JP2008235730A - Testing device for electronic equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a testing device for electronic equipment capable of precisely testing the electronic equipment improved in radio wave shielding performance of a test box. <P>SOLUTION: The testing device 1 for the electronic equipment comprises: the test box 10 into which the electronic equipment P is put and which has an opening 11 for making the outside and the inside communicate with each other; and a door 20 attached to the test box 10 through a hinge to open and close the opening 11. The testing device 1 for the electronic equipment is further provided with: a metallic finger 30 attached to the side face of an erected plate 31 provided on the peripheral edge 22 of the door 20 which is the abutting part of the test box 10 and the door 20; and packing 40 with a radio wave shielding property which is attached to the peripheral edge 22 of the door 20. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、携帯電話等の電子機器に対する試験を行うための電子機器用試験装置に関する。   The present invention relates to an electronic apparatus test apparatus for performing a test on an electronic apparatus such as a mobile phone.

一般に、携帯電話等の電子機器は、製造後や修理後に正常に動作・機能するか否かについて、無線電波による無線接続試験(以下、試験という)を行う場合がある。従来、このような試験は、正確な受信能力の試験を行うために、外来電波が遮断された電波無響室(電波暗室)と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス(電波遮蔽箱)と称される箱の内部で行われていた。   In general, an electronic device such as a mobile phone may be subjected to a wireless connection test (hereinafter referred to as a test) using a radio wave as to whether or not the device operates or functions normally after manufacture or repair. Conventionally, in order to perform an accurate reception capability test, such a test is performed in a large special room called an anechoic chamber (an anechoic chamber) where external radio waves are blocked, or a shield box (a radio wave shielding box). ) Was done inside the box.

例えば、特許文献1には、電波を反射するアルミ製の内筐体を有する外筐体と、携帯電話を載置するトレーが固定され、筐体に形成された開口部を閉塞する前面パネルとを備え、前面パネルの外周に設けられたU字深溝と、内筐体の開口部に設けられ、U字深溝に嵌合して電波迷路を形成する仕切り板と、仕切り板の外周に設けられたフィンガー・スプリングと、仕切り板の内周に固定されたL字アングルおよび前面パネルのU字深溝の底部にそれぞれ設けられたEMIガスケットとを有するシールドボックスが開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses an outer casing having an inner casing made of aluminum that reflects radio waves, a front panel on which a tray on which a mobile phone is placed is fixed and an opening formed in the casing is closed. A U-shaped deep groove provided on the outer periphery of the front panel, a partition plate provided in the opening of the inner housing, and fitted in the U-shaped deep groove to form a radio wave maze, and provided on the outer periphery of the partition plate A shield box having a finger spring, an L-shaped angle fixed to the inner periphery of the partition plate, and an EMI gasket provided at the bottom of the U-shaped deep groove of the front panel is disclosed.

また、例えば、特許文献2には、開口部を有する試験箱本体と、ガラスの片面にITO(Indium Tin Oxide:酸化インジウムスズ)膜を形成した窓を有する開閉自在の扉(ヒンジ式)と、試験箱本体の上面に設けられたケーブル配線用導波管とを主に備えた電子機器用試験箱が開示されている。
特開2005−252015号公報(段落0019〜0028、図1〜3) 特開2006−153841号公報(段落0051、段落0083、図10)
Further, for example, Patent Document 2 discloses a test box body having an opening, an openable / closable door (hinge type) having a window in which an ITO (Indium Tin Oxide) film is formed on one side of glass, An electronic device test box mainly including a cable wiring waveguide provided on an upper surface of a test box body is disclosed.
JP 2005-252015 (paragraphs 0019 to 0028, FIGS. 1 to 3) JP 2006-153841 A (paragraph 0051, paragraph 0083, FIG. 10)

ところで、近年、電子機器の高性能化、高感度化等に伴って、電子機器の試験を精密に行うことができる電波遮蔽性能に優れた電子機器用試験装置の必要性がますます高まっている。   By the way, in recent years, with the improvement in performance and sensitivity of electronic devices, there is an increasing need for a test apparatus for electronic devices with excellent radio wave shielding performance that can accurately test electronic devices. .

前記した特許文献1に記載のシールドボックスは、携帯電話をトレーに載置し、前面パネルをスライドさせて閉めた際に、フィンガー・スプリングがU字深溝の側面と、仕切り板の内周に設けられたEMIガスケットが前面パネルと、U字深溝の底部に設けられたEMIガスケットが仕切り板の先端部とが、それぞれ当接することによって、前面パネルと仕切り板との隙間を通る電波を三重の遮蔽構造で遮断することができるというものである。   In the shield box described in Patent Document 1, the finger spring is provided on the side surface of the U-shaped deep groove and the inner periphery of the partition plate when the mobile phone is placed on the tray and the front panel is slid and closed. The EMI gasket provided on the front panel and the EMI gasket provided at the bottom of the U-shaped deep groove are in contact with the tip of the partition plate, respectively, so that the radio waves passing through the gap between the front panel and the partition plate are shielded in triple. It can be blocked by the structure.

しかしながら、前記した特許文献2に記載されたようなヒンジ式の扉を有する電子機器用試験箱においては、試験箱本体と扉との当接部分にEMIガスケットや導電ゴムパッキン等を備える電波遮蔽構造を有するものしかなく、近年必要とされる電波遮蔽性能に十分に応えることができなかった。また、特許文献1に記載の電波遮蔽構造(扉構造)を、電波暗室のような大型の部屋(試験室)の扉に適用することは現実的ではない。   However, in the electronic equipment test box having a hinged door as described in Patent Document 2 described above, a radio wave shielding structure including an EMI gasket, a conductive rubber packing, or the like at a contact portion between the test box body and the door. However, it has not been able to sufficiently meet the radio wave shielding performance required in recent years. Moreover, it is not realistic to apply the radio wave shielding structure (door structure) described in Patent Document 1 to the door of a large room (test room) such as an anechoic chamber.

そこで、本発明は、このような問題を解決すべく、試験箱(試験室)の電波遮蔽性能を向上させた電子機器の試験を精密に行うことができる電子機器用試験装置を提供することを課題とする。   Accordingly, the present invention provides an electronic apparatus test apparatus capable of precisely performing an electronic apparatus test with improved radio wave shielding performance of a test box (test room) in order to solve such problems. Let it be an issue.

前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部または扉の周縁部に取り付けられる金属製のフィンガーと、扉の周縁部または試験箱の開口縁部に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキンと、をさらに備えることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, an electronic apparatus test apparatus according to the present invention includes a test box in which an electronic apparatus is placed inside and at least one opening communicating the outside with the inside, and a hinge to the test box. And a door that opens and closes the opening, and is attached to the opening edge of the test box or the peripheral edge of the door, which is a contact portion between the test box and the door. It further comprises metal fingers and a packing having radio wave shielding properties attached to the peripheral edge of the door or the opening edge of the test box.

このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、金属製のフィンガーが扉の周縁部(または試験箱の開口縁部)に当接すると共に、電波の遮蔽性を有するパッキンが試験箱の開口縁部(または扉の周縁部)に当接する。これにより、試験箱と扉との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   According to such an electronic device testing apparatus, when the door is closed, the metal fingers abut on the peripheral edge of the door (or the opening edge of the test box), and the packing having radio wave shielding is provided. It contacts the opening edge of the test box (or the peripheral edge of the door). As a result, the gap between the test box and the door is closed, so that radio waves that try to enter from the contact portion between the test box and the door cause diffraction loss at the fingers and packing, and as a result, enter the contact portion. It is possible to effectively shield the radio wave to be tried.

ここで、回折損失とは、電波が金属製のフィンガー等によって反射することで、電波の進行方向側(この場合、試験箱の内部側)に伝搬しにくいことをいう。
なお、本発明に係る電子機器用試験装置の試験箱には、電波暗室のような大型の部屋(試験室)も含まれる。
Here, the diffraction loss means that the radio wave is reflected by a metal finger or the like and is not easily propagated to the traveling direction side of the radio wave (in this case, the inside of the test box).
Note that the test box of the electronic apparatus test apparatus according to the present invention includes a large room (test room) such as an anechoic chamber.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記フィンガーが、試験箱の開口縁部または扉の周縁部に設けられる立設板の側面に取り付けられることを特徴とする。   Moreover, the test apparatus for electronic devices according to the present invention is characterized in that the finger is attached to a side surface of an upright plate provided at an opening edge of a test box or a peripheral edge of a door.

このような電子機器用試験装置によれば、フィンガーが、試験箱の開口縁部(または扉の周縁部)に設けられる立設板の側面に取り付けられるので、閉扉時に扉の周縁部(または試験箱の開口縁部)に当接して変形するフィンガーの復元力が扉の開閉方向に対して垂直にかかることになる。このような構成により、フィンガーの復元力による扉の開扉を防止することができる。また、フィンガーの復元力が扉の開閉方向に対して垂直にかかるので、扉を閉扉状態に固定することができる。   According to such a test apparatus for electronic equipment, since the finger is attached to the side surface of the standing plate provided on the opening edge (or the peripheral edge of the door) of the test box, the peripheral edge (or the test) of the door when the door is closed. The restoring force of the finger that abuts on the opening edge of the box and deforms is perpendicular to the opening and closing direction of the door. With such a configuration, the door can be prevented from opening due to the restoring force of the fingers. Further, since the restoring force of the fingers is applied perpendicular to the door opening / closing direction, the door can be fixed in the closed state.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記パッキンが、扉を閉じた際に前記フィンガーよりも外周側に位置することを特徴とする。   Further, the electronic apparatus testing apparatus according to the present invention is characterized in that the packing is positioned on the outer peripheral side of the finger when the door is closed.

このような電子機器用試験装置によれば、パッキンが、扉を閉じた際にフィンガーよりも外周側に位置するので、フィンガーによる遮蔽機能とパッキンによる遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガーまたはパッキン、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。   According to such a test apparatus for electronic equipment, since the packing is positioned on the outer peripheral side of the finger when the door is closed, the shielding function by the finger and the shielding function by the packing work synergistically, and the test box It is possible to more effectively shield radio waves that are about to enter from the contact portion between the door and the door. Moreover, even if the shielding function of either the finger or the packing is lowered, the rapid shielding of the radio wave shielding performance of the electronic device test apparatus can be prevented by the other shielding function.

また、前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部および扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、他方に形成され、扉を閉じた際に挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、前記フィンガーが挿入片または挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが挿入溝の底部に取り付けられることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, an electronic device test apparatus according to the present invention includes an electronic device placed inside, a test box having at least one opening communicating with the outside, and the test box. And a door for opening and closing the opening, and a test apparatus for an electronic device comprising: an opening edge of the test box which is a contact portion between the test box and the door; and a peripheral edge of the door An insertion piece formed on one side and an insertion groove formed on the other side into which the insertion piece is inserted when the door is closed, and the finger is attached to the inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove The packing is attached to the bottom of the insertion groove.

このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片や挿入溝で回折損失を起こす。また、フィンガーが試験箱の開口縁部(または扉の周縁部)に当接することで試験箱と扉との隙間が閉塞されると共に、パッキンが挿入片の先端部に当接することで挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こす。これらにより、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   According to such a test apparatus for electronic equipment, when the door is closed, the radio wave that is about to enter from the contact portion between the test box and the door causes diffraction loss in the insertion piece or the insertion groove. In addition, the gap between the test box and the door is closed by the finger abutting on the opening edge of the test box (or the peripheral edge of the door), and the packing is in contact with the tip of the insertion piece and the insertion piece. Since the gap with the insertion groove is closed, the radio wave entering from the contact portion causes diffraction loss in the fingers and packing. Thus, it is possible to effectively shield radio waves that are about to enter from the contact portion.

また、前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部および扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、他方に形成され、扉を閉じた際に挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、前記フィンガーが挿入片または挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが挿入片の両側に取り付けられることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, an electronic device test apparatus according to the present invention includes an electronic device placed inside, a test box having at least one opening communicating with the outside, and the test box. And a door for opening and closing the opening, and a test apparatus for an electronic device comprising: an opening edge of the test box which is a contact portion between the test box and the door; and a peripheral edge of the door An insertion piece formed on one side and an insertion groove formed on the other side into which the insertion piece is inserted when the door is closed, and the finger is attached to the inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove The packing is attached to both sides of the insertion piece.

このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片や挿入溝で回折損失を起こす。また、フィンガーが試験箱の開口縁部(または扉の周縁部)に当接すると共に、パッキンが挿入溝の両側に当接することで、試験箱と扉との隙間が閉塞されるため、当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こす。これらにより、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   According to such a test apparatus for electronic equipment, when the door is closed, the radio wave that is about to enter from the contact portion between the test box and the door causes diffraction loss in the insertion piece or the insertion groove. In addition, the finger abuts the opening edge of the test box (or the peripheral edge of the door), and the packing abuts both sides of the insertion groove, thereby closing the gap between the test box and the door. The radio wave that tries to enter from the source causes diffraction loss at the fingers and packing. Thus, it is possible to effectively shield radio waves that are about to enter from the contact portion.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記挿入溝の内部に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする。   The electronic apparatus testing apparatus according to the present invention is characterized in that a metal finger is attached to the inside of the insertion groove.

