JP2009079228A - 研磨液組成物 - Google Patents
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Abstract
高い研磨速度を持ち、被研磨基板のうねり低減可能な研磨液組成物、また、該研磨液組
成物を用いた被研磨基板のうねり低減方法、及び該研磨液組成物を用い、うねりを低減さ
せた高品質の基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】
α−アルミナ、中間アルミナ、酸化剤及び水を含有する研磨液組成物、該研磨液組成物
を用いて、被研磨基板のうねりを低減する方法、並びに前記研磨液組成物を用いて、被研
磨基板を研磨する工程を有する基板の製造方法。
【選択図】 なし
Description
する。さらに、該研磨液組成物を用いたうねり低減方法及び基板の製造方法に関する。
浮上量を小さくすることが求められている。このヘッドの浮上量を小さくするためにはハ
ードディスク基板の研磨工程での短波長うねり(波長50〜500μm のうねり)、なら
びに長波長うねり(波長0.5mm以上のうねり)の低減が必要である。ここで言う「う
ねり」とは表面粗さよりも波長の長い表面凹凸のことである。このようなうねりを低減し
た基板を製造するために、研磨パッドの孔径制御、硬さ制御や研磨時の研磨荷重や回転数
を制御するといった機械的条件が検討されている。しかし、この様な機械的条件は効果が
あるものの充分とは言えない。一方、研磨液組成物によるうねりの低減も検討されている
。特許文献1ではα−アルミナ、水溶性過酸化物及びベーマイトが、また、特許文献2で
は一次研磨粒子、分散コロイド粒子及び酸化剤を含有した研磨液組成物が検討されている
。また、特許文献3ではコロイダルシリカと酸化剤と有機ホスホン酸を含有した研磨液組
成物が、さらに特許文献4では中間アルミナを用いた研磨液組成物の開示がある。しかし
、これらの研磨液組成物では、実用化に必要な研磨速度を有した上でのうねり低減という
観点で十分とは言えない。
該研磨液組成物を用いた被研磨基板のうねり低減方法、及び該研磨液組成物を用い、うね
りを低減させた高品質の基板の製造方法を提供することを目的とする。
〔1〕α−アルミナ、中間アルミナ、酸化剤及び水を含有する研磨液組成物、
〔2〕前記〔1〕記載の研磨液組成物を用いて、被研磨基板のうねりを低減する方法、並
びに
〔3〕前記〔1〕記載の研磨液組成物を用いて、被研磨基板を研磨する工程を有する基板
の製造方法
に関する。
被研磨物のうねりを低減させるという効果が奏される。また、得られる被研磨物は、研磨
くず等の汚れの付着が少ないものであるため、研磨後の洗浄を簡便に行なうことができる
ことから、うねりを低減した高品質の基板を経済的に製造することができるという効果が
奏される。
剤として酸化剤を用いることに大きな特徴があり、かかる特徴を有する研磨液組成物を用
いることで、高い研磨速度を達成し、かつ被研磨基板のうねりを有意に低減することがで
きるという顕著な効果が発現される。
α−アルミナと中間アルミナとの併用による研磨速度向上とうねり低減効果の作用機構
については、互いに異なる粒径粒子で、かつ硬度が異なることにより充填性が向上し、被
研磨物表面への研磨物理力が効果的に作用していると推測している。
、ギブサイト、バイヤライト、ノルドストランダイト、ジアスポア、ベーマイト、擬ベー
マイト、アルミノゲル、γ−アルミナ、及びθ−アルミナ等を常法に従い、1100℃以上の
温度で焼成したアルミナが好ましい。α−アルミナはうねり低減、表面粗さ低減、研磨速
度向上及び表面欠陥防止の観点からアルミナとしての純度が95%以上の酸化アルミニウ
ムが好ましく、より好ましくは97%であり、さらに好ましくは99%以上である。
ましく、より好ましくは0.01〜0. 4μm であり、二次粒子の平均粒径は0.01〜2 μm が好
ましく、より好ましくは0.05〜1.0 μm であり、さらに好ましくは0.1 〜0.5 μm である
。研磨材の一次粒子の平均粒径は、走査型電子顕微鏡で観察(好適には3000〜30000 倍)
又は透過型電子顕微鏡で観察(好適には10000 〜300000倍)して画像解析を行い、長径と
短径の平均値から数平均粒径として求めることができる。また、二次粒子の平均粒径はレ
ーザー光回折法を用いて体積平均粒径として測定することができる。
α−アルミナのBET法にて測定された比表面積は、研磨速度の向上及びうねり低減の
観点から、0.1〜50m2 /gが好ましく、より好ましくは1〜40m2 /g、最も好
ましくは2〜20m2 /gである。
おいて好ましくは0.05重量%以上、より好ましくは0.1 重量%以上、さらに好ましくは0.
