KR101082733B1 - Electronic apparatus test box - Google Patents

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가쯔야 우찌다
가쯔시 야마모또
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니폰게이긴조쿠가부시키가이샤
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Abstract

본 발명은 시험 상자 본체(시험실)의 전파 차폐 성능을 향상시킨 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 하고, 또한 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 한다. 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12) 또는 도어(20)의 주연부(22)에 장착되는 금속제의 핑거(30, 32, 33)와, 도어(20)의 주연부(22) 또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40, 41, 42)을 구비하고, 또한 시험 상자 본체(510)의 내주면에 장착된 전파 흡수체(530)와, 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층(540)을 구비한다.

Figure R1020097005587

시험 상자 본체, 핑거, 패킹, 전파 흡수체, 절연층

This invention makes it a subject to provide the test box for electronic devices which can perform the test of the electronic device which improved the radio wave shielding performance of the test box main body (test room) precisely, and also formed the ITO film | membrane in the glass plate in the film thickness. Even if a case or the ITO film | membrane is formed in both surfaces of a glass plate, it is a subject to provide the test box for electronic devices with high visual confirmation which can visually confirm the electronic device inside a test box main body visually. Metal fingers 30, 32, 33 mounted on the opening edge 12 of the test box body 10 or the periphery 22 of the door 20, which is the contact portion of the test box body 10 and the door 20. And packings 40, 41 and 42 having shielding properties of radio waves mounted on the periphery 22 of the door 20 or the opening edge 12 of the test box body 10, and further comprising a test box body. A radio wave absorber 530 attached to the inner circumferential surface of 510 and a bright insulating layer 540 fixed to the surface thereof are provided.

Figure R1020097005587

Test box body, finger, packing, electromagnetic wave absorber, insulation layer

Description

전자 기기용 시험 상자 {ELECTRONIC APPARATUS TEST BOX}Test box for electronic device {ELECTRONIC APPARATUS TEST BOX}

본 발명은 휴대 전화 등의 전자 기기에 대한 시험을 행하기 위한 전자 기기용 시험 상자에 관한 것이다.The present invention relates to a test box for an electronic device for testing an electronic device such as a mobile phone.

일반적으로, 휴대 전화 등의 전자 기기는, 제조 후나 수리 후에 정상으로 동작ㆍ기능하는지 여부에 대해, 무선 전파에 의한 무선 접속 시험(이하, 시험이라 함)을 행하는 경우가 있다. 종래, 이와 같은 시험은, 정확한 수신 능력의 시험을 행하기 위해, 외래 전파가 차단된 전파 무향실(전파 암실)이라 칭해지는 대형의 특수한 방이나, 실드 박스(전파 차폐 상자)라 칭해지는 상자의 내부에서 행해지고 있었다.In general, an electronic device such as a cellular phone may perform a radio connection test (hereinafter referred to as a test) by radio waves as to whether or not it normally operates and functions after manufacture or after repair. Conventionally, such a test is performed in a large special room called a radio wave anechoic chamber (radio dark room) in which foreign radio waves are cut off, or a box called a shield box (radio shielding box) in order to perform a test of accurate reception capability. It was done in.

예를 들어, 하기의 문헌 1에는, 전파를 반사하는 알루미늄제의 내부 하우징을 갖는 외부 하우징과, 휴대 전화를 적재하는 트레이가 고정되고, 하우징에 형성된 개구부를 폐색하는 전방면 패널을 구비하고, 전방면 패널의 외주에 설치된 U자 깊은 홈과, 내부 하우징의 개구부에 설치되고, U자 깊은 홈에 끼워 맞추어 전파 미로를 형성하는 구획판과, 구획판의 외주에 설치된 핑거ㆍ스프링과, 구획판의 내주에 고정된 L자 앵글 및 전방면 패널의 U자 깊은 홈의 바닥부에 각각 설치된 EMI 가 스킷을 갖는 실드 박스가 개시되어 있다.For example, Document 1 below includes an outer housing having an inner housing made of aluminum that reflects radio waves, and a front panel on which a tray for mounting a mobile phone is fixed and which closes an opening formed in the housing. U-deep grooves provided on the outer circumference of the panel, partition plates provided in the openings of the inner housing to fit the U-deep grooves to form a radio wave maze, finger springs provided on the outer circumference of the partition plate, and A shield box is disclosed having EMI gaskets respectively installed at an inner circumferential L-angle and a bottom portion of a U-shaped deep groove of the front panel.

또한, 예를 들어 하기의 문헌 2에는, 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 글래스의 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide: 산화인듐주석)막을 형성한 창을 갖는 개폐 가능한 도어(힌지식)와, 시험 상자 본체의 상면에 설치된 케이블 배선용 도파관을 주로 구비한 전자 기기용 시험 상자가 개시되어 있다.For example, Document 2 below discloses an open / close door (hinge type) having a test box body having an opening, a window having an indium tin oxide (ITO) film formed on one surface of the glass, and a test. Disclosed is a test box for an electronic device mainly provided with a waveguide for cable wiring provided on an upper surface of a box body.

또한, 이 전자 기기용 시험 상자는, 금속제의 하우징의 내측에 전파 흡수 구조가 설치된 시험 상자 본체와, 시험 상자 본체의 정면측에 고정된 2개의 손 삽입용 도파관과, 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide : 산화인듐주석)막을 형성한 글래스판이 설치된 창을 주로 구비하고 있다. 이와 같은 전자 기기용 시험 상자는, 시험원이 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 육안으로 확인하면서, 손으로 직접 조작하여 시험을 행할 수 있다는 이점을 갖고 있다.The test box for electronic equipment includes a test box body provided with a radio wave absorption structure inside a metal housing, two hand insertion waveguides fixed to the front side of the test box body, and an ITO (Indium Tin) on one side. Oxide: A window provided with a glass plate on which an indium tin oxide film is formed is mainly provided. Such a test box for electronic devices has the advantage that the tester can directly operate by hand while performing visual confirmation of the electronic device inside the test box body.

[특허 문헌 1] 일본공개특허 제2005-252015호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-252015

[특허 문헌 2] 일본공개특허 제2006-153841호 공보[Patent Document 2] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-153841

그런데, 최근 전자 기기의 고성능화, 고감도화 등에 수반하여, 전파의 차폐성이 우수하고, 외래 전파를 확실하게 차폐할 수 있어, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전파 차폐 성능이 우수한 전자 기기용 시험 상자의 필요성이 점점 높아지고 있다.By the way, with the recent high performance of electronic equipment, high sensitivity, etc., it is excellent in the shielding of an electric wave, and it can shield foreign radio waves reliably, and the test for the electronic device excellent in the radio wave shielding performance which can perform the test of an electronic device precisely. The need for boxes is increasing.

상기한 문헌 1에 기재된 실드 박스는, 휴대 전화를 트레이에 적재하고, 전방면 패널을 슬라이드시켜 폐쇄했을 때에, 핑거ㆍ스프링이 U자 깊은 홈의 측면과, 구획판의 내주에 설치된 EMI 가스킷이 전방면 패널과, U자 깊은 홈의 바닥부에 설치된 EMI 가스킷이 구획판의 선단부와 각각 접촉함으로써, 전방면 패널과 구획판의 간극을 통과하는 전파를 3중의 차폐 구조로 차단할 수 있다는 것이다.In the shield box described in Document 1, when the mobile phone is loaded into the tray and the front panel is slid and closed, the EMI gasket provided at the side of the groove where the finger spring is deep and the inner circumference of the partition plate is transferred. The front panel and the EMI gasket provided at the bottom of the U-shaped groove are in contact with the front end of the partition plate, so that radio waves passing through the gap between the front panel and the partition plate can be blocked by a triple shielding structure.

그러나, 상기한 문헌 2에 기재된 바와 같은 힌지식의 도어를 갖는 전자 기기용 시험 상자에 있어서는, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분에 EMI 가스킷이나 도전 고무 패킹 등을 구비하는 전파 차폐 구조를 갖는 것밖에 없어, 최근 필요하게 되는 전파 차폐 성능에 충분히 부응할 수 없었다. 또한, 특허 문헌 1에 기재된 전파 차폐 구조(도어 구조)를, 전파 암실과 같은 대형의 방(시험실)의 도어에 적용하는 것은 현실적이지 않다.However, in a test box for an electronic device having a hinged door as described in the above-mentioned document 2, the test box main body has only a radio wave shielding structure including an EMI gasket, a conductive rubber packing, or the like at the contact portion between the test box body and the door. There was no radio wave shielding performance required recently. In addition, it is not practical to apply the radio wave shielding structure (door structure) described in patent document 1 to the door of a large room (test room) like a radio wave dark room.

또한, 문헌 2에 기재된 바와 같은 전자 기기용 시험 상자(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 높이기 위해, 창에 설치된 글래스판에 전파의 차폐성(반사성)을 갖는 ITO막을 막 두께로 형성할 필요성이나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성할 필요성이 발생하고 있다.Moreover, in order to improve the shielding of the radio wave of the test box (test box main body) for electronic devices as described in Document 2, it is necessary to form the ITO film which has the shielding property (reflectivity) of the radio wave in the film thickness in the glass plate installed in the window, There is a need to form ITO films on both surfaces of a glass plate.

여기서, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 전파의 차폐성(반사성)이 높아지므로, 시험 상자 본체의 전파의 차폐성을 높이는 것이 가능해진다. 그러나, 이와 같은 글래스판은, 가시광에 대한 투과성이 저하되므로, 시험 상자 본체의 내부가 어두워져, 창 본래의 역할인 육안으로 확인성이 저하되어, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기가 육안으로 확인하기 어려워진다는 문제가 있었다.Here, by forming an ITO film in a glass plate with a film thickness, or forming an ITO film in both surfaces of a glass plate, the shielding (reflectivity) of the radio wave of a glass plate becomes high, and it becomes possible to improve the shielding of the radio wave of a test box main body. However, since such a glass plate has a low permeability to visible light, the inside of the test box body is darkened, and the visibility is degraded by the naked eye, which is the original role of the window, and the electronic equipment inside the test box body is visually confirmed. There was a problem that became difficult to do.

따라서, 본 발명은 이와 같은 문제를 해결하기 위해, 시험 상자 본체(시험실)의 전파 차폐 성능을 향상시킨 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 하고, 또한 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 한다.Therefore, an object of this invention is to provide the test box for electronic devices which can perform the test of the electronic device which improved the radio wave shielding performance of the test box main body (test room) precisely, in order to solve such a problem, and also Even when the ITO film is formed on the glass plate with a film thickness, or when the ITO film is formed on both sides of the glass plate, the electronic device having high visual affinity that can visually check the electronic device inside the test box body with good visual observation The task is to provide a test box.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와, 도어의 주연부 또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In order to solve the said subject, the test box for electronic devices which concerns on this invention is a test box body which has an electronic device inside, and has at least 1 opening part which communicates with an exterior and an inside, and hinges to the said test box body. A test box for an electronic device having a door mounted thereon and having a door for opening and closing the opening, wherein the metal finger is mounted on an opening edge portion of the test box body, which is a contact portion of the test box body and the door, or a peripheral part of the door; It is characterized in that it further comprises a packing having a shielding of radio waves mounted on the periphery of the or the opening edge of the test box body.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 금속제의 핑거가 도어의 주연부(또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부)에 접촉하는 동시에, 전파의 차폐성을 갖는 패킹이 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.According to such a test box for electronic equipment, when the door is closed, a metal finger contacts the periphery of the door (or the opening edge of the test box body), and a packing having shielding of radio waves is opened in the test box body. Contact the edge (or the periphery of the door). As a result, the gap between the test box body and the door is closed, so that radio waves to invade from the contact portion between the test box body and the door cause diffraction loss in the finger or packing, and as a result, radio waves to invade from the contact portion. Can be effectively shielded.

여기서, 회절 손실이라 함은, 전파가 금속제의 핑거 등에 의해 반사됨으로써, 전파의 진행 방향측(이 경우, 시험 상자 본체의 내부측)으로 전달 운반하기 어려운 것을 말한다.Here, diffraction loss means that it is difficult to transfer and convey the radio wave toward the propagation direction side of the radio wave (in this case, the inner side of the test box main body) by reflecting the radio wave by a metal finger or the like.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 시험 상자 본체에는, 전파 암실과 같은 대형의 방(시험실)도 포함된다.The test box body of the test box for electronic equipment according to the present invention also includes a large room (test room) such as a radio wave dark room.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 핑거가, 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 도어의 주연부에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되는 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is further characterized in that the finger is attached to a side surface of a mounting plate provided at an opening edge portion of the test box body or a peripheral portion of the door.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 핑거가, 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되므로, 도어 폐쇄시에 도어의 주연부(또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부)에 접촉하여 변형하는 핑거의 복원력이 도어의 개폐 방향에 대해 수직으로 걸리게 된다. 이와 같은 구성에 의해, 핑거의 복원력에 의한 도어의 도어 개방을 방지할 수 있다. 또한, 핑거의 복원력이 도어의 개폐 방향에 대해 수직으로 걸리므로, 도어를 도어 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.According to such a test box for electronic equipment, the finger is mounted on the side of the upright mounting plate provided at the opening edge of the test box body (or the periphery of the door), so that the edge of the door (or the test box body at the time of closing the door). The restoring force of the finger deforming in contact with the opening edge portion thereof is perpendicular to the opening and closing direction of the door. With such a configuration, the door opening of the door due to the restoring force of the finger can be prevented. In addition, since the restoring force of the finger is perpendicular to the opening and closing direction of the door, the door can be fixed in the closed state.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 패킹이, 도어를 폐쇄했을 때에 상기 핑거보다도 외주측에 위치하는 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is further characterized in that the packing is located on the outer circumferential side of the finger when the door is closed.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 패킹이, 도어를 폐쇄했을 때에 핑거보다도 외주측에 위치하므로, 핑거에 의한 차폐 기능과 패킹에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거 또는 패킹, 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the packing is located on the outer circumferential side of the finger when the door is closed, the shielding function by the finger and the shielding function by the packing act synergistically, so that the test box main body and the door contact each other. It is possible to more effectively shield the radio waves to invade from the part. In addition, even if the shielding function of either the finger or the packing or the deterioration is reduced, the deterioration of the radio wave shielding performance of the test box for an electronic device can be prevented by the shielding function of the other.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과, 다른 쪽에 형성되고, 도어를 폐쇄했을 때에 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고, 상기 핑거가 삽입편 또는 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 삽입홈의 바닥부에 장착되는 것을 특징으로 한다.Moreover, in order to solve the said subject, the test box for electronic devices which concerns on this invention is a test box main body which has an electronic device inside and has at least 1 opening part which communicates with an exterior, and the said test box main body A test box for an electronic device, which is mounted via a hinge and has a door that opens and closes an opening, wherein the insertion piece is formed on one side of an opening edge of the test box body, which is a contact portion between the test box body and the door, and a peripheral portion of the door. And an insertion groove which is formed on the other side and has an insertion groove into which the insertion piece is inserted when the door is closed, the finger is mounted on the inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove, and the packing is mounted on the bottom of the insertion groove. It is done.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편이나 삽입홈에서 회절 손실을 일으킨다. 또한, 핑거가 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉함으로써 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되는 동시에, 패킹이 삽입편의 선단부에 접촉함으로써 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으킨다. 이들에 의해, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, when the door is closed, the radio waves to intrude from the contact portion between the test box body and the door cause diffraction loss in the insertion piece or the insertion groove. In addition, the gap between the test box body and the door is closed by the finger contacting the opening edge of the test box body (or the periphery of the door), and the gap between the insertion piece and the insertion groove is blocked by the packing contacting the tip of the insertion piece. As a result, radio waves intended to invade from the contact portion cause diffraction loss in the finger or the packing. These can effectively shield the radio waves to invade from the contact portion.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과, 다른 쪽에 형성되고, 도어를 폐쇄했을 때에 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고, 상기 핑거가 삽입편 또는 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 삽입편의 양측에 장착되는 것을 특징으로 한다.Moreover, in order to solve the said subject, the test box for electronic devices which concerns on this invention is a test box main body which has an electronic device inside and has at least 1 opening part which communicates with an exterior, and the said test box main body A test box for an electronic device, which is mounted via a hinge and has a door that opens and closes an opening, wherein the insertion piece is formed on one side of an opening edge of the test box body, which is a contact portion between the test box body and the door, and a peripheral portion of the door. And an insertion groove formed on the other side, wherein the insertion piece is inserted when the door is closed, the finger is mounted on the insertion piece or the inner peripheral side of the insertion groove, and the packing is mounted on both sides of the insertion piece. .

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편이나 삽입홈에서 회절 손실을 일으킨다. 또한, 핑거가 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉하는 동시에, 패킹이 삽입홈의 양측에 접촉함으로써, 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되기 때문에, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으킨다. 이들에 의해, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, when the door is closed, the radio waves to intrude from the contact portion between the test box body and the door cause diffraction loss in the insertion piece or the insertion groove. In addition, since the finger contacts the opening edge of the test box body (or the periphery of the door), and the packing contacts both sides of the insertion groove, the gap between the test box body and the door is closed, so that the finger is to intrude from the contact portion. Propagation causes diffraction loss in the finger or packing. These can effectively shield the radio waves to invade from the contact portion.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 삽입홈의 내부에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 한다.In addition, the test box for electronic equipment according to the present invention is characterized in that a metal finger is mounted inside the insertion groove.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 삽입홈의 내부에 또한 금속제의 핑거가 장착되므로, 도어를 폐쇄했을 때에, 핑거가 삽입편에 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 당해 핑거에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the metal finger is also attached to the inside of the insertion groove, the finger contacts the insertion piece when the door is closed. As a result, the gap between the insertion piece and the insertion groove is closed, so that radio waves intended to invade from the contact portion of the test box body and the door cause diffraction loss at the finger, and as a result, radio waves intended to invade from the contact portion are observed. It can shield effectively.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 삽입편에 금속제의 핑거가 설치되는 것을 특징으로 한다.Moreover, the test box for electronic devices which concerns on this invention is characterized by the metal finger being provided in the said insertion piece.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 삽입편에 또한 금속제의 핑거가 설치되므로, 도어를 폐쇄했을 때에, 핑거가 삽입홈의 내부에 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 당해 핑거에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 더 효과적으로 차폐할 수 있다.According to such a test box for an electronic device, since a metal finger is also provided in the insertion piece, when a door is closed, a finger contacts the inside of an insertion groove. As a result, the gap between the insertion piece and the insertion groove is closed, so that radio waves to invade from the contact portion of the test box body and the door cause diffraction loss in the finger, and as a result, the radio waves to invade from the contact portion are further increased. It can shield effectively.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 시험 상자 본체가, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하는 것을 특징으로 한다.Moreover, the test box for electronic devices which concerns on this invention is characterized by the said test box main body being provided with the duct which conducts the cable which can be connected to an electronic device inside, while preventing electromagnetic interference.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체가 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하므로, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있는 동시에, 시험 상자 본체의 외부로부터 내부에 케이블을 배선할 수 있다. 또한, 덕트의 도파관으로서의 작용에 의해 케이블의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, the test box main body is provided with a duct for preventing electromagnetic interference and conducting a cable connected to the electronic device therein, whereby the electromagnetic interference can be appropriately prevented and tested. Cables can be wired from the outside of the box body to the inside. In addition, it is possible to shield the radio wave to be intruded from the insertion passage portion of the cable by acting as a waveguide of the duct.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 케이블이, 광신호를 전송하는 광케이블인 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is further characterized in that the cable is an optical cable for transmitting an optical signal.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 케이블을, 광신호를 전송하는 광케이블로 함으로써, 전자기 방해를 양호하게 방지할 수 있다.According to such a test box for electronic equipment, electromagnetic interference can be prevented favorably by making a cable into the optical cable which transmits an optical signal.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 형성되고, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체는, 그 내주면에 장착된 전파 흡수체와, 당해 전파 흡수체의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.Moreover, in order to solve the said subject, the test box for electronic devices which concerns on this invention is formed in the test box body which has an electronic device inside, and has the shielding of the radio wave from the outside, and the said test box body, A test box for an electronic device having a window provided with a glass plate having shielding of radio waves and transmittance to visible light, wherein the test box body includes a radio wave absorber mounted on an inner circumferential surface thereof and a light-colored insulation fixed to the surface of the radio wave absorber. It is characterized by further comprising a layer.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 전파 흡수체의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the inside of the test box body is brightened by a bright insulating layer fixed to the surface of the radio wave absorber, an ITO film is formed on the glass plate with a film thickness, or on both sides of the glass plate. By forming a film, even when the glass plate permeability | transmittance to visible light falls, the electronic device inside the test box main body can be visually confirmed satisfactorily.

또한, 본 발명에 있어서, 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계(Munsell color system, JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색을 말한다.In addition, in this invention, light color means the color whose brightness prescribed | regulated to Munsell color system (JIS Z8721) exists in the range of 8.0-10.0.

또한, 본 발명에 있어서, 절연층이라 함은, 체적 저항값이 106Ω㎝ 이상의 재질로 이루어지는 층을 말한다. 절연층은 그 두께에 따라서, 절연판 또는 절연막이라 불리지만, 절연판 또는 절연막의 두께의 경계(임계값)는 명확하지 않다. 따라서, 본원 발명에 있어서, 절연층은 절연판 및 절연막의 양방을 포함하는 것으로 한다. 절연판의 구체예로서, 예를 들어 수지판, 세라믹스판, 유리판, 두꺼운 종이 등을 들 수 있다. 절연막의 구체예로서, 예를 들어 수지막, 종이 등을 들 수 있다.In addition, in this invention, an insulating layer means the layer which consists of a material whose volume resistance value is 10 6 ohm-cm or more. The insulating layer is called an insulating plate or an insulating film according to its thickness, but the boundary (critical value) of the thickness of the insulating plate or the insulating film is not clear. Therefore, in this invention, an insulating layer shall contain both an insulating plate and an insulating film. As a specific example of an insulating plate, a resin plate, a ceramic plate, a glass plate, a thick paper, etc. are mentioned, for example. As a specific example of an insulating film, a resin film, paper, etc. are mentioned, for example.

또한, 이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체의 내주면에 전파 흡수체를 구비하므로, 시험 중에, 예를 들어 전자 기기의 안테나나 측정용 안테나 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있다. 이것에 의해, 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.In addition, according to such a test box for electronic devices, since a radio wave absorber is provided on the inner circumferential surface of the test box body, it is possible to effectively absorb radio waves emitted from, for example, an antenna of an electronic device, a measuring antenna, or the like during the test. As a result, the resonance phenomenon of radio waves can be prevented, and an electronic device can be tested precisely.

또한, 전파의 공진 현상이라 함은, 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체의 내부에서 전파가 방사되었을 때, 시험 상자 본체의 내부의 벽면에서 전파가 반사를 반복하여 간섭을 일으키는 현상을 말한다.In addition, the resonance phenomenon of radio waves refers to a phenomenon in which radio waves repeatedly reflect and cause interference at the wall surface inside the test box main body when radio waves are radiated inside the test box main body having the shielding property of radio waves.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 밝은 색의 안료를 포함하는 수지로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In addition, the test box for electronic equipment according to the present invention is characterized in that the insulating layer is made of a resin containing a pigment of bright color.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층을 밝은 색의 안료를 포함하는 수지제로 함으로써, 밝은 색을 나타내는 수지뿐만 아니라, 예를 들어 투명 수지 등이라도, 밝은 색의 안료를 포함시킴으로써 사용하는 것이 가능해져, 절연층의 원료로 되는 수지를 폭넓게 선택할 수 있다. 또한, 내구성, 견고성이 우수하기 때문에, 나사 구멍 등을 뚫어 설치하는 것이 가능해지고, 시험 상자 본체 내부에 설치된 커넥터(접속 마개)나 지그 등을 걸림 고정하기 위한 기판으로서 사용할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, by making an insulating layer into the resin containing a bright pigment, what uses not only resin which shows a bright color, but also contains a pigment of bright color even if it is a transparent resin etc. is used, for example. It becomes possible and can select resin used as a raw material of an insulating layer widely. Moreover, since it is excellent in durability and rigidity, it becomes possible to drill and install a screw hole etc., and can use it as a board | substrate for latching | fastening the connector (connection plug), jig, etc. which were provided in the inside of a test box main body.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 발포 수지로 이루어지는 것을 특징으로 한다.Moreover, the test box for electronic devices which concerns on this invention is characterized in that the said insulating layer consists of foamed resin.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 전파 흡수체의 표면에 고정된 발포 수지에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 즉, 발포 수지는, 내부에 기포를 포함하기 때문에, 외부로부터의 가시광이 난반사되고, 무색 투명 수지를 기재(基材)로 하는 경우, 일반적으로 백색으로 된다. 따라서, 육안으로 확인성이 유효하다. 또한, 발포 스티롤 등의 수지판이면, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 발포 수지를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해진다. 또한, 발포 수지는, 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.According to such a test box for electronic devices, even if the transmittance of visible glass of the glass plate is lowered by forming an ITO film on the glass plate with a film thickness or by forming the ITO film on both sides of the glass plate, the surface of the radio wave absorber is fixed. Since the inside of the test box main body is brightened by the foamed resin, the electronic equipment inside the test box main body can be visually confirmed with good visual quality. That is, since foamed resin contains foam | bubble inside, when the visible light from the exterior is diffusely reflected, when a colorless transparent resin is used as a base material, it becomes white generally. Therefore, visual confirmation is effective. Moreover, as long as it is resin plates, such as foamed styrol, the effect of being easy to process and handle can be acquired. In addition, it is possible to reduce the raw material cost by using the foamed resin as the insulating layer. In addition, since the foamed resin is light and easy to cut, can be easily processed and handled, and also has excellent workability, it is possible to lower the manufacturing cost of the test box body.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 이루어지는 것을 특징으로 한다.Moreover, the test box for electronic devices which concerns on this invention is characterized by the said insulating layer consisting of the paper which consists of the dye of bright color, or the paper in which the pigment of bright color was printed.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 청구 범위 제10항에 관한 발명과 같은 작용 효과 외에, 경량이고 또한 절단이 용이한 종이를 사용한 것으로, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 종이를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해지고, 또한 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.According to such a test box for electronic devices, in addition to the effect as in the invention according to claim 10, a lightweight and easy-to-cut paper is used, and the effect of the processing and handling can be obtained. . In addition, by using paper as the insulating layer, it is possible to reduce the raw material cost, and to be lightweight, easy to cut, easy to process and handle, and excellent in workability. The manufacturing cost can also be lowered.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 안료가 백색 안료 혹은 형광 안료인 것을 특징으로 한다.In addition, the test box for electronic equipment according to the present invention is characterized in that the pigment is a white pigment or a fluorescent pigment.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 안료를, 백색 안료 혹은 형광 안료로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부를 적절하게 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the inside of a test box main body can be appropriately brightened by making a pigment into a white pigment or a fluorescent pigment, the electronic device inside the test box main body can be visually confirmed satisfactorily. .

또한, 본 발명에 있어서, 형광 안료라 함은, 자외선을 조사함으로써 전자가 여기되고, 이 전자가 기저(基底) 상태로 복귀될 때에 특정 파장의 가시광을 발하는 안료이다.In the present invention, the fluorescent pigment is a pigment that emits visible light having a specific wavelength when electrons are excited by irradiation with ultraviolet rays and the electrons are returned to the ground state.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 밝은 색의 세라믹스 혹은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In addition, the test box for electronic equipment according to the present invention is characterized in that the insulating layer is made of bright colored ceramics or glass.

