JP2009071246A - Drawing device and data processing method of drawing data - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、描画装置及び描画データのデータ処理方法に係り、例えば、電子ビーム描画やレーザ描画に用いる描画データのデータ処理におけるタイムアウトエラー制御に関する。 The present invention relates to a drawing apparatus and a data processing method for drawing data, and for example, relates to timeout error control in data processing of drawing data used for electron beam drawing or laser drawing.
半導体デバイスの微細化の進展を担うリソグラフィ技術は半導体製造プロセスのなかでも唯一パターンを生成する極めて重要なプロセスである。近年、LSIの高集積化に伴い、半導体デバイスに要求される回路線幅は年々微細化されてきている。これらの半導体デバイスへ所望の回路パターンを形成するためには、高精度の原画パターン(レチクル或いはマスクともいう。)が必要となる。ここで、電子線(電子ビーム)描画技術は本質的に優れた解像性を有しており、高精度の原画パターンの生産に用いられる。また、レーザ描画技術も同様に高精度の原画パターンの生産に用いられる。以下、一例として、電子ビーム描画技術について説明する。 Lithography technology, which is responsible for the progress of miniaturization of semiconductor devices, is an extremely important process for generating a pattern among semiconductor manufacturing processes. In recent years, with the high integration of LSIs, circuit line widths required for semiconductor devices have been miniaturized year by year. In order to form a desired circuit pattern on these semiconductor devices, a highly accurate original pattern (also referred to as a reticle or a mask) is required. Here, the electron beam (electron beam) drawing technique has an essentially excellent resolution, and is used for producing a high-precision original pattern. Similarly, laser drawing technology is used to produce highly accurate original picture patterns. Hereinafter, an electron beam drawing technique will be described as an example.
図13は、従来の可変成形型電子線描画装置の動作を説明するための概念図である。
可変成形型電子線描画装置(EB(Electron beam)描画装置)における第1のアパーチャ410には、電子線330を成形するための矩形例えば長方形の開口411が形成されている。また、第2のアパーチャ420には、第1のアパーチャ410の開口411を通過した電子線330を所望の矩形形状に成形するための可変成形開口421が形成されている。荷電粒子ソース430から照射され、第1のアパーチャ410の開口411を通過した電子線330は、偏向器により偏向され、第2のアパーチャ420の可変成形開口421の一部を通過して、所定の一方向(例えば、X方向とする)に連続的に移動するステージ上に搭載された試料に照射される。すなわち、第1のアパーチャ410の開口411と第2のアパーチャ420の可変成形開口421との両方を通過できる矩形形状が、X方向に連続的に移動するステージ上に搭載された試料340の描画領域に描画される。第1のアパーチャ410の開口411と第2のアパーチャ420の可変成形開口421との両方を通過させ、任意形状を作成する方式を可変成形方式という。
FIG. 13 is a conceptual diagram for explaining the operation of a conventional variable shaping type electron beam drawing apparatus.
In a
かかる電子ビーム描画を行なうにあたり、まず、半導体集積回路のレイアウトが設計され、パターンレイアウトが定義されたレイアウトデータ(設計データ)が生成される。そして、外部装置でかかるレイアウトデータが変換され、電子ビーム描画装置に入力可能な描画データが生成される。そして、描画データを電子ビーム描画装置に一括転送入力して、電子ビーム描画装置内で、描画データに基づいて、さらに、並列処理等によるデータ処理の末に電子ビーム描画装置内のフォーマットのデータに変換されて描画される(例えば、特許文献1参照)。 In performing such electron beam drawing, first, a layout of a semiconductor integrated circuit is designed, and layout data (design data) in which a pattern layout is defined is generated. Then, the layout data is converted by an external apparatus, and drawing data that can be input to the electron beam drawing apparatus is generated. Then, the drawing data is batch-transferred and input to the electron beam drawing apparatus. Based on the drawing data in the electron beam drawing apparatus, the data is converted into the format data in the electron beam drawing apparatus after the data processing by parallel processing or the like. The image is converted and drawn (see, for example, Patent Document 1).
近年のLSIの高集積化に伴って電子ビーム描画装置に入力されるデータ処理されるべき描画データは益々増大している。ここで、電子ビーム描画装置内での描画データのデータ処理については、所定の時間内にそのデータ処理が終了しなければ何らかの異常が発生したものとしてタイムアウトエラーとして扱っていた。従来、このタイムアウトエラーの設定値(時間)は、装置毎に一意に設定された固定値であった。そのため、次のような問題が生じていた。まず、一方で大規模なデータ量で構成されるパターンでは、正常な処理が継続中であるにもかかわらず、設定時間内に処理が終了していないという理由でタイムアウトエラーと誤判定されてしまうといった問題があった。この問題を解消すべく、設定値を長くすると、他方で小規模なデータ量で構成されるパターンでは、短時間のうちに異常動作に入った場合でも設定時間が経過するまで異常と判定されないといった問題が生じてしまう。そのため、このような異常動作に対する対応措置が遅れてしまうといった問題があった。
上述したように、タイムアウトエラーの設定値が装置毎に一意に設定された固有値であったために、タイムアウトエラーの誤判定や他方で異常動作に対する対応措置の遅れを生じさせるといった問題があった。また、レーザマスク描画についても電子ビーム描画と同様の問題が生じる。 As described above, since the set value of the timeout error is a unique value uniquely set for each apparatus, there has been a problem that erroneous determination of the timeout error and a delay in countermeasures for abnormal operation are caused. Also, laser mask drawing has the same problem as electron beam drawing.
そこで、本発明は、かかる問題点を克服し、タイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制するデータ処理方法及び描画装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a data processing method and a drawing apparatus that overcome such problems and suppress delays in countermeasures against erroneous determination of timeout errors and abnormal operations.
本発明の一態様の描画装置は、
試料に所定のパターンを描画するための描画データを記憶する記憶部と、
描画データを処理単位毎に分けて、各処理単位のデータ処理を実行させる主側計算機と、
主側計算機から実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する従側計算機と、
正常にデータ処理が終了した所定の処理単位の描画データに基づく所定のパターンを前記試料に描画する描画部と、
を備え、
主側計算機と従側計算機とのいずれか一方は、描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算し、
従側計算機は、所定の処理単位のデータ処理が予想処理時間内に終了しない場合にエラーとしてデータ処理を終了することを特徴とする。
The drawing device of one embodiment of the present invention includes:
A storage unit for storing drawing data for drawing a predetermined pattern on the sample;
A main computer that divides drawing data into processing units and executes data processing of each processing unit;
A slave computer that receives an execution instruction from the master computer and executes data processing of a predetermined processing unit;
A drawing unit for drawing a predetermined pattern on the sample based on drawing data of a predetermined processing unit in which data processing has been normally completed;
With
Either the primary computer or the slave computer calculates the expected processing time for data processing of each processing unit for each processing unit of drawing data,
The slave computer ends data processing as an error when data processing of a predetermined processing unit does not end within the expected processing time.
描画データの処理単位毎に、データ処理にかかる予想処理時間を演算することで、それぞれのデータ規模に見合った予想処理時間を得ることができる。そして、この予想処理時間をタイムアウトエラーの設定値にする。 By calculating the expected processing time for data processing for each processing unit of drawing data, it is possible to obtain the expected processing time corresponding to each data scale. Then, this estimated processing time is set to the timeout error setting value.
また、特に、主側計算機と従側計算機との間で定期的にデータ通信による処理の進行管理を行なっている場合には、以下のように構成すると良い。 In particular, when the progress management of processing by data communication is regularly performed between the main computer and the slave computer, the following configuration is preferable.
まず、従側計算機は、第1の期間内に所定の処理単位のデータ処理が終了しない場合にまだ予想処理時間が経過する前であれば、主側計算機に所定の信号を送信し、
主側計算機は、第2の期間内に所定の信号を受信する限り、第1の期間内に所定の処理単位のデータ処理が終了していない場合でも従側計算機のデータ処理が正常であると判定するように構成すると好適である。
First, the slave computer transmits a predetermined signal to the master computer if the expected processing time has not yet elapsed when the data processing of the predetermined processing unit is not completed within the first period,
As long as the master computer receives a predetermined signal within the second period, the data processing of the slave computer is normal even if the data processing of the predetermined processing unit is not completed within the first period. It is preferable that the configuration is determined.
そして、予想処理時間は、データタイプとデータ量とセル数とセル配置数とデータ処理を行なうCPU性能とCPU数とメモリ量とのうち、少なくとも1つに基づく関数で定義されると好適である。 The expected processing time is preferably defined by a function based on at least one of the data type, the data amount, the number of cells, the number of arranged cells, the CPU performance for data processing, the number of CPUs, and the memory amount. .
本発明の他の態様の描画装置は、
試料に所定のパターンを描画するための描画データを記憶する記憶部と、
描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を送信する実行命令部と、
描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算する時間予想部と、
実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する実行部と、
予想処理時間内にデータ処理が終了した所定の処理単位の描画データに基づく所定のパターンを前記試料に描画する描画部と、
を備えたことを特徴とする。
A drawing apparatus according to another aspect of the present invention includes:
A storage unit for storing drawing data for drawing a predetermined pattern on the sample;
An execution command part that transmits an execution command for executing data processing of each processing unit for each processing unit of drawing data;
For each processing unit of drawing data, a time prediction unit that calculates an expected processing time for data processing of each processing unit;
An execution unit that receives an execution instruction and executes data processing of a predetermined processing unit;
A drawing unit for drawing a predetermined pattern on the sample based on drawing data of a predetermined processing unit in which data processing is completed within an expected processing time;
It is provided with.
本発明の一態様の描画データのデータ処理方法は、
試料に所定のパターンを描画するための描画データを処理単位毎に分けて、所定の処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を送信する工程と、
所定の処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算する工程と、
実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する工程と、
予想処理時間内に所定の処理単位のデータ処理が終了しない場合に、タイムアウトエラーと判定し、結果を出力する工程と、
を備えたことを特徴とする。
The drawing data processing method according to one aspect of the present invention includes:
Dividing drawing data for drawing a predetermined pattern on a sample for each processing unit, and transmitting an execution command for executing data processing of a predetermined processing unit;
Calculating an expected processing time for data processing of a predetermined processing unit;
Receiving an execution instruction and executing data processing of a predetermined processing unit;
A step of determining a time-out error when data processing of a predetermined processing unit does not end within the expected processing time, and outputting the result;
It is provided with.
本発明によれば、データ規模に見合った予想処理時間でタイムアウトエラーを判定することができる。よって、タイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to determine a time-out error with an expected processing time corresponding to the data scale. Therefore, it is possible to suppress delays in countermeasures against erroneous determination of timeout errors and abnormal operations.
以下、各実施の形態では、荷電粒子ビームの一例として、電子ビームを用いた構成について説明する。但し、荷電粒子ビームは、電子ビームに限るものではなく、イオンビーム等の荷電粒子を用いたビームでも構わない。また、荷電粒子ビーム装置の一例として、荷電粒子ビーム描画装置、特に、可変成形型の電子ビーム描画装置について説明する。以下、電子ビーム描画装置を一例として説明するが、これに限るものではなく、レーザマスク描画装置についても同様に当てはめることができる。 Hereinafter, in each embodiment, a configuration using an electron beam will be described as an example of a charged particle beam. However, the charged particle beam is not limited to an electron beam, and a beam using charged particles such as an ion beam may be used. As an example of the charged particle beam apparatus, a charged particle beam drawing apparatus, particularly, a variable shaping type electron beam drawing apparatus will be described. Hereinafter, an electron beam drawing apparatus will be described as an example, but the present invention is not limited to this, and the same applies to a laser mask drawing apparatus.
実施の形態1.
図1は、実施の形態1における描画装置の構成を示す概念図である。
図1において、描画装置100は、描画部150と制御部160を備えている。描画装置100は、荷電粒子ビーム描画装置の一例である。描画装置100は、試料101に所定のパターンを描画する。描画部150は、描画室103と描画室103の上部に配置された電子鏡筒102を備えている。電子鏡筒102内には、電子銃201、照明レンズ202、第1のアパーチャ203、投影レンズ204、偏向器205、第2のアパーチャ206、対物レンズ207、及び偏向器208を有している。そして、描画室103内には、XYステージ105が配置され、XYステージ105上に描画対象となる試料101が配置される。試料101として、例えば、半導体装置が形成されるウェハやウェハにパターンを転写する露光用のマスクが含まれる。また、このマスクは、例えば、まだ何もパターンが形成されていないマスクブランクスが含まれる。制御部160は、磁気ディスク装置109,170、主側(親)制御計算機110、複数の従側(子)制御計算機130(a〜k)、及び制御回路172を有している。親制御計算機110内には、振分部112、起動部114、時間予想部116、命令部118、判定部120、及びパラメータ演算部122が配置されている。複数の子制御計算機130内には、それぞれ、データ処理を実行する複数の演算装置(CPU)132、複数のメモリ134、制御部136が配置されている。CPU132は実行部の一例となる。制御部160の各構成は図示しないバスを介して互いに接続されている。ここで、図1では、親制御計算機110内の各構成を電気的な回路によるハードウェアにより構成するように記載しているが、これに限るものではなく、ソフトウェアにより実施させても構わない。すなわち、親制御計算機110はコンピュータでも構わない。そして、コンピュータの一例となる親制御計算機110で、振分部112、起動部114、時間予想部116、命令部118、判定部120、及びパラメータ演算部122といった各機能の処理を実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、親制御計算機110に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度メモリ124に記憶される。また、子制御計算機130内の制御部136はコンピュータでも構わない。そして、コンピュータの一例となる制御部136で後述する各機能の処理を実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、子制御計算機130に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度いずれかのメモリ134に記憶される。図1では、本実施の形態1を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。描画装置100にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
FIG. 1 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a drawing apparatus according to the first embodiment.
In FIG. 1, the
電子ビーム描画を行なうにあたり、まず、半導体集積回路のレイアウトが設計され、パターンレイアウトが定義されたレイアウトデータ(設計データ)が生成される。そして、外部の変換装置でかかるレイアウトデータが変換され、電子ビーム描画装置の一例である描画装置100に入力可能な描画データ12が生成される。そして、試料に所定のパターンを描画するための描画データ12は、記憶部の一例となる磁気ディスク装置109に格納される。描画装置100内では、さらに、複数段の変換処理の末に描画装置100内のフォーマットのデータに変換される。親制御計算機110がこれらのデータ処理を複数の子制御計算機130に振り分ける。そして、親制御計算機110が制御しながらこれらのデータ処理を複数の子制御計算機130に行なわせる。そして、処理が完了したデータを用いて描画部150が試料101に所定のパターンを描画する。
In performing electron beam drawing, first, a layout of a semiconductor integrated circuit is designed, and layout data (design data) in which a pattern layout is defined is generated. Then, the layout data is converted by an external conversion device, and drawing
図2は、実施の形態1における描画データの階層構造の一例を示す図である。
描画データ12では、描画領域が、チップ10の層、チップ領域を例えばy方向に向かって短冊状に仮想分割したフレーム14の層、フレーム14を分割したブロック16の層、少なくとも1つ以上の図形で構成されるセル18の層、かかるセル18を構成する図形19の層といった一連の複数の内部構成単位ごとに階層化されている。また、1つの試料101の描画領域に対して複数のチップ10の層がレイアウトされていることが一般的である。尚、ここではフレーム14についてチップ領域をy方向(所定の方向)に向かって短冊状に分割した領域としてあるが、これは一例であり、描画面と平行しy方向と直交するx方向に分割する場合もありうる。或いは描画面と平行するその他の方向であっても構わない。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a hierarchical structure of drawing data according to the first embodiment.
In the drawing
図3は、実施の形態1における描画データの一例を示す図である。
描画装置でパターンを描画する際には、例えば、フレーム14を描画単位として描画される。図3では、一例として、あるチップ10における番号”n”で識別されるフレーム領域に位置しているデータについて説明する。そして、そのフレーム用の描画データ12として、セル配置データ、リンクデータ、セルパターンデータが作成される。図3において、描画データ12は、一例として、セル配置データファイル22、リンクデータファイル24、セルパターンデータファイル26を有している。これらのファイルがフレームごとに作成される。描画データ12は、さらに、一つ以上のフレームで構成されるチップに対して、各フレームの構成情報やチップ全体で共通のパラメータ等を定義するチップ構成ファイル20を有している。また、図3では、セル配置データファイル22とリンクデータファイル24とセルパターンデータファイル26内の各データの対応関係の一例を示している。試料に所望するパターンを描画する場合には、一つのマスクに対して、一つ以上のチップ10で構成される。そのような場合、これらのファイルで構成されるチップデータが複数存在し、それらをマスク上に配置するためのレイアウト情報を有する。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of drawing data according to the first embodiment.
When a pattern is drawn by the drawing apparatus, for example, the
セル配置データファイル22は、設計データに含まれるあるチップ10のパターンデータに対応するセル18を配置するための配置データ(配置情報)を含む。セル配置データファイル22には、例えばブロック領域ごとに、配置されるセル18のいずれかを配置するための配置データが含まれる。図3では、一例として、配置されるセル18の一部となるセル(i)〜(l)のいずれかを配置するための配置データを示している。セル配置データは、セル18の基準点の配置位置を示す座標等で示される。図3において、セル配置データファイル22は、ファイルヘッダに続き、ブロック(0,0)ヘッダ、ブロック(0,0)内に配置されたセル配置データ(p)、セル配置データ(q)、セル配置データ(r)、ブロック(0,1)ヘッダ、ブロック(0,1)内に配置されたセル配置データ(s)、ブロック(1,0)ヘッダ、ブロック(1,0)内に配置されたセル配置データ(t)、が定義(格納)される。そして、その他の配置データがさらに格納される。
The cell arrangement data file 22 includes arrangement data (arrangement information) for arranging the
次に、セルパターンデータファイル26には、あるチップ10のn番目のフレーム14に配置される複数のセル18の各パターンデータが含まれている。図3では、一例として、セル(i)〜(l)の各パターンデータを示している。ここでは、セルパターンデータファイル26には、その一部として、パターンデータセグメント(0)、セル(i)のパターンデータを示すセルパターンデータ(i)、セル(j)のパターンデータを示すセルパターンデータ(j)が順に1回ずつ格納されている。続いて、パターンデータセグメント(1)、セル(k)のパターンデータを示すセルパターンデータ(k)が格納されている。さらに、その他のデータが格納され、その後に、パターンデータセグメント(4)、セル(l)のパターンデータを示すセルパターンデータ(l)が格納されている。
Next, the cell pattern data file 26 includes each pattern data of a plurality of
また、リンクデータファイル24には、各セル配置データから各セルパターンデータ参照するためのリンク情報やセルパターンデータへのオペレーション情報が含まれている。図3では、リンクデータファイル24には、その一部として、セル配置データ(p)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(a)、セル配置データ(q)をセルパターンデータ(j)に関連させるための関係データ(b)、セル配置データ(r)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(c)、セル配置データ(s)をセルパターンデータ(k)に関連させるための関係データ(d)、セル配置データ(t)をセルパターンデータ(l)に関連させるための関係データ(e)がその他のデータと共に格納されている。 The link data file 24 includes link information for referring to each cell pattern data from each cell arrangement data and operation information to the cell pattern data. In FIG. 3, the link data file 24 includes, as a part thereof, relation data (a) for associating cell arrangement data (p) with cell pattern data (i), and cell arrangement data (q) as cell pattern data. Relation data (b) for relating to (j), Relation data (c) for relating cell arrangement data (r) to cell pattern data (i), and cell arrangement data (s) to cell pattern data (k) ) And relation data (e) for associating the cell arrangement data (t) with the cell pattern data (l) are stored together with other data.
実施の形態1では、親制御計算機110と子制御計算機130とが密な通信を行なわない場合、或いは、通信を行なっているがウォッチドッグカウンタ等のデータ処理の状況を示すカウンタを機能させていない場合について説明する。また、ここでは、一例として、描画データの処理単位として、フレーム14単位でデータ処理を子制御計算機130に振り分ける場合を説明する。
In the first embodiment, when the
図4は、実施の形態1における親制御計算機と子制御計算機の処理フローの要部工程について示すフローチャート図である。
S102において、フレーム選択工程として、振分部112は、各子制御計算機130に振り分けるフレームを選択する。
FIG. 4 is a flowchart showing the main steps of the processing flow of the parent control computer and the child control computer in the first embodiment.
In S <b> 102, as a frame selection step, the
S104において、パラメータ演算工程として、パラメータ演算部122は、次工程の予想処理時間T1を演算するためのパラメータを演算する。予想処理時間T1は、入力されるあるフレームのデータを特徴付けるパラメータの関数として予想することができる。パラメータとしては、例えば、データタイプ、データ量、セル数、セル配置数等が挙げられる。また、その他にも、ハードウェア資源の構成を考慮しても好適である。ハードウェア資源を考慮する場合のパラメータとして、例えば、CPU性能、CPU数、メモリ量、或いはディスクI/O(入力/出力)の性能等が挙げられる。
In S104, as a parameter calculation step, the
(ケース1)
ケース1では、入力されるフレームデータのデータ量Vtotalと係数k1に基づいて予想処理時間T1を演算する。その場合、予想処理時間T1は、次の式(1)で定義することができる。
(1) T1=k1・Vtotal
(Case 1)
In
(1) T 1 = k 1 · V total
ケース1の場合では、パラメータ演算部122が入力されるフレームデータのデータ量Vtotalを演算する。また、係数k1については予めデータ量に応じたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。また、その際、メモリ或いはロジック等のデバイスの種類によってデータ処理時間が異なるのでそれぞれの場合で測定しておくと良い。これによりデータタイプをパラメータとして考慮することができる。ここで、予想処理時間T1は、式(1)に限定されるものではない。例えば、次のように予想処理時間T1を定義しても好適である。
In
(ケース2)
ケース2では、入力されるフレームデータのセル数Ncellと係数k2に基づいて予想処理時間T1を演算する。その場合、予想処理時間T1は、次の式(2)で定義することができる。
(2) T1=k2・Ncell
(Case 2)
In
(2) T 1 = k 2 · N cell
ケース2の場合では、パラメータ演算部122が入力されるフレームデータのセル数Ncellを演算する。また、係数k2については予めセル数に応じたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。また、その際、メモリ或いはロジック等のデバイスの種類によってデータ処理時間が異なるのでそれぞれの場合で測定しておくと良い。これによりデータタイプをパラメータとして考慮することができる。ここで、予想処理時間T1は、式(2)の他にも、例えば、次のように予想処理時間T1を定義しても好適である。
In
(ケース3)
ケース3では、入力されるフレームデータのセル配置数Ncell−refと係数k3及びセルiのデータ量Vcell−iと係数k4に基づいて予想処理時間T1を演算する。その場合、予想処理時間T1は、次の式(3)で定義することができる。
(3) T1=k3・Ncell−ref+k4・ΣVcell−i
(Case 3)
In Case 3, it calculates the expected processing time T 1 based on the amount of data V cell-i and coefficient k 4 cells arrangement number N cell-ref and the coefficient k 3 and cell i of the frame data input. In that case, the expected processing time T 1 can be defined by the following equation (3).
(3) T 1 = k 3 · N cell-ref + k 4 · ΣV cell-i
ケース3の場合では、パラメータ演算部122が入力されるフレームデータのセル配置数Ncell−refとセルiのデータ量Vcell−iを演算する。また、係数k3については予めセル配置数に応じたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。同様に、係数k4については予めセルiのデータ量の累積加算値に応じたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。また、その際、メモリ或いはロジック等のデバイスの種類によってデータ処理時間が異なるのでそれぞれの場合で測定しておくと良い。これによりデータタイプをパラメータとして考慮することができる。ここで、予想処理時間T1は、式(3)の他にも、例えば、次のように予想処理時間T1を定義しても好適である。
In case 3, the
(ケース4)
ケース4では、式(1)にさらにCPU数NCPUを考慮させて予想処理時間T1を演算する。その場合、予想処理時間T1は、次の式(4)で定義することができる。
(4) T1=k5・Vtotal/NCPU
(Case 4)
In Case 4, it calculates the expected processing time T 1 by considering the further CPU number N CPU to equation (1). In that case, the expected processing time T 1 can be defined by the following equation (4).
(4) T 1 = k 5 · V total / N CPU
ケース4の場合では、パラメータ演算部122が振り分け先の子制御計算機130内に配置されるCPU132の数をさらに取得しておく。また、係数k5については予めCPU数NCPUを考慮させたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。ここで、予想処理時間T1は、式(4)の他にも、例えば、次のように予想処理時間T1を定義しても好適である。
In case 4, the
(ケース5)
ケース5では、式(4)にさらにCPU性能、例えば、クロック定数FCPU、メモリ量に応じた単位時間あたりの処理データ量R、或いは、ディスクI/Oの定数Si/oを考慮させて予想処理時間T1を演算する。ここでは、クロック定数FCPU、単位時間あたりの処理データ量R、及びディスクI/Oの定数Si/oを考慮させて予想処理時間T1を演算する。その場合、予想処理時間T1は、次の式(4)で定義することができる。
(5) T1=k6・Vtotal/(FCPU・R・Si/o・NCPU)
(Case 5)
In the case 5, the CPU performance, for example, the clock constant F CPU , the processing data amount R per unit time corresponding to the memory amount, or the disk I / O constant S i / o is further considered in the expression (4). calculates the expected processing time T 1. Here, the expected processing time T 1 is calculated in consideration of the clock constant F CPU , the processing data amount R per unit time, and the disk S / O constant S i / o . In that case, the expected processing time T 1 can be defined by the following equation (4).
(5) T 1 = k 6 · V total / (F CPU · R · S i / o · N CPU )
ケース5の場合では、パラメータ演算部122がさらに振り分け先の子制御計算機130内に配置されるメモリ134のメモリ量に応じた単位時間あたりの処理データ量R、CPU132のクロック定数FCPU、磁気ディスク装置109のI/Oの定数Si/oをさらに演算或いは取得する。また、係数k6については予め単位時間あたりの処理データ量R、CPU132のクロック定数FCPU、磁気ディスク装置109のI/Oの定数Si/oを考慮させたデータ処理時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。また、式(5)ではこれらの全てを加えているが、これに限らず少なくとも1つを加えた場合でも良い。CPU132のクロック値が1GHzと2GHzでは処理速度が異なるため、クロック値に応じてクロック定数FCPUを設定しておけばよい。また、磁気ディスク装置109の入力/出力の速度が100MB/sと200MB/sとでは処理速度が異なるため、磁気ディスク装置109のI/O性能に応じて定数Si/oを設定しておけばよい。
In case 5, the
図5は、実施の形態1におけるメモリ使用量と単位時間あたりの処理データ量との関係の一例を示す図である。図5に示すように、単位時間あたりのデータ処理量vol/tは、メモリの使用量が所定のメモリ使用量を超えるとそれまでの単位時間あたりの処理データ量R1からR2へと急激に低下する。よって、子制御計算機130内に配置されるメモリ134のメモリ量によって処理データ量Rを可変させると好適である。 FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the relationship between the memory usage amount and the processing data amount per unit time in the first embodiment. As shown in FIG. 5, the data processing amount vol / t per unit time rapidly increases from the processing data amount R 1 to R 2 per unit time until the memory usage exceeds a predetermined memory usage. To drop. Therefore, it is preferable to change the processing data amount R according to the memory amount of the memory 134 arranged in the child control computer 130.
ここで、ケース4,5では、式(1)にそれぞれ新たなパラメータを加えたが、式(1)の代わりに式(2)或いは式(3)に加えても好適である。また、上述した各パラメータのうち、入力されるフレームデータに関するものはパラメータ演算部122が演算する代わりにフレームデータの属性データとしてフレームデータと共に取得するようにしても好適である。
Here, in cases 4 and 5, new parameters are added to the equation (1), but it is also preferable to add them to the equation (2) or the equation (3) instead of the equation (1). Of the above-described parameters, those relating to input frame data are preferably obtained together with the frame data as attribute data of the frame data instead of being calculated by the
S106において、データ処理時間予想工程として、時間予想部116は、描画データ12の処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算する。時間予想部116は、上述したケース1〜5のいずれかの計算方法により予想処理時間T1を演算すればよい。従来のようにデータ量やデータタイプ等に関わらず装置毎に固定した設定時間を用いるのではなく、実施の形態1では、描画データ12の処理単位毎にタイムアウトを判断するための時間を予想する。これによりデータ規模に見合った予想処理時間T1を得ることができる。
In S <b> 106, as the data processing time prediction step, the
S108において、実行命令工程として、命令部118は、描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を子制御計算機130に送信する。命令部118は、実行命令部の一例である。ここでは、実行命令通知が送信されているが、実行命令通知の代わりに子制御計算機130を起動させるようにしても良い。その場合には、起動部114が命令部118の代わりに子制御計算機130を起動させても良い。或いは、起動部114が予め子制御計算機130を起動させておいてから命令部118が実行命令通知を子制御計算機130に送信しても良い。
In S <b> 108, as the execution instruction process, the
S110において、データ処理工程として、子制御計算機130が実行命令通知を受信すると、まず、制御部136は磁気ディスク装置109から割り振られた処理単位のフレームに関するデータを入力する。そして、CPU132が割り振られた処理単位のデータ処理を実行する。そして、制御部136は、データ処理が終了したら終了通知を親制御計算機110に送信する。図4に示すように、親制御計算機110が実行命令通知を送信してから終了通知を受信するまでの時間が予想処理時間T1を越えていない場合には正常終了となる。他方、以下のような場合にタイムアウトエラーとなる。
In S110, as the data processing step, when the child control computer 130 receives the execution command notification, first, the
図6は、実施の形態1におけるタイムアウトエラーが生じる場合の親制御計算機と子制御計算機の処理フローの工程の一部について示すフローチャート図である。
S112において、判定工程として、判定部120は、親制御計算機110が実行命令通知を送信してから予想処理時間T1に達するまでに、子制御計算機130から異常処理に入った旨の信号が来た場合、或いは終了通知が来ない場合に異常状態に入ったものと判定する。言い換えれば、タイムアウトと判定する。そして、判定部120は、子制御計算機130に終了命令通知を送信する。これにより制御部136はCPU132で実行されているデータ処理を強制終了させる。そして、判定部120は、タイムアウトと判定した結果を出力する。出力結果は図示しないモニタに表示或いは外部に出力される。また、出力結果は磁気ディスク装置170に格納されてもよい。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a part of the process flow of the parent control computer and the child control computer when a timeout error occurs in the first embodiment.
In S112, as a judging step, the
以上のように、親制御計算機110側で描画データ12の処理単位毎にタイムアウトを判断するための時間を予想する。そして、処理単位毎に予想した時間でタイムアウトを判断するためタイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制することができる。
As described above, the time for determining the timeout for each processing unit of the drawing
そして、描画部150は、電子ビーム200を用いて、予想処理時間T1内にデータ処理が終了した処理単位の描画データに基づく所定のパターンを試料101に描画する。具体的には、次のようになる。予想処理時間T1内にデータ処理が終了した各処理単位の描画データは、装置固有のフォーマットのショットデータとなって磁気ディスク装置170に格納される。そして、制御回路172に制御された描画部150は、以下のようにしてショットデータに基づく所定のパターンを試料101に描画する。
The
照射部の一例となる電子銃201から出た電子ビーム200は、照明レンズ202により矩形例えば長方形の穴を持つ第1のアパーチャ203全体を照明する。ここで、電子ビーム200をまず矩形例えば長方形に成形する。そして、第1のアパーチャ203を通過した第1のアパーチャ像の電子ビーム200は、投影レンズ204により第2のアパーチャ206上に投影される。かかる第2のアパーチャ206上での第1のアパーチャ像の位置は、偏向器205によって偏向制御され、ビーム形状と寸法を変化させることができる。その結果、電子ビーム200は成形される。そして、第2のアパーチャ206を通過した第2のアパーチャ像の電子ビーム200は、対物レンズ207により焦点を合わせ、偏向器208により偏向される。その結果、XYステージ105上の試料101の所望する位置に照射される。XYステージ105の動作は、連続移動、或いはステップアンドリピート移動で行なわれる。すなわち、描画装置100は、XYステージ105が連続移動しながら描画する。或いは、描画装置100は、XYステージ105がステップアンドリピート移動しながら停止中に描画する。以上のようにして、正常にデータ処理が完了したデータに基づいて高精度な位置に所望するパターンを描画することができる。
An
実施の形態2.
実施の形態1では、親制御計算機110側で予想処理時間T1を予想したがこれに限るものではない。実施の形態2では、子制御計算機130で予想処理時間T1を予想する場合について説明する。
In the first embodiment, the predicted expected processing time T 1
図7は、実施の形態2における描画装置の構成を示す概念図である。
図7において、各子制御計算機130内にパラメータ演算部138及び時間予想部140が追加された点以外は図1と同様である。ここで、図7でも図1と同様、親制御計算機110内の各構成を電気的な回路によるハードウェアにより構成するように記載しているが、これに限るものではなく、ソフトウェアにより実施させても構わない。すなわち、親制御計算機110はコンピュータでも構わない。そして、コンピュータの一例となる親制御計算機110で、振分部112、起動部114、時間予想部116、命令部118、判定部120、及びパラメータ演算部122といった各機能の処理を実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、親制御計算機110に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度メモリ124に記憶される。また、図7では、子制御計算機130内の制御部136、パラメータ演算部138及び時間予想部140を電気的な回路によるハードウェアにより構成するように記載しているが、これに限るものではなく、ソフトウェアにより実施させても構わない。すなわち、制御部136、パラメータ演算部138及び時間予想部140の各機能の処理はコンピュータにより実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、子制御計算機130に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度いずれかのメモリ134に記憶される。図7では、本実施の形態2を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。描画装置100にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
FIG. 7 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a drawing apparatus according to the second embodiment.
7 is the same as FIG. 1 except that a
図8は、実施の形態2における親制御計算機と子制御計算機の処理フローの要部工程について示すフローチャート図である。
S202において、起動工程として、起動部114は、各子制御計算機130を起動させる。そして、S204において、各子制御計算機130が起動する。
FIG. 8 is a flowchart showing the main steps of the processing flow of the parent control computer and the child control computer in the second embodiment.
In S <b> 202, as the activation process, the
S206において、フレーム選択工程として、振分部112は、各子制御計算機130に振り分けるフレームを選択する。
In S206, as a frame selection step, the
S208において、パラメータ演算工程として、パラメータ演算部122は、子制御計算機130が振り分けられるフレームデータのデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算するまでの試算予想時間t1を演算するためのパラメータを演算する。試算予想時間t1は、入力されるあるフレームのデータを特徴付けるパラメータの関数として予想することができる。上述したケース1〜5のいずれかの式を用いればよい。その際、各式の係数については予め使用するパラメータに応じた演算時間を測定しておき、その測定結果をフィッティング(近似)してその係数を求めておけばよい。
In S208, as a parameter calculation step, the
S210において、試算時間予想工程として、時間予想部116は、描画データ12の処理単位毎に、各子制御計算機130が振り分けられる各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算するまでの試算予想時間t1を演算する。時間予想部116は、係数を変えた上述したケース1〜5のいずれかの計算式により試算予想時間t1を演算すればよい。子制御計算機130が振り分けられるフレームデータのデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算している間に処理エラーが発生する場合もある。また、処理すべきデータ規模によって予想処理時間T1を演算するための時間も異なってくる。そのため、試算予想時間t1を演算することで、試算規模に見合ったこの予想処理時間T1を演算するための期間についても試算することができる。
In S210, as estimated time expected process, up to the
S212において、予想処理時間T1算出命令工程として、命令部118は、描画データの処理単位毎に、各予想処理時間T1を算出させるための算出命令を子制御計算機130に送信する。
In S212, as expected processing time T 1 calculated instruction step, the
S214において、パラメータ演算工程として、パラメータ演算部138は、振り分けられるフレームデータのデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算するためのパラメータを演算する。予想処理時間T1を演算する手法は、実施の形態1と同様、上述したケース1〜5のいずれかの式を用いればよい。よって、パラメータ演算部138は、選択したケース1〜5のいずれかの式のパラメータを演算或いは取得すればよい。
In S214, as a parameter calculation step, the
S216において、データ処理時間予想工程として、時間予想部140は、描画データ12の処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算する。時間予想部140は、選択したケース1〜5のいずれかの計算方法により予想処理時間T1を演算すればよい。実施の形態2では、子制御計算機130側で描画データ12の処理単位毎にタイムアウトを判断するための時間を予想する。これによりデータ規模に見合った予想処理時間T1を得ることができる。そして、制御部136は、予想処理時間T1の演算が終了したら予想処理時間T1を親制御計算機110に送信する。図8に示すように、親制御計算機110が予想処理時間T1算出命令通知を送信してから予想処理時間T1を受信するまでの時間が試算予想時間t1を越えていない場合にはその先の実行命令工程へと進むことになる。他方、以下のような場合にタイムアウトエラーとなる。
In S <b> 216, as the data processing time prediction step, the
図9は、実施の形態2におけるタイムアウトエラーが生じる場合の親制御計算機と子制御計算機の処理フローの工程の一部について示すフローチャート図である。
S218において、判定工程として、判定部120は、親制御計算機110が予想処理時間T1算出命令通知を送信してから試算予想時間t1に達するまでに、子制御計算機130から異常処理に入った旨の信号が来た場合、或いは予想処理時間T1の通知が来ない場合に異常状態に入ったものと判定する。言い換えれば、タイムアウトと判定する。そして、判定部120は、子制御計算機130に終了命令通知を送信する。これにより制御部136はパラメータ演算部138或いは時間予想部140で実行されている演算処理を強制終了させる。そして、判定部120は、タイムアウトと判定した結果を出力する。出力結果は図示しないモニタに表示或いは外部に出力される。また、出力結果は磁気ディスク装置170に格納されてもよい。
FIG. 9 is a flowchart illustrating a part of the process flow of the parent control computer and the child control computer when a timeout error occurs in the second embodiment.
In S218, as a judging step, the
以上のように、親制御計算機110側で描画データ12の処理単位毎にタイムアウトを判断するための予想処理時間T1を演算するための試算時間を予想する。そして、処理単位毎に予想した試算予想時間t1でタイムアウトを判断するため、ここでもタイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制することができる。
Thus, to predict the estimated time for computing the estimated processing time T 1 of the order to determine the time-out for each processing unit of the drawing
S220において、実行命令工程として、前工程でタイムアウトエラーが生じなかった場合に、命令部118は、描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を子制御計算機130に送信する。命令部118は、実行命令部の一例である。
In S220, when a time-out error has not occurred in the previous process as an execution command process, the
S222において、データ処理工程として、子制御計算機130が実行命令通知を受信すると、まず、制御部136は磁気ディスク装置109から割り振られた処理単位のフレームに関するデータを入力する。そして、CPU132が割り振られた処理単位のデータ処理を実行する。そして、制御部136は、データ処理が終了したら終了通知を親制御計算機110に送信する。図8に示すように、親制御計算機110が実行命令通知を送信してから終了通知を受信するまでの時間が予想処理時間T1を越えていない場合には正常終了となる。他方、親制御計算機110が実行命令通知を送信してから予想処理時間T1に達するまでに、子制御計算機130から異常処理に入った旨の信号が来た場合、或いは終了通知が来ない場合にタイムアウトエラーとなる。
In S222, as the data processing step, when the child control computer 130 receives the execution command notification, first, the
ここで、実施の形態2におけるタイムアウトエラーが生じる場合の親制御計算機と子制御計算機の処理フローは、上述した図6におけるS108をS220に、S110をS222に、及びS112をS224に置き換えた場合と同様である。すなわち、S224において、判定工程として、判定部120は、親制御計算機110が実行命令通知を送信してから予想処理時間T1に達するまでに、子制御計算機130から異常処理に入った旨の信号が来た場合、或いは終了通知が来ない場合に異常状態に入ったものと判定する。言い換えれば、タイムアウトと判定する。そして、判定部120は、子制御計算機130に終了命令通知を送信する。これにより制御部136はCPU132で実行されているデータ処理を強制終了させる。そして、判定部120は、タイムアウトと判定した結果を出力する。出力結果は図示しないモニタに表示或いは外部に出力される。また、出力結果は磁気ディスク装置170に格納されてもよい。
Here, when the timeout error occurs in the second embodiment, the processing flow of the parent control computer and the child control computer is as follows when S108 in FIG. 6 is replaced with S220, S110 with S222, and S112 with S224. It is the same. That is, in S224, as a determination step, the
以上のように、子制御計算機130側で描画データ12の処理単位毎にタイムアウトを判断するための時間を予想する。そして、処理単位毎に予想した時間でタイムアウトを判断するためタイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制することができる。
As described above, the time for determining the timeout for each processing unit of the drawing
そして、描画部150は、電子ビーム200を用いて、予想処理時間T1内にデータ処理が終了した処理単位の描画データに基づく所定のパターンを試料101に描画する。その他は、実施の形態1と同様である。
The
実施の形態3.
実施の形態1或いは実施の形態2では、親制御計算機110と子制御計算機130とがウォッチドッグカウンタ等のデータ処理の状況を示すカウンタを機能させていない場合について説明した。実施の形態3では、ウォッチドッグカウンタ等のデータ処理の状況を示すカウンタを機能させている場合を説明する。
Embodiment 3 FIG.
In the first embodiment or the second embodiment, a case has been described in which the
図10は、実施の形態3における描画装置の構成を示す概念図である。
図10において、親制御計算機110から時間予想部116及びパラメータ演算部122が削除された点と、各子制御計算機130内にカウンタチェック部142、判定部144、及びカウンタ146が追加された点以外は図7と同様である。ここで、図10でも図1,7と同様、親制御計算機110内の各構成を電気的な回路によるハードウェアにより構成するように記載しているが、これに限るものではなく、ソフトウェアにより実施させても構わない。すなわち、親制御計算機110はコンピュータでも構わない。そして、コンピュータの一例となる親制御計算機110で、振分部112、起動部114、命令部118、及び判定部120といった各機能の処理を実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、親制御計算機110に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度メモリ124に記憶される。また、図10では、子制御計算機130内の制御部136、パラメータ演算部138、時間予想部140、カウンタチェック部142、判定部144、及びカウンタ146を電気的な回路によるハードウェアにより構成するように記載しているが、これに限るものではなく、ソフトウェアにより実施させても構わない。すなわち、制御部136、パラメータ演算部138、時間予想部140、カウンタチェック部142、判定部144、及びカウンタ146の各機能の処理はコンピュータにより実行させても構わない。或いは、電気的な回路によるハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、かかるハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、ソフトウェアにより、或いはソフトウェアとの組合せにより実施させる場合には、子制御計算機130に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度いずれかのメモリ134に記憶される。図10では、本実施の形態3を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。描画装置100にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
FIG. 10 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a drawing apparatus according to the third embodiment.
10, except that the
振り分けられるフレームデータのデータ処理を行なうにあたり、ウォッチドッグカウンタを機能させてタイムアウトエラーを管理する場合、次のように制御される。まず、子制御計算機130が予め設定された所定の周期t0でカウンタ値をチェックして、カウンタ値が上がっていれば親制御計算機110側にアライブ(ALIVE)信号(所定の信号)を送信する。カウンタ値は例えばセル単位のデータ処理が終了する毎に例えば1ずつ加算される。他方、親制御計算機110は、予め設定された所定の制限時間T0内にALIVE信号を受信しない場合にはタイムアウトと判定することになる。ここで、カウンタ値がカウントアップされなければならない制限時間T0は有限である。そのため、ソフトウェアの設計、或いは処理するデータによっては、処理が実際には正常に継続されているにも関わらずカウンタ値が変化しないためにALIVE信号が親制御計算機110側に送信されず異常状態(タイムアウトエラー)になっていると誤検知される可能性がある。
In performing data processing of distributed frame data, when a watchdog counter is operated to manage a time-out error, control is performed as follows. First, check the counter value at a predetermined period t 0 child control computer 130 has been set in advance, and transmits if the counter value is increased to a
ここで、カウンタ値を上げる処理単位をセル単位からさらにデータ量の小さい図形単位にすることでタイムアウトを回避することも考えられる。しかしながら、カウンタチェックの回数が増加するのでこれでは描画データの処理時間自体が大幅に増加してしまうので好ましくない。そこで、実施の形態3では、以下のように構成することで上述した誤検知を回避する。 Here, it is also conceivable to avoid a timeout by changing the processing unit for increasing the counter value from a cell unit to a graphic unit having a smaller data amount. However, since the number of counter checks increases, this is not preferable because the processing time itself of the drawing data increases significantly. Therefore, in the third embodiment, the above-described erroneous detection is avoided by configuring as follows.
図11は、実施の形態3における親制御計算機と子制御計算機の処理フローの要部工程について示すフローチャート図である。
S300において、制限時間T0設定工程として、カウンタ値がカウントアップされなければならない制限時間T0を親制御計算機110に設定しておく。同様に、S302において、周期t0設定工程として、カウンタ値をチェックする周期t0を各子制御計算機130に設定しておく。
FIG. 11 is a flowchart showing the main steps of the processing flow of the parent control computer and the child control computer in the third embodiment.
In S300, as the time limit T 0 setting step, setting the time limit T 0 the counter value must be incremented to a
S304において、フレーム選択工程として、振分部112は、各子制御計算機130に振り分けるフレームを選択する。
In S304, as a frame selection step, the
S306において、実行命令工程として、命令部118は、描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を子制御計算機130に送信する。命令部118は、実行命令部の一例である。ここでは、実行命令通知が送信されているが、実行命令通知の代わりに子制御計算機130を起動させるようにしても良い。その場合には、起動部114が命令部118の代わりに子制御計算機130を起動させても良い。或いは、起動部114が予め子制御計算機130を起動させておいてから命令部118が実行命令通知を子制御計算機130に送信しても良い。
In S <b> 306, as an execution instruction process, the
S308において、カウンタリセット工程として、カウンタチェック部142は、カウンタ146の値をリセットして「0」にする。 In S308, as a counter reset process, the counter check unit 142 resets the value of the counter 146 to “0”.
S310において、データ処理時間予想工程として、時間予想部140は、カウンタ値がカウントアップされる処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間T1iを演算する。例えば、振り分けられたフレームデータにおけるフレーム内に配置されるセルをカウントアップされる処理単位とする。その場合、セル単位のデータ処理毎にカウンタ値がカウントアップされることになる。よって、ここではセルA1のデータ処理にかかる予想処理時間T11を演算する。まず、パラメータ演算部138が、セルA1のデータ処理にかかる予想処理時間T1を演算するためのパラメータを演算する。予想処理時間T1iを演算する手法は、実施の形態1と同様、上述したケース1,4,5のいずれかの式を用いればよい。但し、式(1)(4)(5)のデータ量Vtotalは、該当するセルAiのデータ量とすることは言うまでもない。よって、パラメータ演算部138は、選択したケース1,4,5のいずれかの式のパラメータを演算或いは取得すればよい。そして、時間予想部140は、セル単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間T1iを演算する。時間予想部140は、選択したケース1,4,5のいずれかの計算方法により予想処理時間T1iを演算すればよい。実施の形態3では、子制御計算機130側でセル単位毎にタイムアウトを判断するための時間を予想する。これによりデータ規模に見合った予想処理時間T1iを得ることができる。
In S310, as the data processing time prediction step, the
S312において、データ処理工程として、子制御計算機130が実行命令通知を受信すると、まず、制御部136は磁気ディスク装置109から割り振られた処理単位のフレームに関するデータを入力する。そして、CPU132が割り振られたフレームデータにおけるフレーム内に配置されるセル単位のデータのデータ処理を実行する。ここでは、セルA1のデータ処理を実行する。
In step S312, when the child control computer 130 receives an execution command notification as a data processing step, first, the
S314において、カウンタチェック工程として、カウンタチェック部142は、実行命令通知を受信してから設定された周期t0でカウンタ146の値をチェックする。 In S314, as a counter checking step, the count checking unit 142 checks the value of the counter 146 in period t 0, which is set after receiving the execution command notification.
S316において、判定工程として、判定部144は、予想処理時間T11を演算してからカウンタ146の値をチェックした時点までの時間が予想処理時間T11を越えているかどうかを判定する。そして、判定の結果、前工程でカウンタ値が上がっていない場合でも、まだ、予想処理時間T11が経過する前であれば、制御部136は、ダミーのALIVE信号(所定の信号)を親制御計算機110に送信する。すなわち、周期t0(第1の期間)内にセル単位のデータ処理が終了しない場合にまだ予想処理時間T11が経過する前であれば、制御部136は、ダミーのALIVE信号(所定の信号)を親制御計算機110に送信する。図11では、まだセルA1のデータのデータ処理が終了しておらずカウンタ値が上がっていない場合を示しているが、まだ、予想処理時間T11が経過する前であれば、前工程(S314)でカウンタ値が上がっていれば制御部136は、実際(リアル)のALIVE信号を親制御計算機110に送信する。そして、親制御計算機110は、設定された制限時間T0(第2の期間)内にダミーかリアルかに関わらずALIVE信号を受信する限り、周期t0内にセル単位のデータ処理が終了していない場合でも子制御計算機130のデータ処理が正常であると判定する。そして、セルA1のデータ処理がそのまま進められる。
In S316, as a judging step, the
S318において、カウンタチェック工程として、カウンタチェック部142は、前回のカウンタチェック時からさらに周期t0で再度カウンタ146の値をチェックする。 In S318, as a counter checking step, the count checking unit 142 checks the value of the counter again 146 further period t 0 from the previous count checking.
S320において、判定工程として、判定部144は、予想処理時間T11を演算してから前工程(S318)でカウンタ146の値をチェックした時点までの時間が予想処理時間T11を越えているかどうかを判定する。そして、判定の結果、前工程(S318)でカウンタ値が上がっていない場合でも、まだ、予想処理時間T11が経過する前であれば、制御部136は、前回と同様、ダミーのALIVE信号を親制御計算機110に送信する。そして、セルA1のデータ処理が進み、データ処理が終了するとカウンタ146の値が1加算される。
In S320, as a judging step, the
S322において、データ処理時間予想工程として、時間予想部140は、次のセルA2のデータ処理にかかる予想処理時間T12を演算する。演算方法は、セルA1の場合と同様である。
In S322, as the data processing time predicted
S324において、データ処理工程として、CPU132がセルA2のデータ処理を実行する。そして、セルA2のデータ処理が進み、データ処理が終了するとカウンタ146の値が新たに1加算されて「2」となる。 In S324, as the data processing step, CPU 132 executes the data processing of the cell A 2. Then, the data processing of the cell A 2 proceeds, and when the data processing is completed, the value of the counter 146 is newly added by 1 to “2”.
S326において、データ処理時間予想工程として、時間予想部140は、次のセルA3のデータ処理にかかる予想処理時間T13を演算する。演算方法は、セルA1の場合と同様である。
In S326, as the data processing time predicted
S328において、データ処理工程として、CPU132がセルA3のデータ処理を実行する。 In S328, as the data processing step, CPU 132 executes the data processing of the cell A 3.
S330において、カウンタチェック工程として、カウンタチェック部142は、前回のカウンタチェック時からさらに周期t0で再度カウンタ146の値をチェックする。 In S330, as a counter checking step, the count checking unit 142 checks the value of the counter again 146 further period t 0 from the previous count checking.
S332において、判定工程として、判定部144は、予想処理時間T13を演算してから前工程(S330)でカウンタ146の値をチェックした時点までの時間が予想処理時間T13を越えているかどうかを判定する。そして、判定の結果、まだ、予想処理時間T11が経過する前であれば、前工程(S330)でカウンタ値が上がっていない場合でも、制御部136は、前回と同様、ダミーのALIVE信号を親制御計算機110に送信する。或いは、まだ、予想処理時間T11が経過する前であれば、前工程(S330)でカウンタ値が上がっていれば制御部136は、リアルのALIVE信号を親制御計算機110に送信する。ここでは、カウンタ値が「0」から「2」へと上がっているのでリアルのALIVE信号を親制御計算機110に送信する。
In S332, as a judging step, the
以上のように、セル単位で処理が進められ、S360におけるセルAnのデータ処理が終了するまで同様に動作する。そして、振り分けられたフレームデータ内の最後のセルAnのデータ処理が終了すると、制御部136は終了通知を親制御計算機110に送信する。図11に示すように、親制御計算機110は、設定された制限時間T0内にダミーかリアルかに関わらずALIVE信号を受信する限り、周期t0内にセル単位のデータ処理が終了していない場合でも子制御計算機130のデータ処理が正常であると判定する。そして、最後のセルAnのデータ処理が終了すると正常終了となる。他方、以下のような場合にタイムアウトエラーとなる。
As described above, the process in cell units is advanced, operates similarly to the data processing of the cell A n is completed in S360. The data processing of the last cell A n in the frame sorted data upon completion,
図12は、実施の形態3におけるタイムアウトエラーが生じる場合の親制御計算機と子制御計算機の処理フローの工程の一部について示すフローチャート図である。
ここで、図12では、例えば、S340においてセルAkの予想処理時間T1kが演算され、S342でセルAkのデータ処理が実行されている場合を示している。また、kは、1≦k≦nとする。
FIG. 12 is a flowchart illustrating a part of the process flow of the parent control computer and the child control computer when a timeout error occurs in the third embodiment.
In FIG. 12, for example, the expected processing time T 1k cell A k is calculated in S340, it shows a case where data processing of the cell A k is running in S342. Further, k is 1 ≦ k ≦ n.
S344において、カウンタチェック工程として、カウンタチェック部142は、前回のカウンタチェック時からさらに周期t0で再度カウンタ146の値をチェックする。 In S344, as a counter checking step, the count checking unit 142 checks the value of the counter again 146 further period t 0 from the previous count checking.
S346において、判定工程として、判定部144は、予想処理時間T1kを演算してから前工程(S344)でカウンタ146の値をチェックした時点までの時間が予想処理時間T1kを越えているかどうかを判定する。そして、判定の結果、予想処理時間T1kが経過したにも関わらずセルAkの処理が終了していない場合、前工程(S330)でカウンタ値が上がっているかいないかに関わらず、制御部136は、エラー通知を親制御計算機110に送信する。そして、制御部136は、セルAkのデータ処理を強制終了させる。判定部120は、親制御計算機110が実行命令通知を送信した後、設定された制限時間T0内にダミーかリアルかに関わらずALIVE信号を受信しない場合、或いは、エラー通知を受信した場合に異常状態に入ったものと判定する。言い換えれば、タイムアウトと判定する。また、エラー通知を受信した場合には子制御計算機130でのデータ処理は強制終了されているが、制限時間T0内にALIVE信号を受信しない場合には、子制御計算機130でのデータ処理が異常の状態で実行されている可能性もあるので、その場合に、判定部120は、子制御計算機130に終了命令通知を送信する。これにより制御部136はCPU132で実行されているデータ処理を強制終了させる。そして、判定部120は、タイムアウトと判定した結果を出力する。出力結果は図示しないモニタに表示或いは外部に出力される。また、出力結果は磁気ディスク装置170に格納されてもよい。
In S346, as a judging step, the
以上のように、ウォッチドッグカウンタで管理している場合でも、データ規模に応じた予想処理時間でタイムアウトを判断することができる。そのためタイムアウトエラーの誤判定や異常動作に対する対応措置の遅れを抑制することができる。 As described above, even when managed by the watchdog counter, it is possible to determine the timeout with the expected processing time corresponding to the data scale. Therefore, it is possible to suppress delays in countermeasures against erroneous determination of time-out errors and abnormal operations.