5 重量%以上、特に好ましくは1 重量%以上である。また、表面品質及び経済性の観点か
ら、好ましくは40重量%以下、より好ましくは30重量%以下、さらに好ましくは25重量%
以下、特に好ましくは20重量%以下である。即ち、研磨液組成物中のα−アルミナの含有
量は好ましくは0.05〜40重量%、より好ましくは0.1 〜30重量%、さらに好ましくは0.5
〜25重量%、特に好ましくは1〜20重量%である。
中間アルミナとはα−アルミナ粒子以外のアルミナ粒子の総称であり、具体的にはγ−ア
ルミナ、δ−アルミナ、θ−アルミナ、η−アルミナ、κ−アルミナ、これらの混合物等
が挙げられる。その中でも研磨速度向上及びうねり低減の観点から、以下の中間アルミナ
が好ましい。その結晶型は、好ましくはγ−アルミナ、δ−アルミナ、θ−アルミナ及び
これらの混合物、特に好ましくはγ−アルミナ、θ−アルミナである。また、BET 法にて
測定された比表面積は好ましくは30〜300m2/g 、より好ましくは50〜200m2/g である。中
間アルミナの二次粒子の平均粒径は、うねり低減の観点から0.01〜5 μm が好ましく、よ
り好ましくは0.01〜2 μm 、さらに好ましくは0.05〜1 μm 、特に好ましくは0.1 〜0.5
μm である。この平均粒径は例えば堀場製作所製「LA-920」のようなレーザー光回折法を
用いて体積平均粒径として測定することができる。
が好ましく、0.05重量%以下がより好ましく、更には0.01重量%以下が特に好ましい。例
えば、比表面積が比較的大きく、アルカリ金属及びアルカリ土類金属含有量の少ない水酸
化アルミニウムを原料とした場合、製造された中間アルミナの融着が少なく粒子強度も小
さいため、被研磨物の表面欠陥に有効となる。
しくは10〜500m2/g 、より好ましくは30〜400m2/g 、特に好ましくは50〜300m2/g である
。また、アルカリ金属及びアルカリ土類金属の含有量は0.1 重量%以下が好ましく、0.05
重量%以下がより好ましく、更には0.01重量%以下が特に好ましい。さらに、水酸化アル
ミニウムから加熱脱水にて中間アルミナを製造する場合に、加熱時に乾燥空気あるいは窒
素ガスを導入することは、被研磨物の表面欠陥防止に有効である。なお、前記加熱脱水処
理は常法で行うことができる。これらの中間アルミナは必要に応じてボ−ルミル、ビーズ
ミル高圧ホモジナイザー、ジェットミル等の粉砕機により湿式あるいは乾式粉砕し、所定
の粒径に調整することができる。
O又は、Al2 O3 ・nH2 O(nは1〜3)で示されるもので、加熱脱水して中間アル
ミナを製造できるものであれば特に限定するものではない。具体例としてはギブサイト、
バイヤライト、ノルドストランダイト、ジアスポア、ベーマイト、擬ベーマイト、アルミ
ノゲル等が挙げられる。
ナ単独に比較して、両者を混合することで研磨速度が向上することから被研磨物の表面に
対する物理力の向上が発現しているものと考えられる。
おいて好ましくは0.05重量%以上、より好ましくは0.1 重量%以上、さらに好ましくは0.
5 重量%以上であり、特に好ましくは1 重量%以上である。また、表面品質、経済性の観
点から好ましくは40重量%以下、より好ましくは30重量%以下、さらに好ましくは25重量
%以下であり、特に好ましくは20重量%以下である。即ち、研磨液組成物中の中間アルミ
ナの含有量は好ましくは0.05〜40重量%、より好ましくは0.1 〜30重量%、さらに好まし
くは0.5 〜25重量%、特に好ましくは1〜20重量%である。
の向上とうねり低減の両立の観点から、好ましくは99/1〜30/70、より好ましく
は97/3〜40/60、さらに好ましくは95/5〜50/50、最も好ましくは93
/7〜55/45である。
に両立させるために、好ましくは0.1 〜45重量%、より好ましくは0.2 〜35重量%、さら
に好ましくは1 〜30重量%、特に好ましくは2 〜25重量%である。
。研磨の機構については不明であるが、酸化剤を被研磨材に作用させることにより、アル
ミナの研磨効力を十分に発揮できる状態に変化していると推測される。本発明の酸化剤と
しては過酸化物、金属のペルオキソ酸又はその塩、酸素酸又はその塩、硝酸塩、硫酸塩、
酸の金属塩等が挙げられる。酸化剤にはその構造から無機系酸化剤と有機系酸化剤に大別
される。それら酸化剤の具体例を以下に示す。無機酸化剤としては、過酸化水素、更には
過酸化ナトリウム、過酸化カリウム、過酸化カルシウム、過酸化バリウム、過酸化マグネ
シウムの様なアルカリ金属、又はアルカリ土類金属の過酸化物類、ペルオキソ炭酸ナトリ
ウム、ペルオキソ炭酸カリウム等のペルオキソ炭酸塩類、ペルオキソ二硫酸アンモニウム
、ペルオキソ二硫酸ナトリウム、ペルオキソ二硫酸カリウム、ペルオキソ一硫酸等のペル
オキソ硫酸又はその塩類、ペルオキソ硝酸、ペルオキソ硝酸ナトリウム、ペルオキソ硝酸
カリウム等のペルオキソ硝酸又はその塩類、ペルオキソリン酸ナトリウム、ペルオキソリ
ン酸カリウム、ペルオキソリン酸アンモニウム等のペルオキソリン酸又はその塩類、ペル
オキソホウ酸ナトリウム、ペルオキソホウ酸カリウム等のペルオキソホウ酸塩類、ペルオ
キソクロム酸カリウム、ペルオキソクロム酸ナトリウム等のペルオキソクロム酸塩類、過
マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等の過マンガン酸塩類、過塩素酸ナトリウ
ム、過塩素酸カリウム、塩素酸、次亜塩素酸ナトリウム、過沃素酸ナトリウム、過沃素酸
カリウム、沃素酸、沃素酸ナトリウム等のハロゲン酸又はその誘導体類、塩化鉄(III)、
硫酸鉄(III)等の無機酸金属塩が用いることができる。有機酸化剤としては、過酢酸、過
ギ酸、過安息香酸等の過カルボン酸類、t−ブチルパーオキサイド、クメンパーオキサイ
ド等のパーオキサイド類、クエン酸鉄(III)を用いることができる。これらの内、研磨速
度向上性や入手性、水溶性等の取り扱い性を比較した場合、無機系酸化剤の方が好ましい
。さらに、環境問題の点を考慮すると重金属を含まない無機過酸化物が好ましい。また、
被研磨基板の表面汚れ防止の観点からは、より好ましくは、過酸化水素、ペルオキソ硫酸
塩類、ハロゲン酸又はその誘導体であり、特に好ましくは過酸化水素である。また、これ
らの過酸化物は1種でもよいが、2種以上を混合して用いても良い。
て好ましくは0.002 重量%以上、より好ましくは0.005 重量%以上、さらに好ましくは0.
007 重量%以上、特に好ましくは0.01重量%以上である。また、表面品質、経済性の観点
から好ましくは20重量%以下、より好ましくは15重量%以下、さらに好ましくは10重量%
以下、特に好ましくは5 重量%以下である。即ち、研磨液組成物中の酸化剤の含有量は好
ましくは0.002 〜20重量%、より好ましくは0.005 〜15重量%、さらに好ましくは0.007
〜10重量%、特に好ましくは0.01〜5 重量%である。
することが好ましい。
しくは7以下、より好ましくは5以下、更に好ましくは3以下、特に好ましくは2以下で
ある。ここでpK1とは酸解離定数(25℃)の逆数の対数値をpKaと表したとき、そ
の内の第1酸解離定数の逆数の対数値である。各化合物のpK1は例えば化学便覧改訂4
版(基礎編)II、pp316 〜325 (日本化学会編)等に記載されている。
酸、アミド硫酸等の一価の鉱酸類と、硫酸、亜硫酸、リン酸、ピロリン酸、ポリリン酸、
ホスホン酸、ホスフィン酸等の多価鉱酸類が挙げられる。また、有機化合物としてはギ酸
、酢酸、グリコール酸、乳酸、プロパン酸、ヒドロキシプロパン酸、酪酸、安息香酸、グ
リシン等のモノカルボン酸類、シュウ酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、マレイン
酸、フマル酸、イタコン酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸、イソクエン酸、フタル酸、ニ
トロトリ酢酸、エチレンジアミン四酢酸等の多価カルボン酸類、メタンスルホン酸、パラ
トルエンスルホン酸等のアルキルスルホン酸類、エチルリン酸、ブチルリン酸等のアルキ
ルリン酸類、ホスホノヒドロキシ酢酸、ヒドロキリエチリデンジホスホン酸、ホスホノブ
タントリカルボン酸、エチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸等のホスホン酸類等が
挙げられる。これらの内、研磨速度の向上、及びうねり低減の観点から多価酸が好ましく
、より好ましくは多価鉱酸、多価有機カルボン酸及び多価有機ホスホン酸、最も好ましく
は多価鉱酸及び多価有機カルボン酸である。ここで多価酸とは分子内に2つ以上の、水素
イオンを発生させ得る水素を持つ酸をあらわす。また、被研磨物の表面汚れ防止の観点か
らは、硝酸、硫酸、スルホン酸及びカルボン酸が好ましい。
基板のような金属表面を研磨する場合で、研磨中に被研磨物の金属イオンが溶出して研磨
液組成物のpHが上昇し高い研磨速度が得られないとき、pH変化を小さくするためにp
K1が2.5未満の酸とpK1が2.5以上の酸の組み合わせが好ましく、pK1が1.
5以下の酸とpK1が2.5以上の酸の組み合わせがさらに好ましい。このような2種以
上の酸を含有する場合、研磨速度向上及びうねり低減、かつ入手性を考慮すると、pK1
が2.5未満の酸の中では硝酸、硫酸、リン酸、ポリリン酸等の鉱酸や有機ホスホンを用
いることが好ましい。一方、pK1が2.5以上の酸としては、同様な観点から、酢酸、
コハク酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸等の有機カルボン酸が好ましい。
ましくは0.002 重量%以上、より好ましくは0.005 重量%以上、さらに好ましくは0.007
重量%以上、特に好ましくは0.01重量%以上である。また、表面品質、経済性の観点から
好ましくは20重量%以下、より好ましくは15重量%以下、さらに好ましくは10重量%以下
、特に好ましくは5 重量%以下である。即ち、研磨液組成物中の酸の含有量は好ましくは
0.002 〜20重量%、より好ましくは0.005 〜15重量%、さらに好ましくは0.007 〜10重量
%、特に好ましくは0.01〜5 重量%である。研磨速度向上の観点から、pK1が2.5未
満の酸とpK1が2.5以上の酸の重量比〔(pK1が2.5未満の酸)/(pK1が2
.5以上の酸)〕は9/1〜1/9が好ましく、7/1〜1/7がより好ましく、5/1
〜1/5が更に好ましい。
磨物を効率良く研磨する観点から、好ましくは50〜99重量%、より好ましくは60〜97重量
%、さらに好ましくは70〜95重量%である。
応じて他の成分を配合することができ、例えば、無機塩、増粘剤、防錆剤、塩基性物質等
が挙げられる。無機塩の例としては硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、硫酸カリウム
、硫酸ニッケル、硝酸アルミニウム、硫酸アルミニウム、スルファミン酸アンモニウム等
が挙げられる。これらの成分は単独で用いても良いし、2種類以上混合して用いても良い
。また、その含有量は経済性の観点から、好ましくは研磨液組成物中0.05〜20重量
%、より好ましくは0.05〜10重量%、さらに好ましくは0.05〜5重量%である
。
らの殺菌剤、抗菌剤の含有量は機能を発揮する観点、研磨性能への影響、経済面の観点か
ら研磨液組成物中0.0001〜0.1 重量% 、より好ましくは0.001 〜0.05重量%、さらに好ま
しくは0.002 〜0.02重量%である。
成物の製造時の濃度であって良い。通常、組成物は濃縮液として組成物は製造され、これ
を使用前あるいは使用時に希釈して用いる場合が多い。
しい。例えば、研磨液組成物のpHは、研磨速度、うねり低減の観点と、加工機械の腐食
防止性、作業者の安全性の観点から7未満が好ましく、0.1 〜6がより好ましく、さらに
好ましくは0.5 〜5であり、特に好ましく1〜4、最も好ましくは1〜3である。該pH
は、必要により、硝酸、硫酸等の無機酸、オキシカルボン酸、多価カルボン酸やアミノポ
リカルボン酸、アミノ酸等の有機酸、及びその金属塩やアンモニウム塩、アンモニア、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アミン等の塩基性物質を適宜、所望量で配合すること
で調整することができる。
している。
ルミニウム、ニッケル、タングステン、銅、タンタル、チタン等の金属又は半金属、及び
これらの金属を主成分とした合金、ガラス、ガラス状カーボン、アモルファスカーボン等
のガラス状物質、アルミナ、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、窒化タンタル、窒化チタン等の
セラミック材料、ポリイミド樹脂等の樹脂等が挙げられる。これらの中では、アルミニウ
ム、ニッケル、タングステン、銅等の金属及びこれらの金属を主成分とする合金が被研磨
物であるか、又はそれらの金属を含んだ半導体素子等の半導体基板が被研磨物に好適であ
る。特に、Ni-Pメッキされたアルミニウム合金からなる基板に本発明の研磨液組成物を適
用した場合、うねりが顕著に低減でき、好適である。被研磨物の形状には特に制限がなく
、例えば、ディスク状、プレート状、スラブ状、プリズム状等の平面部を有する形状や、
レンズ等の曲面部を有する形状が本発明の研磨液組成物を用いた研磨の対象となる。その
中でも、ディスク状の被研磨物の研磨に特に優れている。
被研磨基板のうねり低減方法において、上記に挙げた被研磨基板を、本発明の研磨液組成
物を用いて研磨することにより、うねりを顕著に低減できる。例えば、多孔質の有機高分
子系の研磨布等を貼り付けた研磨盤で基板を挟み込み、本発明の研磨液組成物を研磨面に
供給し、圧力を加えながら研磨盤や基板を動かすことにより、うねりを低減した高品質な
基板を製造することができる。
ィスク、光ディスク、光磁気ディスク等の磁気記録媒体の基板、フォトマスク基板、光学
レンズ、光学ミラー、光学プリズム、半導体基板等の研磨に適している。半導体基板の研
磨は、シリコンウェハ(ベアウェハ)のポリッシング工程、埋め込み素子分離膜の形成工
程、層間絶縁膜の平坦化工程、埋め込み金属配線の形成工程、埋め込みキャパシタ形成工
程等において行われる研磨がある。ポリッシング工程において特に効果があるが、これ以
外の研磨工程、例えば、ラッピング工程等にも同様に適用することができる。本発明の研
磨液組成物は、特に磁気ディスク基板の研磨に適している。
[研磨液配合方法]
表1〜3に示すα−アルミナ(一次粒子の平均粒径0.07μm 、二次粒子の平均粒径0.3
μm 、比表面積15m2/g、純度99.9%)、θ−アルミナ(二次粒子の平均粒径0.2μm 、比
表面積120m2/g 、純度99.9% )、酸化剤及び酸やその他の添加物を所定量、残分をイオン
交換水として攪拌混合してpH調整にアンモニアを用いて研磨液組成物を得た。
ランク・テーラーホブソン社製のタリーステップ(触針先端サイズ:25μm ×25μm 、
ハイパスフィルター:80μm 、測定長さ:0.64mm)によって測定した中心線平均粗さRaが
