JP2008225536A - 機器開発支援方法 - Google Patents

Abstract

【課題】機器開発の全体日程に影響を与えることがなく、試作機、特に生試機評価に用いる生試機の生産台数及び評価日程計画の最適化を図る機器開発支援方法を提供する。
【解決手段】評価プロセスと、前記評価プロセスにおいて評価を行う複数の評価担当セクション毎の個別評価計画とを作成するステップと、複数の前記個別評価計画の間の相対的な関連付けを行い、個別評価関連情報として格納部に格納するステップと、前記評価プロセスをモデル化した評価プロセスモデルをコンピューター上にシミュレーションモデルとして作成するステップと、前記評価プロセスモデルで、個別評価計画情報及び個別評価関連情報に基づき、シミュレーションを行い、評価に必要な試作機の台数が最小となる評価日程計画の策定及び試作機の台数の算出をするステップと、を有する機器開発支援方法。
【選択図】図１

Description

本発明は、機器開発における機器開発支援方法に関する。詳しくは、生産試作機での評価計画と生産試作機の生産台数の最適化に関する。

従来から、複写機、プリンター等の機器を量産する製造業においては、新製品の量産・販売に際し、複数の開発プロセスを経て機器の開発が行われている。図４に、機器開発計画における企画から量産までの開発プロセスの一例を示す。図４において、期間とは開発の各プロセスが実施される単位期間を示すものであり、例えば、１週間、１か月或いは２か月等、対象機器の開発規模、構造・構成等で適宜設定されるものである。

図４に示す例では、新製品の企画が企画プロセスで立案され、設計プロセスで機器の設計が行われる。続いて、設計プロセスでは、設計試作機（以下、設試機ともいう）の生産が行われ、試作評価（以下、設試機評価ともいう）が行われる。前記設試機評価では、通常、機器を構成するユニット及び機器全体の評価が行われるが、機能、性能の評価が主であり、生産性についての評価が行われることは少ない。

続いて、生産試作で、設試機評価に基づき、生産性を考慮した生産試作機（生試機）の設計（生試設計）が行われる。前記生試設計は、前記設試機評価での不具合点の修正も含み行われる。前記生試設計に基づき、生試機の生産及び評価が行われる。生試機評価は、機能、性能、耐久性、安全性等の品質保証評価及び生産性の評価を含み行われる評価であり、重要な位置を占める。

続いて、量産試作で、量産性を考慮した仕様で量産試作機（量試機）の設計（量試設計）が行われる。量試設計は、主に量産に向けての生試設計の修正である場合が多い。量試設計とほぼ同時期に、量産試作及び量産で使用される治工具、金型等が準備される。前記治工具、金型等を使用して、量試機が生産され、量産性等の量試機評価が行われる。前記量試機は、各種安全規格等の試験、製品サンプルに用いられることも多い。続いて、量産準備が行われ量産へと移行する。図４の矢印で示す開発プロセスの進行は、順次進められるとは限らず、部分的に重複して平行に進められる場合もある。

前記生試機評価に際して、各評価プロセスにおいて評価を行う複数の評価担当セクションからは、評価に必要な台数分の生試機の提供が要請される。複写機、プリンターのような機器においては、特にソフトウェアの評価部門からは、例えば、ソフトウェアのバグ出し等で、数十台を求められる場合も少なくない。

しかしながら、前述のように生産試作は、量産試作及び量産に使用される治工具及び金型を使用せずに生産される量試機の前段階の生試機であるため、生産には量試機と比べ多大な工数と費用を要する。このため、生試機生産の費用は、評価部門からの要求台数によっては、膨大になる。また、生試機生産を担当する部門、例えば生産技術部門では、生試機の生産のために多大な工数が取られ、量試、量産用の治工具、金型等の準備に影響を受けることがある。これにより、量試機生産日程の遅延が生じ、機器開発の全体日程に遅延が生ずることがある。

前記機器開発における開発支援の例として、電子機器用筐体設計において導電性の隔壁に設けられる孔の態様を変化させながら、内部から外部へ漏れ出る電波量をコンピュータ・シミュレーションにより予測し、外部へ漏れ出す電波量を減少させる孔の態様を決定する設計方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。

また、画像入力装置のシミュレーションを用いることで、製品開発の試作回数を少なくし、製品化における開発期間及びコストを有効に削減できる、シミュレーション装置を用いた開発期間の短縮方法が開示されている（例えば、特許文献２参照）。
特開２００１−１９６７５６号公報 特開２００２−４１５８１号公報

特許文献１及び２は、何れも設計に際し、機能のシミュレーションを行い、シミュレーションの結果を設計に取り入れることにより、試作回数の減少を図るものである。しかしながら、実機評価に際し必要となる試作台数の算出はしておらず、試作台数の最適化はできない。従って、試作における費用及び工数の最適化は困難であり、試作機の生産を担当する部門への負担を増加させる懸念がある。

本発明は、上記状況に鑑みなされたもので、機器開発の全体日程に影響を与えることがなく、試作機、特に前記生試機評価に用いる前記生試機の生産台数及び評価日程計画の最適化を図る機器開発支援方法を提供することを目的とする。

上記目的は、以下の方法で達成される。
１．新製品の機器開発における、企画から量産立ち上げまでの初期流動期間での、試作機の生産台数及び評価計画の最適化を図る機器開発支援方法であって、
機器開発計画で設定された開発プロセスに基づき、前記試作機の評価プロセスを作成し、格納部に格納するステップと、
前記試作機の前記評価プロセスにおいて評価を行う、複数の評価担当セクション毎の個別評価計画を作成し、個別評価計画情報として格納部に格納するステップと、
複数の前記個別評価計画の間の相対的な関連付けを行い、個別評価関連情報として格納部に格納するステップと、
前記評価プロセスをモデル化した評価プロセスモデルをコンピューター上にシミュレーションモデルとして作成するステップと、
前記評価プロセスモデルで、個別評価計画情報及び個別評価関連情報に基づき、シミュレーションを行い、評価に必要な試作機の台数が最小となる評価日程計画の策定及び試作機の台数の算出をするステップと、を有することを特徴とする機器開発支援方法。
２．前記試作機は、量産試作及び量産に使用される治工具及び金型を使用せずに生産される、量産試作機の前段階の生産試作機であることを特徴とする１に記載の機器開発支援方法。
３．前記評価プロセスは、機器の機能、性能、耐久性、安全性及び生産性の各評価プロセスを含むことを特徴とする１又は２に記載の機器開発支援方法。
４．前記個別評価計画は、評価項目、評価日程、評価手順及び試作機の使用台数を含むことを特徴とする１乃至３の何れか１項に記載の機器開発支援方法。
５．前記相対的な関連付けは、各評価の優先度、評価順位、評価合併性であることを特徴とする１乃至４の何れか１項に記載の機器開発支援方法。

上記により、機器開発の全体日程に影響を与えることがない、生試機評価に用いる生試機の最小生産台数を算出することができ、また前記最小生産台数を用いた評価日程計画を策定できる。これにより、生試機生産に掛かる工数と費用を削減することができ、生試機生産担当部門の負荷を軽減することが可能となり、機器開発の全体日程の遅延を防止することができる。

以下、図を参照しながら本発明の実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。

図１は、企画から量産立ち上げまでの初期流動期間での、生試機の生産台数及び評価計画の最適化を図る機器開発支援方法の一実施の形態を示す説明図である。

新製品の量産・販売が計画されると機器開発全体の計画である機器開発計画が機器開発計画作成部１１で作成される。前記機器開発計画は、図４に示すような開発プロセスを含め、企画から量産立ち上げまでに関わる諸項目の概要からなる。前記諸項目とは、例えば、開発期間、開発費、開発人員、開発関連部門の設定等が挙げられる。

次に、本実施の形態では、前記開発プロセスの生産試作における生試機の評価プロセスが生試評価プロセス作成部１２で作成され、格納部であるデータベース１００に格納される。前記評価プロセスは、図２に示すように、類似した評価項目からなる大分類と、その評価に掛かる期間からなる。図２に示す評価プロセスにおいては、例えば、機能評価は、機器を構成する各ユニットの機能・動作評価であり、性能評価は、機器が備えるべき性能の評価が挙げられる。耐久性評価は、機器使用における経時安定性、機器輸送時の耐久性等が、安全性評価は、機械的及び電気的安全性、異常時の安全性等が挙げられる。また、生産性評価は、部品のコスト、組立・調整の容易さ等が挙げられる。なお、評価プロセスの評価項目は、上記に限定されるものではなく、項目、分類とも対象機器により適宜設定されるものである。

次に、個別評価計画作成部１３で、前記評価プロセスに基づき、図２に示す各プロセスにおいて、細分化した評価項目の評価を行う複数の評価担当セクション毎の個別評価計画が作成され、個別評価計画情報としてデータベース１００に格納される。前記個別評価計画は、複写機等の画像形成装置を一例に挙げると、例えば、図３に示すように、機能評価では、給紙ユニット、原稿読み取りユニット、露光ユニット等の評価が、性能評価では、画像品質、操作性等評価の個別評価計画が挙げられる。なお、個別評価計画の細分化程度、評価項目は、上記に限定されるものではなく、機器により適宜設定されるものである。前記個別評価計画は、評価項目、評価日程、評価手順及び試作機の使用台数を含み計画される。また、前記個別評価計画には、評価に使用する測定機器類、人員計画等も含むことが好ましい。各個別評価計画には、例えば、図３に示すような符号（Ａ〜Ｒ）を付けると識別し易くなる。

次に、評価関連付け部１４で、前記個別評価計画間の相対的な関連付けが行われ個別評価関連情報としてデータベース１００に格納される。前記相対的な関連付けとは、前記個別評価計画間の相対的な優先度、評価順位、評価合併性の関連度を意味する。前記関連付けは、各評価プロセス間にわたり行われる。

前記優先度は、前記個別評価計画の内、優先的に評価をする度合を示すものであり、例えば、優先度の高い順に１〜３にクラス分けし、優先度１の評価を優先しておこなう。例えば、図３に示す評価においては、Ａ〜Ｆを優先度１とし、Ｇ及びＨを優先度２とし、それ以外を優先度３とする等である。優先度のクラス分けは、対象機器により適宜行われる。例えば、実績のあるユニットの優先度を低くし、実績のないユニットの優先度を高くする場合もある。優先度により、例えば、Ａ：１、Ｂ：２等とクラス分け番号が付けられる。

前記評価順位は、ある評価の後、或いは途中から別の評価を行った方が効率の良い場合に評価順位を設ける。例えば図３に示す評価において、Ｈの評価で、ある程度画像品質が安定したところで、Ｋの評価を開始した方が効率がよい、等である。この場合、Ｋの符号にＨの符号を付ける。例えば、Ｋ：Ｈとする。

前記評価合併性は、複数の前記個別評価計画を同一の生試機で平行して評価できる関係をいう。例えば、図３に示す評価において、Ｍ、Ｎの評価等である。この場合、Ｍの符号にＮの符号を、Ｎの符号にＭの符号を付ける。例えば、Ｍ：Ｎ、Ｎ：Ｍとする。

従って、例えば、
Ａは優先度１、評価順位なし、評価合併なし、
Ｂは優先度１、評価順位はＡの後、Ｃと評価合併可能、
Ｃは優先度１、評価順位無し、Ｂと評価合併可能、
のような場合には、下記のように記号を付け、個別評価関連情報とすることができる。
Ａ：１，０，０
Ｂ：１，Ａ，Ｃ
Ｃ：１，０，Ｂ
上記のように、評価順位なし、評価合併なしの場合は、それぞれ０と付けることにより、識別できる。

シミュレーションモデル作成部２１は、生試機の評価プロセスをモデル化したプロセスモデルをコンピューター上にシミュレーションモデルとして作成する。

シミュレーション部２２で、前記個別評価計画情報及び前記個別評価関連情報に基づき、シミュレータで前記設定された評価プロセスモデルを用いシミュレーションが行われる。前記シミュレーションは、前記個別評価計画の実施順位の並び替え、複数の前記個別評価計画の合併、組合せを変更して行われる。

前記シミュレーションにより、機器開発の全体日程に影響を与えることがなく、生試機評価に用いる生試機の台数が最小となる生試機評価日程計画を策定し、生試機の最小生産台数を算出する。

前記シミュレーションの結果は、シミュレーション結果検討部に２３に出力される。

算出された、前記生試機の最小生産台数は、生試機生産を担当する生産技術部門２４に伝達されるとともにデータベース１００に格納される。策定された生試機評価日程計画は生試機評価部門２５に伝達されるとともにデータベース１００に格納される。生試機評価部門２５は、伝達された生試機評価日程計画を基に生試機評価計画を立案、又は修正する。

上記により、機器開発の全体日程に影響を与えることがなく、生試機評価に用いる生試機の台数が最小となる生試機評価日程計画を策定し、生試機の最小生産台数を算出することができる。これにより、生試機の生産台数を必要最小限とすることができ、生試機の生産に掛かる工数と費用を最小限することができ、生試機の生産を担当する生産技術部門の負荷を軽減することができる。生試機の生産に掛かる工数を減少させることができるため、生産技術部門では、量試、量産用の治工具、金型等の準備を遅延させることなく行うことができ、量試機・量産機の生産日程が遅延することを防止できる。

本発明に係る機器開発支援方法の一実施の形態を示す説明図である。 評価プロセスを示す図である。 個別評価計画を示す図である。 機器開発計画における開発プロセスの一例を示す図である。

符号の説明

１１ 機器開発計画作成部
１２ 生試評価プロセス作成部
１３ 個別評価計画作成部
１４ 評価関連付け部
２１ シミュレーションモデル作成部
２２ シミュレーション部
２３ シミュレーション結果検討部
２４ 生産技術部門
２４ 生試機評価部門
１００ データベース

Claims (5)

1. 新製品の機器開発における、企画から量産立ち上げまでの初期流動期間での、試作機の生産台数及び評価計画の最適化を図る機器開発支援方法であって、
   機器開発計画で設定された開発プロセスに基づき、前記試作機の評価プロセスを作成し、格納部に格納するステップと、
   前記試作機の前記評価プロセスにおいて評価を行う、複数の評価担当セクション毎の個別評価計画を作成し、個別評価計画情報として格納部に格納するステップと、
   複数の前記個別評価計画の間の相対的な関連付けを行い、個別評価関連情報として格納部に格納するステップと、
   前記評価プロセスをモデル化した評価プロセスモデルをコンピューター上にシミュレーションモデルとして作成するステップと、
   前記評価プロセスモデルで、個別評価計画情報及び個別評価関連情報に基づき、シミュレーションを行い、評価に必要な試作機の台数が最小となる評価日程計画の策定及び試作機の台数の算出をするステップと、を有することを特徴とする機器開発支援方法。
2. 前記試作機は、量産試作及び量産に使用される治工具及び金型を使用せずに生産される、量産試作機の前段階の生産試作機であることを特徴とする請求項１に記載の機器開発支援方法。
3. 前記評価プロセスは、機器の機能、性能、耐久性、安全性及び生産性の各評価プロセスを含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の機器開発支援方法。
4. 前記個別評価計画は、評価項目、評価日程、評価手順及び試作機の使用台数を含むことを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の機器開発支援方法。
5. 前記相対的な関連付けは、各評価の優先度、評価順位、評価合併性であることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の機器開発支援方法。

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