JP2009039674A - Method and apparatus for forming film - Google Patents

Method and apparatus for forming film Download PDF

Info

Publication number
JP2009039674A
JP2009039674A JP2007208979A JP2007208979A JP2009039674A JP 2009039674 A JP2009039674 A JP 2009039674A JP 2007208979 A JP2007208979 A JP 2007208979A JP 2007208979 A JP2007208979 A JP 2007208979A JP 2009039674 A JP2009039674 A JP 2009039674A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
liquid
liquid film
drying
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2007208979A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirotsuna Miura
弘綱 三浦
佳和 ▲濱▼
Yoshikazu Hama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2007208979A priority Critical patent/JP2009039674A/en
Publication of JP2009039674A publication Critical patent/JP2009039674A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for forming a film, with which thickness uniformity of the film to be formed by drying a liquid film is improved. <P>SOLUTION: An apparatus for discharging a liquid droplet is characterized in that the liquid droplets are landed on target points continuous along the +X direction substantially at the same timing to form the partially-liquid film on each of target points and appearance frequency of a heater block HB of an off state is decentralized in both ends of the partially-liquid droplet in the +X direction, namely, in a low temperature area RL by using a dithering method or an error diffusion method when the partially-liquid film is dried by driving the heater block HB. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、成膜方法、及び成膜装置に関する。   The present invention relates to a film forming method and a film forming apparatus.

低温焼成セラミックス(LTCC:Low Temperature Co-fired Ceramics )からなる多
層基板は、優れた高周波特性と高い耐熱性を有するため、高周波モジュールの基板やIC
パッケージの基板等に広く利用される。LTCC多層基板に用いられる配線等の膜パター
ンの製造方法としては、生産性の向上と低コスト化とを図るために、インクジェット法が
注目されている。インクジェット法は、配線材料を含む液状体を液滴にして吐出する液滴
吐出ヘッドを用い、液滴吐出ヘッドと基板とを主走査方向に相対移動させながら液滴吐出
ヘッドに液滴を吐出させる。配線材料を含む複数の液滴は、基板の主走査方向に沿って順
に合一することにより、主走査方向に連続するライン状の液膜を形成する。インクジェッ
ト法は、このライン状の液膜を乾燥することによりパターンを形成する。
Multi-layer substrates made of Low Temperature Co-fired Ceramics (LTCC) have excellent high-frequency characteristics and high heat resistance, so high-frequency module substrates and ICs
Widely used for package substrates. As a method for manufacturing a film pattern such as a wiring used for an LTCC multilayer substrate, an inkjet method has attracted attention in order to improve productivity and reduce costs. The inkjet method uses a droplet discharge head that discharges a liquid containing a wiring material as droplets, and causes the droplet discharge head to discharge droplets while relatively moving the droplet discharge head and the substrate in the main scanning direction. . The plurality of droplets including the wiring material are sequentially united along the main scanning direction of the substrate to form a line-shaped liquid film continuous in the main scanning direction. In the ink jet method, a pattern is formed by drying the line-shaped liquid film.

特許文献1は、ライン状の液膜の表面に温度勾配を与え、主走査方向を挟んで両側にそ
れぞれ高温側の表面と低温側の表面を設ける。温度勾配を有する液膜は、自身の表面に表
面張力の分布を形成し、内部にマランゴニ対流を発生させる。液膜の高温側の端部から流
出する熱毛管流は、液膜に与えられる温度勾配によって、低温側の端部に届く前に基板に
向けて下降する。この結果、低温側の端部には、マランゴニ対流の流路に含まれない配線
材料が析出し、この析出する配線材料によって液膜の濡れ広がりがピン止めされる。一方
、高温側の端部には、配線材料が対流によって運搬され続けるため、配線材料が析出し難
くなる。そのため、液膜の乾燥が進むに連れて、液膜の高温側が低温側の端部に向けて収
縮し、液膜の低温側の端部にのみ配線材料が析出する。この結果、液膜は、自身の幅より
も狭い線幅の配線パターンを形成する。
In Patent Document 1, a temperature gradient is applied to the surface of the line-shaped liquid film, and a high temperature surface and a low temperature surface are provided on both sides of the main scanning direction, respectively. A liquid film having a temperature gradient forms a distribution of surface tension on its surface and generates Marangoni convection inside. The thermocapillary flow flowing out from the end portion on the high temperature side of the liquid film descends toward the substrate before reaching the end portion on the low temperature side due to the temperature gradient applied to the liquid film. As a result, the wiring material not included in the Marangoni convection channel is deposited at the low temperature side end, and the wet spreading of the liquid film is pinned by the deposited wiring material. On the other hand, since the wiring material continues to be conveyed by convection at the end portion on the high temperature side, the wiring material is difficult to deposit. Therefore, as the drying of the liquid film proceeds, the high temperature side of the liquid film contracts toward the end portion on the low temperature side, and the wiring material is deposited only on the end portion on the low temperature side of the liquid film. As a result, the liquid film forms a wiring pattern having a line width narrower than its own width.

上記インクジェット法は、液晶表示装置に利用される配向膜の成膜方法としても注目さ
れている(例えば、特許文献2)。図10(a)、(b)と図11(a)、(b)は、そ
れぞれ配向膜の成膜工程を模式的に示す平面図及び側面図である。配向膜の成膜工程にお
いては、基板Sの上に液滴Dを吐出して液膜F0を形成する液滴吐出処理と、液膜F0に
含まれる溶媒等を蒸発させて液膜F0を乾燥する乾燥処理とが行われる。
The inkjet method is also attracting attention as a method for forming an alignment film used in a liquid crystal display device (for example, Patent Document 2). FIGS. 10A and 10B and FIGS. 11A and 11B are a plan view and a side view, respectively, schematically showing the alignment film forming process. In the alignment film forming step, the droplet D is discharged onto the substrate S to form the liquid film F0, and the solvent contained in the liquid film F0 is evaporated to dry the liquid film F0. The drying process is performed.

図10に示すように、液滴吐出処理においては、基板Sの表面(以下単に、吐出面Sa
という。)に、上下方向に延びる複数の吐出領域Rが左右方向に連続して仮想分割される
。液滴吐出ヘッドHは、最も左側の吐出領域Rの上から順に矢印方向に沿って移動し、配
向膜材料を含む複数の液滴Dを各吐出領域Rの全体に吐出し、これにより複数の吐出領域
Rの各々に帯状の部分液膜Fを形成する。すなわち、液滴吐出ヘッドHは、マルチスキャ
ンにより液膜F0を形成する。あるいは、図11に示すように、左右方向に配列する複数
の液滴吐出ヘッドHが、それぞれ各吐出領域Rの全体にわたり液滴Dを吐出し、これによ
り複数の吐出領域Rの各々に部分液膜Fを形成する。すなわち、複数の液滴吐出ヘッドH
は、シングルスキャンにより液膜F0を形成する。複数の部分液膜Fの各々は、液滴吐出
処理の処理時間の経過に伴い、それぞれ隣接する他の部分液膜Fと合一して基板Sの全体
にわたる液膜F0を形成する。
特開2005−152758号公報 特開2006−15271号公報
As shown in FIG. 10, in the droplet discharge process, the surface of the substrate S (hereinafter simply referred to as discharge surface Sa).
That's it. ), A plurality of ejection regions R extending in the vertical direction are virtually divided continuously in the horizontal direction. The droplet discharge head H moves along the direction of the arrow in order from the top of the leftmost discharge region R, and discharges a plurality of droplets D including the alignment film material over the entire discharge region R. A strip-shaped partial liquid film F is formed in each of the discharge regions R. That is, the droplet discharge head H forms the liquid film F0 by multi-scan. Alternatively, as shown in FIG. 11, a plurality of droplet discharge heads H arranged in the left-right direction discharge droplets D over the entire discharge region R, and thereby a partial liquid is discharged into each of the plurality of discharge regions R. A film F is formed. That is, a plurality of droplet discharge heads H
Forms the liquid film F0 by a single scan. Each of the plurality of partial liquid films F is united with other adjacent partial liquid films F to form a liquid film F0 over the entire substrate S as the processing time of the droplet discharge process elapses.
JP 2005-152758 A JP 2006-15271 A

上記マルチスキャン方式を用いて膜を形成するとき、隣接する部分液膜Fの境界では、
液滴Dの着弾するタイミングが、液滴吐出ヘッドの1回の走査時間分だけ異なる。また、
上記シングルスキャン方式を用いる場合であっても、隣接する部分液膜Fの境界では、液
滴Dの着弾するタイミングが、各液滴吐出ヘッドHの間の距離における走査時間分だけ異
なる。
When forming a film using the multi-scan method, at the boundary between adjacent partial liquid films F,
The landing timing of the droplet D is different by one scanning time of the droplet discharge head. Also,
Even in the case of using the single scan method, the landing timing of the droplet D differs by the scanning time at the distance between the droplet discharge heads H at the boundary between the adjacent partial liquid films F.

部分液膜Fの縁部(例えば、左右方向の両端部分Fe)では、それぞれ単位容積当たり
の表面積が大きくなるため、蒸発成分の蒸発確率が高くなり、乾燥速度が中央部分Fcの
乾燥速度よりも速くなる。そのため、部分液膜Fの両端部分Feでは、液状体の増粘によ
って自身の内部に配向膜材料の流動が発生し、配向膜材料の濃度が局所的に高くなってし
まう。この結果、液膜F0を乾燥すると、乾燥処理後の液膜F0には、各両端部分Feに
膜厚段差(図10及び図11に示す濃淡)が形成されてしまう。
At the edge portion of the partial liquid film F (for example, both end portions Fe in the left-right direction), the surface area per unit volume increases, so the evaporation probability of the evaporation component increases, and the drying rate is higher than the drying rate of the central portion Fc. Get faster. Therefore, at both end portions Fe of the partial liquid film F, the flow of the alignment film material is generated inside due to the thickening of the liquid, and the concentration of the alignment film material is locally increased. As a result, when the liquid film F0 is dried, the liquid film F0 after the drying process is formed with a film thickness step (shading shown in FIGS. 10 and 11) at each end portion Fe.

本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、その目的は、液膜を乾燥さ
せて形成する膜の膜厚均一性を向上させる成膜方法及び成膜装置を提供することである。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a film forming method and a film forming apparatus for improving the film thickness uniformity of a film formed by drying a liquid film. is there.

本発明の成膜方法は、膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出し、前記対
象物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する成膜方法であって、
前記対象物上の点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記点列の列方向に沿って
液膜を形成する工程と、前記液膜を乾燥するための温度に関する温度データにランダムノ
イズを合成して補正データを生成し、前記補正データに基づく温度分布を前記液膜に形成
することにより前記液膜を乾燥する工程と、を有する。
In the film forming method of the present invention, a liquid material containing a film material is formed into a plurality of droplets, discharged onto an object, and the liquid material on the object is dried to form a film on the object. A method,
A step of forming a liquid film along the row direction of the point sequence by landing the droplets on each point of the point sequence on the object, and random temperature data regarding the temperature for drying the liquid film And a step of generating correction data by synthesizing noise and drying the liquid film by forming a temperature distribution based on the correction data on the liquid film.

本成膜方法によれば、液膜の温度は、ランダムノイズの合成によりランダムに分布する
。したがって、液膜の蒸発確率が列方向でランダムに分布するため、膜材料の偏りが列方
向でランダム化する。この結果、本成膜方法は、膜材料の偏りを列方向でランダム化する
分だけ、膜の全体から見て、膜厚の偏りを軽減させることができる。よって、本成膜方法
は、液膜を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を向上させることができる。
According to this film forming method, the temperature of the liquid film is randomly distributed by the synthesis of random noise. Therefore, since the evaporation probability of the liquid film is randomly distributed in the column direction, the bias of the film material is randomized in the column direction. As a result, this film forming method can reduce the unevenness of the film thickness as viewed from the whole film by the amount of randomizing the unevenness of the film material in the column direction. Therefore, this film forming method can improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

この成膜方法において、前記液膜を乾燥する工程は、前記温度データにランダムノイズ
を合成して二値化することにより前記補正データを生成する構成であってもよい。
この成膜方法によれば、補正データが二値化されたデータである。したがって、この成
膜方法によれば、液膜の温度制御を、より簡便にすることができる。
In this film forming method, the step of drying the liquid film may be configured to generate the correction data by synthesizing random noise and binarizing the temperature data.
According to this film forming method, the correction data is binarized data. Therefore, according to this film forming method, the temperature control of the liquid film can be simplified.

この成膜方法において、前記液膜を乾燥する工程は、前記液膜における前記列方向の所
定幅の両端部分に関わる温度データにランダムノイズを合成して前記補正データを生成す
る構成が好ましい。
In this film forming method, it is preferable that the step of drying the liquid film generates the correction data by synthesizing random noise with temperature data related to both end portions of the liquid film in a predetermined width in the column direction.

この成膜方法によれば、液膜の両端部分の温度が、ランダムに分布する。したがって、
液膜の両端部分は、膜材料の偏りを抑えることができる。よって、この成膜方法は、液膜
を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を、より効果的に向上させることができる。
According to this film forming method, the temperatures at both ends of the liquid film are randomly distributed. Therefore,
Both ends of the liquid film can suppress the unevenness of the film material. Therefore, this film forming method can more effectively improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

この成膜方法において、前記液膜を乾燥する工程は、前記液膜における前記列方向の所
定幅の中間部分と前記両端部分との間に関わる温度データにランダムノイズを合成して前
記補正データを生成する構成が好ましい。
In this film forming method, the step of drying the liquid film includes combining the random data with the temperature data related to the intermediate portion of the predetermined width in the column direction and the both end portions of the liquid film to generate the correction data. The structure to generate is preferable.

