JP2008293144A - 半導体集積回路及びicカード - Google Patents
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Abstract
【課題】 暗号の電力解析対策として有効であり、また、データバスの改ざんだけでなく、データバスへのモニター行為を検出可能な半導体集積回路及びICカードを提供する。
【解決手段】 データバス1と反転データバス2をNXOR回路3へ入力し信号を比較し、比較結果4を所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路5を通して、出力をアラーム信号6とし、通常時では、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングのずれはフィルター回路5のパルス除去幅よりも小さく、アラームは出力されないが、データバスをモニターするため、例えばデータバス1にプローブを置くと、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングのずれがフィルター回路5のパルス除去幅よりも大きくなり、アラーム信号6が出力され、バスモニター行為を検出できる。
【選択図】図1
【解決手段】 データバス1と反転データバス2をNXOR回路3へ入力し信号を比較し、比較結果4を所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路5を通して、出力をアラーム信号6とし、通常時では、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングのずれはフィルター回路5のパルス除去幅よりも小さく、アラームは出力されないが、データバスをモニターするため、例えばデータバス1にプローブを置くと、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングのずれがフィルター回路5のパルス除去幅よりも大きくなり、アラーム信号6が出力され、バスモニター行為を検出できる。
【選択図】図1
Description
本発明は半導体集積回路に関するものであり、特に集積回路から機密情報を不正に取得しようとする攻撃を防止するデータ転送回路に関するものである。
ICカードなどの機密情報を保持するセキュリティ用途のLSIに対して、その機密情報を不正に取得しようとする様々な攻撃が存在する。
1つは電力解析で、本攻撃はLSIの消費電力を観測して、暗号の秘密鍵を取得する方法である。本方法は、消費電力がLSI内の処理データ、例えばデータバスのハミング重みなどに依存することを利用する。
また、別の攻撃として、例えば故障差分解析といった故障の誘発が挙げられる。故障差分解析は、暗号処理において局所的に誤動作を発生させ、誤った暗号処理結果を入手し、正常な結果との差分によって秘密鍵を導出する方法である。誤動作の発生方法は、電源電圧にグリッチを印加する方法、LSIの表面を露出して内部回路へ局所的にレーザを照射する方法、プロービングによって内部配線へアクセスし、強制印加を行う方法などが挙げられる。いずれの方法も、集積回路内部の信号(制御信号、データ)を局所的に正常時とは異なる状態に変化させて、誤動作を誘発する。
従来の半導体集積回路は、マイクロプロセッサをデュアルレールロジック(データを正論理と負論理の2つのバスで伝達)で構成し、デュアルレールバスの論理が「11」状態ではアラームを発生する構成となっている(特許文献1)。本構成では、バスをデュアルレールで構成することによって、バスの消費電流のデータ依存性をなくし、電力解析に対抗している。また、デュアルレールバスの論理が「11」状態ではアラームを発生することによって、故障の誘発に対抗している。
特表2003−521201号公報
セキュリティ用途のLSIに対する別の攻撃として、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成によって、バスのデータを読み出す、バスモニター行為が挙げられる。本攻撃は、バスのデータを改変するわけではないため、従来の構成では本攻撃を検出することができない。
本発明は、前記課題を解決するためになされたものであり、電力解析や故障の誘発といった攻撃へ対抗するだけでなく、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成といったバスモニター行為に対しても対抗することが可能となる半導体集積回路及びICカードを提供することである。
前記の課題を解決するため、本発明の半導体集積回路は、データを伝送するデータバスと、前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、前記データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、前記フィルター回路の出力をアラーム信号とするものである。
これにより、データバスの改ざんだけでなく、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成といったバスモニター行為を検出することが可能となる。また、設計や製造ばらつきにより発生する狭パルスは、フィルター回路で除去されるため、アラーム誤発生を抑えることができる。また、本発明の半導体集積回路は、デュアルレールバスで構成されており、データバスの消費電流のデータ依存性がなくなるため、電力解析攻撃へ対抗することが可能である。
さらに、本発明の半導体集積回路は、前記半導体集積回路において、前記データバスと前記反転データバスの複数の配線を、固定電位の配線と交互に配置するものである。
これにより、隣接データバスのノイズの影響を受けにくくなり、データ遷移の遅延時間の隣接バスの依存性がなくなるため、前記フィルター回路のパルス除去幅の設定を小さくすることができ、バスモニター行為の検出感度を高く保つことが可能となる。
また、本発明の半導体集積回路は、データを伝送するデータバスと、前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、前記データバスにスイッチを介して接続され、選択データバスに他のスイッチを介して接続される遅延回路と、テスト信号によって、前記データバスの信号を選択データバスへそのまま出力するか、前記遅延回路を介して選択データバスへ出力するかを、選択するスイッチと、前記選択データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、前記比較回路の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、前記遅延回路の遅延時間は、前記遅延回路により遅延されるパルス幅が前記フィルター回路のパルス除去幅よりも大きく、前記フィルターの出力をアラーム信号とするものである。
これにより、データバスの改ざんやバスモニター行為の検出、電力解析への対抗だけでなく、本回路の故障や攻撃者による本回路の改ざんをチェックすることが可能となる。
本発明の半導体集積回路によれば、データを伝送するデータバスと、前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、前記データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、前記フィルター回路の出力をアラーム信号とするため、設計や製造ばらつきによるアラーム誤発生を抑えつつ、電力解析や故障の誘発への対策だけでなく、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成といったバスモニター行為を検出することが可能となるため、動作の信頼性が高く、かつ、よりセキュリティの高いデータ伝送が可能となる。
さらに、前記データバスと前記反転データバスの複数の配線を、固定電位の配線と交互に配置することにより、隣接データバスのノイズ影響を受けにくくなり、前記フィルター回路のパルス除去幅の設定を小さくすることができるので、バスモニター行為の検出感度を高めることができ、よりセキュリティを向上することが可能となる。
また、本発明の別の半導体集積回路によれば、データを伝送するデータバスと、前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、前記データバスにスイッチを介して接続され、選択データバスに他のスイッチを介して接続される遅延回路と、テスト信号によって、前記データバスの信号を選択データバスへそのまま出力するか、前記遅延回路を介して選択データバスへ出力するかを、選択するスイッチと、前記選択データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、前記比較回路の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、前記遅延回路の遅延時間は、前記遅延回路により遅延されるパルス幅が前記フィルター回路のパルス除去幅よりも大きく、前記フィルター回路の出力をアラーム信号とするため、データバスの改ざんやバスモニター行為の検出、電力解析への対抗だけでなく、本回路の故障や攻撃者による本回路の改ざんをチェックすることが可能となり、より半導体集積回路の信頼性やセキュリティを向上することができる。
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図1において、1はデータバス、2は反転データバス、3はNXOR回路(XORの反転を出力)、4は比較結果、5はフィルター回路、6はアラーム信号である。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図1において、1はデータバス、2は反転データバス、3はNXOR回路(XORの反転を出力)、4は比較結果、5はフィルター回路、6はアラーム信号である。
データバス1は正論理、反転データバス2は負論理で、これらのバス2本で1つの信号を伝達するデュアルレールバスを構成している。NXOR回路3は、データバス1、反転データバス2の比較を行い、データバス1と反転データバス2の極性が異なる場合はLowを、極性が同じ場合はHighを比較結果4に出力する。フィルター回路5は、所定期間以下の正極のパルス幅を除去する回路である。比較結果4をフィルター回路5に入力し、出力をアラーム信号6とする。
図2は、本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路の動作を示す図である。図2を用いて、図1の半導体集積回路の動作を説明する。
図2において、T0−T1期間は、データバス1と反転データバス2が同じタイミングで遷移する場合を示している。この場合は、データバス1と反転データバス2の信号は互いに極性が反転となるため、比較結果4はLow固定となり、アラーム信号6もLow固定で、アラームが出力されない。
T1−T2期間は、データバス1と反転データバス2の遷移タイミングが少しずれている場合を示している。このようなタイミング差は、それぞれのデータバスの配線長や寄生容量のずれが生じた場合に発生する。また製造時のばらつきなどによっても発生する可能性もある。フィルター回路5は、予めこれらのタイミングばらつきの時間を考慮して、除去パルス幅の設定を行っておく。データバス1と反転データバス2の遷移タイミングのずれは、NXOR回路3によって、比較結果4に狭パルスとなって出力されるが、フィルター回路5によって、これらのパルスは除去される。したがって、アラーム信号6はLow固定となり、アラームは出力されない。