このような電子機器用試験装置によれば、挿入溝の内部にさらに金属製のフィンガーが取り付けられるので、扉を閉じた際に、フィンガーが挿入片に当接する。これにより、挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が当該フィンガーで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。   According to such a test apparatus for electronic devices, since the metal fingers are further attached inside the insertion groove, the fingers come into contact with the insertion piece when the door is closed. As a result, the gap between the insertion piece and the insertion groove is closed, so that radio waves that try to enter from the contact portion between the test box and the door cause diffraction loss at the finger, and as a result, try to enter from the contact portion. Can be shielded more effectively.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記挿入片に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする。   In the electronic apparatus testing apparatus according to the present invention, a metal finger is attached to the insertion piece.

このような電子機器用試験装置によれば、挿入片にさらに金属製のフィンガーが取り付けられるので、扉を閉じた際に、フィンガーが挿入溝の内部に当接する。これにより、挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が当該フィンガーで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。   According to such a test apparatus for electronic devices, since the metal finger is further attached to the insertion piece, the finger comes into contact with the inside of the insertion groove when the door is closed. As a result, the gap between the insertion piece and the insertion groove is closed, so that radio waves that try to enter from the contact portion between the test box and the door cause diffraction loss at the finger, and as a result, try to enter from the contact portion. Can be shielded more effectively.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記試験箱が、電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えることを特徴とする。   The test apparatus for electronic equipment according to the present invention is characterized in that the test box includes a duct for preventing electromagnetic interference and conducting a cable connectable to the electronic equipment.

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱が電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えるので、電磁妨害を好適に防止することができると共に、試験箱の外部から内部にケーブルを配線することができる。また、ダクトの導波管としての作用によってケーブルの挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができる。   According to such a test apparatus for electronic equipment, the test box is provided with a duct for connecting a cable connectable to the electronic equipment to the inside thereof while preventing the electromagnetic interference, and therefore the electromagnetic interference can be suitably prevented. At the same time, a cable can be wired from the outside to the inside of the test box. In addition, it is possible to shield the radio wave entering the cable insertion portion by the action of the duct as a waveguide.

また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記ケーブルが、光信号を伝送する光ケーブルであることを特徴とする。   In the electronic apparatus testing apparatus according to the present invention, the cable is an optical cable for transmitting an optical signal.

このような電子機器用試験装置によれば、ケーブルを光信号を伝送する光ケーブルとすることで、電磁妨害を良好に防止することができる。   According to such a test apparatus for electronic devices, electromagnetic interference can be satisfactorily prevented by using an optical cable that transmits an optical signal as the cable.

本発明によれば、試験箱と扉との当接部分に金属製のフィンガーや電波の遮蔽性を有するパッキンを備えるので、試験箱の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。これにより、電子機器の試験を精密に行うことができる電波遮蔽性能に優れた電子機器用試験装置を提供することができる。   According to the present invention, the contact portion between the test box and the door is provided with a metal finger and a packing having radio wave shielding properties, so that it is possible to effectively shield radio waves entering from the outside of the test box. it can. Thereby, it is possible to provide an electronic device testing apparatus that is capable of precisely testing an electronic device and has excellent radio wave shielding performance.

以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。図1は電子機器用試験装置を示す全体斜視図である。
図1に示すように、電子機器用試験装置1は、電子機器Pが内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する開口部11を有する試験箱10と、当該試験箱10にヒンジ(図示せず)を介して取り付けられ、開口部11を開閉する扉20とを主に備え、試験箱10と扉20との当接部分である扉20の周縁部22に設けられる立設板31の側面に取り付けられる金属製のフィンガー30と、扉20の周縁部22に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキン40とをさらに備えている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings as appropriate. FIG. 1 is an overall perspective view showing a test apparatus for electronic equipment.
As shown in FIG. 1, an electronic device test apparatus 1 includes a test box 10 having an electronic device P inserted therein and an opening 11 that communicates the outside with the inside, and a hinge (see FIG. Of the upright plate 31 provided on the peripheral edge 22 of the door 20 which is a contact portion between the test box 10 and the door 20. It further includes a metal finger 30 attached to the side surface and a packing 40 having radio wave shielding properties attached to the peripheral edge portion 22 of the door 20.

以下、まず、試験箱10および扉20の各部の構成について、適宜図面を参照しながら説明する。図2は図1のII−II断面図であり、図3は図1のIII−III断面図であり、図4は図1のIV−IV断面図である。   Hereinafter, the structure of each part of the test box 10 and the door 20 will be described with reference to the drawings as appropriate. 2 is a sectional view taken along the line II-II in FIG. 1, FIG. 3 is a sectional view taken along the line III-III in FIG. 1, and FIG. 4 is a sectional view taken along the line IV-IV in FIG.

図2乃至4に示すように、試験箱10は、金属製の筐体110と、筐体110の内面に設けられた電波吸収体120と、筐体110の上壁の内面側に設けられたLEDランプ130と、筐体110の背面側に設けられたEMIダクト140と、金属製のハニカムフィルタ150と、筐体110の側壁の内面側に設けられたアンテナ160と、電子機器Pが固定される取付ユニット170とを備えている。   As shown in FIGS. 2 to 4, the test box 10 is provided on a metal casing 110, a radio wave absorber 120 provided on the inner surface of the casing 110, and an inner surface side of the upper wall of the casing 110. The LED lamp 130, the EMI duct 140 provided on the back side of the housing 110, the metal honeycomb filter 150, the antenna 160 provided on the inner surface side of the side wall of the housing 110, and the electronic device P are fixed. The mounting unit 170 is provided.

筐体110は、図2に示すように、複数の金属製のパネル111を骨格となるフレーム(図示せず)に溶接して、正面側に開口部11を有する略直方体の箱状に形成されている。筐体110は、導電性を有する金属製のパネル111およびフレーム(図示せず)から形成されているので、所定の剛性を有し、その耐久性が高められていると共に、外部からの電波の遮蔽性を有している。また、パネル111とフレーム(図示せず)とが、溶接によって接合されているので、筐体110の密閉性、すなわち、電波の遮蔽性が高められている。   As shown in FIG. 2, the casing 110 is formed in a substantially rectangular parallelepiped box shape having a plurality of metal panels 111 welded to a frame (not shown) serving as a skeleton and having an opening 11 on the front side. ing. Since the casing 110 is formed of a conductive metal panel 111 and a frame (not shown), the casing 110 has a predetermined rigidity, is improved in durability, and is capable of receiving radio waves from the outside. Has shielding properties. Further, since the panel 111 and the frame (not shown) are joined by welding, the sealing property of the housing 110, that is, the shielding property of radio waves is enhanced.

パネル111およびフレーム(図示せず)を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属(例えば、アルミニウム、スチール、銅等)だけでなく合金(例えば、アルミニウム合金、ステンレス等)であってもよい。なお、パネル111やフレーム(図示せず)を、特にアルミニウムまたはアルミニウム合金で形成した場合、所望の剛性を維持することができると共に、筐体110の軽量化を図ることができる。また、アルミニウムやアルミニウム合金は独特の光沢を有するので、筐体111は美観に優れたものとなる。   The metal forming the panel 111 and the frame (not shown) is not particularly limited in the present invention, and is not only a pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but also an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel, etc.). May be. Note that when the panel 111 and the frame (not shown) are particularly formed of aluminum or an aluminum alloy, desired rigidity can be maintained and the weight of the housing 110 can be reduced. Further, since aluminum or aluminum alloy has a unique luster, the casing 111 is excellent in aesthetics.

電波吸収体120は、電子機器Pやアンテナ160から放射される電波を筐体110(試験箱10)の内面で反射させずに擬似的に吸収することで、試験箱10の内部で放射された電波と反射した電波とが共振することを防止するものであり、図2に示すように、各パネル111の内面を覆うように形成されている。   The radio wave absorber 120 is radiated inside the test box 10 by artificially absorbing the radio waves radiated from the electronic device P and the antenna 160 without reflecting them on the inner surface of the housing 110 (test box 10). This is to prevent the radio wave and the reflected radio wave from resonating, and is formed so as to cover the inner surface of each panel 111 as shown in FIG.

このような電波吸収体120の種類は、本発明では特に限定されず、内部で放射される電波の特性に応じて、公知の電波吸収体を広く使用することができる。例えば、抵抗性電波吸収体、誘電性電波吸収体、磁性電波吸収体、そしてこれらを組み合せた電波吸収体等のいずれであっても使用することができ、さらに、単層型、多層型のいずれであってもよい。   The kind of the radio wave absorber 120 is not particularly limited in the present invention, and known radio wave absorbers can be widely used according to the characteristics of radio waves radiated inside. For example, any of a resistive radio wave absorber, a dielectric radio wave absorber, a magnetic radio wave absorber, and a radio wave absorber combining these can be used. It may be.

具体的には、例えば、(1)パネル111の側から順に、λ/4の厚みを有するスペーサ(λは試験箱の内部で放射される電波の波長)、表面抵抗値が自由空間のインピーダンス(376.7Ω)に略等しい抵抗膜シート、樹脂製の保護膜を備えるλ/4型電波吸収体、(2)パネル111の側から順に、抵抗膜シート(インピーダンス1088Ω)、スペーサ(38mm)、抵抗膜シート(インピーダンス280Ω)、スペーサ(38mm)、保護膜(アルミニウム板またはアルミニウム箔)を備える二種の電波(80MHz周辺および2050MHz周辺)を吸収可能な電波吸収体、(3)カーボン粉末や酸化チタン等の化合物から形成される誘電性電波吸収シート、(4)フェライトやカルボニル鉄等の化合物から形成される磁性電波吸収シート、(5)ポリウレタン等の樹脂と磁性体との複合体から形成される電波吸収シート、(6)磁性体と抵抗体とを貼り合わせた電波吸収体(例えば、ルミディオン(登録商標)(東洋サービス株式会社))等のいずれであっても使用することができる。   Specifically, for example, (1) in order from the panel 111 side, a spacer having a thickness of λ / 4 (λ is the wavelength of a radio wave radiated inside the test box), and the surface resistance value is impedance of free space ( 376.7Ω), a λ / 4 wave absorber provided with a resin protective film, (2) in order from the panel 111 side, a resistance film sheet (impedance 1088Ω), spacer (38 mm), resistance A radio wave absorber capable of absorbing two types of radio waves (around 80 MHz and around 2050 MHz) including a membrane sheet (impedance 280Ω), a spacer (38 mm), and a protective film (aluminum plate or aluminum foil), (3) carbon powder and titanium oxide Dielectric wave absorbing sheet formed from compounds such as (4) Magnetic wave absorbing sheet formed from compounds such as ferrite and carbonyl iron (5) a radio wave absorbing sheet formed from a composite of a resin such as polyurethane and a magnetic material, and (6) a radio wave absorber (for example, Lumidion (registered trademark) ( Any of Toyo Service Co., Ltd.) can be used.

なお、電波吸収体120の表面は平坦であること(平板型)が望ましい。これによれば、例えば、波型や山型、四角錐型等の電波吸収体を備える場合と比較して、試験箱10の内部(容積)を大きくしたり、試験箱10のサイズを小さくしたりすることができる。   The surface of the radio wave absorber 120 is preferably flat (a flat plate type). According to this, for example, the inside (volume) of the test box 10 is increased or the size of the test box 10 is reduced as compared with a case where a wave absorber such as a wave shape, a mountain shape, or a quadrangular pyramid shape is provided. Can be.

LED(Light Emitting Diode)ランプ130は、試験箱10の内部を照らすための照明であり、図3に示すように、筐体110の上壁に設けられている。これにより、例えば、電子機器Pを試験する間、試験箱10の内部を照らすことで電子機器Pを視認することができる。LEDランプ130は、蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズがほとんど発生しないので、試験箱10の内部を照らす照明として好適に用いることができる。   The LED (Light Emitting Diode) lamp 130 is illumination for illuminating the inside of the test box 10, and is provided on the upper wall of the housing 110 as shown in FIG. 3. Thereby, for example, while testing the electronic device P, the electronic device P can be visually recognized by illuminating the inside of the test box 10. Unlike the fluorescent lamp, the LED lamp 130 hardly generates noise at the time of blinking, and thus can be suitably used as illumination for illuminating the inside of the test box 10.

なお、LEDランプ130の設置位置や個数、配置等は適宜設定することができ、図3に示す構成に限定されるものではない。また、試験箱10の内部を照らす照明は、LEDランプに限定されず、例えば、ハロゲンランプや白熱灯等であってもよい。   In addition, the installation position, the number, the arrangement, and the like of the LED lamps 130 can be set as appropriate, and are not limited to the configuration shown in FIG. Moreover, the illumination which illuminates the inside of the test box 10 is not limited to the LED lamp, and may be, for example, a halogen lamp or an incandescent lamp.

EMI(Electro Magnetic Interference:電磁妨害または電磁干渉)ダクト140は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器P等に接続されるケーブル180を筐体110の外部から内部に挿通するダクトであり、図4に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット141を介して、筐体110の背面に固定されている。   The EMI (Electro Magnetic Interference) duct 140 is a duct for preventing the electromagnetic interference and inserting the cable 180 connected to the electronic device P or the like from the outside of the housing 110 to the inside. As shown in FIG. 4, the housing is fixed to the back surface of the housing 110 via a gasket 141 having insulation resistance.

これにより、EMIダクト140を介して、試験箱10の外部から内部にケーブル180を配線することができると共に、ダクトの導波管としての作用(所定波長より長い波長の電波を伝搬させない)によってケーブル180の挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができるので、試験箱10の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。   Accordingly, the cable 180 can be wired from the outside to the inside of the test box 10 through the EMI duct 140, and the cable is operated by the duct as a waveguide (does not propagate a radio wave having a wavelength longer than a predetermined wavelength). Since it is possible to shield the radio wave entering from the inserted portion of 180, the radio wave shielding property of the test box 10 can be suitably maintained.

また、図2に示すように、ケーブル180の所定長さ(例えば、100mm以上)が、EMIダクト140の内部を通るように、ケーブル180を配線することによって、電磁妨害を好適に防止することができる。   In addition, as shown in FIG. 2, electromagnetic interference can be suitably prevented by wiring the cable 180 so that a predetermined length (for example, 100 mm or more) of the cable 180 passes through the interior of the EMI duct 140. it can.

なお、ケーブル180には、図2に示すように、EMIダクト140の内部を通る部分および所定の前後部分の外周面にケーブル180の内部を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体181が被覆されている。具体的には、例えば、ルミディオン(登録商標)(東洋サービス株式会社)等のEMIテープが、ケーブル180に所定の長さ(例えば、300mm以上)で巻回されている。これにより、ケーブル180からのノイズの輻射と伝搬を抑制することができるので、電子機器Pで授受される電波を試験ユニット190で高精度に制御・測定することができる。   As shown in FIG. 2, the cable 180 is coated with a noise absorber 181 that absorbs noise conducted through the cable 180 on the outer peripheral surfaces of the portion passing through the EMI duct 140 and the predetermined front and rear portions. Yes. Specifically, for example, EMI tape such as Lumidion (registered trademark) (Toyo Service Co., Ltd.) is wound around the cable 180 at a predetermined length (for example, 300 mm or more). Thereby, since radiation and propagation of noise from the cable 180 can be suppressed, the radio wave transmitted and received by the electronic device P can be controlled and measured with high accuracy by the test unit 190.

このようなEMIダクト140は、ダイカスト製であり、図4に示すように、ケーブル180が通る側(筐体110の側)に複数の凹溝142が形成されている。この凹溝142にケーブル180を通すことによって、EMIダクト140の内部でケーブル180が上下方向に移動することを防止すると共に、ケーブル180を整列させることができる。また、EMIダクト140に複数のケーブル180を通した場合、各ケーブル間の空間が凹溝142の側壁部(金属)によって埋められるので、試験箱10の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。さらに、各ケーブルを平行に配線することができるので、例えば、各ケーブルに一様に接触するアース等を取付ける場合には、その取付けが容易となる。   Such an EMI duct 140 is made of die-casting, and as shown in FIG. 4, a plurality of concave grooves 142 are formed on the side through which the cable 180 passes (side of the housing 110). By passing the cable 180 through the concave groove 142, the cable 180 can be prevented from moving in the vertical direction inside the EMI duct 140, and the cable 180 can be aligned. Further, when a plurality of cables 180 are passed through the EMI duct 140, the space between the cables is filled with the side wall (metal) of the concave groove 142, so that the radio wave shielding property of the test box 10 can be suitably maintained. it can. Furthermore, since each cable can be wired in parallel, for example, when attaching a ground or the like that uniformly contacts each cable, the attachment becomes easy.

ハニカムフィルタ150は、試験箱10の外部と内部とを連通すると共に、試験箱10の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、図4に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット151を介して、筐体110の背面に固定されている。図5(a)はハニカムフィルタを示す斜視図である。   The honeycomb filter 150 is an air supply / exhaust filter that communicates the outside and inside of the test box 10 and shields radio waves entering from the outside of the test box 10. As shown in FIG. It is fixed to the back surface of the housing 110 through a gasket 151 having the following. FIG. 5A is a perspective view showing a honeycomb filter.

さらに説明すると、ハニカムフィルタ150は、図5(a)に示すように、正面視正六角形状の複数の細孔152を有する金属製(例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等)のハニカム体として形成され、この複数の細孔152を介して、試験箱10の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器P等から放射される熱を排気することができるようになっている。なお、細孔152の形状は、正六角形に限定されず、例えば、円形や四角形等であってもよい。   More specifically, as shown in FIG. 5A, the honeycomb filter 150 is formed as a honeycomb body made of metal (for example, made of aluminum, aluminum alloy, etc.) having a plurality of pores 152 having a regular hexagonal shape when viewed from the front. Through the plurality of pores 152, air circulation between the outside and inside of the test box 10 can be ensured, and for example, heat radiated from the electronic device P or the like can be exhausted. . Note that the shape of the pores 152 is not limited to a regular hexagon, and may be, for example, a circle or a rectangle.

また、細孔152は、導波管としての機能を備える周壁153に取り囲まれているので、所定波長より長い波長の電波を伝搬させないため、試験箱10の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。なお、筐体110(試験箱10)の背面に形成される貫通孔112(図4参照)の開口径、ハニカムフィルタ150の長さ(周壁153からなる導波管の長さ)、および、細孔152の開口径(正六角形の対向する二辺間の距離)は、ハニカムフィルタ150の内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される。   In addition, since the pore 152 is surrounded by the peripheral wall 153 having a function as a waveguide, it does not propagate a radio wave having a wavelength longer than a predetermined wavelength, so that the radio wave entering from the outside of the test box 10 is effective. Can be shielded. Note that the opening diameter of the through-hole 112 (see FIG. 4) formed on the back surface of the casing 110 (test box 10), the length of the honeycomb filter 150 (the length of the waveguide formed of the peripheral wall 153), and the narrow The opening diameter of the hole 152 (distance between two opposite sides of the regular hexagon) is set based on the wavelength of the radio wave that does not propagate inside the honeycomb filter 150.

ここで、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法(長さ)が同一であれば、導波管が長くなるほど、電波の遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなるほど、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数(所定の周波数)が高くなる。   Here, in general, if the shape and dimension (length) of the opening of the waveguide are the same, the longer the waveguide, the higher the radio wave shielding performance. Although it depends on the shape of the opening of the waveguide, the limit frequency (predetermined frequency) of the radio wave that can be shielded by the waveguide increases as the area of the opening decreases.

なお、前記したハニカムフィルタ150の代わりに、図5(b)に示すようなメッシュフィルタ155を備える構成としてもよい。図5(b)はメッシュフィルタを示す斜視図である。   In addition, it is good also as a structure provided with the mesh filter 155 as shown in FIG.5 (b) instead of the above-mentioned honeycomb filter 150. FIG. FIG. 5B is a perspective view showing the mesh filter.

メッシュフィルタ155は、試験箱10の外部と内部とを連通すると共に、試験箱10の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、ハニカムフィルタと同様に、絶縁抵抗性を有するガスケットを介して、筐体110の背面に固定される(図4参照)。   The mesh filter 155 communicates the outside and inside of the test box 10 and shields radio waves entering from the outside of the test box 10. The mesh filter 155 has insulation resistance similar to the honeycomb filter. It fixes to the back surface of the housing | casing 110 through the gasket which has (refer FIG. 4).

メッシュフィルタ155は、金属製(例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等)のメッシュが複数重ねられたメッシュ積層体であり、このメッシュを介して、試験箱10の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器P等から放射される熱を排気することができるようになっている。また、金属製のメッシュ積層体の内部では、電波の回折損失が起こるので、試験箱10の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   The mesh filter 155 is a mesh laminate in which a plurality of metal (for example, aluminum, aluminum alloy, etc.) meshes are stacked, and air circulation between the outside and the inside of the test box 10 is performed via the mesh. For example, the heat radiated from the electronic device P or the like can be exhausted. In addition, since a diffraction loss of radio waves occurs inside the metal mesh laminate, radio waves entering from the outside of the test box 10 can be effectively shielded.

アンテナ160は、電子機器Pとの間で電波を授受するためのアンテナであり、図2乃至4に示すように、筐体110の側壁に固定されたコネクタ161に、アンテナ用導波管162を介して設けられている。アンテナ160には、ケーブル(図示せず)の一端が接続されており、このケーブル(図示せず)は、アンテナ用導波管162を介して試験箱10の外部に引き出され、その他端が電波送受信ユニット(図示せず)に接続されている。   The antenna 160 is an antenna for transmitting and receiving radio waves to and from the electronic device P. As shown in FIGS. 2 to 4, an antenna waveguide 162 is connected to a connector 161 fixed to the side wall of the housing 110. Is provided. One end of a cable (not shown) is connected to the antenna 160, and this cable (not shown) is pulled out of the test box 10 via the antenna waveguide 162, and the other end is a radio wave. It is connected to a transmission / reception unit (not shown).

なお、電波送受信ユニット(図示せず)は、アンテナ160に電波を放射させたり、その電波の周波数帯域や出力等を制御したり、アンテナ160が受信した電子機器Pからの電波を測定したりする機能を有する。   The radio wave transmission / reception unit (not shown) radiates radio waves to the antenna 160, controls the frequency band and output of the radio waves, and measures radio waves from the electronic device P received by the antenna 160. It has a function.

コネクタ161は、アンテナ用導波管162を固定するためのものであり、筐体110の側壁に固定した状態で設けられている。このようなコネクタ161を緩めてアンテナ用導波管162を回動させ、アンテナ160の向きを変えた後、コネクタ161を締めてアンテナ用導波管162を再び固定することで、アンテナ160の向きを変えることができるようになっている。   The connector 161 is for fixing the antenna waveguide 162, and is provided in a state of being fixed to the side wall of the housing 110. After the connector 161 is loosened and the antenna waveguide 162 is rotated to change the direction of the antenna 160, the connector 161 is tightened and the antenna waveguide 162 is fixed again. Can be changed.

これにより、アンテナ160から放射される電波の偏波面と、電子機器PのアンテナPa(図3参照)から放射される電波の偏波面とが、平行または垂直となるようにアンテナ160の軸を回転調整することができる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。
Thereby, the axis of the antenna 160 is rotated so that the plane of polarization of the radio wave radiated from the antenna 160 and the plane of polarization of the radio wave radiated from the antenna Pa (see FIG. 3) of the electronic device P are parallel or perpendicular. Can be adjusted.
Note that the polarization plane refers to a plane in which the wave of an electric field vibrates in an electromagnetic wave, and an electromagnetic wave having a certain plane is called a linearly polarized wave. A radio wave radiated from a normal antenna is linearly polarized.

コネクタ161は、図2,4に示すように、その左右(水平方向)に別(予備)のコネクタ163を設けてもよい。これにより、所望の位置にアンテナ用導波管162を付け替えることができるので、所望の位置にアンテナ160を配置することができる。なお、このようなコネクタ163は、コネクタ161の上下(垂直方向)に設けてもよいし、コネクタ161の左右上下に二つ以上設けてもよい。   As shown in FIGS. 2 and 4, another (preliminary) connector 163 may be provided on the left and right (horizontal direction) of the connector 161. As a result, the antenna waveguide 162 can be replaced at a desired position, so that the antenna 160 can be disposed at the desired position. Note that such connectors 163 may be provided above and below the connector 161 (vertical direction), or two or more connectors 163 may be provided above and below the connector 161.

アンテナ用導波管162は、円筒状かつL字状に屈曲した、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金等から形成された金属製の導波管であり、電波の遮蔽性を有している。このアンテナ用導波管162は、試験箱10の外部と内部とを連通しており、その中空部(内部)には、アンテナ160に接続されたケーブル(図示せず)が配線されている。また、アンテナ用導波管162の先端部には、矩形状のグランドプレート164が固定されている。なお、アンテナ用導波管162の断面は、円形に限定されず、例えば、多角形であってもよい。   The antenna waveguide 162 is a metal waveguide formed of, for example, aluminum or an aluminum alloy that is bent in a cylindrical shape and an L shape, and has radio wave shielding properties. The antenna waveguide 162 communicates between the outside and the inside of the test box 10, and a cable (not shown) connected to the antenna 160 is wired in the hollow portion (inside). A rectangular ground plate 164 is fixed to the tip of the antenna waveguide 162. The cross section of the antenna waveguide 162 is not limited to a circle, and may be a polygon, for example.

アンテナ用導波管162の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管162の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬しないように設定されている。これにより、試験箱10の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。   The specifications of the antenna waveguide 162 are set based on the wavelength of the radio wave that does not propagate inside the antenna waveguide 162. Specifically, the inner diameter and length of the antenna waveguide 162 are set so that radio waves having a wavelength longer than a predetermined wavelength do not propagate through the inside. Thereby, the radio wave shielding property of the test box 10 can be suitably maintained.

なお、一般にアンテナを金属物体に近接して設置すると金属物体に渦電流が流れて電波の再放射等が起こり、供試体に対して適切に放射された電波に干渉して影響を与えることがある。そこで、図4に示すように、アンテナ160の近傍の筐体110の側壁に磁性体シート165を設けることが望ましい(アンテナ160は、磁性体シート165と電子機器Pとの間に位置することになる)。これにより、前記したような渦電流による電波の再放射等の影響を低減することができる。   In general, when an antenna is installed close to a metal object, eddy currents flow through the metal object, causing radio waves to be re-radiated, etc., and may interfere with the radio wave appropriately radiated to the specimen. . Therefore, as shown in FIG. 4, it is desirable to provide a magnetic sheet 165 on the side wall of the casing 110 in the vicinity of the antenna 160 (the antenna 160 is located between the magnetic sheet 165 and the electronic device P). Become). Thereby, it is possible to reduce the influence of re-radiation of radio waves due to the eddy current as described above.

