって、例えば、厚さが1μmの銅8をシリコン酸化膜3上に形成する(同図(a))。
FIGS. 5A and 5B are configuration diagrams of a thin film transformer according to a third embodiment of the present invention. FIG. 5A is a plan view of the main part, and FIG. 5B is cut along line X1-X1 in FIG. It is principal part sectional drawing. The figure (a) is the principal part top view cut | disconnected by the X2-X2 line | wire of the figure (b).
The difference from FIG. 1 is that a spiral groove in which two lines run in parallel in the insulating film 2 is formed, a first coil conductor is formed in one groove, and a second coil conductor is formed in the other groove. Thus, it is unnecessary to separate the two coil conductors by filling them with an insulating film later. There is no need to fill the insulating film later, and the first coil conductor and the second coil conductor are separated by the insulating film forming the groove, so that there is no decrease in reliability due to the introduction of bubbles or the like. Further, the process of filling the insulating film is simplified.
FIG. 6 is a process diagram showing a method of manufacturing the thin film transformer of FIG. 5, and FIG. 6A to FIG.
A silicon oxide film 2 having a thickness of 3 μm, for example, is formed on the surface side of the silicon substrate 1 by a CVD (Chemical Vapor Deposition) method, and for example, a width of 1 μm, an interval of 0.5 μm, and a depth of 2.5 μm by lithography and etching. The two spiral grooves 3 running in parallel are formed at intervals of 0.5 μm. Subsequently, for example, copper 8 having a thickness of 1 μm is formed on the silicon oxide film 3 by a sputtering method ((a) in the figure).

次に、異方性のドライエッチングによって、銅8をエッチングして、溝3内の側壁の銅を残し底部の銅と溝以外の箇所の銅を除去し、1次コイルと2次コイルを構成する第1コイル導体4と第2コイル導体5を形成する(同図(b))。
次に、CVD法によって、例えば、厚さが0.25μmのシリコン酸化膜5で表面を被覆し、リソグラフィーおよびエッチングによって図示しない箇所の1次コイル、2次コイルのコンタクトホールを形成し、スパッタリング法によって、銅上にチタンを形成しその上に、例えば、厚さ1μmのアルミニウム膜を形成する。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、1次コイルおよび2次コイルの図示しないパッド電極を形成し、CVD法によって、例えば、厚さが1μmのシリコン窒化膜7を形成する。このシリコン窒化膜7は薄膜トランスの表面保護膜となる。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、図示しないパッド電極部を開口する(同図(c))。
第1コイル導体4と第2コイル導体5の間を絶縁膜6で充填する必要がなく工程が簡略化される。
また、1次コイルと2次コイルを1層の金属膜(銅8)で同時に形成できるために、従来に比べると工程数が小さくなり、製造コストを低減することができる。
Next, the copper 8 is etched by anisotropic dry etching, leaving the copper on the side wall in the groove 3 and removing the copper at the bottom and the copper other than the groove to form the primary coil and the secondary coil. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 to be formed are formed (FIG. 5B).
Next, by CVD, for example, the surface is covered with a silicon oxide film 5 having a thickness of 0.25 μm, and contact holes of primary coils and secondary coils at locations not shown are formed by lithography and etching. Then, titanium is formed on copper, and an aluminum film having a thickness of 1 μm, for example, is formed on the titanium. Subsequently, pad electrodes (not shown) of the primary coil and the secondary coil are formed by lithography and etching, and a silicon nitride film 7 having a thickness of, for example, 1 μm is formed by CVD. This silicon nitride film 7 serves as a surface protective film of the thin film transformer. Subsequently, a pad electrode portion (not shown) is opened by lithography and etching ((c) in the figure).
It is not necessary to fill the space between the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 with the insulating film 6, and the process is simplified.
In addition, since the primary coil and the secondary coil can be formed simultaneously with a single layer of metal film (copper 8), the number of steps can be reduced as compared with the conventional case, and the manufacturing cost can be reduced.