T2−T3期間は、データバス1と反転データバス2の遷移タイミングのずれが大きくなった場合を示している。このような場合が発生する例としては、1つはプローブをデータバス1に置いた場合、もう1つはFIB(Focused Ion Beam)装置によってデータバス1にモニター用のパッド形成した場合などが考えられる。これらは、いずれも寄生容量(プローブの寄生容量、パッドの寄生容量)がデータバス1に追加され、その結果データバス1のデータ遷移タイミングが反転データバス2よりも遅くなる。データバス1と反転データバス2の遷移タイミングのずれが大きくなると、比較結果4のパルス幅がフィルター回路5の除去パルス幅よりも大きくなり、アラーム信号6にパルス(アラーム)が出力される。よって、バスへのプローブ配置やパッド形成といったバスモニター行為を検出することが可能である。
T3−T4期間は、データバス1に、例えばプロービングによって強制的にLowを印加された場合を示している。この場合でも、強制的にデータを変更された期間のパルス信号が比較結果4に出力され、その結果アラーム信号6にパルス(アラーム)が出力される。よって、プロービングやレーザ照射などによる、データバスへの強制印加、データ改ざんも検出することが可能である。
以上述べたように、データバス1と反転データバス2のNXOR回路3で比較を行い、その出力である比較結果4をフィルター回路5によって、所定期間のパルス幅以上のパルスをアラーム信号6として出力することにより、設計や製造ばらつきによるアラーム誤発生を抑えつつ、プロービングやレーザ照射によるバスへの強制印加、データ改ざんを検出するだけでなく、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成といった、バスモニター行為に対しても検出することが可能となる。
また、本発明の半導体集積回路はデータバス1と反転データバス2のデュアルレールバスで構成されているため、データが0、1に関わらずデータバス1、反転データバス2の一方は充電、もう一方は放電となり、バスの消費電力のデータ依存性がなくなる。したがって、消費電力のデータ依存性を元に暗号の秘密鍵を探索する電力解析への対抗となる。
図3は、本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路のフィルター回路5の構成の一例を示す図である。
図3において、51はAND回路、52は遅延回路である。AND回路51は、比較結果4と、比較結果4が入力された遅延回路52の出力を入力とする。本回路によって、遅延回路52で設定された遅延時間よりも短い期間の正極のパルス幅は除去される。なお、本構成はフィルター回路5の一例であり、所定のパルス幅以下のパルスを除去するローパスフィルターであれば、その他の構成でも適用できる。
図4は、図1に示した半導体集積回路のデータバス1、反転データバス2のレイアウト構成の一例を示す図である。
図4において、10はビット0のデータバス、20はビット0の反転データバス、11はビット1のデータバス、21はビット1の反転データバス、30はグランドである。
グランド30は、データバス10、反転データバス20、データバス11、反転データバス21それぞれの間に配置されている。
図1に示した本発明の半導体集積回路では、データバス1と反転データバス2のデータの遷移タイミングを比較するため、通常時のデータバス1と反転データバス2のデータ伝送時間を予め揃えておく必要がある。設計に際しては、例えばデータバス1と反転データバス2の配線長を揃えておく等の対応が必要である。しかしながら、例えばCPUとメモリを接続するメモリバス配線などで、複数のビット配線が並行に配置される場合、隣接する配線の影響を考慮する必要がある。例えばビット0の反転データバス20とビット1のデータバス11が隣接して配置された場合、ビット0とビット1のデータは相関がないため、反転データバス20のデータ遷移が発生するとき、データバス11の信号の状態は、例えば、LowからHighへ遷移、HighからLowへ遷移、Lowで静止、Highで静止、などのように複数存在する。データバス11の状態で反転データバス20のデータ遷移の遅延時間が変わるため、このばらつきも考慮すると、フィルター回路5のパルス除去幅を比較的大きく設定する必要がある。しかし、フィルター回路5のパルス除去幅を大きくすることは、バスモニターの検出感度を低下させるため望ましくない。
図4のデータバス、及び反転データバスのレイアウトでは、各バス配線の両隣はグランド線のため、他のビットデータの影響を受けにくくなっている。よって、データ遷移の遅延時間の隣接バスのデータ依存性はなくなり、フィルター回路5のパルス除去幅を小さく設定することができ、バスモニターの検出感度を高く保つことが可能となる。
また、ICカードに本実施の形態1の半導体集積回路を有するようにすることにより、ICカードのセキュリティを向上することができる。
このように、本実施の形態によれば、データを伝送するデータバス1と、前記データバス1により伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバス2と、前記データバス1により伝送されるデータと前記反転データバス2により伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力するNXOR回路3と、前記NXOR回路3の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路5とを有し、前記フィルター回路5の出力をアラーム信号6とするため、設計や製造ばらつきによるアラーム誤発生を抑えつつ、電力解析や故障の誘発への対策だけでなく、バスへのプローブ配置やモニターパッド形成といったバスモニター行為を検出することが可能となるため、動作の信頼性が高く、かつ、よりセキュリティの高いデータ伝送が可能となるという効果がある。
