JP2009081460A - Semiconductor light-emitting device equipped with metallic package - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor light emitting device capable of eliminating a structural problem in a metal package and capable of being manufactured stably while being high in reliability. <P>SOLUTION: The semiconductor light emitting device is provided with a semiconductor light emitting element 2, a metal package 10 including a lead electrode 18 conducted with the semiconductor light emitting element 2 and housing the semiconductor light emitting element 2, and a lid 12 at least whose surface is constituted of a metal and which serves as a lid body for sealing the metal package 10 so as to be airtight. The surface of the metal package 10 is covered by a metal having conductivity lower than that of a metal constituting the surface of the lid 12 while a projected part 10e formed on the metal package 10 is contacted with the flat part of the lid 12 whereby the metal package 10 is sealed so as to be airtight. Further, the rear surface electrode of an auxiliary element 4 for assisting the function of the light emitting element 2 is connected to the upper part of a conductive pedestal 22 fixed through an insulating member 20. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本件発明は、バックライト、ディスプレイ、照明等の各種光源に使用される半導体発光装置に係り、詳細には、半導体発光素子が金属パッケージに収納された半導体発光装置に関する。   The present invention relates to a semiconductor light emitting device used for various light sources such as a backlight, a display, and an illumination, and more particularly to a semiconductor light emitting device in which a semiconductor light emitting element is housed in a metal package.

近年、窒化ガリウム系化合物半導体発光素子を用いた白色系LED等、高輝度、高出力な半導体発光装置が開発され、バックライト、ディスプレイ、照明等の各種光源用途に使用されている。こうした半導体発光装置は、リード電極を備えたパッケージにLED等の半導体チップを封止して構成される。   In recent years, high-intensity and high-power semiconductor light-emitting devices such as white LEDs using gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting elements have been developed and used in various light source applications such as backlights, displays, and illumination. Such a semiconductor light emitting device is configured by sealing a semiconductor chip such as an LED in a package having a lead electrode.

従来の半導体発光装置では、半導体チップをプラスチック製のパッケージに収納し、モールド樹脂で封止することが一般的であった。ところが、半導体発光装置の用途が広がるにつれて、より高い信頼性と発光強度が求められている。例えば、航空機や車載用に利用される発光装置では、装置の温度が―20℃以下から80℃以上という広い範囲で変化し、振動にもさらされる。このような場合に、上記のようなプラスチックパッケージとモールド樹脂による封止では、モールド樹脂の膨張・収縮によってLEDチップがダイボンド樹脂から剥離して発光特性が変化したり、ワイヤが断線する等して発光しなくなる場合がある。また、高い輝度を得るために大電流を流すと、パッケージによる放熱効果が十分でないために、発光素子の温度が上昇して、素子の動作不良や、パッケージ樹脂の劣化を起こす場合もある。   In a conventional semiconductor light emitting device, it is common to house a semiconductor chip in a plastic package and seal it with a mold resin. However, as the use of semiconductor light-emitting devices expands, higher reliability and light emission intensity are required. For example, in a light emitting device used for an aircraft or a vehicle, the temperature of the device changes in a wide range from −20 ° C. to 80 ° C. and is also exposed to vibration. In such a case, when sealing with the plastic package and the mold resin as described above, the LED chip is peeled off from the die bond resin due to the expansion / contraction of the mold resin, the light emission characteristics are changed, or the wire is disconnected. It may stop emitting light. In addition, when a large current is applied to obtain high luminance, the heat dissipation effect by the package is not sufficient, so that the temperature of the light emitting element rises, which may cause malfunction of the element or deterioration of the package resin.

そこで、プラスチックパッケージとモールド樹脂による封止に代えて、金属によるパッケージを行うことが検討されている(例えば、特許文献1)。図6は、そのようなパッケージの1種であるキャンタイプパッケージの一例を示す模式断面図である。凸形状の金属ベース34の厚さ方向に形成された貫通孔に、リード電極16及び18が挿入され、ガラス等の絶縁体3を介して気密絶縁的に封着されてステム35が構成されている。このようなステム35の上面に発光素子2がダイボンドされ、その上から底部側に鍔部を有する窓付金属缶11が被せられ、ステムと金属缶11を接合することによって気密封止されている。発光素子2の発光は、金属缶11に嵌め込まれた透光性の窓部材40を介して取出される。発光素子2上の一対の電極は、ステム上面から露出したリード電極16及び18に金ワイヤー6等によって接続されている。   Then, it replaces with sealing with a plastic package and mold resin, and performing the package by a metal is examined (for example, patent document 1). FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an example of a can-type package which is one type of such a package. Lead electrodes 16 and 18 are inserted into through-holes formed in the thickness direction of the convex metal base 34 and sealed in a gas-tight insulating manner through an insulator 3 such as glass to form a stem 35. Yes. The light emitting element 2 is die-bonded on the upper surface of such a stem 35, and a metal can 11 with a window having a flange portion on the bottom side is covered from above, and the stem and the metal can 11 are joined and hermetically sealed. . The light emitted from the light emitting element 2 is taken out through a translucent window member 40 fitted in the metal can 11. A pair of electrodes on the light emitting element 2 is connected to lead electrodes 16 and 18 exposed from the upper surface of the stem by a gold wire 6 or the like.

このようにして構成された発光装置は、パッケージが金属にて構成され且つ内部が中空であるため、構成材料に樹脂を用いた場合と比べ非常に高い信頼性を有し、ワイヤ断線防止、耐湿性、耐熱性、及び放熱性に優れている。このため、発光装置に流す電流量を増加させ出力向上を図ることが可能である。   The light emitting device configured in this manner has a very high reliability compared to the case where resin is used as a constituent material because the package is made of metal and the inside is hollow, and prevents wire breakage and moisture resistance. Excellent in heat resistance, heat resistance, and heat dissipation. For this reason, it is possible to increase the amount of current flowing through the light emitting device and improve the output.

また、本件発明者等は、金属製のパッケージを使用することによって高信頼性を確保しながら、小型化・薄型化が可能な表面実装型の半導体発光装置を提案している(例えば、特許文献2参照)。図8は、そのような半導体発光装置の一例を示す模式断面図である。パッケージ10は金属からなり、中央部にある凹部に発光素子2を収納している。パッケージ10の上からは、窓部に透光性部材14を嵌めた金属製リッド12が接合され、発光素子2を気密封止している。また、パッケージ10の貫通孔内には、硬質ガラス等の絶縁部材20を介して正及び負のリード電極16及び18がそれぞれ挿入されている。リード電極16及び18の両端部は、金属パッケージ10の底面側において他の部分よりも突出しており、且つリード電極16及び18の底面は凹部10aの底面と略同一平面上に位置している。   Further, the present inventors have proposed a surface-mount type semiconductor light emitting device that can be reduced in size and thickness while ensuring high reliability by using a metal package (for example, Patent Documents). 2). FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing an example of such a semiconductor light emitting device. The package 10 is made of metal, and the light emitting element 2 is accommodated in a recess in the center. From the top of the package 10, a metal lid 12 having a translucent member 14 fitted in a window portion is joined to hermetically seal the light emitting element 2. In addition, positive and negative lead electrodes 16 and 18 are inserted into the through holes of the package 10 through an insulating member 20 such as hard glass. Both end portions of the lead electrodes 16 and 18 protrude more than other portions on the bottom surface side of the metal package 10, and the bottom surfaces of the lead electrodes 16 and 18 are located on substantially the same plane as the bottom surface of the recess 10a.

このように構成された金属パッケージは、図6と同様の信頼性を確保しながら、実装用基板等の上に半田バンプ等によって表面実装することが可能である。また、チップを収納する凹部10aが実装用基板に接触させることができるため、チップ2の放熱効率を高めることができる。   The metal package configured as described above can be surface-mounted by a solder bump or the like on a mounting substrate or the like while ensuring the same reliability as in FIG. Moreover, since the recessed part 10a which accommodates a chip | tip can be made to contact a mounting board | substrate, the thermal radiation efficiency of the chip | tip 2 can be improved.

特開平6−29047号公報JP-A-6-29047 WO 02/089219A1WO 02 / 089219A1

しかしながら、上記従来の金属パッケージを使用した半導体発光装置では、構造上種々の問題が生じる。例えば、高い信頼性を確保するためにはパッケージ内を気密性良くシールすることが重要となるが、金属同士を均一に接合することが難しく、製造歩留まりや信頼性が低くなりがちであった。   However, the semiconductor light emitting device using the conventional metal package has various structural problems. For example, in order to ensure high reliability, it is important to seal the inside of the package with good airtightness. However, it is difficult to uniformly bond metals, and the manufacturing yield and reliability tend to be low.

また、ある種の半導体発光装置では、保護ダイオードやフォトディテクタ等、発光素子の機能を補助する素子をパッケージ内に設置する必要がある。ところが、保護ダイオード等の補助素子は、素子の表面に正負両方の電極がある窒化ガリウム系半導体発光素子と異なり、素子の裏面に一方の電極がある構造が一般的である。従って、これらの補助素子を導電性の金属パッケージ内に設置するには、構造上の工夫が必要となる。さらに、金属性のパッケージにチップをダイスボンドするには、金属パッケージの位置を自動認識する必要があるが、金属パッケージは光反射率が高いためパッケージ内の位置を画像認識によって検出することが容易ではなかった。   Further, in a certain type of semiconductor light emitting device, it is necessary to install an element for assisting the function of the light emitting element, such as a protective diode or a photodetector, in the package. However, an auxiliary element such as a protective diode generally has a structure in which one electrode is provided on the back surface of the element, unlike a gallium nitride semiconductor light-emitting element having both positive and negative electrodes on the element surface. Therefore, in order to install these auxiliary elements in the conductive metal package, structural ingenuity is required. Furthermore, in order to die-bond a chip to a metal package, it is necessary to automatically recognize the position of the metal package. However, since the metal package has high light reflectance, it is easy to detect the position in the package by image recognition. It wasn't.

そこで、本件発明は、これら金属パッケージにおける構造上の問題点を解消し、安定して製造でき、かつ、信頼性の高い半導体発光装置を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor light emitting device that eliminates structural problems in these metal packages, can be stably manufactured, and has high reliability.

