JP4784249B2 - Electronic device inspection method and electronic device inspection device - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 355
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 25
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 39
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 27
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 21
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 17
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 15
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 208000032365 Electromagnetic interference Diseases 0.000 description 12
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 10
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 7
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002943 EPDM rubber Polymers 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 229920006248 expandable polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 229920006327 polystyrene foam Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 208000024891 symptom Diseases 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
- 210000002268 wool Anatomy 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
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Description
本発明は、携帯電話などの電子機器を検査する電子機器検査方法および電子機器検査装置に関する。 The present invention relates to an electronic device inspection method and an electronic device inspection apparatus for inspecting an electronic device such as a mobile phone.
一般に、携帯電話などの電子機器は、製造後や修理後に、電子機器が正常に動作・機能するか否かについて、実際に無線電波による無線接続検査(試験)が行われる。具体的には、(1)電波暗室に正常な電子機器(以下、正常電子機器)を設置し、電波暗室内のアンテナと正常電子機器との間で電波を授受し、電波の授受状態を検出した後、(2)正常電子機器と検査対象である電子機器(以下、検査電子機器)とを置き換えた後、同様に電波を授受し、検査電子機器の電波授受状態を検出し、(3)これら電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かの判定がされている。
なお、このような検査は、前記した電波暗室(電波無響室)と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス(電波遮蔽箱)と称される箱内で行われる(特許文献1参照)。
Such an inspection is performed in a large special room called an anechoic chamber (electromagnetic anechoic chamber) or a box called a shield box (radio wave shielding box) (see Patent Document 1). ).
しかしながら、一連の検査の過程において、正常電子機器と検査電子機器とを電波暗室に出し入れ等して置き換えると、これら電子機器を同様に設置しているにも関わらず、実際には設置条件が微妙に異なってしまう場合があった。そして、このように設置条件が異なると、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較することができず、検査電子機器が誤判定されてしまう場合もあった。 However, in the course of a series of inspections, if normal electronic devices and inspection electronic devices are replaced by taking them into and out of an anechoic chamber, the installation conditions are actually subtle even though these electronic devices are installed in the same way. There was a case where it was different. If the installation conditions are different as described above, the normal electronic device and the inspection electronic device cannot be accurately compared with each other, and the inspection electronic device may be erroneously determined.
そこで、このような問題を解決すべく、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することを課題とする。 Therefore, in order to solve such a problem, an electronic device inspection method and an electronic device inspection apparatus that can accurately inspect the inspection electronic device by accurately comparing the normal electronic device and the inspection electronic device are provided. Let it be an issue.
前記課題を解決するための手段として、本発明は、正常な正常電子機器および検査する被検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記被検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第1工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させ、電波の強度を変化させる第2工程と、を有し、同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器が受信したにも関わらず前記被検査電子機器が受信しないとき、前記被検査電子機器は正常でないと判定し、同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器および前記被検査電子機器のいずれもが受信できたとき、前記被検査電子機器は正常であると判定することを特徴とする電子機器検査方法である。 As means for solving the above-mentioned problem, the present invention provides a radio wave transmission / reception with each of a normal normal electronic device and an electronic device to be inspected, and relatively compares the radio wave transmission / reception states of the electronic devices, An electronic device inspection method for inspecting an electronic device to be inspected, wherein the normal electronic device and the electronic device to be inspected are at equal distances from a predetermined rotation axis in a radio wave shielding space in which external radio waves are shielded. a first step of placing, while exchanging the radio wave and each of the electronic devices, each of said electronic device is rotated about the rotational axis, possess a second step of varying the intensity of the radio wave, the same test point In the case of the same radio wave intensity, when the electronic device to be inspected is not received although the normal electronic device has received, it is determined that the electronic device to be inspected is not normal and is the same at the same inspection point. Radio wave In the case of strength, when none of the normal electronic apparatus and the inspection electronic device has been received, the inspection electronic device is an electronic device testing method according to claim should be characterized as normal.
ここで、本明細書において、「正常電子機器および検査電子機器の各々と電波を授受する」とは、各々との双方向における送受信だけでなく、一方向、つまり、各々への送信のみ、または、各々からの受信のみを含む。
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し(第1工程)、各電子機器と電波を授受しながら、適宜な回転手段を使用し、回転軸周りに回転させることによって(第2工程)、正常電子機器と検査電子機器とが同じ回転軌跡をたどり、正常電子機器と検査電子機器とを正確に入れ替える、つまり、正常電子機器(検査電子機器)があった場所に検査電子機器(正常電子機器)を配置することができる。そして、正常電子機器および検査電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
Here, in this specification, “transmitting / receiving radio waves to / from each of the normal electronic device and the inspection electronic device” means not only transmission / reception in both directions but also transmission in one direction, that is, only transmission in each direction, or , Including only reception from each.
According to such an electronic device inspection method, a normal electronic device and an inspection electronic device are respectively arranged at equal distances from a predetermined rotation axis (first step), and an appropriate signal is transmitted while exchanging radio waves with each electronic device. By using the rotating means and rotating around the rotation axis (second step), the normal electronic device and the inspection electronic device follow the same rotation trajectory, and the normal electronic device and the inspection electronic device are accurately exchanged, that is, The inspection electronic device (normal electronic device) can be arranged at the place where the normal electronic device (inspection electronic device) was present. Then, it is possible to precisely inspect whether or not the inspection electronic device is normal by relatively comparing the radio wave transmission / reception states of the normal electronic device and the inspection electronic device.
このような電子機器検査方法によれば、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。 According to such an electronic device inspection method, it is easy to detect a radio wave transmission / reception limit point of each electronic device by changing the intensity of the radio wave.
前記課題を解決するための手段として、本発明は、正常な正常電子機器および検査する被検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記被検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第1工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第2工程と、前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを入れ替える第3工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第4工程と、を有し、同一の検査点で、前記正常電子機器の受信限界レベルと、前記被検査電子機器の受信限界レベルとを、それぞれ求め、前記被検査電子機器の受信限界レベルが、前記正常電子機器の受信限界レベルより高い場合、前記被検査電子機器は正常でないと判定することを特徴とする電子機器検査方法である。 As means for solving the above-mentioned problem, the present invention provides a radio wave transmission / reception with each of a normal normal electronic device and an electronic device to be inspected, and relatively compares the radio wave transmission / reception states of the electronic devices, An electronic device inspection method for inspecting an electronic device to be inspected, wherein the normal electronic device and the electronic device to be inspected are at equal distances from a predetermined rotation axis in a radio wave shielding space in which external radio waves are shielded. A first step of arranging, a second step of changing the intensity of radio waves while transmitting and receiving radio waves to and from each electronic device, and rotation around the rotation axis to exchange the normal electronic device and the electronic device to be inspected. a third step, the possess a fourth step, the varying intensity of the radio wave while exchanging the electronic apparatus and radio waves, at the same test point, and the reception limit level of the normal electronic device, the inspection electronic Receipt of equipment Electronic equipment and limit level, respectively determined, the reception limit level of the inspection electronic apparatus is higher than the reception limit level of the normal electronic device, the characterized and this determines that the inspected electronic apparatus is not normal Inspection method.
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し(第1工程)、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させ(第2工程)、その後、回転軸周りに回転させて、正常電子機器と検査電子機器とを入れ替え(第3工程)、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる(第4工程)。
そして、正常電子機器と検査電子機器とが対応する位置で、その電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
According to such an electronic device inspection method, the normal electronic device and the inspection electronic device are respectively disposed at equal distances from a predetermined rotation axis (first step), and radio waves are transmitted while exchanging radio waves with each electronic device. The intensity is changed (second step), and then rotated around the rotation axis to replace the normal electronic device and the inspection electronic device (third step), and the electric wave intensity is changed while exchanging electric waves with each electronic device. (4th process).
Then, it is possible to precisely inspect whether or not the inspection electronic device is normal by relatively comparing the radio wave transmission / reception states at positions corresponding to the normal electronic device and the inspection electronic device.
また、前記電子機器検査方法において、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とは、前記回転軸に対して軸対称に配置されることが好ましい。 In the electronic device inspection method, it is preferable that the normal electronic device and the electronic device to be inspected are arranged symmetrically with respect to the rotation axis .
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とが、回転軸に対して軸対称に位置することにより、180°回転させることで、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。 According to such an electronic device inspection method, the normal electronic device and the inspection electronic device are rotated 180 ° by being positioned symmetrically with respect to the rotation axis, so that the normal electronic device and the inspection electronic device are Can be easily replaced.
前記課題を解決するための手段として、本発明は、正常な正常電子機器および検査する被検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記被検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、前記正常電子機器および前記被検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段と、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記被検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させながら、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、前記検査手段は、同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器が受信したにも関わらず前記被検査電子機器が受信しないとき、前記被検査電子機器は正常でないと判定し、同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器および前記被検査電子機器のいずれもが受信できたとき、前記被検査電子機器は正常であると判定することを特徴とする電子機器検査装置である。 As means for solving the above-mentioned problem, the present invention provides a radio wave transmission / reception with each of a normal normal electronic device and an electronic device to be inspected, and relatively compares the radio wave transmission / reception states of the electronic devices, An electronic device inspection apparatus for inspecting an electronic device to be inspected, wherein the normal electronic device and the electronic device to be inspected are placed inside, shielded from external radio waves and radiated from each electronic device An inspection apparatus main body that absorbs radio waves, a radio wave transmission / reception means that transmits / receives radio waves to / from each electronic device, and a radio wave shielding means that shields radio waves while communicating between the outside and the inside of the inspection apparatus main body. , with rotatable about a predetermined axis of rotation, said rotating means for each of the electronic devices are mounted at equal distance from said rotational axis, said between each electronic device and the radio exchange means Professor A radio wave intensity changing means for changing the intensity of the radio wave to be transmitted; a control means for controlling the rotating means and the radio wave intensity changing means; and detecting a radio wave transmission / reception state of each electronic apparatus, thereby inspecting the inspected electronic device. And the control means changes the intensity of the radio wave by the radio wave intensity changing means while rotating the rotating means around the rotation axis, and the inspection means are the same at the same inspection point. If the inspected electronic device does not receive the normal electronic device even though the normal electronic device has received the signal, it is determined that the inspected electronic device is not normal and the same radio wave is received at the same inspection point. in case the intensity of, when none of the normal electronic apparatus and the inspection electronic device has been received, the inspection electronic device is characterized and the determining this is normal It is a child equipment inspection equipment.