図7は、この発明の第4実施例の薄膜トランスの構成図であり、同図(a)は要部平面図、同図(b)は同図(a)のX1−X1線で切断した要部断面図である。同図(a)は、同図(b)のX2−X2線で切断した要部平面図である。
図3との違いは、絶縁性磁性基板1aに2条の線が平行して走る渦巻き状の溝を形成し、一方の溝に第1コイル導体を形成し、他方の溝に第2コイル導体を形成して、2本のコイル導体4,5間を後から絶縁膜6を充填して分離する必要をなくした点である。後から絶縁膜6を充填する必要がなく溝3を形成する絶縁膜2で第1コイル導体4と第2コイル導体5が分離されるので気泡の導入などによる信頼性の低下がない。また絶縁膜6を充填する工程が簡略化される。
図8は、図7の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、同図(a)〜同図(c)は工程順に示した要部製造工程断面図である。
絶縁性磁性基板1a表面側に、リソグラフィーおよびエッチングによって、例えば、幅1μm、間隔0.5μm、深さ2.5μmの2条の平行して走る渦巻き状の溝3を0.5μmの間隔で形成する。続いて、スパッタリング法によって、例えば、厚さが1μmの銅を形成する(同図(a))。
FIGS. 7A and 7B are configuration diagrams of a thin film transformer according to a fourth embodiment of the present invention. FIG. 7A is a plan view of an essential part, and FIG. 7B is cut along line X1-X1 in FIG. It is principal part sectional drawing. The figure (a) is the principal part top view cut | disconnected by the X2-X2 line | wire of the figure (b).
The difference from FIG. 3 is that the insulating magnetic substrate 1a is formed with a spiral groove in which two lines run in parallel, the first coil conductor is formed in one groove, and the second coil conductor is formed in the other groove. This eliminates the need for filling and separating the insulating film 6 between the two coil conductors 4 and 5 later. Since the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 are separated by the insulating film 2 that forms the groove 3 without having to be filled with the insulating film 6 later, there is no decrease in reliability due to the introduction of bubbles or the like. Further, the process of filling the insulating film 6 is simplified.
FIG. 8 is a process diagram showing a method of manufacturing the thin film transformer of FIG. 7, and FIGS. 8A to 8C are cross-sectional views of the main part manufacturing process shown in the order of processes.
Two parallel spiral grooves 3 having a width of 1 μm, an interval of 0.5 μm, and a depth of 2.5 μm are formed on the surface of the insulating magnetic substrate 1a by lithography and etching at intervals of 0.5 μm, for example. To do. Subsequently, for example, copper having a thickness of 1 μm is formed by a sputtering method ((a) in the figure).

次に、異方性のドライエッチングによって、銅8をエッチングして、溝3内の側壁の銅を残し底部の銅と溝以外の箇所の銅を除去し、1次コイルと2次コイルを構成する第1コイル導体4と第2コイル導体5を形成する(同図(b))。
次に、CVD法によって、例えば、厚さが0.25μmのシリコン酸化膜5で表面を被覆し、リソグラフィーおよびエッチングによって図示しない箇所の1次コイル、2次コイルのコンタクトホールを形成し、スパッタリング法によって、銅上にチタンを形成しその上に、例えば、厚さ1μmのアルミニウム膜を形成する。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、1次コイルおよび2次コイルの図示しないパッド電極を形成し、CVD法によって、例えば、厚さが1μmのシリコン窒化膜7を形成する。このシリコン窒化膜7は薄膜トランスの表面保護膜となる。続いて、リソグラフィーおよびエッチングによって、図示しないパッド電極部を開口する(同図(c))。
第1コイル導体4と第2コイル導体5の間を絶縁膜6で充填する必要がなく工程が簡略化される。
また、1次コイルと2次コイルを1層の金属膜(銅8)で同時に形成できるために、従来に比べると工程数が小さくなり、製造コストを低減することができる。
Next, the copper 8 is etched by anisotropic dry etching, leaving the copper on the side wall in the groove 3 and removing the copper at the bottom and the copper other than the groove to form the primary coil and the secondary coil. The first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 to be formed are formed (FIG. 5B).
Next, by CVD, for example, the surface is covered with a silicon oxide film 5 having a thickness of 0.25 μm, and contact holes of primary coils and secondary coils at locations not shown are formed by lithography and etching. Then, titanium is formed on copper, and an aluminum film having a thickness of 1 μm, for example, is formed on the titanium. Subsequently, pad electrodes (not shown) of the primary coil and the secondary coil are formed by lithography and etching, and a silicon nitride film 7 having a thickness of, for example, 1 μm is formed by CVD. This silicon nitride film 7 serves as a surface protective film of the thin film transformer. Subsequently, a pad electrode portion (not shown) is opened by lithography and etching ((c) in the figure).
It is not necessary to fill the space between the first coil conductor 4 and the second coil conductor 5 with the insulating film 6, and the process is simplified.
In addition, since the primary coil and the secondary coil can be formed simultaneously with a single layer of metal film (copper 8), the number of steps can be reduced as compared with the conventional case, and the manufacturing cost can be reduced.