取付ユニット170は、電子機器Pを筐体110の内部に固定するためのユニットであり、図2,3に示すように、筐体110の底面全面を覆うように設けられた固定板171と、この固定板171の上に着脱自在に固定されて電子機器Pを保持・固定する保持固定治具172とから構成されている。   The mounting unit 170 is a unit for fixing the electronic device P inside the housing 110, and as shown in FIGS. 2 and 3, a fixing plate 171 provided so as to cover the entire bottom surface of the housing 110, The holding plate 171 is detachably fixed on the fixing plate 171 and includes a holding and fixing jig 172 that holds and fixes the electronic device P.

固定板171は、図2に示すように、平面視矩形状の板材であり、保持固定治具172を固定するための複数のボルト孔171aが形成されている。ボルト孔171aは、保持固定治具172の固定位置を所望の位置に変えられるように、筐体110の正面視左右方向に並列して複数設けられている。なお、固定板171の上には電波吸収性を有する電波吸収シートを設けてもよいし、固定板171を電波吸収性を有する部材で形成してもよい。   As shown in FIG. 2, the fixing plate 171 is a plate member having a rectangular shape in plan view, and a plurality of bolt holes 171 a for fixing the holding and fixing jig 172 are formed. A plurality of bolt holes 171a are provided in parallel in the left-right direction in front view of the housing 110 so that the fixing position of the holding fixture 172 can be changed to a desired position. Note that a radio wave absorbing sheet having radio wave absorptivity may be provided on the fixing plate 171 or the fixing plate 171 may be formed of a member having radio wave absorptivity.

保持固定治具172は、図3に示すように、側面視L字状の部材であり、底部にボルトBを螺入するためのボルト孔172aが形成されている。このボルト孔172aを介して、固定板171のボルト孔171aにボルトBが螺入されることで、保持固定治具172が固定板171に固定される。保持固定治具172には、取付板173と固定具174が取り付けられている。   As shown in FIG. 3, the holding and fixing jig 172 is an L-shaped member in a side view, and has a bolt hole 172a for screwing the bolt B into the bottom. The holding and fixing jig 172 is fixed to the fixing plate 171 by screwing the bolt B into the bolt hole 171a of the fixing plate 171 through the bolt hole 172a. An attachment plate 173 and a fixture 174 are attached to the holding fixture 172.

取付板173は、長尺状の板材(図2参照)で、保持固定治具172に固定されている。また、固定具174は、電子機器Pを保持する部材で、電子機器Pを挿通して保持する挿通部174aが形成されている。この固定具174は、取付板173に着脱自在に取り付けられており、所望に応じて、電子機器Pの取付方向や取付位置を変えることができるようになっている。   The mounting plate 173 is a long plate material (see FIG. 2) and is fixed to the holding and fixing jig 172. The fixture 174 is a member that holds the electronic device P, and is formed with an insertion portion 174a that inserts and holds the electronic device P. The fixture 174 is detachably attached to the attachment plate 173 so that the attachment direction and attachment position of the electronic device P can be changed as desired.

試験ユニット190(図2参照)は、電子機器Pで授受される電波を制御・測定するユニット、すなわち、電子機器Pの電波の受信状態を検出して電子機器Pが正常に動作しているか否かを判定すると共に、電子機器Pに各種の指示を送信して動作をさせることができるユニットである。   The test unit 190 (see FIG. 2) is a unit that controls and measures radio waves transmitted and received by the electronic device P, that is, whether or not the electronic device P is operating normally by detecting the reception state of the radio waves of the electronic device P. This is a unit that can determine whether or not and send various instructions to the electronic device P for operation.

このような試験ユニット190は、ケーブル180を介して試験対象である電子機器Pに接続可能となっている。具体的には、ケーブル180の一端が試験ユニット190に接続され、他端が、EMIダクト140を介して、試験箱10の内部に引き出され、電子機器Pに接続されている。なお、ケーブル180の他端には、電子機器Pに着脱自在に接続するためのコネクタ(図示せず)が設けられている。   Such a test unit 190 can be connected to an electronic device P to be tested via a cable 180. Specifically, one end of the cable 180 is connected to the test unit 190, and the other end is drawn into the test box 10 via the EMI duct 140 and connected to the electronic device P. Note that a connector (not shown) for detachably connecting to the electronic device P is provided at the other end of the cable 180.

図2に示すように、扉20は、試験箱10の側面にヒンジHを介して回動自在に取り付けられ、適宜開閉可能な構成となっている。この扉20は、金属製のパネル201から形成され、このパネル201の正面視右側には窓210が形成されている。また、図2に示すように、前記した電波吸収体120が、パネル201の内面を覆うように形成されている。
なお、パネル201を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属(例えば、アルミニウム、スチール、銅等)だけでなく合金(例えば、アルミニウム合金、ステンレス等)であってもよい。
As shown in FIG. 2, the door 20 is rotatably attached to the side surface of the test box 10 via a hinge H, and can be opened and closed as appropriate. The door 20 is formed of a metal panel 201, and a window 210 is formed on the right side of the panel 201 when viewed from the front. Further, as shown in FIG. 2, the above-described radio wave absorber 120 is formed so as to cover the inner surface of the panel 201.
In addition, the metal which forms the panel 201 is not specifically limited by this invention, Not only a pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel, etc.) may be sufficient.

窓210は、可視光に対する透過性を有する矩形状のガラス板211を備えている。これにより、電子機器Pの試験を行いながら、窓210(ガラス板211)を介して、外部から試験箱10の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Pの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。   The window 210 includes a rectangular glass plate 211 having transparency to visible light. Thereby, since the inside of the test box 10 can be visually recognized from the outside through the window 210 (glass plate 211) while performing the test of the electronic device P, for example, the electronic device P caused by receiving the radio wave It is possible to confirm whether or not the incoming call lamp is lit.

ガラス板211は、窓210(ガラス板211)を介しての電波の往来を防止するため、電波の反射性(遮断性)を有している。これにより、試験箱10の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。このようなガラス板211としては、例えば、ガラス板211の少なくとも片面にITO(Indium Tin Oxide:酸化インジウムスズ)膜を形成したものを使用することができる。   The glass plate 211 has radio wave reflectivity (blocking property) in order to prevent radio waves from coming and going through the window 210 (glass plate 211). Thereby, the radio wave shielding property of the test box 10 can be suitably maintained. As such a glass plate 211, for example, a glass plate 211 having an ITO (Indium Tin Oxide) film formed on at least one surface thereof can be used.

また、ガラス板211は、図2に示すように、扉20に形成された窓用の開口部202の周囲に設けられた凹溝203に、電波の遮蔽性を有するパッキン212(例えば、導電性ゴムパッキン等)を介して固定されている。これにより、窓210(ガラス板211)の周縁部分における電波の遮蔽性を確保することができるので、試験箱10の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。   Further, as shown in FIG. 2, a glass plate 211 has a packing 212 (for example, conductive material) having radio wave shielding properties in a concave groove 203 provided around a window opening 202 formed in the door 20. It is fixed via rubber packing or the like. Thereby, since the shielding property of the electromagnetic wave in the peripheral part of the window 210 (glass plate 211) can be ensured, the shielding property of the electromagnetic wave of the test box 10 can be suitably maintained.

なお、試験箱10の内部において、電子機器Pやアンテナ160等から放射される電波が窓210(ガラス板211)に直接照射されると、電波が窓210(ガラス板211)の表面で反射して電波の共振現象が発生するので、窓210は、電子機器Pやアンテナ140等から放射される電波ができるだけ照射しない位置に設けることが望ましい。
ここで、電波の共振現象とは、電波の遮蔽性を有する試験箱の内部でアンテナ等から電波が放射されたとき、試験箱の内部の壁面で電波が反射を繰り返して干渉を起こす現象をいう。
When radio waves radiated from the electronic device P, the antenna 160, etc. are directly irradiated on the window 210 (glass plate 211) inside the test box 10, the radio waves are reflected on the surface of the window 210 (glass plate 211). Therefore, it is desirable to provide the window 210 at a position where the radio waves radiated from the electronic device P, the antenna 140, etc. are not irradiated as much as possible.
Here, the radio wave resonance phenomenon refers to a phenomenon in which when radio waves are radiated from an antenna or the like inside a test box having radio wave shielding properties, the radio waves are repeatedly reflected on the inner wall surface of the test box to cause interference. .

以上、説明した試験箱10と扉20との当接部分である試験箱10の開口縁部12および/または扉20の周縁部22には、扉20を閉じた際に、外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽構造が形成されている。
次に、この電波遮蔽構造の実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。なお、図1,2,4に示した電波遮蔽構造は、後記する第1実施形態に係る電波遮蔽構造である。
As described above, the opening edge 12 of the test box 10 and / or the peripheral edge 22 of the door 20, which is a contact portion between the test box 10 and the door 20 described above, emits radio waves from the outside when the door 20 is closed. A radio wave shielding structure for shielding is formed.
Next, an embodiment of the radio wave shielding structure will be described with reference to the drawings as appropriate. The radio wave shielding structures shown in FIGS. 1, 2, and 4 are radio wave shielding structures according to a first embodiment described later.

[第1実施形態]
図6(a)は扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第1実施形態に係る電波遮蔽構造は、図6(a)に示すように、試験箱10と扉20との当接部分である扉20の周縁部22に設けられた立設板31の側面に取り付けられた金属製のフィンガー30と、扉20の周縁部22に取り付けられた電波の遮蔽性を有するパッキン40とからなる。
[First Embodiment]
FIG. 6A is a schematic diagram showing a state in which the door is opened, and FIG. 6B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.
As shown in FIG. 6A, the radio wave shielding structure according to the first embodiment is a side surface of a standing plate 31 provided on the peripheral edge 22 of the door 20 that is a contact portion between the test box 10 and the door 20. The metal finger 30 attached to the door 20 and the packing 40 having a radio wave shielding property attached to the peripheral portion 22 of the door 20.

フィンガー30は、シールドフィンガー、フィンガーストリップ等とも呼ばれ、本実施形態においては、略櫛形をなす帯状の金属板の櫛の歯に相当する部分を、断面視円弧状に湾曲させて形成した板バネ部材であり、取付面の垂直方向に付勢され、電波の遮蔽性を有している。このフィンガー30は、扉20の周縁部22の全周に、例えば、溶接等によって固定された断面視L字形状の金属製(例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等)の立設板31の外周側側面に取り付けられている。   The finger 30 is also called a shield finger, a finger strip, or the like. In the present embodiment, a leaf spring formed by curving a portion corresponding to a comb tooth of a substantially comb-shaped belt-like metal plate in an arc shape in cross section. It is a member, and is biased in the direction perpendicular to the mounting surface, and has radio wave shielding properties. The finger 30 has an outer periphery of an upright plate 31 made of a metal (for example, made of aluminum, aluminum alloy, etc.) having an L-shaped cross-section and fixed to the entire periphery of the peripheral edge portion 22 of the door 20 by, for example, welding. It is attached to the side surface.

このようなフィンガー30を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金であってもよい。特に、銅合金を使用することが望ましい。銅を主体とした銅合金は、導電性が高いのでフィンガー30の電波の遮蔽性を高めることができる。また、銅合金は弾性性能が優れているので接触抵抗を小さくすることができる。このような銅合金としては、例えば、ベリリウム銅合金等が挙げられる。   The metal that forms such a finger 30 is not particularly limited in the present invention, and may be an alloy as well as a pure metal. In particular, it is desirable to use a copper alloy. Since the copper alloy mainly composed of copper has high electrical conductivity, the radio wave shielding property of the finger 30 can be improved. Further, since the copper alloy has excellent elastic performance, the contact resistance can be reduced. Examples of such copper alloys include beryllium copper alloys.

パッキン40は、弾性(クッション性)を有するスポンジ材を、導電性ファブリックで被覆したものであり、電波の遮蔽性を有している。このパッキン40は、扉20の周縁部22の全周に設けられたフィンガー30(立設板31)の外周側に取り付けられている。なお、導電性ファブリックとしては、繊維をニッケルでめっきしたもの等が挙げられる。また、パッキンの永久歪率は、60%以下であることが望ましい。   The packing 40 is obtained by coating a sponge material having elasticity (cushioning property) with a conductive fabric, and has radio wave shielding properties. This packing 40 is attached to the outer peripheral side of the finger 30 (standing plate 31) provided on the entire periphery of the peripheral edge portion 22 of the door 20. In addition, as a conductive fabric, what plated the fiber with nickel etc. are mentioned. Further, it is desirable that the permanent set rate of the packing is 60% or less.

このような構成を備える第1実施形態に係る電波遮蔽構造は、図6(b)に示すように、扉20を閉じると、フィンガー30が試験箱10の開口縁部12(折り曲げ部13)に弾性的に当接すると共に、パッキン40が試験箱10の開口縁部12に弾性的に当接する。これにより、試験箱10と扉20との隙間がフィンガー30およびパッキン40によって確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー30やパッキン40で回折損失を起こすので、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   In the radio wave shielding structure according to the first embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 6B, when the door 20 is closed, the fingers 30 are formed on the opening edge portion 12 (bending portion 13) of the test box 10. The packing 40 elastically contacts the opening edge 12 of the test box 10 while elastically contacting. As a result, the gap between the test box 10 and the door 20 is surely closed by the fingers 30 and the packing 40, so that radio waves that are about to enter from the abutting portion between the test box 10 and the door 20 are transmitted to the fingers 30 and the packing 40. This causes a diffraction loss, so that it is possible to effectively shield radio waves that try to enter from the contact portion.

また、フィンガー30が、図6に示すように、立設板31に取り付けられているので、扉20を閉じた際に試験箱10に当接して変形するフィンガー30の復元力が、扉20の開閉方向(図6の左右方向)に対して垂直(図6の上下方向)にかかることになる。これにより、フィンガー30の復元力による扉20の開扉を防止することができると共に、扉20を閉扉状態に固定することができる。   Moreover, since the finger 30 is attached to the standing plate 31 as shown in FIG. 6, when the door 20 is closed, the restoring force of the finger 30 that contacts and deforms the test box 10 is This is perpendicular to the opening / closing direction (left-right direction in FIG. 6) (up-down direction in FIG. 6). Thereby, the door 20 can be prevented from opening due to the restoring force of the finger 30, and the door 20 can be fixed in the closed state.

さらに、パッキン40が、図6に示すように、フィンガー30の外周側に取り付けられているので、フィンガー30による遮蔽機能とパッキン40による遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガー30またはパッキン40、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置1の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。   Furthermore, since the packing 40 is attached to the outer periphery side of the finger 30 as shown in FIG. 6, the shielding function by the finger 30 and the shielding function by the packing 40 work synergistically, and the test box 10 and the door 20. It is possible to more effectively shield radio waves that try to enter from the abutting portion. Moreover, even if the shielding function of either the finger 30 or the packing 40 is lowered, the sudden shielding function of the electronic apparatus testing device 1 can be prevented from being lowered by the other shielding function.

なお、フィンガー30は、立設板31を介さずに、扉20の周縁部22に直接取り付ける構成としてもよい。また、パッキン40は、試験箱10の開口縁部12の側に取り付けてもよい。   The finger 30 may be directly attached to the peripheral edge 22 of the door 20 without using the standing plate 31. The packing 40 may be attached to the opening edge 12 side of the test box 10.

[第2実施形態]
図7(a)は扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第2実施形態に係る電波遮蔽構造は、図7(a)に示すように、試験箱10と扉20との当接部分である試験箱10の開口縁部12に設けられた立設板31の側面に取り付けられた金属製のフィンガー30と、扉20の周縁部22に取り付けられた電波の遮蔽性を有するパッキン40とからなる。
[Second Embodiment]
FIG. 7A is a schematic diagram showing a state where the door is opened, and FIG. 7B is a schematic diagram showing a state where the door is closed.
As shown in FIG. 7A, the radio wave shielding structure according to the second embodiment is a standing plate 31 provided at the opening edge portion 12 of the test box 10 that is a contact portion between the test box 10 and the door 20. The metal finger 30 attached to the side surface of the door 20 and the packing 40 having radio wave shielding property attached to the peripheral edge portion 22 of the door 20.

第2実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー30が、試験箱10の開口縁部12の全周に固定された断面視L字形状の金属製の立設板31の外周側側面に取り付けられている点が、第1実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。   In the radio wave shielding structure according to the second embodiment, the finger 30 is attached to the outer peripheral side surface of the L-shaped metal standing plate 31 that is fixed to the entire periphery of the opening edge portion 12 of the test box 10. Is different from the radio wave shielding structure according to the first embodiment.

このような構成を備える第2実施形態に係る電波遮蔽構造は、図7(b)に示すように、扉20を閉じると、フィンガー30が扉20の周縁部22(折り曲げ部23)に弾性的に当接すると共に、パッキン40が試験箱10の開口縁部12に弾性的に当接する。これにより、試験箱10と扉20との隙間がフィンガー30およびパッキン40によって確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー30やパッキン40で回折損失を起こすので、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。   In the radio wave shielding structure according to the second embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 7B, when the door 20 is closed, the fingers 30 are elastic to the peripheral portion 22 (bending portion 23) of the door 20. And the packing 40 elastically contacts the opening edge 12 of the test box 10. As a result, the gap between the test box 10 and the door 20 is surely closed by the fingers 30 and the packing 40, so that radio waves that are about to enter from the abutting portion between the test box 10 and the door 20 are transmitted to the fingers 30 and the packing 40. This causes a diffraction loss, so that it is possible to effectively shield radio waves that try to enter from the contact portion.

また、フィンガー30が、図7に示すように、立設板31に取り付けられているので、扉20を閉じた際に扉20に当接して変形するフィンガー30の復元力が、扉20の開閉方向(図7の左右方向)に対して垂直(図7の上下方向)にかかることになる。これにより、フィンガー30の復元力による扉20の開扉を防止することができると共に、扉20を閉扉状態に固定することができる。   Further, as shown in FIG. 7, since the fingers 30 are attached to the standing plate 31, the restoring force of the fingers 30 that deforms in contact with the door 20 when the door 20 is closed opens and closes the door 20. The vertical direction (the vertical direction in FIG. 7) is applied to the direction (the horizontal direction in FIG. 7). Thereby, the door 20 can be prevented from opening due to the restoring force of the finger 30, and the door 20 can be fixed in the closed state.

さらに、パッキン40が、図7に示すように、フィンガー30の外周側に取り付けられているので、フィンガー30による遮蔽機能とパッキン40による遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガー30またはパッキン40、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置1の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。   Furthermore, since the packing 40 is attached to the outer peripheral side of the finger 30 as shown in FIG. 7, the shielding function by the finger 30 and the shielding function by the packing 40 work synergistically, and the test box 10 and the door 20. It is possible to more effectively shield radio waves that try to enter from the abutting portion. Moreover, even if the shielding function of either the finger 30 or the packing 40 is lowered, the sudden shielding function of the electronic apparatus testing device 1 can be prevented from being lowered by the other shielding function.

なお、フィンガー30は、立設板31を介さずに、試験箱10の開口縁部12に直接取り付ける構成としてもよい。また、パッキン40は、試験箱10の開口縁部12の側に取り付けてもよい。   The finger 30 may be directly attached to the opening edge 12 of the test box 10 without using the standing plate 31. The packing 40 may be attached to the opening edge 12 side of the test box 10.

[第3実施形態]
図8(a)は扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第3実施形態に係る電波遮蔽構造は、図8(a)に示すように、試験箱10と扉20との当接部分である試験箱10の開口縁部12に形成される挿入片50と、扉20の周縁部22に形成される挿入溝60と、を有し、フィンガー30が扉20の周縁部22の挿入溝60の内周側に取り付けられると共に、パッキン41が挿入溝60の底部に取り付けられ、パッキン42,42が挿入片50の内周側および外周側の開口縁部12にそれぞれ取り付けられている。
[Third Embodiment]
FIG. 8A is a schematic diagram illustrating a state in which the door is opened, and FIG. 8B is a schematic diagram illustrating a state in which the door is closed.
As shown in FIG. 8A, the radio wave shielding structure according to the third embodiment includes an insertion piece 50 formed on the opening edge 12 of the test box 10 that is a contact portion between the test box 10 and the door 20. The finger 30 is attached to the inner peripheral side of the insertion groove 60 of the peripheral edge 22 of the door 20, and the packing 41 is the bottom of the insertion groove 60. The packings 42 and 42 are respectively attached to the opening edge portions 12 on the inner peripheral side and the outer peripheral side of the insertion piece 50.

フィンガー30は、第1,2実施形態に係る電波遮蔽構造で使用されたものと同一であり、扉20の周縁部22の全周に取り付けられている。
パッキン41,42は、第1,2実施形態に係る電波遮蔽構造で使用されたパッキン40と同様に、弾性(クッション性)を有するスポンジ材を導電性ファブリックで被覆したものであるが、そのサイズが異なる。
The finger 30 is the same as that used in the radio wave shielding structure according to the first and second embodiments, and is attached to the entire circumference of the peripheral edge portion 22 of the door 20.
Like the packing 40 used in the radio wave shielding structure according to the first and second embodiments, the packings 41 and 42 are formed by covering a sponge material having elasticity (cushioning property) with a conductive fabric. Is different.

挿入片50は、試験箱10の開口縁部12の全周に形成された金属製(例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等)の立設部分である。この挿入片50は、図8(a)に示すように、試験箱10(筐体110)を構成するパネル111(図2乃至4参照)と一体に形成してもよいし、金属板(断面視L字形状や断面視凸形状等であってもよい)を試験箱10の開口縁部12の全周に溶接等によって固定することで形成してもよい。そして、この挿入片50の両側には、パッキン42,42が試験箱10の開口縁部12の全周に亘って取り付けられている。   The insertion piece 50 is a standing part made of metal (for example, aluminum, aluminum alloy, etc.) formed on the entire circumference of the opening edge 12 of the test box 10. As shown in FIG. 8A, the insertion piece 50 may be formed integrally with a panel 111 (see FIGS. 2 to 4) constituting the test box 10 (housing 110), or a metal plate (cross section). It may be formed by fixing the entire periphery of the opening edge 12 of the test box 10 by welding or the like. And packing 42,42 is attached to the both sides of this insertion piece 50 over the perimeter of the opening edge part 12 of the test box 10. FIG.

挿入溝60は、扉20の周縁部22の全周に形成された凹部であり、扉20を閉じた際に、前記した挿入片50が挿入される。この挿入孔60の底部には、パッキン41が扉20の周縁部22の全周に亘って取り付けられている。   The insertion groove 60 is a recess formed in the entire circumference of the peripheral edge portion 22 of the door 20, and the above-described insertion piece 50 is inserted when the door 20 is closed. A packing 41 is attached to the bottom of the insertion hole 60 over the entire periphery of the peripheral edge 22 of the door 20.

このような構成を備える第3実施形態に係る電波遮蔽構造は、図8(b)に示すように、扉20を閉じると、挿入片50が挿入溝60に挿入されて、電波回折構造を形成するので、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片50や挿入溝60の内部で回折損失を起こす。   In the radio wave shielding structure according to the third embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 8B, when the door 20 is closed, the insertion piece 50 is inserted into the insertion groove 60 to form a radio wave diffraction structure. Therefore, the radio wave that is about to enter from the contact portion between the test box 10 and the door 20 causes diffraction loss inside the insertion piece 50 and the insertion groove 60.

また、扉20を閉じると、パッキン41が挿入片50の先端部に弾性的に当接することで挿入片50と挿入溝60との隙間が確実に閉塞されると共に、パッキン42,42が挿入溝60の両側に弾性的に当接することで試験箱10と扉20との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波がパッキン41,42,42で回折損失を起こす。   Further, when the door 20 is closed, the packing 41 elastically contacts the tip of the insertion piece 50, so that the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is reliably closed, and the packings 42, 42 are inserted into the insertion groove. Since the gap between the test box 10 and the door 20 is reliably closed by elastically abutting on both sides of the 60, radio waves entering from the abutting portion between the test box 10 and the door 20 are packed 41, 42. , 42 causes diffraction loss.

さらに、扉20を閉じると、フィンガー30が試験箱10の開口縁部12に弾性的に当接することで試験箱10と扉20との隙間が確実に閉塞されるので、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー30で回折損失を起こす。   Furthermore, when the door 20 is closed, the finger 30 elastically abuts against the opening edge 12 of the test box 10 so that the gap between the test box 10 and the door 20 is reliably closed. A radio wave that tries to enter from the contact portion with the finger causes diffraction loss at the finger 30.

よって、第3実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー30、パッキン41,42,42、挿入片50および挿入溝60の相互の回折損失作用により、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。   Therefore, the radio wave shielding structure according to the third embodiment is formed from the contact portion between the test box 10 and the door 20 by the mutual diffraction loss effect of the fingers 30, the packings 41, 42, 42, the insertion piece 50 and the insertion groove 60. It is possible to more effectively shield radio waves that are about to enter.

なお、第3実施形態では、挿入片50を試験箱10の開口縁部12に形成し、挿入溝60を扉20の周縁部22に形成した構成としたが、これに限定されるものではない。すなわち、挿入片50を扉20の周縁部22に形成し、挿入溝60を試験箱10の開口縁部12に形成した構成としてもよい。   In the third embodiment, the insertion piece 50 is formed in the opening edge portion 12 of the test box 10 and the insertion groove 60 is formed in the peripheral edge portion 22 of the door 20. However, the present invention is not limited to this. . That is, the insertion piece 50 may be formed on the peripheral edge portion 22 of the door 20 and the insertion groove 60 may be formed on the opening edge portion 12 of the test box 10.

また、第3実施形態では、パッキン(41,42)を、挿入片50の両側と挿入溝60の底部とに取り付けた構成としたが、これに限定されず、例えば、挿入片50の両側にのみ取り付ける構成としてもよいし、挿入溝60の底部にのみ取り付ける構成としてもよい。さらに、フィンガー30は、試験箱10の開口縁部12の側に取り付けてもよい。   In the third embodiment, the packings (41, 42) are attached to both sides of the insertion piece 50 and the bottom of the insertion groove 60. However, the present invention is not limited to this. It is good also as a structure attached only, and it is good also as a structure attached only to the bottom part of the insertion groove | channel 60. Further, the finger 30 may be attached to the opening edge 12 side of the test box 10.

[第4実施形態]
図9(a)は扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第4実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー32,32が、挿入溝60の内部に取り付けられている点、より詳細には、フィンガー32,32が、挿入溝60の内部の対向する側面の全周、それぞれに取り付けられている点が、第3実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。
[Fourth Embodiment]
FIG. 9A is a schematic view showing a state where the door is opened, and FIG. 9B is a schematic view showing a state where the door is closed.
In the radio wave shielding structure according to the fourth embodiment, the fingers 32 and 32 are attached to the inside of the insertion groove 60, and more specifically, the fingers 32 and 32 are provided on the opposing side surfaces inside the insertion groove 60. It differs from the radio wave shielding structure according to the third embodiment in that it is attached to each circumference.

フィンガー32は、取付面の垂直方向に付勢される金属製の円弧状板バネ部材であり、フィンガー30と同様に、電波の遮蔽性を有しているが、フィンガー30とはサイズが異なる。   The finger 32 is a metal arcuate leaf spring member that is urged in the direction perpendicular to the mounting surface. Like the finger 30, the finger 32 has a shielding property against radio waves, but is different in size from the finger 30.

このような構成を備える第4実施形態に係る電波遮蔽構造は、前記した第3実施形態に係る電波遮蔽構造の作用効果に加えて、図9(b)に示すように、扉20を閉じると、フィンガー32,32が挿入片50に両側から挟持するように弾性的に当接する。これにより、挿入片50と挿入溝60との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー32,32で回折損失を起こし、その結果、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波をさらに効果的に遮蔽することができる。   In the radio wave shielding structure according to the fourth embodiment having such a configuration, in addition to the operational effects of the radio wave shielding structure according to the above-described third embodiment, as shown in FIG. The fingers 32 and 32 are elastically contacted with the insertion piece 50 so as to be sandwiched from both sides. As a result, the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is surely closed, so that radio waves attempting to enter from the contact portion between the test box 10 and the door 20 cause diffraction loss at the fingers 32, 32. As a result, it is possible to more effectively shield the radio wave entering from the contact portion between the test box 10 and the door 20.

[第5実施形態]
図10(a)は扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第5実施形態に係る電波遮蔽構造は、挿入溝60の底部にパッキン41を設けていない点と挿入片50の全周にフィンガー33が取り付けられている点が、第3実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。
[Fifth Embodiment]
FIG. 10A is a schematic view showing a state where the door is opened, and FIG. 10B is a schematic view showing a state where the door is closed.
The radio wave shielding structure according to the fifth embodiment is characterized in that the packing 41 is not provided at the bottom of the insertion groove 60 and that the fingers 33 are attached to the entire circumference of the insertion piece 50. Different from structure.

フィンガー33は、略櫛形をなす帯状の金属板の櫛の歯に相当する部分を、断面視略三角形状に折り曲げて形成した板バネ部材であり、取付面の垂直方向に付勢され、電波の遮蔽性を有している。また、フィンガー33には、挿入片50に取り付けるためのクリップ部33aが形成されている。このフィンガー33は、クリップ部33aが挿入片50を挟持することによって挿入片50に取り付けられている。   The finger 33 is a leaf spring member formed by bending a portion corresponding to a comb tooth of a strip-shaped metal plate having a substantially comb shape into a substantially triangular shape in cross-section, and is biased in a direction perpendicular to the mounting surface, Has shielding properties. Further, the finger 33 is formed with a clip portion 33 a for attaching to the insertion piece 50. The finger 33 is attached to the insertion piece 50 by the clip portion 33 a holding the insertion piece 50.

このような構成を備える第5実施形態に係る電波遮蔽構造は、図10(b)に示すように、扉20を閉じると、挿入片50が挿入溝60に挿入されて、電波回折構造を形成するので、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片50や挿入溝60の内部で回折損失を起こす。   In the radio wave shielding structure according to the fifth embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 10B, when the door 20 is closed, the insertion piece 50 is inserted into the insertion groove 60 to form a radio wave diffraction structure. Therefore, the radio wave that is about to enter from the contact portion between the test box 10 and the door 20 causes diffraction loss inside the insertion piece 50 and the insertion groove 60.

また、扉を閉じると、パッキン42,42が挿入溝60の両側に弾性的に当接すると共に、フィンガー30が試験箱10の開口縁部12に弾性的に当接するので、試験箱10と扉20との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波がパッキン42,42およびフィンガー30で回折損失を起こす。   When the door is closed, the packings 42 and 42 elastically contact both sides of the insertion groove 60 and the finger 30 elastically contacts the opening edge 12 of the test box 10. Therefore, the radio wave that is about to enter from the contact portion between the test box 10 and the door 20 causes diffraction loss in the packings 42 and 42 and the fingers 30.

さらに、扉20を閉じると、フィンガー33の先端部33bおよび第2折曲部33dが挿入溝60の内部側面に弾性的に当接すると共に、フィンガー33の第1折曲部33cが挿入溝60の底部に弾性的に当接するので、挿入片50と挿入溝60との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー33で回折損失を起こす。   Further, when the door 20 is closed, the distal end portion 33 b and the second bent portion 33 d of the finger 33 elastically contact the inner side surface of the insertion groove 60, and the first bent portion 33 c of the finger 33 is in contact with the insertion groove 60. Since the bottom portion is elastically contacted, the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is surely closed, so that the radio wave entering the contact portion between the test box 10 and the door 20 is diffracted by the finger 33. Cause loss.

よって、第5実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー30,33、パッキン42,42、挿入片50および挿入溝60の相互の回折損失作用により、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。   Therefore, the radio wave shielding structure according to the fifth embodiment is based on the mutual diffraction loss effect of the fingers 30 and 33, the packings 42 and 42, the insertion piece 50, and the insertion groove 60 from the contact portion between the test box 10 and the door 20. It is possible to more effectively shield radio waves that are about to enter.

以上、電波遮蔽構造の実施形態について説明したが、電波遮蔽構造の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。例えば、前記した第1乃至5実施形態の少なくとも二つを組み合せた構成としてもよい。   The embodiment of the radio wave shielding structure has been described above, but the embodiment of the radio wave shielding structure is not limited to this. About a concrete structure, it can change suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention. For example, it may be configured to combine at least two of the first to fifth embodiments described above.

また、前記した第1,2実施形態では、扉20の周縁部22(または試験箱10の開口縁部12)に1つのパッキン40が取り付けられる構成(図6,7参照)としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、2つのパッキンが二重に配置されるように取り付けられる構成であってもよい(図示せず)。当然、パッキンが三重以上に配置されるように取り付けてもよい。第3乃至5実施形態のパッキン41,42についても同様である。   In the first and second embodiments described above, one packing 40 is attached to the peripheral edge 22 of the door 20 (or the opening edge 12 of the test box 10) (see FIGS. 6 and 7). It is not limited to. For example, a configuration may be adopted in which two packings are attached so as to be doubly arranged with respect to the invasion direction of the radio wave entering from the contact portion between the test box 10 and the door 20 (not shown). ). Of course, you may attach so that packing may be arrange | positioned more than triple. The same applies to the packings 41 and 42 of the third to fifth embodiments.

また、前記した第3乃至5実施形態では、扉20の周縁部22(または試験箱10の開口縁部12)に1つのフィンガー30が取り付けられる構成(図8乃至10参照)としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、2つのフィンガーが二重に配置されるように取り付けられる構成であってもよい(図示せず)。当然、フィンガーが三重以上に配置されるように取り付けてもよい。第1,2実施形態についても同様である。   In the third to fifth embodiments described above, one finger 30 is attached to the peripheral edge 22 of the door 20 (or the opening edge 12 of the test box 10) (see FIGS. 8 to 10). It is not limited to. For example, a configuration may be adopted in which two fingers are double-arranged with respect to the intrusion direction of the radio wave entering from the contact portion between the test box 10 and the door 20 (not shown). ). Of course, you may attach so that a finger may be arrange | positioned more than triple. The same applies to the first and second embodiments.

さらに、前記した第3乃至5実施形態では、挿入片50および挿入溝60をそれぞれ1つずつ形成する構成(図8乃至10参照)としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、二重以上となるように形成する構成としてもよい。   Further, in the third to fifth embodiments, the insertion piece 50 and the insertion groove 60 are formed one by one (see FIGS. 8 to 10). However, the present invention is not limited to this. For example, it is good also as a structure formed so that it may become more than double with respect to the penetration | invasion direction of the electromagnetic wave which tries to penetrate | invade from the contact part of the test box 10 and the door 20. FIG.

最後に、図1乃至4に示す電子機器用試験装置1(図6に示す第1実施形態に係る電波遮蔽構造を備える)の動作を説明しつつ、本発明の一実施形態に係る電子機器試験方法について、適宜図面を参照しながら説明する。   Finally, while explaining the operation of the electronic apparatus test apparatus 1 shown in FIGS. 1 to 4 (including the radio wave shielding structure according to the first embodiment shown in FIG. 6), the electronic apparatus test according to an embodiment of the present invention is performed. The method will be described with reference to the drawings as appropriate.

まず、図1に示すように、扉20を開き、電子機器Pを試験箱10の内部に入れ、取付ユニット170の固定具174に形成された挿通部174a(図3参照)に挿通して、試験箱10の内部に固定する。また、ケーブル180のコネクタ(図示せず)を電子機器Pに接続する。   First, as shown in FIG. 1, the door 20 is opened, the electronic device P is inserted into the test box 10, and inserted through the insertion portion 174 a (see FIG. 3) formed in the fixture 174 of the mounting unit 170. It is fixed inside the test box 10. Further, a connector (not shown) of the cable 180 is connected to the electronic device P.

次に、扉20を閉めると、図6に示すように、フィンガー30が試験箱10の開口縁部12(折り曲げ部13)に弾性的に当接すると共に、パッキン40が試験箱10の開口縁部12に弾性的に当接する。これにより、試験箱10と扉20との隙間がフィンガー30およびパッキン40によって確実に閉塞され、試験箱10と扉20との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー30やパッキン40で回折損失を起こすので、高い電波遮蔽環境を実現できる。   Next, when the door 20 is closed, as shown in FIG. 6, the finger 30 elastically contacts the opening edge 12 (folded portion 13) of the test box 10, and the packing 40 opens the opening edge of the test box 10. 12 is elastically contacted. As a result, the gap between the test box 10 and the door 20 is reliably closed by the fingers 30 and the packing 40, and the radio waves that are about to enter from the contact portion between the test box 10 and the door 20 are diffraction loss by the fingers 30 and the packing 40. As a result, a high radio wave shielding environment can be realized.

そして、例えば、試験開始スイッチ(図示せず)等をONにすることで、電波送受信ユニット(図示せず)からアンテナ160に電気信号が送信され、アンテナ160から電波が放射される。電子機器Pの動作の試験は、アンテナ160から電波を放射しながら、電子機器Pの電波の受信状態を試験ユニット190(図2参照)で検出することで行われる。試験ユニット190では、電子機器Pの電波の受信状態を検出して電子機器Pが正常に動作しているか否かを判定する。   For example, when a test start switch (not shown) or the like is turned on, an electric signal is transmitted from the radio wave transmission / reception unit (not shown) to the antenna 160, and the radio wave is radiated from the antenna 160. The test of the operation of the electronic device P is performed by detecting the reception state of the radio wave of the electronic device P with the test unit 190 (see FIG. 2) while radiating the radio wave from the antenna 160. In the test unit 190, the reception state of the radio wave of the electronic device P is detected to determine whether or not the electronic device P is operating normally.

このとき、前記した電波送受信ユニット(図示せず)によって、アンテナ160から放射される電波の強度や周波数帯域等を変化させて試験を行うこともできる。   At this time, it is also possible to perform a test by changing the intensity or frequency band of the radio wave radiated from the antenna 160 by the radio wave transmission / reception unit (not shown).

正常状態であると判定されたら、扉20を開いてアンテナ160の向きを変えた後に、扉20を閉めて異なる偏波面(水平波および垂直波)について試験を行うこともできる。
また、正常状態であると判定されたら、扉20を開いて保持固定治具172の位置を変えて固定板171に固定し、アンテナ160との距離を変えて、電子機器Pが電波を正常に受信できるか否かの試験を行うこともできる。
If it is determined that the state is normal, the door 20 is opened and the direction of the antenna 160 is changed, and then the door 20 is closed to test different polarization planes (horizontal wave and vertical wave).
If it is determined that the state is normal, the door 20 is opened, the position of the holding fixture 172 is changed and fixed to the fixing plate 171, the distance from the antenna 160 is changed, and the electronic device P normally transmits radio waves. It is also possible to test whether or not it can be received.

なお、電子機器PのアンテナPa(図3参照)とアンテナ160との距離は、電子機器Pやアンテナ160から放射される電波の波長λ以上となるように設定することが望ましく、2λ以上となるように設定するとさらに望ましい。これにより、遠方電磁界の領域に電子機器PのアンテナPaを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器Pの試験を行うことができるので、電子機器Pの試験を精密に行うことができる。
ここで、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスZに等しくなる領域のことを意味する。アンテナ160から放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。
以上が、電子機器用試験装置1の一連の動作および電子機器試験方法である。
Note that the distance between the antenna Pa (see FIG. 3) of the electronic device P and the antenna 160 is preferably set to be equal to or greater than the wavelength λ of the radio wave radiated from the electronic device P or the antenna 160, and is equal to or greater than 2λ. It is more desirable to set so. As a result, the antenna Pa of the electronic device P can be disposed in the region of the far electromagnetic field, and the electronic device P can be tested at a position where the electric field strength is stable. It can be carried out.
Here, the far field region, the wave impedance means that the equal area on the wave impedance Z 0 of the space. The radio wave radiated from the antenna 160 propagates close to a plane wave in this region.
The above is a series of operations of the electronic apparatus test apparatus 1 and the electronic apparatus test method.

以上のような電子機器用試験装置1によれば、試験箱10と扉20との当接部分に、フィンガー30,32,33、パッキン40,41,42、挿入片50、挿入溝60等からなる多重の電波遮蔽構造を備えるので、試験箱10の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。また、このような電子機器用試験装置1を使用することで、電子機器Pの試験を精密に行うことができる。   According to the test apparatus 1 for electronic equipment as described above, the fingers 30, 32, 33, packings 40, 41, 42, the insertion piece 50, the insertion groove 60, and the like are brought into contact with the test box 10 and the door 20. Therefore, it is possible to effectively shield the radio wave that is about to enter from the outside of the test box 10. Moreover, the test of the electronic device P can be precisely performed by using such an electronic device test apparatus 1.

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であり、例えば、以下のような変更が可能である。   Although one embodiment of the present invention has been described above, the embodiment of the present invention is not limited to this. About a concrete structure, it can change suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention, For example, the following changes are possible.

前記した実施形態では、電子機器Pとして携帯電話を図示して説明したが、本発明の試験対象となる電子機器Pは、携帯電話に限定されるものではない。例えば、携帯電話と同様に電波の授受を行うPDA(Personal Digital Assistance)や無線LAN(Local Area Network)機能を備えるノート型のパーソナルコンピュータ等であってもよい。また、外部電波の影響を受けることが好ましくない精密測定機器や医療機器等であってもよい。さらに、外部に所定値以上の電波を放射することが好ましくない家電機器や医療機器等であってもよい。なお、この場合、取付ユニット170の形状やサイズ等、または、取付ユニット170を備えるか否かについては、試験対象である電子機器に応じて適宜設定されることはいうまでもない。   In the above-described embodiment, a mobile phone has been illustrated and described as the electronic device P. However, the electronic device P to be tested in the present invention is not limited to a mobile phone. For example, it may be a personal computer with a PDA (Personal Digital Assistance) or a wireless LAN (Local Area Network) function for transmitting and receiving radio waves, similar to a mobile phone. Further, it may be a precision measuring instrument or a medical instrument that is not preferably affected by external radio waves. Furthermore, it may be a home appliance or a medical device that is not preferable to radiate radio waves of a predetermined value or more to the outside. In this case, it goes without saying that the shape and size of the mounting unit 170 and whether or not the mounting unit 170 is provided are appropriately set according to the electronic device to be tested.

また、試験箱10は、前記した実施形態に限定されず、例えば、電波暗室のような、試験員がその内部に出入りすることができる大型の部屋(試験室)であってもよい。このような試験室は、試験箱10と同様に金属製の筐体で形成してもよいし、例えば、電波の遮蔽性を有するコンクリート構造としてもよい。   In addition, the test box 10 is not limited to the above-described embodiment, and may be a large room (test room) in which a tester can enter and exit, for example, an anechoic chamber. Such a test chamber may be formed of a metal casing similarly to the test box 10, or may be a concrete structure having radio wave shielding properties, for example.

前記した実施形態では、複数の金属製のパネル111を、骨格となるフレーム(図示せず)に溶接して筐体110を形成しているが、これに限定されず、例えば、複数の金属製のパネルをボルト等によって組み付けて形成する組立・分解可能な構成としてもよい。なお、このような構成の場合、複数の金属製のパネルの隙間に電波の遮蔽性を有する充填材を介在させることが望ましい。これにより、筐体(試験箱)の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。電波の遮蔽性を有する充填材としては、例えば、上下面の少なくとも一方が絶縁層(例えば、紙、接着層を兼ねる粘着テープ等)で絶縁された抵抗損失体(例えば、カーボン抵抗シート、金属薄膜抵抗シート、熱線遮断フィルム等)を有する電磁遮蔽接合用シート体を使用することができる。具体的には、例えば、ルミディオン(登録商標)IR(東洋サービス株式会社)等を使用することができる。   In the above-described embodiment, a plurality of metal panels 111 are welded to a frame (not shown) serving as a skeleton to form the housing 110. However, the present invention is not limited to this. For example, a plurality of metal panels 111 are formed. It is good also as a structure which can be assembled and disassembled and formed by assembling these panels with bolts or the like. In such a configuration, it is desirable to interpose a filler having radio wave shielding properties in the gaps between the plurality of metal panels. Thereby, the radio wave shielding property of the housing (test box) can be maintained well. As a filler having radio wave shielding properties, for example, a resistive loss body (for example, a carbon resistance sheet, a metal thin film) in which at least one of the upper and lower surfaces is insulated by an insulating layer (for example, paper, an adhesive tape that also serves as an adhesive layer). A sheet body for electromagnetic shielding joining having a resistance sheet, a heat ray shielding film, etc. can be used. Specifically, for example, Lumidion (registered trademark) IR (Toyo Service Co., Ltd.) can be used.

前記した実施形態では、筐体110を金属製とすることで、電波の遮蔽性や剛性等を高める構成としたが、これに限定されず、例えば、電波の遮蔽性を有する板材で筐体を形成してもよい。   In the above-described embodiment, the casing 110 is made of metal so that the radio wave shielding property, rigidity, and the like are increased. However, the present invention is not limited to this. For example, the housing is made of a plate material having radio wave shielding properties. It may be formed.

前記した実施形態では、EMIダクト140の内部にケーブル180(電気信号用のケーブル)を通す構成としたが、これに限定されるものではない。
電気信号用のケーブルは、その内部をノイズが導通するために電磁妨害が発生する。前記した実施形態では、ケーブル180をノイズ吸収体181で被覆することで(図2参照)、ケーブル180からのノイズの輻射と伝搬を抑制する構成となっているが、完全に防止することは現実的には困難である。そこで、試験箱10の電波遮蔽性能をさらに向上させるため、例えば、ノイズが極めて小さい光信号用のケーブル(光ケーブル)をEMIダクト140の内部に通す構成としてもよい。
In the above-described embodiment, the cable 180 (electric signal cable) is passed through the EMI duct 140. However, the present invention is not limited to this.
Electrical noise is generated in the electrical signal cable because noise is conducted through the cable. In the above-described embodiment, the cable 180 is covered with the noise absorber 181 (see FIG. 2) to suppress the radiation and propagation of noise from the cable 180. Is difficult. Therefore, in order to further improve the radio wave shielding performance of the test box 10, for example, an optical signal cable (optical cable) with extremely small noise may be passed through the EMI duct 140.

図11は電子機器用試験装置の他の実施形態を示す水平断面図である。なお、ケーブル182,186は電気信号用のケーブルであり、変換ユニット183,185は電気信号と光信号とを相互に変換可能な公知のユニットである。
図11に示すように、電子機器Pと試験ユニット190とは、ケーブル182、変換ユニット183、光ケーブル184、変換ユニット185およびケーブル186を介して接続されている。
FIG. 11 is a horizontal cross-sectional view showing another embodiment of the electronic apparatus testing apparatus. Note that the cables 182 and 186 are cables for electrical signals, and the conversion units 183 and 185 are known units that can mutually convert electrical signals and optical signals.
As shown in FIG. 11, the electronic device P and the test unit 190 are connected via a cable 182, a conversion unit 183, an optical cable 184, a conversion unit 185, and a cable 186.

具体的には、一端に電子機器Pに着脱自在に接続可能なコネクタ(図示せず)を備えるケーブル182の他端が筐体110(試験箱10)の内部に設置された変換ユニット183に接続され、この変換ユニット183に光ケーブル184の一端が接続されている。光ケーブル184は、その所定長さ(例えば、100mm以上)が、EMIダクト140の内部を通るように配線されている。そして、光ケーブル184の他端が筐体110(試験箱10)の外部に設置された変換ユニット185に接続されると共に、この変換ユニット185にケーブル186の一端が接続され、その他端が試験ユニット190に接続されている。なお、変換ユニット183,185と、光ケーブル184とは、例えば、USBコネクタ、RS232Cコネクタ、LANコネクタ等を介して接続することができる。   Specifically, the other end of the cable 182 having a connector (not shown) that can be detachably connected to the electronic device P at one end is connected to the conversion unit 183 installed inside the casing 110 (test box 10). One end of the optical cable 184 is connected to the conversion unit 183. The optical cable 184 is wired so that a predetermined length (for example, 100 mm or more) passes through the interior of the EMI duct 140. The other end of the optical cable 184 is connected to a conversion unit 185 installed outside the casing 110 (test box 10), one end of the cable 186 is connected to the conversion unit 185, and the other end is connected to the test unit 190. It is connected to the. The conversion units 183 and 185 and the optical cable 184 can be connected via, for example, a USB connector, an RS232C connector, a LAN connector, or the like.

ここで、変換ユニット183,185が、例えば、内部電源を備えない機器である場合は、別途、外部電源(例えば、電源コンセント等)から電力を供給する必要がある。このとき、筐体110の外部に設置される変換ユニット185に対しては、例えば、外部電源に接続された電源ケーブルを直接接続して電力を供給することができる(図示せず)。しかしながら、このような電源ケーブルはその内部をノイズが導通するため、筐体110の内部に電源ケーブルを直接導通して、変換ユニット183に接続すると電磁妨害が発生する。   Here, when the conversion units 183 and 185 are devices that do not include an internal power source, for example, it is necessary to supply power from an external power source (for example, a power outlet or the like) separately. At this time, for example, power can be supplied to the conversion unit 185 installed outside the housing 110 by directly connecting a power cable connected to an external power source (not shown). However, since noise is conducted inside such a power cable, electromagnetic interference occurs when the power cable is directly conducted inside the housing 110 and connected to the conversion unit 183.

そこで、図11に示すように、変換ユニット183に対しては、筐体110の側壁に貫設したローパスフィルタ187を介して電力を供給することが望ましい。具体的には、筐体110の外部においては、ローパスフィルタ187に接続された電源ケーブル188を外部電源(図示せず)に接続すると共に、筐体110の内部においては、変換ユニット183に接続された電源ケーブル189をローパスフィルタ187に接続することで、変換ユニット183に対して電力を供給する。   Therefore, as shown in FIG. 11, it is desirable to supply power to the conversion unit 183 via a low-pass filter 187 penetrating the side wall of the housing 110. Specifically, a power cable 188 connected to the low-pass filter 187 is connected to an external power source (not shown) outside the housing 110 and is connected to a conversion unit 183 inside the housing 110. The power cable 189 is connected to the low-pass filter 187 to supply power to the conversion unit 183.

ローパスフィルタ187は、特定の周波数以外の信号を遮断するフィルタのうち低域周波数のみを通過させるフィルタである。このようなローパスフィルタ187は、例えば、外部電源が電源コンセントである場合、50Hzまたは60Hzの周波数域を通過させると共に、試験対象となる電子機器Pが使用する周波数帯の周波数域を遮断するものであることが望ましい。例えば、電子機器Pが携帯電話である場合は、0.8〜2.4GHzの周波数域を遮断するものであることが望ましい。なお、変換ユニット183に電力を供給する外部電源は、電源コンセントに限定されず、例えば、筐体110の内部に設置されるバッテリ等であってもよい。   The low-pass filter 187 is a filter that allows only a low-frequency to pass among filters that block signals other than a specific frequency. For example, when the external power source is a power outlet, such a low-pass filter 187 allows the frequency band of 50 Hz or 60 Hz to pass and blocks the frequency band of the frequency band used by the electronic device P to be tested. It is desirable to be. For example, when the electronic device P is a mobile phone, it is desirable to block the frequency range of 0.8 to 2.4 GHz. Note that the external power source that supplies power to the conversion unit 183 is not limited to a power outlet, and may be, for example, a battery installed in the housing 110.

以上のように、光ケーブル184の所定長さ(例えば、100mm以上)が、EMIダクト140の内部を通るように、光ケーブル184を配線することによって、電磁妨害を良好に防止することができる。これにより、試験箱10(電子機器用試験装置1)の電波遮蔽性能をさらに向上させることができるので、電子機器Pの試験をより精密に行うことができる。なお、EMIダクト140の内部を通って、筐体110の内部に導通されるケーブルが、全て光ケーブルである場合は、EMIダクト140を備えない構成としてもよい。   As described above, electromagnetic interference can be satisfactorily prevented by wiring the optical cable 184 so that a predetermined length (for example, 100 mm or more) of the optical cable 184 passes through the inside of the EMI duct 140. Thereby, since the radio wave shielding performance of the test box 10 (electronic device testing apparatus 1) can be further improved, the electronic device P can be tested more precisely. In addition, when all the cables that pass through the inside of the EMI duct 140 and are conducted to the inside of the housing 110 are optical cables, the EMI duct 140 may not be provided.

電子機器Pおよび試験ユニット190が、共に光信号を直接送受信することができる機器である場合には、ケーブル182,186および変換ユニット183,185を設けずに、一端に電子機器Pに着脱自在に接続可能なコネクタ(図示せず)を備えた光ケーブル184によって、電子機器Pと試験ユニット190とを直接接続する構成としてもよい(図示せず)。   When both the electronic device P and the test unit 190 are devices that can directly transmit and receive optical signals, the cables 182 and 186 and the conversion units 183 and 185 are not provided, and the electronic device P can be detachably attached to one end. It is good also as a structure (not shown) which directly connects the electronic device P and the test unit 190 with the optical cable 184 provided with the connector (not shown) which can be connected.

前記した実施形態では、試験箱10(筐体110)の背面に給排気用のハニカムフィルタ150(またはメッシュフィルタ155)を備える構成としたが、給排気用のフィルタは、これらに限定されるものではない。例えば、試験箱(筐体)の背面に、所定波長よりも長い電波を伝搬させない導波管として機能するように内径および長さ(パネル厚)を設定(設計)した複数の微細な貫通孔を形成した構成としてもよい。また、このような複数の微細な貫通孔を備えるプレートを、試験箱(筐体)の背面に形成される貫通孔(図4参照)に取付枠および絶縁抵抗性を有するガスケットを介して内側から固定する構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the configuration is such that the air supply / exhaust honeycomb filter 150 (or mesh filter 155) is provided on the back surface of the test box 10 (housing 110), but the air supply / exhaust filter is not limited thereto. is not. For example, on the back of the test box (housing), a plurality of fine through-holes that are set (designed) with an inner diameter and length (panel thickness) to function as a waveguide that does not propagate radio waves longer than a predetermined wavelength. It is good also as the formed structure. Further, such a plate having a plurality of fine through-holes is inserted into a through-hole (see FIG. 4) formed on the back surface of the test box (housing) from the inside through a mounting frame and a gasket having insulation resistance. It is good also as a structure fixed.

前記した実施形態では、試験箱10(筐体110)の背面に一つの給排気用のフィルタ(ハニカムフィルタ150またはメッシュフィルタ155)を備える構成としたが、これに限定されず、例えば、吸気用と排気用の少なくとも二つのフィルタを備える構成としてもよい。この場合、全て同種のフィルタを使用してもよいし、異種のフィルタを組み合せて使用してもよい。また、排気用のフィルタまたは試験箱(筐体)の背面に形成される排気用の貫通孔に、排気ファン(図示せず)を取り付けてもよい。なお、電子機器用試験装置の電波遮蔽性能をさらに向上させたい場合には、給排気用のフィルタを備えなくてもよい。   In the above-described embodiment, a single air supply / exhaust filter (honeycomb filter 150 or mesh filter 155) is provided on the back surface of the test box 10 (housing 110). However, the present invention is not limited to this. And at least two filters for exhaust. In this case, all of the same type of filters may be used, or different types of filters may be used in combination. Further, an exhaust fan (not shown) may be attached to an exhaust through hole formed in the back surface of the exhaust filter or the test box (housing). In addition, when it is desired to further improve the radio wave shielding performance of the electronic apparatus test apparatus, the air supply / exhaust filter may not be provided.

前記した実施形態では、アンテナ160の回転調整は、コネクタ161を緩めてアンテナ用導波管162を回動させ、アンテナ160の向きを変えた後、コネクタ161を締めてアンテナ用導波管162(アンテナ160)を再び固定するという手動で行う構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、公知の動力機構や制御機構等を組み合せて、機械的に行う構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the rotation adjustment of the antenna 160 is performed by loosening the connector 161 and rotating the antenna waveguide 162 to change the direction of the antenna 160, and then tightening the connector 161 to tighten the antenna waveguide 162 ( Although the configuration is such that the antenna 160) is manually fixed again, the present invention is not limited to this. For example, it may be configured to perform mechanically by combining known power mechanisms and control mechanisms.

前記した実施形態では、固定具174が取付板173に着脱自在に取り付けられる構成としたが、これに限定されず、固定具が取付板に回動自在に取り付けられる構成としてもよい。この場合、固定具の回転調整は機械的に行う構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the fixing tool 174 is detachably attached to the mounting plate 173. However, the present invention is not limited to this, and the fixing tool may be rotatably attached to the mounting plate. In this case, the rotation adjustment of the fixture may be performed mechanically.

前記した実施形態では、保持固定治具172が固定板171に形成された複数のボルト孔171aとボルトBとによって段階的に移動可能な構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、保持固定治具が固定板に設けたレールに沿って無段階で移動可能な構成としてもよい。これによれば、アンテナと保持固定治具(電子機器)との距離を簡単に調整することができる。   In the above-described embodiment, the holding and fixing jig 172 can be moved stepwise by the plurality of bolt holes 171a and the bolts B formed in the fixing plate 171, but the present invention is not limited to this. For example, the holding and fixing jig may be configured to be able to move steplessly along a rail provided on the fixing plate. According to this, the distance between the antenna and the holding fixture (electronic device) can be easily adjusted.

前記した実施形態では、図1,2,4に示すように、扉20に窓210が設けられている構成としたが、これに限定されず、試験箱に窓を設ける構成としてもよい。また、扉や窓はそれぞれ複数設けてもよい。なお、電子機器用試験装置の電波遮蔽性能をさらに向上させたい場合には、窓を設けなくてもよい。   In the above-described embodiment, as shown in FIGS. 1, 2, and 4, the door 210 is provided with the window 210. However, the present invention is not limited thereto, and the test box may be provided with a window. A plurality of doors and windows may be provided. Note that the window need not be provided when it is desired to further improve the radio wave shielding performance of the electronic apparatus test apparatus.

前記した実施形態では、パッキン40,41,42として、スポンジ材を導電性ファブリックで被覆したものを例示したが、本発明で使用可能なパッキンはこれに限定されるものではない。例えば、導電性微粒子(金属微粒子、カーボンブラック等)を混合したゴム(シリコンゴム、クロロプレンゴム等)(いわゆる導電性ゴム)からなるパッキンを使用してもよい。また、金属メッシュでガスケットを被覆したもの(例えば、ソフト・シールド(太陽金網株式会社))を使用してもよいし、金属メッシュ束線を使用してもよい。   In the above-described embodiment, as the packings 40, 41, and 42, those in which a sponge material is coated with a conductive fabric are exemplified, but the packing usable in the present invention is not limited to this. For example, a packing made of rubber (silicon rubber, chloroprene rubber, etc.) (so-called conductive rubber) mixed with conductive fine particles (metal fine particles, carbon black, etc.) may be used. Moreover, you may use what coat | covered the gasket with the metal mesh (for example, soft shield (Taiyo Wire Net Co., Ltd.)), and may use a metal mesh bundle wire.

前記した実施形態では、アンテナ160から電子機器Pに電波を放射して、電子機器Pが正常に電波を受信できるか否かを試験ユニット190で判定する電子機器試験方法について説明したが、電子機器試験方法はこれに限定されるものではない。例えば、試験ユニット190から電子機器Pに各種の指示を送信して電子機器P(アンテナPa。図3参照)からアンテナ160に電波を送信させ、アンテナ160が受信した電波を電波送受信ユニット(図示せず)で測定して電子機器Pが正常に動作しているか否かを判定してもよい。   In the above-described embodiment, the electronic device test method has been described in which the test unit 190 determines whether or not the electronic device P can normally receive radio waves by radiating radio waves from the antenna 160. The test method is not limited to this. For example, various instructions are transmitted from the test unit 190 to the electronic device P to cause the electronic device P (antenna Pa. See FIG. 3) to transmit radio waves to the antenna 160, and the radio waves received by the antenna 160 are transmitted to a radio wave transmission / reception unit (not shown). The electronic device P may determine whether or not the electronic device P is operating normally.

本発明に係る電子機器用試験装置の一実施形態を示す全体斜視図である。1 is an overall perspective view showing an embodiment of a test apparatus for electronic equipment according to the present invention. 図1に示す電子機器用試験装置のII−II断面図である。It is II-II sectional drawing of the testing apparatus for electronic devices shown in FIG. 図1に示す電子機器用試験装置のIII−III断面図である。It is III-III sectional drawing of the testing apparatus for electronic devices shown in FIG. 図1に示す電子機器用試験装置のIV−IV断面図である。It is IV-IV sectional drawing of the testing apparatus for electronic devices shown in FIG. (a)はハニカムフィルタを示す斜視図であり、(b)はメッシュフィルタを示す斜視図である。(A) is a perspective view which shows a honey-comb filter, (b) is a perspective view which shows a mesh filter. (a)は第1実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。(A) is the schematic which shows the state which opened the door of the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 1st Embodiment, (b) is the schematic which shows the state which closed the door. (a)は第2実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。(A) is the schematic which shows the state which opened the door of the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 2nd Embodiment, (b) is the schematic which shows the state which closed the door. (a)は第3実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。(A) is the schematic which shows the state which opened the door of the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 3rd Embodiment, (b) is the schematic which shows the state which closed the door. (a)は第4実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。(A) is the schematic which shows the state which opened the door of the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 4th Embodiment, (b) is the schematic which shows the state which closed the door. (a)は第5実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、(b)は扉を閉じた状態を示す概略図である。(A) is the schematic which shows the state which opened the door of the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 5th Embodiment, (b) is the schematic which shows the state which closed the door. 本発明に係る電子機器用試験装置の他の実施形態を示す水平断面図である。It is a horizontal sectional view showing other embodiments of a testing device for electronic equipment concerning the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 電子機器用試験装置
10 試験箱
11 開口部
12 開口縁部
20 扉
22 周縁部
30,32,33 フィンガー
31 立設板
40,41,42 パッキン
50 挿入片
60 挿入溝
140 EMIダクト
180 ケーブル
184 光ケーブル
H ヒンジ
P 電子機器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test apparatus for electronic devices 10 Test box 11 Opening part 12 Opening edge part 20 Door 22 Peripheral part 30,32,33 Finger 31 Standing board 40,41,42 Packing 50 Insertion piece 60 Insertion groove 140 EMI duct 180 Cable 184 Optical cable H Hinge P Electronic equipment

Claims (9)

電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部または前記扉の周縁部に取り付けられる金属製のフィンガーと、
前記扉の周縁部または前記試験箱の開口縁部に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキンと、をさらに備えることを特徴とする電子機器用試験装置。
A test box having at least one opening that communicates the outside with the inside of the electronic device;
A door attached to the test box via a hinge and opening and closing the opening;
A finger made of metal attached to an opening edge of the test box or a peripheral edge of the door, which is a contact portion between the test box and the door;
A test apparatus for electronic equipment, further comprising a packing having radio wave shielding properties attached to a peripheral edge of the door or an opening edge of the test box.
前記フィンガーは、前記試験箱の開口縁部または前記扉の周縁部に設けられる立設板の側面に取り付けられることを特徴とする請求項1に記載の電子機器用試験装置。   The electronic device testing apparatus according to claim 1, wherein the finger is attached to a side surface of an upright plate provided at an opening edge of the test box or a peripheral edge of the door. 前記パッキンは、前記扉を閉じた際に前記フィンガーよりも外周側に位置することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子機器用試験装置。   3. The electronic apparatus testing device according to claim 1, wherein the packing is positioned on an outer peripheral side of the finger when the door is closed. 4. 電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部および前記扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、
他方に形成され、前記扉を閉じた際に前記挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、
前記フィンガーが前記挿入片または前記挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが前記挿入溝の底部に取り付けられることを特徴とする請求項1に記載の電子機器用試験装置。
A test box having at least one opening that communicates the outside with the inside of the electronic device;
A door attached to the test box via a hinge and opening and closing the opening;
An insertion piece formed on one of an opening edge of the test box and a peripheral edge of the door, which is a contact portion between the test box and the door;
An insertion groove formed on the other side into which the insertion piece is inserted when the door is closed;
2. The electronic device testing apparatus according to claim 1, wherein the finger is attached to an inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove, and the packing is attached to a bottom portion of the insertion groove.
電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部および前記扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、
他方に形成され、前記扉を閉じた際に前記挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、
前記フィンガーが前記挿入片または前記挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが前記挿入片の両側に取り付けられることを特徴とする請求項1に記載の電子機器用試験装置。
A test box having at least one opening that communicates the outside with the inside of the electronic device;
A door attached to the test box via a hinge and opening and closing the opening;
An insertion piece formed on one of an opening edge of the test box and a peripheral edge of the door, which is a contact portion between the test box and the door;
An insertion groove formed on the other side into which the insertion piece is inserted when the door is closed;
2. The electronic apparatus testing apparatus according to claim 1, wherein the finger is attached to an inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove, and the packing is attached to both sides of the insertion piece.
前記挿入溝の内部に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の電子機器用試験装置。   6. The electronic apparatus testing apparatus according to claim 4, wherein a metal finger is attached to the insertion groove. 前記挿入片に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の電子機器用試験装置。   6. The electronic apparatus testing apparatus according to claim 4, wherein a metal finger is attached to the insertion piece. 前記試験箱は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の電子機器用試験装置。   8. The electronic device according to claim 1, wherein the test box includes a duct that prevents electromagnetic interference and that conducts a cable that can be connected to the electronic device to the inside of the test box. 9. Testing equipment. 前記ケーブルは、光信号を伝送する光ケーブルであることを特徴とする請求項8に記載の電子機器用試験装置。   9. The electronic device test apparatus according to claim 8, wherein the cable is an optical cable that transmits an optical signal.
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