このような電子機器検査装置によれば、検査電子機器を精密に検査することができる。そして、電波遮蔽手段によって、検査装置本体の外部と内部とは連通している。つまり、空気の流通性は確保されているため、電波遮蔽手段を介して吸気、排気や、各種ケーブルの配線などをすることができる。そして、本明細書では、後記する実施形態において、電波遮蔽手段として、各種導波管と、金属製フィルタとを例示する。 According to such an electronic device inspection apparatus, the inspection electronic device can be inspected precisely. The outside and inside of the inspection apparatus main body communicate with each other by the radio wave shielding means. That is, since air circulation is ensured, intake / exhaust, wiring of various cables, and the like can be performed via the radio wave shielding means. And in this specification, in embodiment mentioned later, various wave guides and metal filters are illustrated as radio wave shielding means.
ここで、導波管とは、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管である。「所定波長より長い波長の電波を伝搬しない」とは、「導波管は、所定波長以下の波長の電波が減衰せずに、その内部を良好に伝搬可能とする仕様で設計される」ことを言い換えた意味である。すなわち、連通路として機能する導波管の中空部を介して検査装置本体の内部と外部とは連通しているものの、導波管によって、検査装置本体内外間での電波の遮断能力は高められている。このように電波遮蔽手段として導波管を使用した場合、例えば、検査に必要となる電波の、内部から外部への伝搬度を30〜40dB程度に低下させることができる。 Here, the waveguide is a waveguide that does not propagate radio waves having a wavelength longer than a predetermined wavelength. “Does not propagate radio waves longer than the specified wavelength” means that the waveguide is designed with specifications that allow it to propagate well within the specified wavelength without attenuation. In other words. In other words, although the inside and outside of the inspection apparatus main body communicate with each other through the hollow portion of the waveguide functioning as a communication path, the ability to block radio waves between the inside and outside of the inspection apparatus main body is enhanced by the waveguide. ing. Thus, when a waveguide is used as the radio wave shielding means, for example, the propagation degree of radio waves required for inspection from the inside to the outside can be reduced to about 30 to 40 dB.
また、本発明における導波管は、その外形が管状のものはもちろん、後記する図10、図11に示すように、その外形が板状等であってもよい。なお、導波管の数は特に限定されず、1本であってもよいし複数本であってもよく、さらに、複数の導波管が束状であってもよい。特に、複数の導波管を束状にすれば、各導波管を細くしても、検査装置本体の内部と外部を連通する連通路の総断面積を確保することができる。すなわち、各導波管の開口部の面積を小さくし、さらに各導波管を長くして、各導波管の電波の遮蔽能力を高めても、束状の導波管全体では、前記連通路の総断面積を確保することができ、仮に排気用導波管とした場合、その排気流量を確保しやすくなる。
さらに、このように導波管を使用する場合、その内側に電波吸収性シートなどを設けて電波吸収性を有するように構成することが好ましい。このようにすれば、導波管の中空部を伝搬しようとする前記所定波長より長い波長の電波を確実に吸収し、検査装置本体の電波の遮蔽性をさらに良好に維持することができる。
The waveguide according to the present invention may have a tubular shape as shown in FIGS. 10 and 11, which will be described later, as well as a tubular shape. The number of waveguides is not particularly limited, and may be one or plural, and the plurality of waveguides may be bundled. In particular, if a plurality of waveguides are bundled, the total cross-sectional area of the communication path that communicates the inside and the outside of the inspection apparatus main body can be secured even if each waveguide is narrowed. That is, even if the area of the opening of each waveguide is reduced and each waveguide is lengthened to increase the radio wave shielding capability of each waveguide, the entire bundle of waveguides is The total cross-sectional area of the passage can be secured, and if the exhaust waveguide is used, the exhaust flow rate can be easily secured.
Further, when the waveguide is used as described above, it is preferable to provide a radio wave absorptive sheet or the like on the inside so as to have radio wave absorptivity. In this way, it is possible to reliably absorb the radio wave having a wavelength longer than the predetermined wavelength that is to propagate through the hollow portion of the waveguide, and to maintain the radio wave shielding property of the inspection apparatus main body better.
金属製フィルタとは、電波を回折損失させることで遮蔽するフィルタであり、例えば、金属片が集合して構成されると共に、空気が流通する隙間を有するものである。 A metal filter is a filter that shields radio waves by diffracting loss of radio waves. For example, the metal filter is composed of metal pieces and has a gap through which air flows.
また、検査装置本体は電波の遮蔽性を有することにより、例えば、外部からの電波は、検査装置本体の内部に到達しない。そして、電波遮蔽手段は、前記したように電波を遮蔽するため、検査装置本体の電波の遮蔽性は好適に維持される。
さらに、検査装置本体は、電波吸収性を有するため、電子機器や電波授受手段から放射された電波は検査装置本体内で吸収され、電波の反射による共振は防止される。
In addition, since the inspection apparatus main body has radio wave shielding properties, for example, external radio waves do not reach the inside of the inspection apparatus main body. Since the radio wave shielding means shields the radio wave as described above, the radio wave shielding property of the inspection apparatus main body is preferably maintained.
Furthermore, since the inspection apparatus main body has radio wave absorptivity, the radio waves radiated from the electronic device and the radio wave transmitting / receiving means are absorbed in the inspection apparatus main body, and resonance due to the reflection of the radio waves is prevented.
さらにまた、所定の回転軸周りに回転可能な回転手段に、正常電子機器および検査電子機器を回転軸から等しい距離で取り付け、適宜に回転させることにより、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。
したがって、正常電子機器および検査電子機器と、電波授受手段との間で電波を授受し、回転手段より正常電子機器と検査電子機器とを回転させ、各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
Furthermore, the normal electronic device and the inspection electronic device can be easily attached to the rotating means that can rotate around the predetermined rotation axis by attaching the normal electronic device and the inspection electronic device at an equal distance from the rotation shaft and appropriately rotating the rotation device. Can be replaced.
Therefore, send and receive radio waves between normal electronic devices and inspection electronic devices and radio wave transmission / reception means, rotate normal electronic devices and inspection electronic devices from rotation means, and compare the radio wave transmission / reception status of each electronic device relative to each other. Thus, it is possible to precisely inspect whether or not the inspection electronic device is normal.
また、このような電子機器検査装置によれば、電波強度変化手段により、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。 Also, according to such an electronic device inspection apparatus, it is easy to detect the transmission / reception limit point of each electronic device by changing the strength of the radio wave by the radio wave intensity changing means.
さらに、このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受し、回転手段により各電子機器を回転軸周りに回転させる。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。 Furthermore, according to such an electronic device inspection apparatus, the control means transmits / receives radio waves to / from each electronic device while changing the intensity of the radio waves by the radio wave intensity changing means, and the electronic devices are rotated around the rotation axis by the rotating means. Let Then, the inspection unit can accurately determine whether the inspection electronic device is normal or not by comparing the radio wave transmission / reception states of the electronic devices.
前記課題を解決するための手段として、本発明は、正常な正常電子機器および検査する被検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記被検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、前記正常電子機器および前記被検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段と、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記被検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させて前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを入れ替え、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、前記検査手段は、同一の検査点で、前記正常電子機器の受信限界レベルと、前記被検査電子機器の受信限界レベルとを、それぞれ求め、前記被検査電子機器の受信限界レベルが、前記正常電子機器の受信限界レベルより高い場合、前記被検査電子機器は正常でないと判定することを特徴とする電子機器検査装置である。 As means for solving the above-mentioned problem, the present invention provides a radio wave transmission / reception with each of a normal normal electronic device and an electronic device to be inspected, and relatively compares the radio wave transmission / reception states of the electronic devices, An electronic device inspection apparatus for inspecting an electronic device to be inspected, wherein the normal electronic device and the electronic device to be inspected are placed inside, shielded from external radio waves and radiated from each electronic device An inspection apparatus main body that absorbs radio waves, a radio wave transmission / reception means that transmits / receives radio waves to / from each electronic device, and a radio wave shielding means that shields radio waves while communicating between the outside and the inside of the inspection apparatus main body. A rotating means capable of rotating around a predetermined rotation axis, and each electronic device being mounted at an equal distance from the rotation axis, and exchanged between each electronic device and the radio wave transmission / reception means. A radio wave intensity changing means for changing the intensity of the radio wave to be transmitted; a control means for controlling the rotating means and the radio wave intensity changing means; and detecting a radio wave transmission / reception state of each electronic apparatus, thereby inspecting the inspected electronic device. And the control means changes the intensity of the radio wave by the radio wave intensity changing means, and then rotates the rotating means around the rotation axis to cause the normal electronic device and the electronic device to be inspected. After that, the radio wave intensity is changed by the radio wave intensity changing means, and the inspection means sets the reception limit level of the normal electronic device and the reception limit level of the electronic device to be inspected at the same inspection point. Determining that the electronic device to be inspected is not normal when the reception limit level of the electronic device to be inspected is higher than the reception limit level of the normal electronic device. An electronic device testing apparatus according to symptoms.
このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受した後、回転手段により回転軸周りに回転させ正常電子機器と検査電子機器とを入れ替えた後、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受する。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the control means transmits and receives radio waves to and from each electronic device while changing the intensity of the radio waves by the radio wave intensity changing means, and then rotates around the rotation axis by the rotating means. After replacing the inspection electronic device, radio waves are exchanged with each electronic device while changing the radio wave intensity by the radio wave intensity changing means. Then, the inspection unit can accurately determine whether the inspection electronic device is normal or not by comparing the radio wave transmission / reception states of the electronic devices.
また、前記電子機器検査装置において、前記検査装置本体は、その内側に、λ/4型の電波吸収構造または電波吸収シートを備えていることが好ましい。 In the electronic apparatus inspection apparatus, it is preferable that the inspection apparatus main body includes a λ / 4-type radio wave absorption structure or a radio wave absorption sheet inside thereof.
このような電子機器検査装置によれば、検査装置本体の内面を平坦にすることができる。これにより、検査装置本体内を大きくしたり、検査装置本体の外形を小さくすることができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the inner surface of the inspection apparatus body can be flattened. Thereby, the inside of an inspection apparatus main body can be enlarged, or the external shape of an inspection apparatus main body can be made small.
また、前記電子機器検査装置において、前記回転手段の前記各電子機器側は、当該各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有することが好ましい。 Further, in the electronic device inspection apparatus, it is preferable that each electronic device side of the rotating means has a radio wave absorptivity that absorbs radio waves radiated from each electronic device .
このような電子機器検査装置によれば、電子機器から放射された電波を、回転手段の電子機器側で吸収し、電波の共振を抑えることができる。これにより、電子機器を精密に検査することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the radio wave radiated from the electronic device can be absorbed on the electronic device side of the rotating means, and the resonance of the radio wave can be suppressed. Thereby, an electronic device can be inspected precisely.
また、前記電子機器検査装置において、前記回転手段に前記各電子機器を保持固定するための保持固定手段をそれぞれ備え、前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることが好ましい。 In the electronic apparatus inspection apparatus, it is preferable that the rotating means includes holding and fixing means for holding and fixing the electronic devices, and the holding and fixing means are symmetrical with respect to the rotation axis .
このような電子機器検査装置によれば、保持固定手段に、正常電子機器と検査電子機器とを取り付けることで、正常電子機器と検査電子機器とを回転軸に対して、軸対称に配置させることができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the normal electronic device and the inspection electronic device are attached to the holding and fixing means so that the normal electronic device and the inspection electronic device are arranged symmetrically with respect to the rotation axis. Can do.
また、前記電子機器検査装置において、前記各電子機器と接続するケーブルと、前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、を備えたことが好ましい。 The electronic device inspection apparatus preferably includes a cable connected to each electronic device and a slip ring that prevents kinking of the connection cable due to the rotation .
このような電子機器検査装置によれば、スリップリングにより、各電子機器の回転によるケーブルのよじれを防止することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the cable can be prevented from being twisted due to the rotation of each electronic device by the slip ring.
また、前記電子機器検査装置において、電波妨害を防止するEMIダクトを備え、前記ケーブルは前記EMIダクトに挿通されていることが好ましい。 The electronic device inspection apparatus preferably includes an EMI duct for preventing radio wave interference, and the cable is inserted through the EMI duct .
このような電子機器検査装置によれば、電磁妨害を防止しつつ、検査装置本体の外部から内部に、EMIダクトを介してケーブルを配線することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, it is possible to wire a cable via the EMI duct from the outside to the inside of the inspection apparatus body while preventing electromagnetic interference.
また、前記電子機器検査装置において、前記ケーブルを被覆し、ノイズを吸収するノイズ吸収体を備えたことが好ましい。 The electronic apparatus inspection apparatus preferably includes a noise absorber that covers the cable and absorbs noise .
このような電子機器検査装置によれば、ノイズ吸収体により、ケーブル内を導通するノイズを吸収することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, noise that is conducted through the cable can be absorbed by the noise absorber.
また、前記電子機器検査装置において、前記検査装置本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことが好ましい。 In the electronic apparatus inspection apparatus, it is preferable that the inspection apparatus main body includes a metal casing having radio wave shielding properties .
このような電子機器検査装置によれば、導電性を有する金属製の筐体により、電波を確実に遮蔽することができる。また、金属製であることにより、筐体の剛性は高められ、その結果として、検査装置本体の耐久性を高めることができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, radio waves can be reliably shielded by the conductive metal casing. Moreover, by being metal, the rigidity of a housing | casing is improved and the durability of a test | inspection apparatus main body can be improved as a result.
また、前記電子機器検査装置において、前記検査装置本体内の前記電子機器を視認可能とし、かつ、電波を反射する窓を備えたことが好ましい。 In the electronic device inspection apparatus, it is preferable that the electronic device in the inspection apparatus main body is visible and includes a window that reflects radio waves .
このような電子機器検査装置によれば、窓を介して、例えば、電子機器の検査状況を視認することができる。また、窓が電波を反射することにより、検査装置本体の電波の遮蔽性を維持することができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, for example, the inspection state of the electronic device can be visually recognized through the window. Further, since the window reflects the radio wave, the radio wave shielding property of the inspection apparatus main body can be maintained.
また、前記電子機器検査装置において、前記検査装置本体内に前記電子機器を入れるための扉を備えたことが好ましい。 In the electronic apparatus inspection apparatus, it is preferable that the electronic apparatus inspection apparatus further includes a door for placing the electronic apparatus in the inspection apparatus main body .
このような電子機器検査装置によれば、扉を適宜に開閉させることで、電子機器を検査装置本体内に配置したり、検査装置本体から取り出すことができる。また、扉の縁部分であって、検査装置本体との当接部分には、扉の閉鎖時における電波の遮蔽性を高めるべく、枠状のパッキンを設けることが好ましい。 According to such an electronic device inspection device, the electronic device can be arranged in the inspection device body or taken out from the inspection device body by appropriately opening and closing the door. Moreover, it is preferable to provide a frame-shaped packing at the edge portion of the door, which is in contact with the inspection apparatus main body, in order to improve the shielding property of the radio wave when the door is closed.
また、前記電子機器検査装置において、前記検査装置本体内を照らす照明を備えたことが好ましい。
In the electronic device inspection apparatus, it is preferable that illumination is provided to illuminate the inside of the inspection apparatus body .
このような電子機器検査装置によれば、照明によって検査装置本体内を照らすことができる。 According to such an electronic device inspection apparatus, the inside of the inspection apparatus main body can be illuminated by illumination.
本発明によれば、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, a normal electronic device and a test | inspection electronic device can be compared relatively correctly, and the electronic device test | inspection method and electronic device test | inspection apparatus which can test | inspect a test | inspection electronic device precisely can be provided.
以下、本発明の一実施形態について、図1から図6を参照して説明する。
なお、ここでは、特許請求の範囲における電子機器を図2に示すように携帯電話とし、アンテナ20から正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに電波を送り(授け)、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Tが正常であるか否かを判定する場合を例示する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
In this case, the electronic device in the claims is a mobile phone as shown in FIG. 2, and radio waves are transmitted (given) from the
≪電子機器検査装置の構成≫
図1および図2に示すように、電子機器検査装置1は、その内部(電波遮蔽空間)に正常電子機器Sおよび検査電子機器Tが入れられる検査箱10(検査装置本体)と、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの各々に電波を送るアンテナ20(電波授受手段)と、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tが取り付けられる回転ユニット30(回転手段)と、検査箱10内の熱を排気する排気ユニット40と、制御ユニット51(制御手段)と、可変電波発生ユニット52(電波強度変化手段)と、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの電波受信(授受)状態を検出し、検査電子機器Tを検査する検査ユニット60(検査手段)と、を主に備えている。
≪Configuration of electronic equipment inspection device≫
As shown in FIGS. 1 and 2, an electronic
<検査箱>
検査箱10は、その外形が略直方体の箱体であり、ラック11上に固定されている。検査箱10は、その正面に開閉自在の扉12を備えており、扉12を適宜に開/閉して、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを、検査箱10内に配置/取り出しするようになっている。また、扉12の縁部であって、扉12を閉じたときに検査箱10とで挟まれる部分には、電波遮蔽性を有する枠状のパッキン(図示しない)が設けられている。
<Inspection box>
The inspection box 10 has a substantially rectangular parallelepiped shape and is fixed on the
扉12は窓13を備えている。窓13は、検査箱10内を視認可能な透明性を有している。これにより、検査箱10の外から、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを監視し、例えば、電波を受信したことによる着信ランプの点灯の有無を観察できるようになっている。
また、窓13は、これを介しての電波の往来を防止する電波の反射性(遮断性)を有しており、検査箱10の電波遮蔽性が維持されるようになっている。このような窓13は、例えば、ガラス板の片面にITO(Indium Tin Oxide:酸化インジウムすず)膜を形成したものを使用できる。
The door 12 includes a window 13. The window 13 has transparency so that the inside of the examination box 10 can be visually recognized. Thereby, the normal electronic device S and the inspection electronic device T can be monitored from the outside of the inspection box 10 and, for example, whether or not the incoming lamp is turned on due to reception of radio waves can be observed.
Further, the window 13 has a radio wave reflectivity (blocking property) for preventing radio waves from passing therethrough, and the radio wave shielding property of the examination box 10 is maintained. As such a window 13, for example, an ITO (Indium Tin Oxide) film formed on one side of a glass plate can be used.
