JP2009036582A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009036582A5
JP2009036582A5 JP2007199764A JP2007199764A JP2009036582A5 JP 2009036582 A5 JP2009036582 A5 JP 2009036582A5 JP 2007199764 A JP2007199764 A JP 2007199764A JP 2007199764 A JP2007199764 A JP 2007199764A JP 2009036582 A5 JP2009036582 A5 JP 2009036582A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
display panel
flat display
light emitting
average
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007199764A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2009036582A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2007199764A priority Critical patent/JP2009036582A/ja
Priority claimed from JP2007199764A external-priority patent/JP2009036582A/ja
Publication of JP2009036582A publication Critical patent/JP2009036582A/ja
Publication of JP2009036582A5 publication Critical patent/JP2009036582A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2007199764A 2007-07-31 2007-07-31 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム Pending JP2009036582A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007199764A JP2009036582A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007199764A JP2009036582A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013061095A Division JP5603964B2 (ja) 2013-03-22 2013-03-22 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009036582A JP2009036582A (ja) 2009-02-19
JP2009036582A5 true JP2009036582A5 (de) 2010-08-26

Family

ID=40438637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007199764A Pending JP2009036582A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009036582A (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4973563B2 (ja) * 2008-03-27 2012-07-11 セイコーエプソン株式会社 クロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システム
WO2013118304A1 (ja) * 2012-02-10 2013-08-15 シャープ株式会社 検査装置、検査方法、および記録媒体
KR101977647B1 (ko) * 2012-11-15 2019-05-14 엘지디스플레이 주식회사 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법
DE102013011359B4 (de) * 2013-07-08 2015-06-18 Display-Messtechnik & Systeme GmbH & Co. KG Messgerät für Bildstörungen an Bildschirmen
JP6870346B2 (ja) * 2017-01-30 2021-05-12 日本電気株式会社 データ分析システム、データ分析方法およびプログラム
JP7413907B2 (ja) * 2020-04-20 2024-01-16 大日本印刷株式会社 光学測定装置および光学測定方法
CN112394069A (zh) * 2020-12-04 2021-02-23 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板的异常检测方法及装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5465052A (en) * 1991-09-10 1995-11-07 Photon Dynamics, Inc. Method of testing liquid crystal display substrates
JPH06161378A (ja) * 1992-11-26 1994-06-07 Sharp Corp 液晶表示装置検査装置
US5917935A (en) * 1995-06-13 1999-06-29 Photon Dynamics, Inc. Mura detection apparatus and method
US6154561A (en) * 1997-04-07 2000-11-28 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for detecting Mura defects
JPH11224892A (ja) * 1998-02-05 1999-08-17 Nippon Inter Connection Systems Kk テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP3633776B2 (ja) * 1998-02-10 2005-03-30 大日本印刷株式会社 プラズマディスプレイパネル用基板の検査、修正方法
JP2000180375A (ja) * 1998-12-16 2000-06-30 Advantest Corp フラットパネル表示器検査方法及び装置
JP2002257679A (ja) * 2001-02-23 2002-09-11 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 輝度情報取得方法、画質評価方法、表示装置の輝度情報取得装置および表示装置の画質評価装置
JP3431075B2 (ja) * 2001-08-27 2003-07-28 科学技術振興事業団 液晶ディスプレイパネルムラの分類処理方法、その装置及びプログラム
JP2005043174A (ja) * 2003-07-28 2005-02-17 Nidec Tosok Corp 色むら検査装置
JP4799329B2 (ja) * 2006-09-07 2011-10-26 株式会社東芝 ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009036582A5 (de)
JP2010509804A5 (de)
US7978903B2 (en) Defect detecting method and defect detecting device
WO2017045286A1 (zh) 一种像素渲染方法、像素渲染装置和显示器
TWI435162B (zh) Low complexity of the panoramic image and video bonding method
JP2010524297A5 (de)
WO2006076180A3 (en) White balance correction in digital camera images
JP2011050049A5 (de)
MY188165A (en) System and method for inspecting a wafer
WO2010146732A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP2010016798A5 (de)
JP2011087317A5 (de)
WO2009063256A3 (en) Re-sizing image sequences
JP2005331929A5 (de)
MY171250A (en) Defect inspection method
JP2013516840A5 (de)
JP2007172397A (ja) エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置
TW200720643A (en) Scintillation measuring method of display device and scintillation measuring device
JP5242248B2 (ja) 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び、記録媒体
JP2013546083A5 (de)
JP2009105230A5 (de)
JP2008199658A5 (de)
JP2009281759A (ja) カラーフィルタ欠陥検査方法、及び検査装置、これを用いたカラーフィルタ製造方法
JP2021015035A5 (ja) 画像表示装置の検査方法、製造方法及び検査装置
JP2004226272A (ja) シミ欠陥の検出方法及び装置