JP2008275412A5 - - Google Patents

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  1. 試料に界面活性剤を添加する試料調整部と,
    第1基板と前記第1基板に実質的に平行な第2基板と,
    前記第1基板と前記第2基板との間に前記界面活性剤が添加された試料を導入する試料導入部と,
    前記第1基板と前記第2基板との間に導入された前記界面活性剤を添加された試料を,前記第1基板と前記第2基板の間に設定された搬送路に沿って搬送する搬送部と,
    前記第1基板と前記第2基板との間に設定された前記搬送路上に試薬を導入する試薬導入部と,
    前記第1基板と前記第2基板との間に搬送媒体を導入する搬送媒体導入部と,
    前記試料に含まれる成分量を分析する分析部と
    を有することを特徴とする試料分析システム。
  2. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記試料調整部は,前記試料に対して添加後の界面活性剤の濃度が臨界ミセル濃度程度となるように前記界面活性剤を添加することを特徴とする試料分析システム。
  3. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記試料調整部は,前記試料に対して添加後の対重量濃度が0.01%以上0.3%以下となるように前記界面活性剤を添加することを特徴とする試料分析システム。
  4. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記界面活性剤は非イオン性界面活性剤であることを特徴とする試料分析システム。
  5. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記界面活性剤は非イオン性の高分子系界面活性剤であることを特徴とする試料分析システム。
  6. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記界面活性剤は,Polyoxyethylene(10)Octylphenyl Ether,Polyoxyethylene(20)Sorbitan Monolaurate,Polyoxyethylene(20)Sorbitan Monopalmitate,Polyoxyethylene(20)Sorbitan Monostearate,Polyoxyethylene(20)Sorbitan Monooleateのいずれかを含むことを特徴とする試料分析システム。
  7. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記搬送媒体はシリコーンオイルもしくはフッ素オイルであることを特徴とする試料分析システム。
  8. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記搬送部は,電圧印加部,超音波印加部,搬送流生成部のいずれかを有することを特徴とする試料分析システム。
  9. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記搬送部は,交流矩形波を印加する電圧印加部であることを特徴とする試料分析システム。
  10. 請求項1記載の試料分析システムにおいて,前記搬送部は,周波数が10Hz以上10kHz以下の交流矩形波を印加する電圧印加部であることを特徴とする試料分析システム。
  11. 試料に界面活性剤を添加し調整試料とする工程と,
    第1基板と前記第1基板に実質的に平行な第2基板との間に搬送媒体を導入する工程と,
    前記第1基板と前記第2基板との間に前記調整試料を導入する工程と,
    導入された前記調整試料を前記第1基板と前記第2基板との間で搬送する工程と
    を有することを特徴とする試料搬送方法。
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