検査箱10は、外側の筐体14と、筐体14の内面を覆うように設けられたλ/4型の電波吸収構造16とを備えている(図3参照)。
The examination box 10 includes an
筐体14は、金属製であり導電性を有している。これにより、筐体14は、所定の剛性を有しその耐久性が高められていると共に、外部から電波の遮蔽性を有している。このような筐体14は、骨格となるフレーム(図示しない)と、このフレームに溶接された複数のパネル(図示しない)とを備えて構成されている。フレームと各パネルとは、隙間が形成されないように溶接されており、筐体14の密閉性、つまり、電波の遮蔽性は高められている。なお、図3は、検査箱10の側壁10bを拡大しており、複数のパネルの一つである側面パネル15を記載している。
The
筐体14のフレームおよび各パネルを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金でもよい。特に、フレーム等がアルミニウムまたはアルミニウム合金(以下、アルミニウム等)で形成された場合、筐体14は所望の剛性を維持しつつ、軽量化が図られる。また、アルミニウム等は独特の光沢を有するため、検査箱10は美観に優れたものとなる。
The metal forming the frame and each panel of the
次に、図3を参照して、電波吸収構造16について説明する。
電波吸収構造16は、電波を吸収させる公知の一方式(λ/4型)に基づく構造であり、筐体14の内面を覆うように構築されており、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tや、アンテナ20から放射された電波を、筐体14の内面で反射させず擬似的に吸収させる構造である。すなわち、電波吸収構造16は、正常電子機器Sおよび検査電子機器T、アンテナ20から放射された電波が、筐体14の内面で反射した電波と共振することを防止させる構造である。
Next, the radio wave absorption structure 16 will be described with reference to FIG.
The radio wave absorption structure 16 is a structure based on a known method (λ / 4 type) that absorbs radio waves, and is constructed so as to cover the inner surface of the
電波吸収構造16は、筐体14の内側に配置されたスペーサ16Aと、さらにその内側に配置され、電波の1/2を透過させる機能を有する抵抗膜シート16Bと、さらにその内側に配置され抵抗膜シート16Bを保護する保護膜16Cとを備えて構成されている。
The radio wave absorption structure 16 includes a
スペーサ16Aは、正常電子機器Sおよび検査電子機器T、アンテナ20から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート16Bと筐体14との間隔をλ/4に設定するためものであり、λ/4の厚みT1を有している。スペーサ16Aは、電波の透過性を有しており、例えば、発泡スチロールから形成される。このように発泡スチロールから形成される場合、スペーサ16Aの厚みT1を容易に調整可能となる。
The
抵抗膜シート16Bは、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス(376.7Ω)に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート16Bとしては、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ITO膜の抵抗値を調整して成膜したものなどを使用することができる。
保護膜16Cは、抵抗膜シート16Bの内側に積層されており、抵抗膜シート16Bの表面を保護するようになっている。
The
The
そして、このような電波吸収構造16の表面は、平坦となっている。これにより、例えば、複数の凸状の電波吸収体を備える場合と比較して、検査箱10内を大きくしたり、検査箱10の外形を小さくしたりすることができる。 And the surface of such a wave absorption structure 16 is flat. Thereby, compared with the case where a plurality of convex wave absorbers are provided, for example, the inside of the inspection box 10 can be enlarged or the outer shape of the inspection box 10 can be reduced.
ここで、電波吸収構造16による電波吸収のメカニズムについて説明する。
正常電子機器Sおよび検査電子機器T、またはアンテナ20から放射された電波W1が、保護膜16Cの垂直方向から電波が入射した場合、保護膜16Cを通過した後、その1/2が抵抗膜シート16Bを透過し、1/2が抵抗膜シート16Bで反射する。ここで、抵抗膜シート16Bを透過した電波を電波W2、反射した電波を電波W3とする。電波W2は、スペーサ16A内を進んだ後、筐体14の側面パネル15で反射し、電波W4となる。なお、抵抗膜シート16B、側面パネル15での反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。
Here, the mechanism of radio wave absorption by the radio wave absorption structure 16 will be described.
When the radio wave W1 radiated from the normal electronic device S and the inspection electronic device T or the
そうすると、筐体14での反射後、抵抗膜シート16Bに到達した電波W4は、抵抗膜シート16Bで反射した電波W3に対して、スペーサ16Aの厚みT1の2倍、つまり、「λ/4×2=λ/2」進んでおり、電波W3の位相と電波W4の位相が反転することになる。したがって、電波W3と電波W4とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート16Bに入射した電波W1は擬似的に吸収されるようになっている。
Then, the radio wave W4 that has reached the
図2に戻って、検査箱10の説明を続ける。
検査箱10の上壁10aには、検査箱10内を照らすLED(Light Emitting Diode)ランプ17(照明)が設けられている。これにより、検査中において、検査箱10内を照らし、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを観察しやすくなっている。
Returning to FIG. 2, the description of the inspection box 10 will be continued.
On the
ラック11には、EMI(Electro Magnetic Interference:電磁妨害または電磁干渉)ダクト18が設けられている。EMIダクト18は、電磁妨害を防止しつつ、後記するケーブル62などをラック11の外部から内部に挿通可能とするダクトであり、ガスケット18aを介して、ラック11に固定されている。これにより、EMIダクト18を介して、ケーブル62を筐体14の外部から内部に配線可能とすると共に、ケーブル62の挿通部分からの電磁妨害は防止され、筐体14の遮蔽性は確保されている。
また、図2に示すように、ケーブル62の所定長さ(例えば100mm以上)が、EMIダクト18内を通るように、ケーブル62を配線することによって、前記電磁妨害が好適に防止される。
The
Further, as shown in FIG. 2, the electromagnetic interference is suitably prevented by wiring the
<アンテナ>
アンテナ20は、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに電波を送る(授受)するためのものである。アンテナ20は、回転軸E線上であって、検査箱10に固定されたアンテナ用導波管21(電波遮蔽手段)を介して、検査箱10の上壁10aに垂設されている。
アンテナ20にはケーブル22が接続されており、このケーブル22はアンテナ用導波管21を介して外部に引き出され、可変電波発生ユニット52に接続している。そして、アンテナ20は、可変電波発生ユニット52で増幅された後、可変電波発生ユニット52から送られた信号に基づいて電波を発生し、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに送るようになっている。
<Antenna>
The
A
アンテナ用導波管21は筒状の導波管であり、その中空部を介して検査箱10の内部と外部とを連通させている。また、アンテナ用導波管21は、アルミニウム合金などの金属製であり、電波遮蔽性を有している。さらに、アンテナ用導波管21の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管21の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬して、検査箱10の内部から外部へ漏れないように設定されている。
The
したがって、アンテナ用導波管21内にケーブル22を配線しつつ、アンテナ用導波管21内の電波の伝搬を防止することで、検査箱10の電波の遮蔽性が好適に維持されるようになっている。
なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法(長さ)が同一であれば、導波管が長くなる程、その内部を電波が伝播しにくくなり、遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなる程、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数(所定の周波数)が高くなる。
Therefore, by preventing the propagation of radio waves in the
In general, if the shape and size (length) of the opening of the waveguide are the same, the longer the waveguide is, the more difficult it is for radio waves to propagate through it, and the shielding performance increases. Although it depends on the shape of the opening of the waveguide, the limit frequency (predetermined frequency) of the radio wave that can be shielded by the waveguide increases as the area of the opening decreases.
<回転ユニット>
回転ユニット30は、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを、平面視において検査箱10の中心を通る回転軸E(所定の回転軸)周りに回転させるユニットである。回転ユニット30は、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tがその上面に配置される回転テーブル31と、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを回転テーブル31に保持固定するための一対の治具32、32(保持固定手段)と、検査箱10に固定される共に検査箱10の内部と外部を連通させるテーブル用導波管35(電波遮蔽手段)と、モータ36と、モータ電源37とを主に備えている。
<Rotating unit>
The
回転テーブル31は、テーブル本体33と、この上面に設けられ、電波吸収性を有する電波吸収シート34とを備えている。したがって、回転テーブル31の正常電子機器Sおよび検査電子機器T側は、これら電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有している。これにより、正常電子機器Sおよび検査電子機器T、または、アンテナ20から放射された電波が、電波吸収シート34で吸収され、反射による電波の共振が抑えられるようになっている。
The rotary table 31 includes a table
このような電波吸収シート34としては、例えば、双極子型と称される電波吸収シートを使用することができる。双極子型の電波吸収シート34とは、(1)カーボン粉末、酸化チタンなどの化合物から形成され、この化合物が有する電界を利用(例えば、電子配置の変化)することで電波を吸収するシートや、(2)例えば特許第3040953号公報に記載されるように、Mn−Zn系フェライト粉やカルボニル鉄などと、EPDM(エチレンプロピレンジエンモノマ)系ゴムとの化合物から形成され、この化合物が有する磁界を利用(例えば、磁界が変化)することで電波を吸収するシートや、(3)樹脂(例えばポリウレタン)と磁性体とが複合化されたシートである。具体的には、電波吸収シートとして、例えば、東洋サービス社製のルミディオン(登録商標)、日立金属社製のHTD−101などを使用することができる。なお、このような電波吸収シート34は、広いバンドで電波を吸収するため、広帯域吸収体と称される場合もある。 As such a radio wave absorption sheet 34, for example, a radio wave absorption sheet called a dipole type can be used. The dipole-type radio wave absorbing sheet 34 is (1) a sheet that is formed from a compound such as carbon powder and titanium oxide, and that absorbs radio waves by utilizing the electric field of this compound (for example, change in electron configuration). (2) As described in, for example, Japanese Patent No. 3040953, a magnetic field formed from a compound of Mn—Zn ferrite powder, carbonyl iron, etc., and EPDM (ethylene propylene diene monomer) rubber, which this compound has A sheet that absorbs radio waves by utilizing (for example, the magnetic field changes), or (3) a sheet in which a resin (for example, polyurethane) and a magnetic material are combined. Specifically, for example, Lumidion (registered trademark) manufactured by Toyo Service Co., Ltd. and HTD-101 manufactured by Hitachi Metals Co., Ltd. can be used as the radio wave absorbing sheet. Note that such a radio wave absorbing sheet 34 may be referred to as a broadband absorber because it absorbs radio waves in a wide band.
