JP2008304285A - 劣化診断システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定対象400の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを測定する抵抗測定回路100と、絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つを記憶すると共に、前記被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを記憶するメモリ300と、前記被測定対象から検出された絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つと比較すると共に、絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを前記メモリに書き込むCPU200とを備える。
【選択図】図1
Description
被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つの推移により現場型機器の劣化を診断し、この機器が故障する時期を事前に予測する劣化診断システムにおいて、
被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを測定する抵抗測定回路と、
絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つを記憶すると共に、前記被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを記憶するメモリと、
前記被測定対象から検出された絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つと比較すると共に、絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを前記メモリに書き込むCPUと
を備えたことを特徴とする劣化診断システム。
絶縁抵抗の抵抗値を測定する絶縁抵抗測定用パターンと接触抵抗の抵抗値を測定する接触抵抗測定用接点とを備え、絶縁抵抗及び接触抵抗の抵抗値の推移により現場型機器の劣化を診断し、この機器が故障する時期を事前に予測する劣化診断システムにおいて、
前記絶縁抵抗測定用パターンの絶縁抵抗値及び接触抵抗測定用接点の接触抵抗値を測定する抵抗測定回路と、
この電流が入力された前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点の電圧を測定する電圧測定回路と、
絶縁抵抗の限界値と接触抵抗の限界値を記憶すると共に、前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点の抵抗値を定期的に記憶するメモリと、
前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点から検出された絶縁抵抗の抵抗値と接触抵抗の抵抗値を、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値と接触抵抗の限界値と比較すると共に、絶縁抵抗の抵抗値と接触抵抗の抵抗値を前記メモリに書き込むCPUと
を備える。
110 定電流出力回路
120 電圧測定回路
300 メモリ
400 被測定対象
Claims (6)
- 被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つの推移により現場型機器の劣化を診断し、この機器が故障する時期を事前に予測する劣化診断システムにおいて、
被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを測定する抵抗測定回路と、
絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つを記憶すると共に、前記被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを記憶するメモリと、
前記被測定対象から検出された絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つと比較すると共に、絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを前記メモリに書き込むCPUと
を備えたことを特徴とする劣化診断システム。 - 前記抵抗測定回路は、被測定対象に電流を出力する定電流出力回路と被測定回路の電圧を測定する電圧測定回路とを備えたことを特徴とする請求項1記載の劣化診断システム。
- 前記抵抗測定回路は、被測定対象の絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを定期的に測定し、前記メモリにその測定結果を記憶することを特徴とする請求項1記載の劣化診断システム。
- 前記CPUは、前記被測定対象から検出された絶縁抵抗の抵抗値又は接触抵抗の抵抗値の少なくともいずれか一つを、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値又は接触抵抗の限界値の少なくともいずれか一つと比較した結果、限界点を超える場合若しくは限界点近くの場合に警報を出力することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の劣化診断システム。
- 被測定対象に絶縁抵抗の抵抗値を測定するダミーパターンを形成したことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の劣化診断システム。
- 絶縁抵抗の抵抗値を測定する絶縁抵抗測定用パターンと接触抵抗の抵抗値を測定する接触抵抗測定用接点とを備え、絶縁抵抗及び接触抵抗の抵抗値の推移により現場型機器の劣化を診断し、この機器が故障する時期を事前に予測する劣化診断システムにおいて、
前記絶縁抵抗測定用パターンの絶縁抵抗値及び接触抵抗測定用接点の接触抵抗値を測定する抵抗測定回路と、
この電流が入力された前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点の電圧を測定する電圧測定回路と、
絶縁抵抗の限界値と接触抵抗の限界値を記憶すると共に、前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点の抵抗値を定期的に記憶するメモリと、
前記絶縁抵抗測定用パターン及び前記接触抵抗測定用接点から検出された絶縁抵抗の抵抗値と接触抵抗の抵抗値を、前記メモリに記憶された絶縁抵抗の限界値と接触抵抗の限界値と比較すると共に、絶縁抵抗の抵抗値と接触抵抗の抵抗値を前記メモリに書き込むCPUと
を備えたことを特徴とする劣化診断システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007151091A JP5041213B2 (ja) | 2007-06-07 | 2007-06-07 | 劣化診断システム |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07104026A (ja) * | 1993-10-01 | 1995-04-21 | Hioki Ee Corp | 実装部品の半田付け不良検出方法 |
JPH1062476A (ja) * | 1996-08-13 | 1998-03-06 | Fuji Electric Co Ltd | 電子機器のプリント板劣化検出装置 |
JP2001358429A (ja) * | 2000-06-15 | 2001-12-26 | Toshiba Corp | プリント配線板の劣化検出方法および装置 |
JP2005110400A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Fanuc Ltd | モータ駆動装置 |
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2007
- 2007-06-07 JP JP2007151091A patent/JP5041213B2/ja not_active Expired - Fee Related
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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