JP2009007055A - Tray for semiconductor integrated circuit device, and manufacturing process for semiconductor device - Google Patents

Tray for semiconductor integrated circuit device, and manufacturing process for semiconductor device Download PDF

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栄一 中澤
Kazuo Funazaki
和雄 船崎
Hiroyuki Yanagisawa
弘行 柳沢
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tray for semiconductor integrated circuit devices preventing a damage of connector pins of the semiconductor devices, caused by a contact between the corner part of the semiconductor device and excellent in mass-production property, and a manufacturing process for semiconductor devices using the tray. <P>SOLUTION: A storing segment for semiconductor devices is provided with a plurality of rectangular blocks 14 formed to be protruded from the surface of a tray at the surface side of a tray 10 and having a shorter side than that of one side of the semiconductor device as seen in its top plan view. Sides of the plurality of blocks 14 for semiconductor devices are formed with steps having: supporting surfaces 17 for supporting outer edges except the corners of the semiconductor devices from below; and restricting surfaces 16 for restricting motion of the semiconductor device in a horizontal direction when the semiconductor devices are installed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体集積回路装置、特にボールグリッドアレイやピングリッドアレイ等のパッケージ下面に接続用端子を多数有する半導体集積回路装置を収納するためのトレイおよび当該トレイを使用した半導体装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, in particular, a tray for housing a semiconductor integrated circuit device having a large number of connection terminals on the lower surface of a package such as a ball grid array or a pin grid array, and a method of manufacturing a semiconductor device using the tray. .

半導体集積回路装置(以下、半導体装置という。)のパッケージタイプとして、ボールグリッドアレイタイプやピングリッドアレイタイプ等のパッケージの一方の面に接続用端子が配置されたものがある。ボールグリッドアレイタイプは、接続用端子であるボール端子がパッケージの下面にマトリックス状に配置された構造を有する。また、ピングリッドアレイタイプは、接続用端子であるリードピンが、パッケージの下面にマトリックス状に配置された構造を有する。   As a package type of a semiconductor integrated circuit device (hereinafter, referred to as a semiconductor device), there is a type in which a connection terminal is arranged on one surface of a package such as a ball grid array type or a pin grid array type. The ball grid array type has a structure in which ball terminals as connection terminals are arranged in a matrix on the lower surface of a package. The pin grid array type has a structure in which lead pins as connection terminals are arranged in a matrix on the lower surface of the package.

図8は、ボールグリッドアレイタイプの半導体装置(以下、BGAという。)の構造を示す図である。図8(a)は側面図、図8(b)は平面図、図8(c)は底面図である。図8(a)および図8(b)に示すように、半導体装置5のパッケージ2は、図示しない半導体チップが実装される基板3と、基板3の半導体チップ実装面を被覆するモールドレジン4からなる。基板3には、半導体チップと電気的に接続する複数の配線が形成されており、各配線は、基板3の裏面(モールドレジン4で覆われた面が表面)で、ボール端子1とそれぞれ接続されている。基板3の裏面には、図8(c)に示すように、多数のボール端子1がマトリックス状に配置されている。なお、ピングリッドアレイタイプの半導体装置(以下、PGAという。)では、図8(a)および図8(c)のボール端子1に代えて接続用端子であるリードピンが配置されている。リードピンは、例えば、銀ロウ等の接着方法を用いて基板3の裏面に固定されている。BGAやPGAは、いずれも、パッケージの外周に接続用端子を備えるクアドフラットパッケージ(QFP)等に比較して接続用端子の数を多くでき、また、電気ノイズの発生が少ない等の特徴を有している。   FIG. 8 is a diagram showing a structure of a ball grid array type semiconductor device (hereinafter referred to as BGA). 8A is a side view, FIG. 8B is a plan view, and FIG. 8C is a bottom view. As shown in FIGS. 8A and 8B, the package 2 of the semiconductor device 5 includes a substrate 3 on which a semiconductor chip (not shown) is mounted and a mold resin 4 that covers the semiconductor chip mounting surface of the substrate 3. Become. A plurality of wirings that are electrically connected to the semiconductor chip are formed on the substrate 3. Each wiring is connected to the ball terminal 1 on the back surface of the substrate 3 (the surface covered with the mold resin 4 is the front surface). Has been. On the back surface of the substrate 3, as shown in FIG. 8C, a large number of ball terminals 1 are arranged in a matrix. In a pin grid array type semiconductor device (hereinafter referred to as PGA), lead pins that are connection terminals are arranged in place of the ball terminals 1 in FIGS. 8A and 8C. The lead pin is fixed to the back surface of the substrate 3 using an adhesive method such as silver solder. Both BGA and PGA have features such that the number of connection terminals can be increased compared to a quad flat package (QFP) having connection terminals on the outer periphery of the package, and electrical noise is less generated. is doing.

BGAやPGAは、専用トレイに収納された状態で、工程間の搬送および出荷輸送等が行われる。近年、BGAのボール端子1を構成する半田ボールは、鉛半田ボールから、鉛を実質的に含有しない鉛フリー半田ボールへ移行している。このため、基板3の配線端子部と半田ボールとの接着強度が弱くなり、半田ボールが搬送中に離脱する等の接続用端子の損傷が顕著になっている。   BGA and PGA are transported between processes and shipped and transported in a state of being stored in a dedicated tray. In recent years, solder balls constituting the ball terminal 1 of the BGA have shifted from lead solder balls to lead-free solder balls that do not substantially contain lead. For this reason, the adhesive strength between the wiring terminal portion of the substrate 3 and the solder ball becomes weak, and damage to the connection terminal such that the solder ball is detached during conveyance becomes remarkable.

図9は、従来の一般的なトレイの全体構成を示す図である。また、図10は、当該トレイの収納部(図9に破線P1で示す領域)の構造を拡大して示す図である。図9に示すように、トレイ100の表面101には、BGAやPGA等の半導体装置を収容する複数の収納部110が形成されている。図10に示すように、収納部110は、トレイ100の表面101に突設された、平面視において略長方形状の4体のブロック111を備える。各ブロック111は、半導体装置の外周を構成する4辺の各辺に対応してそれぞれ配置されている。   FIG. 9 is a diagram showing an overall configuration of a conventional general tray. FIG. 10 is an enlarged view showing the structure of the tray storage section (the area indicated by the broken line P1 in FIG. 9). As shown in FIG. 9, a plurality of storage portions 110 that store semiconductor devices such as BGA and PGA are formed on the surface 101 of the tray 100. As shown in FIG. 10, the storage unit 110 includes four blocks 111 that are provided on the surface 101 of the tray 100 and are substantially rectangular in a plan view. Each block 111 is arranged corresponding to each of the four sides constituting the outer periphery of the semiconductor device.

また、半導体装置に沿う方向の各ブロック111の両端部には、さらに上方に突出する突出部111aが形成されている。図10において、網掛けを付した領域が、突出部111aである。各ブロック111により囲まれた領域の中央部には、半導体装置の端子(ボール端子やリードピン)をトレイ表面に対して非接触状態とするための凹形状のポケット112が形成されている。この収納部110に半導体装置を収納した場合、各ブロック111の半導体装置側の壁面111bが、半導体装置の水平方向の移動を規制する。このため、半導体装置は、水平方向にほとんど移動しない。また、トレイ100は、半導体装置を収納した状態で、同型の空のトレイ100を重ねることにより、トレイ100に収納した半導体装置の飛び出しを防止する蓋として機能させることができるようになっている。また、例えば、半導体装置の接続用端子を検査する場合、半導体装置の接続用端子が配列された面を露出させる必要がある。この場合、空のトレイ100を重ねた状態で、トレイ100の表裏を反転させることにより、蓋として使用したトレイの裏側に半導体装置を、表裏を反転させた状態で移載する手法が用いられることが多い。このため、トレイ100の裏側にも、半導体装置を収納する収納部を設けることが一般的である。   Further, at both ends of each block 111 in the direction along the semiconductor device, projecting portions 111a projecting further upward are formed. In FIG. 10, the shaded area is the protrusion 111a. A concave pocket 112 for making a terminal (ball terminal or lead pin) of the semiconductor device in a non-contact state with respect to the tray surface is formed at the center of the region surrounded by each block 111. When the semiconductor device is stored in the storage portion 110, the wall surface 111b on the semiconductor device side of each block 111 regulates the movement of the semiconductor device in the horizontal direction. For this reason, the semiconductor device hardly moves in the horizontal direction. Further, the tray 100 can function as a lid for preventing the semiconductor device stored in the tray 100 from popping out by stacking the empty trays 100 of the same type in a state where the semiconductor device is stored. For example, when inspecting a connection terminal of a semiconductor device, it is necessary to expose a surface on which the connection terminals of the semiconductor device are arranged. In this case, a method is used in which the semiconductor device is transferred to the back side of the tray used as a lid in a state where the front and back sides are reversed by inverting the front and back sides of the tray 100 with the empty trays 100 stacked. There are many. For this reason, it is common to provide a storage portion for storing the semiconductor device also on the back side of the tray 100.

図11は、トレイ100の裏面102を示す図である。また、図12は、トレイ100の裏面側の収納部(図11に破線P2で示す領域)の構造を拡大して示す図である。裏面側の収納部120は、通常、上述のように蓋として使用した際に、表面側の収納部110と位置が重なるように配置されている。すなわち、1つのトレイにおいて、裏面側の収納部120は、表面側の収納部110と同軸に位置が重なる状態で形成されている。表側の収納部110と同様に、裏面側の収納部120も、トレイ100の裏面に突設された、平面視において略長方形状の4体のブロック121を備える。各ブロック121は、トレイ100を重ねたときに、表側の各ブロック111と対向する位置にそれぞれ配置されている。各ブロック121の中央部には、さらに上方に突出する突出部121aが形成されている。図12において、網掛けを付した領域が、突出部121aである。各ブロック121により囲まれた領域の中央部には、半導体装置のモールドレジン4で覆われた部分をトレイ裏面102に対して非接触状態とするための凹形状のポケット122が形成されている。収納部120に収納された半導体装置は、各ブロック121の半導体装置側の壁面121bにより、水平方向の移動が規制される。   FIG. 11 is a view showing the back surface 102 of the tray 100. FIG. 12 is an enlarged view showing the structure of the storage portion (the area indicated by the broken line P2 in FIG. 11) on the back side of the tray 100. The storage unit 120 on the back surface side is normally arranged so that the position overlaps with the storage unit 110 on the front surface side when used as a lid as described above. That is, in one tray, the storage unit 120 on the back surface side is formed in a state where the position overlaps coaxially with the storage unit 110 on the front surface side. Similar to the front-side storage unit 110, the back-side storage unit 120 also includes four blocks 121 that are provided on the back surface of the tray 100 and are substantially rectangular in plan view. Each block 121 is arranged at a position facing each block 111 on the front side when the trays 100 are stacked. A protruding portion 121 a that protrudes further upward is formed at the center of each block 121. In FIG. 12, the shaded area is the protrusion 121a. A concave pocket 122 is formed in the central portion of the region surrounded by each block 121 for making the portion covered with the mold resin 4 of the semiconductor device in a non-contact state with respect to the tray back surface 102. The horizontal movement of the semiconductor device stored in the storage unit 120 is restricted by the wall surface 121b of each block 121 on the semiconductor device side.

突出部121aは、トレイ100を重ねたときに、対向する表面側のブロック111に設けられた突出部111aの間に嵌合する。したがって、トレイ100を重ねた状態で表裏を反転させた場合、一方のトレイ100の表面側収納部110から他方のトレイ100の裏面側収納部120に半導体装置をスムーズに受け渡すことができる。同様に、一方のトレイ100の裏面側収納部120から他方のトレイ100の表面側収納部110に半導体装置5をスムーズに受け渡すことができる。   When the trays 100 are stacked, the protrusions 121a are fitted between the protrusions 111a provided on the block 111 on the opposite surface side. Therefore, when the front and back surfaces are reversed with the trays 100 stacked, the semiconductor device can be smoothly transferred from the front surface side storage portion 110 of one tray 100 to the back surface side storage portion 120 of the other tray 100. Similarly, the semiconductor device 5 can be smoothly transferred from the back surface side storage portion 120 of one tray 100 to the front surface side storage portion 110 of the other tray 100.

後掲の特許文献1には、各収納部110、120を構成するブロック111、121の壁面111b、121bが1本の直線をなすようにしたトレイが開示されている。この場合、各ブロック111、121の半導体装置に沿う方向の長さが、図8(b)に示す半導体装置の一辺の長さa(図8参照。)より短く形成されている。このため、収納した半導体装置5の基板3のコーナー部(図8(b)、図8(c)の矢指部Eの部分)が、各ブロック111、121に接することがない。このため、コーナー部Eとブロック111、121の衝突に起因する基板3の破損やブロック111、121の破損が防止される。また、各ブロック111、121の壁面と半導体装置5の側面とは水平面内において線接触となるため、半導体装置の回転方向の移動も規制される。   Patent Document 1 described later discloses a tray in which the walls 111b and 121b of the blocks 111 and 121 constituting the storage units 110 and 120 form one straight line. In this case, the length of each of the blocks 111 and 121 in the direction along the semiconductor device is shorter than the length a (see FIG. 8) of one side of the semiconductor device shown in FIG. For this reason, the corner part (part of the arrow E part of FIG.8 (b), FIG.8 (c)) of the board | substrate 3 of the accommodated semiconductor device 5 does not contact each block 111,121. For this reason, the substrate 3 and the blocks 111 and 121 are prevented from being damaged due to the collision between the corner portion E and the blocks 111 and 121. Further, since the wall surfaces of the blocks 111 and 121 and the side surfaces of the semiconductor device 5 are in line contact in the horizontal plane, movement of the semiconductor device in the rotational direction is also restricted.

また、後掲の特許文献2には、トレイに凹形状のポケット112を設けず、各ブロック111、121の壁面111b、121bに相当する部位から下方に傾斜面を形成したトレイが開示されている。当該トレイでは、傾斜面により、半導体装置の端子が配列された面の外縁部6a(図8(c)参照。)を支持するとともに、傾斜面の傾斜角度を適切に設定することにより、半導体装置の端子とトレイとを非接触状態にしている。
特開2000−318789号公報 特開2000−315723号公報
Further, Patent Document 2 described later discloses a tray in which a concave pocket 112 is not provided in the tray and an inclined surface is formed downward from a portion corresponding to the wall surface 111b or 121b of each block 111 or 121. . In the tray, the inclined surface supports the outer edge portion 6a (see FIG. 8C) of the surface on which the terminals of the semiconductor device are arranged, and the inclination angle of the inclined surface is appropriately set, whereby the semiconductor device The terminal and the tray are in a non-contact state.
JP 2000-318789 A JP 2000-315723 A

しかしながら、上述した従来のトレイ100は、半導体装置の端子とトレイ100とを非接触状態にするため、収納部110中央部の凹形状のポケット112で半導体装置の基板3の外周全体を支持している。したがって、接続用端子とトレイ100とは非接触状態であるが、基板3の端部下面がトレイ100と接触している。このため、トレイ100は、パッケージ2のコーナー部Eとも接することになり、コーナー部Eは、完全な非接触状態とはならない。   However, the above-described conventional tray 100 supports the entire outer periphery of the substrate 3 of the semiconductor device with the concave pocket 112 at the center of the storage portion 110 in order to bring the terminals of the semiconductor device and the tray 100 into a non-contact state. Yes. Therefore, the connection terminal and the tray 100 are not in contact with each other, but the lower surface of the end portion of the substrate 3 is in contact with the tray 100. For this reason, the tray 100 comes into contact with the corner portion E of the package 2, and the corner portion E is not in a completely non-contact state.

また、傾斜面を用いたトレイでは、トレイの設計が複雑になる上、半導体装置が常に水平に支持されるとは限らない。すなわち、半導体装置の収納性および安定性に課題がある。特許文献2では、裏面側収納部のコーナー部にブロックを設け、半導体装置が水平に支持されるように、半導体装置の位置を規制するようにしている。したがって、本形態においても、半導体装置のコーナー部Eは、完全な非接触状態とならない。   In addition, in a tray using an inclined surface, the design of the tray is complicated, and the semiconductor device is not always supported horizontally. That is, there is a problem in the storage property and stability of the semiconductor device. In Patent Document 2, a block is provided at a corner portion of the back-side storage unit, and the position of the semiconductor device is regulated so that the semiconductor device is supported horizontally. Therefore, also in this embodiment, the corner portion E of the semiconductor device is not in a completely non-contact state.

すなわち、上記従来構造のトレイでは、パッケージ2のコーナー部EがBGA5を支持する支持部113(図10参照)または支持部123(図12参照)に接触する。そのため、BGA5を収納した状態でトレイを搬送したときの軽微な衝撃により、モールドレジン4に覆われていない比較的強度が弱い基板3のコーナー部に、上下振動による変形応力が発生する。この変形応力が基板3の配線端子部と半田ボールとが剥がされる方向の作用となり、半導体装置の接続用端子が破損するという問題があった。   That is, in the tray having the conventional structure, the corner portion E of the package 2 contacts the support portion 113 (see FIG. 10) or the support portion 123 (see FIG. 12) that supports the BGA 5. Therefore, deformation stress due to vertical vibration is generated in the corner portion of the substrate 3 that is not covered with the mold resin 4 and is relatively weak in strength due to a slight impact when the tray is transported in a state where the BGA 5 is stored. This deformation stress has an effect in a direction in which the wiring terminal portion of the substrate 3 and the solder ball are peeled off, and there is a problem that the connection terminal of the semiconductor device is damaged.

本発明は、上記従来の事情を鑑みて提案されたものであって、半導体装置のコーナー部とトレイとの接触に起因する、半導体装置の接続用端子の破損を防止することができ、また、量産性に優れた半導体集積回路装置用トレイおよび当該トレイを使用した半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed in view of the above-described conventional circumstances, and can prevent damage to the connection terminal of the semiconductor device due to contact between the corner portion of the semiconductor device and the tray. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit device tray excellent in mass productivity and a method for manufacturing a semiconductor device using the tray.

上記課題を解決するために、本発明は以下の技術的手段を採用している。まず、本発明は、方形の基板と、当該基板の一方面に規則的に配列され、当該一方面から突出する複数の端子を有する半導体集積回路装置を、前記端子を下向きにして1つずつ収納する第1の収納部を表面側に複数有するとともに、裏面側を上向きにした場合、半導体集積回路装置を上下反転した状態で1つずつ収納する第2の収納部を裏面側に複数有する半導体集積回路装置用トレイを前提としている。そして、本発明に係る半導体集積回路装置用トレイは、上記第1の収納部が、上記トレイの表面側にトレイ表面から突出して形成され、平面視において、上記基板の1辺の長さより短い辺を有する方形状の複数のブロックを備える。当該複数のブロックで囲まれた領域が、トレイ表面側の半導体集積回路装置の設置部である。当該複数のブロックの設置部側には、半導体集積回路装置を設置したときに、上記基板のコーナー部を除く外縁部を下方から支持する支持面と、上記基板の水平方向の移動を規制する規制面とを有するステップ部が形成されている。また、上記第2の収納部が、トレイの裏面側にトレイ裏面から突出して形成され、平面視において、上記基板の1辺の長さより短い辺を有する方形状の複数のブロックを備える。当該複数のブロックで囲まれた領域が、トレイ裏面側の半導体集積回路装置の設置部である。当該複数のブロックの設置部側には、裏面側を上向きにして半導体集積回路装置を設置したときに、上記基板のコーナー部を除く外縁部を下方から支持する支持面と、上記基板の水平方向の移動を規制する規制面とを有するステップ部が形成されている。   In order to solve the above problems, the present invention employs the following technical means. First, according to the present invention, a semiconductor integrated circuit device having a rectangular substrate and a plurality of terminals regularly arranged on one surface of the substrate and protruding from the one surface is stored one by one with the terminals facing downward. A plurality of first storage portions on the front surface side, and a semiconductor integrated circuit having a plurality of second storage portions on the back surface side for storing the semiconductor integrated circuit devices one by one in a state where the semiconductor integrated circuit device is turned upside down. The circuit device tray is assumed. In the tray for a semiconductor integrated circuit device according to the present invention, the first storage portion is formed on the surface side of the tray so as to protrude from the surface of the tray, and has a side shorter than the length of one side of the substrate in plan view. A plurality of rectangular blocks having A region surrounded by the plurality of blocks is an installation portion of the semiconductor integrated circuit device on the tray surface side. When the semiconductor integrated circuit device is installed on the side where the plurality of blocks are installed, a support surface that supports the outer edge portion excluding the corner portion of the substrate from below, and a regulation that regulates horizontal movement of the substrate A step portion having a surface is formed. The second storage portion includes a plurality of rectangular blocks that are formed on the back surface side of the tray so as to protrude from the back surface of the tray and have sides shorter than one side of the substrate in plan view. A region surrounded by the plurality of blocks is an installation portion of the semiconductor integrated circuit device on the back side of the tray. On the side where the plurality of blocks are installed, when the semiconductor integrated circuit device is installed with the back side facing upward, a support surface that supports the outer edge portion excluding the corner portion of the substrate from below, and the horizontal direction of the substrate The step part which has the control surface which controls the movement of is formed.

本構成によれば、収納した半導体集積回路装置は、ステップ部以外の部分ではトレイと接することがない。このため、収納した半導体装置、特に、鉛フリー化された接続用端子を備える半導体装置の接続用端子の損傷を防止することができる。   According to this configuration, the accommodated semiconductor integrated circuit device does not contact the tray at portions other than the step portion. For this reason, it is possible to prevent damage to the connection terminals of the housed semiconductor device, in particular, the semiconductor device including the connection terminal made lead-free.

上記第1および第2の収納部の各ブロックの数は、例えば、1つの収納部に対して4個とし、当該4個のブロックの各ステップ部が、上記基板の4辺に対応して配置する構成を採用することができる。   The number of each block of the first and second storage units is, for example, four for one storage unit, and each step unit of the four blocks is arranged corresponding to the four sides of the substrate. It is possible to adopt a configuration to

また、上記第1の収納部のブロックに形成された支持面の、トレイ表面からの高さは、半導体集積回路装置の端子の、上記基板からの突出量よりも大きくすることができる。同様に、上記第2の収納部のブロックに形成された支持面の、トレイ裏面からの高さは、半導体集積回路装置の、上記基板の他方面における上記基板からの突出量よりも大きくすることができる。さらに、上記第1の収納部のブロックに形成された支持面の、設置部側端部から規制面側端部までの長さは、上記基板端部から最も外側の上記端子までの最短距離よりも小さくすることができる。   The height of the support surface formed on the block of the first storage unit from the tray surface can be made larger than the protruding amount of the terminal of the semiconductor integrated circuit device from the substrate. Similarly, the height of the support surface formed on the block of the second storage unit from the back surface of the tray is larger than the protruding amount of the semiconductor integrated circuit device from the substrate on the other surface of the substrate. Can do. Furthermore, the length of the support surface formed on the block of the first storage unit from the end on the installation unit side to the end on the regulation surface side is shorter than the shortest distance from the substrate end to the outermost terminal. Can also be reduced.

上述の半導体集積回路用トレイに半導体集積回路装置を収納して、半導体集積回路装置を運搬する工程を含む半導体装置の製造方法においては、半導体集積回路装置の端子が鉛を実質的に含有しない場合に、特に好適である。また、半導体集積回路装置の端子は、ボール端子やピン端子である場合に特に好適である。   In the method of manufacturing a semiconductor device including the step of storing the semiconductor integrated circuit device in the above-described semiconductor integrated circuit tray and transporting the semiconductor integrated circuit device, the terminal of the semiconductor integrated circuit device does not substantially contain lead Particularly suitable. Further, the terminal of the semiconductor integrated circuit device is particularly suitable when it is a ball terminal or a pin terminal.

本発明によれば、半導体装置のコーナー部とトレイとが全く接する部分がない状態で、半導体装置を収納することができる。この結果、収納した半導体装置、特に、鉛フリー化がなされた接続用端子を備える半導体装置を収容する場合に、接続用端子の離脱等の損傷の発生を防止することができる。   According to the present invention, the semiconductor device can be stored in a state where there is no portion where the corner portion of the semiconductor device and the tray are in contact with each other. As a result, when a stored semiconductor device, in particular, a semiconductor device including a connection terminal that has been made lead-free, can be prevented from being damaged such as detachment of the connection terminal.

また、本発明に係る半導体集積回路装置用トレイは、収納部がステップ部を有するブロックにより構成されており、従来のトレイのように、トレイ表面にポケットを形成する必要がない。このため、従来に比べて、成形や切削加工等の製造方法に拘らず、容易に製造することができる。   In addition, the tray for a semiconductor integrated circuit device according to the present invention is configured by a block having a storage portion having a step portion, and there is no need to form a pocket on the surface of the tray unlike a conventional tray. For this reason, compared with the past, it can manufacture easily irrespective of manufacturing methods, such as shaping | molding and cutting.

以下、本発明に係る半導体集積回路用トレイの一実施形態を図面を参照しながら詳細に説明する。以下の実施形態では、図8に示したようなBGAを収納する半導体集積回路装置用トレイにより本発明を具体化している。なお、以下では、トレイの通常の使用状態、すなわちトレイを水平においた状態を基準状態として、鉛直上方向を上と表現し、鉛直下方向を下と表現する。また、本実施形態のトレイは、従来のトレイ100と同様に、複数の同型のトレイを積み重ねて使用するものであり、半導体装置を収納した状態で空のトレイを重ねることにより、上方に重ねたトレイが蓋として機能する。   Hereinafter, an embodiment of a tray for a semiconductor integrated circuit according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following embodiments, the present invention is embodied by a tray for a semiconductor integrated circuit device that houses a BGA as shown in FIG. In the following description, the normal use state of the tray, that is, the state in which the tray is placed horizontally, is referred to as a reference state, and the vertical upward direction is expressed as up and the vertical downward direction is expressed as down. In addition, the tray of this embodiment is used by stacking a plurality of trays of the same type, like the conventional tray 100, and is stacked upward by stacking empty trays in a state where semiconductor devices are stored. The tray functions as a lid.

図1は、本実施形態のトレイの全体構成を示す平面図である。図1に示すように本実施形態のトレイ10は、略長方形のプレート形状を有する。トレイ10の表面11には、BGA5を収納する複数の収納部(第1の収納部)12が配列されている。各収納部12は、トレイ10の長手方向(長辺)および短手方向(短辺)に沿って一定のピッチで配列されている。図1の例では、14個の収納部12が配列されおり、1つのトレイ10に14個のBGA5を収納することができる。なお、表面側の収納部12は、BGA5の端子を下方に向けた状態でBGA5を収納する。   FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of the tray of this embodiment. As shown in FIG. 1, the tray 10 of this embodiment has a substantially rectangular plate shape. On the front surface 11 of the tray 10, a plurality of storage portions (first storage portions) 12 that store the BGA 5 are arranged. The storage units 12 are arranged at a constant pitch along the longitudinal direction (long side) and the short direction (short side) of the tray 10. In the example of FIG. 1, 14 storage units 12 are arranged, and 14 BGAs 5 can be stored in one tray 10. The front-side storage unit 12 stores the BGA 5 with the terminals of the BGA 5 facing downward.

図2は、1つの収納部12を含む領域(図1に破線Q1で示す領域)を拡大して示す平面図である。また、図3は、図2に示すA−Aにおける断面図である。図2および図3に示すように、各収納部12は、トレイ10の表面11に、平面視において略長方形状の4体のブロック14(14a、14b)を備える。各ブロック14は、BGA5の外周を構成する各辺(基板3の各辺)に対応して配置されている。すなわち、各収納部12は、一定の間隔をおいて互いに平行に対向配置された1対のブロック14aと、一定の間隔をおいて互いに平行に対向配置された1対のブロック14bとを備える。本実施形態では、ブロック14aの長辺がトレイ10の短辺と平行に配置されており、ブロック14bの長辺がトレイ10の長辺と平行に配置されている。したがって、1対のブロック14aと、1対のブロック14bとは互いに直交する方向に配置されている。なお、図2において、4体のブロック14により囲まれた領域がBGA5の設置部になる。また、収納部12に、BGA5を収納した状態において、基板3の各辺の中央部に、各ブロック14の中心が正対するように、各ブロック14が配置されている。なお、以下では、1対のブロック14a、14bのそれぞれに属する部位に、適宜、対応する符号(aまたはb)を付して説明する。   FIG. 2 is an enlarged plan view showing a region including one storage portion 12 (region indicated by a broken line Q1 in FIG. 1). 3 is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. As shown in FIGS. 2 and 3, each storage unit 12 includes four blocks 14 (14 a, 14 b) that are substantially rectangular in a plan view on the surface 11 of the tray 10. Each block 14 is arranged corresponding to each side (each side of the substrate 3) constituting the outer periphery of the BGA 5. That is, each storage unit 12 includes a pair of blocks 14a that are arranged to face each other in parallel with a certain interval, and a pair of blocks 14b that are arranged to face each other in parallel with a certain interval. In the present embodiment, the long side of the block 14 a is arranged in parallel with the short side of the tray 10, and the long side of the block 14 b is arranged in parallel with the long side of the tray 10. Accordingly, the pair of blocks 14a and the pair of blocks 14b are arranged in directions orthogonal to each other. In FIG. 2, an area surrounded by the four blocks 14 is an installation portion of the BGA 5. Each block 14 is arranged so that the center of each block 14 faces the center of each side of the substrate 3 in a state where the BGA 5 is stored in the storage unit 12. In the following description, portions corresponding to each of the pair of blocks 14a and 14b will be described with appropriate reference numerals (a or b).

各ブロック14の設置部側には、それぞれステップ部が形成されている。各ステップ部は、トレイ10の表面11に略平行な支持面17(17a、17b)と、当該支持面17から略垂直に立ち上がる規制面16(16a、16b)とにより構成されている。支持面17は、表面11を上向きにしたトレイ状態で、BGA5を下方から支持する。すなわち、基板3の接続用端子が配列された端子配列面6の外縁部6a(図8(c)参照。)を支持する。ここで、外縁部6aとは、最も外側に配置されているボール端子1よりも外側に位置するパッケージ2(基板3)の外縁領域を指す。また、規制面16は、BGA5の水平方向の移動を規制する。なお、以下では、各ブロック14の支持面17の設置部側の端部を構成する壁面を壁面18(18a、18b)という。   A step portion is formed on each block 14 on the installation portion side. Each step portion is constituted by a support surface 17 (17a, 17b) substantially parallel to the surface 11 of the tray 10 and a regulation surface 16 (16a, 16b) rising substantially perpendicularly from the support surface 17. The support surface 17 supports the BGA 5 from below in a tray state with the surface 11 facing upward. That is, the outer edge portion 6a (see FIG. 8C) of the terminal arrangement surface 6 on which the connection terminals of the substrate 3 are arranged is supported. Here, the outer edge portion 6a refers to an outer edge region of the package 2 (substrate 3) located outside the ball terminal 1 disposed on the outermost side. Further, the restriction surface 16 restricts the movement of the BGA 5 in the horizontal direction. In the following description, the wall surface constituting the end of the support surface 17 of each block 14 on the installation portion side is referred to as a wall surface 18 (18a, 18b).

また、本実施形態では、各ブロック14は突出部15(15a、15b)を備える。突出部15は、各ブロック14において、収納部12に収納されるBGA5に沿う方向の両端に形成されている。図2において、網掛けを付した領域が突出部15である。図3に示すように、突出部15は、突出部15の先端に向かうほど、規制面16に垂直な方向の幅が狭くなる形状を有している。すなわち、突出部15の配置部側の側面が、突出部15の先端に向かうにつれて、配置部と反対方向に傾斜している。このため、突出部15の配置部側の側面は、収納部12にBGA5を収納する際に、BGA5を配置部に案内するガイドの機能も有している。   Moreover, in this embodiment, each block 14 is provided with the protrusion part 15 (15a, 15b). The protrusions 15 are formed at both ends of each block 14 in the direction along the BGA 5 stored in the storage unit 12. In FIG. 2, the shaded area is the protrusion 15. As shown in FIG. 3, the protrusion 15 has a shape in which the width in the direction perpendicular to the restriction surface 16 becomes narrower toward the tip of the protrusion 15. That is, the side surface of the protruding portion 15 on the arrangement portion side is inclined in the direction opposite to the arrangement portion as it goes toward the tip of the protruding portion 15. For this reason, the side surface of the projecting portion 15 on the arrangement portion side also has a function of a guide for guiding the BGA 5 to the arrangement portion when the BGA 5 is accommodated in the accommodation portion 12.

本実施形態では、平面形状が正方形のパッケージ2を有するBGA5を収納する。このため、ブロック14a、14bは同一形状であり、1対のブロック14a間の距離と、1対のブロック14b間の距離とが同一になっている。すなわち、各ブロック14のBGA5に沿う方向の長さは全て同一(長さK1)になっている。また、互いに対向する壁面18a間の距離と、互いに対向する壁面18b間の距離とが同一(長さK2)になっている。さらに、互いに対向する規制面16a間の距離と、互いに対向する規制面16b間の距離とが同一(長さK3)になっている。   In this embodiment, the BGA 5 having the package 2 having a square planar shape is accommodated. Therefore, the blocks 14a and 14b have the same shape, and the distance between the pair of blocks 14a and the distance between the pair of blocks 14b are the same. That is, the lengths of the blocks 14 in the direction along the BGA 5 are all the same (length K1). Further, the distance between the wall surfaces 18a facing each other and the distance between the wall surfaces 18b facing each other are the same (length K2). Furthermore, the distance between the regulating surfaces 16a facing each other and the distance between the regulating surfaces 16b facing each other are the same (length K3).

ここで、各ブロック14のBGA5に沿う方向の長さK1は、BGA5の一辺の長さa(図8(b)参照。)よりも短くなっている。本実施形態では、特に、モールドレジン4の長さL(図8(b)参照。)より短くしている。また、互いに対向する壁面18a間の距離K2は、BGA5の一辺の長さaよりも短く、かつ、ボール端子1群形成領域の1辺の長さc(図8(a)参照。)よりも大きくなっている。さらに、互いに対向する規制面16間の距離K3は、BGA5一辺の長さaよりも僅かに大きくなっている。   Here, the length K1 of each block 14 in the direction along the BGA 5 is shorter than the length a of one side of the BGA 5 (see FIG. 8B). In the present embodiment, in particular, the length is shorter than the length L of the mold resin 4 (see FIG. 8B). The distance K2 between the wall surfaces 18a facing each other is shorter than the length a of one side of the BGA 5 and is longer than the length c of one side of the ball terminal group 1 formation region (see FIG. 8A). It is getting bigger. Furthermore, the distance K3 between the regulation surfaces 16 facing each other is slightly larger than the length a of one side of the BGA 5.

なお、本実施形態では、支持面17の設置部側端部から規制面16側端部までの長さが、基板3の端部から最も外側の接続用端子までの最短距離よりも小さくするため、長さK2と長さcとの差(K2−c)は、長さK3と長さaとの差(K3−a)よりも大きくなっている。また、壁面18の高さd1(図3参照)は、ボール端子1の基板3からの突出量h1(図8(a)参照。)よりも大きくなっている。なお、平面形状が長方形のパッケージを有するBGAを収納する場合も、当該パッケージの寸法に応じて同様に設計することができる。   In the present embodiment, the length of the support surface 17 from the end on the installation portion side to the end on the regulation surface 16 side is made shorter than the shortest distance from the end of the substrate 3 to the outermost connection terminal. The difference between the length K2 and the length c (K2-c) is larger than the difference between the length K3 and the length a (K3-a). Further, the height d1 of the wall surface 18 (see FIG. 3) is larger than the protruding amount h1 of the ball terminal 1 from the substrate 3 (see FIG. 8A). Note that when a BGA having a package with a rectangular planar shape is accommodated, the design can be similarly made according to the dimensions of the package.

このような構成の収納部12にBGA5を収納した場合、基板3の端子配設面の外縁部6aが、ブロック14の支持面17に支持される。そして、収納部12に収納されたBGA5が水平方向に移動しようとした場合、BGA5の側面の中央部がブロック14の規制面16と接触し、それ以上の移動が規制される。また、BGA5の側面は、規制面16に対して線接触するため、BGA5の回転移動も規制される。   When the BGA 5 is stored in the storage unit 12 having such a configuration, the outer edge portion 6 a of the terminal arrangement surface of the substrate 3 is supported by the support surface 17 of the block 14. And when BGA5 accommodated in the accommodating part 12 tries to move to a horizontal direction, the center part of the side surface of BGA5 will contact the control surface 16 of the block 14, and the further movement is controlled. Further, since the side surface of the BGA 5 is in line contact with the regulating surface 16, the rotational movement of the BGA 5 is also regulated.

本実施形態では、ブロック14のBGA5に沿う方向の長さK1が、BGA5の一辺の長さaよりも短く、基板3の外周を構成する各辺の中央部のみに対応して配置されている。このため、BGA5のコーナー部Eはブロック14およびトレイ10の他の部位に接することはない。   In the present embodiment, the length K1 of the block 14 in the direction along the BGA 5 is shorter than the length a of one side of the BGA 5 and is arranged corresponding to only the central part of each side constituting the outer periphery of the substrate 3. . For this reason, the corner portion E of the BGA 5 does not contact the block 14 and other portions of the tray 10.

また、ブロック14の規制面16間の長さK3とBGA5の一辺の長さaとの差は、ブロック14の壁面18間の長さK2とボール端子1群形成領域の一辺の長さcとの差よりも小さい。このため、収納部12に収納したBGA5が規制面16に接しても、ボール端子1がブロック14の壁面18に接することがない。したがって、収納部12の中央部のトレイ表面に従来のポケット112(図10参照。)を形成することなく、ボール端子1とトレイ10の表面11とを非接触状態にすることができる。   Further, the difference between the length K3 between the regulating surfaces 16 of the block 14 and the length a of one side of the BGA 5 is the length K2 between the wall surfaces 18 of the block 14 and the length c of one side of the ball terminal 1 group forming region. Smaller than the difference. For this reason, even if the BGA 5 stored in the storage portion 12 contacts the regulation surface 16, the ball terminal 1 does not contact the wall surface 18 of the block 14. Therefore, the ball terminal 1 and the surface 11 of the tray 10 can be brought into a non-contact state without forming the conventional pocket 112 (see FIG. 10) on the tray surface at the center of the storage portion 12.

一方、トレイ10の裏面には、表面側の収納部12と同数の収納部22が形成されている。図4は、トレイの裏面を上向きにした状態のトレイ10の構成を示す平面図である。トレイ10の裏面21の収納部22は、表面11側の収納部12と同軸に重なる状態で、トレイ10の長辺および短辺に沿って、表面側の収容部12と同一のピッチ、および同一の向きに配列されている。図4の例では、表面側の14個の収納部12に対応する、14個の収納部22が配列されており、1つのトレイ10に14個のBGA5を収納することができる。なお、裏面側の収納部22は、BGA5の端子を上方に向けた状態で、BGA5を収納する。   On the other hand, the same number of storage units 22 as the front-side storage units 12 are formed on the rear surface of the tray 10. FIG. 4 is a plan view showing the configuration of the tray 10 in a state in which the back surface of the tray faces upward. The storage portion 22 on the back surface 21 of the tray 10 is coaxially overlapped with the storage portion 12 on the front surface 11 side, and has the same pitch and the same pitch as the front surface side storage portion 12 along the long side and the short side of the tray 10. It is arranged in the direction. In the example of FIG. 4, 14 storage portions 22 corresponding to the 14 storage portions 12 on the front surface side are arranged, and 14 BGAs 5 can be stored in one tray 10. The storage unit 22 on the back side stores the BGA 5 with the terminals of the BGA 5 facing upward.

図5は、1つの収納部22を含む領域(図4に破線Q2で示す領域)を拡大して示す平面図である。また、図6は、図5に示すB−Bにおける断面図である。なお、図1に破線Q1で示す領域と、図4に破線Q2で示す領域とは、トレイ10において、表裏の関係にある。   FIG. 5 is an enlarged plan view showing a region including one storage portion 22 (region indicated by a broken line Q2 in FIG. 4). 6 is a cross-sectional view taken along line BB shown in FIG. Note that the area indicated by the broken line Q1 in FIG. 1 and the area indicated by the broken line Q2 in FIG.

図5および図6に示すように、各収納部22は、表面側収納部12と同様に、トレイ10の裏面21に、平面視において略長方形状の4体のブロック24(24a、24b)を備える。各ブロック24は、BGA5の外周を構成する各辺に対応して配置されている。すなわち、各収納部22は、一定の間隔をおいて互いに平行に対向配置された1対のブロック24aと、一定の間隔をおいて互いに平行に対向配置された1対のブロック24bとを備える。本実施形態では、ブロック24aの長辺がトレイ10の短辺と平行に配置されており、ブロック24bの長辺がトレイ10の長辺と平行に配置されている。したがって、1対のブロック24aと、1対のブロック24bとは互いに直交する方向に配置されている。なお、図5において、4体のブロック24により囲まれた領域がBGA5の設置部になる。また、収納部22に、BGA5を収納した状態において、基板3の各辺の中央部に、各ブロック24の中心が正対するように、各ブロック24が配置されている。なお、以下では、1対のブロック24a、24bのそれぞれに属する部位に、適宜、対応する符号(aまたはb)を付して説明する。   As shown in FIGS. 5 and 6, each storage unit 22 has four blocks 24 (24 a and 24 b) that are substantially rectangular in a plan view on the back surface 21 of the tray 10, similarly to the front side storage unit 12. Prepare. Each block 24 is arranged corresponding to each side constituting the outer periphery of the BGA 5. That is, each storage unit 22 includes a pair of blocks 24a arranged in parallel with each other at a constant interval and a pair of blocks 24b arranged in parallel with each other at a constant interval. In the present embodiment, the long side of the block 24 a is arranged in parallel with the short side of the tray 10, and the long side of the block 24 b is arranged in parallel with the long side of the tray 10. Therefore, the pair of blocks 24a and the pair of blocks 24b are arranged in directions orthogonal to each other. In FIG. 5, the area surrounded by the four blocks 24 is an installation part of the BGA 5. Further, each block 24 is arranged so that the center of each block 24 faces the center of each side of the substrate 3 in a state where the BGA 5 is stored in the storage unit 22. In the following description, portions corresponding to each of the pair of blocks 24a and 24b will be described with appropriate reference numerals (a or b).

各ブロック24の設置部側には、それぞれステップ部が形成されている。各ステップ部は、トレイ10の裏面21に略平行な支持面27(27a、27b)と、当該支持面17から立ち上がる規制面26(26a、26b)とにより構成されている。支持面27は、裏面21を上向きにしたトレイ状態で、BGA5を下方から支持する。すなわち、基板3のモールドレジン4が設けられたモールド配置面7の外縁部7a(図8(b)参照。)を支持する。また、規制面26は、基板3の水平方向の移動を規制する。なお、以下では、各ブロック24の支持面27の設置部側端部を構成する壁面を壁面28(28a、28b)という。   A step portion is formed on each block 24 on the installation portion side. Each step portion is constituted by a support surface 27 (27a, 27b) substantially parallel to the back surface 21 of the tray 10 and a regulation surface 26 (26a, 26b) rising from the support surface 17. The support surface 27 supports the BGA 5 from below in a tray state with the back surface 21 facing upward. That is, the outer edge part 7a (refer FIG.8 (b)) of the mold arrangement | positioning surface 7 with which the mold resin 4 of the board | substrate 3 was provided is supported. Further, the regulation surface 26 regulates the movement of the substrate 3 in the horizontal direction. In the following, the wall surface that constitutes the installation portion side end of the support surface 27 of each block 24 is referred to as a wall surface 28 (28a, 28b).

また、本実施形態では、各ブロック24は突出部25(25a、25b)を備える。突出部25は、各ブロック24において、収納部22に収納されるBGA5に沿う方向の中央部に形成されている。図5において、網掛けを付した領域が突出部25である。図5に破線で示すように、突出部25は、トレイ10を重ねたときに、対向する表面側のブロック14に設けられた突出部15の間に嵌合するようになっている。また、図6に示すように、突出部25は、突出部25の先端に向かうほど、平面視において規制面26に垂直な方向の幅が細くなる形状を有している。すなわち、突出部25の配置部側の側面が、突出部25の先端に向かうにつれて、配置部と反対方向に傾斜している。このため、突出部25の配置部側の側面は、収納部22にBGA5を収納する際に、BGA5を配置部に案内するガイドの機能も有している。なお、本実施形態では、表面側の突出部15とは異なり、突出部25の側面が、規制面26になっている。   Moreover, in this embodiment, each block 24 is provided with the protrusion part 25 (25a, 25b). The protruding portion 25 is formed in the central portion of each block 24 in the direction along the BGA 5 stored in the storage portion 22. In FIG. 5, the shaded area is the protrusion 25. As shown by a broken line in FIG. 5, the protrusions 25 are fitted between the protrusions 15 provided on the block 14 on the opposite surface side when the trays 10 are stacked. Further, as shown in FIG. 6, the protruding portion 25 has a shape in which the width in the direction perpendicular to the restriction surface 26 in a plan view becomes narrower toward the tip of the protruding portion 25. That is, the side surface of the protruding portion 25 on the arrangement portion side is inclined in the direction opposite to the arrangement portion as it goes toward the tip of the protruding portion 25. For this reason, the side surface of the projecting portion 25 on the arrangement portion side also has a function of a guide for guiding the BGA 5 to the arrangement portion when the BGA 5 is accommodated in the accommodation portion 22. In the present embodiment, unlike the protruding portion 15 on the front surface side, the side surface of the protruding portion 25 is the restricting surface 26.

上述のように、本実施形態では、平面形状が正方形のパッケージ2を有するBGA5を収納する。また、本実施形態では、モールドレジン4は、水平断面形状も略正方形となっている。このため、ブロック24a、24bは同一形状であり、1対のブロック24a間の距離と、1対のブロック24b間の距離とが同一になっている。すなわち、各ブロック24のBGA5に沿う方向の長さは全て同一(長さK4)になっている。また、互いに対向する壁面28a間の距離と、互いに対向する壁面28b間の距離とが同一(長さK5)になっている。さらに、互いに対向する規制面26a間の距離と、互いに対向する規制面26b間の距離とが同一(長さK6)になっている。   As described above, in this embodiment, the BGA 5 having the package 2 having a square planar shape is accommodated. In this embodiment, the mold resin 4 also has a substantially square horizontal cross section. Therefore, the blocks 24a and 24b have the same shape, and the distance between the pair of blocks 24a and the distance between the pair of blocks 24b are the same. That is, the lengths of the blocks 24 in the direction along the BGA 5 are all the same (length K4). Further, the distance between the wall surfaces 28a facing each other and the distance between the wall surfaces 28b facing each other are the same (length K5). Furthermore, the distance between the restricting surfaces 26a facing each other and the distance between the restricting surfaces 26b facing each other are the same (length K6).

ここで、各ブロック24のBGA5に沿う方向の長さK4は、BGA5の一辺の長さa(図8(b)参照。)よりも短くなっている。また、本実施形態では、長さK4は、表面側の各ブロック14のBGA5に沿う方向の長さK1と同一になっている。また、互いに対向する壁面28間の距離K5は、BGA5の一辺の長さaよりも短くなっている。さらに、互いに対向する規制面26間の距離K6は、BGA5の一辺の長さaよりも僅かに大きくなっている。   Here, the length K4 of each block 24 in the direction along the BGA 5 is shorter than the length a of one side of the BGA 5 (see FIG. 8B). In the present embodiment, the length K4 is the same as the length K1 in the direction along the BGA 5 of each block 14 on the surface side. Further, the distance K5 between the wall surfaces 28 facing each other is shorter than the length a of one side of the BGA 5. Furthermore, the distance K6 between the restricting surfaces 26 facing each other is slightly larger than the length a of one side of the BGA 5.

また、壁面28の高さd2(図6参照)は、モールドレジン4の基板3からの突出量h2(図8(a)参照。)よりも大きくなっている。なお、平面形状が長方形のパッケージを有するBGAを収納する場合も、当該パッケージの寸法に応じて同様に設計することができる。   Further, the height d2 (see FIG. 6) of the wall surface 28 is larger than the protruding amount h2 of the mold resin 4 from the substrate 3 (see FIG. 8A). Note that when a BGA having a package with a rectangular planar shape is accommodated, the design can be similarly made according to the dimensions of the package.

このような構成の収納部22にBGA5を、トレイ10の裏面21を上向きにした状態で、ボール端子1を上向きにして収納した場合、基板3のモールド配置面7の外縁部7aが、ブロック24の支持面27に支持される。そして、収納部22に収納されたBGA5が搬送中などに水平方向に移動しようとした場合、BGA5の側面の中央部がブロック24の規制面26と接触し、それ以上の移動が規制される。また、BGA5の側面は、規制面26に対して線接触するため、BGA5の回転移動も規制される。   When the BGA 5 is stored in the storage unit 22 having such a configuration with the ball terminal 1 facing upward with the back surface 21 of the tray 10 facing upward, the outer edge portion 7a of the mold placement surface 7 of the substrate 3 becomes the block 24. The support surface 27 is supported. When the BGA 5 stored in the storage unit 22 attempts to move in the horizontal direction during transportation or the like, the central portion of the side surface of the BGA 5 comes into contact with the restriction surface 26 of the block 24 and further movement is restricted. Further, since the side surface of the BGA 5 is in line contact with the regulating surface 26, the rotational movement of the BGA 5 is also regulated.

本実施形態では、ブロック24のBGA5に沿う方向の長さK4が、BGA5の一辺の長さaよりも短く、基板3の外周を構成する各辺の中央部のみに対応して配置されている。このため、BGA5のコーナー部Eはブロック24およびトレイ10の他の部位に接することはない。また、収納部22の中央部のトレイ表面に従来のポケット122(図12参照。)を形成することなく、モールドレジン4とトレイ10の裏面21とを非接触状態にすることができる。   In the present embodiment, the length K4 of the block 24 in the direction along the BGA 5 is shorter than the length a of one side of the BGA 5 and is arranged corresponding to only the central part of each side constituting the outer periphery of the substrate 3. . For this reason, the corner portion E of the BGA 5 does not contact the block 24 and other portions of the tray 10. Further, the mold resin 4 and the back surface 21 of the tray 10 can be brought into a non-contact state without forming the conventional pocket 122 (see FIG. 12) on the tray surface at the center of the storage portion 22.

図7は、以上の構成を有するトレイ10を重ね合わせた状態を示す部分断面図である。図7では、表面側のブロック14の突出部15と、裏面側のブロック22の突出部25とが嵌合する状態で、2つのトレイ10が重ねられている。重ね合わせるトレイ10間の位置合わせは、両者間の位置合わせを行う公知の位置決め手段を備えることにより容易に実現することができる。図7の例では、トレイ10の表面側の外縁31が、トレイ10の裏面側の外縁32と嵌合する構成を採用している。ここでは、裏面側外縁32のトレイ内方側の側面が垂直面で構成され、表面側外縁31のトレイ外方側の側面が先端に向かってトレイ内方側に傾斜する傾斜面により構成されている。このため、両トレイ10の外縁が重なるようにして、下側のトレイ10に上側のトレイ10を重ねるだけで、正確に位置合わせを行うことができる。   FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing a state in which the trays 10 having the above configuration are overlapped. In FIG. 7, the two trays 10 are stacked in a state in which the protruding portion 15 of the block 14 on the front surface side and the protruding portion 25 of the block 22 on the back surface side are fitted. The alignment between the trays 10 to be overlapped can be easily realized by providing a known positioning means for aligning the two. In the example of FIG. 7, the outer edge 31 on the front surface side of the tray 10 is fitted with the outer edge 32 on the rear surface side of the tray 10. Here, the side surface on the inner side of the tray of the rear surface side outer edge 32 is configured by a vertical surface, and the side surface of the outer surface side of the front surface side outer edge 31 is configured by an inclined surface that is inclined toward the inner side of the tray toward the tip. Yes. For this reason, alignment can be accurately performed only by stacking the upper tray 10 on the lower tray 10 so that the outer edges of both trays 10 overlap.

図7に示すように、本実施形態のトレイ10は、下側のトレイ10の各表面側収納部12と上側のトレイ10の対応する裏面側収納部22との間で1個のBGA5を収納することができる。このように、本実施形態のトレイ10では、重ね合わせた場合であっても、半導体装置は、パッケージ2の外周を構成する各辺の中央部のみがトレイ10と接する。すなわち、パッケージ2のコーナー部Eは、トレイ10と非接触状態にある。したがって、収納した半導体装置の保護、特に近年採用されるようになった鉛フリー化がなされた接続用端子を有する半導体装置の、接続用端子の損傷を防止することができる。   As shown in FIG. 7, the tray 10 of this embodiment stores one BGA 5 between each front surface side storage portion 12 of the lower tray 10 and the corresponding back surface side storage portion 22 of the upper tray 10. can do. As described above, in the tray 10 according to the present embodiment, even in the case where they are overlapped, only the central portion of each side constituting the outer periphery of the package 2 is in contact with the tray 10 in the semiconductor device. That is, the corner portion E of the package 2 is not in contact with the tray 10. Therefore, it is possible to prevent damage to the connection terminal of the semiconductor device having the connection terminal which has been protected for protection of the housed semiconductor device, and in particular has been made lead-free.

以上説明したように、本発明によれば、半導体装置のコーナー部とトレイとが全く接する部分がない状態で、半導体装置を収納することができる。この結果、収納した半導体装置、特に、鉛フリー化がなされた接続用端子を備える半導体装置において、接続用端子の離脱等の損傷の発生を防止することができる。   As described above, according to the present invention, the semiconductor device can be accommodated in a state where there is no portion where the corner portion of the semiconductor device and the tray are in contact with each other. As a result, it is possible to prevent damage such as detachment of the connection terminal in the housed semiconductor device, in particular, the semiconductor device including the connection terminal made lead-free.

また、本発明に係る半導体集積回路装置用トレイは、収納部がステップ部を有するブロックにより構成されており、従来のトレイのように、トレイ表面にポケットを形成する必要がない。このため、従来に比べて、容易に製造することができる。   In addition, the tray for a semiconductor integrated circuit device according to the present invention is configured by a block having a storage portion having a step portion, and there is no need to form a pocket on the surface of the tray unlike a conventional tray. For this reason, it can manufacture easily compared with the past.

なお、トレイ10は、成形や切削加工等の製造方法に拘らず、製造することができる。また、トレイ10は、製造が容易、かつ軽量とするため、耐熱性のある合成樹脂により一体成型されることが好ましい。さらに、収納された半導体装置の静電破壊を防止するため、トレイ10は導電性を有していることが好ましい。耐熱性のある導電性合成樹脂としては、例えば、炭素粒子、炭素繊維、金属粒子、金属繊維等の導電性充填剤が混入されたポリフェニレンエーテル系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、ポリアクリルスルホン系樹脂またはポリエステル系樹脂等を使用することができる。加えて、第1の収納部(第2の収納部)の底面の中央部分に貫通孔を設けてもよい。これにより、トレイを軽量化することができる。   The tray 10 can be manufactured regardless of a manufacturing method such as molding or cutting. In addition, the tray 10 is preferably formed integrally with a heat-resistant synthetic resin so that the tray 10 is easy to manufacture and lightweight. Furthermore, in order to prevent electrostatic breakdown of the housed semiconductor device, the tray 10 preferably has conductivity. Examples of heat-resistant conductive synthetic resins include polyphenylene ether resins, polyether sulfone resins, and polyetherimide resins mixed with conductive fillers such as carbon particles, carbon fibers, metal particles, and metal fibers. Polyacrylic sulfone resin or polyester resin can be used. In addition, a through hole may be provided in the central portion of the bottom surface of the first storage unit (second storage unit). Thereby, a tray can be reduced in weight.

また、トレイを使用して、BGAやPGA等の半導体装置を運搬する工程を含む半導体装置の製造工程では、本発明のトレイを使用して、半導体装置を搬送することにより、搬送中の半導体装置の破損を防止することができる。当該製造方法は、特に、鉛フリー化がなされた接続用端子を備える半導体装置の製造方法として、特に有効である。   Moreover, in the manufacturing process of a semiconductor device including the step of transporting a semiconductor device such as a BGA or PGA using a tray, the semiconductor device is being transported by transporting the semiconductor device using the tray of the present invention. Can be prevented from being damaged. This manufacturing method is particularly effective as a method for manufacturing a semiconductor device including a connection terminal made lead-free.

なお、本発明は、以上で説明した実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲において、種々の変形および応用が可能である。例えば、上記では、表面側のブロックと裏面側のブロックとにそれぞれ突出部を設け、両者が嵌合する構成としたが、本願において当該突出部は必須の要素ではない。また、上記では、半導体装置の外周を構成する基板の各辺にそれぞれ1つのブロックを配置した構成を説明したが、各辺に配置されるブロックの数は複数でもよい。すなわち、半導体装置のコーナー部と接することのない配置であればブロック数は任意である。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and various modifications and applications are possible without departing from the technical idea of the present invention. For example, in the above description, the protrusions are provided on the front-side block and the back-side block, respectively, and the two are fitted to each other. However, in the present application, the protrusions are not essential elements. In the above description, the configuration in which one block is arranged on each side of the substrate constituting the outer periphery of the semiconductor device has been described. However, a plurality of blocks may be arranged on each side. That is, the number of blocks is arbitrary as long as the arrangement does not contact the corner portion of the semiconductor device.

加えて、上記では、BGAを収納するトレイについて説明したが、本発明は、PGAのほか、パッケージの一方面に接続用端子を有する、いかなる半導体装置を収納するトレイにも適用可能である。   In addition, the tray for storing the BGA has been described above. However, the present invention can be applied to a tray for storing any semiconductor device having a connection terminal on one side of the package in addition to the PGA.

本発明による半導体集積回路装置用トレイは、パーソナルコンピュータのCPU(Central Processing Unit)、DVD(Digital Versatile Disc)やPDP(Plasma Display Panel)の画像処理用にシステム化された多ピンのBGAやPGAパッケージ等の下面に接続用端子を有する半導体装置の搬送や輸送する際のトレイおよび接続用端子の破損を防止できる半導体装置の製造方法として有用である。   The tray for a semiconductor integrated circuit device according to the present invention is a multi-pin BGA or PGA package systemized for image processing of a CPU (Central Processing Unit), DVD (Digital Versatile Disc) or PDP (Plasma Display Panel) of a personal computer. It is useful as a method for manufacturing a semiconductor device that can prevent the tray and the connection terminal from being damaged when the semiconductor device having the connection terminal on the lower surface thereof is transported or transported.

本発明の一実施形態におけるトレイの表面側を示す平面図The top view which shows the surface side of the tray in one Embodiment of this invention 本発明の一実施形態におけるトレイの表面側収納部を示す平面図The top view which shows the surface side storage part of the tray in one Embodiment of this invention 図2に示すA−Aにおける断面図Sectional view in AA shown in FIG. 本発明の一実施形態におけるトレイの裏面側を示す平面図The top view which shows the back surface side of the tray in one Embodiment of this invention 本発明の一実施形態における裏面側収納部を示す平面図The top view which shows the back side storage part in one Embodiment of this invention 図5に示すB−Bにおける断面図Sectional drawing in BB shown in FIG. 本発明の一実施形態におけるトレイを2枚重ねた状態を示す部分断面図The fragmentary sectional view which shows the state which piled up two trays in one Embodiment of this invention BGAを示す図Diagram showing BGA 従来のトレイの表面側を示す平面図Plan view showing the surface side of a conventional tray 従来のトレイの表面側収納部を拡大して示す平面図The top view which expands and shows the surface side storage part of the conventional tray 従来のトレイの裏面側を示す平面図Plan view showing the back side of a conventional tray 従来のトレイの裏面側収納部を拡大して示す平面図The top view which expands and shows the back side storage part of the conventional tray

符号の説明Explanation of symbols

1 ボール端子(接続用端子)
2 パッケージ
3 基板
4 モールドレジン
5 BGA(半導体集積回路装置)
10 トレイ
12 表面側収納部(第1の収納部)
14、14a、14b ブロック
16、16a、16b 規制面
17、17a、17b 支持面
18、18a、18b 壁面
22 裏面側収納部(第2の収納部)
24、24a、24b ブロック
26、26a、26b 規制面
27、27a、27b 支持面
28、18a、28b 壁面
1 Ball terminal (terminal for connection)
2 Package 3 Substrate 4 Mold resin 5 BGA (Semiconductor integrated circuit device)
10 tray 12 front surface side storage section (first storage section)
14, 14a, 14b Block 16, 16a, 16b Restriction surface 17, 17a, 17b Support surface 18, 18a, 18b Wall surface 22 Back surface side storage portion (second storage portion)
24, 24a, 24b Block 26, 26a, 26b Restricting surface 27, 27a, 27b Support surface 28, 18a, 28b Wall surface

Claims (8)

方形の基板と、前記基板の一方面に規則的に配列され、当該一方面から突出する複数の端子を有する半導体集積回路装置を、前記端子を下向きにして1つずつ収納する第1の収納部を表面側に複数有するとともに、裏面側を上向きにした場合、前記半導体集積回路装置を上下反転した状態で1つずつ収納する第2の収納部を裏面側に複数有する半導体集積回路装置用トレイであって、
前記第1の収納部が、
前記トレイの表面側にトレイ表面から突出して形成され、平面視において、前記基板の1辺の長さより短い辺を有する方形状の複数のブロックと、
当該複数のブロックで囲まれた、前記トレイ表面側の前記半導体集積回路装置の設置部と、
当該複数のブロックの設置部側に形成された、前記半導体集積回路装置を設置したときに、前記基板のコーナー部を除く外縁部を下方から支持する支持面と、前記基板の水平方向の移動を規制する規制面とを有するステップ部と、
を備えるとともに、
前記第2の収納部が、
前記トレイの裏面側にトレイ裏面から突出して形成され、平面視において、前記基板の1辺の長さより短い辺を有する方形状の複数のブロックと、
当該複数のブロックで囲まれた、前記トレイ裏面側の前記半導体集積回路装置の設置部と、
当該複数のブロックの設置部側に形成された、裏面側を上向きにして前記半導体集積回路装置を設置したときに、前記基板のコーナー部を除く外縁部を下方から支持する支持面と、前記基板の水平方向の移動を規制する規制面とを有するステップ部と、
を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置用トレイ。
A first storage portion for storing a semiconductor substrate having a rectangular substrate and a plurality of terminals regularly arranged on one surface of the substrate and projecting from the one surface, with the terminals facing downward. A tray for a semiconductor integrated circuit device having a plurality of second storage portions on the back surface side for storing the semiconductor integrated circuit devices one by one in a state where the semiconductor integrated circuit device is turned upside down. There,
The first storage portion is
A plurality of rectangular blocks formed on the surface side of the tray so as to protrude from the surface of the tray and having sides shorter than the length of one side of the substrate in plan view;
An installation portion of the semiconductor integrated circuit device on the tray surface side surrounded by the plurality of blocks;
When the semiconductor integrated circuit device formed on the installation part side of the plurality of blocks is installed, a support surface that supports an outer edge part excluding a corner part of the substrate from below, and a horizontal movement of the substrate A step part having a regulating surface to regulate;
With
The second storage portion is
A plurality of rectangular blocks formed on the back side of the tray so as to protrude from the back side of the tray and having sides shorter than the length of one side of the substrate in plan view;
An installation portion of the semiconductor integrated circuit device on the back side of the tray, surrounded by the plurality of blocks;
A support surface that is formed on the installation portion side of the plurality of blocks, and supports the outer edge portion excluding the corner portion of the substrate from below when the semiconductor integrated circuit device is installed with the back surface side facing upward; A step portion having a restricting surface for restricting horizontal movement of
A tray for a semiconductor integrated circuit device, comprising:
前記第1および第2の収納部の各ブロックは1つの収納部に対して4個設けられ、当該4個のブロックの各ステップ部が、前記基板の4辺に対応して配置された請求項1記載の半導体集積回路装置用トレイ。   4. Each block of the first and second storage units is provided for one storage unit, and each step unit of the four blocks is arranged corresponding to four sides of the substrate. 2. A tray for a semiconductor integrated circuit device according to 1. 前記第1の収納部のブロックに形成された支持面の、トレイ表面からの高さが、前記半導体集積回路装置の端子の、前記基板からの突出量よりも大きい請求項1または2記載の半導体集積回路装置用トレイ。   3. The semiconductor according to claim 1, wherein a height of a support surface formed on the block of the first storage unit from a tray surface is larger than a protruding amount of a terminal of the semiconductor integrated circuit device from the substrate. Integrated circuit device tray. 前記第2の収納部のブロックに形成された支持面の、トレイ裏面からの高さが、前記半導体集積回路装置の、前記基板の他方面における前記基板からの突出量よりも大きい請求項1または2記載の半導体集積回路装置用トレイ。   The height of the support surface formed in the block of the second storage unit from the back surface of the tray is larger than the protruding amount of the semiconductor integrated circuit device from the substrate on the other surface of the substrate. 3. A tray for a semiconductor integrated circuit device according to 2. 前記第1の収納部のブロックに形成された支持面の、設置部側端部から規制面側端部までの長さが、前記基板端部から最も外側の前記端子までの最短距離よりも小さい請求項1または2記載の半導体集積回路装置用トレイ。   The length of the support surface formed on the block of the first storage unit from the installation unit side end to the regulation surface side end is smaller than the shortest distance from the substrate end to the outermost terminal. The tray for a semiconductor integrated circuit device according to claim 1 or 2. 請求項1の半導体集積回路装置用トレイに半導体集積回路装置を収納して、半導体集積回路装置を運搬する工程を含む半導体装置の製造方法であって、前記半導体集積回路装置の端子が鉛を実質的に含有しないことを特徴とする半導体装置の製造方法。   A method for manufacturing a semiconductor device comprising the steps of: housing a semiconductor integrated circuit device in a tray for a semiconductor integrated circuit device according to claim 1; and transporting the semiconductor integrated circuit device, wherein a terminal of the semiconductor integrated circuit device substantially contains lead. A method for manufacturing a semiconductor device, characterized in that the semiconductor device is not contained. 前記半導体集積回路装置の端子が、ボール端子である請求項6記載の半導体装置の製造方法。   The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 6, wherein the terminal of the semiconductor integrated circuit device is a ball terminal. 前記半導体集積回路装置の端子が、ピン端子である請求項6記載の半導体装置の製造方法。   The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 6, wherein the terminal of the semiconductor integrated circuit device is a pin terminal.
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