テーブル本体33は、スラスト軸受け(図示しない)を介してテーブル用導波管35に固定されており、回転テーブル31は検査箱10に対して回転自在となっている。テーブル本体33は、その中心軸線上に、ケーブル62が挿通される挿通孔33aを有している。
また、テーブル用導波管35は、アンテナ用導波管21と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管である。このようなテーブル用導波管35によって、検査箱10の電波遮蔽性は維持されている。
The
Similarly to the
一対の治具32、32は、回転テーブル31に固定されており、正常電子機器Sまたは検査電子機器Tを、回転テーブル31上に、着脱自在に保持固定するための手段である。治具32、32は、回転軸Eに対して軸対称(180°対向)に配置されている。そして、治具32、32に、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tが固定されると、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tが回転軸Eに対して軸対称に配置されることとなり、さらに正常電子機器SのアンテナSaの軌跡と、検査電子機器TのアンテナTaの軌跡とが、同一円周上を通るようになる。すなわち、このように各電子機器が固定されると、正常電子機器Sおよび検査電子機器T(アンテナを含む)が、回転軸Eから等しい距離に配置するようになっている。
ただし、治具32、32の位置、つまり、正常電子機器Sと検査電子機器Tの位置は、軸対称(180°対向)に限定されず、例えば、平面視において、正常電子機器Sと検査電子機器Tとでなす角度が90°となるように配置されてもよい。
また、治具32、32は、回転軸Eから正常電子機器Sおよび検査電子機器Tまでの距離を精密に同一とするため、微調整ねじ、距離センサなどによって構成される微調整機構を備えてもよい。
The pair of
However, the positions of the
In addition, the
モータ36は、減速機構38を介して、回転テーブル31を回転させる駆動装置である。モータ36は、モータ電源37と接続しており、モータ電源37から電力供給を受けて、所望の回転速度で回転すると共に、モータ電源37から送られる電流の向きに応じて、正方向/逆方向に回転自在となっている。モータ電源37は、制御ユニット51から送られる指令に従って、モータ36に電力を供給するようになっている。
The
<排気ユニット>
図4を参照して、排気ユニット40について説明する。
排気ユニット40は、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tから放出された熱を排気し、検査箱10内の過昇温を防止するユニットである。排気ユニット40は、図4(a)に示すように、金属製ハニカムとも称されるハニカム体41(電波遮蔽手段)と、排気ファン42とを備えている。
ハニカム体41は、金属製(例えばアルミニウム合金製)の押出形材であって、検査箱10の側壁10bに固定されている。また、ハニカム体41は、図4(b)に示すように、複数の細孔41aを有しており、この複数の細孔41aを介して、検査箱10の内部と外部とが連通している。排気ファン42はハニカム体41の外側に設けられており、排気ファン42が駆動すると、検査箱10内の熱が外部に排気されるようになっている。
<Exhaust unit>
The exhaust unit 40 will be described with reference to FIG.
The exhaust unit 40 is a unit that exhausts heat released from the normal electronic device S and the inspection electronic device T and prevents an excessive temperature rise in the inspection box 10. As shown in FIG. 4A, the exhaust unit 40 includes a honeycomb body 41 (radio wave shielding means) also called a metal honeycomb and an
The
ハニカム体41の各細孔41aを取り囲む周壁41bは筒状を呈しており、この筒状の周壁41bは、アンテナ用導波管21、テーブル用導波管35と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管として機能している。すなわち、ハニカム体41は、細孔41aを取り囲む筒状の周壁41bからなる導波管が、複数集合し、束状となって構成されている。
また、ハニカム体41を取り付けるため、検査箱10の側壁10bに形成する貫通孔の開口径Y1、ハニカム体41の長さY2(=筒状の周壁41bからなる各導波管の長さ)および細孔41aの開口径Y3は、アンテナ用導波管21等と同様に、ハニカム体41内を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される(例えば、Y1=79.5mm、Y2=12.7mm、Y3=3.18mm)。なお、図4(b)に示すように、本実施形態では、ハニカム体41の細孔41aが六角形である場合を例示しているが、これに限定されず、矩形などであってもよい。
The peripheral wall 41b surrounding each
Further, in order to attach the
<制御ユニット>
図2に戻って説明を続ける。
制御ユニット51は、アンテナ20から正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに送る電波と、回転ユニット30とを制御するユニットである。このような制御ユニット51は、CPU、ROM、RAM、各種インタフェイス、電子回路などから構成される。制御ユニット51の具体的な動作については、後で説明する。
<Control unit>
Returning to FIG. 2, the description will be continued.
The
<可変電波発生ユニット>
可変電波発生ユニット52は、アンテナ20で発生させる電波の強度を変化させるユニットであり、信号発生器と、アンプと、を備えている。信号発生器は、制御ユニット51からの指令を受けると、電気信号を発生するようになっている。そして、アンプは、この発生した電気信号を、制御ユニット51からの指令に応じて、増幅するようになっている。次いで、この増幅または減衰した電気信号がアンテナ20に送られるようになっている。その結果として、アンテナ20で発生し、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに送られる電波の強度が、変化するようになっている。
ここで、電波の強度を変化させるとは、例えば電波の強度を「Asin(ωt+α)、A:電波の振幅、ω:角速度、t:時間、α:位相差」とした場合、振幅Aを変化させることである。
このような可変電波発生ユニット52としては、例えば、ヒューレット・パッカード(HP)社製の8449Bなどを使用することができる。
<Variable radio wave generation unit>
The variable radio
Here, changing the intensity of the radio wave means changing the amplitude A when the radio wave intensity is “Asin (ωt + α), A: radio wave amplitude, ω: angular velocity, t: time, α: phase difference”, for example. It is to let you.
As such a variable radio
<検査ユニット>
検査ユニット60は、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの電波受信(授受)状態を検出し、検査電子機器Tが正常であるか否かを判定するユニットである。検査ユニット60は、検査ユニット本体61と、検査ユニット本体61と正常電子機器Sまたは検査電子機器Tとをそれぞれ接続するケーブル62、62と、スリップリング63とを主に備えている。検査ユニット本体61は、各電子機器の電波受信状態を検出し、この受信状態を相対比較して、検査電子機器Tが正常であるか否かを判定するものである。検査ユニット本体61の動作については、後で説明する。
<Inspection unit>
The inspection unit 60 is a unit that detects the radio wave reception (transmission / reception) state of the normal electronic device S and the inspection electronic device T and determines whether the inspection electronic device T is normal. The inspection unit 60 mainly includes an inspection unit
各ケーブル62の一端は検査ユニット本体61に接続されている。一方、各ケーブル62の他端は、EMIダクト18、テーブル本体33の挿通孔33aを介して、検査箱10内に引き出されている。さらに、各ケーブル62の他端には、正常電子機器Sまたは検査電子機器Tと着脱自在に接続するコネクタ62aが設けられている。
One end of each
ケーブル62のうち、EMIダクト18内を通る部分、および、その所定前後部分の外周面は、ケーブル62内を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体64に被覆されている。これにより、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの電波受信状態が、ケーブル62を介し、検査ユニット本体61において高精度で検出されるようになっている。このようなノイズ吸収体64としては、例えば、東洋サービス社製のEMIテープ「ルミディオン(登録商標)ET」により、ケーブル62を所定長さ(例えば300mm以上)にて巻回することで構成される。
スリップリング63は、回転テーブル31の回転により、各ケーブル62がよじれないように、適所に設けられている。
A portion of the
The
≪電子機器検査装置の動作、電子機器検査方法≫
次に、電子機器検査装置1の動作を説明しつつ、本実施形態に係る電子機器検査方法について、図5を主に参照して説明する。本実施形態に係る電子機器検査方法は、検査箱10内(電波遮蔽空間)に、正常電子機器S(図5では正常品と略称)と検査電子機器T(図5では検査品と略称)とを配置する第1工程と、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tで、強度が4段階で弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを回転軸E周りに回転させる第2工程と、を有している。
なお、ここでは、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを4回転させ、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに送る電波が、1回転毎に、レベルL4、L3、L2、L1と弱める場合について説明する。
≪Operation of electronic equipment inspection device, electronic equipment inspection method≫
Next, the electronic device inspection method according to the present embodiment will be described with reference mainly to FIG. 5 while explaining the operation of the electronic
Here, the normal electronic device S and the inspection electronic device T are rotated four times, and the radio wave transmitted to the normal electronic device S and the inspection electronic device T is weakened to levels L4, L3, L2, and L1 every rotation. explain.