여기서, 세라믹스는 석영이나 산화알루미늄, 탄화규소 등 상기한 범위 내에 있는 명도의 것을 사용하는 것이 가능하다. 유리에 대해서는, 그 표면이 광을 확산시키는 간유리와 같은 성질을 갖는 것은, 특히 육안으로 확인성이라는 점에 있어서 이점을 구비한다. 이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 세라믹스 또는 유리를 사용함으로써, 강도ㆍ내구성ㆍ내후성이 우수하고, 제조 단계에 있어서, 명도를 올리기 위한 염료를 사용하지 않는 절연층을 제공하는 것이 가능하다.Here, it is possible to use ceramics having a brightness within the above range, such as quartz, aluminum oxide, silicon carbide. With respect to glass, the surface has properties similar to that of glass, which diffuses light, and is particularly advantageous in view of visual confirmation. According to such a test box for electronic devices, by using ceramics or glass, it is possible to provide an insulating layer which is excellent in strength, durability and weather resistance, and which does not use dye for increasing the brightness at the manufacturing stage.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전파 흡수체가 λ/4형 전파 흡수체인 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is further characterized in that the radio wave absorber is a lambda / 4 type radio wave absorber.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 전파 흡수체를, 구조가 간단하고, 설계가 용이한 λ/4형 전파 흡수체로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파의 파장(λ)에 따라서, 최적인 전파 흡수 능력을 갖는 전파 흡수체를 설계할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파를 보다 효과적으로 흡수할 수 있다. 이것에 의해, 전파의 공진 현상을 효과적으로 방지하여, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.According to such a test box for electronic equipment, the radio wave absorber is a lambda / 4 type radio wave absorber having a simple structure and easy design, so that it is optimal according to the wavelength of the radio wave radiated inside the test box body. Since a radio wave absorber having a phosphorus wave absorption capability can be designed, it is possible to more effectively absorb radio waves radiated from inside the test box body. As a result, the resonance phenomenon of radio waves can be effectively prevented, and an electronic device can be tested precisely.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하는 것을 특징으로 한다.In addition, the test box for electronic equipment according to the present invention is characterized in that the insulating layer also serves as a protective film of the lambda / 4 type electromagnetic wave absorber.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층이 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하므로, λ/4형 전파 흡수체의 보호막의 표면에, 또한 밝은 색의 절연층을 고정할 필요가 없어져, 시험 상자 본체의 구조를 간략화할 수 있는 동시에, 재료 비용이나 제조 비용을 억제할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the insulating layer also serves as a protective film of the lambda / 4 type radio wave absorber, it is not necessary to fix the light insulating layer on the surface of the protective film of the lambda / 4 type radio wave absorber, The structure of the test box body can be simplified, and the material cost and manufacturing cost can be suppressed.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 시험 상자 본체의 내부에 조명을 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.Moreover, the test box for electronic devices which concerns on this invention is equipped with illumination in the inside of a test box main body, It is characterized by the above-mentioned.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체의 내부를 비춤으로써, 시험 상자 본체의 내부를 더 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the inside of a test box main body can be made brighter by illuminating the inside of a test box main body, the electronic device inside the test box main body can be visually confirmed better.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 조명이 LED 램프인 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is also characterized in that the illumination is an LED lamp.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 조명을 LED 램프로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부를 비추어 밝게 할 수 있는 동시에, 점멸시에 노이즈가 거의 발생하지 않으므로, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.According to such a test box for electronic devices, by using the illumination as an LED lamp, the inside of the test box main body can be brightened, and noise is hardly generated at the time of blinking, so that the test of the electronic device can be performed precisely. .

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정되는 것을 특징으로 한다.The test box for electronic equipment according to the present invention is further characterized in that the insulating layer is fixed to the surface of the radio wave absorber with a pin or a screw.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층을 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정하므로, 전파 흡수체의 표면 저항값을 변화시키는 일이 없기 때문에, 전파 흡수체의 성능을 충분히 발휘시킬 수 있다.According to such a test box for electronic devices, since the insulating layer is fixed to the surface of the radio wave absorber with a pin or a screw, the surface resistance value of the radio wave absorber is not changed, so that the performance of the radio wave absorber can be sufficiently exhibited.

또한, 절연층을 전파 흡수체의 표면에 접착제로 고정하면, 전파 흡수체의 표면 저항값이 변화되어 버려, 본래 전파를 투과시켜야 할 전파 흡수체의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나, 흡수할 수 없게 되므로 바람직하지 않다. 그러나, 예를 들어 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하면, 전파 반사를 억제하는 것이 가능하다. 또한, 접착 방법에 대해서도, 예를 들어 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여, 접착 면적을 최소한으로 억제하면, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연막을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다.In addition, when the insulating layer is fixed to the surface of the radio wave absorber with an adhesive, the surface resistance value of the radio wave absorber is changed, and the reflection of radio waves occurs on the surface of the radio wave absorber, which is supposed to transmit radio waves. Not. However, it is possible to suppress radio wave reflection by using, for example, an adhesive excellent in insulating properties such as a thermoplastic adhesive, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive, or the like. Also, for the bonding method, for example, bonding the insulating film with a spot, etc., and devising the bonding area to a minimum, fixing the insulating film to the surface of the electromagnetic wave absorber with almost no damage to the electromagnetic wave absorbing characteristics of the electromagnetic wave absorber. It is possible to.

본 발명에 따르면, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분에 금속제의 핑거나 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 구비하므로, 시험 상자 본체의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 이것에 의해, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전파 차폐 성능이 우수한 전자 기기용 시험 상자를 제공할 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공할 수 있다.According to the present invention, since a packing having a metal finger or radio wave shielding property is provided at the contact portion between the test box body and the door, it is possible to effectively shield the radio waves from entering the outside of the test box body. Thereby, the test box for electronic devices excellent in the electromagnetic wave shielding performance which can test an electronic device precisely can be provided. Further, according to the present invention, even when the ITO film is formed on the glass plate with a film thickness or when the ITO film is formed on both sides of the glass plate, the naked eye can visually check the electronic device inside the test box body with good visual observation. A test box for highly verifiable electronic equipment can be provided.

도 1은 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 전체 사시도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is the whole perspective view which shows one Embodiment of the test box for electronic devices which concerns on this invention.

도 2는 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이다.FIG. 2 is a II-II cross-sectional view of the test box for electronic equipment shown in FIG. 1. FIG.

도 3은 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅲ-Ⅲ 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along line III-III of the test box for electronic devices shown in FIG. 1.

도 4는 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of the test box for electronic devices shown in FIG. 1.

도 5의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이고, 도 5의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.FIG. 5A is a perspective view of a honeycomb filter, and FIG. 5B is a perspective view of a mesh filter.

도 6의 (a)는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 6의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 6A is a schematic diagram showing a state in which the door of the radio wave shield structure according to the first embodiment is opened, and FIG. 6B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

도 7의 (a)는 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 7의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 7A is a schematic diagram showing a state in which the door of the radio wave shielding structure according to the second embodiment is opened, and FIG. 7B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

도 8의 (a)는 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 8의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 8A is a schematic diagram showing a state in which the door of the radio wave shielding structure according to the third embodiment is opened, and FIG. 8B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

도 9의 (a)는 제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 9의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 9A is a schematic view showing a state in which the door of the radio wave shielding structure according to the fourth embodiment is opened, and FIG. 9B is a schematic view showing a state in which the door is closed.

도 10의 (a)는 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 10A is a schematic diagram showing a state in which the door of the radio wave shield structure according to the fifth embodiment is opened, and FIG. 10B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

도 11은 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 다른 실시 형태를 도시한 수평 단면도이다.It is a horizontal sectional view which shows other embodiment of the test box for electronic devices which concerns on this invention.

도 12는 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 일 부 단면 부분을 포함하는 정면도이다.It is a front view containing some cross-sectional part which shows one Embodiment of the test box for electronic devices which concerns on this invention.

도 13은 도 12에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이다.FIG. 13 is a II-II cross-sectional view of the test box for electronic equipment shown in FIG. 12.

도 14는 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 종단면도이다.It is a longitudinal cross-sectional view which shows one Embodiment of the test box for electronic devices which concerns on this invention.

도 15는 도 12에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.FIG. 15 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of the test box for electronic devices shown in FIG. 12.

도 16의 (a) 내지 도 16의 (c)는 글래스판의 구조 예를 나타내는 단면도이다.16 (a) to 16 (c) are cross-sectional views showing structural examples of glass plates.

도 17의 (a)는 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이고, 도 17의 (b)는 수지막이 보호막을 겸하는 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이다.FIG. 17A is a cross-sectional view showing the structure of the lambda / 4 type radio wave absorber, and FIG. 17B is a cross-sectional view showing the structure of the lambda / 4 type radio wave absorber in which the resin film also serves as a protective film.

도 18의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이고, 도 18의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.FIG. 18A is a perspective view of a honeycomb filter, and FIG. 18B is a perspective view of a mesh filter.

[부호의 설명][Description of the code]

1 : 전자 기기용 시험 상자1: test box for electronic devices

10 : 시험 상자 본체10: test box body

11 : 개구부11: opening

12 : 개구 모서리부12: opening corner

20 : 도어20: door

22 : 주연부22: periphery

30, 32, 33 : 핑거30, 32, 33: fingers

31 : 세움 설치판31: erum installation plate

40, 41, 42 : 패킹40, 41, 42: packing

50 : 삽입편50: insertion piece

60 : 삽입홈60: insertion groove

140 : EMI 덕트140: EMI duct

180 : 케이블180: cable

184 : 광케이블184: optical cable

H : 힌지H: hinge

P : 전자 기기P: electronic equipment

501 : 전자 기기용 시험 상자501: Test box for electronic equipment

510 : 시험 상자 본체510: test box body

520 : 창520: window

521 : 글래스판521: glass plate

530 : 전파 흡수체(λ/4형 전파 흡수체)530: radio wave absorber (λ / 4 type radio wave absorber)

533 : 보호막533: shield

540 : 수지막(절연층)540: resin film (insulation layer)

550 : LED 램프(조명)550: LED lamp (lighting)

P : 전자 기기P: electronic equipment

이하, 본 발명의 일 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 1은 전자 기기용 시험 상자를 도시한 전체 사시도이다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, one Embodiment of this invention is described, referring drawings suitably. 1 is an overall perspective view of a test box for an electronic device.

도 1에 도시한 바와 같이, 전자 기기용 시험 상자(1)는, 전자 기기(P)가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 개구부(11)를 갖는 시험 상자 본체(10)와, 당해 시험 상자 본체(10)에 힌지(도시하지 않음)를 개재하여 장착되고, 개구부(11)를 개폐하는 도어(20)를 주로 구비하고, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 도어(20)의 주연부(22)에 설치되는 세움 설치판(31)의 측면에 장착되는 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)을 더 구비하고 있다.As shown in FIG. 1, the test box 1 for an electronic device includes a test box body 10 having an opening 11 communicating with the outside and the inside while the electronic device P is placed therein, The test box main body 10 is provided via a hinge (not shown), mainly provided with a door 20 for opening and closing the opening 11, and a contact portion between the test box main body 10 and the door 20. Packing having shielding property of metal finger 30 attached to the side of the mounting plate 31 installed on the periphery 22 of the in door 20 and radio waves mounted on the periphery 22 of the door 20. 40 is further provided.

이하, 우선, 시험 상자 본체(10) 및 도어(20)의 각 부의 구성에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이고, 도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ 단면도이고, 도 4는 도 1의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.Hereinafter, first, the structure of each part of the test box main body 10 and the door 20 is demonstrated, referring drawings suitably. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II of FIG. 1, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-III of FIG. 1, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 1.

도 2 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)는, 금속제의 하우징(110)과, 하우징(110)의 내면에 설치된 전파 흡수체(120)와, 하우징(110)의 상벽의 내면측에 설치된 LED 램프(130)와, 하우징(110)의 배면측에 설치된 EMI 덕트(140)와, 금속제의 벌집 필터(150)와, 하우징(110)의 측벽의 내면측에 설치된 안테나(160)와, 전자 기기(P)가 고정되는 장착 유닛(170)을 구비하고 있다.2 to 4, the test box body 10 includes a metal housing 110, an electromagnetic wave absorber 120 provided on an inner surface of the housing 110, and an inner surface of an upper wall of the housing 110. LED lamp 130 provided on the side, EMI duct 140 provided on the back side of the housing 110, honeycomb filter 150 made of metal, and antenna 160 provided on the inner surface side of the side wall of the housing 110. And a mounting unit 170 to which the electronic device P is fixed.

하우징(110)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 복수의 금속제의 패널(111)을 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여, 정면측에 개구부(11)를 갖는 대략 직방체의 상자 형상으로 형성되어 있다. 하우징(110)은, 도전성을 갖는 금속제의 패널(111) 및 프레임(도시하지 않음)으로 형성되어 있으므로, 소정의 강성을 갖고, 그 내구성이 높여진 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 패 널(111)과 프레임(도시하지 않음)이, 용접에 의해 접합되어 있으므로, 하우징(110)의 밀폐성, 즉 전파의 차폐성이 높여진다.As shown in FIG. 2, the housing 110 welds a plurality of metal panels 111 to a frame (not shown) serving as a skeleton, and has a substantially rectangular box shape having an opening 11 at the front side. It is formed. Since the housing 110 is formed of a conductive metal panel 111 and a frame (not shown), the housing 110 has a predetermined rigidity, increases its durability, and has a shielding against radio waves from the outside. In addition, since the panel 111 and the frame (not shown) are joined by welding, the sealing property of the housing 110, that is, the shielding of radio waves is improved.

패널(111) 및 프레임(도시하지 않음)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다. 또한, 패널(111)이나 프레임(도시하지 않음)을, 특히 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성한 경우, 원하는 강성을 유지할 수 있는 동시에, 하우징(110)의 경량화를 도모할 수 있다. 또한, 알루미늄이나 알루미늄 합금은 독특한 광택을 가지므로, 하우징(110)은 미관이 우수해진다.The metal forming the panel 111 and the frame (not shown) is not particularly limited in the present invention, and not only a pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but also an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel). Etc.) may be sufficient. In addition, when the panel 111 and the frame (not shown) are formed of aluminum or an aluminum alloy, the desired rigidity can be maintained, and the housing 110 can be reduced in weight. In addition, since aluminum or an aluminum alloy has a unique luster, the housing 110 has an excellent aesthetic appearance.

전파 흡수체(120)는, 전자 기기(P)나 안테나(160)로부터 방사되는 전파를 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 내면에서 반사하지 않고 의사적으로 흡수함으로써, 시험 상자 본체(10)의 내부에서 방사된 전파와 반사된 전파가 공진하는 것을 방지하는 것이고, 도 2에 도시한 바와 같이, 각 패널(111)의 내면을 덮도록 형성되어 있다.The electromagnetic wave absorber 120 pseudo-absorbs radio waves radiated from the electronic device P or the antenna 160 without reflecting them from the inner surface of the housing 110 (test box body 10), thereby providing a test box body ( It is to prevent the radio waves radiated from the inside of the antenna 10 and the reflected radio waves from resonating, and as shown in FIG. 2, the inner surface of each panel 111 is covered.

이와 같은 전파 흡수체(120)의 종류는, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 내부에서 방사되는 전파의 특성에 따라서, 공지된 전파 흡수체를 널리 사용할 수 있다. 예를 들어, 저항성 전파 흡수체, 유전성 전파 흡수체, 자성 전파 흡수체, 그리고 이들을 조합한 전파 흡수체 등의 어느 것이라도 사용할 수 있고, 또한 단층형, 다층형의 어느 것이라도 좋다.The kind of such a radio wave absorber 120 is not specifically limited in this invention, According to the characteristic of the radio wave radiated | emitted inside, a well-known radio wave absorber can be used widely. For example, any of a resistive radio wave absorber, a dielectric radio wave absorber, a magnetic wave absorber, and a radio wave absorber in combination thereof may be used, and any one of a single layer type and a multilayer type may be used.

구체적으로는, 예를 들어 (1) 패널(111)의 측으로부터 차례로, λ/4의 두께를 갖는 스페이서(λ는 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파의 파장), 표면 저항값이 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 대략 동등한 저항막 시트, 수지제의 보호막을 구비하는 λ/4형 전파 흡수체, (2) 패널(111)의 측으로부터 차례로, 저항막 시트(임피던스 1088Ω), 스페이서(38㎜), 저항막 시트(임피던스 280Ω), 스페이서(38㎜), 보호막(알루미늄판 또는 알루미늄박)을 구비하는 2종의 전파(80㎒ 주변 및 2050㎒ 주변)를 흡수 가능한 전파 흡수체, (3) 카본 분말이나 산화티탄 등의 화합물로 형성되는 유전성 전파 흡수 시트, (4) 페라이트나 카르보닐 철 등의 화합물로 형성되는 자성 전파 흡수 시트, (5) 폴리우레탄 등의 수지와 자성체의 복합체로 형성되는 전파 흡수 시트, (6) 자성체와 저항체를 접합한 전파 흡수체[예를 들어, 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤)] 등의 어느 것이라도 사용할 수 있다.Specifically, for example, (1) from the side of the panel 111, a spacer having a thickness of λ / 4 (λ is a wavelength of radio waves radiated inside the test box body), and the surface resistance value of the free space (2) A resistive film sheet (impedance 1088 ohms) and a spacer (38mm) sequentially from the side of the panel 111, (lambda / 4 type | mold electromagnetic wave absorber provided with a protective film made of resin, a protective film made of resin) ), A radio wave absorber capable of absorbing two kinds of radio waves (around 80 MHz and around 2050 MHz) including a resistive sheet (impedance 280 Ω), a spacer (38 mm), and a protective film (aluminum plate or aluminum foil), and (3) carbon. Dielectric wave absorption sheet formed of a compound such as powder or titanium oxide, (4) Magnetic wave absorption sheet formed of a compound such as ferrite or carbonyl iron, (5) Radio wave formed of a composite of resin and magnetic body such as polyurethane Absorption sheet, (6) magnetic material and resistor Any of the bonded radio wave absorbers (for example, Lumidion (registered trademark) (Toyo Service Co., Ltd.)) can be used.

또한, 전파 흡수체(120)의 표면은 평탄한 것(평판형)이 바람직하다. 이것에 따르면, 예를 들어 물결형이나 산형, 사각뿔형 등의 전파 흡수체를 구비하는 경우와 비교하여, 시험 상자 본체(10)의 내부(용적)를 크게 하거나, 시험 상자 본체(10)의 사이즈를 작게 할 수 있다.In addition, the surface of the electromagnetic wave absorber 120 is preferably flat (flat type). According to this, for example, the inside (volume) of the test box main body 10 is increased or the size of the test box main body 10 is increased in comparison with the case where a wave absorber such as a wave shape, a mountain shape, or a square pyramid is provided. It can be made small.

LED(Light Emitting Diode) 램프(130)는, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추기 위한 조명이고, 도 3에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 상벽에 설치되어 있다. 이것에 의해, 예를 들어 전자 기기(P)를 시험하는 동안, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비춤으로써 전자 기기(P)를 육안으로 확인할 수 있다. LED 램프(130)는, 형광등과 달리, 점멸시에 있어서의 노이즈가 거의 발생하지 않으므로, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추는 조명으로서 적절하게 사용할 수 있다.The LED (Light Emitting Diode) lamp 130 is illumination for illuminating the inside of the test box main body 10, and is provided on the upper wall of the housing 110 as shown in FIG. 3. Thereby, for example, while testing the electronic device P, the electronic device P can be visually confirmed by illuminating the inside of the test box main body 10. Unlike the fluorescent lamp, the LED lamp 130 hardly generates noise at the time of blinking, and therefore, the LED lamp 130 can be suitably used as illumination for illuminating the inside of the test box main body 10.

또한, LED 램프(130)의 장착 위치나 개수, 배치 등은 적절하게 설정할 수 있고, 도 3에 도시한 구성에 한정되는 것은 아니다. 또한, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추는 조명은, LED 램프에 한정되지 않고, 예를 들어 할로겐 램프나 백열등 등이라도 좋다.In addition, the mounting position, number, arrangement | positioning, etc. of the LED lamp 130 can be set suitably, It is not limited to the structure shown in FIG. In addition, the illumination which illuminates the inside of the test box main body 10 is not limited to an LED lamp, For example, a halogen lamp, an incandescent lamp, etc. may be sufficient.

EMI(Electro Magnetic Interference : 전자기 방해 또는 전자기 간섭) 덕트(140)는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기(P) 등에 접속되는 케이블(180)을 하우징(110)의 외부로부터 내부에 삽입 통과하는 덕트이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(141)을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정되어 있다.Electromagnetic Interference (EMI) Duct 140 prevents electromagnetic interference and inserts a cable 180 connected to an electronic device P or the like from the outside of the housing 110 to the inside. It is a duct and is fixed to the back surface of the housing 110 via the gasket 141 which has insulation resistance as shown in FIG.

이것에 의해, EMI 덕트(140)를 개재하여, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 내부에 케이블(180)을 배선할 수 있는 동시에, 덕트의 도파관으로서의 작용(소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않음)에 의해 케이블(180)의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있으므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.As a result, the cable 180 can be wired from the outside to the inside of the test box main body 10 via the EMI duct 140, and also acts as a waveguide of the duct (transmitting a radio wave having a wavelength longer than a predetermined wavelength). Radio wave to be intruded from the insertion passage portion of the cable 180 can be shielded, so that the shielding of the radio wave of the test box body 10 can be properly maintained.

또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 케이블(180)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록, 케이블(180)을 배선함으로써, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2, electromagnetic interference is prevented by wiring the cable 180 so that a predetermined length (for example, 100 mm or more) of the cable 180 passes through the inside of the EMI duct 140. It can prevent appropriately.

또한, 케이블(180)에는, 도 2에 도시한 바와 같이, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하는 부분 및 소정의 전후 부분의 외주면에 케이블(180)의 내부를 도통하는 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체(181)가 피복되어 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등의 EMI 테이프가, 케이블(180)에 소정의 길이(예를 들어, 300㎜ 이상)로 권취되어 있다. 이것에 의해, 케이블(180)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제할 수 있으므로, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 시험 유닛(190)에서 고정밀도로 제어ㆍ측정할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2, the cable 180 includes a noise absorber that absorbs noise that conducts the inside of the cable 180 to the outer circumferential surface of the portion passing through the inside of the EMI duct 140 and the predetermined front and rear portions. 181 is covered. Specifically, for example, an EMI tape such as Lumidion (registered trademark) (Toyo Service Co., Ltd.) is wound around the cable 180 in a predetermined length (for example, 300 mm or more). As a result, since the copying and transmission and transportation of noise from the cable 180 can be suppressed, the test unit 190 can control and measure the radio waves transmitted and received by the electronic device P with high accuracy.

이와 같은 EMI 덕트(140)는 다이캐스트제이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 케이블(180)이 통과하는 측[하우징(110)의 측]에 복수의 오목홈(142)이 형성되어 있다. 이 오목홈(142)에 케이블(180)을 통과시킴으로써, EMI 덕트(140)의 내부에서 케이블(180)이 상하 방향으로 이동하는 것을 방지하는 동시에, 케이블(180)을 정렬시킬 수 있다. 또한, EMI 덕트(140)에 복수의 케이블(180)을 통과시킨 경우, 각 케이블 사이의 공간이 오목홈(142)의 측벽부(금속)에 의해 메워지므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 각 케이블을 평행하게 배선할 수 있으므로, 예를 들어 각 케이블에 일정하게 접촉하는 어스 등을 장착하는 경우에는, 그 장착이 용이해진다.Such an EMI duct 140 is made of a die cast, and as shown in FIG. 4, a plurality of concave grooves 142 are formed on the side (the side of the housing 110) through which the cable 180 passes. By passing the cable 180 through the recess 142, the cable 180 can be prevented from moving up and down in the EMI duct 140, and the cable 180 can be aligned. In addition, when the plurality of cables 180 are passed through the EMI duct 140, the space between the cables is filled by the side wall portion (metal) of the recessed groove 142, so that the propagation of the test box main body 10 The shielding can be properly maintained. Moreover, since each cable can be wired in parallel, for example, when attaching the earth etc. which come into contact with each cable uniformly, the attachment becomes easy.

벌집 필터(150)는, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(151)을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정되어 있다. 도 5의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이다.The honeycomb filter 150 is a filter for supply / exhaust that communicates with the outside of the test box body 10 and shields the radio waves to intrude from the outside of the test box body 10, as shown in FIG. As described above, the gasket 151 having insulation resistance is fixed to the rear surface of the housing 110. 5A is a perspective view illustrating a honeycomb filter.

더 설명하면, 벌집 필터(150)는, 도 5의 (a)에 도시한 바와 같이, 정면에서 보아 정육각 형상인 복수의 가는 구멍(152)을 갖는 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 벌집체로서 형성되고, 이 복수의 가는 구멍(152)을 통해, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 가는 구멍(152)의 형상은 정육각형에 한정되지 않고, 예를 들어 원형이나 사각형 등이라도 좋다.In more detail, the honeycomb filter 150 is made of metal (for example, made of aluminum or aluminum alloy) having a plurality of fine holes 152 having a regular hexagonal shape when viewed from the front, as shown in FIG. And a plurality of thin holes 152 to secure the flow of air outside and inside the test box body 10, and to radiate from, for example, the electronic device P. It is possible to exhaust the heat. In addition, the shape of the thin hole 152 is not limited to a regular hexagon, For example, it may be circular, square, etc.

또한, 가는 구멍(152)은, 도파관으로서의 기능을 구비하는 둘레벽(153)으로 둘러싸여져 있으므로, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않기 때문에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 배면에 형성되는 관통 구멍(112)(도 4 참조)의 개구 직경, 벌집 필터(150)의 길이[둘레벽(153)으로 이루어지는 도파관의 길이], 및 가는 구멍(152)의 개구 직경(정육각형의 대향하는 두 변 사이의 거리)은, 벌집 필터(150)의 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정된다.In addition, since the thin hole 152 is surrounded by a circumferential wall 153 having a function as a waveguide, it is not intended to penetrate from outside of the test box body 10 because it does not transmit and carry radio waves of a wavelength longer than a predetermined wavelength. Can effectively shield radio waves. In addition, the waveguide consists of the opening diameter of the through hole 112 (refer FIG. 4) formed in the back surface of the housing 110 (test box main body 10), and the length of the honeycomb filter 150 (circumference wall 153). Length] and the opening diameter (distance between two opposite sides of the regular hexagon) of the thin hole 152 are set based on the wavelength of the radio wave which does not convey and carry the inside of the honeycomb filter 150. FIG.

여기서, 일반적으로 도파관은, 그 개구부의 형상과 치수(길이)가 동일하면, 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아진다. 또한, 도파관의 개구부의 형상에도 의존하나, 개구부의 면적이 작아질수록 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수(소정의 주파수)가 높아진다.Here, in general, the waveguide has the same shape and dimensions (length) of the opening, and the longer the waveguide, the higher the shielding performance of radio waves. Moreover, although it depends also on the shape of the opening part of a waveguide, as the area of an opening part becomes small, the limit frequency (predetermined frequency) of the radio wave which can shield a waveguide becomes high.

또한, 상기한 벌집 필터(150) 대신에, 도 5의 (b)에 도시한 바와 같은 메쉬 필터(155)를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 도 5의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.In addition, it is good also as a structure provided with the mesh filter 155 as shown to FIG. 5 (b) instead of said honeycomb filter 150 mentioned above. 5B is a perspective view illustrating a mesh filter.

메쉬 필터(155)는, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 벌집 필터와 마찬가지로, 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정된다(도 4 참조).The mesh filter 155 is a filter for supply / exhaust that communicates with the outside and the inside of the test box body 10 and shields the radio waves to invade from the outside of the test box body 10, and like the honeycomb filter, It is fixed to the back surface of the housing 110 via the gasket which has insulation resistance (refer FIG. 4).

메쉬 필터(155)는, 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 메쉬가 복수 겹쳐진 메쉬 적층체이고, 이 메쉬를 통해, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 금속제의 메쉬 적층체의 내부에서는, 전파의 회절 손실이 일어나므로, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.The mesh filter 155 is a mesh laminate in which a plurality of meshes of metal (for example, made of aluminum, made of aluminum alloy, etc.) are stacked, and the air flows outside and inside the test box body 10 through the mesh. Is secured, and the heat radiated from the electronic device P or the like can be exhausted, for example. In addition, since diffraction loss of radio waves occurs inside the metal mesh laminate, radio waves intended to intrude from the outside of the test box body 10 can be effectively shielded.

안테나(160)는, 전자 기기(P)와의 사이에서 전파를 주고받기 위한 안테나이고, 도 2 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 측벽에 고정된 커넥터(161)에, 안테나용 도파관(162)을 개재하여 설치되어 있다. 안테나(160)에는, 케이블(도시하지 않음)의 일단부가 접속되어 있고, 이 케이블(도시하지 않음)은, 안테나용 도파관(162)을 통해 시험 상자 본체(10)의 외부로 인출되고, 그 타단부가 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 접속되어 있다The antenna 160 is an antenna for transmitting and receiving radio waves to and from the electronic device P. As shown in FIGS. 2 to 4, the antenna 160 is connected to the connector 161 fixed to the side wall of the housing 110. It is provided through the waveguide 162. One end of a cable (not shown) is connected to the antenna 160, and the cable (not shown) is led out to the outside of the test box body 10 through the antenna waveguide 162. The end is connected to a radio wave transmitting and receiving unit (not shown).

또한, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)은, 안테나(160)에 전파를 방사시키거나, 그 전파의 주파수 대역이나 출력 등을 제어하거나, 안테나(160)가 수신한 전자 기기(P)로부터의 전파를 측정하는 기능을 갖는다.The radio wave transmitting / receiving unit (not shown) radiates radio waves to the antenna 160, controls the frequency band and output of the radio waves, or radio waves from the electronic device P received by the antenna 160. Has the function of measuring.

커넥터(161)는, 안테나용 도파관(162)을 고정하기 위한 것으로, 하우징(110)의 측벽에 고정한 상태로 설치되어 있다. 이와 같은 커넥터(161)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(162)을 회전시키고, 안테나(160)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(161) 를 체결하여 안테나용 도파관(162)을 다시 고정함으로써, 안테나(160)의 방향을 바꿀 수 있도록 되어 있다.The connector 161 is for fixing the waveguide 162 for antennas, and is installed in a state where it is fixed to the side wall of the housing 110. The connector 161 is loosened to rotate the antenna waveguide 162, the antenna 160 is changed in direction, and the connector 161 is fastened to fix the antenna waveguide 162 again to thereby secure the antenna 160. You can change the direction of).

이것에 의해, 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 3 참조)로부터 방사되는 전파의 편파면이, 평행 또는 수직으로 되도록 안테나(160)의 축을 회전 조정할 수 있다.As a result, the polarization plane of the radio wave radiated from the antenna 160 and the polarization plane of the radio wave radiated from the antenna Pa (see FIG. 3) of the electronic device P are parallel or vertical. The axis of rotation can be adjusted.

또한, 편파면이라 함은, 전자파에 있어서 전계의 파의 진동하는 면을 말하고, 이것이 일정한 평면 형상에 있는 전자파를 직선 편파라 한다. 통상의 안테나로부터 방사되는 전파는 직선 편파이다.In addition, the polarization plane refers to the oscillating surface of the wave of the electric field in the electromagnetic wave, and the electromagnetic wave in a constant planar shape is called a linear polarization. Radio waves radiated from a conventional antenna are linearly polarized waves.

커넥터(161)는, 도 2, 도 4에 도시한 바와 같이, 그 좌우(수평 방향)에 별도(예비)의 커넥터(163)를 설치해도 좋다. 이것에 의해, 원하는 위치에 안테나용 도파관(162)을 교체할 수 있으므로, 원하는 위치에 안테나(160)를 배치할 수 있다. 또한, 이와 같은 커넥터(163)는, 커넥터(161)의 상하(수직 방향)에 설치해도 좋고, 커넥터(161)의 좌우 상하로 2개 이상 설치해도 좋다.As shown in FIGS. 2 and 4, the connector 161 may be provided with a connector 163 that is separate (preliminary) on its left and right (horizontal directions). As a result, since the antenna waveguide 162 can be replaced at a desired position, the antenna 160 can be disposed at a desired position. In addition, you may install these connectors 163 in the up-and-down (vertical direction) of the connector 161, and may provide two or more of these connectors 161 in the left-right, up-down direction.

안테나용 도파관(162)은, 원통 형상 또한 L자 형상으로 굴곡한, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금 등으로 형성된 금속제의 도파관이고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 안테나용 도파관(162)은 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하고 있고, 그 중공부(내부)에는 안테나(160)에 접속된 케이블(도시하지 않음)이 배선되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(162)의 선단부에는, 직사각 형상의 접지 플레이트(164)가 고정되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(162)의 단면은 원형에 한정되지 않고, 예를 들어 다각형이라도 좋다.The antenna waveguide 162 is a metal waveguide formed by, for example, aluminum or an aluminum alloy, which is bent in a cylindrical shape or an L shape, and has shielding of radio waves. The antenna waveguide 162 communicates with the outside of the test box main body 10, and a cable (not shown) connected to the antenna 160 is wired to the hollow portion (inside). Further, a rectangular ground plate 164 is fixed to the tip of the antenna waveguide 162. In addition, the cross section of the waveguide 162 for antennas is not limited to a circular shape, For example, a polygon may be sufficient.

안테나용 도파관(162)의 사양은, 그 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 안테나용 도파관(162)의 내경 및 길이는, 소정 파장보다도 긴 파장의 전파가, 그 내부를 전달 운반하지 않도록 설정되어 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.The specification of the waveguide 162 for antennas is set based on the wavelength of the radio wave which does not transmit and convey the inside. Specifically, the inner diameter and the length of the antenna waveguide 162 are set so that radio waves of a wavelength longer than a predetermined wavelength do not transmit and carry the inside thereof. Thereby, the shielding of the radio wave of the test box main body 10 can be maintained suitably.

또한, 일반적으로 안테나를 금속 물체에 근접하여 설치하면 금속 물체에 와전류가 흘러 전파의 재방사 등이 일어나, 시험 제공체에 대해 적절하게 방사된 전파에 간섭하여 영향을 미치는 일이 있다. 따라서, 도 4에 도시한 바와 같이, 안테나(160)의 근방의 하우징(110)의 측벽에 자성체 시트(165)를 설치하는 것이 바람직하다[안테나(160)는, 자성체 시트(165)와 전자 기기(P) 사이에 위치하게 된다]. 이것에 의해, 상기한 바와 같은 와전류에 의한 전파의 재방사 등의 영향을 저감할 수 있다.In general, when the antenna is installed in close proximity to a metal object, eddy currents flow through the metal object, causing re-radiation of radio waves, and so on, interfering with and affecting the radio waves appropriately radiated to the test provider. Therefore, as shown in FIG. 4, it is preferable to provide the magnetic sheet 165 on the side wall of the housing 110 near the antenna 160 (the antenna 160 includes the magnetic sheet 165 and the electronic device). Between (P)]. Thereby, the influence of re-emission of radio waves by the eddy current as described above can be reduced.

장착 유닛(170)은, 전자 기기(P)를 하우징(110)의 내부에 고정하기 위한 유닛이고, 도 2, 도 3에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 바닥면 전체면을 덮도록 설치된 고정판(171)과, 이 고정판(171) 상에 착탈 가능하게 고정되어 전자 기기(P)를 보유 지지ㆍ고정하는 보유 지지 고정 지그(172)로 구성되어 있다.The mounting unit 170 is a unit for fixing the electronic device P to the inside of the housing 110, and as shown in FIGS. 2 and 3, the mounting unit 170 is installed to cover the entire bottom surface of the housing 110. It consists of the holding plate 171 and the holding fixing jig 172 which is detachably fixed to this holding plate 171, and hold | maintains and fixes the electronic device P. As shown in FIG.

고정판(171)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 평면에서 보아 직사각 형상인 판재이고, 보유 지지 고정 지그(172)를 고정하기 위한 복수의 볼트 구멍(171a)이 형성되어 있다. 볼트 구멍(171a)은, 보유 지지 고정 지그(172)의 고정 위치를 원하는 위치로 바뀌도록, 하우징(110)의 정면에서 보아 좌우 방향으로 병렬하여 복수 설치되어 있다. 또한, 고정판(171) 상에는 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 설치해도 좋고, 고정판(171)을 전파 흡수성을 갖는 부재로 형성해도 좋다.As shown in FIG. 2, the fixing plate 171 is a plate member having a rectangular shape in plan view, and a plurality of bolt holes 171a for fixing the holding fixing jig 172 are formed. The bolt hole 171a is provided in plural in parallel in the left-right direction as seen from the front of the housing 110 so that the fixed position of the holding fixing jig 172 may be changed to a desired position. In addition, a radio wave absorption sheet having radio wave absorptivity may be provided on the stationary plate 171, or the stationary plate 171 may be formed of a member having radio wave absorptivity.

보유 지지 고정 지그(172)는, 도 3에 도시한 바와 같이, 측면에서 보아 L자 형상인 부재이고, 바닥부에 볼트(B)를 나사 삽입하기 위한 볼트 구멍(172a)이 형성되어 있다. 이 볼트 구멍(172a)을 통해, 고정판(171)의 볼트 구멍(171a)에 볼트(B)가 나사 삽입됨으로써, 보유 지지 고정 지그(172)가 고정판(171)에 고정된다. 보유 지지 고정 지그(172)에는, 장착판(173)과 고정구(174)가 장착되어 있다.As shown in Fig. 3, the holding fixing jig 172 is an L-shaped member viewed from the side, and a bolt hole 172a for screwing the bolt B in the bottom is formed. The bolt B is screwed into the bolt hole 171a of the fixing plate 171 through this bolt hole 172a, so that the holding fixing jig 172 is fixed to the fixing plate 171. The holding plate 173 and the fixing tool 174 are attached to the holding fixing jig 172.

장착판(173)은 장척 형상의 판재(도 2 참조)이고, 보유 지지 고정 지그(172)에 고정되어 있다. 또한, 고정구(174)는 전자 기기(P)를 보유 지지하는 부재이고, 전자 기기(P)를 삽입 통과하여 보유 지지하는 삽입 통과부(174a)가 형성되어 있다. 이 고정구(174)는 장착판(173)에 착탈 가능하게 장착되어 있고, 소망에 따라서, 전자 기기(P)의 장착 방향이나 장착 위치를 바꿀 수 있도록 되어 있다.The mounting plate 173 is a long plate (see FIG. 2), and is fixed to the holding fixing jig 172. In addition, the fastener 174 is a member for holding the electronic device P, and an insertion passage portion 174a for inserting and holding the electronic device P is formed. The fastener 174 is detachably attached to the mounting plate 173, and the mounting direction and the mounting position of the electronic device P can be changed as desired.

시험 유닛(190)(도 2 참조)은, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 제어ㆍ측정하는 유닛, 즉 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정하는 동시에, 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 동작을 시킬 수 있는 유닛이다.The test unit 190 (refer to FIG. 2) detects a reception state of a radio wave of the electronic device P, that is, a unit for controlling and measuring radio waves transmitted and received by the electronic device P, so that the electronic device P is normally operated. It is a unit that can determine whether or not it is operating and transmit various instructions to the electronic device P to operate.

이와 같은 시험 유닛(190)은, 케이블(180)을 통해 시험 대상인 전자 기기(P)에 접속 가능하게 되어 있다. 구체적으로는, 케이블(180)의 일단부가 시험 유닛(190)에 접속되고, 타단부가, EMI 덕트(140)를 개재하여, 시험 상자 본체(10)의 내부로 인출되고, 전자 기기(P)에 접속되어 있다. 또한, 케이블(180)의 타단부에는, 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속하기 위한 커넥터(도시하지 않음)가 설치되어 있다.Such a test unit 190 can be connected to the electronic device P which is a test target through the cable 180. Specifically, one end of the cable 180 is connected to the test unit 190, the other end is drawn out into the test box body 10 via the EMI duct 140, and the electronic device P Is connected to. In addition, a connector (not shown) for detachably connecting to the electronic device P is provided at the other end of the cable 180.

도 2에 도시한 바와 같이, 도어(20)는 시험 상자 본체(10)의 측면에 힌지(H)를 통해 회전 가능하게 장착되고, 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 이 도어(20)는 금속제의 패널(201)로 형성되고, 이 패널(201)의 정면에서 보아 우측에는 창(210)이 형성되어 있다. 또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 상기한 전파 흡수체(120)가, 패널(201)의 내면을 덮도록 형성되어 있다.As shown in FIG. 2, the door 20 is rotatably mounted to the side surface of the test box main body 10 via the hinge H, and has the structure which can be opened and closed suitably. The door 20 is formed of a metal panel 201, and a window 210 is formed on the right side when viewed from the front of the panel 201. As shown in FIG. 2, the electromagnetic wave absorber 120 is formed to cover the inner surface of the panel 201.

또한, 패널(201)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.In addition, the metal which forms the panel 201 is not specifically limited in this invention, It may be not only pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but also alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel, etc.).

창(210)은 가시광에 대한 투과성을 갖는 직사각 형상의 글래스판(211)을 구비하고 있다. 이것에 의해, 전자 기기(P)의 시험을 행하면서, 창(210)[글래스판(211)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(10)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다.The window 210 is provided with a rectangular glass plate 211 having transparency to visible light. Thereby, since the inside of the test box main body 10 can be visually confirmed from the outside through the window 210 (glass plate 211), while testing the electronic device P, for example, it propagates, for example. The presence or absence of the lighting of the incoming lamp of the electronic device P by having received this can be confirmed.

글래스판(211)은, 창(210)[글래스판(211)]을 통한 전파의 왕래를 방지하기 위해, 전파의 반사성(차단성)을 갖고 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 이와 같은 글래스판(211)으로서는, 예를 들어 글래스판(211)의 적어도 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide : 산화인듐주석)막을 형성한 것을 사용할 수 있다.The glass plate 211 has reflectivity (blocking property) of radio waves in order to prevent the transmission and reception of radio waves through the window 210 (glass plate 211). Thereby, the shielding of the radio wave of the test box main body 10 can be maintained suitably. As the glass plate 211, for example, an indium tin oxide (ITO) film formed on at least one surface of the glass plate 211 can be used.

또한, 글래스판(211)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 도어(20)에 형성된 창용의 개구부(202)의 주위에 형성된 오목홈(203)에, 전파의 차폐성을 갖는 패킹(212)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)을 개재하여 고정되어 있다. 이것에 의해, 창(210)[글래스판(211)]의 주연 부분에 있어서의 전파의 차폐성을 확보할 수 있으므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2, the glass plate 211 includes a packing 212 having shielding property of radio waves in the concave groove 203 formed around the opening 202 for the window formed in the door 20 ( For example, it is fixed through conductive rubber packing). Thereby, since the shielding of the radio wave in the peripheral part of the window 210 (glass plate 211) can be ensured, the shielding of the radio wave of the test box main body 10 can be maintained suitably.

또한, 시험 상자 본체(10)의 내부에 있어서, 전자 기기(P)나 안테나(160) 등으로부터 방사되는 전파가 창(210)[글래스판(211)]에 직접 조사되면, 전파가 창(210)[글래스판(211)]의 표면에서 반사되어 전파의 공진 현상이 발생하므로, 창(210)은, 전자 기기(P)나 안테나(160) 등으로부터 방사되는 전파가 가능한 한 조사되지 않는 위치에 설치하는 것이 바람직하다.In addition, when the radio wave radiated | emitted from the electronic device P, the antenna 160, etc. in the inside of the test box main body 10 is irradiated directly to the window 210 (glass plate 211), the electric wave is window 210 Since the resonance phenomenon of radio waves is reflected from the surface of the [glass plate 211], the window 210 is located at a position where radio waves radiated from the electronic device P or the antenna 160 are not irradiated as much as possible. It is desirable to install.

여기서, 전파의 공진 현상이라 함은, 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체의 내부에서 안테나 등으로부터 전파가 방사되었을 때, 시험 상자 본체의 내부의 벽면에서 전파가 반사를 반복하여 간섭을 일으키는 현상을 말한다.Here, the resonance phenomenon of radio waves refers to a phenomenon in which radio waves repeatedly reflect and cause interference on the wall inside the test box main body when radio waves are radiated from an antenna or the like inside the test box main body having shielding of radio waves. .

이상, 설명한 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12) 및/또는 도어(20)의 주연부(22)에는, 도어(20)를 폐쇄했을 때에, 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 구조가 형성되어 있다.In the above, the door 20 is attached to the opening edge 12 of the test box body 10 and / or the periphery part 22 of the door 20 which is the contact part of the test box main body 10 and the door 20 demonstrated. When closed, the radio wave shielding structure which shields the radio wave from the outside is formed.

다음에, 이 전파 차폐 구조의 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 또한, 도 1, 도 2, 도 4에 도시한 전파 차폐 구조는, 후기하는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조이다.Next, an embodiment of this radio wave shielding structure will be described with reference to the drawings as appropriate. 1, 2, and 4 are radio wave shielding structures according to the first embodiment described later.

[제1 실시예][First Embodiment]

도 6의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 6의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.Fig. 6A is a schematic diagram showing a state in which the door is opened, and Fig. 6B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조는, 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 도어(20)의 주연부(22)에 설치된 세움 설치판(31)의 측면에 장착된 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 설치된 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)으로 이루어진다.As shown in FIG. 6A, the radio wave shielding structure according to the first embodiment is provided at the periphery 22 of the door 20, which is a contact portion between the test box body 10 and the door 20. The metal finger 30 attached to the side surface of the mounting plate 31 and the packing 40 which has the shielding of the electric wave provided in the periphery 22 of the door 20 are comprised.

핑거(30)는 실드 핑거, 핑거 스트립 등으로도 불리고, 본 실시 형태에 있어서는, 대략 빗살형을 이루는 띠 형상의 금속판의 빗살의 이에 상당하는 부분을, 단면으로 보아 원호 형상으로 만곡시켜 형성한 판 스프링 부재이고, 장착면의 수직 방향으로 압박되고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 핑거(30)는, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에, 예를 들어 용접 등에 의해 고정된 단면으로 보아 L자 형상인 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 세움 설치판(31)의 외주측 측면에 장착되어 있다.The finger 30 is also called a shield finger, a finger strip, or the like. In the present embodiment, a plate formed by bending an arc-shaped portion of the comb teeth of a strip-shaped metal plate that is substantially comb-shaped in a cross-sectional view is formed. It is a spring member, pressed in the vertical direction of the mounting surface, and has a shielding of radio waves. The finger 30 is made of an L-shaped metal (for example, made of aluminum, made of aluminum alloy, etc.) in the cross-section fixed around the periphery of the periphery 22 of the door 20, for example, by welding or the like. Is mounted on the outer circumferential side of the mounting plate 31.

이와 같은 핑거(30)를 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속뿐만 아니라 합금이라도 좋다. 특히, 구리 합금을 사용하는 것이 바람직하다. 구리를 주체로 한 구리 합금은, 도전성이 높으므로 핑거(30)의 전파의 차폐성을 높일 수 있다. 또한, 구리 합금은 탄성 성능이 우수하므로 접촉 저항을 작게 할 수 있다. 이와 같은 구리 합금으로서는, 예를 들어 베릴륨 구리 합금 등을 들 수 있다.The metal forming such a finger 30 is not particularly limited in the present invention, and may be an alloy as well as a pure metal. In particular, it is preferable to use a copper alloy. Since the copper alloy mainly made of copper has high electroconductivity, the shielding of the electric wave of the finger 30 can be improved. In addition, since the copper alloy is excellent in elastic performance, the contact resistance can be reduced. As such a copper alloy, a beryllium copper alloy etc. are mentioned, for example.

패킹(40)은, 탄성(쿠션성)을 갖는 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것 으로, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 패킹(40)은, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 설치된 핑거(30)[세움 설치판(31)]의 외주측에 장착되어 있다. 또한, 도전성 패브릭으로서는, 섬유를 니켈로 도금한 것 등을 들 수 있다. 또한, 패킹의 영구 왜곡률은 60% 이하인 것이 바람직하다.The packing 40 coats a sponge material having elasticity (cushionability) with a conductive fabric and has shielding of radio waves. This packing 40 is attached to the outer circumferential side of the finger 30 (standing plate 31) provided around the periphery of the periphery 22 of the door 20. Examples of the conductive fabric include those obtained by plating fibers with nickel. Moreover, it is preferable that the permanent strain of a packing is 60% or less.

이와 같은 구성을 구비하는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조는, 도 6의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)[절곡부(13)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.In the radio wave shielding structure according to the first embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 6B, when the door 20 is closed, the finger 30 opens the test box body 10. The packing 40 is in elastic contact with the opening edge 12 of the test box body 10 while elastically contacting the edge 12 (the bent portion 13). As a result, the gap between the test box main body 10 and the door 20 is reliably closed by the finger 30 and the packing 40, and therefore, from the contact portion between the test box main body 10 and the door 20. Since the radio waves to invade cause diffraction loss in the finger 30 or the packing 40, it is possible to effectively shield the radio waves to invade from the contact portion.

또한, 핑거(30)가, 도 6에 도시한 바와 같이, 세움 설치판(31)에 장착되어 있으므로, 도어(20)를 폐쇄했을 때에 시험 상자 본체(10)에 접촉하여 변형하는 핑거(30)의 복원력이, 도어(20)의 개폐 방향(도 6의 좌우 방향)에 대해 수직(도 6의 상하 방향)으로 걸리게 된다. 이것에 의해, 핑거(30)의 복원력에 의한 도어(20)의 도어 개방을 방지할 수 있는 동시에, 도어(20)를 도어 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.Moreover, since the finger 30 is attached to the mounting plate 31 as shown in FIG. 6, the finger 30 which contacts and deforms the test box main body 10 when the door 20 is closed is shown. The restoring force is applied perpendicularly to the opening and closing direction (left and right direction in FIG. 6) of the door 20 (up and down direction in FIG. 6). Thereby, the door opening of the door 20 by the restoring force of the finger 30 can be prevented, and the door 20 can be fixed to a door closed state.

또한, 패킹(40)이, 도 6에 도시한 바와 같이, 핑거(30)의 외주측에 장착되어 있으므로, 핑거(30)에 의한 차폐 기능과 패킹(40)에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거(30) 또는 패킹(40), 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자(1)의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.In addition, since the packing 40 is mounted on the outer circumferential side of the finger 30 as shown in FIG. 6, the shielding function by the finger 30 and the shielding function by the packing 40 act synergistically. Therefore, the radio wave to intrude from the contact part of the test box main body 10 and the door 20 can be shielded more effectively. In addition, even if the shielding function of either the finger 30 or the packing 40, and either one of the shielding functions, the sudden drop of the radio wave shielding performance of the test box 1 for an electronic device can be prevented by the other shielding function.

또한, 핑거(30)는, 세움 설치판(31)을 개재하지 않고, 도어(20)의 주연부(22)에 직접 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 패킹(40)은 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.In addition, the finger 30 may be mounted directly on the periphery 22 of the door 20 without interposing the mounting plate 31. In addition, the packing 40 may be attached to the side of the opening edge part 12 of the test box main body 10.

[제2 실시 형태]Second Embodiment

도 7의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 7의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 7A is a schematic diagram showing a state in which the door is opened, and FIG. 7B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 설치된 세움 설치판(31)의 측면에 장착된 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 장착된 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)으로 이루어진다.The radio wave shield structure which concerns on 2nd Embodiment is the opening edge part 12 of the test box main body 10 which is a contact part of the test box main body 10 and the door 20, as shown to Fig.7 (a). It consists of a metal finger 30 mounted on the side of the mounting plate 31 installed in the c) and a packing 40 having shielding of radio waves mounted on the periphery 22 of the door 20.

제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30)가, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 고정된, 단면으로 보아 L자 형상인 금속제의 세움 설치판(31)의 외주측 측면에 장착되어 있는 점이, 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.In the radio wave shielding structure according to the second embodiment, the metal mounting plate having an L shape in cross section, in which the finger 30 is fixed to the entire circumference of the opening edge portion 12 of the test box body 10 ( The point attached to the outer peripheral side surface of 31) differs from the radio wave shielding structure according to the first embodiment.

이와 같은 구성을 구비하는 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 도어(20)의 주연부(22)[절곡부(23)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.In the radio wave shielding structure according to the second embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 7B, when the door 20 is closed, the finger 30 has a peripheral portion 22 of the door 20. ) And the packing 40 elastically contact the opening edge part 12 of the test box main body 10 at the same time. As a result, the gap between the test box main body 10 and the door 20 is reliably closed by the finger 30 and the packing 40, and therefore, from the contact portion between the test box main body 10 and the door 20. Since the radio waves to invade cause diffraction loss in the finger 30 or the packing 40, it is possible to effectively shield the radio waves to invade from the contact portion.

또한, 핑거(30)가, 도 7에 도시한 바와 같이, 세움 설치판(31)에 장착되어 있으므로, 도어(20)를 폐쇄했을 때에 도어(20)에 접촉하여 변형하는 핑거(30)의 복원력이, 도어(20)의 개폐 방향(도 7의 좌우 방향)에 대해 수직(도 7의 상하 방향)으로 걸리게 된다. 이것에 의해, 핑거(30)의 복원력에 의한 도어(20)의 개방을 방지할 수 있는 동시에, 도어(20)를 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.Moreover, since the finger 30 is attached to the upright mounting plate 31 as shown in FIG. 7, the restoring force of the finger 30 which contacts and deforms the door 20 when the door 20 is closed. This is caught vertically (up and down direction in FIG. 7) with respect to the opening and closing direction (left and right direction in FIG. 7) of the door 20. Thereby, opening of the door 20 by the restoring force of the finger 30 can be prevented, and the door 20 can be fixed to a closed state.

또한, 패킹(40)이, 도 7에 도시한 바와 같이, 핑거(30)의 외주측에 장착되어 있으므로, 핑거(30)에 의한 차폐 기능과 패킹(40)에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거(30) 또는 패킹(40), 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자(1)의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.In addition, since the packing 40 is mounted on the outer circumferential side of the finger 30 as shown in FIG. 7, the shielding function by the finger 30 and the shielding function by the packing 40 act synergistically. Therefore, the radio wave to intrude from the contact part of the test box main body 10 and the door 20 can be shielded more effectively. In addition, even if the shielding function of either the finger 30 or the packing 40, and either one of the shielding functions, the sudden drop of the radio wave shielding performance of the test box 1 for an electronic device can be prevented by the other shielding function.

또한, 핑거(30)는, 세움 설치판(31)을 개재하지 않고, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 직접 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 패킹(40)은 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.In addition, the finger 30 may be attached directly to the opening edge portion 12 of the test box body 10 without interposing the mounting plate 31. In addition, the packing 40 may be attached to the side of the opening edge part 12 of the test box main body 10.

[제3 실시 형태][Third Embodiment]

도 8의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 8의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 8A is a schematic diagram showing a state where the door is opened, and FIG. 8B is a schematic diagram showing a state where the door is closed.

제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 8의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성되는 삽입편(50)과, 도어(20)의 주연부(22)에 형성되는 삽입홈(60)을 갖고, 핑거(30)가 도어(20)의 주연부(22)의 삽입홈(60)의 내주측에 장착되는 동시에, 패킹(41)이 삽입홈(60)의 바닥부에 장착되고, 패킹(42, 42)이 삽입편(50)의 내주측 및 외주측의 개구 모서리부(12)에 각각 장착되어 있다.The radio wave shielding structure which concerns on 3rd Embodiment is the opening edge part 12 of the test box main body 10 which is a contact part of the test box main body 10 and the door 20, as shown to Fig.8 (a). ) And an insertion groove 60 formed in the peripheral portion 22 of the door 20, the finger 30 is inserted into the insertion groove 60 of the peripheral portion 22 of the door 20. The packing 41 is mounted on the bottom of the insertion groove 60, and the packing 42, 42 is opened on the inner circumferential side and the outer circumferential side of the insertion piece 50. Are attached to each).

핑거(30)는, 제1, 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조로 사용된 것과 동일하고, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 장착되어 있다.The finger 30 is the same as that used for the radio wave shielding structure which concerns on 1st, 2nd embodiment, and is attached to the perimeter of the periphery 22 of the door 20. As shown in FIG.

패킹(41, 42)은, 제1, 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조에서 사용된 패킹(40)과 마찬가지로, 탄성(쿠션성)을 갖는 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것이지만, 그 사이즈가 다르다.The packings 41 and 42 cover the sponge material which has elasticity (cushionability) with the conductive fabric similarly to the packing 40 used by the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 1st, 2nd embodiment, The size differs. .

삽입편(50)은, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 형성된 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 세움 설치 부분이다. 이 삽입편(50)은, 도 8의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]를 구성하는 패널(111)(도 2 내지 도 4 참조)과 일체로 형성해도 좋고, 금속판(단면으로 보아 L자 형상이나 단면으로 보아 볼록 형상 등이라도 좋음)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 용접 등에 의해 고정함으로써 형성해도 좋다. 그리고, 이 삽입편(50)의 양측에는, 패킹(42, 42)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 걸쳐 장착되어 있다.The insertion piece 50 is a mounting portion made of metal (for example, made of aluminum, made of aluminum alloy, etc.) formed around the entire circumference of the opening edge portion 12 of the test box body 10. This insertion piece 50 is integrated with the panel 111 (refer FIG. 2-FIG. 4) which comprises the test box main body 10 (housing 110), as shown to Fig.8 (a). It may be formed, or may be formed by fixing a metal plate (which may be an L-shape in cross section or a convex shape in cross section) by welding or the like around the entire periphery of the opening edge portion 12 of the test box body 10. And packing 42 and 42 are attached to the both sides of this insertion piece 50 over the perimeter of the opening edge part 12 of the test box main body 10. As shown in FIG.

삽입홈(60)은, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 형성된 오목부이고, 도어(20)를 폐쇄했을 때에, 상기한 삽입편(50)이 삽입된다. 이 삽입홈(60)의 바닥부에는, 패킹(41)이 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 걸쳐 장착되어 있다.The insertion groove 60 is a recess formed around the periphery of the periphery 22 of the door 20, and the insertion piece 50 is inserted when the door 20 is closed. The packing 41 is attached to the bottom part of this insertion groove 60 over the perimeter of the periphery 22 of the door 20. As shown in FIG.

이와 같은 구성을 구비하는 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 8의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 삽입편(50)이 삽입홈(60)에 삽입되어, 전파 회절 구조를 형성하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편(50)이나 삽입홈(60)의 내부에서 회절 손실을 일으킨다.In the radio wave shielding structure according to the third embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 8B, when the door 20 is closed, the insertion piece 50 is inserted into the insertion groove 60. In order to form a radio wave diffraction structure, radio waves to invade from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 cause diffraction loss inside the insertion piece 50 or the insertion groove 60.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 패킹(41)이 삽입편(50)의 선단부에 탄성적으로 접촉함으로써 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되는 동시에, 패킹(42, 42)이 삽입홈(60)의 양측에 탄성적으로 접촉함으로써 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 패킹(41, 42, 42)에서 회절 손실을 일으킨다.In addition, when the door 20 is closed, the packing 41 elastically contacts the front end of the insertion piece 50 so that the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is surely closed, and the packing ( Since the gap between the test box body 10 and the door 20 is reliably closed by 42 and 42 elastically contacting both sides of the insertion groove 60, the test box body 10 and the door 20 are Propagation to invade from the contact portion causes diffraction loss in the packing 41, 42, 42.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉함으로써 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(30)에서 회절 손실을 일으킨다.Moreover, when the door 20 is closed, the finger 30 elastically contacts the opening edge part 12 of the test box main body 10, and the clearance between the test box main body 10 and the door 20 will be reliably. Since it is occluded, the radio waves to invade from the contact portion of the test box body 10 and the door 20 cause diffraction loss in the finger 30.

따라서, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30), 패킹(41, 42, 42), 삽입편(50) 및 삽입홈(60)의 상호의 회절 손실 작용에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.Therefore, the radio wave shielding structure which concerns on 3rd Embodiment is a test box main body by the diffraction loss effect of the finger 30, the packing 41, 42, 42, the insertion piece 50, and the insertion groove 60 mutually. The radio waves to intrude from the contact portion between the 10 and the door 20 can be shielded more effectively.

또한, 제3 실시 형태에서는, 삽입편(50)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성하고, 삽입홈(60)을 도어(20)의 주연부(22)에 형성한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 즉, 삽입편(50)을 도어(20)의 주연부(22)에 형성하고, 삽입홈(60)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성한 구성으로 해도 좋다.Moreover, in 3rd Embodiment, the structure which formed the insertion piece 50 in the opening edge part 12 of the test box main body 10, and the insertion groove 60 was formed in the periphery part 22 of the door 20. As shown in FIG. However, it is not limited to this. That is, the insertion piece 50 may be formed in the peripheral part 22 of the door 20, and the insertion groove 60 may be formed in the opening edge part 12 of the test box main body 10. FIG.

또한, 제3 실시 형태에서는, 패킹(41, 42)을, 삽입편(50)의 양측과 삽입홈(60)의 바닥부에 장착한 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 삽입편(50)의 양측에만 설치하는 구성으로 해도 좋고, 삽입홈(60)의 바닥부에만 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 핑거(30)는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.In addition, in 3rd Embodiment, although the packing 41 and 42 were attached to the both sides of the insertion piece 50, and the bottom part of the insertion groove 60, it is not limited to this, For example, insertion piece It is good also as a structure provided only in the both sides of 50, and may be comprised only in the bottom part of the insertion groove 60. In addition, the finger 30 may be attached to the side of the opening edge part 12 of the test box main body 10.

[제4 실시 형태][4th Embodiment]

도 9의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 9의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.Fig. 9A is a schematic view showing a state in which the door is opened, and Fig. 9B is a schematic view showing a state in which the door is closed.

제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(32, 32)가 삽입홈(60)의 내부에 장착되어 있는 점, 보다 상세하게는, 핑거(32, 32)가, 삽입홈(60)의 내부의 대향하는 측면의 전체 둘레, 각각에 장착되어 있는 점이, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.In the radio wave shielding structure according to the fourth embodiment, the fingers 32 and 32 are attached to the inside of the insertion groove 60. More specifically, the fingers 32 and 32 are formed of the insertion groove 60. The point attached to the whole periphery of each opposing side surface inside each differs from the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 3rd Embodiment.

핑거(32)는, 장착면의 수직 방향으로 압박되는 금속제의 원호 형상판 스프링 부재이고, 핑거(30)와 마찬가지로, 전파의 차폐성을 갖고 있으나, 핑거(30)와는 사이즈가 다르다.The finger 32 is a circular arc-shaped spring member made of metal pressed in the vertical direction of the mounting surface. Like the finger 30, the finger 32 has a shielding property of radio waves, but differs in size from the finger 30.

이와 같은 구성을 구비하는 제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 상기한 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 작용 효과에 부가하여, 도 9의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(32, 32)가 삽입편(50)에 양측으로부터 끼움 지지되도록 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(32, 32)에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 더 효과적으로 차폐할 수 있다.The radio wave shield structure which concerns on 4th Embodiment which has such a structure adds to the effect of the radio wave shield structure which concerns on said 3rd Embodiment, as shown to FIG. ), The fingers 32 and 32 elastically contact the insertion piece 50 so as to be fitted from both sides. As a result, the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is surely closed, so that radio waves intended to invade from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 are fingers 32 and 32. Diffraction loss occurs, and as a result, it is possible to more effectively shield the radio waves to invade from the contact portion of the test box body 10 and the door 20.

[제5 실시 형태][Fifth Embodiment]

도 10의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 10의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.FIG. 10A is a schematic diagram showing a state in which the door is opened, and FIG. 10B is a schematic diagram showing a state in which the door is closed.

제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 삽입홈(60)의 바닥부에 패킹(41)을 설치하고 있지 않은 점과 삽입편(50)의 전체 둘레에 핑거(33)가 장착되어 있는 점이, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.In the radio wave shielding structure according to the fifth embodiment, the packing 41 is not provided at the bottom of the insertion groove 60 and the point at which the finger 33 is attached to the entire circumference of the insertion piece 50 is provided. It differs from the electromagnetic wave shielding structure which concerns on 3rd Embodiment.

핑거(33)는, 대략 빗살형을 이루는 띠 형상의 금속판의 빗살의 이에 상당하는 부분을, 단면으로 보아 대략 삼각 형상으로 절곡하여 형성한 판 스프링 부재이고, 장착면의 수직 방향으로 압박되고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 핑거(33)에는, 삽입편(50)에 장착하기 위한 클립부(33a)가 형성되어 있다. 이 핑 거(33)는, 클립부(33a)가 삽입편(50)을 끼움 지지함으로써 삽입편(50)에 장착되어 있다.The finger 33 is a leaf spring member formed by bending a substantially equivalent portion of the comb teeth of a strip-shaped metal plate forming a comb shape in a substantially triangular shape as viewed in cross section, and is pressed in the vertical direction of the mounting surface, and propagated. Has shielding properties. Moreover, the clip part 33a for attaching to the insertion piece 50 is formed in the finger 33. As shown in FIG. This finger 33 is attached to the insertion piece 50 by the clip part 33a clamping the insertion piece 50. As shown in FIG.

이와 같은 구성을 구비하는 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 삽입편(50)이 삽입홈(60)에 삽입되어, 전파 회절 구조를 형성하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편(50)이나 삽입홈(60)의 내부에서 회절 손실을 일으킨다.In the radio wave shielding structure according to the fifth embodiment having such a configuration, as shown in FIG. 10B, when the door 20 is closed, the insertion piece 50 is inserted into the insertion groove 60. In order to form a radio wave diffraction structure, radio waves to invade from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 cause diffraction loss inside the insertion piece 50 or the insertion groove 60.

또한, 도어를 폐쇄하면, 패킹(42, 42)이 삽입홈(60)의 양측에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 패킹(42, 42) 및 핑거(30)에서 회절 손실을 일으킨다.In addition, when the door is closed, the packing 42, 42 elastically contacts both sides of the insertion groove 60, while the finger 30 is elastically open to the opening edge 12 of the test box body 10. Since the gap between the test box body 10 and the door 20 is reliably closed, radio waves intended to intrude from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 are packed 42 and 42. And cause diffraction loss at the finger 30.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(33)의 선단부(33b) 및 제2 절곡부(33d)가 삽입홈(60)의 내부 측면에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 핑거(33)의 제1 절곡부(33c)가 삽입홈(60)의 바닥부에 탄성적으로 접촉하므로, 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(33)에서 회절 손실을 일으킨다.In addition, when the door 20 is closed, the distal end portion 33b and the second bent portion 33d of the finger 33 elastically contact the inner side surface of the insertion groove 60, and at the same time, Since the bending portion 33c elastically contacts the bottom of the insertion groove 60, the gap between the insertion piece 50 and the insertion groove 60 is surely closed, so that the test box body 10 and the door are closed. Propagation to invade from the contact portion of (20) causes diffraction loss at the finger (33).

따라서, 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30, 33), 패킹(42, 42), 삽입편(50) 및 삽입홈(60)의 상호의 회절 손실 작용에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.Therefore, the radio wave shielding structure which concerns on 5th Embodiment is a test box main body by the diffraction loss effect of the fingers 30 and 33, the packing 42 and 42, the insertion piece 50, and the insertion groove 60 mutually. The radio waves to intrude from the contact portion between the 10 and the door 20 can be shielded more effectively.

이상, 전파 차폐 구조의 실시 형태에 대해 설명했으나, 전파 차폐 구조의 실시 형태는 이것에 한정되는 것은 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하다. 예를 들어, 상기한 제1 내지 제5 실시 형태의 적어도 2개를 조합한 구성으로 해도 좋다.As mentioned above, although embodiment of the electromagnetic wave shielding structure was described, embodiment of a radio wave shielding structure is not limited to this. About a specific structure, it can change suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention. For example, it is good also as a structure which combined at least two of said 1st-5th embodiment.

또한, 상기한 제1, 제2 실시 형태에서는, 도어(20)의 주연부(22)[또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)]에 1개의 패킹(40)이 장착되는 구성(도 6, 7 참조)으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2개의 패킹이 2중으로 배치되도록 장착되는 구성이라도 좋다(도시하지 않음). 당연히, 패킹이 3중 이상으로 배치되도록 장착해도 좋다. 제3 내지 제5 실시 형태의 패킹(41, 42)에 대해서도 마찬가지이다.In addition, in said 1st, 2nd embodiment, the structure in which one packing 40 is attached to the periphery part 22 (or the opening edge part 12 of the test box main body 10) of the door 20 ( 6 and 7), but the present invention is not limited thereto. For example, the structure may be mounted so that two packings may be arranged in duplicate with respect to the intrusion direction of the radio wave to be intruded from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 (not shown). Naturally, you may mount so that a packing may be arrange | positioned in triple or more. The same applies to the packings 41 and 42 of the third to fifth embodiments.

또한, 상기한 제3 내지 제5 실시 형태에서는, 도어(20)의 주연부(22)[또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)]에 1개의 핑거(30)가 장착되는 구성[도 8 내지 도 10 참조]으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2개의 핑거가 2중으로 배치되도록 장착되는 구성이라도 좋다(도시하지 않음). 당연히, 핑거가 3중 이상으로 배치되도록 장착해도 좋다. 제1, 제2 실시 형태에 대해서도 마찬가지이다.In addition, in the above-described third to fifth embodiments, the configuration in which one finger 30 is attached to the peripheral portion 22 (or the opening edge portion 12 of the test box body 10) of the door 20 is provided. 8 to 10], but the present invention is not limited thereto. For example, the structure may be mounted so that two fingers may be arranged in double with respect to the intrusion direction of the radio wave to be intruded from the contact portion between the test box body 10 and the door 20 (not shown). Naturally, you may attach so that a finger may be arrange | positioned in triple or more. The same applies to the first and second embodiments.

또한, 상기한 제3 내지 제5 실시 형태에서는, 삽입편(50) 및 삽입홈(60)을 각각 1개씩 형성하는 구성(도 8 내지 도 10 참조)으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2중 이상으로 되도록 형성하는 구성으로 해도 좋다.In addition, although the said 3rd-5th embodiment was set as the structure (refer FIG. 8 thru | or 10) which forms one insertion piece 50 and the insertion groove | channel 60, respectively, it is not limited to this. For example, it is good also as a structure formed so that it may become double or more with respect to the penetration direction of the radio wave to intrude from the contact part of the test box main body 10 and the door 20. FIG.

마지막으로, 도 1 내지 도 4에 도시한 전자 기기용 시험 상자(1)(도 6에 도시한 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조를 구비함)의 동작을 설명하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 관한 전자 기기 시험 방법에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.Finally, one Embodiment of this invention demonstrates operation | movement of the test box 1 for electronic devices shown in FIGS. 1-4 (with the radio wave shielding structure concerning 1st Example shown in FIG. 6). The electronic device test method according to the present invention will be described with reference to the drawings as appropriate.

우선, 도 1에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 개방하고, 전자 기기(P)를 시험 상자 본체(10)의 내부에 넣고, 장착 유닛(170)의 고정구(174)에 형성된 삽입 통과부(174a)(도 3 참조)에 삽입 통과시켜, 시험 상자 본체(10)의 내부에 고정한다. 또한, 케이블(180)의 커넥터(도시하지 않음)를 전자 기기(P)에 접속한다.First, as shown in FIG. 1, the door 20 is opened, the electronic device P is placed inside the test box body 10, and an insertion passage formed in the fixture 174 of the mounting unit 170. 174a (see FIG. 3) is inserted and fixed to the inside of the test box body 10. In addition, a connector (not shown) of the cable 180 is connected to the electronic device P. FIG.

다음에, 도어(20)를 폐쇄하면, 도 6에 도시한 바와 같이, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)[절곡부(13)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되고, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 높은 전파 차폐 환경을 실현할 수 있다.Next, when the door 20 is closed, as shown in FIG. 6, the finger 30 elastically contacts the opening edge portion 12 (the bent portion 13) of the test box body 10. At the same time, the packing 40 elastically contacts the opening edge 12 of the test box body 10. As a result, the gap between the test box main body 10 and the door 20 is reliably closed by the finger 30 and the packing 40, and is intruded from the contact portion between the test box main body 10 and the door 20. Since the radio waves to be produced cause diffraction loss in the finger 30 or the packing 40, a high radio wave shielding environment can be realized.

그리고, 예를 들어 시험 개시 스위치(도시하지 않음) 등을 온(ON)으로 함으 로써, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)으로부터 안테나(160)에 전기 신호가 송신되고, 안테나(160)로부터 전파가 방사된다. 전자 기기(P)의 동작의 시험은, 안테나(160)로부터 전파를 방사하면서, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 시험 유닛(190)(도 2 참조)에서 검출함으로써 행해진다. 시험 유닛(190)에서는, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정한다.Then, for example, by turning on a test start switch (not shown) or the like, an electric signal is transmitted from the radio wave transmitting / receiving unit (not shown) to the antenna 160, and radio waves are transmitted from the antenna 160. Radiated. The test of the operation of the electronic device P is performed by detecting the reception state of the radio wave of the electronic device P in the test unit 190 (see FIG. 2) while radiating the radio wave from the antenna 160. The test unit 190 detects the reception state of the radio wave of the electronic device P, and determines whether the electronic device P is operating normally.

이때, 상기한 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 의해, 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 강도나 주파수 대역 등을 변화시켜 시험을 행할 수도 있다.At this time, the radio wave transmitting / receiving unit (not shown) may perform the test by changing the intensity, frequency band, and the like of the radio wave radiated from the antenna 160.

정상 상태라고 판정되면, 도어(20)를 개방하여 안테나(160)의 방향을 바꾼 후에, 도어(20)를 폐쇄하여 다른 편파면(수평파 및 수직파)에 대해 시험을 행할 수도 있다.If it is determined that the steady state, the door 20 is opened to change the direction of the antenna 160, then the door 20 may be closed to test other polarized planes (horizontal wave and vertical wave).

또한, 정상 상태라고 판정되면, 도어(20)를 개방하여 보유 지지 고정 지그(172)의 위치를 바꾸어 고정판(171)에 고정하고, 안테나(160)와의 거리를 바꾸어, 전자 기기(P)가 전파를 정상으로 수신할 수 있는지 여부의 시험을 행할 수도 있다.In addition, when it determines with it being normal, the door 20 is opened, the position of the holding fixing jig 172 is changed, it is fixed to the fixing plate 171, the distance with the antenna 160 is changed, and the electronic device P propagates A test may be made as to whether it can be received normally.

또한, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 3 참조)와 안테나(160)의 거리는, 전자 기기(P)나 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상으로 되도록 설정하는 것이 바람직하고, 2λ 이상으로 되도록 설정하면 더 바람직하다. 이것에 의해, 원방 전자계의 영역에 전자 기기(P)의 안테나(Pa)를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정되는 위치에서 전자 기기(P)의 시험을 행할 수 있으므로, 전자 기기(P) 의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.The distance between the antenna Pa (see FIG. 3) of the electronic device P and the antenna 160 is set so as to be equal to or greater than the wavelength? Of the radio waves emitted from the electronic device P or the antenna 160. It is preferable to set it to 2 or more. This makes it possible to arrange the antenna Pa of the electronic device P in the region of the far-field electromagnetic field, and the electronic device P can be tested at a position where the electric field strength is stabilized. Therefore, the electronic device P The test of can be performed precisely.

여기서, 원방 전자계의 영역이라 함은, 파동 임피던스가 공간의 파동 임피던스(Z0)와 동등해지지는 영역의 것을 의미한다. 안테나(160)로부터 방사되는 전파는 이 영역에 있어서 평면파에 가까운 전달 운반을 한다.Here, the region of the far field means that the region where the wave impedance becomes equal to the wave impedance Z0 of the space. Radio waves radiated from the antenna 160 carry propagation near the plane wave in this region.

이상이, 전자 기기용 시험 상자(1)의 일련의 동작 및 전자 기기 시험 방법이다.The above is a series of operation | movement of the test box 1 for electronic devices, and an electronic device test method.

이상과 같은 전자 기기용 시험 상자(1)에 따르면, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분에, 핑거(30, 32, 33), 패킹(40, 41, 42), 삽입편(50), 삽입홈(60) 등으로 이루어지는 다중의 전파 차폐 구조를 구비하므로, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 이와 같은 전자 기기용 시험 상자(1)를 사용함으로써, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.According to the test box 1 for electronic devices described above, the fingers 30, 32, 33, the packings 40, 41, 42, and the insertion pieces are placed in contact portions between the test box body 10 and the door 20. Since the multiple radio wave shielding structure which consists of 50, the insertion groove | channel 60, etc. is provided, the radio wave to invade from the exterior of the test box main body 10 can be shielded effectively. Moreover, the test of the electronic device P can be performed precisely by using such a test box 1 for electronic devices.

이상, 본 발명의 일 실시 형태에 대해 설명했으나, 본 발명의 실시 형태는 이것에 한정되는 것은 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하고, 예를 들어 이하와 같은 변경이 가능하다.As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, Embodiment of this invention is not limited to this. About a specific structure, it can change suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention, For example, the following changes are possible.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)로서 휴대 전화를 도시하여 설명했으나, 본 발명의 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)는, 휴대 전화에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 휴대 전화와 마찬가지로 전파의 주고받기를 행하는 PDA(Personal Digital Assistance)나 무선 LAN(Local Area Network) 기능을 구비하 는 노트형의 퍼스널 컴퓨터 등이라도 좋다. 또한, 외부 전파의 영향을 받는 것이 바람직하지 않은 정밀 측정 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 외부에 소정값 이상의 전파를 방사하는 것이 바람직하지 않은 가전 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 이 경우, 장착 유닛(170)의 형상이나 사이즈 등, 또는 장착 유닛(170)을 구비하는지 여부에 대해서는, 시험 대상인 전자 기기에 따라서 적절하게 설정되는 것은 말할 것도 없다.In the above-mentioned embodiment, although the mobile telephone was shown and demonstrated as the electronic apparatus P, the electronic apparatus P used as the test object of this invention is not limited to a mobile telephone. For example, a PDA (Personal Digital Assistance) that transmits and receives radio waves and a notebook type personal computer having a wireless LAN (Local Area Network) function may be used as a mobile phone. Moreover, the precision measuring apparatus, medical apparatus, etc. which are not preferable to be influenced by external radio waves may be sufficient. In addition, it may be a household electrical appliance, a medical apparatus, or the like, which is undesirable to radiate radio waves of a predetermined value or more to the outside. In this case, it goes without saying that the shape and size of the mounting unit 170, or whether the mounting unit 170 is provided is appropriately set according to the electronic device to be tested.

또한, 시험 상자 본체(10)는, 상기한 실시 형태에 한정되지 않고, 예를 들어 전파 암실과 같은, 시험원이 그 내부에 출입할 수 있는 대형의 방(시험실)이라도 좋다. 이와 같은 시험실은, 시험 상자 본체(10)와 마찬가지로 금속제의 하우징으로 형성해도 좋고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 콘크리트 구조로 해도 좋다.In addition, the test box main body 10 is not limited to the above-mentioned embodiment, For example, the large-sized room (test room) which a tester, such as an electric wave dark room, can enter and leave inside may be sufficient. Such a test chamber may be formed of a metal housing similarly to the test box body 10, or may be, for example, a concrete structure having shielding properties of radio waves.

상기한 실시 형태에서는, 복수의 금속제의 패널(111)을, 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 하우징(110)을 형성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 복수의 금속제의 패널을 볼트 등에 의해 조립 부착하여 형성하는 조립ㆍ분해 가능한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성의 경우, 복수의 금속제의 패널의 간극에 전파의 차폐성을 갖는 충전재를 개재시키는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 하우징(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 전파의 차폐성을 갖는 충전재로서는, 예를 들어 상하면의 적어도 한 쪽이 절연층(예를 들어, 종이, 접착층을 겸하는 점착 테이프 등)으로 절연된 저항 손실체(예를 들어, 카본 저항 시트, 금속 박막 저항 시트, 열선 차단 필름 등)를 갖는 전자기 차폐 접합용 시트체를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표) IR(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등을 사용할 수 있다.In the above-described embodiment, the housing 110 is formed by welding a plurality of metal panels 111 to a frame (not shown) serving as a skeleton, but the present invention is not limited thereto. It is good also as a structure which can be assembled and disassembled by which a panel is assembled by a bolt etc., and is formed. Moreover, in the case of such a structure, it is preferable to interpose the filler which has the shielding of an electric wave in the clearance gap of a some metal panel. Thereby, the shielding of the radio wave of the housing (test box main body) can be kept favorable. As a filler with shielding of radio waves, for example, at least one of the upper and lower surfaces is insulated with a lossy layer (for example, a carbon resistance sheet, a metal thin film) insulated with an insulating layer (for example, paper, an adhesive tape which also serves as an adhesive layer). A sheet body for electromagnetic shielding bonding which has a resistance sheet, a heat ray blocking film, etc.) can be used. Specifically, Lumidion (registered trademark) IR (Toyo Service Co., Ltd.) etc. can be used, for example.

상기한 실시 형태에서는, 하우징(110)을 금속제로 함으로써, 전파의 차폐성이나 강성 등을 높이는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 판재로 하우징을 형성해도 좋다.In the above embodiment, the housing 110 is made of metal to increase the shielding property, rigidity, or the like of the radio wave. However, the housing 110 is not limited to this, and the housing may be formed of, for example, a plate having shielding of the radio wave.

상기한 실시 형태에서는, EMI 덕트(140)의 내부에 케이블(180)(전기 신호용의 케이블)이 통과하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다.In the above-mentioned embodiment, although the cable 180 (cable for electric signals) passes through the inside of the EMI duct 140, it is not limited to this.

전기 신호용의 케이블은, 그 내부를 노이즈가 도통하기 때문에 전자기 방해가 발생한다. 상기한 실시 형태에서는, 케이블(180)을 노이즈 흡수체(181)로 피복함으로써(도 2 참조), 케이블(180)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제하는 구성으로 되어 있으나, 완전하게 방지하는 것은 현실적으로는 곤란하다. 따라서, 시험 상자 본체(10)의 전파 차폐 성능을 더 향상시키기 위해, 예를 들어 노이즈가 매우 작은 광신호용의 케이블(광케이블)을 EMI 덕트(140)의 내부에 통과시키는 구성으로 해도 좋다.Since the electric signal cable conducts noise through its interior, electromagnetic interference occurs. In the above-described embodiment, the cable 180 is covered with the noise absorber 181 (see FIG. 2), whereby the radiation and transmission and transfer of noise from the cable 180 are suppressed. It is difficult in reality. Therefore, in order to further improve the radio wave shielding performance of the test box main body 10, for example, an optical signal cable (optical cable) with a very low noise may be passed inside the EMI duct 140.

도 11은 전자 기기용 시험 상자의 다른 실시 형태를 도시한 수평 단면도이다. 또한, 케이블(182, 186)은 전기 신호용의 케이블이고, 변환 유닛(183, 185)은 전기 신호와 광신호를 상호로 변환 가능한 공지된 유닛이다.11 is a horizontal cross-sectional view showing another embodiment of a test box for an electronic device. The cables 182 and 186 are cables for electric signals, and the conversion units 183 and 185 are known units capable of converting electrical signals and optical signals to each other.

도 11에 도시한 바와 같이, 전자 기기(P)와 시험 유닛(190)은, 케이블(182), 변환 유닛(183), 광케이블(184), 변환 유닛(185) 및 케이블(186)을 개재하여 접속되어 있다.As shown in FIG. 11, the electronic device P and the test unit 190 are connected via a cable 182, a conversion unit 183, an optical cable 184, a conversion unit 185, and a cable 186. Connected.

구체적으로는, 일단부에 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속 가능한 커넥터(도시하지 않음)를 구비하는 케이블(182)의 타단부가 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 내부에 설치된 변환 유닛(183)에 접속되고, 이 변환 유닛(183)에 광케이블(184)의 일단부가 접속되어 있다. 광케이블(184)은, 그 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록 배선되어 있다. 그리고, 광케이블(184)의 타단부가 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 외부에 설치된 변환 유닛(185)에 접속되는 동시에, 이 변환 유닛(185)에 케이블(186)의 일단부가 접속되고, 그 타단부가 시험 유닛(190)에 접속되어 있다. 또한, 변환 유닛(183, 185)과, 광케이블(184)은, 예를 들어 USB 커넥터, RS232C 커넥터, LAN 커넥터 등을 개재하여 접속할 수 있다.Specifically, the other end of the cable 182 having a connector (not shown) that can be detachably connected to the electronic device P at one end thereof is provided inside the housing 110 (test box body 10). It is connected to the installed conversion unit 183, and one end of the optical cable 184 is connected to this conversion unit 183. The optical cable 184 is wired so that the predetermined length (for example, 100 mm or more) passes through the inside of the EMI duct 140. The other end of the optical cable 184 is connected to a conversion unit 185 provided outside the housing 110 (test box body 10), and one end of the cable 186 is connected to the conversion unit 185. The other end thereof is connected to the test unit 190. In addition, the conversion units 183 and 185 and the optical cable 184 can be connected through, for example, a USB connector, an RS232C connector, a LAN connector, and the like.

여기서, 변환 유닛(183, 185)이, 예를 들어 내부 전원을 구비하지 않는 기기인 경우에는, 별도로 외부 전원(예를 들어, 전원 콘센트 등)으로부터 전력을 공급 할 필요가 있다. 이때, 하우징(110)의 외부에 설치되는 변환 유닛(185)에 대해서는, 예를 들어 외부 전원에 접속된 전원 케이블을 직접 접속하여 전력을 공급할 수 있다(도시하지 않음). 그러나, 이와 같은 전원 케이블은 그 내부를 노이즈가 도통하기 때문에, 하우징(110)의 내부에 전원 케이블을 직접 도통하여, 변환 유닛(183)에 접속하면 전자기 방해가 발생한다.Here, when the conversion units 183 and 185 are devices which do not have an internal power supply, for example, it is necessary to separately supply electric power from an external power supply (for example, a power outlet). At this time, for the conversion unit 185 provided outside the housing 110, for example, a power cable connected to an external power source can be directly connected to supply power (not shown). However, since such a power supply cable conducts noise through the inside thereof, electromagnetic interference occurs when the power supply cable is directly connected to the inside of the housing 110 and connected to the conversion unit 183.

따라서, 도 11에 도시한 바와 같이, 변환 유닛(183)에 대해서는, 하우징(110)의 측벽에 관통 설치한 저역 통과 필터(187)를 통해 전력을 공급하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 하우징(110)의 외부에 있어서는, 저역 통과 필터(187)에 접속된 전원 케이블(188)을 외부 전원(도시하지 않음)에 접속하는 동시에, 하우 징(110)의 내부에 있어서는, 변환 유닛(183)에 접속된 전원 케이블(189)을 저역 통과 필터(187)에 접속함으로써, 변환 유닛(183)에 대해 전력을 공급한다.Therefore, as shown in FIG. 11, it is preferable to supply power to the conversion unit 183 through the low pass filter 187 provided through the side wall of the housing 110. Specifically, in the outside of the housing 110, while connecting the power cable 188 connected to the low pass filter 187 to an external power source (not shown), inside the housing 110, The power supply cable 189 connected to the conversion unit 183 is connected to the low pass filter 187 to supply power to the conversion unit 183.

저역 통과 필터(187)는, 특정의 주파수 이외의 신호를 차단하는 필터 중 저역 주파수만을 통과시키는 필터이다. 이와 같은 저역 통과 필터(187)는, 예를 들어 외부 전원이 전원 콘센트인 경우, 50㎐ 또는 60㎐의 주파수 영역을 통과시키는 동시에, 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)가 사용하는 주파수대의 주파수 영역을 차단하는 것인 것이 바람직하다. 예를 들어, 전자 기기(P)가 휴대 전화인 경우에는, 0.8 내지 2.4㎓의 주파수 영역을 차단하는 것인 것이 바람직하다. 또한, 변환 유닛(183)에 전력을 공급하는 외부 전원은, 전원 콘센트에 한정되지 않고, 예를 들어 하우징(110)의 내부에 설치되는 배터리 등이라도 좋다.The low pass filter 187 is a filter which passes only the low pass frequency among the filters for blocking signals other than a specific frequency. Such low pass filter 187, for example, when the external power source is a power outlet, passes a frequency range of 50 Hz or 60 Hz and at the same time a frequency range of the frequency band used by the electronic device P to be tested. It is preferable to block the. For example, when the electronic device P is a mobile phone, it is preferable to block the frequency range of 0.8 to 2.4 GHz. In addition, the external power supply which supplies electric power to the conversion unit 183 is not limited to a power outlet, For example, the battery etc. which are provided in the inside of the housing 110 may be sufficient.

이상과 같이, 광케이블(184)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록, 광케이블(184)을 배선함으로써, 전자기 방해를 양호하게 방지할 수 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)[전자 기기용 시험 상자(1)]의 전파 차폐 성능을 더 향상시킬 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 보다 정밀하게 행할 수 있다. 또한, EMI 덕트(140)의 내부를 통해, 하우징(110)의 내부에 도통되는 케이블이, 모두 광케이블인 경우에는, EMI 덕트(140)를 구비하지 않는 구성으로 해도 좋다.As mentioned above, electromagnetic interference can be prevented favorably by wiring the optical cable 184 so that the predetermined length (for example, 100 mm or more) of the optical cable 184 passes through the inside of the EMI duct 140. . Thereby, since the radio wave shielding performance of the test box main body 10 (test box 1 for electronic devices) can be improved further, the test of the electronic device P can be performed more precisely. In addition, when all the cables which conduct through the inside of the EMI duct 140 and the inside of the housing 110 are optical cables, it is good also as a structure which does not provide the EMI duct 140. FIG.

전자 기기(P) 및 시험 유닛(190)이, 모두 광신호를 직접 송수신할 수 있는 기기인 경우에는, 케이블(182, 186) 및 변환 유닛(183, 185)을 설치하지 않고 일단부에 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속 가능한 커넥터(도시하지 않음)를 구비한 광케이블(184)에 의해, 전자 기기(P)와 시험 유닛(190)을 직접 접속하는 구성으로 해도 좋다(도시하지 않음).When the electronic device P and the test unit 190 are both devices capable of directly transmitting and receiving optical signals, the electronic device at one end without installing the cables 182 and 186 and the conversion units 183 and 185. It is good also as a structure which directly connects the electronic device P and the test unit 190 by the optical cable 184 provided with the connector (not shown) which can be detachably connected to (P) (not shown).

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]의 배면에 급배기용의 벌집 필터(150)[또는 메쉬 필터(155)]를 구비하는 구성으로 했으나, 급배기용의 필터는, 이들에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에, 소정 파장보다도 긴 전파를 전달 운반시키지 않는 도파관으로서 기능하도록 내경 및 길이(패널 두께)를 설정(설계)한 복수의 미세한 관통 구멍을 형성한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 복수의 미세한 관통 구멍을 구비하는 플레이트를, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 관통 구멍(도 4 참조)에 장착 프레임 및 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여 내측으로부터 고정하는 구성으로 해도 좋다.In the above-described embodiment, the honeycomb filter 150 (or mesh filter 155) for supply / exhaust is provided on the back of the test box body 10 (housing 110). Is not limited to these. For example, a structure in which a plurality of fine through holes are formed on the back of the test box body (housing) in which the inner diameter and the length (panel thickness) are set (designed) to function as a waveguide that does not transmit and carry radio waves longer than a predetermined wavelength. You may make it. Moreover, the structure which fixes such a plate provided with such a some micro through hole from the inside through the mounting frame and the gasket which has insulation resistance in the through hole (refer FIG. 4) formed in the back surface of a test box main body (housing). You may make it.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]의 배면에 1개의 급배기용의 필터[벌집 필터(150) 또는 메쉬 필터(155)]를 구비하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 흡기용과 배기용의 적어도 2개의 필터를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 모두 동종의 필터를 사용해도 좋고, 이종의 필터를 조합하여 사용해도 좋다. 또한, 배기용의 필터 또는 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 배기용의 관통 구멍에, 배기 팬(도시하지 않음)을 장착해도 좋다. 또한, 전자 기기용 시험 상자의 전파 차폐 성능을 더 향상시키고자 하는 경우에는, 급배기용의 필터를 구비하지 않아도 좋다.In the above-mentioned embodiment, although it was set as the structure provided with one filter for supply / exhaust (honeycomb filter 150 or mesh filter 155) in the back of the test box main body 10 (housing 110), It does not restrict | limit, For example, it is good also as a structure provided with the at least two filter for intake and exhaust. In this case, all of the same types of filters may be used, or different types of filters may be used in combination. Moreover, you may attach an exhaust fan (not shown) to the exhaust through-hole formed in the exhaust filter or the test box main body (housing). Moreover, in order to further improve the electromagnetic wave shielding performance of the test box for electronic devices, it is not necessary to provide the filter for air supply and exhaust.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(160)의 회전 조정은, 커넥터(161)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(162)을 회전시키고, 안테나(160)의 방향을 바꾼 후, 커넥 터(161)를 체결하여 안테나용 도파관(162)[안테나(160)]을 다시 고정하는 수동으로 행하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 공지된 동력 기구나 제어 기구 등을 조합하여, 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.In the above embodiment, the rotation adjustment of the antenna 160 loosens the connector 161 to rotate the antenna waveguide 162, changes the direction of the antenna 160, and then tightens the connector 161. Although the waveguide 162 for antennas (antenna 160) is manually fixed, it is not limited to this. For example, it is good also as a structure performed mechanically combining a well-known power mechanism, a control mechanism, etc.

상기한 실시 형태에서는, 고정구(174)가 장착판(173)에 착탈 가능하게 장착되는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 고정구가 장착판에 회전 가능하게 장착되는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 고정구의 회전 조정은 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.In the above-described embodiment, the fastener 174 is detachably attached to the mounting plate 173, but the configuration is not limited thereto, and the fastener may be rotatably mounted to the mounting plate. In this case, the adjustment of rotation of the fixture may be carried out mechanically.

상기한 실시 형태에서는, 보유 지지 고정 지그(172)가 고정판(171)에 형성된 복수의 볼트 구멍(171a)과 볼트(B)에 의해 단계적으로 이동 가능한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 보유 지지 고정 지그가 고정판에 설치한 레일을 따라 무단계로 이동 가능한 구성으로 해도 좋다. 이것에 따르면, 안테나와 보유 지지 고정 지그(전자 기기)의 거리를 간단하게 조정할 수 있다.In the above embodiment, the holding fixing jig 172 is configured to be moved in stages by the plurality of bolt holes 171a and the bolts B formed in the fixing plate 171, but the present invention is not limited thereto. For example, the holding fixing jig may be configured to move steplessly along the rail provided on the fixing plate. According to this, the distance of an antenna and a holding fixing jig (electronic device) can be adjusted easily.

상기한 실시 형태에서는, 도 1, 도 2, 도 4에 도시한 바와 같이, 도어(20)에 창(210)이 형성되어 있는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 시험 상자 본체에 창을 형성하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 도어나 창은 각각 복수 형성해도 좋다. 또한, 전자 기기용 시험 상자의 전파 차폐 성능을 더 향상시키고자 하는 경우에는, 창을 형성하지 않아도 좋다.In the above embodiment, as shown in FIGS. 1, 2, and 4, the window 210 is formed in the door 20, but the window 210 is formed in the test box body without being limited thereto. It is good also as a structure to make. In addition, you may form a plurality of doors and windows, respectively. In addition, in the case where the radio wave shielding performance of the test box for electronic equipment is to be further improved, a window may not be formed.

상기한 실시 형태에서는, 패킹(40, 41, 42)으로서, 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것을 예시했으나, 본 발명에서 사용 가능한 패킹은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 도전성 미립자(금속 미립자, 카본 블랙 등)를 혼합한 고 무(실리콘 고무, 클로로프렌 고무 등)(소위 도전성 고무)로 이루어지는 패킹을 사용해도 좋다. 또한, 금속 메쉬로 가스킷을 피복한 것[예를 들어, 소프트ㆍ실드(타이요 가나아미 가부시끼가이샤)]을 사용해도 좋고, 금속 메쉬 다발선을 사용해도 좋다.In the above-described embodiment, the packings 40, 41, and 42 are illustrated by coating the sponge material with the conductive fabric, but the packing usable in the present invention is not limited thereto. For example, you may use the packing which consists of rubber (silicone rubber, chloroprene rubber etc.) (so-called conductive rubber) which mixed electroconductive fine particles (metal fine particles, carbon black, etc.). In addition, a gasket coated with a metal mesh (for example, a soft shield (Taiyo Kanaami Kabushiki Kaisha)) may be used, or a metal mesh bundle may be used.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(160)로부터 전자 기기(P)에 전파를 방사하여, 전자 기기(P)가 정상으로 전파를 수신할 수 있는지 여부를 시험 유닛(190)에서 판정하는 전자 기기 시험 방법에 대해 설명했으나, 전자 기기 시험 방법은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 유닛(190)으로부터 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 전자 기기(P)[안테나(Pa). 도 3 참조]로부터 안테나(160)에 전파를 송신시키고, 안테나(160)가 수신한 전파를 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에서 측정하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정해도 좋다.In the above embodiment, the electronic device test method determines whether the electronic device P can normally receive the radio wave by radiating the radio wave from the antenna 160 to the electronic device P. Although was demonstrated, the electronic device test method is not limited to this. For example, various instructions are transmitted from the test unit 190 to the electronic device P, and the electronic device P (antenna Pa). 3, the radio wave is transmitted to the antenna 160, and the radio wave received by the antenna 160 is measured by a radio wave transmission / reception unit (not shown) to determine whether the electronic device P is operating normally. good.

[제6 실시 형태][Sixth Embodiment]

이하, 본 발명의 제6 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 12는 전자 기기용 시험 상자를 도시한 일부 단면 부분을 포함하는 정면도이다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, 6th Embodiment of this invention is described, referring drawings suitably. 12 is a front view that includes some cross-sectional portion illustrating a test box for an electronic device.

도 12에 도시한 바와 같이, 전자 기기용 시험 상자(501)는, 전자 기기(P)가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체(510)와, 당해 시험 상자 본체(510)의 일부를 구성하는 도어(512)에 형성되고, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판(521)이 설치된 창(520)을 주로 구비하고, 시험 상자 본체(510)의 내부에 전파 흡수체(530)와, 당해 전파 흡수 체(530)의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구성하는 수지층[수지막(540) 또는 수지판]을 더 구비하고 있다. 여기서, 절연층이라 함은, 체적 저항값이 106Ω㎝ 이상의 재질로 이루어지는 수지막(540) 또는 수지판을 말한다.As shown in FIG. 12, the test box 501 for electronic devices includes the test box main body 510 which has the electronic device P inside, and has the shielding of the radio wave from the outside, and the said test box main body. A window 520 which is formed in the door 512 constituting a part of the 510 and is provided with a glass plate 521 having a shielding of radio waves and a transparency to visible light, is mainly provided, and the interior of the test box body 510 is provided. And a resin layer (resin film 540 or resin plate) constituting a radio wave absorber 530 and a bright insulating layer fixed to the surface of the radio wave absorber 530. Here, the insulating layer means a resin film 540 or a resin plate made of a material having a volume resistivity of 10 6 Ωcm or more.

도 13은 도 12의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이고, 도 14는 전자 기기용 시험 상자의 종단면도이고, 도 15는 도 12의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.FIG. 13 is a II-II cross-sectional view of FIG. 12, FIG. 14 is a longitudinal cross-sectional view of a test box for an electronic device, and FIG. 15 is a IV-IV cross-sectional view of FIG. 12.

도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(510)는, 금속제의 하우징(511)과, 하우징(511)의 정면측에 힌지(H)를 개재하여 장착된 개폐 가능한 도어(512)로 주로 구성되고, 도어(512)의 정면에서 보아 우측(도 12 참조)에는, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판(521)이 설치된 창(520)이 형성되어 있다.As shown in FIGS. 13-15, the test box main body 510 is the opening / closing door 512 equipped with the metal housing 511 and the hinge H in the front side of the housing 511 via the hinge H. As shown to FIG. In the right side (refer FIG. 12) seen from the front of the door 512, the window 520 in which the glass plate 521 which has the shielding of an electric wave and the permeability to visible light is provided is formed.

또한, 시험 상자 본체(510)는, 그 내주면에 장착된 전파 흡수체(530)와, 전파 흡수체(530)의 표면에 고정된 수지막(540)과, 상벽에 설치된 LED 램프(550)와, 측벽에 설치된 안테나(560)와, 배면에 설치된 EMI 덕트(570)와, 금속제의 벌집 필터(580)와, 전자 기기(P)가 고정되는 장착 유닛(590)을 구비하고 있다.In addition, the test box body 510 includes a radio wave absorber 530 attached to an inner circumferential surface thereof, a resin film 540 fixed to a surface of the radio wave absorber 530, an LED lamp 550 provided on an upper wall, and sidewalls. And an antenna 560 provided on the back, an EMI duct 570 provided on the back, a honeycomb filter 580 made of metal, and a mounting unit 590 to which the electronic device P is fixed.

하우징(511)은, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 복수의 금속제의 패널(511a)을 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여, 정면측이 개방된 대략 직방체의 상자 형상으로 형성되어 있다. 하우징(511)은 금속성의 패널(511a) 및 프레임(도시하지 않음)으로 형성되어 있으므로, 소정의 강성을 갖고, 그 내구성이 높여진 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 복수의 패 널(511a)과 프레임(도시하지 않음)이, 용접에 의해 접합되어 있으므로, 하우징(511)의 밀폐성, 즉 전파의 차폐성이 높여진다.As shown in FIGS. 13-15, the housing 511 welds a plurality of metal panels 511a to a frame (not shown) which becomes a frame | skeleton, and forms the substantially rectangular parallelepiped box shape which opened the front side. Formed. Since the housing 511 is formed of a metallic panel 511a and a frame (not shown), the housing 511 has a predetermined rigidity, increases its durability, and has a shielding against radio waves from the outside. In addition, since the plurality of panels 511a and the frame (not shown) are joined by welding, the sealing property of the housing 511, that is, the shielding of radio waves is improved.

패널(511a) 및 프레임(도시하지 않음)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다. 또한, 패널(511a)이나 프레임(도시하지 않음)을, 특히 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성한 경우, 원하는 강성을 유지하면서, 하우징(511)의 경량화를 도모할 수 있다. 또한, 알루미늄이나 알루미늄 합금은 독특한 광택을 가지므로, 하우징(511)은 미관이 우수해진다.The metal forming the panel 511a and the frame (not shown) is not particularly limited in the present invention, and not only a pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but also an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel). Etc.) may be sufficient. In addition, when the panel 511a and the frame (not shown) are formed of aluminum or an aluminum alloy, the housing 511 can be reduced in weight while maintaining desired rigidity. In addition, since aluminum and an aluminum alloy have unique luster, the housing 511 becomes excellent in aesthetics.

도어(512)는, 도 13에 도시한 바와 같이, 금속제의 패널(512a)로 형성되고, 이 패널(512a)의 정면에서 보아 우측(도 12 참조)에는 창(520)이 형성되어 있다. 패널(512a)은, 하우징(511)의 측면에 힌지(H)를 통해 회전 가능하게 장착되어 있고, 도어(512)가 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 또한, 패널(512a)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.As shown in FIG. 13, the door 512 is formed of the metal panel 512a, and the window 520 is formed in the right side (refer FIG. 12) from the front of this panel 512a. The panel 512a is rotatably attached to the side surface of the housing 511 via the hinge H, and the door 512 is opened and closed appropriately. In addition, the metal which forms the panel 512a is not specifically limited in this invention, Not only a pure metal (for example, aluminum, steel, copper, etc.) but an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel, etc.) may be sufficient.

도어(512)를 폐쇄했을 때의 하우징(511)[패널(511a)]과 도어(512)[패널(512a)]의 접촉 부분에는, 전파의 차폐성을 갖는 프레임 형상의 패킹(S)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)이 설치되어 있다. 이것에 의해, 도어(512)를 폐쇄했을 때의 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.A frame-shaped packing S having shielding of radio waves is provided in the contact portion between the housing 511 (panel 511a) and the door 512 (panel 512a) when the door 512 is closed. Conductive rubber packing). Thereby, the shielding of the radio wave of the test box main body 510 when the door 512 is closed can be maintained suitably.

도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 창(520)은 가시광에 대한 투과성을 갖는 직사각 형상의 글래스판(521)을 구비하고 있다. 이것에 의해, 전자 기기(P)의 시험을 행하면서, 창(520)[글래스판(521)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(510)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다.As shown in FIG. 13, FIG. 15, the window 520 is provided with the rectangular glass plate 521 which has transparency to visible light. Thereby, since the inside of the test box main body 510 can be visually confirmed from the outside through the window 520 (glass plate 521), while testing the electronic device P, for example, it propagates The presence or absence of the lighting of the incoming lamp of the electronic device P by having received this can be confirmed.

또한, 글래스판(521)은, 창(520)[글래스판(521)]을 통한 전파의 왕래를 방지하기 위해, 전파의 반사성(차단성)을 갖고 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.Moreover, the glass plate 521 has the reflectivity (blocking property) of an electric wave in order to prevent the communication of the electric wave through the window 520 (glass plate 521). Thereby, the shielding of the radio wave of the test box main body 510 can be maintained suitably.

이와 같은 글래스판(521)은, 적어도 한 쪽면에 투명 산화물 반도체의 박막을 형성함으로써 실현할 수 있다. 투명 산화물 반도체는, 투명성과 도전성의 양방을 겸비한 반도체 재료이고, 구체예로서, 산화인듐주석(Indium Tin Oxide : ITO), 산화아연, 산화티탄, 산화주석 등을 들 수 있다. 또한, 투명 산화물 반도체의 박막의 형성은, 예를 들어 스퍼터링법, 진공 증착법, 이온 플레이팅법 등의 공지된 방법에 의해 행할 수 있다.Such a glass plate 521 can be realized by forming a thin film of a transparent oxide semiconductor on at least one surface. The transparent oxide semiconductor is a semiconductor material having both transparency and conductivity, and specific examples thereof include indium tin oxide (ITO), zinc oxide, titanium oxide, and tin oxide. In addition, formation of the thin film of a transparent oxide semiconductor can be performed by well-known methods, such as a sputtering method, a vacuum vapor deposition method, and an ion plating method, for example.

이와 같은 투명 산화물 반도체 중, 산화인듐주석(이하, ITO라고 함)이나 산화아연을 사용하는 것이 바람직하다. 특히 ITO는, 저저항인 동시에, 가시광 투과성 및 내구성이 높고, 성막 및 패터닝이 용이하므로 적절하게 사용할 수 있다.Among such transparent oxide semiconductors, it is preferable to use indium tin oxide (hereinafter referred to as ITO) or zinc oxide. In particular, ITO can be suitably used because of its low resistance, high visible light transmittance and durability, and easy film formation and patterning.

이하에, 판유리의 표면에 ITO막을 형성한 글래스판(521)의 구조의 구체예에 대해 간단하게 설명한다.Below, the specific example of the structure of the glass plate 521 in which the ITO film | membrane was formed in the surface of plate glass is demonstrated easily.

도 16의 (a) 내지 도 16의 (c)는 글래스판의 구조예를 나타내는 단면도이다.16 (a) to 16 (c) are cross-sectional views showing structural examples of glass plates.

도 16의 (a)에 도시한 글래스판(521a)은, 판유리(711)의 한 쪽면에 ITO막(712)을 형성한 것이다. 또한, ITO막(712)의 저항값은, 2Ω/□ 이하, 예를 들어 1 내지 2Ω/□인 것이 바람직하다[후기하는 글래스판(521B) 및(521C)에 대해서도 마찬가지로 함].In the glass plate 521a illustrated in FIG. 16A, an ITO film 712 is formed on one surface of the plate glass 711. The resistance value of the ITO film 712 is preferably 2 Ω / □ or less, for example, 1 to 2 Ω / □ (the same applies to the glass plates 521B and 521C to be described later).

도 16의 (b)에 도시한 글래스판(521B)은, 판유리(711)의 양면에 ITO막(712, 712)을 형성한 것이다. 판유리(711)의 양면에 ITO막(712, 712)을 형성하면, 글래스판(521B)의 저항값은, 저항을 병렬 접속한 경우와 동일한 값으로 된다. 즉, 판유리(711)의 양면에 1Ω/□의 ITO막(712, 712)을 형성한 경우, 글래스판(521B)의 저항값은 0.5Ω/□로 된다. 또한, 판유리(711)의 양면에 저항값이 2Ω/□ 이하로 되는 ITO막(712, 712)을 형성함으로써, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 전파의 차폐 성능을 60㏈ 이상으로 할 수 있다.In the glass plate 521B illustrated in FIG. 16B, ITO films 712 and 712 are formed on both surfaces of the plate glass 711. When the ITO films 712 and 712 are formed on both surfaces of the plate glass 711, the resistance value of the glass plate 521B becomes the same value as the case where the resistance was connected in parallel. That is, when the ITO films 712 and 712 of 1? /? Are formed on both surfaces of the plate glass 711, the resistance value of the glass plate 521B is 0.5? / ?. In addition, by forming the ITO films 712 and 712 having a resistance value of 2 Ω / square or less on both surfaces of the plate glass 711, the shielding performance of radio waves with a frequency of 1.2 to 2.4 GHz can be made 60 Hz or more.

상기한 글래스판(521A, 521B)에 따르면, 높은 전파의 차폐 성능을 실현할 수 있다. 그런데, 판유리(711)의 표면에 ITO막을 두껍게 형성하여, 그 저항값을 작게 하기 위해서는 일정한 한계가 존재한다. 따라서, 또한 높은 전파의 차폐 성능이 요구되는 경우에는, 도 16의 (c)에 도시한 글래스판(521C)을 사용하는 것이 바람직하다. 글래스판(521C)은, 글래스판(521a)[글래스판(521a)의 ITO막(712)이 형성되어 있지 않은 면]과 글래스판(521B)을 부착한 것이다.According to the glass plates 521A and 521B described above, high radio wave shielding performance can be realized. By the way, in order to form a thick ITO film in the surface of the plate glass 711, and to make small the resistance value, there exists a fixed limit. Therefore, when high shielding performance of a radio wave is required, it is preferable to use the glass plate 521C shown in FIG.16 (c). The glass plate 521C attaches a glass plate 521a (a surface on which the ITO film 712 of the glass plate 521a is not formed) and the glass plate 521B.

이상과 같은 글래스판(521)은, 파장 400 내지 700㎚의 가시광의 투과율이 50% 이상인 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 적절하게 육안으로 확인하는 것이 가능해진다.The glass plate 521 described above preferably has a transmittance of visible light having a wavelength of 400 to 700 nm of 50% or more. According to this, it becomes possible to visually confirm the electronic device P inside the test box main body 510 suitably.

또한, 글래스판(521)은, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 전파의 차폐 성능이 50㏈ 이상인 것이 바람직하다. 여기서, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 대역은, 전자 기기용 시험 상자(501)의 시험 대상인 전자 기기(P)로서 가장 사용 빈도가 높은 휴대 전화(제2 세대 및 제3 세대)의 주파수대와 대략 동등하다. 따라서, 이것에 따르면, 전자 기기(P)(특히 휴대 전화)의 주파수대의 전파를 적절하게 차폐하는 것이 가능해진다.Moreover, it is preferable that the glass plate 521 has the shielding performance of the electric wave of the frequency of 1.2-2.4GHz. Here, the band of frequencies 1.2 to 2.4 GHz is approximately equivalent to the frequency band of mobile phones (second generation and third generation), which are most frequently used as electronic devices P, which are the test targets of the test box 501 for electronic devices. . Therefore, according to this, it becomes possible to appropriately shield the electric wave of the frequency band of the electronic device P (especially mobile telephone).

글래스판(521)의 표면(양면) 중, 적어도 투명 산화물 반도체의 박막이 형성된 면에는, 또한 투명 수지의 보호막(도시하지 않음)을 형성하는 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 투명 산화물 반도체의 박막을 박리 탈락이나 깎임 박리 등으로부터 보호할 수 있으므로, 예를 들어 투명 산화물 반도체의 박막이 박리 탈락한 부분으로부터의 전파의 침입을 방지할 수 있어, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 이와 같은 투명 수지로서는, 예를 들어 실리콘 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리염화비닐(PVC), 폴리에틸렌(PE) 등을 들 수 있다.It is preferable to form a protective film (not shown) of transparent resin at least on the surface on which the thin film of the transparent oxide semiconductor was formed among the surfaces (both surfaces) of the glass plate 521. According to this, since the thin film of a transparent oxide semiconductor can be protected from peeling-off, shaving peeling, etc., for example, the penetration of the radio wave from the part from which the thin film of the transparent oxide semiconductor peeled-off can be prevented, and the test box body ( The shielding of the radio wave of the 510 can be appropriately maintained. As such a transparent resin, silicone resin, polyethylene terephthalate (PET), polyvinyl chloride (PVC), polyethylene (PE), etc. are mentioned, for example.

글래스판(521)은, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 프레임(512b)에 의해 고정되어 있다. 프레임(512b)은 금속제의 프레임 부재이고, 글래스판(521)의 주연부를 덮도록, 패널(512a)에 용접 등에 의해 고정되어 있다. 또한, 프레임(512b)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.The glass plate 521 is fixed by the frame 512b, as shown to FIG. 13, FIG. The frame 512b is a metal frame member and is fixed to the panel 512a by welding or the like so as to cover the periphery of the glass plate 521. The metal forming the frame 512b is not particularly limited in the present invention, and may be an alloy (for example, aluminum alloy, stainless steel, etc.) as well as pure metal (for example, aluminum, steel, copper, and the like).

글래스판(521)과 프레임(512b)의 접촉 부분에는, 전파의 차폐성을 갖는 프레임 형상의 패킹(도시하지 않음)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)이 설치되어 있다. 이것에 의해, 창(520)[글래스판(521)]의 주연 부분에 있어서의 전파의 차폐성을 확보할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.In the contact portion between the glass plate 521 and the frame 512b, a frame-shaped packing (not shown) (for example, conductive rubber packing or the like) having shielding of radio waves is provided. Thereby, since the shielding of the radio wave in the peripheral part of the window 520 (glass plate 521) can be ensured, the shielding of the radio wave of the test box main body 510 can be maintained suitably.

또한, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파가 창(520)[글래스판(521)]에 직접 조사되면, 전파가 창(520)[글래스판(521)]의 표면에서 반사되어 전파의 공진 현상이 발생하므로, 창(520)은, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파가 가능한 한 조사하지 않는 위치에 설치하는 것이 바람직하다.In addition, when the radio wave radiated from the electronic device P, the antenna 560, or the like is irradiated directly to the window 520 (glass plate 521), the radio wave is formed on the surface of the window 520 (glass plate 521). Since the resonance phenomenon of radio waves is reflected, the window 520 is preferably installed at a position where radio waves radiated from the electronic device P, the antenna 560, or the like are not irradiated as much as possible.

전파 흡수체(530)는, 전파를 흡수하는 공지된 일방식(λ/4형)을 기초로 하는 구조이고, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(510)[하우징(511) 및 도어(512)]의 내면을 덮도록 형성되어 있고, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파를 시험 상자 본체(510)의 내면에서 반사하지 않고 의사적으로 흡수하는 것이다. 즉, 전파 흡수체(530)는, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파가, 시험 상자 본체(510)의 내면에서 반사된 전파와 공진하는 것을 방지하는 것이다.The electromagnetic wave absorber 530 is a structure based on a known method (λ / 4 type) that absorbs radio waves, and as shown in FIGS. 13 to 15, a test box body 510 (housing 511). And the door 512 so as to cover the inner surface of the electronic device P, the antenna 560, and the like and pseudo-absorb radio waves radiated from the inner surface of the test box body 510 without reflecting them. That is, the radio wave absorber 530 prevents the radio waves radiated from the electronic device P, the antenna 560, and the like from resonating with the radio waves reflected from the inner surface of the test box body 510.

도 17은 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이다.Fig. 17 is a sectional view showing the structure of the lambda / 4 type electromagnetic wave absorber.

전파 흡수체(530)는, 도 17의 (a)에 도시한 바와 같이, 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 표면(내주면)에 배치되는 스페이서(531)와, 또한 그 표면에 배치되고, 전파의 일부를 투과시키는 기능을 갖는 저항막 시트(532)와, 또한 그 표면에 배치되어 저항막 시트(532)를 보호하는 보호막(533)을 구비하여 구성되어 있다.As shown in FIG. 17A, the electromagnetic wave absorber 530 is disposed on the surface (inner circumferential surface) of the panel 511a (or the panel 512a), and also on the surface thereof. And a resistive film sheet 532 having a function of transmitting a part of radio waves, and a protective film 533 disposed on the surface thereof to protect the resistive film sheet 532.

스페이서(531)는, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파의 파장을 λ로 한 경우, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 간격을 λ/4로 설정하기 위한 것이고, λ /4의 두께(D)를 갖고 있다. 스페이서(531)는, 전파의 투과성을 갖고 있으면 어떤 재료로 형성해도 좋고, 예를 들어 발포 스티롤 등으로 형성할 수 있다. 또한, 스페이서(531)를 발포 스티롤로 형성한 경우, 그 두께(D)를 용이하게 조정할 수 있다.The spacer 531 has a space between the resistive film sheet 532 and the panel 511a (or the panel 512a) when the wavelength of radio waves emitted from the electronic device P, the antenna 560, or the like is λ. It is for setting to λ / 4, and has a thickness D of λ / 4. The spacer 531 may be formed of any material as long as it has a permeability of radio waves, and may be formed of, for example, foamed styrol. In the case where the spacer 531 is made of foamed styrol, the thickness D can be easily adjusted.

저항막 시트(532)는, 그 표면 저항값이 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 대략 동등해지도록 조정된 얇은 시트이다. 이와 같은 저항막 시트(532)로서는, 예를 들어 탄소 도전성 도료를 적절한 베이스 시트에 도포한 것이나, ITO막의 저항값을 조정하여 성막한 것 등을 사용할 수 있다.The resistive film sheet 532 is a thin sheet adjusted so that its surface resistance value is approximately equal to the impedance of free space (376.7?). As such a resistive film sheet 532, the thing which apply | coated the carbon conductive coating material to the appropriate base sheet, the film formed by adjusting the resistance value of an ITO film, etc. can be used, for example.

보호막(533)은, 저항막 시트(532)의 표면에 적층되어 있고, 저항막 시트(532)의 표면을 보호하고 있다. 이와 같은 보호막(533)은, 예를 들어 PET, PC, 폴리아세탈(POM), PVC, PE 등으로 형성할 수 있다.The protective film 533 is laminated on the surface of the resistive film sheet 532, and protects the surface of the resistive film sheet 532. Such a protective film 533 can be formed of, for example, PET, PC, polyacetal (POM), PVC, PE, or the like.

여기서, 도 17의 (a)를 참조하여, 전파 흡수체(530)에 의한 전파 흡수의 메커니즘에 대해 설명한다. 또한, 여기서는, 설명을 간단하게 하기 위해, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파(W1)가, 보호막(533)의 수직 방향으로부터 입사한 경우에 대해 설명한다.Here, with reference to FIG. 17A, the mechanism of radio wave absorption by the radio wave absorber 530 will be described. In addition, here, the case where the radio wave W1 radiated | emitted from the electronic device P, the antenna 560, etc. enters from the perpendicular direction of the protective film 533 is demonstrated here.

보호막(533)을 통과한 전파(W1)[파장(λ)] 중, 저항막 시트(532)를 투과하는 것을 전파(W2)라 하고, 저항막 시트(532)에서 반사되는 것을 전파(W3)라 한다. 저항막 시트(532)를 투과한 전파(W2)는, 스페이서(531)의 내부를 진행한 후, 패널(511a)[또는 패널(512a)]에서 반사되어 전파(W4)로 된다. 전파(W3, W4)의 위상은, 저항막 시트(532), 패널(511a)[또는 패널(512a)]에서의 반사시에 각각 반전한다.Of the radio waves W1 (wavelength λ) that pass through the protective film 533, the transmission of the resistance film sheet 532 is called radio wave W2, and the reflection of the resistance film sheet 532 is radio wave W3. It is called. The radio wave W2 that has passed through the resistive film sheet 532 passes through the spacer 531 and is then reflected by the panel 511a (or the panel 512a) to become the radio wave W4. The phases of the radio waves W3 and W4 are inverted at the time of reflection on the resistive film sheet 532 and the panel 511a (or the panel 512a), respectively.

패널(511a)[또는 패널(512a)]에서 반사되어, 저항막 시트(532)에 도달한 전파(W4)는, 저항막 시트(532)에서 반사된 전파(W3)에 대해, 스페이서(531)의 두께(D)의 2배, 즉「λ/4 × 2 = λ/2」진행하고 있으므로, 전파(W3)의 위상과 전파(W4)의 위상이 반전하게 된다. 이것에 의해, 전파(W3)와 전파(W4)는 서로 상쇄되고, 그 결과로서, 저항막 시트(532)에 입사한 전파(W1)는 의사적으로 흡수되도록 되어 있다.The radio wave W4 reflected by the panel 511a (or panel 512a) and reaching the resistive film sheet 532 is spaced from the spacer 531 with respect to the radio wave W3 reflected by the resistive film sheet 532. 2 times the thickness D, i.e., " λ / 4 × 2 = λ / 2 ", the phase of the radio wave W3 and the phase of the radio wave W4 are reversed. As a result, the electric wave W3 and the electric wave W4 cancel each other, and as a result, the electric wave W1 incident on the resistive film sheet 532 is pseudo-absorbed.

또한, 이와 같은 전파 흡수체(530)에 있어서, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 간격을 λ/4로 설정할 수 있는 것이면, λ/4의 두께(D)를 갖는 스페이서(531)는 구비하지 않아도 좋다. 단, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)] 사이는 전파가 투과 가능할 필요가 있다.In the radio wave absorber 530, if the distance between the resistive film sheet 532 and the panel 511a (or panel 512a) can be set to? / 4, the thickness D of? / 4 It is not necessary to provide the spacer 531 having a. However, it is necessary that radio waves can be transmitted between the resistive film sheet 532 and the panel 511a (or the panel 512a).

이와 같은 전파 흡수체(530)를 구비함으로써, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있으므로, 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.By providing such a radio wave absorber 530, it is possible to effectively absorb the radio waves radiated from the antenna Pa (see FIG. 14), the antenna 560, and the like of the electronic device P, thereby preventing the resonance phenomenon of radio waves The test of the electronic device P can be performed precisely.

또한, 전파 흡수체(530)를, 구조가 간단하고, 설계가 용이한 λ/4형 전파 흡수체로 함으로써, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 방사되는 전파의 파장(λ)에 따 라서, 최적인 전파 흡수 능력을 갖는 전파 흡수체(530)를 설계할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 방사되는 전파를 보다 효과적으로 흡수할 수 있다.In addition, by making the electromagnetic wave absorber 530 a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber having a simple structure and easy design, it is optimal depending on the wavelength? Of the radio wave radiated inside the test box body 510. Since the radio wave absorber 530 having the radio wave absorption capability can be designed, the radio wave radiated from the inside of the test box body 510 can be more effectively absorbed.

도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면[보호막(533)의 표면. 도 17의 (a) 참조]을 덮도록 형성되어 있다. 수지막(540)을 형성하는 수지는, 밝은 색을 나타내는 동시에, 전파를 투과시키는 수지이면 특별히 한정되는 것은 아니다. 이와 같은 수지막(540)을 구비함으로써, 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.As shown in FIGS. 13-15, the resin film 540 is the surface of the electromagnetic wave absorber 530 (the surface of the protective film 533). 17 (a) reference]. Resin which forms the resin film 540 will not be specifically limited if it is a resin which shows bright color and transmits a radio wave. By providing such a resin film 540, since the inside of the test box main body 510 becomes bright, the electronic device P inside the test box main body 510 can be visually confirmed satisfactorily.

여기서, 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계(JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색을 말한다. 구체적으로는, 예를 들어 백색, 황색, 옅은 황색, 물색, 옅은 녹색, 황녹색, 주황색, 옅은 주황색 등을 들 수 있다. 특히, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도에 관해서는, 8.5 내지 10.0의 범위에 있는 색이 바람직하고, 9.0 내지 10.0의 범위에 있는 색이 보다 바람직하다.Here, bright color means the color whose brightness prescribed | regulated to Munsell colorimeter (JIS Z8721) exists in the range of 8.0-10.0. Specifically, white, yellow, pale yellow, light blue, pale green, yellow green, orange, pale orange, etc. are mentioned, for example. In particular, the brightness in the Munsell color system is preferably in the range of 8.5 to 10.0, and more preferably in the range of 9.0 to 10.0.

또한, 전파 흡수체(530)의 표면에 밝은 색의 도료를 단순히 도포하는 것은 바람직하지 않다. 즉, 전파 흡수체(530)의 표면에 도료를 도포하면, 도료에 포함되는 성분이나 수분 등에 따라, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값이 변화되어 버려, 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 일치하지 않게 된다. 이것에 의해, 본래 전파를 투과시켜야 할 전파 흡수체(530)의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 전파의 공진 현상이 발생하므로 바람직하지 않다.In addition, it is not preferable to simply apply a bright paint on the surface of the radio wave absorber 530. That is, when the coating material is applied to the surface of the radio wave absorber 530, the surface resistance value of the radio wave absorber 530 changes according to the components, moisture, and the like contained in the paint, and does not match the impedance of the free space (376.7Ω). Will not. This is undesirable because the reflection of the radio waves occurs on the surface of the radio wave absorber 530, which should originally transmit radio waves, and the resonance phenomenon of radio waves occurs inside the test box body 510.

그러나, 폴리우레탄계의 수지계 도료, 폴리에스테르계의 수지계 도료나 와니 스계 도료 등의 절연성이 우수한 도료를 사용하면, 전파의 반사를 억제하는 것이 가능하다.However, the use of paints having excellent insulation properties such as polyurethane resin paints, polyester resin paints and varnish paints can suppress reflection of radio waves.

수지막(540)을 형성하는 수지로서는, 밝은 색을 나타내는 수지로서, 예를 들어 테프론(등록 상표), PVC, PE, 폴리프로필렌(PP), 폴리스티렌(PS), PET, POM, 폴리카보네이트(PC), 폴리아미드(PA), 폴리페닐렌에테르(PPE), 폴리이미드(PI) 등을 사용할 수 있다.As resin which forms the resin film 540, it is resin showing a bright color, for example, Teflon (trademark), PVC, PE, polypropylene (PP), polystyrene (PS), PET, POM, polycarbonate (PC ), Polyamide (PA), polyphenylene ether (PPE), polyimide (PI) and the like can be used.

또한, 그 자체는 밝은 색을 나타내지 않는 수지라도, 밝은 색의 안료를 포함함으로써 밝은 색을 나타내게 되는 수지이면 사용할 수 있다. 밝은 색의 안료로서는, 예를 들어 이산화티탄(백색), 황산바륨(백색), 산화철(황색), 황연(황색), 군청(청색), 감청(청색) 등을 들 수 있고, 이들을 2개 이상 혼합하여 사용해도 좋다. 이와 같은 안료를 포함함으로써 사용할 수 있는 수지로서는, 예를 들어 PVC, PE, PP, PS, PET, POM, PC, PA, PPE, PI 등을 들 수 있다.Moreover, even if it does not show itself a bright color, it can use if it is resin which will show a bright color by including a bright pigment. Examples of the bright pigment include titanium dioxide (white), barium sulfate (white), iron oxide (yellow), sulfur lead (yellow), ultramarine blue (blue), royal blue (blue), and the like. You may mix and use. As resin which can be used by including such a pigment, PVC, PE, PP, PS, PET, POM, PC, PA, PPE, PI etc. are mentioned, for example.

이것에 따르면, 밝은 색을 나타내는 수지뿐만 아니라, 예를 들어 투명 수지 등이라도, 밝은 색의 안료를 포함시킴으로써 사용하는 것이 가능해지므로, 수지막(540)의 원료로 되는 수지를 폭넓게 선택할 수 있다.According to this, since it becomes possible to use not only resin which shows a bright color, but also transparent resin etc. by including a pigment of bright color, resin used as a raw material of the resin film 540 can be selected widely.

또한, 상기한 밝은 색을 나타내는 수지나 밝은 색의 안료를 포함하는 수지 중, 백색(예를 들어, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 9.5인 것)을 나타내는 수지 또는 백색 안료를 포함하는 수지를 사용하는 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부를 적절하게 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 또한, 안료 는 백색 안료 이외에 형광 안료라도 좋다. 형광 안료는, 자외선을 조사함으로써 전자가 여기되고, 이 전자가 기저 상태로 복귀될 때에 특정 파장의 가시광을 출발하는 안료이다. 형광 안료 중 무기 형광 안료로서, 예를 들어 황화아연, 규산아연, 황화칼슘, 황화스트론튬, 텅스텐산칼슘, 인산칼슘 등을 들 수 있다. 이와 같이 형광 안료를 사용함으로써, 명도가 증대되어, 시험 상자 본체(510)의 내부의 육안으로 확인성을 높일 수 있다.Moreover, resin which shows white (for example, the thing prescribed | regulated by Munsell color system is 9.5) or resin containing a white pigment is used among resin which shows the above-mentioned bright color or resin containing a light-colored pigment. It is desirable to. According to this, since the inside of the test box main body 510 can be appropriately brightened, the electronic device P inside the test box main body 510 can be visually confirmed favorably. The pigment may be a fluorescent pigment in addition to the white pigment. A fluorescent pigment is a pigment which starts an visible light of a specific wavelength when an electron is excited by irradiating an ultraviolet-ray, and this electron returns to a ground state. As an inorganic fluorescent pigment among fluorescent pigments, zinc sulfide, zinc silicate, calcium sulfide, strontium sulfide, calcium tungstate, calcium phosphate, etc. are mentioned, for example. By using the fluorescent pigment in this way, the brightness is increased, and visual confirmation inside the test box body 510 can be improved.

이와 같은 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면에 핀이나 나사 등으로 고정되어 있다(도시하지 않음). 여기서, 수지막(540)을 전파 흡수체(530)의 표면에 접착제로 고정하면, 접착제에 포함되는 성분이나 수분 등에 의해, 전파 흡수체(530)의 표면에 도료를 도포한 경우와 마찬가지로, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값이 변화되어 버려, 본래 전파를 투과시키는 것인 전파 흡수체(530)의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나고, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 전파의 공진 현상이 발생하므로 바람직하지 않다.Such a resin film 540 is fixed to the surface of the radio wave absorber 530 with a pin, a screw, or the like (not shown). Here, when the resin film 540 is fixed to the surface of the electromagnetic wave absorber 530 with an adhesive, the electromagnetic wave absorber ( Since the surface resistance of 530 changes, the reflection of radio waves occurs on the surface of the radio wave absorber 530 which originally transmits radio waves, and the resonance phenomenon of radio waves occurs inside the test box body 510. Not.

그러나, 이 전파의 공진 현상은, 예를 들어 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하거나, 또한 접착 방법에 대해, 예를 들어 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여 접착 면적을 최소한으로 억제하도록 하면, 전파 반사를 억제할 수 있어, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연막을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다.However, the resonance phenomenon of this radio wave is designed using an adhesive having excellent insulation, such as a thermoplastic adhesive, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive, or the like, and for the bonding method, for example, bonding an insulating film to a spot. When the adhesion area is reduced to a minimum, the reflection of the radio wave can be suppressed, and the insulating film can be fixed to the surface of the radio wave absorber with little damage to the radio wave absorption characteristics of the radio wave absorber.

본 실시 형태에서는, 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면에 핀이나 나 사 등으로 고정된다. 이것에 따르면, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값을 변화시키는 일이 없기 때문에, 전파 흡수체(530)의 성능을 충분히 발휘시킬 수 있다. 또한, 핀이나 나사 등을 금속제로 한 경우, 그 헤드부에서 전파가 반사되는 경우가 있으므로, 핀이나 나사 등의 헤드부에 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 장착하거나, 핀이나 나사를 절연성의 재료(예를 들어, 수지 등)로 형성하는 것이 바람직하다.In the present embodiment, the resin film 540 is fixed to the surface of the radio wave absorber 530 with pins, screws, or the like. According to this, since the surface resistance value of the radio wave absorber 530 is not changed, the performance of the radio wave absorber 530 can be fully exhibited. In the case where the pin, screw, or the like is made of metal, radio waves may be reflected from the head portion. Therefore, a radio wave absorbing sheet having a radio wave absorption property is attached to the head portion of the pin or screw, or the pin or screw is made of an insulating material. It is preferable to form with (for example, resin).

수지막(540)은, 상기한 전파 흡수체(530)의 보호막(533)[도 17의 (a) 참조]을 겸해도 좋다. 즉, 전파 흡수체(530)는, 도 17의 (b)에 도시한 바와 같이, 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 표면(내주면)에 배치되는 스페이서(531)와, 또한 그 표면에 배치되는 저항막 시트(532)와, 또한 그 표면에 배치되고 저항막 시트(532)를 보호하는 동시에, 밝은 색을 나타내는 수지막(540)을 구비하는 구성이라도 좋다. 이것에 따르면, 전파 흡수체(530)의 보호막(533)의 표면에, 또한 수지막(540)을 고정할 필요가 없어져, 시험 상자 본체(510)의 구조를 간략화할 수 있는 동시에, 재료 비용이나 제조 비용을 억제할 수 있다.The resin film 540 may also serve as the protective film 533 (see FIG. 17A) of the radio wave absorber 530. That is, as shown in FIG. 17B, the radio wave absorber 530 is disposed on the spacer 531 disposed on the surface (inner circumferential surface) of the panel 511a (or the panel 512a), and on the surface thereof. The structure may be provided with the resistive film sheet 532 arrange | positioned, and also the resin film 540 which is arrange | positioned on the surface, protects the resistive film sheet 532, and exhibits a bright color. According to this, it is not necessary to fix the resin film 540 on the surface of the protective film 533 of the radio wave absorber 530, and the structure of the test box main body 510 can be simplified, and at the same time material cost and manufacturing The cost can be kept down.

LED(발광 다이오드) 램프(550)는, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추기 위한 조명이고, 도 14, 도 15에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 상벽에 설치되어 있다. 이것에 따르면, 예를 들어 전자 기기(P)를 시험하는 동안, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비춤으로써, 더 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.The LED (light emitting diode) lamp 550 is illumination for illuminating the inside of the test box body 510, and is provided on the upper wall of the housing 511 as shown in FIGS. 14 and 15. According to this, since the inside of the test box main body 510 can be made brighter, for example, during the test of the electronic device P, the electronic device P inside the test box main body 510 can be made brighter. It can be confirmed more visually.

LED 램프(550)는, 형광등과 달리, 점멸시에 있어서의 노이즈가 거의 발생하 지 않기 때문에, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행하는 것이 가능해지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추는 조명으로서 적절하게 사용할 수 있다.Unlike the fluorescent lamp, since the LED lamp 550 hardly generates noise at the time of blinking, it is possible to precisely test the electronic device P, so that the illumination illuminating the inside of the test box main body 510. It can be used suitably as.

또한, LED 램프(550)의 장착 위치나 개수, 배치 등은 적절하게 설정할 수 있고, 본 실시 형태의 구성에 한정되는 것은 아니다. 또한, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추는 조명은, LED 램프에 한정되지 않고, 예를 들어 할로겐 램프나 백열등 등이라도 좋다.In addition, the mounting position, number, arrangement | positioning, etc. of the LED lamp 550 can be set suitably, It is not limited to the structure of this embodiment. In addition, the illumination which illuminates the inside of the test box main body 510 is not limited to an LED lamp, For example, a halogen lamp, an incandescent lamp, etc. may be sufficient.

안테나(560)는, 전자 기기(P)와의 사이에서 전파를 주고받기 위한 안테나이고, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 측벽에 고정된 커넥터(561)에, 안테나용 도파관(562)을 개재하여 설치되어 있다. 안테나(560)에는, 케이블(도시하지 않음)의 일단부가 접속되어 있고, 이 케이블(도시하지 않음)은, 안테나용 도파관(562)을 통해 시험 상자 본체(510)의 외부로 인출되고, 그 타단부가 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 접속되어 있다.The antenna 560 is an antenna for transmitting and receiving radio waves to and from the electronic device P. As shown in FIGS. 13 to 15, the antenna 560 is connected to the connector 561 fixed to the side wall of the housing 511. It is provided through the waveguide 562. One end of a cable (not shown) is connected to the antenna 560, and the cable (not shown) is led out to the outside of the test box body 510 through the antenna waveguide 562. The end is connected to a radio wave transmitting and receiving unit (not shown).

전파 송수신 유닛(도시하지 않음)은, 안테나(560)에 전파를 방사시키거나, 그 전파의 주파수 대역이나 출력 등을 제어하거나, 안테나(560)가 수신한 전자 기기(P)로부터의 전파를 측정하는 기능을 갖는다.An electric wave transmission / reception unit (not shown) radiates an electric wave to the antenna 560, controls a frequency band or an output of the electric wave, or measures an electric wave from the electronic device P received by the antenna 560. Has the function to

커넥터(561)는, 안테나용 도파관(562)을 고정하기 위한 것이고, 하우징(511)의 측벽에 고정한 상태로 설치되어 있다. 이와 같은 커넥터(561)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(562)을 회전시키고, 안테나(560)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(561)를 체결하여 안테나용 도파관(562)을 다시 고정함으로써, 안테나(560)의 방향을 바꿀 수 있도록 되어 있다.The connector 561 is for fixing the waveguide 562 for antennas, and is provided in a state of being fixed to the side wall of the housing 511. The connector 561 is loosened to rotate the antenna waveguide 562, and the direction of the antenna 560 is changed. Then, the connector 561 is tightened to fix the antenna waveguide 562 again so that the antenna 560 is rotated. You can change the direction of).

이것에 의해, 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)로부터 방사되는 전파의 편파면이, 평행 또는 수직으로 되도록 안테나(560)의 축을 회전 조정할 수 있다.As a result, the antenna 560 is arranged such that the polarization plane of the radio wave radiated from the antenna 560 and the polarization plane of the radio wave radiated from the antenna Pa (see FIG. 14) of the electronic device P are parallel or vertical. The axis of rotation can be adjusted.

또한, 편파면이라 함은, 전자파에 있어서 전계의 물결의 진동하는 면을 말하고, 이것이 일정한 평면 형상에 있는 전자파를 직선 편파라 한다. 통상의 안테나로부터 방사되는 전파는 직선 편파이다.In addition, a polarization surface means the surface which vibrates the wave of an electric field in an electromagnetic wave, and this electromagnetic wave in a fixed planar shape is called linear polarization. Radio waves radiated from a conventional antenna are linearly polarized waves.

커넥터(561)는, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 그 좌우(수평 방향)에 별도(예비)의 커넥터(561')를 설치해도 좋다. 이것에 의해, 원하는 위치에 안테나용 도파관(562)을 교체할 수 있으므로, 원하는 위치에 안테나(560)를 배치할 수 있다. 또한, 이와 같은 커넥터(561')는, 커넥터(561)의 상하(수직 방향)에 설치해도 좋고, 커넥터(561)의 좌우 상하로 2개 이상 설치해도 좋다.As shown in FIGS. 13 and 15, the connector 561 may be provided with a connector 561 ′ separately (preliminary) on its left and right (horizontal directions). Thereby, since the waveguide 562 for antennas can be replaced in a desired position, the antenna 560 can be arrange | positioned in a desired position. In addition, these connectors 561 'may be provided in the up-and-down (vertical direction) of the connector 561, and may be provided 2 or more in the left and right up-down of the connector 561. As shown in FIG.

안테나용 도파관(562)은, 원통 형상 또한 L자 형상으로 굴곡한, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금 등으로 형성된 금속제의 도파관이고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 안테나용 도파관(562)은, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하고 있고, 그 중공부(내부)에는, 안테나(560)에 접속된 케이블(도시하지 않음)이 배선되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(562)의 선단부에는, 직사각 형상의 접지 플레이트(563)가 고정되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(562)의 단면은 원형에 한정되지 않고, 예를 들어 다각형이라도 좋다.The antenna waveguide 562 is a metal waveguide formed by, for example, aluminum or an aluminum alloy, which is bent in a cylindrical shape or an L shape, and has shielding of radio waves. The antenna waveguide 562 communicates with the outside of the test box main body 510, and a cable (not shown) connected to the antenna 560 is wired to the hollow portion (inside). Further, a rectangular ground plate 563 is fixed to the tip of the antenna waveguide 562. In addition, the cross section of the waveguide 562 for antennas is not limited to circular, For example, it may be a polygon.

안테나용 도파관(562)의 사양은, 그 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 안테나용 도파관(562)의 내경 및 길이는, 소정 파장보다도 긴 파장의 전파가, 그 내부를 전달 운반하지 않도록 설정되어 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.The specification of the waveguide 562 for antennas is set based on the wavelength of the radio wave which does not transmit and convey the inside. Specifically, the inner diameter and the length of the antenna waveguide 562 are set so that radio waves of a wavelength longer than a predetermined wavelength do not transmit and carry the inside thereof. Thereby, the shielding of the radio wave of the test box main body 510 can be maintained suitably.

또한, 일반적으로 도파관은, 그 개구부의 형상과 치수(길이)가 동일하면, 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아진다. 또한, 도파관의 개구부의 형상에도 의존하나, 개구부의 면적이 작아질수록, 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수(소정의 주파수)가 높아진다.In general, the waveguide has the same shape and dimensions (length) as the opening, and the longer the waveguide, the higher the shielding performance of radio waves. In addition, although depending on the shape of the opening of the waveguide, the smaller the area of the opening, the higher the limit frequency (predetermined frequency) of the radio waves capable of shielding the waveguide.

또한, 일반적으로 안테나를 금속 물체에 근접하여 설치하면 금속 물체에 와전류가 흘러 전파의 재방사 등이 일어나고, 시험 제공체에 대해 적절하게 방사된 전파에 간섭하여 영향을 미치는 일이 있다. 따라서, 도 15에 도시한 바와 같이, 안테나(560)의 근방의 하우징(511)의 측벽에 자성체 시트(564)를 설치하는 것이 바람직하다[안테나(560)는, 자성체 시트(564)와 전자 기기(P) 사이에 위치하게 됨]. 이것에 의해, 상기한 바와 같은 와전류에 의한 전파의 재방사 등의 영향을 저감할 수 있다.In general, when the antenna is installed in close proximity to a metal object, eddy currents flow through the metal object to cause reradiation of radio waves, and the interference may be affected by interference with appropriately radiated radio waves to the test provider. Therefore, as shown in FIG. 15, it is preferable to provide the magnetic sheet 564 on the side wall of the housing 511 near the antenna 560 (the antenna 560 includes the magnetic sheet 564 and the electronic device). Between (P)]. Thereby, the influence of re-emission of radio waves by the eddy current as described above can be reduced.

EMI(Electro Magnetic Interference : 전자기 방해 또는 전자기 간섭) 덕트(570)는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기(P) 등에 접속되는 케이블(601)(도 13 참조)을 하우징(511)의 외부로부터 내부에 삽입 통과하는 덕트이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(571)을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정되어 있다.Electromagnetic Interference (EMI) Duct 570 prevents electromagnetic interference and simultaneously connects a cable 601 (see FIG. 13) to the electronic device P or the like from the outside of the housing 511. It is a duct inserted inside, and is fixed to the back surface of the housing 511 via the gasket 571 which has insulation resistance, as shown in FIG.

이것에 의해, EMI 덕트(570)를 개재하여, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 내부에 케이블(601)을 배선할 수 있는 동시에, 덕트의 도파관으로서의 작용(소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않음)에 의해 케이블(601)의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.As a result, the cable 601 can be wired from the outside to the inside of the test box main body 510 via the EMI duct 570, while also acting as a waveguide of the duct (transmitting a radio wave having a wavelength longer than a predetermined wavelength). Radio wave to be intruded from the insertion passage portion of the cable 601 can be shielded, so that the shielding of the radio wave of the test box body 510 can be properly maintained.

또한, 도 13에 도시한 바와 같이, 케이블(601)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(570)의 내부를 통과하도록, 케이블(601)을 배선함으로써, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 13, electromagnetic interference is prevented by wiring the cable 601 such that a predetermined length (for example, 100 mm or more) of the cable 601 passes through the inside of the EMI duct 570. It can prevent appropriately.

또한, 케이블(601)에는, 도 13에 도시한 바와 같이, EMI 덕트(570)의 내부를 통과하는 부분 및 소정의 전후 부분의 외주면에 케이블(601)의 내부를 도통하는 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체(602)가 피복되어 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등의 EMI 테이프가, 케이블(601)에 소정의 길이(예를 들어, 300㎜ 이상)로 권취되어 있다. 이것에 의해, 케이블(601)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제할 수 있으므로, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 시험 유닛(600)에서 고정밀도로 제어ㆍ측정할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 13, the cable 601 includes a noise absorber that absorbs noise that conducts the inside of the cable 601 to the outer circumferential surface of the portion passing through the inside of the EMI duct 570 and the predetermined front and rear portions. 602 is covered. Specifically, for example, an EMI tape such as Lumidion (registered trademark) (Toyo Service Co., Ltd.) is wound around the cable 601 at a predetermined length (for example, 300 mm or more). As a result, the copying and transmission and transportation of noise from the cable 601 can be suppressed, and therefore, the test unit 600 can control and measure the radio waves transmitted and received by the electronic device P with high accuracy.

이와 같은 EMI 덕트(570)는 다이캐스트제이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 케이블(601)이 통과하는 측[하우징(511)의 측]에 복수의 오목홈(572)이 형성되어 있다. 이 오목홈(572)에 케이블(601)을 통과시킴으로서, EMI 덕트(570)의 내부에서 케이블(601)이 상하 방향으로 이동하는 것을 방지하는 동시에, 케이블(601)을 정렬시킬 수 있다. 또한, EMI 덕트(570)에 복수의 케이블(601)을 통과시킨 경우, 각 케이블 사이의 공간이 오목홈(572)의 측벽부(금속)에 의해 메워지므로, 시험 상 자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 각 케이블을 평행하게 배선할 수 있으므로, 예를 들어 각 케이블에 일정하게 접촉하는 접지 등을 장착하는 경우에는, 그 장착이 용이해진다.Such an EMI duct 570 is made of a die cast, and as shown in FIG. 15, a plurality of concave grooves 572 are formed on the side (the side of the housing 511) through which the cable 601 passes. By passing the cable 601 through the concave groove 572, the cable 601 can be prevented from moving up and down inside the EMI duct 570, and the cable 601 can be aligned. In addition, when a plurality of cables 601 are passed through the EMI duct 570, the space between the cables is filled by the side wall portion (metal) of the concave groove 572, so that the propagation of the test box body 510 is performed. Can be appropriately maintained. Moreover, since each cable can be wired in parallel, for example, when attaching the ground etc. which contact each cable uniformly, the attachment becomes easy.

벌집 필터(580)는, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(581)을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정되어 있다. 도 18의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이다.The honeycomb filter 580 is a filter for supply / exhaust that communicates with the outside of the test box main body 510 and shields radio waves from entering the outside of the test box main body 510, and is shown in FIG. 15. As described above, the gasket 581 having insulation resistance is fixed to the rear surface of the housing 511. 18A is a perspective view of a honeycomb filter.

더 설명하면 벌집 필터(580)는, 도 18의 (a)에 도시한 바와 같이, 정면에서 보아 정육각 형상인 복수의 가는 구멍(582)을 갖는 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 벌집체로서 형성되고, 이 복수의 가는 구멍(582)을 통해, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 가는 구멍(582)의 형상은 정육각형에 한정되지 않고, 예를 들어 원형이나 사각형 등이라도 좋다.More specifically, the honeycomb filter 580 is made of metal (eg, made of aluminum or aluminum alloy) having a plurality of thin holes 582 having a regular hexagonal shape when viewed from the front, as shown in Fig. 18A. And the like, and through the plurality of thin holes 582, the flow of air inside and outside of the test box body 510 is ensured, and radiated from, for example, the electronic device P or the like. The heat can be exhausted. The shape of the thin hole 582 is not limited to a regular hexagon, but may be, for example, circular or rectangular.

또한, 가는 구멍(582)은, 도파관으로서의 기능을 구비하는 둘레벽(583)에 둘러싸여져 있으므로, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않기 때문에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 배면에 형성되는 관통 구멍(511b)(도 15 참조)의 개구 직경, 벌집 필터(580)의 길이[둘레벽(583)으로 이루 어지는 도파관의 길이), 및 가는 구멍(582)의 개구 직경(정육각형의 대향하는 두 변 사이의 거리)은, 벌집 필터(580)의 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정된다.In addition, since the thin holes 582 are surrounded by the peripheral wall 583 having a function as a waveguide, the thin holes 582 are not intended to penetrate from outside of the test box body 510 because they do not transmit and carry radio waves of a wavelength longer than a predetermined wavelength. Can effectively shield radio waves. In addition, the waveguide formed by the opening diameter of the through hole 511b (see FIG. 15) formed on the rear surface of the housing 511 (test box body 510) and the length of the honeycomb filter 580 (a circumferential wall 583). Length) and the aperture diameter (distance between two opposite sides of the regular hexagon) of the thin hole 582 are set based on the wavelength of the radio wave which does not transfer and convey the inside of the honeycomb filter 580.

또한, 상기한 벌집 필터(580) 대신에, 도 18의 (b)에 도시한 바와 같은 메쉬 필터(585)를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 도 18의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.Instead of the honeycomb filter 580 described above, a mesh filter 585 as shown in FIG. 18B may be provided. 18B is a perspective view illustrating a mesh filter.

메쉬 필터(585)는, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 벌집 필터와 마찬가지로, 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정된다(도 15 참조).The mesh filter 585 is a filter for supply / exhaust that communicates the outside and the inside of the test box body 510 and shields radio waves to intrude from the outside of the test box body 510, and like the honeycomb filter, It is fixed to the back surface of the housing 511 via the gasket which has insulation resistance (refer FIG. 15).

메쉬 필터(585)는, 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 메쉬가 복수 겹쳐진 메쉬 적층체이고, 이 메쉬를 통해, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 금속제의 메쉬 적층체의 내부에서는, 전파의 회절 손실이 일어나므로, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.The mesh filter 585 is a mesh laminate in which a plurality of meshes of metal (for example, made of aluminum, made of aluminum alloy, etc.) are stacked, and through this mesh, the air flows outside and inside the test box body 510. Is secured, and the heat radiated from the electronic device P or the like can be exhausted, for example. In addition, since diffraction loss of radio waves occurs inside the metal mesh laminate, radio waves intended to intrude from the outside of the test box body 510 can be effectively shielded.

장착 유닛(590)은, 전자 기기(P)를 하우징(511)의 내부에 고정하기 위한 유닛이고, 도 13, 도 14에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 바닥면 전체면을 덮도록 설치된 고정판(591)과, 이 고정판(591) 상에 착탈 가능하게 고정되어 전자 기기(P)를 보유 지지ㆍ고정하는 보유 지지 고정 지그(592)로 구성되어 있다.The mounting unit 590 is a unit for fixing the electronic device P to the inside of the housing 511. As shown in FIGS. 13 and 14, the mounting unit 590 is provided to cover the entire bottom surface of the housing 511. The holding plate 591 and the holding fixing jig 592 which are detachably fixed to the holding plate 591 and hold | maintain and fix the electronic device P are comprised.

고정판(591)은, 도 13에 도시한 바와 같이, 평면에서 보아 직사각 형상인 판재이고, 보유 지지 고정 지그(592)를 고정하기 위한 복수의 볼트 구멍(591a)이 형성되어 있다. 볼트 구멍(591a)은, 보유 지지 고정 지그(592)의 고정 위치를 원하는 위치로 바꿀 수 있도록, 하우징(511)의 정면에서 보아 좌우 방향으로 병렬하여 복수 설치되어 있다. 또한, 고정판(591) 상에는 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 설치해도 좋고, 고정판(591)을 전파 흡수성을 갖는 부재로 형성해도 좋다.As shown in FIG. 13, the fixing plate 591 is a plate member having a rectangular shape in plan view, and a plurality of bolt holes 591a for fixing the holding fixing jig 592 are formed. The bolt hole 591a is provided in multiple numbers in parallel in the left-right direction from the front of the housing 511 so that the fixed position of the holding fixing jig 592 can be changed into a desired position. In addition, on the stationary plate 591, a radio wave absorption sheet having radio wave absorptivity may be provided, or the stationary plate 591 may be formed of a member having radio wave absorptivity.

보유 지지 고정 지그(592)는, 도 14에 도시한 바와 같이, 측면에서 보아 L자 형상인 부재이고, 바닥부에 볼트(B)를 나사 삽입하기 위한 볼트 구멍(592a)이 형성되어 있다. 이 볼트 구멍(592a)을 통해, 고정판(591)의 볼트 구멍(591a)에 볼트(B)가 나사 삽입됨으로써, 보유 지지 고정 지그(592)가 고정판(591)에 고정된다. 보유 지지 고정 지그(592)에는 장착판(593)과 고정구(594)가 장착되어 있다.As shown in Fig. 14, the holding fixing jig 592 is an L-shaped member viewed from the side, and a bolt hole 592a for screwing the bolt B in the bottom is formed. Through the bolt hole 592a, the bolt B is screwed into the bolt hole 591a of the fixing plate 591, whereby the holding fixing jig 592 is fixed to the fixing plate 591. The holding plate 593 and the fastener 594 are attached to the holding fixing jig 592.

장착판(593)은 장척 형상의 판재(도 13 참조)이고, 보유 지지 고정 지그(592)에 고정되어 있다. 또한, 고정구(594)는 전자 기기(P)를 보유 지지하는 부재이고, 전자 기기(P)를 삽입 통과하여 보유 지지하는 삽입 통과부(594a)가 형성되어 있다. 이 고정구(594)는, 장착판(593)에 착탈 가능하게 장착되어 있고, 소망에 따라서, 전자 기기(P)의 장착 방향이나 장착 위치를 바꿀 수 있도록 되어 있다.The mounting plate 593 is a long plate (see FIG. 13), and is fixed to the holding fixing jig 592. The fastener 594 is a member that holds the electronic device P, and an insertion passage portion 594a that inserts and holds the electronic device P is formed. The fastener 594 is detachably attached to the mounting plate 593, and the mounting direction and the mounting position of the electronic device P can be changed as desired.

시험 유닛(600)(도 13 참조)은, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 제어ㆍ측정하는 유닛, 즉 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정하는 동시에, 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 동작을 시킬 수 있는 유닛이다.The test unit 600 (refer to FIG. 13) detects a reception state of the radio wave of the electronic device P, that is, a unit for controlling and measuring the radio waves transmitted and received by the electronic device P, and the electronic device P returns to normal. It is a unit that can determine whether or not it is operating and transmit various instructions to the electronic device P to operate.

이와 같은 시험 유닛(600)은, 케이블(601)을 통해 시험 대상인 전자 기기(P)에 접속 가능하게 되어 있다. 구체적으로는, 케이블(601)의 일단부가 시험 유닛(600)에 접속되고, 타단부가 EMI 덕트(570)를 통해 시험 상자 본체(510)의 내부로 인출되고, 전자 기기(P)에 접속되어 있다. 또한, 케이블(601)의 타단부에는, 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속하기 위한 커넥터(도시하지 않음)가 설치되어 있다.Such a test unit 600 can be connected to the electronic device P which is a test target through the cable 601. Specifically, one end of the cable 601 is connected to the test unit 600, the other end is drawn out into the test box body 510 through the EMI duct 570, and is connected to the electronic device P. have. At the other end of the cable 601, a connector (not shown) for detachably connecting to the electronic device P is provided.

다음에, 이상과 같이 구성되는 전자 기기용 시험 상자(501)의 동작을 설명하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 관한 전자 기기 시험 방법에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.Next, the electronic device test method according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings, while explaining the operation of the test box 501 for electronic devices configured as described above.

우선, 도 13 도시한 바와 같이, 도어(512)를 개방하고, 전자 기기(P)를 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 내부에 넣고, 장착 유닛(590)의 고정구(594)에 형성된 삽입 통과부(594a)(도 14 참조)에 삽입 통과하여, 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 내부에 고정한다. 다음에, 케이블(601)의 커넥터(도시하지 않음)를 전자 기기(P)에 접속한 후, 도어(512)를 폐쇄한다.First, as shown in FIG. 13, the door 512 is opened, the electronic device P is put inside the housing 511 (test box main body 510), and the fixture 594 of the mounting unit 590 is shown. It passes through the insertion passage part 594a (refer FIG. 14) formed in the inside, and is fixed to the inside of the housing 511 (test box main body 510). Next, after connecting the connector (not shown) of the cable 601 to the electronic device P, the door 512 is closed.

그리고, 예를 들어 시험 개시 스위치(도시하지 않음) 등을 온(ON)으로 함으로써, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)으로부터 안테나(560)에 전기 신호가 송신되고, 안테나(560)로부터 전파가 방사된다. 전자 기기(P)의 동작의 시험은, 안테나(560)로부터 전파를 방사하면서, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 시험 유닛(600)(도 13 참조)에서 검출함으로써 행해진다. 시험 유닛(600)에서는, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정한다.Then, for example, by turning on a test start switch (not shown) or the like, an electrical signal is transmitted from the radio wave transmission / reception unit (not shown) to the antenna 560, and radio waves are radiated from the antenna 560. do. The test of the operation of the electronic device P is performed by detecting the reception state of the radio wave of the electronic device P in the test unit 600 (see FIG. 13) while radiating the radio wave from the antenna 560. The test unit 600 detects the reception state of the radio wave of the electronic device P and determines whether the electronic device P is operating normally.

이때, 상기한 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)을 조작함으로써, 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 강도나 주파수 대역 등을 변화시켜 시험을 행할 수 있다.At this time, by operating the above-mentioned radio wave transmitting / receiving unit (not shown), the test can be performed by changing the intensity of the radio wave radiated from the antenna 560, the frequency band, or the like.

정상 상태라고 판정되면, 도어(512)를 개방하여 안테나(560)의 방향을 바꾼 후에, 도어(512)를 폐쇄하여 다른 편파면(수평파 및 수직파)에 대해 시험을 행할 수도 있다.If it is determined that the steady state, the door 512 is opened to change the direction of the antenna 560, then the door 512 may be closed to test other polarized planes (horizontal and vertical waves).

또한, 정상 상태라고 판정되면, 도어(512)를 개방하여 보유 지지 고정 지그(592)의 위치를 바꾸어 고정판(591)에 고정하고, 안테나(560)와의 거리를 바꾸어, 전자 기기(P)가 전파를 정상으로 수신할 수 있는지 여부의 시험을 행할 수도 있다.In addition, when it determines with being normal, the door 512 is opened, the position of the holding fixing jig 592 is changed, it is fixed to the fixing plate 591, the distance with the antenna 560 is changed, and the electronic device P propagates. A test may be made as to whether it can be received normally.

이상과 같은 전자 기기(P)의 시험의 모습은, 창(520)[글래스판(521)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(510)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다. 여기서, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자(501)는, 전파 흡수체(530)의 표면에 고정된 밝은 색의 수지막(540)에 의해 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 글래스판(521)의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 또한, 전자 기기용 시험 상자(501)는, LED 램프(550)에 의해 시험 상자 본체(510)의 내부를 비출 수 있으므로, 상기한 수지막(540)의 효과와 더불어 시험 상자 본 체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.Since the state of the test of the electronic device P as described above can visually check the inside of the test box body 510 from the outside through the window 520 (glass plate 521), for example, The presence or absence of the lighting of the incoming lamp of the electronic device P by the reception can be confirmed. Here, in the test box 501 for electronic apparatuses which concerns on this invention, since the inside of the test box main body 510 is brightened by the bright resin film 540 fixed to the surface of the electromagnetic wave absorber 530, a glass plate is used. Even when the transmittance | permeability with respect to visible light of 521 falls, the electronic device P inside the test box main body 510 can be visually confirmed favorably. In addition, since the test box 501 for an electronic device can illuminate the inside of the test box main body 510 by the LED lamp 550, the test box body 510 with the effect of the resin film 540 mentioned above. The electronic device P inside of can be visually confirmed better.

또한, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)와 안테나(560)의 거리는, 전자 기기(P)나 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상으로 되도록 설정하는 것이 바람직하고, 2λ 이상으로 되도록 설정하면 더 바람직하다. 이것에 의해, 원방 전자계의 영역에 전자 기기(P)의 안테나(Pa)를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정되는 위치에서 전자 기기(P)의 시험을 행할 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.The distance between the antenna Pa (see FIG. 14) of the electronic device P and the antenna 560 is set so as to be equal to or greater than the wavelength? Of the radio waves emitted from the electronic device P or the antenna 560. It is preferable to set it to 2 or more. This makes it possible to arrange the antenna Pa of the electronic device P in the region of the far-field electromagnetic field, and the electronic device P can be tested at a position where the electric field strength is stabilized. Therefore, the electronic device P The test of can be performed precisely.

여기서, 원방 전자계의 영역이라 함은, 파동 임피던스가 공간의 파동 임피던스(Z0)와 동등해지는 영역을 의미한다. 안테나(560)로부터 방사되는 전파는 이 영역에 있어서 평면파에 가까운 전달 운반을 한다.Here, the region of the far field means a region in which the wave impedance becomes equal to the wave impedance Z 0 of space. Radio waves radiated from the antenna 560 carry transfer propagation close to plane waves in this region.

이상이, 전자 기기용 시험 상자(501)의 일련의 동작 및 전자 기기 시험 방법이다.The above is a series of operation | movement of the test box 501 for electronic devices, and an electronic device test method.

이상과 같은 전자 기기용 시험 상자(501)에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전파 흡수체(530)의 표면에 수지막(540)을 구비하므로, 예를 들어 글래스판(521)에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판(521)의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판(521)의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.According to the test box 501 for electronic devices described above, since the resin film 540 is provided on the surface of the radio wave absorber 530 inside the test box main body 510, for example, ITO is applied to the glass plate 521. Since the inside of the test box body 510 becomes bright even when the film is formed in a film thickness or by forming ITO films on both surfaces of the glass plate 521, even when the transmittance to visible light of the glass plate 521 is lowered, the test box is brightened. The electronic device inside the main body 510 can be visually confirmed well.

또한, 전자 기기용 시험 상자(501)에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부에 전파 흡수체(530)를 구비하므로, 시험 중에, 예를 들어 전자 기기(P)의 안테나(Pa)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있기 때문에, 시험 상자 본체(510)의 내부에 있어서의 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.Moreover, according to the test box 501 for electronic devices, since the electromagnetic wave absorber 530 is provided in the inside of the test box main body 510, for example, the antenna Pa of the electronic device P or the antenna ( Since the radio wave radiated | emitted from 560 etc. can be absorbed effectively, the resonance phenomenon of the radio wave in the inside of the test box main body 510 can be prevented, and the test of the electronic device P can be performed precisely.

이상, 본 발명의 일 실시 형태에 대해 설명했으나, 본 발명의 실시 형태는 이것에 한정되는 것은 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하고, 예를 들어 이하와 같은 변경이 가능하다.As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, Embodiment of this invention is not limited to this. About a specific structure, it can change suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention, For example, the following changes are possible.

수지막(540)을, 발포 수지로 구성해도 좋다. 이와 같이 하면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 전파 흡수체의 표면에 고정된 발포 수지에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 즉, 발포 수지는, 내부에 기포를 포함하기 위해, 외부로부터의 가시광이 난반사되고, 무색 투명 수지를 기재로 하는 경우, 일반적으로 백색으로 된다. 따라서, 육안으로 확인성에 유효하다. 또한, 발포 스티롤 등의 수지판이면, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 발포 수지를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해진다. 또한, 발포 수지는 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.You may comprise the resin film 540 with foamed resin. In this way, even if the permeability to the visible light of the glass plate is lowered by forming an ITO film on the glass plate with a film thickness or by forming the ITO film on both sides of the glass plate, the test box is made of a foamed resin fixed to the surface of the radio wave absorber. Since the inside of the main body becomes bright, the electronic equipment inside the test box main body can be visually confirmed with good visual quality. That is, the foamed resin is generally white when visible light from the outside is diffusely reflected to contain bubbles inside, and when the colorless transparent resin is used as the base material. Therefore, it is effective for visual confirmation. Moreover, as long as it is resin plates, such as foamed styrol, the effect of being easy to process and handle can be acquired. In addition, it is possible to reduce the raw material cost by using the foamed resin as the insulating layer. In addition, since the foamed resin is light and easy to cut, can be easily processed and handled, and also has excellent workability, it is possible to lower the manufacturing cost of the test box body.

또한, 상기한 실시 형태에서는, 절연층을 수지막(540)으로 구성하고 있으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 절연층은, 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 구성해도 좋다. 종이는 화지(和紙)나 양지(洋紙) 등이 사용된다. 종이의 주성분은 셀룰로오스 등의 식물성 섬유로 구성되어 있다. 염료나 안료는, 상기한 실시 형태와 마찬가지로, 먼셀 표색계(JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색의 것을 사용한다. 구체적으로는, 예를 들어 백색, 황색, 옅은 황색, 물색, 옅은 녹색, 황녹색, 주황색, 옅은 주황색 등을 들 수 있다. 특히, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도에 관해서는, 8.5 내지 10.0의 범위에 있는 색이 바람직하고, 9.0 내지 10.0의 범위에 있는 색이 보다 바람직하다. 밝은 색의 염료는 식물성 염료가 사용되고, 종이에 스며들게 함으로써 착색되어 있다. 또한, 염료에는, 안트라퀴논(Anthraquinon)계의 합성 염료를 사용해도 좋다. 밝은 색의 안료는 종이의 표면에 인쇄되어, 밝은 색의 종이가 형성된다. 형광 안료 중 무기 형광 안료로서, 예를 들어 황화아연, 규산아연, 황화칼슘, 황화스트론튬, 텅스텐산칼슘, 인산칼슘 등이 사용 가능하다.In addition, although the insulating layer is comprised by the resin film 540 in above-mentioned embodiment, it is not limited to this. The insulating layer may be composed of a paper containing a bright dye or a paper on which a bright pigment is printed. Paper is made of Japanese paper or Western paper. The main component of the paper is composed of vegetable fibers such as cellulose. As the dye and the pigment, in the same manner as in the above-described embodiment, those having a color specified in the Munsell colorimeter (JIS Z8721) in the range of 8.0 to 10.0 are used. Specifically, white, yellow, pale yellow, light blue, pale green, yellow green, orange, pale orange, etc. are mentioned, for example. In particular, the brightness in the Munsell color system is preferably in the range of 8.5 to 10.0, and more preferably in the range of 9.0 to 10.0. The bright color dye is colored by using a vegetable dye and soaking in paper. As the dye, anthraquinon-based synthetic dyes may be used. Brightly colored pigments are printed on the surface of the paper to form brightly colored paper. Among the fluorescent pigments, for example, zinc sulfide, zinc silicate, calcium sulfide, strontium sulfide, calcium tungstate, calcium phosphate and the like can be used.

절연층은, 전파 흡수체의 표면과의 사이에 간극이 없도록 형성하는 것이 바람직하다. 따라서, 종이는 소정의 두께를 갖는 두꺼운 종이로 구성하는 것이 좋다. 또한, 종이는 전파 흡수체의 표면에 핀이나 나사 등으로 고정된다. 또한, 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하거나, 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여 접착 면적을 최소한으로 억제하거나 하도록 하면, 종이를 전파 흡수체의 표면에 접착제로 고정해 도 좋다. 이와 같이 하면, 전파 반사를 억제할 수 있어, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연층을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다. 또한, 종이로 이루어지는 절연막도, 수지막(540)과 마찬가지로, 보호막(533)의 표면에 설치해도 좋고, 보호막(533)을 겸해도 좋다.It is preferable to form an insulating layer so that there is no clearance gap with the surface of a radio wave absorber. Therefore, the paper is preferably composed of thick paper having a predetermined thickness. In addition, the paper is fixed to the surface of the radio wave absorber with pins, screws, or the like. In addition, if an adhesive such as a thermoplastic adhesive, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive, or the like having excellent insulating properties is used, or a design such as bonding an insulating film to a spot is devised to minimize the adhesive area, the paper is applied to the surface of the radio wave absorber. It may be fixed with an adhesive. By doing in this way, a radio wave reflection can be suppressed and it is possible to fix an insulating layer to the surface of a radio wave absorber, without damaging the radio wave absorption characteristic of a radio wave absorber. In addition, the insulating film made of paper may be provided on the surface of the protective film 533 similarly to the resin film 540 or may also serve as the protective film 533.

이와 같이, 절연층을, 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 구성한 경우에도, 상기한 실시 형태와 같은 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 경량이고 또한 절단이 용이한 종이를 사용한 것에 의해, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있다.Thus, also when the insulating layer is comprised by the paper containing a bright dye or the paper on which the bright pigment was printed, the effect similar to embodiment mentioned above can be acquired. In addition, by using a paper that is lightweight and easy to cut, processing and handling can be easily performed.

또한, 절연층은, 수지막이나 종이 이외에도, 소정의 절연 효과를 구비하고 있으면, 석고 보드, 타일 등의 세라믹스 혹은 유리로 구성해도 좋다. 세라믹스 원료의 구체예로서, 예를 들어 산화알루미늄(사파이어), 석영(수정), 산화규소(실리콘카바이트), 탄산칼슘 등을 들 수 있다. 이들 원료와 조제, 첨가제를 소정의 배합율로 배합하여 혼합한 후에, 물을 가하여 바인더와 함께 혼련하고, 성형기로 성형하여 건조 후, 고온으로 소결하여 세라믹스판을 제조한다. 유리판은 규사, 소다회, 석회석, 붕소, 수산화알루미늄 등의 분체 혼합물을 가스로에 삽입하여 1550℃에서 용해하고, 이 액체 상태의 유리를 플로트 버스라는 길고 가는 통로에서 용해한 주석 상에 흘려 냉각함으로써 제조된다. 이것에 특정의 천이 금속 원소를 첨가하여, 특정의 파장의 광만을 흡수시키는 색유리나, 표면 조도를 높게 하여, 유리 표면에 있어서 태양광을 산란시키는, 소위 간유리로 한 것도, 절연층으로 되는 절연판에 포함하는 것으로 한다.Moreover, in addition to a resin film and paper, an insulating layer may be comprised from ceramics, such as a gypsum board and a tile, or glass, if it has a predetermined insulation effect. As a specific example of a ceramic raw material, aluminum oxide (sapphire), quartz (crystal), silicon oxide (silicon carbide), calcium carbonate, etc. are mentioned, for example. After mixing and mixing these raw materials, preparations, and additives in a predetermined | prescribed compounding ratio, it mixes with a binder by adding water, shape | molding with a molding machine, drying, and sintering at high temperature, and manufacturing a ceramic plate. A glass plate is manufactured by inserting powder mixtures, such as silica sand, soda ash, limestone, boron, aluminum hydroxide, into a gas furnace, melt | dissolving at 1550 degreeC, and flowing this liquid glass on the melt melted in the long thin passage called a float bus, and manufacturing it. A colored glass which adds a specific transition metal element to this, absorbs only light of a specific wavelength, or a so-called liver glass that scatters sunlight on the glass surface by increasing the surface roughness, or an insulating plate serving as an insulating layer. It shall be included in.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)로서 휴대 전화를 도시하여 설명했으나, 본 발명의 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)는 휴대 전화에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 휴대 전화와 마찬가지로 전파의 주고받기를 행하는 PDA(Personal Digital Assistance)나 무선 LAN(Local Area Network) 기능을 구비하는 노트형의 퍼스널 컴퓨터 등이라도 좋다. 또한, 외부 전파의 영향을 받는 것이 바람직하지 않은 정밀 측정 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 외부에 소정값 이상의 전파를 방사하는 것이 바람직하지 않은 가전 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 이 경우, 장착 유닛(590)의 형상이나 사이즈 등, 또는 장착 유닛(590)을 구비하는지 여부에 대해서는, 시험 대상인 전자 기기에 따라서 적절하게 설정되는 것은 말할 것도 없다.In the above embodiment, the mobile telephone is illustrated and described as the electronic apparatus P. However, the electronic apparatus P to be tested in the present invention is not limited to the mobile telephone. For example, a PDA (Personal Digital Assistance) that transmits and receives radio waves and a notebook personal computer having a wireless LAN (Local Area Network) function may be used as a mobile phone. Moreover, the precision measuring apparatus, medical apparatus, etc. which are not preferable to be influenced by external radio waves may be sufficient. In addition, it may be a household electrical appliance, a medical apparatus, or the like, which is undesirable to radiate radio waves of a predetermined value or more to the outside. In this case, it goes without saying that the shape or size of the mounting unit 590, or whether the mounting unit 590 is provided is appropriately set according to the electronic device to be tested.

상기한 실시 형태에서는, 복수의 금속제의 패널(511a)을, 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 하우징(511)을 형성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 복수의 금속제의 패널을 볼트 등에 의해 조립 부착하여 형성하는 조립ㆍ분해 가능한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성의 경우, 복수의 금속제의 패널의 간극에 전파의 차폐성을 갖는 충전재를 개재시키는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 하우징(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 전파의 차폐성을 갖는 충전재로서는, 예를 들어 상하면의 적어도 한 쪽이 절연층(예를 들어, 종이, 접착층을 겸하는 점착 테이프 등)으로 절연된 저항 손실체(예를 들어, 카본 저항 시트, 금속 박막 저항 시트, 열선 차단 필름 등)를 갖는 전자기 차폐 접합용 시트체를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디 온(등록 상표) IR(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등을 사용할 수 있다.In the above embodiment, the housing 511 is formed by welding a plurality of metal panels 511a to a frame (not shown) serving as a skeleton, but the present invention is not limited thereto. It is good also as a structure which can be assembled and disassembled by which a panel is assembled by a bolt etc., and is formed. Moreover, in the case of such a structure, it is preferable to interpose the filler which has the shielding of an electric wave in the clearance gap of a some metal panel. Thereby, the shielding of the radio wave of the housing (test box main body) can be kept favorable. As a filler with shielding of radio waves, for example, at least one of the upper and lower surfaces is insulated with a lossy layer (for example, a carbon resistance sheet, a metal thin film) insulated with an insulating layer (for example, paper, an adhesive tape which also serves as an adhesive layer). A sheet body for electromagnetic shielding bonding which has a resistance sheet, a heat ray blocking film, etc.) can be used. Specifically, Lumidion (registered trademark) IR (Toyo Service Co., Ltd.) etc. can be used, for example.

상기한 실시 형태에서는, 하우징(511)을 금속제로 함으로써, 전파의 차폐성이나 강성 등을 높이는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 판재로 하우징을 형성해도 좋다.In the above embodiment, the housing 511 is made of metal to increase the shielding property, rigidity, or the like of the radio wave. However, the housing is not limited to this, and the housing may be formed of, for example, a plate having shielding of the radio wave.

상기한 실시 형태에서는, 도 12, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 도어(512)에 창(520)이 형성되어 있는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 시험 상자 본체(510)에 창(520)을 형성하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 도어나 창은 각각 복수 형성해도 좋다. 또한, 시험 상자 본체에 도어를 설치하지 않고, 창을 적절하게 개폐 가능한 구성으로 하여 전자 기기 등의 출입을 행해도 좋다.In the above-described embodiment, as shown in FIGS. 12, 13, and 15, the window 520 is formed in the door 512. However, the configuration is not limited to this, and the test box body 510 is provided. It is good also as a structure which forms the window 520. In addition, you may form a plurality of doors and windows, respectively. In addition, the window may be opened and closed appropriately without providing a door in the test box body.

상기한 실시 형태에서는, 전파 흡수체(530)를 λ/4형 전파 흡수체로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 내부에서 방사되는 전파의 특성에 따라서, 공지된 전파 흡수체를 널리 사용할 수 있다. 예를 들어, 저항성 전파 흡수체, 유전성 전파 흡수체, 자성 전파 흡수체, 그리고 이들을 조합한 전파 흡수체 등의 어느 것이라도 사용할 수 있고, 또한 단층형, 다층형의 어느 것이라도 좋다.In the above embodiment, the electromagnetic wave absorber 530 is a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber. However, the electromagnetic wave absorber 530 is not limited thereto, and a known electromagnetic wave absorber can be widely used depending on the characteristics of radio waves radiated from the inside. For example, any of a resistive radio wave absorber, a dielectric radio wave absorber, a magnetic wave absorber, and a radio wave absorber in combination thereof may be used, and any one of a single layer type and a multilayer type may be used.

구체적으로는, 예를 들어 (1) 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 측으로부터 차례로, 저항막 시트(임피던스 1088Ω), 스페이서(38㎜), 저항막 시트(임피던스 280Ω), 스페이서(38㎜), 보호막[알루미늄판(박)]을 구비하는 2종의 전파(880㎒ 주변 및 2050㎒ 주변)를 흡수 가능한 전파 흡수체, (2) 카본 분말이나 산화티탄 등의 화합물로 형성되는 유전성 전파 흡수 시트, (3) 페라이트나 카르보닐철 등의 화합물로 형성되는 자성 전파 흡수 시트, (4) 폴리우레탄 등의 수지와 자성체의 복합체로 형성되는 전파 흡수 시트, (5) 자성체와 저항체를 접합한 전파 흡수체[예를 들어, 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤)] 등의 어느 것이라도 사용할 수 있다.Specifically, for example, (1) A resistive film sheet (impedance 1088 ohms), a spacer 38 mm, a resistive film sheet (impedance 280 ohms), and a spacer (in order from the side of the panel 511a (or panel 512a)). 38 mm), a radio wave absorber capable of absorbing two kinds of radio waves (around 880 MHz and around 2050 MHz) provided with a protective film [aluminum plate (thin)], and (2) a dielectric wave formed from a compound such as carbon powder or titanium oxide. Absorption sheet, (3) Magnetic wave absorption sheet formed of compound such as ferrite or carbonyl iron, (4) Radio wave absorption sheet formed of composite of resin and magnetic material such as polyurethane, (5) Magnetic material and resistor Any one of a radio wave absorber (for example, Lumidion (registered trademark) (Toyo Service Co., Ltd.)) can be used.

또한, 전파 흡수체(530)의 표면은 평탄한 것(평판형)이 바람직하다. 이것에 따르면, 예를 들어 물결형이나 산형, 사각뿔형 등의 전파 흡수체를 구비하는 경우와 비교하여, 수지막(540)을 용이하게 형성할 수 있다. 또한, 시험 상자 본체(510)의 내부(용적)를 크게 하거나, 시험 상자 본체(510)의 사이즈를 작게 할 수 있다.In addition, the surface of the radio wave absorber 530 is preferably flat (flat type). According to this, the resin film 540 can be formed easily compared with the case where a wave absorber, such as a wave shape, a mountain shape, a square pyramid shape, etc. is provided. Moreover, the inside (volume) of the test box main body 510 can be enlarged, or the size of the test box main body 510 can be made small.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(560)의 회전 조정은, 커넥터(561)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(562)을 회전시키고, 안테나(560)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(561)를 체결하여 안테나용 도파관(562)[안테나(560)]을 다시 고정하는 수동으로 행하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 공지된 동력 기구나 제어 기구 등을 조합하여, 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.In the above-described embodiment, the adjustment of the rotation of the antenna 560 involves loosening the connector 561 to rotate the antenna waveguide 562, changing the direction of the antenna 560, and then tightening the connector 561 to antenna. Although the waveguide 562 (antenna 560) was manually fixed, the configuration is not limited thereto. For example, it is good also as a structure performed mechanically combining a well-known power mechanism, a control mechanism, etc.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(510)[하우징(511)]의 배면에 급배기용의 벌집 필터(580)[또는 메쉬 필터(585)]를 구비하는 구성으로 했으나, 급배기용의 필터는, 이들에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에, 소정 파장보다도 긴 전파를 전달 운반시키지 않는 도파관으로서 기능하도록 내경 및 길이(패널 두께)를 설정(설계)한 복수의 미세한 관통 구멍을 형성한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 복수의 미세한 관통 구멍을 구비하는 플레이트를, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 관통 구멍(도 15 참조)에 장착 프레임 및 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여 시험 상자 본체(510)의 내측으로부터 고정하는 구성으로 해도 좋다.In the above-mentioned embodiment, although the honeycomb filter 580 (or mesh filter 585) for air supply and exhaust was provided in the back of the test box main body 510 (housing 511), the filter for air supply and exhaust Is not limited to these. For example, a structure in which a plurality of fine through holes are formed on the back of the test box body (housing) in which the inner diameter and the length (panel thickness) are set (designed) to function as a waveguide that does not transmit and carry radio waves longer than a predetermined wavelength. You may make it. In addition, the test box body 510 includes a plate having such a plurality of fine through holes through a mounting frame and a gasket having insulation resistance in the through hole (see FIG. 15) formed on the back of the test box body (housing). It is good also as a structure fixed from the inside.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(510)[하우징(511)]의 배면에 하나의 급배기용의 필터[벌집 필터(580) 또는 메쉬 필터(585)]를 구비하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 흡기용과 배기용의 적어도 2개의 필터를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 모두 동종의 필터를 사용해도 좋고, 이종의 필터를 조합하여 사용해도 좋다. 또한, 배기용의 필터 또는 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 배기용의 관통 구멍에, 배기 팬(도시하지 않음)을 장착해도 좋다.In the above-mentioned embodiment, although it was set as the structure provided with one filter for supplying and exhausting (honeycomb filter 580 or mesh filter 585) in the back of the test box main body 510 (housing 511), It does not restrict | limit, For example, it is good also as a structure provided with the at least two filter for intake and exhaust. In this case, all of the same types of filters may be used, or different types of filters may be used in combination. Moreover, you may attach an exhaust fan (not shown) to the exhaust through-hole formed in the exhaust filter or the test box main body (housing).

상기한 실시 형태에서는, 고정구(594)가 장착판(593)에 착탈 가능하게 장착되는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 고정구가 장착판에 회전 가능하게 설치되는 구성으로 해도 좋다. 이 경우 고정구의 회전 조정은 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.In the above-described embodiment, the fastener 594 is configured to be detachably attached to the mounting plate 593. However, the configuration is not limited to this, and the fastener may be rotatably mounted to the mounting plate. In this case, the adjustment of the rotation of the fixture may be carried out mechanically.

상기한 실시 형태에서는, 보유 지지 고정 지그(592)가 고정판(591)에 형성된 복수의 볼트 구멍(591a)과 볼트(B)에 의해 단계적으로 이동 가능한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 보유 지지 고정 지그가 고정판에 설치한 레일을 따라 무단계로 이동 가능한 구성으로 해도 좋다. 이것에 따르면, 안테나와 보유 지지 고정 지그(전자 기기)의 거리를 간단하게 조정할 수 있다.In the above embodiment, the holding fixing jig 592 is configured to be moved in stages by the plurality of bolt holes 591a and the bolts B formed in the fixing plate 591, but the present invention is not limited thereto. For example, the holding fixing jig may be configured to move steplessly along the rail provided on the fixing plate. According to this, the distance of an antenna and a holding fixing jig (electronic device) can be adjusted easily.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(560)로부터 전자 기기(P)에 전파를 방사하여, 전자 기기(P)가 정상으로 전파를 수신할 수 있는지 여부를 시험 유닛(600)에서 판정하는 전자 기기 시험 방법에 대해 설명했으나, 전자 기기 시험 방법은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 유닛(600)으로부터 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 전자 기기(P)[안테나(Pa). 도 14 참조]로부터 안테나(560)에 전파를 송신시키고, 안테나(560)가 수신한 전파를 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에서 측정하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정해도 좋다.In the above embodiment, the electronic device test method determines whether the electronic device P can normally receive the radio wave by radiating the radio wave from the antenna 560 to the electronic device P. Although was demonstrated, the electronic device test method is not limited to this. For example, various instructions are sent from the test unit 600 to the electronic device P, and the electronic device P (antenna Pa). 14, the radio wave is transmitted to the antenna 560, and the radio wave received by the antenna 560 is measured by a radio wave transmission / reception unit (not shown) to determine whether the electronic device P is operating normally. good.

Claims (20)

전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,A test box body in which an electronic device is placed inside and having shielding of radio waves from the outside and having at least one opening communicating with the outside and the inside; 상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,The test box body is a test box mounted to the test box body via a hinge, the door for opening and closing the opening, and the test box body is a test box for an electronic device having a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber mounted on its inner peripheral surface, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와,A metal finger mounted on an opening edge of the test box body, which is a contact portion of the test box body and the door, or a peripheral portion of the door, 상기 도어의 주연부 또는 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하고,It is further provided with a packing having a shielding of radio waves mounted on the periphery of the door or the opening edge of the test box body, 상기 시험 상자 본체는, 그 내부에 전파의 송신용 안테나와, 상기 전자 기기를 보유 지지하는 고정 지그를 구비하고,The test box main body includes an antenna for transmitting radio waves therein and a fixing jig for holding the electronic device. 상기 전자 기기의 안테나와 상기 송신용 안테나의 거리가, 상기 송신용 안테나로부터 방사되는 전파의 파장 λ 이상으로 되도록 설정하는 것이 가능한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.It is possible to set so that the distance of the antenna of the said electronic device and the said transmission antenna may be more than the wavelength (lambda) of the radio wave radiated | emitted from the said transmission antenna, The test box for electronic devices. 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,A test box body in which an electronic device is placed inside and having shielding of radio waves from the outside and having at least one opening communicating with the outside and the inside; 상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,The test box body is a test box mounted to the test box body via a hinge, the door for opening and closing the opening, and the test box body is a test box for an electronic device having a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber mounted on its inner peripheral surface, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와,A metal finger mounted on an opening edge of the test box body, which is a contact portion of the test box body and the door, or a peripheral portion of the door, 상기 도어의 주연부 또는 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하고,It is further provided with a packing having a shielding of radio waves mounted on the periphery of the door or the opening edge of the test box body, 상기 시험 상자 본체는, 그 내부에 전파의 수신용 안테나와, 상기 전자 기기를 보유 지지하는 고정 지그를 구비하고,The test box body includes an antenna for receiving radio waves therein and a fixing jig for holding the electronic device therein. 상기 전자 기기의 안테나와 상기 수신용 안테나의 거리가, 상기 전자 기기의 안테나로부터 방사되는 전파의 파장 λ 이상으로 되도록 설정하는 것이 가능한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.It is possible to set so that the distance of the antenna of the said electronic device and the said receiving antenna may be more than the wavelength (lambda) of the radio wave radiated | emitted from the antenna of the said electronic device, The test box for electronic devices. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 핑거는, 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 1 or 2, wherein the finger is mounted on a side surface of an upright mounting plate provided at an opening edge of the test box body or a peripheral portion of the door. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 패킹은, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 핑거보다도 외주측에 위치하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 1 or 2, wherein the packing is located on the outer circumferential side of the finger when the door is closed. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 상기 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과,The insertion piece according to claim 1 or 2, wherein the insertion piece is formed on one side of an opening edge portion of the test box body, which is a contact portion of the test box body and the door, and a peripheral portion of the door, 다른 쪽에 형성되고, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고,It is formed on the other side and has an insertion groove into which the insertion piece is inserted when the door is closed, 상기 핑거가 상기 삽입편 또는 상기 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 상기 삽입홈의 바닥부에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The finger is mounted on the insertion piece or the inner circumferential side of the insertion groove, and the packing is mounted on the bottom of the insertion groove. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 상기 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과,The insertion piece according to claim 1 or 2, wherein the insertion piece is formed on one side of an opening edge portion of the test box body, which is a contact portion of the test box body and the door, and a peripheral portion of the door, 다른 쪽에 형성되고, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고,It is formed on the other side and has an insertion groove into which the insertion piece is inserted when the door is closed, 상기 핑거가 상기 삽입편 또는 상기 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 상기 삽입편의 양측에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.And the packing is mounted on both sides of the insertion piece while the finger is mounted on the inner peripheral side of the insertion piece or the insertion groove. 제5항에 있어서, 상기 삽입홈의 내부에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 5, wherein a metal finger is mounted inside the insertion groove. 제5항에 있어서, 상기 삽입편에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 5, wherein a metal finger is attached to the insertion piece. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for an electronic device according to claim 1 or 2, wherein the test box main body includes a duct for preventing electromagnetic interference and conducting a cable connected to the electronic device therein. 제9항에 있어서, 상기 케이블은 광신호를 전송하는 광케이블인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 9, wherein the cable is an optical cable for transmitting an optical signal. 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,A test box body in which an electronic device is placed inside and having shielding of radio waves from the outside and having at least one opening communicating with the outside and the inside; 상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,The test box body is a test box mounted to the test box body via a hinge, the door for opening and closing the opening, and the test box body is a test box for an electronic device having a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber mounted on its inner peripheral surface, 상기 시험 상자 본체는 그 내부에 조명을 구비하고, 상기 도어는 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하고,The test box body is provided with a light therein, the door has a window provided with a glass plate having a shielding of radio waves and transmittance to visible light, 상기 λ/4형 전파 흡수체는 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구비하고,The lambda / 4 type electromagnetic wave absorber has a bright insulating layer fixed to the surface, 상기 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The bright color is an index in which the brightness specified in the Munsell colorimeter is in the range of 8.0 to 10.0, wherein the test box for electronic equipment is used. 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,A test box body in which an electronic device is placed inside and having shielding of radio waves from the outside and having at least one opening communicating with the outside and the inside; 상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,The test box body is a test box mounted to the test box body via a hinge, the door for opening and closing the opening, and the test box body is a test box for an electronic device having a lambda / 4 type electromagnetic wave absorber mounted on its inner peripheral surface, 상기 시험 상자 본체는 그 내부에 조명을 구비하는 동시에, 또한 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하고,The test box body is provided with a window provided with a glass plate having illumination therein and also having a shielding of radio waves and a transparency to visible light, 상기 λ/4형 전파 흡수체는 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구비하고,The lambda / 4 type electromagnetic wave absorber has a bright insulating layer fixed to the surface, 상기 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The bright color is an index in which the brightness specified in the Munsell colorimeter is in the range of 8.0 to 10.0, wherein the test box for electronic equipment is used. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 안료를 포함하는 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer is made of a resin containing the bright pigment. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 발포 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer is made of a foamed resin. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 상기 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer is made of paper containing the bright dye or paper printed with the bright pigment. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 세라믹스 혹은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer is made of the bright ceramics or glass. 제13항에 있어서, 상기 안료는 백색 안료 혹은 형광 안료인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 13, wherein the pigment is a white pigment or a fluorescent pigment. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box for electronic equipment according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer also serves as a protective film of the λ / 4 type radio wave absorber. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 조명은 LED 램프인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 11 or 12, wherein the illumination is an LED lamp. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 λ/4형 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.The test box according to claim 11 or 12, wherein the insulating layer is fixed to the surface of the λ / 4 type electromagnetic wave absorber with a pin or a screw.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101372890B1 (en) 2013-01-11 2014-03-10 대한실드엔지니어링(주) Finger gasket for the edges of rf shield door
CN103913187A (en) * 2014-04-26 2014-07-09 广西电网公司电力科学研究院 Integrated test instrument heavy load component integration box
KR101470399B1 (en) * 2013-12-30 2014-12-09 주식회사 이레테크 Electromagnetic measurement system
KR101667392B1 (en) * 2015-05-14 2016-10-28 윌 테크놀로지(주) Apparatus of blocking electromagnetic Pulse

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8774343B2 (en) * 2010-12-15 2014-07-08 Global Nuclear Fuel—Americas, LLC Flow tripping device
US8791362B2 (en) * 2012-05-24 2014-07-29 General Electric Company Shutter door assembly for an electrical panel
KR101602040B1 (en) * 2014-04-25 2016-03-09 주식회사 담스테크 Electromagnetic waves and electromagnetic shielded enclosure structure
KR101700875B1 (en) * 2014-12-05 2017-02-02 한국표준과학연구원 Electormagnetic wave power sensing apparatus and system comprising thereof
CN105182120A (en) * 2015-08-31 2015-12-23 武汉博富通试验设备有限公司 Novel electronic on-line detection device
CN106249011A (en) * 2016-08-15 2016-12-21 珠海市博杰电子有限公司 A kind of performance test shielded box
CN106793737A (en) * 2017-03-15 2017-05-31 中国科学院武汉岩土力学研究所 A kind of electromagnetic compatibility device housings under blasting environment
JP2019031361A (en) 2017-08-07 2019-02-28 東芝テック株式会社 Article reading device and article information processing apparatus
CN109444578A (en) * 2018-10-31 2019-03-08 郑州海威光电科技有限公司 A kind of power failure detection method and its equipment
WO2021131420A1 (en) * 2019-12-27 2021-07-01 マクセルホールディングス株式会社 Measurement system and radio wave blocking unit
US11415616B1 (en) * 2020-03-05 2022-08-16 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy RF test hat
US11422097B1 (en) * 2020-03-05 2022-08-23 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy RF test hat
JP7026157B2 (en) * 2020-03-27 2022-02-25 アンリツ株式会社 Temperature test equipment and temperature test method
CN113068386B (en) * 2021-03-18 2023-04-07 中国船舶重工集团公司第七二五研究所 Electrochemical test environment noise shielding device
JP7479638B2 (en) 2021-09-16 2024-05-09 有限会社 エヌエー・メカニカル Large shielded door with electromagnetic shielding structure
JP7479086B1 (en) 2023-02-20 2024-05-08 有限会社 エヌエー・メカニカル Door structure of electromagnetic wave shielded room
CN117665410B (en) * 2024-01-29 2024-05-14 常州麦思恩电子科技有限公司 Anechoic chamber for electromagnetic compatibility

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200301964Y1 (en) * 2002-09-10 2003-01-29 윌 테크놀로지(주) Shield box
JP2005252015A (en) * 2004-03-04 2005-09-15 Japan Radio Co Ltd Shield box and measuring system

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02174323A (en) * 1988-12-26 1990-07-05 Nec Corp Measuring system for sensitivity for radio selective call receiver
JPH1186618A (en) * 1997-09-09 1999-03-30 Fujita Corp Lighting system of electromagnetic shielding chamber
JP2000138493A (en) * 1998-11-02 2000-05-16 Tdk Corp Radio wave darkroom
JP2001228188A (en) * 2000-02-21 2001-08-24 San Technos Kk Anechoic chamber
JP4967254B2 (en) * 2004-11-05 2012-07-04 日本軽金属株式会社 Electronic equipment test box

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200301964Y1 (en) * 2002-09-10 2003-01-29 윌 테크놀로지(주) Shield box
JP2005252015A (en) * 2004-03-04 2005-09-15 Japan Radio Co Ltd Shield box and measuring system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101372890B1 (en) 2013-01-11 2014-03-10 대한실드엔지니어링(주) Finger gasket for the edges of rf shield door
KR101470399B1 (en) * 2013-12-30 2014-12-09 주식회사 이레테크 Electromagnetic measurement system
CN103913187A (en) * 2014-04-26 2014-07-09 广西电网公司电力科学研究院 Integrated test instrument heavy load component integration box
CN103913187B (en) * 2014-04-26 2016-06-29 广西电网公司电力科学研究院 Integrated test test instrument heavy duty parts integral box
KR101667392B1 (en) * 2015-05-14 2016-10-28 윌 테크놀로지(주) Apparatus of blocking electromagnetic Pulse

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Publication number Publication date
CN104198837A (en) 2014-12-10
KR20090057024A (en) 2009-06-03
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