JP2008232686A - 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム - Google Patents
変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008232686A JP2008232686A JP2007069810A JP2007069810A JP2008232686A JP 2008232686 A JP2008232686 A JP 2008232686A JP 2007069810 A JP2007069810 A JP 2007069810A JP 2007069810 A JP2007069810 A JP 2007069810A JP 2008232686 A JP2008232686 A JP 2008232686A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deformation
- scattered light
- speckle pattern
- deformation amount
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明の変形測定装置10は、スペックルパターンを検出し、検出されたスペックルパターンを、各時刻に対応付けられた散乱光の強度値として記憶し、記憶されたスペックルパターンの領域内の任意の位置で、散乱光の強度変化周期を算出する。そして、散乱光の強度変化周期の大小を判定するための基準値を記憶しておき、基準値に基づいて、特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいか否かを判定する。特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいと判定されたとき、強度変化周期が十分に小さいと判定された位置での強度値の変化から、この位置に対応する位置での測定対象物の変形量を算出する。
【選択図】図1
Description
図1は、変形測定システム1の構成の概要を示す概念図である。変形測定システム1は、測定対象物7を引っ張って変形させるとともに、その表面7aの反射で生じたスペックルパターンの変化により変形量を測定するためのシステムである。図1に示すように、変形測定システム1は、レーザ光源2、ミラー3、4、レンズ5、6、8、測定対象物7、高速度カメラ11(検出部)、解析装置20、治具51、52、制御装置53、疲労試験制御装置54から構成されている。変形測定装置10は、高速度カメラ11および解析装置20により構成されている。
2 レーザ光源
3、4 ミラー
5、6、8 レンズ
7 測定対象物
7a 測定対象物の表面
10 変形測定装置
11 高速度カメラ
20 解析装置
21 スペックルパターン記憶部
21a 第1のメモリ
21b 強度演算部
21c 第2のメモリ
23 基準値抽出部
24 基準値記憶部
26 操作部
27 領域記憶部
29 周期算出部
30 判定部
31 変形量算出部
32 干渉パターン算出部
33 測定データ記憶部
34 出力部
35 測定制御部
51、52 治具
53 制御装置
54 疲労試験制御装置
70 マスクページ
71 測定対象表示領域
72 測定領域
80 計測用モニター画面
81 差分画像表示領域
83 波形表示部
84 結果表示領域
t 時刻
x 位置
u 変形量
α 入射角
φ 位相の時間変化
Claims (8)
- 変形している測定対象物の表面でレーザ光が散乱されて生じたスペックルパターンを検出する検出部と、
前記検出されたスペックルパターンを、各時刻に対応付けられた散乱光の強度値として記憶するスペックルパターン記憶部と、
前記記憶されたスペックルパターンの領域内の任意の位置で、散乱光の強度変化周期を算出する周期算出部と、
散乱光の強度変化周期の大小を判定するための基準値を記憶する基準値記憶部と、
前記基準値に基づいて、特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいか否かを判定する判定部と、
前記判定の結果、前記特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいと判定されたとき、前記強度変化周期が十分に小さいと判定された位置での強度値の変化から、この位置に対応する位置での前記測定対象物の変形量を算出する変形量算出部と、を備えることを特徴とする変形測定装置。 - 前記測定対象物の初期の塑性変形時に、前記記憶されたスペックルパターンの領域内の位置で算出された散乱光の強度変化周期を前記基準値として抽出し、前記基準値記憶部に記憶させる基準値抽出部を更に備えることを特徴とする請求項1記載の変形測定装置。
- 前記変形量算出部は、前記記憶されたスペックルパターンの所定領域内で前記強度変化周期が十分に小さいと判定された位置について算出された変形量を、前記所定領域内にわたって積算することを特徴とする請求項1から請求項2のいずれかに記載の変形測定装置。
- 前記変形量算出部は、前記記憶されたスペックルパターンの所定領域内で測定対象物の変形の小さい変形量として、散乱光の強度変化周期が小さいと判定されなかったいずれかの位置で算出された前記測定対象物の変形量で代表させることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の変形測定装置。
- 測定者からの領域を指定する操作を受付ける操作部と、
前記操作に基づき、指定された領域を表示する出力部と、を更に備え、
前記変形量算出部は、予め測定者の操作により決定された領域を前記所定領域内として前記測定対象物の変形量を算出することを特徴とする請求項3または請求項4記載の変形測定装置。 - 前記変形量算出部は、ヒルベルト変換、フーリエ変換、またはウェーブレット変換を含む処理を行うことにより、前記測定対象物の変形量を算出することを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の変形測定装置。
- 変形させている測定対象物の表面でレーザ光が散乱されて生じたスペックルパターンを検出する検出ステップと、
前記検出されたスペックルパターンを、各時刻に対応付けられた散乱光の強度値として記憶するスペックルパターン記憶ステップと、
前記記憶されたスペックルパターンの領域内の任意の位置で、散乱光の強度変化周期を算出する周期算出ステップと、
散乱光の強度変化周期の大小を判定するための基準値に基づいて、特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいか否かを判定する判定ステップと、
前記判定の結果、前記特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいと判定されたとき、前記強度変化周期が十分に小さいと判定された位置での強度値の変化から、この位置に対応する位置での前記測定対象物の変形量を算出する変形量算出ステップと、を含むことを特徴とする変形測定方法。 - 変形させている測定対象物の表面でレーザ光が散乱されて生じたスペックルパターンを検出し、各時刻に対応付けられた散乱光の強度値として記憶し、記憶されたスペックルパターンから測定対象物の変形量を測定する装置に用いられる変形測定プログラムであって、
前記記憶されたスペックルパターンの領域内の任意の位置で、散乱光の強度変化周期を算出する周期算出処理と、
散乱光の強度変化周期の大小を判定するための基準値に基づいて、特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいか否かを判定する判定処理と、
前記判定の結果、前記特定位置の散乱光の強度変化周期が十分に小さいと判定されたとき、前記強度変化周期が十分に小さいと判定された位置での強度値の変化から、この位置に対応する位置での前記測定対象物の変形量を算出する変形量算出処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする変形測定プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007069810A JP5017556B2 (ja) | 2007-03-19 | 2007-03-19 | 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007069810A JP5017556B2 (ja) | 2007-03-19 | 2007-03-19 | 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008232686A true JP2008232686A (ja) | 2008-10-02 |
JP5017556B2 JP5017556B2 (ja) | 2012-09-05 |
Family