<第1工程>
オペレータは扉12を開き、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを検査箱10内に挿入し、治具32、32に取り付け、正常電子機器Sと検査電子機器Tとを回転軸Eに対して軸対称、つまり、回転軸Eから等しい距離に配置する。そして、コネクタ62a、62aを正常電子機器Sまたは検査電子機器Tにそれぞれ接続する。
<First step>
The operator opens the door 12, inserts the normal electronic device S and the inspection electronic device T into the inspection box 10, attaches them to the
<第2工程>
オペレータは検査開始スイッチ(図示しない)をONにする。制御ユニット51は、この検査スイッチのON信号を検知すると、可変電波発生ユニット52にアンテナ20から電波を発生するように指令を送る。そうすると、可変電波発生ユニット52に内蔵された信号発生器は、制御ユニット51からの指令に基づいて、電気信号を発生する。次いで、可変電波発生ユニット52に内蔵されたアンプが、制御ユニット51からの指令に従って、電気信号を適宜に増幅させた後、この増幅した信号がアンテナ20に送られる。その結果として、アンテナ20では、強度が変化した電波が発生し、この電波が正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの各々に送られる。
これに並行して、制御ユニット51は、モータ電源37に、モータ36に電力を供給し回転テーブル31を所定の回転速度で回転させる指令を送る。そうすると、この指令に基づいて、モータ電源37からモータ36に電力が供給され、モータ36が駆動し、減速機構38を介して、回転テーブル31、つまり、これに保持固定された正常電子機器Sおよび検査電子機器Tが、回転軸E周りに回転する。
<Second step>
The operator turns on an inspection start switch (not shown). When detecting the ON signal of the inspection switch, the
In parallel with this, the
このようにアンテナ20から、回転する正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに電波を送りながら、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの電波の受信状態を検査ユニット本体61で検出する。
そして、検査ユニット本体61は、正常電子機器Sと検査電子機器Tとが入れ替わる検査点(例えば、図5に示す3回転目の検査点A1と検査点A3、検査点A2と検査点A4)において、正常電子機器Sと検査電子機器Tとの電波受信状態を相対比較する。次いで、検査ユニット本体61は、同一の電波の強度(図5では、レベルL2の電波強度)において、正常電子機器Sが受信したにも関わらず検査電子機器Tが受信しない場合、検査電子機器Tは正常でないと判定し、例えば、液晶パネル61aにその表示をする。一方、検査ユニット本体61は、同一の電波の強度において、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tのいずれもが受信できた場合、検査電子機器Tは正常であると判定する。
Thus, the inspection unit
And the inspection unit
なお、図5では、電波の強度がレベルL4の1回転目、レベルL3の2回転目では、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tのいずれもが電波を受信できたが、レベルL2の3回転目に係る検査点A1、A2、A3、A4では正常電子機器Sのみ受信し、レベルL1の4回転目に係る検査点A5、A6、A7、A8ではいずれも受信できなかったことを示している。 In FIG. 5, both the normal electronic device S and the inspection electronic device T can receive the radio wave at the first rotation of the level L4 and the second rotation of the level L3. Only the normal electronic device S is received at the inspection points A1, A2, A3, and A4 related to the eyes, and none is received at the inspection points A5, A6, A7, and A8 related to the fourth rotation of the level L1. .
このようにして、本実施形態に係る電子機器検査装置1および電子機器検査方法によれば、正常電子機器Sと検査電子機器Tとを、回転軸Eに対して軸対称に配置し、各電子機器に回転毎に強度の異なる電波を送りながら、各電子機器を回転させて入れ替えることにより、精密に相対比較することができ、検査電子機器Tが正常であるか否かを精密に検査することができる。
Thus, according to the electronic
さらに、検査ユニット本体61が、図5に示すグラフに基づいて、図6に示すような、正常電子機器Sの受信限界レベルL11(アンテナ20が発する電波の強度であって正常電子機器Sが受信可能な電波の最小強度)と、検査電子機器Tの受信限界レベルL12(アンテナ20が発する電波の強度であって検査電子機器Tが受信可能な電波の最小強度)とを求め、検査電子機器Tの受信限界レベルL12が、正常電子機器Sの受信限界レベルL11より高い場合(L12>L11)、検査電子機器Tが正常でないと判定するような構成としてもよい。
Further, based on the graph shown in FIG. 5, the inspection unit
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、例えば以下のような変更が可能である。 The preferred embodiments of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and the following modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
前記した実施形態では、電子機器を携帯電話とした場合について説明したが、この他に例えば、PDA(Personal Digital Assistance)や、無線LAN機能を備えるノートパソコンなどであってもよい。 In the embodiment described above, the case where the electronic device is a mobile phone has been described, but other than this, for example, a PDA (Personal Digital Assistance), a notebook computer having a wireless LAN function, or the like may be used.
前記した実施形態では、アンテナ20から、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに電波を送り、各電子機器の電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Tが正常であるか否かを判定したが、その他に例えば、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tから、アンテナ20に電波を送り、相対比較することで検査電子機器Tを検査してもよい。
In the embodiment described above, it is determined whether or not the inspection electronic device T is normal by sending a radio wave from the
前記した実施形態では、検査装置本体として検査箱10を例示したが、その他に例えば、大型の電波暗室であってもよい。 In the above-described embodiment, the inspection box 10 is illustrated as the inspection apparatus main body. However, for example, a large anechoic chamber may be used.
前記した実施形態では、検査箱10が略立方体の箱体である場合を例示したが、検査箱10の形状はこれに限定されず、適宜変更自由であり、例えば検査箱10は円筒体状であってもよい。このように検査箱10が円筒体状である場合、検査箱10の中心軸線と、回転テーブル31の回転軸Eとを一致させ、さらにアンテナ20を回転軸E線上に位置させることが好ましい。このようにすれば、検査箱10の内面と正常電子機器Sおよび検査電子機器Tとの距離が、回転中において一定となるため、電波吸収構造16で吸収されず筐体14で反射した電波があったとしても、回転中、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tに送られる電波は一定となる。これにより、検査電子機器Tを精密に検査しやすくなる。
In the above-described embodiment, the case where the inspection box 10 is a substantially cubic box is illustrated. However, the shape of the inspection box 10 is not limited to this, and can be appropriately changed. For example, the inspection box 10 has a cylindrical shape. There may be. Thus, when the inspection box 10 has a cylindrical shape, it is preferable that the central axis of the inspection box 10 coincides with the rotation axis E of the rotary table 31, and the
前記した実施形態では、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを回転させる回転手段として回転テーブル31を備える構成としたが、回転手段はこれに限定されず、例えば、回転軸Eで回転する回転アームを備える構成としてもよい。 In the above-described embodiment, the rotation table 31 is provided as a rotation unit that rotates the normal electronic device S and the inspection electronic device T. However, the rotation unit is not limited thereto, and, for example, a rotation arm that rotates on the rotation axis E. It is good also as a structure provided with.
前記した実施形態では、可変電波発生ユニット52(電波強度変化手段)は、電気信号を増幅させるアンプを内蔵し、このアンプよって適宜に増幅された電気信号がアンテナ20に送られ、アンテナ20で発生する電波の強度が変化するとしたが、その他に例えば、可変電波発生ユニット52が減衰器を内蔵し、前記電気信号を適宜に減衰させることにより、アンテナ20で発生する電波の強度を変化させる構成としてもよい。
In the above-described embodiment, the variable radio wave generation unit 52 (radio wave intensity changing means) includes an amplifier that amplifies an electric signal, and the electric signal appropriately amplified by this amplifier is sent to the
前記した実施形態では、正常電子機器Sと検査電子機器Tとを回転軸Eに対して軸対称、つまり、各電子機器を平面視において180°対向させて配置し、回転テーブル31を180°回転させることで正常電子機器Sと検査電子機器Tを入れ替える場合を例示したが、各電子機器の位置はこれに限定されず、例えば、平面視において正常電子機器Sと検査電子機器Tとを周方向に90°ずらして配置してもよく、このような場合、回転テーブル31を90°回転させることで、正常電子機器Sと検査電子機器Tとを入れ替えることができる。なお、回転軸Eから、正常電子機器S、検査電子機器Tまでの距離は、前記した実施形態と同様に等しくする。 In the above-described embodiment, the normal electronic device S and the inspection electronic device T are symmetrical with respect to the rotation axis E, that is, the electronic devices are arranged to face each other by 180 ° in plan view, and the rotary table 31 is rotated by 180 °. However, the position of each electronic device is not limited to this. For example, the normal electronic device S and the inspection electronic device T are arranged in the circumferential direction in plan view. In such a case, the normal electronic device S and the inspection electronic device T can be interchanged by rotating the turntable 31 by 90 °. In addition, the distance from the rotating shaft E to the normal electronic device S and the inspection electronic device T is equal to that in the above-described embodiment.
前記した実施形態では、電波の強度を変化する方式として、電波の強度を弱くする場合について説明したが、逆に電波の強度を強くする方式であってもよい。
また、回転毎に電波を弱める(または強める)程度は、適宜に変更してよいことは言うまでもない。
さらに、例えば、図5において、2回転目のレベルL3の強度の電波を、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの両者が受信でき、3回転目のレベルL2の強度の電波を両者が受信できなかった場合、電波強度の下げ幅を小さく変更することで、さらに精密な検査をすることができる。
さらにまた、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの総回転数は4回転に、電波の強度の段階的な変化数は4段階に、それぞれ限定されず、回転数を増加させると共に、さらに多数の段階で電波強度を変化させることにより、精密に検査することができる。
In the embodiment described above, the case where the strength of the radio wave is reduced has been described as a method of changing the strength of the radio wave. However, a method of increasing the strength of the radio wave may be used.
Needless to say, the degree of weakening (or strengthening) of the radio wave at each rotation may be changed as appropriate.
Further, for example, in FIG. 5, both the normal electronic device S and the inspection electronic device T can receive the radio wave having the level L3 of the second rotation, and both can receive the radio wave of the level L2 of the third rotation. If not, it is possible to perform a more precise inspection by changing the decrease in the radio field intensity to a smaller value.
Furthermore, the total number of rotations of the normal electronic device S and the inspection electronic device T is not limited to 4 rotations, and the stepwise change number of the radio wave intensity is not limited to 4 steps. By changing the radio wave intensity in stages, it is possible to inspect precisely.
前記した実施形態では、第2工程において、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tで、4段階でその強度が弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tを回転軸E周りに4回転させるとしたが、その他に例えば、図7に示すように、回転させず固定位置において各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信し(第2工程)、その後、回転軸E周りに180°回転させて、正常電子機器Sと検査電子機器Tとを入れ替え(第3工程)、再び各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信してもよい(第4工程)。 In the above-described embodiment, in the second step, the normal electronic device S and the inspection electronic device T receive the radio waves whose intensity decreases in four stages, and the normal electronic device S and the inspection electronic device T are rotated around the rotation axis E. In addition to this, for example, as shown in FIG. 7, each electronic device receives a radio wave whose intensity is continuously weakened at a fixed position without being rotated (second step). The normal electronic device S and the inspection electronic device T are exchanged by rotating 180 ° around the rotation axis E (third step), and each electronic device receives a radio wave whose intensity continuously decreases again. (4th process).
このようにすれば、回転前において正常電子機器Sの電波受信限界が検査点B1であって、その電波強度がレベルL21であった場合、180°回転後の検査電子機器Tの電波受信限界が検査点B2であり、その電波強度がレベルL21より高いとき、検査電子機器Tは正常でないと判定することができる。一方、回転後の検査電子機器Tの電波受信限界が検査点B3であり、電波強度がレベルL21と同一であるとき、検査電子機器Tは正常であると判定することができる。 In this way, when the radio wave reception limit of the normal electronic device S before the rotation is the inspection point B1 and the radio wave intensity is level L21, the radio wave reception limit of the inspection electronic device T after 180 ° rotation is When it is the inspection point B2 and its radio field intensity is higher than the level L21, it can be determined that the inspection electronic device T is not normal. On the other hand, when the radio wave reception limit of the inspection electronic device T after rotation is the inspection point B3 and the radio wave intensity is the same as the level L21, it can be determined that the inspection electronic device T is normal.
その他、図8に示すように、各回転において、電波の強度を90°回転毎に、変化させる方式を採用してもよい。この場合、正常電子機器Sと検査電子機器Tとが入れ替わる検査点C1と検査点C2、検査点C3と検査点C4とにおける電波受信状態を、検査ユニット本体61で抽出し、相対比較することで、検査電子機器Tが正常であるか否かを判定することができる。
その他、電波の強度を例えば30°毎に変化させる方式を採用してもよい。
In addition, as shown in FIG. 8, in each rotation, a method of changing the intensity of the radio wave every 90 ° rotation may be adopted. In this case, the radio wave reception state at the inspection point C1 and the inspection point C2, and the inspection point C3 and the inspection point C4 where the normal electronic device S and the inspection electronic device T are interchanged is extracted by the inspection unit
In addition, for example, a method of changing the intensity of radio waves every 30 ° may be employed.
前記した実施形態では、扉12に窓13が設けられた構成としたが、窓13の位置はこれに限定されず、例えば検査箱10に直接設けてもよい。また、窓13の数もこれに限定されず、複数の窓13を検査箱10に設けて、正常電子機器Sおよび検査電子機器Tの視認性を高める構成としてもよい。 In the above-described embodiment, the window 13 is provided on the door 12. However, the position of the window 13 is not limited to this, and may be provided directly on the examination box 10, for example. The number of windows 13 is not limited to this, and a plurality of windows 13 may be provided in the inspection box 10 to increase the visibility of the normal electronic device S and the inspection electronic device T.
前記した実施形態では、λ/4の厚みT1を有するスペーサ16Aを設けたが、筐体14と抵抗膜シート16Bとの間隔をλ/4に設定可能ならば、スペーサ16Aを備えなくてもよい。ただし、筐体14と、抵抗膜シート16Bとの間は、電波が透過可能である必要がある。
In the above-described embodiment, the
前記した実施形態では、導波管として、アンテナ用導波管21と、テーブル用導波管35と、ハニカム体41を構成する複数の導波管と、を備える構成としたが、導波管の数はこれに限定されず、例えば吸気用の導波管を検査箱10に設けてもよい。
In the above-described embodiment, the waveguide includes the
前記した実施形態では、検査箱10は金属製の筐体14を備え、その遮蔽性、剛性等を高める構成としたが、例えば、電波吸収性を有する板材で箱体を構成し、これを検査箱としてもよい。
In the above-described embodiment, the inspection box 10 includes the
前記した実施形態では、排気ユニット40は、1つのハニカム体41を備える構成としたが、さらにハニカム体41を備え、ハニカム体41が複数段である構成であってもよい。すなわち、複数の導波管(束)をその長手方向に複数段で配置された構成としてもよい。この場合において、段違いで配置された導波管の仕様(内径や長さ)を別々に設定することにより、各導波管内を伝搬させない電波を別々に設定することができる。そして、その結果として、段違いに配置された導波管全体としての電波の遮蔽能力を高めることができる。
その他、1つの大内径の導波管内に、複数の導波管(束)であるハニカム体を備える構成、つまり、多重構造の導波管としてもよい。
In the above-described embodiment, the exhaust unit 40 is configured to include one
In addition, it is good also as a structure provided with the honeycomb body which is a some waveguide (bundle) in one large internal diameter waveguide, ie, a multiple structure waveguide.
前記した実施形態では、筐体14の内面に電波吸収構造16が設けられたことにより、検査箱10が電波吸収性を有する構成としたが、電波吸収構造16に代えて、図9に示すように、筐体14の内面を、電波吸収シート34と同材質の電波吸収シート19で覆う構成としてもよい。また、電波吸収シートを、例えばアンテナ用導波管の内面に設け、電波遮蔽性を高めるようにしてもよい。
In the embodiment described above, the radio wave absorbing structure 16 is provided on the inner surface of the
前記した実施形態では、排気ユニット40を構成するハニカム体41の細孔41aを介して排気するとしたが、図10(a)に示すように側面パネル15に複数の排気孔15a(空気流通孔)を形成すると共に、側面パネル15の外側に排気ファン42を取り付けて(図10(b)参照)、複数の排気孔15aを介して排気するようにしてもよい。この場合、各排気孔15aが所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔15aの内径、長さを設定する(図10(c)参照)。このように側面パネル15に複数の排気孔15aが形成された場合、排気孔15aが導波管の中空部に相当し、側面パネル15は前記導波管が束になって集合した導波管集合プレートに相当する。具体的に例えば、厚さ10mmの側面パネル15に、直径3.0mmの排気孔15aが約100個にて形成される。ただし、このような複数の空気流通孔は排気用に限らず、吸気用であってもよいことは言うまでもない。なお、図10では、電波吸収構造16を省略して記載している。
In the above-described embodiment, exhaust is performed through the
前記した側面パネル15に複数の排気孔15aを形成した場合に代えて(図10参照)、図11(a)に示すように、側面パネル15に大きめの開口15bを形成し、この開口15bを検査箱10の内側から塞ぐように、複数の排気孔44aが形成されたプレート44を、取付枠43を介して、側面パネル15に取り付けてもよい(図11(b)参照)。この場合、排気孔44aが、排気孔15aと同様に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔44aの内径、長さを設定する(図11(c)参照)。また、このように側面パネル15とは別のプレート44に排気孔44aを形成したことにより、検査箱10の内部と外部とを伝播させない電波の種類に対応して、プレート44を容易に取り替えることができる。
Instead of forming a plurality of
その他、図12(a)に示すように、排気孔44aが形成されたプレート44に代えて、エクスパンドアルミとも称されるアルミニウム片フィルタ45(電波遮蔽手段)を使用してもよい。アルミニウム片フィルタ45は、取付枠43に設けられたメッシュ43aと、取付枠46に設けられたメッシュ46aとで挟まれつつ、開口15bに蓋をするようにして、側面パネル15に固定される(図12(b)、(c)参照)。アルミニウム片フィルタ45(金属製のフィルタ)は、例えばアルミニウムまたはアルミニウム合金の小片(金属片)が集合して構成されたものであり、その内部に空気が流通する隙間を有している。そして、検査箱10内の空気が、アルミニウム片フィルタ45の隙間を通って、外部に排出されるようになっている。
ここで、電波もアルミニウム片フィルタ45の隙間を通過しようとするが、アルミニウム片フィルタ45を構成するアルミニウム等の小片によって電波が回折損失し、電波が遮蔽されるようになっている。なお、電波の回折損失とは、電波が複数のアルミニウム等の小片によって反射し、この小片の背面側(電波の進行方向側)に電波が伝播しにくいことである。
また、このようなアルミニウム片フィルタ45に代えて、スチールウールや、メッシュが複数重ねられてなるメッシュ積層体を、電波遮蔽手段として使用することもできる。
In addition, as shown in FIG. 12A, instead of the
Here, the radio wave also tries to pass through the gap of the
Further, instead of such an
1 電子機器検査装置
10 検査箱(検査装置本体)
12 扉
13 窓
14 筐体
15 側面パネル
16 電波吸収構造
16A スペーサ
16B 抵抗膜シート
16C 保護膜
17 LEDランプ(照明)
18 EMIダクト
19 電波吸収シート
20 アンテナ(電波授受手段)
21 アンテナ用導波管(電波遮蔽手段)
30 回転ユニット(回転手段)
31 回転テーブル
32 治具(保持固定手段)
33 テーブル本体
34 電波吸収シート
35 テーブル用導波管(電波遮蔽手段)
36 モータ
37 モータ電源
38 減速機構
40 排気ユニット
41 ハニカム体(電波遮蔽手段)
42 排気ファン
44 プレート(電波遮蔽手段)
45 アルミニウム片フィルタ(電波遮蔽手段)
51 制御ユニット(制御手段)
52 可変電波発生ユニット(可変電波発生手段)
60 検査ユニット(検査手段)
61 検査ユニット本体
63 スリップリング
64 ノイズ吸収体
E 回転軸
S 正常電子機器
T 検査電子機器
L1〜L4 電波強度のレベル
1 Electronic equipment inspection device 10 Inspection box (main body of inspection device)
12 door 13
18 EMI duct 19 Radio
21 Waveguide for antenna (radio wave shielding means)
30 Rotating unit (Rotating means)
31 Rotary table 32 Jig (holding and fixing means)
33 Table body 34 Radio
36
42
45 Aluminum piece filter (Radio wave shielding means)
51 Control unit (control means)
52 Variable radio wave generation unit (variable radio wave generation means)
60 Inspection unit (inspection means)
61
Claims (15)
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第1工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させ、電波の強度を変化させる第2工程と、
を有し、
同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器が受信したにも関わらず前記被検査電子機器が受信しないとき、前記被検査電子機器は正常でないと判定し、
同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器および前記被検査電子機器のいずれもが受信できたとき、前記被検査電子機器は正常であると判定する
ことを特徴とする電子機器検査方法。 An electronic device inspection method for inspecting an electronic device to be inspected by transmitting and receiving radio waves to and from each normal electronic device to be inspected and an electronic device to be inspected, and comparing the radio wave transmission / reception states of the electronic devices with each other ,
A first step of disposing the normal electronic device and the electronic device to be inspected at an equal distance from a predetermined rotation axis in a radio wave shielding space where external radio waves are shielded;
A second step of changing the intensity of the radio wave by rotating each electronic device around the rotation axis while exchanging radio waves with the respective electronic devices;
I have a,
In the case of the same radio wave intensity at the same inspection point, when the electronic device to be inspected is not received even though the normal electronic device has received, it is determined that the electronic device to be inspected is not normal,
When both of the normal electronic device and the electronic device to be inspected are received at the same inspection point and the same radio wave intensity, it is determined that the electronic device to be inspected is normal
Electronic equipment inspection wherein a call.
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第1工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第2工程と、
前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを入れ替える第3工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第4工程と、
を有し、
同一の検査点で、前記正常電子機器の受信限界レベルと、前記被検査電子機器の受信限界レベルとを、それぞれ求め、
前記被検査電子機器の受信限界レベルが、前記正常電子機器の受信限界レベルより高い場合、前記被検査電子機器は正常でないと判定する
ことを特徴とする電子機器検査方法。 An electronic device inspection method for inspecting an electronic device to be inspected by transmitting and receiving radio waves to and from each normal electronic device to be inspected and an electronic device to be inspected, and comparing the radio wave transmission / reception states of the electronic devices with each other ,
A first step of disposing the normal electronic device and the electronic device to be inspected at an equal distance from a predetermined rotation axis in a radio wave shielding space where external radio waves are shielded;
A second step of changing the intensity of radio waves while exchanging radio waves with each electronic device;
A third step of rotating around the rotation axis to replace the normal electronic device and the electronic device to be inspected;
A fourth step of changing the intensity of radio waves while exchanging radio waves with each electronic device;
I have a,
At the same inspection point, obtain the reception limit level of the normal electronic device and the reception limit level of the electronic device to be inspected, respectively.
When the reception limit level of the electronic device to be inspected is higher than the reception limit level of the normal electronic device, it is determined that the electronic device to be inspected is not normal
Electronic equipment inspection wherein a call.
前記正常電子機器および前記被検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、
前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、
前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、
所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、
前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段と、
前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記被検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させながら、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、
前記検査手段は、
同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器が受信したにも関わらず前記被検査電子機器が受信しないとき、前記被検査電子機器は正常でないと判定し、
同一の検査点で同一の電波の強度である場合において、前記正常電子機器および前記被検査電子機器のいずれもが受信できたとき、前記被検査電子機器は正常であると判定する
ことを特徴とする電子機器検査装置。 And exchanges radio waves with each of the test electronics that normal normal electronic devices and inspection, the radio wave transmission and reception state of each electronic device by relative comparison, in the electronic device testing apparatus for testing a device under test electronic equipment There,
The normal electronic device and the electronic device to be inspected are put inside, an inspection apparatus main body having a radio wave shielding property to absorb a radio wave radiated from each external device and a shielding property of a radio wave from the outside,
Radio wave transmission / reception means for transmitting / receiving radio waves to / from each electronic device;
Radio wave shielding means for shielding radio waves while communicating between the outside and the inside of the inspection apparatus main body,
A rotating means capable of rotating around a predetermined rotation axis, and wherein each electronic device is attached at an equal distance from the rotation axis;
Radio wave intensity changing means for changing the intensity of radio waves transmitted and received between the electronic devices and the radio wave transmitting / receiving means;
Control means for controlling the rotating means and the radio field intensity changing means;
Inspection means for inspecting the electronic device to be inspected by detecting a radio wave transmission / reception state of each electronic device,
With
The control means changes the intensity of the radio wave by the radio wave intensity changing means while rotating the rotating means around the rotation axis,
The inspection means includes
In the case of the same radio wave intensity at the same inspection point, when the electronic device to be inspected is not received even though the normal electronic device has received, it is determined that the electronic device to be inspected is not normal,
When both of the normal electronic device and the electronic device to be inspected are received at the same inspection point and the same radio wave intensity, it is determined that the electronic device to be inspected is normal
Electronic equipment inspection device comprising a call.
前記正常電子機器および前記被検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、
前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、
前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、
所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、
前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段と、
前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記被検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させて前記正常電子機器と前記被検査電子機器とを入れ替え、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、
前記検査手段は、
同一の検査点で、前記正常電子機器の受信限界レベルと、前記被検査電子機器の受信限界レベルとを、それぞれ求め、
前記被検査電子機器の受信限界レベルが、前記正常電子機器の受信限界レベルより高い場合、前記被検査電子機器は正常でないと判定する
ことを特徴とする電子機器検査装置。 And exchanges radio waves with each of the test electronics that normal normal electronic devices and inspection, the radio wave transmission and reception state of each electronic device by relative comparison, in the electronic device testing apparatus for testing a device under test electronic equipment There,
The normal electronic device and the electronic device to be inspected are put inside, an inspection apparatus main body having a radio wave shielding property to absorb a radio wave radiated from each external device and a shielding property of a radio wave from the outside,
Radio wave transmission / reception means for transmitting / receiving radio waves to / from each electronic device;
Radio wave shielding means for shielding radio waves while communicating between the outside and the inside of the inspection apparatus main body,
A rotating means capable of rotating around a predetermined rotation axis, and wherein each electronic device is attached at an equal distance from the rotation axis;
Radio wave intensity changing means for changing the intensity of radio waves transmitted and received between the electronic devices and the radio wave transmitting / receiving means;
Control means for controlling the rotating means and the radio field intensity changing means;
Inspection means for inspecting the electronic device to be inspected by detecting a radio wave transmission / reception state of each electronic device,
With
The control means changes the intensity of the radio wave by the radio wave intensity changing means, and then rotates the rotating means around the rotation axis to replace the normal electronic device and the electronic device to be inspected, and then the radio wave intensity. Change the intensity of the radio wave by changing means,
The inspection means includes
At the same inspection point, obtain the reception limit level of the normal electronic device and the reception limit level of the electronic device to be inspected, respectively.
When the reception limit level of the electronic device to be inspected is higher than the reception limit level of the normal electronic device, it is determined that the electronic device to be inspected is not normal
Electronic equipment inspection device comprising a call.
前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることを特徴とする請求項4から請求項7のいずれか1項に記載の電子機器検査装置。 Holding and fixing means for holding and fixing each electronic device to the rotating means,
The electronic device testing apparatus according to any one of claims 7 each holding securing means of claims 4, characterized in that the axial symmetry with respect to the rotation axis.
前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、
を備えたことを特徴とする請求項4から請求項8のいずれか1項に記載の電子機器検査装置。 A cable connected to each electronic device;
A slip ring that prevents kinking of the connection cable due to the rotation;
Electronic device testing apparatus according to any one of claims 8 from claim 4, further comprising a.
前記ケーブルは前記EMIダクトに挿通されていることを特徴とする請求項9に記載の電子機器検査装置。 Equipped with an EMI duct that prevents radio interference,
The electronic device inspection apparatus according to claim 9 , wherein the cable is inserted into the EMI duct.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005293940A JP4784249B2 (en) | 2005-10-06 | 2005-10-06 | Electronic device inspection method and electronic device inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005293940A JP4784249B2 (en) | 2005-10-06 | 2005-10-06 | Electronic device inspection method and electronic device inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007101445A JP2007101445A (en) | 2007-04-19 |
JP4784249B2 true JP4784249B2 (en) | 2011-10-05 |
Family
ID=38028522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005293940A Expired - Fee Related JP4784249B2 (en) | 2005-10-06 | 2005-10-06 | Electronic device inspection method and electronic device inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4784249B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101701706B1 (en) * | 2016-07-15 | 2017-02-03 | 한국센서연구소 주식회사 | Apparatus for Measuring Low Frequency Noise with Shielding Capability |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010013408A1 (en) * | 2008-07-28 | 2010-02-04 | 国立大学法人金沢大学 | Radio field strength measuring device and radio field strength measuring system |
JP2015171846A (en) * | 2014-03-12 | 2015-10-01 | 富士重工業株式会社 | intake duct |
US10605857B2 (en) * | 2017-05-24 | 2020-03-31 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Anechoic chamber for testing a device under test |
SE541521C2 (en) * | 2018-01-17 | 2019-10-29 | Bluetest Ab | Apparatus and method for production testing of devices with wireless capability |
US10935596B2 (en) | 2018-07-20 | 2021-03-02 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Test system and method with a thermally isolated hollow body inside an over the air measurement chamber |
KR102303445B1 (en) * | 2020-03-02 | 2021-09-23 | 메이드테크(주) | Cellular phone shield box |
JP7348218B2 (en) * | 2021-02-05 | 2023-09-20 | アンリツ株式会社 | Temperature test equipment and temperature test method |
KR102523640B1 (en) * | 2022-01-28 | 2023-04-19 | 주식회사 이노와이어리스 | shield box for testing mobile telecommunication terminal |
-
2005
- 2005-10-06 JP JP2005293940A patent/JP4784249B2/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
KR101701706B1 (en) * | 2016-07-15 | 2017-02-03 | 한국센서연구소 주식회사 | Apparatus for Measuring Low Frequency Noise with Shielding Capability |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007101445A (en) | 2007-04-19 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |