JP2008243331A - 光ディスク装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】光ディスクのラベル面に対する描画中に発生する描画ムラを補正しながら可視情報を描画する。
【解決手段】光ディスク1のラベル面に描画データに応じた可視情報を描画する光ディスク装置は、光ディスク1に対してレーザ光を照射すると共に、光ディスク1からの反射光を受光する光ピックアップヘッド3と、光ピックアップヘッド3からラベル面に描画データに応じたレーザ光を照射して可視情報を描画し、その可視情報が描画されたラベル面を光ピックアップヘッド3により読み取り、その読み取った反射光のレベル差から描画ムラがある描画箇所を検出した場合、レベル差に応じた補正用の記録パワーを設定し、この記録パワーに応じた描画データのレーザ光を当該描画箇所に照射して再描画させるように各部を制御するCPU11を有する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光ディスクのラベル面に対して描画(印刷)をすることができる光ディスク装置に関する。
近年、特殊塗料によりコーティングされた光ディスクのラベル面に、光ピックアップヘッドからのレーザ光を照射することで、ユーザが好みの可視情報を描画(印刷)することが可能な光ディスク装置が開発されている。この光ディスク装置において、描画データを印刷する場合、光ディスクのラベル面を光ピックアップと対向させるように装着される。そして、光ディスク装置は、描画可能な光ディスクであることを認識すると、ホスト装置(パーソナルコンピュータ)から入力される描画データに応じて、光ピックアップヘッドから光ディスクのラベル面に対してレーザ光を照射することで描画を行う。
特許文献1には、時間の経過や周囲の環境によってラベル面に形成した画像が薄くなった場合の再描画について記載されている。しかしながら、特許文献1では、明細書の段落「0084」に記載されるように、光ディスクのレーベル面に画像を描画するか、または光ディスクに描画された画像を再描画するかの入力をユーザが行うものである。
そして、段落「0088」に記載されるように、画像の再描画の入力があった場合、光ディスクのセットを促す内容を表示部に表示させ、ユーザが光ディスクをセットしたことを検出すると、レーザダイオードからリードパワーのレーザ光を照射させて、光ディスクのレーベル面に描画された画像を読み取る。続いて、制御回路が読み取った画像に基づいて光ディスクのレーベル面に画像を再描画するものである。これにより、経年変化により薄くなった画像を光ディスクのラベル面に再描画するものである。
特開2004−213796号公報
特許文献1の従来技術では、ユーザの指令および操作にしたがって、経年変化で薄くなった画像を再描画するもので、例えばリードパワーの設定が不適切な場合は、再描画画像も不鮮明になる問題がある。
一方、光ディスク装置では、光ピックアップヘッドの温度変動、あるいはメディア(光ディスク)の偏芯や反り等の要因により、描画した可視情報に描画ムラが発生することがある。すなわち、光ピックアップヘッドの温度変動、あるいはメディア(光ディスク)の偏芯や反り等に起因して、ホスト装置から入力された描画データでは意図されていない濃淡(コントラスト)が、ラベル面に描画した可視情報に発生してしまうことがある。
本発明の課題は、光ディスクのラベル面に対する描画中に発生する描画ムラを補正しながら可視情報を描画することが可能な光ディスク装置を提供することにある。
本発明は、光ディスクのラベル面に描画データに応じた可視情報を描画する光ディスク装置において、前記光ディスクに対してレーザ光を照射すると共に、前記光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップヘッドと、前記光ピックアップヘッドから前記ラベル面に前記描画データに応じたレーザ光を照射して可視情報を描画し、その可視情報が描画された前記ラベル面を前記光ピックアップヘッドにより読み取り、その読み取った反射光のレベル差から描画ムラがある描画箇所を検出した場合、前記レベル差に応じた補正用の記録パワーを設定し、この記録パワーに応じた再描画データのレーザ光を当該描画箇所に照射して再描画する制御手段とを具備したことを特徴とする。
本発明によれば、光ディスクのラベル面に所定の描画データに応じた可視情報を描画した後この可視情報を読み取り、その読み取った反射光のレベル差から描画ムラを検出した場合は、そのレベル差に応じて補正用の記録パワーを設定して当該描画ムラの描画箇所を再描画することで、光ピックアップヘッドの温度変動やメディア(光ディスク)の偏芯や反り等の要因による描画ムラを補正することが可能となる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本実施形態におけるシステムの構成を示すブロック図である。
本実施形態における光ディスク装置は、ホスト装置12によってアクセスされる。ホスト装置12は、光ディスク装置をアクセスするためのアプリケーションプログラムを実行し、必要に応じて光ディスク装置に対してコマンドを出力する。ホスト装置12から光ディスク装置に対して出力されるコマンドには、光ディスク1に記録されたデータの読み取りを指示するデータ読み取りコマンド、データの読み出しを中断することを指示するアイドルコマンドを含む。また、ホスト装置12は、光ディスク1のラベル面に描画を実行するためのアプリケーションプログラムを実行することで、光ディスク1のラベル面に対する描画処理を実行する。
なお、ラベル面に対して絵柄情報(可視情報)を描画するためには、描画可能光ディスク(Light Scribe Disc)1が用いられる。描画可能光ディスク1には、光ピックアップヘッド3からレーザ光が照射されることで色素変化が発生する特殊塗料によりコーティングされている。以下、ラベル面に対して描画が実行される光ディスク1は、描画可能光ディスク1であるものとする。
光ディスク1は、スパイラル状のトラックが形成されている。光ディスク1は、スピンドルモータ2によって回転される。スピンドルモータ2は、サーボ回路10の制御により、光ディスク1を回転させるためのモータである。スピンドルモータ2には、回転角に応じて信号を発生する周波数発生器(frequency generator(FG))が設けられる。周波数発生器(FG)は、例えば固定子の界磁コイルの起電圧、またはローターのマグネットの回転角を検出するホール素子の出力を利用して、回転角に応じたFG信号、例えば1回転に18個のFG信号をサーボ回路10に出力する。サーボ回路10は、スピンドルモータ2から出力されるFG信号を分周して、例えばスピンドルモータ2が1回転したことを示すFG1信号を生成して制御回路9に出力する。制御回路9は、FG1信号と内部の基準周波数を比較し、その誤差に応じて、スピンドルモータ2を所定の回転数で回転させる。
光ディスク1に対するデータの記録、再生は、光ピックアップヘッド3(OPUH)から出力されるレーザ光によって行われる。光ピックアップヘッド3は、送りモータ7の回転軸に取り付けられたリードスクリュー5によって、光ディスク1の半径方向に移動されるように支持されている。光ピックアップヘッド3は、送りモータ7が回転されることにより、光ディスク1のデータ読み取り面と対向しながら(描画時にはラベル面と対向しながら)移動される。
光ピックアップヘッド3には、レーザダイオード(半導体レーザ)、コリメータレンズ、ビームスプリッタ、対物レンズ、シリンドリカルレンズ、フォトディテクタ、レンズポジションセンサ、モニタダイオード等が含まれている。
また、光ピックアップヘッド3には、対物レンズを直交する2方向に移動させる2軸アクチュエータが設けられている。すなわち、対物レンズをフォーカシング方向(レンズの光軸方向)に移動させてフォーカスを調整するフォーカシングアクチュエータ、対物レンズをトッラキング方向(半径方向)に移動させてトラッキングを調整するトラッキングアクチュエータが設けられている。フォーカシングアクチュエータは、サーボ回路10から出力されるフォーカス駆動信号(フォーカス駆動電圧)により制御され、トラッキングアクチュエータは、サーボ回路10からのトラッキング駆動信号により制御される。
光ピックアップヘッド3内のレーザダイオードは、制御回路9(APC(Auto Power Control)回路(図示せず))により駆動され、レーザ光を出力する。このレーザダイオードから出力されたレーザ光は、コリメータレンズ、ビームスプリッタ、対物レンズを介して光ディスク1の記録面又はラベル面に照射される。