0.2 μm 、厚さ1.27 mm 、直径3.5 インチのNi-Pメッキされたアルミニウム合金からなる
基板の表面を両面加工機により、以下の両面加工機の設定条件でポリッシングし、磁気記
録媒体用基板として用いられるNi-Pメッキされたアルミニウム合金基板の研磨物を得た。
<両面加工機の設定条件>
両面加工機:スピードファーム(株)製、9B型両面加工機
加工圧力:9.8kPa
研磨パッド:フジボウ(株)製「H9900S」(商品名)
定盤回転数:50r/min
研磨液組成物供給流量:100ml/min
研磨時間:5min
投入した基板の枚数:10枚
研磨前後の各基板の重さを計り(Sartorius 社製「BP-210S 」)を用いて測定し、各基
板の重量変化を求め、10枚の平均値を減少量とし、それを研磨時間で割った値を重量減
少速度とした。重量の減少速度を下記の式に導入し、研磨速度(μm/min )に変換した。
比較例1の研磨速度を基準値1として各実験例の研磨速度の相対値(相対速度)を求めた
。
重量減少速度(g/min) ={研磨前の重量(g) −研磨後の重量(g) }
/研磨時間(min)
研磨速度( μm/min)=重量減少速度(g/min) /基板片面面積(mm2)
/Ni-Pメッキ密度(g/cm3) ×106
研磨後の各基板を下記の条件で測定した。
機器 :「Zygo NewView200 」
レンズ :2.5 倍 「Micheison 」
ズーム比 :0.5
リムーブ :Cylinder
フィルター:FFT Fixed Band Pass
短波長うねり 50〜500 μm
長波長うねり 0.5 〜5mm
エリア :4.33mm×5.77mm
研磨後の各基板を枚葉式洗浄機にてPVAパッドを用いた洗剤水洗浄及びイオン交換水
洗浄した後、偏光顕微鏡にて300倍で観察し、表面汚れを4段階評価をした。
◎:表面にアルミナ残留物や研磨くずが全く見られない。
○:表面にアルミナ残留物や研磨くずがほとんど見られない。
△:表面にアルミナ残留物や研磨くずがところどころ見られる。
×:表面にアルミナ残留物や研磨くずが多く見られる。
とした。比較例と比べ、α−アルミナ、中間アルミナ、酸化剤を有する実施例1〜12で
得られた研磨液組成物は研磨速度向上とうねり低減の両性能が共に極めて優れていること
がわかる。特に、酸を添加した場合、その効果が顕著である。また、実施例1〜12で得
られた研磨液組成物は、被研磨基板の汚れ防止効果もあることがわかる。
果を示す。実施例13〜17で得られた研磨液組成物は、比較例1のものに比べて研磨速
度向上及びうねり低減共に優れていることがわかる。また、単独の酸の場合(実施例13
、14)に比べ、実施例15〜17のように2種類の酸、例えばカルボン酸類と鉱酸であ
る硫酸とを併用すると研磨速度向上とうねり低減の効果はさらに高まることもわかる。ま
た、実施例13〜17で得られた研磨液組成物は、いずれも被研磨基板の汚れ防止効果も
あることがわかる。
気ディスク等の磁気記録媒体の基板、フォトマスク基板、光学レンズ、光学ミラー、光学
プリズム、半導体基板等の研磨に適用することができる。
Claims (9)
- α−アルミナ、中間アルミナ、酸化剤及び水を含有する研磨液組成物。
- さらに酸を含有する請求項1記載の研磨液組成物。
- pHが7未満である請求項1又は2記載の研磨液組成物。
- α−アルミナと中間アルミナの重量比率(α−アルミナ/中間アルミナ)が99/1〜
30/70である請求項1〜3いずれか記載の研磨液組成物。 - α−アルミナの二次粒子の平均粒径が0.01〜2μmかつ比表面積が0.1〜50m
2 /gであり、中間アルミナの二次粒子の平均粒径が0.01〜5μmかつ比表面積が3
0〜300m2 /gである請求項1〜4いずれか記載の研磨液組成物。 - 酸が多価酸である請求項2〜5いずれか記載の研磨液組成物。
- pK1が2.5未満の酸とpK1が2.5以上の酸とを含有する請求項2〜6いずれか
記載の研磨液組成物。 - 請求項1〜7いずれか記載の研磨液組成物を用いて、被研磨基板のうねりを低減する方
法。 - 請求項1〜7いずれか記載の研磨液組成物を用いて、被研磨基板を研磨する工程を有す
る基板の製造方法。
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