この成膜方法によれば、液膜の両端部分の近傍で、温度がランダムに分布する。したが
って、液膜の両端部分の近傍は、膜材料の偏りをランダム化させることができる。よって
、この成膜方法は、液膜を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を、より効果的に向上させ
ることができる。
According to this film forming method, the temperature is randomly distributed in the vicinity of both end portions of the liquid film. Therefore, the bias of the film material can be randomized in the vicinity of both end portions of the liquid film. Therefore, this film forming method can more effectively improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

この成膜方法において、前記液膜を形成する工程は、前記列方向に配列する複数のノズ
ルの各々から前記点列の各点に同じタイミングで前記液滴を着弾させることにより前記液
膜を形成しても良い。
In this film forming method, the step of forming the liquid film includes forming the liquid film by landing the droplets at the same timing from each of the plurality of nozzles arranged in the row direction to each point of the point row. You may do it.

この成膜方法によれば、配列する複数のノズルからの液滴は、実質的に同じタイミング
で着弾して、列方向に連続する液膜を形成する。そして、列方向に連続する液膜は、温度
がランダムに分布する分だけ、膜厚均一性を向上する。したがって、配列する複数のノズ
ルは、液滴の吐出タイミングを変更することなく、膜厚均一性を向上することができる。
よって、この成膜方法は、膜厚均一性を、より簡便な構成の下で向上することができる。
According to this film forming method, droplets from a plurality of arranged nozzles land at substantially the same timing to form a liquid film continuous in the column direction. The liquid film continuous in the column direction improves the film thickness uniformity by the amount that the temperature is randomly distributed. Therefore, the plurality of arranged nozzles can improve the film thickness uniformity without changing the droplet discharge timing.
Therefore, this film forming method can improve the film thickness uniformity under a simpler configuration.

この成膜方法において、前記液膜を形成する工程は、前記列方向に配列する複数のノズ
ルの各々から前記点列の各点に同じタイミングで前記液滴を着弾させるとともに、前記複
数のノズルと前記対象物とを前記列方向と交差する方向に相対移動させることにより前記
交差する方向に連続する液膜を形成し、前記液膜を乾燥する工程は、前記列方向における
所定幅の両端部分と、前記交差する方向における所定幅の両端部分とに関わる温度データ
にランダムノイズを合成して前記補正データを生成する構成であっても良い。
In this film forming method, the step of forming the liquid film includes causing the droplets to land at the same timing from each of the plurality of nozzles arranged in the row direction at the same timing. The step of forming a liquid film continuous in the intersecting direction by relatively moving the object in a direction intersecting the row direction, and drying the liquid film includes: both end portions having a predetermined width in the row direction; The correction data may be generated by synthesizing random noise with temperature data related to both end portions of a predetermined width in the intersecting direction.

この成膜方法によれば、液膜の全周縁で、温度がランダムに分布する。したがって、こ
の成膜方法は、液膜の全周縁にわたり、膜材料の偏りを分散させることができる。よって
、この成膜方法は、液膜を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を、さらに向上させること
ができる。
According to this film forming method, the temperature is randomly distributed around the entire periphery of the liquid film. Therefore, this film forming method can disperse the unevenness of the film material over the entire periphery of the liquid film. Therefore, this film forming method can further improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

本発明の成膜方法は、膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出し、前記対
象物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する成膜方法であって、
対象物上の第一点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記第一点列に第一液膜を
形成し、前記第一液膜を所定温度で乾燥することにより第一膜を形成する工程と、前記第
一点列の座標系における前記第一膜の膜厚分布を計測する工程と、対象物上の第二点列の
各点に前記液滴を着弾させることにより前記第二点列に第二液膜を形成する工程と、前記
第一点列の座標系を前記第二点列の座標系に変換することにより、前記第一膜の膜厚分布
データを前記第二点列の座標系における膜厚分布データに変換し、前記第二点列の座標系
における膜厚分布データにランダムノイズを合成して二値化することにより前記補正デー
タを生成し、前記第二液膜に前記補正データに基づく温度分布を形成することにより前記
第二液膜を乾燥する工程と、を有する。
In the film forming method of the present invention, a liquid material containing a film material is formed into a plurality of droplets, discharged onto an object, and the liquid material on the object is dried to form a film on the object. A method,
A first liquid film is formed on the first point sequence by landing the liquid droplets on each point of the first point sequence on the object, and the first liquid film is dried at a predetermined temperature to form the first film. A step of measuring the film thickness distribution of the first film in the coordinate system of the first point sequence, and landing the droplet on each point of the second point sequence on the object Forming a second liquid film on the second point sequence; and converting the coordinate system of the first point sequence to the coordinate system of the second point sequence, thereby obtaining the film thickness distribution data of the first film. The correction data is generated by converting the film thickness distribution data in the coordinate system of the two-point sequence into binary data by synthesizing random noise to the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, and generating the correction data. Drying the second liquid film by forming a temperature distribution based on the correction data in the two liquid film; A.

本発明の成膜方法によれば、第二液膜は、所定温度の乾燥によって生じる膜厚の偏りに
基づいて、その温度分布をランダム化させる。したがって、本発明の成膜方法は、液膜を
乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を、より確実に向上させることができる。
According to the film forming method of the present invention, the temperature distribution of the second liquid film is randomized based on the unevenness of the film thickness caused by drying at a predetermined temperature. Therefore, the film forming method of the present invention can more reliably improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

本発明の成膜装置は、膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出する液滴吐
出ヘッドと、前記対象物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する
乾燥部と、前記液滴吐出ヘッドと前記乾燥部とを制御する制御部とを有する成膜装置であ
って、前記制御部は、前記液滴吐出ヘッドを駆動して前記対象物上の点列の各点に前記液
滴を着弾させることにより前記点列の列方向に沿って液膜を形成し、前記液膜を乾燥する
ための温度に関する温度データにランダムノイズを合成して補正データを生成し、前記乾
燥部を駆動して前記補正データに基づく温度分布を前記液膜に形成する。
The film forming apparatus of the present invention includes a droplet discharge head that discharges a liquid material containing a film material into a plurality of liquid droplets and discharges the liquid material on the target, and a film on the target by drying the liquid on the target. And a controller for controlling the droplet discharge head and the drying unit, wherein the controller drives the droplet discharge head on the object. A liquid film is formed along the line direction of the point sequence by landing the droplets on each point of the point sequence, and random noise is combined with the temperature data related to the temperature for drying the liquid film and corrected Data is generated, and the drying unit is driven to form a temperature distribution based on the correction data in the liquid film.

本発明の成膜装置によれば、液膜の温度は、ランダムノイズの合成によりランダムに分
布する。したがって、液膜の蒸発確率が列方向でランダムに分布するため、膜材料の偏り
が列方向でランダム化する。この結果、本成膜装置は、膜材料の偏りを列方向でランダム
化させる分だけ、膜の全体から見て、膜厚の偏りを軽減させることができる。よって、本
成膜装置は、液膜を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を向上させることができる。
According to the film forming apparatus of the present invention, the temperature of the liquid film is randomly distributed by the synthesis of random noise. Therefore, since the evaporation probability of the liquid film is randomly distributed in the column direction, the bias of the film material is randomized in the column direction. As a result, this film forming apparatus can reduce the unevenness of the film thickness as viewed from the entire film by the amount of randomization of the unevenness of the film material in the column direction. Therefore, this film forming apparatus can improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

この成膜装置において、前記制御部は、前記液膜を乾燥するための温度に関する温度デ
ータにランダムノイズを合成して二値化することにより前記補正データを生成し、前記乾
燥部を駆動して前記補正データに基づく温度分布を前記液膜に形成する構成であっても良
い。
In this film forming apparatus, the control unit generates the correction data by synthesizing and binarizing random noise with temperature data related to the temperature for drying the liquid film, and drives the drying unit. The temperature distribution based on the correction data may be formed on the liquid film.

この成膜装置によれば、補正データが二値化されたデータである。したがって、この成
膜方法によれば、液膜の温度制御を、より簡便にすることができる。
本発明の成膜装置は、膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出する液滴吐
出ヘッドと、前記対象物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する
乾燥部と、前記液滴吐出ヘッドと前記乾燥部とを制御する制御部とを有する成膜装置であ
って、前記制御部は、前記液滴吐出ヘッドを駆動して対象物上の第一点列の各点に前記液
滴を着弾させることにより前記第一点の列方向に沿って第一液膜を形成し、前記乾燥部を
駆動して前記第一液膜を所定温度で乾燥することにより第一膜を形成し、前記液滴吐出ヘ
ッドを駆動して対象物上の第二点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記第二点
の列方向に沿って第二液膜を形成し、前記第一点列の座標系を前記第二点列の座標系に変
換することにより、前記第一膜の膜厚分布データを前記第二点列の座標系における膜厚分
布データに変換し、前記第二点列の座標系における膜厚分布データにランダムノイズを合
成して二値化することにより前記補正データを生成し、前記乾燥部を駆動して前記第二液
膜に前記補正データに基づく温度分布を形成する。
According to this film forming apparatus, the correction data is binarized data. Therefore, according to this film forming method, the temperature control of the liquid film can be simplified.
The film forming apparatus of the present invention includes a droplet discharge head that discharges a liquid material containing a film material into a plurality of liquid droplets and discharges the liquid material on the target, and a film on the target by drying the liquid on the target. And a controller for controlling the droplet discharge head and the drying unit, wherein the controller drives the droplet discharge head to form an object on an object. A first liquid film is formed along the direction of the first point by landing the liquid droplets on each point of the first point line, and the drying unit is driven to bring the first liquid film to a predetermined temperature. A first film is formed by drying, and the droplet discharge head is driven to land the droplet on each point of the second point row on the object, thereby along the row direction of the second point. Forming the second liquid film and converting the coordinate system of the first point sequence to the coordinate system of the second point sequence, The correction is performed by converting the film thickness distribution data into film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, and binarizing the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence by combining random noise. Data is generated, and the drying unit is driven to form a temperature distribution based on the correction data in the second liquid film.

本成膜装置によれば、第二液膜は、所定温度の乾燥によって生じる膜厚の偏りに基づい
て、その温度分布をランダム化させる。したがって、本発明の成膜方法は、液膜を乾燥さ
せて形成する膜の膜厚均一性を、より確実に向上させることができる。
According to the film forming apparatus, the temperature distribution of the second liquid film is randomized based on the unevenness of the film thickness caused by drying at a predetermined temperature. Therefore, the film forming method of the present invention can more reliably improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

この成膜装置において、前記乾燥部は、前記列方向に配列して前記対象物と熱的に接触
する複数のヒータを有し、前記制御部は、前記複数のヒータの各々を駆動して前記液膜に
温度分布を形成する構成が好ましい。
In this film forming apparatus, the drying unit includes a plurality of heaters arranged in the row direction and in thermal contact with the object, and the control unit drives each of the plurality of heaters to A configuration in which a temperature distribution is formed in the liquid film is preferable.

この成膜装置によれば、列方向に配列される複数のヒータが、液膜に温度分布を形成す
る。したがって、成膜装置は、液膜に与える温度分布を、より高い精度の下で形成するこ
とができる。
According to this film forming apparatus, the plurality of heaters arranged in the column direction form a temperature distribution in the liquid film. Therefore, the film forming apparatus can form the temperature distribution given to the liquid film with higher accuracy.

(第一実施形態)
以下、本発明を具体化した一実施形態を図1〜図8に従って説明する。図1は、成膜装
置としての液滴吐出装置10を示す斜視図である。
(First embodiment)
Hereinafter, an embodiment embodying the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a perspective view showing a droplet discharge apparatus 10 as a film forming apparatus.

図1において、液滴吐出装置10は、一つの方向に延びる基台11と、基台11の上に
搭載されて基板Sを載置する基板ステージ12とを有する。基板ステージ12は、基板S
の一つの面を上に向けた状態で基板Sを位置決め固定して、基台11の長手方向に沿って
基板Sを搬送する。基板Sとしては、グリーンシート、ガラス基板、シリコン基板、セラ
ミック基板、樹脂フィルム等の基板を用いることができる。
In FIG. 1, the droplet discharge device 10 includes a base 11 extending in one direction, and a substrate stage 12 mounted on the base 11 and placing a substrate S thereon. Substrate stage 12 is substrate S
The substrate S is positioned and fixed with one surface of the substrate 1 facing upward, and the substrate S is transported along the longitudinal direction of the base 11. As the substrate S, a substrate such as a green sheet, a glass substrate, a silicon substrate, a ceramic substrate, or a resin film can be used.

本実施形態においては、基板Sの上面を吐出面Saという。吐出面Saは、所望の膜を
形成するための面であり、液滴を着弾させるための位置を目標点として有する。基板Sが
搬送される方向であって、図1において左上方向に向かう方向を+Y方向という。また、
+Y方向と直交する方向であって、図1において右上方向に向かう方向を+X方向とし、
基板Sの法線方向をZ方向という。
In the present embodiment, the upper surface of the substrate S is referred to as a discharge surface Sa. The ejection surface Sa is a surface for forming a desired film, and has a position for landing a droplet as a target point. The direction in which the substrate S is transported and directed in the upper left direction in FIG. 1 is referred to as a + Y direction. Also,
A direction perpendicular to the + Y direction and directed to the upper right direction in FIG.
The normal direction of the substrate S is referred to as the Z direction.

液滴吐出装置10は、基台11を跨ぐ門型のガイド部材13と、ガイド部材13の上側
に配設されるインクタンク14とを有する。インクタンク14は、液状体としてのインク
Ikを貯留するとともに、貯留するインクIkを所定圧力で導出する。インクIkとして
は、膜材料としての配向膜材料を分散させた配向膜用インク、ITO(Indium Tin Oxide
)微粒子を分散させたITOインク、銀微粒子を分散させた銀インク等のインクを用い
ることができる。
The droplet discharge device 10 includes a gate-shaped guide member 13 straddling the base 11 and an ink tank 14 disposed on the upper side of the guide member 13. The ink tank 14 stores the ink Ik as a liquid material and derives the stored ink Ik at a predetermined pressure. As the ink Ik, an alignment film ink in which an alignment film material as a film material is dispersed, ITO (Indium Tin Oxide)
Ink such as ITO ink in which fine particles are dispersed and silver ink in which silver fine particles are dispersed can be used.