光ディスク1の記録面又はラベル面からの反射光は、対物レンズ、ビームスプリッタ、及びシリンドリカルレンズを介して、フォトディテクタに導かれる。フォトディテクタは、例えば4分割されている。4分割されたフォトディテクタにより検知された信号は、電流電圧変換(I−V変換)により所定の電圧値に増幅されてサーボ回路10のヘッドアンプ14に出力される。
制御回路9は、CPU11の制御に基づいて、光ピックアップヘッド3のレーザダイオードを駆動する。すなわち、レーザ出力のオン/オフ、再生時または記録時、さらには光ディスク1のラベル面に対する描画時におけるレーザ光の強度を制御する。
サーボ回路10は、光ピックアップヘッド3から出力された信号に応じて、光ピックアップヘッド3(アクチュエータ)、スピンドルモータ2、送りモータ7の駆動を制御する。この実施形態ではサーボ回路10には、ヘッドアンプ14が含まれており、各部を制御するための各種の信号を生成する。例えばヘッドアンプ14は、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキングエラー信号(TE)、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカスエラー信号(FE)、フォトディテクタから出力される信号を加算した全加算信号(RF信号)などを生成して出力する(詳細については後述する(図2))。
サーボ回路10は、ヘッドアンプ14から出力されるフォーカスエラー信号FEに応じて、光ピックアップヘッド3のフォーカシングアクチュエータに対してフォーカス駆動信号を出力して、フォーカシングを制御する。また、サーボ回路10は、ヘッドアンプ14から出力されるトラッキングエラー信号TEに応じて、光ピックアップヘッド3のトラッキングアクチュエータに対してトラッキング駆動信号を出力して、トラッキングを制御する。
また、ヘッドアンプ14により生成された全加算信号(及びRF信号)は制御回路9に出力される。制御回路9は、ヘッドアンプ14からの信号をA/D変換してCPU11に出力する。CPU11は、光ディスク1のラベル面に対して描画する場合には、全加算信号をもとにした信号値を、光ディスク1のラベル面における反射光レベルとして処理する。
センサ4は、光ディスク1のラジアル方向の位置を取得するための信号を検出して、制御回路9に出力するセンサである。センサ4は、例えばラベル面の最内周部分の領域に形成されている円周方向の基準となる位置情報を読み取った信号を出力する。また、センサ6は、光ピックアップヘッド3と共に送りモータ7の駆動により光ディスク1の半径方向に移動されるもので、光ディスク1の半径方向の位置を取得するための信号を検出して制御回路9に出力するセンサである。制御回路9は、センサ4,6からの信号を取得してCPU11へ送信すると共に、センサ4,6により検出された信号により検出される光ディスク1に対する光ピックアップヘッド3の位置に応じて各部を制御する。
CPU11は、ホスト装置12とのインタフェース制御、ホスト装置12から入力されるデータ(描画データ等)の管理、制御回路9から出力される信号の監視と制御回路9を介した各部の制御等を実行する。CPU11は、光ディスク1のラベル面に対して描画を実行する場合には、ホスト装置12から描画データをバッファメモリ8に保存して管理する。
ホスト装置12は、光ディスク装置を使用するアプリケーションを実行する。ホスト装置12は、光ディスク1のレベル面に対して描画するためのアプリケーションを実行することで、描画データをCPU11に出力し、光ディスク装置における描画処理を制御する。
図2は、光ピックアップヘッド3のフォトディテクタ(3a,3b,3c,3d)とヘッドアンプ14の詳細な構成を示す図である。
4分割されたフォトディテクタ3a,3b,3c,3dにより検出された信号A〜Dは、それぞれ光ピックアップヘッド3内に設けられたI−V変換器3e,3f,3g,3hにより、所定の電圧値となるように電流電圧変換される。
I−V変換器3eから出力される信号Aは、ヘッドアンプ14内の加算器14a,14dに入力される。I−V変換器3fから出力される信号Bは、加算器14b,14cに入力される。I−V変換器3gから出力される信号Cは、ヘッドアンプ14内の加算器14a,14cに入力される。また、I−V変換器3hから出力される信号Dは、ヘッドアンプ14内の加算器14b,14dに入力される。従って、加算器14aは、信号Aと信号Cとが加算された信号(A+C)を出力する。同様にして、加算器14bは信号(B+D)を出力し、加算器14cは信号(B+C)を出力し、加算器14dは信号(A+D)を出力する。
加算器14aから出力される信号(A+C)は、減算器14e、加算器14h、及びHPF(high pass filter)14oに入力される。加算器14bから出力される信号(B+D)は、減算器14e、加算器14h、及びHPF14pに入力される。加算器14cから出力される信号(B+C)は、減算器14f、加算器14gに入力される。加算器14dから出力される信号(A+D)は、減算器14f、加算器14gに入力される。
減算器14eは、加算器14aからの信号(A+C)から、加算器14bからの信号(B+D)を引いた信号を出力する。減算器14eから出力された信号は、LPF(low pass filter)14sを介してフォーカスエラー信号(FE)として出力される。すなわち、フォーカスエラー信号FE=(A+C)−(B+D)が生成されて、光ピックアップヘッド3に出力される。
減算器14fは、加算器14dからの信号(A+D)から、加算器14cからの信号(B+C)を引いた信号を出力する。減算器14fから出力された信号は、LPF14tを介してプッシュプル法によるトラッキングエラー信号(PP−TE)として出力される。すなわち、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号(PP−TE)=(A+D)−(B+C)が生成されて、光ピックアップヘッド3に出力される。
位相比較器14qは、HPF14oを介して加算器14aから出力された信号(A+C)と、HPF14pを介して加算器14bからの信号(B+D)とを入力して、2つの信号の位相差を表す信号、すなわち信号(A+C)から信号(B+D)を引いた信号を出力する。位相比較器14qから出力された信号は、LPF14rを介して位相差法によるトラッキングエラー信号TE(DPD(Deferential Phase Detection)−TE)として出力される。すなわち、位相差法によるトラッキングエラー信号(DPD−TE)=φ(A+C)−φ(B+D)として生成される。このトラッキングエラー信号(DPD−TE)をトラッキングエラー信号(PP−TE)に代えて、光ピックアップヘッド3に出力しても良い。
加算器14gは、加算器14dから出力された信号(A+D)と加算器14cから出力された信号(B+C)とを加算して出力する。また、加算器14hは、加算器14aから出力された信号(A+C)と加算器14bから出力された信号(B+D)とを加算して出力する。加算器14iは、加算器14gと加算器14hから出力された信号を加算して出力する。すなわち、加算器14iは、全てのフォトディテクタ3a,3b,3c,3dから出力された信号の全てを加算した信号(A+B+C+D)を出力する。加算器14iから出力された信号は、LPF14jを介して全加算信号LVLとして出力される。また、加算器14iから出力された信号は、HPF14kを介して情報信号RF(以下、RF信号と称する)として出力される。さらに、HPF14kを介して出力される信号は、振幅検波器14lに入力される。振幅検波器14lは、RF信号の振幅値を検知し、この振幅値に比例して変化するRF振幅信号RFRPを出力する。
振幅検波器14lから出力されるRF振幅信号は、比較器14nに入力される。比較器14nは、基準器14mに予め設定されている基準値とRF振幅信号のレベルとを比較し、基準値よりRF振幅信号のレベルが高い場合に、RF検出信号SIGDETを出力する。すなわち、SIGDET信号は、光ディスク1に記録された情報を表すRF信号が検出されたことを示す。
本実施形態における光ディスク装置では、光ディスク1のラベル面に対して描画をする場合、例えば全加算信号LVL(あるいはRF信号でも良い)を用いて描画した可視情報の反射光レベルを検出し、補正用の記録パワーを設定するものとする。なお、反射光レベルは、全加算信号LVLあるいはRF信号の振幅値に応じて求められる。
次に、本実施形態における光ディスク装置の光ディスク1のレベル面に対する描画処理について、図3に示すフローチャートを参照しながら説明する。
まず、CPU11は、ホスト装置12から光ディスク1のラベル面に描画する絵柄(可視情報)についての描画データを取り込み、一旦、バッファメモリ8に格納する。光ディスク装置は、ラベル面が下向き(光ピックアップヘッド11と対向する側)となるように光ディスク1がセットされていれば、この光ディスク1に対する初期化処理を実行する。
CPU11は、制御回路9を介してサーボ回路10を動作させて、スピンドルモータ2を回転させる。また、CPU11は、制御回路9により光ピックアップヘッド3からレーザ光を照射させて初期化処理を実行する。初期化処理では、ラベル面の最内周部に設けられた、メディアに関する情報が記録された領域からセンサ4によって各種の情報が読み取られ、制御回路9に入力される。初期化処理によって読み取られる情報には、描画が可能な光ディスク1であることを示す情報や、光ディスク1の種類などが含まれるものとする。
ここで、描画可能光ディスク1であることを示す情報が読み取られた場合、CPU11は、ホスト装置12からの印刷開始のコマンドに応じて印刷動作を開始する。
まず、CPU11は、描画していない状態での光ディスク1のラベル面における反射光レベルを検出して記録する(ステップA1)。すなわち、CPU11は、制御回路9によって、例えば光ディスク1のデータ面に記録されたデータを読み取る時の再生パワーで光ピックアップヘッド3からレーザ光を照射させる。ここでは、例えばラベル面の最内周近傍に対してレーザ光が照射されるように、送りモータ7を駆動して光ピックアップヘッド3を移動させる。初期処理では、ラベル面の最内周部において情報の読み取りを実行しているので、ラベル面の最内周近傍において反射光レベルを検出することで、光ピックアップヘッド3の移動距離を短くすることができる。
光ピックアップヘッド3は、入射された反射光に応じた信号をサーボ回路10のヘッドアンプ14に出力する。ヘッドアンプ14は、光ピックアップヘッド3から出力された信号に応じて生成された全加算信号LVLを制御回路9に出力する。制御回路9は、ヘッドアンプ14からの全加算信号LVLをA/D変換し、その信号値をCPU11に出力する。CPU11は、制御回路9から入力される信号値を、「描画がされていないラベル面の反射光レベルを示すデータ」(レベル基準値)として記録しておく。通常、描画がされていないラベル面における反射光に応じて出力される信号の振幅値は、描画がされている部分の反射光に応じて出力される信号の振幅値よりも大きくなる。
次に、CPU11は、バッファメモリ8に保存されている描画データに応じて描画を実行する(ステップA2)。CPU11は、制御回路9の制御によって、描画用の記録パワーで光ピックアップヘッド3からレーザ光を照射させることにより、光ディスク1のラベル面に対する描画を実行する。CPU11は、バッファメモリ8に保存された全描画データに対する描画が終了するまで、以下に説明するステップA4〜A13の処理を実行する。
CPU11は、予め決められた所定トラック分の描画データについての可視情報の描画が完了しているかを判定する(ステップA4)。ここで、所定トラック分の描画データとしては、例えば1トラック分の描画データとする(光ディスク1をスピンドルモータ2により1回転させる間に描画される描画データ)。
CPU11は、所定トラック分の描画データの描画が完了すると(ステップA4、Yes)、直ちに描画済みの先頭位置に光ピックアップヘッド3を移動させる(ステップA5)。ここでは、1トラック分の描画を完了した後であるので、直前トラックに移動させることになる。
CPU11は、制御回路9の制御によって、再生パワーで光ピックアップヘッド3から光ディスク1のラベル面にレーザ光を照射して、可視情報の描画済み範囲における反射光レベルを読み取る(ステップA6)。
次に、CPU11は、可視情報の描画済み範囲から読み取った反射光レベルについて、描画箇所によって予め設定された基準値以上のレベル差が発生しているかを判定する。
図4(A)には、光ピックアップヘッド3によって入射された反射光に応じた全加算信号LVLを示している。なお、ここでは説明を簡単にするために、コントラスト(濃淡)が一定の可視情報(絵柄)を描画する場合を例にして説明する。
描画ムラが生じていない場合、ラベル面からの反射光に応じた全加算信号LVLの振幅は、可視情報の描画済み範囲でほぼ一定となる。これに対して、光ピックアップヘッド3の温度変化、光ディスク1の偏芯や反りなどの影響のために描画ムラが生じている場合、図4(A)の中間部に示すように、全加算信号LVLの振幅に変動が生じる。例えば、描画ムラのために描画が薄くなった描画箇所では全加算信号LVLの振幅が小さくなり反射光レベルが低くなる。この結果、図4(B)に示すように、正常に描画が行われた箇所と描画が薄くなった箇所では、反射光レベルにレベル差が生じる。
CPU11は、描画箇所によって基準値以上のレベル差があると判定した場合(ステップA7、Yes)、そのレベル差が補正の必要のない有効範囲内(コントラストに影響がないレベル)であるかを判定する。すなわち、CPU11は、可視情報の描画済み範囲から読み取った反射光レベルが、図5に示す有効範囲内にある場合、すなわちレベル差が有効範囲幅より少ない場合には(ステップA8、Yes)、補正が不要であると判定して、次の描画データに応じた描画動作を継続する(ステップA2〜)。また、CPU11は、可視情報の描画済み範囲から読み取った反射光レベルが、ステップA1において予め記録した「描画していないラベル面の反射光レベル(レベル基準値)」である場合には、補正処理が不要であると判定して、次の描画データに応じた描画動作を継続する(ステップA2〜)。
これに対して、可視情報の描画済み範囲から読み取った反射光レベルが有効範囲以下である場合、すなわち反射光のレベル差が有効範囲幅より大きく、その反射光レベルから描画状態が薄い(描画ムラ)と判定される描画箇所がある場合には(ステップA8、No)、補正が必要であると判定して補正処理へ移行する。
CPU11は、描画済み範囲から読み取った反射光レベルのレベル差から、補正用の記録パワーを設定する(ステップA9)。すなわち、反射光レベルのレベル差が大きい場合には、強めの記録パワーを設定して再描画に供するようにし、逆に反射光レベルのレベル差が小さい場合には、弱めの記録パワーを設定して再描画に供するようにする。
例えば、レベル差の基準単位の1ステップに対して、記録パワーの変動幅を示すパワー値を予め設定しておく。CPU11は、描画済み範囲から読み取った反射光レベルのレベル差が何ステップに相当するかを算出し、そのステップ数とパワー値との乗算によって補正用の記録パワーを求める。また、レベル差の基準単位ステップ毎にパワー値を予め設定したテーブルを用意して、反射光レベルのレベル差のステップ数に応じて設定したパワー値を出力するようにしても良い。
このように、反射光レベルのレベル差に応じて記録パワーを設定することで、描画ムラ(薄さ)の程度に応じたパワーにより再描画をすることになり最適な補正ができる。
次にCPU11は、制御回路9の制御によって反射光のレベル差が生じている箇所、すなわち補正をするために再描画が必要な位置の描画データを出力し、そのレーザ光が照射されるように光ピックアップヘッド3を半径方向に移動させる(ステップA10)。CPU11は、センサ4とセンサ6から検出される信号をもとに、光ピックアップヘッド3によってレーザ光が照射される位置をドット単位(描画最小単位)で検出することができる。
次にCPU11は、光ピックアップヘッド3を移動させた後、制御回路9及びサーボ回路10を通じて、フォーカス追従調整処理を実行する(ステップA11)。これは、再描画が必要な範囲(反射光レベルにレベル差が生じた箇所)では、光ディスク1の偏芯や反りが発生している可能性が高いため、再度、フォーカシングすることにより光ディスク1の状態に合わせた描画ができるようにする。
そして、CPU11は、制御回路9の制御によって、先に設定している補正用の記録パワーによる描画データのレーザ光が光ピックアップヘッド3から照射されるように制御し、反射光レベルにレベル差が生じていた箇所に対して再描画を実行する(ステップA12)。
図6(A)は再描画処理により補正がされない場合の光ディスク1の描画状態を示し、図6(B)は描画補正後の光ディスク1の描画状態を示している。
図6(A)に示す例では、光ディスク1の反りにより、可視情報(絵柄)が描画された範囲の一部(図中の左側端部近傍)に描画の薄い箇所(描画ムラ)が発生している。本実施形態における光ディスク装置では、所定トラック分の描画データに対する描画を実行しながら、前述したように直ちに描画結果を確認し、描画が薄い箇所を検出すると再描画処理によって補正する。すなわち、図6(A)に示す例では、可視情報が描画された左側端の描画ムラ部分に対して再描画が実行される。この結果、図6(B)に示すように、光ディスク1に発生している反りの状態に関係なく、描画範囲の全体に渡って描画データに応じたコントラストが一定の可視情報を描画することが可能となる。
CPU11は、再描画処理を完了すると、制御回路9の制御によって光ピックアップヘッド3から照射されるレーザ光のパワーを通常の描画用に戻す(ステップA13)。前述した再描画処理では、描画が薄い箇所に対して再描画するための補正用の記録パワーに設定しているため、そのまま次の新規の箇所に対する描画処理に移行すると強い記録パワーにより描画を行うことになる。従って、通常の描画処理に移行する前に記録パワーの再設定をしておく。
CPU11は、制御回路9の制御によって光ピックアップヘッド3から照射されるレーザ光の記録パワーの再設定後、再度、描画動作を継続して実行する(ステップA2〜)。
このようにして、本実施形態における光ディスク装置では、光ディスク1のラベル面に対して描画を実行する場合に、光ピックアップヘッド3の温度変化、光ディスク1の偏芯や反りなどの影響のために描画ムラが生じたとしても、所定分の描画データ単位で再描画により補正をするので、全ての描画データに対する描画処理が終了した時点で、描画データが示す本来の可視情報を描画することができる。
なお、前述した説明では、再描画処理の対象となる所定トラック分の描画データを1トラック分の描画データとする場合について説明しているが、所定トラック分の描画データは、1トラック分以外であっても良い。
例えば、所定トラック分の描画データを複数トラック分の描画データとすることもできる。この場合、描画される全トラックを複数に分割して、この分割された複数のトラック単位で補正処理(再描画)を実行する。複数のトラック単位で補正処理を実行する場合には、前述したように、再描画が必要とされた箇所のそれぞれに対する補正用の記録パワーを記録しておき、再描画処理時に順次読み出して、光ピックアップヘッド3から照射されるレーザ光のパワーを制御するものとする。
また、所定トラック分の描画データを全描画データとすることもできる。この場合、全描画データに対する描画が完了した後に、描画済みの範囲全体について再描画が必要な箇所を前述と同様にして判別して、各箇所のそれぞれについて補正用の記録パワーを設定しておく。その後、描画済み範囲全体の再描画が必要な箇所に対して再描画処理を実行する。
さらに、再描画処理の対象となる所定トラック分の描画データを1トラックよりも短い単位(1/nトラック)としても良い。この場合、1トラックを複数に分割して、各分割された範囲毎に前述と同様の処理を実行すれば良い。
また、前述した説明では、コントラスト(濃淡)が一定の可視情報を描画する場合を例にしているが、濃淡がある可視情報を描画する場合にも適用することができる。この場合、反射光レベルを読み取るために描画する所定分の描画データを描画した後、反射光レベルを読み取り、この反射光レベルが描画データに設定されている濃淡に相当するか(有効範囲内か)を判別する。反射光レベルが描画データに設定されている濃淡に相当しない場合、その差に応じて補正用の記録パワーを設定して再描画処理を実行する。これにより、濃淡がある可視情報を描画する場合においても再描画による補正を実行できる。
さらに、上記実施の形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜の組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。
本発明の実施形態におけるシステムの構成を示すブロック図。 本実施形態における光ピックアップヘッド3のフォトディテクタとヘッドアンプ14の詳細な構成を示す図。 本実施形態における光ディスク装置の光ディスク1のレベル面に対する描画処理を示すフローチャート。 本実施形態における反射光に応じた全加算信号と反射光レベルを示す図。 本実施形態における反射光レベルの有効範囲を説明するための図。 光ディスク1に対する描画状態の一例を示す図。
符号の説明
1…光ディスク、2…スピンドルモータ、3…光ピックアップヘッド(OPUH)、4…センサ、5…リードスクリュー、6…センサ、7…送りモータ、8…バッファメモリ、9…制御回路、10…サーボ回路、11…CPU、12…ホスト装置、14…ヘッドアンプ。

Claims (7)

  1. 光ディスクのラベル面に描画データに応じた可視情報を描画する光ディスク装置において、
    前記光ディスクに対してレーザ光を照射すると共に、前記光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップヘッドと、
    前記光ピックアップヘッドから前記ラベル面に前記描画データに応じたレーザ光を照射して可視情報を描画し、その可視情報が描画された前記ラベル面を前記光ピックアップヘッドにより読み取り、その読み取った反射光のレベル差から描画ムラがある描画箇所を検出した場合、前記レベル差に応じた補正用の記録パワーを設定し、この記録パワーに応じた描画データのレーザ光を当該描画箇所に照射して再描画する制御手段と
    を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
  2. 前記制御手段は、全描画データのうち予め決められた所定トラック分の描画データの前記可視描画を読み取った時の前記反射光のレベル差に応じて前記記録パワーを設定することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
  3. 前記制御手段は、全描画データの前記可視描画を読み取った時の前記反射光のレベル差に応じて前記記録パワーを設定することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
  4. 前記制御手段は、前記再描画前に前記光ピックアップヘッドのフォーカス追従調整処理を実行することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
  5. 前記制御手段は、前記反射光のレベル差が大きい場合は強めの記録パワーを設定して前記再描画を行い、前記反射光のレベル差が小さい場合は弱めの記録パワーを設定して前記再描画を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載の光ディスク装置。
  6. 前記制御手段は、前記ラベル面からの前記反射光に応じた全加算信号又はRF信号の振幅によって前記レベル差を求め、前記描画ムラのある描画領域と判断することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
  7. 光ディスクのラベル面に描画データに応じた可視情報を描画する光ディスク装置において、
    前記光ディスクに対してレーザ光を照射すると共に、前記光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップヘッドと、
    前記光ピックアップヘッドから前記ラベル面にレーザ光を照射して所定トラック分の前記描画データの可視情報を描画する描画手段と、
    前記描画手段によって描画された前記可視情報を前記光ピックアップヘッドによって直ちに読み取り、その読み取った反射光レベルのレベル差から描画ムラと判定するレベル判定手段と、
    前記レベル判定手段によって前記描画ムラがあると判定された場合、前記レベル差に応じた補正用の記録パワーを設定し、その記録パワーに応じた描画データのレーザ光を前記光ピックアップヘッドから前記描画ムラの描画領域に照射して再描画する再描画手段と
    を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
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