上記目的を達成するために、本件発明に係る半導体発光装置は、半導体発光素子と、前記半導体発光素子に導通したリード電極を有し、前記半導体発光素子を収納する金属パッケージと、少なくとも表面が金属から成り、前記金属パッケージを気密封止する蓋体となるリッドとを備えた半導体発光装置であって、前記金属パッケージの表面が、前記リッド表面を構成する金属よりも導電率の高い金属で覆われており、前記金属パッケージに設けられた突起部と前記リッドの平坦部とが接合することにより、前記金属パッケージが気密封止されたことを特徴とする。   In order to achieve the above object, a semiconductor light emitting device according to the present invention includes a semiconductor light emitting element, a metal package having a lead electrode connected to the semiconductor light emitting element, and housing the semiconductor light emitting element, and at least a surface of which is metal. And a lid that serves as a lid for hermetically sealing the metal package, wherein the surface of the metal package is covered with a metal having a higher conductivity than the metal constituting the lid surface. The metal package is hermetically sealed by bonding a protrusion provided on the metal package and a flat portion of the lid.

この発明によれば、金属パッケージとリッドをシーム溶接する際の接合不良が防止でき、半導体発光装置の信頼性が向上する。即ち、金属パッケージの表面に形成されるAg等のメッキ層が、リッド表面に形成されるNi等のメッキ層よりも高導電率を有している場合、接合部に電流を流すと、低導電率のNiメッキ層側により大きなジュール熱が発生するため、ヒートバランスが崩れ、接合部とずれた位置にジュール熱が集中してしまう。そこで、本発明では、高導電率のメッキ層を有する金属パッケージ側に突起部を形成することにより、高導電率側の電流密度を高めて、ヒートバランスの中心が接合部に来るようにする。このことによって、安定したシーム溶接が可能となり、溶接部の信頼性も高まる。従って、信頼性に優れた半導体発光装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to prevent joint failure when seam welding the metal package and the lid, and the reliability of the semiconductor light emitting device is improved. That is, when a plating layer such as Ag formed on the surface of the metal package has a higher conductivity than a plating layer such as Ni formed on the lid surface, if a current is passed through the joint, Since a large Joule heat is generated on the Ni plating layer side of the rate, the heat balance is lost, and the Joule heat is concentrated at a position shifted from the joint portion. Therefore, in the present invention, the protrusion is formed on the side of the metal package having the plating layer with high conductivity, thereby increasing the current density on the high conductivity side so that the center of heat balance comes to the joint. This enables stable seam welding and increases the reliability of the welded portion. Therefore, a semiconductor light emitting device with excellent reliability can be provided.

前記金属パッケージの最表面は、Ag、Rh、Au、Al及びこれらを含む合金から成る群から選択された1種によって覆われていることが好ましい。これによってパッケージ表面の光反射散乱率が向上される他、メッキ層が溶接用ろう材となり、発光素子、ワイヤ、及びリッドと、金属パッケージ本体との密着性が向上される。更に、発光素子からの光が照射されるパッケージの主面側はメッキ層を光沢メッキとし、他の部材との密着性を高めたい部分のみのメッキ層を無光沢にすると、これらの効果は一層顕著になる。   The outermost surface of the metal package is preferably covered with one selected from the group consisting of Ag, Rh, Au, Al, and alloys containing these. As a result, the light reflection / scattering rate of the package surface is improved, and the plating layer becomes a welding brazing material, thereby improving the adhesion between the light emitting element, the wire, and the lid, and the metal package body. Furthermore, if the main surface side of the package irradiated with light from the light emitting element is made a glossy plating layer, and the plating layer only in the portion where the adhesion to other members is to be improved, the effect is further enhanced. Become prominent.

一方、前記リッドの最表面は、Ni、Au、Ag、Rh、Al及びこれらを含む合金から成る群から選択された1種によって覆われていることが好ましい。これらの金属は、比較的硬く、酸化等を起しにくいため、これらの金属でリッド表面を覆うことにより半導体発光装置の信頼性が向上する。   Meanwhile, it is preferable that the outermost surface of the lid is covered with one selected from the group consisting of Ni, Au, Ag, Rh, Al, and alloys containing these. Since these metals are relatively hard and hardly oxidize, the reliability of the semiconductor light emitting device is improved by covering the lid surface with these metals.

また、本発明に係る半導体発光装置は、半導体発光素子と、前記半導体発光素子に導通したリード電極を有し、前記半導体発光素子を収納する金属パッケージと、少なくとも表面が金属から成り、前記金属パッケージを気密封止する蓋体となるリッドとを備えた半導体発光装置であって、前記金属パッケージに絶縁部材を介して導電性台座が固定されており、該導電性台座上に、前記発光素子の機能を補助する補助素子が、その裏面電極を介して接合されたことも特徴とする。   The semiconductor light-emitting device according to the present invention includes a semiconductor light-emitting element, a lead package electrically connected to the semiconductor light-emitting element, and a metal package that houses the semiconductor light-emitting element. A lid that serves as a lid that hermetically seals, wherein a conductive pedestal is fixed to the metal package via an insulating member, and the light emitting element is mounted on the conductive pedestal. An auxiliary element for assisting the function is also bonded through the back electrode.

補助素子としては、例えば、前記発光素子を静電気から保護する保護ダイオードを用いることができる。保護ダイオードを設けることによって、逆方向に高い静電気が加わった場合に素子破壊が起きることを防止して、半導体発光装置の信頼性を高めることができる。また、半導体発光素子がレーザである場合には、補助素子として、レーザの発光をモニタするフォトディテクタを設けても良い。フォトディテクタをパッケージ内部に設置することにより、部品点数の削減が可能となると共に安定いた光出力が得られ、信頼性の高い発光装置が得られる。   As the auxiliary element, for example, a protective diode that protects the light emitting element from static electricity can be used. By providing the protective diode, it is possible to prevent element destruction when high static electricity is applied in the opposite direction, and to improve the reliability of the semiconductor light emitting device. In the case where the semiconductor light emitting element is a laser, a photodetector for monitoring laser light emission may be provided as an auxiliary element. By installing the photodetector inside the package, the number of components can be reduced, and a stable light output can be obtained, and a highly reliable light-emitting device can be obtained.

保護ダイオードやフォトダイオード等の補助素子は、正電極と負電極が、各々、基板の表面と裏面に形成されている場合が多い。従って、補助素子を単純に金属パッケージに設置すると、導電性を持つ金属パッケージ自身が極性を持つことになってしまうため、好ましくない。そこで、本発明では、金属パッケージに絶縁部材を介して導電性台座を固定し、その導電性台座上に補助素子の裏面電極を接合する。従って、金属パッケージ自身が極性を持つことを防止しながら、パッケージ内部に補助素子を収納することができる。   Auxiliary elements such as protective diodes and photodiodes often have a positive electrode and a negative electrode formed on the front and back surfaces of the substrate, respectively. Therefore, simply placing the auxiliary element on the metal package is not preferable because the conductive metal package itself has polarity. Therefore, in the present invention, the conductive pedestal is fixed to the metal package via the insulating member, and the back electrode of the auxiliary element is joined on the conductive pedestal. Therefore, the auxiliary element can be accommodated inside the package while preventing the metal package itself from having a polarity.

また、本発明に係る半導体発光装置は、半導体発光素子と、前記半導体発光素子に導通したリード電極を有し、前記半導体発光素子を収納する金属パッケージと、少なくとも表面が金属から成り、前記金属パッケージを気密封止する蓋体となるリッドとを備えた半導体発光装置であって、前記金属パッケージの表面に、断面V字溝形状の矩形パターンが形成されたことも特徴とする。   The semiconductor light-emitting device according to the present invention includes a semiconductor light-emitting element, a lead package electrically connected to the semiconductor light-emitting element, and a metal package that houses the semiconductor light-emitting element. A semiconductor light emitting device including a lid serving as a lid that hermetically seals the substrate, wherein a rectangular pattern having a V-shaped cross section is formed on the surface of the metal package.

この矩形パターンは、金属パッケージに発光素子をダイボンドする際に、金属パッケージ内の位置を自動認識するためのマーカとなる。金属パッケージは、表面の光反射率の高いため、一般的な十字状の突起部を形成してもコントラスト不足のために自動認識されにくい。そこで、本発明では、矩形形状で、かつ、断面V字状の凹部をマーカとすることにより、自動認識を容易にする。即ち、矩形であるため自動認識し易く、かつ、断面V字状の凹部であることによって凹部内とその周囲とにコントラストが付き易くなる。従って、金属パッケージの表面の光反射率が高い場合であっても、その位置を容易に自動認識することができる。   This rectangular pattern serves as a marker for automatically recognizing the position in the metal package when the light emitting element is die-bonded to the metal package. Since the metal package has a high light reflectance on the surface, even if a general cross-shaped protrusion is formed, it is difficult to be automatically recognized due to insufficient contrast. Therefore, in the present invention, automatic recognition is facilitated by using a concave portion having a rectangular shape and a V-shaped cross section as a marker. That is, since it is rectangular, it is easy to recognize automatically, and since it is a recess having a V-shaped cross section, it is easy to give contrast between the inside of the recess and its periphery. Therefore, even when the light reflectance of the surface of the metal package is high, the position can be easily recognized automatically.

本発明は、以上説明したように構成されているため、金属パッケージにおける構造上の問題点を解消し、安定して製造でき、かつ、信頼性の高い半導体発光装置を提供することができる。   Since the present invention is configured as described above, it is possible to provide a highly reliable semiconductor light emitting device that can solve the structural problems in the metal package, can be stably manufactured, and is highly reliable.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明に係る半導体発光装置の一例を模式的に示す上面図であり、図2は、図1のI−I’断面における模式断面図、図3は、同II−II’断面における模式断面図である。尚、図1では、金属パッケージの内部構造を明確に示すため、リッドを省略している。また、本明細書では、発光素子が設置される側のパッケージ主面を表面とし、反対側の主面を背面または底面と表現する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 is a top view schematically showing an example of a semiconductor light emitting device according to the present invention, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′. It is a schematic cross section in. In FIG. 1, the lid is omitted to clearly show the internal structure of the metal package. In this specification, the package main surface on the side where the light emitting element is installed is referred to as a front surface, and the opposite main surface is referred to as a back surface or a bottom surface.

図1乃至3に示すように、本実施の形態に係る半導体発光装置において、金属パッケージ10のほぼ中央に凹部10a(=チップ収納部)が設けられ、その上に、発光素子2として基板の表面に正負一対の電極が形成された窒化ガリウム系発光ダイオードがダイボンドされている。発光素子2の正負電極は、金属パッケージ10内に絶縁部材20を介して接続されたリード電極16及び18にワイヤー6によって接続されている。金属パッケージ10には、蓋体としてリッド12が接合されており、発光素子2やリード電極16及び18は不活性ガスによって気密封止されている。リッド12には透光性窓材14が嵌めこまれており、その透光性窓材14を通じて窒化ガリウム系半導体発光素子2からの発光が取出される。
以下、本実施の形態に係る半導体発光装置の特徴的な構成について詳細に説明する。
As shown in FIGS. 1 to 3, in the semiconductor light emitting device according to the present embodiment, a concave portion 10 a (= chip housing portion) is provided at substantially the center of the metal package 10, and the surface of the substrate as the light emitting element 2 is provided thereon. A gallium nitride-based light emitting diode having a pair of positive and negative electrodes formed thereon is die-bonded. The positive and negative electrodes of the light emitting element 2 are connected by wires 6 to lead electrodes 16 and 18 that are connected to each other in the metal package 10 via an insulating member 20. A lid 12 is bonded to the metal package 10 as a lid, and the light emitting element 2 and the lead electrodes 16 and 18 are hermetically sealed with an inert gas. A light transmissive window member 14 is fitted in the lid 12, and light emitted from the gallium nitride based semiconductor light emitting element 2 is taken out through the light transmissive window member 14.
Hereinafter, a characteristic configuration of the semiconductor light emitting device according to the present embodiment will be described in detail.

(封止構造)
まず、この半導体発光装置の封止構造について詳細に説明する。図1に示すように、金属パッケージ10には、発光素子2やリード電極16及び18を設置するための円形のベース台座10cが形成され、ベース台座10cの周囲から鍔部10dがフリンジ状に延びている。一方、リッド12は、図2及び図3に示すように、下面開放の円筒形状を有しており、その環状側面が金属パッケージのベース台座10cに嵌め合わされることにより、金属パッケージ10を封止する蓋体となる。リッド12の下面からは、外向きに円形のフリンジ部12aが延びており、このフリンジ部12aが、金属パッケージの鍔部10dと接合することによって、金属パッケージ10が気密封止される。尚、ベース台座10cとリッド12が嵌め合わせ構造となっていることにより、位置決めを容易に行うことができ、量産性が向上され好ましい。
(Sealing structure)
First, the sealing structure of this semiconductor light emitting device will be described in detail. As shown in FIG. 1, the metal package 10 is formed with a circular base pedestal 10c for installing the light emitting element 2 and the lead electrodes 16 and 18, and the flange 10d extends in a fringe shape from the periphery of the base pedestal 10c. ing. On the other hand, as shown in FIGS. 2 and 3, the lid 12 has a cylindrical shape with an open bottom surface, and its annular side surface is fitted into a base pedestal 10 c of the metal package, thereby sealing the metal package 10. It will be a lid. A circular fringe portion 12a extends outward from the lower surface of the lid 12, and the metal package 10 is hermetically sealed by joining the fringe portion 12a to the flange portion 10d of the metal package. In addition, the base pedestal 10c and the lid 12 have a fitting structure, so that positioning can be easily performed and mass productivity is improved, which is preferable.

図4は、金属パッケージ10とリッド12の接合部を示す拡大断面図である。図4に示すように、金属パッケージ10の鍔部には、環状の突起部10eが形成されており、この突起部10eがリッド12の平坦なフランジ部12aと接触するように構成されている。金属パッケージ10の突起部10eとリッド12とが接触するように加圧した状態で、リッド12の2点に電極をあててパルス電流を流すことにより、リッド12と金属パッケージ10の接合部に発生するジュール熱を利用して連続的にシーム溶接される。即ち、金属パッケージ10の表面は、Ni層がメッキされた上に、さらに、Ag、Rh、Au、Al等のメッキ層11が形成されており、リッド12の表面は、Ni、Au、Ag、Rh、Al等のメッキ層13が形成されている。金属パッケージ10とリッド12の接合部に電流が流れる際のジュール熱によってメッキ層11及び13が溶接される。   FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing a joint portion between the metal package 10 and the lid 12. As shown in FIG. 4, an annular projecting portion 10 e is formed on the flange portion of the metal package 10, and the projecting portion 10 e is configured to come into contact with the flat flange portion 12 a of the lid 12. Generated at the junction between the lid 12 and the metal package 10 by applying a pulse current by applying electrodes to two points of the lid 12 in a state where the protrusion 10e of the metal package 10 and the lid 12 are in contact with each other. Continuously seam welded using Joule heat. That is, the surface of the metal package 10 is plated with a Ni layer, and further, a plated layer 11 of Ag, Rh, Au, Al or the like is formed, and the surface of the lid 12 is Ni, Au, Ag, A plating layer 13 such as Rh or Al is formed. The plated layers 11 and 13 are welded by Joule heat when current flows through the joint between the metal package 10 and the lid 12.

従来は、金属パッケージ10の鍔部に環状の突起部10eが形成されていなかったため、金属パッケージ10とリッド12の接合不良が発生し易く、また、接合部の信頼性も低かった。これは、金属パッケージ10の表面に形成されるAg等のメッキ層11が、リッド12の表面に形成されるNi等のメッキ層13よりも高導電率を有していたことに起因する。例えば、低導電率であるNiメッキ層13と高導電率であるAgメッキ層11の接合部に電流を流すと、低導電率のNiメッキ層13の側により大きなジュール熱が発生するため、ヒートバランスが崩れ、接合部とずれた位置にジュール熱が集中してしまう。そのため、接合部における溶接不良が発生し易くなり、溶接部の信頼性も低下する。溶接部の接合が不完全であると、パッケージ内に水分等が進入し易くなるため、金属パッケージ10の表面に形成されたAg等のメッキ層11が硫化又は酸化してしまう。   Conventionally, since the annular protrusion 10e has not been formed on the flange portion of the metal package 10, poor bonding between the metal package 10 and the lid 12 is likely to occur, and the reliability of the bonded portion is low. This is because the plated layer 11 made of Ag or the like formed on the surface of the metal package 10 has higher conductivity than the plated layer 13 made of Ni or the like formed on the surface of the lid 12. For example, when a current is passed through the joint between the Ni plating layer 13 having a low conductivity and the Ag plating layer 11 having a high conductivity, a large Joule heat is generated on the side of the Ni plating layer 13 having a low conductivity. The balance is lost, and Joule heat concentrates at a position shifted from the joint. Therefore, it becomes easy to produce the welding defect in a junction part, and the reliability of a weld part also falls. If the welded portion is incompletely bonded, moisture or the like easily enters the package, and therefore the plated layer 11 such as Ag formed on the surface of the metal package 10 is sulfided or oxidized.

本件発明では、高導電率のメッキ層11が形成された金属パッケージ10の側に突起部10eを形成するため、金属パッケージのメッキ層11に流れる電流密度をリッドのメッキ層13よりも高くして、導電率のアンバランスを補償することができる。このことにより、ヒートバランスが保たれ、接合部にジュール熱が集中し易くなるため、信頼性の高い溶接を安定して行うことができる。   In the present invention, since the protrusion 10e is formed on the side of the metal package 10 on which the high conductivity plating layer 11 is formed, the current density flowing in the plating layer 11 of the metal package is made higher than the plating layer 13 of the lid. It is possible to compensate for the conductivity imbalance. As a result, the heat balance is maintained and the Joule heat is easily concentrated on the joint portion, so that highly reliable welding can be stably performed.

突起部10eの平面形状は、特に限定されず、ドット状の突起部10eが線状に配列された形状であっても良いし、周期的に切れ目の入った環状であっても良い。この場合、突起部10e同士の間隔は、Ag等のメッキ層が溶けることによって埋めることができる幅とする。尚、均一な溶接を行う観点からは、突起部10eの平面形状は連続した環状であることが好ましい。また、突起部10eは、図4に示すように1本の環状突起であっても良いし、同心円状に配列された複数本の環状突起であっても良い。また、突起部10eの断面形状は、特に限定されず、矩形、半円形、三角形、台形等にすることができる。好ましくは、突起部10eを図4に示すような台形断面とすることにより、ある程度の接合面積を確保しながら、電流を接合部に効率良く集中させて安定した溶接を行うことができる。   The planar shape of the protruding portion 10e is not particularly limited, and may be a shape in which the dot-shaped protruding portions 10e are arranged in a line, or may be an annular shape having periodic cuts. In this case, the interval between the protrusions 10e is set to a width that can be filled by melting a plating layer such as Ag. From the viewpoint of performing uniform welding, the planar shape of the protrusion 10e is preferably a continuous ring. Further, the protrusion 10e may be a single annular protrusion as shown in FIG. 4 or a plurality of annular protrusions arranged concentrically. Moreover, the cross-sectional shape of the protrusion part 10e is not specifically limited, It can be made into a rectangle, a semicircle, a triangle, a trapezoid, etc. Preferably, the protrusion 10e has a trapezoidal cross section as shown in FIG. 4, so that stable welding can be performed by efficiently concentrating the current on the joint while securing a certain joint area.

突起部10eの幅は、特に限定されないが、狭過ぎては突起部の機械的強度が不足し、広過ぎては電流が十分に集中しない。従って、突起部10eの幅は、
0.05mm以上、より好ましくは0.1mm以上であることが望ましく、0.5mm以下、より好ましくは0.3mm以下とすることが望ましい。また、突起部10eの高さは、特に限定されないが、低過ぎては金属パッケージ10が突起部10e以外でリッド12が接触し易くなり、高過ぎては突起部10eが部分的につぶれ易くなる。従って、突起部10eの高さは、0.01mm以上、より好ましくは0.05mm以上であることが望ましく、0.15mm以下、より好ましくは0.1mm以下とすることが望ましい。
The width of the protrusion 10e is not particularly limited, but if it is too narrow, the mechanical strength of the protrusion is insufficient, and if it is too wide, the current does not concentrate sufficiently. Therefore, the width of the protrusion 10e is
It is desirable that it is 0.05 mm or more, more preferably 0.1 mm or more, 0.5 mm or less, more preferably 0.3 mm or less. Further, the height of the protrusion 10e is not particularly limited. However, if the height is too low, the metal package 10 is likely to come into contact with the lid 12 other than the protrusion 10e. If the height is too high, the protrusion 10e is likely to be partially collapsed. . Therefore, the height of the protrusion 10e is desirably 0.01 mm or more, more preferably 0.05 mm or more, and desirably 0.15 mm or less, more preferably 0.1 mm or less.

(保護ダイオード4、台座電極22)
次に、金属パッケージ10内の保護ダイオード4について、図1及び図2を参照しながら説明する。保護ダイオード4は、例えば、ツェナーダイオードから成り、発光素子4を静電放電(Electrostatic Discharge、以下「ESD」)から保護する役割を果たす。即ち、保護ダイオード4は、発光素子2と並列接続されることにより、ESDによって発光素子2に大きな逆方向電圧が加わった際の電流を逃がす役割を果たして、発光素子2を保護する。一般的な保護ダイオード4では、正電極と負電極が、各々、基板の表面と裏面に形成されている。従って、保護ダイオード4を単純に金属パッケージ10に設置すると、導電性を持つ金属パッケージ10自身が極性を持つことになってしまう。金属パッケージ10は、放熱を容易にするために実装用基板内で空気が循環し易い位置に設置される場合が多く、人が触れ易い。従って、金属パッケージ10が極性を持つことは避ける必要がある。
(Protective diode 4, pedestal electrode 22)
Next, the protection diode 4 in the metal package 10 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. The protection diode 4 is formed of, for example, a Zener diode, and serves to protect the light emitting element 4 from electrostatic discharge (hereinafter referred to as “ESD”). That is, the protection diode 4 is connected in parallel with the light emitting element 2, thereby protecting the light emitting element 2 by releasing a current when a large reverse voltage is applied to the light emitting element 2 by ESD. In a general protection diode 4, a positive electrode and a negative electrode are formed on the front surface and the back surface of the substrate, respectively. Therefore, if the protective diode 4 is simply installed in the metal package 10, the conductive metal package 10 itself has polarity. The metal package 10 is often installed at a position where air can easily circulate in the mounting substrate in order to facilitate heat dissipation, and is easy to touch. Therefore, it is necessary to avoid that the metal package 10 has polarity.

そこで、本実施の形態では、図2に示すように、金属パッケージ10内に形成した貫通孔の内部に、硬質ガラス等の絶縁部材20を介して、Fe、Ni等の金属、例えば、Fe50%とNi50%の合金から成る導電性台座22を形成し、その導電性台座22の上面に保護ダイオード4の裏面電極を導電性接合剤によって接合する。そして、保護ダイオード4の表面電極とリード電極18の間、及び、導電性台座22の上面とリード電極20の間を金線等のワイヤー6によって結線することにより、保護ダイオード4と発光素子2を並列接続することができる。このような方法で保護ダイオード4を設置することにより、金属パッケージ10自身が極性を持つことを防止できる。   Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 2, a metal such as Fe or Ni, for example, Fe 50%, is inserted into the through hole formed in the metal package 10 through an insulating member 20 such as hard glass. A conductive pedestal 22 made of an alloy of Ni and Ni 50% is formed, and the back electrode of the protective diode 4 is bonded to the upper surface of the conductive pedestal 22 with a conductive bonding agent. Then, the protective diode 4 and the light emitting element 2 are connected by connecting a wire 6 such as a gold wire between the surface electrode of the protective diode 4 and the lead electrode 18 and between the upper surface of the conductive base 22 and the lead electrode 20. Can be connected in parallel. By installing the protection diode 4 in this way, it is possible to prevent the metal package 10 itself from having a polarity.

保護ダイオード4を設置する台座22は、その上面に凹部22aが形成されていることが好ましい。これによって、図2に示すように、凹部22a内に保護ダイオード4を設置して全体の高さを抑えながら、凹部22aよりも外側の台座22上面でワイヤーボンディングを行うことにより、ワイヤーが金属パッケージ10と接触する等の問題を防止することができる。   The pedestal 22 on which the protection diode 4 is installed preferably has a recess 22a formed on the upper surface thereof. Accordingly, as shown in FIG. 2, the protective diode 4 is installed in the recess 22a to suppress the overall height, and wire bonding is performed on the upper surface of the pedestal 22 outside the recess 22a, whereby the wire is packaged in a metal package. Problems such as contact with 10 can be prevented.

台座電極22は、2つのリード電極16及び18の中心同士を結ぶ線分を中心として発光素子2の逆側であって、かつ、リード電極16及び18のほぼ中間に配置することが好ましい。このように配置することによって、保護ダイオード4と発光素子2を並列に結ぶワイヤー6の長さが均等になり、ワイヤー切れ等の不良発生を防止することができる。   The pedestal electrode 22 is preferably disposed on the opposite side of the light emitting element 2 around the line connecting the centers of the two lead electrodes 16 and 18 and substantially in the middle of the lead electrodes 16 and 18. By arranging in this way, the lengths of the wires 6 that connect the protective diode 4 and the light emitting element 2 in parallel are made uniform, and occurrence of defects such as wire breakage can be prevented.

また、台座22が金属パッケージ10を貫通し、台座電極22の底面が、リード電極16及び18や金属パッケージの脚部10bと同一の高さとなっていることが好ましい。このような形状にすることにより、発光装置を実装用基板に実装した時に、台座電極22と実装用基板が接触するようになり、台座電極22からも通電を行うことが可能となる。また、保護ダイオード4からの放熱性も向上する。   Further, it is preferable that the pedestal 22 penetrates the metal package 10 and the bottom surface of the pedestal electrode 22 has the same height as the lead electrodes 16 and 18 and the leg portion 10b of the metal package. With such a shape, when the light emitting device is mounted on the mounting substrate, the pedestal electrode 22 and the mounting substrate come into contact with each other, and the pedestal electrode 22 can be energized. Moreover, the heat dissipation from the protective diode 4 is also improved.

尚、本実施の形態では、発光素子を静電破壊から保護するための保護ダイオードを設ける場合について説明したが、ここで説明した台座電極を用いる構成は、保護ダイオード以外の機能補助素子を設ける場合にも適用できる。例えば、発光素子であるレーザの光をモニタするためのフォトディテクタをパッケージ内に収納する場合、金属パッケージ内に絶縁部材を介して台座電極を形成し、その台座電極上にフォトディテクタを設置することができる。   In this embodiment, the case where a protective diode for protecting the light emitting element from electrostatic breakdown is described. However, the configuration using the pedestal electrode described here includes a function auxiliary element other than the protective diode. It can also be applied to. For example, when a photodetector for monitoring the light of a laser that is a light emitting element is housed in a package, a pedestal electrode can be formed in the metal package via an insulating member, and the photodetector can be placed on the pedestal electrode. .

(矩形パターン24)
図1に示すように、本実施の形態に係る金属パッケージ10には、その表面に矩形のパターン24が形成されている。図5(a)及び(b)は、矩形パターン24を部分的に拡大した上面図及び断面図である。この矩形パターン24は、金属パッケージ10に発光素子チップ2をダイボンドする際に、金属パッケージ内の位置を自動認識するためのマーカとなる。金属パッケージは、表面の光反射率の高いため、一般的な十字状の突起部を形成してもコントラスト不足のために自動認識されにくい。そこで、本実施の形態では、図5(a)に示すように矩形形状で、かつ、図5(b)に示すような断面V字状の凹部とすることにより、自動認識を容易にする。即ち、矩形であるため自動認識し易く、かつ、断面V字状の凹部であることによって凹部内とその周囲とにコントラストが付き易くなる。従って、金属パッケージ10の表面の光反射率が高い場合であっても、その位置を容易に自動認識することができる。
(Rectangular pattern 24)
As shown in FIG. 1, a rectangular pattern 24 is formed on the surface of the metal package 10 according to the present embodiment. 5A and 5B are a top view and a cross-sectional view in which the rectangular pattern 24 is partially enlarged. The rectangular pattern 24 serves as a marker for automatically recognizing the position in the metal package when the light emitting element chip 2 is die-bonded to the metal package 10. Since the metal package has a high light reflectance on the surface, even if a general cross-shaped protrusion is formed, it is difficult to be automatically recognized due to insufficient contrast. Therefore, in this embodiment, automatic recognition is facilitated by forming a concave portion having a rectangular shape as shown in FIG. 5A and a V-shaped cross section as shown in FIG. That is, since it is rectangular, it is easy to recognize automatically, and since it is a recess having a V-shaped cross section, it is easy to give contrast between the inside of the recess and its periphery. Therefore, even when the light reflectance of the surface of the metal package 10 is high, the position can be easily recognized automatically.

(凹部10a)
図1乃至3に示すように、発光素子2は、金属パッケージ10の中央に設けられた凹部10a内に設置されており、凹部10aの底面を介して実装用基板に放熱することになる。発光素子2の放熱性及びパッケージの小型化を考慮すると、金属パッケージは熱伝導の容易な薄肉で形成されることが好ましい。一方、パッケージ10と絶縁部材20との熱膨張率等の差による応力を抑えるには、金属パッケージ10は厚肉で形成されることが好ましい。そこで本実施の形態では、発光素子が配置される凹部10aの底面を薄肉に形成し、絶縁部材20を介してリード電極や台座電極を固定する周辺部を厚肉に形成している。
(Recess 10a)
As shown in FIGS. 1 to 3, the light emitting element 2 is installed in a recess 10a provided in the center of the metal package 10, and radiates heat to the mounting substrate through the bottom surface of the recess 10a. In consideration of the heat dissipation of the light emitting element 2 and the downsizing of the package, the metal package is preferably formed with a thin wall that is easy to conduct heat. On the other hand, in order to suppress the stress due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the package 10 and the insulating member 20, the metal package 10 is preferably formed with a thick wall. Therefore, in the present embodiment, the bottom surface of the recess 10a in which the light emitting element is disposed is formed thin, and the peripheral portion for fixing the lead electrode and the pedestal electrode via the insulating member 20 is formed thick.

これにより、薄肉である凹部10aの底面と厚肉である周辺部とに熱抵抗差を設けることができ、効率よく凹部10aの底面より放熱することができる。凹部10aの底面の膜厚は、0.05mm〜0.2mmが好ましく、より好ましくは0.05mm〜0.1mmである。このように設定された凹部底面は、熱抵抗が低く好ましい。尚、凹部10aの周辺部の厚みは0.3mm〜1.0mmが好ましく、より好ましくは0.5mm〜1.0mmである。0.3mmより薄い場合、パッケージ全体の強度が低下してしまう。またリッドとの溶接時に起こる応力歪により溶接界面にクラックが生じる恐れがある。また1.0mm以上の膜厚にすると、前記溶接界面にパルス電流が伝わりにくくなり、シールが不完全になる恐れがある。また発光装置が厚型化するとともにコストが高くなる。   Accordingly, a difference in thermal resistance can be provided between the bottom surface of the thin concave portion 10a and the thick peripheral portion, and heat can be efficiently radiated from the bottom surface of the concave portion 10a. The thickness of the bottom surface of the recess 10a is preferably 0.05 mm to 0.2 mm, more preferably 0.05 mm to 0.1 mm. The bottom surface of the recess set in this way is preferable because of its low thermal resistance. In addition, as for the thickness of the peripheral part of the recessed part 10a, 0.3 mm-1.0 mm are preferable, More preferably, they are 0.5 mm-1.0 mm. When it is thinner than 0.3 mm, the strength of the entire package is lowered. In addition, cracks may occur at the weld interface due to stress strain that occurs during welding with the lid. On the other hand, when the film thickness is 1.0 mm or more, it is difficult for a pulse current to be transmitted to the welding interface, which may result in incomplete sealing. In addition, the light emitting device becomes thicker and the cost increases.

また、凹部10aは、リード電極16及び18と対向する部分に切欠部を有していることが好ましい。即ち、図1及び図3に示すように、凹部10aがリード電極16及び18と対向する部分については、凹部10aの側壁の高さが他の部分よりも低くなるように形成されている。このことにより、凹部10aの底面に設置する発光素子2とリード電極16及び18とをワイヤー6にて接続する際に、ワイヤー6が金属パッケージ10とショートすることを防止することができる。   Moreover, it is preferable that the recessed part 10a has a notch part in the part facing the lead electrodes 16 and 18. FIG. That is, as shown in FIGS. 1 and 3, the portion of the recess 10 a facing the lead electrodes 16 and 18 is formed such that the height of the side wall of the recess 10 a is lower than the other portions. Accordingly, it is possible to prevent the wire 6 from being short-circuited with the metal package 10 when the light emitting element 2 installed on the bottom surface of the recess 10 a and the lead electrodes 16 and 18 are connected by the wire 6.

凹部10aは、発光装置の中央部に位置することが好ましく、これにより良好な指向特性が得られる。また、凹部10aは、発光素子2の少なくとも発光層までが凹部内に収納されるだけの深さを有しており、かつ、凹部10aの内側壁は、上広がりの傾斜面となっていることが好ましい。このことにより、発光素子2の四方側面から発光された光を凹部内壁で反射して正面方向に取出すことができる。従って、特に窒化物半導体からなる発光素子にみられる発光ムラや色むらを改善することができる。また、凹部10aの内側壁が上広がりの傾斜面となっていると、凹部10aから外側に向かって肉厚がテーパ状に厚くなる。これにより、凹部10aの底面と周辺部との熱抵抗差が大きくなり、さらに放熱性も向上する。   The recess 10a is preferably located at the center of the light-emitting device, whereby good directivity can be obtained. Further, the recess 10a has a depth that allows at least the light emitting layer of the light emitting element 2 to be accommodated in the recess, and the inner wall of the recess 10a is an upwardly inclined surface. Is preferred. Thereby, the light emitted from the four side surfaces of the light emitting element 2 can be reflected by the inner wall of the recess and taken out in the front direction. Accordingly, it is possible to improve unevenness in light emission and color unevenness particularly seen in a light emitting element made of a nitride semiconductor. Further, if the inner wall of the recess 10a is an inclined surface that spreads upward, the thickness increases from the recess 10a to the outside in a tapered shape. Thereby, the difference in thermal resistance between the bottom surface and the peripheral portion of the recess 10a is increased, and the heat dissipation is further improved.

一方、金属パッケージ10の底面側から見ると、凹部10aの裏側は、凸形状となっており、その凸形状と脚部10bやリード電極16及び18との間に溝が形成されている。これにより、実装基板に実装する際、各リード電極間で短絡が生じることを防止することができ、信頼性高く良好に実装することが可能となる。溝がない場合、前記リード底面に付着される半田が隣接するベース部等に付着し各電極間の絶縁が取れなくなりショートしてしまう恐れがある。   On the other hand, when viewed from the bottom surface side of the metal package 10, the back side of the concave portion 10 a has a convex shape, and a groove is formed between the convex shape and the leg portion 10 b and the lead electrodes 16 and 18. Thereby, when mounting on a mounting board, it can prevent that a short circuit arises between each lead electrode, and it becomes possible to mount reliably and favorably. If there is no groove, the solder attached to the bottom surface of the lead may adhere to the adjacent base portion and the like, and insulation between the electrodes cannot be taken, resulting in a short circuit.

凹部10aは、例えば金属平板に絞り加工を施すことにより構成される。本実施の形態では、金属平板の主面方向から絞り加工を施して金属を背面方向に流し凹部を形成する。この流れた金属が凹部底面の一部となるように構成することで、実装面の面積を大きくすることができるとともに、凹部側面の底面側の膜厚を厚くすることができる。   The concave portion 10a is configured, for example, by drawing a metal flat plate. In the present embodiment, the metal plate is drawn from the main surface direction of the metal flat plate to flow the metal in the back surface direction to form the recess. By configuring the flowing metal to be a part of the bottom surface of the recess, the area of the mounting surface can be increased, and the film thickness on the bottom surface side of the side surface of the recess can be increased.

尚、凹部10a内の発光素子2を、発光素子2の光出射面を構成する材料よりも屈折率の小さな透光性部材で被覆すると、発光素子2とその外側との光屈折率差が緩和されるため、光の取り出し効率が向上され好ましい。また、蛍光体等の波長変換材料を用いて発光素子の波長を変換させる場合、発光素子2を被覆する透光性部材内に蛍光体を分散させても良い。本発明に用いられる金属パッケージは、特に発光素子が配置される凹部の放熱性が優れているため、発光素子2を覆う透光性部材は、無機物に限らず有機物を用いることも可能である。大電流投下を行った場合でも有機物から成る透光性部材の劣化はほとんどおこらず、良好な光学特性が得られる。   If the light emitting element 2 in the recess 10a is covered with a light-transmitting member having a refractive index smaller than that of the material constituting the light emitting surface of the light emitting element 2, the difference in the light refractive index between the light emitting element 2 and the outside thereof is reduced. Therefore, the light extraction efficiency is improved, which is preferable. In addition, when the wavelength of the light emitting element is converted using a wavelength conversion material such as a phosphor, the phosphor may be dispersed in the translucent member that covers the light emitting element 2. Since the metal package used in the present invention is particularly excellent in heat dissipation of the concave portion in which the light emitting element is disposed, the translucent member covering the light emitting element 2 is not limited to an inorganic substance, and an organic substance can also be used. Even when a large current is applied, the light-transmitting member made of an organic material hardly deteriorates, and good optical characteristics can be obtained.

(リード電極16及び18、脚部10b)
図1及び図3に示すように、金属パッケージ10は、発光素子を収納するための凹部10aの周辺部に、厚さ方向に貫通された貫通孔を2つ有し、それぞれの貫通孔内には、絶縁部材20である硬質ガラスを介して正及び負のリード電極16及び18がそれぞれ挿入されている。2つのリード電極16及び18は、発光素子2と三角形を構成するように、パッケージ10の片側に寄せて配置されている。そして、発光素子2を中心として、2つのリード電極16及び18の逆側には、金属パッケージ10の一部が底面から突出した脚部10bが形成されている。リード電極16及び18と2つの脚部10bは、凹部10aの底面及び前述した保護ダイオード用台座電極22の底面と略同一平面上に位置しており、半導体装置が実装用基板に実装される際の実装面を形成している。
(Lead electrodes 16 and 18, leg 10b)
As shown in FIGS. 1 and 3, the metal package 10 has two through holes penetrating in the thickness direction in the periphery of the recess 10 a for accommodating the light emitting element, and each of the through holes has a through hole. The positive and negative lead electrodes 16 and 18 are inserted through the hard glass which is the insulating member 20, respectively. The two lead electrodes 16 and 18 are arranged close to one side of the package 10 so as to form a triangle with the light emitting element 2. A leg portion 10b in which a part of the metal package 10 protrudes from the bottom surface is formed on the opposite side of the two lead electrodes 16 and 18 with the light emitting element 2 as the center. The lead electrodes 16 and 18 and the two leg portions 10b are located on substantially the same plane as the bottom surface of the recess 10a and the bottom surface of the protection diode pedestal electrode 22 described above, and when the semiconductor device is mounted on the mounting substrate. The mounting surface is formed.

ここで、正及び負のリード電極は、少なくとも一方をベース部の貫通孔内に絶縁体を介して挿入し、他方のリード電極を金属パッケージと一体成形することもできる。このように構成すると、金属パッケージが極性を持ってしまう点では好ましくないが、熱発生源であるパッケージ凹部の発光素子配置面から一方のリード電極まで絶縁体を有さず連続した材料にて構成できるため、放熱性が向上する。尚、脚部10bは、例えば金属パッケージ10の主面側からプレス加工を施して背面側へ金属の一部を流すことにより容易に形成することができる。   Here, at least one of the positive and negative lead electrodes can be inserted into the through hole of the base portion via an insulator, and the other lead electrode can be integrally formed with the metal package. This configuration is not preferable in that the metal package has polarity, but it is made of a continuous material without an insulator from the light emitting element placement surface of the package recess that is a heat generation source to one lead electrode. This improves heat dissipation. In addition, the leg part 10b can be easily formed, for example by giving a press work from the main surface side of the metal package 10, and flowing a part of metal to the back side.

(金属パッケージ10の材質)
リード電極及び金属パッケージの熱伝導率はそれぞれ、10W/m・K以上100W/m・K以下の範囲であることが好ましく、より好ましくは15W/m・K以上80W/m・K以下、更に好ましくは15W/m・K以上50W/m・K以下である。信頼性を維持しながら大電流を長時間投下することが可能な発光装置が得られる。 またそれぞれの熱膨張率は、0.05×10−4/deg以上0.20×10−4/deg以下の範囲であることが好ましい。
(Material of metal package 10)
The thermal conductivity of the lead electrode and the metal package is preferably in the range of 10 W / m · K to 100 W / m · K, more preferably 15 W / m · K to 80 W / m · K, still more preferably Is 15 W / m · K or more and 50 W / m · K or less. A light emitting device capable of supplying a large current for a long time while maintaining reliability can be obtained. Each coefficient of thermal expansion is preferably in the range of 0.05 × 10 −4 / deg to 0.20 × 10 −4 / deg.

金属パッケージの熱膨張率は、前記絶縁部材の熱膨張率と同様の値か、若しくは大きい値であることが好ましい。前者の場合、互いの部材が破損されることなく熱密着させることができる。また後者の場合、これらの熱膨張率の差が0.01×10−4/deg以下であれば、互いの接触面積を出来るだけ大きくすることで熱膨張率の差による破損を回避しつつ前記熱膨張率の差の効果によりほどよく金属パッケージが貫通孔の内部方向に収縮され、前記貫通孔の内壁に基材の酸化膜を設けなくても、前記金属パッケージと前記絶縁部材とを密着させることができる。これにより、作業工程が簡略化され生産性が良好な発光措置が得られる。 The thermal expansion coefficient of the metal package is preferably a value that is the same as or larger than the thermal expansion coefficient of the insulating member. In the former case, the members can be brought into thermal contact with each other without being damaged. In the latter case, if the difference in thermal expansion coefficient is 0.01 × 10 −4 / deg or less, the contact area is increased as much as possible to avoid breakage due to the difference in thermal expansion coefficient. The metal package is moderately shrunk in the inner direction of the through hole due to the effect of the difference in thermal expansion coefficient, and the metal package and the insulating member are brought into close contact with each other without providing a base oxide film on the inner wall of the through hole. be able to. Thereby, the work process is simplified, and a light emission measure with good productivity is obtained.

また、金属パッケージの基材は、強い強度を有することが好ましく、これにより薄型のパッケージを信頼性高く形成することができる。金属パッケージの好ましい基材として、コバール、鉄などが挙げられる。コバールとはFe−Ni−Co合金であり、絶縁部材に用いられる低融点ガラスと近似の熱膨張率を有するので良好に気密封止を行うことができる。   Moreover, it is preferable that the base material of a metal package has strong intensity | strength, and can thereby form a thin package with high reliability. Examples of a preferable base material for the metal package include kovar and iron. Kovar is an Fe—Ni—Co alloy and has a thermal expansion coefficient close to that of low-melting glass used for an insulating member, and thus can be hermetically sealed.

金属パッケージ10の最表面にはAg、Al、Rh、Au等のメッキを施すことが好ましい。このように構成すると、パッケージ表面の光反射散乱率が向上される他、前述したように、Ag等のメッキ層が溶接用ろう材となり、発光素子、ワイヤ、及びリッドと、金属パッケージ本体との密着性が向上される。更に、発光素子からの光が照射されるパッケージの主面側はAg層を光沢にメッキし、他の部材との密着性を高めたい部分のみのAg層を無光沢にメッキすると、これらの効果は一層顕著になる。   The outermost surface of the metal package 10 is preferably plated with Ag, Al, Rh, Au or the like. With this configuration, the light reflection / scattering rate of the package surface is improved, and as described above, the plating layer of Ag or the like serves as a brazing material for welding, and the light emitting element, the wire and the lid, and the metal package body Adhesion is improved. Further, when the main surface side of the package irradiated with light from the light emitting element is plated with an Ag layer glossy, and only the portion of the Ag layer that is desired to improve adhesion to other members is plated with a matte surface, these effects are obtained. Becomes even more prominent.

(リッド12、透光性窓材14)
本実施の形態において、リッド12には、透光性窓材14が嵌めこまれている。透光性窓材14は、凹部10aに配置された発光素子2の上面に位置しており、凹部12aの内壁の延長線と交わるだけの面積を有している。従って、凹部10aの側面にて反射散乱された光を有効に取り出すことができる。
(Lid 12, translucent window material 14)
In the present embodiment, a translucent window material 14 is fitted into the lid 12. The translucent window member 14 is located on the upper surface of the light emitting element 2 disposed in the recess 10a, and has an area that intersects with an extension line of the inner wall of the recess 12a. Therefore, the light reflected and scattered by the side surface of the recess 10a can be effectively extracted.

リッド12の基材は、パッケージ10本体及び窓部の透光性部材14と熱膨張係数が近似していることが好ましい。また、リッド12の材質の表面は基材の保護膜としてNi、Au等のメッキ層を有することが好ましい。例えば、カーボン製の封着治具を用いて、リッド12本体に形成された開口部内にタブレット状のガラスを配置し、通炉させることによりガラス14とリッド12とを気密絶縁的に封着させることができる。   The base material of the lid 12 is preferably similar in thermal expansion coefficient to the translucent member 14 of the package 10 body and window portion. Moreover, it is preferable that the surface of the material of the lid 12 has a plating layer of Ni, Au or the like as a protective film for the substrate. For example, using a carbon sealing jig, a tablet-like glass is placed in an opening formed in the lid 12 body, and the glass 14 and the lid 12 are hermetically sealed by passing through a furnace. be able to.

リッド12の形状は、パッケージ10と密接可能な滑らかな平面を有し、且つ、パッケージ10を気密封止できれば特に限定されるものではない。中央部が凸形状のリッド12を用いると、透光性窓材14の背面に色変換部材を良好にバインダーさせることができ、歩留まり良く発光装置を形成することができる。また、凸形状のリッド12に柔軟性を有する部材を注入し、金属パッケージに電気的に接続された発光素子を挿入して一体化させると、耐熱応力に優れた発光装置が得られる。   The shape of the lid 12 is not particularly limited as long as it has a smooth flat surface that can be in close contact with the package 10 and the package 10 can be hermetically sealed. When the lid 12 having a convex center portion is used, the color conversion member can be satisfactorily bonded to the back surface of the light-transmissive window member 14, and a light emitting device can be formed with a high yield. Moreover, when a flexible member is injected into the convex lid 12 and a light emitting element electrically connected to the metal package is inserted and integrated, a light emitting device having excellent heat stress can be obtained.

更に、透光性窓部材14を曲線を帯びたレンズ形状とすると、光の収束が良好となり、正面方向の光度が高い発光装置が得られる。例えば、青色LEDチップ2が載置された金属パッケージ10に、指向角が45度程度に設定され且つ背面に前記青色の光の一部を吸収し黄色の光を発光する蛍光物質を固着されてなる砲弾側レンズを透光性窓材14として載置すると、これらの混色により高輝度に白色ビームを発光することが可能な小型化発光装置が得られる。このような発光装置は、携帯電話等の小型機械に備えられた描写機能に必要とされるフラッシュの用途に用いることができる。   Furthermore, when the translucent window member 14 has a curved lens shape, the light convergence is good and a light emitting device having a high brightness in the front direction can be obtained. For example, a fluorescent material that has a directivity angle set to about 45 degrees and absorbs part of the blue light and emits yellow light is fixed to the metal package 10 on which the blue LED chip 2 is mounted. When the shell-side lens is mounted as the translucent window member 14, a miniaturized light emitting device capable of emitting a white beam with high luminance by mixing these colors can be obtained. Such a light-emitting device can be used for a flash application required for a drawing function provided in a small machine such as a mobile phone.

(発光素子2)
本発明において発光素子2は特に限定されないが、蛍光物質を用いた場合、該蛍光物質を励起可能な発光波長を発光できる発光層を有する半導体発光素子が好ましい。このような半導体発光素子としてZnSeやGaNなど種々の半導体を挙げることができるが、蛍光物質を効率良く励起できる短波長が発光可能な窒化物半導体(InAlGa1−X−YN、0≦X、0≦Y、X+Y≦1)が好適に挙げられる。また所望に応じて、前記窒化物半導体にボロンやリンを含有させることも可能である。半導体の構造としては、MIS接合、PIN接合やpn接合などを有するホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成のものが挙げられる。半導体層の材料やその混晶度によって発光波長を種々選択することができる。また、半導体活性層を量子効果が生ずる薄膜に形成させた単一量子井戸構造や多重量子井戸構造とすることもできる。
(Light emitting element 2)
In the present invention, the light-emitting element 2 is not particularly limited. However, when a fluorescent material is used, a semiconductor light-emitting element having a light-emitting layer capable of emitting an emission wavelength capable of exciting the fluorescent material is preferable. Examples of such a semiconductor light emitting device include various semiconductors such as ZnSe and GaN. Nitride semiconductors (In X Al Y Ga 1- XYN, Preferred examples include 0 ≦ X, 0 ≦ Y, and X + Y ≦ 1). If desired, the nitride semiconductor may contain boron or phosphorus. Examples of the semiconductor structure include a homostructure having a MIS junction, a PIN junction, and a pn junction, a heterostructure, or a double heterostructure. Various emission wavelengths can be selected depending on the material of the semiconductor layer and the degree of mixed crystal. In addition, a single quantum well structure or a multiple quantum well structure in which the semiconductor active layer is formed in a thin film in which a quantum effect is generated can be used.

窒化物半導体を使用した場合、半導体用基板にはサファイヤ、スピネル、SiC、Si、ZnO、およびGaN等の材料が好適に用いられる。結晶性の良い窒化物半導体を量産性よく形成させるためにはサファイヤ基板を用いることが好ましい。このサファイヤ基板上にMOCVD法などを用いて窒化物半導体を形成させることができる。サファイア基板上にGaN、AlN、GaAIN等のバッファー層を形成しその上にpn接合を有する窒化物半導体を形成させる。   When a nitride semiconductor is used, materials such as sapphire, spinel, SiC, Si, ZnO, and GaN are preferably used for the semiconductor substrate. In order to form a nitride semiconductor with good crystallinity with high productivity, it is preferable to use a sapphire substrate. A nitride semiconductor can be formed on the sapphire substrate by MOCVD or the like. A buffer layer made of GaN, AlN, GaAIN or the like is formed on the sapphire substrate, and a nitride semiconductor having a pn junction is formed thereon.

窒化物半導体を使用したpn接合を有する発光素子例として、バッファ層上に、n型窒化ガリウムで形成した第1のコンタクト層、n型窒化アルミニウム・ガリウムで形成させた第1のクラッド層、窒化インジウム・ガリウムで形成した活性層、p型窒化アルミニウム・ガリウムで形成した第2のクラッド層、p型窒化ガリウムで形成した第2のコンタクト層を順に積層させたダブルへテロ構成などが挙げられる。   As an example of a light emitting device having a pn junction using a nitride semiconductor, a first contact layer formed of n-type gallium nitride, a first cladding layer formed of n-type aluminum nitride / gallium, and a nitride layer on a buffer layer Examples include a double hetero structure in which an active layer formed of indium gallium, a second cladding layer formed of p-type aluminum nitride / gallium, and a second contact layer formed of p-type gallium nitride are sequentially stacked.

窒化物半導体は、不純物をドープしない状態でn型導電性を示す。発光効率を向上させるなど所望のn型窒化物半導体を形成させる場合は、n型ドーパントとしてSi、Ge、Se、Te、C等を適宜導入することが好ましい。一方、p型窒化物半導体を形成させる場合は、p型ドーパントであるZn、Mg、Be、Ca、Sr、Ba等をドープさせる。窒化物半導体は、p型ドーパントをドープしただけではp型化しにくいためp型ドーパント導入後に、炉による加熱やプラズマ照射等により低抵抗化させることが好ましい。電極形成後、半導体ウエハーからチップ状にカットさせることで窒化物半導体からなる発光素子を形成させることができる。   Nitride semiconductors exhibit n-type conductivity without being doped with impurities. When forming a desired n-type nitride semiconductor, for example, to improve luminous efficiency, it is preferable to appropriately introduce Si, Ge, Se, Te, C, etc. as an n-type dopant. On the other hand, when forming a p-type nitride semiconductor, the p-type dopants such as Zn, Mg, Be, Ca, Sr, and Ba are doped. Since nitride semiconductors are not easily converted to p-type by simply doping with a p-type dopant, it is preferable to reduce resistance by heating in a furnace or plasma irradiation after introducing the p-type dopant. After the electrodes are formed, a light emitting element made of a nitride semiconductor can be formed by cutting the semiconductor wafer into chips.

本発明の発光素子において、白色系を発光させるには、蛍光物質からの発光波長との補色関係や透光性樹脂の劣化等を考慮して、発光素子の発光波長は400nm以上530nm以下が好ましく、420nm以上490nm以下がより好ましい。発光素子と蛍光物質との励起、発光効率をそれぞれより向上させるためには、450nm以上475nm以下がさらに好ましい。   In the light emitting device of the present invention, in order to emit white light, the emission wavelength of the light emitting device is preferably 400 nm or more and 530 nm or less in consideration of the complementary color relationship with the emission wavelength from the fluorescent material, the deterioration of the translucent resin, and the like. 420 nm or more and 490 nm or less is more preferable. In order to further improve the excitation and emission efficiency of the light emitting element and the fluorescent material, 450 nm or more and 475 nm or less are more preferable.

なお本発明では、パッケージ本体は金属のみにて構成されているため紫外線による構成部材の劣化を抑制することができる。よって、本発明の発光装置に近紫外または紫外線領域を主発光波長とする発光素子を用い、前記発光素子からの光の一部を吸収して他の波長を発光することが可能な蛍光物質とを組み合わせることで、色ムラの少ない色変換型発光装置が得られる。ここで、前記蛍光物質を発光装置にバインダーする際には、比較的紫外線に強い樹脂や無機物であるガラス等を用いることが好ましい。   In the present invention, since the package body is made of only metal, it is possible to suppress deterioration of the constituent members due to ultraviolet rays. Accordingly, the light emitting device of the present invention uses a light emitting element having a main emission wavelength in the near ultraviolet or ultraviolet region, and a fluorescent material capable of absorbing a part of light from the light emitting element and emitting other wavelengths. By combining these, a color conversion light emitting device with little color unevenness can be obtained. Here, when the fluorescent substance is bound to a light emitting device, it is preferable to use a resin that is relatively resistant to ultraviolet rays, glass that is an inorganic substance, or the like.

(蛍光物質)
本発明の発光装置は、発光素子と該発光素子から発光される光の少なくとも一部を吸収し他の光を発光することが可能な蛍光物質とを組み合わせることにより、所望の色調を有する光を得ることができる。また、蛍光物質は、拡散剤や顔料等他の部材と互換性を有しており、またこれらを組み合わせて用いることも可能である。これらの配置例として、リッドの窓部の部材14に、の他物質を含有させてもよいし、窓部14の内部表面にバインダーを用いて蛍光物質等を塗布してもよい。また金属パッケージの凹部内に樹脂等に含有させて配置させてもよい。
(Fluorescent substance)
The light-emitting device of the present invention combines a light-emitting element and a fluorescent material capable of absorbing at least part of light emitted from the light-emitting element and emitting other light, thereby providing light having a desired color tone. Obtainable. In addition, the fluorescent material is compatible with other members such as a diffusing agent and a pigment, and these materials can be used in combination. As an example of these arrangements, the lid window member 14 may contain other substances, or a fluorescent substance or the like may be applied to the inner surface of the window part 14 using a binder. Moreover, you may make it contain in resin etc. and arrange | position in the recessed part of a metal package.

リッドの窓部に直接蛍光物質を含有させるには、例えば、リッド本体に開口部を設け、該開口部にガラスのパウダー状若しくはペレット状のものと粉末の蛍光物質との混合物を配置させ、プレス加工により一括成型させる。これにより蛍光物質含有の窓部が形成される。また、ガラスペーストに蛍光物質を混合したものを配置して焼成しても良い。   In order to contain the fluorescent material directly in the window portion of the lid, for example, an opening is provided in the lid body, a mixture of glass powder or pellets and powder fluorescent material is placed in the opening, and press It is made into a batch by processing. Thereby, the fluorescent substance containing window part is formed. Alternatively, a glass paste mixed with a fluorescent substance may be disposed and fired.

また、リッドの窓部の背面や発光素子の表面にバインダーにて蛍光物質を付着させる場合、前記バインダーの材質は特に限定されず、有機物及び無機物のいずれをも用いることができる。バインダーとして有機物を使用する場合、具体的材料として、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂などの耐候性に優れた透明樹脂が好適に用いられる。特にシリコーン樹脂を用いると信頼性に優れ且つ蛍光物質の分散性を向上させることができ好ましい。またエラストマー状またはゲル状の部材を用いると、耐熱応力に優れた発光装置が得られる。   In addition, when a fluorescent material is attached to the back surface of the lid window or the surface of the light emitting element with a binder, the material of the binder is not particularly limited, and either an organic material or an inorganic material can be used. When an organic substance is used as the binder, a transparent resin excellent in weather resistance such as an epoxy resin, an acrylic resin, or a silicone resin is suitably used as a specific material. In particular, it is preferable to use a silicone resin because it is excellent in reliability and can improve the dispersibility of the fluorescent substance. When an elastomeric or gel-like member is used, a light emitting device having excellent heat stress can be obtained.

また、バインダーとして窓部の熱膨張率と近似である無機物を使用すると、蛍光物質を良好に前記窓部に密着させることができ好ましい。具体的方法として、沈降法やゾル−ゲル法等を用いることができる。例えば、蛍光物質、シラノール(Si(OEt)OH)、及びエタノールを混合してスラリーを形成し、該スラリーをノズルからリッドの窓部に吐出させた後、300℃にて3時間加熱してシラノールをSiOとし、蛍光物質を固着させることができる。 In addition, it is preferable to use an inorganic substance that is close to the thermal expansion coefficient of the window portion as the binder because the fluorescent material can be satisfactorily adhered to the window portion. As a specific method, a precipitation method, a sol-gel method, or the like can be used. For example, a phosphor, silanol (Si (OEt) 3 OH), and ethanol are mixed to form a slurry, and the slurry is discharged from a nozzle to a lid window, and then heated at 300 ° C. for 3 hours. silanol and SiO 2, it is possible to fix the fluorescent substance.

また、無機物である結着剤をバインダーとして用いることもできる。結着剤とは、いわゆる低融点ガラスであり、微細な粒子であり且つ紫外から可視領域のふく射線に対して吸収が少なくバインダー中にて極めて安定であることが好ましく、沈殿法により得られた細かい粒子であるアルカリ土類のほう酸塩が適している。   Further, an inorganic binder can be used as a binder. The binder is a so-called low-melting glass, is a fine particle and is preferably very stable in the binder with little absorption with respect to radiation from the ultraviolet to the visible region, and was obtained by a precipitation method. Alkaline earth borates, which are fine particles, are suitable.

また、大きい粒径を有する蛍光物質を付着させる場合、融点が高くても粒子が超微粉体である結着剤、例えば、デグサ製のシリカ、アルミナ、あるいは沈殿法で得られる細かい粒度のアルカリ土類金属のピロりん酸塩、正りん酸塩などを使用することが好ましい。これらの結着剤は、単独、若しくは互いに混合して用いることができる。   In addition, when attaching a fluorescent substance having a large particle size, a binder whose particle is an ultrafine powder even if the melting point is high, such as silica, alumina made by Degussa, or a fine particle size alkali obtained by a precipitation method It is preferred to use earth metal pyrophosphates, orthophosphates and the like. These binders can be used alone or mixed with each other.

蛍光物質としては、例えば、窒化物系半導体を発光層とする半導体発光素子から発光された光を励起させて発光できるセリウムで付活されたイットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光物質をベースとした蛍光物質を用いることができる。具体的なイットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光物質としては、YAlO:Ce、YAl12:Ce(YAG:Ce)やYAl:Ce、更にはこれらの混合物などが挙げられる。イットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光物質にBa、Sr、Mg、Ca、Znの少なくとも一種が含有されていてもよい。また、Siを含有させることによって、結晶成長の反応を抑制し蛍光物質の粒子を揃えることができる。本明細書において、Ceで付活されたイットリウム・アルミニウム酸化物系蛍光物質は特に広義に解釈するものとし、イットリウムの一部あるいは全体を、Lu、Sc、La、Gd及びSmからなる群から選ばれる少なくとも1つの元素に置換され、あるいは、アルミニウムの一部あるいは全体をBa、Tl、Ga、Inの何れが又は両方で置換され蛍光作用を有する蛍光体を含む広い意味に使用する。 As the fluorescent material, for example, a fluorescent material based on a cerium-activated yttrium-aluminum oxide-based fluorescent material capable of emitting light by exciting light emitted from a semiconductor light emitting device having a nitride semiconductor as a light emitting layer. Can be used. Specific examples of the yttrium / aluminum oxide fluorescent material include YAlO 3 : Ce, Y 3 Al 5 O 12 : Ce (YAG: Ce), Y 4 Al 2 O 9 : Ce, and a mixture thereof. It is done. The yttrium / aluminum oxide fluorescent material may contain at least one of Ba, Sr, Mg, Ca, and Zn. Moreover, by containing Si, the reaction of crystal growth can be suppressed and the particles of the fluorescent material can be aligned. In the present specification, the yttrium / aluminum oxide fluorescent material activated with Ce is to be interpreted in a broad sense, and part or all of yttrium is selected from the group consisting of Lu, Sc, La, Gd and Sm. Or a part or all of aluminum is used in a broad sense including a phosphor having a fluorescent action in which any or both of Ba, Tl, Ga, and In are substituted.

更に詳しくは、一般式(YzGd1-z3Al512:Ce(但し、0<z≦1)で示されるフォトルミネッセンス蛍光体や一般式(Re1-aSma)3Re‘512:Ce(但し、0≦a<1、0≦b≦1、Reは、Y、Gd、La、Scから選択される少なくとも一種、Re’は、Al、Ga、Inから選択される少なくとも一種である。)で示されるフォトルミネッセンス蛍光体である。この蛍光物質は、ガーネット構造(ざくろ石型構造)のため、熱、光及び水分に強く、励起スペクトルのピークを450nm付近にさせることができる。また、発光ピークも、580nm付近にあり700nmまですそを引くブロードな発光スペクトルを持つ。 More specifically, the general formula (Y z Gd 1-z) 3 Al 5 O 12: Ce ( where, 0 <z ≦ 1) photoluminescence phosphor and the general formula represented by (Re 1-a Sm a) 3Re ' 5 O 12 : Ce (where 0 ≦ a <1, 0 ≦ b ≦ 1, Re is at least one selected from Y, Gd, La, and Sc, and Re ′ is selected from Al, Ga, and In At least one kind). Since this fluorescent material has a garnet structure (garnet-type structure), it is resistant to heat, light and moisture, and the peak of the excitation spectrum can be made around 450 nm. In addition, the emission peak is in the vicinity of 580 nm and has a broad emission spectrum that extends to 700 nm.

またフォトルミネセンス蛍光体は、結晶中にGd(ガドリニウム)を含有することにより、460nm以上の長波長域の励起発光効率を高くすることができる。Gdの含有量の増加により、発光ピーク波長が長波長に移動し全体の発光波長も長波長側にシフトする。すなわち、赤みの強い発光色が必要な場合、Gdの置換量を多くすることで達成できる。一方、Gdが増加すると共に、青色光によるフォトルミネセンスの発光輝度は低下する傾向にある。さらに、所望に応じてCeに加えTb、Cu、Ag、Au、Fe、Cr、Nd、Dy、Co、Ni、Ti、Euらを含有させることもできる。   Further, the photoluminescence phosphor can increase the excitation light emission efficiency in a long wavelength region of 460 nm or more by containing Gd (gadolinium) in the crystal. As the Gd content increases, the emission peak wavelength shifts to a longer wavelength, and the entire emission wavelength also shifts to the longer wavelength side. That is, when a strong reddish emission color is required, it can be achieved by increasing the amount of Gd substitution. On the other hand, as Gd increases, the emission luminance of photoluminescence by blue light tends to decrease. Furthermore, in addition to Ce, Tb, Cu, Ag, Au, Fe, Cr, Nd, Dy, Co, Ni, Ti, Eu, and the like can be contained as desired.

しかも、ガーネット構造を持ったイットリウム・アルミニウム・ガーネット(ざくろ石型)系蛍光体の組成のうち、Alの一部をGaで置換することで発光波長が短波長側にシフトする。また、組成のYの一部をGdで置換することで、発光波長が長波長側にシフトする。Yの一部をGdで置換する場合、Gdへの置換を1割未満にし、且つCeの含有(置換)を0.03から1.0にすることが好ましい。Gdへの置換が2割未満では緑色成分が大きく赤色成分が少なくなるが、Ceの含有量を増やすことで赤色成分を補え、輝度を低下させることなく所望の色調を得ることができる。このような組成にすると温度特性が良好となり発光素子の信頼性を向上させることができる。また、赤色成分を多く有するように調整されたフォトルミネセンス蛍光体を使用すると、ピンク等の中間色を発光することが可能な発光装置を形成することができる。   Moreover, in the composition of the yttrium / aluminum / garnet (garnet) phosphor having a garnet structure, the emission wavelength is shifted to the short wavelength side by substituting part of Al with Ga. Further, by substituting part of Y in the composition with Gd, the emission wavelength is shifted to the longer wavelength side. When substituting a part of Y with Gd, it is preferable that the substitution with Gd is less than 10%, and the Ce content (substitution) is 0.03 to 1.0. If the substitution with Gd is less than 20%, the green component is large and the red component is small. However, by increasing the Ce content, the red component can be supplemented and a desired color tone can be obtained without lowering the luminance. With such a composition, the temperature characteristics are improved and the reliability of the light-emitting element can be improved. In addition, when a photoluminescent phosphor adjusted to have a large amount of red component is used, a light emitting device capable of emitting an intermediate color such as pink can be formed.

このようなフォトルミネセンス蛍光体は、2種類以上のセリウムで付活されたイットリウム・アルミニウム・ガーネット(ざくろ石型)蛍光体や他の蛍光体を混合させてもよい。   Such a photoluminescent phosphor may be a mixture of yttrium, aluminum, garnet (garnet) phosphor activated by two or more kinds of cerium, and other phosphors.

(実装用基板)
図6は、本実施の形態に係る発光装置を、実装基板27に実装した様子を示す上面図である。実装用基板27の表面において、リード電極16及び18や台座電極に接続する配線29とは別に、通電回路から絶縁され、配線29よりも幅広の導電パターンから成る高熱伝導性領域28を設け、高熱伝導性領域28と凹部11aの底面とを導電性部材にて固着することにより、発光素子からの発熱を効率良く実装基板へ放熱することができる。従って、発光素子への電流投下量を増大させて、出力向上を図ることが可能となる。尚、金属パッケージ10の背面に導電性を有する支持体を設けても良く、その場合は、支持体も凹部10aの底面と同様に高熱伝導性領域28と導電性部材にて固着することが好ましい。
(Mounting board)
FIG. 6 is a top view showing a state where the light emitting device according to the present embodiment is mounted on the mounting substrate 27. On the surface of the mounting substrate 27, apart from the wiring 29 connected to the lead electrodes 16 and 18 and the pedestal electrode, a high thermal conductivity region 28 that is insulated from the energization circuit and has a conductive pattern wider than the wiring 29 is provided. By fixing the conductive region 28 and the bottom surface of the recess 11a with a conductive member, heat generated from the light emitting element can be efficiently radiated to the mounting substrate. Therefore, it is possible to increase the amount of current dropped on the light emitting element and improve the output. In addition, you may provide the support body which has electroconductivity in the back surface of the metal package 10, In that case, it is preferable that a support body adheres to the high thermal conductivity area | region 28 and a conductive member similarly to the bottom face of the recessed part 10a. .

尚、本実施の形態では、表面実装型の金属パッケージを用いた半導体発光装置を例として説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、リード型のキャンタイプパッケージについても、本発明の技術思想を同様に適用することができる。   In this embodiment, the semiconductor light emitting device using the surface mount type metal package has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. For example, the technical idea of the present invention can be similarly applied to a lead-type can-type package.

図1は、本発明に係る半導体発光装置の一例を模式的に示す上面図である。FIG. 1 is a top view schematically showing an example of a semiconductor light emitting device according to the present invention. 図2は、図1に示す半導体発光装置のI−I’断面図である。2 is a cross-sectional view taken along the line I-I ′ of the semiconductor light emitting device shown in FIG. 1. 図3は、図1に示す半導体発光装置のII−II’断面図である。3 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of the semiconductor light emitting device shown in FIG. 1. 図4は、図1に示す半導体発光装置の接合部を拡大して示す部分拡大断面図である。FIG. 4 is a partially enlarged cross-sectional view showing an enlargement of the joint portion of the semiconductor light emitting device shown in FIG. 図5(a)及び(b)は、図1に示す半導体発光装置の矩形パターンを拡大して示す部分拡大図である。FIGS. 5A and 5B are partially enlarged views showing an enlarged rectangular pattern of the semiconductor light emitting device shown in FIG. 図6は、半導体発光装置を実装用基板に実装した様子を示す上面図である。FIG. 6 is a top view showing a state in which the semiconductor light emitting device is mounted on the mounting substrate. 図7は、従来の半導体発光装置を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device. 図8は、従来の半導体発光装置を示す断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device.

符号の説明Explanation of symbols

2 発光素子、
3 蛍光体粒子、
4 保護ダイオード、
6 ワイヤー、
8 接合材(ダイボンド材)、
10 金属パッケージ、
10a 凹部、
10b 脚部、
10c ベース台座、
10d 突起部、
12 リッド、
14 透光性窓材、
16、18 リード電極、
20 絶縁部材、
22 導電性台座、
24 矩形パターン。
2 light emitting elements,
3 phosphor particles,
4 Protection diode,
6 wires,
8 Bonding material (die bond material),
10 metal package,
10a recess,
10b legs,
10c base pedestal,
10d protrusion,
12 lids,
14 Translucent window material,
16, 18 Lead electrode,
20 Insulating member,
22 conductive base,
24 Rectangular pattern.

Claims (4)

半導体発光素子と、前記半導体発光素子に導通したリード電極を有し、前記半導体発光素子を収納する金属パッケージと、少なくとも表面が金属から成り、前記金属パッケージを気密封止する蓋体となるリッドとを備えた半導体発光装置であって、
前記金属パッケージに絶縁部材を介して導電性台座が固定されており、該導電性台座上に、前記発光素子の機能を補助する補助素子が、その裏面電極を介して接合されたことを特徴とする半導体発光装置。
A semiconductor light-emitting element, a metal package having a lead electrode connected to the semiconductor light-emitting element and containing the semiconductor light-emitting element; and a lid serving as a lid for hermetically sealing the metal package at least on the surface thereof A semiconductor light emitting device comprising:
A conductive pedestal is fixed to the metal package via an insulating member, and an auxiliary element for assisting the function of the light emitting element is joined on the conductive pedestal via a back electrode thereof. A semiconductor light emitting device.
前記補助素子が、前記発光素子を静電気から保護する保護ダイオードであることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。   The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the auxiliary element is a protective diode that protects the light emitting element from static electricity. 前記半導体発光素子がレーザであり、前記補助素子が、前記半導体発光素子の発光をモニタするフォトディテクタであることを特徴とする請求項2に記載の半導体発光装置。   3. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein the semiconductor light emitting element is a laser, and the auxiliary element is a photodetector that monitors light emission of the semiconductor light emitting element. 半導体発光素子と、前記半導体発光素子に導通したリード電極を有し、前記半導体発光素子を収納する金属パッケージと、少なくとも表面が金属から成り、前記金属パッケージを気密封止する蓋体となるリッドとを備えた半導体発光装置であって、
前記金属パッケージの表面に、断面V字溝形状の矩形パターンが形成されたことを特徴とする半導体発光装置。
A semiconductor light-emitting element, a metal package having a lead electrode connected to the semiconductor light-emitting element and containing the semiconductor light-emitting element; and a lid serving as a lid for hermetically sealing the metal package at least on the surface thereof A semiconductor light emitting device comprising:
A semiconductor light-emitting device, wherein a rectangular pattern having a V-shaped cross section is formed on a surface of the metal package.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010117073A1 (en) * 2009-04-08 2010-10-14 岩谷産業株式会社 Semiconductor device
JP2021044194A (en) * 2019-09-13 2021-03-18 ウシオ電機株式会社 Microwave plasma generator, and method for starting plasma discharge of microwave plasma generator

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06140725A (en) * 1992-10-26 1994-05-20 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser device and its manufacturing equipment
JP2000150962A (en) * 1998-11-10 2000-05-30 Nichia Chem Ind Ltd Light emitting diode
WO2002089219A1 (en) * 2001-04-17 2002-11-07 Nichia Corporation Light-emitting apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06140725A (en) * 1992-10-26 1994-05-20 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser device and its manufacturing equipment
JP2000150962A (en) * 1998-11-10 2000-05-30 Nichia Chem Ind Ltd Light emitting diode
WO2002089219A1 (en) * 2001-04-17 2002-11-07 Nichia Corporation Light-emitting apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010117073A1 (en) * 2009-04-08 2010-10-14 岩谷産業株式会社 Semiconductor device
JP2021044194A (en) * 2019-09-13 2021-03-18 ウシオ電機株式会社 Microwave plasma generator, and method for starting plasma discharge of microwave plasma generator

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