配向膜用インクとしては、例えばγ−ブチロラクトン、ブチルセロソルブ、及びN−メ
チル−2−ピロリドンを混合した混合溶媒に、配向膜材料としてポリイミド又はポリアミ
ック酸を溶解して調製したものを用いることができる(インクの全質量に対して固形分濃
度8重量%)。なお、混合溶媒の組成比としては、例えばγ−ブチロラクトン、ブチルセ
ロソルブ、及びN−メチル−2−ピロリドンをそれぞれ93重量%、2重量%、5重量%
として用いることができる。
As the alignment film ink, for example, an alignment film prepared by dissolving polyimide or polyamic acid as an alignment film material in a mixed solvent obtained by mixing γ-butyrolactone, butyl cellosolve, and N-methyl-2-pyrrolidone can be used ( The solid concentration is 8% by weight based on the total mass of the ink). As the composition ratio of the mixed solvent, for example, γ-butyrolactone, butyl cellosolve, and N-methyl-2-pyrrolidone are 93% by weight, 2% by weight, and 5% by weight, respectively.
Can be used as

銀インクとしては、例えば水とキシリトールを混合した混合溶媒に、クエン酸三ナトリ
ウムを分散助剤として粒径が30nmの銀微粒子を分散して調製したものを用いることが
できる。なお、銀インクの組成比としては、例えば水、キシリトール、銀微粒子をそれぞ
れ40重量%、20重量%、40重量%として用いることができる。
As the silver ink, for example, an ink prepared by dispersing silver fine particles having a particle diameter of 30 nm using trisodium citrate as a dispersion aid in a mixed solvent in which water and xylitol are mixed can be used. As the composition ratio of the silver ink, for example, water, xylitol, and silver fine particles can be used at 40 wt%, 20 wt%, and 40 wt%, respectively.

ガイド部材13は、キャリッジ15を+X方向及び+X方向の反対方向(−X方向)に
沿って移動可能に支持する。キャリッジ15は、液滴吐出ヘッドHを搭載して+X方向及
び−X方向に沿って移動する。キャリッジ15は、基板Sが+Y方向に搬送されるときに
+X方向あるいは−X方向に移動し、液滴吐出ヘッドHを目標点の搬送経路の上に配置す
る。なお、基板Sが+Y方向及び−Y方向に搬送される動作を、主走査という。また、液
滴吐出ヘッドHが+X方向及び−X方向に搬送されて目標点の搬送経路の上に配置される
動作を、副走査という。
The guide member 13 supports the carriage 15 so as to be movable along the + X direction and the direction opposite to the + X direction (−X direction). The carriage 15 carries the droplet discharge head H and moves along the + X direction and the −X direction. The carriage 15 moves in the + X direction or the −X direction when the substrate S is transported in the + Y direction, and places the droplet discharge head H on the transport path of the target point. The operation of transporting the substrate S in the + Y direction and the −Y direction is called main scanning. An operation in which the droplet discharge head H is transported in the + X direction and the −X direction and is disposed on the transport path of the target point is referred to as sub-scanning.

次に、液滴吐出ヘッドHについて以下に説明する。図2は、液滴吐出ヘッドHを基板ス
テージ12から見た斜視図である。図3は、液滴吐出ヘッドHの内部を模式的に示す図で
ある。図4は、液滴吐出ヘッドHを用いて吐出する液滴Dの吐出位置を示す平面図である
Next, the droplet discharge head H will be described below. FIG. 2 is a perspective view of the droplet discharge head H as viewed from the substrate stage 12. FIG. 3 is a diagram schematically showing the inside of the droplet discharge head H. As shown in FIG. FIG. 4 is a plan view showing the ejection position of the droplet D ejected using the droplet ejection head H. FIG.

図2において、液滴吐出ヘッドHは、+X方向に延びるヘッド基板21と、ヘッド基板
21に搭載されるヘッド本体22とを有する。ヘッド基板21は、キャリッジ15に位置
決め固定されて、基板Sに対して+X方向及び−X方向に沿って移動する。ヘッド基板2
1は、その一側端に入力端子21aを有して、入力端子21aに入力される各種の駆動信
号をヘッド本体22に出力する。
In FIG. 2, the droplet discharge head H includes a head substrate 21 extending in the + X direction and a head body 22 mounted on the head substrate 21. The head substrate 21 is positioned and fixed on the carriage 15 and moves along the + X direction and the −X direction with respect to the substrate S. Head substrate 2
1 has an input terminal 21 a at one end thereof, and outputs various drive signals input to the input terminal 21 a to the head body 22.

ヘッド本体22は、基板Sと対向する側面の+X方向の略全幅にわたりk個(kは1以
上の整数)のノズルNを有する。各ノズルNは、それぞれZ方向に延びる円形孔であって
、+X方向に沿って所定のピッチで形成される。ヘッド本体22は、例えば+X方向に沿
って141μmのピッチで配列する180個のノズルNを有する。本実施形態においては
、ノズルNの形成ピッチを、ノズルピッチDxとし、各ノズルNからなるノズル列の幅を
ノズル列幅Rwという。なお、図2においては、ノズルNの配置を説明するためにノズル
Nの数量を簡略化して示す。
The head main body 22 has k (k is an integer of 1 or more) nozzles N over substantially the entire width in the + X direction of the side surface facing the substrate S. Each nozzle N is a circular hole extending in the Z direction, and is formed at a predetermined pitch along the + X direction. The head main body 22 has 180 nozzles N arranged at a pitch of 141 μm along the + X direction, for example. In this embodiment, the formation pitch of the nozzles N is the nozzle pitch Dx, and the width of the nozzle row composed of each nozzle N is called the nozzle row width Rw. In FIG. 2, the number of nozzles N is shown in a simplified manner in order to explain the arrangement of the nozzles N.

図3において、ヘッド本体22は、ノズルNごとに、一つのキャビティ23と、該キャ
ビティ23の内部に圧力を与える一つの圧力発生素子24とを有する。すなわち、ヘッド
本体22は、ノズルNの数量と同じk個のキャビティ23と、k個の圧力発生素子24と
を有する。各キャビティ23と各圧力発生素子24とは、それぞれノズルNの直上に配設
されることにより、該ノズルNに対応付けられる。各キャビティ23は、それぞれ共通す
るインクタンク14に接続されてインクタンク14からのインクIkを収容し、連通する
ノズルNにインクIkを供給する。各ノズルNは、それぞれ連通するキャビティ23から
のインクIkを受けて、自身の開口に気液界面(以下単に、メニスカスMという。)を形
成する。
In FIG. 3, the head main body 22 includes, for each nozzle N, one cavity 23 and one pressure generating element 24 that applies pressure to the inside of the cavity 23. That is, the head body 22 includes k cavities 23 equal to the number of nozzles N and k pressure generating elements 24. The cavities 23 and the pressure generating elements 24 are associated with the nozzles N by being disposed immediately above the nozzles N, respectively. Each cavity 23 is connected to a common ink tank 14 to store the ink Ik from the ink tank 14, and supplies the ink Ik to the communicating nozzle N. Each nozzle N receives the ink Ik from the communicating cavity 23 and forms a gas-liquid interface (hereinafter simply referred to as a meniscus M) at its own opening.

各圧力発生素子24は、それぞれ接続されるキャビティ23の内部に所定圧力を与えて
、該キャビティ23の内部の圧力を増大及び減少させることにより、該キャビティ23に
連通するノズルNのメニスカスMを振動させる。圧力発生素子24としては、例えばキャ
ビティ23の容積を機械的に拡大及び縮小させる圧電素子、あるいはキャビティ23の温
度を局所的に上昇及び下降させる抵抗加熱素子を用いることができる。
Each pressure generating element 24 applies a predetermined pressure to the cavity 23 to which it is connected, and increases and decreases the pressure inside the cavity 23, thereby vibrating the meniscus M of the nozzle N communicating with the cavity 23. Let As the pressure generating element 24, for example, a piezoelectric element that mechanically expands and contracts the volume of the cavity 23, or a resistance heating element that locally increases and decreases the temperature of the cavity 23 can be used.

吐出面Saの目標点Tが、選択されるノズルN(以下単に、選択ノズルという。)の直
下に位置するとき、選択ノズルに連通するキャビティ23は、対応する圧力発生素子24
の駆動力を受けることにより、選択ノズルのメニスカスMを振動させて、インクIkの一
部を所定重量の液滴Dにして選択ノズルから吐出させる。ノズルNから吐出される液滴D
は、吐出面Saの法線に沿って飛行して目標点Tに着弾する。
When the target point T of the discharge surface Sa is located immediately below the selected nozzle N (hereinafter simply referred to as the selected nozzle), the cavity 23 communicating with the selected nozzle is a corresponding pressure generating element 24.
By receiving this driving force, the meniscus M of the selected nozzle is vibrated, and a part of the ink Ik is made a droplet D having a predetermined weight and ejected from the selected nozzle. Droplet D ejected from nozzle N
Flies along the normal line of the ejection surface Sa and lands on the target point T.

図4において、基板Sの吐出面Saは、一点鎖線に示すように、+Y方向に延びる複数
の吐出領域Rを有する。各吐出領域Rは、それぞれ+X方向にノズル列幅Rwの幅を有す
る領域であり、ドットパターン格子SLによって仮想分割される。各ドットパターン格子
SLは、+Y方向の格子間隔と+X方向の格子間隔を、それぞれ液滴Dの吐出間隔によっ
て規定される。例えば、各ドットパターン格子SLの+Y方向の格子間隔は、それぞれ液
滴吐出ヘッドHの吐出周期と基板Sの主走査速度との積によって規定される。各ドットパ
ターン格子SLの+X方向の格子間隔は、それぞれノズルピッチDxによって規定される
In FIG. 4, the discharge surface Sa of the substrate S has a plurality of discharge regions R extending in the + Y direction, as indicated by a dashed line. Each ejection region R is a region having a width of the nozzle row width Rw in the + X direction, and is virtually divided by the dot pattern grid SL. In each dot pattern lattice SL, the lattice interval in the + Y direction and the lattice interval in the + X direction are respectively defined by the ejection interval of the droplets D. For example, the lattice spacing in the + Y direction of each dot pattern lattice SL is defined by the product of the ejection period of the droplet ejection head H and the main scanning speed of the substrate S, respectively. The grid spacing in the + X direction of each dot pattern grid SL is defined by the nozzle pitch Dx.

液滴Dを吐出するか否かの選択は、各ドットパターン格子SLの格子点ごとに規定され
る。本実施形態においては、各吐出領域Rの全体にわたる部分液膜Fを形成するために、
各吐出領域Rにおける全ての格子点が目標点Tとして選択される。なお、図4においては
、ドットパターン格子SLの格子点を説明するため、ドットパターン格子SLの格子間隔
を拡大して示す。
The selection of whether or not to discharge the droplet D is defined for each grid point of each dot pattern grid SL. In the present embodiment, in order to form the partial liquid film F over the entire discharge region R,
All grid points in each discharge region R are selected as target points T. In FIG. 4, in order to explain the lattice points of the dot pattern lattice SL, the lattice spacing of the dot pattern lattice SL is enlarged.

液滴Dの吐出処理を実行するとき、液滴吐出ヘッドHの各ノズルNは、それぞれ+Y方
向に連続する一群の目標点Tの延長線上に配置される。基板Sが主走査されるとき、液滴
吐出ヘッドHの各ノズルNは、それぞれ+X方向に配列するk個の目標点Tに対して同じ
タイミングで対向する。すなわち、+X方向に配列するk個の目標点Tには、それぞれ実
質的に同じタイミングで液滴Dが着弾する。着弾するk個の液滴Dは、列方向としての+
X方向に沿って合一して+X方向に連続する液膜F0を形成する。なお、実質的に同じタ
イミングとは、+X方向に配列するk個の目標点Tにおいて、着弾するk個の液滴Dが+
X方向に連続する液膜を形成するタイミングであって、隣接する液滴Dの間の着弾タイミ
ングの差異によって該液滴Dの間に膜厚段差を来たさないタイミングである。実質的に同
じタイミングで着弾する一群の液滴D(k個の液滴D)は、後続する一群の液滴Dが順に
−Y方向に着弾することにより、+Y方向に沿って延びる帯状の部分液膜Fを形成する。
そして、各液滴吐出ヘッドHは、それぞれ+Y方向に延びる複数の部分液膜Fを+X方向
に沿って形成し、隣接する複数の部分液膜Fを合一させることにより、吐出面Saの全体
に一つの液膜F0を形成する。
When the discharge process of the droplet D is executed, each nozzle N of the droplet discharge head H is arranged on an extension line of a group of target points T that are continuous in the + Y direction. When the substrate S is main-scanned, each nozzle N of the droplet discharge head H faces the k target points T arranged in the + X direction at the same timing. That is, the droplets D land on the k target points T arranged in the + X direction at substantially the same timing. The k droplets D that land are +
A liquid film F0 is formed which is united along the X direction and continuous in the + X direction. Note that substantially the same timing means that k droplets D that land at + k target points T arranged in the + X direction are +
This is the timing at which a liquid film continuous in the X direction is formed, and is a timing at which there is no film thickness step between the droplets D due to the difference in landing timing between adjacent droplets D. A group of droplets D (k droplets D) that land at substantially the same timing are a band-shaped portion that extends along the + Y direction by the subsequent group of droplets D sequentially landing in the -Y direction. A liquid film F is formed.
Then, each droplet discharge head H forms a plurality of partial liquid films F extending in the + Y direction along the + X direction, and unites a plurality of adjacent partial liquid films F together so that the entire discharge surface Sa is formed. One liquid film F0 is formed.

上記配向膜用インクを用いて膜厚が3μmの配向膜を形成する場合、例えば、配向膜用
インクにより液膜F0を形成し、該液膜F0を50分間室温で乾燥させる。あるいは、液
膜F0を40℃に加熱して30分間乾燥する。あるいは、液膜F0を100℃に加熱して
1分間仮乾燥し、その後200℃に加熱して10〜30分間乾燥する。これらの乾燥処理
の間、配向膜用インクでは、相対的に蒸発し易いブチルセロソルブが先行して蒸発し、高
い表面張力を有する溶媒成分が液膜F0の中に残存する。そのため、液膜F0に均一な熱
量を与える場合、部分液膜F、及び液膜F0の中央部分においてレベリングが進行し、縁
部において膜厚段差が形成され始める。本発明は、これらの乾燥処理の間、液膜F0に所
定の温度分布を与える。
When forming an alignment film having a film thickness of 3 μm using the alignment film ink, for example, the liquid film F0 is formed using the alignment film ink, and the liquid film F0 is dried at room temperature for 50 minutes. Alternatively, the liquid film F0 is heated to 40 ° C. and dried for 30 minutes. Alternatively, the liquid film F0 is heated to 100 ° C. and temporarily dried for 1 minute, and then heated to 200 ° C. and dried for 10 to 30 minutes. During these drying processes, in the alignment film ink, butyl cellosolve, which is relatively easy to evaporate, evaporates first, and a solvent component having a high surface tension remains in the liquid film F0. Therefore, when a uniform amount of heat is applied to the liquid film F0, leveling proceeds at the partial liquid film F and the central portion of the liquid film F0, and a film thickness step starts to be formed at the edge. The present invention gives a predetermined temperature distribution to the liquid film F0 during these drying processes.

上記銀インクを用いて膜厚が10μmの配線を形成する場合、例えば、銀インクにより
液膜F0を形成し、該液膜F0を60℃で乾燥させた後、900℃で焼成する。本発明は
、液膜F0を60℃で乾燥する前に、該液膜F0に所定の温度分布を与える。
When forming a wiring with a film thickness of 10 μm using the silver ink, for example, a liquid film F0 is formed with silver ink, and the liquid film F0 is dried at 60 ° C. and then baked at 900 ° C. In the present invention, before the liquid film F0 is dried at 60 ° C., a predetermined temperature distribution is given to the liquid film F0.

次に、基板ステージ12について以下に説明する。図5(a)、(b)は、それぞれ基
板Sを載置する状態の基板ステージ12を示す平面図及び側断面である。
図5において、基板ステージ12の上面(以下単に、加熱面12aという。)は、複数
のヒータブロックHBを有する。複数のヒータブロックHBは、それぞれ+X方向及び+
Y方向に沿ってi×j個のマトリックス状に配置されて、加熱面12aの+X方向、及び
+Y方向の全体にわたり最密に充填される。各ヒータブロックHBの上面(当接面Ha)
は、それぞれ基板Sの裏面に対して熱的に高い結合を有する平滑面であって、一つの吐出
領域Rに対して十分に小さいサイズである。各ヒータブロックHBは、それぞれ所定の駆
動信号に応答して独立的に駆動する熱源であり、駆動信号に応じた熱エネルギーを基板S
に供給する。
Next, the substrate stage 12 will be described below. FIGS. 5A and 5B are a plan view and a side cross section showing the substrate stage 12 on which the substrate S is placed, respectively.
In FIG. 5, the upper surface of the substrate stage 12 (hereinafter simply referred to as the heating surface 12a) has a plurality of heater blocks HB. The plurality of heater blocks HB are respectively in the + X direction and +
Arranged in a matrix of i × j along the Y direction, the heating surface 12a is filled in the closest packing throughout the + X direction and the + Y direction. Upper surface (contact surface Ha) of each heater block HB
Are smooth surfaces each having a high thermal bond with the back surface of the substrate S, and are sufficiently small in size for one ejection region R. Each heater block HB is a heat source that is independently driven in response to a predetermined drive signal, and heat energy corresponding to the drive signal is applied to the substrate S.
To supply.

液滴Dの吐出処理を実行するとき、各ヒータブロックHBは、それぞれ所定の駆動信号
を受けて、自身の上面と当接する基板Sの領域に、駆動信号に応じた熱エネルギーを供給
する。基板Sは、各ヒータブロックHBからの熱エネルギーを吸収することにより、各ヒ
ータブロックHBの発熱量に応じた温度分布を吐出面Saに形成する。すなわち、各ヒー
タブロックHBは、吐出面Saの面方向に沿って所望する温度分布を形成する。
When executing the discharge process of the droplet D, each heater block HB receives a predetermined drive signal and supplies thermal energy corresponding to the drive signal to the region of the substrate S that is in contact with its upper surface. The substrate S absorbs heat energy from each heater block HB, thereby forming a temperature distribution on the discharge surface Sa according to the amount of heat generated by each heater block HB. That is, each heater block HB forms a desired temperature distribution along the surface direction of the discharge surface Sa.

次に、吐出面Saに形成する温度分布について以下に説明する。図6(a)、(b)は
、それぞれ各ヒータブロックHBに割り当てられる階調値と、該階調値を利用して加熱面
12aに形成される温度パターンとを模式的に示す平面図である。
Next, the temperature distribution formed on the ejection surface Sa will be described below. FIGS. 6A and 6B are plan views schematically showing gradation values assigned to the respective heater blocks HB and temperature patterns formed on the heating surface 12a using the gradation values. is there.

図6(a)において、各ヒータブロックHBには、それぞれ温度データを構成する階調
値が割り当てられる。各ヒータブロックHBに割り当てられる階調値は、それぞれヒータ
ブロックHBの出力に関する値であり、例えば0〜9までの整数で表現される。本実施形
態においては、各ヒータブロックHBに割り当てられる階調値が、吐出領域Rに関わる設
計データ、すなわち各吐出領域Rの座標に基づいて2種類に分類されている。
In FIG. 6A, each heater block HB is assigned a gradation value constituting temperature data. The gradation value assigned to each heater block HB is a value relating to the output of the heater block HB, and is represented by an integer from 0 to 9, for example. In the present embodiment, the gradation values assigned to each heater block HB are classified into two types based on design data related to the discharge region R, that is, the coordinates of each discharge region R.

詳述すると、吐出領域Rの内部であって、吐出領域Rの内縁部分を除く領域には、相対
的に高い階調値(例えば、階調値「9」)が割り当てられる。一方、吐出領域Rの内縁部
分、及び吐出領域Rの外部には、相対的に低い階調値(例えば、階調値「4」)が割り当
てられる。本実施形態においては、相対的に高い階調値が割り当てられる領域を、高温領
域RHという。また、相対的に低い階調値が割り当てられる領域を、低温領域RLという
。高温領域RHと低温領域RLのサイズは、インクIkの材料、吐出面Saの表面状態、
各ヒータブロックHBの出力等に応じて適宜選択される。すなわち、高温領域RHと低温
領域RLのサイズは、+X方向に沿う部分液膜Fの両端部分及び中央部分において蒸発確
率を略同じにするように適宜選択される。
More specifically, a relatively high gradation value (for example, gradation value “9”) is assigned to the inside of the ejection region R and excluding the inner edge portion of the ejection region R. On the other hand, a relatively low gradation value (for example, gradation value “4”) is assigned to the inner edge portion of the ejection region R and the outside of the ejection region R. In the present embodiment, a region to which a relatively high gradation value is assigned is referred to as a high temperature region RH. A region to which a relatively low gradation value is assigned is referred to as a low temperature region RL. The sizes of the high temperature region RH and the low temperature region RL are the material of the ink Ik, the surface state of the ejection surface Sa,
It is appropriately selected according to the output of each heater block HB. That is, the sizes of the high temperature region RH and the low temperature region RL are appropriately selected so that the evaporation probabilities are substantially the same at both end portions and the central portion of the partial liquid film F along the + X direction.

なお、温度データとしての階調値は、各吐出領域Rの座標に関わらず1種類であっても
良く、あるいは、吐出領域Rの座標に応じて3種類以上であっても良い。例えば、上記配
向膜用インクを用いて膜厚が3μmの配向膜を形成する場合、階調値は、液膜F0を約4
0℃、あるいは、液膜F0を約100℃に加熱するための1種類の値であっても良い。ま
た、上記銀インクを用いて膜厚が10μmの配線を形成する場合、階調値は、液膜F0を
約60℃に加熱するための1種類の値であっても良い。
The gradation value as the temperature data may be one type regardless of the coordinates of each ejection region R, or may be three or more types according to the coordinates of the ejection region R. For example, when an alignment film having a film thickness of 3 μm is formed using the alignment film ink, the gradation value is about 4 for the liquid film F0.
It may be 0 ° C. or one value for heating the liquid film F 0 to about 100 ° C. Further, when a wiring having a film thickness of 10 μm is formed using the silver ink, the gradation value may be one kind of value for heating the liquid film F0 to about 60 ° C.

図6(b)において、各ヒータブロックHBには、それぞれ補正データを構成する二値
化データ(「0」あるいは「1」)が割り当てられる。図6(b)においては、二値化デ
ータとして「1」が割り当てられるヒータブロックHBにグラデーションを付し、「0」
が割り当てられるヒータブロックHBを白抜きで示す。
In FIG. 6B, binarization data (“0” or “1”) constituting correction data is assigned to each heater block HB. In FIG. 6B, gradation is added to the heater block HB to which “1” is assigned as binarized data, and “0” is added.
The heater block HB to which is assigned is shown in white.

二値化データは、それぞれヒータブロックHBのオン状態あるいはオフ状態を表現する
データであって、階調パターンの各階調値にランダムノイズを合成させて二値化すること
により生成される。例えば、二値化データは、閾値を乱数によって決定するランダムディ
ザ法を用いることにより生成される。ランダムノイズとは、等確立性と無規則性の性質を
満たすものである。
The binarized data is data representing the on or off state of the heater block HB, and is generated by binarizing by combining random noise with each gradation value of the gradation pattern. For example, the binarized data is generated by using a random dither method in which the threshold is determined by a random number. Random noise satisfies the properties of equi-establishment and irregularity.

高温領域RHの階調値は、上記二値化処理により、それぞれオン状態を示す二値化デー
タ「1」に変換される。一方、低温領域RLの階調値は、それぞれ上記二値化処理により
、それぞれオン状態を示す二値化データ「1」と、オフ状態を示す二値化データ「0」と
に変換される。これによって、低温領域RLには、図6(b)に示すように、二値化デー
タ「0」がランダムに分布する。
The gradation value of the high temperature region RH is converted into binary data “1” indicating an ON state by the binarization process. On the other hand, the gradation values in the low temperature region RL are converted into binarized data “1” indicating the on state and binarized data “0” indicating the off state, respectively, by the binarization process. Thereby, as shown in FIG. 6B, the binarized data “0” is randomly distributed in the low temperature region RL.

液滴Dの吐出処理を実行するとき、及び液膜F0の乾燥処理を実行するとき、各ヒータ
ブロックHBは、それぞれ二値化データに従って、オン状態あるいはオフ状態になる。高
温領域RHに対向する吐出面Saの領域は、全てのヒータブロックHBがオン状態になる
ため、相対的に高温になる。一方、低温領域RLに対向する吐出面Saの領域は、オフ状
態のヒータブロックHBが分布する分だけ低温になる。各低温部分においては、インクI
kの蒸発確率が低くなるために、膜材料が流動し易くなる。この結果、部分液膜Fの内縁
部分は、低温部分をランダムに分布させる分だけ、膜材料の高濃度化を抑えることができ
、かつ、膜材料の偏りを分散させることができる。よって、部分液膜Fは、その内縁部分
における厚膜化を軽減させることができ、かつ、厚膜部を分散させる分だけ、その膜厚均
一性を向上させることができる。
When the discharge process of the droplet D is executed and when the drying process of the liquid film F0 is executed, each heater block HB is turned on or off according to the binarized data. The region of the discharge surface Sa that faces the high temperature region RH is relatively hot because all the heater blocks HB are turned on. On the other hand, the region of the discharge surface Sa facing the low temperature region RL becomes low in temperature by the distribution of the heater blocks HB in the off state. In each low temperature part, ink I
Since the evaporation probability of k becomes low, the film material easily flows. As a result, the inner edge portion of the partial liquid film F can suppress the increase in the concentration of the film material and can disperse the unevenness of the film material as much as the low-temperature portion is randomly distributed. Therefore, the partial liquid film F can reduce the thickening of the inner edge portion, and can improve the film thickness uniformity by the amount of the thick film portion being dispersed.

次に、上記のように構成した液滴吐出装置10の電気的構成を図7に従って説明する。
図7は、液滴吐出装置10の電気的構成を示す電気ブロック回路図である。
図7において、制御部30は、CPU、DSP、ROM、RAM等を有する。制御部3
0は、ROMとRAMに格納される各種制御プログラムと各種データに従って、基板ステ
ージ12を用いる基板Sの主走査、キャリッジ15を用いる液滴吐出ヘッドHの副走査、
液滴吐出ヘッドHを用いる液滴吐出処理、及びヒータブロックHBを用いる液膜F0の乾
燥処理を実行する。
Next, the electrical configuration of the droplet discharge device 10 configured as described above will be described with reference to FIG.
FIG. 7 is an electric block circuit diagram showing an electrical configuration of the droplet discharge device 10.
In FIG. 7, the control unit 30 includes a CPU, DSP, ROM, RAM, and the like. Control unit 3
0 is a main scan of the substrate S using the substrate stage 12 and a sub-scan of the droplet discharge head H using the carriage 15 according to various control programs and various data stored in the ROM and RAM.
A droplet discharge process using the droplet discharge head H and a drying process of the liquid film F0 using the heater block HB are executed.

制御部30は、各種操作スイッチやディスプレイを有する入出力装置31に接続されて
、入出力装置31から入力される各種信号を受信する。制御部30は、例えば入出力装置
31から液滴吐出処理と乾燥処理を実行するための既定形式のプロセスデータIpを受信
する。
The control unit 30 is connected to an input / output device 31 having various operation switches and a display, and receives various signals input from the input / output device 31. For example, the control unit 30 receives process data Ip in a predetermined format for executing the droplet discharge process and the drying process from the input / output device 31.

制御部30は、入出力装置31からのプロセスデータIpを受信すると、プロセスデー
タIpに所定の展開処理を施して、ドットパターンデータDPDを生成する。ドットパタ
ーンデータDPDは、ドットパターン格子SLの格子点の数量と同じビット長からなるデ
ータであり、ドットパターン格子SLの格子点ごとに液滴Dを吐出するか否かを規定する
データである。すなわち、ドットパターンデータDPDは、ドットパターン格子SLの各
格子点に、それぞれ圧力発生素子24のオンあるいはオフを表現するビットの値(“0”
もしくは“1”)を関連付けるデータである。
When receiving the process data Ip from the input / output device 31, the control unit 30 performs a predetermined development process on the process data Ip to generate dot pattern data DPD. The dot pattern data DPD is data having the same bit length as the number of grid points of the dot pattern grid SL, and is data defining whether or not the droplet D is ejected for each grid point of the dot pattern grid SL. That is, the dot pattern data DPD includes a bit value (“0”) that represents whether the pressure generating element 24 is on or off at each lattice point of the dot pattern lattice SL.
Or “1”).

制御部30は、入出力装置31からのプロセスデータIpを受信すると、プロセスデー
タIpに所定の展開処理を施して、温度データとしての階調パターンデータGPDを生成
する。階調パターンデータGPDは、吐出領域Rの座標系において、各ヒータブロックH
Bに、それぞれ高温領域RHあるいは低温領域RLを関連付けるデータである。
When receiving the process data Ip from the input / output device 31, the control unit 30 performs a predetermined development process on the process data Ip to generate gradation pattern data GPD as temperature data. The gradation pattern data GPD is stored in each heater block H in the coordinate system of the ejection region R.
B is data relating to the high temperature region RH or the low temperature region RL, respectively.

制御部30は、階調パターンデータGPDを生成すると、該階調パターンデータGPD
を用いて補正データとしての温度パターンデータTPDを生成する。温度パターンデータ
TPDは、各ヒータブロックHBにそれぞれ上記二値化データを関連付けるためのデータ
であって、ランダムノイズを合成した階調パターンデータGPDに二値化処理を施すこと
により生成される。
When the control unit 30 generates the gradation pattern data GPD, the gradation pattern data GPD
Is used to generate temperature pattern data TPD as correction data. The temperature pattern data TPD is data for associating the binarized data with each heater block HB, and is generated by binarizing the gradation pattern data GPD synthesized with random noise.

制御部30は、基板検出装置32に接続されている。基板検出装置32は、基板Sの端
縁を検出する撮像機能等を有する。制御部30は、基板検出装置32からの検出信号を受
けて、液滴吐出ヘッドHに対する基板Sの相対位置、すなわち液滴吐出ヘッドHに対する
各目標点Tの相対位置を演算する。
The control unit 30 is connected to the substrate detection device 32. The substrate detection device 32 has an imaging function for detecting an edge of the substrate S. The control unit 30 receives the detection signal from the substrate detection device 32 and calculates the relative position of the substrate S with respect to the droplet discharge head H, that is, the relative position of each target point T with respect to the droplet discharge head H.

制御部30は、基板ステージ駆動回路33に接続されて、基板ステージ駆動回路33に
対応する制御信号を基板ステージ駆動回路33に入力する。基板ステージ駆動回路33は
、制御部30からの制御信号に応答して、基板ステージ12を移動させるためのステージ
モータMSを正転又は逆転させる。基板ステージ駆動回路33は、ステージモータエンコ
ーダESからの検出信号を受信してステージモータMSの回転方向及び回転数を演算する
。制御部30は、基板ステージ駆動回路33からの演算結果を用いて基板ステージ12の
移動方向及び移動量を演算し、吐出面Saの目標点TがノズルNの直下に位置するか否か
を判断する。制御部30は、各目標点TがノズルNの直下に位置するたびにタイミング信
号LTを生成し、吐出ヘッド駆動回路35にタイミング信号LTを出力する。
The control unit 30 is connected to the substrate stage drive circuit 33 and inputs a control signal corresponding to the substrate stage drive circuit 33 to the substrate stage drive circuit 33. In response to the control signal from the control unit 30, the substrate stage drive circuit 33 rotates the stage motor MS for moving the substrate stage 12 in the forward or reverse direction. The substrate stage drive circuit 33 receives the detection signal from the stage motor encoder ES and calculates the rotation direction and the rotation speed of the stage motor MS. The control unit 30 calculates the moving direction and moving amount of the substrate stage 12 using the calculation result from the substrate stage drive circuit 33, and determines whether or not the target point T on the ejection surface Sa is located directly below the nozzle N. To do. The control unit 30 generates a timing signal LT every time each target point T is located immediately below the nozzle N, and outputs the timing signal LT to the ejection head drive circuit 35.

制御部30は、キャリッジ駆動回路34に接続されて、キャリッジ駆動回路34に対応
する制御信号をキャリッジ駆動回路34に入力する。キャリッジ駆動回路34は、制御部
30からの制御信号に応答して、キャリッジ15を移動させるためのキャリッジモータM
Cを正転又は逆転させる。キャリッジ駆動回路34は、キャリッジモータエンコーダEC
からの検出信号を受信してキャリッジモータMCの回転方向及び回転数を演算する。制御
部30は、キャリッジ駆動回路34からの演算結果を用いてキャリッジ15の移動方向及
び移動量を演算し、各目標点Tの主走査経路の上に各ノズルNを配置する。
The control unit 30 is connected to the carriage drive circuit 34 and inputs a control signal corresponding to the carriage drive circuit 34 to the carriage drive circuit 34. The carriage drive circuit 34 responds to a control signal from the control unit 30 to move the carriage 15.
C is rotated forward or reverse. The carriage drive circuit 34 is a carriage motor encoder EC.
The rotation direction and the number of rotations of the carriage motor MC are calculated. The control unit 30 calculates the movement direction and movement amount of the carriage 15 using the calculation result from the carriage drive circuit 34 and arranges each nozzle N on the main scanning path of each target point T.

制御部30は、吐出ヘッド駆動回路35に接続されて、吐出ヘッド駆動回路35にタイ
ミング信号LTと、圧力発生素子24を駆動するための駆動波形信号COMとを入力する
。また、制御部30は、ドットパターンデータDPDをシリアル転送するためのシリアル
パターンデータSIを生成し、吐出ヘッド駆動回路35に該シリアルパターンデータSI
をシリアル転送する。吐出ヘッド駆動回路35は、制御部30からのシリアルパターンデ
ータSIを受信してシリアル/パラレル変換し、k個のノズルN、すなわちk個の圧力発
生素子24の各々に対してドットパターンデータDPDの各ビット値を対応させたパラレ
ルパターンデータを生成する。吐出ヘッド駆動回路35は、制御部30からのタイミング
信号LTを受けるとき、パラレルパターンデータに基づいて吐出動作の選択される圧力発
生素子24に駆動波形信号COMを供給する。本実施形態において、吐出ヘッド駆動回路
35は、タイミング信号LTを受けるとき、全ての圧力発生素子24に駆動波形信号CO
Mを供給する。これによって、制御部30は、+X方向に沿って連続する各目標点Tに、
それぞれ実質的に同じタイミングで液滴Dを着弾させる。
The control unit 30 is connected to the ejection head drive circuit 35 and inputs a timing signal LT and a drive waveform signal COM for driving the pressure generating element 24 to the ejection head drive circuit 35. Further, the control unit 30 generates serial pattern data SI for serial transfer of the dot pattern data DPD, and sends the serial pattern data SI to the ejection head drive circuit 35.
Is transferred serially. The ejection head drive circuit 35 receives the serial pattern data SI from the control unit 30 and performs serial / parallel conversion, and the dot pattern data DPD for each of the k nozzles N, that is, the k pressure generating elements 24, is converted. Parallel pattern data corresponding to each bit value is generated. When the ejection head drive circuit 35 receives the timing signal LT from the control unit 30, the ejection head drive circuit 35 supplies the drive waveform signal COM to the pressure generating element 24 selected for the ejection operation based on the parallel pattern data. In the present embodiment, when the ejection head drive circuit 35 receives the timing signal LT, the ejection waveform drive circuit 35 outputs the drive waveform signal CO to all the pressure generating elements 24.
M is supplied. As a result, the control unit 30 applies to each target point T continuous along the + X direction.
The droplets D are landed at substantially the same timing.

制御部30は、ヒータ駆動回路36に接続されている。制御部30は、温度パターンデ
ータTPDに基づいて各ヒータブロックHBを駆動するためのヒータ駆動信号SHを生成
し、ヒータ駆動回路36にヒータ駆動信号SHを出力する。ヒータ駆動回路36は、制御
部30からのヒータ駆動信号SHに応答して二値化データに基づくヒータブロックHBの
制御を実行し、これによってオフ状態のヒータブロックHBを低温領域RLにランダムに
分布させる。
The control unit 30 is connected to the heater drive circuit 36. The control unit 30 generates a heater drive signal SH for driving each heater block HB based on the temperature pattern data TPD, and outputs the heater drive signal SH to the heater drive circuit 36. The heater drive circuit 36 performs control of the heater block HB based on the binarized data in response to the heater drive signal SH from the control unit 30, thereby randomly distributing the heater block HB in the off state to the low temperature region RL. Let

次に、液滴吐出装置10を用いて成膜する方法について説明する。
まず、図1に示すように、基板ステージ12の上には、吐出面Saを上側にする基板S
が載置される。このとき、基板Sの+Y方向の端部は、ガイド部材13の−Y方向(+Y
方向の反対方向)に配置される。制御部30は、入出力装置31からプロセスデータIp
を受信すると、プロセスデータIpを用いてドットパターンデータDPD、及び階調パタ
ーンデータGPDを生成する。
Next, a method for forming a film using the droplet discharge device 10 will be described.
First, as shown in FIG. 1, on the substrate stage 12, the substrate S with the discharge surface Sa on the upper side.
Is placed. At this time, the end in the + Y direction of the substrate S is in the −Y direction (+ Y of the guide member 13).
In the opposite direction). The control unit 30 receives the process data Ip from the input / output device 31.
Is received, dot pattern data DPD and gradation pattern data GPD are generated using process data Ip.

次いで、制御部30は、階調パターンデータGPDに二値化処理を施して温度パターン
データTPDを生成し、該温度パターンデータTPDに基づくヒータ駆動信号SHを生成
して各ヒータブロックHBを駆動する、すなわち吐出領域Rに応じた温度分布を吐出面S
aに形成する。これによって、吐出領域Rの高温領域RHが、吐出領域Rの中で相対的に
高温になり、吐出領域Rの低温領域RLが、分散された低温部分を有する。
Next, the control unit 30 binarizes the gradation pattern data GPD to generate temperature pattern data TPD, generates a heater driving signal SH based on the temperature pattern data TPD, and drives each heater block HB. That is, the temperature distribution corresponding to the discharge region R is expressed by the discharge surface S.
a. As a result, the high temperature region RH of the discharge region R becomes relatively high in the discharge region R, and the low temperature region RL of the discharge region R has dispersed low temperature portions.

制御部30は、低温領域RLに低温部分を分散させると、キャリッジ駆動回路34を介
してキャリッジモータMCを駆動し、各目標点Tの主走査経路の上に各ノズルNを配置す
る。そして、制御部30は、基板ステージ駆動回路33を介してステージモータMSを駆
動して基板Sの主走査を開始する。
When the low temperature portion is dispersed in the low temperature region RL, the control unit 30 drives the carriage motor MC via the carriage drive circuit 34 and arranges each nozzle N on the main scanning path of each target point T. Then, the control unit 30 drives the stage motor MS via the substrate stage drive circuit 33 to start main scanning of the substrate S.

制御部30は、基板Sの主走査を開始すると、基板検出装置32からの検出信号を受け
て液滴吐出ヘッドHに対する各目標点Tの相対位置を演算し、基板ステージ駆動回路から
の演算結果を用いて、以降における各目標点Tの相対位置を演算する。制御部30は、液
滴吐出ヘッドHに対する各目標点Tの相対位置に基づいて、各目標点TがノズルNの直下
にあるか否かを判断し、各目標点TがノズルNの直下に位置するたびにタイミング信号L
Tを生成して、吐出ヘッド駆動回路35にタイミング信号LTを出力する。すなわち、制
御部30は、+X方向に連続するk個の目標点Tがk個のノズルNの直下に位置するたび
に、該k個の目標点Tに対して、実質的に同じタイミングの下で液滴Dを着弾させる。同
じタイミングで着弾するk個の液滴Dは、+X方向に沿って合一して+X方向に連続する
液膜F0を形成する。
When the main scanning of the substrate S is started, the control unit 30 receives the detection signal from the substrate detection device 32 and calculates the relative position of each target point T with respect to the droplet discharge head H, and the calculation result from the substrate stage driving circuit. Is used to calculate the relative position of each target point T thereafter. Based on the relative position of each target point T with respect to the droplet discharge head H, the control unit 30 determines whether each target point T is directly under the nozzle N, and each target point T is directly under the nozzle N. Timing signal L every time it is positioned
T is generated and a timing signal LT is output to the ejection head drive circuit 35. That is, each time k target points T continuous in the + X direction are located immediately below the k nozzles N, the control unit 30 performs substantially the same timing with respect to the k target points T. To land the droplet D. The k droplets D that land at the same timing are united along the + X direction to form a liquid film F0 continuous in the + X direction.

この際、部分液膜Fの+X方向に沿う両端部分は、それぞれ低温領域RLからの熱エネ
ルギーを受けることにより、部分液膜Fの中で相対的に低温になり、かつ、ランダムに分
布する局所的な低温部分を有する。この結果、部分液膜Fの両端部分では、比表面積の増
大に伴う蒸発確率の増大を、局所的な低温部分によって緩和させることができる。しかも
、部分液膜Fの両端部分では、局所的な低温部分がランダムに分布する分だけ、膜材料の
偏りを分散させることができ、ひいては乾燥後の膜厚値を均一にすることができる。
At this time, both end portions along the + X direction of the partial liquid film F are subjected to thermal energy from the low temperature region RL, respectively, so that the temperature becomes relatively low in the partial liquid film F and are locally distributed at random. It has a typical low temperature part. As a result, at both end portions of the partial liquid film F, the increase in the evaporation probability accompanying the increase in the specific surface area can be mitigated by the local low temperature portion. In addition, at both end portions of the partial liquid film F, the unevenness of the film material can be dispersed by the amount that the local low temperature portions are randomly distributed, and thus the film thickness value after drying can be made uniform.

以後、同様に、制御部30は、基板Sの主走査を繰り返し、+X方向に連続するk個の
目標点Tがk個のノズルNの直下に位置するたびに、該k個の目標点Tに対して一斉に液
滴Dを着弾させる。そして、局所的な低温部分のランダムな分布によって、膜材料の偏り
を分散させることができる。これによって、制御部30は、部分液膜Fにおける膜材料の
均一化を図ることができ、ひいては液膜F0からなる膜の膜厚均一性を向上させることが
できる。
Thereafter, similarly, the control unit 30 repeats the main scanning of the substrate S, and each time k target points T consecutive in the + X direction are located immediately below the k nozzles N, the k target points T The droplets D are landed simultaneously. Then, the bias of the film material can be dispersed by the random distribution of the local low temperature portion. As a result, the control unit 30 can achieve uniformity of the film material in the partial liquid film F, and consequently improve the film thickness uniformity of the film made of the liquid film F0.

次に、上記のように構成した第一実施形態の効果を以下に記載する。
(1)上記第一実施形態において、液滴吐出装置10は、+X方向に沿って連続する各
目標点Tに、それぞれ液滴Dを着弾させて+X方向に連続する部分液膜Fを形成する。そ
して、液滴吐出装置10は、液膜F0を乾燥するとき、吐出領域Rの+X方向の両端部分
、すなわち低温領域RLで局所的な低温部分をランダムに分布させる。
Next, the effect of 1st embodiment comprised as mentioned above is described below.
(1) In the first embodiment, the droplet discharge device 10 causes the droplet D to land on each target point T continuous along the + X direction to form a partial liquid film F continuous in the + X direction. . Then, when drying the liquid film F <b> 0, the droplet discharge device 10 randomly distributes the both ends of the discharge region R in the + X direction, that is, local low temperature portions in the low temperature region RL.

したがって、液滴吐出装置10は、部分液膜Fにおける膜材料の偏りを+X方向でラン
ダムに分布させることができる。この結果、液滴吐出装置10は、膜材料の偏りを+X方
向でランダムに分布させる分だけ、液膜F0における膜材料の偏りを軽減させることがで
きる。よって、液滴吐出装置10は、液膜F0を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を向
上させることができる。
Therefore, the droplet discharge device 10 can randomly distribute the bias of the film material in the partial liquid film F in the + X direction. As a result, the droplet discharge device 10 can reduce the unevenness of the film material in the liquid film F0 by the amount that the unevenness of the film material is randomly distributed in the + X direction. Therefore, the droplet discharge device 10 can improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film F0.

(2)また、上記第一実施形態において、液滴吐出装置10は、部分液膜Fにおける+
X方向の両端部分で局所的な低温部分をランダムに分布させる。ランダムに分布する低温
部分においては、インクIkの蒸発確率が低くなる。したがって、+X方向における部分
液膜Fの両端部分では、比表面積の差異に伴う蒸発確率の差異が、低温部分のランダムな
分布により抑えられる。この結果、液滴吐出装置10は、液膜F0を乾燥させて形成する
膜の膜厚均一性を、より効果的に向上させることができる。
(2) Further, in the first embodiment, the droplet discharge device 10 has the + in the partial liquid film F.
Local low temperature portions are randomly distributed at both end portions in the X direction. In the low temperature portion that is randomly distributed, the evaporation probability of the ink Ik is low. Therefore, at both end portions of the partial liquid film F in the + X direction, the difference in evaporation probability due to the difference in specific surface area is suppressed by the random distribution of the low temperature portion. As a result, the droplet discharge device 10 can more effectively improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film F0.

(3)また、上記第一実施形態において、液滴吐出装置10は、吐出領域Rにおける内
縁部分の全体、すなわち低温領域RLで低温部分をランダムに分散させる。したがって、
部分液膜Fの内縁部分との間では、比表面積の差異に伴う蒸発確率の差異が、ランダムに
分布する低温部分により抑えられる。この結果、液滴吐出装置10は、液膜F0を乾燥さ
せて形成する膜の膜厚均一性を、より効果的に向上させることができる。
(3) In the first embodiment, the droplet discharge device 10 randomly disperses the low temperature portion in the entire inner edge portion in the discharge region R, that is, in the low temperature region RL. Therefore,
Between the inner edge portion of the partial liquid film F, the difference in evaporation probability due to the difference in specific surface area is suppressed by the randomly distributed low temperature portion. As a result, the droplet discharge device 10 can more effectively improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film F0.

(4)上記第一実施形態において、液滴吐出装置10は、+X方向に沿って連続する各
目標点Tに、それぞれ実質的に同じタイミングで液滴Dを着弾させる。したがって、液滴
吐出装置10は、液滴Dの吐出タイミングを変更することなく、膜厚均一性を向上するこ
とができる。よって、液滴吐出装置10は、膜厚均一性を、より簡便な構成の下で向上す
ることができる。
(4) In the first embodiment, the droplet discharge device 10 causes the droplet D to land on each target point T continuous along the + X direction at substantially the same timing. Therefore, the droplet discharge device 10 can improve the film thickness uniformity without changing the discharge timing of the droplet D. Therefore, the droplet discharge device 10 can improve the film thickness uniformity under a simpler configuration.

(第二実施形態)
以下、本発明を具体化した第二実施形態について図8及び図9に従って説明する。第二
実施形態は、本成膜処理の前にテスト成膜処理を実行して、基板Sに形成する温度分布を
テスト成膜処理の処理結果に基づいて変更するものであるため、以下においては、この変
更点について詳細に説明する。
(Second embodiment)
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the second embodiment, the test film formation process is executed before the main film formation process, and the temperature distribution formed on the substrate S is changed based on the process result of the test film formation process. This change will be described in detail.

図8(a)、(b)は、それぞれテスト成膜処理における基板ステージ12を示す側断
面図、及びテスト成膜処理における膜厚分布を示す図である。図9(a)、(b)は、そ
れぞれ各ヒータブロックHBに割り当てられる階調値と、該階調値を利用して生成する温
度パターンとを模式的に示す平面図である。
8A and 8B are a side sectional view showing the substrate stage 12 in the test film formation process and a film thickness distribution in the test film formation process, respectively. FIGS. 9A and 9B are plan views schematically showing a gradation value assigned to each heater block HB and a temperature pattern generated using the gradation value.

図8において、テスト成膜処理を実行するとき、液滴吐出装置10は、まず、加熱面1
2aの上にテスト成膜用の基板Sを載置する。次いで、液滴吐出装置10は、各ヒータブ
ロックHBを駆動して吐出面Saに所定のテスト温度分布を形成する。テスト温度分布と
は、各ヒータブロックHBの駆動信号に関連付けられる温度の分布であって、本実施形態
においては吐出面Saの略全体にわたり均一な温度分布である。
In FIG. 8, when the test film forming process is executed, the droplet discharge device 10 first starts the heating surface 1.
A substrate S for test film formation is placed on 2a. Next, the droplet discharge device 10 drives each heater block HB to form a predetermined test temperature distribution on the discharge surface Sa. The test temperature distribution is a temperature distribution associated with the drive signal of each heater block HB, and in the present embodiment, the test temperature distribution is a uniform temperature distribution over substantially the entire ejection surface Sa.

吐出面Saにテスト温度分布を形成すると、液滴吐出装置10は、第一実施形態と同じ
く、吐出面Saの各目標点Tに液滴Dを吐出して液膜F0を形成し、テスト温度分布の下
で液膜F0を乾燥する。本実施形態では、テスト成膜処理における各目標点Tを、それぞ
れテスト点という。各テスト点の座標は、それぞれ本成膜処理に用いる各目標点Tの座標
に関連付けられる座標であり、各テスト点の点列の座標系は、各目標点Tの点列の座標系
に変換できる座標系である。すなわち、テスト点は、着弾する液滴Dを本成膜処理と同じ
温度分布の下で乾燥するとき、本成膜処理によって得られる膜厚分布と同じ傾向の膜厚分
布を与える座標である。なお、本実施形態におけるテスト点は、本成膜処理における目標
点Tと同じ座標である。
When the test temperature distribution is formed on the ejection surface Sa, the droplet ejection device 10 ejects the droplet D to each target point T on the ejection surface Sa to form the liquid film F0 as in the first embodiment, and the test temperature The liquid film F0 is dried under the distribution. In the present embodiment, each target point T in the test film formation process is referred to as a test point. The coordinates of each test point are coordinates associated with the coordinates of each target point T used for the film forming process, and the coordinate system of the point sequence of each test point is converted into the coordinate system of the point sequence of each target point T. It can be a coordinate system. That is, the test point is a coordinate that gives a film thickness distribution having the same tendency as the film thickness distribution obtained by the main film forming process when the landing droplet D is dried under the same temperature distribution as the main film forming process. In addition, the test point in this embodiment is the same coordinate as the target point T in this film-forming process.

テスト温度分布の下で液膜F0を乾燥すると、液滴吐出装置10は、乾燥後の液膜F0
を所定の膜厚計測装置へ搬送させて、乾燥後の膜厚分布を計測させることによりテスト成
膜処理を終了する。
When the liquid film F0 is dried under the test temperature distribution, the droplet discharge device 10 causes the dried liquid film F0 to be dried.
Is transported to a predetermined film thickness measuring device, and the film thickness distribution after drying is measured to complete the test film forming process.

本実施形態では、テスト温度分布で得られる膜厚分布を、膜厚分布データという。膜厚
分布データとは、テスト点の座標系において測定される膜厚値の分布であって、例えば図
8に示すように、吐出面Saの+X方向に沿って連続的に計測される膜厚値の分布である
。なお、テスト成膜処理においては、液膜F0における膜厚の平均値を、平均膜厚T0と
し、平均膜厚T0と各座標における膜厚との差分を、それぞれ膜厚差分値δTという。
In the present embodiment, the film thickness distribution obtained from the test temperature distribution is referred to as film thickness distribution data. The film thickness distribution data is a distribution of film thickness values measured in the coordinate system of the test points. For example, as shown in FIG. 8, the film thickness continuously measured along the + X direction of the ejection surface Sa. It is a distribution of values. In the test film formation process, the average value of the film thickness in the liquid film F0 is defined as the average film thickness T0, and the difference between the average film thickness T0 and the film thickness at each coordinate is referred to as a film thickness difference value δT.

吐出面Saに形成される液膜F0は、部分液膜Fの内縁部分で比表面積を大きくするた
めに、吐出領域Rの内縁部分で相対的に膜厚の厚い部分を形成する。例えば、液膜F0は
、座標X3、X14にあるヒータブロックHBの上に、それぞれ相対的に膜厚の厚い部分
を形成する。また、吐出面Saに形成される液膜F0は、部分液膜Fの縁に向けて膜材料
を流動させるため、その内縁部分の近傍で、相対的に膜厚の薄い部分を形成する。例えば
、液膜F0は、座標X5、X12、X16にあるヒータブロックHBの直上に、相対的に
膜厚の薄い部分を形成する。
The liquid film F0 formed on the discharge surface Sa forms a relatively thick portion at the inner edge portion of the discharge region R in order to increase the specific surface area at the inner edge portion of the partial liquid film F. For example, the liquid film F0 forms a relatively thick part on the heater block HB at the coordinates X3 and X14. In addition, the liquid film F0 formed on the ejection surface Sa causes a film material to flow toward the edge of the partial liquid film F, and thus forms a relatively thin part in the vicinity of the inner edge part. For example, the liquid film F0 forms a relatively thin portion immediately above the heater block HB at the coordinates X5, X12, and X16.

図9において、本成膜処理を実行するとき、液滴吐出装置10は、まず、入出力装置3
1から膜厚差分値δTとヒータブロックHBの座標とを関連付けるデータを受信して、膜
厚差分値δTを補償するための階調パターンデータGPDを生成する。
In FIG. 9, when performing the film forming process, the droplet discharge device 10 first starts with the input / output device 3.
1 receives data relating the film thickness difference value δT and the coordinates of the heater block HB, and generates gradation pattern data GPD for compensating the film thickness difference value δT.

すなわち、液滴吐出装置10は、所定値よりも大きい正の膜厚差分値δTに関連付けら
れるヒータブロックHBに対して、相対的に高い階調値(例えば、階調値「9」)を割り
当てる。また、液滴吐出装置10は、所定値よりも大きい負の膜厚差分値δTに関連付け
られるヒータブロックHBに対して、相対的に低い階調値(例えば、階調値「4」)を割
り当てる。また、液滴吐出装置10は、所定値よりも小さい膜厚差分値δTに関連付けら
れるヒータブロックHBに対して中間の階調値(例えば、階調値「7」)を割り当てる。
That is, the droplet discharge device 10 assigns a relatively high gradation value (for example, gradation value “9”) to the heater block HB associated with the positive film thickness difference value δT larger than the predetermined value. . Further, the droplet discharge device 10 assigns a relatively low gradation value (for example, gradation value “4”) to the heater block HB associated with the negative film thickness difference value δT larger than the predetermined value. . Further, the droplet discharge device 10 assigns an intermediate gradation value (for example, gradation value “7”) to the heater block HB associated with the film thickness difference value δT smaller than the predetermined value.

例えば、液滴吐出装置10は、図9(a)に示すように、座標X5、X12、X16に
あるヒータブロックHBに、階調値「9」を割り当て、座標X3、X14にあるヒータブ
ロックHBに、階調値「4」を割り当て、座標X5と座標X12との間にあるヒータブロ
ックHBに、階調値「7」を割り当てる。
For example, as shown in FIG. 9A, the droplet discharge device 10 assigns the gradation value “9” to the heater block HB at coordinates X5, X12, and X16, and the heater block HB at coordinates X3 and X14. Is assigned the gradation value “4”, and the gradation value “7” is assigned to the heater block HB between the coordinates X5 and X12.

次いで、液滴吐出装置10は、第一実施形態と同じく、階調パターンデータGPDに二
値化処理を施して温度パターンデータTPDを生成し、該温度パターンデータTPDに基
づくヒータ駆動信号SHを生成して各ヒータブロックHBを駆動する。
Next, as in the first embodiment, the droplet discharge device 10 performs binarization processing on the gradation pattern data GPD to generate temperature pattern data TPD, and generates a heater drive signal SH based on the temperature pattern data TPD. Then, each heater block HB is driven.

例えば、液滴吐出装置10は、図9(b)に示すように、座標X5、X12、X16に
あるヒータブロックHBに二値化データ「1」を割り当て、これにより吐出領域Rの座標
X5、X12、X16にあるヒータブロックHBをオン状態にする。また、液滴吐出装置
10は、座標X3、X14にあるヒータブロックHBに二値化データ「0」をランダムに
分布させて、これにより吐出領域Rの座標X3、X14に対してオフ状態のヒータブロッ
クHBを分散させる。さらに、液滴吐出装置10は、座標X5と座標X12との間にある
ヒータブロックHBに対して、座標X3、X14にあるヒータブロックHBよりも低い頻
度で二値化データ「0」をランダムに分布させる。そして、液滴吐出装置10は、吐出領
域Rの座標X5と座標X12との間に、座標X3、X14よりも低い頻度でオフ状態のヒ
ータブロックHBを分散させる。
For example, as shown in FIG. 9B, the droplet discharge device 10 assigns binarized data “1” to the heater block HB at the coordinates X5, X12, and X16, and thereby coordinates X5, The heater block HB at X12 and X16 is turned on. Further, the droplet discharge device 10 randomly distributes the binarized data “0” to the heater block HB at the coordinates X3 and X14, and thereby the heater in the off state with respect to the coordinates X3 and X14 of the discharge region R. Distribute the block HB. Further, the droplet discharge device 10 randomly outputs the binary data “0” to the heater block HB between the coordinates X5 and X12 at a lower frequency than the heater block HB at the coordinates X3 and X14. Distribute. Then, the droplet discharge device 10 distributes the heater blocks HB in the off state between the coordinates X5 and the coordinates X12 of the discharge region R at a frequency lower than the coordinates X3 and X14.

これによって、液滴吐出装置10は、テスト温度分布の下で膜厚が厚くなる領域に、よ
り多くの低温部分をランダムに分布させることができ、反対に、テスト温度分布の下で膜
厚が薄くなる領域に、より多くの高温部分をランダムに分布させることができる。
As a result, the droplet discharge device 10 can randomly distribute more low temperature portions in the region where the film thickness is thicker under the test temperature distribution, and conversely, the film thickness is lower under the test temperature distribution. More high temperature portions can be randomly distributed in the thinned region.

次に、上記のように構成した第二実施形態の効果を以下に記載する。
(5)上記第二実施形態において、液滴吐出装置10は、本成膜処理を実行する前にテ
スト成膜処理を実行し、液膜F0をテスト温度分布の下で乾燥することにより、テスト温
度分布に応じた膜厚差分値δTを得る。そして、液滴吐出装置10は、本成膜処理を実行
するとき、膜厚差分値δTに基づく温度パターンデータTPDを生成し、該温度パターン
データTPDに基づく温度分布の下で、該液膜F0を乾燥する。
Next, the effect of 2nd embodiment comprised as mentioned above is described below.
(5) In the second embodiment, the droplet discharge device 10 performs a test film formation process before performing the main film formation process, and dries the liquid film F0 under the test temperature distribution to perform a test. A film thickness difference value δT corresponding to the temperature distribution is obtained. Then, when performing the film forming process, the droplet discharge device 10 generates temperature pattern data TPD based on the film thickness difference value δT, and under the temperature distribution based on the temperature pattern data TPD, the liquid film F0. To dry.

したがって、本成膜処理における温度分布は、テスト温度分布の下の乾燥によって相対
的に厚い膜になり得る座標を、相対的に低温に補正できる。また、テスト温度分布の下の
乾燥により相対的に薄い膜になり得る座標を、相対的に高温に補正できる。そして、本成
膜処理における温度分布は、局所的な高温部分あるいは低温部分をランダムに分布させる
分だけ、膜材料の流動を抑制させることができる。この結果、液滴吐出装置10は、液滴
Dからなる膜の膜厚均一性を、より確実に向上させることができる。
Therefore, the temperature distribution in the film forming process can correct the coordinates that can be a relatively thick film by drying under the test temperature distribution to a relatively low temperature. In addition, coordinates that can become a relatively thin film by drying under the test temperature distribution can be corrected to a relatively high temperature. And the temperature distribution in this film-forming process can suppress the flow of the film material by the amount of local high-temperature portions or low-temperature portions distributed randomly. As a result, the droplet discharge device 10 can more reliably improve the film thickness uniformity of the film made of the droplets D.

(6)上記第二実施形態において、+X方向における部分液膜Fの両端部分と中間部分
との間、すなわち座標X5と座標X12の温度が、それぞれ中間部分よりも高温になる。
したがって、部分液膜Fの両端部分(内縁部分)の近傍は、中央部分に比べて高温になる
分だけ、蒸発確率を高くする。よって、両端部分の近傍の膜材料が、両端部分に流動し難
くなるため、液滴吐出装置10は、液膜F0を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を、さ
らに向上させることができる。
(6) In the second embodiment, the temperatures between the end portions and the intermediate portion of the partial liquid film F in the + X direction, that is, the temperatures of the coordinates X5 and the coordinates X12 are respectively higher than the intermediate portions.
Therefore, the vicinity of both end portions (inner edge portions) of the partial liquid film F increases the evaporation probability by the amount that is higher than the central portion. Therefore, since the film material in the vicinity of both end portions hardly flows to both end portions, the droplet discharge device 10 can further improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film F0. .

尚、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
・上記第一実施形態において、ヒータブロックHBに割り当てられる階調値は、吐出領
域Rに関わる設計データに基づいて、2つの領域に区画される。これに限らず、ヒータブ
ロックHBに割り当てられる階調値は、吐出領域Rに関わらず、加熱面12aの全体にわ
たり同じ階調値であってもよい。この構成によれば、液滴吐出装置10は、階調パターン
の二値化処理を、より高速に処理することができる。
In addition, you may change the said embodiment as follows.
In the first embodiment, the gradation value assigned to the heater block HB is divided into two regions based on design data related to the discharge region R. Not limited to this, the gradation value assigned to the heater block HB may be the same gradation value over the entire heating surface 12a regardless of the ejection region R. According to this configuration, the droplet discharge device 10 can perform the binarization processing of the gradation pattern at a higher speed.

・上記第二実施形態において、テスト温度分布は、吐出面Saの略全体にわたり均一な
温度を与える温度分布であるが、これに限らず、テスト温度分布は、吐出面Saの所定の
領域を相対的に低温あるいは高温にする温度分布であっても良い。
In the second embodiment, the test temperature distribution is a temperature distribution that gives a uniform temperature over substantially the entire discharge surface Sa. However, the test temperature distribution is not limited to this, and the test temperature distribution is relative to a predetermined region of the discharge surface Sa. Alternatively, the temperature distribution may be low or high.

・上記実施形態において、ヒータブロックHBの出力は、階調データの二値化処理によ
り、二値化データ、すなわちオン状態あるいはオフ状態で表現される。これに限らず、ヒ
ータブロックHBの出力は、階調データにランダムノイズを合成して多値化処理を施すこ
とにより、多値化される構成であってもよい。この構成によれば、液滴吐出装置10は、
より高い精度の下で液膜F0に温度分布を形成することができる。
In the above embodiment, the output of the heater block HB is expressed as binarized data, that is, an on state or an off state, by binarization processing of gradation data. Not limited to this, the output of the heater block HB may be multi-valued by synthesizing random noise with gradation data and performing multi-value processing. According to this configuration, the droplet discharge device 10 is
A temperature distribution can be formed in the liquid film F0 with higher accuracy.

・上記実施形態において、液滴吐出装置10は、階調データの二値化処理により、低温
領域RLにオフ状態のヒータブロックHBを分散させる。これに限らず、液滴吐出装置1
0は、階調データにランダムノイズを合成して多値化処理を施すことによりヒータブロッ
クHBの出力を多階調で表現し、高温領域RHに、相対的に高い出力のヒータブロックH
Bをランダムに分布させる構成であっても良い。高温部分においては、インクIkの蒸発
確率が高くなるために、膜材料が流動し難くなる。この結果、液膜F0の中央部分では、
高温部分をランダムに分布させる分だけ、膜材料の低濃度化が抑えられ、かつ、膜材料の
偏りが分散される。ひいては、液膜F0の中央部分が膜材料の濃度を高くする分だけ、部
分液膜Fの両端部分が、その厚膜化を抑えることができる。したがって、液滴吐出装置1
0は、液膜を乾燥させて形成する膜の膜厚均一性を向上させることができる。
In the above embodiment, the droplet discharge device 10 disperses the heater blocks HB in the off state in the low temperature region RL by the binarization processing of the gradation data. Not limited to this, the droplet discharge device 1
0 expresses the output of the heater block HB in multiple gradations by synthesizing random noise to gradation data and applying multilevel processing, and the heater block H having a relatively high output is displayed in the high temperature region RH.
A configuration may be adopted in which B is distributed randomly. In the high temperature portion, the evaporation probability of the ink Ik is high, so that the film material is difficult to flow. As a result, in the central part of the liquid film F0,
As the high temperature portion is randomly distributed, the concentration of the film material is suppressed, and the unevenness of the film material is dispersed. As a result, the thickening of the both end portions of the partial liquid film F can be suppressed by the amount that the central portion of the liquid film F0 increases the concentration of the film material. Accordingly, the droplet discharge device 1
0 can improve the film thickness uniformity of the film formed by drying the liquid film.

・上記実施形態においては、ノズル列の数量が一列であるが、これに限らず、ノズル列
の数量は、2列以上であっても良い。
・上記実施形態においては、液滴吐出装置10がシングルスキャン方式を用いる成膜処
理を実行するが、これに限らず、マルチスキャン方式を用いる成膜処理を実行する構成で
あっても良い。
In the above embodiment, the number of nozzle rows is one, but the number is not limited to this, and the number of nozzle rows may be two or more.
In the above embodiment, the droplet discharge device 10 executes the film forming process using the single scan method, but the present invention is not limited to this, and the film forming process using the multi scan method may be executed.

・上記実施形態において、ヒータブロックHBは、液滴Dを吐出するときに吐出面Sa
を加熱する。これに限らず、例えばヒータブロックHBは、液膜F0が形成された後に、
吐出面Saを加熱する構成であっても良い。
In the above-described embodiment, the heater block HB discharges the droplet D when the discharge surface Sa
Heat. However, the heater block HB is not limited to this, for example, after the liquid film F0 is formed.
The structure which heats the discharge surface Sa may be sufficient.

第一実施形態の液滴吐出装置を示す斜視図。The perspective view which shows the droplet discharge apparatus of 1st embodiment. 同じく、液滴吐出ヘッドを示す斜視図。Similarly, a perspective view showing a droplet discharge head. 同じく、液滴吐出ヘッドの内部を模式的に示す側面図。Similarly, the side view which shows the inside of a droplet discharge head typically. 同じく、液滴の吐出位置を示す平面図。Similarly, the top view which shows the discharge position of a droplet. 同じく、(a)、(b)は、それぞれヒータブロックを模式的に示す平面図及び側断面図。Similarly, (a) and (b) are a plan view and a side sectional view schematically showing a heater block, respectively. 同じく、(a)、(b)は、それぞれ階調パターンと温度パターンを模式的に示す平面図。Similarly, (a) and (b) are plan views schematically showing a gradation pattern and a temperature pattern, respectively. 同じく、液滴吐出装置の電気的構成を示す電気ブロック回路図。Similarly, the electric block circuit diagram which shows the electric constitution of a droplet discharge apparatus. (a)、(b)は、それぞれ第二実施形態における液滴吐出装置のテスト成膜処理と、テスト成膜処理により得られる膜厚分布を示す図。(A), (b) is a figure which shows the film thickness distribution obtained by the test film-forming process and test film-forming process of the droplet discharge apparatus in 2nd embodiment, respectively. (a)、(b)は、それぞれ第二実施形態における階調パターンと温度パターンを模式的に示す平面図。(A), (b) is a top view which shows typically the gradation pattern and temperature pattern in 2nd embodiment, respectively. (a)、(b)は、それぞれ従来例の液滴吐出処理を示す平面図、及び側断面図。(A), (b) is the top view and sectional side view which respectively show the droplet discharge process of a prior art example. (a)、(b)は、それぞれ従来例の液滴吐出処理を示す平面図、及び側断面図。(A), (b) is the top view and sectional side view which respectively show the droplet discharge process of a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

D…液滴、F0…液膜、H…液滴吐出ヘッド、HB…乾燥部を構成するヒータブロック
、Ik…液状態としてのインク、N…ノズル、R…吐出領域、S…対象物としての基板、
TPD…補正データとしての温度パターンデータ、GPD…階調パターンデータ、10…
液滴吐出装置、30…制御部。
D ... droplet, F0 ... liquid film, H ... droplet ejection head, HB ... heater block constituting the drying unit, Ik ... ink in liquid state, N ... nozzle, R ... ejection area, S ... as object substrate,
TPD: temperature pattern data as correction data, GPD: gradation pattern data, 10:
Droplet ejection device, 30... Control unit.

