JP2008241917A - Liquid crystal display - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、アレイ基板上にLSIをACF(異方性導電膜)によって取り付けた液晶表示装置に関するものである。 The present invention relates to a liquid crystal display device in which an LSI is mounted on an array substrate by an ACF (anisotropic conductive film).
液晶表示装置は、駆動ドライバを内蔵したLSIをアレイ基板上にACFによって取り付けている。ACFをLSIを介して加圧及び加熱することにより、LSIのバンプとアレイ基板上の配線パターンの端子とが物理的、かつ、電気的に接続する。 In a liquid crystal display device, an LSI incorporating a drive driver is attached to an array substrate by ACF. By pressing and heating the ACF through the LSI, the LSI bumps and the wiring pattern terminals on the array substrate are physically and electrically connected.
上記のACFによる接続状態を確認するために、アレイ基板(ガラス基板)の裏面から顕微鏡を用いて端子間に補足されたACFの導電粒子数とLSIの圧着状態を人の目によって確認すると共に、また、通常の検査による液晶表示装置の表示画像の確認によって行っていた。 In order to confirm the connection state by the ACF, the number of conductive particles of ACF captured between the terminals using a microscope from the back surface of the array substrate (glass substrate) and the pressure-bonded state of the LSI are confirmed by human eyes. Moreover, it was performed by confirming the display image of the liquid crystal display device by a normal inspection.
一方、基板同士をACFによって固定した場合の検査方法としては、特許文献1に示すように、それぞれの基板に電気的接続評価を行うことができる検査パターンを設け、この測定用パターンにプローバーを接触させて抵抗値を検出して、検査を行う方法が提案されている。
上記のような液晶表示装置の検査方法は、顕微鏡によって観察する必要があるため、個人差があり、また、その作業が煩雑であるという問題点がある。 Since the inspection method for the liquid crystal display device as described above needs to be observed with a microscope, there are individual differences, and there is a problem that the work is complicated.
また、特許文献1の検査方法は、ACFによって結合するものが基板同士であるため検査配線パターンを形成することは可能である。しかし、液晶表示装置においてはアレイ基板上にLSIをACFによって固定するため、基板上に設けるような配線パターンを設けることは困難であるという問題点がある。 Further, the inspection method of Patent Document 1 can form an inspection wiring pattern because substrates connected by ACF are substrates. However, in the liquid crystal display device, since the LSI is fixed on the array substrate by the ACF, it is difficult to provide a wiring pattern provided on the substrate.
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、アレイ基板上にACFによってLSIを取り付ける場合であっても、容易にその接続状態を検査することができる液晶表示装置を提供する。 In view of the above problems, the present invention provides a liquid crystal display device that can easily inspect the connection state even when an LSI is mounted on an array substrate by an ACF.
本発明は、アレイ基板上にLSIをACFによって取り付けた液晶表示装置において、前記LSIの下面から2個の検査用バンプが突出し、前記検査用バンプに対応する前記アレイ基板上に検査端子がそれぞれ形成され、前記2個の検査用バンプの間が検査配線によって接続されている、液晶表示装置である。 The present invention provides a liquid crystal display device in which an LSI is mounted on an array substrate by ACF, and two inspection bumps protrude from the lower surface of the LSI, and inspection terminals are respectively formed on the array substrate corresponding to the inspection bumps. In the liquid crystal display device, the two inspection bumps are connected by inspection wiring.
本発明によれば、検査バンプがLSIにある検査配線によって接続されているため、ACFによってアレイ基板上に固定された場合に、アレイ基板上にある検査端子間の抵抗値を測定すれば、その接続状態を容易に確認することができる。 According to the present invention, since the inspection bumps are connected by the inspection wiring in the LSI, when the resistance value between the inspection terminals on the array substrate is measured when fixed on the array substrate by the ACF, The connection state can be easily confirmed.
以下、本発明の一実施形態の液晶表示装置10について図1〜図4に基づいて説明する。
Hereinafter, a liquid
(1)液晶表示装置10の構成
図1は、本実施形態の液晶表示装置10の斜視図である。
(1) Configuration of Liquid
この液晶表示装置10は、携帯電話に搭載されるものであって、2〜3インチの大きさのものである。液晶表示装置10の液晶パネル12は液晶層を挟んでアレイ基板14と対向基板16とが配置され、アレイ基板14の大きさが対向基板16よりも大きく、棚部18が形成されている。
The liquid
このアレイ基板14の棚部18に、液晶表示装置10の駆動ドライバが内蔵されたLSI20がACF22によって固定される。
An
棚部18には、アレイ基板14の各画素から延びている引き出し線24が複数本配線され、その先端部に第1端子26が設けられている。
A plurality of
また、棚部18の端部から内方に向かって、接続線28が設けられ、両端部にそれぞれ第2端子29,第3端子30が形成されている。この接続線28の外側の複数の第3端子30には、携帯電話の本体にある主制御部のコントロールICと接続するためのフレキシブル配線基板が接続される。
In addition, a
この各引き出し線24の第1端子26と接続線28の第2端子29とは、互いに相対向するように平行に配列されている。この引き出し線24の第1端子26と接続線28の第2端子29の両側にはそれぞれ2個の第1検査端子34,34が設けられ、各検査端子34から検査配線パターン36が延び、この検査配線パターン36の端部には第2検査端子38が形成されている。
The
LSI20には、各第1端子26,各第2端子30に対応するように複数の信号用のバンプ40が形成されている。図4に示すように、LSI20の両端部にはそれぞれ2個の検査バンプ42,42が設けられている。LSI20の下面の4つの角部にはそれぞれ位置決めバンプ46が設けられている。そして、この検査バンプ42,42の間であって、LSI20の下面には両検査バンプ42,42を電気的に接続するための検査配線が形成されている。
In the
(2)固定方法
上記構成の液晶表示装置10において、アレイ基板14の棚部18にLSI20を固定する場合について説明する。
(2) Fixing Method A case where the
まず、シート状のACF22を棚部18の所定の位置に配置し、その上からLSI20を配置し、LSI20を上方から加圧すると共に、所定の温度で加熱する。
First, the sheet-
ACF22は、内部に導電粒子を有すると共に熱可塑性樹脂によって形成されているため、加熱及び加圧によりLSI20とアレイ基板14を物理的、かつ、電気的に固定する。この場合に、確実に固定されると、バンプ40と第1端子26,第2端子29とが電気的に接続される。
Since the ACF 22 has conductive particles inside and is formed of a thermoplastic resin, the
(3)検査方法
上記のようにして固定されたLSI20の電気的接続状態を確認する検査方法について説明する。
(3) Inspection Method An inspection method for confirming the electrical connection state of the
図4に示すように一対の第2検査端子38,38にプローバーをそれぞれ接続させ、第2検査端子38,38の間の抵抗値を測定する。この場合に、LSI20の接続が確実に行われていれば、第2検査端子38、検査配線パターン36、第1検査端子34、検査バンプ42、検査配線44を介して電気が流れ、所定の抵抗値となる。一方、接続が行われていない場合にはこの抵抗値が大きくなり、接続が不十分であることを示す。
As shown in FIG. 4, probers are connected to the pair of
(4)効果
上記のように、本実施形態の液晶表示装置10であると、第2検査端子38,38の間の抵抗値を測定するだけで、LSI20がアレイ基板14に確実に接続されているか否かを判断することができる。
(4) Effect As described above, in the liquid
また、第1検査端子34,34は、LSI20の左側と右側にそれぞれ設けられているため、両側で簡単にその取付け状態を検査することができる。
Further, since the
さらに、この検査のための検査配線44は、LSI20の下面に形成するだけであるため、簡単に形成することができる。
Further, since the inspection wiring 44 for this inspection is only formed on the lower surface of the
(変更例)
本発明は上記各実施形態に限らず、その主旨を逸脱しない限り種々に変更することができる。
(Example of change)
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist thereof.
(1)変更例1
上記実施形態では、検査配線44をLSI20の下面に形成したが、これに代えて、LSI20の内部に設けてもよい。
(1) Modification 1
In the above embodiment, the
(2)変更例2
上記実施形態では、LSI20の両端部にそれぞれ1組の検査バンプ42,42を設けたが、これに加えて中央部に検査バンプ42を設けてもよい。そして、第1検査端子34もそれに対応する中央部に設け、検査パターン36で外方に引き出す構造であってもよい。
(2) Modification example 2
In the above embodiment, a pair of
すなわち、この検査バンプ42は、信号用のバンプ40の空いた位置に設ければよい。
That is, the
10 液晶表示装置
12 液晶バネル
14 アレイ基板
18 棚部
20 LSI
22 ACF
24 引き出し線
26 第1端子
28 接続線
29 第2端子
30 第3端子
32 フレキシブル基板
34 第1検査端子
36 検査パターン
38 第2検査端子
40 バンプ
42 検査バンプ
44 検査配線
DESCRIPTION OF
22 ACF
24
Claims (4)
前記LSIの下面から2個の検査用バンプが突出し、
前記検査用バンプに対応する前記アレイ基板上に検査端子がそれぞれ形成され、
前記2個の検査用バンプの間が検査配線によって接続されている、
液晶表示装置。 In a liquid crystal display device in which an LSI is mounted on an array substrate by ACF,
Two inspection bumps protrude from the lower surface of the LSI,
Inspection terminals are respectively formed on the array substrate corresponding to the inspection bumps,
The two inspection bumps are connected by inspection wiring.
Liquid crystal display device.
請求項1記載の液晶表示装置。 The inspection wiring is formed on the lower surface of the LSI,
The liquid crystal display device according to claim 1.
請求項1記載の液晶表示装置。 The inspection wiring is formed inside the LSI;
The liquid crystal display device according to claim 1.
請求項1記載の液晶表示装置。 The two inspection bumps are set as one set, and the one set of inspection bumps are respectively formed at both ends of the lower surface of the LSI.
The liquid crystal display device according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007079705A JP2008241917A (en) | 2007-03-26 | 2007-03-26 | Liquid crystal display |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0682802A (en) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device |
JP2001135679A (en) * | 1999-11-05 | 2001-05-18 | Casio Comput Co Ltd | Joint structure of semiconductor device and method for inspecting the same |
JP2006041473A (en) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Au Optronics Corp | Bonding arrangement structure and test method using the same |
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2007
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0682802A (en) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device |
JP2001135679A (en) * | 1999-11-05 | 2001-05-18 | Casio Comput Co Ltd | Joint structure of semiconductor device and method for inspecting the same |
JP2006041473A (en) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Au Optronics Corp | Bonding arrangement structure and test method using the same |
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