図1は、この発明の第1実施例の薄膜トランスの構成図であり、(a)は要部平面図、(b)は(a)のX1−X1線で切断した要部断面図1A and 1B are configuration diagrams of a thin film transformer according to a first embodiment of the present invention, in which FIG. 1A is a plan view of a main part, and FIG. 図1の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、(a)〜(c)は工程順に示した要部製造工程断面図It is process drawing which shows the manufacturing method of the thin film transformer of FIG. 1, (a)-(c) is principal part manufacturing process sectional drawing shown to process order この発明の第2実施例の薄膜トランスの構成図であり、(a)は要部平面図、(b)は(a)のX1−X1線で切断した要部断面図It is a block diagram of the thin film transformer of 2nd Example of this invention, (a) is a principal part top view, (b) is principal part sectional drawing cut | disconnected by the X1-X1 line | wire of (a). 図3の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、(a)〜(c)は工程順に示した要部製造工程断面図FIGS. 4A to 4C are process diagrams illustrating a method for manufacturing the thin film transformer of FIG. 3, and FIGS. この発明の第5実施例の薄膜トランスの構成図であり、(a)は要部平面図、(b)は(a)のX1−X1線で切断した要部断面図It is a block diagram of the thin film transformer of 5th Example of this invention, (a) is a principal part top view, (b) is principal part sectional drawing cut | disconnected by the X1-X1 line | wire of (a). 図5の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、(a)〜(c)は工程順に示した要部製造工程断面図FIGS. 6A to 6C are process diagrams illustrating a method for manufacturing the thin film transformer of FIG. 5, and FIGS. この発明の第2実施例の薄膜トランスの構成図であり、(a)は要部平面図、(b)は(a)のX1−X1線で切断した要部断面図It is a block diagram of the thin film transformer of 2nd Example of this invention, (a) is a principal part top view, (b) is principal part sectional drawing cut | disconnected by the X1-X1 line | wire of (a). 図7の薄膜トランスの製造方法を示す工程図であり、(a)〜(c)は工程順に示した要部製造工程断面図FIGS. 8A to 8C are process diagrams illustrating a method for manufacturing the thin film transformer of FIG. 7, and FIGS. 従来の薄膜トランスの構成図であり、(a)は斜視図、(b)は要部断面図It is a block diagram of the conventional thin film transformer, (a) is a perspective view, (b) is principal part sectional drawing.

符号の説明Explanation of symbols

1 シリコン基板
1a 絶縁性磁性基板
2、6 絶縁膜(シリコン酸化膜にも同一番号を付す)
3 溝
4 第1コイル導体
5 第2コイル導体
7 シリコン窒化膜
T ピッチ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Silicon substrate 1a Insulating magnetic substrate 2, 6 Insulating film (The same number is also attached to a silicon oxide film)
3 Groove 4 First coil conductor 5 Second coil conductor 7 Silicon nitride film T pitch

Claims (14)

支持基板と、該支持基板上に形成された第1絶縁膜と、該第1絶縁膜に形成された1条の溝と、該溝の一方の側壁に形成された第1コイル導体と、該溝の他方の側壁に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜と、を備えることを特徴とする薄膜トランス。 A support substrate; a first insulating film formed on the support substrate; a groove formed in the first insulating film; a first coil conductor formed on one side wall of the groove; A thin film transformer comprising: a second coil conductor formed on the other side wall of the groove; and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor. 支持基板と、該支持基板上に形成された第1絶縁膜と、該第1絶縁膜に形成された平行に配置される2条の溝と、該溝の一方に形成された第1コイル導体と、該溝の他方に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜と、を備えることを特徴とする薄膜トランス。 A support substrate, a first insulating film formed on the support substrate, two parallel grooves formed on the first insulating film, and a first coil conductor formed on one of the grooves And a second coil conductor formed on the other side of the groove, and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor. 前記支持基板が半導体基板もしくは絶縁基板であることを特徴とする請求項1または2に記載の薄膜トランス。 The thin film transformer according to claim 1, wherein the support substrate is a semiconductor substrate or an insulating substrate. 絶縁性磁性基板と、該絶縁磁性基板に形成された1条の溝と、該溝の一方の側壁に形成された第1コイル導体と、該溝の他方の側壁に形成された第2コイル導体と、前記第1コいる導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された絶縁膜と、を備えることを特徴とする薄膜トランス。 Insulating magnetic substrate, one groove formed on the insulating magnetic substrate, a first coil conductor formed on one side wall of the groove, and a second coil conductor formed on the other side wall of the groove And a thin film transformer comprising: an insulating film sandwiched between the first coil conductor and the second coil conductor. 絶縁性磁性基板と、該絶縁性磁性基板に形成された平行に配置される2条の溝と、該溝の一方に形成された第1コイル導体と、該溝の他方に形成された第2コイル導体と、前記第1コイル導体と前記第2コイル導体に挟まれて形成された第2絶縁膜と、を備えることを特徴とする薄膜トランス。 Insulating magnetic substrate, two parallel grooves formed in the insulating magnetic substrate, a first coil conductor formed in one of the grooves, and a second formed in the other of the grooves A thin film transformer comprising: a coil conductor; and a second insulating film formed between the first coil conductor and the second coil conductor. 前記溝の平面形状が、渦巻き状であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の薄膜トランス。 The thin film transformer according to claim 1, wherein the planar shape of the groove is a spiral shape. 前記絶縁膜が、シリコン酸化膜、ポリイミド膜もしくはレジスト膜のいずれかであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の薄膜トランス。 The thin film transformer according to any one of claims 1 to 5, wherein the insulating film is any one of a silicon oxide film, a polyimide film, and a resist film. 前記第1コイル導体および前記第2コイル導体のそれぞれの端部にパッド電極が接続することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の薄膜トランス。 The thin film transformer according to claim 1, wherein a pad electrode is connected to each end of the first coil conductor and the second coil conductor. 支持基板上に第1絶縁膜を形成し、該第1絶縁膜に1条の溝を形成する工程と、
前記溝内を含む前記第1絶縁膜上に金属膜を形成する工程と、
該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記溝内の前記金属膜を残す工程と、
該金属膜を第1コイル導体と第2コイル導体に分離する工程と、
を備えることを特徴とする薄膜トランスの製造方法。
Forming a first insulating film on a support substrate and forming a groove in the first insulating film;
Forming a metal film on the first insulating film including the inside of the groove;
Removing the metal film by anisotropic etching, leaving the metal film in the groove;
Separating the metal film into a first coil conductor and a second coil conductor;
A method of manufacturing a thin film transformer, comprising:
支持基板上に第1絶縁膜を形成し、該第1絶縁膜に平行に配置される2条の溝を形成する工程と、
前記2本の溝内を含む前記第1絶縁膜上に金属膜を形成する工程と、
該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記2条の溝内の前記金属膜を残して第1のコイル導体と第2のコイル導体を形成する工程と、
を備えることを特徴とする薄膜トランスの製造方法。
Forming a first insulating film on the support substrate, and forming two grooves disposed in parallel to the first insulating film;
Forming a metal film on the first insulating film including the inside of the two grooves;
Removing the metal film by anisotropic etching, leaving the metal film in the two grooves, and forming a first coil conductor and a second coil conductor;
A method of manufacturing a thin film transformer, comprising:
絶縁性磁性基板上に1条の溝を形成する工程と、
前記溝内を含む前記絶縁性磁性基板上に金属膜を形成する工程と、
該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記溝内の前記金属膜を残す工程と、
該金属膜を第1コイル導体と第2コイル導体に分離する工程と、
を備えることを特徴とする薄膜トランスの製造方法。
Forming a groove on the insulating magnetic substrate;
Forming a metal film on the insulating magnetic substrate including in the groove;
Removing the metal film by anisotropic etching, leaving the metal film in the groove;
Separating the metal film into a first coil conductor and a second coil conductor;
A method of manufacturing a thin film transformer, comprising:
絶縁性磁性基板上に平行に配置される2条の溝を形成する工程と、
前記2本の溝内を含む前記絶縁性磁性基板上に金属膜を形成する工程と、
該金属膜を異方性エッチングで除去し、前記2条の溝内の前記金属膜を残して第1のコイル導体と第2のコイル導体を形成する工程と、
を備えることを特徴とする薄膜トランスの製造方法。
Forming two grooves arranged in parallel on the insulating magnetic substrate;
Forming a metal film on the insulating magnetic substrate including the two grooves;
Removing the metal film by anisotropic etching, leaving the metal film in the two grooves, and forming a first coil conductor and a second coil conductor;
A method of manufacturing a thin film transformer, comprising:
前記支持基板が半導体基板であり、前記第1絶縁膜および前記第2絶縁膜がシリコン酸化膜であることを特徴とする請求項9または10に記載の薄膜トランスの製造方法。 11. The method of manufacturing a thin film transformer according to claim 9, wherein the supporting substrate is a semiconductor substrate, and the first insulating film and the second insulating film are silicon oxide films. 前記第1、第2コイル導体を形成した後、表面を第3絶縁膜で被覆し、該第3絶縁膜にコンタクトホールを形成し、前記第1コイル導体の端部および第2コイル導体の端部とコンタクトホールを介して接続するパッド電極を形成する工程を備えることを特徴とする請求項9〜13のいずれか一項に記載の薄膜トランスの製造方法。
After forming the first and second coil conductors, the surface is covered with a third insulating film, a contact hole is formed in the third insulating film, and an end of the first coil conductor and an end of the second coil conductor are formed. The method for manufacturing a thin film transformer according to claim 9, further comprising a step of forming a pad electrode connected to the portion through a contact hole.
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