Claims (11)

膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出し、前記対象物上の前記液状体を
乾燥することにより前記対象物に膜を形成する成膜方法であって、
前記対象物上の点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記点列の列方向に沿っ
て液膜を形成する工程と、
前記液膜を乾燥するための温度に関する温度データにランダムノイズを合成して補正デ
ータを生成し、前記補正データに基づく温度分布を前記液膜に形成することにより前記液
膜を乾燥する工程と、
を有することを特徴とする成膜方法。
A film forming method for forming a film on an object by discharging a liquid containing a film material into a plurality of droplets and discharging the liquid onto the object, and drying the liquid on the object,
Forming a liquid film along the row direction of the point sequence by landing the droplet on each point of the point sequence on the object; and
Generating random correction data by synthesizing random noise to temperature data related to the temperature for drying the liquid film, and drying the liquid film by forming a temperature distribution on the liquid film based on the correction data;
A film forming method comprising:
請求項1に記載の成膜方法であって、
前記液膜を乾燥する工程は、
前記温度データにランダムノイズを合成して二値化することにより前記補正データを生
成することを特徴とする成膜方法。
The film forming method according to claim 1,
The step of drying the liquid film includes
The film forming method, wherein the correction data is generated by synthesizing and binarizing random noise with the temperature data.
請求項1又は2に記載の成膜方法であって、
前記液膜を乾燥する工程は、
前記液膜における前記列方向の所定幅の両端部分に関わる温度データにランダムノイズ
を合成して前記補正データを生成することを特徴とする成膜方法。
The film forming method according to claim 1 or 2,
The step of drying the liquid film includes
A film forming method, wherein the correction data is generated by synthesizing random noise with temperature data relating to both end portions of the liquid film in a predetermined width in the column direction.
請求項3に記載の成膜方法であって、
前記液膜を乾燥する工程は、
前記液膜における前記列方向の所定幅の中間部分と前記両端部分との間に関わる温度デ
ータにランダムノイズを合成して前記補正データを生成することを特徴とする成膜方法。
The film forming method according to claim 3,
The step of drying the liquid film includes
A method of forming a film, wherein the correction data is generated by synthesizing random noise with temperature data related to an intermediate portion having a predetermined width in the column direction and both end portions of the liquid film.
請求項1〜4のいずれか一つに記載の成膜方法であって、
前記液膜を形成する工程は、
前記列方向に配列する複数のノズルの各々から前記点列の各点に同じタイミングで前記
液滴を着弾させることにより前記液膜を形成することを特徴とする成膜方法。
It is the film-forming method as described in any one of Claims 1-4,
The step of forming the liquid film includes
The liquid film is formed by causing the droplets to land at the same timing from each of the plurality of nozzles arranged in the row direction at the same timing.
請求項5に記載の成膜方法であって、
前記液膜を形成する工程は、
前記列方向に配列する複数のノズルの各々から前記点列の各点に同じタイミングで前記
液滴を着弾させるとともに、前記複数のノズルと前記対象物とを前記列方向と交差する方
向に相対移動させることにより前記交差する方向に連続する液膜を形成し、
前記液膜を乾燥する工程は、
前記列方向における所定幅の両端部分と、前記交差する方向における所定幅の両端部分
とに関わる温度データにランダムノイズを合成して前記補正データを生成することを特徴
とする成膜方法。
The film forming method according to claim 5,
The step of forming the liquid film includes
The droplets are landed at the same timing from each of the plurality of nozzles arranged in the row direction at the same timing, and the plurality of nozzles and the object are relatively moved in a direction intersecting the row direction. To form a continuous liquid film in the intersecting direction,
The step of drying the liquid film includes
A film forming method, wherein the correction data is generated by synthesizing random noise with temperature data relating to both end portions of the predetermined width in the column direction and both end portions of the predetermined width in the intersecting direction.
膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出し、前記対象物上の前記液状体を
乾燥することにより前記対象物に膜を形成する成膜方法であって、
対象物上の第一点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記第一点列に第一液膜
を形成し、前記第一液膜を所定温度で乾燥することにより第一膜を形成する工程と、
前記第一点列の座標系における前記第一膜の膜厚分布を計測する工程と、
対象物上の第二点列の各点に前記液滴を着弾させることにより前記第二点列に第二液膜
を形成する工程と、
前記第一点列の座標系を前記第二点列の座標系に変換することにより、前記第一膜の膜
厚分布データを前記第二点列の座標系における膜厚分布データに変換し、前記第二点列の
座標系における膜厚分布データにランダムノイズを合成して二値化することにより補正デ
ータを生成し、前記第二液膜に前記補正データに基づく温度分布を形成することにより前
記第二液膜を乾燥する工程と、
を有することを特徴とする成膜方法。
A film forming method for forming a film on an object by discharging a liquid containing a film material into a plurality of droplets and discharging the liquid onto the object, and drying the liquid on the object,
A first liquid film is formed on the first point sequence by landing the liquid droplets on each point of the first point sequence on the object, and the first liquid film is dried at a predetermined temperature to form the first film. Forming a step;
Measuring the film thickness distribution of the first film in the coordinate system of the first point sequence;
Forming a second liquid film on the second point sequence by landing the droplet on each point of the second point sequence on the object;
By converting the coordinate system of the first point sequence to the coordinate system of the second point sequence, the film thickness distribution data of the first film is converted into the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, By generating random correction data by synthesizing and binarizing random noise with the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, and forming a temperature distribution based on the correction data in the second liquid film Drying the second liquid film;
A film forming method comprising:
膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出する液滴吐出ヘッドと、前記対象
物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する乾燥部と、前記液滴吐
出ヘッドと前記乾燥部とを制御する制御部とを有する成膜装置であって、
前記制御部は、
前記液滴吐出ヘッドを駆動して前記対象物上の点列の各点に前記液滴を着弾させること
により前記点列の列方向に沿って液膜を形成し、
前記液膜を乾燥するための温度に関する温度データにランダムノイズを合成して補正デ
ータを生成し、前記乾燥部を駆動して前記補正データに基づく温度分布を前記液膜に形成
することを特徴とする成膜装置。
A droplet discharge head for discharging a liquid material containing a film material into a plurality of droplets and discharging the liquid material to a target; a drying unit that forms a film on the target by drying the liquid on the target; A film forming apparatus having a droplet discharge head and a control unit that controls the drying unit,
The controller is
Forming a liquid film along the row direction of the point sequence by driving the droplet discharge head to land the droplets on each point of the point sequence on the object;
Random noise is synthesized with temperature data related to the temperature for drying the liquid film to generate correction data, and the drying unit is driven to form a temperature distribution based on the correction data in the liquid film. A film forming apparatus.
請求項8に記載の成膜装置であって、
前記制御部は、
前記液膜を乾燥するための温度に関する温度データにランダムノイズを合成して二値化
することにより前記補正データを生成し、前記乾燥部を駆動して前記補正データに基づく
温度分布を前記液膜に形成することを特徴とする成膜装置。
The film forming apparatus according to claim 8,
The controller is
The correction data is generated by synthesizing and binarizing random noise with temperature data related to the temperature for drying the liquid film, and the temperature distribution based on the correction data is generated by driving the drying unit. A film forming apparatus characterized in that the film forming device is formed.
膜材料を含む液状体を複数の液滴にして対象物に吐出する液滴吐出ヘッドと、前記対象
物上の前記液状体を乾燥することにより前記対象物に膜を形成する乾燥部と、前記液滴吐
出ヘッドと前記乾燥部とを制御する制御部とを有する成膜装置であって、
前記制御部は、
前記液滴吐出ヘッドを駆動して対象物上の第一点列の各点に前記液滴を着弾させること
により前記第一点の列方向に沿って第一液膜を形成し、前記乾燥部を駆動して前記第一液
膜を所定温度で乾燥することにより第一膜を形成し、
前記液滴吐出ヘッドを駆動して対象物上の第二点列の各点に前記液滴を着弾させること
により前記第二点の列方向に沿って第二液膜を形成し、
前記第一点列の座標系を前記第二点列の座標系に変換することにより、前記第一膜の膜
厚分布データを前記第二点列の座標系における膜厚分布データに変換し、前記第二点列の
座標系における膜厚分布データにランダムノイズを合成して二値化することにより補正デ
ータを生成し、前記乾燥部を駆動して前記第二液膜に前記補正データに基づく温度分布を
形成することを特徴とする成膜装置。
A droplet discharge head for discharging a liquid material containing a film material into a plurality of droplets and discharging the liquid material to a target; a drying unit that forms a film on the target by drying the liquid on the target; A film forming apparatus having a droplet discharge head and a control unit that controls the drying unit,
The controller is
A first liquid film is formed along the row direction of the first point by driving the droplet discharge head to land the droplet on each point of the first point row on the object, and the drying unit To form a first film by drying the first liquid film at a predetermined temperature,
Forming a second liquid film along the row direction of the second point by driving the droplet discharge head to land the droplet on each point of the second point row on the object;
By converting the coordinate system of the first point sequence to the coordinate system of the second point sequence, the film thickness distribution data of the first film is converted into the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, The correction data is generated by synthesizing and binarizing random noise with the film thickness distribution data in the coordinate system of the second point sequence, and the drying unit is driven and the second liquid film is based on the correction data A film forming apparatus that forms a temperature distribution.
請求項8〜10のいずれか一つに記載の成膜装置であって、
前記乾燥部は、前記列方向に配列して前記対象物と熱的に接触する複数のヒータを有し

前記制御部は、前記複数のヒータの各々を駆動して前記液膜に温度分布を形成すること
を特徴とする成膜装置。
It is the film-forming apparatus as described in any one of Claims 8-10,
The drying unit has a plurality of heaters arranged in the row direction and in thermal contact with the object,
The control unit drives each of the plurality of heaters to form a temperature distribution in the liquid film.
JP2007208979A 2007-08-10 2007-08-10 Method and apparatus for forming film Withdrawn JP2009039674A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007208979A JP2009039674A (en) 2007-08-10 2007-08-10 Method and apparatus for forming film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007208979A JP2009039674A (en) 2007-08-10 2007-08-10 Method and apparatus for forming film

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009039674A true JP2009039674A (en) 2009-02-26

Family

ID=40441016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007208979A Withdrawn JP2009039674A (en) 2007-08-10 2007-08-10 Method and apparatus for forming film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009039674A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018154764A1 (en) * 2017-02-27 2018-08-30 シャープ株式会社 Substrate mounting stage, inkjet coating device, leveling device, and method for manufacturing organic el display device
CN113984824A (en) * 2021-10-25 2022-01-28 标格达精密仪器(广州)有限公司 Minimum film forming temperature tester with visual identification function

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018154764A1 (en) * 2017-02-27 2018-08-30 シャープ株式会社 Substrate mounting stage, inkjet coating device, leveling device, and method for manufacturing organic el display device
CN113984824A (en) * 2021-10-25 2022-01-28 标格达精密仪器(广州)有限公司 Minimum film forming temperature tester with visual identification function

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI250087B (en) Method of controlling drive of function liquid droplet ejection head; function liquid droplet ejection apparatus; electro-optic device; method of manufacturing LCD device, organic EL device, and so on; method of forming spacer, metallic wiring, and so on
JP4437805B2 (en) Ink ejection apparatus and ink ejection control method
CN102649358A (en) Drive apparatus for liquid ejection head, liquid ejection apparatus and inkjet recording apparatus
JP2009117141A (en) Liquid material coating method, and method of manufacturing organic el element
JP2008209701A (en) Pattern forming apparatus, pattern forming method, and manufacturing method of color filter and organic functional element
JP2008094044A (en) Head unit, droplet discharge device, discharge method of liquid matter, manufacturing method of color filter, manufacturing method of organic el element and manufacturing method of wiring board
TWI342238B (en)
JP2012004555A5 (en)
JP2004031070A (en) Organic el material application device, its application method, and organic el display device
JP2009039674A (en) Method and apparatus for forming film
US11260654B2 (en) Liquid ejecting apparatus and liquid ejecting head
JP2011054386A (en) Method for manufacturing organic el display
JP2009175213A (en) Liquid material discharging device and method
JP4218713B2 (en) Liquid arrangement method, color filter manufacturing method, organic EL display device manufacturing method
WO2016166965A1 (en) Method for discharging liquid droplets, and liquid droplet discharging device and program
JP2004004177A (en) Film forming apparatus, method for filling liquid material therein, method for manufacturing device, apparatus for manufacturing device, and device
JP2008526468A (en) Droplet deposition
JP2004358353A (en) Liquid drop discharge device, liquid drop discharge method, thin film forming method and electro-otical device
JP2005221890A (en) Forming method and forming apparatus for alignment layer
JP2012238479A (en) Ink jet device
JP2009034615A (en) Film forming method and film forming apparatus
JP2006086531A (en) Method of manufacturing printed circuit
JP2009198938A (en) Liquid drop discharge device, liquid discharge method, color filter manufacturing method and organic el element manufacturing method
KR20150130836A (en) Ink-jet marking method and ink-jet marking system
JP4479837B2 (en) Deposition method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20101102