JP2009054792A - シリコンウェハの洗浄方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】シリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力を向上させることができるシリコンウェハの洗浄方法を提供する。
【解決手段】マイクロバブル生成装置50がマイクロバブルを洗浄液内に生成し、スプレーノズル12にマイクロバブルを含む洗浄液(マイクロバブル含有洗浄液)を圧送し、スプレーノズル12から洗浄タンク11内に載置された複数のシリコンウェハWに均一に噴霧状のマイクロバブル含有洗浄液を吹き付けてシリコンウェハWをスプレー洗浄する。また、洗浄液供給装置23にマイクロバブル含有洗浄液を圧送し、洗浄液供給装置23から噴霧状のマイクロバブル含有洗浄液をスクラビングブラシ22に供給し、一方順次スプレー洗浄装置10によって洗浄されたシリコンウェハWを搬送し、各スクラビングブラシ22のニップ部においてマイクロバブル含有洗浄液の存在下でブラシ25によってシリコンウェハWをブラシスクラビング洗浄する。
【選択図】図1

Description

本発明は、シリコンウェハの洗浄方法に関する。
半導体装置の製造過程において、シリコンウェハに微細な異物、金属不純物、有機不純物等の不純物が付着すると、完成した半導体装置に動作不良が発生する等の不具合が生じてしまう。このため、シリコンウェハの清浄度は厳しい規格で管理されている。
従来のシリコンウェハの洗浄方法としては、RCA法等の化学的洗浄法や、接触あるいは非接触スクラビング等の機械的洗浄法等がある(例えば、非特許文献1,2参照)。
UCS半導体基盤技術研究会、「シリコンの科学」、リアライズ社、1996 服部毅、「シリコンウェーハ表面のクリーン化技術」、リアライズ社、2000
近年、半導体装置の微細化、高性能化に伴って、シリコンウェハの清浄度に対してはより厳しい要求がなされており、シリコンウェハに付着した不純物の洗浄力の向上が求められている。
本発明の目的は、シリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力を向上させることができるシリコンウェハの洗浄方法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法は、洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、前記マイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付ける洗浄ステップとを備えることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法は、洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、前記マイクロバブルが生成された洗浄液を被洗浄物としてのシリコンウェハに供給しつつ、前記被洗浄物としてのシリコンウェハをブラシスクラビングする洗浄ステップとを備えることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法は、洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、前記マイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付けるスプレー洗浄ステップと、前記マイクロバブルが生成された洗浄液を前記スプレー洗浄ステップにおいて洗浄されたシリコンウェハに供給しつつ、該スプレー洗浄ステップにおいて洗浄されたシリコンウェハをブラシスクラビングするブラシスクラビング洗浄ステップとを備えることを特徴とする。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法においては、特に、前記被洗浄物としてのシリコンウェハは、スライシングされた後のシリコンウェハであることを特徴とする。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法においては、特に、前記洗浄液は界面活性剤を含むことを特徴とする。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法においては、特に、前記洗浄液はアルカリ性であることを特徴とする。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、洗浄液にマイクロバブルを生成し、このマイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付けて、シリコンウェハを洗浄するので、マイクロバブルの作用によって、従来のシリコンウェハの洗浄方法に比べてシリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力を向上させることができる。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、洗浄液にマイクロバブルを生成し、このマイクロバブルが生成された洗浄液を被洗浄物としてのシリコンウェハに供給しつつ、このシリコンウェハをブラシスクラビングするので、マイクロバブルの作用によって、従来のシリコンウェハの洗浄方法に比べてシリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力を向上させることができる。
また、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、洗浄液にマイクロバブルを生成し、このマイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付けて、シリコンウェハをスプレー洗浄した後に、マイクロバブルが生成された洗浄液をスプレー洗浄されたシリコンウェハに供給しつつブラシスクラビングするので、マイクロバブルの作用によって、従来のシリコンウェハの洗浄方法に比べてシリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力をより向上させることができる。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、特に、被洗浄物としてのシリコンウェハは、スライシングされた後のシリコンウェハであるので、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法をより好適に作用させることができ、シリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力をより向上させることができる。
また、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、特に、洗浄液は界面活性剤を含むので、シリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力をより向上させることができる。
さらに、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、特に、洗浄液はアルカリ性であるので、シリコンウェハに付着した不純物に対する洗浄力をより向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
本実施の形態においては、被洗浄物の一例として、ワイヤーソーによりスライスされ、ウェハ状になったシリコンを洗浄するものとする。
まず、本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法を実行するシリコンウェハ洗浄装置について説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法を実行するシリコンウェハ洗浄装置1の概略構成を示す図である。
図1に示すように、シリコンウェハ洗浄装置1は、スプレー洗浄装置10と、ブラシスクラビング装置20と、洗浄液貯蔵タンク30と、洗浄液戻しタンク40と、マイクロバブル生成装置50とを備える。
スプレー洗浄装置10は、洗浄タンク11と、洗浄液をスプレーするためのスプレーノズル12と、洗浄液貯蔵タンク30からスプレーノズル12に洗浄液を供給するための供給管13とを備えている。
洗浄タンク11には、シリコン単結晶インゴットがマルチワイヤーソーによってスライスされた直後のものが、そのまま導入される。一般にCZ法により製造されたシリコン単結晶インゴットは円筒研削されて所定の直径とされ、450mm以下程度の長さに切断される。円柱状に加工された分割インゴットはエポキシ系の接着剤でカーボン製のベースホルダに固定され、マルチワイヤーソーによってスライスされる。スライスされたインゴットはカーボン製のベースホルダに接着されたまま、ベースホルダを上向きにして吊り下げられ、洗浄タンク11へと導入される。
スプレーノズル12は、洗浄タンク11内において保持ホルダ14により互いに向かい合って垂直に立設された状態で保持された複数枚のシリコンウェハWの全てに均等に洗浄液をスプレーすることができるように、洗浄タンク11内に保持されるシリコンウェハWの上方に配置されている。
供給管13は、洗浄液貯蔵タンク30とスプレーノズル12とを接続しており、供給管13には、洗浄液貯蔵タンク30からスプレーノズル12に洗浄液を圧送するためのポンプ15が設けられている。
スプレー洗浄装置10においては、ポンプ15が洗浄液貯蔵タンク30から供給管13を介してスプレーノズル12に洗浄液を圧送することにより、スプレーノズル12が洗浄液をシリコンウェハWに均一にスプレーして、保持ホルダ14に保持された複数のシリコンウェハWを洗浄する。
スプレーノズル12より噴出される洗浄液は洗浄タンク11に溜まっていき、被洗浄物は洗浄液中に浸漬される。
また、スプレー洗浄装置10において、洗浄タンク11は、ポンプ17を備える排管16を介して洗浄液戻しタンク40に接続されており、ポンプ17は洗浄タンク11に溜まった使用済み洗浄液を、排管16を介して洗浄液戻しタンク40に排出する。
スプレー洗浄装置10での洗浄処理を終えた被洗浄物は、カーボン製ベースホルダからシリコンウェハを1枚ずつ引き剥がす工程へと進む。この工程で、被洗浄物はカーボン製ベースホルダを下向きにして温水槽に配置される。カーボン製ベースホルダをエポキシ系接着剤の部分まで温水に浸漬させて接着剤を軟化させたあと、被洗浄物がシリコンウェハとして1枚ずつ引き剥がされ、次の搬送式ブラシスクラビング装置20による洗浄工程へと順次連続して搬送される。
搬送式ブラシスクラビング装置20は、洗浄タンク21と、スクラビング用のスクラビングブラシ22と、スクラビングブラシ22によって洗浄されているシリコンウェハWに洗浄液を供給するための洗浄液供給装置23と、シリコンウェハWを搬送するための搬送装置24とを備える。
ブラシスクラビング装置20において、洗浄タンク21内には、スクラビングブラシ22が複数設けられており、本実施の形態においては例えば2つのスクラビングブラシ22が設けられている。スクラビングブラシ22は、一対の円筒状のブラシ25を有しており、ブラシ25が図示しない駆動装置によって互いに逆方向に回転することにより、そのニップ間に搬送されるシリコンウェハWを洗浄するように構成されている。ブラシ25は、例えば、ナイロン製、ポリプロピレン製、又はモヘア製である。
各スクラビングブラシ22において、一対のブラシ25は垂直方向に互いに対向して、所定の間隔の水平方向のニップを形成するように配置されており、また、2つのスクラビングブラシ22は、互いのニップが同一水平面上に位置するように配置されている。
搬送装置24は、ブラシスクラビング装置20において、各スクラビングブラシ22のニップ間にシリコンウェハWを水平状態を保持して順次搬送するように構成されている。
洗浄液供給装置23は、供給管27を介して洗浄液貯蔵タンク30に接続されており、供給管27にはポンプ26が設けられている。洗浄液供給装置23にはポンプ26によって洗浄液貯蔵タンク30から洗浄液が供給される。また、洗浄液供給装置23は、各スクラビングブラシ22のニップ間のシリコンウェハWに均一にシャワー状又は霧状の洗浄液を供給可能に構成されている。洗浄液供給装置23は、スクラビングブラシ22に搬送されたシリコンウェハW全体に均一にシャワー状又は霧状の洗浄液を供給可能であってもよく、また、搬送中のシリコンウェハW全体に均一にシャワー状又は霧状の洗浄液を供給可能であってもよい。シャワー状又は霧状の洗浄液を供給する場所は特に限定されるものではない。
また、ブラシスクラビング装置20において、洗浄タンク21は、ポンプ29を備える排管28を介して洗浄液戻しタンク40に接続されており、洗浄タンク21に溜まった使用済み洗浄液は排管28を介して洗浄液戻しタンク40に排出される。
ブラシスクラビング装置20においては、ポンプ26が洗浄液貯蔵タンク30から供給管27を介して洗浄液供給装置23に洗浄液を圧送することにより、洗浄液供給装置23が洗浄液を各スクラビングブラシ22のニップ間に供給する。また、搬送装置24がシリコンウェハWをスクラビングブラシ22のニップ間に順次供給する。各スクラビングブラシ22のブラシ25が互いに逆方向に回転して、ニップ間において洗浄液の存在のもとにシリコンウェハWをブラシスクラビングして洗浄する。
洗浄液貯蔵タンク30は、一定量の清浄な洗浄液を貯蔵するように構成されており、洗浄液戻しタンク40は、スプレー洗浄装置10及びブラシスクラビング装置20から排出される使用済み洗浄液を貯蔵可能に構成されている。
洗浄液貯蔵タンク30と洗浄液戻しタンク40との間には、遠心分離器60が設けられており、遠心分離器60は、吸い込み管61を介して洗浄液戻しタンク40に、吐き出し管62を介して洗浄液貯蔵タンク30に夫々接続している。吸い込み管61及び吐き出し管62には、ポンプ63,64が夫々設けられている。遠心分離器60は、ポンプ63によって吸い込み管61を介して洗浄液戻しタンク40から供給される使用済み洗浄液から、遠心分離作用によって不純物を取り除いて使用済み洗浄液を浄化し、この浄化した洗浄液をポンプ64によって吐き出し管62を介して洗浄液貯蔵タンク30に供給する。
マイクロバブル生成装置50は、公知のマイクロバブル生成装置の構成を有しており、例えば、再公表00−69550に開示された構成を有する。マイクロバブル生成装置50には、気体導入管51及び液体導入管52が接続している。気体導入管51は、マイクロバブル生成装置50側ではない端部が大気中に開放しており、また、マイクロバブル生成装置50に導入される空気量を調整するための調整弁53が設けられている。液体導入管52は、マイクロバブル生成装置50側ではない端部が洗浄液貯蔵タンク30内に開放しており、また、液体導入管52にはマイクロバブル生成装置50に洗浄液貯蔵タンク30内の洗浄液を供給するためのポンプ54が設けられている。
ここでマイクロバブルとは一般的に、直径がマイクロメータのオーダーである微細な泡を意味する(例えば、大成博文著「マイクロバブルのすべて」日本実業出版社(2006)、或いは、上山智嗣、宮本誠著「マイクロバブルの世界」工業調査会(2006)参照)。特にその直径は10〜数百μmの範囲にある。特に、直径60μm以下の気泡は液中での浮上速度が遅く長時間存在するが、徐々に収縮し液中に溶解してしまうものもある。また、本発明は泡のサイズの分布の程度には特に限定されない。ほぼ単一の分布を有する微細な泡、種々のサイズの複数の分布を有する微細な泡をも含む。また処理工程の間に泡のサイズが変動する場合も含む。
マイクロバブル生成装置50は、洗浄液貯蔵タンク30の洗浄液内に浸漬配置されており、ポンプ54によって液体導入管52を介して加圧洗浄液が導入され、また、気体導入管52を介して空気が導入され、導入された洗浄液にマイクロバブルを生成し、マイクロバブルが生成された洗浄液を洗浄液貯蔵タンク30の洗浄液内に噴出する。これにより、洗浄液貯蔵タンク30内の洗浄液をマイクロバブルによって満たすことが可能になる。マイクロバブル生成装置50が生成するマイクロバブルの量及びサイズは調整弁53によって調整可能である。
上述のシリコンウェハ洗浄装置1は、本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法を実行するためのシリコンウェハ洗浄装置の一例を示すものであり、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法を実行するためのシリコンウェハ洗浄装置はこれに限るものではなく他の構成であってもよい。例えば、マイクロバブルを発生させる場所も、洗浄液の送液配管中であってもよいし、スプレーノズル内等であってもよい。マイクロバブルを発生させる方法も、公知の各種方法が利用できる。また、マイクロバブル中の気体についても特に限定されない。上述のマイクロバブル生成装置50においては、マイクロバブルの成分気体は空気としたが、マイクロバブルの成分気体は単一の成分でも混合成分の気体でもよく、適宜選択することができる。具体的には、生成されるマイクロバブルの成分気体としては、水素、酸素、窒素、二酸化炭素、オゾン、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素、アルゴン、ヘリウムが挙げられる。ただし、この場合、成分気体の供給装置が気体導入管51に設けられる。
次いで、本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法について説明する。
本実施の形態においては、洗浄液として、アンモニア、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどの各種アルカリを含むアルカリ性の洗浄液を使用する。また、洗浄液は、界面活性剤を含むものとする。界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル等がある。尚、洗浄液は、アルカリ性の洗浄液に限るものではなく、例えば、超純水であってもよい。また、洗浄液は界面活性剤を含まないものであってもよい。また、洗浄液やウェハに超音波を照射することも可能である。洗浄液の温度については特に制限はない。
CZ法により製造したシリコン単結晶インゴッドを円筒研削して所定の直径としたのち、450mm以下程度の長さに切断する。次いで、円柱状に加工した分割インゴットを、エポキシ系の接着剤でカーボン製のベースホルダに固定し、マルチワイヤーソーを用いてスライスする。次いで、スライスしたインゴットをカーボン製のベースホルダに接着したまま、ベースホルダを上向きにして吊り下げて、洗浄タンク11へ導入する。
次いで、マイクロバブル生成装置50及びポンプ54を起動し、調整弁53を調整して、所望の量のマイクロバブルをポンプ54で吸い上げた洗浄液内に生成し、洗浄液貯蔵タンク30の洗浄液内に噴出する。これにより、洗浄液貯蔵タンク30内の洗浄液をマイクロバブルで充満させる。
次いで、ポンプ15を起動して、供給管13を介してスプレーノズル12にマイクロバブルを含む洗浄液(以下、マイクロバブル含有洗浄液という)を圧送し、スプレーノズル12から洗浄タンク11内に載置された複数のシリコンウェハWに均一に噴霧状のマイクロバブル含有洗浄液を吹き付けて、シリコンウェハWを洗浄する(スプレー洗浄)。このとき、ポンプ17を作動させて、洗浄タンク11に溜まった使用済みの不純物を含む洗浄液(以下、使用済み洗浄液という)を、排管16を介して洗浄液戻しタンク40に排出する。
また、ポンプ26を起動して、供給管27を介して洗浄液供給装置23にマイクロバブル含有洗浄液を圧送し、洗浄液供給装置23から噴霧状のマイクロバブル含有洗浄液を各スクラビングブラシ22のニップ間に供給する。一方、搬送装置24を起動し、スクラビングブラシ22を回転駆動させて、ウェハ載置部70から所定の時間間隔で順次スプレー洗浄装置10によって洗浄されたシリコンウェハWを搬送する。スプレー洗浄装置10によって洗浄されたシリコンウェハWは、図示しない搬送装置によって、スプレー洗浄装置10からブラシスクラビング装置20のウェハ載置部70に搬送されている。シリコンウェハWがスクラビングブラシ22に搬送されると、シリコンウェハWは、各スクラビングブラシ22のニップ部において、マイクロバブル含有洗浄液の存在下でブラシ25によってスクラビングされて洗浄される(ブラシスクラビング洗浄)。また、このとき、ポンプ29を作動させて、洗浄タンク21に溜まった使用済み洗浄液を、排管28を介して洗浄液戻しタンク40に排出する。
また、遠心分離器60、ポンプ63,64を起動して、洗浄液戻しタンク40内に溜まった使用済み洗浄液を遠心分離器60によって浄化して清浄にし、清浄になった洗浄液を洗浄液貯蔵タンク30に供給する。
本実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法においては、上述の各処理を継続して行うことにより、連続してシリコンウェハWの洗浄を行う。
上述のように、本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法は、マイクロバブル含有洗浄液を被洗浄物としてのシリコンウェハに噴霧して、シリコンウェハをスプレー洗浄し、又は、マイクロバブル含有洗浄液の存在下で被洗浄物としてのシリコンウェハをブラシスクラビングしてブラシスクラビング洗浄するものである。
尚、上述の本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法は、本発明の一実施の形態を示すものであり、本発明はこれに限られるものではない。例えば、本実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法においては、スプレー洗浄装置10においてスプレー洗浄されたシリコンウェハWをブラシスクラビング装置20においてブラシスクラビング洗浄するものとしたが、スプレー洗浄装置10においてスプレー洗浄のみするようにしてもよく、また、ブラシスクラビング装置20においてブラシスクラビング洗浄のみするようにしてもよい。また、本実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法は、スライス後洗浄に適用されるものとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、半導体製造工程における他の洗浄工程に適用してもよい。尚、本発明はスライス後洗浄に適用することが好適であり、この場合、不純物に対する洗浄力を効果的に発揮させることができる。
本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法は、洗浄液にマイクロバブルを生成し、このマイクロバブル含有洗浄液を用いてシリコンウェハを洗浄するものであり、例えば、マイクロバブル含有洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付ける洗浄方法、マイクロバブル含有洗浄液の存在下で被洗浄物としてのシリコンウェハをブラシスクラビングして洗浄する洗浄方法等を含むものである。
以下、本発明の具体的な実施例について説明する。
まず、CZ法により製造したシリコンインゴッドを円筒研削して直径200mmにしたものをマルチワイヤーソーを用いてスライスして厚さ約800μmのシリコンウェハを得た。本実施例においては、このシリコンウェハを被洗浄物としてのシリコンウェハWとして、上述のシリコンウェハ洗浄装置1を用いて洗浄を行った。シリコンウェハWの表面には不純物として、シリコンの切り屑(粉)、グリコール、研磨剤(SIC粉末)の混合物がスラリー状で付着していた。
本実施例においては、マイクロバブル装置50として、ナノプラネット研究所社製M2−MS型を使用した。
また、洗浄液としては、カストロールNo.200(0.1〜1wt%−KOH+界面活性剤(2〜5wt%−ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル))を、超純水にて40倍に希釈したもの(以下、第1洗浄液という)、及び200倍に希釈してもの(以下、第2洗浄液という)を使用した。
また、具体的な洗浄条件については、マイクロバブル生成装置50から生成するマイクロバブルの量は1L/分とした。マイクロバブル生成用の気体は空気とした。また、シリコンウェハWを洗浄タンク11に導入する前に5分間マイクロバブルを発生させて、洗浄液貯蔵タンク11内の洗浄液にマイクロバブルを充満させた。さらに、洗浄液の温度は20℃とした。
上述の条件において、第1洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1を用いてシリコンウェハWを洗浄し(実施例1)、また、第2洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1を用いてシリコンウェハWを洗浄した(実施例2)。また、上述の条件において、第1洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1のスプレー洗浄にだけマイクロバブルを導入した(実施例3)。また、第2洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1のスプレー洗浄にだけマイクロバブルを導入した(実施例4)。さらに、上述の条件において、第1洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1のブラシスクラビング洗浄にだけマイクロバブルを導入した(実施例5)。また、第2洗浄液を用いてシリコンウェハ洗浄装置1のブラシスクラビング洗浄にだけマイクロバブルを導入した(実施例6)。
また、比較例として、マイクロバブル生成装置50を作動させずに、即ちスプレー洗浄にもブラシスクラビング洗浄にもマイクロバブルを導入せずに、上記実施例1〜6と同様にシリコンウェハWを夫々洗浄した(比較例1〜2)。
尚、実施例1〜6及び比較例1〜2においては各々、n=約300個のシリコンウェハWの洗浄を行った。
次いで、実施例1〜6及び比較例1〜2において洗浄したシリコンウェハWを、超純水をかけながらブラシスクラビングし、その後ドライエアー吹き付けで乾燥させた。このようにして洗浄されたシリコンウェハW(実施例1〜6、及び比較例1〜2)に対して清浄度評価を行った。清浄度評価は、目視による外観検査によるものであり、清浄度評価において、シミや研磨剤残り等の汚れの残存具合(付着物除去レベル)を評価した。レベルBは従来の平均レベルであり、比較例1の条件に当たるレベルである。レベルAは従来を上回るレベルであり、レベルCは従来を下回るレベルである。清浄度評価の結果を下記表1に示す。
表1に示すように、付着物除去率のレベルは、第1洗浄液を用いた場合も、第2洗浄液を用いた場合も、マイクロバブル有りのとき(実施例1〜6)のほうが、マイクロバブル無しのとき(比較例1〜2)よりも、付着物除去レベルが高いことが分かる。つまり、スプレー洗浄又はブラシスクラビング洗浄における付着物除去レベルは、マイクロバブルを用いることにより向上させることができることが分かる。また、実施例2と比較例1との付着物除去レベルがほぼ等しいことから、マイクロバブルを導入することにより、洗浄液の濃度を5倍薄めても同等レベルの洗浄力が得られることが分かる。
上述のように、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法では、洗浄液にマイクロバブルを生成し、このマイクロバブル含有洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付けて洗浄するスプレー洗浄を行い、次いで、スプレー洗浄されたシリコンウェハをマイクロバブル含有洗浄液の存在下でブラシスクラビングして洗浄するブラシスクラビング洗浄を行う。このように、本発明に係るシリコンウェハの洗浄方法によれば、マイクロバブル含有洗浄液を用いてスプレー洗浄及び/又はブラシスクラビング洗浄するので、従来のシリコンウェハの洗浄方法に比べてシリコンウェハに付着した不純物の洗浄力を向上させることができる。
本発明の実施の形態に係るシリコンウェハの洗浄方法を実行するシリコンウェハ洗浄装置の概略構成を示す図である。
符号の説明
1 シリコンウェハ洗浄装置
10 スプレー洗浄装置
11,21 洗浄タンク
12 スプレーノズル
13,27 供給管
14 保持ホルダ
15,17,26,29,54,63,64 ポンプ
16,28 排管
20 ブラシスクラビング装置
22 スクラビングブラシ
23 洗浄液供給装置
24 搬送装置
25 ブラシ
30 洗浄液貯蔵タンク
40 洗浄液戻しタンク
50 マイクロバブル生成装置
51 気体導入管
52 液体導入管
53 調整弁
60 遠心分離器
61 吸い込み管
62 吐き出し管
70 ウェハ載置部
W シリコンウェハ

Claims (6)

  1. シリコンウェハの洗浄方法であって、
    洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、
    前記マイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付ける洗浄ステップとを備えることを特徴とするシリコンウェハの洗浄方法。
  2. シリコンウェハの洗浄方法であって、
    洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、
    前記マイクロバブルが生成された洗浄液を被洗浄物としてのシリコンウェハに供給しつつ、前記被洗浄物としてのシリコンウェハをブラシスクラビングする洗浄ステップとを備えることを特徴とするシリコンウェハの洗浄方法。
  3. シリコンウェハの洗浄方法であって、
    洗浄液にマイクロバブルを生成するマイクロバブル生成ステップと、
    前記マイクロバブルが生成された洗浄液をシャワー状又は霧状にして被洗浄物としてのシリコンウェハに吹き付けるスプレー洗浄ステップと、
    前記マイクロバブルが生成された洗浄液を前記スプレー洗浄ステップにおいて洗浄されたシリコンウェハに供給しつつ、該スプレー洗浄ステップにおいて洗浄されたシリコンウェハをブラシスクラビングするブラシスクラビング洗浄ステップとを備えることを特徴とするシリコンウェハの洗浄方法。
  4. 前記被洗浄物としてのシリコンウェハは、スライシングされた後のシリコンウェハであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載のシリコンウェハの洗浄方法。
  5. 前記洗浄液は界面活性剤を含むことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載のシリコンウェハの洗浄方法。
  6. 前記洗浄液はアルカリ性であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載のシリコンウェハの洗浄方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0945640A (ja) * 1995-08-03 1997-02-14 Mitsubishi Materials Shilicon Corp 半導体ウェーハの枚葉化処理方法、その装置、および半導体ウェーハの分離装置、ならびに、半導体ウェーハ表面付着物の除去装置
JP2006181417A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Fujitsu Ltd 洗浄装置
JP2006272069A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Kurita Water Ind Ltd 洗浄装置
JP2007160175A (ja) * 2005-12-12 2007-06-28 Sharp Corp 洗浄装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0945640A (ja) * 1995-08-03 1997-02-14 Mitsubishi Materials Shilicon Corp 半導体ウェーハの枚葉化処理方法、その装置、および半導体ウェーハの分離装置、ならびに、半導体ウェーハ表面付着物の除去装置
JP2006181417A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Fujitsu Ltd 洗浄装置
JP2006272069A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Kurita Water Ind Ltd 洗浄装置
JP2007160175A (ja) * 2005-12-12 2007-06-28 Sharp Corp 洗浄装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116536116A (zh) * 2023-05-05 2023-08-04 常州捷佳创精密机械有限公司 微泡清洗液及使用该微泡清洗液的方法

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