ID=39905677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007069810A Expired - Fee Related JP5017556B2 (ja) | 2007-03-19 | 2007-03-19 | 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5017556B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103363919A (zh) * | 2013-07-15 | 2013-10-23 | 国家电网公司 | 基于白光散斑技术测量电厂高温管道应变的装置及方法 |
JP2018173663A (ja) * | 2014-01-16 | 2018-11-08 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
CN116838319A (zh) * | 2023-07-07 | 2023-10-03 | 中国矿业大学 | 一种全环境钻孔原岩应力测试装置及测量方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104864819B (zh) * | 2015-01-19 | 2017-08-01 | 华中科技大学 | 一种基于数字散斑的高速三维应变测量方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0450706A (ja) * | 1990-06-19 | 1992-02-19 | Keyence Corp | スペックル測長計及び測長方法 |
JPH0694434A (ja) * | 1992-09-09 | 1994-04-05 | Agency Of Ind Science & Technol | スペックル干渉法変形測定方法 |
JPH09133621A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-05-20 | Kagaku Gijutsu Shinko Jigyodan | 変形対象物の非破壊的検査方法およびその装置 |
JPH09297008A (ja) * | 1996-05-07 | 1997-11-18 | Shimadzu Corp | レーザ非接触伸び計 |
JPH09325016A (ja) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Hiihaisuto Seiko Kk | ディジタルスペックル干渉法を利用した物体の変形の動的観察方法 |
JP2002303512A (ja) * | 2000-11-29 | 2002-10-18 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | 物体の変形記録方法及び変形記録装置 |
-
2007
- 2007-03-19 JP JP2007069810A patent/JP5017556B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0450706A (ja) * | 1990-06-19 | 1992-02-19 | Keyence Corp | スペックル測長計及び測長方法 |
JPH0694434A (ja) * | 1992-09-09 | 1994-04-05 | Agency Of Ind Science & Technol | スペックル干渉法変形測定方法 |
JPH09133621A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-05-20 | Kagaku Gijutsu Shinko Jigyodan | 変形対象物の非破壊的検査方法およびその装置 |
JPH09297008A (ja) * | 1996-05-07 | 1997-11-18 | Shimadzu Corp | レーザ非接触伸び計 |
JPH09325016A (ja) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Hiihaisuto Seiko Kk | ディジタルスペックル干渉法を利用した物体の変形の動的観察方法 |
JP2002303512A (ja) * | 2000-11-29 | 2002-10-18 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | 物体の変形記録方法及び変形記録装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103363919A (zh) * | 2013-07-15 | 2013-10-23 | 国家电网公司 | 基于白光散斑技术测量电厂高温管道应变的装置及方法 |
JP2018173663A (ja) * | 2014-01-16 | 2018-11-08 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
CN116838319A (zh) * | 2023-07-07 | 2023-10-03 | 中国矿业大学 | 一种全环境钻孔原岩应力测试装置及测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5017556B2 (ja) | 2012-09-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100981401B1 (ko) | 미소 변위 계측법 및 장치 | |
US20170350690A1 (en) | Defect detection method and defect detection apparatus | |
JP4467862B2 (ja) | 圧縮された画像データを使用して参照なしでサーモグラフィックに表面近傍の欠陥を検出するシステム及び方法 | |
JP6638810B2 (ja) | 欠陥検査装置及び方法 | |
JP4811567B2 (ja) | 撮影画像を用いた構造物における応力計測方法 | |
US20040057054A1 (en) | Deformation measuring method and apparatus using electronic speckle pattern interferometry | |
JP6958494B2 (ja) | 変位量測定装置、変位量測定方法および変位量測定プログラム | |
KR20160030509A (ko) | 치아 표면 이미징 장치를 위한 비디오-기반 자동-캡처 | |
CN112154320B (zh) | 缺陷检测方法以及装置 | |
JP7438220B2 (ja) | 鉄筋判定装置および鉄筋判定方法 | |
CN113646627B (zh) | 缺陷检查装置和缺陷检查方法 | |
US11867611B2 (en) | Optical-interference analysis | |
JP5017556B2 (ja) | 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム | |
JP2019011995A (ja) | 剛性検出装置、剛性検出方法、及びプログラム | |
JP2020193820A5 (ja) | ||
JPH11108625A (ja) | 面形状測定装置 | |
JP2004086712A (ja) | 画像処理装置 | |
JP2018173338A (ja) | 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 | |
JP5518187B2 (ja) | 変形計測方法 | |
JP3969888B2 (ja) | 振動状態計測方法およびその装置 | |
JP2006119099A (ja) | 周期可動物の変位測定装置 | |
JP5087165B1 (ja) | 表面検査装置を調整するためのデータを出力する調整装置、調整データ出力方法及びプログラム | |
JP4946306B2 (ja) | 欠陥検査装置における照明角度設定方法 | |
JPH1038530A (ja) | レーザ非接触歪み計 | |
KR100234732B1 (ko) | 광선 무늬를 이용한 물체변형 해석장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100303 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111129 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120127 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120424 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |