JP2008305478A - 光ディスク装置及び液晶静定時間設定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】液晶素子による収差補正の精度を十分確保しつつ、収差補正に要する時間を短縮する。
【解決手段】収差補正用液晶素子２３への電圧印加後の静定時間を、駆動前ステップ量Ｘｂｅと、その変化分（つまり駆動させるときの液晶駆動ステップ量Ｘ）とに基づいて算出するようにしたことにより、常にそのときどきの位相変化時間に合った静定時間を設定することができ、かくして収差補正用液晶素子２３を利用した収差補正の精度を十分確保しつつ、収差補正に要する時間を短縮することができる。
【選択図】図１０

Description

本発明は光ディスク装置及び液晶静定時間設定方法に関し、特に液晶素子を利用して収差を補正する機能を有する光ディスク装置に適用して好適なものである。

近年、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などの光ディスクに対してレーザ光を照射することにより情報を再生又は記録する光ディスク装置が広く普及している。このような光ディスク装置では、光ディスクの傾きや厚さのばらつきなどに起因する収差の影響を低減することが、記録及び再生精度の向上に必須となっている。

そこで従来、複数の領域に分割された所定の電極パターンが形成された透明電極を有する液晶素子をレーザ光の光路中に配置し、透明電極に印加する電圧を領域ごとに制御して液晶の屈折率を変化させ位相差を発生させることで、液晶素子を通過するレーザ光に位相変化を与えて収差を補正するようにした光ディスク装置が提案されている（例えば特許文献１参照）。

ところで、このようにして液晶素子を利用して収差を補正する場合、補正可能な範囲を広くすると共に補正に要する時間を短縮するために、液晶素子で発生させる最大位相差を大きくすると共に、液晶に電圧を印加してから位相変化が完了するまでの時間（これを位相変化時間とも呼ぶ）を短くすることが望ましい。

位相変化時間は、液晶駆動前の印加電圧と液晶駆動時の印加電圧との電位差が所定範囲内であるとすると、例えば図１の特性曲線に示すように、液晶駆動前の印加電圧が高いほど短く印加電圧が低いほど長くなる。

一方、液晶素子で発生する最大位相差は、透明電極の個々の領域に異なる電圧を印加することで生じる電位差が大きいほど大きくなる。実際上、液晶素子に発生する位相量は、図２（Ａ）及び（Ｂ）の特性曲線に示すように、印加電圧が所定範囲内（最大値Ｖｍａｘ〜最小値Ｖｍｉｎの範囲内）であれば、印加電圧が高いほど小さく印加電圧が低いほど大きくなる。ゆえに、液晶素子で発生する最大位相差を大きくするには、図２（Ｂ）に示すように、個々の領域に印加する電圧として、最大値Ｖｍａｘ近傍の高い電圧Ｖｈと、最小値Ｖｍｉｎ近傍の低い電圧Ｖｌとを利用する必要がある。

つまり、液晶素子で発生する最大位相差を大きくしようとすると、低い電圧Ｖｌを利用しなければならず、結果として位相変化時間そのものを短くすることは困難であった。

このため、補正に要する時間を短縮するためには、位相変化時間をより正確に求める必要がある。
特開２００５−１２２８２８公報

ところが、従来の光ディスク装置では、前もって種々の条件下（例えば種々の電圧）で位相変化時間を測定して、測定した位相変化時間のうちの最も長いものを、または測定した位相変化時間のうちの平均時間を、液晶に電圧を印加して位相変化が完了したとみなす待ち時間（すなわち液晶素子の静定時間）に設定して、液晶駆動後に、そのときの条件に依らずこの静定時間分待機するようになされていた。

このため、測定した位相変化時間のうちの最も長いものを静定時間に設定すると、確実に位相変化が完了するまで待機することができるものの、ほとんどのケースで、位相変化完了後も余分に待機することになり、結果として収差補正に要する時間が増加する。一方、測定した位相変化時間の平均時間を静定時間に設定した場合、収差補正に要する時間は短くなるものの、位相変化が完了するまで待機していないケースが発生することになり、結果として収差補正の精度が低下する。

このように、従来の光ディスク装置では、種々の条件により変動する位相変化時間に対して、固定の静定時間を設定しているために、収差補正に要する時間の短縮と、精度の向上とを両立することは困難であった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、液晶素子による収差補正の精度を十分確保しつつ、収差補正に要する時間を短縮することができる光ディスク装置及び静定時間設定方法を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明においては、レーザ光を光ディスクの記録面に照射した結果得られる反射光を光電変換することにより光電変換信号を得る光学系と、光学系に配される、電極を有する液晶素子と、液晶素子の電極に印加する電圧を制御して液晶素子に位相差を発生させることにより液晶素子を通過するレーザ光に位相変化を与えて収差を補正するよう液晶素子を駆動させる制御部とを設け、制御部が、液晶素子を駆動させたときに待つ静定時間を、液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧とに基づいて設定するようにした。

このように、液晶素子を駆動させたときに待つ静定時間を、液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧とに基づいて設定するようにしたことにより、常にそのときどきの液晶素子の位相変化時間に合った静定時間を設定することができる。

本発明によれば、液晶素子を駆動させたときに待つ静定時間を、液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧とに基づいて設定するようにしたことにより、常にそのときどきの液晶素子の位相変化時間に合った静定時間を設定することができ、かくして液晶素子を利用した収差補正の精度を十分確保しつつ、収差補正に要する時間を短縮することができる光ディスク装置及び静定時間設定方法を実現できる。

以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）光ディスク装置の構成
図１において、１は光ディスク装置のハードウェア構成を示す。この光ディスク装置１は、内部に光ディスク２を装填し得るようになされている。そして光ディスク装置１には、内部に装填された光ディスク２のデータ記録面と対向するように光ピックアップ３が設けられている。また光ピックアップ３は、スレッド機構部４により光ディスク２の半径方向（これをディスク半径方向とも呼ぶ）へ移動可能に保持されている。

光ディスク装置１は、例えば相変化方式でデータを記録可能な光ディスク２に対してデータを記録し、また当該記録したデータを再生し得るようになされている。この光ディスク装置１においてデータの記録再生に用いられる光ディスク２は、データ記録面に例えば予め一定の線速度で一定の周波数となるようにウォブリング（蛇行）されたグルーブ（案内溝）が形成され、そのグルーブ（及びグルーブ間のランド）がデータ記録用のトラックになる。また光ディスク２は、グルーブのウォブリングに対しＡＤＩＰ（Address In Pre Groove）と呼ばれるデータ記録面内のアドレス情報（これをディスクアドレス情報とも呼ぶ）が埋め込まれている。

この光ディスク装置１において例えばマイクロコンピュータでなるシステムコントローラ５は、外部のＡＶ（Audio Visual）システムＡＶＳから与えられる記録命令や再生命令等の各種命令に応じて装置全体を統括制御すると共に、各種処理を実行する。これによりシステムコントローラ５は、光ディスク装置１に光ディスク２が装填された状態で電源が投入され起動したときや、起動後の動作中に光ディスク装置１に対し光ディスク２が装填されると、立上モードとなる。

この際、サーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、スレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３を光ディスク２の例えば最内周と対向する位置まで移動させる。またスピンドル駆動回路７は、システムコントローラ５の制御のもと、スピンドルモータ８を駆動することにより光ディスク２を一定速度で回転させる。さらにレーザドライバ９は、光ディスク２が回転すると、システムコントローラ５の制御のもと、レーザ光を連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。

光ピックアップ３は、レーザドライバ９からレーザ制御信号が与えられると、そのレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を例えば複数の受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、これら複数の受光素子によりそれぞれ受光した反射光の光量に応じた電流値の信号（これを光電変換信号とも呼ぶ）を生成してマトリクス回路１０に送出する。

マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の受光素子によって生成された光電変換信号が与えられると、これら光電変換信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電変換信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すフォーカスエラー信号を生成する。

またマトリクス回路１０は、これら光電変換信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面のトラックに対しレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すトラッキングエラー信号を生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出する。

ところでサーボ回路６は、このときシステムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点が合う位置（これをフォーカス位置とも呼ぶ）を探索するためのフォーカス位置探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３において対物レンズを光軸方向に沿って例えば、光ディスク２のデータ記録面に徐々に近づけるように移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づき、当該データ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにフォーカス引込動作を行う。

そしてサーボ回路６は、このフォーカス引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づきフォーカス制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカス制御信号により光ピックアップ３において対物レンズを光軸方向に適宜移動させて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにする。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にフォーカスサーボループを形成し、かくして光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点を追従させる。

またサーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面においてトラックにレーザ光の照射位置を合せるためのトラック探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３において例えば対物レンズをディスク半径方向へ徐々に移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づき、当該データ記録面のトラックにレーザ光の照射位置を合せるようにレーザ光のトラック引込動作を行う。

そしてサーボ回路６は、このトラック引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、トラッキング制御信号により光ピックアップ３において対物レンズをディスク半径方向に適宜移動させて光ディスク２のトラックにレーザ光を照射させる。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にトラッキングサーボループも形成し、かくして光ディスク２のトラックに対しレーザ光の照射位置を追従させる。

さらにマトリクス回路１０は、フォーカスの引込処理及びトラックの引込処理が完了すると、光ピックアップ３から与えられる複数の光電変換信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電変換信号に基づきフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号と共に、光ディスク２に形成されたグルーブのウォブリングの振幅（これをウォブル振幅とも呼ぶ）を示すウォブル信号も生成する。そしてマトリクス回路１０は、そのウォブル信号をウォブル回路１１に送出する。

ウォブル回路１１は、マトリクス回路１０から与えられたウォブル信号を復調して、ディスクアドレス情報を検出するためのストリームデータを生成し、これをアドレス生成回路１２に送出する。そしてアドレス生成回路１２は、ウォブル回路１１から与えられたストリームデータをデコード処理し、その結果得られたディスクアドレス情報をシステムコントローラ５に送出する。

これによりシステムコントローラ５は、アドレス生成回路１２から与えられるディスクアドレス情報に従い、光ディスク２のデータ記録面においてレーザ光の照射位置を検出することができる。ところでシステムコントローラ５は、このように光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し得る状態でＡＶシステムＡＶＳから記録命令が与えられると、立上モードから記録モードに移行する。この際、マトリクス回路１０は、ウォブル信号をウォブル回路１１と共にアドレス生成回路１２にも送出する。

この場合、アドレス生成回路１２は、上述したようにディスクアドレス情報を生成しながら、マトリクス回路１０から与えられるウォブル信号を用いたＰＬＬ（Phased Lock Loop）処理を実行することにより、グルーブのウォブリングの周波数に同期した記録用の動作クロックを生成する。そしてアドレス生成回路１２は、かかる記録用の動作クロックを各部に供給する。

これによりスピンドル駆動回路７は、例えばアドレス生成回路１２から与えられる記録用の動作クロックをもとに、現在のスピンドルモータ８の回転速度を検出する。またスピンドル駆動回路７は、その回転速度を、予め設定された例えば、光ディスク２を線速度一定（Constant Linear Velocity）で回転させるための規準速度と比較するようにして、スピンドルモータ８の回転速度が基準速度にどの程度合っているかを示すスピンドルエラー信号を生成する。

そしてスピンドル駆動回路７は、かかるスピンドルエラー信号に基づきスピンドル制御信号を生成し、これをスピンドルモータ８に送出する。これによりスピンドル駆動回路７は、スピンドル制御信号によりスピンドルモータ８を回転駆動させ、かくして光ディスク２を線速度一定で回転させる。

この状態でシステムコントローラ５は、ＡＶシステムＡＶＳによりデータ記録用のアドレス情報が指定されると、このときアドレス生成回路１２から与えられたディスクアドレス情報（すなわち、その時点における光ディスク２のデータ記録面へのレーザ光の照射位置）をデータ記録用のアドレス情報と比較するようにして適宜、シーク指示信号を生成する。そしてシステムコントローラ５は、かかるシーク指示信号をサーボ回路６に送出する。

サーボ回路６は、システムコントローラ５からシーク指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを一時的に解除する。そしてサーボ回路６は、シーク指示信号に基づきシーク制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、シーク制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向に沿って複数のトラックを飛び越すようにシークさせる。

因みにシステムコントローラ５は、光ピックアップ３をディスク半径方向へシークさせると、トラックジャンプ指示信号を生成し、これをサーボ回路６に送出する。そしてサーボ回路６は、システムコントローラ５からトラックジャンプ指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを解除したまま、そのトラックジャンプ指示信号に基づきジャンプ制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。

これによりサーボ回路６は、ジャンプ制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向に沿って僅かに移動させ、かくして光ディスク２においてデータ記録用のトラックにレーザ光の照射位置を引き込むようにする。なおサーボ回路６は、データ記録用のトラックに対しレーザ光の照射位置の引き込みが完了すると、再びトラッキングサーボループを形成する。

このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面においてデータ記録用のトラックにレーザ光を照射した状態で、ＡＶシステムＡＶＳから記録対象のデータが与えられると、これをエンコーダ／デコーダ１３に取り込む。エンコーダ／デコーダ１３は、このときアドレス生成回路１２から与えられている記録用の動作クロックに同期して動作する。そしてエンコーダ／デコーダ１３は、ＡＶシステムＡＶＳから与えられた記録対象のデータをバッファリングしながら、当該記録対象のデータに対しエラー訂正コード（Error Correcting Code ）の付加やインタリーブ、サブコードの付加等のエンコード処理を施し、その結果得られたエンコードデータを変復調回路１４に送出する。

変復調回路１４も、このときアドレス生成回路１２から与えられている記録用の動作クロックに同期して動作する。そして変復調回路１４は、エンコーダ／デコーダ１３から与えられたエンコードデータに対しランレングスリミテッド符号化処理のような変調処理を施し、その結果得られた変調データをリーダ／ライタ回路１５に送出する。

リーダ／ライタ回路１５は、変復調回路１４から与えられた変調データに対し、光ディスク２における記録層の特性、レーザ光のレーザスポット形状及び記録線速度等に応じたレーザ光の最適な記録用出力の微調整や波形調整等の記録補償処理を施し、その結果得られたレーザ制御信号をレーザドライバ９に送出する。そしてレーザドライバ９は、リーダ／ライタ回路１５から与えられたレーザ制御信号を光ピックアップ３に送出する。

光ピックアップ３は、レーザドライバ９から与えられたレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を間欠的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。これにより光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の照射部分にピット（フェイズチェンジマーク）を形成する。このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面に対しピットとして記録対象のデータを記録することができる。

因みに光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の受光素子（これを特に監視用受光素子とも呼ぶ）を有している。このため光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光の一部を監視用受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の信号（これを出力監視用信号とも呼ぶ）を生成してレーザドライバ９に送出する。

レーザドライバ９は、ＡＰＣ（Auto Power Control）回路を有しており、光ピックアップ３のレーザダイオードを制御しながら、その光ピックアップ３から与えられた出力監視用信号をＡＰＣ回路に取り込む。これによりレーザドライバ９は、ＡＰＣ回路により出力監視用信号に基づきレーザ光の出力を監視するようにしてレーザ制御信号の値を適宜調整し、かくしてレーザ光の出力を周囲の温度の変化等によらずに一定の記録用出力となるように制御する。

またサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面にデータを記録している間、例えばトラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号に基づきスレッド制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、スレッド制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ徐々に移動させる。このようにしてサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面に対しトラックに沿って記録対象のデータを記録させ得るようになされている。

一方、立上モードにおいてＡＶシステムＡＶＳから再生命令が与えられると、システムコントローラ５は、再生モードに移行する。この際、システムコントローラ５は、ＡＶシステムＡＶＳによりデータ再生用のアドレス情報が指定されると、このときアドレス生成回路１２から与えられたディスクアドレス情報（すなわち、その時点における光ディスク２のデータ記録面へのレーザ光の照射位置）をデータ再生用のアドレス情報と比較するようにして適宜、シーク指示信号を生成する。

システムコントローラ５は、シーク指示信号を生成すると、上述した記録モード時と同様にサーボ回路６を介して光ピックアップ３をシークさせる。またシステムコントローラ５は、このとき上述と同様にサーボ回路６を介して適宜、光ディスク２においてデータ再生用のトラックにレーザ光の照射位置を引き込むようにする。

またシステムコントローラ５は、このときレーザドライバ９に対し、レーザ光の再生用出力の値を指示する。よってレーザドライバ９は、システムコントローラ５の指示に応じて、再生用出力のレーザ光を連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。

これにより光ピックアップ３は、レーザドライバ９から与えられたレーザ制御信号に基づきレーザダイオードから再生用出力のレーザ光を連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を複数の受光素子によって受光して光電変換することにより光電変換信号を生成してマトリクス回路１０に送出する。

マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の光電変換信号が与えられると、これら光電変換信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電変換信号に基づきフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及びウォブル信号と共に、再生対象のデータに相当する高周波信号（これをＲＦ信号とも呼ぶ）も生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出し、かつウォブル信号をウォブル回路１１に送出すると共に、ＲＦ信号をリーダ／ライタ回路１５に送出する。

リーダ／ライタ回路１５は、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し２値化処理を施し、その結果得られた変調データを変復調回路１４に送出する。またリーダ／ライタ回路１５は、このときＲＦ信号を用いたＰＬＬ処理を実行することにより、再生用の動作クロックを生成する。そしてリーダ／ライタ回路１５は、かかる再生用の動作クロックを各部に供給する。

変復調回路１４は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられている再生用の動作クロックに同期して動作する。そして変復調回路１４は、リーダ／ライタ回路１５から与えられた変調データに対し、ランレングスリミテッド復号処理のような復調処理を施し、その結果得られたエンコードデータをエンコーダ／デコーダ１３に送出する。

エンコーダ／デコーダ１３も、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられている再生用の動作クロックに同期して動作する。そしてエンコーダ／デコーダ１３は、変復調回路１４から与えられたエンコードデータをバッファリングしながら、当該エンコードデータに対しエラー検出訂正処理やデインタリーブ等のデコード処理を施して再生対象のデータを生成する。

またエンコーダ／デコーダ１３は、ＡＶシステムＡＶＳの指示に応じて、再生対象のデータを所定データ単位分だけ生成する毎に、当該生成した所定データ単位分の再生対象のデータをＡＶシステムＡＶＳに転送する。このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面に記録していたデータを再生することができる。

因みにスピンドル駆動回路７は、この際、例えばリーダ／ライタ回路１５から与えられる再生用の動作クロックをもとに、現在のスピンドルモータ８の回転速度を検出する。またスピンドル駆動回路７は、その回転速度を、予め設定された例えば、光ディスク２を線速度一定で回転させるための規準速度と比較するようにして、スピンドルモータ８の回転速度が基準速度にどの程度合っているかを示すスピンドルエラー信号を生成する。

そしてスピンドル駆動回路７は、かかるスピンドルエラー信号に基づきスピンドル制御信号を生成し、これをスピンドルモータ８に送出する。これによりスピンドル駆動回路７は、スピンドル制御信号によりスピンドルモータ８を回転駆動させ、かくして光ディスク２を線速度一定で回転させる。

また光ピックアップ３は、再生モード時にも光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光の一部を監視用受光素子によって受光して光電変換し、その結果得られた出力監視用信号を生成してレーザドライバ９に送出する。そしてレーザドライバ９は、レーザダイオードを制御しながら、光ピックアップ３から与えられた出力監視用信号をＡＰＣ回路に取り込む。これによりレーザドライバ９は、ＡＰＣ回路により出力監視用信号に基づきレーザ光の出力を監視するようにしてレーザ制御信号の値を適宜調整し、かくしてレーザ光の出力を周囲の温度の変化等によらずに一定の再生用出力となるように制御する。

さらにサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面に再生用出力のレーザ光が照射されている間、例えばトラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号に基づきスレッド制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、スレッド制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ徐々に移動させる。このようにしてサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面からトラックに沿って再生対象のデータを再生させ得るようになされている。

次いで、図４を用いて光ピックアップ３の構成について詳しく説明する。この光ピックアップ３は、レーザダイオード２０を有し、当該レーザダイオード２０にレーザドライバ９から与えられるレーザ制御信号を取り込んでいる。そして光ピックアップ３は、レーザダイオード２０から発射したレーザ光Ｌ１を、コリメータレンズ２１に通して平行光にした後、ビームスプリッタ２２、及び収差補正用の液晶素子（これを収差補正用液晶素子とも呼ぶ）２３に順次通し、さらに対物レンズ２４で集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射させる。

また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を、対物レンズ２４及び収差補正用液晶素子２３に順次通してビームスプリッタ２２で反射させた後、コリメータレンズ２５で集光して受光部２６に設けられた複数の受光素子で受光する。そして光ピックアップ３は、受光部２６の複数の受光素子で反射光Ｌ２を光電変換し、その結果得られる光電変換信号をマトリクス回路１０に送出している。

ここで、対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８により光軸方向及びディスク半径方向へ移動可能に保持されている。そして対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８により光軸方向へ適宜移動すると、これに応じて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を合せることができる。さらに対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８によりディスク半径方向へ適宜移動すると、これに応じて光ディスク２のデータ記録面においてトラックへレーザ光Ｌ１の照射位置を合せることができる。

また、収差補正用液晶素子２３は、例えば、対向する２枚のガラス基板と、この２枚のガラス基板のそれぞれの内表面（つまり対向面）に配された１対の透明電極と、１対の透明電極の間に配向膜を介して封入された液晶とで構成され、１対の透明電極のうちの一方に複数の領域に分割された所定の電極パターンが形成されている。そして、収差補正用液晶素子２３は、透明電極の領域ごとに印加される電圧に応じて、液晶の屈折率が変化して位相差を発生することにより、収差補正用液晶素子２３を通過するレーザ光Ｌ１に位相変化を与えて収差を補正し得るようになされている。

実際上、この収差補正用液晶素子２３には、補正する収差に応じた電極パターンが１対の透明電極のうちの一方に形成されるようになされ、この実施例では、例えば、図５に示すように、光ディスク２のラジアル（半径）方向のチルトに起因するコマ収差の補正に対応する電極パターンが形成されている。

すなわち、この透明電極３０には、通過するレーザ光Ｌ１のスポットＬＳとほぼ同形状（つまり円形）の領域を３つの領域に分割した電極パターンが形成されている。具体的に言うと、この電極パターンは、スポットＬＳとほぼ同形状の円形の領域内に、この円形の領域を左右に二分する仮想の中心線Ｌを境にして、向き合うように１対の略半円径の領域３０Ａ及び３０Ｂが設けられることで、円形の領域を、左側に位置する略半円径の領域（左側半円領域とも呼ぶ）３０Ａと、右側に位置する半円径の領域（右側半円領域とも呼ぶ）３０Ｂとそれ以外の部分でなる領域（他部分領域とも呼ぶ）３０Ｃとの３つの領域に分割するようになされている。

そして、この収差補正用液晶素子２３は、透明電極３０の電極パターンの左右方向が、光ディスク２のラジアル方向に対応するような向き（つまり、左側半円領域３０Ａが通過するレーザ光Ｌ１の光軸から見て光ディスク２の内周側、右側半円領域３０Ｂが外周側となるような向き）で配置され、透明電極３０の他部分領域３０Ｃに印加される電圧を基準として、左側半円領域（これを内周側領域とも呼ぶ）３０Ａと、右側半円領域（これを外周側領域とも呼ぶ）３０Ｂとのそれぞれに、電位差が生じるように電圧が印加されると、液晶の屈折率が変化して位相差を発生することで、収差を補正し得るようになされている。

次に、図６を用いて上述したサーボ回路６の内部構成について説明する。かかるサーボ回路６は、内部にＤＳＰ（Digital Signal Processor）４０が設けられている。サーボ回路６は、マトリクス回路１０からアナログのフォーカスエラー信号が与えられると、ＤＳＰ４０の前段で、そのフォーカスエラー信号を、アナログ／デジタル変換器４１を介してデジタルのフォーカスエラーデータとして当該ＤＳＰ４０に送出する。

ＤＳＰ４０は、フォーカスエラーデータを、加算器４２を介してフォーカスサーボ演算部４３に取り込む。そしてＤＳＰ４０は、フォーカスサーボ演算部４３においてフォーカスエラーデータを用い位相補償等のフィルタリングやループゲイン処理等の所定の演算を行ってフォーカス制御データを生成する。

サーボ回路６は、ＤＳＰ４０においてデジタルのフォーカス制御データが生成されると、当該ＤＳＰ４０の後段で、そのフォーカス制御データを、デジタル／アナログ変換器４４を介してアナログのフォーカス制御信号としてフォーカスドライバ４５に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカスドライバ４５からフォーカス制御信号を光ピックアップ３の２軸アクチュエータ２８（図４）に送出して駆動する。このようにしてサーボ回路６は、対物レンズ２４（図４）を光軸方向へ移動させ、かくして光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を追従させる。

またサーボ回路６は、マトリクス回路１０からアナログのトラッキングエラー信号が与えられると、ＤＳＰ４０の前段で、そのトラッキングエラー信号を、アナログ／デジタル変換器４６を介してデジタルのトラッキングエラーデータとして当該ＤＳＰ４０に送出する。ＤＳＰ４０は、トラッキングエラーデータをトラッキングサーボ演算部４７に取り込む。そしてＤＳＰ４０は、トラッキングサーボ演算部４７においてトラッキングエラーデータを用い位相補償等のフィルタリングやループゲイン処理等の所定の演算を行ってトラッキング制御データを生成する。

サーボ回路６は、ＤＳＰ４０においてデジタルのトラッキング制御データが生成されると、当該ＤＳＰ４０の後段で、そのトラッキング制御データを、デジタル／アナログ変換器４８を介してアナログのトラッキング制御信号としてトラッキングドライバ４９に送出する。これによりサーボ回路６は、トラッキングドライバ４９からトラッキング制御信号を光ピックアップ３の２軸アクチュエータ２８に送出して駆動する。このようにしてサーボ回路６は、対物レンズ２４をディスク半径方向へ移動させ、かくして光ディスク２のデータ記録面においてトラックのレーザ光Ｌ１の照射位置を追従させる。

さらにサーボ回路６のＤＳＰ３０には、収差補正用液晶素子２３の駆動電圧（つまり透明電極に印加する電圧）を設定する液晶駆動電圧設定部５０が設けられている。そしてシステムコントローラ５は、例えば立上モード時に実行するコマ収差補正処理（後述する）の結果として得られた、コマ収差を補正し得るよう収差補正用液晶素子２３を駆動させる駆動データをＤＳＰ４０の液晶駆動電圧設定部５０に送出する。

液晶駆動電圧設定部５０は、収差補正用液晶素子２３の駆動電圧をこの駆動データに対応する電圧に設定して、この駆動電圧を示す駆動電圧データを、ＤＳＰ３０の後段のデジタル／アナログ変換器５１に送出する。そしてサーボ回路６は、駆動電圧データを、デジタル／アナログ変換器５１を介してアナログの駆動電圧信号として液晶ドライバ５２に送出する。液晶ドライバ５２は、この駆動電圧信号に応じた駆動電圧を収差補正用液晶素子２３の透明電極に印加することで、コマ収差を補正し得るよう収差補正用液晶素子２３を駆動する。このようにして収差補正用液晶素子２３を駆動することにより、サーボ回路６は、コマ収差を補正し得るようになされている。

またサーボ回路６のＤＳＰ４０には、トラッキングエラー信号に生じる誤差を補正するための補正値（以下、これをフォーカスバイアスと呼ぶ）を記憶するフォーカスバイアス記憶部５３も設けられている。そしてシステムコントローラ５は、例えば上述した立上モード時にアナログのフォーカスバイアスを求め、これをデジタル化してＤＳＰ４０のフォーカスバイアス記憶部５３に送出し記憶している。

よってＤＳＰ４０は、実際には光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１が照射されるとき、フォーカスバイアス記憶部５３からフォーカスバイアスを読み出す。そしてＤＳＰ４０は、そのフォーカスバイアスを加算器４２に送出することにより、当該加算器４２においてフォーカスエラーデータにフォーカスバイアスを加算し、その結果結果をフォーカスサーボ演算部４３に送出している。

これによりＤＳＰ４０は、フォーカスサーボ演算部４３において、単にフォーカスエラーデータを用いてフォーカス制御データを演算するわけではなく、そのフォーカスエラーデータを、フォーカスバイアスを加算し誤差を補正したうえで用いてフォーカス制御データを演算している。従ってサーボ回路６は、このようにＤＳＰ４０においてフォーカスバイアスにより誤差を補正したフォーカスエラーデータに基づいて得たフォーカス制御データをフォーカス制御信号として光ピックアップ３の２軸アクチュエータ２８に供給している。

これによりサーボ回路６は、フォーカスエラー信号の誤差をフォーカスバイアスにより補正した状態でフォーカスサーボループを形成することができる。よってサーボ回路６は、かかるフォーカスサーボループにより、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を的確に追従させ得るようになされている。

（２）コマ収差補正処理
次に、上述した収差補正用液晶素子２３を用いたコマ収差補正処理について説明する。実際にシステムコントローラ５は、立上モード時において、コマ収差補正処理を実行する。

このとき、マトリクス回路１０は、光ディスク２のデータ記録面においてトラックにレーザ光が照射されていることにより、システムコントローラ５の制御のもと、光ピックアップ３から与えられる複数の光電変換信号に基づきフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及びウォブル信号と共に、ＲＦ信号（すなわち、光ディスク２に記録されているデータに相当する高周波信号）も生成する。そしてマトリクス回路１０は、そのＲＦ信号をリーダ／ライタ回路１５に送出する。

リーダ／ライタ回路１５は、マトリクス回路１０からＲＦ信号が与えられると、そのＲＦ信号に生じているジッタ（すなわち、変動成分）を測定する。ここでＲＦ信号に生じているジッタは、ＲＦ信号が表現する情報の遷移の時間的なずれを表す物理量である。そしてリーダ／ライタ回路１５は、このようにジッタを測定すると、当該測定したジッタをジッタ測定信号としてシステムコントローラ５に送出する。

そしてシステムコントローラ５は、収差補正用液晶素子２３を駆動させる駆動データに示す、収差補正用液晶素子２３の駆動電圧に対応する液晶駆動ステップ量（詳しくは後述する）を変化させサーボ回路６に送出する。サーボ回路６は、このときＤＳＰ４０の液晶駆動電圧設定部５０により収差補正用液晶素子２３の駆動電圧をこの駆動データが示す液晶駆動ステップ量に対応する電圧に設定する。そしてサーボ回路６は、設定したその駆動電圧をＤＳＰ４０の液晶ドライバ５２により光ピックアップ３の収差補正用液晶素子２３に印加することで収差補正用液晶素子２３を駆動させる。

このようにしてシステムコントローラ５は、駆動データに示す液晶駆動ステップ量を変化させて収差補正用液晶素子２３の駆動電圧を変化させながら、リーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号が示すジッタの値を監視し、当該ジッタの値が最小になったときの液晶駆動ステップ量を検出する。そしてシステムコントローラ５は、このときに検出した液晶駆動ステップ量を、コマ収差を補正できる位相差を発生する液晶駆動ステップ量（これを収差補正ステップ量とも呼ぶ）と認識して、この収差補正ステップ量を示す駆動データをサーボ回路６に送出する。

この結果、サーボ回路６は、以後、ＤＳＰ３０により駆動データが示す収差補正ステップ量に基づいて収差補正用液晶素子２３を駆動させることで、収差補正用液晶素子２３でコマ収差を補正する。

このように、システムコントローラ５は、収差補正処理を実行することでコマ収差を補正し得るよう収差補正用液晶素子２３を駆動させる駆動データ（液晶駆動ステップ量）を得て、この駆動データに基づいて収差補正用液晶素子２３を駆動させることで、以後、コマ収差を補正し得るようになされている。

ところで、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差は、透明電極３０の内周側領域３０Ａへの印加電圧と外周側領域３０Ｂへの印加電圧との電位差により決まる。実際上、これら内周側領域３０Ａと外周側領域３０Ｂとのそれぞれに発生する位相量は、図７（Ａ）の右下がりの特性曲線に示すように、印加電圧が所定範囲内（最大値Ｖｍａｘ〜最小値Ｖｍｉｎの範囲内）であれば、印加電圧が高いほど小さく印加電圧が低いほど大きくなる。

ゆえに、透明電極３０で発生可能な位相差（つまり位相量の差）をできる限り大きくするには、内周側領域３０Ａへの印加電圧と外周側領域３０Ｂへの印加電圧とに、最大値Ｖｍａｘ近傍の高い電圧Ｖｈから、最小値Ｖｍｉｎ近傍の低い電圧Ｖｌまでの範囲の電圧を利用する必要があり、実際上、ここでは、このような範囲の電圧を利用するようになされている。

すなわち、収差補正用液晶素子２３では、例えば、内周側領域３０Ａに対して最小値Ｖｍｉｎ近傍の低い電圧Ｖｌを印加（最大位相量Ｐｈが発生）すると共に、外周側領域３０Ｂに対して最大値Ｖｍａｘ近傍の高い電圧Ｖｈを印加（最小位相量Ｐｌが発生）した場合に、またはその逆の場合に、発生する位相差の絶対値が最大（最大位相量Ｐｈ−最小位相量Ｐｌ）となる。ここで、他部分領域３０Ｃには、最大位相量Ｐｈと最小位相量Ｐｌとの中間となる位相量（最大位相量Ｐｈ＋最小位相量Ｐｌ／２）が発生する場合の電圧Ｖｓ（ただし最大電圧値Ｖｍａｘ＋最小電圧値Ｖｍｉｎ／２ではない）が常に印加されるようになされており、この電圧Ｖｓが各領域３０Ａ〜３０Ｃに電圧を印加するうえでの基準電圧となる。

したがって、収差補正用液晶素子２３は、基準電圧Ｖｓを基準として、内周側領域３０Ａと外周側領域３０Ｂとに電位差が生じるように電圧が印加されることで、位相差を発生し得るようになされている。

また、収差補正用液晶素子２３を駆動させるうえで、システムコントローラ５側では、位相量に対して非線形に変化する電圧Ｖを用いるのではなく、図７（Ｂ）に示すように位相量に対して線形に変化する液晶駆動ステップ量Ｘを用いて収差補正用液晶素子２３の駆動を制御するようになされている。

この液晶駆動ステップ量Ｘは、位相量に対して非線形に変化する電圧Ｖを、位相量に対して線形に変化する量に変換したものであり、最大位相量Ｐｈが発生する場合の電圧Ｖｌが最小液晶駆動ステップ量Ｘｌに対応し、最小位相量Ｐｌが発生する場合の電圧Ｖｈが最大液晶駆動ステップ量Ｘｈに対応し、さらに最大位相量Ｐｈから最小位相量Ｐｌまでの位相量に対応する電圧Ｖが、最小液晶駆動ステップ量Ｘｌから最大液晶駆動ステップ量Ｘｈまで直線的に変化する液晶駆動ステップ量Ｘに対応するものである。

またこの場合、最大位相量Ｐｈと最小位相量Ｐｌとの中間となる位相量（最大位相量Ｐｈ＋最小位相量Ｐｌ／２）が発生する場合の基準電圧Ｖｓが、最大液晶駆動ステップ量Ｘｈと最小液晶駆動ステップ量Ｘｌとの中間となる液晶駆動ステップ量（これを基準液晶駆動ステップ量とも呼ぶ）Ｘｓに対応する。

そして、システムコントローラ５は、基準液晶駆動ステップ量Ｘｓを基準にして、収差補正用液晶素子２３で所望の位相差が得られるように、内周側領域３０Ａに印加する電圧Ｖを示す液晶駆動ステップ量Ｘａ（例えばＸａ＜Ｘｓ）と、外周側領域３０Ｂに印加する電圧Ｖを示す液晶駆動ステップ量Ｘｂ（例えばＸｂ＞Ｘｓ）とを設定する。

ここで、液晶駆動ステップ量Ｘは位相量に対して線形に変化することから、基準液晶駆動ステップ量Ｘｓと液晶駆動ステップ量Ｘａとの差分値｜Ｘｓ−Ｘａ｜と、基準液晶駆動ステップ量Ｘｓと液晶駆動ステップ量Ｘｂとの差分値｜Ｘｓ−Ｘｂ｜は常に等しく、この差分値が大きいほど収差補正用液晶素子２３で発生する位相差が大きくなる。そして、システムコントローラ５側では、この差分値を、位相差発生ステップ量Ｙとして用いるようになされている。

つまり、この位相差発生ステップ量Ｙは、図８に示すように、位相差に対して線形に変化する量であり、システムコントローラ５は、この位相差発生ステップ量Ｙを用いて収差補正用液晶素子２３で発生させる位相差を制御するようになされている。実際上、例えば、この位相差発生ステップ量Ｙが０であれば、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差は０となり、この位相差発生ステップ量Ｙが最大位相差発生ステップ量Ｙｍ（例えば、内周側領域３０Ａでの差分値｜Ｘｓ−Ｘｌ｜と、外周側領域３０Ｂでの差分値｜Ｘｓ−Ｘｈ｜）であれば、位相差が最大（最大位相量Ｐｈ−最小位相量Ｐｌ）となる。

また、位相差と位相差発生ステップ量Ｙとが取り得る範囲は、＋の範囲（位相差が０〜（Ｐｈ−Ｐｌ）で位相差発生ステップ量Ｙが０〜Ｙｍの範囲）にくわえて、−の範囲（位相差が０〜−（Ｐｈ−Ｐｌ）で位相差発生ステップ量Ｙが０〜−Ｙｍの範囲）があり、−の範囲でも符号が異なるだけで、位相差と位相差発生ステップ量Ｙとの関係は同一である。

具体的に言うと、例えば、内周側領域３０Ａに印加する電圧Ｖを低くすると共に外周側領域３０Ｂに印加する電圧Ｖを高くして位相差（これを＋の位相差とする）を発生させる場合に、＋の位相差発生ステップ量Ｙが用いられ、一方で内周側領域３０Ａに印加する電圧Ｖを高くすると共に外周側領域３０Ｂに印加する電圧Ｖを低くして位相差（これを−の位相差とする）を発生させる場合に、−の位相差発生ステップ量Ｙが用いられる。

つまり、システムコントローラ５は、内周側領域３０Ａに印加する電圧Ｖを低くすると共に外周側領域３０Ｂに印加する電圧Ｖを高くして＋の位相差を発生させる場合には、内周側領域３０Ａに対する液晶駆動ステップ量ＸａをＸｓ−Ｙに設定すると共に、外周側領域３０Ｂに対する液晶駆動ステップ量ＸｂをＸｓ＋Ｙに設定し、一方で内周側領域３０Ａに印加する電圧Ｖを高くすると共に外周側領域３０Ｂに印加する電圧Ｖを低くして−の位相差を発生させる場合には、内周側領域３０Ａに対する液晶駆動ステップ量ＸａをＸｓ＋Ｙに設定すると共に、外周側領域３０Ｂに対する液晶駆動ステップ量ＸｂをＸｓ−Ｙに設定するようになされている。

ここで、＋の位相差は、光ディスク２のチルト量が０度である場合を基準にして＋方向の角度である場合に生じるコマ収差の補正に対応する位相差である。ゆえに、＋の位相差の最大値（Ｐｈ−Ｐｌ）が、許容可能なチルト量の＋方向の最大値（ここでは＋１．０度とする）に対応する。一方で、−の位相差は、光ディスク２のチルト量が−方向の角度である場合に生じるコマ収差の補正に対応する位相差である。ゆえに、−の位相差の最小値（−（Ｐｈ−Ｐｌ））が許容可能なチルト量の−方向の最大値（ここでは−１．０度とする）に対応する。

ゆえに、収差補正用液晶素子２３では、光ディスク２のチルト量が±１．０度の範囲であれば、コマ収差を補正することができるようになされている。

そして、システムコントローラ５は、液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂを変化させて（つまり位相差発生ステップ量Ｙを変化させて）収差補正用液晶素子２３で発生させる位相差を＋方向または−方向に変化させながら、ジッタの値を監視して、ジッタの値が最小になったときの液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂを検出する。

具体的に言うと、システムコントローラ５は、まず光ディスクのチルト量が０度である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させる。ここで、チルト量が０度の場合には、コマ収差が発生しないので、位相差が０となるよう駆動させればよい。ゆえに、このときシステムコントローラ５は、液晶駆動ステップ量ＸａをＸｓ、液晶駆動ステップ量ＸｂをＸｓに設定して、これらを示す駆動データをサーボ回路６に送出する。

サーボ回路６は、ＤＳＰ４０の液晶駆動電圧設定部５０により収差液晶補正素子２３の駆動電圧をこの駆動データが示す液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂに対応する電圧に設定する。この結果、図９（Ａ）に示すように、収差補正用液晶素子２３の内周側領域３０Ａには、液晶駆動ステップ量Ｘａ（この場合Ｘｓ）に対応する基準電圧Ｖｓが印加され、外周側領域３０Ｂには、液晶駆動ステップ量Ｘｂ（この場合Ｘｓ）に対応する基準電圧Ｖｓが印加される。そして他部分領域３０Ｃには基準電圧Ｖｓが印加されるよう規定されていることから、この場合、内周側領域３０Ａと、外周側領域３０Ｂと、他部分領域３０Ｃとの全てに同じ基準電圧Ｖｓが印加されることから、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差が０となる。

ここで、システムコントローラ５は、ジッタの値を取得する。そして、システムコントローラ５は、次に、光ディスクのチルト量が−Ｚ度（例えば−０．２５度）の場合に対応する−の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させる。すなわち、このときシステムコントローラ５は、液晶駆動ステップ量ＸａをＸｓ＋Ｙ１、液晶駆動ステップ量ＸｂをＸｓ−Ｙ１に設定して、これらを示す駆動データをサーボ回路６に送出する。

サーボ回路６は、ＤＳＰ４０の液晶駆動電圧設定部５０により収差液晶補正素子２３の駆動電圧をこの駆動データが示す液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂに対応する電圧に設定する。この結果、図９（Ｂ）に示すように、収差補正用液晶素子２３の内周側領域３０Ａには、液晶駆動ステップ量Ｘａ（この場合Ｘｓ＋Ｙ１）に対応する電圧（Ｖｓ＋Ｖ１）が印加され、外周側領域３０Ｂには、液晶駆動ステップ量Ｘｂ（この場合Ｘｓ−Ｙ１）に対応する電圧（Ｖｓ−Ｖ２）が印加される。そして他部分領域３０Ｃには基準電圧Ｖｓが印加されるよう規定されていることから、この場合、内周側領域３０Ａに印加される電圧の方が外周側領域３０Ｂに印加される電圧より高くなり、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差が−の位相差となる。

ここで、システムコントローラ５は、ジッタの値を取得する。そして、システムコントローラ５は、次に、光ディスクのチルト量が＋Ｚ度（例えば＋０．２５度）の場合に対応する＋の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させる。すなわち、このときシステムコントローラ５は、液晶駆動ステップ量ＸａをＸｓ−Ｙ１、液晶駆動ステップ量ＸｂをＸｓ＋Ｙ１に設定して、これらを示す駆動データをサーボ回路６に送出する。

サーボ回路６は、ＤＳＰ４０の液晶駆動電圧設定部５０により収差液晶補正素子２３の駆動電圧をこの駆動データが示す液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂに対応する電圧に設定する。この結果、図９（Ｃ）に示すように、収差補正用液晶素子２３の内周側領域３０Ａには、液晶駆動ステップ量Ｘａ（この場合Ｘｓ−Ｙ１）に対応する電圧（Ｖｓ−Ｖ２）が印加され、外周側領域３０Ｂには、液晶駆動ステップ量Ｘｂ（この場合Ｘｓ＋Ｙ１）に対応する電圧（Ｖｓ＋Ｖ１）が印加される。そして他部分領域３０Ｃには基準電圧Ｖｓが印加されるよう規定されていることから、この場合、内周側領域３０Ａに印加される電圧の方が外周側領域３０Ｂに印加される電圧より低くなり、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差が＋の位相差となる。

ここで、システムコントローラ５は、ジッタの値を取得する。そして、システムコントローラ５は、ここまでに得られたジッタの値を参照して、チルト量を０度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、そのときの液晶駆動ステップ量Ｘａ及び液晶駆動ステップ量Ｘｂを採用する。

また、チルト量を−０．２５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、システムコントローラ５は、少なくともチルト量が−０．２５度よりも−方向の角度であると認識して、さらにチルト量が−０．２５度−Ｚ度（つまり−０．５度）の場合に対応する−の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させて、このときのジッタの値を取得する。そして、ここまでに得られたジッタの値のうち、チルト量を−０．２５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、そのときの液晶駆動ステップ量Ｘａ（この場合Ｘｓ＋Ｙ１及び液晶駆動ステップ量Ｘｂ（この場合Ｘｓ−Ｙ１）を採用する。

また、チルト量を−０．５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、システムコントローラ５は、少なくともチルト量が−０．５度よりも−方向の角度であると認識して、さらにチルト量が−０．５度−Ｚ度（つまり−０．７５度）の場合に対応する−の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させて、このときのジッタの値を取得する。

このようにして、システムコントローラ５は、チルト量が−方向の角度であるならば、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差を−方向に変化させながら、ジッタの値が最小になったとき（つまり収差補正用液晶素子２３で発生する位相差によりコマ収差が補正されたとき）の液晶駆動ステップ量Ｘ（Ｘａ及びＸｂ）を検出するようになされている。

これに対して、チルト量を＋０．２５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、システムコントローラ５は、少なくともチルト量が＋０．２５度よりも＋方向の角度であると認識して、さらにチルト量が＋０．２５度＋Ｚ度（つまり＋０．５度）の場合に対応する＋の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させて、このときのジッタの値を取得する。そして、ここまでに得られたジッタの値のうち、チルト量を＋０．２５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、そのときの液晶駆動ステップ量Ｘａ（この場合Ｘｓ−Ｙ１）及び液晶駆動ステップ量Ｘｂ（この場合Ｘｓ＋Ｙ１）を採用する。

また、チルト量を＋０．５度としたときに得られたジッタの値が最小であれば、システムコントローラ５は、少なくともチルト量が＋０．５度よりも＋方向の角度であると認識して、さらにチルト量が＋０．５度＋Ｚ度（つまり＋０．７５度）の場合に対応する＋の位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させて、このときのジッタの値を取得する。

このようにして、システムコントローラ５は、チルト量が＋方向の角度であるならば、収差補正用液晶素子２３で発生する位相差を＋方向に変化させながら、ジッタの値が最小になったとき（つまり収差補正用液晶素子２３で発生する位相差によりコマ収差が補正されたとき）の液晶駆動ステップ量Ｘ（Ｘａ及びＸｂ）を検出するようになされている。

このようにして、システムコントローラ５は、コマ収差を補正するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させるための液晶駆動ステップ量Ｘ（Ｘａ及びＸｂ）を検出するようになされ、この検出した液晶駆動ステップ量Ｘ（Ｘａ及びＸｂ）をサーボ回路６に送出することにより、収差補正用液晶素子２３でコマ収差を補正し得るようになされている。

ところで、収差補正用液晶素子２３では、液晶に電圧が印加されてから位相変化が完了するまでに時間を要する。この時間を位相変化時間と呼び、この位相変化時間は、図１の特性曲線に示したように、液晶駆動前の印加電圧が高いほど短く印加電圧が低いほど長くなる（ただし、液晶駆動前の印加電圧と液晶駆動後の印加電圧との電位差が所定範囲内である場合に限る）。

ここで、収差補正処理での収差補正の精度を低下させることなく収差補正処理に要する時間を短くするためには、収差補正用液晶素子２３の位相変化が完了したとみなす静定時間を、位相変化時間に正確に合わせる必要がある。実際上、収差補正処理では、上述したように、少なくとも３回以上、液晶駆動ステップ量Ｘ（Ｘａ及びＸｂ）を変化させて収差補正用液晶素子２３を駆動させる必要があるため、静定時間を位相変化時間に正確に合わせることがより重要となる。

そこで、この実施例では、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘを上述した収差補正処理と同様の変化分で変化させながら、液晶駆動前の印加電圧Ｖに対応する液晶駆動前の液晶駆動ステップ量（これを駆動前ステップ量とも呼ぶ）Ｘｂｅごとに位相変化時間を測定し、その結果得られた駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係（駆動前ステップ量Ｘｂｅが小さいほど位相変化時間が長い）を表す特性曲線に近似する、図１０に示すような、駆動前ステップ量Ｘｂｅを変数とする関数ｆ（Ｘｂｅ）を求め、その関数ｆ（Ｘｂｅ）の係数を例えばシステムコントローラ５の内部メモリに記憶させておく。そして、システムコントローラ２は、内部メモリに記憶された係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ）に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して、その位相変化時間に静定時間を設定するようになされている。

ここで、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘを上述した収差補正処理と同様の変化分で変化させる場合が、液晶駆動前の印加電圧Ｖに対応する液晶駆動前の液晶駆動ステップ量（これを駆動前ステップ量とも呼ぶ）Ｘｂｅに対して、２つ以上ある場合は、複数の液晶駆動ステップ量Ｘの位相変化時間が最も長いものを採用し、特性曲線の近似を行うようにする。実際上、例えば、０度、−０．２５度、＋０．２５度の順に測定後の駆動前ステップ量Ｘｂｅは、＋０．２５度に対応したステップ量であり、次回の変化後の液晶駆動ステップ量（つまり液晶駆動させるときの印加電圧Ｖに対応する液晶駆動ステップ量であり、これを目標駆動ステップ量とも呼ぶ）Ｘａｆは、０度が最もジッタが低い場合Ｘａｆは０度相当のステップ量、−０．２５度が最もジッタが低い場合Ｘａｆはー０．５度相当のステップ量、＋０．２５度が最もジッタが低い場合Ｘａｆは＋０．５度相当のステップ量となり、ひとつのＸｂｅに対して３パターンのＸａｆが存在することになる。

かくして、システムコントローラ５では、収差補正用液晶素子２３の静定時間を位相変化時間に正確に合わせることができるので、収差補正処理での収差補正の精度を低下させることなく収差補正処理に要する時間を短くすることができる。

ちなみに、システムコントローラ５は、収差補正処理を実行する場合、上述したように、内周側領域３０Ａに印加する電圧を示す液晶駆動ステップ量Ｘａと、外周側領域３０Ｂに印加する電圧を示す液晶駆動ステップ量Ｘｂとにより収差補正用液晶素子２３を駆動させるようになされているので、液晶駆動前の液晶駆動ステップ量Ｘａ及びＸｂのうちの値が小さい方（つまり位相変化時間が長い方）を、駆動前ステップ量Ｘｂｅとして、静定時間を設定するようになされている。

（３）コマ収差補正処理手順
次に、上述したコマ収差補正処理の手順について、図１１及び図１２に示すフローチャートを用いて詳しく説明する。ちなみに、このコマ収差補正処理手順は、システムコントローラ５が、内部メモリに記憶されているプログラムにしたがって実行する処理である。

システムコントローラ５は、例えば、電源投入後に立上モードに移行すると、コマ収差補正処理手順ＲＴ１を開始して、ステップＳＰ１（図１１）に移る。ステップＳＰ１においてシステムコントローラ５は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号からジッタの値を取得して、次のステップＳＰ２に移る。なお、電源投入直後の収差補正用液晶素子２３は、内周側領域３０Ａ及び外周側領域３０Ｂに基準電圧Ｖｓが印加されて、チルト量が０度である場合に対応する位相差を発生するよう駆動させられている。

ステップＳＰ２においてシステムコントローラ５は、このときの収差補正用液晶素子２３に対する駆動前ステップ量Ｘｂｅ（つまりチルト量が０度である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させた液晶駆動ステップ量Ｘ）から位相変化時間を計算し、その位相変化時間に静定時間を設定して、次のステップＳＰ３に移る。

ステップＳＰ３においてシステムコントローラ５は、光ディスク２のチルト量が−Ｚ度である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させると共に、静定時間のカウントを開始して、次のステップＳＰ４に移る。

ステップＳＰ４においてシステムコントローラ５は、静定時間が経過するまで待ち受け、静定時間が経過すると、収差補正用液晶素子２３での位相変化が完了したと認識して、次のステップＳＰ５に移る。ステップＳＰ５においてシステムコントローラ５は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号からジッタの値を取得して、次のステップＳＰ６に移る。

ステップＳＰ６においてシステムコントローラ５は、このときの収差補正用液晶素子２３に対する駆動前ステップ量Ｘｂｅ（つまりステップＳＰ３で収差補正用液晶素子２３を駆動させた液晶駆動ステップ量Ｘ）から位相変化時間を計算し、その位相変化時間に静定時間を設定して、次のステップＳＰ７に移る。

ステップＳＰ７においてシステムコントローラ５は、光ディスク２のチルト量が＋Ｚ度である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させると共に、静定時間のカウントを開始して、次のステップＳＰ８に移る。

ステップＳＰ８においてシステムコントローラ５は、静定時間が経過するまで待ち受け、静定時間が経過すると、収差補正用液晶素子２３での位相変化が完了したと認識して、次のステップＳＰ９に移る。ステップＳＰ９においてシステムコントローラ５は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号からジッタの値を取得して、次のステップＳＰ１０（図１２）に移る。

ステップＳＰ１０においてシステムコントローラ５は、ここまでに得られた３つのジッタの値を、チルト量の順（この場合、−Ｚ度、０度、＋Ｚ度の順）に並べて、次のステップＳＰ１１に移る。ステップＳＰ１１においてシステムコントローラ５は、チルト量の順に並べた３つのジッタの値のうち、中央のジッタの値（この場合、０度のときのジッタの値）が最小であるかどうを判定する。

このステップＳＰ１１で肯定結果を得ると、このときシステムコントローラ５は、ステップＳＰ１２に移り、中央のジッタの値が得られたチルト量（この場合、０度）に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させればコマ収差を補正することができると判断して、このチルト量に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させて、この収差補正処理手順ＲＴ１を終了する。

これに対して、上述のステップＳＰ１１で否定結果を得ると、このときシステムコントローラ５は、ステップＳＰ１３に移る。ステップＳＰ１３においてシステムコントローラ５は、チルト量の順に並べた３つのジッタの値のうち、＋方向のジッタの値（この場合、＋Ｚ度のときのジッタの値）が最小であるかどうを判定する。

このステップＳＰ１３で肯定結果を得ると、このときシステムコントローラ５は、ステップＳＰ１４に移り、このときの収差補正用液晶素子２３に対する駆動前ステップ量Ｘｂｅ（つまり収差補正用液晶素子２３を前回駆動させたときの液晶駆動ステップ量Ｘ）から位相変化時間を計算し、その位相変化時間に静定時間を設定して、次のステップＳＰ１５に移る。

ステップＳＰ１５においてシステムコントローラ５は、光ディスク２の＋方向のチルト量がさらに＋Ｚ度（この場合、＋２Ｚ度）である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させると共に、静定時間のカウントを開始して、次のステップＳＰ１６に移る。

ステップＳＰ１６においてシステムコントローラ５は、静定時間が経過するまで待ち受け、静定時間が経過すると、収差補正用液晶素子２３での位相変化が完了したと認識して、次のステップＳＰ１７に移る。ステップＳＰ１７においてシステムコントローラ５は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号からジッタの値を取得して、次のステップＳＰ１８に移る。

ステップＳＰ１８においてシステムコントローラ５は、ここまでに得られた４つのジッタの値（この場合、−Ｚ度のときの値と、０度のときの値と、＋Ｚ度のときの値と、＋２Ｚのときの値）のうち、ステップＳＰ１８でのチルト量（＋２Ｚ度）から最も離れたチルト量のときのジッタの値（この場合、−Ｚ度のときの値）を削除して、再びステップＳＰ１０に戻る。

ステップＳＰ１０に戻ったシステムコントローラ５は、ここまでに得られた３つのジッタの値を、チルト量の順（この場合、０度、＋Ｚ度、＋２Ｚ度の順）に並べて、次のステップＳＰ１１に移り、チルト量の順に並べた３つのジッタの値のうち、中央のジッタの値（この場合、＋Ｚ度のときのジッタの値）が最小であるかどうを判定する。そして、システムコントローラ５は、このステップＳＰ１１で肯定結果が得られるまで、ステップＳＰ１３〜ＳＰ１８までの処理を、チルト量を＋方向に変化させながら繰り返す。

これに対して、上述のステップＳＰ１３で否定結果を得ると、このときシステムコントローラ５は、ステップＳＰ１９に移り、このときの収差補正用液晶素子２３に対する駆動前ステップ量Ｘｂｅ（つまり収差補正用液晶素子２３を前回駆動させたときの液晶駆動ステップ量Ｘ）から位相変化時間を計算し、その位相変化時間に静定時間を設定して、次のステップＳＰ２０に移る。

ステップＳＰ２０においてシステムコントローラ５は、光ディスク２の−方向のチルト量がさらに−Ｚ度（この場合、−２Ｚ度）である場合に対応する位相差を発生するよう収差補正用液晶素子２３を駆動させると共に、静定時間のカウントを開始して、次のステップＳＰ２１に移る。

ステップＳＰ２１においてシステムコントローラ５は、静定時間が経過するまで待ち受け、静定時間が経過すると、収差補正用液晶素子２３での位相変化が完了したと認識して、次のステップＳＰ２２に移る。ステップＳＰ２２においてシステムコントローラ５は、このときリーダ／ライタ回路１５から与えられるジッタ測定信号からジッタの値を取得して、次のステップＳＰ２３に移る。

ステップＳＰ２３においてシステムコントローラ５は、ここまでに得られた４つのジッタの値（この場合、−２Ｚ度のときの値と、−Ｚ度のときの値と、０度のときの値と、＋Ｚ度のときの値）のうち、ステップＳＰ２０でのチルト量（−２Ｚ度）から最も離れたチルト量のときのジッタの値（この場合、＋Ｚ度のときの値）を削除して、再びステップＳＰ１０に戻る。

ステップＳＰ１０に戻ったシステムコントローラ５は、ここまでに得られた３つのジッタの値を、チルト量の順（この場合、−２Ｚ度、−Ｚ度、０度の順）に並べて、次のステップＳＰ１１に移り、チルト量の順に並べた３つのジッタの値のうち、中央のジッタの値（この場合、−Ｚ度のときのジッタの値）が最小であるかどうを判定する。そして、システムコントローラ５は、このステップＳＰ１１で肯定結果が得られるまで、ステップＳＰ１３〜ＳＰ２３までの処理を、チルト量を−方向に変化させながら繰り返す。

このような収差補正処理手順ＲＴ１にしたがって、システムコントローラ５は、立上モード時に、コマ収差を補正するよう収差補正液晶素子２３を駆動させるようになされている。

（４）動作及び効果
以上の構成において光ディスク装置２では、液晶駆動ステップ量Ｘを上述した収差補正処理と同様の変化分で変化させながら、液晶駆動前の印加電圧Ｖに対応する駆動前ステップ量Ｘｂｅごとに位相変化時間を測定し、その結果得られた駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線に近似する、駆動前ステップ量Ｘｂｅを変数とする関数ｆ（Ｘｂｅ）を求め、その関数ｆ（Ｘｂｅ）の係数を例えばシステムコントローラ５の内部メモリに記憶させておく。

そして、光ディスク装置２のシステムコントローラ５は、収差補正処理時に、内部メモリに記憶された係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ）に基づき、収差補正用液晶素子２３に対する駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して、その位相変化時間に静定時間を設定する。

こうすることで、システムコントローラ５では、収差補正用液晶素子２３の静定時間を位相変化時間に正確に合わせることができるので、収差補正処理での収差補正の精度を低下させることなく収差補正処理に要する時間を短くすることができる。

以上の構成によれば、収差補正用液晶素子２３への電圧印加後の静定時間を、駆動前ステップ量Ｘｂｅと、その変化分（つまり駆動させたときの液晶駆動ステップ量Ｘ）とに基づいて算出するようにしたことにより、常にそのときどきの位相変化時間に合った静定時間を設定することができ、かくして収差補正用液晶素子２３を利用した収差補正の精度を十分確保しつつ、収差補正に要する時間を短縮することができる。

（５）他の実施の形態
なお上述の実施の形態では、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘを上述した収差補正処理と同様の変化分で変化させながら、液晶駆動前の印加電圧Ｖに対応する駆動前ステップ量Ｘｂｅごとに位相変化時間を測定し、その結果得られた駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線に近似する１の関数ｆ（Ｘｂｅ）を求めて、その係数を記憶させておくようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば、図１３（Ａ）に示すように、駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線を、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ１以下の範囲、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ１〜Ｘ２の範囲、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ２以上の範囲とに区分して、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ１以下の範囲の部分に近似する関数ｆ１（Ｘｂｅ）と、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ１〜Ｘ２の範囲の部分に近似する関数ｆ２（Ｘｂｅ）と、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ２以上の範囲の部分に近似するｆ３（Ｘｂｅ）とを求めて、それぞれの係数を記憶させておくようにしてもよい。

この場合、システムコントローラ５は、関数ｆ１（Ｘｂｅ）、ｆ２（Ｘｂｅ）、ｆ３（Ｘｂｅ）のうちの駆動前ステップ量Ｘｂｅがその範囲に含まれる関数の係数を読み出して、その係数でなる関数に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。

このようにすれば、駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線を１の関数ｆ（Ｘｂｅ）で近似する場合よりも、より正確に位相変化時間に合った静定時間を設定することができる。

また、これに限らず、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動前の印加電圧Ｖに対応する駆動前ステップ量Ｘｂｅを収差補正処理と同様の変化分で変化させながら位相変化時間を測定して、駆動前ステップ量Ｘｂｅごとの位相変化時間を示す表データを記憶ささせておくようにしてもよい。

すなわち、図１３（Ｂ）に示すように、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ１のときの位相変化時間ｔがｔ１、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ２のときの位相変化時間ｔがｔ２、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸ３のときの位相変化時間ｔがｔ３、駆動前ステップ量ＸｂｅがＸｎのときの位相変化時間ｔがｔｎであることを示す表データを記憶させる。

この場合、システムコントローラ５は、駆動前ステップ量Ｘｂｅに対応する位相変化時間ｔを表データから取得して、静定時間を設定するようにすればよい。

このようにすれば、駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線を近似する関数ｆ（Ｘｂｅ）に基づいて静定時間を設定する場合よりも、容易に位相変化時間に合った静定時間を設定することができる。

また上述の実施の形態では、ひとつの駆動前ステップ量Ｘｂｅにたいして複数の目標駆動ステップ量Ｘａｆがある場合でも、複数あるＸａｆのパターンの最大位相変化時間を用いるようにしたが、さらに精度よく静定時間を設定するには、静定時間計算処理が複雑になるが、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆの２つ情報から、静定時間を決定する必要がある。

この場合、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘを変化させながら、そのときどきの駆動前ステップ量Ｘｂｅ及び目標駆動ステップ量Ｘａｆでの位相変化時間を測定し、その結果に基づいて駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆとを変数とする関数ｆ（Ｘｂｅ、Ｘａｆ）を求めて、その係数を記憶させておく。

そしてシステムコントローラ５が、その係数を読み出して、その係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ、Ｘａｆ）に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。

このようにすれば、液晶駆動ステップ量Ｘの変化分が変動する場合でも、位相変化時間に合った静定時間を設定することができる。

また、これに限らず、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘを変化させながら、そのときどきの駆動前ステップ量Ｘｂｅ及び目標駆動ステップ量Ｘａｆでの位相変化時間を測定し、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘとの差分ごとに、駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線に近似する関数ｆ（Ｘｂｅ）を求めて、その係数を記憶させておくようにしてもよい。

この場合、システムコントローラ５は、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘとの差分に対応する係数を読み出して、その係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ）に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。

さらに、液晶は温度によっても、その位相変化時間が変化することから、温度を位相変化時間を予測するときの要素として用いるようにしてもよい。この場合、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘと温度Ｔとを変化させながら、そのときどきの駆動前ステップ量Ｘｂｅ、目標駆動ステップ量Ｘａｆ及び温度Ｔでの位相変化時間を測定し、その結果に基づいて駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆと温度Ｔとを変数とする関数ｆ（Ｘｂｅ、Ｘａｆ、Ｔ）を求めて、その係数を記憶させておく。

そしてシステムコントローラ５が、液晶駆動時に、その係数を読み出して、その係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ、Ｘａｆ、Ｔ）に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆと温度Ｔから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。このようにすれば、より正確に位相変化時間に合った静定時間を設定することができる。

ちなみに、この場合、例えば、収差補正用液晶素子２３に温度センサを設けて、システムコントローラ５が、この温度センサから得られる測定結果より温度Ｔを得るようにすればよい。

また、これに限らず、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて液晶駆動ステップ量Ｘと温度Ｔとを変化させながら、そのときどきの駆動前ステップ量Ｘｂｅ、目標駆動ステップ量Ｘａｆ及び温度Ｔでの位相変化時間を測定し、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘとの差分及び温度Ｔごとに、駆動前ステップ量Ｘｂｅと位相変化時間との関係を表す特性曲線に近似する関数ｆ（Ｘｂｅ）を求めて、その係数を記憶させておくようにしてもよい。

この場合、システムコントローラ５は、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘとの差分及び温度Ｔに対応する係数を読み出して、その係数でなる関数ｆ（Ｘｂｅ）に基づき、駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。

さらに上述の実施の形態では、駆動前ステップ量Ｘｂｅから位相変化時間を予測して静定時間を設定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、駆動前ステップ量Ｘｂｅが基準液晶駆動ステップ量Ｘｓ±位相差発生ステップ量Ｙであることから、液晶駆動前の位相差発生ステップ量Ｙｂｅから位相差変化時間を予測して静定時間を設定するようにしてもよいし、液晶駆動前の位相差発生ステップ量Ｙｂｅと液晶駆動させるときの液晶駆動ステップ量Ｙａｆと、温度Ｔとから位相差変化時間を予測して静定時間を設定するようにしてもよい。

さらに上述の実施の形態では、システムコントローラ５が、液晶駆動ステップ量Ｘにより収差補正用液晶素子２３の駆動を制御するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、印加電圧Ｖにより収差補正用液晶素子２３の駆動を制御するようにしてもよい。この場合、駆動前ステップ量Ｘｂｅの代わりに、駆動前の印加電圧Ｖから位相変化時間を予測して静定時間を設定するようにすればよい。

具体的に言うと、あらかじめ収差補正用液晶素子２３を用いて印加電圧Ｖを収差補正処理と同様の変化分で変化させながら、液晶駆動前の印加電圧Ｖごとに位相変化時間を測定し、その結果得られた液晶駆動前の印加電圧Ｖと位相変化時間との関係を表す特性曲線に近似する１の関数ｆ（Ｖ）を求めて、その係数を記憶させておくようにする。

そしてシステムコントローラ５が、液晶駆動時に、その係数を読み出して、その係数でなる関数ｆ（Ｖ）に基づき、液晶駆動前の印加電圧Ｖから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにすればよい。

さらに、駆動前ステップ量Ｘｂｅと目標駆動ステップ量Ｘａｆと温度Ｔとを用いた場合と同様にして、液晶駆動前の印加電圧Ｖと液晶駆動させるときの印加電圧Ｖと温度Ｔとから位相変化時間を予測して、静定時間を設定するようにしてもよい。

さらに上述の実施の形態では、光ディスク装置２に、コマ収差を補正可能な収差補正用液晶素子２３を設けた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、コマ収差以外の収差（例えば、球面収差、非点収差、フォーカスバイアスに係わる収差）を補正可能な収差補正用液晶素子２３を設けるようにしてもよい。

この場合、補正する収差に応じた電極パターンが１対の透明電極のうちの一方に形成された収差補正用液晶素子２３を用いればよい。さらに、１対の透明電極のうちの他方に、一方の電極パターンで補正する収差とは異なる収差に対応する電極パターンを形成するようにしてもよく。このようにすれば、１つの収差補正用液晶素子２３で複数の収差を補正することができるようになる。

さらに上述の実施の形態では、立上モード時に収差補正処理を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他のモード時に実行するようにしてもよい。

さらに上述の実施の形態では、液晶電圧設定部５０、デジタル／アナログ変換器５１、液晶ドライバ５２がサーボ回路６内に設けられている場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これらがサーボ回路６外に設けられていてもよい。

さらに上述の実施の形態で説明した収差補正処理は、一例であり、静定時間の設定以外の部分については、異なっていてもよい。

さらに上述した実施の形態では、光ディスク２のチルト量が±１．０度の範囲である場合のコマ収差を補正可能な収差補正用液晶素子２３を用いるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスク２のチルト量が±１．０度を超える範囲である場合のコマ収差を補正可能な収差補正用液晶素子２３を用いるようにしてもよい。

さらに本発明は、上述した実施の形態及びここまで説明した他の実施の形態に限定されるものではなく、上述した実施の形態及びここまで説明した他の実施の形態の一部または全部を任意に組み合わせた形態、もしくは一部を抽出した形態にもその適用範囲が及ぶものである。

さらに上述した実施の形態では、光学系としての光ピックアップ３と、光学系に配される液晶素子としての収差補正用液晶素子２３と、液晶素子の駆動を制御する制御部としてシステムコントローラ５などにより、光ディスク装置１を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の構成を用いてもよい。

さらに上述した実施の形態では、収差補正処理を実行するためのプログラムを、システムコントローラ５の内部メモリにあらかじめ記憶しておくようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、このプログラムを例えば光ディスク２などの記録媒体に記録しておき、このプログラムを記録媒体から読み出してシステムコントローラ５の内部メモリにインストールするようにしてもよい。

さらに、上述した実施の形態及びここまで説明した他の実施の形態では、光ディスク２に対してデータの記録／再生を行う光ディスク装置１に本発明を適用した場合について述べたが、実際上、本発明は、再生専用の光ディスク装置１や、光ディスク装置１を有する、パーソナルコンピュータ、オーディオプレイヤ、ＤＶＤレコーダ、ＢＤレコーダなど、この他種々の装置に広く適用することができる。

本発明は、収差補正用の液晶素子を有する光ディスク装置に広く利用できる。

位相変化時間と駆動前印加電圧との関係を示すグラフである。 位相量と印加電圧との関係を示すグラフである。 光ディスク装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 光ピックアップの構成を示す略線図である。 透明電極の電極パターンを示す略線図である。 サーボ回路の構成を示すブロック図である。 位相量と印加電圧及び液晶駆動ステップ量との関係を示すグラフである。 位相差と位相差発生ステップ量との関係を示すグラフである。 各領域に対する液晶駆動ステップ量と印加電圧との説明に供する略線図である。 駆動前ステップ量を変数とする関数を示すグラフである。 収差補正処理手順を示すフローチャートである。 図１１の収差補正処理手順を示すフローチャートに続くフローチャートである。 他の実施の形態による駆動前ステップ量を変数とする関数及び駆動前ステップ量に対する位相変化時間を示すグラフである。

符号の説明

１……光ディスク装置、３……光ピックアップ、５……システムコントローラ、６……サーボ回路、２３……収差補正用液晶素子、５０……液晶駆動電圧設定部、５２……液晶ドライバ。

Claims (7)

1. レーザ光を光ディスクの記録面に照射した結果得られる反射光を光電変換することにより光電変換信号を得る光学系と、
   上記光学系に配される、電極を有する液晶素子と、
   上記液晶素子の電極に印加する電圧を制御して上記液晶素子に位相差を発生させることにより上記液晶素子を通過するレーザ光に位相差を与えて収差を補正するよう上記液晶素子を駆動させる制御部と
   を具え、
   上記制御部は、
   上記液晶素子を駆動させたときに待つ静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧とに基づいて設定する
   ことを特徴とする光ディスク装置。
2. 上記液晶素子の温度を計測する温度センサを具え、
   上記制御部は、
   上記液晶素子を駆動させたときの静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧と上記温度センサから得られる上記液晶素子の温度とに基づいて設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 上記制御部は、
   上記電圧を変換してなる、上記液晶素子の駆動ステップ量を示す液晶駆動ステップ量により上記液晶素子の駆動を制御するようになされ、上記液晶素子を駆動させたときの静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧に対応する液晶駆動ステップ量と駆動させるときに印加する電圧に対応する液晶駆動ステップ量とに基づいて設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 上記液晶素子の温度を計測する温度センサを具え、
   上記制御部は、
   上記液晶素子を駆動させたときの静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧に対応する液晶駆動ステップ量と駆動させるときに印加する電圧に対応する液晶駆動ステップ量と上記温度センサから得られる上記液晶素子の温度とに基づいて設定する
   ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
5. 上記液晶素子で発生する位相差は、上記電極に印加される電圧に応じて変化し、
   上記制御部は、
   上記静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に発生している位相差を示す位相差発生ステップ量と駆動時に発生させる位相差を示す位相差発生ステップ量とに基づいて設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
6. 上記液晶素子の温度を計測する温度センサを具え、
   上記制御部は、
   上記液晶素子を駆動させたときの静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に発生している位相差を示す位相差発生ステップ量と駆動時に発生させる位相差を示す位相差発生ステップ量と上記温度センサから得られる上記液晶素子の温度とに基づいて設定する
   ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
7. レーザ光を光ディスクの記録面に照射した結果得られる反射光を光電変換することにより光電変換信号を得る光学系に配される、電極を有する液晶素子を、当該電極に印加する電圧を制御して位相差を発生させることにより上記液晶素子を通過するレーザ光に位相差を与えて収差を補正するよう駆動させたときに待つ静定時間を、上記液晶素子を駆動させる前に印加されている電圧と駆動させるときに印加する電圧とに基づいて設定する
   ことを特徴とする液晶静定時間設定方法。

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