JP2009069682A - 画像形成装置および測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な画像形成装置を提供する。
【解決手段】照射ユニットにより反射光強度の測定が行われる（ステップ１０１）。次いで、ピーク有無判断部は、反射光強度にピークが存在するか否かを判断する（ステップ１０２）。その後、膜厚算出部は、ＯＣ層の膜厚を算出する（ステップ１０３）。次いで、判断部は、ステップ１０３にて算出されたＯＣ層の膜厚が、所定の閾値よりも小さいか否かを判断する（ステップ１０４）。判断部は、膜厚が所定の閾値よりも小さいと判断した場合には、制御部に対して、膜厚が所定の閾値よりも小さい旨の判断結果を出力する（ステップ１０５）。そして、制御部は、外部表示部に画像形成ユニットの交換を要求する旨を表示し（ステップ１０６）、画像形成装置における各部（各装置）の動作を停止させる（ステップ１０７）。
【選択図】図５

Description

本発明は、プリンタやファクシミリなどの画像形成装置、および像保持体の状態を把握可能な測定装置に関する。

感光体ドラムなどの被帯電体が使用限界に達したにも拘わらず使用されることによる帯電不良等を防止するため、被帯電体に接触する電極部材に印加する電圧と、電極部材に流れる電流とにより被帯電体の厚みを検知する手段を有する厚み検知装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
また、感光体の膜厚を精度よく求めるため、帯電部材から感光体に流れる電流を時間積算し帯電電荷量を求める電荷量検出部と、帯電電荷量から前記感光体の膜厚を算出する制御部と、を有する画像形成装置が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
さらに、薄い下引層の膜厚を精度よく測定可能とするため、反射光の干渉特性を複数の干渉波形パターンのいずれかであるかを識別しかつ干渉次数の同定を行う干渉波形識別手段を備えた膜厚測定装置が提案されている（例えば、特許文献３参照）。

特開平５−２２３５１３号公報 特開２００６−３０９１４４号公報 特開平１１−１８４１０４号公報

ここで、感光体ドラムなどの像保持体に設けられた保護層の摩耗が進行し保護層の状態が変化すると画像の品位を維持することができなくなるおそれがある。また、保護層が良好な状態にあるにも関わらず像保持体の交換要求などをユーザ等に発すると資源的な無駄を招来してしまう。
本発明は、像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な画像形成装置等を提供することにある。

請求項１に記載の発明は、表面に保護層を備え、回転可能に設けられた像保持体と、前記像保持体の回転数に応じ所定のタイミングで当該像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の強度を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された複数の前記強度から当該強度のピーク又は／及びボトムを検出する検出手段と、を含む画像形成装置である。
請求項２に記載の発明は、前記検出手段により検出されたピーク又は／及びボトムに基づき、前記保護層の膜厚を把握する膜厚把握手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項３に記載の発明は、前記検出手段により検出されたピーク又は／及びボトムの数をカウントするカウント手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項４に記載の発明は、前記強度が前記ピーク又は／及びボトムを迎えた際における前記保護層の膜厚を把握するピーク膜厚把握手段と、前記強度が前記ピーク又は／及びボトムを迎えた際における前記像保持体の回転数を把握するピーク回転数把握手段と、前記ピーク膜厚把握手段により把握された膜厚と前記ピーク回転数把握手段により把握された回転数との関係に基づき、当該膜厚が所定値に達する前記像保持体の回転数を予測する予測手段と、を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項５に記載の発明は、前記強度が前記ピーク又はボトムとなる前記像保持体の回転数を予測する回転数予測手段を更に備えたことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項６に記載の発明は、前記検出手段により検出された第１のピーク又は／及びボトムにおける反射光の強度、又は当該強度に基づき算出される第１の算出値と、当該検出手段により検出された第２のピーク又は／及びボトムにおける反射光の強度、又は当該強度に基づき算出される第２の算出値と、を対比する対比手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項７に記載の発明は、前記測定手段は、前記像保持体に対して光を照射する光源と、当該像保持体からの反射光の強度を測定する受光素子とを備え、前記光源および前記受光素子は、前記像保持体の軸方向に沿って移動可能に設けられていることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項８に記載の発明は、前記測定手段は、第１の波長の光と、当該第１の波長とは異なる第２の波長の光とを前記像保持体に照射することを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
請求項９に記載の発明は、前記検出手段による検出結果に基づき、前記像保持体による像形成を停止させ又は／及び当該像保持体の交換要求を発する制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。

請求項１０に記載の発明は、表面に保護層を備えた像保持体と、前記像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の干渉波形を取得する干渉波形取得手段と、前記干渉波形取得手段により取得された干渉波形からピーク数又は／及びボトム数を検出するピーク数/ボトム数検出手段と、を含む画像形成装置である。
請求項１１に記載の発明は、前記干渉波形取得手段が前記像保持体に照射する光の当該像保持体表面における照射形状は、当該像保持体の軸方向に延びるように形成されることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置である。
請求項１２に記載の発明は、前記ピーク数/ボトム数検出手段にて検出されたピーク数又は／及びボトム数に基づいて前記保護層の膜厚を認識する膜厚認識手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置である。
請求項１３に記載の発明は、前記ピーク数/ボトム数検出手段にて検出されたピーク数又は／及びボトム数と、所定の閾値とを比較する比較手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置である。
請求項１４に記載の発明は、前記ピーク数/ボトム数検出手段にてピーク数又は／及びボトム数が検出されない場合に、前記像保持体による像形成を停止させ又は／及び当該像保持体の交換要求を発する制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置である。

請求項１５に記載の発明は、表面に保護層を備えた像保持体の回転数に応じ所定のタイミングで当該像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の強度を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された複数の前記強度から当該強度のピーク又は／及びボトムを検出する検出手段と、を含む測定装置である。
請求項１６に記載の発明は、表面に保護層を備えた像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の干渉波形を取得する干渉波形取得手段と、前記干渉波形取得手段により取得された干渉波形からピーク数又は／及びボトム数を検出するピーク/ボトム数検出手段と、を含む測定装置である。

本発明の請求項１によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な画像形成装置を提供することができる。
本発明の請求項２によれば、保護層の膜厚から保護層の状態を把握することが可能となる。
本発明の請求項３によれば、例えば膜厚を把握せずとも像保持体の寿命を判断することができる。
本発明の請求項４によれば、例えば反射光の強度のピークなどが一定間隔で検出されない場合でも、像保持体の膜厚が所定値に達する像保持体の回転数を予測することができる。
本発明の請求項５によれば、例えば反射光の強度のピークなどが検出されない場合が生じたとしても像保持体の寿命を判断することができる。
本発明の請求項６によれば、像保持体の寿命を判断することが可能となる。
本発明の請求項７によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体の軸方向における摩耗むらの影響を低減可能となる。
本発明の請求項８によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、保護層の膜厚を正確に把握することができる。
本発明の請求項９によれば、例えば品位の低い画像がユーザに提供されるのを防止できる。

本発明の請求項１０によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な画像形成装置を提供することができる。
本発明の請求項１１によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体の周方向に沿って形成された傷の影響を抑えることができる。
本発明の請求項１２によれば、保護層の膜厚を認識することができる。
本発明の請求項１３によれば、例えば膜厚を認識せずとも像保持体の寿命を判断することができる。
本発明の請求項１４によれば、干渉波形からピーク数等が検出されない場合であっても、例えば像保持体の交換要求を発することができる。

本発明の請求項１５によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な測定装置を提供することができる。
本発明の請求項１６によれば、本発明の構成を有していない場合に比較して、像保持体における保護層の状態をより適切に把握可能な測定装置を提供することができる。

―第１の実施形態―
以下、添付図面を参照して、本発明の第１の実施形態について詳細に説明する。
図１は、本発明が適用される画像形成装置１の全体構成を示した図であり、所謂タンデム型のデジタルカラープリンタを示している。図１に示す画像形成装置１は、各色の階調データに対応して画像形成を行う画像プロセス系１０、用紙Ｐを搬送する用紙搬送系４０、例えば図示しないパーソナルコンピュータ(ＰＣ)や原稿読み取り装置等に接続され、受信した画像データに対して所定の画像処理を施す画像処理部（不図示）、各部（各装置）の動作を制御する制御部６０（後述）などを備えている。

画像プロセス系１０は、水平方向に一定の間隔を置いて並列的に配置される、イエロー(Ｙ)、マゼンタ(Ｍ)、シアン(Ｃ)、黒(Ｋ)の４つの画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋを備えている。また、画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋの感光体ドラム１２に形成された各色のトナー像を中間転写ベルト２１上に多重転写させる転写ユニット２０、画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋに対してレーザ光を照射するレーザ露光器３０を備えている。さらに、転写ユニット２０によって二次転写された画像を、熱および圧力を用いて用紙Ｐに定着させる定着器２９を備えている。更に、画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋに対して各色のトナーを供給するためのトナーカートリッジ１６Ｙｃ,１６Ｍｃ,１６Ｃｃ,１６Ｋｃを備えている。

転写ユニット２０は、中間転写ベルト２１を駆動するドライブローラ２２、中間転写ベルト２１に一定のテンションを付与するテンションローラ２３、重畳された各色のトナー像を用紙Ｐに二次転写するためのバックアップローラ２４、中間転写ベルト２１上に存在する残留トナー等を除去するベルトクリーナ２５を備えている。中間転写ベルト２１は、ドライブローラ２２、テンションローラ２３およびバックアップローラ２４との間に一定のテンションで掛け回されており、ドライブローラ２２によって矢印方向に所定の速度で循環駆動される。

レーザ露光器３０は、図示しないレーザダイオード、変調器の他、レーザダイオードから出射されたレーザ光(ＬＢ−Ｙ,ＬＢ−Ｍ,ＬＢ−Ｃ,ＬＢ−Ｋ)を偏向走査するポリゴンミラー３１を備えている。
用紙搬送系４０は、画像が記録される用紙Ｐを積載する積載部４１、積載部４１から用紙Ｐを取り上げて供給するナジャーローラ４２、ナジャーローラ４２から供給された用紙Ｐを１枚ずつ分離して搬送するフィードローラ４３、フィードローラ４３により１枚ずつに分離された用紙Ｐを二次転写位置に向けて搬送する搬送路４４を備えている。

また、用紙搬送系４０は、搬送路４４を介して搬送された用紙Ｐを、二次転写位置に向けてタイミングを合わせて搬送するレジストローラ４５、二次転写位置に設けられバックアップローラ２４に圧接して用紙Ｐ上に画像を二次転写する二次転写ローラ４６を備えている。更に、定着器２９によってトナー画像が定着された用紙Ｐを機外に排出する排出ローラ４７、排出ローラ４７によって排出された用紙Ｐを積載する積載部４８を備えている。また、本実施形態では、定着器２９によって定着された用紙Ｐを反転させて両面記録を可能とする両面用搬送ユニット４９が設けられている。

次に、画像プロセス系１０における画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋ等について詳述する。図２は、画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋ等を示した図である。
画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋは、例えばイエローの画像形成ユニット１１Ｙを例にすると、像保持体の一例としての感光体ドラム１２Ｙ、感光体ドラム１２Ｙを帯電する帯電ローラ１３Ｙ、レーザ露光器３０からのレーザ光ＬＢ−Ｙによって感光体ドラム１２Ｙ上に形成された静電潜像を現像する現像器１４Ｙを備えている。また、中間転写ベルト２１を挟んで感光体ドラム１２Ｙに対向して設けられ、感光体ドラム１２Ｙ上に現像されたトナー像を中間転写ベルト２１上に転写する一次転写ローラ１７Ｙを備えている。さらに、感光体ドラム１２Ｙに接触配置されたクリーニングブレード１９Ｙを備え、感光体ドラム１２Ｙ上に残った残留トナーなどを除去するドラムクリーナ１８Ｙを備えている。なお、他の画像形成ユニット１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋも、イエロー画像形成ユニット１１Ｙと同じ構成を有している。

ここで、本実施形態における各感光体ドラム１２は、アルミなどの金属素管（基板）を備えるとともに、本金属素管から外方に向かって順に、アンダーコート層（ＤＵＣ）、電荷発生層（ＣＧＬ）、電荷輸送層（ＣＴＬ）、保護層の一例としてのオーバーコート層（ＯＣＬ）（以下、「ＯＣ層」と称する）を備えている。なお、本実施形態においては、電荷輸送層（ＣＴＬ）の光学的屈折率とＯＣ層の光学的屈折率は、０．０１以上異なっている。また、ＯＣ層は、架橋樹脂から構成されている。

また、本実施形態における画像形成装置１は、上記のとおり、各部（各装置）の動作を制御する制御部６０を備えている。また、各感光体ドラム１２の近傍に配置され、光源からの光を感光体ドラム１２の表面に対して照射するとともに反射光を受光する照射ユニット１５Ｙ，１５Ｍ，１５Ｃ，１５Ｋを備えている。さらに、照射ユニット１５Ｙ，１５Ｍ，１５Ｃ，１５Ｋからの出力に基づき、各感光体ドラム１２の状態を判断する状態判断部７０、表示パネルなどにより構成される外部表示部８０を備えている。ここで、上記制御部６０および状態判断部７０は、Ｉ／Ｏコントローラ５０を介して各照射ユニット１５に接続されている。なお、制御部６０および状態判断部７０は、画像形成装置１に設けられた不図示のＣＰＵ（Central Processing Unit）、制御用のプログラム等が格納される不図示のＲＯＭ（Read Only Memory）、およびＣＰＵの作業用のメモリである不図示のＲＡＭ（Random Access Memory）によって実現されている。

各照射ユニット１５は、対応した感光体ドラム１２の外表面近傍に設けられるとともに、感光体ドラム１２の回転方向を基準とした場合に、現像器１４よりも回転方向下流側に配置され、一次転写ローラ１７よりも回転方向上流側に配置されている。なお、各照射ユニット１５は、この位置に特に限定されず、取り付けができるスペースが存在する箇所に適宜設けることができる。各照射ユニット１５は、感光体ドラム１２に対して所定波長λの光を照射する光源１５ａ、感光体ドラム１２からの反射光を集光する集光レンズ１５ｂ、集光レンズ１５ｂにより集光された光の光強度（以下、「反射光強度」とも称する）を測定する受光素子１５ｃを備えている。なお、光源１５ａには、ハロゲン、キセノンなどの一般的な光源が用いられる。

また、本実施形態における状態判断部７０は、サイクル数、反射光強度、ピークである旨の情報、およびＯＣ層の膜厚などを、互いに関連づけた状態でハードディスクなどの不揮発性の記憶手段（以下、「メモリ」と称する）に格納し、又はこれらの情報をメモリから読み出すメモリ管理部７１を備えている。また、受光素子１５ｃから出力されてきた反射光強度にピークが存在するか否かを判断するピーク有無判断部７２、ＯＣ層の膜厚を算出する膜厚算出部７３、ＯＣ層の膜厚が所定の閾値に達するサイクル数を予測したり、次にピークが検出されるサイクル数を予測したりするサイクル数予測部７４を備えている。また、反射光強度に基づき取得した基準差と反射光強度に基づき取得した強度差とを対比し、基準差に対する強度差の比率又は基準差と強度差との差を取得する差/比率取得部７５、各種判断処理を実行する判断部７６を備えている。

ここで、画像形成装置１の基本的な画像形成動作について説明する。例えば原稿読み取り装置（不図示）によって読み取られた原稿の色材反射光像や、図示しないパーソナルコンピュータ等にて形成された色材画像データは、例えばＲ(赤)、Ｇ(緑)、Ｂ(青)の各８ビットの反射率データとして画像処理部（不図示）に入力される。画像処理部では、入力された反射率データに対して、シェーディング補正、位置ズレ補正、明度/色空間変換、ガンマ補正、枠消しや色編集、移動編集等の各種画像編集等の所定の画像処理が施される。画像処理が施された画像データは、イエロー(Ｙ)、マゼンタ(Ｍ)、シアン(Ｃ)、黒(Ｋ)の４色の色材階調データに変換され、レーザ露光器３０に出力される。

レーザ露光器３０では、入力された色材階調データに応じて、レーザダイオード(不図示)から出射されたレーザ光(ＬＢ−Ｙ,ＬＢ−Ｍ,ＬＢ−Ｃ,ＬＢ−Ｋ)を、ｆ−θレンズ(不図示)を介してポリゴンミラー３１に出射している。ポリゴンミラー３１では、入射されたレーザ光を各色の階調データに応じて変調し、偏向走査して、図示しない結像レンズおよび複数枚のミラーを介して画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋにおける感光体ドラム１２に照射している。画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋにおける感光体ドラム１２では、帯電された表面が走査露光され、静電潜像が形成される。形成された静電潜像は、各々の画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋにて、イエロー(Ｙ)、マゼンタ(Ｍ)、シアン(Ｃ)、黒(Ｋ)の各色のトナー像として現像される。そして、画像形成ユニット１１Ｙ,１１Ｍ,１１Ｃ,１１Ｋの感光体ドラム１２上に形成されたトナー像は、中間転写ベルト２１上に多重転写される。

一方、用紙搬送系４０では、画像形成のタイミングに合わせてナジャーローラ４２が回転し、積載部４１から所定サイズの用紙Ｐが供給される。そして、フィードローラ４３により１枚ずつ分離された用紙Ｐは、搬送路４４を経てレジストローラ４５に搬送され、一旦、停止される。その後、トナー像が形成された中間転写ベルト２１の移動タイミングに合わせてレジストローラ４５が回転し、用紙Ｐは、バックアップローラ２４および二次転写ローラ４６によって形成される二次転写位置に搬送される。そして、二次転写位置において、用紙Ｐには、圧接力および所定の電界を用いて、４色が多重されているトナー像が副走査方向に順次、転写される。その後、トナー像が転写された用紙Ｐは、定着器２９にて定着処理を受けた後、排出ローラ４７によって積載部４８に積載される。

図３は、感光体ドラム１２Ｙの表面近傍を拡大して示したものである。なお、本実施形態における画像形成ユニット１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋの各々は、同様に構成されているため、以下、画像形成ユニット１１Ｙを中心に説明を行っていく。
上記のように、本実施形態における感光体ドラム１２Ｙは、アルミなどの金属素管（基板）、アンダーコート層（ＤＵＣ）、電荷発生層（ＣＧＬ）、電荷輸送層（ＣＴＬ）、ＯＣ層（ＯＣＬ）を備えている。このような複数の層構成とすることで、感光体ドラム１２Ｙの特性の安定化が可能となり、また、ロングライフ化が可能となっている。

ここで、光源１５ａ（図２参照）から出射された波長λ（ｎｍ）の光は、ＯＣ層に照射され、ＯＣ層表面で反射される光とＯＣ層を透過する光とに分光される。そして、ＯＣ層を透過した光は、電荷輸送層（ＣＴＬ）においても反射光と透過光とに分光される。同様に、電荷発生層（ＣＧＬ）、アンダーコート層（ＤＵＣ）においても反射光と透過光とに分光される。また、光は最終的に金属素管によって反射される。

ここで、ＯＣ層の膜厚をｄとした場合に、ＯＣ層を反射した光と電荷輸送層（ＣＴＬ）を反射した光との間には、２・ｎ・ｄの光路差が生じる。また、電荷輸送層（ＣＴＬ）で反射する光は、反射する際に位相が１８０°ずれる。このため、２ｎｄ＝ｍλ （ｍ＝０，１，２，３，・・・）…（１）のときに反射光の光量は極大となり、２ｎｄ＝（２ｍ＋１）λ／２（ｍ＝０，１，２，３，・・・） …（２）のときに反射光の光量は極小となる。ここで、ｎは膜の比屈折率、ｍは干渉次数である。この結果、２ｎｄ＝ｍλが成立している状態から、ＯＣ層の膜厚がλ/（２ｎ）減少するごとに反射光（干渉光）の強度が最も強くなる。なお、本実施形態では、制御部６０および照射ユニット１５Ｙが測定手段の一例として機能している。

ここで、図４は、受光素子１５ｃにて測定された光強度（反射光強度）の分布を示したものである。
感光体ドラム１２ＹのＯＣ層には、クリーニングブレード１９Ｙ（図２参照）、現像器１４Ｙ、中間転写ベルト２１、用紙Ｐなどが接触する。このため、ＯＣ層は、感光体ドラム１２Ｙの回転数（サイクル数）に従って摩耗していく。このため、受光素子１５ｃにて測定される光強度は、サイクル数に応じて増減し、所定のピークおよびボトムを有するようになる。なお、このピークやボトムは、上記のとおり、ＯＣ層の膜厚がλ/（２ｎ）減少するごとに検出される。

そこで、本実施形態では、受光素子１５ｃにて測定される光強度（反射光強度）のピークに基づき、ＯＣ層の摩耗量等を把握するとともに、把握した摩耗量等に基づき画像形成装置１の動作などを停止等させる構成としている。
なお、以下においては、光強度のピークに基づきＯＣ層の摩耗量把握などを行っているが、光強度のボトムによってＯＣ層の摩耗量把握等を行うことが可能である。また、ピークおよびボトムの両者によってＯＣ層の摩耗量把握等を行うことが可能である。

ここで、図５は、状態判断部７０等において実行される処理を示したものである。
本実施形態における画像形成装置１では、まず、照射ユニット１５Ｙによって、反射光強度の測定が行われる（ステップ１０１）。詳細には、感光体ドラム１２Ｙが所定のサイクル数となった際、制御部６０から照射ユニット１５Ｙに対して制御信号が出力される。なお、制御部６０は、制御信号を出力する際、上記所定のサイクル数をメモリ管理部７１に出力し、メモリ管理部７１は、このサイクル数をメモリに格納する。また、本実施形態では、制御部６０から照射ユニット１５Ｙへの制御信号の出力は、一定のサイクル数（例えば、５０ｋサイクル）毎に行われる。さらに、制御部６０は、画像形成装置１に一般的に搭載されているカウンタなどからサイクル数を把握している。

そして、制御部６０から制御信号を受信した照射ユニット１５Ｙは、光源１５ａから感光体ドラム１２Ｙに対して光を照射する。受光素子１５ｃは、感光体ドラム１２Ｙからの反射光の強度を測定し、この反射光の強度をメモリ管理部７１に出力する。メモリ管理部７１は、上記にて既に格納したサイクル数に関連づけてこの反射光強度をメモリに格納するとともに、格納した旨をピーク有無判断部７２に出力する。

次いで、反射光強度を格納した旨をメモリ管理部７１から受信したピーク有無判断部７２は、メモリに格納された反射光強度にピークが存在するか否かを判断する（ステップ１０２）。詳細には、検出手段の一例としてのピーク有無判断部７２は、メモリ管理部７１を介し、メモリから反射光強度を読み出し、これら反射光強度の中にピークが存在するか否かを判断する。例えば、ピーク有無判断部７２は、最新の反射光強度によって、増加傾向にあった反射光強度が低下傾向に転じた場合に、この最新の反射光強度の１つ前の反射光強度をピークとして検出（認識）するとともに、ピークが存在すると判断する。

なお、ピーク有無判断部７２は、ピークが存在すると判断した場合に、ピークが存在する旨の情報とピークにおける反射光強度とをメモリ管理部７１に出力する。そして、メモリ管理部７１は、反射光強度をキーとして、ピークである旨の情報をメモリに格納する。この結果、メモリには、サイクル数、反射光強度、およびピークである場合にはピークである旨の情報が互いに関連づけられた状態で格納される。また、ピーク有無判断部７２は、ピークが存在すると判断した場合に、その旨の情報とピークにおける反射光強度とを膜厚算出部７３に出力する。なお、ピーク有無判断部７２が、ピークが存在しないと判断した場合には、ステップ１０１の処理が再度実行される。

ピーク有無判断部７２からピークが存在する旨の情報と反射光強度とを受信した膜厚算出部７３は、ＯＣ層の膜厚を算出する（ステップ１０３）。詳細に説明すると、膜厚把握手段の一例としての膜厚算出部７３は、メモリ管理部７１を介し、メモリに格納されている最新の膜厚を読み出すとともに、この最新の膜厚からλ／（２ｎ）を減算し、新たなＯＣ層の膜厚を算出（把握）する。なお、膜厚算出部７３は、新たなＯＣ層の膜厚を算出した後、この新たなＯＣ層の膜厚を、ピーク有無判断部７２から受信した反射光強度とともに、メモリ管理部７１に出力する。

そして、メモリ管理部７１は、反射光強度をキーとして、ＯＣ層の膜厚をメモリに格納する。この結果、メモリには、サイクル数、反射光強度、ピークである場合にはピークである旨の情報、およびピークである場合にはＯＣ層の膜厚、が互いに関連づけられた状態で格納される。なお、本実施形態では、ピークを中心に説明を行っているが、ボトムに対しても上記処理を行うことが可能である。また、ピーク、ボトムの両者に対して上記処理を行うことが可能である。

次いで、判断部７６は、ステップ１０３にて算出されたＯＣ層の膜厚が、メモリに格納されている所定の閾値よりも小さいか否かを判断する（ステップ１０４）。判断部７６にてＯＣ層の膜厚が所定の閾値以上であると判断された場合には、ステップ１０１の処理が再度実行される（ステップ１０１）。一方、判断部７６は、膜厚が所定の閾値よりも小さいと判断した場合には、制御部６０に対して、膜厚が所定の閾値よりも小さい旨の判断結果を出力する（ステップ１０５）。そして、判断結果を受けた制御部６０は、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙ（又は感光体ドラム１２Ｙ）の交換を要求する旨を表示し（ステップ１０６）、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させる（ステップ１０７）。

なお、上記では、ＯＣ層の膜厚を算出し、算出された膜厚と所定の閾値とを比較とを判断する構成となっていたが、ピーク数をカウントするとともに、カウントされたピーク数と所定の閾値とを比較する構成とすることもできる。即ち、膜厚を算出せずに、ピーク数と所定の閾値とを比較する構成とすることもできる。そして、例えば、ピーク数が所定の閾値を超えた場合に、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙの交換を要求する旨を表示し、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させることができる。

ところで、反射光強度のピークが検出されるタイミングは、環境、出力画像密度などの影響を受け、一定とは限らない。
図６は、サイクル数とピークの検出タイミングとの関係等を示している。
図６（ａ）に示すように反射光強度のピークは、一定のサイクル数毎に検出されず不定期（ランダム）に検出される場合がある。

上記のようにＯＣ層の膜厚と閾値との比較に基づき交換要求や各部の動作停止を行うことも可能であるが、ピーク値の推移に基づき交換要求や各部の動作停止を行うことも可能である。例えば、図６（ｂ）に示すように、縦軸をＯＣ層の膜厚、横軸を感光体ドラム１２Ｙのサイクル数とし、ピークが検出された際のＯＣ層の膜厚およびサイクル数をプロットする。この結果、ＯＣ層の膜厚とサイクル数との関係式（近似曲線）を得ることが可能となる。

そして、この関係式に閾値を代入すれば、ＯＣ層の膜厚が閾値に達する際の感光体ドラム１２Ｙのサイクル数を予測することができる。ＯＣ層の膜厚の減少がサイクル数に比例する場合には、ＯＣ層の膜厚が閾値に達するサイクル数を一義的に予測できるが、実際には、環境、出力画像密度などの使用状況等により比例しない。本実施形態の構成によれば、ＯＣ層の膜厚の減少がサイクル数に比例しない場合であっても、ＯＣ層の膜厚が閾値に達するサイクル数を予測することができる。

なお、上記処理は、次のように実行される。
ここで、図７は、状態判断部７０にて実行される処理を示している。
まず、ピーク膜厚把握手段、ピーク回転数把握手段、および予測手段の一例として機能するサイクル数予測部７４は、メモリ管理部７１を介しメモリを参照し、ピークにおけるサイクル数および膜厚を取得する（ステップ２０１）。メモリには、上記のとおり、サイクル数、反射光強度、ピークである旨の情報、およびＯＣ層の膜厚が互いに関連づけられた状態で格納されており、メモリを参照することでピークにおけるサイクル数および膜厚を取得することができる。次いで、サイクル数予測部７４は、取得したサイクル数および膜厚に基づき、これらの関係式（近似式）を生成し保持する（ステップ２０２）。その後、メモリ管理部７１を介し、メモリからＯＣ層の膜厚に関する閾値を取得する（ステップ２０３）。次いで、保持している関係式と取得した閾値とに基づき、サイクル数を取得する（ステップ２０４）。

このように取得されたサイクル数は、例えばメモリ管理部７１を介しメモリに格納される。そして、例えば判断部７６にて、カウンタから出力されてくるサイクル数がこのメモリに格納されたサイクル数に達したか否かが判断される。そして、判断部７６は、カウンタからのサイクル数がメモリに格納されたサイクル数に達したと判断した場合には、達した旨の判断結果を制御部６０に出力する。そして、制御部６０は、上記ステップ１０６、ステップ１０７と同様に、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙの交換を要求する旨を表示し、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させる。

受光素子１５ｃにて受光される反射光強度について更に説明する。
図８は、受光素子１５ｃにて受光される反射光強度の推移を示したものである。
図８（ａ）に示すように、受光素子１５ｃにて受光される反射光強度は、サイクル数に応じて低下していく傾向にある。このため、サイクル数に応じてピークも低下し、最終的にはピークが検出されない事態が生じうる。この結果、ピークの検出に基づき膜厚を算出することができず、膜厚が閾値よりも小さくなっているにも関わらず画像形成動作が継続されてしまう場合がある。

そこで、ピークが検出されたサイクル数に基づき、各サイクル数間における平均サイクル数を算出し、この平均サイクル数に基づき次にピークが来るサイクル数を予測することができる。このような構成とした場合、ピークが検出されない状態になったとしても、画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行うことができる。

なお、上記処理は、サイクル数予測部７４により次のように実行される。図９は、サイクル数予測部７４により実行される処理を示したものである。
まず、回転数予測手段の一例として機能するサイクル数予測部７４は、メモリ管理部７１を介し、ピークに対応したサイクル数をメモリから複数取得する（ステップ３０１）。次いで、取得した複数のサイクル数から各サイクル数間の差を取得する（ステップ３０２）。次いで、この差の平均値を算出し（ステップ３０３）、この平均値を、最後にピークが検出されたサイクル数に加算する（ステップ３０４）。この処理により、次にピークが来るサイクル数を予測することができる。

このように予測されたサイクル数は、例えばメモリ管理部７１を介しメモリに格納される。そして、例えば判断部７６にて、カウンタからのサイクル数がこのメモリに格納されたサイクル数に達したか否かが判断される。そして、制御部６０は、判断部７６にてカウンタからのサイクル数がメモリに格納されたサイクル数に達したと判断された場合に、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙの交換を要求する旨を表示し、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させる。なお、カウンタからのサイクル数がメモリに格納されたサイクル数に達する前に、更にピークが検出された場合（ピークが存在すると判断された場合）には、上記ステップ３０１からステップ３０４の処理が再度実行され、新たなサイクル数が予測される。

また、反射光強度の減衰を利用してＯＣ層の状態を判断することも可能である。ここで、図８（ｂ）に戻り詳細な説明を行う。まず、サイクル数が小さい初期の段階におけるピークの大きさと、後に検出されるピークの大きさとの比率又は差を取得する。そして、この比率が所定の閾値よりも小さくなった場合に、又は、差が所定の閾値よりも大きくなった場合に、画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行うことができる。なお、本処理は、次のように実行される。

ここで、図１０は、差/比率取得部７５にて実行される処理を示している。図１０（ａ）に示すように、まず、差/比率取得部７５は、サイクル数が小さい段階（例えば、ライフ初期の段階）においてピーク有無判断部７２にてピークが存在すると判断された場合に、メモリ制御部７１を介しメモリを参照し、本ピーク（第１のピーク）が検出される１つ前のボトムにおける反射光強度を取得する（ステップ４０１）。なお、上記ではピークをメモリに格納する処理を説明していたが、ボトムをメモリに格納するようにすればこのような処理が可能となる。次いで、ピークにおける反射光強度と、ステップ４０１にて取得したボトムにおける反射光強度との差（第１の算出値）（以下、「基準差」と称する）を取得する（ステップ４０２）。次いで、この基準差を、メモリ管理部７１を介しメモリに格納する（ステップ４０３）。

そして、差/比率取得部７５は、ピーク有無判断部７２にてピークが存在すると更に判断された場合に、図１０（ｂ）に示すように、本ピーク（第２のピーク）が検出される１つ前のボトムにおける反射光強度を取得する（ステップ５０１）。次いで、ピークにおける反射光強度と、ステップ５０１にて取得したボトムにおける反射光強度との差（第２の算出値）（以下、「強度差」と称する）を取得する（ステップ５０２）。次いで、対比手段として機能する差/比率取得部７５は、上記ステップ４０３にてメモリに格納した基準差と、ステップ５０２にて取得した強度差とを対比し、基準差に対する強度差の比率又は基準差と強度差の差を取得する（ステップ５０３）。そして、差/比率取得部７５は、この取得した比率又は差を判断部７６に出力する（ステップ５０４）。

そして、上記比率又は差を取得した判断部７６は、メモリから所定の閾値を取得するとともに、取得した比率が所定の閾値よりも小さいか否か、又は、取得した差が所定の閾値よりも大きいか否かを判断する。そして、比率が所定の閾値よりも小さいと判断した場合、又は、差が所定の閾値よりも大きいと判断した場合、その旨の判断結果を制御部６０に出力する。そして、判断結果を受けた制御部６０は、画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行う。

なお、本実施形態では、ピークとボトムとの差に基づき処理を行う例を説明したが、このような差を利用せず、単にピークの大きさを比較する構成とすることもできる。そして、ピークの比率が所定の閾値よりも小さくなった場合や、ピークの差が所定の閾値よりも大きくなった場合に、画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行うことができる。また、ボトムに基づく比率、差によっても画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行うことができる。

ここで、図１１は、感光体ドラム１２Ｙ周辺を示した構成図である。
同図（ａ）に示すように、本実施形態の画像形成装置１は、感光体ドラム１２Ｙの軸方向に沿って設けられ、照射ユニット１５Ｙをガイドするガイド２６を備えている。照射ユニット１５Ｙは、不図示の駆動源により駆動された際、このガイド２６によってガイドされながらスライドし、感光体ドラム１２Ｙの軸方向における複数の箇所にて光の照射および受光を行う。このような構成とすることで感光体ドラム１２Ｙの軸方向における摩耗むらの影響を低減可能となり、ＯＣ層の膜厚測定をより適切に行うことが可能となる。

また、同図（ｂ）に示すように、照射ユニット１５Ｙを２つ（複数）設ける構成とすることができる。この２つの照射ユニット１５Ｙの各々は、例えば、互いに異なる波長の光をタイミングをずらして照射するとともに、受光部にて反射光を受光する。このように、波長の異なる光を照射可能とすることで膜厚の測定精度を高めることが可能となる。

図１２は、光源１５ａ（図２参照）から感光体ドラム１２Ｙに照射される光の照射面（照射形状）を示したものである。
本実施形態において光源１５ａからの光は、感光体ドラム１２Ｙの表面に対し、同図（ａ）に示すように、矩形状に照射されるとともに、照射面の長手方向が感光体ドラム１２Ｙの軸方向に沿うように、また照射面の短手方向が感光体ドラム１２Ｙの周方向に沿うように照射される。換言すれば、光源１５ａから照射される光の照射形状は、感光体ドラム１２Ｙの軸方向に延びるように形成されている。

感光体ドラム１２Ｙには、クリーニングブレード１９Ｙ（図２参照）などが接触配置され、同図（ａ）に示すように感光体ドラム１２Ｙの周方向に沿って傷が発生する場合がある。ここで、例えば、同図（ｂ）に示すように、照射面の長手方向を感光体ドラム１２Ｙの周方向に、照射面の短手方向を感光体ドラム１２Ｙの軸方向に沿うように、光を照射することもできる。しかしながら、このような場合、照射面の広い範囲に傷が含まれ、ＯＣ層の膜厚を正確に測定できないおそれがある。

本実施形態では、同図（ａ）に示したとおり、照射面の長手方向が感光体ドラム１２Ｙの軸方向に沿うように、また照射面の短手方向が感光体ドラム１２Ｙの周方向に沿うようになっているため、感光体ドラム１２Ｙの表面に傷があったとしてもこの照射面に含まれる傷の割合を低減させることができる。この結果、同図（ｂ）に示した照射態様に比べ、ＯＣ層の膜厚を正確に測定することができる。なお、照射面は、矩形状に限られず、楕円状などとすることもできる。但し、この場合も楕円の長軸を感光体ドラム１２Ｙの軸方向に沿うようにすることが望ましい。

―第２の実施形態―
ここで、図１３は、第２の実施形態における画像形成装置１の主要部を示したものである。なお、画像形成ユニット１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋについては、画像形成ユニット１１Ｙと同様の構成であるため、図示を省略している。また、第１の実施形態と同様の機能については、同様の符号を用いここではその説明を省略する。

同図に示すように、第２の実施形態における照射ユニット１５Ｙは、感光体ドラム１２Ｙに対して光を照射する白色光源１５ｄと、第１の実施形態と同様に感光体ドラム１２Ｙからの反射光を集光する集光レンズ１５ｂとを備えている。また、集光レンズ１５ｂにより集光された光の干渉特性をスペクトルとして採取する分光光度計１５ｅを備えている。なお、本実施形態においては、照射ユニット１５Ｙが干渉波形取得手段として機能している。

また、第２の実施形態における状態判断部７０は、分光光度計１５ｅにて採取されたスペクトルからピーク数を取得するピーク数取得部９１と、ピーク数取得部にて取得されたピーク数に基づき膜厚を取得する膜厚取得部９２と、各種判断を実行する判断部９３とを備えている。

ここで、図１４、図１５は、ＯＣ層の膜厚とピーク数との関係を示したものである。
ここで、図１４は、分光光度計１５ｅにて採取されたスペクトルのうち波長領域５００〜７５０（ｎｍ）におけるスペクトルを示している。例えば、ＯＣ層の膜厚が６μｍの場合、図１４（ａ）に示すように、採取されたスペクトルにおけるピーク数は２８となる。なお、ここにいうピークとは、第１の実施形態におけるピークおよびボトムの両者を含む概念である。また、図１４（ｂ）〜（ｄ）に示すように、ＯＣ層の膜厚が３μｍ、１μｍ、０．５μｍの場合、ピーク数はそれぞれ、１４、４、２となる。
そして、これらの結果に基づき、ＯＣ層の膜厚とピーク数との関係を示すと、図１５のようになる。ＯＣ層の膜厚とピーク数との間には、同図に示すように、ＯＣ層の膜厚減少に比例してピーク数が減少する、一次式で示される相関関係（対応関係）がある。

そこで、本実施形態では、図１５で示した相関関係をメモリに格納しておき、この相関関係を用いて膜厚を取得する構成としている。以下、具体的な処理を説明する。
図１６は、状態判断部７０等にて実行される処理を示したものである。
まず、制御部６０は、所定のサイクル数に達したら所定の信号を出力し、照射ユニット１５Ｙにおける白色光源１５ｄを用いて感光体ドラム１２Ｙの表面に光を照射する（ステップ６０１）。この結果、分光光度計１５ｅにてスペクトルが採取され、採取されたスペクトルがピーク数取得部９１に出力される（ステップ６０２）。そして、ピーク数/ボトム数検出手段として機能するピーク数取得部９１は、入力されたスペクトルからピーク数を取得（検出）する（ステップ６０３）。

その後、膜厚認識手段の一例として機能する膜厚取得部９２は、メモリに格納された上記相関関係を参照し、ピーク数取得部９１にて取得されたピーク数に基づき膜厚を取得（認識）する（ステップ６０４）。次いで、比較手段の一例として機能する判断部９３は、膜厚取得部９２にて取得された膜厚と所定の閾値とを比較し、膜厚取得部９２にて取得された膜厚が、所定の閾値よりも小さいか否かを判断する（ステップ６０５）。

そして、判断部９３は、ステップ６０５にて小さいと判断した場合には、その旨の判断結果を制御部６０に出力する（ステップ６０６）。なお、ステップ６０５にて、判断部９３が小さいと判断しなかった場合には、ステップ６０１の処理が再度実行される。そして、ＯＣ層の膜厚が所定の閾値よりも小さい旨の判断結果を受けた制御部６０は、画像形成装置１の停止動作や画像形成ユニット１１Ｙの交換要求を行う。なお、上記対応関係は、数式などで規定しておくこともできるし、対応関係を離散的な数値で規定したルックアップテーブル（ＬＵＴ）などによっても規定しておくことができる。

なお、本実施形態では、ＯＣ層の膜厚を取得し、取得された膜厚と所定の閾値とを比較する構成となっていたが、ピーク数取得部９１にて取得されたピーク数と所定の閾値とを比較する構成とすることもできる。即ち、膜厚を取得せずに、ピーク数と所定の閾値とを比較する構成とすることできる。そして、例えば、ピーク数が所定の閾値よりも小さくなった場合に、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙの交換を要求する旨を表示し、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させることができる。

さらに、本実施形態で採取されるスペクトルにおけるピーク数は、図１４（ａ）〜（ｄ）に示すように、ＯＣ層の膜厚減少に応じて低下していく傾向にある。この結果、ＯＣ層の膜厚がある大きさとなると、ピーク数の検出ができないおそれがある。一方で、ピーク数の検出が出来ないということは、ＯＣ層の膜厚がかなり小さいことを意味している。そこで、このよう場合（ピーク数の検出が出来なかった場合）には、外部表示部８０に画像形成ユニット１１Ｙの交換を要求する旨を表示し、画像形成装置１における各部（各装置）の動作を停止させることができる。

上記第１の実施形態および第２の実施形態によれば、感光体ドラム１２ＹにおけるＯＣ層の状態をより適切に把握することが可能となる。また、上記第１の実施形態および第２の実施形態では、画像形成装置１を一例として説明したが、測定装置（膜厚測定装置）として捉えることも可能である。

なお、感光体ドラムの寿命を検知する従来の技術として、例えば、感光体ドラムの駆動時間（回転時間）、サイクル数、画像出力枚数などが、所定時間、所定数、所定枚数に到達したら交換時期と判断し警告を行うものがある。しかしながら、この判断、警告は、実際に測定された保護層の厚みに基づくものではなく、単なる予想に過ぎない。このため、寿命に達した感光体ドラムが使用し続けられる事態が生じる場合がある。また、まだ十分使用可能であるにも関わらず警告が生じる場合がある。このような場合に感光体ドラムの交換を行うことは、感光体ドラムの使用効率を低下させ、資源に無駄を生じさせてしまう。