(実施の形態2)
図5は、本発明の実施の形態2に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図5において、1はデータバス、1Dは選択データバス、2は反転データバス、3はNXOR回路(XORの反転を出力)、4は比較結果、5はフィルター回路、6はアラーム信号、7は遅延回路、8はテスト信号、9a、9bはスイッチ、10はテスト回路である。ここで、テスト回路10は、遅延回路7、及びスイッチ9a、9bを有するものとする。
図5は、本発明の実施の形態2に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図5において、1はデータバス、1Dは選択データバス、2は反転データバス、3はNXOR回路(XORの反転を出力)、4は比較結果、5はフィルター回路、6はアラーム信号、7は遅延回路、8はテスト信号、9a、9bはスイッチ、10はテスト回路である。ここで、テスト回路10は、遅延回路7、及びスイッチ9a、9bを有するものとする。
図5のデータバス1、反転データバス2、NXOR回路3、フィルター回路5は、実施の形態1に示した図1と同じであり、説明は省略する。図1と異なる点は、遅延回路7がデータバス1の途中、NXOR回路3へ入力される前に、スイッチ9a、9bを介して接続されている点である。スイッチ9a、9bはテスト信号8で制御され、テスト信号8がLowの時は、データバス1の信号は遅延回路7を通らずにNXOR回路3へ入力され、テスト信号8がHighの時は、遅延回路7を通ってNXOR回路3へ入力されるようスイッチ9a、9bが動作する。また、スイッチ9bにより選択され、NXOR回路3へ入力されるデータバス1の信号を選択データバス1Dとする。遅延回路7の遅延時間tdは、フィルター回路5のパルス除去幅よりも大きい時間に設定しておく。
図5の半導体集積回路では、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングを比較する機能をテストできるようにしている。図6を用いて、図5の半導体集積回路の動作を説明する。
図6は、本発明の実施の形態2に係る半導体集積回路の動作を示す図である。
図6において、T10−T11期間は、テスト信号がLowの場合で、通常状態である。この場合、スイッチ9a、9bは、データバス1が選択データバス1Dに直結される形で接続されるため、データバス1と選択データバス1Dと遷移タイミングは同じになる。よって、選択データバス1Dと反転データバス2の遷移タイミングが同じになり、比較結果4はLow固定となる。その結果、アラーム信号6はLowとなり、アラームは出力されない。
図6において、T10−T11期間は、テスト信号がLowの場合で、通常状態である。この場合、スイッチ9a、9bは、データバス1が選択データバス1Dに直結される形で接続されるため、データバス1と選択データバス1Dと遷移タイミングは同じになる。よって、選択データバス1Dと反転データバス2の遷移タイミングが同じになり、比較結果4はLow固定となる。その結果、アラーム信号6はLowとなり、アラームは出力されない。
T11−T12期間で、テスト信号をHighにすると、スイッチ9a、9bは、データバス1が遅延回路7を介して選択データバス1Dに接続されるため、選択データバス1Dの信号はデータバス1に対して、遅延回路7の遅延時間tdだけ遅延した信号となる。その結果、選択データバス1Dと反転データバス2の遷移タイミングが遅延時間tdだけ異なり、比較結果4にパルス幅が遅延時間tdとなる正極のパルス信号が出力される。遅延回路7の遅延時間tdは、前記遅延回路7により遅延されるパルス幅がフィルター回路5のパルス除去幅よりも大きくなるよう設定されているため、アラーム信号6に正極のパルス信号が出力され、アラームが出力される。
テスト回路10を設けることにより、生産の検査時に、NXOR回路3、及びフィルター回路5におけるデータバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングを比較する機能をテストすることが可能となる。また、生産の検査時だけでなく、実際の使用時でも、例えば、スタートアップ時にテスト信号8をHighにして、アラーム信号6が出力されることをチェックすることにより、データバス1と反転データバス2のデータ遷移のタイミングを比較する機能の故障、または攻撃者によるNXOR回路3、及びフィルター回路5の改ざんをチェックすることが可能となる。
なお、本発明の実施の形態1及び2の半導体集積回路では、データバスは、データバス1と反転データバス2で構成していたが、データバスを同一のデータを伝送する2つのデータバスから構成し、2つのデータバスのデータ遷移のタイミングをチェックするように構成してもよい。この場合、消費電力のデータ依存性は存在するが、前述の半導体集積回路と同様、データバスの改ざんやバスモニター行為を検出することは可能である。
また、ICカードに本実施の形態2の半導体集積回路を有するようにすることにより、ICカードのセキュリティを向上することができる。
このように、本実施の形態によれば、データを伝送するデータバス1と、前記データバス1により伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバス2と、前記データバス1にスイッチ9aを介して接続され、選択データバス1Dに他のスイッチ9bを介して接続される遅延回路7と、テスト信号8によって、前記データバス1の信号を選択データバス1Dへそのまま出力するか、前記遅延回路7を介して選択データバス1Dへ出力するかを、選択するスイッチ9a、9bと、前記選択データバス1Dにより伝送されるデータと前記反転データバス2により伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力するNXOR回路3と、前記NXOR回路3の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路5とを有し、前記遅延回路7の遅延時間は、前記遅延回路7により遅延されるパルス幅が前記フィルター回路5のパルス除去幅よりも大きく、前記フィルター回路の出力をアラーム信号6とするため、データバスの改ざんやバスモニター行為の検出、電力解析への対抗だけでなく、本回路の故障や攻撃者による本回路の改ざんをチェックすることが可能となり、より半導体集積回路の信頼性やセキュリティを向上することができるという効果がある。
以上のように、本発明にかかる半導体集積回路は、集積回路から機密情報を不正に取得しようとする攻撃へ対抗するデータ転送回路を有し、高セキュリティ用途のLSIやICカードとして有用である。
10、11 データバス
1D 選択データバス
2、20、21 反転データバス
3 NXOR回路
4 比較結果
5 フィルター回路
6 アラーム信号
30 グランド線
51 AND回路
7、52 遅延回路
8 テスト信号
9a、9b スイッチ
10 テスト回路
1D 選択データバス
2、20、21 反転データバス
3 NXOR回路
4 比較結果
5 フィルター回路
6 アラーム信号
30 グランド線
51 AND回路
7、52 遅延回路
8 テスト信号
9a、9b スイッチ
10 テスト回路
Claims (7)
- データを伝送するデータバスと、
前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、
前記データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、
前記比較回路の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、
前記フィルター回路の出力をアラーム信号とする、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1に記載の半導体集積回路において、
前記比較回路は、XOR回路の出力を反転した信号を出力する、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1に記載の半導体集積回路において、
前記フィルター回路は、
前記比較回路の出力信号と、前記比較回路の出力信号を所定の遅延時間を有する遅延回路により所定時間を遅延させた信号とのAND演算を行い、前記遅延回路の遅延時間以下のパルスを除去した信号を出力する、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1に記載の半導体集積回路において、
前記データバスと前記反転データバスの複数の配線を、固定電位の配線と交互に配置する、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - データを伝送するデータバスと、
前記データバスにより伝送されるデータの反転データを伝送する反転データバスと、
前記データバスにスイッチを介して接続され、選択データバスに他のスイッチを介して接続される遅延回路と、
テスト信号によって、前記データバスの信号を選択データバスへそのまま出力するか、前記遅延回路を介して選択データバスへ出力するかを、選択するスイッチと、
前記選択データバスにより伝送されるデータと前記反転データバスにより伝送される反転データとを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、
前記比較回路の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、
前記遅延回路の遅延時間は、前記遅延回路により遅延されるパルス幅が前記フィルター回路のパルス除去幅よりも大きく、
前記フィルター回路の出力をアラーム信号とする、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 同一のデータを伝送する2つのデータバスと、
前記2つのデータバスのデータを比較し、データ遷移のタイミング差をパルス信号として出力する比較回路と、
前記比較回路の出力を入力とし、所定期間以下のパルスを除去するフィルター回路とを有し、
前記フィルター回路の出力をアラーム信号とする、
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1、請求項5、または請求項6に記載の半導体集積回路を有する、
ことを特徴とするICカード。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010279003A (ja) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Sony Corp | 誤動作発生攻撃検出回路および集積回路 |
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WO2012176360A1 (ja) * | 2011-06-23 | 2012-12-27 | パナソニック株式会社 | 通信装置、通信システム |
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