JP2009036582A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009036582A5 JP2009036582A5 JP2007199764A JP2007199764A JP2009036582A5 JP 2009036582 A5 JP2009036582 A5 JP 2009036582A5 JP 2007199764 A JP2007199764 A JP 2007199764A JP 2007199764 A JP2007199764 A JP 2007199764A JP 2009036582 A5 JP2009036582 A5 JP 2009036582A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- display panel
- flat display
- light emitting
- average
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199764A JP2009036582A (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199764A JP2009036582A (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013061095A Division JP5603964B2 (ja) | 2013-03-22 | 2013-03-22 | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009036582A JP2009036582A (ja) | 2009-02-19 |
JP2009036582A5 true JP2009036582A5 (de) | 2010-08-26 |
Family
ID=40438637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007199764A Pending JP2009036582A (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009036582A (de) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4973563B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2012-07-11 | セイコーエプソン株式会社 | クロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システム |
WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
KR101977647B1 (ko) * | 2012-11-15 | 2019-05-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
DE102013011359B4 (de) * | 2013-07-08 | 2015-06-18 | Display-Messtechnik & Systeme GmbH & Co. KG | Messgerät für Bildstörungen an Bildschirmen |
JP6870346B2 (ja) * | 2017-01-30 | 2021-05-12 | 日本電気株式会社 | データ分析システム、データ分析方法およびプログラム |
JP7413907B2 (ja) * | 2020-04-20 | 2024-01-16 | 大日本印刷株式会社 | 光学測定装置および光学測定方法 |
CN112394069A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-02-23 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板的异常检测方法及装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5465052A (en) * | 1991-09-10 | 1995-11-07 | Photon Dynamics, Inc. | Method of testing liquid crystal display substrates |
JPH06161378A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-07 | Sharp Corp | 液晶表示装置検査装置 |
US5917935A (en) * | 1995-06-13 | 1999-06-29 | Photon Dynamics, Inc. | Mura detection apparatus and method |
US6154561A (en) * | 1997-04-07 | 2000-11-28 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for detecting Mura defects |
JPH11224892A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Nippon Inter Connection Systems Kk | テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法 |
JP3633776B2 (ja) * | 1998-02-10 | 2005-03-30 | 大日本印刷株式会社 | プラズマディスプレイパネル用基板の検査、修正方法 |
JP2000180375A (ja) * | 1998-12-16 | 2000-06-30 | Advantest Corp | フラットパネル表示器検査方法及び装置 |
JP2002257679A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 輝度情報取得方法、画質評価方法、表示装置の輝度情報取得装置および表示装置の画質評価装置 |
JP3431075B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2003-07-28 | 科学技術振興事業団 | 液晶ディスプレイパネルムラの分類処理方法、その装置及びプログラム |
JP2005043174A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Nidec Tosok Corp | 色むら検査装置 |
JP4799329B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2011-10-26 | 株式会社東芝 | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
-
2007
- 2007-07-31 JP JP2007199764A patent/JP2009036582A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009036582A5 (de) | ||
JP2010509804A5 (de) | ||
US7978903B2 (en) | Defect detecting method and defect detecting device | |
WO2017045286A1 (zh) | 一种像素渲染方法、像素渲染装置和显示器 | |
TWI435162B (zh) | Low complexity of the panoramic image and video bonding method | |
JP2010524297A5 (de) | ||
WO2006076180A3 (en) | White balance correction in digital camera images | |
JP2011050049A5 (de) | ||
MY188165A (en) | System and method for inspecting a wafer | |
WO2010146732A1 (ja) | 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
JP2010016798A5 (de) | ||
JP2011087317A5 (de) | ||
WO2009063256A3 (en) | Re-sizing image sequences | |
JP2005331929A5 (de) | ||
MY171250A (en) | Defect inspection method | |
JP2013516840A5 (de) | ||
JP2007172397A (ja) | エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置 | |
TW200720643A (en) | Scintillation measuring method of display device and scintillation measuring device | |
JP5242248B2 (ja) | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び、記録媒体 | |
JP2013546083A5 (de) | ||
JP2009105230A5 (de) | ||
JP2008199658A5 (de) | ||
JP2009281759A (ja) | カラーフィルタ欠陥検査方法、及び検査装置、これを用いたカラーフィルタ製造方法 | |
JP2021015035A5 (ja) | 画像表示装置の検査方法、製造方法及び検査装置 | |
JP2004226272A (ja) | シミ欠陥の検出方法及び装置 |