また、被帯電体に接触する電極部材に印加する電圧と、電極部材に流れる電流とにより被帯電体の厚みを検知する手法が提案されている。さらに、帯電部材から感光体に流れる電流を時間積算し帯電電荷量に基づき感光体ドラムの膜厚を算出する手法が提案されている。しかしながら、これらの技術は、ＯＣ層の膜厚（摩耗量）を直接的に把握するものではない。したがって、これらの技術では、ＯＣ層の状態を適切に（正確に）判断することが困難となる。この結果、例えばまだ十分に使用できるにも関わらず交換が行われ、資源の無駄が生じるおそれがある。また、画像の品位を維持することができない場合もある。
さらに、反射光の干渉特性を複数の干渉波形パターンのいずれかであるかを識別しかつ干渉次数の同定を行う手法も提案されている。しかしながら、本技術は、感光体ドラムを実際に使用した際の感光体ドラムの表面状態が加味されていない。感光体ドラムを実際に使用した場合には、感光体ドラムの表面に、例えば周方向に沿った細かい傷が発生し、この傷によって光の干渉が識別できなくなってしまう場合がある。

本発明が適用される画像形成装置の全体構成を示した図である。 画像形成ユニット等を示した図である。 感光体ドラムの表面近傍を拡大して示したものである。 受光素子にて測定された光強度（反射光強度）の分布を示したものである。 状態判断部等において実行される処理を示したものである。 サイクル数とピークの検出タイミングとの関係等を示している。 状態判断部にて実行される処理を示している。 受光素子にて受光される反射光強度の推移を示したものである。 サイクル数予測部により実行される処理を示したものである。 差/比率取得部にて実行される処理を示している。 感光体ドラム周辺を示した構成図である。 光源から感光体ドラムに照射される光の照射面（照射形状）を示したものである。 第２の実施形態における画像形成装置の主要部を示したものである。 ＯＣ層の膜厚とピーク数との関係を示したものである。 ＯＣ層の膜厚とピーク数との関係を示したものである。 状態判断部等にて実行される処理を示したものである。

符号の説明

１…画像形成装置、１２Ｙ…感光体ドラム、１５…照射ユニット、１５ａ…光源、１５ｃ…受光素子、６０…制御部、７２…ピーク有無判断部、７４…サイクル数予測部、７５…差/比率取得部、９１…ピーク数取得部、９２…膜厚取得部、９３…判断部

Claims (16)

1. 表面に保護層を備え、回転可能に設けられた像保持体と、
   前記像保持体の回転数に応じ所定のタイミングで当該像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の強度を測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された複数の前記強度から当該強度のピーク又は／及びボトムを検出する検出手段と、
   を含む画像形成装置。
2. 前記検出手段により検出されたピーク又は／及びボトムに基づき、前記保護層の膜厚を把握する膜厚把握手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
3. 前記検出手段により検出されたピーク又は／及びボトムの数をカウントするカウント手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
4. 前記強度が前記ピーク又は／及びボトムを迎えた際における前記保護層の膜厚を把握するピーク膜厚把握手段と、
   前記強度が前記ピーク又は／及びボトムを迎えた際における前記像保持体の回転数を把握するピーク回転数把握手段と、
   前記ピーク膜厚把握手段により把握された膜厚と前記ピーク回転数把握手段により把握された回転数との関係に基づき、当該膜厚が所定値に達する前記像保持体の回転数を予測する予測手段と、
   を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
5. 前記強度が前記ピーク又はボトムとなる前記像保持体の回転数を予測する回転数予測手段を更に備えたことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
6. 前記検出手段により検出された第１のピーク又は／及びボトムにおける反射光の強度、又は当該強度に基づき算出される第１の算出値と、当該検出手段により検出された第２のピーク又は／及びボトムにおける反射光の強度、又は当該強度に基づき算出される第２の算出値と、を対比する対比手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
7. 前記測定手段は、前記像保持体に対して光を照射する光源と、当該像保持体からの反射光の強度を測定する受光素子とを備え、
   前記光源および前記受光素子は、前記像保持体の軸方向に沿って移動可能に設けられていることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
8. 前記測定手段は、第１の波長の光と、当該第１の波長とは異なる第２の波長の光とを前記像保持体に照射することを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
9. 前記検出手段による検出結果に基づき、前記像保持体による像形成を停止させ又は／及び当該像保持体の交換要求を発する制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
10. 表面に保護層を備えた像保持体と、
    前記像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の干渉波形を取得する干渉波形取得手段と、
    前記干渉波形取得手段により取得された干渉波形からピーク数又は／及びボトム数を検出するピーク数/ボトム数検出手段と、
    を含む画像形成装置。
11. 前記干渉波形取得手段が前記像保持体に照射する光の当該像保持体表面における照射形状は、当該像保持体の軸方向に延びるように形成されることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置。
12. 前記ピーク数/ボトム数検出手段にて検出されたピーク数又は／及びボトム数に基づいて前記保護層の膜厚を認識する膜厚認識手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置。
13. 前記ピーク数/ボトム数検出手段にて検出されたピーク数又は／及びボトム数と、所定の閾値とを比較する比較手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置。
14. 前記ピーク数/ボトム数検出手段にてピーク数又は／及びボトム数が検出されない場合に、前記像保持体による像形成を停止させ又は／及び当該像保持体の交換要求を発する制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置。
15. 表面に保護層を備えた像保持体の回転数に応じ所定のタイミングで当該像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の強度を測定する測定手段と、
    前記測定手段により測定された複数の前記強度から当該強度のピーク又は／及びボトムを検出する検出手段と、
    を含む測定装置。
16. 表面に保護層を備えた像保持体に光を照射し当該像保持体からの反射光の干渉波形を取得する干渉波形取得手段と、
    前記干渉波形取得手段により取得された干渉波形からピーク数又は／及びボトム数を検出するピーク/ボトム数検出手段と、
    を含む測定装置。

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