そして、描画部150は、電子ビーム200を用いて、予想処理時間T1内にデータ処理が終了した処理単位の描画データに基づく所定のパターンを試料101に描画する。その他は、実施の形態1と同様である。
The
以上の説明において、「〜部」或いは「〜工程」と記載したものは、コンピュータで動作可能なプログラムにより構成することができる。或いは、ソフトウェアとなるプログラムだけではなく、ハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、ハードウェアとファームウェアとの組合せでも構わない。また、プログラムにより構成される場合、プログラムは、磁気ディスク装置109、図示しない磁気テープ装置、FD、CD、DVD、MO或いはROM等の記録媒体に記録される。
In the above description, what is described as “to part” or “to process” can be configured by a computer-operable program. Or you may make it implement by not only the program used as software but the combination of hardware and software. Alternatively, a combination of hardware and firmware may be used. When configured by a program, the program is recorded on a recording medium such as a
以上、具体例を参照しつつ実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。例えば、後述した各実施の形態では、予想した時間をタイムアウト時間として設定し、タイムアウトとなった場合にはすぐに異常終了処理としているがこれに限るものではない。代わりに、タイムアウトとなった場合にリトライ処理を行なうようにしても好適である。その場合、データ処理の予想時間を演算する際に、対象となる処理データ全体を複数のステップに分けておく。そして、ステップ内での処理完了比率の記録を格納しておくようにするとよい。このように構成すれば、実際に処理が中途となった場合に、どこまでデータ処理が進捗していたかの情報と比較して、リトライ時の処理時間を計算することができる。また、部分的にデータができていく場合には、そのデータ量を元に予想終了時間を求めてもよい。また、N回リトライ時の予想処理時間の補正係数を予め設定しておき、補正した時間をタイムアウト時間としてリトライしても好適である。例えば、2回目のリトライ時には元々の予想処理時間の2倍に時間とする。そして、3回目のリトライ時には元々の予想処理時間の4倍に時間とする。そして、4回目のリトライ時には元々の予想処理時間の5倍に時間とする。このようにタイムアウト時間を設定してリトライしても好適である。 The embodiments have been described above with reference to specific examples. However, the present invention is not limited to these specific examples. For example, in each of the embodiments described later, the predicted time is set as the timeout time, and when the timeout occurs, the abnormal termination process is immediately performed. However, the present invention is not limited to this. Instead, it is also preferable to perform a retry process when a timeout occurs. In that case, when calculating the expected time of data processing, the entire target processing data is divided into a plurality of steps. And it is good to store the record of the processing completion ratio in a step. According to this configuration, when the processing is actually halfway, it is possible to calculate the processing time at the time of retrying by comparing with information on how far the data processing has progressed. When data is partially created, the expected end time may be obtained based on the data amount. It is also preferable to set a correction coefficient for the expected processing time at the time of retrying N times in advance and retry the corrected time as a timeout time. For example, at the second retry, the time is set to twice the original expected processing time. At the time of the third retry, the time is set to four times the original expected processing time. At the time of the fourth retry, the time is set to five times the original expected processing time. Thus, it is preferable to set a timeout time and retry.
また、装置構成や制御手法等、本発明の説明に直接必要しない部分等については記載を省略したが、必要とされる装置構成や制御手法を適宜選択して用いることができる。例えば、描画装置100を制御する制御部構成については、記載を省略したが、必要とされる制御部構成を適宜選択して用いることは言うまでもない。
In addition, although descriptions are omitted for parts and the like that are not directly required for the description of the present invention, such as a device configuration and a control method, a required device configuration and a control method can be appropriately selected and used. For example, although the description of the control unit configuration for controlling the
その他、本発明の要素を具備し、当業者が適宜設計変更しうる全ての荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法、及び描画データのデータ処理方法は、本発明の範囲に包含される。 In addition, all charged particle beam drawing apparatuses, charged particle beam drawing methods, and drawing data processing methods that include elements of the present invention and that can be appropriately modified by those skilled in the art are included in the scope of the present invention.
10 チップ
12 描画データ
14 フレーム
16 ブロック
18 セル
19 図形
20 チップ構成ファイル
22 セル配置データファイル
24 リンクデータファイル
26 セルパターンデータファイル
100 描画装置
101,340 試料
102 電子鏡筒
103 描画室
105 XYステージ
109,170 磁気ディスク装置
110 親制御計算機
112 振分部
114 起動部
116,140 時間予想部
118 命令部
120,144 判定部
122,138 パラメータ演算部
124,134 メモリ
130 子制御計算機
132 CPU
136 制御部
142 カウンタチェック部
146 カウンタ
150 描画部
160 制御部
172 制御回路
200 電子ビーム
201 電子銃
202 照明レンズ
203,410 第1のアパーチャ
206,420 第2のアパーチャ
204 投影レンズ
205,208 偏向器
207 対物レンズ
330 電子線
411 開口
421 可変成形開口
430 荷電粒子ソース
10
136 Control unit 142 Counter check unit 146
Claims (5)
前記描画データを処理単位毎に分けて、各処理単位のデータ処理を実行させる主側計算機と、
前記主側計算機から実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する従側計算機と、
正常にデータ処理が終了した前記所定の処理単位の描画データに基づく所定のパターンを前記試料に描画する描画部と、
を備え、
前記主側計算機と前記従側計算機とのいずれか一方は、前記描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算し、
前記従側計算機は、前記所定の処理単位のデータ処理が前記予想処理時間内に終了しない場合にエラーとしてデータ処理を終了することを特徴とする描画装置。 A storage unit for storing drawing data for drawing a predetermined pattern on the sample;
A main computer that divides the drawing data into processing units and executes data processing of each processing unit;
A slave computer that receives an execution instruction from the master computer and executes data processing of a predetermined processing unit;
A drawing unit for drawing a predetermined pattern on the sample based on the drawing data of the predetermined processing unit in which data processing has been normally completed;
With
Either one of the main computer and the slave computer calculates the expected processing time for data processing of each processing unit for each processing unit of the drawing data,
The slave computer terminates data processing as an error when data processing of the predetermined processing unit does not end within the expected processing time.
前記主側計算機は、第2の期間内に前記所定の信号を受信する限り、前記第1の期間内に前記所定の処理単位のデータ処理が終了していない場合でも前記従側計算機のデータ処理が正常であると判定することを特徴とする請求項1記載の描画装置。 The slave computer transmits a predetermined signal to the master computer if the expected processing time has not yet elapsed when the data processing of the predetermined processing unit is not completed within the first period,
As long as the main computer receives the predetermined signal within the second period, even if the data processing of the predetermined processing unit is not completed within the first period, the data processing of the slave computer The drawing apparatus according to claim 1, wherein the image is determined to be normal.
前記描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理を実行させるための実行命令を送信する実行命令部と、
前記描画データの処理単位毎に、各処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算する時間予想部と、
前記実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する実行部と、
前記予想処理時間内にデータ処理が終了した前記所定の処理単位の描画データに基づく所定のパターンを前記試料に描画する描画部と、
を備えたことを特徴とする描画装置。 A storage unit for storing drawing data for drawing a predetermined pattern on the sample;
An execution command unit that transmits an execution command for executing data processing of each processing unit for each processing unit of the drawing data;
For each processing unit of the drawing data, a time prediction unit that calculates an expected processing time for data processing of each processing unit;
An execution unit that receives the execution instruction and executes data processing of a predetermined processing unit;
A drawing unit for drawing a predetermined pattern on the sample based on drawing data of the predetermined processing unit in which data processing is completed within the expected processing time;
A drawing apparatus comprising:
前記所定の処理単位のデータ処理にかかる予想処理時間を演算する工程と、
前記実行命令を受信して所定の処理単位のデータ処理を実行する工程と、
前記予想処理時間内に前記所定の処理単位のデータ処理が終了しない場合に、タイムアウトエラーと判定し、結果を出力する工程と、
を備えたことを特徴とする描画データのデータ処理方法。 Dividing drawing data for drawing a predetermined pattern on a sample for each processing unit, and transmitting an execution command for executing data processing of a predetermined processing unit;
Calculating an expected processing time for data processing of the predetermined processing unit;
Receiving the execution instruction and executing data processing of a predetermined processing unit;
When the data processing of the predetermined processing unit does not end within the expected processing time, determining a timeout error and outputting the result;
A data processing method for drawing data, comprising:
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