JP2009109477A - 構成部品の実測データを調査する方法および装置 - Google Patents
構成部品の実測データを調査する方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009109477A JP2009109477A JP2008184926A JP2008184926A JP2009109477A JP 2009109477 A JP2009109477 A JP 2009109477A JP 2008184926 A JP2008184926 A JP 2008184926A JP 2008184926 A JP2008184926 A JP 2008184926A JP 2009109477 A JP2009109477 A JP 2009109477A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- measurement
- component
- actual measurement
- measuring machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 60
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 100
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 15
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000003359 percent control normalization Methods 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
【解決手段】構成部品1の実測データ2を、構成部品の実測データを調査する仮想座標測定機の仮想測定スタイラスを生成する接触式座標測定機用測定プログラム24を用いて調査する。
【選択図】図5
Description
Claims (16)
- 構成部品の実測データを調査する方法であって、
前記構成部品(1)の実測データを調査する仮想座標測定機の仮想測定スタイラス(17)を作成する接触式座標測定機用測定プログラム(24)を用いて前記構成部品(1)の実測データを調査することを特徴とする方法。 - 請求項1の方法において、
前記構成部品の実測データは、光学走査によって得られることを特徴とする方法。 - 請求項1又は2の方法において、
前記実測データは、点集合、相互に結合したデカルト座標上の点及び/又は走査線として存在しているかまたは得られることを特徴とする方法。 - 請求項1〜3のいずれか1つの方法において、
前記実測データを双方向的に調査することを特徴とする方法。 - 請求項1〜3のいずれか1つの方法において、
前記実測データを自動的に調査することを特徴とする方法。 - 請求項1〜5のいずれか1つの方法において、
前記実測データを、標準化データフォーマットを用いて調査することを特徴とする方法。 - 請求項1〜6のいずれか1つの方法において、
測定結果を画面上に出力することを特徴とする方法。 - 請求項1〜7のいずれか1つの方法において、
前記測定結果をファイルに出力することを特徴とする方法。 - 請求項1〜8のいずれか1つの方法において、
前記測定結果を、設計データと比較することを特徴とする方法。 - 請求項9の方法において、
比較結果を、表および/または図として出力することを特徴とする方法。 - 請求項9または10の方法において、
比較結果を画面上に出力することを特徴とする方法。 - 請求項9〜11のいずれか1つの方法において、
比較結果をファイルに出力することを特徴とする方法。 - 構成部品の実測データを調査する装置であって、
前記構成部品(1)の実測データを得るための光学走査装置と、
前記実測データを調査する接触式座標測定機用測定プログラムを含むデータ処理ユニットとを備えていることを特徴とする装置。 - 請求項13の装置において、
前記光学走査装置は、スキャナであることを特徴とする装置。 - 請求項13または14の装置において、
前記データ処理ユニットは、測定プログラムの結果を設計データと比較するための比較プログラムを含むことを特徴とする装置。 - 請求項13〜15の装置において、
測定結果および/または比較結果を出力するための画面を備えることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007034168.9 | 2007-07-23 | ||
DE102007034168A DE102007034168A1 (de) | 2007-07-23 | 2007-07-23 | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Ist-Meßdaten eines Bauteils |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009109477A true JP2009109477A (ja) | 2009-05-21 |
JP5313572B2 JP5313572B2 (ja) | 2013-10-09 |
Family
ID=39881718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008184926A Expired - Fee Related JP5313572B2 (ja) | 2007-07-23 | 2008-07-16 | 構成部品の実測データを調査する方法および装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8212993B2 (ja) |
EP (1) | EP2019283B1 (ja) |
JP (1) | JP5313572B2 (ja) |
DE (1) | DE102007034168A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013113613A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Kosaka Laboratory Ltd | 表面形状の特徴形状抽出演算方法、及び表面形状補正演算方法 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0915850D0 (en) * | 2009-09-10 | 2009-10-14 | Pilkington Group Ltd | Inspection of glazing components |
EP2362180B1 (en) | 2010-02-05 | 2016-01-27 | Poly-clip System GmbH & Co. KG | Method for measuring a storage frame |
DE102010047444B4 (de) * | 2010-10-04 | 2014-04-03 | Audi Ag | Verfahren zur Visualisierung von Maßabweichungen zwischen einer Ist- und Soll-Geometrie eines Bauteils |
CN102620691B (zh) * | 2012-04-05 | 2015-04-08 | 中国地震局地质研究所 | 地震断层带岩石的断层面形貌测量系统 |
DE102012215215A1 (de) | 2012-08-27 | 2014-05-28 | Inb Vision Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Abweichungen einer Oberfläche eines Objekts |
DE102013209770B4 (de) | 2013-05-27 | 2015-02-05 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Bestimmung von einstellbaren Parametern mehrerer Koordinatenmessgeräte sowie Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung mindestens eines virtuellen Abbilds eines Messobjekts |
EP2860277B1 (de) * | 2013-10-14 | 2020-02-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Beschichtungsverfahren |
US9443311B2 (en) | 2014-06-12 | 2016-09-13 | Topcon Positioning Systems, Inc. | Method and system to identify a position of a measurement pole |
DE102014214771A1 (de) * | 2014-07-28 | 2016-01-28 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Erstellung eines Messprotokolls und Rechner zur Ausführung eines solchen Verfahrens |
US10962363B2 (en) | 2016-01-25 | 2021-03-30 | Topcon Positioning Systems, Inc. | Method and apparatus for single camera optical measurements |
DE102018208782A1 (de) * | 2018-06-05 | 2019-12-05 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Qualitätssicherung bei der Produktion eines Produktes sowie Recheneinrichtung und Computerprogramm |
HUE054643T2 (hu) * | 2018-11-09 | 2021-09-28 | Gf Casting Solutions Altenmarkt Gmbh & Co Kg | Kiigazítási mûvelet |
DE102019134439A1 (de) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | Elpro Gmbh | Verfahren zur automatisierten Darstellung von Messwerten |
DE102021102861A1 (de) | 2021-02-08 | 2022-08-11 | Schaeffler Technologies AG & Co. KG | Verfahren zur Erfassung und/oder Bereitstellung von Messdaten und/oder Simulationsdaten; Datenbankeinrichtung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006215011A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-08-17 | Mitsutoyo Corp | 不確かさ推定方法及びプログラム |
US20070064998A1 (en) * | 2005-09-22 | 2007-03-22 | Advanced Mask Inspection Technology Inc. | Pattern inspection apparatus, pattern inspection method, and inspection sample |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4320485B4 (de) * | 1993-06-21 | 2007-04-19 | Eads Deutschland Gmbh | Verfahren zur Objektvermessung mittels intelligenter Entfernungsbildkamera |
DE19925462C1 (de) * | 1999-06-02 | 2001-02-15 | Daimler Chrysler Ag | Meß- und Prüfsystem sowie Meß- und Prüfverfahren für einen dreidimensionalen Körper in Zusammenhang mit dessen Fertigung |
EP1633534B1 (en) * | 2003-04-28 | 2018-09-12 | Nikon Metrology NV | Cmm arm with exoskeleton |
DE10350861A1 (de) * | 2003-10-31 | 2005-06-02 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines 3D-Meßgerätes |
US7693325B2 (en) * | 2004-01-14 | 2010-04-06 | Hexagon Metrology, Inc. | Transprojection of geometry data |
DE102004061338B4 (de) * | 2004-12-20 | 2011-12-29 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Automatische Bauteilprüfung |
-
2007
- 2007-07-23 DE DE102007034168A patent/DE102007034168A1/de not_active Ceased
-
2008
- 2008-07-16 JP JP2008184926A patent/JP5313572B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-07-17 EP EP08012951.3A patent/EP2019283B1/de not_active Expired - Fee Related
- 2008-07-23 US US12/220,242 patent/US8212993B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006215011A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-08-17 | Mitsutoyo Corp | 不確かさ推定方法及びプログラム |
US20070064998A1 (en) * | 2005-09-22 | 2007-03-22 | Advanced Mask Inspection Technology Inc. | Pattern inspection apparatus, pattern inspection method, and inspection sample |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6013006249; 荻野健,外1名: 'VirtualCMMによる座標測定の不確かさ推定(第1報)-校正済み円筒による検証-' 2006年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集 , 20060301, p.1063,1064, 社団法人精密工学会 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013113613A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Kosaka Laboratory Ltd | 表面形状の特徴形状抽出演算方法、及び表面形状補正演算方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102007034168A1 (de) | 2009-02-05 |
EP2019283B1 (de) | 2020-03-04 |
EP2019283A3 (de) | 2015-11-11 |
JP5313572B2 (ja) | 2013-10-09 |
US8212993B2 (en) | 2012-07-03 |
EP2019283A2 (de) | 2009-01-28 |
US20090063093A1 (en) | 2009-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5313572B2 (ja) | 構成部品の実測データを調査する方法および装置 | |
US7865316B2 (en) | System, program product, and related methods for registering three-dimensional models to point data representing the pose of a part | |
JP4580983B2 (ja) | レンジ検査のための測定装置および方法 | |
US10837752B2 (en) | Method for capturing dynamic vibrations of a roughness sensor, method for measuring a roughness of a workpiece surface, computer program product and measuring device configured to carry out the methods | |
US20150285616A1 (en) | Method for generating information about a sensor chain of a coordinate measuring machine (cmm) | |
KR20150128300A (ko) | 카메라와 레이저 스캔을 이용한 3차원 모델 생성 및 결함 분석 방법 | |
US10102643B2 (en) | Endoscope apparatus and inspection method using endoscope | |
CN107429997B (zh) | 用于确定测量对象的尺寸特性的方法和装置 | |
Reinhart | Industrial computer tomography–A universal inspection tool | |
JP5599849B2 (ja) | レンズ検査装置及びその方法 | |
Lettenbauer et al. | Means to verify the accuracy of CT systems for metrology applications (in the absence of established international standards) | |
JP2022071822A (ja) | 画像表示方法、表示制御装置、およびプログラム | |
EP2769178B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur sicherstellung einer prüfabdeckung bei einer manuellen inspektion | |
US20060280359A1 (en) | System and method for recalculating analysis report of 3D scan data | |
US20210263057A1 (en) | Method and Device for Software-Based Planning of a Dimensional Measurement | |
Telišková et al. | Non-destructive diagnostics of hard-to-reach places by spatial digitization | |
JP2019100907A (ja) | 測定装置及び測定システム | |
JP5314018B2 (ja) | 因子測定及び表示装置、因子測定及び表示方法、因子測定及び表示方法をコンピューターに実行させる因子測定及び表示プログラム、並びに、音響スキャナ | |
Helmecke et al. | NUMERICAL MEASUREMENT UNCERTAINTY DETERMINATION FOR COMPUTED TOMOGRAHPY IN DIMENSIONAL METROLOGY | |
BARON et al. | APPLICATION OF AUGMENTED REALITY TOOLS TO THE DESIGN PREPARATION OF PRODUCTION. | |
JP5411738B2 (ja) | 硬さ試験機及びプログラム | |
Schick | Metrology CT technology and its applications in the precision engineering industry | |
Wohlgemuth et al. | Acceptance and reverification testing for industrial computed tomography–a simulative study on geometrical misalignments | |
Hennessy | Dimensional measurement enters new era | |
JP2017049050A (ja) | 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110510 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20120913 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130611 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130704 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5313572 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |