JP2009041983A - Method for detecting variation of zero-point error of multi-point probe - Google Patents

Method for detecting variation of zero-point error of multi-point probe Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for detecting variations of zero-point errors of multi-point probes, capable of easily compensating for zero-point errors, after drifts have occurred in a plurality of sensors. <P>SOLUTION: In the method for detecting variations of zero-point errors of multi-point probes, a sensor unit 220 is arranged, in such a way as to be opposed to the surface to be measured of a sample, in a state of rotating about a spindle, and a CPU 310 reads shape values along a concentric circle in the surface to be measured of the sample and measured values that include zero-point errors outputted from a plurality of displacement sensors A, B, C whenever the sample is rotated by a prescribed angle of rotation during one rotation of the sample and stores them in a storage device 340. On the basis of the new measured values and old measured values stored in the storage device 340 relating to the same sample, the amount of variations in the zero-point errors is computed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、多点プローブの零点誤差の変動検出方法に関する。   The present invention relates to a zero point error variation detection method for a multipoint probe.

3つの変位センサを用いて、逐次3点法で測定対象の表面形状を測定する表面形状測定装置では、各変位センサ間に生じる測定誤差要因として零点誤差がある。零点誤差は、図1に示すように複数の変位センサA〜Cのうち、いずれかを基準とした場合、基準の変位センサ(図1では変位センサB)の零点と他の変位センサA,Cの零点のずれのことである。通常、複数の変位センサの零点を合わせるためには、何かの基準となる直線状の基準面となる平面に当ててみることにより、その読みがゼロになるように調整する。   In a surface shape measuring apparatus that uses three displacement sensors to measure the surface shape of a measurement object sequentially using the three-point method, there is a zero point error as a measurement error factor that occurs between the displacement sensors. As shown in FIG. 1, when any one of the plurality of displacement sensors A to C is used as a reference, the zero point error corresponds to the zero point of the reference displacement sensor (displacement sensor B in FIG. 1) and the other displacement sensors A and C. This is the deviation of the zero point. Usually, in order to adjust the zero points of a plurality of displacement sensors, adjustment is made so that the reading becomes zero by applying to a plane which is a linear reference surface as a reference.

或いは、反転法等を使用して、零点誤差を算出して、その零点誤差を補償するようにしている。
しかし、一旦、零点誤差を解消したり、或いは、反転法等を使用して零点誤差を補償しても、時間が経過した場合、変位センサの取付け位置がドリフトなどによって、3つの変位センサ間の零点誤差が変動していることがある。
Alternatively, the zero point error is calculated using an inversion method or the like, and the zero point error is compensated.
However, once the zero point error is resolved or the zero point error is compensated by using an inversion method or the like, if the time has elapsed, the mounting position of the displacement sensor may drift between the three displacement sensors due to drift or the like. Zero error may fluctuate.

従来は、このように時間が経過したことによって多点プローブのセンサ間の零点誤差が変動した場合、改めて、零点誤差を調整したり、或いは、反転法等を行って零点誤差の補償を行うようにしているため、零点誤差を解消するための作業が繁雑である問題があった。   Conventionally, when the zero point error between the sensors of the multipoint probe fluctuates due to the passage of time in this way, the zero point error is adjusted again, or the zero point error is compensated by performing an inversion method or the like. Therefore, there is a problem that work for eliminating the zero error is complicated.

本発明の目的は、上記課題を解決して、複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる多点プローブの零点誤差の変動検出方法を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a zero point error variation detection method for a multipoint probe that can easily compensate for zero point errors after a plurality of sensor drifts have been solved. .

上記問題点を解決するために、請求項1の発明は、複数のセンサを含む真直形状測定用の多点プローブを、回転手段にて回転されている状態の測定対象物の測定面に相対するように多点プローブ支持手段にて配置して、少なくとも前記測定対象物が1回転する間において、前記測定対象物が所定回転角度回転する毎に前記複数のセンサから出力される、前記測定対象物の測定面における同心円に沿う形状値及びプローブの零点誤差に基づく誤差を含む測定値を読取り手段に読取りさせて記憶手段に記憶させ、前記記憶手段記憶した、同一の前記測定対象物に関する新しい測定値(以下、第1測定値という)と、第1測定値の取得時期よりも取得時期が古い測定値(以下、第2測定値という)とに基づいて、零点誤差の変動量を算出することを特徴とする多点プローブの零点誤差の変動検出方法を要旨とするものである。   In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is configured such that a multipoint probe for measuring a straight shape including a plurality of sensors is opposed to a measurement surface of an object to be measured being rotated by a rotating means. The measurement object is arranged by the multipoint probe support means and is output from the plurality of sensors each time the measurement object rotates by a predetermined rotation angle during at least one rotation of the measurement object. The measurement value including the shape value along the concentric circle on the measurement surface and the error based on the zero point error of the probe is read by the reading means and stored in the storage means, and the new measurement value relating to the same measurement object stored in the storage means Calculating the amount of variation of the zero error based on (hereinafter referred to as the first measurement value) and the measurement value (hereinafter referred to as the second measurement value) whose acquisition time is older than the acquisition time of the first measurement value. It is an gist variation detecting method in the zero point error of the multi-point probe according to symptoms.

請求項1の発明によれば、第1測定値と第2測定値とに基づいて零点誤差の変動量が算出されるため、その変動量に基づいて複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる。   According to the invention of claim 1, since the fluctuation amount of the zero point error is calculated based on the first measurement value and the second measurement value, the zero point after the drift of the plurality of sensors is generated based on the fluctuation amount. Error compensation can be easily performed.

請求項2の発明は、請求項1において、前記多点プローブ支持手段が、前記回転手段の径方向に移動可能に設けられ、前記測定値には、前記多点プローブ支持手段を前記径方向において複数の位置に移動させて、それぞれの位置において、前記測定対象物を前記回転手段にて少なくとも1回転以上回転させた際に得られた値の平均値を含むことを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the multipoint probe support means is provided so as to be movable in a radial direction of the rotating means, and the measurement value includes the multipoint probe support means in the radial direction. It includes an average value of values obtained when the measurement object is moved to a plurality of positions and the measurement object is rotated at least once or more by the rotation means at each position.

請求項2の発明によれば、回転手段の径方向に移動して複数の位置で多点プローブが測定面を測定する行い、その測定値の平均が取られると、測定値に含まれる偶然誤差が少なくなる。   According to the invention of claim 2, when the multipoint probe moves in the radial direction of the rotating means and measures the measurement surface at a plurality of positions, and the average of the measured values is taken, a chance error included in the measured values Less.

又、測定値が平均値であるため、測定面の形状値が不変となる。これは、例えば、3点プローブや2点プローブにより測定される変位であっても、同じ位置で再度その変位が測定できるのであれば、零点誤差の記憶、補償は可能である。しかし、例えば、1回目と2回目の円周方向の測定開始位置を同じ位置で測定できなければ、それは記憶・補償の誤差となる。しかし、請求項2の発明では、円周方向の測定開始位置がずれても、測定値が平均値であるため、測定面の形状値が不変となる。この結果、零点誤差の記憶・補償ができ、古い測定値(平均値)と新しい測定値(平均値)に基づいて零点誤差の変動量を算出することができる。   Further, since the measured value is an average value, the shape value of the measurement surface remains unchanged. For example, even if the displacement is measured by a three-point probe or a two-point probe, if the displacement can be measured again at the same position, the zero-point error can be stored and compensated. However, for example, if the first and second circumferential measurement start positions cannot be measured at the same position, it becomes a memory / compensation error. However, in the second aspect of the invention, even if the measurement start position in the circumferential direction is deviated, the measurement value is an average value, and the shape value of the measurement surface remains unchanged. As a result, the zero point error can be stored and compensated, and the fluctuation amount of the zero point error can be calculated based on the old measured value (average value) and the new measured value (average value).

請求項3の発明は、請求項2において、前記多点プローブ支持手段が支持する複数のセンサが前記多点プローブ支持手段の移動方向に離れて設置した3つの変位センサであることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the plurality of sensors supported by the multipoint probe support means are three displacement sensors installed apart in the moving direction of the multipoint probe support means. .

請求項3の発明によれば、多点プローブが3つの変位センサにおける零点誤差の変動量が容易に求められる。
請求項4の発明は、請求項2において、前記多点プローブ支持手段が支持する複数のセンサが前記多点プローブ支持手段の移動方向に離れて設置した2つの2次元角度センサであることを特徴とする。
According to the third aspect of the present invention, the amount of fluctuation of the zero point error in the three displacement sensors of the multipoint probe can be easily obtained.
According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the plurality of sensors supported by the multipoint probe support means are two two-dimensional angle sensors installed apart in the moving direction of the multipoint probe support means. And

請求項4の発明によれば、多点プローブが2つの2次元角度センサにおける零点誤差の変動量が容易に求められる。   According to the invention of claim 4, the amount of fluctuation of the zero point error in the two-dimensional angle sensor having two multi-point probes can be easily obtained.

請求項1の発明によれば、多点プローブの零点誤差の変動量を容易に求めることができ、その結果、その変動量に基づいて複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる。   According to the first aspect of the present invention, the fluctuation amount of the zero point error of the multipoint probe can be easily obtained. As a result, the zero point error after the drift of the plurality of sensors is generated based on the fluctuation amount. It can be done easily.

請求項2の発明によれば、回転手段の径方向に移動して複数の位置で多点プローブが測定面を測定する行い、その測定値の平均が取られると、測定値に含まれる偶然誤差が少なくなる。又、測定値が平均値であるため、測定面の形状値を不変とすることができる。すなわち、円周方向の測定開始位置がずれても、測定値が平均値であるため、測定面の形状値が不変となる。この結果、零点誤差の記憶・補償ができ、古い測定値(平均値)と新しい測定値(平均値)に基づいて零点誤差の変動量を算出することができる。   According to the invention of claim 2, when the multipoint probe moves in the radial direction of the rotating means and measures the measurement surface at a plurality of positions, and the average of the measured values is taken, a chance error included in the measured values Less. Further, since the measurement value is an average value, the shape value of the measurement surface can be made unchanged. That is, even if the measurement start position in the circumferential direction is deviated, the measurement value is an average value, so the shape value of the measurement surface remains unchanged. As a result, the zero point error can be stored and compensated, and the fluctuation amount of the zero point error can be calculated based on the old measured value (average value) and the new measured value (average value).

請求項3の発明によれば、多点プローブが3つの変位センサにおける零点誤差の変動量を容易に求めることができる。
請求項4の発明によれば、多点プローブが2つの2次元角度センサにおける零点誤差の変動量を容易に求めることができる。
According to the invention of claim 3, the multipoint probe can easily obtain the variation amount of the zero point error in the three displacement sensors.
According to the invention of claim 4, the multipoint probe can easily determine the fluctuation amount of the zero point error in the two two-dimensional angle sensors.

(第1実施形態)
以下、本発明の多点プローブの零点誤差の変動検出方法を実現できる多点プローブの零点誤差関連値記録装置(以下、単に零点誤差関連値記録装置という)について図1及び図2を参照して説明する。
(First embodiment)
A multipoint probe zero-point error related value recording apparatus (hereinafter simply referred to as a zero-point error related value recording apparatus) that can realize the zero-point error variation detection method of the multipoint probe of the present invention will be described below with reference to FIGS. explain.

図2に示すように、測定対象物としての試料200は、スピンドル210上に搭載されて、スピンドル210の回転軸(すなわち、z軸)の周りで回転自在となっている。本実施形態では試料200の上面が測定面202となっている。試料200は測定面202の形状が変化しないような十分な厚さを有していることが好ましく、測定面202は、平面であることが好ましい。又、試料200は、本実施形態では、円板状に形成されているが、四角板状であってもよく、形状は限定されるものではない。要は、試料200がスピンドル210により回転された際に、真直形状測定用の多点プローブで測定できる領域を備えていればよい。   As shown in FIG. 2, a sample 200 as an object to be measured is mounted on a spindle 210 and is rotatable around the rotation axis (that is, the z axis) of the spindle 210. In the present embodiment, the upper surface of the sample 200 is the measurement surface 202. The sample 200 preferably has a sufficient thickness such that the shape of the measurement surface 202 does not change, and the measurement surface 202 is preferably a flat surface. Moreover, although the sample 200 is formed in a disk shape in this embodiment, it may be a square plate shape, and the shape is not limited. In short, it is only necessary to provide an area that can be measured by a multipoint probe for measuring a straight shape when the sample 200 is rotated by the spindle 210.

真直形状測定用の多点プローブとしてのセンサユニット220は、リニアセンサキャリッジ(以下、センサキャリッジ230という)によりx方向、すなわち、スピンドル210の径方向に移動可能にされ、試料200が回転手段としてのスピンドル210により回転しているときに、試料表面を走査する。センサキャリッジ230は多点プローブ支持手段に相当する。   A sensor unit 220 as a multipoint probe for measuring a straight shape is movable in the x direction, that is, the radial direction of the spindle 210 by a linear sensor carriage (hereinafter referred to as sensor carriage 230), and the sample 200 serves as a rotating means. When rotating by the spindle 210, the sample surface is scanned. The sensor carriage 230 corresponds to multipoint probe support means.

センサユニット220中には3つの変位センサA,B,Cが、x方向に沿うように、すなわち、センサキャリッジ230の移動方向に沿うように間隔d,dを介して設置されている。 In the sensor unit 220, three displacement sensors A, B, and C are installed via the intervals d 1 and d 2 along the x direction, that is, along the moving direction of the sensor carriage 230.

なお、d=rF−r0、d=r0−rRである(図2参照)。
本実施形態では、前記変位センサA,B,Cは、非接触式のセンサであって、静電容量型センサからなる。なお、変位センサは、非接触式の静電容量型センサに限定されるものではなく、接触式でもよく、或いは、非接触式の場合、静電容量型センサに代えて、例えば、光学センサとしてもよい。
Note that d 1 = r F −r 0 and d 2 = r 0 −r R (see FIG. 2).
In the present embodiment, the displacement sensors A, B, and C are non-contact sensors, and are composed of capacitive sensors. The displacement sensor is not limited to a non-contact type capacitive sensor, and may be a contact type. Alternatively, in the case of a non-contact type, for example, an optical sensor may be used instead of the capacitive type sensor. Also good.

零点誤差関連値記録装置においては、各変位センサA,B,Cからの出力は図示しないA/D変換等でデジタル値に変換され、パソコン等のコンピュータシステム300に入力される。又、コンピュータシステム300は、CPU310、RAM320、ROM330を備えている。CPU310は、読取り手段及び算出手段に相当する。コンピュータシステム300には、ハードディスク等からなる記憶装置340が接続され、前記変位センサA,B,Cからの測定値が読出し可能に記憶される。   In the zero error related value recording device, the output from each displacement sensor A, B, C is converted into a digital value by A / D conversion or the like (not shown) and input to a computer system 300 such as a personal computer. The computer system 300 includes a CPU 310, a RAM 320, and a ROM 330. The CPU 310 corresponds to a reading unit and a calculating unit. A storage device 340 composed of a hard disk or the like is connected to the computer system 300, and measured values from the displacement sensors A, B, and C are stored in a readable manner.

本明細書で零点誤差関連値とは、零点誤差を算出するための値や、零点誤差変動量や零点誤差を含む。
(第1実施形態の作用)
さて、試料200における測定面202の半径rF,r0,rRの円周上の形状をf(rF,θ),f(r0,θ),f(rR,θ)、各変位センサA,B,Cの出力(すなわち、測定値)をSF,S0,SRとする。又、ez(θ),Φy(θ)をそれぞれ試料200のz軸方向の運動誤差、スピンドル210の回転軸のy軸周りの傾きによって生ずる運動誤差とすると、変位センサA,B,Cの出力(すなわち、測定値)はSF,S0,SRは、式(1)〜式(3)で表わすことができる。ここで、式(1)中のαは、変位センサBを基準とした、変位センサAの零点誤差である。又、式(3)中のαは、変位センサBを基準とした、変位センサCの零点誤差である。又、式(1)〜式(3)中のf(rF,θ),f(r0,θ),f(rR,θ)は測定対象物の測定面における同心円に沿う形状値に相当する。
In this specification, the zero-point error related value includes a value for calculating the zero-point error, a zero-point error fluctuation amount, and a zero-point error.
(Operation of the first embodiment)
Now, the shape on the circumference of the radius r F , r 0 , r R of the measurement surface 202 in the sample 200 is f (r F , θ), f (r 0 , θ), f (r R , θ), each The outputs (that is, measured values) of the displacement sensors A, B, and C are S F , S 0 , and S R. Further, assuming that e z (θ) and Φ y (θ) are movement errors in the z-axis direction of the sample 200 and movement errors caused by the inclination of the rotation axis of the spindle 210 around the y-axis, the displacement sensors A, B, and C S F , S 0 , S R can be expressed by the following equations (1) to (3). Here, α F in the equation (1) is a zero point error of the displacement sensor A with the displacement sensor B as a reference. In addition, α R in the equation (3) is a zero point error of the displacement sensor C with respect to the displacement sensor B. In addition, f (r F , θ), f (r 0 , θ), and f (r R , θ) in the equations (1) to (3) are the shape values along the concentric circles on the measurement surface of the measurement object. Equivalent to.

Figure 2009041983
変位センサA,B,Cがy軸上において、半径rF,r0,rRにそれぞれ位置するときに、スピンドル210により試料200を回転中心(すなわち、z軸)の周りで1回転させた場合、この1回転中において、零点誤差関連値記録装置は所定回転角度経過する毎に、変位センサA,B,Cの出力SF,S0,SR(すなわちデータ)を入力する。そして、CPU310はこの測定値を記憶装置340に格納する。なお、所定回転角度は、例えば1度であってよく、0.5度でもよく、限定されるものではない。θは、原点位置からの回転角度である。
Figure 2009041983
When the displacement sensors A, B, and C are located at radii r F , r 0 , and r R on the y-axis, the sample 200 is rotated once around the rotation center (ie, the z-axis) by the spindle 210. In this case, during this one rotation, the zero point error related value recording apparatus inputs the outputs S F , S 0 , S R (that is, data) of the displacement sensors A, B, C every time a predetermined rotation angle elapses. Then, the CPU 310 stores this measurement value in the storage device 340. The predetermined rotation angle may be, for example, 1 degree or 0.5 degree, and is not limited. θ is the rotation angle from the origin position.

なお、これらの回転角度θや、センサキャリッジ230のx軸上の位置は、図示しないリニアエンコーダやロータリエンコーダ等の位置センサで検出可能である。
例えば、変位センサBのx軸上の位置は前記リニアエンコーダで検出され、変位センサA,Cの位置は、変位センサBの検出された位置とd,dに基づいてCPU310により算出される。
The rotation angle θ and the position of the sensor carriage 230 on the x-axis can be detected by a position sensor such as a linear encoder or a rotary encoder (not shown).
For example, the position of the displacement sensor B on the x-axis is detected by the linear encoder, and the positions of the displacement sensors A and C are calculated by the CPU 310 based on the detected position of the displacement sensor B and d 1 and d 2. .

(1回目の測定及び記録)
1回目の記録では、試料200を1回転させ、各変位センサA,B,Cからの変位出力に添字「1」を付して、変位センサA,B,Cの出力(すなわち、測定値)を表わすと、SF,S0,SRは、式(4)〜式(6)で表わすことができる。
(First measurement and recording)
In the first recording, the sample 200 is rotated once, the subscript “1” is added to the displacement output from each of the displacement sensors A, B, and C, and the output of the displacement sensors A, B, and C (that is, measured values). , S F , S 0 , S R can be expressed by equations (4) to (6).

なお、ここでは、最初に1回目の零点誤差が公知の方法で求められていて補償されており、試料200の表面形状が測定できる変位センサA〜Cの零点誤差は、αF1,αR1は既知とする。 Here, the first zero error is first determined by a known method and compensated, and the zero errors of the displacement sensors A to C that can measure the surface shape of the sample 200 are α F1 and α R1. Let it be known.

Figure 2009041983
試料200が1回転された後、コンピュータシステム300のCPU310は、1回転している際に入力された変位センサA,B,Cから得られた各測定値の平均値を算出する。
Figure 2009041983
After the sample 200 has been rotated once, the CPU 310 of the computer system 300 calculates an average value of the respective measurement values obtained from the displacement sensors A, B, and C that are input during the one rotation.

すなわち、所定回転角度が1度であれば、変位センサAの各データを合計して360で割ることにより、変位センサAで得られた表面形状の平均値が得られる。変位センサBについても同様に変位センサBで得られた表面形状の平均値が得られる。   That is, if the predetermined rotation angle is 1 degree, the average value of the surface shape obtained by the displacement sensor A is obtained by summing up the data of the displacement sensor A and dividing by 360. Similarly, the average value of the surface shapes obtained by the displacement sensor B is obtained for the displacement sensor B.

f(rF,θ),f(r0,θ),f(rR,θ)の平均値FF1,F01,FR1は、試料200の形状が変わらない限り、それぞれ不変である。運動誤差ez(θ),Φy(θ)の平均値をそれぞれEZ1,ΦY1とし、SF1(θ),S01(θ),SR1(θ)の平均値をそれぞれSF1,S01,SR1とすると、式(4)〜(6)は、式(7)〜(9)となる。 The average values FF1, F01, FR1 of f (r F , θ), f (r 0 , θ), f (r R , θ) are unchanged as long as the shape of the sample 200 is not changed. The average values of the motion errors e z (θ) and Φ y (θ) are EZ1 and ΦY1, respectively, and the average values of S F1 (θ), S 01 (θ), and S R1 (θ) are SF1, S01, and SR1, respectively. Then, Expressions (4) to (6) become Expressions (7) to (9).

Figure 2009041983
次に、CPU310は式(7)−式(8)を演算すると、z方向の運動誤差が消去されて式(10)となる。
Figure 2009041983
Next, if CPU310 calculates Formula (7)-Formula (8), the motion error of az direction will be erase | eliminated and it will become Formula (10).

Figure 2009041983
次に、CPU310は式(8)−式(9)を演算すると、同じくz方向の運動誤差が消去されて式(11)となる。
Figure 2009041983
Next, if CPU310 calculates Formula (8) -Formula (9), the motion error of az direction will be erase | eliminated similarly to Formula (11).

Figure 2009041983
又、CPU310は、式(10)×(r0−rR)/( rF−r0)を演算すると、式(12)が得られる。
Figure 2009041983
Further, when the CPU 310 calculates the equation (10) × (r 0 −r R ) / (r F −r0), the equation (12) is obtained.

Figure 2009041983
次に、CPU310は式(12)−式(11)を演算すると、運動誤差解消値を表わす式(13)を得る。
Figure 2009041983
Next, CPU 310 calculates equation (12) -equation (11) to obtain equation (13) representing the motion error cancellation value.

Figure 2009041983
ここで、式(13)では、回転軸のy軸周りの傾きによる運動誤差も消去されている。又、式(13)において、左辺は表面形状の2回差分に関するものであり、右辺は「測定して得られた値+零点誤差」に関するものとなる。
Figure 2009041983
Here, in Equation (13), the motion error due to the inclination of the rotation axis around the y-axis is also eliminated. In equation (13), the left side relates to the difference between the surface shapes twice, and the right side relates to “value obtained by measurement + zero error”.

このようにして、CPU310は、1回目の測定値を記憶装置340に行うとともに、前述した測定のための演算を行い、この演算結果を記憶装置340に記憶する。
この1回目の測定値は第2測定値に相当する。
In this way, the CPU 310 performs the first measurement value in the storage device 340, performs the above-described calculation for measurement, and stores the calculation result in the storage device 340.
This first measurement value corresponds to the second measurement value.

(2回目の測定及び記録)
1回目の測定後においては、温度ドリフト等によって変位センサA,B,Cの零点誤差が変動する。そこで、1回目の測定及び記録がされた後、新たにワークの表面形状を測定する場合、2回目の測定においては、コンピュータシステム300のCPU310は、試料200が1回転中に入力された変位センサA,B,Cから得られた各測定値の平均値等を「1回目の測定及び記録」と同様に算出する。そして、CPU310はその算出結果等を記憶装置340に記憶する。この2回目の測定値は第1測定値に相当する。
(Second measurement and recording)
After the first measurement, the zero point error of the displacement sensors A, B, C varies due to temperature drift or the like. Accordingly, when the surface shape of the workpiece is newly measured after the first measurement and recording, in the second measurement, the CPU 310 of the computer system 300 detects the displacement sensor input during one rotation of the sample 200. The average value of each measured value obtained from A, B, and C is calculated in the same manner as “first measurement and recording”. Then, the CPU 310 stores the calculation result and the like in the storage device 340. This second measurement value corresponds to the first measurement value.

ここでは、説明の便宜上、詳細な説明を省略するが、式(7)〜式(12)中、1回目の測定で説明した各変数に添字「1」の代わりに添字「2」を付けて表わせば、「2回目の測定」の結果が同様に得られる。又、「1回目の測定」の欄で得られた式(13)は、2回目の測定での運動誤差解消値は、式(14)で表わされる。   Here, for the convenience of explanation, detailed explanation is omitted, but in the equations (7) to (12), the subscript “2” is added to each variable explained in the first measurement instead of the subscript “1”. If expressed, the result of “second measurement” is obtained similarly. Also, the equation (13) obtained in the “first measurement” column represents the motion error elimination value in the second measurement as the equation (14).

Figure 2009041983
1回目の運動誤差解消値を表わす式(13)と2回目の運動誤差解消値を表わす式(14)を比較すると、同一の試料200を測定しているため、その表面形状は変化しないとしてもよいから、FF2=FF1,F02=F01,FR2=FR1であり、右辺第1項は同じになる。従って、CPU310は、式(14)−式(13)をCPU310は演算することにより、零点誤差の変動量を算出する。式(15)は式(14)−式(13)で演算された零点誤差の変動量を求めるための式である。
Figure 2009041983
Comparing equation (13) representing the first motion error cancellation value and equation (14) representing the second motion error cancellation value, since the same sample 200 is measured, the surface shape may not change. Therefore, FF2 = FF1, F02 = F01, FR2 = FR1, and the first term on the right side is the same. Therefore, the CPU 310 calculates the fluctuation amount of the zero point error by calculating the expression (14) -expression (13). Expression (15) is an expression for obtaining the fluctuation amount of the zero point error calculated by Expression (14) -Expression (13).

なお、d=r−r、d=r−rRである。 Note that d 1 = r F −r 0 and d 2 = r 0 −r R.

Figure 2009041983
ここで、式(15)中、rF,r0,rRは、前述したように図示しないリニアエンコーダの検出値及び、d,dに基づいて得られる既知の値であり、演算結果として記憶装置340に格納されている。又、SF1,SF2,S01,S02,SR1,SR2は第1回目と第2回目の算出値であり、演算結果として記憶装置340に格納されている。
Figure 2009041983
Here, in Expression (15), r F , r 0 , and r R are detection values of a linear encoder (not shown) and known values obtained based on d 1 and d 2 as described above, and the calculation result Is stored in the storage device 340. SF1, SF2, S01, S02, SR1, SR2 are calculated values for the first time and the second time, and are stored in the storage device 340 as calculation results.

このようにして零点誤差の変動量が求められると、1回目の零点誤差が既知となっているため、この零点誤差の変動量を既知の値である1回目の零点誤差に加算又は減算するだけで、センサのドリフトが生じた後における新たな零点誤差の補償量が得られる。このようにして、この零点誤差の変動量に基づいて、零点誤差の補償することが可能となる。   When the fluctuation amount of the zero point error is obtained in this way, the first zero point error is already known. Therefore, the zero point error fluctuation amount is simply added to or subtracted from the first zero point error which is a known value. Thus, a new compensation amount for the zero point error after the sensor drift is obtained. In this way, it is possible to compensate for the zero point error based on the fluctuation amount of the zero point error.

なお、間隔d,dが同じ、すなわち、変位センサA,B,Cが等距離に離間している場合は、式(15)は、簡単になって式(16)で表わされる。 When the distances d 1 and d 2 are the same, that is, when the displacement sensors A, B, and C are equally spaced, the equation (15) is simply expressed by the equation (16).

Figure 2009041983
このように、変位センサA,B,Cが等距離に離間している場合は、零点誤差の変動量を容易に求めることができる。
Figure 2009041983
As described above, when the displacement sensors A, B, and C are separated by an equal distance, the fluctuation amount of the zero point error can be easily obtained.

以上のようにして、ドリフトによって変位センサの零点誤差の変動があった場合、上記の零点誤差関連値記録装置によって、零点誤差の変動量が求められ、精度の高い零点補償を行うことができる。   As described above, when there is a variation in the zero point error of the displacement sensor due to the drift, the amount of variation of the zero point error can be obtained by the above-described zero point error related value recording device, and high-precision zero compensation can be performed.

従って、例えば、形状測定装置に隣接して零点誤差関連値記録装置を設けておいて、形状測定装置によりワークの形状測定ができる領域と、スピンドル210上の試料200の測定面202の形状測定ができる領域をセンサキャリッジ230によって、センサユニット220を移動できるようにするしておくことが好ましい。   Therefore, for example, a zero point error related value recording device is provided adjacent to the shape measuring device, and the shape measurement device can measure the shape of the workpiece and the shape measurement of the measurement surface 202 of the sample 200 on the spindle 210. It is preferable that the sensor unit 220 can be moved by the sensor carriage 230 in a possible area.

第1実施形態では、下記の特徴を有する。
(1) 本実施形態の多点プローブの零点誤差の変動検出方法では、測定面202を有する試料200(測定対象物)をスピンドル210(回転手段)にて回転させ、複数の変位センサA,B,Cを含む真直形状測定用のセンサユニット220(多点プローブ)を、スピンドル210にて回転されている状態の試料200の測定面に相対するように配置した。そして、試料200が1回転する間において、試料200が所定回転角度回転する毎に前記複数の変位センサA,B,Cから出力される、試料200の測定面202における同心円に沿う形状値及び零点誤差を含む測定値をCPU310(読取り手段)に読取りさせて記憶装置340(記憶手段)に記憶させるようにした。そして、記憶装置340が記憶した、同一の試料200に関する新しい測定値(第1測定値)と、第1測定値の取得時期よりも取得時期が古い測定値(第2測定値)とに基づいて、零点誤差の変動量を算出するようにした。
The first embodiment has the following features.
(1) In the multipoint probe zero point error variation detection method of the present embodiment, a sample 200 (measurement object) having a measurement surface 202 is rotated by a spindle 210 (rotating means), and a plurality of displacement sensors A, B are rotated. , C including a straight shape measurement sensor unit 220 (multi-point probe) is disposed so as to face the measurement surface of the sample 200 being rotated by the spindle 210. The shape value and the zero point along the concentric circle on the measurement surface 202 of the sample 200 that are output from the plurality of displacement sensors A, B, and C each time the sample 200 rotates by a predetermined rotation angle during one rotation of the sample 200. The measurement value including the error is read by the CPU 310 (reading means) and stored in the storage device 340 (storage means). Then, based on the new measurement value (first measurement value) related to the same sample 200 stored in the storage device 340 and the measurement value (second measurement value) whose acquisition time is older than the acquisition time of the first measurement value. The variation of the zero point error is calculated.

この結果、センサユニット220における変位センサA,B,Cの零点誤差の変動量を容易に算出することができ、センサユニット220の変位センサA,B,Cの零点誤差の変動量を容易に求めることができ、その変動量に基づいて複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる。   As a result, the fluctuation amount of the zero point error of the displacement sensors A, B, and C in the sensor unit 220 can be easily calculated, and the fluctuation amount of the zero point error of the displacement sensors A, B, and C of the sensor unit 220 can be easily obtained. Therefore, it is possible to easily compensate for the zero point error after the drift of the plurality of sensors occurs based on the fluctuation amount.

(2) 本実施形態の多点プローブの零点誤差の変動検出方法では、零点誤差関連値記録装置は、第1測定値、及び第2測定値には、試料200をスピンドル210にて1回転回転させた際に得られた値の平均値を含むようにした。この結果、本実施形態では、同一の試料200を測定して得られた第1測定値と第2測定値がそれぞれ平均値であるため、測定面202の形状値を不変となる。これは、測定面202は、円周方向の測定開始位置(すなわち、測定開始点)がずれても、その測定開始点から1周分したときに得られた測定値の平均値である測定面の形状値が不変となることを利用している。この結果、零点誤差の変動量の算出の際に形状値の影響を受けることがない。   (2) In the zero point error variation detection method of the multipoint probe of the present embodiment, the zero point error related value recording device rotates the sample 200 once by the spindle 210 for the first measurement value and the second measurement value. It was made to include the average value of the values obtained at the time. As a result, in the present embodiment, since the first measurement value and the second measurement value obtained by measuring the same sample 200 are average values, the shape value of the measurement surface 202 is not changed. This is because the measurement surface 202 is an average value of the measurement values obtained when the measurement start position (that is, the measurement start point) in the circumferential direction is shifted from the measurement start point by one round. It is used that the shape value of is invariant. As a result, there is no influence of the shape value when calculating the fluctuation amount of the zero point error.

(3) 本実施形態の零点誤差の変動検出方法では、センサキャリッジ230(多点プローブ支持手段)が支持する複数の変位センサA,B,Cがセンサキャリッジ230の移動方向に離れて設置されている。この結果、センサユニット220(多点プローブ)が3つの変位センサにおける零点誤差の変動量を容易に求めることができ、既知のドリフトが生ずる前の零点誤差に対する変動量が求まるため、容易に複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差を算出できるとともに零点誤差の補償を容易に行うことができる。   (3) In the zero point error variation detection method of the present embodiment, a plurality of displacement sensors A, B, and C supported by the sensor carriage 230 (multi-point probe support means) are installed apart in the movement direction of the sensor carriage 230. Yes. As a result, the sensor unit 220 (multi-point probe) can easily obtain the amount of variation of the zero point error in the three displacement sensors, and the amount of variation with respect to the zero point error before the known drift occurs can be easily obtained. The zero point error after the sensor drift has occurred can be calculated and the zero point error can be easily compensated.

(第2実施形態)
次に、多点プローブの零点誤差の変動検出方法を実現できる第2実施形態の零点誤差関連値記録装置を図3〜7を参照して説明する。なお、第1実施形態と同一又は相当する構成については同一符号を付す。第2実施形態は多点プローブであるセンサユニット220に2つの角度センサP,Qを備えていることが第1実施形態と異なっている。
(Second Embodiment)
Next, a zero point error related value recording apparatus according to a second embodiment capable of realizing a zero point error variation detection method of a multipoint probe will be described with reference to FIGS. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the structure which is the same as that of 1st Embodiment, or corresponds. The second embodiment differs from the first embodiment in that the sensor unit 220, which is a multipoint probe, includes two angle sensors P and Q.

図4に示すように、試料200は、スピンドル210上に搭載されて、回転中心(すなわち、z軸)の周りで回転自在となっている。センサユニット220は、センサキャリッジ230によりx方向に移動可能にされ、試料200がスピンドル210により回転しているときに、試料200の測定面202を走査する。 センサユニット220中には2つの2次元角度センサ(以下、角度センサという)P,Qが、x方向に沿うように、すなわち、センサキャリッジ230の移動方向に沿うように間隔dを介して設置されている。このセンサユニット220の構成等については、後で詳しく説明する。なお、図3においては円形の試料200を例としているが、試料200の形状は、円形に限定されるものではなく、他の形状であってもよい。   As shown in FIG. 4, the sample 200 is mounted on the spindle 210 and is rotatable around the rotation center (that is, the z axis). The sensor unit 220 is moved in the x direction by the sensor carriage 230 and scans the measurement surface 202 of the sample 200 when the sample 200 is rotated by the spindle 210. In the sensor unit 220, two two-dimensional angle sensors (hereinafter referred to as angle sensors) P and Q are installed with a gap d along the x direction, that is, along the moving direction of the sensor carriage 230. ing. The configuration of the sensor unit 220 will be described in detail later. In FIG. 3, the circular sample 200 is taken as an example, but the shape of the sample 200 is not limited to a circular shape, and may be another shape.

零点誤差関連値記録装置においては、各角度センサP,Qからの出力は図示しないA/D変換等でデジタル値に変換され、パソコン等のコンピュータシステム300に入力される。   In the zero error related value recording apparatus, the outputs from the angle sensors P and Q are converted into digital values by A / D conversion or the like (not shown) and input to a computer system 300 such as a personal computer.

角度センサP,Qは同一構成のため、角度センサQについて説明する。角度センサQは、レーザ光源231と、ビームスプリッタ232と、PSD(2次元半導体位置検出素子)233とを有する。PSD233の出力は、コンピュータシステム300のCPU310に出力され処理される。角度センサQにおいて、レーザ光源231から射出されたレーザ光束は、ビームスプリッタ232で反射され、対物レンズ234を介して試料200のサンプリング点に向かう。サンプリング点で反射したレーザ光は、対物レンズ234、ビームスプリッタ232を通過して、PSD233に至る。   Since the angle sensors P and Q have the same configuration, the angle sensor Q will be described. The angle sensor Q includes a laser light source 231, a beam splitter 232, and a PSD (two-dimensional semiconductor position detection element) 233. The output of the PSD 233 is output to the CPU 310 of the computer system 300 for processing. In the angle sensor Q, the laser beam emitted from the laser light source 231 is reflected by the beam splitter 232 and travels toward the sampling point of the sample 200 via the objective lens 234. The laser light reflected at the sampling point passes through the objective lens 234 and the beam splitter 232 and reaches the PSD 233.

ここで、サンプリング点が入射レーザ光に直交している場合には、その反射光は、PSD233の中心に入射する。ところが、サンプリング点に傾斜があると、サンプリング点で反射したレーザ光は、PSD233の中心からずれた位置に入射するので、その差に応じた電気信号を測定値としてCPU310に出力することにより、サンプリング点における傾斜角度、すなわち局所2次元傾斜角度の測定ができる。   Here, when the sampling point is orthogonal to the incident laser light, the reflected light is incident on the center of the PSD 233. However, if the sampling point is inclined, the laser light reflected at the sampling point is incident on a position shifted from the center of the PSD 233, so that an electrical signal corresponding to the difference is output as a measurement value to the CPU 310, thereby sampling. The tilt angle at the point, that is, the local two-dimensional tilt angle can be measured.

さらに、2次元角度センサの測定原理の詳細について説明する。図6には、2次元角度センサの原理図が図示されている。
2次元角度センサは基本的に試料200や図示しないワークの面の2次元傾斜を検出するためのものである。入射ビームを細くすることにより、表面の2次元局部スロープの検出に用いることができる。2次元傾斜を検出するには、図6に示す光てこと呼ばれる方法が一番簡便な方法として知られている。
Further, details of the measurement principle of the two-dimensional angle sensor will be described. FIG. 6 shows a principle diagram of a two-dimensional angle sensor.
The two-dimensional angle sensor is basically for detecting a two-dimensional inclination of the surface of the sample 200 or a workpiece (not shown). By narrowing the incident beam, it can be used to detect a two-dimensional local slope of the surface. In order to detect a two-dimensional inclination, a method called a light lever shown in FIG. 6 is known as the simplest method.

図6において、Z軸方向に沿ってレーザービーム250を試料200の面に入射する。試料200の面が傾斜している場合には、PSD233上の反射光線の光点の位置が傾斜角に応じて変化する。光点の座標変化量Δx,Δyを検出することにより、次式よりx,y軸回りの傾斜角変化Δα,Δβを求めることができる。   In FIG. 6, a laser beam 250 is incident on the surface of the sample 200 along the Z-axis direction. When the surface of the sample 200 is inclined, the position of the light spot of the reflected light beam on the PSD 233 changes according to the inclination angle. By detecting the coordinate change amounts Δx and Δy of the light spot, the inclination angle changes Δα and Δβ around the x and y axes can be obtained from the following equations.

Figure 2009041983
なお、Lは試料200の面からPSD233までの距離である。
Figure 2009041983
Note that L is the distance from the surface of the sample 200 to the PSD 233.

この方法は、試料200の面からPSD233までの距離Lが変化した場合に測定結果に誤差が生ずる問題がある。
このため、図7に示すように試料200とPSD233の間にコリメートレンズ(すなわち、対物レンズ234)を入れ、オートコリメーションの原理によって角度検出を行う。図7に示すように、対物レンズ234を試料200とPSD233の間に置くと、試料面傾斜とPSD233上の光点座標との関係は対物レンズ234の焦点距離Fのみに依存することになり、傾斜検出精度は向上できる。この場合の傾斜角は次式のように表される。
This method has a problem that an error occurs in the measurement result when the distance L from the surface of the sample 200 to the PSD 233 changes.
Therefore, as shown in FIG. 7, a collimating lens (that is, the objective lens 234) is inserted between the sample 200 and the PSD 233, and angle detection is performed by the principle of autocollimation. As shown in FIG. 7, when the objective lens 234 is placed between the sample 200 and the PSD 233, the relationship between the sample surface inclination and the light spot coordinates on the PSD 233 depends only on the focal length F of the objective lens 234. The inclination detection accuracy can be improved. The inclination angle in this case is expressed as the following equation.

Figure 2009041983
本実施形態の零点誤差関連値記録装置に使用する2次元角度センサでは、このオートコリメーション方式が採用されている。
Figure 2009041983
The autocollimation method is employed in the two-dimensional angle sensor used in the zero error related value recording apparatus of the present embodiment.

ここで、前記角度センサP,Qを使用してワークの表面の高さ形状の測定の仕方を以下に説明する。なお、ここでの説明は、説明の便宜上、試料200をワークとして扱う。
図4に示すように試料200は、スピンドル210上に搭載されて回転可能にされている。センサユニット220は、図5に示すようにセンサキャリッジ230によりx方向に移動可能であり、試料200がスピンドル210により回転しているときに、試料200の表面を走査する。センサユニット220中には2つの角度センサP,Qという)がx方向に沿うように間隔dを介して設置されている。
Here, how to measure the height shape of the surface of the workpiece using the angle sensors P and Q will be described below. In the description here, the sample 200 is treated as a work for convenience of explanation.
As shown in FIG. 4, the sample 200 is mounted on a spindle 210 and is rotatable. The sensor unit 220 can be moved in the x direction by the sensor carriage 230 as shown in FIG. 5, and scans the surface of the sample 200 when the sample 200 is rotated by the spindle 210. In the sensor unit 220, two angle sensors P and Q) are disposed with a distance d along the x direction.

表面形状を測定する場合、各角度センサP,Qからの出力はコンピュータ・システムに入力されて、以下に説明する演算が行われる。
図5は、センサユニット220で測定する試料面のデータのサンプリング点を示す図である。図5に示すように、x方向の走査は、試料200の回転中心から始まっており、各サンプリング点(すなわち、サンプリング位置)はx(i=1,2,…,M)とする。2つの角度センサP,Qの間隔dとサンプリング間隔sは径方向において同じとする。サンプリング点xにおいて、試料200上の二つの同心円がセンサユニット220内の2つの角度センサP,Qによって走査される。円周上のサンプリング位置をθ(j=1,2,…,N)とする。センサユニット220のx方向出力(y軸回りの局部スロープに対応)μPy(x,θ),μQy(x,θ)はそれぞれ次のように表される。なお、サンプリング位置(x,θ)は、図示しないリニアエンコーダやロータリエンコーダ等の位置センサで検出可能である。
When measuring the surface shape, the outputs from the angle sensors P and Q are input to the computer system, and the calculation described below is performed.
FIG. 5 is a diagram showing sampling points of sample surface data measured by the sensor unit 220. As shown in FIG. 5, scanning in the x direction starts from the rotation center of the sample 200, and each sampling point (ie, sampling position) is x i (i = 1, 2,..., M). The interval d between the two angle sensors P and Q and the sampling interval s are the same in the radial direction. In the sampling point x i, two concentric circles on the sample 200 has two angle sensors P in the sensor unit 220 is scanned by Q. The sampling position on the circumference is θ j (j = 1, 2,..., N). Outputs in the x direction of sensor unit 220 (corresponding to local slopes around the y axis) μ Py (x i , θ j ) and μ Qy (x i , θ j ) are expressed as follows. The sampling position (x i , θ j ) can be detected by a position sensor such as a linear encoder or a rotary encoder (not shown).

Figure 2009041983
なお、i=1,2,…,M−1,j=1,2,…,Nである。又、ecX(x)は、センサキャリッジ230のロール誤差、eSX(x,θ)はスピンドル210のx軸回りのアンギュラ誤差であり、ともに運動誤差である。αとαは角度センサP,Qのオフセットであり、真平らな平面を測定したときに角度センサP,Qに現れる出力である。f'y(x,θ)は試料表面のy軸局部スロープであり、次のように定義される。
Figure 2009041983
Note that i = 1, 2,..., M−1, j = 1, 2,. Further, e cX (x i ) is a roll error of the sensor carriage 230, and e SX (x i , θ j ) is an angular error around the x axis of the spindle 210, both of which are motion errors. α P and α Q are offsets of the angle sensors P and Q, and are outputs that appear in the angle sensors P and Q when a completely flat plane is measured. f′y (x, θ) is the y-axis local slope of the sample surface and is defined as follows.

Figure 2009041983
そして、センサキャリッジ230及びスピンドル210の運動誤差を取り除いた差動出力Δμy(x,θ)は式(22)から式(21)を引くことにより次のようになる。
Figure 2009041983
Then, the differential output Δμy (x i , θ j ) obtained by removing the motion error of the sensor carriage 230 and the spindle 210 is as follows by subtracting the equation (21) from the equation (22).

Figure 2009041983
ここで、i=2,3,…,M−1,j=1,2,…,Nである。
Figure 2009041983
Here, i = 2, 3,..., M−1, j = 1, 2,.

そして、固定したθj(j=1,2,…,N)において、f'(x,θ)はΔμ(x,θ)の積分から次のように求められる。 Then, for a fixed θj (j = 1, 2,..., N), f ′ y (x i , θ j ) is obtained from the integration of Δμ y (x i , θ j ) as follows.

Figure 2009041983
ただし、i=2,3,…,M−1,j=1である。
Figure 2009041983
However, i = 2, 3,..., M−1, j = 1.

固定したx(i=2,3,…,M)において、試料200のi番目の同心円上の高さ形状f(x,θ)は、f'(x,θ)の積分から求めることができる。なお、f'(x,θ)の積分の求め方は公知であるので、ここでは説明を省略する。 In the fixed x i (i = 2, 3,..., M), the height shape f (x i , θ j ) on the i-th concentric circle of the sample 200 is f ′ y (x i , θ j ). It can be obtained from integration. Since the method for obtaining the integral of f ′ y (x i , θ j ) is known, the description thereof is omitted here.

(第2実施形態の作用)
さて、第2実施形態の作用を説明する。
(1回目の測定及び記録)
まず、センサユニット220の角度センサP,Qがサンプリング点x,xi+1にそれぞれ位置するときにおいて、スピンドル210により試料200を回転中心(すなわち、z軸)の周りで1回転させる。この1回転中において、露点記録装置は所定回転角度経過する毎に、角度センサP,Qの測定値を入力し、記憶手段としての記憶装置340に格納する。なお、所定回転角度は、例えば1度であってよく、0.5度でもよく、限定されるものではない。
(Operation of Second Embodiment)
Now, the operation of the second embodiment will be described.
(First measurement and recording)
First, when the angle sensors P and Q of the sensor unit 220 are positioned at the sampling points x i and x i + 1 , the sample 200 is rotated once around the rotation center (that is, the z axis) by the spindle 210. During this one rotation, the dew point recording device inputs the measured values of the angle sensors P and Q each time a predetermined rotation angle elapses, and stores them in the storage device 340 as storage means. The predetermined rotation angle may be, for example, 1 degree or 0.5 degree, and is not limited.

これらの角度や、サンプリング位置は、第1実施例と同様に、図示しないリニア・エンコーダやロータリエンコーダ等の位置センサで検出可能である。
1回転された後、コンピュータシステム300のCPU310は、1回転している際に入力された角度センサP、Qから得られた各測定値の平均値を算出する。
These angles and sampling positions can be detected by a position sensor such as a linear encoder or a rotary encoder (not shown) as in the first embodiment.
After one rotation, the CPU 310 of the computer system 300 calculates an average value of each measurement value obtained from the angle sensors P and Q input during one rotation.

すなわち、所定回転角度が1度であれば、角度センサPの各データを合計して360で割ることにより、角度センサPで得られた表面形状の平均値が得られる。角度センサQについても同様に角度センサQで得られた表面形状に関する測定値の平均値が得られる。このときの測定値は第2測定値としてCPU310は記憶装置340に記憶する。   That is, if the predetermined rotation angle is 1 degree, the average value of the surface shape obtained by the angle sensor P is obtained by adding the data of the angle sensor P and dividing by 360. Similarly, for the angle sensor Q, an average value of measured values related to the surface shape obtained by the angle sensor Q is obtained. The measured value at this time is stored in the storage device 340 as the second measured value.

この平均値の算出によって、式(21)、式(22)については、下記のように変形することができる。   By calculating this average value, Equation (21) and Equation (22) can be modified as follows.

Figure 2009041983
なお、式(26)、式(27)は、下記のように、式(21)、式(22)中で記載されたものを平均化することにより得られたものである。「数18」で示されている各式の右辺は平均化された値である。
Figure 2009041983
In addition, Formula (26) and Formula (27) are obtained by averaging what was described in Formula (21) and Formula (22) as follows. The right side of each equation shown in “Equation 18” is an averaged value.

Figure 2009041983
そして、CPU310は式(27)−式(26)の算出を行うことにより、零点誤差αの算出ができる。
Figure 2009041983
Then, the CPU 310 can calculate the zero point error α by calculating Expression (27) -Expression (26).

Figure 2009041983
そして、このようにして得られた零点誤差αは、他のワークの表面形状を測定して算出する際、零点誤差補償に使用される。又、このときの零点誤差αはCPU310により記憶装置340に記憶される。
Figure 2009041983
The zero error α thus obtained is used for zero error compensation when measuring and calculating the surface shape of another workpiece. Further, the zero point error α at this time is stored in the storage device 340 by the CPU 310.

(2回目の測定及び記録)
1回目の測定後においては、温度ドリフト等によって角度センサP,Qの零点誤差が変動する。そこで、1回目の測定及び記録がされた後、新たにワークの表面形状を測定する場合、2回目の測定においては、コンピュータシステム300のCPU310は、試料200が1回転中に入力された角度センサP,Qから得られた各測定値の平均値等を「1回目の測定及び記録」と同様に算出する。そして、CPU310はその算出結果等を記憶装置340に記憶する。この2回目の測定値は第1測定値に相当する。
(Second measurement and recording)
After the first measurement, the zero point error of the angle sensors P and Q varies due to temperature drift or the like. Therefore, when the surface shape of the workpiece is newly measured after the first measurement and recording, in the second measurement, the CPU 310 of the computer system 300 uses the angle sensor input during one rotation of the sample 200. The average value of each measurement value obtained from P and Q is calculated in the same manner as “first measurement and recording”. Then, the CPU 310 stores the calculation result and the like in the storage device 340. This second measurement value corresponds to the first measurement value.

又、CPU310は、「1回目の測定及び記録」の欄で説明した内容と同様に零点誤差α1を算出する。そして、α1−αを算出することにより、零点誤差の変動量を得る。
以上のようにして、温度ドリフト等によって角度センサP,Qの零点誤差の変動があった場合、上記の零点誤差関連値記録装置によって、零点誤差の変動量が求められ、精度の高い零点補償を行うことができる。
Further, the CPU 310 calculates the zero point error α1 in the same manner as described in the “First measurement and recording” column. Then, α1−α is calculated to obtain the fluctuation amount of the zero point error.
As described above, when the zero point error of the angle sensors P and Q is fluctuated due to temperature drift or the like, the zero point error-related value recording device obtains the fluctuation amount of the zero point error, and performs high-precision zero point compensation. It can be carried out.

第2実施形態においても、例えば、NC加工装置に隣接して零点誤差関連値記録装置を設けておいて、NC加工装置の加工ワークの形状測定ができる領域と、スピンドル210上の試料200の測定面202の形状測定ができる領域をセンサキャリッジ230によって、センサユニット220を移動できるようにするしておくことが好ましい。   Also in the second embodiment, for example, a zero point error-related value recording device is provided adjacent to the NC processing device, and the shape measurement of the workpiece of the NC processing device and the measurement of the sample 200 on the spindle 210 are performed. It is preferable that the sensor unit 220 can be moved by the sensor carriage 230 in an area where the shape of the surface 202 can be measured.

第2実施形態では、第1実施形態の作用効果(1)〜(3)と同様の作用効果を奏する他、下記の特徴を有する。
(1) 本実施形態の多点プローブの零点誤差の変動検出方法では、零点誤差関連値記録装置は、センサキャリッジ230(多点プローブ支持手段)が支持する複数の角度センサP,Qがセンサキャリッジ230の移動方向に離れて設置されている。この結果、センサユニット220(多点プローブ)が2つの角度センサP,Qにおける零点誤差の変動量を容易に求めることができ、この変動量に基づいて、容易に複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる。
The second embodiment has the following characteristics in addition to the same functions and effects as the functions and effects (1) to (3) of the first embodiment.
(1) In the multipoint probe zero point error variation detection method of the present embodiment, the zero point error related value recording apparatus includes a plurality of angle sensors P and Q supported by the sensor carriage 230 (multipoint probe support means). 230 is set apart in the moving direction. As a result, the sensor unit 220 (multi-point probe) can easily determine the amount of fluctuation of the zero point error in the two angle sensors P and Q, and a plurality of sensors easily drift based on the amount of fluctuation. The subsequent zero error can be easily compensated.

なお、本発明の実施形態は前記各実施形態に限定されるものではなく、下記のように変更してもよい。
○ 第1実施形態では、試料200を1回転したときの、各変位センサA,B,Cの出力の平均値を算出したが、2回転、或いは3回転以上を回転させてその各変位センサの出力の平均値を算出するようにしてもよい。なお、本明細書において、1回転以上とは整数回転させることを意味している。
In addition, embodiment of this invention is not limited to said each embodiment, You may change as follows.
In the first embodiment, the average value of the outputs of the displacement sensors A, B, and C when the sample 200 is rotated once is calculated. An average output value may be calculated. In the present specification, “one or more rotations” means integer rotation.

○ 第1実施形態では、x方向(すなわち、径方向)の位置において変位センサA,B,Cを特定の位置に固定した状態で試料200の1回転の回転をインターバルをおいて、2回行い、各回の変位センサA,B,Cの出力に基づいて、各変位センサの測定値の平均値を算出した。そして、各回における各変位センサA〜Cの平均値に基づいて、測定時の運動誤差を消去して、各回における運動誤差解消値を演算し、両運動誤差解消値の差分を演算して、前記インターバル間の零点誤差の変動量を得るようにした。   In the first embodiment, one rotation of the sample 200 is performed twice at intervals with the displacement sensors A, B, and C fixed at specific positions at positions in the x direction (ie, radial direction). Based on the outputs of the displacement sensors A, B, and C each time, the average value of the measured values of each displacement sensor was calculated. Then, based on the average value of each displacement sensor A to C at each time, the motion error at the time of measurement is erased, the motion error cancellation value at each time is calculated, the difference between both motion error cancellation values is calculated, The variation of the zero error between intervals was obtained.

変位センサA,B,Cを特定の位置に固定する代わりに、センサキャリッジ230を径方向において複数の位置に移動させて、それぞれの位置で、試料200をスピンドル210にて1回転、或いは2回転以上させた際に得られた変位センサA,B,Cの各出力に基づき各変位センサのA,B,Cの測定値の平均値を演算するようにしてもよい。この場合、各測定値は、記憶装置340に記憶されるものとする。   Instead of fixing the displacement sensors A, B, and C at specific positions, the sensor carriage 230 is moved to a plurality of positions in the radial direction, and the sample 200 is rotated once or twice by the spindle 210 at each position. You may make it calculate the average value of the measured value of A, B, C of each displacement sensor based on each output of the displacement sensors A, B, C obtained at the time of making it above. In this case, each measurement value is stored in the storage device 340.

このようにすると、各変位センサA〜Cの総ての測定位置における測定値が得られて、その平均値が算出されるため、偶然誤差が少なくなり、精度の高い零点誤差の変動量を算出でき、その結果、精度の高い零点誤差の補償を行うことができる。   In this way, the measurement values at all measurement positions of the displacement sensors A to C are obtained, and the average value is calculated. Therefore, the error is reduced by chance, and the fluctuation amount of the zero error with high accuracy is calculated. As a result, the zero-point error can be compensated with high accuracy.

○ 第2実施形態では、x方向(すなわち、径方向)の位置において角度センサP,Qを特定のサンプリング点xi,xi+1に固定した状態で試料200を1回転させ、角度センサP,Qの測定値を得て、零点誤差を算出するようにした。   In the second embodiment, the sample 200 is rotated once in a state where the angle sensors P and Q are fixed at specific sampling points xi and xi + 1 at the position in the x direction (that is, in the radial direction), and the angle sensors P and Q are measured. The value was obtained and the zero error was calculated.

この代わりに、センサキャリッジ230を径方向(すなわち、x方向)において複数の位置に移動させて、それぞれの位置において、試料200をスピンドル210にて1回転させた際に得られた角度センサP,Qの各出力の平均値を演算するようにしてもよい。この演算は、前記第2実施形態と同様に行われる。   Instead, the angle sensor P, obtained when the sensor carriage 230 is moved to a plurality of positions in the radial direction (that is, the x direction) and the sample 200 is rotated once by the spindle 210 at each position. You may make it calculate the average value of each output of Q. This calculation is performed in the same manner as in the second embodiment.

そして、それぞれの位置における角度センサP,Qの各出力の平均値をそれぞれ各出力毎に全部加算した後、その加算値を、加算した個数で割って各角度センサP,Qの出力の総平均値を演算し、両者の総平均値の差を零点誤差として得るようにしてもよい。   Then, after all the average values of the outputs of the angle sensors P and Q at the respective positions are added for each output, the total value of the outputs of the angle sensors P and Q is divided by the added number. A value may be calculated, and a difference between the total average values of the two may be obtained as a zero point error.

この場合、センサユニット220を角度センサP,Qの間隔dとサンプリング間隔sを径方向(すなわち、x方向)において同じにして移動させることが好ましいが、限定されるものではない。   In this case, it is preferable to move the sensor unit 220 while making the interval d between the angle sensors P and Q and the sampling interval s the same in the radial direction (that is, the x direction), but it is not limited.

このようにすると、それぞれの位置における各出力の平均値に基づいて各出力の総平均値を演算し、両者の総平均値の差を零点誤差として得るため、偶然誤差を少なくすることができる。そして、精度が高い零点誤差を得ることができることから、算出される零点誤差の変動量も高い精度となり、その結果、高精度の零点誤差の補償を行うことができる。   In this way, since the total average value of each output is calculated based on the average value of each output at each position and the difference between the total average values is obtained as a zero point error, the chance error can be reduced. Since the zero error with high accuracy can be obtained, the calculated fluctuation amount of the zero error also has high accuracy. As a result, the zero error can be compensated with high accuracy.

○ 又、第1実施形態及び第2実施形態では説明はしていないが、スピンドルを回転自在に支持する軸受を静圧軸受とすれば、試料200の形状に含まれる偶然誤差を小さくしてもよい。このようにすれば、零点誤差の変動量の算出も高精度のものとなり、補償精度も高めることができる。   Although not described in the first and second embodiments, if the bearing that rotatably supports the spindle is a hydrostatic bearing, the accidental error included in the shape of the sample 200 can be reduced. Good. In this way, the calculation of the variation amount of the zero error becomes highly accurate, and the compensation accuracy can be improved.

○ さらに、試料200の円周上の形状を測定する際に、スピンドルを最初駆動した後、惰性で回転させるようにすれば、偶然誤差をさらに減少させることができる。
○ 第2実施形態においては、2次元角度センサを使用したが、2次元である必要はない。2つのセンサを結ぶ線を図4のX軸としたとき、Y軸周りの角度を測定できるものであればよい。又、角度センサの方式、構造も第2実施形態で説明した2次元角度センサに限定されるものではなく、他の構造に変更してもよい。
In addition, when measuring the shape of the sample 200 on the circumference, if the spindle is first driven and then rotated by inertia, the chance error can be further reduced.
In the second embodiment, a two-dimensional angle sensor is used, but it is not necessary to be two-dimensional. Any line can be used as long as it can measure the angle around the Y axis when the line connecting the two sensors is the X axis in FIG. Further, the method and structure of the angle sensor are not limited to the two-dimensional angle sensor described in the second embodiment, and may be changed to other structures.

上記実施形態から把握できる請求項以外の技術的思想を下記に挙げる。
(1) 前記測定対象物を少なくとも1課回転以上回転させる際に、前記回転手段を静圧軸受で回転自在に支持した状態で行うことを特徴とする請求項1乃至請求項4のうちいずれか1項に記載の多点プローブの零点誤差の変動検出方法。こうすると、零点誤差の変動量の算出も高精度のものとなり、補償精度も高めることができる。
The technical ideas other than the claims that can be grasped from the above embodiment are listed below.
(1) When rotating the measurement object at least one section or more, it is performed in a state where the rotating means is rotatably supported by a hydrostatic bearing. 2. A method for detecting a variation in zero point error of a multipoint probe according to item 1. In this way, the calculation of the variation amount of the zero point error becomes highly accurate, and the compensation accuracy can be improved.

本発明を具体化した第1実施形態の零点誤差関連値記録装置の概略図。1 is a schematic diagram of a zero error related value recording apparatus according to a first embodiment embodying the present invention. 試料、スピンドル、センサユニットの配置関係を示す説明図。Explanatory drawing which shows the arrangement | positioning relationship of a sample, a spindle, and a sensor unit. 本発明を具体化した第2実施形態の零点誤差関連値記録装置における零点誤差演算装置の概略図。The schematic diagram of the zero point error arithmetic unit in the zero point error related value recording device of a 2nd embodiment which materialized the present invention. 試料、スピンドル、センサユニットの配置関係を示す説明図。Explanatory drawing which shows the arrangement | positioning relationship of a sample, a spindle, and a sensor unit. センサユニットの走査におけるサンプリング位置を示す説明図。Explanatory drawing which shows the sampling position in the scanning of a sensor unit. 角度センサの原理を示す説明図。Explanatory drawing which shows the principle of an angle sensor. 角度センサの原理の改良を示す説明図。Explanatory drawing which shows the improvement of the principle of an angle sensor.

符号の説明Explanation of symbols

200…試料(測定対象物)、210…スピンドル(回転手段)、
220…センサユニット(多点プローブ)、
230…センサキャリッジ(多点プローブ支持手段)、
300…コンピュータシステム、310…CPU(読取り手段、算出手段)、
340…記憶装置(記憶手段)、A,B,C…変位センサ、
P,Q…角度センサ。
200 ... sample (object to be measured), 210 ... spindle (rotating means),
220 ... sensor unit (multi-point probe),
230 ... sensor carriage (multi-point probe support means),
300 ... Computer system, 310 ... CPU (reading means, calculating means),
340 ... Storage device (storage means), A, B, C ... Displacement sensor,
P, Q ... An angle sensor.

Claims (4)

複数のセンサを含む真直形状測定用の多点プローブを、回転手段にて回転されている状態の測定対象物の測定面に相対するように多点プローブ支持手段にて配置して、
少なくとも前記測定対象物が1回転する間において、前記測定対象物が所定回転角度回転する毎に前記複数のセンサから出力される、前記測定対象物の測定面における同心円に沿う形状値及びプローブの零点誤差に基づく誤差を含む測定値を読取り手段に読取りさせて記憶手段に記憶させ、
前記記憶手段が記憶した、同一の前記測定対象物に関する新しい測定値(以下、第1測定値という)と、第1測定値の取得時期よりも取得時期が古い測定値(以下、第2測定値という)とに基づいて、零点誤差の変動量を算出することを特徴とする多点プローブの零点誤差の変動検出方法。
A multi-point probe for measuring a straight shape including a plurality of sensors is arranged at the multi-point probe support means so as to be opposed to the measurement surface of the measurement object being rotated by the rotation means,
The shape value along the concentric circle on the measurement surface of the measurement object and the zero point of the probe output from the plurality of sensors each time the measurement object rotates a predetermined rotation angle during at least one rotation of the measurement object A measurement value including an error based on the error is read by the reading means and stored in the storage means;
A new measurement value (hereinafter referred to as the first measurement value) related to the same measurement object stored in the storage means and a measurement value (hereinafter referred to as the second measurement value) whose acquisition time is older than the acquisition time of the first measurement value. And a zero-point error fluctuation detection method for a multi-point probe.
前記多点プローブ支持手段が、前記回転手段の径方向に移動可能に設けられ、
前記測定値には、前記多点プローブ支持手段を前記径方向において複数の位置に移動させて、それぞれの位置において、前記測定対象物を前記回転手段にて少なくとも1回転以上回転させた際に得られた値の平均値を含むことを特徴とする請求項1に記載の多点プローブの零点誤差の変動検出方法。
The multipoint probe support means is provided to be movable in a radial direction of the rotation means;
The measurement value is obtained when the multipoint probe support means is moved to a plurality of positions in the radial direction and the measurement object is rotated at least one rotation or more by the rotation means at each position. 2. The method for detecting a variation in zero point error of a multipoint probe according to claim 1, wherein an average value of the obtained values is included.
前記多点プローブ支持手段が支持する複数のセンサが前記多点プローブ支持手段の移動方向に離れて設置した3つの変位センサであることを特徴とする請求項2に記載の多点プローブの零点誤差の変動検出方法。   3. The zero point error of the multipoint probe according to claim 2, wherein the plurality of sensors supported by the multipoint probe support means are three displacement sensors installed apart in the moving direction of the multipoint probe support means. Fluctuation detection method. 前記多点プローブ支持手段が支持する複数のセンサが前記多点プローブ支持手段の移動方向に離れて設置した2つの2次元角度センサであることを特徴とする請求項2に記載の多点プローブの零点誤差の変動検出方法。   3. The multipoint probe according to claim 2, wherein the plurality of sensors supported by the multipoint probe support means are two two-dimensional angle sensors installed apart in the moving direction of the multipoint probe support means. Zero error variation detection method.
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